JPH09257879A - 集積回路試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験プログラム作成者がパラメータ値を入力
すると同時にその値の妥当性の検査が行われる集積回路
試験装置を提供する。 【解決手段】 試験部２０４は、設定されたパラメータ
値に従って集積回路の試験を実行する。中央制御装置２
０１の試験プログラム作成手段２０７は、オペレータ操
作卓２０２を介して入力される情報を用いて試験プログ
ラム２０６を作成する。また、試験部２０４における試
験条件を決定するパラメータ値がオペレータ操作卓２０
２を介して入力された場合に、当該パラメータが試験部
に設定可能なパラメータか否かの妥当性検査を実行し、
試験部に設定可能なパラメータでない場合に当該パラメ
ータ値の再入力を要求する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＩＣ（集積回
路）の電気的特性の試験を行う集積回路試験装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】図３は従来のＩＣ試験装置の構成を示す
ブロック図である。この図において、１０１は中央制御
装置、１０２はオペレータ操作卓、１０３はアダプタ、
１０４はアダプタ１０３を介して中央制御装置に接続さ
れた試験部、１０５は試験ヘッド部である。中央制御装
置１０１には、対象とするＩＣを試験する手順を記述し
た試験プログラム１０６を記憶するメモリと、その試験
プログラムを作成するための試験プログラム作成手段１
０７とがある。試験ヘッド部１０５は被試験ＩＣを装着
し、試験部１０４の動作に従って、被試験ＩＣの各端子
を駆動したり、各端子の出力を評価したりする。

【０００３】試験部１０４は、その内部パラメータの値
を変えることによって動作を変更することができ、仕様
の異なる様々なＩＣの試験を実行することができる。こ
こで、試験部１０４のパラメータにはＩＣを駆動する電
圧／電流値やその変化点を決めるための時間値、あるい
はＩＣからの出力を評価するための電圧／電流値、時間
値など多くの種類がある。

【０００４】中央制御装置１０１は、試験プログラム１
０６を構成する各命令を逐次解釈し実行する。このよう
にして中央制御装置１０１の実行対象となる各命令の中
には、試験部１０４の各種のパラメータの値を設定する
パラメータ設定指令がある。中央制御装置１０１がかか
るパラメータ設定指令を実行すると、そのパラメータ設
定指令によって指定されたパラメータ値が中央制御装置
１０１からアダプタ１０３を介して試験部１０４へ送ら
れる。

【０００５】試験プログラム１０６は、特定の言語規則
に則った文字列として記述するのが一般的である。この
場合の試験プログラム作成手段１０７は、文字列一般を
編集する手段（以下、汎用テキストエディタと呼ぶ）で
ある。文字列として記述された試験プログラムを、中央
制御装置１０１が逐次処理するのに便利な形式に翻訳し
て使う場合もあり、その場合、試験プログラム作成手段
１０７は、汎用テキストエディタと翻訳手段（以下、コ
ンパイラと呼ぶ）とで構成されることになる。汎用テキ
ストエディタやコンパイラといった試験プログラム作成
手段の操作は、試験プログラム作成者がオペレータ操作
卓１０２を操作することで行う。

【０００６】試験部１０４の各種パラメータは、それぞ
れ設定可能な値の範囲が制限されている。この範囲外の
パラメータ値を設定しても、試験部１０４は期待した動
作をせず、誤動作する場合もある。したがって、試験部
プログラム１０６に記述するパラメータの値が、試験部
１０４にとって妥当な値であることを検査する手段が必
要になる。

【０００７】汎用テキストエディタで編集した文字列を
そのまま試験プログラムとする場合には、パラメータの
妥当性検査は一切行われない。一方、コンパイラは、通
常、プログラムされたパラメータ値が、試験部１０４に
設定可能な範囲内かどうか検査する機能を含んでいる。
このため、従来は、汎用テキストエディタで編集した文
字列からなるファイルをコンパイラによってコンパイル
し、プログラムされたパラメータ値が試験部１０４に設
定可能な範囲内かどうか検査を行っていた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】このように従来の技術
においては、妥当性検査手段がコンパイラに含まれ、試
験プログラムをコンパイルすることにより試験部に与え
るパラメータ値が設定可能な範囲内にあるか否かを判断
していたため、試験プログラム作成者がパラメータ値の
プログラムミスを知って修正を行うのに、汎用テキスト
エディタとコンパイラという２つの手段を交互に利用し
なければならない。従って、試験プログラム作成者がパ
ラメータ値をプログラムした時からその値が範囲外であ
ることを知るまでに時間が掛るため、試験プログラム作
成者の思考が中断され、パラメータ値を妥当な値に設定
する作業を効率的に進めるのが困難であるという問題が
あった。

