JPH09257643A - レンズメーター - Google Patents
レンズメーターInfo
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- JPH09257643A JPH09257643A JP6829396A JP6829396A JPH09257643A JP H09257643 A JPH09257643 A JP H09257643A JP 6829396 A JP6829396 A JP 6829396A JP 6829396 A JP6829396 A JP 6829396A JP H09257643 A JPH09257643 A JP H09257643A
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- lens
- measurement
- optical path
- inspected
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レンズメーターを提供する。
【解決手段】 本発明に係わるレンズメーターは、測定
光束Piを被検レンズ6に投光する測定光投光系10A
と、受光センサ17bを備えて被検レンズ透過後の測定
光束Piを受光する測定光受光系10Bと、受光センサ
17bにより検出された被検レンズ透過後の測定光束P
iの変位量に基づき被検レンズ6の面の各位置における
度数を求めることにより被検レンズ6の度数分布を測定
する測定手段と、測定光投光系10Aと測定光受光系1
0Bとの少なくとも一方の測定光路10Cに挿脱可能で
かつ度数が既知でしかも互いにその度数が異なる複数個
の測定補助レンズ18と、測定補助レンズ18を選択し
て測定光路10Cに挿入する駆動制御手段とを有する。
光束Piを被検レンズ6に投光する測定光投光系10A
と、受光センサ17bを備えて被検レンズ透過後の測定
光束Piを受光する測定光受光系10Bと、受光センサ
17bにより検出された被検レンズ透過後の測定光束P
iの変位量に基づき被検レンズ6の面の各位置における
度数を求めることにより被検レンズ6の度数分布を測定
する測定手段と、測定光投光系10Aと測定光受光系1
0Bとの少なくとも一方の測定光路10Cに挿脱可能で
かつ度数が既知でしかも互いにその度数が異なる複数個
の測定補助レンズ18と、測定補助レンズ18を選択し
て測定光路10Cに挿入する駆動制御手段とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定光束を被検レ
ンズに投光する測定光投光系と、受光センサを備えて前
記被検レンズ透過後の測定光束を受光する測定光受光系
と、受光センサにより検出された被検レンズ透過後の測
定光束の変位量に基づき被検レンズの面の各位置におけ
る度数を求めることにより度数分布を測定するレンズメ
ーターの改良に関する。
ンズに投光する測定光投光系と、受光センサを備えて前
記被検レンズ透過後の測定光束を受光する測定光受光系
と、受光センサにより検出された被検レンズ透過後の測
定光束の変位量に基づき被検レンズの面の各位置におけ
る度数を求めることにより度数分布を測定するレンズメ
ーターの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、被検レンズを検者がレンズ受
けにセットし、測定光投光系の光源部からの測定光束を
被検レンズに入射させ、この被検レンズ透過後の測定光
束の変位量を受光センサにより検出し、この検出結果に
基づいて被検レンズの面のその位置における度数を測定
するレンズメーターが知られている。近年、眼鏡レンズ
として累進多焦点レンズ、遠用非球面レンズが広く普及
しつつあり、これに伴って、被検レンズの面の各位置で
の度数の変化を測定すること、すなわち、度数分布を測
定することが要望されているが、この従来のレンズメー
ターでは、検者が手動で逐一被検レンズを光軸と直交す
る面内で移動させて、その位置における度数の読み取り
を行っている。また、この種のレンズメーターには被検
レンズをレンズ受けに対して駆動させる機構のものもあ
る。更に、被検レンズに測定光束として平行光束を投射
し、この被検レンズを透過した光線の変位に基づくモア
レ縞を観測することにより被検レンズの二次元の度数分
布を測定するレンズメーターも知られている。
けにセットし、測定光投光系の光源部からの測定光束を
被検レンズに入射させ、この被検レンズ透過後の測定光
束の変位量を受光センサにより検出し、この検出結果に
基づいて被検レンズの面のその位置における度数を測定
するレンズメーターが知られている。近年、眼鏡レンズ
として累進多焦点レンズ、遠用非球面レンズが広く普及
しつつあり、これに伴って、被検レンズの面の各位置で
の度数の変化を測定すること、すなわち、度数分布を測
定することが要望されているが、この従来のレンズメー
ターでは、検者が手動で逐一被検レンズを光軸と直交す
る面内で移動させて、その位置における度数の読み取り
を行っている。また、この種のレンズメーターには被検
レンズをレンズ受けに対して駆動させる機構のものもあ
る。更に、被検レンズに測定光束として平行光束を投射
し、この被検レンズを透過した光線の変位に基づくモア
レ縞を観測することにより被検レンズの二次元の度数分
布を測定するレンズメーターも知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検者が
手動で被検レンズを移動させて面の各位置での度数を測
定する従来のレンズメーターでは、安価ではあるが測定
に手間がかかるという問題がある。また、被検レンズを
光軸と直交する面内で自動的に移動させる駆動機構を有
するレンズメーターは、機械的構成が複雑となりかつ高
価であるという問題点を有する。更に、モアレ縞を観測
することにより度数分布を測定するレンズメーターで
は、モアレ縞の解析に時間がかかり、迅速に度数分布を
測定できないという問題がある。
手動で被検レンズを移動させて面の各位置での度数を測
定する従来のレンズメーターでは、安価ではあるが測定
に手間がかかるという問題がある。また、被検レンズを
光軸と直交する面内で自動的に移動させる駆動機構を有
するレンズメーターは、機械的構成が複雑となりかつ高
価であるという問題点を有する。更に、モアレ縞を観測
することにより度数分布を測定するレンズメーターで
は、モアレ縞の解析に時間がかかり、迅速に度数分布を
測定できないという問題がある。
【0004】本件出願人は、上記問題点を解決するため
に、測定光投光系に二次元的に配列された多数の測定光
束を形成する光学部材としてのマイクロレンズアレイを
設け、1個の光源でかつ低コストで機械的駆動部を必要
とせずしかも被検レンズの面の各位置の度数分布を短時
