JPH09251177A - 光学的パターン認識装置 - Google Patents
光学的パターン認識装置Info
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- JPH09251177A JPH09251177A JP35132796A JP35132796A JPH09251177A JP H09251177 A JPH09251177 A JP H09251177A JP 35132796 A JP35132796 A JP 35132796A JP 35132796 A JP35132796 A JP 35132796A JP H09251177 A JPH09251177 A JP H09251177A
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- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ジョイント変換相関器を用いた光学的パター
ン認識装置において、被相関画像と多くの参照画像とを
一度に相関処理しようとすると、相関ピークの強度低下
が著しく、誤って認識する場合が生じる。 【解決手段】 被相関画像と参照画像を同時に並列して
配置した入力像5のコヒーレント画像をフーリエ変換レ
ンズ6でフーリエ変換した後、液晶ライトバルブ25に
照射する。液晶ライトバルブ25には光反射率と印加電
圧の間に双安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いて
いるので、合同のフーリエ変換画像はあるしきい値によ
って二値化される。これにより合同のフーリエ変換画像
の二値化強度分布画像が液晶ライトバルブ上に記憶され
る。これを読み出し、コヒーレント画像に変換すること
によって、鮮明な相関ピークが得られる。
ン認識装置において、被相関画像と多くの参照画像とを
一度に相関処理しようとすると、相関ピークの強度低下
が著しく、誤って認識する場合が生じる。 【解決手段】 被相関画像と参照画像を同時に並列して
配置した入力像5のコヒーレント画像をフーリエ変換レ
ンズ6でフーリエ変換した後、液晶ライトバルブ25に
照射する。液晶ライトバルブ25には光反射率と印加電
圧の間に双安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いて
いるので、合同のフーリエ変換画像はあるしきい値によ
って二値化される。これにより合同のフーリエ変換画像
の二値化強度分布画像が液晶ライトバルブ上に記憶され
る。これを読み出し、コヒーレント画像に変換すること
によって、鮮明な相関ピークが得られる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光情報処理や光
計測の分野において、CCDカメラなどの撮像装置から
得られる2次元画像に対し、コヒーレント光を用いた光
学的相関処理を施すことにより、パターン認識や計測を
自動的に行う装置に関するものである。
計測の分野において、CCDカメラなどの撮像装置から
得られる2次元画像に対し、コヒーレント光を用いた光
学的相関処理を施すことにより、パターン認識や計測を
自動的に行う装置に関するものである。
【0002】
【往来の技術】従来パターン認識装置や相関処理装置に
おいては、ジョイント変換相関器(Joint Tra
nsform Correlator)を用いる方法が
多くとられていた。例えば、光書き込み型の空間光変調
器を用いた場合については、特開昭57−138616
号公報、特開昭57−210316号公報、特開昭58
−21716号公報に示されている。
おいては、ジョイント変換相関器(Joint Tra
nsform Correlator)を用いる方法が
多くとられていた。例えば、光書き込み型の空間光変調
器を用いた場合については、特開昭57−138616
号公報、特開昭57−210316号公報、特開昭58
−21716号公報に示されている。
【0003】図19は、従来の光書き込み型のジョイン
ト変換相関器の一例を示す構成図である。この従来例に
おいては、認識の基準となる参照画像と認識の対象であ
る被相関画像を同時に隣接して配置した像を入力像5と
する。レーザ1から出射される光束をビームエキスパン
ダ2で拡大した後、ビームスプリッタ3を経て入力像5
に入射させ、入力像5をコヒーレント画像に変換する。
このようにして得られたコヒーレント画像をフーリエ変
換レンズ6を用いてフーリエ変換し、その変換面上に配
置した液晶ライトバルブ15にフーリエ変換像の光強度
分布を表示させる。
ト変換相関器の一例を示す構成図である。この従来例に
おいては、認識の基準となる参照画像と認識の対象であ
る被相関画像を同時に隣接して配置した像を入力像5と
する。レーザ1から出射される光束をビームエキスパン
ダ2で拡大した後、ビームスプリッタ3を経て入力像5
に入射させ、入力像5をコヒーレント画像に変換する。
このようにして得られたコヒーレント画像をフーリエ変
換レンズ6を用いてフーリエ変換し、その変換面上に配
置した液晶ライトバルブ15にフーリエ変換像の光強度
分布を表示させる。
【0004】次に、ビームスプリッタ3で分けられた光
束はミラー8、偏光ビームスプリッタ16を経て、液晶
ライトバルブ15に照射され、表示されているフーリエ
変換像の光強度分布を読み出す。このようにして得られ
たフーリエ変換像の光強度分布を、偏光ビームスプリッ
タ16を経て、フーリエ変換レンズ10でフーリエ変換
し、その変換面上に配置したCCDカメラ11で被相関
画像と参照画像の相関係数を表す相関ピークを得てい
た。
束はミラー8、偏光ビームスプリッタ16を経て、液晶
ライトバルブ15に照射され、表示されているフーリエ
変換像の光強度分布を読み出す。このようにして得られ
たフーリエ変換像の光強度分布を、偏光ビームスプリッ
タ16を経て、フーリエ変換レンズ10でフーリエ変換
し、その変換面上に配置したCCDカメラ11で被相関
画像と参照画像の相関係数を表す相関ピークを得てい
た。
【0005】図21に入力像5の一例を示し、図22に
CCDカメラ11から得られる被相関画像と参照画像の
相関係数を表す一対の相関ピークを示す。図20は、従
来の電気書き込み型のジョイント変換相関器の一例を示
す構成図で、図19に示す従来例と同一もしくは相当部
は、同一符号を付し、説明を省略する。
CCDカメラ11から得られる被相関画像と参照画像の
相関係数を表す一対の相関ピークを示す。図20は、従
来の電気書き込み型のジョイント変換相関器の一例を示
す構成図で、図19に示す従来例と同一もしくは相当部
は、同一符号を付し、説明を省略する。
【0006】この従来例においては、図19に示す従来
例と同様にして入力像5のコヒーレント画像をフーリエ
変換レンズ6によりフーリエ変換した後、そのフーリエ
変換像をCCDカメラ7で受光してフーリエ変換画像信
号に変換し、そのフーリエ変換画像信号を電気書き込み
型の空間光変換器である液晶テレビ9に入力してフーリ
エ変換画像の強度分布を表示する。そのフーリエ変換画
像の強度分布をビームスプリッタ3、ミラー8を経たコ
ヒーレント光で読み出し、フーリエ変換レンズ10でフ
ーリエ変換し、その変換面上に配置されたCCDカメラ
11で被相関画像と参照画像の相関係数を表す相関ピー
クを得ていた。
例と同様にして入力像5のコヒーレント画像をフーリエ
変換レンズ6によりフーリエ変換した後、そのフーリエ
変換像をCCDカメラ7で受光してフーリエ変換画像信
号に変換し、そのフーリエ変換画像信号を電気書き込み
型の空間光変換器である液晶テレビ9に入力してフーリ
エ変換画像の強度分布を表示する。そのフーリエ変換画
像の強度分布をビームスプリッタ3、ミラー8を経たコ
ヒーレント光で読み出し、フーリエ変換レンズ10でフ
ーリエ変換し、その変換面上に配置されたCCDカメラ
11で被相関画像と参照画像の相関係数を表す相関ピー
クを得ていた。
【0007】図21に入力像5の一例を示し、図22に
CCDカメラ11から得られる被相関画像と参照画像の
相関係数を表す一対の相関ピークを示す。
CCDカメラ11から得られる被相関画像と参照画像の
相関係数を表す一対の相関ピークを示す。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、通常こ
の方法においては被相関画像や参照画像の個数はそれぞ
れ一つである。このため例えばアルファベットを認識す
る場合では、認識したいアルファベット1文字を被相関
画像とし、全てのアルファベットとの相関をとるため
に、参照画像として1文字ずつアルファベットを書き換
えて時系列的に相関処理を行わなければならず、非常に
多くの時間を必要とする。ところが、それを解決するた
めに、例えば参照画像の個数を増やし一度に多くの参照
画像との相関をとろうとすると、各参照画像と被相関画
像との相関処理による相関ピークの強度が著しく低下
し、ノイズ成分が増加するため、相関ピークはノイズ成
分に埋もれて分離が難しくなり、また誤って認識する場
合も生じる(例えば、フランシス・ティー・エス・ユ
ー、フェン・チェン、トシオ・ナガタおよびドン・エー
・グレゴリー、アプライド、オプチックス、28,29
88(1989):Francis,T.S.Yu,F
eng Creng Toshio Nagata,an
d Don A. Gregory Applied O
ptics 28 2988(1989)。
の方法においては被相関画像や参照画像の個数はそれぞ
れ一つである。このため例えばアルファベットを認識す
る場合では、認識したいアルファベット1文字を被相関
画像とし、全てのアルファベットとの相関をとるため
に、参照画像として1文字ずつアルファベットを書き換
えて時系列的に相関処理を行わなければならず、非常に
多くの時間を必要とする。ところが、それを解決するた
めに、例えば参照画像の個数を増やし一度に多くの参照
画像との相関をとろうとすると、各参照画像と被相関画
像との相関処理による相関ピークの強度が著しく低下
し、ノイズ成分が増加するため、相関ピークはノイズ成
分に埋もれて分離が難しくなり、また誤って認識する場
合も生じる(例えば、フランシス・ティー・エス・ユ
ー、フェン・チェン、トシオ・ナガタおよびドン・エー
・グレゴリー、アプライド、オプチックス、28,29
88(1989):Francis,T.S.Yu,F
eng Creng Toshio Nagata,an
d Don A. Gregory Applied O
ptics 28 2988(1989)。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光学的パターン認識装置は、CCDカメラ
などから得られる2次元画像に対して、コヒーレント光
を用いた光学的相関処理を施すことにより、所要のパタ
ーンを自動的に認識・計測する光学的パターン認識装置
であって、所要の目標を含む少なくとも1つの参照画像
と新たに入力する少なくとも1つの被相関画像とをコヒ
ーレント画像に変換する手段と、前記コヒーレント画像
をフーリエ変換し、前記参照画像と前記被相関画像との
合同のフーリエ変換画像を得る手段と、前記合同のフー
リエ変換画像を二値化強度分布画像に変換し、前記二値
化強度分布画像を空間光変調器に表示する手段と、前記
空間光変調器に表示された二値化強度分布画像をコヒー
レント光を用いて読み出す手段と、前記読み出した二値
化強度分布画像を再度フーリエ変換して、その画像を撮
像装置または光検出器を用いて相関信号に変換する手段
と、前記相関信号を信号処理して、前記参照画像と前記
被相関画像との2次元の相関係数をそれぞれ求める手段
を有し、前記合同のフーリエ変換画像を二値化強度分布
画像に変換し、前記二値化強度分布画像を空間光変調器
に表示する手段が、光反射率と印加電圧との間に双安定
メモリ性を有する強誘電性液晶を用いた光書き込み型の
空間光変調器である構成とした。
に、本発明の光学的パターン認識装置は、CCDカメラ
などから得られる2次元画像に対して、コヒーレント光
を用いた光学的相関処理を施すことにより、所要のパタ
ーンを自動的に認識・計測する光学的パターン認識装置
であって、所要の目標を含む少なくとも1つの参照画像
と新たに入力する少なくとも1つの被相関画像とをコヒ
ーレント画像に変換する手段と、前記コヒーレント画像
をフーリエ変換し、前記参照画像と前記被相関画像との
合同のフーリエ変換画像を得る手段と、前記合同のフー
リエ変換画像を二値化強度分布画像に変換し、前記二値
化強度分布画像を空間光変調器に表示する手段と、前記
空間光変調器に表示された二値化強度分布画像をコヒー
レント光を用いて読み出す手段と、前記読み出した二値
化強度分布画像を再度フーリエ変換して、その画像を撮
像装置または光検出器を用いて相関信号に変換する手段
と、前記相関信号を信号処理して、前記参照画像と前記
被相関画像との2次元の相関係数をそれぞれ求める手段
を有し、前記合同のフーリエ変換画像を二値化強度分布
画像に変換し、前記二値化強度分布画像を空間光変調器
に表示する手段が、光反射率と印加電圧との間に双安定
メモリ性を有する強誘電性液晶を用いた光書き込み型の
空間光変調器である構成とした。
【0010】上記のような構成にすれば、入力像のフー
リエ変換面においては、参照画像と被相関画像のフーリ
エ変換同士の干渉によって生じる干渉縞がフーリエ変換
像に重畳されており、これら参照画像と被相関画像の入
力強度を規格化することによって、重畳されている干渉
縞のビジビリティがよくなるため、そのフーリエ変換像
の強度分布を二値化しても搬送波成分が潰されず、ノイ
ズ成分もすくなくなるため相関ピークは非常に急峻にな
る。特に、参照画像間の大きさの差が大きい場合におい
ても、これらの入力強度を規格化することによってその
影響を排除することができる。その上、一度に多くの参
照画像との相関をとるために参照画像の個数を増加させ
ることにより、相関ピークの光強度の低下やノイズの増
加が生じた場合でも、被相関画像や参照画像の個数、各
参照画像の似ている度合、認識結果に要求される速度や
精度など様々な条件に応じて、得られる相関係数から対
応する各参照画像を透過する光強度にフィードバックす
る関係を、線形や非線形な関数の中から選択でき、適切
な関数を選択してフィードバックを繰り返すことによ
り、ノイズ成分は減少し、かつ鮮明な相関ピークが得ら
れるようになるので、高速で正確なパターン認識が行え
るようになる。
リエ変換面においては、参照画像と被相関画像のフーリ
エ変換同士の干渉によって生じる干渉縞がフーリエ変換
像に重畳されており、これら参照画像と被相関画像の入
力強度を規格化することによって、重畳されている干渉
縞のビジビリティがよくなるため、そのフーリエ変換像
の強度分布を二値化しても搬送波成分が潰されず、ノイ
ズ成分もすくなくなるため相関ピークは非常に急峻にな
る。特に、参照画像間の大きさの差が大きい場合におい
ても、これらの入力強度を規格化することによってその
影響を排除することができる。その上、一度に多くの参
照画像との相関をとるために参照画像の個数を増加させ
ることにより、相関ピークの光強度の低下やノイズの増
加が生じた場合でも、被相関画像や参照画像の個数、各
参照画像の似ている度合、認識結果に要求される速度や
精度など様々な条件に応じて、得られる相関係数から対
応する各参照画像を透過する光強度にフィードバックす
る関係を、線形や非線形な関数の中から選択でき、適切
な関数を選択してフィードバックを繰り返すことによ
り、ノイズ成分は減少し、かつ鮮明な相関ピークが得ら
