JPH09246898A - 水晶振動子の製造方法 - Google Patents

水晶振動子の製造方法

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JPH09246898A
JPH09246898A JP4757896A JP4757896A JPH09246898A JP H09246898 A JPH09246898 A JP H09246898A JP 4757896 A JP4757896 A JP 4757896A JP 4757896 A JP4757896 A JP 4757896A JP H09246898 A JPH09246898 A JP H09246898A
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JP
Japan
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chip
frequency
wafer
crystal
sampling
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JP4757896A
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English (en)
Inventor
Yuuki Hoshi
雄起 星
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S I I QUARTZ TECHNO KK
Original Assignee
S I I QUARTZ TECHNO KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 サンプリングチップの測定誤差があり、追加
エッチング量の正確な決定が難しい。 【解決手段】 サンプリングチップ2の両端にウエハー
から支持部5を形成し、ウエハーに支持したまま下部電
極6と測定端子7を接触させて、基準周波数を測定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトリソグラフ
ィーにより水晶ウエハー(以下ウエハーと呼ぶ)に水晶
振動子チップを形成する水晶振動子の製造方法に関し、
特にページャ、無線通信機、携帯電話などの移動通信機
器に使用される高精度の水晶振動子チップの周波数調整
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、このような水晶振動子チップは、
図5に示すように、以下の工程で発振周波数を測定し調
整していた。 (1)クロム、金をスパッタリングしたウエハーに、外
形パターンと電極パターンをフォトリソグラフィーによ
り形成する。 (2)上記パターンを形成したウエハーをエッチングし
て、外形を形成する。 (3)基準周波数測定用チップ(以下サンプリングチッ
プと呼ぶ)を折り取る。 (4)サンプリングチップ3を発振し、測定用端子7を
接触し周波数を測定する。図3参照。 (5)測定した周波数と公称周波数の差(周波数偏差)
により、追加エッチング量を決定し発振周波数を調整す
る。 (6)電極パターンをメタルエッチングする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の周波数調整方法では、次のような問題があった。 (1)サンプリングチップ3を、ウエハー1から折り取
って測定するために別途工程が必要となる。また、測定
端子7の位置や接触圧などに変化が生じるため、測定値
にばらつきが発生する。このため、さらに追加エッチン
グをする場合、正確な追い込み量が把握できなくなる。 (2)ウエハー1より折り取ったサンプリングチップ3
は、廃棄せざるを得ないので無駄を生じる。
【0004】
【問題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、サンプリングチップをウエハーから折り
取らず基準周波数測定すれば誤差が少ないことに着目し
て、サンプリングチップの両端に、ウエハーから脱落し
ないようにする支持部を形成し、ウエハーに支持したま
まで発振させ、同一サンプリングチップを用いて、ウエ
ハーの追加エッチング量を決定して水晶振動子チップの
発振周波数を調整する。
【0005】この方法により、サンプリングチップをウ
エハーから折り取らずに測定し、測定条件が一定してい
るのでばらつきが少ない。また、サンプリングチップを
折り取る必要がない。
【0006】
【発明の実施の形態】以下に本発明を図面により説明す
る。本実施例ではGTカット水晶振動子を用いる。この
水晶振動子は、周波数温度特性が優れ、1MHzから
3.2MHzまでの周波数帯で使用される。例えば、周
波数が1.7MHzから2.69MHzの水晶振動子で
は、周波数偏差は、±2.5ppmから±100ppm
までに入るように決められている。
【0007】図5に示す工程で、ウエハーに水晶振動子
チップとサンプリングチップの外形パターンと電極パタ
ーンを形成してから、水晶エッチングで外形を精製す
る。そして、サンプリングチップの周波数を測定して、
周波数偏差内になるように各水晶振動子チップを追加エ
ッチングする。
【0008】このサンプリングチップ周波数測定と追加
エッチングをさらに説明する。24.5mm×31.5
mmのウエハー1に水晶振動子チップ4の外形と電極パ
ターンを、フォトレジストの手法により、86個形成す
る。チップ4の大きさは、約1.5mm×3.5mm
で、図4のように片側支持で水晶ウエハー1と接続され
ている。これに対してサンプリングチップ2は、図2に
示すように両端子支持であり2個形成されている。
【0009】このサンプリングチップ2は、図5に示す
水晶エッチング工程後、図1に示すように両端の支持部
5で下部電極6と電気的に接続される。そして、測定用
端子7を両支持部5に接触させて発振周波数を測定し基
準周波数とする。この基準周波数と追加エッチング量の
関係は、周波数により異なるが、2.688MHzの場
合以下のとうりである。図6は、周波数を調整した結果
で、従来のサンプリングチップ3により周波数を調整せ
いた結果である。
【0010】図7のように、従来のサンプリングチップ
2をウエハー1から折り取って測定した場合は測定値の
ばらつきが大きい。したがって、これを基準周波数とす
る追加エッチングでは、周波数偏差内にすることが困難
である。しかし、本発明によれば測定値にばらつきが少
なく、しかも同一の基準によるので正確に周波数調整す
ることができる。なお、実施例はGTカット水晶振動子
につい説明したが他のフォトリソグラフィー技術で製造
する水晶振動子に応用できることは言うまでもない。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明はサンプリ
ングチップ間のばらつきによる誤差精度の発生を防ぎ、
周波数追い込みエッチングすることができるので量産上
の効果が極めて大きい。また、サンプリングチップを無
駄にすることがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の斜視図である。
【図2】本発明のサンプリングチップの図である。
【図3】従来のサンプリングチップの図である。
【図4】従来の水晶振動子チップの図である。
【図5】製造工程を示す図である。
【図6】エッチングレートを示す図である。
【図7】周波数ばらつきを示す図である。
【符号の説明】
1 水晶ウエハー 2 サンプリングチップ 3 サンプリングチップ 4 水晶振動子チップ 5 支持部 6 下部電極 7 測定端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハーに水晶振動子チップと、両端に
    支持部を有する周波数サンプリング用チップを形成する
    工程と、 前記周波数サンプリングチップの支持部に測定端子を接
    触し周波数を測定する工程と、 前記周波数によりエッチング量を決定し、前記水晶振動
    子チップの周波数を調整する水晶振動子の製造方法。
JP4757896A 1996-03-05 1996-03-05 水晶振動子の製造方法 Pending JPH09246898A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2493072A2 (en) 2011-02-23 2012-08-29 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. GT-cut quartz crystal resonator

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2493072A2 (en) 2011-02-23 2012-08-29 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. GT-cut quartz crystal resonator
US8957569B2 (en) 2011-02-23 2015-02-17 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. GT-cut quartz crystal resonator

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