JPH09251536A

JPH09251536A - パターンマッチングによる検査装置および検査方法

Info

Publication number: JPH09251536A
Application number: JP8059439A
Authority: JP
Inventors: Yoshihiko Nakakawaji; 良彦中川路; Takehiro Sugimoto; 丈洋杉本; Kenji Takaku; 賢次高久
Original assignee: Komatsu Ltd
Current assignee: Komatsu Ltd
Priority date: 1996-03-15
Filing date: 1996-03-15
Publication date: 1997-09-22
Also published as: TW329472B; WO1997034258A1

Abstract

(57)【要約】【課題】パターンマッチングを行う際に基準となる最適
な標準パターンを確実かつ迅速に選択、決定し、パター
ンマッチングによる検査を精度よく、かつ作業効率よく
行う。【解決手段】撮像画像内の複数の検査物体１〜５のそれ
ぞれが順次、仮の基準パターンＰ１、Ｐ２…Ｐ５とされ
て、当該仮の基準パターンＰ１と撮像画像内の少なくと
も他の全ての検査物体２〜５との全一致度合い（最低ス
コア）を求める演算が繰り返し行われ、全一致度合いが
各仮の基準パターン毎に求められていき、この結果、全
一致度合い（最低スコア）が最も大きくなる仮の基準パ
ターンＰ３が最終的に基準パターンとして選択される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣのリード等の
不良の検査を、パターンマッチングにより行う装置およ
び方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣのリード、コネクタのピンなど、同
一形状のものが、多数撮像されている画像上で、これら
リード等の不良を検査する場合、たとえばリードの欠
け、リードの曲がりといった不良、リードピッチの不良
を検査するような場合、画像上でパターンマッチングの
手法を用いて検査するのが、一般的である。この場合、
パターンマッチングにおいて基準となるパターンを決定
する必要がある。この基準パターンの決定は、つぎのよ
うに行うようにしていた。

【０００３】すなわち、リードの不良を検査する場合を
例にとれば、オペレータが画像中の多数あるリードの中
から、最も標準と思われる１本のリードを矩形で囲むこ
とにより選択し、これを基準パターンとして登録する。
そして、この基準パターンを他のリードに突き合わせる
パターンマッチングを実行し、基準パターンとの類似度
をスコアとして各リード毎に算出し、基準パターンとし
ての妥当性を判断するようにしている。

【０００４】ここで、選択した基準パターンのスコアが
一定の基準よりも低い場合には、基準パターンとして不
適当であると判断して他のリードを基準パターンとして
選択して登録し直すか、基準パターンを編集して作り直
すようにしていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
に、オペレータの判断により基準パターンを選択する方
法をとった場合には、オペレータの勘や経験に左右さ
れ、選択した基準パターンが最適であるという保証はな
かった。このため、基準パターンの選択を何度もやり直
さなければならず、基準パターンの決定までに、非常に
手間と時間がかかるものとなっていた。

【０００６】本発明はこうした実状に鑑みてなされたも
のであり、パターンマッチングを行う際に基準となる最
適な基準パターンを確実かつ迅速に選択、決定すること
ができ、これによってパターンマッチングによる検査を
精度よく、かつ作業効率よく行うことができるパターン
マッチングによる検査装置および検査方法を提供するこ
とを解決課題とするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段および効果】そこで、この
発明の主たる発明では、検査物体と、当該検査物体の基
準パターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算
し、この演算された一致度合いの値に応じて前記検査物
体の形状の良否を判断するパターンマッチングによる検
査装置において、前記検査物体を複数同時に撮像する撮
像手段と、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の
基準パターンとし、この仮の基準パターンと当該撮像画
像内の他の検査物体との一致度合いを順次演算して、こ
の演算された各一致度合いの値に基づき、前記仮の基準
パターンと前記撮像画像内の他の全ての検査物体との全
一致度合いを求める演算手段と、前記撮像画像内の複数
の検査物体のそれぞれを順次、前記仮の基準パターンと
して、前記演算手段を繰り返し行わせ、前記全一致度合
いが最も大きくなる仮の基準パターンを基準パターンと
して選択する選択手段とを具えるようにしている。

【０００８】かかる構成によれば、撮像画像内の複数の
検査物体のそれぞれが順次、仮の基準パターンとされ
て、当該仮の基準パターンと撮像画像内の他の全ての検
査物体との全一致度合いを求める演算が繰り返し行わ
れ、全一致度合いが各仮の基準パターン毎に求められて
いき、この結果、全一致度合いが最も大きくなる仮の基
準パターンが最終的に基準パターンとして選択される。

【０００９】このようにパターンマッチングを行う際に
基準となる最適な基準パターンが確実かつ迅速に選択、
決定されるようになり、これによってパターンマッチン
グによる検査が精度よく、かつ作業効率よく行われる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明に係
るパターンマッチングによる検査装置および検査方法の
実施の形態について説明する。