れるようになるので、高速で正確なパターン認識が行え
るようになる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に本発明による実施例を図面
に基づいて説明する。図1は、本発明による光学的パタ
ーン認識装置の第1実施例を示す構成図である。本実施
例による光学的パターン認識装置は、レーザ1とビーム
エキスパンダ2とビームスピリッタ3とで構成された参
照画像と被相関画像をコヒーレント画像に変換する手段
と、参照画像と被相関画像とを同時に並列して配置した
入力像5と、フーリエ変換レンズ6とCCDカメラ7と
で構成されたコヒーレント画像をフーリエ変換画像信号
に変換する手段と、該フーリエ変換画像信号を表示する
液晶テレビ9と、レーザ1とビームエキスパンダ2とビ
ームスプリッタ3とミラー8とで構成された該液晶テレ
ビ9に表示された像を読み出す手段と、フーリエ変換レ
ンズ10とCCDカメラ11とで構成された該読み出し
画像を相関信号に変換する手段と、A/D変換器12と
コンピュータ13とD/A変換器14とで構成された該
相関信号を信号処理し、参照画像と被相関画像との2次
元の相関係数を求める手段と、該相関係数に応じて入力
像5の参照画像に対応する部分の透過率または反射率を
変化させるマスク用液晶テレビ4とから構成されてい
る。
に基づいて説明する。図1は、本発明による光学的パタ
ーン認識装置の第1実施例を示す構成図である。本実施
例による光学的パターン認識装置は、レーザ1とビーム
エキスパンダ2とビームスピリッタ3とで構成された参
照画像と被相関画像をコヒーレント画像に変換する手段
と、参照画像と被相関画像とを同時に並列して配置した
入力像5と、フーリエ変換レンズ6とCCDカメラ7と
で構成されたコヒーレント画像をフーリエ変換画像信号
に変換する手段と、該フーリエ変換画像信号を表示する
液晶テレビ9と、レーザ1とビームエキスパンダ2とビ
ームスプリッタ3とミラー8とで構成された該液晶テレ
ビ9に表示された像を読み出す手段と、フーリエ変換レ
ンズ10とCCDカメラ11とで構成された該読み出し
画像を相関信号に変換する手段と、A/D変換器12と
コンピュータ13とD/A変換器14とで構成された該
相関信号を信号処理し、参照画像と被相関画像との2次
元の相関係数を求める手段と、該相関係数に応じて入力
像5の参照画像に対応する部分の透過率または反射率を
変化させるマスク用液晶テレビ4とから構成されてい
る。
【0012】ここで、レーザ1から出射されたのちビー
ムエキスパンダ2で拡大されたコヒーレント光は、ビー
ムスプリッタ3で2光束に分けられる。分けられた一方
の光束は、マスク用液晶テレビ4を透過した後、被相関
画像と参照画像同時に並列して配置した入力像5を照射
することにより入力像5をコヒーレント画像に変換し、
その像をフーリエ変換レンズ6でフーリエ変換した像を
CCDカメラ7で受光し、この受光した像を液晶テレビ
9に表示する。一方、ビームスプリッタ3で分けられた
他方の光束は、ミラー8で反射されて液晶テレビ9を照
射する。これにより、液晶テレビ9上に表示されている
フーリエ変換像の光強度分布をコヒーレント画像に変換
し、その画像をフーリエ変換レンズ10でフーリエ変換
することにより、相関ピークをCCDカメラ11で受光
することができる。ここで、入力像5や液晶テレビ9
は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面から後焦点
面の任意の位置に配置することができるが、厳密なフー
リエ変換をするためには、前焦点面またはフーリエ変換
レンズ6や10と後焦点面の間に配置するのが好まし
い。本実施例では、フーリエ反感レンズ6や10の前焦
点面に入力像5や液晶テレビ9を配置し、後焦点面にC
CDカメラ7や11を配置する。また、マスク用液晶テ
レビ4の直後に入力像5を配置する CCDカメラ11から出力される相関信号はアナログ信
号であるので、A/D変換器12でデジタル信号に変換
した後、コンピュータ13で相関ピークの光強度を測定
する。測定した相関ピークの光強度に応じてマスク用液
晶テレビ4を動作させるための信号をコンピュータから
出力し、そのデジタル信号をD/A変換器14でデジタ
ル信号からアナログ信号に変換し、その信号でマスク用
液晶テレビ4を動作させる。
ムエキスパンダ2で拡大されたコヒーレント光は、ビー
ムスプリッタ3で2光束に分けられる。分けられた一方
の光束は、マスク用液晶テレビ4を透過した後、被相関
画像と参照画像同時に並列して配置した入力像5を照射
することにより入力像5をコヒーレント画像に変換し、
その像をフーリエ変換レンズ6でフーリエ変換した像を
CCDカメラ7で受光し、この受光した像を液晶テレビ
9に表示する。一方、ビームスプリッタ3で分けられた
他方の光束は、ミラー8で反射されて液晶テレビ9を照
射する。これにより、液晶テレビ9上に表示されている
フーリエ変換像の光強度分布をコヒーレント画像に変換
し、その画像をフーリエ変換レンズ10でフーリエ変換
することにより、相関ピークをCCDカメラ11で受光
することができる。ここで、入力像5や液晶テレビ9
は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面から後焦点
面の任意の位置に配置することができるが、厳密なフー
リエ変換をするためには、前焦点面またはフーリエ変換
レンズ6や10と後焦点面の間に配置するのが好まし
い。本実施例では、フーリエ反感レンズ6や10の前焦
点面に入力像5や液晶テレビ9を配置し、後焦点面にC
CDカメラ7や11を配置する。また、マスク用液晶テ
レビ4の直後に入力像5を配置する CCDカメラ11から出力される相関信号はアナログ信
号であるので、A/D変換器12でデジタル信号に変換
した後、コンピュータ13で相関ピークの光強度を測定
する。測定した相関ピークの光強度に応じてマスク用液
晶テレビ4を動作させるための信号をコンピュータから
出力し、そのデジタル信号をD/A変換器14でデジタ
ル信号からアナログ信号に変換し、その信号でマスク用
液晶テレビ4を動作させる。
【0013】次に動作について説明する。入力像5には
例えば図16に示すように、1個の被相関画像を中心と
してその円周上に複数の参照画像を配置したものを用い
る。これは、被相関画像と参照画像間の距離を一定にす
るためである。また初期状態では、マスク用液晶テレビ
4は透過の状態にしておく。
例えば図16に示すように、1個の被相関画像を中心と
してその円周上に複数の参照画像を配置したものを用い
る。これは、被相関画像と参照画像間の距離を一定にす
るためである。また初期状態では、マスク用液晶テレビ
4は透過の状態にしておく。
【0014】この初期状態においてCCDカメラ11で
得られる像には、被相関画像と各参照画像との間での相
関に基づく複数の相関ピークが得られる。例えば、図1
6に示す入力像の場合には、参照画像が4個あるため4
対の相関ピークが得られる可能性がある。この場合、参
照画像が1個の場合と比べると、各々の相関ピークの光
強度は小さく、またノイズ成分が増加しているので、相
関ピークとノイズとの区別が困難となり、誤った認識を
する場合もある。
得られる像には、被相関画像と各参照画像との間での相
関に基づく複数の相関ピークが得られる。例えば、図1
6に示す入力像の場合には、参照画像が4個あるため4
対の相関ピークが得られる可能性がある。この場合、参
照画像が1個の場合と比べると、各々の相関ピークの光
強度は小さく、またノイズ成分が増加しているので、相
関ピークとノイズとの区別が困難となり、誤った認識を
する場合もある。
【0015】そこで、CCDカメラ11から出力される
アナログの画像信号をA/D変換器12でデジタル信号
に変換し、コンピュータ13で各相関ピークごとに最大
の光強度を測定し、それを各相関ピークの光強度とす
る。各相関ピークの光強度を全相関ピーク中で最大の光
強度で規格化し、その規格化した割合に応じて対応する
参照画像をマスク用液晶テレビ4でマスクする。例え
ば、図16の入力像における初期状態では、被相関画像
Eと参照画像中のEとの相関ピークが最も強いとする。
そこで、その相関ピークの光強度を1として他の相関ピ
ークの光強度を規格化した結果、被相関画像Eと参照画
像G,R,Wの各々との相関ピークの光強度が0.8,
0.7,0.6であったとする。この割合に応じて、対
応する参照画像を照射する光強度が変化するようにマス
ク用液晶テレビ4を用いてマスクする。つまり、参照画
像Eについてはマスクせずに、G,R,Wの参照画像を
照射する光強度がそれぞれEの0.8,0.7,0.6
倍になるようにマスク用液晶テレビ4の透過率を変化さ
せる。
アナログの画像信号をA/D変換器12でデジタル信号
に変換し、コンピュータ13で各相関ピークごとに最大
の光強度を測定し、それを各相関ピークの光強度とす
る。各相関ピークの光強度を全相関ピーク中で最大の光
強度で規格化し、その規格化した割合に応じて対応する
参照画像をマスク用液晶テレビ4でマスクする。例え
ば、図16の入力像における初期状態では、被相関画像
Eと参照画像中のEとの相関ピークが最も強いとする。
そこで、その相関ピークの光強度を1として他の相関ピ
ークの光強度を規格化した結果、被相関画像Eと参照画
像G,R,Wの各々との相関ピークの光強度が0.8,
0.7,0.6であったとする。この割合に応じて、対
応する参照画像を照射する光強度が変化するようにマス
ク用液晶テレビ4を用いてマスクする。つまり、参照画
像Eについてはマスクせずに、G,R,Wの参照画像を
照射する光強度がそれぞれEの0.8,0.7,0.6
倍になるようにマスク用液晶テレビ4の透過率を変化さ
せる。
【0016】次に、その状態での相関ピークをCCDカ
メラ11から得る。すると、被相関画像Eと参照画像
G,R,Wとの相関ピークの光強度は、それらの参照画
像をマスクしているので、初期の相関ピークよりも低下
し、参照画像のEはマスクしていないので、逆に光強度
は初期の相関ピークよりも増大する。更にこの相関ピー
クの光強度の割合で参照画像をマスクする。この操作を
繰り返すことにより、複数個存在した相関ピークがやが
て1対の相関ピークに収束し、他の相関ピークは観察さ
れなくなる。この状態では、相関ピークが観察されない
参照画像は全てマスクされてしまっている。
メラ11から得る。すると、被相関画像Eと参照画像
G,R,Wとの相関ピークの光強度は、それらの参照画
像をマスクしているので、初期の相関ピークよりも低下
し、参照画像のEはマスクしていないので、逆に光強度
は初期の相関ピークよりも増大する。更にこの相関ピー
クの光強度の割合で参照画像をマスクする。この操作を
繰り返すことにより、複数個存在した相関ピークがやが
て1対の相関ピークに収束し、他の相関ピークは観察さ
れなくなる。この状態では、相関ピークが観察されない
参照画像は全てマスクされてしまっている。
【0017】この実施例において、規格化した相関ピー
クの光強度の繰り返しによる変化を図17に示す。E以
外の参照画像の相関ピークの光強度がフィードバックを
繰り返すことにより低下していく様子がわかる。この場
合は、初期状態においても参照画像のEに対する相関ピ
ークが他の相関ピークに比べて最も強いため、相関ピー
クの光強度によるフィードバックを行わなくとも被相関
画像がEであることが識別できる。しかし、例えば、図
18に示す被相関画像がGの場合のように、最初は誤っ
た判断をしているが、フィードバックを繰り返すことに
より正しい解にたどり着く例も観察できた。
クの光強度の繰り返しによる変化を図17に示す。E以
外の参照画像の相関ピークの光強度がフィードバックを
繰り返すことにより低下していく様子がわかる。この場
合は、初期状態においても参照画像のEに対する相関ピ
ークが他の相関ピークに比べて最も強いため、相関ピー
クの光強度によるフィードバックを行わなくとも被相関
画像がEであることが識別できる。しかし、例えば、図
18に示す被相関画像がGの場合のように、最初は誤っ
た判断をしているが、フィードバックを繰り返すことに
より正しい解にたどり着く例も観察できた。
【0018】この実施例において、各相関ピークを規格
化する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を
用いているが、各相関ピークごとの全光量や平均光強度
などを用いてもよい。図2は、本発明による光学的パタ
ーン認識装置の第2実施例の構成図で、先述の第1実施
例と同一または相当部は同一符号を付し、説明を省略す
る。
化する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を
用いているが、各相関ピークごとの全光量や平均光強度
などを用いてもよい。図2は、本発明による光学的パタ
ーン認識装置の第2実施例の構成図で、先述の第1実施
例と同一または相当部は同一符号を付し、説明を省略す
る。
【0019】この実施例ではフーリエ変換レンズ6でフ
ーリエ変換されたフーリエ変換画像を表示する空間光変
調器として光書き込み型の液晶ライトバルブ15を用
い、そのフーリエ変換画像を読み出す手段をレーザ1と
ビームエキスパンダ2とビームスプリッタ3とミラー8
と偏光ビームスプリッタ16とで構成している。
ーリエ変換されたフーリエ変換画像を表示する空間光変
調器として光書き込み型の液晶ライトバルブ15を用
い、そのフーリエ変換画像を読み出す手段をレーザ1と
ビームエキスパンダ2とビームスプリッタ3とミラー8
と偏光ビームスプリッタ16とで構成している。
【0020】入力像5のコヒーレント画像がフーリエ変
換レンズ6フーリエ変換され、液晶ライトバルブ15に
照射され、合同のフーリエ変換画像の光強度分布が液晶
ライトバルブ15上に表示される。一方、ビームスプリ
ッタ3で分けられた他方の光束は、ミラー8及び偏光ビ
ームスプリッタ16で反射された後、液晶ライトバルブ
15で反射される。ただし、液晶ライトバルブ15は反
射型のため、光束が液晶ライトバルブ15を照射する方
向は、フーリエ変換像を書き込んだ場合の反対方向の面
から照射する。これにより、液晶ライトバルブ15上に
表示されている合同のフーリエ変換画像の光強度分布を
コヒーレント画像に変換でき、その画像を偏光ビームス
プリッタ16を経てフーリエ変換レンズ10でフーリエ
変換することにより、相関ピークをCCDカメラ11で
受光することができる。ここで、入力像5や液晶ライト
バルブ15は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面
から後焦点面の任意の位置に配置することができるが、
厳密なフーリエ変換をするためには、前焦点面またはフ
ーリエ変換レンズ6や10と後焦点面の間に配置するの
が好ましい。本実施例では、先述の第1実施例と同様に
フーリエ変換レンズ6の前焦点面に入力像5を、後焦点
面には液晶ライトバルブ15を配置する。さらに、フー
リエ変換レンズ10の前焦点面に液晶ライトバルブ15
を、後焦点面にはCCDカメラ11を配置する。また、
マスク用液晶テレビ4は入力像5の直前に配置する。シ
ャッタ17は、コンピュータ13で制御され、フーリエ
変換像の光強度分布を液晶ライトバルブ15上に表示す
るときのみオープンされ、それ以外では閉じている。そ
の他の動作は、先述の第1実施例と同様である。
換レンズ6フーリエ変換され、液晶ライトバルブ15に
照射され、合同のフーリエ変換画像の光強度分布が液晶
ライトバルブ15上に表示される。一方、ビームスプリ
ッタ3で分けられた他方の光束は、ミラー8及び偏光ビ
