JPH0926417A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH0926417A JPH0926417A JP7176278A JP17627895A JPH0926417A JP H0926417 A JPH0926417 A JP H0926417A JP 7176278 A JP7176278 A JP 7176278A JP 17627895 A JP17627895 A JP 17627895A JP H0926417 A JPH0926417 A JP H0926417A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 26
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の超音波探傷装置は、超音波探触子を一
定の押圧力で被検査物に固定することができないので、
正確なエコー高さを読み取ることができない。 【解決手段】 被検査物Ｃに超音波パルス４を送信する
と共に、該超音波パルス４が被検査物Ｃ内に存在するき
ずｃ1によって反射されて得られるエコー５を検出する
超音波探触子Ｂと、超音波探触子Ｂから超音波パルスを
送信させると共に、超音波探触子Ｂによって受信された
エコー５を表示器ａ1に表示させる超音波探傷器Ａとを
備え、超音波探触子Ｂの被検査物Ｃとの接触面に電磁石
ｂ5〜ｂ8を配設した。
定の押圧力で被検査物に固定することができないので、
正確なエコー高さを読み取ることができない。 【解決手段】 被検査物Ｃに超音波パルス４を送信する
と共に、該超音波パルス４が被検査物Ｃ内に存在するき
ずｃ1によって反射されて得られるエコー５を検出する
超音波探触子Ｂと、超音波探触子Ｂから超音波パルスを
送信させると共に、超音波探触子Ｂによって受信された
エコー５を表示器ａ1に表示させる超音波探傷器Ａとを
備え、超音波探触子Ｂの被検査物Ｃとの接触面に電磁石
ｂ5〜ｂ8を配設した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非破壊検査に用い
られる超音波探傷装置に関する。
られる超音波探傷装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、被検査物を破壊すること
なく、その内部の状態を検査する装置に超音波探傷装置
がある。また、従来、被検査物として金属の内の状態を
非破壊検査する超音波探傷装置が用いられていた。
なく、その内部の状態を検査する装置に超音波探傷装置
がある。また、従来、被検査物として金属の内の状態を
非破壊検査する超音波探傷装置が用いられていた。
【０００３】この種の超音波探傷装置は、超音波パルス
の送信および該超音波パルスが被検査物内部のきずで反
射されて得られるエコーの受信を行う超音波探触子と、
超音波パルスの送信を制御すると共に、受信されたエコ
ーを表示する超音波探傷器とから構成されている。この
超音波探傷装置を用いて被検査物の内部を検査する場
合、検査員は、超音波探触子を手に持って被検査物の表
面に接触させながら順次移動させて、被検査物の内部に
存在するきずの位置およびその大きさ等を検出する。
の送信および該超音波パルスが被検査物内部のきずで反
射されて得られるエコーの受信を行う超音波探触子と、
超音波パルスの送信を制御すると共に、受信されたエコ
ーを表示する超音波探傷器とから構成されている。この
超音波探傷装置を用いて被検査物の内部を検査する場
合、検査員は、超音波探触子を手に持って被検査物の表
面に接触させながら順次移動させて、被検査物の内部に
存在するきずの位置およびその大きさ等を検出する。
【０００４】この場合、超音波探傷器に設けられた表示
器には反射げんまでの距離（以下ビーム路程という）が
波形表示（以下探傷図形）され、検査員は、この探傷図
形できずからのエコー（以下きずエコーという）を認識
する。そして、検査員は、このきずエコーすなわちきず
を発見すると、超音波探触子を手で押さえて固定し、正
確なビーム路程およびエコー高さを読み取ってきずの位
置および大きさを測定する。そして、測定結果を用紙等
に記録する。その後、再び超音波探触子を移動させてき
ずを検出し、再び超音波探触子を手で押さえて固定し、
ビーム路程およびエコー高さを読み取る動作を繰り返
す。
器には反射げんまでの距離（以下ビーム路程という）が
波形表示（以下探傷図形）され、検査員は、この探傷図
形できずからのエコー（以下きずエコーという）を認識
