JPH09260093A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents
Ｘ線撮影装置Info
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- JPH09260093A JPH09260093A JP8087432A JP8743296A JPH09260093A JP H09260093 A JPH09260093 A JP H09260093A JP 8087432 A JP8087432 A JP 8087432A JP 8743296 A JP8743296 A JP 8743296A JP H09260093 A JPH09260093 A JP H09260093A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動露出用Ｘ線検出器の出力のばらつきを補
正するための調整が容易に行えるようにする。 【解決手段】 可変抵抗などを調整するのではなくて、
制御器１３からアナログ演算器７１〜７３に与えるゲイ
ン調整信号を変化させることによって、自動露出用Ｘ線
検出器４１〜４９の出力ゲインを調整し、これら検出器
４１〜４９の個々の出力のばらつきを補正する。
正するための調整が容易に行えるようにする。 【解決手段】 可変抵抗などを調整するのではなくて、
制御器１３からアナログ演算器７１〜７３に与えるゲイ
ン調整信号を変化させることによって、自動露出用Ｘ線
検出器４１〜４９の出力ゲインを調整し、これら検出器
４１〜４９の個々の出力のばらつきを補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、フィルムへのＸ
線撮影を行うＸ線撮影装置に関し、とくに自動露出制御
機能を有するＸ線撮影装置に関する。
線撮影を行うＸ線撮影装置に関し、とくに自動露出制御
機能を有するＸ線撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線撮影装置では、通常、自動露出制御
機能（ホトタイマとも呼ばれる）が備えられている。す
なわち、Ｘ線を被写体に向けて曝射し、被写体を透過し
たＸ線をフィルムに入射させて露光させることにより撮
影を行なう場合に、被写体を透過したＸ線をＸ線検出器
で検出し、その出力を積分して積分値が設定値に到達し
たときに、フィルム露光量（Ｘ線量）が所望の値に達し
たものとしてＸ線遮断信号を生じて、Ｘ線曝射を終了さ
せる。これにより、一定のフィルム濃度で撮影を行なう
ことができる。
機能（ホトタイマとも呼ばれる）が備えられている。す
なわち、Ｘ線を被写体に向けて曝射し、被写体を透過し
たＸ線をフィルムに入射させて露光させることにより撮
影を行なう場合に、被写体を透過したＸ線をＸ線検出器
で検出し、その出力を積分して積分値が設定値に到達し
たときに、フィルム露光量（Ｘ線量）が所望の値に達し
たものとしてＸ線遮断信号を生じて、Ｘ線曝射を終了さ
せる。これにより、一定のフィルム濃度で撮影を行なう
ことができる。
【０００３】この自動露出用のＸ線検出器として半導体
検出器などが用いられているが、変換効率が完全には一
致せず出力値がばらつくことがあり、その補正のため、
検出器出力ゲインを調整する必要がある。従来の装置で
は、この補正のための調整作業を手作業で行なう構成と
なっている。
検出器などが用いられているが、変換効率が完全には一
致せず出力値がばらつくことがあり、その補正のため、
検出器出力ゲインを調整する必要がある。従来の装置で
は、この補正のための調整作業を手作業で行なう構成と
なっている。
【０００４】すなわち、従来のＸ線撮影装置は、通常、
図３のように構成されている。図３において、制御器１
３からＸ線曝射信号が高電圧発生器１２に与えられる
と、高電圧発生器１２が高電圧を発生してこれをＸ線管
１１に印加する。これにより、Ｘ線管１１から被写体１
０に向けてＸ線が発射される。ここでは、立位、水平位
などの３つの受光部３１、３２、３３にフィルム２１、
２２、２３（および増感紙）が保持されており、そのう
ちの一つたとえばフィルム２１に、被写体１０を透過し
たＸ線が露光される。各受光部３１、３２、３３はそれ
ぞれ３つの採光野を持つマルチ採光野となっており、そ