ームスプリッタ16で反射された後、液晶ライトバルブ
15で反射される。ただし、液晶ライトバルブ15は反
射型のため、光束が液晶ライトバルブ15を照射する方
向は、フーリエ変換像を書き込んだ場合の反対方向の面
から照射する。これにより、液晶ライトバルブ15上に
表示されている合同のフーリエ変換画像の光強度分布を
コヒーレント画像に変換でき、その画像を偏光ビームス
プリッタ16を経てフーリエ変換レンズ10でフーリエ
変換することにより、相関ピークをCCDカメラ11で
受光することができる。ここで、入力像5や液晶ライト
バルブ15は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面
から後焦点面の任意の位置に配置することができるが、
厳密なフーリエ変換をするためには、前焦点面またはフ
ーリエ変換レンズ6や10と後焦点面の間に配置するの
が好ましい。本実施例では、先述の第1実施例と同様に
フーリエ変換レンズ6の前焦点面に入力像5を、後焦点
面には液晶ライトバルブ15を配置する。さらに、フー
リエ変換レンズ10の前焦点面に液晶ライトバルブ15
を、後焦点面にはCCDカメラ11を配置する。また、
マスク用液晶テレビ4は入力像5の直前に配置する。シ
ャッタ17は、コンピュータ13で制御され、フーリエ
変換像の光強度分布を液晶ライトバルブ15上に表示す
るときのみオープンされ、それ以外では閉じている。そ
の他の動作は、先述の第1実施例と同様である。
【0021】ここで、図16に示す被相関画像と参照画
像とを入力像5としたパターン認識を行ったところ、先
述の第1実施例と同様に良好な結果が得られた。図3は
本発明の工学的パターン認識装置による第3実施例の構
成図で、先述の実施例と同一または相当部は同一符号を
付し、その説明を省略する。この実施例では、第2実施
例で用いた反射型で使用する液晶ライトバルブ15の代
わりに、透過型で使用するBOS結晶(Bi12 SiO
20)を用いた空間光変調器(PROM:Pockels
Readout Optical Modulato
r)18を用いている。そこで、合同のフーリエ変換画
像をPROM18へ記憶するため、レーザ1には、PR
OM18にとって感度の高いアルゴンレーザを用い、そ
の波長は緑色の514.5nmである。そして、シャッ
タ17をレーザ1とPROM18の間に挿入する。シャ
ッタ17はコンピュータ13により制御され、合同のフ
ーリエ変換画像を記憶するときのみシャッタ17を開
く。記憶した合同のフーリエ変換画像を読み出すため、
PROM18にとって感度の低いHe−Neレーザまた
は半導体レーザ20を用い、ビームエキスパンダ21で
光束を拡大した後ビームスプリッタ3で反射させてPR
OM18に照射し、検光子19を透過させることによ
り、記憶した合同のフーリエ変換画像の光強度分布を読
み出す。その他の処理は、先に述べた実施例と同じであ
る。
像とを入力像5としたパターン認識を行ったところ、先
述の第1実施例と同様に良好な結果が得られた。図3は
本発明の工学的パターン認識装置による第3実施例の構
成図で、先述の実施例と同一または相当部は同一符号を
付し、その説明を省略する。この実施例では、第2実施
例で用いた反射型で使用する液晶ライトバルブ15の代
わりに、透過型で使用するBOS結晶(Bi12 SiO
20)を用いた空間光変調器(PROM:Pockels
Readout Optical Modulato
r)18を用いている。そこで、合同のフーリエ変換画
像をPROM18へ記憶するため、レーザ1には、PR
OM18にとって感度の高いアルゴンレーザを用い、そ
の波長は緑色の514.5nmである。そして、シャッ
タ17をレーザ1とPROM18の間に挿入する。シャ
ッタ17はコンピュータ13により制御され、合同のフ
ーリエ変換画像を記憶するときのみシャッタ17を開
く。記憶した合同のフーリエ変換画像を読み出すため、
PROM18にとって感度の低いHe−Neレーザまた
は半導体レーザ20を用い、ビームエキスパンダ21で
光束を拡大した後ビームスプリッタ3で反射させてPR
OM18に照射し、検光子19を透過させることによ
り、記憶した合同のフーリエ変換画像の光強度分布を読
み出す。その他の処理は、先に述べた実施例と同じであ
る。
【0022】また、人力像5をこのシステムに入力する
方法の一例を図4に示す。CRT22に表示した入力像
を、投影レンズ23を用いて液晶ライトバルブ24上に
結像させて記憶させる。レーザ1から出射した光束をビ
ームエキスパンダ2を用いて拡大し、ビームスプリッタ
3で反射させ、マスク用液晶テレビ4を透過した後、液
晶ライトバルブ24で反射させる。それにより、CRT
22に表示した入力像をコヒーレント画像として読み出
すことができる。読み出した入力像は、再びマスク用液
晶テレビ4とビームスプリッタ3を透過し、フーリエ変
換レンズ6でフーリエ変換される。この場合、マスク用
液晶テレビ4を2回透過することになる。そのため、マ
スク用液晶テレビ4をxの割合でマスクしても、実質的
にはx2でマスクしたことに相当する。以後の処理は先
に示した実施例と同じである。
方法の一例を図4に示す。CRT22に表示した入力像
を、投影レンズ23を用いて液晶ライトバルブ24上に
結像させて記憶させる。レーザ1から出射した光束をビ
ームエキスパンダ2を用いて拡大し、ビームスプリッタ
3で反射させ、マスク用液晶テレビ4を透過した後、液
晶ライトバルブ24で反射させる。それにより、CRT
22に表示した入力像をコヒーレント画像として読み出
すことができる。読み出した入力像は、再びマスク用液
晶テレビ4とビームスプリッタ3を透過し、フーリエ変
換レンズ6でフーリエ変換される。この場合、マスク用
液晶テレビ4を2回透過することになる。そのため、マ
スク用液晶テレビ4をxの割合でマスクしても、実質的
にはx2でマスクしたことに相当する。以後の処理は先
に示した実施例と同じである。
【0023】先述の第1、第2の実施例では、相関ピー
クの光強度が例えば0.8ならマスクする割合も0.8
のように定めていたが、この実施例のように、相関ピー
クの光強度の割合がxの場合、実質的にマスクする割合
がx2となるなど、相関ピークの光強度と実質的にマス
クする割合の関係を非線形に定めても良いことはいうま
でもない。また、相関ピークの光強度と実質的にマスク
する割合の関係を線形に定めるために、相関ピークの光
強度の割合がxの場合、マスクする割合を√xに定めて
もよいということは言うまでもない。
クの光強度が例えば0.8ならマスクする割合も0.8
のように定めていたが、この実施例のように、相関ピー
クの光強度の割合がxの場合、実質的にマスクする割合
がx2となるなど、相関ピークの光強度と実質的にマス
クする割合の関係を非線形に定めても良いことはいうま
でもない。また、相関ピークの光強度と実質的にマスク
する割合の関係を線形に定めるために、相関ピークの光
強度の割合がxの場合、マスクする割合を√xに定めて
もよいということは言うまでもない。
【0024】先述の第1、第2、第3の実施例では、入
力像5はマスク用液晶テレビ4の直後に配置している
が、互いに近接して位置してあれば、入力像5がマスク
用液晶テレビ4の前に配置されていても良いことは言う
までもない。上記実施例では、図16に示すように入力
像5として1個の非相関画像と複数個の参照画像として
いるが、複数個の被相関画像と1個の参照画像でも良い
し、被相関画像と参照画像がそれぞれ複数個あっても良
いことはいうことはいうまでもない。複数個の被相関画
像を用いる場合には、参照画像ではなく、被相関画像を
マスク用液晶テレビ4でマスクしても良いことは言うま
でもない。
力像5はマスク用液晶テレビ4の直後に配置している
が、互いに近接して位置してあれば、入力像5がマスク
用液晶テレビ4の前に配置されていても良いことは言う
までもない。上記実施例では、図16に示すように入力
像5として1個の非相関画像と複数個の参照画像として
いるが、複数個の被相関画像と1個の参照画像でも良い
し、被相関画像と参照画像がそれぞれ複数個あっても良
いことはいうことはいうまでもない。複数個の被相関画
像を用いる場合には、参照画像ではなく、被相関画像を
マスク用液晶テレビ4でマスクしても良いことは言うま
でもない。
【0025】上記実施例において、レーザ1は気体レー
ザや半導体レーザや固体レーザなど、コヒーレンス性の
良いレーザであれば良いことはいうまでもない。上記実
施例において、参照画像を照射する光強度を変化させる
マスクとして、マスク用液晶テレビ4を用いているが、
階調表現可能な空間光変調器であれば良いことは言うま
でもない。
ザや半導体レーザや固体レーザなど、コヒーレンス性の
良いレーザであれば良いことはいうまでもない。上記実
施例において、参照画像を照射する光強度を変化させる
マスクとして、マスク用液晶テレビ4を用いているが、
階調表現可能な空間光変調器であれば良いことは言うま
でもない。
【0026】図5は、本発明による光学的パターン認識
装置の第4実施例の構成図で、先述の第2実施例に対
し、本実施例では参照画像と被相関画像との合同のフー
リエ変換画像を二値化強度分布画像に変換してパターン
認識を実行するものであり、先の実施例と同一または相
当部は同一符号を付し、その説明を省略する。
装置の第4実施例の構成図で、先述の第2実施例に対
し、本実施例では参照画像と被相関画像との合同のフー
リエ変換画像を二値化強度分布画像に変換してパターン
認識を実行するものであり、先の実施例と同一または相
当部は同一符号を付し、その説明を省略する。
【0027】図において、液晶ライトバルブ25は、光
反射率と印加電圧との間に双安定メモリ性を有する強誘
電性液晶を用いた光書き込み型の空間光変調器であっ
て、合同のフーリエ変換画像の光照射によって二値化強
度分布画像として記憶するもので、その液晶ライトバル
ブ25に記憶された画像を読み出す手段は、レーザ1と
ビームエキスパンダ2とビームスプリッタ3とミラー8
と偏光ビームスプリッタ26とで構成している。
反射率と印加電圧との間に双安定メモリ性を有する強誘
電性液晶を用いた光書き込み型の空間光変調器であっ
て、合同のフーリエ変換画像の光照射によって二値化強
度分布画像として記憶するもので、その液晶ライトバル
ブ25に記憶された画像を読み出す手段は、レーザ1と
ビームエキスパンダ2とビームスプリッタ3とミラー8
と偏光ビームスプリッタ26とで構成している。
【0028】次に、その動作について説明する。被相関
画像と参照画像を同時に並列して配置した入力像5のコ
ヒーレント画像をフーリエ変換用レンズ6でフーリエ変
換した後、液晶ライトバルブ25に照射する。ここで、
液晶ライトバルブ25には光反射率と印加電圧の間に双
安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いているため、
合同のフーリエ変換画像はあるしきい値によって二値化
されてしまう。それにより、合同のフーリエ変換画像の
二値化強度分布画像が液晶ライトバルブ25に記憶され
る。
画像と参照画像を同時に並列して配置した入力像5のコ
ヒーレント画像をフーリエ変換用レンズ6でフーリエ変
換した後、液晶ライトバルブ25に照射する。ここで、
液晶ライトバルブ25には光反射率と印加電圧の間に双
安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いているため、
合同のフーリエ変換画像はあるしきい値によって二値化
されてしまう。それにより、合同のフーリエ変換画像の
二値化強度分布画像が液晶ライトバルブ25に記憶され
る。
【0029】一方、ビームスプリッタ3で反射された他
方の光束は、ミラー8および偏光ビームスプリッタ26
で反射された後、液晶ライトバルブ25で反射される。
ただし、液晶ライトバルブ25は反射型のため、この光
束が液晶ライトバルブ25を照射する方向は、合同のフ
ーリエ変換画像を記憶した場合の反対方向の面から照射
する。これにより液晶ライトバルブ25上に記憶されて
いる合同のフーリエ変換画像の二値化強度分布画像がコ
ヒーレント画像に変換される。その画像は検光子の代わ
りに用いられている偏光ビームスプリッタ26を透過す
ることにより、ネガ像またはポジ像の強度分布として読
み出される。
方の光束は、ミラー8および偏光ビームスプリッタ26
で反射された後、液晶ライトバルブ25で反射される。
ただし、液晶ライトバルブ25は反射型のため、この光
束が液晶ライトバルブ25を照射する方向は、合同のフ
ーリエ変換画像を記憶した場合の反対方向の面から照射
する。これにより液晶ライトバルブ25上に記憶されて
いる合同のフーリエ変換画像の二値化強度分布画像がコ
ヒーレント画像に変換される。その画像は検光子の代わ
りに用いられている偏光ビームスプリッタ26を透過す
ることにより、ネガ像またはポジ像の強度分布として読
み出される。
【0030】ここで、入力像5や液晶ライトバルブ25
は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面から後焦点
面の任意の位置に配置することができるが、厳密なフー
リエ変換をするためには、前焦点面またはフーリエ変換
レンズ6や10と後焦点面の間に配置するのが好まし
い。本実施例では、フーリエ変換レンズ6の前焦点面に
入力像5を、後焦点面には液晶ライトバルブ25を配置
する。さらに、フーリエ変換レンズ10の前焦点面に液
晶ライトバルブ25を、後焦点面にはCCDカメラ11
を配置するまた、マスク用液晶テレビ4は入力像5の直
前、または直後に配置する。シャッタ17は、コンピュ
ータ13で制御され、合同のフーリエ変換画像の光強度
分布を液晶ライトバルブ25上に記憶するときのみオー
プンされ、それ以外では閉じている。それ以外の動作は
第2実施例と同様である。
は、フーリエ変換レンズ6や10の前焦点面から後焦点
面の任意の位置に配置することができるが、厳密なフー
リエ変換をするためには、前焦点面またはフーリエ変換
レンズ6や10と後焦点面の間に配置するのが好まし
い。本実施例では、フーリエ変換レンズ6の前焦点面に
入力像5を、後焦点面には液晶ライトバルブ25を配置
する。さらに、フーリエ変換レンズ10の前焦点面に液
晶ライトバルブ25を、後焦点面にはCCDカメラ11
を配置するまた、マスク用液晶テレビ4は入力像5の直
前、または直後に配置する。シャッタ17は、コンピュ
ータ13で制御され、合同のフーリエ変換画像の光強度
分布を液晶ライトバルブ25上に記憶するときのみオー
プンされ、それ以外では閉じている。それ以外の動作は
第2実施例と同様である。
【0031】ここで、図16に示す1個の被相関画像を
中心として、その円周上に複数の参照画像を配置したも
のを入力像5として用い、認識処理を行った。認識処理
は、第2実施例と同様に、CCDカメラ11で得られる
相関信号をコンピュータ13で各相関ピークごとに最大
の光強度を測定し、全相関ピーク中で最大の光強度を1
として、他の相関ピークの光強度を規格化し、その割合
に応じてマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させて、
対応する参照画像を照射する光強度を変化させるフィー
ドバックをかけて実効したところ、先述の実施例と同様
に良好なパターン認識が得られた。ただし、本実施例で
は、図26、図27に示すように、合同のフーリエ変換
画像を二値化したため、初期状態においては二値化しな
い場合よりも鮮明な相関ピークが得られる上に、(例え
ば、ビー.ヤビティおよびシー.ジェイ.クォ、 アプ
ライド、オプチクス、27,663(1988):B.