【００１１】図２は、この実施の形態において、検査対
象となるＩＣ本体１０の側方に配設された複数のリード
１〜５を示している。つまり、リードの欠け、曲がりと
いった欠陥の有無や、リードのピッチの良否についての
検査をパターンマッチングによって行う場合を想定して
いる。

【００１２】図１は、上記パターンマッチングを行う場
合に必要とされる基準のリードのパターン（以下、基準
パターンという）を選択、決定する手順を説明するフロ
ーチャートである。なお、図２に示すＩＣの各リード１
〜５は、基準パターンを選択するためのものであるの
で、全てが「良品」であるものとする。

【００１３】以下、このフローチャートを参照して説明
する。

【００１４】・第１の実施の形態この第１の実施の形態では、図１におけるステップ１０
７、１０９、１１７、１１８はないものとして考える。

【００１５】まず、図１に示すように、撮像画像内にお
けるＩＣの各リード１〜５の位置が検出される（ステッ
プ１０１）。

【００１６】すなわち、良品のＩＣが撮像画像内で傾く
ことのないように、撮像用のテーブル上に載置され、こ
のテーブル上に載置されたＩＣの複数のリード１〜５が
同時に図示せぬカメラで撮像され、図２に示すような撮
像画像として、メモリに取り込まれる。

【００１７】そこで、撮像画像上で、リード配列方向に
ラインＡが引かれ、このラインＡをリードの長手方向Ｃ
に逐次移動させながら、逐次ラインＡ上の明度の分布が
求められる。そして、リード長手方向ＣにラインＡを逐
次移動させたときのラインＡ上の光分布からリード１〜
５の先端にラインＡが位置されたことが判別される。こ
のリード１〜５の先端に位置されたラインＡがＡ0とさ
れる。

【００１８】また、撮像画像上で、リード配列方向と直
角方向（リード長手方向）にラインＢが引かれ、このラ
インＢをリード配列方向Ｄに逐次移動させながら、逐次
ラインＢ上の明度の分布が求められる。そして、リード
配列方向ＤにラインＢを逐次移動させたときのラインＢ
上の光分布からリード１〜５の長手方向中心にラインＢ
が位置されたことが判別される。このリード１〜５の長
手方向中心に位置されたラインＢがＢ0とされる。

【００１９】そこで、以上のように求められたラインＡ
0と、ラインＢ0との交点として、各リード１〜５それぞ
れの位置が求められる（図２内に「＋」として示され
る）とともに（ステップ１０１）、撮像画像内のリード
の本数（５本；なお実際には５本よりも多い多数のリー
ドが存在するが説明の便宜のため全部で５本であると仮
定する）が検出される（ステップ１０２）。

【００２０】なお、各リード１〜５の位置の検出方法と
しては、上述した方法以外につぎのような方法を採用し
てもよい。

【００２１】（ａ）カメラとテーブル上のＩＣとの相対
的位置関係が予め判明しているのであれば、この相対的
位置関係に基づいて撮像画像上におけるリード先端の座
標位置を予め特定することができる。そこで、この予め
特定された画像上の座標位置をリード先端位置としても
よい。

【００２２】（ｂ）カメラによる撮像画像の各画素の明
度を所定のしきい値で２値化する。すると、リードとそ
の背景とが明暗の２階調の明度で識別される。そこで、
明暗の境界からリード先端位置を検出することができ
る。

【００２３】（ｃ）オペレータが、撮像画面上において
５本のリード１〜５のうちの１つのリードの先端部分を
手動操作にて矩形で囲み、これを仮の基準パターン（た
とえば図２の仮基準パターンＰ１）として登録する。以
後、この仮の基準パターンＰ１と他のリード先端部分と
を突き合わせたパターンマッチングを行うなかで（ステ
ップ１０３〜１１４）、他のリードの先端部分が矩形部
分として順次探索されていくので、この探索された矩形
部分を仮基準パターンＰ２〜Ｐ５とする。このようにす
れば、ステップ１０１で各リードの位置を検出せずと
も、直接、仮基準パターンを求めることができるように
なる。

【００２４】さて、つぎのステップ１０３では、仮基準
パターンとリード先端部分とを突き合わせた結果、得ら
れる当該リード先端部分と仮基準パターンとの一致度合
い、つまり類似度Ｓc、の最大値Ｓc Maxの内容が０にさ
れる。なお、ここで類似度Ｓcは、０〜１００の値をと
るものとし、値が大きいほど一致度合いが大きいものと
する。１００の値をとるときは、「完全一致」の場合で
あり、０の値をとるときは、「全く一致していない」か
「パターンマッチングに失敗した」場合である（ステッ
プ１０３）。そして、仮基準パターンを特定する符号ｉ
が１にイニシャライズされて（ステップ１０４）、仮基
準パターンＰｉが作成される。