の採光野の各々に半導体Ｘ線検出器４１〜４９が設けら
れている。これらの検出器４１〜４９により、被写体１
０を透過したＸ線が検出され、電気量（電流）に変換さ
れる。これら検出器４１〜４９の出力は切換器５０によ
り切り換えられる。
図３のように構成されている。図３において、制御器１
３からＸ線曝射信号が高電圧発生器１２に与えられる
と、高電圧発生器１２が高電圧を発生してこれをＸ線管
１１に印加する。これにより、Ｘ線管１１から被写体１
０に向けてＸ線が発射される。ここでは、立位、水平位
などの３つの受光部３１、３２、３３にフィルム２１、
２２、２３（および増感紙）が保持されており、そのう
ちの一つたとえばフィルム２１に、被写体１０を透過し
たＸ線が露光される。各受光部３１、３２、３３はそれ
ぞれ３つの採光野を持つマルチ採光野となっており、そ
の採光野の各々に半導体Ｘ線検出器４１〜４９が設けら
れている。これらの検出器４１〜４９により、被写体１
０を透過したＸ線が検出され、電気量（電流）に変換さ
れる。これら検出器４１〜４９の出力は切換器５０によ
り切り換えられる。
【０００５】ここでは、受光部３１が使用されていると
して、この受光部３１の検出器４１、４２、４３の出力
がこの切換器５０で選択され、それぞれの出力電流が保
護抵抗５１、５２、５３を経て電流／電圧変換器６１、
６２、６３の各々に入力される。電圧に変換された出力
は積分器８１、８２、８３にそれぞれ入力されて積分さ
れる。その積分出力電圧Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖｓ３はフィ
ルム露光量（Ｘ線量）に対応しており、それぞれ比較器
９１、９２、９３に入力されて制御器１３からの基準値
（設定電圧）Ｖｒｅｆと比較され、積分電圧が基準値に
達したときにＸ線遮断信号が制御器１３に送られる。制
御器１３はこのＸ線遮断信号を受け取るとただちに高電
圧発生器１２を制御して、Ｘ線管１１に供給していた高
電圧を遮断して、Ｘ線曝射を停止させる。
して、この受光部３１の検出器４１、４２、４３の出力
がこの切換器５０で選択され、それぞれの出力電流が保
護抵抗５１、５２、５３を経て電流／電圧変換器６１、
６２、６３の各々に入力される。電圧に変換された出力
は積分器８１、８２、８３にそれぞれ入力されて積分さ
れる。その積分出力電圧Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖｓ３はフィ
ルム露光量（Ｘ線量）に対応しており、それぞれ比較器
９１、９２、９３に入力されて制御器１３からの基準値
（設定電圧）Ｖｒｅｆと比較され、積分電圧が基準値に
達したときにＸ線遮断信号が制御器１３に送られる。制
御器１３はこのＸ線遮断信号を受け取るとただちに高電
圧発生器１２を制御して、Ｘ線管１１に供給していた高
電圧を遮断して、Ｘ線曝射を停止させる。
【０００６】検出器４１〜４９の各々の変換効率は完全
には一致しないため、同一のＸ線量でも積分出力Ｖｓ
１、Ｖｓ２、Ｖｓ３が同一となるとは限らない。そのた
め、電流／電圧変換器６１、６２、６３に可変抵抗を設
けてこれを調整することによって、検出器４１〜４９の
ばらつきを補正し、同一Ｘ線量で同一積分出力が得られ
るようにする。この場合、３つの電流／電圧変換器６
１、６２、６３のそれぞれには、選択された受光部から
の３つの出力が入力されるが、受光部が３つあるため、
その各々ごとに調整用の可変抵抗を設け、切換器で切り
換える。
には一致しないため、同一のＸ線量でも積分出力Ｖｓ
１、Ｖｓ２、Ｖｓ３が同一となるとは限らない。そのた
め、電流／電圧変換器６１、６２、６３に可変抵抗を設
けてこれを調整することによって、検出器４１〜４９の
ばらつきを補正し、同一Ｘ線量で同一積分出力が得られ
るようにする。この場合、３つの電流／電圧変換器６
１、６２、６３のそれぞれには、選択された受光部から
の３つの出力が入力されるが、受光部が３つあるため、
その各々ごとに調整用の可変抵抗を設け、切換器で切り
換える。
【０００７】すなわち、３つの電流／電圧変換器６１、
６２、６３のそれぞれに、受光部３１〜３３の各々用の
３つの可変抵抗を設ける必要があるため、合計９つの可
変抵抗１１１、１２１、１３１、１１２、１２２、１３
２、１１３、１２３、１３３を設け、これらを切換器２