Javidi and C.J.Kuo,Applie
d Optics,27,663(1988))フィー
ドバックを行う課程においても二値化しない場合に比べ
て早く収束することがわかる。各相関ピークを規格する
方法として、各相関ピークごとの最大の光強度以外に、
各相関ピークごとの全光量や平均光強度などを用いても
良い。
中心として、その円周上に複数の参照画像を配置したも
のを入力像5として用い、認識処理を行った。認識処理
は、第2実施例と同様に、CCDカメラ11で得られる
相関信号をコンピュータ13で各相関ピークごとに最大
の光強度を測定し、全相関ピーク中で最大の光強度を1
として、他の相関ピークの光強度を規格化し、その割合
に応じてマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させて、
対応する参照画像を照射する光強度を変化させるフィー
ドバックをかけて実効したところ、先述の実施例と同様
に良好なパターン認識が得られた。ただし、本実施例で
は、図26、図27に示すように、合同のフーリエ変換
画像を二値化したため、初期状態においては二値化しな
い場合よりも鮮明な相関ピークが得られる上に、(例え
ば、ビー.ヤビティおよびシー.ジェイ.クォ、 アプ
ライド、オプチクス、27,663(1988):B.
Javidi and C.J.Kuo,Applie
d Optics,27,663(1988))フィー
ドバックを行う課程においても二値化しない場合に比べ
て早く収束することがわかる。各相関ピークを規格する
方法として、各相関ピークごとの最大の光強度以外に、
各相関ピークごとの全光量や平均光強度などを用いても
良い。
【0032】図6は、強誘電性液晶を用いた液晶ライト
バルブ25の構造を示す断面図である。液晶分子を挟持
するためのガラスやプラスチックなどの透明基板31
a、31bは、表面に透明電極層32a、32b、透明
基板の法線方向から75度から85度の範囲の角度で一
酸化珪素を斜方蒸着した配向膜層33a、33bが設け
られている。透明基板31aと31bはその配向膜層3
3a、33b側を、スペーサ39を介して間隙に制御し
て対向させ、強誘電性液晶層34を挟持するようになっ
ている。
バルブ25の構造を示す断面図である。液晶分子を挟持
するためのガラスやプラスチックなどの透明基板31
a、31bは、表面に透明電極層32a、32b、透明
基板の法線方向から75度から85度の範囲の角度で一
酸化珪素を斜方蒸着した配向膜層33a、33bが設け
られている。透明基板31aと31bはその配向膜層3
3a、33b側を、スペーサ39を介して間隙に制御し
て対向させ、強誘電性液晶層34を挟持するようになっ
ている。
【0033】また、光による書き込み側の透明電極層3
2a上には光導電層35、遮光層36、誘電体ミラー3
7が配向膜33aとの間に積層形成され、書き込み側の
透明基板31aと読み出し側の透明基板31bのセル外
面には、無反射コーティング層38a、38bが形成さ
れている。
2a上には光導電層35、遮光層36、誘電体ミラー3
7が配向膜33aとの間に積層形成され、書き込み側の
透明基板31aと読み出し側の透明基板31bのセル外
面には、無反射コーティング層38a、38bが形成さ
れている。
【0034】次に、上記構造を持つ液晶ライトバルブ2
5を初期化する方法を示す。第1の方法は、一度液晶ラ
イトバルブ25の書き込み面全面を光照射し、明時の動
作しきい値電圧の最大値よりも充分に高い直流バイアス
電圧あるいは100Hz〜50kHzの交流電圧を重畳
した直流バイアス電圧を透明電極層32aと32bの間
に印加して、強誘電性液晶分子を一方向の安定状態にそ
ろえ、その状態をメモリさせる。
5を初期化する方法を示す。第1の方法は、一度液晶ラ
イトバルブ25の書き込み面全面を光照射し、明時の動
作しきい値電圧の最大値よりも充分に高い直流バイアス
電圧あるいは100Hz〜50kHzの交流電圧を重畳
した直流バイアス電圧を透明電極層32aと32bの間
に印加して、強誘電性液晶分子を一方向の安定状態にそ
ろえ、その状態をメモリさせる。
【0035】第2の方法は、光照射なしで、暗時の動作
しきい値電圧の最大値よりも十分に高い直流バイアス電
圧あるいは100Hz〜50kHzの交流電圧を重畳し
た直流バイアス電圧を透明電極層32aと32bの間に
印加して、強誘電性液晶分子を一方向の安定状態にそろ
え、その状態をメモリさせる。
しきい値電圧の最大値よりも十分に高い直流バイアス電
圧あるいは100Hz〜50kHzの交流電圧を重畳し
た直流バイアス電圧を透明電極層32aと32bの間に
印加して、強誘電性液晶分子を一方向の安定状態にそろ
え、その状態をメモリさせる。
【0036】さらに液晶ライトバルブ25を上記のよう
に初期化した後の動作について示す。第1の動作では、
暗時には動作しきい値電圧の最小値以下であり、光照射
時には動作しきい値電圧の最大値以上となる逆極性の直
流バイアス電圧あるいは100Hz〜50kHzの交流
電圧を重畳した直流バイアス電圧を透明電極層32aと
32bの間に印加しながら、レーザ光などによって画像
の光書き込みをする。レーザ照射を受けた領域の光導電
層にはキャリアが発生し、発生したキャリアは直流バイ
アス電圧により電界方向にドリフトし、その結果動作し
きい値電圧は下がり、レーザ照射が行われた領域には動
作しきい値電圧以上の逆極性のバイアス電圧が印加さ
れ、強誘電性液晶は自発分極の反転に伴う分子の反転が
起こり、もう一方の安定状態に移行するので、画像が二
値化処理されて記憶される。
に初期化した後の動作について示す。第1の動作では、
暗時には動作しきい値電圧の最小値以下であり、光照射
時には動作しきい値電圧の最大値以上となる逆極性の直
流バイアス電圧あるいは100Hz〜50kHzの交流
電圧を重畳した直流バイアス電圧を透明電極層32aと
32bの間に印加しながら、レーザ光などによって画像
の光書き込みをする。レーザ照射を受けた領域の光導電
層にはキャリアが発生し、発生したキャリアは直流バイ
アス電圧により電界方向にドリフトし、その結果動作し
きい値電圧は下がり、レーザ照射が行われた領域には動
作しきい値電圧以上の逆極性のバイアス電圧が印加さ
れ、強誘電性液晶は自発分極の反転に伴う分子の反転が
起こり、もう一方の安定状態に移行するので、画像が二
値化処理されて記憶される。
【0037】二値化されて記憶された画像は、初期化に
よって揃えられた液晶分子の配列の方向(またはそれに
直角方向)に偏光軸を合わせた直線偏光の読み出し光の
照射、及び誘電体ミラー37による反射光の偏光方向に
対し、偏光軸が直角(または平行)になるように配置さ
れた検光子を通すことにより、ポジ状態またはネガ状態
で読み出すことができる。上記第4の実施例において
は、検光子の代わりに偏光ビームスプリッタ26を用い
ている。
よって揃えられた液晶分子の配列の方向(またはそれに
直角方向)に偏光軸を合わせた直線偏光の読み出し光の
照射、及び誘電体ミラー37による反射光の偏光方向に
対し、偏光軸が直角(または平行)になるように配置さ
れた検光子を通すことにより、ポジ状態またはネガ状態
で読み出すことができる。上記第4の実施例において
は、検光子の代わりに偏光ビームスプリッタ26を用い
ている。
【0038】画像を二値化する場合の動作しきい値は、
透明電極層32aと32bの間に印加する交流電圧の周
波数や直流バイアス電圧の値を調整することにより、変
化させることができる。また、レーザのパワーを調整し
て合同のフーリエ変換画像の光強度を変化させることに
より、実質的に動作しきい値を変化させた場合と同じ効
果が得られる。
透明電極層32aと32bの間に印加する交流電圧の周
波数や直流バイアス電圧の値を調整することにより、変
化させることができる。また、レーザのパワーを調整し
て合同のフーリエ変換画像の光強度を変化させることに
より、実質的に動作しきい値を変化させた場合と同じ効
果が得られる。
【0039】上記実施例において、誘電体ミラー37の
可視光反射率が十分大きく、光導電層35に対して読み
出し光の影響が極めて小さい場合は遮光層36を省略す
ることができる。さらに、光導電層35の読み出し光に
対する反射率が十分大きく、かつ読み出し光が十分小さ
く光導電層35に対して読み出し光の影響が極めて小さ
い場合には、誘導体ミラー37も省略することができ
る。
可視光反射率が十分大きく、光導電層35に対して読み
出し光の影響が極めて小さい場合は遮光層36を省略す
ることができる。さらに、光導電層35の読み出し光に
対する反射率が十分大きく、かつ読み出し光が十分小さ
く光導電層35に対して読み出し光の影響が極めて小さ
い場合には、誘導体ミラー37も省略することができ
る。
【0040】次に第2の動作について説明する。図23
に、光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブの光学応答
特性図に示す。光導電層がイントリンシックあるいはア
ンドーブの水素化アモルファスシリコンで形成されてお
り、誘電体ミラーは、読み出し光が水素化アモルファス
シリコン光導電層に影響を与えるのに十分な光透過率を
有している場合は、光書き込み型強誘電性液晶ライトバ
ルブにおける読み出し面に読み出し光70が照射される
と、前記光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブに用い
られている誘電体ミラーは、読み出し光が水素化アモル
ファスシリコン光導電層に影響を与えるのに十分な光透
過率を有しているために、水素化アモルファスシリコン
光導電層に達した照射光は約1μmの厚さで吸収され、
電子正孔対が発生し、電子は正極側に、正孔は負極側に
移動していく。通常イントリンシック、あるいはアンド
ーブの水素化アモルファスシリコンの電子の易動度は、
正孔の易動度の数倍から数十倍大きいため、伝導現象は
電子が支配的となっている。従って、読み出し光が照射
されている状態で、水素化アモルファスシリコン光導電
層側の透明電極が正電圧67となっているときは、発生
した電子が正極側に引き寄せられるために水素化アモル
ファスシリコン光導電層のインピーダンスが急激に低下
して強誘電性液晶を反転させて暗状態72にすることが
できるが、負電圧68となっている時は、正孔がキャリ
アとなっているために充分に水素化アモルファスシリコ
ン光導電層のインピーダンスを低下させることができ
ず、強誘電性液晶を逆極性の安定状態にまで反転させる
ことができない。
に、光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブの光学応答
特性図に示す。光導電層がイントリンシックあるいはア
ンドーブの水素化アモルファスシリコンで形成されてお
り、誘電体ミラーは、読み出し光が水素化アモルファス
シリコン光導電層に影響を与えるのに十分な光透過率を
有している場合は、光書き込み型強誘電性液晶ライトバ
ルブにおける読み出し面に読み出し光70が照射される
と、前記光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブに用い
られている誘電体ミラーは、読み出し光が水素化アモル
ファスシリコン光導電層に影響を与えるのに十分な光透
過率を有しているために、水素化アモルファスシリコン
光導電層に達した照射光は約1μmの厚さで吸収され、
電子正孔対が発生し、電子は正極側に、正孔は負極側に
移動していく。通常イントリンシック、あるいはアンド
ーブの水素化アモルファスシリコンの電子の易動度は、
正孔の易動度の数倍から数十倍大きいため、伝導現象は
電子が支配的となっている。従って、読み出し光が照射
されている状態で、水素化アモルファスシリコン光導電
層側の透明電極が正電圧67となっているときは、発生
した電子が正極側に引き寄せられるために水素化アモル
ファスシリコン光導電層のインピーダンスが急激に低下
して強誘電性液晶を反転させて暗状態72にすることが
できるが、負電圧68となっている時は、正孔がキャリ
アとなっているために充分に水素化アモルファスシリコ
ン光導電層のインピーダンスを低下させることができ
ず、強誘電性液晶を逆極性の安定状態にまで反転させる
ことができない。
【0041】このときに書き込み光71を照射すれば、
書き込み側の水素化アモルファスシリコン光導電層の表
面近傍でも電子正孔対を発生し、強誘電性液晶の極性が
正、すなわち水素化アモルファスシリコン光導電層側が
負電圧の時に電子キャリアの移動が起こって光が照射さ
れた部分の水素化アモルファスシリコン光導電層のイン
ピーダンスが低下し、強誘電性液晶分子に充分な電圧が
加えられ、読み出し光照射時とは逆極性の明状態73の
安定状態に反転し、必要な情報を書き込むことができる
ことになる。
書き込み側の水素化アモルファスシリコン光導電層の表
面近傍でも電子正孔対を発生し、強誘電性液晶の極性が
正、すなわち水素化アモルファスシリコン光導電層側が
負電圧の時に電子キャリアの移動が起こって光が照射さ
れた部分の水素化アモルファスシリコン光導電層のイン
ピーダンスが低下し、強誘電性液晶分子に充分な電圧が
加えられ、読み出し光照射時とは逆極性の明状態73の
安定状態に反転し、必要な情報を書き込むことができる
ことになる。
【0042】水素化アモルファスシリコン光導電層がゼ
ロ電圧69のときは、キャリアの移動が行われないため
に、書き込まれた合同のフーリエ変換画像はメモリされ
ており、読み出し光70によって読み出される。このゼ
ロ電圧69部を設けることにより、μsecオーダーの
高速応答時でも、記録された合同のフーリエ変換画像の
コントラストを落とさずに済む。読み出し光70の照射
強度が充分強く、誘電体ミラーの反射率が充分大きいと
きは、このゼロ電圧69部を省略することができる。
ロ電圧69のときは、キャリアの移動が行われないため
に、書き込まれた合同のフーリエ変換画像はメモリされ
ており、読み出し光70によって読み出される。このゼ
ロ電圧69部を設けることにより、μsecオーダーの
高速応答時でも、記録された合同のフーリエ変換画像の
コントラストを落とさずに済む。読み出し光70の照射
強度が充分強く、誘電体ミラーの反射率が充分大きいと
きは、このゼロ電圧69部を省略することができる。
【0043】従って、上記のような駆動方式とすること
により、水素化アモルファスシリコン光導電層の極性が
正電圧時には読み出し光により光書き込み型強誘電性液
晶ライトバルブに書き込まれている画像が消去されて、
当該光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブの初期化を
行い、水素化アモルファスシリコン光導電層の極性が負
電圧時には書き込み光により合同のフーリエ変換画像が
書き込まれる。