【００２５】すなわち、図２に示すように、仮基準パタ
ーンＰｉ、たとえばＰ１を例にとれば、ステップ１０１
で検出されたリード１の先端位置（＋印参照）を中心と
する所定の大きさの矩形部分が画像上において切り出さ
れ、これが仮基準パターン１として登録される。なお、
ステップ１１６でｉが＋１インクリメントされる毎に、
リード１と同様にして、他のリード２〜５についてもそ
れぞれ対応する仮基準パターンＰ２〜Ｐ５が作成、登録
されることになる（ステップ１０５）。

【００２６】ついで、上記ステップ１０５で登録された
仮基準パターンとの突き合わせを行うべきリードを特定
する符号ｊが１にイニシャライズされる（ステップ１０
６）。

【００２７】ついで、現在登録されている仮基準パター
ンＰｉとリードｊとを突き合わせるパターンマッチング
が実行され、その結果、この組合せ（ｉ、ｊ）における
類似度Ｓc（ｉ、ｊ）が「スコア」（図３内の数字のこ
とである）として記憶される（ステップ１０８）。

【００２８】そして、現在のリードｊがリード本数
（５）に達していない限りは（ステップ１１０の判断Ｎ
Ｏ）、リードｊが＋１インクリメントされ（ステップ１
１５）、ステップ１０７からステップ１１０まで同様の
処理が繰り返し実行される。この結果、ステップ１１０
で、リードｊがリード本数に達した時点で、仮基準パタ
ーンＰｉと全てのリード１〜５とのパターンマッチング
が終了して、全てのリードについての類似度Ｓc（ｉ、
１）、Ｓc（ｉ、２）、…Ｓc（ｉ、５）が求められる。

【００２９】そして、これら類似度Ｓc（ｉ、１）、Ｓc
（ｉ、２）、…Ｓc（ｉ、５）の中の最小値（最低スコ
ア：図３参照）が求められ、この最小値と、現在のＳc
Maxとが比較され、大きい方が、新たなＳc Maxとして更
新される（ステップ１１１）。そこで、この更新された
Ｓc Maxが得られる基準パターンの符号ｉがｋの内容と
して記憶される（ステップ１１２）。

【００３０】以後、ｉがリード本数に達していない限り
は（ステップ１１３の判断ＮＯ）、ｉが＋１順次インク
リメントされていき（ステップ１１６）、新たな仮基準
パターンｉと各リードｊとのパターンマッチングが行わ
れ、Ｓc Maxが順次更新され、更新されたＳc Maxが得ら
れる基準パターンの符号ｋが順次更新される（ステップ
１０５〜１１２）。

【００３１】これを図３を参照して説明すると、まず、
仮基準パターンＰ１について得られる類似度Ｓc（「１
００」、「９８」、「８４」、「９０」、「８０」）の
中の最小値（最低スコア）は、「８０」なので、仮基準
パターンＰ１によるパターンマッチングが全て終了した
段階では、最低スコアの最大値Ｓc Maxは「８０」で、
ｋの内容が「１」（仮基準パターンＰ１）とされる。し
かし、ｉが更新される毎に、Ｓc Maxは、「８０」（仮
基準パターンＰ２によるパターンマッチング終了段階で
得られた最低スコア「７１」と、現在のＳc Max「８
０」とが比較される）、そして「８２」（仮基準パター
ンＰ３によるパターンマッチング終了段階で得られた最
低スコア「８２」と、現在のＳc Max「８０」とが比較
される）、そして「８２」（仮基準パターンＰ４による
パターンマッチング終了段階で得られた最低スコア「７
９」と、現在のＳc Max「８２」とが比較される）、そ
して「８２」（仮基準パターンＰ５によるパターンマッ
チング終了段階で得られた最低スコア「７１」と、現在
のＳc Max「８２」とが比較される）と更新されていく
（ステップ１１１）。この結果、最終的なｋの内容は、
各最低スコア「８０」、「７１」、「８２」、「７
９」、「７１」の中での最大値Ｓc Max「８２」が得ら
れる仮基準パターンＰ３を示す「３」が、ｋの内容とさ
れ（ステップ１１２）、この仮基準パターンＰ３が最終
的に基準パターンとして選択、決定される（ステップ１
１３の判断ＹＥＳ、ステップ１１４）。

【００３２】なお、この実施の形態では、全てのリード
１〜５とのパターンマッチングが最も良好に行われた仮
基準パターンを、基準パターンとして決定するようにし
ている。そして、この全てのリードとのパターンマッチ
ングが良好に行われたことを評価する評価値として、各
リード１〜５毎に得られる各類似度Ｓcの中での最低ス
コアの高さを採用している。

【００３３】しかし、これに限定されることなく、全て
のリード１〜５とのパターンマッチングが最も良好に行
われたことを評価することができる評価値であればよ
く、たとえば各リード１〜５毎に得られる各類似度Ｓc
を平均した値（たとえば、図３の仮基準パターンＰ１で
いえば、「１００」、「９８」、「８４」、「９０」、
「８０」の平均値である）の高さを、評価値としてもよ
い。