１１、２２１、２３１、２１２、２２２、２３２、２１
３、２２３、２３３で切り換えて使用することになる。
検出器４１〜４９のそれぞれの出力を調整するため、こ
れら９つの可変抵抗の各々を手動で調整する。
６２、６３のそれぞれに、受光部３１〜３３の各々用の
３つの可変抵抗を設ける必要があるため、合計９つの可
変抵抗１１１、１２１、１３１、１１２、１２２、１３
２、１１３、１２３、１３３を設け、これらを切換器２
１１、２２１、２３１、２１２、２２２、２３２、２１
３、２２３、２３３で切り換えて使用することになる。
検出器４１〜４９のそれぞれの出力を調整するため、こ
れら９つの可変抵抗の各々を手動で調整する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ように、自動露出用Ｘ線検出器の出力ゲインの調整を手
動で行なうのでは非常に手間がかかり、厄介であるとい
う問題がある。すなわち、通常、出力調整用の可変抵抗
のつまみは制御器の盤面などのアクセス容易な場所には
設けられていず、制御器等のキャビネット内部に納めら
れていて、容易には調整できない。とくに、マルチ採光
野で、複数の受光部を備えている場合などでは、調整す
べき箇所の数が非常に多くなり、それだけ作業は複雑に
なり、その作業には多大な手間と時間がかかることにな
る。しかも、やりずらい箇所での手動調整であるため、
正確に調整することも難しい。
ように、自動露出用Ｘ線検出器の出力ゲインの調整を手
動で行なうのでは非常に手間がかかり、厄介であるとい
う問題がある。すなわち、通常、出力調整用の可変抵抗
のつまみは制御器の盤面などのアクセス容易な場所には
設けられていず、制御器等のキャビネット内部に納めら
れていて、容易には調整できない。とくに、マルチ採光
野で、複数の受光部を備えている場合などでは、調整す
べき箇所の数が非常に多くなり、それだけ作業は複雑に
なり、その作業には多大な手間と時間がかかることにな
る。しかも、やりずらい箇所での手動調整であるため、
正確に調整することも難しい。
【０００９】この発明は、上記に鑑み、自動露出用Ｘ線
検出器の出力のばらつきを補正するための調整を容易に
行なうことができるように改善したＸ線撮影装置を提供
することを目的とする。
検出器の出力のばらつきを補正するための調整を容易に
行なうことができるように改善したＸ線撮影装置を提供
することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるＸ線撮影装置においては、Ｘ線発生
手段と、自動露出用Ｘ線検出手段と、該Ｘ線検出手段の
出力のゲインを調整するゲイン調整手段と、調整後の出
力を積分する積分手段と、該積分値と設定値とを比較
し、積分値が設定値に達したときにＸ線遮断信号を生じ
る比較手段と、上記のゲイン調整手段を制御してゲイン
を変化させる制御手段とが備えられることが特徴となっ
ている。
め、この発明によるＸ線撮影装置においては、Ｘ線発生
手段と、自動露出用Ｘ線検出手段と、該Ｘ線検出手段の
出力のゲインを調整するゲイン調整手段と、調整後の出
力を積分する積分手段と、該積分値と設定値とを比較
し、積分値が設定値に達したときにＸ線遮断信号を生じ
る比較手段と、上記のゲイン調整手段を制御してゲイン
を変化させる制御手段とが備えられることが特徴となっ
ている。
【００１１】制御手段によりゲイン調整手段を制御し
て、自動露出用Ｘ線検出手段の出力ゲインを調整するこ
とができるため、自動露出用Ｘ線検出手段の出力のばら
つきを補正するための調整作業を、たとえば制御器の盤
面より、行なうことができ、作業が非常に容易になる。
て、自動露出用Ｘ線検出手段の出力ゲインを調整するこ
とができるため、自動露出用Ｘ線検出手段の出力のばら
つきを補正するための調整作業を、たとえば制御器の盤
面より、行なうことができ、作業が非常に容易になる。
【００１２】また、上記のゲイン調整手段を制御してゲ
インを変化させる制御手段が、基準のＸ線条件で上記の
Ｘ線発生手段からのＸ線曝射を繰り返して、上記の積分
値が基準の設定値に達してＸ線遮断信号が発生する時間
が基準露出時間に収束するよう自動的に制御するものと
して構成されていれば、自動露出用Ｘ線検出手段の出力
のばらつきを補正するための調整作業が、すべて自動的
に行われるので、一層、簡単かつ正確なものとなる。す
