JPH0926389A - 分析データ補正方法およびそれに用いる演算装置ならびにその補正方法を用いた粒子分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 基準の粒子分析装置によって検体を測定して
基準分布データを作成し、対象の粒子分析装置によって
前記検体と同じ検体を測定して対象分布データを作成
し、基準分布データと対象分布データとの差を表わす相
関パラメータを算出し、対象の粒子分析装置によって任
意の検体を測定して分布データを作成し、作成した分布
データを前記相関パラメータによって補正することを特
徴とする分析データ補正方法。 【効果】 １台の粒子分析装置で得られる分布データを
基準にして他の粒子分析装置で得られる分布データを較
正することにより、複数の粒子分析装置間の特性上のバ
ラツキが適正に補正され、分析結果のバラツキが解消さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、分析データ補正方法
およびそれに用いる演算装置ならびにその補正方法を用
いた粒子分析装置に関し、特に、同一仕様の複数の粒子
分析装置間における分析データのバラツキを補正する技
術に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、フローサイトメータのような粒子
分析装置においては、粒子を特徴づけるパラメータを光
学的に検出する光学系および得られたパラメータを電気
信号に変換して処理し分布データ（分布図）を作成する
信号処理系を備え、検体に含まれる血球の形態や数を分
析するようにしている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、同一仕
様で製作された複数の粒子分析装置によって、同一検体
を分析すると、それらの光学系や信号処理系間の特性上
のバラツキにより、作成される粒子分布データが相互に
異なり、同じ分析結果が得られないという問題点があ
る。

【０００４】この発明はこのような事情を考慮してなさ
れたもので、複数の粒子分析装置間における分析結果の
バラツキを補正することが可能な分析データ補正方法お
よびそれに用いる演算装置ならびにその補正方法を用い
た粒子分析装置を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段およびその作用】この発明
は、基準の粒子分析装置によって検体を測定して基準分
布データを作成し、対象の粒子分析装置によって前記検
体と同じ検体を測定して対象分布データを作成し、基準
分布データと対象分布データとの差を表わす相関パラメ
ータを算出し、対象の粒子分析装置によって任意の検体
を測定して分布データを作成し、作成した分析データを
前記相関パラメータによって補正することを特徴とする
粒子分析装置の分析データ補正方法を提供するものであ
る。上記の「前記検体と同じ検体」とは同一容器内の検
体というような厳密な意味ではなく、容器が異なってい
てもよい。つまり、同じ分布データが得られる検体とい
う意味である。

【０００６】この発明における分析対象粒子は、主にヒ
トや哺乳動物などから採取した体液に含まれる各種細胞
や血球であるが、無機粉体のような微粒子であってもよ
い。

【０００７】また、この発明における粒子分析装置と
は、粒子を特徴づけるパラメータを任意の方法、例えば
電気的および／又は光学的方法で計測して粒子の分布デ
ータを作成し、その分布データに基づいて粒子の分析を
行う装置である。

【０００８】また、基準分布データおよび対象分布デー
タについては、複数台の同一仕様の粒子分析装置で同一
検体を分析するとき、選択された１台の特定の粒子分析
装置から得られる分布データを基準分布データとし、他
方から得られるものを対象分布データとしている。

【０００９】また、分布データとは、従来の粒子分析装
置で一般的に作成されるデータであり、例えば、１つ以
上のパラメータとその度数で表わされる分布図（スキャ
ッタグラムやヒストグラム）データである。

【００１０】基準分布データと対象分布データとの差を
表わす相関パラメータとは、同一検体に対して得られる
両分布データを一致させるためのパラメータであり、こ
れは、たとえば、両分布データをそれぞれ分布図で表わ
したとき、各分布図間のスケール（座標軸の縮尺比）と
オフセット（座標軸方向のずれ）で表わすことができ
る。

【００１１】この場合、対象分布データにおけるスケー
ルとオフセットを調整することにより対象分布データを
基準分布データに一致させることが可能となる。

【００１２】つまり、任意の検体を対象の粒子分析装置
で分析するとき、分布データを相関パラメータ（スケー
ルとオフセット）で補正すれば、基準の粒子分析装置に
よる分布データと同一の分布データを得ることができ
る。なお、このスケールとオフセットは、基本分布デー
タと対象分布データの統計学上の期待値と分散値から算
出することができる。

【００１３】また、この発明は、上記の方法に用いる演
算装置であって、第１分布データを記憶する第１記憶手
段と、第２分布データを記憶する第２記憶手段と、第１
および第２分布データの差を表わす相関パラメータを算
出する算出手段と、算出した相関パラメータを出力する
出力手段からなる演算装置を提供するものである。