間で測定できるレンズメーターを先に出願した(特願平
7−189289号を参照)。
に、測定光投光系に二次元的に配列された多数の測定光
束を形成する光学部材としてのマイクロレンズアレイを
設け、1個の光源でかつ低コストで機械的駆動部を必要
とせずしかも被検レンズの面の各位置の度数分布を短時
間で測定できるレンズメーターを先に出願した(特願平
7−189289号を参照)。
【0005】この光源部と被検レンズとの間に二次元的
に配列された多数の測定光束を形成する光学部材を配設
する構成のレンズメーターの場合、被検レンズが強度の
負のパワーを有する場合、測定光束の一部が受光センサ
の受光エリアからはみ出すことがあり、このような場合
には、被検レンズの度数分布の一部に欠落が生じ、正確
な度数分布を得られないという不都合がある。また、被
検レンズが強度の正のパワーを有する場合、測定光束の
交差が生じ、この場合にも、正確な度数分布の測定がで
きないという不都合がある。
に配列された多数の測定光束を形成する光学部材を配設
する構成のレンズメーターの場合、被検レンズが強度の
負のパワーを有する場合、測定光束の一部が受光センサ
の受光エリアからはみ出すことがあり、このような場合
には、被検レンズの度数分布の一部に欠落が生じ、正確
な度数分布を得られないという不都合がある。また、被
検レンズが強度の正のパワーを有する場合、測定光束の
交差が生じ、この場合にも、正確な度数分布の測定がで
きないという不都合がある。
【0006】特願平7−189289号に開示の発明で
は、この不都合を解消するために、透過遮光領域からな
る測定光束透過窓を有する液晶シャッターを設け、測定
光束透過窓を順番に開閉することにより、受光センサ上
での測定光束の位置と被検レンズの各面における位置と
の対応関係を与えるようにしている。この液晶シャッタ
ーを用いて、測定光束の受光センサの受光エリアからの
はみ出し、測定光束の交差を回避する構成は、制御が複
雑であり、総じてコスト高となるという問題点がある。
は、この不都合を解消するために、透過遮光領域からな
る測定光束透過窓を有する液晶シャッターを設け、測定
光束透過窓を順番に開閉することにより、受光センサ上
での測定光束の位置と被検レンズの各面における位置と
の対応関係を与えるようにしている。この液晶シャッタ
ーを用いて、測定光束の受光センサの受光エリアからの
はみ出し、測定光束の交差を回避する構成は、制御が複
雑であり、総じてコスト高となるという問題点がある。
【0007】そこで、本件出願人は、強度のパワーを有
する被検レンズの測定を簡便に行うために、度数が既知
の測定補助レンズを測定光路に挿脱させる技術を、平成
7年11月13日に「発明の名称:レンズメーター(特
願平7−294436号)」として出願した。
する被検レンズの測定を簡便に行うために、度数が既知
の測定補助レンズを測定光路に挿脱させる技術を、平成
7年11月13日に「発明の名称:レンズメーター(特
願平7−294436号)」として出願した。
【0008】しかしながら、先の特願平7−29443
6号に開示の発明では、測定補助レンズを測定光路に挿
脱するのに手動で行うことにすると、被検レンズのパワ
ーに応じて度数が異なる測定補助レンズを複数個準備し
なければならないため、その測定補助レンズの測定光路
への挿脱が面倒であり、測定補助レンズの測定光路への
挿入箇所がほぼ一定位置でないと、測定の信頼性が保た
れないという不都合を生じる。また、その測定補助レン
ズは、測定光束の交差を伴う強度の正のパワーを有する
被検レンズの測定を行うことができるようにする観点、
極力口径の小さな測定補助レンズを用いて強度の負のパ
ワーを有する被検レンズの測定を行うことができるよう
にする観点から、被検レンズに極力近づけて測定光路に
挿入させることが望ましい。
6号に開示の発明では、測定補助レンズを測定光路に挿
脱するのに手動で行うことにすると、被検レンズのパワ
ーに応じて度数が異なる測定補助レンズを複数個準備し
なければならないため、その測定補助レンズの測定光路
への挿脱が面倒であり、測定補助レンズの測定光路への
挿入箇所がほぼ一定位置でないと、測定の信頼性が保た
れないという不都合を生じる。また、その測定補助レン
ズは、測定光束の交差を伴う強度の正のパワーを有する
被検レンズの測定を行うことができるようにする観点、
極力口径の小さな測定補助レンズを用いて強度の負のパ
ワーを有する被検レンズの測定を行うことができるよう
にする観点から、被検レンズに極力近づけて測定光路に
挿入させることが望ましい。
【0009】従って、測定補助レンズの挿脱を自動的に
行う構成とするのが望ましいのであるが、上記のような
要請のもとで、図1(イ)、図1(ロ)に示す眼鏡レン
ズ1Aのようにフレーム1Bに装着された被検レンズと
してのレンズ1Cをフレーム1Bに装着したままで測定
を行う市販のレンズメータに、測定補助レンズを自動的
に選択して測定光路に挿入する挿脱機構を採用する場
合、測定光束がフレーム1Bの弦1Dによりケラレルの
を防ぐ観点から測定光受光系の測定光路の幅が所定幅W
以下とされているため、その測定補助レンズの挿脱空間
が制約され、複数個の測定補助レンズをターレット盤に
配設して単なる回転により測定補助レンズを選択して測
定光路に自動的に挿入するのは困難である。
行う構成とするのが望ましいのであるが、上記のような
要請のもとで、図1(イ)、図1(ロ)に示す眼鏡レン
ズ1Aのようにフレーム1Bに装着された被検レンズと
してのレンズ1Cをフレーム1Bに装着したままで測定
を行う市販のレンズメータに、測定補助レンズを自動的
に選択して測定光路に挿入する挿脱機構を採用する場
合、測定光束がフレーム1Bの弦1Dによりケラレルの
を防ぐ観点から測定光受光系の測定光路の幅が所定幅W
以下とされているため、その測定補助レンズの挿脱空間
が制約され、複数個の測定補助レンズをターレット盤に
配設して単なる回転により測定補助レンズを選択して測
定光路に自動的に挿入するのは困難である。
【0010】そこで、本発明は、測定補助レンズを自動
的に測定光路に挿脱できるレンズメータを提供すること
を目的とする。
的に測定光路に挿脱できるレンズメータを提供すること
を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項1
に記載のレンズメーターは、上記の課題を解決するた
め、測定光束を被検レンズに投光する測定光投光系と、
受光センサを備えて前記被検レンズ透過後の測定光束を
受光する測定光受光系と、前記受光センサにより検出さ
れた前記被検レンズ透過後の測定光束の変位量に基づき
前記被検レンズの面の各位置における度数を求めること
により前記被検レンズの度数分布を測定する測定手段
と、前記測定光投光系と測定光受光系との少なくとも一