なわち、基準のＸ線条件でのＸ線曝射が繰り返され、そ
の各々において、自動露出用Ｘ線検出手段の出力の積分
値が基準の設定値に到達してＸ線遮断信号が発生する時
間が、基準の露出時間となっているかどうかに応じて、
自動露出用Ｘ線検出手段の出力のゲインの上げ下げが行
なわれる。このような操作が繰り返されることにより、
Ｘ線遮断信号が生じる時間が基準の露出時間に収束する
ことになる。
インを変化させる制御手段が、基準のＸ線条件で上記の
Ｘ線発生手段からのＸ線曝射を繰り返して、上記の積分
値が基準の設定値に達してＸ線遮断信号が発生する時間
が基準露出時間に収束するよう自動的に制御するものと
して構成されていれば、自動露出用Ｘ線検出手段の出力
のばらつきを補正するための調整作業が、すべて自動的
に行われるので、一層、簡単かつ正確なものとなる。す
なわち、基準のＸ線条件でのＸ線曝射が繰り返され、そ
の各々において、自動露出用Ｘ線検出手段の出力の積分
値が基準の設定値に到達してＸ線遮断信号が発生する時
間が、基準の露出時間となっているかどうかに応じて、
自動露出用Ｘ線検出手段の出力のゲインの上げ下げが行
なわれる。このような操作が繰り返されることにより、
Ｘ線遮断信号が生じる時間が基準の露出時間に収束する
ことになる。
【００１３】
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１におい
て、制御器１３からＸ線曝射信号が高電圧発生器１２に
与えられると、高電圧発生器１２が高電圧を発生してこ
れをＸ線管１１に印加する。これにより、Ｘ線管１１か
ら被写体１０に向けてＸ線が発射される。被写体１０を
透過したＸ線はたとえばフィルム２１に露光される。フ
ィルム２１には増感紙などが併用されることもある。こ
こでは、立位、水平位などの３つの受光部３１、３２、
３３にフィルム２１、２２、２３（および増感紙）が保
持される。そして各受光部３１、３２、３３はそれぞれ
３つの採光野を持つマルチ採光野となっており、その採
光野の各々に半導体Ｘ線検出器４１〜４９が設けられて
いる。これらの検出器４１〜４９により、被写体１０を
透過したＸ線が検出され、電気量（電流）に変換され
る。これら検出器４１〜４９の出力は切換器５０を経て
出力される。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１におい
て、制御器１３からＸ線曝射信号が高電圧発生器１２に
与えられると、高電圧発生器１２が高電圧を発生してこ
れをＸ線管１１に印加する。これにより、Ｘ線管１１か
ら被写体１０に向けてＸ線が発射される。被写体１０を
透過したＸ線はたとえばフィルム２１に露光される。フ
ィルム２１には増感紙などが併用されることもある。こ
こでは、立位、水平位などの３つの受光部３１、３２、
３３にフィルム２１、２２、２３（および増感紙）が保
持される。そして各受光部３１、３２、３３はそれぞれ
３つの採光野を持つマルチ採光野となっており、その採
光野の各々に半導体Ｘ線検出器４１〜４９が設けられて
いる。これらの検出器４１〜４９により、被写体１０を
透過したＸ線が検出され、電気量（電流）に変換され
る。これら検出器４１〜４９の出力は切換器５０を経て
出力される。
【００１４】ここでは、受光部３１が使用されていると
して、この受光部３１の検出器４１、４２、４３の出力
がこの切換器で選択され、それぞれの出力電流が保護抵
抗５１、５２、５３を経て電流／電圧変換器６１、６
２、６３の各々に入力される。電圧に変換された出力は
アナログ演算器７１、７２、７３の各々によりゲイン調
整された後、積分器８１、８２、８３にそれぞれ入力さ
れて積分される。その積分出力電圧Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖ
ｓ３はフィルム露光量（Ｘ線量）に対応しており、それ
ぞれ比較器９１、９２、９３に入力されて制御器１３か
らの設定値（設定電圧）と比較され、積分電圧が設定値
に達したときにＸ線遮断信号が制御器１３に送られる。
制御器１３はこのＸ線遮断信号を受け取るとただちに高
電圧発生器１２を制御して、Ｘ線管１１に供給していた
高電圧を遮断して、Ｘ線曝射を停止させる。
して、この受光部３１の検出器４１、４２、４３の出力
がこの切換器で選択され、それぞれの出力電流が保護抵