【００１４】ここで、第１および第２記憶手段および算
出手段は、ＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲＡＭからなるマイク
ロコンピュータを用いて一体的に構成でき、出力手段
は、例えば、相関パラメータを電気信号に変換してリア
ルタイムで出力する手段であってもよいし、相関パラメ
ータをフロッピーディスクのような記録媒体に一旦格納
して出力するような装置でもよい。

【００１５】さらに、この発明は、上記の装置の出力す
る相関パラメータを記憶する記憶手段と、検体を測定し
て分布データを作成する分布データ作成手段と、作成し
た分布データを前記相関パラメータに基づいて補正する
補正手段と、補正した分布データに基づいて粒子分析を
行う分析手段を備えた粒子分析装置を提供するものであ
る。

【００１６】ここで、分布データ作成手段および分析手
段には、従来公知の粒子分析装置を構成する光学系およ
び分析系を用いることができる。そして、記憶手段およ
び補正手段は、マイクロコンピュータを用いて一体的に
構成することができる。

【００１７】

【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明
を詳述する。これによってこの発明が限定されるもので
はない。図１はこの発明の演算装置の一実施例を示すブ
ロック図、図２はこの発明の粒子分析装置の一実施例を
示すブロック図である。

【００１８】図１において、１と２は同一仕様で製作し
た粒子分析装置であり、いずれも、検体を測定して分布
データを作成し、その分布データに基づいて検体の粒子
を分析するようになっている。ここでは、１を基準粒子
分析装置とし、２を対象粒子分析装置としている。

【００１９】図２は図１の粒子分析装置１および２の構
成を示すブロック図であり、８は分布データ補正用の相
関パラメータを記憶する記憶手段、９は検体を測定して
分布データを作成する分布データ作成手段、１０は分布
データ作成手段９が作成した分布データを記憶手段８に
記憶されている相関パラメータに基づいて補正する補正
手段、１１は補正した分布データに基づいて粒子分析を
行う分析手段である。

【００２０】図１の演算装置３において、４は基準粒子
分析装置１の分布データ作成手段９が作成した基準分布
データを記憶する第１記憶手段、５は対象粒子分析装置
２の分布データ作成手段９が作成した対象分布データを
記憶する第２記憶手段、６は第１および第２分布データ
の差を表わす相関パラメータを算出する算出手段、７は
算出した相関パラメータを出力する出力手段である。

【００２１】ここで、説明を簡単にするため、基準分布
データおよび対象分布データが、それぞれ一次元ヒスト
グラムを表わす関数ｆ（ｘ）、ｇ（ｘ）であるとする。
分布データｆ（ｘ）、ｇ（ｘ）の差は、例えば次の２つ
の要因によって生じると考えられる。

【００２２】（１）粒子分析装置間における光学系の微
差による。図４の（ａ）と（ｂ）に示すように、ｇ
（ｘ）はｆ（ｘ）に対して同一波形であるが、Ｘ軸方向
にオフセットｄだけずれれば

【００２３】

【数１】 で表わされる。

【００２４】（２）粒子分析装置間の信号処理系の微差
による。図５の（ａ）と（ｂ）に示すように、ｇ（ｘ）
はｆ（ｘ）に対してＸ軸方向にスケールＳだけ引伸した
形になれば

【００２５】

【数２】 で表わされる。

【００２６】そして、通常、ｇ（ｘ）は、上記（１）、
（２）の両方の要因によってｆ（ｘ）との差異が生じる
ので、一般的には、

【００２７】

【数３】 で表わされる。

【００２８】従って、このスケールＳ、オフセットｄに
よってｇ（ｘ）を逆変換すれば、ｆ（ｘ）を算出するこ
とができる。つまり、ｇ（ｘ）をスケールＳとオフセッ
トｄで補正してｆ（ｘ）にすることができる。

【００２９】次に、図１と図２に示す実施例の動作を図
３に示すフローチャートによって説明する。まず、基準
粒子分析装置１の分布データ作成手段９によって検体を
測定し、基本分布データｆ（ｘ）を作成して第１記憶手
段４に記憶し（ステップＳ１）、次に、対象粒子分析装
置２の分布データ作成手段９によって前記検体と同じ検
体を測定し、対象分布データｇ（ｘ）を作成して第２記
憶手段５に記憶する（ステップＳ２）。