方の測定光路に挿脱可能でかつ度数が既知でしかも互い
にその度数が異なる複数個の測定補助レンズと、該測定
補助レンズを選択して前記測定光路に挿入する駆動制御
手段とを有する。
に記載のレンズメーターは、上記の課題を解決するた
め、測定光束を被検レンズに投光する測定光投光系と、
受光センサを備えて前記被検レンズ透過後の測定光束を
受光する測定光受光系と、前記受光センサにより検出さ
れた前記被検レンズ透過後の測定光束の変位量に基づき
前記被検レンズの面の各位置における度数を求めること
により前記被検レンズの度数分布を測定する測定手段
と、前記測定光投光系と測定光受光系との少なくとも一
方の測定光路に挿脱可能でかつ度数が既知でしかも互い
にその度数が異なる複数個の測定補助レンズと、該測定
補助レンズを選択して前記測定光路に挿入する駆動制御
手段とを有する。
【0012】好ましくは、前記駆動制御手段は、前記測
定補助レンズを回転させて前記測定光路に挿入されるべ
き測定補助レンズを選択する回転選択機構と、前記選択
された測定補助レンズを前記測定光路に対して直交する
面内で往復動させて挿脱する挿脱機構とを有する。
定補助レンズを回転させて前記測定光路に挿入されるべ
き測定補助レンズを選択する回転選択機構と、前記選択
された測定補助レンズを前記測定光路に対して直交する
面内で往復動させて挿脱する挿脱機構とを有する。
【0013】前記駆動制御手段は、前記複数個の測定補
助レンズを保持する保持枠を有し、該保持枠を前記測定
光路と平行方向に往復動させて前記測定光路に挿入され
るべき測定補助レンズを選択する往復選択機構と、前記
選択された測定補助レンズを前記測定光路に対して直交
する面内で往復動させて挿脱する挿脱機構とを有する構
成としても良い。
助レンズを保持する保持枠を有し、該保持枠を前記測定
光路と平行方向に往復動させて前記測定光路に挿入され
るべき測定補助レンズを選択する往復選択機構と、前記
選択された測定補助レンズを前記測定光路に対して直交
する面内で往復動させて挿脱する挿脱機構とを有する構
成としても良い。
【0014】
【発明の実施の形態】図2は本発明に係わるレンズメー
タ1の概略構成を示す斜視図であって、このレンズメー
タ1の前面には、キーボード2、レンズ受け3、後述す
る測定光束を下方に偏向して案内する案内部4、モニタ
ー5等が設けられている。レンズ受け3には、ここで
は、被検レンズ6として素地レンズがセットされている
が、眼鏡レンズ1Aのいずれか一方のレンズ1Cを被検
レンズ6としてレンズ受け3にセットしても良い。
タ1の概略構成を示す斜視図であって、このレンズメー
タ1の前面には、キーボード2、レンズ受け3、後述す
る測定光束を下方に偏向して案内する案内部4、モニタ
ー5等が設けられている。レンズ受け3には、ここで
は、被検レンズ6として素地レンズがセットされている
が、眼鏡レンズ1Aのいずれか一方のレンズ1Cを被検
レンズ6としてレンズ受け3にセットしても良い。
【0015】レンズメータ1の内部には、図3に示す測
定光学系10が設けられている。この測定光学系10は
測定光投光系10Aと測定光受光系10Bとからなって
おり、図3はその測定光学系を模式的に示している。測
定光投光系10Aは、タングステンランプ11からなる
光源、絞り12、フィルタ13、コリメートレンズ1
4、マイクロレンズアレイ15から概略構成されてい
る。そのマイクロレンズアレイ15は図4に示すように
二次元的に配列された多数の微小レンズ15aの集合体
から構成されている。この微小レンズ15aは例えば球
面レンズである。タングステンランプ11、絞り12、
フィルタ13、コリメータレンズ14は1個の光源部を
構成している。フィルタ13はe線近傍の波長の光を透
過し、e線以外の光線を遮光する。タングステンランプ
11から出射された光束はコリメーターレンズ14によ
り平行光束とされて、マイクロレンズアレイ15に導か
れる。マイクロレンズアレイ15の各微小レンズ15a
は実質的に同一の焦点距離を有し、各微小レンズ15a
の個数は約1000個であり、マイクロレンズアレイ1
5は平行光束に基づきこの個数に相当する二次元的に配
列された多数の測定光束Piを生成する光学部材として
の役割を有する。この光学部材としては、マイクロレン
ズアレイ15の代わりに多数のピンホールを有するピン
ホール板であっても良い。被検レンズ6はマイクロアレ
イレンズ15の後側焦点位置近傍に位置される。
定光学系10が設けられている。この測定光学系10は
測定光投光系10Aと測定光受光系10Bとからなって
おり、図3はその測定光学系を模式的に示している。測
定光投光系10Aは、タングステンランプ11からなる
光源、絞り12、フィルタ13、コリメートレンズ1
4、マイクロレンズアレイ15から概略構成されてい
る。そのマイクロレンズアレイ15は図4に示すように
二次元的に配列された多数の微小レンズ15aの集合体
から構成されている。この微小レンズ15aは例えば球
面レンズである。タングステンランプ11、絞り12、
フィルタ13、コリメータレンズ14は1個の光源部を
構成している。フィルタ13はe線近傍の波長の光を透
過し、e線以外の光線を遮光する。タングステンランプ
11から出射された光束はコリメーターレンズ14によ
り平行光束とされて、マイクロレンズアレイ15に導か
れる。マイクロレンズアレイ15の各微小レンズ15a
は実質的に同一の焦点距離を有し、各微小レンズ15a
の個数は約1000個であり、マイクロレンズアレイ1
5は平行光束に基づきこの個数に相当する二次元的に配
列された多数の測定光束Piを生成する光学部材として
の役割を有する。この光学部材としては、マイクロレン
ズアレイ15の代わりに多数のピンホールを有するピン
ホール板であっても良い。被検レンズ6はマイクロアレ
イレンズ15の後側焦点位置近傍に位置される。
【0016】測定光受光系10Bはリレーレンズ16、
CCDカメラ17から概略構成されている。CCDカメ
ラ17は結像レンズ17aと受光センサ17bとからな
っており、17cはその受光エリアを示している。この
測定光受光系10Bは図5に示すようにレンズメータ1
の下部に配設され、レンズ受け3とリレーレンズ16と
の間の測定光路10Cに後述する機能を有する測定補助
レンズ18の挿脱空間が設けられ、リレーレンズ16と
CCDカメラ17との間には測定光束PiをCCDカメ
ラ17に向けて偏向する反射ミラー20が設けられてい
る。測定補助レンズ18には度数が既知の正負のパワー
を有するものが強度の弱いものから強度の強いものに渡
って各種準備されている。ここでは、4枚の測定補助レ
ンズ18が用いられ、図6において、18aは強度の負
のパワーを有する測定補助レンズ、18bは弱度の負の
パワーを有する測定補助レンズ、18cは弱度の正のパ