抗５１、５２、５３を経て電流／電圧変換器６１、６
２、６３の各々に入力される。電圧に変換された出力は
アナログ演算器７１、７２、７３の各々によりゲイン調
整された後、積分器８１、８２、８３にそれぞれ入力さ
れて積分される。その積分出力電圧Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖ
ｓ３はフィルム露光量（Ｘ線量）に対応しており、それ
ぞれ比較器９１、９２、９３に入力されて制御器１３か
らの設定値（設定電圧）と比較され、積分電圧が設定値
に達したときにＸ線遮断信号が制御器１３に送られる。
制御器１３はこのＸ線遮断信号を受け取るとただちに高
電圧発生器１２を制御して、Ｘ線管１１に供給していた
高電圧を遮断して、Ｘ線曝射を停止させる。
【００１５】アナログ演算器７１、７２、７３によって
検出器出力ゲインを調整するのは、検出器４１〜４９の
各々の出力のばらつきを補正するためである。切換器５
０によって別の受光部の検出器が選択されると、それに
対応したゲイン調整信号が制御器１３からアナログ演算
器７１、７２、７３に送られて、適切な補正がなされ
る。
検出器出力ゲインを調整するのは、検出器４１〜４９の
各々の出力のばらつきを補正するためである。切換器５
０によって別の受光部の検出器が選択されると、それに
対応したゲイン調整信号が制御器１３からアナログ演算
器７１、７２、７３に送られて、適切な補正がなされ
る。
【００１６】この適切な補正を行なうための、検出器４
１〜４９の各々に対応したゲイン調整信号は、制御器１
３から発生させられるため、制御器１３の盤面から適当
な操作によって手動で任意の最適値に定めることができ
る。
１〜４９の各々に対応したゲイン調整信号は、制御器１
３から発生させられるため、制御器１３の盤面から適当
な操作によって手動で任意の最適値に定めることができ
る。
【００１７】また、自動で求めて制御器１３に保持する
よう構成してもよい。その場合、まず、複数の受光部３
１、３２、３３のすべてについてフィルム２１、２２、
２３（および増感紙）とＦＩＤ（Ｘ線管１１の焦点から
フィルムまでの距離）を所定のものとして、固定する。
高電圧発生器１２からＸ線管１１に印加される管電圧・
管電流も所定の値とし、固定する。これにより、Ｘ線管
１１からＸ線を曝射する。被写体としては、基準物質た
とえば厚さ２００ｍｍのアクリル板を用いる。このとき
検出器４１〜４９の出力により得たＸ線遮断信号は用い
ず、自動露出制御は行なわない。そして、フィルム濃度
が一定になる（Ｄｅｎｓｉｔｙがたとえば１．３にな
る）ときの露出時間を別途の手段で実測する。この露出
時間がＴとして測定されたら、このＴを基準露出時間と
して、制御器１３の盤面などから登録する。
よう構成してもよい。その場合、まず、複数の受光部３
１、３２、３３のすべてについてフィルム２１、２２、
２３（および増感紙）とＦＩＤ（Ｘ線管１１の焦点から
フィルムまでの距離）を所定のものとして、固定する。
高電圧発生器１２からＸ線管１１に印加される管電圧・
管電流も所定の値とし、固定する。これにより、Ｘ線管
１１からＸ線を曝射する。被写体としては、基準物質た
とえば厚さ２００ｍｍのアクリル板を用いる。このとき
検出器４１〜４９の出力により得たＸ線遮断信号は用い
ず、自動露出制御は行なわない。そして、フィルム濃度
が一定になる（Ｄｅｎｓｉｔｙがたとえば１．３にな
る）ときの露出時間を別途の手段で実測する。この露出
時間がＴとして測定されたら、このＴを基準露出時間と
して、制御器１３の盤面などから登録する。
【００１８】つぎに、図２のフローチャートで示すよう
な手順でＸ線曝射とゲインの調整がなされる。まずフィ
ルム２１〜２３（および増感紙）、ＦＩＤ、管電圧・管
電流等のＸ線条件は変更せず、上記のままに固定してＸ
線曝射し、同じ基準物質の被写体について撮影する。こ
のとき、検出器４１〜４９の出力を使用した自動露出制
御を作動させる。比較器９１〜９３に与える設定値とし
て所定の基準値Ｖｒｅｆを用いる。積分器８１〜８３か
らの積分出力Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖｓ３と上記の基準値Ｖ
ｒｅｆとが比較器９１、９２、９３において比較され、