により、水素化アモルファスシリコン光導電層の極性が
正電圧時には読み出し光により光書き込み型強誘電性液
晶ライトバルブに書き込まれている画像が消去されて、
当該光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブの初期化を
行い、水素化アモルファスシリコン光導電層の極性が負
電圧時には書き込み光により合同のフーリエ変換画像が
書き込まれる。
【0044】図7は本発明による光学的パターン認識装
置の第5実施例を示す構成図で、先述の第1実施例に対
し本実施例は、参照画像と被相関画像との合同のフーリ
エ変換画像を二値化強度分布画像に変換してパターン認
識を実行するものであり、第1実施例と同一または相当
部は同一符号を付し、その説明を省略する。
置の第5実施例を示す構成図で、先述の第1実施例に対
し本実施例は、参照画像と被相関画像との合同のフーリ
エ変換画像を二値化強度分布画像に変換してパターン認
識を実行するものであり、第1実施例と同一または相当
部は同一符号を付し、その説明を省略する。
【0045】図において、CCDカメラ7と二値化回路
40と液晶テレビ9とにより、合同のフーリエ変換画像
を、二値化強度分布画像に変換し、その二値化強度分布
画像を二値化用空間光変調器に表示する手段を構成して
いる。入力像5をフーリエ変換レンズ6でフーリエ変換
するまでの構成は先に述べた実施例と同じであるので省
略する。入力像5のフーリエ変換像をCCDカメラ7を
用いてフーリエ変換画像信号に変換する。ここでは、フ
ーリエ変換像の強度分布が得られているだけなので、そ
のフーリエ変換画像信号を二値化回路40によりあるし
きい値を決めて二値化処理し、その信号を液晶テレビ9
に表示する。ビームスプリッタ3で分けられた他方の光
束は、ミラー8で反射された後、液晶テレビ9を照射す
る。それによりフーリエ変換像の二値化強度分布画像を
コヒーレント画像に変換することができる。そのコヒー
レント画像をフーリエ変換用レンズ10を用いて再びフ
ーリエ変換し、CCDカメラ11で撮像することによ
り、相関ピークを相関信号に変換する。その後の処理
は、先に述べた実施例と同じである。
40と液晶テレビ9とにより、合同のフーリエ変換画像
を、二値化強度分布画像に変換し、その二値化強度分布
画像を二値化用空間光変調器に表示する手段を構成して
いる。入力像5をフーリエ変換レンズ6でフーリエ変換
するまでの構成は先に述べた実施例と同じであるので省
略する。入力像5のフーリエ変換像をCCDカメラ7を
用いてフーリエ変換画像信号に変換する。ここでは、フ
ーリエ変換像の強度分布が得られているだけなので、そ
のフーリエ変換画像信号を二値化回路40によりあるし
きい値を決めて二値化処理し、その信号を液晶テレビ9
に表示する。ビームスプリッタ3で分けられた他方の光
束は、ミラー8で反射された後、液晶テレビ9を照射す
る。それによりフーリエ変換像の二値化強度分布画像を
コヒーレント画像に変換することができる。そのコヒー
レント画像をフーリエ変換用レンズ10を用いて再びフ
ーリエ変換し、CCDカメラ11で撮像することによ
り、相関ピークを相関信号に変換する。その後の処理
は、先に述べた実施例と同じである。
【0046】上記実施例においては、二値化処理したフ
ーリエ変換画像信号を液晶テレビ9に表示しているが、
レーザースキャナ等の走査光学系を用いて光書き込み型
の空間光変調器に記憶しても良いことは言うまでもな
い。上記実施例において、レーザ1からの光束をビーム
スプリッタ3を用いて2光束に分離しているが、レーザ
を2個用いても良いことは言うまでもまい。
ーリエ変換画像信号を液晶テレビ9に表示しているが、
レーザースキャナ等の走査光学系を用いて光書き込み型
の空間光変調器に記憶しても良いことは言うまでもな
い。上記実施例において、レーザ1からの光束をビーム
スプリッタ3を用いて2光束に分離しているが、レーザ
を2個用いても良いことは言うまでもまい。
【0047】ここで、図16に示す1個の被相関画像を
中心として、その円周上に複数の参照画像を配置したも
のを入力像5として用い、認識処理を行った。認識処理
は、第1実施例と同様に、CCDカメラ11で得られる
相関画像信号をコンピュータ13で各相関ピークごとに
最大の光強度を測定し、全相関ピーク中で最大の光強度
1として他の相関ピークの光強度を規格化し、その割合
に応じてマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させて、
対応する参照画像を照射する光強度を変化させるフィー
ドバックをかけて実行したところ、先述の実施例と同様
に良好なパターン認識が得られた。
中心として、その円周上に複数の参照画像を配置したも
のを入力像5として用い、認識処理を行った。認識処理
は、第1実施例と同様に、CCDカメラ11で得られる
相関画像信号をコンピュータ13で各相関ピークごとに
最大の光強度を測定し、全相関ピーク中で最大の光強度
1として他の相関ピークの光強度を規格化し、その割合
に応じてマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させて、
対応する参照画像を照射する光強度を変化させるフィー
ドバックをかけて実行したところ、先述の実施例と同様
に良好なパターン認識が得られた。
【0048】さらに、そのフィードバックを繰り返し行
うことにより、パターン認識の精度が向上することは言
うまでもないことであり、各相関ピークを規格する方法
も、各相関ピークごとの最大の光強度以外に、各相関ピ
ークごとの全光量や平均強度などを用いても良い。
うことにより、パターン認識の精度が向上することは言
うまでもないことであり、各相関ピークを規格する方法
も、各相関ピークごとの最大の光強度以外に、各相関ピ
ークごとの全光量や平均強度などを用いても良い。
【0049】また、入力像5をこのシステムに入力する
方法は、図4に示す方法を用いることができる。ここ
で、参照画像および被相関画像のフーリエ変換強度が等
しくなるようにする規格化の一例を図2に示すシステム
を用いて説明する。
方法は、図4に示す方法を用いることができる。ここ
で、参照画像および被相関画像のフーリエ変換強度が等
しくなるようにする規格化の一例を図2に示すシステム
を用いて説明する。
【0050】入力像5には例えば図16に示すように、
1個の被相関画像を中心としてその円周上に複数の参照
画像を配置したものを用いる。これは、被相関画像と参
照画像との距離を一定にするためである。このとき、各
参照画像の大きさはそれぞれ異なるため、これら参照画
像を透過する光量もまた違ってくる。そのため、液晶ラ
イトバルブ15の書き込み画上に形成される各参照画像
のフーリエ変換像の強度に違いが生じ、その結果、フー
リエ変換像の干渉縞のビジビリティが低下する。これを
防ぐため、最も面積の小さな参照画像の面積をsとし、
各参照画像の面積をSj(jは自然数)としたとき、各
参照画像と被相関画像に照射される光の強度あるいは各
参照画像と被相関画像からフーリエ変換レンズ6に照射
される光の強度が、s/Sjに比例するように、マスク
用液晶テレビ4で光の強度を調整し規格化する。あるい
は、入力像5が形成されている写真フィルムまたは液晶
テレビに透過率のむらがある場合は、各参照画像および
被相関画像の透過光強度を実測して、その最小値をt、
各参照画像と被相関画像の透過光強度をTjとしたと
き、各参照画像と被相関画像に照射される光の強度ある
いは各参照画像と被相関画像からフーリエ変換レンズ6
に照射される光の強度が、t/Tjに比例するように、
マスク用液晶テレビ4で光の強度を調整し規格化する。
マスク用液晶テレビ4の代わりに金属や有機高分子など
の光吸収膜をガラスなどの透明基板上に形成した光学マ
スクを用いてもよいし、マスク用空間光変調器を用いて
もよい。被相関画像あるいは参照画像は随時更新して用
いるのが普通であるため、光透過率を随時変更可能であ
る電気的にアドレス可能なマスク用空間光変調器を用い
る方が好ましい。
1個の被相関画像を中心としてその円周上に複数の参照
画像を配置したものを用いる。これは、被相関画像と参
照画像との距離を一定にするためである。このとき、各
参照画像の大きさはそれぞれ異なるため、これら参照画
像を透過する光量もまた違ってくる。そのため、液晶ラ
イトバルブ15の書き込み画上に形成される各参照画像
のフーリエ変換像の強度に違いが生じ、その結果、フー
リエ変換像の干渉縞のビジビリティが低下する。これを
防ぐため、最も面積の小さな参照画像の面積をsとし、
各参照画像の面積をSj(jは自然数)としたとき、各
参照画像と被相関画像に照射される光の強度あるいは各
参照画像と被相関画像からフーリエ変換レンズ6に照射
される光の強度が、s/Sjに比例するように、マスク
用液晶テレビ4で光の強度を調整し規格化する。あるい
は、入力像5が形成されている写真フィルムまたは液晶
テレビに透過率のむらがある場合は、各参照画像および
被相関画像の透過光強度を実測して、その最小値をt、
各参照画像と被相関画像の透過光強度をTjとしたと
き、各参照画像と被相関画像に照射される光の強度ある
いは各参照画像と被相関画像からフーリエ変換レンズ6
に照射される光の強度が、t/Tjに比例するように、
マスク用液晶テレビ4で光の強度を調整し規格化する。
マスク用液晶テレビ4の代わりに金属や有機高分子など
の光吸収膜をガラスなどの透明基板上に形成した光学マ
スクを用いてもよいし、マスク用空間光変調器を用いて
もよい。被相関画像あるいは参照画像は随時更新して用
いるのが普通であるため、光透過率を随時変更可能であ
る電気的にアドレス可能なマスク用空間光変調器を用い
る方が好ましい。
【0051】この状態において、CCDカメラ11から
は、被相関画像と参照画像との間での相関ピークの像が
得られる。例えば、図16に示す入力像の場合には、参
照画像が4個あるため4対の相関ピークが得られる可能
性がある。この場合、参照画像が1個の場合と比べる
と、各々の相関ピークの光強度は小さく、その上ノイズ
成分が増加しているので、相関ピークとノイズとの分離
が困難となり、誤った認識をする場合もある。特に、前
記入力像の規格化がなされていない場合は、面積の大き
な被相関画像および参照画像に対応する相関ピークはよ
り強く、面積の小さな被相関画像および参照画像に対応
する相関ピークはより弱くなる傾向がある。そのため、
面積の小さな被相関画像および参照画像に対して誤った
認識をする場合が多くなる。この様子を図8に示す。図
8には、図16で示した入力像を用いた場合に、各参照
画像に対応する被相関画像における規格化した自己相関
ピークと最大の相互相関ピークの光強度差を示してあ
る。ここで、規格化した自己相関ピークおよび規格化し
た相互相関ピークとは、各相関ピークごとに最大の光強
度を測定し、それを各相関ピークの光強度としたとき、
各相関ピークの光強度を全相関ピークの中で最大の光強
度で規格化したものである。この規格化した自己相関ピ
ークと最大の相互相関ピークの光強度差が大きいほど、
明瞭なパターン認識ができており、また、これが負にな
れば、誤った認識をしたことに対応する。すなわち、こ
れは認識の度合を示している。図8から分かるように入
力像を規格化しない場合は、面積の大きな被相関画像で
あるWに対しては明瞭な認識ができているにもかかわら
ず、面積の小さな被相関画像であるGに対しては誤った
認識をしている。各被相関画像に対する認識の度合も大
きくばらついている。これに対して入力像を規格化した
場合は、被相関画像の面積の大きさにかかわらず、各被
相関画像に対する認識の度合はほぼ一様になっている。
さらに、各被相関画像に対する認識のレベルも向上して
いることがわかる。
は、被相関画像と参照画像との間での相関ピークの像が
得られる。例えば、図16に示す入力像の場合には、参
照画像が4個あるため4対の相関ピークが得られる可能
性がある。この場合、参照画像が1個の場合と比べる
と、各々の相関ピークの光強度は小さく、その上ノイズ
成分が増加しているので、相関ピークとノイズとの分離
が困難となり、誤った認識をする場合もある。特に、前
記入力像の規格化がなされていない場合は、面積の大き
な被相関画像および参照画像に対応する相関ピークはよ
り強く、面積の小さな被相関画像および参照画像に対応
する相関ピークはより弱くなる傾向がある。そのため、
面積の小さな被相関画像および参照画像に対して誤った
認識をする場合が多くなる。この様子を図8に示す。図
8には、図16で示した入力像を用いた場合に、各参照
画像に対応する被相関画像における規格化した自己相関
ピークと最大の相互相関ピークの光強度差を示してあ
る。ここで、規格化した自己相関ピークおよび規格化し
た相互相関ピークとは、各相関ピークごとに最大の光強
度を測定し、それを各相関ピークの光強度としたとき、
各相関ピークの光強度を全相関ピークの中で最大の光強
度で規格化したものである。この規格化した自己相関ピ
ークと最大の相互相関ピークの光強度差が大きいほど、
明瞭なパターン認識ができており、また、これが負にな
れば、誤った認識をしたことに対応する。すなわち、こ
れは認識の度合を示している。図8から分かるように入
力像を規格化しない場合は、面積の大きな被相関画像で
あるWに対しては明瞭な認識ができているにもかかわら
ず、面積の小さな被相関画像であるGに対しては誤った
認識をしている。各被相関画像に対する認識の度合も大
きくばらついている。これに対して入力像を規格化した
場合は、被相関画像の面積の大きさにかかわらず、各被
相関画像に対する認識の度合はほぼ一様になっている。
さらに、各被相関画像に対する認識のレベルも向上して
いることがわかる。
【0052】次に、被相関画像としてEを用いて、参照
画像の数を増やしていったときの規格化した自己相関ピ
ークと最大相互相関ピークの光強度差の変化を図9に示
す。入力像を規格化しない場合は、参照画像数の数が8
から10文字までしか正確な認識ができなかったのに対
して、入力像を規格化した場合は、参照画像の数が11
から13文字まで正確な文字確認が可能となることがわ
かる。
画像の数を増やしていったときの規格化した自己相関ピ
ークと最大相互相関ピークの光強度差の変化を図9に示
す。入力像を規格化しない場合は、参照画像数の数が8
から10文字までしか正確な認識ができなかったのに対
して、入力像を規格化した場合は、参照画像の数が11
から13文字まで正確な文字確認が可能となることがわ
かる。
【0053】更に、相関出力を入力像の入力強度にフィ
ードバックさせる場合を説明する。例えば、図16の入
力像における初期状態では、被相関画像Eと参照画像E
との相関ピークが最も強く、その相関ピークの光強度1
として他の相関ピークの光強度を規格化した結果、参照
画像G,R,Wの各々との相関ピークの光強度が0.