【００３４】以上のように、この実施の形態によれば、
撮像画像内の複数の検査物体１〜５のそれぞれが順次、
仮の基準パターンＰ１、Ｐ２…Ｐ５とされて、当該仮の
基準パターンＰ１…と撮像画像内の全ての検査物体１〜
５との全一致度合い（最低スコア）を求める演算が繰り
返し行われ、全一致度合いが仮の基準パターン毎に求め
られていき、この結果、全一致度合い（最低スコア）が
最も大きくなる（ＳcMaxの最終更新値が得られる）仮の
基準パターンＰ３が最終的に基準パターンとして選択さ
れる。このため、パターンマッチングを行う際に基準と
なる最適なパターンＰ３が確実かつ迅速に選択、決定さ
れるようになる。

【００３５】そして、この基準パターンＰ３を用いて、
各ＩＣのリードの検査を行うようにすれば、パターンマ
ッチングによる検査が精度よく、かつ作業効率よく行わ
れることになる。

【００３６】なお、上述した第１の実施の形態における
演算処理をより高速に行うために、以下に示すように適
宜演算を省略するような実施も可能である。

【００３７】・第２の実施の形態この実施の形態では、第１の実施の形態において、図１
のステップ１１７が付加される。

【００３８】すなわち、ステップ１０６の処理終了後に
ステップ１１７に移行され、現在、仮基準パターンとし
て登録されている符号ｉが、仮基準パターンとの突き合
わせを行うべきリードの符号ｊと一致しているか否かが
判断される（ステップ１１７）。ステップ１１７でｊ＝
ｉであると判断された場合には、仮基準パターンが切り
出されたリードと、突き合わせを行うべきリードとが一
致している場合なので、パターンマッチングの結果得ら
れる類似度Ｓcは、最大値（完全一致：１００）をとる
ことが明らかであり、このため、パターンマッチングを
行うことなく、手順はステップ１１０に移行される。

【００３９】以上のように、ｊ＝ｉとなる組合せについ
てのパターンマッチング処理が省略され、演算処理が高
速に行われることになる。

【００４０】なお、ｊ＝ｉとなる組合せの場合の類似度
は必ず１００になるので最低スコアの算出には無関係で
あるとも言える。そこで、最低スコアの算出の際、ｊ＝
ｉとなる組合せの場合の類似度１００は除外するように
してもよい（図３において「１００」の値を除外しても
よい）。

【００４１】・第３の実施の形態この実施の形態では、第１の実施の形態において、図１
のステップ１０７、１１８が付加される。

【００４２】すなわち、ステップ１０６の処理終了後に
ステップ１０７に移行され、現在、仮基準パターンとし
て登録されている符号ｉが、仮基準パターンとの突き合
わせを行うべきリードの符号ｊよりも小さいか否かが判
断される（ステップ１０７）。ここで、ステップ１０７
の判断の結果がＹＥＳである場合には、その組合せ
（ｉ、ｊ）のパターンマッチングが未だ実行されていな
い場合なので、つぎのステップ１０８でパターンマッチ
ングが行われる。

【００４３】しかし、ステップ１０７でＮＯと判断され
た場合には、つぎのステップ１１８に移行され、これか
ら求めようとする類似度Ｓc（ｉ、ｊ）の値が、既に求
められ記憶しておいた類似度Ｓc（ｊ、ｉ）の値とされ
（ステップ１１８）、実際に、その組合せ（ｉ、ｊ）に
ついてのパターンマッチングを行うことなく、手順はス
テップ１０９に移行される。

【００４４】たとえば、仮基準パターンＰ３とリード１
とのパターンマッチングを行おうとするとき、仮基準パ
ターンＰ１とリード３とのパターンマッチングは既に行
われており、そのとき得られた類似度Ｓc（１、３）
（＝「８４」：図３参照）が、これからパターンマッチ
ングを行おうとする仮基準パターンＰ３とリード１との
類似度Ｓc（３、１）（＝「８４」：図３参照）とされ
る（ステップ１１８）。

【００４５】以上のように、ｉ、ｊの組合せが一致する
場合に、重複したパターンマッチング処理を省略するこ
とができ、演算処理が高速に行われることになる。

【００４６】・第４の実施の形態この実施の形態では、第１の実施の形態において、図１
のステップ１０９が付加される。

【００４７】すなわち、ステップ１０８の処理終了後に
ステップ１０９に移行され、ステップ１０８で求められ
た類似度Ｓc（ｉ、ｊ）の値が、現在のＳc Maxの値より
も小さいか否かが判断される（ステップ１０９）。

【００４８】そして、このステップ１０９の判断結果が
ＹＥＳの場合には、もはや、現在登録されている仮基準
パターンＰｉの最低スコアが、現在のＳc Maxの値を上
回る可能性はない、つまり現在登録されている仮基準パ
ターンＰｉが最終的に基準パターンとして決定される可
能性はないものと判断して、この現在登録されている仮
基準パターンＰｉによる以後のパターンマッチングを中
断して、手順をステップ１１３に移行させる。これによ
り、ｉが＋１インクリメントされた新たな仮基準パター
ンについてのパターンマッチングが開始されるか、全て
の仮基準パターンによるパターンマッチングが終了する
ことになる。