前者が後者の値に到達したとき、Ｘ線遮断信号が発生し
てＸ線曝射が遮断される。
な手順でＸ線曝射とゲインの調整がなされる。まずフィ
ルム２１〜２３（および増感紙）、ＦＩＤ、管電圧・管
電流等のＸ線条件は変更せず、上記のままに固定してＸ
線曝射し、同じ基準物質の被写体について撮影する。こ
のとき、検出器４１〜４９の出力を使用した自動露出制
御を作動させる。比較器９１〜９３に与える設定値とし
て所定の基準値Ｖｒｅｆを用いる。積分器８１〜８３か
らの積分出力Ｖｓ１、Ｖｓ２、Ｖｓ３と上記の基準値Ｖ
ｒｅｆとが比較器９１、９２、９３において比較され、
前者が後者の値に到達したとき、Ｘ線遮断信号が発生し
てＸ線曝射が遮断される。
【００１９】このとき、Ｘ線遮断信号が生じるまでの露
出時間ｔを、比較器９１、９２、９３の各々について求
め（そのため切換器５０を制御して１つの検出器の検出
信号しか出力されないようにする）、このｔと上記の基
準露出時間Ｔとを比較する。ｔが基準露出時間Ｔよりも
短ければ、アナログ演算器７１（または７２、７３）の
ゲインを上げるよう盤面操作などによって数値を入力し
て、その数値に対応したゲイン調整信号を出す。ｔがＴ
よりも長ければゲインを下げるような数値を入力し、そ
の数値に対応したゲイン調整信号を出す。そして、ふた
たびＸ線曝射して露出時間ｔを求め、これが基準露出時
間Ｔに一致していなかったら、ゲインを上げ下げする数
値を入力してゲインを制御するという操作を繰り返す。
この操作の繰り返しにより、許容誤差を含む範囲で、ｔ
をＴに一致させるように収束させることができる。この
ようにｔをＴに一致させることができたなら、そのとき
のゲイン調整信号を制御器１３に記憶させる。
出時間ｔを、比較器９１、９２、９３の各々について求
め（そのため切換器５０を制御して１つの検出器の検出
信号しか出力されないようにする）、このｔと上記の基
準露出時間Ｔとを比較する。ｔが基準露出時間Ｔよりも
短ければ、アナログ演算器７１（または７２、７３）の
ゲインを上げるよう盤面操作などによって数値を入力し
て、その数値に対応したゲイン調整信号を出す。ｔがＴ
よりも長ければゲインを下げるような数値を入力し、そ
の数値に対応したゲイン調整信号を出す。そして、ふた
たびＸ線曝射して露出時間ｔを求め、これが基準露出時
間Ｔに一致していなかったら、ゲインを上げ下げする数
値を入力してゲインを制御するという操作を繰り返す。
この操作の繰り返しにより、許容誤差を含む範囲で、ｔ
をＴに一致させるように収束させることができる。この
ようにｔをＴに一致させることができたなら、そのとき
のゲイン調整信号を制御器１３に記憶させる。
【００２０】このような作業を、切換器５０を切り換え
ながら、まず受光部３１の３つの検出器４１、４２、４
３について行ない、つぎに受光部３２の３つの検出器４
４、４５、４６につき、さらにその後受光部３３の３つ
の検出器４７、４８、４９につき行なうというように、
すべての受光部のすべての検出器について個々に行なっ
て、すべての検出器についての個別のゲイン調整信号を
制御器１３に記憶・保持させる。
ながら、まず受光部３１の３つの検出器４１、４２、４
３について行ない、つぎに受光部３２の３つの検出器４
４、４５、４６につき、さらにその後受光部３３の３つ
の検出器４７、４８、４９につき行なうというように、
すべての受光部のすべての検出器について個々に行なっ
て、すべての検出器についての個別のゲイン調整信号を
制御器１３に記憶・保持させる。
【００２１】したがって、制御器１３の盤面での入力操
作だけで何度かのＸ線曝射を行ない、多数の自動露出用
Ｘ線検出器の個々のばらつきを補正する補正値を得て記
憶・保持させることができる。実際の被写体１０につい
て撮影を行なう場合、切換器５０で検出器が選択された
場合に、その検出器の補正値（ゲイン調整信号）が読み
出され、それに応じてアナログ演算器７１、７２、７３
が調整されるため、自動的に検出器のばらつきの補正が
できる。
作だけで何度かのＸ線曝射を行ない、多数の自動露出用
Ｘ線検出器の個々のばらつきを補正する補正値を得て記
憶・保持させることができる。実際の被写体１０につい
て撮影を行なう場合、切換器５０で検出器が選択された
場合に、その検出器の補正値（ゲイン調整信号）が読み
出され、それに応じてアナログ演算器７１、７２、７３