する。そして、検査員は、このきずエコーすなわちきず
を発見すると、超音波探触子を手で押さえて固定し、正
確なビーム路程およびエコー高さを読み取ってきずの位
置および大きさを測定する。そして、測定結果を用紙等
に記録する。その後、再び超音波探触子を移動させてき
ずを検出し、再び超音波探触子を手で押さえて固定し、
ビーム路程およびエコー高さを読み取る動作を繰り返
す。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した超
音波探傷装置では、検査員は手で押さえることにより超
音波探触子を被検査物の表面に固定し、表示器の探傷図
形からきずエコーのビーム路程及びエコー高さを読み取
ることにより、きずの位置および大きさを測定する。こ
の場合、検査員は片方の手で超音波探触子を押さえ、も
う一方の手にて表示器の探傷図形からきずエコーのビー
ム路程及びエコー高さを読み取り、その読み取り値を用
紙に書き込むことになる。したがって、このような状態
にて超音波探触子を押さえる検査員の力は、一定した押
圧力とはならない。この場合、この押圧力の変動により
超音波の探傷面での伝達損失量が変動するので、表示器
に表示されるきずエコー高さが変動し、検査員は正確な
きずエコー高さを読み取ることができないという問題が
あった。
音波探傷装置では、検査員は手で押さえることにより超
音波探触子を被検査物の表面に固定し、表示器の探傷図
形からきずエコーのビーム路程及びエコー高さを読み取
ることにより、きずの位置および大きさを測定する。こ
の場合、検査員は片方の手で超音波探触子を押さえ、も
う一方の手にて表示器の探傷図形からきずエコーのビー
ム路程及びエコー高さを読み取り、その読み取り値を用
紙に書き込むことになる。したがって、このような状態
にて超音波探触子を押さえる検査員の力は、一定した押
圧力とはならない。この場合、この押圧力の変動により
超音波の探傷面での伝達損失量が変動するので、表示器
に表示されるきずエコー高さが変動し、検査員は正確な
きずエコー高さを読み取ることができないという問題が
あった。
【０００６】本発明は上述する問題点に鑑みてなされた
もので、きずエコー高さを正確かつ安定した状態で読み
取ることが可能な超音波探傷装置を提供することを目的
とする。
もので、きずエコー高さを正確かつ安定した状態で読み
取ることが可能な超音波探傷装置を提供することを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の超音波探
傷装置は、上述した問題を解決するために、被検査物で
ある金属に超音波を送信し、該超音波パルスが反射され
て得られる反射波に基づいて該被検査物の内部に存在す
るきずを検出する超音波探傷装置において、前記被検査
物に超音波パルスを送信すると共に、前記エコーを受信
する超音波探傷手段と、該超音波探傷手段から超音波パ
ルスを送信させると共に、前記超音波探傷手段によって
受信された前記エコーを表示手段に表示させる制御手段
とを備え、前記超音波探傷手段の被検査物との接触面に
磁石を配設したことを特徴としている。
傷装置は、上述した問題を解決するために、被検査物で
ある金属に超音波を送信し、該超音波パルスが反射され
て得られる反射波に基づいて該被検査物の内部に存在す
るきずを検出する超音波探傷装置において、前記被検査
物に超音波パルスを送信すると共に、前記エコーを受信
する超音波探傷手段と、該超音波探傷手段から超音波パ
ルスを送信させると共に、前記超音波探傷手段によって
受信された前記エコーを表示手段に表示させる制御手段
とを備え、前記超音波探傷手段の被検査物との接触面に
磁石を配設したことを特徴としている。
【０００８】請求項２記載の超音波探傷装置は、請求項
１記載の発明において、前記磁石はコイルが巻回された
電磁石であり、前記超音波探傷手段は該コイルに通電す
る電流をＯＮ／ＯＦＦする操作子を具備することを特徴
としている。
１記載の発明において、前記磁石はコイルが巻回された
電磁石であり、前記超音波探傷手段は該コイルに通電す
る電流をＯＮ／ＯＦＦする操作子を具備することを特徴
としている。
【０００９】
【作用】本発明の超音波探傷装置によれば、超音波探触
手段が磁石の磁力によって金属によって形成された被検
査物の表面に固定される。
手段が磁石の磁力によって金属によって形成された被検
査物の表面に固定される。
【００１０】請求項２記載の超音波探傷装置によれば、
操作子を操作することにより電磁石をＯＮ／ＯＦＦし、