【００４９】たとえば、仮基準パターンＰ４とリード２
とのパターンマッチングを行った結果得られた類似度Ｓ
c（４、２）（＝「７９」：図３参照）は、現在のＳc M
axの値「８２」（仮基準パターンＰ３の最低スコア：図
３参照）よりも小さいので、現在の仮基準パターンＰ４
の最低スコア（高々「７９」）が、現在のＳc Maxの値
「８２」を上回る可能性はない、つまり現在の仮基準パ
ターンＰ４が最終的に基準パターンとして決定される可
能性はないものと判断して、この現在の仮基準パターン
Ｐ４による以後の組合せ（ｉ、ｊ）＝（４、３）、
（４、４）、（４、５）によるパターンマッチングが省
略される。

【００５０】以上のように、パターンマッチングを行っ
た結果得られた類似度Ｓcが、現在のＳc Maxの値を下回
った時点で、現在の仮基準パターンＰｉによる以後のパ
ターンマッチングを省略することができ、演算処理が高
速に行われることになる。

【００５１】なお、上記第２の実施の形態ないし第４の
実施の形態は、適宜組み合わせて実施することが可能で
ある。もちろん、第２の実施の形態ないし第４の実施の
形態をすべて採用した実施も可能である。・第５の実施の形態つぎに、図４に示すようにＩＣ本体１０に印字された所
定の文字「Ａ」の形状の良否を検査する場合に好適な実
施の形態について説明する。この場合も、図１に示す処
理と同様にして、文字「Ａ」の検査のために必要な基準
パターンを決定することができる。つまり、図２におけ
るリード１、２、３、４、５を、図４におけるＩＣ本体
Ａ−１、Ａ−２、Ａ−３、Ａ−４、Ａ−５に置き換え
て、同様に行うことができる。

【００５２】ここで、検査対象の文字「Ａ」の形状は、
印字用のゴムのへたり等によって所定の幅内でばらつく
ものであるが、その所定幅内における形状の相違であれ
ば、すべて「良品」と判定したい場合がある。そこで、
その限度見本として、文字「Ａ」の形状（線の太さ、細
さ）が上記所定の幅内でそれぞれ異なるＩＣ本体（すべ
て「良品」のもの）が、図４のＡ−１、Ａ−２、Ａ−
３、Ａ−４、Ａ−５に示すように複数用意される。

【００５３】そこで、図２の場合とは異なり、これらＩ
Ｃ本体が一つずつ、カメラによって撮像され、別々の撮
像画像としてメモリに記憶され、各ＩＣ本体毎に文字
「Ａ」の位置が検出される（ステップ１０１）。

【００５４】そして、上記検出された文字「Ａ」の位置
に基づき、各撮像画像内からそれぞれ一つの仮基準パタ
ーンＰ１、Ｐ２…Ｐ５が順次切り出され、これらが仮基
準パターンＰ１、Ｐ２…Ｐ５として順次登録される（ス
テップ１０５、ステップ１１６：図４参照）。

【００５５】なお、ここで、仮基準パターンＰ１〜Ｐ５
の切出し方法として、前述した（ｃ）の方法を適用する
ことができる。

【００５６】すなわち、オペレータが、一の撮像画面上
において、ＩＣ本体上の「Ａ」を手動操作にて矩形で囲
み、これを仮の基準パターン（たとえば図４の仮基準パ
ターンＰ１）として登録する。以後、この仮の基準パタ
ーンＰ１と他の撮像画像内のＩＣ本体上の文字「Ａ」を
突き合わせたパターンマッチングを行うなかで（ステッ
プ１０３〜１１４）、他の撮像画像内の文字「Ａ」を囲
む矩形部分が順次探索されていくので、この探索された
矩形部分を仮基準パターンＰ２〜Ｐ５とする。このよう
にすれば、ステップ１０１で各ＩＣ本体毎に文字「Ａ」
の位置を検出せずとも、直接、仮基準パターンを求める
ことができるようになる。

【００５７】こうして、図２の場合と同様にして処理が
進められ、ステップ１１２における最終的なｋの内容
は、図３と同様な図５に示す各最低スコア「６１」、
「７１」、「７２」、「６６」、「６１」の中での最大
値Ｓc Max「７２」が得られる仮基準パターンＰ３を示
す「３」とされ（ステップ１１２）、この仮基準パター
ンＰ３が最終的に基準パターンとして選択、決定される
（ステップ１１３の判断ＹＥＳ、ステップ１１４）。

【００５８】そして、この基準パターンＰ３を用いて、
各ＩＣ本体の文字「Ａ」の形状の検査を行うようにすれ
ば、パターンマッチングによる検査が精度よく、かつ作
業効率よく行われることになる。