が調整されるため、自動的に検出器のばらつきの補正が
できる。
【００２２】なお、上記では受光部は３つとし、それぞ
れに３つの採光野を設けているが、これらの数は例示で
あり、受光部および採光野（検出器）ともさらに多くの
数とすることもできる。また、逆に単採光野（採光野が
１つで検出器も１つ）の場合でも、この発明を適用すれ
ば、検出器の出力補正の手間と時間を省くことに効果が
ある。さらに、検出器出力ゲインを調整するためアナロ
グ演算器を用いたが、外部からの制御信号によってゲイ
ンを調整できるものであれば他の回路を用いることも可
能である。また、多数の自動露出用Ｘ線検出器の個々の
ばらつきを補正する補正値を得て記憶・保持させる操作
を、上記のように自動で行なうのでなくて、手動で行な
うようにしてもよい。
れに３つの採光野を設けているが、これらの数は例示で
あり、受光部および採光野（検出器）ともさらに多くの
数とすることもできる。また、逆に単採光野（採光野が
１つで検出器も１つ）の場合でも、この発明を適用すれ
ば、検出器の出力補正の手間と時間を省くことに効果が
ある。さらに、検出器出力ゲインを調整するためアナロ
グ演算器を用いたが、外部からの制御信号によってゲイ
ンを調整できるものであれば他の回路を用いることも可
能である。また、多数の自動露出用Ｘ線検出器の個々の
ばらつきを補正する補正値を得て記憶・保持させる操作
を、上記のように自動で行なうのでなくて、手動で行な
うようにしてもよい。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のＸ線撮
影装置によれば、自動露出用Ｘ線検出器の出力を補正す
るための作業をきわめて簡易に行なうことができ、その
手間と時間とを節約することが可能となる。このように
自動露出用Ｘ線検出器の出力が補正されるため、自動露
出制御による撮影時間が適切なものとなって、フィルム
濃度がつねに一定に保たれる。とくに、多数の自動露出
用Ｘ線検出器の個々のばらつきを補正する補正値を得て
記憶・保持させる操作を自動で行なうように構成すれ
ば、作業が一層容易になり、しかも正確である。
影装置によれば、自動露出用Ｘ線検出器の出力を補正す
るための作業をきわめて簡易に行なうことができ、その
手間と時間とを節約することが可能となる。このように
自動露出用Ｘ線検出器の出力が補正されるため、自動露
出制御による撮影時間が適切なものとなって、フィルム
濃度がつねに一定に保たれる。とくに、多数の自動露出
用Ｘ線検出器の個々のばらつきを補正する補正値を得て
記憶・保持させる操作を自動で行なうように構成すれ
ば、作業が一層容易になり、しかも正確である。
【図１】この発明の実施の形態を示すブロック図。
【図２】動作を示すフローチャート。
【図３】従来例を示すブロック図。
１０ 被写体 １１ Ｘ線管 １２ 高電圧発生器 １３ 制御器 ２１〜２３ フィルム ３１〜３３ 受光部 ４１〜４９ 自動露出制御用Ｘ線検出器 ５０ 切換器 ５１〜５３ 保護抵抗 ６１〜６３ 電流／電圧変換器 ７１〜７３ アナログ演算器 ８１〜８３ 積分器 ９１〜９３ 比較器 111〜113,121〜123,131〜133 可変抵抗 211〜213,221〜223,231〜233 切換器
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線発生手段と、自動露出用Ｘ線検出手
段と、該Ｘ線検出手段の出力のゲインを調整するゲイン
調整手段と、調整後の出力を積分する積分手段と、該積
分値と設定値とを比較し、積分値が設定値に達したとき
にＸ線遮断信号を生じる比較手段と、上記のゲイン調整
手段を制御してゲインを変化させる制御手段とを備える
ことを特徴とするＸ線撮影装置。 - 【請求項２】 上記の制御手段は、基準のＸ線条件で上
記のＸ線発生手段からのＸ線曝射を繰り返し、上記の積
分値が基準の設定値に達してＸ線遮断信号が発生する時
間が基準露出時間に収束するよう、上記のゲイン調整手
段を制御してゲインを変化させるものであることを特徴