容易に超音波探触手段を被検査物に着脱することができ
る。
操作子を操作することにより電磁石をＯＮ／ＯＦＦし、
容易に超音波探触手段を被検査物に着脱することができ
る。
【００１１】
【発明の実施の態様】以下、図面を参照して本発明の一
実施例について説明する。図２は、本実施例の超音波探
傷装置の概要構成を示す図である。この図において、符
号Ａは超音波探傷装置の超音波探傷器、Ｂは超音波パル
スの送信と該超音波パルスのエコーを受信する超音波探
触子、またＣは金属性の被検査物、例えば鋼材等の溶接
部である。
実施例について説明する。図２は、本実施例の超音波探
傷装置の概要構成を示す図である。この図において、符
号Ａは超音波探傷装置の超音波探傷器、Ｂは超音波パル
スの送信と該超音波パルスのエコーを受信する超音波探
触子、またＣは金属性の被検査物、例えば鋼材等の溶接
部である。
【００１２】超音波探傷器Ａは、探傷図形１が表示され
る表示器ａ1と各種設定を行う操作つまにａ2とを備える
と共に、探触子ケーブル２および電源ケーブル３を介し
て超音波探触子Ｂに接続されている。一方、超音波探触
子Ｂは、筐体ｂ1、超音波パルスの送信および超音波パ
ルスのエコーを受信する振動子ｂ2、および電磁石スイ
ッチｂ3から構成されている。
る表示器ａ1と各種設定を行う操作つまにａ2とを備える
と共に、探触子ケーブル２および電源ケーブル３を介し
て超音波探触子Ｂに接続されている。一方、超音波探触
子Ｂは、筐体ｂ1、超音波パルスの送信および超音波パ
ルスのエコーを受信する振動子ｂ2、および電磁石スイ
ッチｂ3から構成されている。
【００１３】ここで、図１に示すように、この超音波探
触子Ｂ−１およびＢ−２は箱型または円筒型に形成され
ており、被検査づつ物Ｃとの接触面が長方形または円形
となっている。また、この接触面ｂ4は、アクリル等の
樹脂によって形成されており、この外周部には電磁石ｂ
5〜ｂ8が埋め込むように配設されている。これら電磁石
ｂ5〜ｂ8は、図示しないが筐体ｂ1の内部で一体化され
ており、その一部にコイル（図示略）が巻回されてい
る。この一端は電磁石スイッチｂ3に接続されており、
該電磁石スイッチｂ3をＯＮ／ＯＦＦすることにより、
電源ケーブル３を介して超音波探傷器Ａから供給される
電流がコイルに流れるように構成されている。
触子Ｂ−１およびＢ−２は箱型または円筒型に形成され
ており、被検査づつ物Ｃとの接触面が長方形または円形
となっている。また、この接触面ｂ4は、アクリル等の
樹脂によって形成されており、この外周部には電磁石ｂ
5〜ｂ8が埋め込むように配設されている。これら電磁石
ｂ5〜ｂ8は、図示しないが筐体ｂ1の内部で一体化され
ており、その一部にコイル（図示略）が巻回されてい
る。この一端は電磁石スイッチｂ3に接続されており、
該電磁石スイッチｂ3をＯＮ／ＯＦＦすることにより、
電源ケーブル３を介して超音波探傷器Ａから供給される
電流がコイルに流れるように構成されている。
【００１４】振動子ｂ2は、探触子ケーブル２を介して
供給される電圧によって振動して超音波パルス４を発生
する。また、この振動子ｂ2は、自らが送信した超音波
パルス４が被検査部Ｃの内部に存在するきずｃ1に反射
されて受信されるエコー５を検出して電気信号に変換す
る。超音波探傷器Ａは、この電気信号を探傷図形１とし
て表示器ａ1に表示する。
供給される電圧によって振動して超音波パルス４を発生
する。また、この振動子ｂ2は、自らが送信した超音波
パルス４が被検査部Ｃの内部に存在するきずｃ1に反射
されて受信されるエコー５を検出して電気信号に変換す
る。超音波探傷器Ａは、この電気信号を探傷図形１とし
て表示器ａ1に表示する。
【００１５】次に、上述した超音波探傷装置を用いて、
被検査物Ｃの内部に存在するきずｃ1を検出する方法に
ついて説明する。まず、検査員は、電磁石スイッチｂ3
を操作して電磁石をＯＦＦとすると共に、操作つまみａ
1を操作して振動子ｂ2から超音波パルス４を送信する状
態とし、超音波探触子Ｂを被検査物Ｃの表面に沿って順
次移動させる。また、同時に、表示器ａ1に表示される
探傷図形１を観察し、きずｃ1の存在を確認する。すな
わち、このきずｃ1が検出されると、図２に示すように
表示器ａ1には、探傷図形１において、例えばきずエコ
ー１１ｂとしてきずｃ1が表示される。
被検査物Ｃの内部に存在するきずｃ1を検出する方法に
ついて説明する。まず、検査員は、電磁石スイッチｂ3
を操作して電磁石をＯＦＦとすると共に、操作つまみａ