【００５９】なお、図２の場合と同様に、第２の実施の
形態ないし第４の実施の形態を適宜取り入れて、演算処
理を高速に行うようにしてもよい。

【００６０】・第６の実施の形態第５の実施の形態において、各ＩＣ本体を別々の撮像画
像として取り込もうとする際、パターンマッチングをす
べき文字「Ａ」の形状が、テーブルないしはトレイ上の
ＩＣ本体の傾き度合いに応じてばらつくことがある。こ
の傾き度合いのばらつきも所定の幅内の相違であれば、
すべて「良品」と判定したい場合がある。

【００６１】そこで、第５の実施の形態のＩＣ本体Ａ−
１〜Ａ−５と同様に、傾き度合いがそれぞれ異なるＩＣ
本体を複数用意して、これら複数のＩＣ本体を順次撮像
することにより、同様に仮基準パターンＰ１〜Ｐ５を切
り出して、これら仮基準パターンの中から、同様にして
基準パターンを決定してもよい。

【００６２】・第７の実施の形態第５の実施の形態において、各ＩＣ本体を別々の撮像画
像として取り込もうとする際、パターンマッチングをす
べき文字「Ａ」の形状が、テーブル上のＩＣ本体とカメ
ラとの距離に応じてばらつくことがある。つまり、距離
が異なることにより、ピントが異なったり、撮像される
文字の大きさが異なったりしてしまい、文字「Ａ」の形
状がばらつくことがある。このカメラとＩＣ本体との距
離のばらつきも所定の幅内の相違であれば、すべて「良
品」と判定したい場合がある。

【００６３】そこで、第５の実施の形態のＩＣ本体Ａ−
１〜Ａ−５と同様に、カメラとＩＣ本体との距離がそれ
ぞれ異なるＩＣ本体を複数用意して、これら複数のＩＣ
本体を順次撮像することにより、同様に仮基準パターン
Ｐ１〜Ｐ５を切り出して、これら仮基準パターンの中か
ら、同様にして基準パターンを決定してもよい。

【００６４】・第８の実施の形態第５の実施の形態において、各ＩＣ本体を別々の撮像画
像として取り込もうとする際、パターンマッチングをす
べき文字「Ａ」の形状が、この文字に照射される光に応
じてばらつくことがある。つまり、天気、時刻等の照明
条件により文字に照射される光の強度等が異なってしま
い、これにより撮像される文字の輪郭が異なったりして
しまい、文字「Ａ」の形状がばらつくことがある。この
照射される光のばらつきも所定の幅内の相違であれば、
すべて「良品」と判定したい場合がある。

【００６５】そこで、第５の実施の形態のＩＣ本体Ａ−
１〜Ａ−５と同様に、ＩＣ本体に照射される光の強さ等
がそれぞれ異なるＩＣ本体を複数用意して、これら複数
のＩＣ本体を順次撮像することにより、同様に仮基準パ
ターンＰ１〜Ｐ５を切り出して、これら仮基準パターン
の中から、同様にして基準パターンを決定してもよい。

【００６６】なお、上記第５の実施の形態ないし第８の
実施の形態は、適宜組み合わせて実施することが可能で
ある。もちろん、第５の実施の形態ないし第８の実施の
形態をすべて採用した実施も可能である。

【００６７】なお、また、以上説明した実施の形態で
は、検査対象をＩＣ（ＩＣのリード、ＩＣ本体上の文
字）としているが、もちろんこれに限定されることなく
コネクタのピン等、任意の検査対象に適用可能である。

【００６８】なお、上述した実施の形態を実施する態様
としては、以下のような場合が考えられる。

【００６９】すなわち、上記第１の実施の形態ないし第
８の実施の形態の処理内容を適宜、フロッピーディスク
に格納して、パターンマッチングによる検査を行うユー
ザ、オペレータに流通、配布してもよい。また、流通配
布する記憶媒体としては、フロッピーディスク以外のハ
ードディスク、ＩＣカード、ＣＤ−ＲＯＭといった記憶
媒体であってもよい。

【００７０】また、流通させる態様としては、上述した
ように携行自在の記憶媒体を配布する態様だけでなく
て、本実施の形態のソフトウェアを利用するハードウェ
アと、本実施の形態のソフトウェアを開発し、このソフ
トウェアを収容した開発用のコンピュータとを、公衆回
線やネットワークによって通信自在に接続し、これらネ
ットワーク等を介して、流通させる態様であってもよ
い。

【００７１】また、上記流通、配布する際、ソフトウェ
アを利用するハードウェア（パターンマッチングによる
検査装置）にソフトウェアをインストールするために、
インストーラを添付して流通配、布してもよく、ソフト
ウェアを容量圧縮したデータを流通、配布してもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明に係るパターンマッチングによる
検査装置または検査方法の実施の形態における処理の手
順を示すフローチャートである。