ワーを有する測定補助レンズ、18dは強度の正のパワ
ーを有する測定補助レンズをそれぞれ示している。この
測定補助レンズ18a〜18dは各保持フレーム20に
保持され、その各保持フレーム20はモータ21の回転
軸22に支持されている。モータ21はスライドテーブ
ル23に載置固定されている。スライドテーブル23に
はラック24が形成され、このラック24にはピニオン
25が噛み合わされ、図示を略すガイド部材に沿って矢
印X−X方向に前進・後退される。モータ21、ピニオ
ン25は制御部26によって制御され、スライドテーブ
ル23の後退位置でモータ21を回転駆動することによ
り測定光路10Cに挿入されるべき測定補助レンズ18
が選択され、次に、スライドテーブル23を前進させる
ことによりその選択された測定補助レンズ18が測定光
路10Cに挿入される。すなわち、測定補助レンズ18
a〜18dは測定光路10Cの同じ箇所(レンズ受け3
から所定距離離れた箇所)にセットされる。図5、図6
はスライドテーブル23が前進位置にあって、強度の負
のパワーを有する測定補助レンズ18aが選択されて測
定光路10Cに挿入されている場合が示され、モータ2
1は測定補助レンズ18を回転させて測定光路10Cに
挿入されるべき測定補助レンズ18を選択する回転選択
機構を構成し、スライドテーブル23、ピニオン25は
選択された測定補助レンズ18を測定光路10Cに対し
て直交する面内で往復動させて挿脱する挿脱機構を構成
し、制御部26はこれらの駆動制御手段として機能す
る。
CCDカメラ17から概略構成されている。CCDカメ
ラ17は結像レンズ17aと受光センサ17bとからな
っており、17cはその受光エリアを示している。この
測定光受光系10Bは図5に示すようにレンズメータ1
の下部に配設され、レンズ受け3とリレーレンズ16と
の間の測定光路10Cに後述する機能を有する測定補助
レンズ18の挿脱空間が設けられ、リレーレンズ16と
CCDカメラ17との間には測定光束PiをCCDカメ
ラ17に向けて偏向する反射ミラー20が設けられてい
る。測定補助レンズ18には度数が既知の正負のパワー
を有するものが強度の弱いものから強度の強いものに渡
って各種準備されている。ここでは、4枚の測定補助レ
ンズ18が用いられ、図6において、18aは強度の負
のパワーを有する測定補助レンズ、18bは弱度の負の
パワーを有する測定補助レンズ、18cは弱度の正のパ
ワーを有する測定補助レンズ、18dは強度の正のパワ
ーを有する測定補助レンズをそれぞれ示している。この
測定補助レンズ18a〜18dは各保持フレーム20に
保持され、その各保持フレーム20はモータ21の回転
軸22に支持されている。モータ21はスライドテーブ
ル23に載置固定されている。スライドテーブル23に
はラック24が形成され、このラック24にはピニオン
25が噛み合わされ、図示を略すガイド部材に沿って矢
印X−X方向に前進・後退される。モータ21、ピニオ
ン25は制御部26によって制御され、スライドテーブ
ル23の後退位置でモータ21を回転駆動することによ
り測定光路10Cに挿入されるべき測定補助レンズ18
が選択され、次に、スライドテーブル23を前進させる
ことによりその選択された測定補助レンズ18が測定光
路10Cに挿入される。すなわち、測定補助レンズ18
a〜18dは測定光路10Cの同じ箇所(レンズ受け3
から所定距離離れた箇所)にセットされる。図5、図6
はスライドテーブル23が前進位置にあって、強度の負
のパワーを有する測定補助レンズ18aが選択されて測
定光路10Cに挿入されている場合が示され、モータ2
1は測定補助レンズ18を回転させて測定光路10Cに
挿入されるべき測定補助レンズ18を選択する回転選択
機構を構成し、スライドテーブル23、ピニオン25は
選択された測定補助レンズ18を測定光路10Cに対し
て直交する面内で往復動させて挿脱する挿脱機構を構成
し、制御部26はこれらの駆動制御手段として機能す
る。
【0017】ここでは、測定補助レンズ18は、被検レ
ンズ6がレンズ受け3に未セット(被検レンズ6が測定
光路10Cに未挿入)でかつ測定補助レンズ18が測定
光路10Cに未挿入のとき、測定光束Piが図7に示す
ように受光センサ17bの受光エリア17cの全体に均
等に分配されるように設計されている。図8に示すよう
に、負のパワーを有する被検レンズ6が測定光路10C
にセットされた場合に、測定補助レンズ18を測定光路
10Cに未挿入の状態で測定光束Piの受光エリア上で
の光点の個数と間隔をまず測定する。次に、図9に示す
ように、強度の負のパワーを有する測定補助レンズ18
aを挿入すると、この被検レンズ6を通過することによ
って外側に向かって屈折された測定光束Piが測定補助
レンズ18aを通過することによって更に外側に向かっ
て屈折されるため、図10に示すように、測定光束Pi
の一部が受光センサ17bの受光エリア17cからはみ
出し、この受光エリア17c上の測定光束Piの個数が
減少する。また、受光エリア17c上での測定光束Pi
の光点の間隔も広がる。従って、受光エリア17c上の
測定光束Piの光点の個数のカウントすること、光点の
間隔を求めることにより、被検レンズ6が負のパワーを
有することが判断できる。次に、弱度の負のパワーを有
する測定補助レンズ18bを測定光路10Cに挿入した
場合、被検レンズ6が負のパワーを有するときには、受
光エリア17c上の測定光束Piの光点の間隔が測定補
助レンズ18aを挿入した場合と較べて狭まる。この場
合にも、被検レンズ6を通過することによって外側に向
かって屈折された測定光束Piが測定補助レンズ18b
を通過することによって更に外側に向かって屈折される
ため、受光エリア17c上での測定光束Piの個数は測
定補助レンズ18を未挿入の場合と較べて少なく、測定
光束Piのはみ出しが生じる。次に、測定補助レンズ1
8bを測定光路10Cから離脱させ、図11に示すよう
に弱度の正のパワーを有する測定補助レンズ18cを測
定光路10Cに挿入し、このときに、図12に示すよう
に測定光束Piの全部が受光センサ17bの受光エリア
17cからはみ出していないときには、この図11に示
す状態で被検レンズ6の度数分布を測定する。この場
合、受光エリア17c上で測定光束Piの点が全体に渡
って散らばっていることが測定精度の向上の観点から望
ましい。全体ですなわち、被検レンズ6の度数分布とこ
の既知の度数とを含む仮度数分布を測定し、この仮度数
分布から既知の度数を除去して被検レンズ6の正しい度
数分布を求める。この測定によって得られた度数分布が
その被検レンズ6の正しい度数分布である。この弱度の
正のパワーを有する測定補助レンズ18cを測定光路1
0Cに挿入したとしても、測定光束Piのはみ出しが生
じたと判断されるときには、強度の正のパワーを有する