1を操作して振動子ｂ2から超音波パルス４を送信する状
態とし、超音波探触子Ｂを被検査物Ｃの表面に沿って順
次移動させる。また、同時に、表示器ａ1に表示される
探傷図形１を観察し、きずｃ1の存在を確認する。すな
わち、このきずｃ1が検出されると、図２に示すように
表示器ａ1には、探傷図形１において、例えばきずエコ
ー１１ｂとしてきずｃ1が表示される。
【００１６】ここで、この表示器ａ1に表示される探傷
図形１からきずｃ1の位置および大きさを算出すること
が可能であり、仮にきずエコー１ｂがきずｃ1に対応す
る場合、検査員は、きずｃ1の位置および大きさを正確
に測定するために、きずエコー１ｂのビーム路程および
エコー高さを正確に読み取らなければならない。
図形１からきずｃ1の位置および大きさを算出すること
が可能であり、仮にきずエコー１ｂがきずｃ1に対応す
る場合、検査員は、きずｃ1の位置および大きさを正確
に測定するために、きずエコー１ｂのビーム路程および
エコー高さを正確に読み取らなければならない。
【００１７】すなわち、検査員は、きずエコー１ｂの最
大エコー高さを正確に読み取るために、電磁石スイッチ
ｂ3を操作して電磁石をＯＮとする。これによって、超
音波探触子Ｂは、一定の磁気力によって被検査物Ｃの表
面に固定される。この状態において、検査員は、ビーム
路程およびエコー高さを読み取って用紙等に記録する。
そして、記録が終了すると、再び電磁石スイッチｂ3を
操作して電磁石をＯＦＦとし、上述したと同様に超音波
探触子Ｂを被検査物Ｃの表面に沿って順次移動させて他
のきずを検出する。
大エコー高さを正確に読み取るために、電磁石スイッチ
ｂ3を操作して電磁石をＯＮとする。これによって、超
音波探触子Ｂは、一定の磁気力によって被検査物Ｃの表
面に固定される。この状態において、検査員は、ビーム
路程およびエコー高さを読み取って用紙等に記録する。
そして、記録が終了すると、再び電磁石スイッチｂ3を
操作して電磁石をＯＦＦとし、上述したと同様に超音波
探触子Ｂを被検査物Ｃの表面に沿って順次移動させて他
のきずを検出する。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の超音波探
傷装置によれば、以下のような効果を奏することができ
る。 （１）超音波探傷手段が磁力によって常に一定の力で被
検査物に固定されるので、検査員が超音波探傷手段を手
で押さえて固定する場合と比較して、きずの検出結果の
バラツキが減少する。 （２）超音波探傷手段が被検査物に固定されるので、き
ずデータの取得が容易にすることができる。 （３）操作子の操作によって電磁石をＯＮ／ＯＦＦでき
るので、超音波探傷手段の装着位置を容易に変更するこ
とが可能である。
傷装置によれば、以下のような効果を奏することができ
る。 （１）超音波探傷手段が磁力によって常に一定の力で被
検査物に固定されるので、検査員が超音波探傷手段を手
で押さえて固定する場合と比較して、きずの検出結果の
バラツキが減少する。 （２）超音波探傷手段が被検査物に固定されるので、き
ずデータの取得が容易にすることができる。 （３）操作子の操作によって電磁石をＯＮ／ＯＦＦでき
るので、超音波探傷手段の装着位置を容易に変更するこ
とが可能である。
【図１】本発明の超音波探傷装置の概要構成を示す図で
ある。
ある。
【図２】本発明の超音波探傷装置において、超音波探触
子の構成を示す斜視図である。
子の構成を示す斜視図である。
Ａ 超音波探傷器 ａ1 表示器 ａ2 操作つまみ １ 探傷図形 １ａ 送信パルス １ｂ きずエコー １ｃ ビーム路程 １ｄ エコー高さ Ｂ 超音波探触子 ｂ1 筐体 ｂ2 振動子 ｂ3 電磁石スイッチ ｂ4 アクリル板 ｂ5〜ｂ8 電磁石 Ｃ 被検査物 ｃ1 きず ２ 探傷子ケーブル ３ 電源ケーブル ４ 超音波パルス ５ エコー
Claims (2)
- 【請求項１】 被検査物である金属に超音波を送信し、
該超音波パルスが反射されて得られる反射波（以下エコ
ーという）に基づいて該被検査物の内部に存在するきず
を検出する超音波探傷装置において、 前記被検査物に超音波パルスを送信すると共に、前記エ
コーを受信する超音波探傷手段と、 該超音波探傷手段から超音波パルスを送信させると共
に、前記超音波探傷手段によって受信された前記エコー
を表示手段に表示させる制御手段とを備え、 前記超音波探傷手段の被検査物との接触面に磁石を配設
したことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項２】 前記磁石はコイルが巻回された電磁石で