【図２】図２は、一のＩＣ本体側方に配設された複数の
リードを示す図である。

【図３】図３は図２に示す各リードを仮基準パターンと
してパターンマッチングを行った結果を示す表である。

【図４】図４は、各ＩＣ本体上に印字された文字を示す
図である。

【図５】図５は図４に示す各ＩＣ本体上の文字を仮基準
パターンとしてパターンマッチングを行った結果を示す
表である。

【符号の説明】Ｐ１〜Ｐ５仮基準パターン１〜５リード（検査物体）Ａ−１〜Ａ−５ＩＣ本体（検査物体）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】検査物体と、当該検査物体の基準パ
ターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、こ
の演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の形
状の良否を判断するパターンマッチングによる検査装置
において、前記検査物体を複数同時に撮像する撮像手段と、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと当該撮像画像内の他の
検査物体との一致度合いを順次演算して、この演算され
た各一致度合いの値に基づき、前記仮の基準パターンと
前記撮像画像内の他の全ての検査物体との全一致度合い
を求める演算手段と、前記撮像画像内の複数の検査物体のそれぞれを順次、前
記仮の基準パターンとして、前記演算手段を繰り返し行
わせ、前記全一致度合いが最も大きくなる仮の基準パタ
ーンを基準パターンとして選択する選択手段とを具えた
パターンマッチングによる検査装置。
【請求項２】検査物体と、当該検査物体の基準パ
ターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、こ
の演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の形
状の良否を判断するパターンマッチングによる検査装置
において、前記検査物体を複数同時に撮像する撮像手段と、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと当該撮像画像内の他の
検査物体との一致度合いを順次演算して、この演算され
た各一致度合いの値の中から、一致度合いの最低値を求
める演算手段と、前記撮像画像内の複数の検査物体のそれぞれを順次、前
記仮の基準パターンとして、前記演算手段を繰り返し行
わせ、前記一致度合いの最低値が最も大きくなる仮の基
準パターンを基準パターンとして選択する選択手段とを
具えたパターンマッチングによる検査装置。
【請求項３】検査物体と、当該検査物体の基準パ
ターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、こ
の演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の形
状の良否を判断するパターンマッチングによる検査装置
において、前記複数の検査物体を順次撮像する撮像手段と、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと他の撮像画像内の各検
査物体との一致度合いを順次演算して、この演算された
各一致度合いの値に基づき、前記仮の基準パターンと他
の全ての撮像画像内の他の全ての検査物体との全一致度
合いを求める演算手段と、前記複数の撮像画像内の各検査物体を順次、前記仮の基
準パターンとして、前記演算手段を繰り返し行わせ、前
記全一致度合いが最も大きくなる仮の基準パターンを基
準パターンとして選択する選択手段とを具えたパターン
マッチングによる検査装置。
【請求項４】検査物体と、当該検査物体の基準パ
ターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、こ
の演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の形
状の良否を判断するパターンマッチングによる検査装置
において、前記複数の検査物体を順次撮像する撮像手段と、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと他の撮像画像内の各検
査物体との一致度合いを順次演算して、この演算された
各一致度合いの値の中から、一致度合いの最低値を求め
る演算手段と、前記複数の撮像画像内の各検査物体を順次、前記仮の基
準パターンとして、前記演算手段を繰り返し行わせ、前
記一致度合いの最低値が最も大きくなる仮の基準パター
ンを基準パターンとして選択する選択手段とを具えたパ
ターンマッチングによる検査装置。
【請求項５】前記演算手段は、一致度合いを演算
しようとする仮の基準パターンと検査物体との組合せ
が、既に一致度合いが演算された組合せと同じ組合せで
ある場合には、当該一致度合いを演算しようとする仮の
基準パターンと検査物体との組合せについての一致度合
いの値を、既に一致度合いが演算された同じ組合せの一
致度合いの値として、当該一致度合いを演算しようとす
る仮の基準パターンと検査物体との組合せについて一致
度合いを求める演算を省略するようにした請求項１また
は２または３または４記載のパターンマッチングによる
検査装置。
【請求項６】前記選択手段は、仮の基準パターン
が更新される毎に、前記演算手段で順次求められる各一
致度合いの最低値の最大値を更新していき、最終的に更
新された一致度合いの最低値の最大値が得られる仮の基
準パターンを選択するものであり、前記演算手段は、現在演算された仮の基準パターンと検
査物体との一致度合いの値が、現在更新されている一致
度合いの最低値の最大値よりも小さい場合には、当該仮
の基準パターンについて一致度合いを求める演算を以後
省略するようにした請求項２または４記載のパターンマ
ッチングによる検査装置。
【請求項７】前記検査物体は、パターンマッチン
グをすべき形状が所定の幅内でばらつくものであり、前記撮像手段は、前記形状が前記所定の幅内でそれぞれ
異なる検査物体を複数用意して、これら複数の検査物体
を順次撮像するようにした請求項３または４記載のパタ
ーンマッチングによる検査装置。