【００３０】次に、算出手段６は、分布データｆ（ｘ）
とｇ（ｘ）との差を表わす相関パラメータ、つまり分布
データをヒストグラムで表わしたときのオフセットｄ
（図４）とスケールＳ（図５）を算出し（ステップＳ
３）出力手段７は、オフセットｄとスケールＳを出力
し、出力されたオフセットｄとスケールＳは、対象粒子
分析装置２の記憶手段８に記憶される。

【００３１】次に、対象粒子分析装置２が分布データ作
成手段９によって任意の検体を測定して分布データｈ
（ｘ）を作成すると（ステップＳ４）、作成された分布
データｈ（ｘ）は、補正手段１０において、オフセット
ｄとスケールＳによって補正され（ステップＳ５）、分
析手段１０は、補正された分布データにより粒子の分析
を行う（ステップＳ６）。

【００３２】このようにして、複数の粒子分析装置間で
光学系や信号処理系の特性がバラツイても、同一の分析
結果を得ることができる。

【００３３】次に、算出手段６においてｆ（ｘ）とｇ
（ｘ）からオフセットｄとスケールＳを算出する手順に
ついて図４と図５を参照しながら説明する。ヒストグラ
ムｆ（ｘ）の期待値Ｅ〔ｆ〕と分散Ｖ〔ｆ〕は次の式で
示される。

【００３４】

【数４】 一方、ヒストグラムｇ（ｘ）の期待値Ｅ〔ｇ〕と分散Ｖ
〔ｇ〕は次の式で示される。

【００３５】

【数５】

【００３６】

【数６】 式（６）と（７）より、

【００３７】

【数７】 となる。

【００３８】なお、上記実施例においては、分布データ
が一次元ヒストグラムであり、その分布データが連続値
の関数であるものとして説明したが、分布データがｎ次
元ヒストグラムであっても、また、分布データが分散値
の関数であっても、同様にこの発明を適用することがで
きる。

【００３９】また、オフセットｄとスケールｓを求める
について、各分布データにおいて２つの特徴点Ａ，Ｂが
明確に存在している場合には

【数８】 から簡単に求めることができる。 なお、Ａｆ：ｆ（ｘ）の第１の特徴点 Ｂｆ：ｆ（ｘ）の第２の特徴点 Ａｇ：ｇ（ｘ）の第１の特徴点 Ｂｇ：ｇ（ｘ）の第２の特徴点

【００４０】

【発明の効果】この発明によれば、１台の粒子分析装置
で得られる分布データを基準にして他の粒子分析装置で
得られる分布データを較正することにより、複数の粒子
分析装置間の特性上のバラツキが適正に補正され、分析
結果のバラツキが解消される。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。

【図２】図１の要部詳細ブロック図である。

【図３】実施例の動作を示すフローチャートである。

【図４】実施例の相関パラメータの１例を説明するため
のスキャッタグラムである。

【図５】実施例の相関パラメータの他の例を説明するた
めのスキャッタグラムである。

【符号の説明】

１ 基準粒子分析装置 ２ 対象粒子分析装置 ３ 演算手段 ４ 第１記憶手段 ５ 第２記憶手段 ６ 算出手段 ７ 出力手段 ８ 記憶手段 ９ 分布データ作成手段 １０ 補正手段 １１ 分析手段

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基準の粒子分析装置によって検体を測定
   して基準分布データを作成し、対象の粒子分析装置によ
   って前記検体と同じ検体を測定して対象分布データを作
   成し、基準分布データと対象分布データとの差を表わす
   相関パラメータを算出し、対象の粒子分析装置によって
   任意の検体を測定して分布データを作成し、作成した分
   布データを前記相関パラメータによって補正することを
   特徴とする分析データ補正方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の方法に用いる演算装置で
   あって、第１分布データを記憶する第１記憶手段と、第
   ２分布データを記憶する第２記憶手段と、第１および第
   ２分布データの差を表わす相関パラメータを算出する算
   出手段と、算出した相関パラメータを出力する出力手段
   からなる演算装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の装置の出力する相関パラ
   メータを記憶する記憶手段と、検体を測定して分布デー
   タを作成する分布データ作成手段と、作成した分布デー
   タを前記相関パラメータに基づいて補正する補正手段
   と、補正した分布データに基づいて粒子分析を行う分析
   手段を備えた粒子分析装置。
4. 【請求項４】 相関パラメータが、分布データを分布図
   で表わしたときの座標軸の縮尺比と座標軸方向のずれに
   対応する値で示される請求項１記載の方法。
5. 【請求項５】 相関パラメータが、基本分布データと対
   象分布データの各期待値と分散値から算出される値であ
   る請求項１記載の方法。