あり、前記超音波探傷手段は該コイルに通電する電流を
ＯＮ／ＯＦＦする操作子を具備することを特徴とする請
求項１記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7176278A JPH0926417A (ja) | 1995-07-12 | 1995-07-12 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7176278A JPH0926417A (ja) | 1995-07-12 | 1995-07-12 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926417A true JPH0926417A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=16010791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7176278A Pending JPH0926417A (ja) | 1995-07-12 | 1995-07-12 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0926417A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240386A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 非破壊検査装置 |
| WO2009038113A1 (ja) * | 2007-09-21 | 2009-03-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 超音波検査装置、超音波検査装置に用いられる超音波プローブ装置、および超音波検査方法 |
| JP2009092650A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-30 | Toshiba Plant Systems & Services Corp | 超音波検査装置、超音波検査装置に用いられる超音波プローブ装置、および超音波検査方法 |
| US10175200B2 (en) | 2014-05-30 | 2019-01-08 | Prime Photonics, Lc | Methods and systems for detecting nonuniformities in a material, component, or structure |
-
1995
- 1995-07-12 JP JP7176278A patent/JPH0926417A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240386A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 非破壊検査装置 |
| WO2009038113A1 (ja) * | 2007-09-21 | 2009-03-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 超音波検査装置、超音波検査装置に用いられる超音波プローブ装置、および超音波検査方法 |
| JP2009092650A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-30 | Toshiba Plant Systems & Services Corp | 超音波検査装置、超音波検査装置に用いられる超音波プローブ装置、および超音波検査方法 |
| US8960006B2 (en) | 2007-09-21 | 2015-02-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method |
| US10175200B2 (en) | 2014-05-30 | 2019-01-08 | Prime Photonics, Lc | Methods and systems for detecting nonuniformities in a material, component, or structure |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040413 |