【請求項８】前記検査物体は、パターンマッチン
グをすべき形状が、当該検査物体の傾き度合いに応じて
ばらつくものであり、前記撮像手段は、傾き度合いがそれぞれ異なる検査物体
を複数用意して、これら複数の検査物体を順次撮像する
ようにした請求項３または４記載のパターンマッチング
による検査装置。
【請求項９】前記検査物体は、パターンマッチン
グをすべき形状が、当該検査物体と前記撮像手段との距
離に応じてばらつくものであり、前記撮像手段は、検査物体までの距離がそれぞれ異なる
検査物体を複数用意して、これら複数の検査物体を順次
撮像するようにした請求項３または４記載のパターンマ
ッチングによる検査装置。
【請求項１０】前記検査物体は、パターンマッチ
ングをすべき形状が、当該検査物体に照射される光に応
じてばらつくものであり、前記撮像手段は、検査物体に照射される光がそれぞれ異
なる検査物体を複数用意して、これら複数の検査物体を
順次撮像するようにした請求項３または４記載のパター
ンマッチングによる検査装置。
【請求項１１】検査物体と、当該検査物体の基準
パターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、
この演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の
形状の良否を判断するパターンマッチングによる検査方
法において、前記検査物体を複数同時に撮像する撮像ステップと、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと当該撮像画像内の他の
検査物体との一致度合いを順次演算して、この演算され
た各一致度合いの値に基づき、前記仮の基準パターンと
前記撮像画像内の他の全ての検査物体との全一致度合い
を求める演算ステップと、前記撮像画像内の複数の検査物体のそれぞれを順次、前
記仮の基準パターンとして、前記演算ステップを繰り返
し行わせ、前記全一致度合いが最も大きくなる仮の基準
パターンを基準パターンとして選択する選択ステップと
を具えたパターンマッチングによる検査方法。
【請求項１２】検査物体と、当該検査物体の基準
パターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、
この演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の
形状の良否を判断するパターンマッチングによる検査方
法において、前記検査物体を複数同時に撮像する撮像ステップと、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと当該撮像画像内の他の
検査物体との一致度合いを順次演算して、この演算され
た各一致度合いの値の中から、一致度合いの最低値を求
める演算ステップと、前記撮像画像内の複数の検査物体のそれぞれを順次、前
記仮の基準パターンとして、前記演算ステップを繰り返
し行わせ、前記一致度合いの最低値が最も大きくなる仮
の基準パターンを基準パターンとして選択する選択ステ
ップとを具えたパターンマッチングによる検査方法。
【請求項１３】検査物体と、当該検査物体の基準
パターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、
この演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の
形状の良否を判断するパターンマッチングによる検査方
法において、前記複数の検査物体を順次撮像する撮像ステップと、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと他の撮像画像内の各検
査物体との一致度合いを順次演算して、この演算された
各一致度合いの値に基づき、前記仮の基準パターンと他
の全ての撮像画像内の他の全ての検査物体との全一致度
合いを求める演算ステップと、前記複数の撮像画像内の各検査物体を順次、前記仮の基
準パターンとして、前記演算ステップを繰り返し行わ
せ、前記全一致度合いが最も大きくなる仮の基準パター
ンを基準パターンとして選択する選択ステップとを具え
たパターンマッチングによる検査方法。
【請求項１４】検査物体と、当該検査物体の基準
パターンとを突き合わせて、その一致度合いを演算し、
この演算された一致度合いの値に応じて前記検査物体の
形状の良否を判断するパターンマッチングによる検査方
法において、前記複数の検査物体を順次撮像する撮像ステップと、前記撮像された画像内の一の検査物体を仮の基準パター
ンとし、この仮の基準パターンと他の撮像画像内の各検
査物体との一致度合いを順次演算して、この演算された
各一致度合いの値の中から、一致度合いの最低値を求め
る演算ステップと、前記複数の撮像画像内の各検査物体を順次、前記仮の基
準パターンとして、前記演算ステップを繰り返し行わ
せ、前記一致度合いの最低値が最も大きくなる仮の基準
パターンを基準パターンとして選択する選択ステップと
を具えたパターンマッチングによる検査方法。
【請求項１５】前記演算ステップは、一致度合い
を演算しようとする仮の基準パターンと検査物体との組
合せが、既に一致度合いが演算された組合せと同じ組合
せである場合には、当該一致度合いを演算しようとする
仮の基準パターンと検査物体との組合せについての一致
度合いの値を、既に一致度合いが演算された同じ組合せ
の一致度合いの値として、当該一致度合いを演算しよう
とする仮の基準パターンと検査物体との組合せについて
一致度合いを求める演算を省略するようにした請求項１
１または１２または１３または１４記載のパターンマッ
チングによる検査方法。
【請求項１６】前記選択ステップは、仮の基準パ
ターンが更新される毎に、前記演算ステップで順次求め
られる各一致度合いの最低値の最大値を更新していき、
最終的に更新された一致度合いの最低値の最大値が得ら
れる仮の基準パターンを選択するものであり、前記演算ステップは、現在演算された仮の基準パターン
と検査物体との一致度合いの値が、現在更新されている
一致度合いの最低値の最大値よりも小さい場合には、当
該仮の基準パターンについて一致度合いを求める演算を
以後省略するようにした請求項１２または１４記載のパ
ターンマッチングによる検査方法。