測定補助レンズ18dを挿入し、この測定補助レンズ1
8dを挿入したときに、測定光束Piの全部が受光セン
サ17bの受光エリア17cからはみ出していないとき
でかつ受光エリア17c上で測定光束Piの点が全体に
渡って散らばっているときには、この測定補助レンズ1
8dを挿入した状態で、被検レンズ6の度数分布を測定
し、強度の正のパワーを有する測定補助レンズ18dを
挿入しても、測定光束Piの全部が受光センサ17bの
受光エリア17cからはみ出しているときには、測定範
囲を越えたとして測定を中止する。
ンズ6がレンズ受け3に未セット(被検レンズ6が測定
光路10Cに未挿入)でかつ測定補助レンズ18が測定
光路10Cに未挿入のとき、測定光束Piが図7に示す
ように受光センサ17bの受光エリア17cの全体に均
等に分配されるように設計されている。図8に示すよう
に、負のパワーを有する被検レンズ6が測定光路10C
にセットされた場合に、測定補助レンズ18を測定光路
10Cに未挿入の状態で測定光束Piの受光エリア上で
の光点の個数と間隔をまず測定する。次に、図9に示す
ように、強度の負のパワーを有する測定補助レンズ18
aを挿入すると、この被検レンズ6を通過することによ
って外側に向かって屈折された測定光束Piが測定補助
レンズ18aを通過することによって更に外側に向かっ
て屈折されるため、図10に示すように、測定光束Pi
の一部が受光センサ17bの受光エリア17cからはみ
出し、この受光エリア17c上の測定光束Piの個数が
減少する。また、受光エリア17c上での測定光束Pi
の光点の間隔も広がる。従って、受光エリア17c上の
測定光束Piの光点の個数のカウントすること、光点の
間隔を求めることにより、被検レンズ6が負のパワーを
有することが判断できる。次に、弱度の負のパワーを有
する測定補助レンズ18bを測定光路10Cに挿入した
場合、被検レンズ6が負のパワーを有するときには、受
光エリア17c上の測定光束Piの光点の間隔が測定補
助レンズ18aを挿入した場合と較べて狭まる。この場
合にも、被検レンズ6を通過することによって外側に向
かって屈折された測定光束Piが測定補助レンズ18b
を通過することによって更に外側に向かって屈折される
ため、受光エリア17c上での測定光束Piの個数は測
定補助レンズ18を未挿入の場合と較べて少なく、測定
光束Piのはみ出しが生じる。次に、測定補助レンズ1
8bを測定光路10Cから離脱させ、図11に示すよう
に弱度の正のパワーを有する測定補助レンズ18cを測
定光路10Cに挿入し、このときに、図12に示すよう
に測定光束Piの全部が受光センサ17bの受光エリア
17cからはみ出していないときには、この図11に示
す状態で被検レンズ6の度数分布を測定する。この場
合、受光エリア17c上で測定光束Piの点が全体に渡
って散らばっていることが測定精度の向上の観点から望
ましい。全体ですなわち、被検レンズ6の度数分布とこ
の既知の度数とを含む仮度数分布を測定し、この仮度数
分布から既知の度数を除去して被検レンズ6の正しい度
数分布を求める。この測定によって得られた度数分布が
その被検レンズ6の正しい度数分布である。この弱度の
正のパワーを有する測定補助レンズ18cを測定光路1
0Cに挿入したとしても、測定光束Piのはみ出しが生
じたと判断されるときには、強度の正のパワーを有する
測定補助レンズ18dを挿入し、この測定補助レンズ1
8dを挿入したときに、測定光束Piの全部が受光セン
サ17bの受光エリア17cからはみ出していないとき
でかつ受光エリア17c上で測定光束Piの点が全体に
渡って散らばっているときには、この測定補助レンズ1
8dを挿入した状態で、被検レンズ6の度数分布を測定
し、強度の正のパワーを有する測定補助レンズ18dを
挿入しても、測定光束Piの全部が受光センサ17bの
受光エリア17cからはみ出しているときには、測定範
囲を越えたとして測定を中止する。
【0018】図13に示すように、正のパワーを有する
被検レンズ6が測定光路10Cにセットされた場合に
は、図13に示すように測定光束Piに交差がない場合
と、図14に示すように測定光束Piに交差がある場合
とが考えられる。測定光束Piに交差がない場合に、図
15に示すように強度の負のパワーを有する測定補助レ
ンズ18aを挿入すると、測定光束Piが広げられ、受
光エリア17c上での測定光束Piの光点の間隔が未挿
入の場合に較べて広がる。この場合に、受光エリア17
c上での測定光束Piの光点の間隔が未挿入の場合と同
じであれば、測定光束Piのはみ出しはないと考えられ
るので、測定補助レンズ18aを挿入した状態で被検レ
ンズ6の度数分布を測定する。図13に示すように測定
光束Piに交差がなくて、測定補助レンズ18aを測定
光路10cに挿入した場合に、受光エリア17c上での
測定光束Piの光点の間隔が未挿入の場合に較べて減少
したときには、測定光束Piのはみ出しがあると判断さ
れるので、負のパワーを有する弱度の測定補助レンズ1
8bを挿入し、測定光束Piのはみ出しを受光エリア1
7c上での測定光束Piの光点の個数で判断し、測定光
束Piのはみ出しがない場合で、測定光束Piの光点が
均等に受光エリア17cの全体に渡って散らばっている
ときには、この測定補助レンズ18bを挿入した状態で
被検レンズ6の度数分布を測定する。強度から弱度の負
のパワーを有するパワーが既知の測定補助レンズ18を
2枚ではなく3枚以上設ければ、適宜測定補助レンズを
選択することにより、測定光束Piの光点を均等に受光
エリア17cの全体に渡って散らばせることができ、ひ
いては、測定精度の向上を期待できる。図14に示すよ
うに測定光束Piに交差がある場合に、測定補助レンズ
18aを測定光路10Cに挿入すると、受光エリア17
c上での測定光束Piの光点の間隔が小さくなる方向に
移動する。従って、測定光束Piの光点の間隔が広がる
か狭まるかによって測定光束Piに交差があるか否かを
判断できる。
被検レンズ6が測定光路10Cにセットされた場合に
は、図13に示すように測定光束Piに交差がない場合
と、図14に示すように測定光束Piに交差がある場合
とが考えられる。測定光束Piに交差がない場合に、図
15に示すように強度の負のパワーを有する測定補助レ
ンズ18aを挿入すると、測定光束Piが広げられ、受
光エリア17c上での測定光束Piの光点の間隔が未挿
入の場合に較べて広がる。この場合に、受光エリア17
c上での測定光束Piの光点の間隔が未挿入の場合と同
じであれば、測定光束Piのはみ出しはないと考えられ
るので、測定補助レンズ18aを挿入した状態で被検レ
ンズ6の度数分布を測定する。図13に示すように測定
光束Piに交差がなくて、測定補助レンズ18aを測定
光路10cに挿入した場合に、受光エリア17c上での
測定光束Piの光点の間隔が未挿入の場合に較べて減少