8,0.7,0.6であったとする。また、各参照画像
E,G,R,Wの大きさの割合が0.8,0.7,0.
8,1であったとする。この割合に応じて、対応する参
照画像を照射する光強度が変化するようにマスク用液晶
テレビ4を用いてマスクする。つまり、参照画像E,
G,R,Wを照射する光強度が1×0.7/0.8:
0.8×0.7/0.7:0.7×0.7/0.8:
0.6×0.7/1=1:0.9:0.7:0.5の割
合になるようマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させ
る。
ードバックさせる場合を説明する。例えば、図16の入
力像における初期状態では、被相関画像Eと参照画像E
との相関ピークが最も強く、その相関ピークの光強度1
として他の相関ピークの光強度を規格化した結果、参照
画像G,R,Wの各々との相関ピークの光強度が0.
8,0.7,0.6であったとする。また、各参照画像
E,G,R,Wの大きさの割合が0.8,0.7,0.
8,1であったとする。この割合に応じて、対応する参
照画像を照射する光強度が変化するようにマスク用液晶
テレビ4を用いてマスクする。つまり、参照画像E,
G,R,Wを照射する光強度が1×0.7/0.8:
0.8×0.7/0.7:0.7×0.7/0.8:
0.6×0.7/1=1:0.9:0.7:0.5の割
合になるようマスク用液晶テレビ4の透過率を変化させ
る。
【0054】次に、その状態での相関ピークをCCDカ
メラ11から得る。その結果、被相関画像Eと参照画像
G,R,Wとの相関ピークの光強度は、それらの参照画
像をマスクとしているので初期状態よりも低下し、一
方、参照画像のEはマスクしていないので、それに対応
する相関ピークの光強度は初期状態よりも増大する。さ
らに、この相関ピークの光強度の割合で参照画像をマス
クする。この操作を繰り返すことにより、複数個存在し
た相関ピークがやがて1対の相関ピークに収束し、他の
相関ピークは観察されなくなる。この状態では、相関ピ
ークが観察されない参照画像は全てマスクされている。
メラ11から得る。その結果、被相関画像Eと参照画像
G,R,Wとの相関ピークの光強度は、それらの参照画
像をマスクとしているので初期状態よりも低下し、一
方、参照画像のEはマスクしていないので、それに対応
する相関ピークの光強度は初期状態よりも増大する。さ
らに、この相関ピークの光強度の割合で参照画像をマス
クする。この操作を繰り返すことにより、複数個存在し
た相関ピークがやがて1対の相関ピークに収束し、他の
相関ピークは観察されなくなる。この状態では、相関ピ
ークが観察されない参照画像は全てマスクされている。
【0055】このように、入力像を規格化した場合と入
力像を規格化しない場合について、規格化した相関ピー
クの光強度のフィードバックの繰り返しによる変化を図
10(a),(b)に示す。どちらの場合においても、
E以外の参照画像に対応する相関ピークの光強度がフィ
ードバックを繰り返すことにより低下していく様子がわ
かる。この場合は、初期状態においても参照画像のEに
対する相関ピークが他の相関ピークに比べて最も強いた
め、フィードバックを行わなくても被相関画像がEであ
ることが認識できる。しかし、入力像を規格化した方が
入力像を規格化しない場合よりも収束性が良いことがわ
かる。
力像を規格化しない場合について、規格化した相関ピー
クの光強度のフィードバックの繰り返しによる変化を図
10(a),(b)に示す。どちらの場合においても、
E以外の参照画像に対応する相関ピークの光強度がフィ
ードバックを繰り返すことにより低下していく様子がわ
かる。この場合は、初期状態においても参照画像のEに
対する相関ピークが他の相関ピークに比べて最も強いた
め、フィードバックを行わなくても被相関画像がEであ
ることが認識できる。しかし、入力像を規格化した方が
入力像を規格化しない場合よりも収束性が良いことがわ
かる。
【0056】上記実施例においては各相関ピークを規格
化する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を
用いているが、各相関ピークごとの全光量や平均強度な
どを用いてもよい。図11は、本発明の光学的パターン
認識装置の概要を示す概念図である。合同のフーリエ変
換画像を表示するフーリエ変換用空間光変調器として、
光書き込みで反射型のものを例に取って説明する。所要
の目標を含む少なくとも1つの参照画像と新たに入力す
る少なくとも1つの被相関画像をコヒーレント画像に変
換する手段は、書き込み光41と、入力像43からな
り、前記コヒーレント画像をフーリエ変換し、前記参照
画像と被相関画像の合同のフーリエ変換画像を得る手段
は、フーリエ変換用レンズ44からなり、前記合同のフ
ーリエ変換画像を強度分布画像に変換し、その強度分布
画像を空間光変調器に表示する手段は、フーリエ変換用
空間光変調器45からなり、前記空間光変調器に表示し
た強度分布画像をコヒーレント光を用いて読み出す手段
は、読み出し光46とビームスプリッタ47からなり、
前記読み出した強度分布画像をフーリエ変換して、その
画像を撮像装置または光検出器を用いて相関信号に変換
する手段は、フーリエ変換用レンズ48と相関出力面4
9からなり、前記相関信号を信号処理して、前記参照画
像と被相関画像との2次元の相関係数をそれぞれ求める
手段は、比較器50からなり、前記参照画像の前または
後ろに配置し、前記各参照画像に対応する部分の透過率
または反射率を、前記相関係数に対して線形または非線
形な関係で変化させる手段は、フィードバック伝達関数
51とマスク用空間光変調器42からなる。
化する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を
用いているが、各相関ピークごとの全光量や平均強度な
どを用いてもよい。図11は、本発明の光学的パターン
認識装置の概要を示す概念図である。合同のフーリエ変
換画像を表示するフーリエ変換用空間光変調器として、
光書き込みで反射型のものを例に取って説明する。所要
の目標を含む少なくとも1つの参照画像と新たに入力す
る少なくとも1つの被相関画像をコヒーレント画像に変
換する手段は、書き込み光41と、入力像43からな
り、前記コヒーレント画像をフーリエ変換し、前記参照
画像と被相関画像の合同のフーリエ変換画像を得る手段
は、フーリエ変換用レンズ44からなり、前記合同のフ
ーリエ変換画像を強度分布画像に変換し、その強度分布
画像を空間光変調器に表示する手段は、フーリエ変換用
空間光変調器45からなり、前記空間光変調器に表示し
た強度分布画像をコヒーレント光を用いて読み出す手段
は、読み出し光46とビームスプリッタ47からなり、
前記読み出した強度分布画像をフーリエ変換して、その
画像を撮像装置または光検出器を用いて相関信号に変換
する手段は、フーリエ変換用レンズ48と相関出力面4
9からなり、前記相関信号を信号処理して、前記参照画
像と被相関画像との2次元の相関係数をそれぞれ求める
手段は、比較器50からなり、前記参照画像の前または
後ろに配置し、前記各参照画像に対応する部分の透過率
または反射率を、前記相関係数に対して線形または非線
形な関係で変化させる手段は、フィードバック伝達関数
51とマスク用空間光変調器42からなる。
【0057】入力像43には、n個の参照画像R1から
Rnと1個の被相関画像Sが並列に配置されているとす
る。また、マスク用空間光変調器42上で、各参照画像
に対応する位置の透過率をM1からMn、被相関画像に対
応する位置の透過率をMsとする。コヒーレントな書き
込み光41がマスク用空間光変調器42を透過して入力
像43を照射することにより、入力像43上の参照画像
と被相関画像はコヒーレント画像に変換される。ここで
初期状態では、 M1=・・・Mn=Ms であり、書き込み光41がマスク用空間光変調器42を
透過して入力像43上の各参照画像と被相関画像を照射
する光強度は等しいとする。
Rnと1個の被相関画像Sが並列に配置されているとす
る。また、マスク用空間光変調器42上で、各参照画像
に対応する位置の透過率をM1からMn、被相関画像に対
応する位置の透過率をMsとする。コヒーレントな書き
込み光41がマスク用空間光変調器42を透過して入力
像43を照射することにより、入力像43上の参照画像
と被相関画像はコヒーレント画像に変換される。ここで
初期状態では、 M1=・・・Mn=Ms であり、書き込み光41がマスク用空間光変調器42を
透過して入力像43上の各参照画像と被相関画像を照射
する光強度は等しいとする。
【0058】そのコヒーレント画像をフーリエ変換用レ
ンズ44でフーリエ変換し、フーリエ変換用空間光変調
器45に照射することによって、フーリエ変換用空間光
変調器45に合同のフーリエ変換画像の強度分布が記憶
される。コヒーレントな読み出し光46はビームスプリ
ッタ47で反射されてフーリエ変換用空間光変調器45
を照射することにより、記憶されている合同のフーリエ
変換画像の強度分布をコヒーレント画像に変換する。そ
の画像をフーリエ変換用レンズ48でフーリエ変換する
ことにより、相関出力像を相関出力面49で受光するこ
とができる。この相関出力像中には、n対の相関ピーク
が存在している。そして、これらn対の相関ピークの平
均値P1からPnの光強度は、入力像43に配置してある
被相関画像Sの参照画像R1からRnに対する2次元の相
関係数を表している。ここでフーリエ変換用レンズ44
の前焦点面に入力像43を後焦点面にはフーリエ変換用
空間光変調器45を配置する。さらに、フーリエ変換用
レンズ48の前焦点面にフーリエ変換用空間光変調器4
5を、後焦点面には相関出力面49を配置する。
ンズ44でフーリエ変換し、フーリエ変換用空間光変調
器45に照射することによって、フーリエ変換用空間光
変調器45に合同のフーリエ変換画像の強度分布が記憶
される。コヒーレントな読み出し光46はビームスプリ
ッタ47で反射されてフーリエ変換用空間光変調器45
を照射することにより、記憶されている合同のフーリエ
変換画像の強度分布をコヒーレント画像に変換する。そ
の画像をフーリエ変換用レンズ48でフーリエ変換する
ことにより、相関出力像を相関出力面49で受光するこ
とができる。この相関出力像中には、n対の相関ピーク
が存在している。そして、これらn対の相関ピークの平
均値P1からPnの光強度は、入力像43に配置してある
被相関画像Sの参照画像R1からRnに対する2次元の相
関係数を表している。ここでフーリエ変換用レンズ44
の前焦点面に入力像43を後焦点面にはフーリエ変換用
空間光変調器45を配置する。さらに、フーリエ変換用
レンズ48の前焦点面にフーリエ変換用空間光変調器4
5を、後焦点面には相関出力面49を配置する。
【0059】相関出力面49で、相関ピークを含む相関
出力像は相関信号に変換され、その相関信号を比較器5
0で処理して相関ピークの光強度を求める。それによっ
て、参照画像と被相関画像との2次元の相関係数Cjか
らCnをそれぞれ求めることができる。ただし、この相
関係数は最大の相関係数で規格化されている。
出力像は相関信号に変換され、その相関信号を比較器5
0で処理して相関ピークの光強度を求める。それによっ
て、参照画像と被相関画像との2次元の相関係数Cjか
らCnをそれぞれ求めることができる。ただし、この相
関係数は最大の相関係数で規格化されている。
【0060】その相関係数はフィードバック伝達関数5
1に入力され、線形または非線形な関数gで次式のよう
な処理 Mi=g(Ci) (i=1,2…,n) をされることにより、マスク用空間光変調器42におけ
る透過率MiからMnが決定される。ただし、当然規格化
された相関係数CiからCnや透過率MiからMnは、0か
ら1までの値であらねばならない。よってgの定義域、
値域ともに0から1までである。
1に入力され、線形または非線形な関数gで次式のよう
な処理 Mi=g(Ci) (i=1,2…,n) をされることにより、マスク用空間光変調器42におけ
る透過率MiからMnが決定される。ただし、当然規格化
された相関係数CiからCnや透過率MiからMnは、0か
ら1までの値であらねばならない。よってgの定義域、
値域ともに0から1までである。
【0061】そして、マスク用空間光変調器42の各参
照画像に対応する部分の透過率が、それぞれM1からMn
になるようにマスク用空間光変調器42を制御する。こ
のことにより、相関処理によって得られた2次元の相関
係数の値に応じて、入力像43上の参照画像R1からRn
を照射する光強度を変化させることができる。ただし、
被相関画像に対応する部分の透過率Msは常に、 Ms=max(Mi) (i=1,2…,n) である。
照画像に対応する部分の透過率が、それぞれM1からMn
になるようにマスク用空間光変調器42を制御する。こ
のことにより、相関処理によって得られた2次元の相関
係数の値に応じて、入力像43上の参照画像R1からRn
を照射する光強度を変化させることができる。ただし、
被相関画像に対応する部分の透過率Msは常に、 Ms=max(Mi) (i=1,2…,n) である。
【0062】このようなマスク用空間光変調器42の透
過率を変えた状態で、再び書き込み光41を照射して同
様に相関処理を行い、2次元の相関係数を求める。その
結果をフィードバック伝達関数51を介して再びマスク
用空間光変調器42の透過率にフィードバックして、参
照画像を照射する光強度を変化させ、フィードバックル
ープを構成する。
過率を変えた状態で、再び書き込み光41を照射して同
様に相関処理を行い、2次元の相関係数を求める。その
結果をフィードバック伝達関数51を介して再びマスク
用空間光変調器42の透過率にフィードバックして、参
照画像を照射する光強度を変化させ、フィードバックル
ープを構成する。
【0063】以上のように構成すると、ある相関ピーク
の光強度が他よりも弱い場合、フィードバックによって
それに対応する参照画像を照射する光強度は小さくな
る。その状態で再び相関処理を行うと、フーリエ変換用
空間光変調器45に記憶されるフーリエ変換像の中で、
その弱い相関ピークに対応する参照画像のフーリエ変換
像は弱く不鮮明になる。それによって、その参照画像に
対応する相関ピークの光強度はさらに小さくなる。よっ
て、このフィードバックを繰り返すことによって、徐々
に被相関画像と相関の小さな参照画像はマスク用空間光
変調器42によってマスクされて、参照画像を照射する
光強度は弱くなるので、正しい参照画像に対応する相関
ピークだけが非常に強くなる。そこで、初期状態ではた
とえ相関出力面に多くの相関ピークが存在し、各相関ピ
ークの光強度が小さくてノイズに埋もれてしまい、正確
な認識ができない状態だとしても、以上述べたフィード