【０００９】この発明は、試験プログラム作成者がパラ
メータ値を入力すると同時にその値の妥当性の検査が行
われる集積回路試験装置を提供することを目的としてい
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
設定されたパラメータ値に従って集積回路の試験を実行
する試験部と、情報を入力するための操作部と、前記操
作部を介して入力される情報を用いて試験プログラムを
作成するプログラム作成手段と、前記試験部における試
験条件を決定するパラメータ値が前記操作部を介して入
力された場合に、当該パラメータが前記試験部に設定可
能なパラメータか否かの妥当性検査を実行する妥当性検
査手段とを具備することを特徴とする集積回路試験装置
を要旨とする。

【００１１】請求項２に係る発明は、前記妥当性検査に
おいて前記パラメータ値が前記試験部に設定可能なパラ
メータでないとの検査結果が得られた場合に前記操作部
を介して当該パラメータ値の再入力を要求することを特
徴とする請求項１記載の集積回路試験装置を要旨とす
る。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施の形態について説明する。図１はこの発明の一実施形
態であるＩＣ試験装置の構成を示すブロック図である。
この図において、２０１は中央制御装置、２０２はオペ
レータ操作卓、２０３はアダプタ、２０４は試験部、２
０５は試験ヘッド部である。

【００１３】ここで、オペレータ操作卓２０２は、ビッ
トマップディスプレイとキーボードとマウスとで構成さ
れている。試験部２０４は様々な機能モジュール２１０
ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，……で構成されている。これ
らのモジュールは、ＩＣに対する電圧印加等、直接的に
ＩＣに対する試験を実施する役割を果す手段である。各
機能モジュール２１０ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，……
は、各々固有のパラメータを有しており、このパラメー
タの値を変更することでそのモジュールの動作を変更す
ることができる。

【００１４】中央制御装置２０１内の試験プログラム２
０６には、試験部２０４内の機能モジュール２１０ａ，
２１０ｂ，２１０ｃ，……のパラメータの設定内容や設
定順序が記述されている。試験プログラム２０６は、中
央制御装置２０１が直接逐次処理するのではなく、中央
制御装置２０１によって逐次処理される試験プログラム
実行手段２０９によって解釈・実行される。従って、試
験プログラム２０６中にパラメータ設定命令がある場合
には、このパラメータ設定命令が試験プログラム実行手
段２０９によって解釈・実行されることにより、当該パ
ラメータ設定命令によって指定されたパラメータ値を指
定する信号がアダプタ２０３を介して試験部２０４内の
各モジュール２１０ａ，２１０ｂ，……に供給される。

【００１５】試験部２０４内の各モジュール２１０ａ，
２１０ｂ，……には読み出し専用メモリが各々実装され
ており、この読み出し専用メモリには当該モジュールの
パラメータとして設定可能な値の範囲（上限と下限）を
示すデータが記憶されている。これをグローバル拘束情
報と呼ぶ。グローバル拘束情報２１１ａ，２１１ｂ，２
１１ｃ，……（ただし、２１１ａ以外は図示略）は、モ
ジュール２１０ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，……内に存在
するため、機能は同じだがパラメータの指定可能な値の
範囲が異なるモジュールと交換した場合には、グローバ
ル拘束情報に示される値の範囲も自ずと異なったものと
なる。

【００１６】中央制御装置２０１内には、ローカル拘束
情報２０８が記憶されている。このローカル拘束情報２
０８は、上記のグローバル拘束情報と同様、モジュール
２１０ａ，２１０ｂ，…に設定可能なパラメータ値の許
容範囲を指定する情報である。ただし、このローカル拘
束情報２０８は、試験プログラム作成時のミスを防ぐこ
とを目的で使用される情報であり、グローバル拘束情報
で示されるパラメータ値の許容範囲よりも狭い許容範囲
（上限下限）を指定している。また、ローカル拘束情報
２０１は、試験プログラム作成者が都合のいい値の範囲
にパラメータ値を拘束するもので、パラメータによって
拘束しないこともできる。