したときには、測定光束Piのはみ出しがあると判断さ
れるので、負のパワーを有する弱度の測定補助レンズ1
8bを挿入し、測定光束Piのはみ出しを受光エリア1
7c上での測定光束Piの光点の個数で判断し、測定光
束Piのはみ出しがない場合で、測定光束Piの光点が
均等に受光エリア17cの全体に渡って散らばっている
ときには、この測定補助レンズ18bを挿入した状態で
被検レンズ6の度数分布を測定する。強度から弱度の負
のパワーを有するパワーが既知の測定補助レンズ18を
2枚ではなく3枚以上設ければ、適宜測定補助レンズを
選択することにより、測定光束Piの光点を均等に受光
エリア17cの全体に渡って散らばせることができ、ひ
いては、測定精度の向上を期待できる。図14に示すよ
うに測定光束Piに交差がある場合に、測定補助レンズ
18aを測定光路10Cに挿入すると、受光エリア17
c上での測定光束Piの光点の間隔が小さくなる方向に
移動する。従って、測定光束Piの光点の間隔が広がる
か狭まるかによって測定光束Piに交差があるか否かを
判断できる。
【0019】よって、以下の手順で被検レンズ6の度数
分布の測定を自動的に行うことにすれば、簡単な制御で
測定を短時間で行うことができる。
分布の測定を自動的に行うことにすれば、簡単な制御で
測定を短時間で行うことができる。
【0020】まず、被検レンズ6を測定光路10Cにセ
ットし、度数が既知の測定補助レンズ18を測定光路1
0Cに未挿入の状態で、受光エリア17c上での測定光
束Piの光点の個数と光点の間隔とを測定し、次に、既
知の強度の負のパワーを有する測定補助レンズ18aを
挿入した状態で、受光エリア17c上での測定光束Pi
の光点の個数と間隔とを測定し、その光点の間隔が狭ま
ったときには測定光束Piの交差があるとして被検レン
ズ6の度数分布の測定を中止し、光点の間隔が広がった
ときには、その光点のはみ出しを判断し、光点のはみ出
しがないときには被検レンズ6が正のパワーであるとし
てその度数分布の測定を行い、光点のはみ出しがあると
きには、次に、弱度の負のパワーを有する測定補助レン
ズ18bを測定光路10Cに挿入し、光点のはみ出しが
ないときには被検レンズ6の測定を同様に行い、その弱
度の負のパワーを有する測定補助レンズ18bを測定光
路10Cに挿入しても、光点のはみ出しがある場合に
は、被検レンズ6が負のパワーを有すると考えられるの
で、弱度の正のパワーを有する測定補助レンズ18cを
測定光路10Cに挿入し、光点のはみ出しがない場合に
は、被検レンズ6の度数分布を同様に測定し、弱度の正
のパワーを有する測定補助レンズ18cを測定光路10
Cに挿入しても光点のはみ出しがある場合には強度の正
のパワーを有する測定補助レンズ18dを測定光路10
Cに挿入することにする。この測定手順によれば、被検
レンズ6のパワーの正負のいずれにかかわらず、その度
数分布の測定を自動的に実行できることになる。
ットし、度数が既知の測定補助レンズ18を測定光路1
0Cに未挿入の状態で、受光エリア17c上での測定光
束Piの光点の個数と光点の間隔とを測定し、次に、既
知の強度の負のパワーを有する測定補助レンズ18aを
挿入した状態で、受光エリア17c上での測定光束Pi
の光点の個数と間隔とを測定し、その光点の間隔が狭ま
ったときには測定光束Piの交差があるとして被検レン
ズ6の度数分布の測定を中止し、光点の間隔が広がった
ときには、その光点のはみ出しを判断し、光点のはみ出
しがないときには被検レンズ6が正のパワーであるとし
てその度数分布の測定を行い、光点のはみ出しがあると
きには、次に、弱度の負のパワーを有する測定補助レン
ズ18bを測定光路10Cに挿入し、光点のはみ出しが
ないときには被検レンズ6の測定を同様に行い、その弱
度の負のパワーを有する測定補助レンズ18bを測定光
路10Cに挿入しても、光点のはみ出しがある場合に
は、被検レンズ6が負のパワーを有すると考えられるの
で、弱度の正のパワーを有する測定補助レンズ18cを
測定光路10Cに挿入し、光点のはみ出しがない場合に
は、被検レンズ6の度数分布を同様に測定し、弱度の正
のパワーを有する測定補助レンズ18cを測定光路10
Cに挿入しても光点のはみ出しがある場合には強度の正
のパワーを有する測定補助レンズ18dを測定光路10
Cに挿入することにする。この測定手順によれば、被検
レンズ6のパワーの正負のいずれにかかわらず、その度
数分布の測定を自動的に実行できることになる。
【0021】また、以下に説明する手順を実行すること
によっても被検レンズ6の度数分布の測定を自動的に行
うことができる。
によっても被検レンズ6の度数分布の測定を自動的に行
うことができる。
【0022】被検レンズ6のパワーの正負が未知の場合
でも、とりあえず、度数が既知の弱度の正の測定補助レ
ンズ18cを測定光路10Cに挿入して、受光エリア1
7c上での測定光束Piの光点の間隔を測定し、この光
点の間隔が小さくなれば、測定光束Piに交差がないと
判断して、光点のはみ出しがあるかないかを判断し、光
点のはみ出しがない場合にはこのままで被検レンズ6の
度数分布を測定する。光点のはみ出しがある場合には、
度数が既知の強度の正の測定補助レンズ18dを測定光
路10Cに挿入して、被検レンズ6の度数分布を測定す
る。度数が既知の弱度の正の測定補助レンズ18cを測
定光路10Cに挿入して、受光エリア17c上での測定
光束Piの光点の間隔を測定し、この光点の間隔が広が
ったときは、度数が既知の弱度負のパワーを有する測定
補助レンズ18bを測定光路10Cに挿入し、この光点
の間隔が広がって行くまで、負の度数が強い測定補助レ
ンズ18を順番に挿入し、光点の間隔がはみ出す直前の
度数が既知の負の測定補助レンズ18により被検レンズ
6の度数分布を測定する。
でも、とりあえず、度数が既知の弱度の正の測定補助レ
ンズ18cを測定光路10Cに挿入して、受光エリア1
7c上での測定光束Piの光点の間隔を測定し、この光
点の間隔が小さくなれば、測定光束Piに交差がないと
判断して、光点のはみ出しがあるかないかを判断し、光
点のはみ出しがない場合にはこのままで被検レンズ6の
度数分布を測定する。光点のはみ出しがある場合には、
度数が既知の強度の正の測定補助レンズ18dを測定光
路10Cに挿入して、被検レンズ6の度数分布を測定す
る。度数が既知の弱度の正の測定補助レンズ18cを測
定光路10Cに挿入して、受光エリア17c上での測定
光束Piの光点の間隔を測定し、この光点の間隔が広が
ったときは、度数が既知の弱度負のパワーを有する測定
補助レンズ18bを測定光路10Cに挿入し、この光点
の間隔が広がって行くまで、負の度数が強い測定補助レ
ンズ18を順番に挿入し、光点の間隔がはみ出す直前の
度数が既知の負の測定補助レンズ18により被検レンズ
6の度数分布を測定する。