バックを繰り返すことにより、正確な認識が行えること
になる。
の光強度が他よりも弱い場合、フィードバックによって
それに対応する参照画像を照射する光強度は小さくな
る。その状態で再び相関処理を行うと、フーリエ変換用
空間光変調器45に記憶されるフーリエ変換像の中で、
その弱い相関ピークに対応する参照画像のフーリエ変換
像は弱く不鮮明になる。それによって、その参照画像に
対応する相関ピークの光強度はさらに小さくなる。よっ
て、このフィードバックを繰り返すことによって、徐々
に被相関画像と相関の小さな参照画像はマスク用空間光
変調器42によってマスクされて、参照画像を照射する
光強度は弱くなるので、正しい参照画像に対応する相関
ピークだけが非常に強くなる。そこで、初期状態ではた
とえ相関出力面に多くの相関ピークが存在し、各相関ピ
ークの光強度が小さくてノイズに埋もれてしまい、正確
な認識ができない状態だとしても、以上述べたフィード
バックを繰り返すことにより、正確な認識が行えること
になる。
【0064】ここで、フィードバック伝達関数51の形
を変えることによって、2次元の相関係数C1からCnと
マスク用空間光変調器42の透過率の関係を任意に変化
させることができる。フィードバック伝達関数51の形
としては例えば、飽和型ではシグモイド関数や三角関
数、対数関数等があり、また少なくとも1段以上のステ
ップ型単一階段関数や多段のステップ関数などが考えら
れる。また、それらを複合した形の関数でもよい。
を変えることによって、2次元の相関係数C1からCnと
マスク用空間光変調器42の透過率の関係を任意に変化
させることができる。フィードバック伝達関数51の形
としては例えば、飽和型ではシグモイド関数や三角関
数、対数関数等があり、また少なくとも1段以上のステ
ップ型単一階段関数や多段のステップ関数などが考えら
れる。また、それらを複合した形の関数でもよい。
【0065】フィードバック伝達関数51の形を変える
と、収束の速さや認識の正確さを変化させることができ
る。例えば、フィードバック伝達関数51として単一階
段関数を用いた場合、そのしきい値をうまく選択すれ
ば、弱い相関ピークに対応する参照画像は1回のフィー
ドバックで完全にマスクされてしまうので、非常に早く
収束させることができる。しかし、逆にしきい値が不適
切であれば、収束が遅かったり、何回フィードバックを
繰り返しても収束しないことも起こり得る。そこで、入
力像43の状態や、認識に要求される条件に応じてフィ
ードバック伝達関数51の形を変化させればよい。
と、収束の速さや認識の正確さを変化させることができ
る。例えば、フィードバック伝達関数51として単一階
段関数を用いた場合、そのしきい値をうまく選択すれ
ば、弱い相関ピークに対応する参照画像は1回のフィー
ドバックで完全にマスクされてしまうので、非常に早く
収束させることができる。しかし、逆にしきい値が不適
切であれば、収束が遅かったり、何回フィードバックを
繰り返しても収束しないことも起こり得る。そこで、入
力像43の状態や、認識に要求される条件に応じてフィ
ードバック伝達関数51の形を変化させればよい。
【0066】上記例では、フーリエ変換用空間光変調器
45としては光書き込みで反射型を例に取っているが、
透過型であっても、電気書き込み型であっても原理的に
は同じであることは言うまでもない。次に、図11に示
す本発明の概念図を図2に示す第2実施例に従って説明
する。所要の目標を含む少なくとも1つの参照画像と新
たに入力する少なくとも1つの被相関画像をコヒーレン
ト画像に変換する手段は、レーザ1とビームエキスパン
ダ2とビームスプリッタ3とシャッタ17と入力像5か
らなり、前記コヒーレント画像をフーリエ変換し前記参
照画像と被相関画像の合同のフーリエ変換画像を得る手
段は、フーリエ変換レンズ6からなり、前記合同のフー
リエ変換画像を強度分布画像に変換しその強度分布画像
を空間光変調器に表示する手段は、液晶ライトバルブ1
5からなり、前記空間光変調器に表示した強度分布画像
をコヒーレント光を用いて読み出す手段は、ミラー8と
偏光ビームスプリッタ16からなり、前記読み出した強
度分布画像をフーリエ変換してその画像を撮像装置を用
いて相関信号に変換する手段は、フーリエ変換レンズ1
0とCCDカメラ11からなり、前記相関信号を信号処
理して前記参照画像と被相関画像との2次元の相関係数
をそれぞれ求める手段は、A/D変換器12とコンピュ
ータ13からなり、前記参照画像の前または後ろに配置
し、前記各参照画像に対応する部分の透過率または反射
率を前記相関係数に対して線形または非線形な関係で変
化させる手段は、コンピュータ13とD/A変換器14
とマスク用液晶テレビ4からなる。
45としては光書き込みで反射型を例に取っているが、
透過型であっても、電気書き込み型であっても原理的に
は同じであることは言うまでもない。次に、図11に示
す本発明の概念図を図2に示す第2実施例に従って説明
する。所要の目標を含む少なくとも1つの参照画像と新
たに入力する少なくとも1つの被相関画像をコヒーレン
ト画像に変換する手段は、レーザ1とビームエキスパン
ダ2とビームスプリッタ3とシャッタ17と入力像5か
らなり、前記コヒーレント画像をフーリエ変換し前記参
照画像と被相関画像の合同のフーリエ変換画像を得る手
段は、フーリエ変換レンズ6からなり、前記合同のフー
リエ変換画像を強度分布画像に変換しその強度分布画像
を空間光変調器に表示する手段は、液晶ライトバルブ1
5からなり、前記空間光変調器に表示した強度分布画像
をコヒーレント光を用いて読み出す手段は、ミラー8と
偏光ビームスプリッタ16からなり、前記読み出した強
度分布画像をフーリエ変換してその画像を撮像装置を用
いて相関信号に変換する手段は、フーリエ変換レンズ1
0とCCDカメラ11からなり、前記相関信号を信号処
理して前記参照画像と被相関画像との2次元の相関係数
をそれぞれ求める手段は、A/D変換器12とコンピュ
ータ13からなり、前記参照画像の前または後ろに配置
し、前記各参照画像に対応する部分の透過率または反射
率を前記相関係数に対して線形または非線形な関係で変
化させる手段は、コンピュータ13とD/A変換器14
とマスク用液晶テレビ4からなる。
【0067】この実施例において、CCDカメラ11か
ら出力される相関信号はアナログ信号であるため、A/
D変換器12でデジタル信号に変換した後コンピュータ
13に入力し、相関ピークの光強度を測定する。コンピ
ュータ13には、伝達関数の形を前もって入力してお
き、測定した相関ピークの光強度からフィードバック伝
達関数の出力を計算する。その値に応じてマスク用液晶
テレビ4を動作させるための信号をコンピュータ13か
ら出力し、そのデジタル信号をD/A変換器14でデジ
タル信号からアナログ信号に変換し、その信号でマスク
用液晶テレビ4を動作させる。それ以外の動作は第2実
施例と同様である。
ら出力される相関信号はアナログ信号であるため、A/
D変換器12でデジタル信号に変換した後コンピュータ
13に入力し、相関ピークの光強度を測定する。コンピ
ュータ13には、伝達関数の形を前もって入力してお
き、測定した相関ピークの光強度からフィードバック伝
達関数の出力を計算する。その値に応じてマスク用液晶
テレビ4を動作させるための信号をコンピュータ13か
ら出力し、そのデジタル信号をD/A変換器14でデジ
タル信号からアナログ信号に変換し、その信号でマスク
用液晶テレビ4を動作させる。それ以外の動作は第2実
施例と同様である。
【0068】次に、パターン認識処理について説明す
る。入力像5には例えば図12に示すように、1個の被
相関画像を中心としてその円周上に複数の参照画像を配
置したものを用いる。これは、被相関画像と参照画像と
の間の距離を一定にするためである。この例では、参照
画像の個数は13個である。また初期状態では、マスク
用液晶テレビ4は完全に透過の状態にしておき、各参照
画像や被相関画像が均一なコヒーレント光で照射される
ようにしておく。
る。入力像5には例えば図12に示すように、1個の被
相関画像を中心としてその円周上に複数の参照画像を配
置したものを用いる。これは、被相関画像と参照画像と
の間の距離を一定にするためである。この例では、参照
画像の個数は13個である。また初期状態では、マスク
用液晶テレビ4は完全に透過の状態にしておき、各参照
画像や被相関画像が均一なコヒーレント光で照射される
ようにしておく。
【0069】この初期状態において、CCDカメラ11
からは、被相関画像と各参照画像との間での相関に基づ
く多数の相関ピークの像が得られる。例えば、図12に
示す入力像の場合には、参照画像が13個あるため13
対の相関ピークが得られる可能性がある。この場合、参
照画像が1個の場合と比べると、各々の相関ピークの光
強度は小さく、その上ノイズ成分が増加しているので、
相関ピークとノイズとの区別が困難となり、誤った認識
をする場合もある。
からは、被相関画像と各参照画像との間での相関に基づ
く多数の相関ピークの像が得られる。例えば、図12に
示す入力像の場合には、参照画像が13個あるため13
対の相関ピークが得られる可能性がある。この場合、参
照画像が1個の場合と比べると、各々の相関ピークの光
強度は小さく、その上ノイズ成分が増加しているので、
相関ピークとノイズとの区別が困難となり、誤った認識
をする場合もある。
【0070】そこで、CCDカメラ11から出力される
アナログの相関信号をA/D変換器12でデジタル信号
に変換し、コンピュータ13で各相関ピークごとの最大
の光強度を測定し、それを各相関ピークの光強度とす
る。各相関ピークの光強度を全相関ピーク中で最大の光
強度で規格化し、その規格化した値をフィードバック伝
達関数の入力xとする。
アナログの相関信号をA/D変換器12でデジタル信号
に変換し、コンピュータ13で各相関ピークごとの最大
の光強度を測定し、それを各相関ピークの光強度とす
る。各相関ピークの光強度を全相関ピーク中で最大の光
強度で規格化し、その規格化した値をフィードバック伝
達関数の入力xとする。
【0071】フィードバック伝達関数としては、1例と
して g(x)=[1+tanh{(x−α)/xo}]/2.....(1) で表される非線形なシグモイド関数を用いた。図13に
α=0.7でxo=0.4,0.1の場合の関数の形状
を示す。このxoの値を小さくすれば、単一階段関数に
近づく。そして、マスク用液晶テレビ4の各参照画像に
対応する部分の透過率が、フィードバック伝達関数の出
力g(x)となるようにする。
して g(x)=[1+tanh{(x−α)/xo}]/2.....(1) で表される非線形なシグモイド関数を用いた。図13に
α=0.7でxo=0.4,0.1の場合の関数の形状
を示す。このxoの値を小さくすれば、単一階段関数に
近づく。そして、マスク用液晶テレビ4の各参照画像に
対応する部分の透過率が、フィードバック伝達関数の出
力g(x)となるようにする。
【0072】図12の入力像における初期状態では、被
相関画像Eと参照画像中のEとの相関ピークが最も強
く、その相関ピークの光強度を1として他の相関ピーク
の光強度を規格化した結果、被相関画像Eと残り12個
の各参照画像との相関ピークの光強度がC1からC12で
あったとする。すると、マスク液晶テレビ4の透過率
は、g(1)とg(C1)からg(C12)となる。この
割合に応じて、対応する参照画像を照射する光強度が変
化するようにマスク用液晶テレビ4を用いてマスクす
る。
相関画像Eと参照画像中のEとの相関ピークが最も強
く、その相関ピークの光強度を1として他の相関ピーク
の光強度を規格化した結果、被相関画像Eと残り12個
の各参照画像との相関ピークの光強度がC1からC12で
あったとする。すると、マスク液晶テレビ4の透過率
は、g(1)とg(C1)からg(C12)となる。この
割合に応じて、対応する参照画像を照射する光強度が変
化するようにマスク用液晶テレビ4を用いてマスクす
る。
【0073】次に、その状態で再び相関処理を行い、相
関ピークをCCDカメラ11から得る。その結果、被相
関画像EとE以外の参照画像との相関ピーク光強度は、
それらの参照画像を照射する光強度はマスクすることに
より初期状態よりも弱くなっているので、初期状態より
も低下し、一方、参照画像のEはマスクしていないの
で、それに対応する相関ピークの光強度は初期状態より
も増大する。更にこの相関ピークの光強度を規格化し、
再びフィードバック伝達関数に入力し、その出力の値で
参照画像をマスクする。この操作を繰り返すことによ
り、多数存在した相関ピークがやがて1対の相関ピーク
に収束し、他の相関ピークは観察されなくなる。この状
態では、相関ピークが観察されない参照画像は全てマス
クされている。
関ピークをCCDカメラ11から得る。その結果、被相
関画像EとE以外の参照画像との相関ピーク光強度は、
それらの参照画像を照射する光強度はマスクすることに
より初期状態よりも弱くなっているので、初期状態より
も低下し、一方、参照画像のEはマスクしていないの
で、それに対応する相関ピークの光強度は初期状態より
も増大する。更にこの相関ピークの光強度を規格化し、
再びフィードバック伝達関数に入力し、その出力の値で
参照画像をマスクする。この操作を繰り返すことによ
り、多数存在した相関ピークがやがて1対の相関ピーク
に収束し、他の相関ピークは観察されなくなる。この状
態では、相関ピークが観察されない参照画像は全てマス
クされている。
【0074】図14には、フィードバック伝達関数とし
て(1)式で示したシグモイド関数を使用した場合にお
ける、規格化した相関ピークの光強度の繰り返しによる
変化を示す。ただし、(1)式中のパラメータはα=
0.7,xo=0.1である。また、図15には、フィ
ードバック伝達関数が線形の場合の規格化した相関ピー
クの光強度の繰り返しによる変化を示す。図14と図1
5を比較すると、E以外の参照画像に対応する相関ピー
クの光強度は、図14の方がフィードバックを繰り返す
ことにより急速に低下していく様子がわかる。
て(1)式で示したシグモイド関数を使用した場合にお
ける、規格化した相関ピークの光強度の繰り返しによる
変化を示す。ただし、(1)式中のパラメータはα=
0.7,xo=0.1である。また、図15には、フィ
ードバック伝達関数が線形の場合の規格化した相関ピー
クの光強度の繰り返しによる変化を示す。図14と図1
5を比較すると、E以外の参照画像に対応する相関ピー
クの光強度は、図14の方がフィードバックを繰り返す
ことにより急速に低下していく様子がわかる。
【0075】上記実施例において各相関ピークを規格化
する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を用
いているが、各相関ピークごとの全光量や平均光強度な