とする請求項１記載のＸ線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08743296A JP3635776B2 (ja) | 1996-03-15 | 1996-03-15 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08743296A JP3635776B2 (ja) | 1996-03-15 | 1996-03-15 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09260093A true JPH09260093A (ja) | 1997-10-03 |
| JP3635776B2 JP3635776B2 (ja) | 2005-04-06 |
Family
ID=13914714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08743296A Expired - Fee Related JP3635776B2 (ja) | 1996-03-15 | 1996-03-15 | Ｘ線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3635776B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001037749A (ja) * | 1999-08-03 | 2001-02-13 | Canon Inc | デジタルｘ線撮影システム及び方法 |
| JP2004166724A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Canon Inc | 放射線撮影装置 |
| JP2005087281A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｘ線撮影装置 |
| JP2007258149A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-10-04 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置及び撮影方法 |
| JP2008117641A (ja) * | 2006-11-06 | 2008-05-22 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| KR100888888B1 (ko) * | 2006-08-02 | 2009-03-17 | (주)이우테크놀로지 | 두부계측 촬영방법 |
| KR100967346B1 (ko) * | 2008-07-11 | 2010-07-05 | (주) 브이에스아이 | 전계 방출 엑스선관의 관전류제어 회로 |
| US20140034842A1 (en) * | 2012-08-01 | 2014-02-06 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic variable gain for x-ray detector |
-
1996
- 1996-03-15 JP JP08743296A patent/JP3635776B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| EP1420618A3 (en) * | 2002-11-15 | 2009-12-02 | Canon Kabushiki Kaisha | X-Ray imaging apparatus |
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| KR100967346B1 (ko) * | 2008-07-11 | 2010-07-05 | (주) 브이에스아이 | 전계 방출 엑스선관의 관전류제어 회로 |
| US20140034842A1 (en) * | 2012-08-01 | 2014-02-06 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic variable gain for x-ray detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3635776B2 (ja) | 2005-04-06 |
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