【0023】なお、度数分布の測定は以下に記載する原
理に基づく。
理に基づく。
【0024】図9において、被検レンズ6に入射する各
微小レンズ15aからの測定光束Piの主光線Psは光
軸Oと平行である。この主光線Psは被検レンズ6を透
過後に偏向され、その偏向の度合は入射高さh(被検レ
ンズ6のその面6aの主光線Psの入射位置)とその入
射位置における被検レンズ6の度数とによって定まる。
微小レンズ15aからの測定光束Piの主光線Psは光
軸Oと平行である。この主光線Psは被検レンズ6を透
過後に偏向され、その偏向の度合は入射高さh(被検レ
ンズ6のその面6aの主光線Psの入射位置)とその入
射位置における被検レンズ6の度数とによって定まる。
【0025】面6aの各点における度数S(単位:ディ
オプター)は、透過後の主光線Psの偏向角をθとする
と、 S=tan θ/(10h) …(1) である。
オプター)は、透過後の主光線Psの偏向角をθとする
と、 S=tan θ/(10h) …(1) である。
【0026】各微小レンズ15aに基づく主光線Psの
高さは既知であり、受光エリア17c上での高さをh
i、リレー倍率をβ、被検レンズ6の裏側の面6bから
リレーレンズ16までの距離をZとすると、 θ=tan-1{(h−βhi)/Z} …(2) の関係式があるので、受光エリア17c上での未知の高
さhiを求めれば、偏向角θが求められ、従って、度数
Sが(1)式により最終的に求まる。
高さは既知であり、受光エリア17c上での高さをh
i、リレー倍率をβ、被検レンズ6の裏側の面6bから
リレーレンズ16までの距離をZとすると、 θ=tan-1{(h−βhi)/Z} …(2) の関係式があるので、受光エリア17c上での未知の高
さhiを求めれば、偏向角θが求められ、従って、度数
Sが(1)式により最終的に求まる。
【0027】図16は本発明に係わる駆動制御手段の変
形例を示すもので、この変形例では、測定補助レンズ1
8を反射ミラー20とCCDカメラ17との間の測定光
路10Cに挿脱させる構成としたものであり、27はそ
の測定補助レンズ18a〜18dを回転駆動するための
モータ、28はその測定補助レンズ18a〜18dを保
持するためのターレット盤である。この変形例によれ
ば、測定補助レンズ18a〜18dを回転のみで測定光
路10Cに挿脱させることができる。
形例を示すもので、この変形例では、測定補助レンズ1
8を反射ミラー20とCCDカメラ17との間の測定光
路10Cに挿脱させる構成としたものであり、27はそ
の測定補助レンズ18a〜18dを回転駆動するための
モータ、28はその測定補助レンズ18a〜18dを保
持するためのターレット盤である。この変形例によれ
ば、測定補助レンズ18a〜18dを回転のみで測定光
路10Cに挿脱させることができる。
【0028】図17は本発明に係わる駆動制御手段の更
に他の変形例を示すもので、この変形例では、駆動制御
手段は複数個の測定補助レンズ18a〜18dを保持す
る円筒状保持枠29と、この円筒状保持枠29を測定光
路10Cと平行方向に往復動させて測定光路10Cに挿
入されるべき測定補助レンズを選択する往復選択機構
(図示を略す)と、選択された測定補助レンズを測定光
路に対して直交する面内で往復動させて挿脱する挿脱機
構(図示を略す)とから構成されている。
に他の変形例を示すもので、この変形例では、駆動制御
手段は複数個の測定補助レンズ18a〜18dを保持す
る円筒状保持枠29と、この円筒状保持枠29を測定光
路10Cと平行方向に往復動させて測定光路10Cに挿
入されるべき測定補助レンズを選択する往復選択機構
(図示を略す)と、選択された測定補助レンズを測定光
路に対して直交する面内で往復動させて挿脱する挿脱機
構(図示を略す)とから構成されている。
【0029】以上、発明の実施の形態では、測定補助レ
ンズ18を被検レンズ6の後方の測定光受光系10Bに
設ける構成としたが、被検レンズ6の前方の測定光投光
系10Aに設ける構成とすることもできる。
ンズ18を被検レンズ6の後方の測定光受光系10Bに
設ける構成としたが、被検レンズ6の前方の測定光投光
系10Aに設ける構成とすることもできる。
【0030】
【発明の効果】本発明に係わるレンズメーターは、以上
説明したように構成したので、強度のパワーを有する被
検レンズの測定を簡便に行うことができる。
説明したように構成したので、強度のパワーを有する被
検レンズの測定を簡便に行うことができる。
【図1】 眼鏡レンズを示し、(イ)は平面図、(ロ)
は側面図である。
は側面図である。
【図2】 レンズメータの一例を示す全体斜視図であ
る。
る。
【図3】 本発明に係わる測定光投光系と測定光受光系
とを模式的に示す光学図であって、被検レンズが測定光
路に未セットでかつ度数分布が既知の測定補助レンズが
測定光路に挿入されていない状態を示している。
とを模式的に示す光学図であって、被検レンズが測定光
路に未セットでかつ度数分布が既知の測定補助レンズが
測定光路に挿入されていない状態を示している。
【図4】 マイクロレンズアレイの平面図である。
【図5】 本発明に係わる測定光受光系と駆動制御手段
との関係を示す側面図である。
との関係を示す側面図である。
【図6】 本発明に係わる測定光受光系と駆動制御手段
との関係を示す平面図である。
との関係を示す平面図である。
【図7】 被検レンズが測定光路に未セットでかつ度数
分布が既知の測定補助レンズが測定光路に挿入されてい
ない状態のときに測定光束の光点が受光センサの受光エ
リアの全体に均等に分配されていることを示す説明図で
ある。
分布が既知の測定補助レンズが測定光路に挿入されてい
ない状態のときに測定光束の光点が受光センサの受光エ
リアの全体に均等に分配されていることを示す説明図で
ある。
【図8】 負のパワーを有する被検レンズが測定光路に
挿入されている状態を示す光学図である。
挿入されている状態を示す光学図である。
【図9】 負のパワーを有する被検レンズが測定光路に
挿入されかつ度数が既知の負の強度のパワーを有する測
定補助レンズが測定光路に挿入されている状態を示す光
学図である。
挿入されかつ度数が既知の負の強度のパワーを有する測
定補助レンズが測定光路に挿入されている状態を示す光
学図である。
【図10】 受光センサの受光エリアから測定光束の光
点の一部がはみ出していることを示す説明図である。
点の一部がはみ出していることを示す説明図である。
【図11】 負のパワーを有する被検レンズと度数分布
が既知の正の弱度のパワーを有する測定補助レンズとが
測定光路に挿入されている状態を示す光学図である。
が既知の正の弱度のパワーを有する測定補助レンズとが
測定光路に挿入されている状態を示す光学図である。
【図12】 負のパワーを有する度数分布が未知の被検