どを用いてもよい。上記実施例において、フィードバッ
ク伝達関数としてシグモイド関数を用いているが、単一
階段関数や、多段のステップ関数を用いても、原理的に
は変わりがなく、更に、先述の他の実施例におけるフィ
ードバックに適用することができる。
する方法として、各相関ピークごとの最大の光強度を用
いているが、各相関ピークごとの全光量や平均光強度な
どを用いてもよい。上記実施例において、フィードバッ
ク伝達関数としてシグモイド関数を用いているが、単一
階段関数や、多段のステップ関数を用いても、原理的に
は変わりがなく、更に、先述の他の実施例におけるフィ
ードバックに適用することができる。
【0076】次に、図12における被相関画像として、
図24に示すように一部分が欠損した文字を用いた場合
について説明する。図24に示す被相関画像は、アルフ
ァベット大文字“A”の下部が欠損したものであり、欠
損率を次式のように定義する。 欠損率=1― {(欠損した被相関画像の面積) /(欠損していない被相関画像の面積)} …… (2) 図25に、被相関画像として図24に示す画像を用い、
欠損率が変化した場合の規格化した自己相関ピークと最
大相互相関ピークの光強度差の変化を示す。この図から
被相関画像が60%以上欠損している場合でも、欠損の
ない元の画像を正しく連想できることがわかる。また、
フィードバック伝達関数におけるxoの値が小さく非線
形性が大きいほど、連想能力が向上していることがわか
る。
図24に示すように一部分が欠損した文字を用いた場合
について説明する。図24に示す被相関画像は、アルフ
ァベット大文字“A”の下部が欠損したものであり、欠
損率を次式のように定義する。 欠損率=1― {(欠損した被相関画像の面積) /(欠損していない被相関画像の面積)} …… (2) 図25に、被相関画像として図24に示す画像を用い、
欠損率が変化した場合の規格化した自己相関ピークと最
大相互相関ピークの光強度差の変化を示す。この図から
被相関画像が60%以上欠損している場合でも、欠損の
ない元の画像を正しく連想できることがわかる。また、
フィードバック伝達関数におけるxoの値が小さく非線
形性が大きいほど、連想能力が向上していることがわか
る。
【0077】上記実施例において、フーリエ変換レンズ
6あるいは10によって得られる合同のフーリエ変換画
像や相関ピークを含む画像を拡大・縮小する光学系を含
んでいてもかまわない。また上記実施例において、被相
関画像の面積を前もって自動的に測定し、被相関画像を
も規格化する手段を有していることが好ましい。
6あるいは10によって得られる合同のフーリエ変換画
像や相関ピークを含む画像を拡大・縮小する光学系を含
んでいてもかまわない。また上記実施例において、被相
関画像の面積を前もって自動的に測定し、被相関画像を
も規格化する手段を有していることが好ましい。
【0078】さらに、本発明において合同の変換画像の
二値化強度分布画像を表示する空間光変調器としては、
強誘電性液晶を用いた光書き込み型液晶ライトバルブ以
外にも、双安定メモリ性を有する磁気光学空間光変調器
や光双安定素子を用いても良いことは言うまでもない。
二値化強度分布画像を表示する空間光変調器としては、
強誘電性液晶を用いた光書き込み型液晶ライトバルブ以
外にも、双安定メモリ性を有する磁気光学空間光変調器
や光双安定素子を用いても良いことは言うまでもない。
【0079】
【発明の効果】この発明は以上説明したように、一度に
多くの参照画像と関数をとるために参照画像の個数を増
加した場合に、フィードバックを数回行うことでノイズ
の少ない鮮明な相関ピークが得られ、参照画像が1個の
場合と同じ精度でパターン認識ができる。そのため、1
個の参照画像を次々に書き換えて時系列的に相関をとる
よりも高速な認識や計測が可能となる。さらに、フィー
ドバック伝達関数の形を任意に選択することができるた
め、入力画像中の参照画像や被相関画像の個数、これら
の似ている度合、認識や計測に要求される正確さや速度
など、様々な条件に応じて最適のフィードバック伝達関
数を選べば良く、それによって正確さと高速性を両立さ
せた認識や計測が可能となる。このように、本発明を用
いることにより、正確で高速かつ環境に応じたフレキシ
ブルな認識や計測が行えるために、危険な作業の自動化
や生産設備の高速化を実現することができ、設備の安全
性を向上させたり、コストダウンを実現することが可能
となる。
多くの参照画像と関数をとるために参照画像の個数を増
加した場合に、フィードバックを数回行うことでノイズ
の少ない鮮明な相関ピークが得られ、参照画像が1個の
場合と同じ精度でパターン認識ができる。そのため、1
個の参照画像を次々に書き換えて時系列的に相関をとる
よりも高速な認識や計測が可能となる。さらに、フィー
ドバック伝達関数の形を任意に選択することができるた
め、入力画像中の参照画像や被相関画像の個数、これら
の似ている度合、認識や計測に要求される正確さや速度
など、様々な条件に応じて最適のフィードバック伝達関
数を選べば良く、それによって正確さと高速性を両立さ
せた認識や計測が可能となる。このように、本発明を用
いることにより、正確で高速かつ環境に応じたフレキシ
ブルな認識や計測が行えるために、危険な作業の自動化
や生産設備の高速化を実現することができ、設備の安全
性を向上させたり、コストダウンを実現することが可能
となる。
【0080】さらにまた、被相関画像と参照画像を同時
に並列して配置した入力像のコヒーレント画像をフーリ
エ変換レンズでフーリエ変換した後、光反射率と印加電
圧の間に双安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いた
液晶ライトバルブ25に照射し、合同のフーリエ変換画
像があるしきい値によって二値化されるような構成にし
た。これにより合同のフーリエ変換画像の二値化強度分
布画像が液晶ライトバルブ上に記憶される。これを読み
出し、コヒーレント画像に変換することによって、鮮明
な相関ピークが得られるので、多数の参照画像や被相関
画像があっても高い認識率の光学的パターン認識装置を
得ることができる。
に並列して配置した入力像のコヒーレント画像をフーリ
エ変換レンズでフーリエ変換した後、光反射率と印加電
圧の間に双安定メモリ性を有する強誘電性液晶を用いた
液晶ライトバルブ25に照射し、合同のフーリエ変換画
像があるしきい値によって二値化されるような構成にし
た。これにより合同のフーリエ変換画像の二値化強度分
布画像が液晶ライトバルブ上に記憶される。これを読み
出し、コヒーレント画像に変換することによって、鮮明
な相関ピークが得られるので、多数の参照画像や被相関
画像があっても高い認識率の光学的パターン認識装置を
得ることができる。
【図1】本発明による光学的パターン認識装置の第1実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図2】本発明による光学的パターン認識装置の第2実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図3】本発明による光学的パターン認識装置の第3実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図4】本発明による光学的パターン認識装置の入力像
の入力方法の一例を示す図である。
の入力方法の一例を示す図である。
【図5】本発明による光学的パターン認識装置の第4実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図6】本発明の光学的パターン認識装置に用いる液晶
ライトバルブの断面図である。
ライトバルブの断面図である。
【図7】本発明による光学的パターン認識装置の第5実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図8】被相関画像の種類に対する自己相関ピークを最
大相互相関ピークの光強度の差を示す図である。
大相互相関ピークの光強度の差を示す図である。
【図9】参照画像の数の変化に対する自己相関ピークと
最大相互相関ピークの光強度差の変化を示す図である。
最大相互相関ピークの光強度差の変化を示す図である。
【図10】規格化した相関ピークの光強度の繰り返しに
よる変化を示す図である。
よる変化を示す図である。
【図11】本発明の光学的パターン認識装置の概要を示
す概念図である。
す概念図である。
【図12】入力像の一例を示す図である。
【図13】本発明に用いるシグモイド関数の形状を示す
図である。
図である。
【図14】フィードバック関数がシグモイド関数の場合
における本発明装置による規格化した相関ピークの光強
度の繰り返しによる変化を示す図である。
における本発明装置による規格化した相関ピークの光強
度の繰り返しによる変化を示す図である。
【図15】フィードバック関数が線形の場合における本
発明装置による規格化した相関ピークの光強度の繰り返
しによる変化を示す図である。
発明装置による規格化した相関ピークの光強度の繰り返
しによる変化を示す図である。
【図16】本発明に用いる入力像の他の例を示す図であ
る。
る。
【図17】規格化した相関ピーク光強度の繰り返しによ
る変化を示す図である。
る変化を示す図である。
【図18】規格化した相関ピーク光強度の繰り返しによ
る変化を示す図である。
る変化を示す図である。
【図19】従来の光学的パターン認識装置の一例を示す
構成図である。
構成図である。
【図20】従来の光学的パターン認識装置の一例を示す
構成図である。
構成図である。
【図21】入力像の他の例を示す図である。
【図22】相関ピークの一例を示す図である。
【図23】光書き込み型強誘電性液晶ライトバルブの光
学応答特性を示す図である。
学応答特性を示す図である。
【図24】一部が欠損した被相関画像の一例を示す図で
ある。
ある。
【図25】被相関画像の欠損率と規格化した自己相関ピ
ークと最大相互相関ピークの光強度差の関係を示す図で
ある。
ークと最大相互相関ピークの光強度差の関係を示す図で
ある。
【図26】規格化した相関ピーク光強度の繰り返しによ
る変化を示す図である。
る変化を示す図である。
【図27】規格化した相関ピーク光強度の繰り返しによ
る変化を示す図である。
る変化を示す図である。
1 レーザ 2 ビームエキスパンダ 3 ビームスプリッタ 4 マスク用液晶テレビ 5 入力像 6、10 フーリエ変換レンズ 8 ミラー 11 CCDカメラ 12 A/D変換器 13 コンピュータ 14 D/A変換器 17 シャッタ 25 液晶ライトバルブ 31a、31b 透明基板 32a、32b 透明電極層 33a、33b 配向膜層 34 強誘電性液晶層 35 光導電層 36 遮光層 37 誘電体ミラー 38a、38b 無反射コーティング層 39 スペーサ
Claims (1)
- 【請求項1】 CCDカメラなどから得られる2次元画
像に対して、コヒーレント光を用いた光学的相関処理を
施すことにより、所要のパターンを自動的に認識・計測
する光学的パターン認識装置において、 所要の目標を含む少なくとも1つの参照画像と新たに入
力する少なくとも1つの被相関画像とをコヒーレント画
像に変換する手段と、 前記コヒーレント画像をフーリエ変換し、前記参照画像
と前記被相関画像との合同のフーリエ変換画像を得る手
段と、 前記合同のフーリエ変換画像を二値化強度分布画像に変
換し、前記二値化強度分布画像を空間光変調器に表示す
る手段と、 前記空間光変調器に表示された二値化強度分布画像をコ
ヒーレント光を用いて読み出す手段と、 前記読み出した二値化強度分布画像を再度フーリエ変換
して、その画像を撮像装置または光検出器を用いて相関
信号に変換する手段と、 前記相関信号を信号処理して、前記参照画像と前記被相
関画像との2次元の相関係数をそれぞれ求める手段を有
し、 前記合同のフーリエ変換画像を二値化強度分布画像に変
換し、前記二値化強度分布画像を空間光変調器に表示す
る手段が、光反射率と印加電圧との間に双安定メモリ性
を有する強誘電性液晶を用いた光書き込み型の空間光変
調器であることを特徴とする光学的パターン認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35132796A JPH09251177A (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 光学的パターン認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35132796A JPH09251177A (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 光学的パターン認識装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2158223A Division JP2676268B2 (ja) | 1989-06-16 | 1990-06-15 | 光学的パターン認識装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09251177A true JPH09251177A (ja) | 1997-09-22 |
Family
ID=18416554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35132796A Pending JPH09251177A (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 光学的パターン認識装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09251177A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110285755A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-09-27 | 吉林大学 | 一种用于筛选关联成像采样数据的装置和方法 |
-
1996
- 1996-12-27 JP JP35132796A patent/JPH09251177A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110285755A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-09-27 | 吉林大学 | 一种用于筛选关联成像采样数据的装置和方法 |
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