【００１７】試験プログラム２０６は、中央制御装置２
０１内の試験プログラム作成手段２０７がオペレータ操
作卓２０２から入力される情報に従って生成する。試験
プログラム生成手段は妥当性検査手段を含んでおり、入
力されたパラメータ値の検査が自動的に行われる。その
ときのフローを図２に示す。

【００１８】まず、ステップＳ１において、試験プログ
ラム作成手段２０７は、オペレータ操作卓２０２から試
験部２０４内のモジュール２１０ａ，２１０ｂ，……の
パラメータ名とそのパラメータに設定するパラメータ値
とを受け取る。次にステップＳ２に進むと、ステップＳ
１で指定されたパラメータのグローバル拘束情報２１１
ａ，２１１ｂ，２１１ｂ，……を機能モジュール２１０
ａ，２１０ｂ，…に実装された読み出し専用メモリから
読み込む。次いでステップＳ３に進むと、ステップＳ１
で指定されたパラメータ値がグローバル拘束情報により
指定された当該パラメータ値の許容範囲に含まれている
か否かを判断する。

【００１９】このステップＳ３での判断の結果、指定さ
れたパラメータ値がグローバル拘束情報で示された許容
範囲内に収っており、当該パラメータ値としての妥当性
を満たしていると判断した場合には、ステップＳ４に進
む。次にステップＳ４に進むと、ローカル拘束情報２０
８を読み込む。次いでステップＳ５に進み、ローカル拘
束がなされているか否か、すなわち、該当するローカル
拘束情報２０８を読み込めたか否かを判断し、この判断
結果が「ＹＥＳ」の場合はステップＳ６に進む。一方、
ステップＳ５の判断結果が「ＮＯ」、すなわち、ステッ
プＳ１で指定されたパラメータの許容範囲がローカル拘
束情報２０８に示されていない場合には、ステップＳ６
を実行することなくステップＳに進む。次にステップＳ
６に進むと、ステップＳ１で指定されたパラメータ値が
ローカル拘束情報で示された当該パラメータ値の許容範
囲内に収っているか否かを判断する。

【００２０】そして、ステップＳ３あるいはステップＳ
６で、ステップＳ１において指定されたパラメータ値が
グローバル拘束情報あるいはローカル拘束情報で指定さ
れた許容範囲から外れていることが認められた場合、試
験プログラム作成手段２０７は、操作卓２０２にパラメ
ータ値の変更を要求するメッセージを表示し、試験プロ
グラム作成者に再入力を要求する（ステップＳ８）。

【００２１】一方、ステップＳ３およびステップＳ６
で、ステップＳ１において指定されたパラメータ値がグ
ローバル拘束情報とローカル拘束情報で示された各許容
範囲のいずれにも収っていると判定された場合、試験プ
ログラム作成手段２０７は、試験プログラムを生成する
（ステップＳ７）。

【００２２】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、試験部のパラメータ値の妥当性を試験プログラムの
作成過程において保障することができる。すなわち、こ
の発明によれば、パラメータ値を入力する度に、即座に
その値の妥当性が検証されるため、試験プログラム作成
者の思考が中断されないという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施形態による集積回路試験装置
の構成を示すブロック図である。

【図２】同実施形態の動作を示すフローチャートであ
る。

【図３】従来の集積回路試験装置の構成を示すブロック
図である。

【符号の説明】

２０１ 中央制御装置 ２０７ 試験プログラム作成手段（妥当性検査手段を
含む） ２０２ オペレータ操作卓（操作部） ２０４ 試験部

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 設定されたパラメータ値に従って集積回
   路の試験を実行する試験部と、 情報を入力するための操作部と、 前記操作部を介して入力される情報を用いて試験プログ
   ラムを作成するプログラム作成手段と、 前記試験部における試験条件を決定するパラメータ値が
   前記操作部を介して入力された場合に、当該パラメータ
   が前記試験部に設定可能なパラメータか否かの妥当性検
   査を実行する妥当性検査手段とを具備することを特徴と
   する集積回路試験装置。
2. 【請求項２】 前記妥当性検査において前記パラメータ
   値が前記試験部に設定可能なパラメータでないとの検査
   結果が得られた場合に前記操作部を介して当該パラメー
   タ値の再入力を要求することを特徴とする請求項１記載
   の集積回路試験装置。