レンズを測定光路にセットし、度数分布が既知の正の弱
度のパワーを有する測定補助レンズを測定光路に挿入し
たときに測定光束の光点が受光センサの受光エリアに均
等に分配されたことを示す説明図である。
レンズを測定光路にセットし、度数分布が既知の正の弱
度のパワーを有する測定補助レンズを測定光路に挿入し
たときに測定光束の光点が受光センサの受光エリアに均
等に分配されたことを示す説明図である。
【図13】 正の未知の度数分布の被検レンズをレンズ
受けにセットしたときに測定光束に交差がないことを示
す光学図である。
受けにセットしたときに測定光束に交差がないことを示
す光学図である。
【図14】 正の未知の度数分布の被検レンズをレンズ
受けにセットしたときに測定光束に交差があることを示
す光学図である。
受けにセットしたときに測定光束に交差があることを示
す光学図である。
【図15】 正の未知の度数分布の被検レンズがレンズ
受けにセットされかつ測定光束に交差がない場合に負の
パワーを有する既知の強度の度数の測定補助レンズを測
定光路に挿入した状態を示す図である。
受けにセットされかつ測定光束に交差がない場合に負の
パワーを有する既知の強度の度数の測定補助レンズを測
定光路に挿入した状態を示す図である。
【図16】 本発明に係わる駆動制御手段の変形例を示
す図である。
す図である。
【図17】 本発明に係わる駆動制御手段の更に他の変
形例を示す概念図である。
形例を示す概念図である。
3…レンズ受け 6…被検レンズ 10A…測定光投光系 10B…測定光受光系 10C…測定光路 17b…受光センサ 17c…受光エリア 18…測定補助レンズ 21…モータ(回転選択機構) 23…スライドテーブル(挿脱機構) 26…制御部(駆動制御手段) Pi…測定光束
Claims (3)
- 【請求項1】 測定光束を被検レンズに投光する測定光
投光系と、受光センサを備えて前記被検レンズ透過後の
測定光束を受光する測定光受光系と、前記受光センサに
より検出された前記被検レンズ透過後の測定光束の変位
量に基づき前記被検レンズの面の各位置における度数を
求めることにより前記被検レンズの度数分布を測定する
測定手段と、前記測定光投光系と測定光受光系との少な
くとも一方の測定光路に挿脱可能でかつ度数が既知でし
かも互いにその度数が異なる複数個の測定補助レンズ
と、該測定補助レンズを選択して前記測定光路に挿入す
る駆動制御手段とを有するレンズメーター。 - 【請求項2】 前記駆動制御手段は、前記測定補助レン
ズを回転させて前記測定光路に挿入されるべき測定補助
レンズを選択する回転選択機構と、前記選択された測定
補助レンズを前記測定光路に対して直交する面内で往復
動させて挿脱する挿脱機構とを有することを特徴とする
請求項1に記載のレンズメーター。 - 【請求項3】 前記駆動制御手段は、前記複数個の測定
補助レンズを保持する保持枠を有し、該保持枠を前記測
定光路と平行方向に往復動させて前記測定光路に挿入さ
れるべき測定補助レンズを選択する往復選択機構と、前
記選択された測定補助レンズを前記測定光路に対して直
交する面内で往復動させて挿脱する挿脱機構とを有する
ことを特徴とする請求項1に記載のレンズメーター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6829396A JPH09257643A (ja) | 1996-03-25 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6829396A JPH09257643A (ja) | 1996-03-25 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09257643A true JPH09257643A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=13369596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6829396A Pending JPH09257643A (ja) | 1996-03-25 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09257643A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006292687A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Nidek Co Ltd | レンズメータ |
| JP2013088432A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Canon Inc | 光学波面パラメータを推定する装置および方法 |
| JP2014081216A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Canon Inc | 波面光学測定装置 |
| CN107356410A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-11-17 | 芜湖市奥尔特光电科技有限公司 | 一种升降式视频显示焦度计 |
-
1996
- 1996-03-25 JP JP6829396A patent/JPH09257643A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006292687A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Nidek Co Ltd | レンズメータ |
| JP2013088432A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Canon Inc | 光学波面パラメータを推定する装置および方法 |
| US9182289B2 (en) | 2011-10-14 | 2015-11-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for estimating wavefront parameters |
| JP2014081216A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Canon Inc | 波面光学測定装置 |
| CN107356410A (zh) * | 2017-07-19 | 2017-11-17 | 芜湖市奥尔特光电科技有限公司 | 一种升降式视频显示焦度计 |
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