JPH09264737A - 位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法 - Google Patents
位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法Info
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- JPH09264737A JPH09264737A JP9757596A JP9757596A JPH09264737A JP H09264737 A JPH09264737 A JP H09264737A JP 9757596 A JP9757596 A JP 9757596A JP 9757596 A JP9757596 A JP 9757596A JP H09264737 A JPH09264737 A JP H09264737A
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- predetermined
- point
- pulley
- measuring
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02W—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
- Y02W30/00—Technologies for solid waste management
- Y02W30/50—Reuse, recycling or recovery technologies
- Y02W30/82—Recycling of waste of electrical or electronic equipment [WEEE]
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】３次元空間の所定の一点を簡易な構成で高精度
に測定することができなかつたため、物体の形状を簡易
な構成で高精度に測定することができなかつた。 【解決手段】それぞれ異なる位置に配置された複数の測
定手段から３次元空間の所定の一点までの距離に基づい
て、当該所定の一点の３次元空間における位置を演算手
段によつて算出する。これにより、３次元空間の所定の
一点の位置を複数の測定手段からの距離として算出し得
るので、３次元空間の所定の一点の位置を３次元的な位
置として精度良く算出し得、かくして３次元空間の所定
の一点を簡易な構成で高精度に測定し得る位置測定装置
及び位置測定方法を実現することができる。
に測定することができなかつたため、物体の形状を簡易
な構成で高精度に測定することができなかつた。 【解決手段】それぞれ異なる位置に配置された複数の測
定手段から３次元空間の所定の一点までの距離に基づい
て、当該所定の一点の３次元空間における位置を演算手
段によつて算出する。これにより、３次元空間の所定の
一点の位置を複数の測定手段からの距離として算出し得
るので、３次元空間の所定の一点の位置を３次元的な位
置として精度良く算出し得、かくして３次元空間の所定
の一点を簡易な構成で高精度に測定し得る位置測定装置
及び位置測定方法を実現することができる。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術（図１１〜図１３） 発明が解決しようとする課題（図１１） 課題を解決するための手段 発明の実施の形態 （１）ＣＲＴ機器の解体処理手順（図１及び図２） （２）ＣＲＴ機器形状測定装置の構成（図３〜図１０） （３）実施例の動作及び効果 （４）他の実施例 発明の効果
【０００２】
【発明の属する技術分野】本発明は位置測定装置、位置
測定方法、形状測定装置及び形状測定方法に関し、例え
ば廃棄されたＣＲＴ（Cathode Ray Tube）機器の形状を
測定する際に適用して好適なものである。
測定方法、形状測定装置及び形状測定方法に関し、例え
ば廃棄されたＣＲＴ（Cathode Ray Tube）機器の形状を
測定する際に適用して好適なものである。
【０００３】
【従来の技術】近年、環境破壊の深刻化に伴い使用済み
製品の再利用化の研究が各方面において行われている。
現在、そのうちの１つとして、廃棄されたＣＲＴ機器の
再利用化に対する研究が本願出願人によつて進められて
いる。
製品の再利用化の研究が各方面において行われている。
現在、そのうちの１つとして、廃棄されたＣＲＴ機器の
再利用化に対する研究が本願出願人によつて進められて
いる。
【０００４】ここで、図１１及び図１２は、一般的なＣ
ＲＴ機器１の構成を示すものである。この図１１及び図
１２からも明らかなように、一般的なＣＲＴ機器１にお
いては、キヤビネツト２の前面側に各種操作スイツチ３
等が配設されると共に、キヤビネツト２内部にスピーカ
４、回路基板５及びＣＲＴ６等が所定位置に固定配置さ
れている。またこれら各操作スイツチ３、スピーカ４及
びＣＲＴ６は、それぞれ回路基板５にコネクタ付きケー
ブルを介して電気的に接続されている。
ＲＴ機器１の構成を示すものである。この図１１及び図
１２からも明らかなように、一般的なＣＲＴ機器１にお
いては、キヤビネツト２の前面側に各種操作スイツチ３
等が配設されると共に、キヤビネツト２内部にスピーカ
４、回路基板５及びＣＲＴ６等が所定位置に固定配置さ
れている。またこれら各操作スイツチ３、スピーカ４及
びＣＲＴ６は、それぞれ回路基板５にコネクタ付きケー
ブルを介して電気的に接続されている。
【０００５】この場合ＣＲＴ６においては、図１３に示
すように、ほぼ純水なガラス材からなるパネル部６Ａ
と、鉛を40〔％〕程度混合させたガラス材からなるフア
ンネル部６Ｂとをフリツトガラス（はんだガラス）を用
いて溶着することにより形成されている。またＣＲＴ６
のパネル部６Ａ及びフアンネル部６Ｂが接合されている
部分には図示しない防爆バンドテープを介して防爆バン
ド７が強く締めつけられた状態で捲着されている。
すように、ほぼ純水なガラス材からなるパネル部６Ａ
と、鉛を40〔％〕程度混合させたガラス材からなるフア
ンネル部６Ｂとをフリツトガラス（はんだガラス）を用
いて溶着することにより形成されている。またＣＲＴ６
のパネル部６Ａ及びフアンネル部６Ｂが接合されている
部分には図示しない防爆バンドテープを介して防爆バン
ド７が強く締めつけられた状態で捲着されている。
【０００６】さらにＣＲＴ６の背面部には電子銃８及び
偏向ヨーク９等が配設されると共に、その内部にはアパ
ーチヤグリル１０が配置されており、パネル部６Ａの内
側面でなる蛍光面には青、赤及び緑の蛍光体１１の顔料
が規則正しく塗布されている。従つてこのようなＣＲＴ
機器１の再利用を考えた場合、主としてガラス材からな
るＣＲＴ６が特に再利用化し易く、このため最近では廃
棄されたＣＲＴ機器１のＣＲＴ６をキヤビネツト２から
取り出し、破砕してガラス材を回収し、これを再利用す
ることが行われている。
偏向ヨーク９等が配設されると共に、その内部にはアパ
ーチヤグリル１０が配置されており、パネル部６Ａの内
側面でなる蛍光面には青、赤及び緑の蛍光体１１の顔料
が規則正しく塗布されている。従つてこのようなＣＲＴ
機器１の再利用を考えた場合、主としてガラス材からな
るＣＲＴ６が特に再利用化し易く、このため最近では廃
棄されたＣＲＴ機器１のＣＲＴ６をキヤビネツト２から
取り出し、破砕してガラス材を回収し、これを再利用す
ることが行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところでこの種のＣＲ
Ｔ機器１の解体ラインにおいては、まず所定の形状測定
装置を用いてＣＲＴ機器１の形状を測定する。この場
合、キヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパ
ネル面６Ｃの寸法を測定してキヤビネツト２におけるＣ
ＲＴ６の位置を検出し、この測定結果をＩＣカードに格
納し、その後の工程でこのＩＣカードに格納された測定
データを用いてキヤビネツト２の切断分離を行つてＣＲ
Ｔ６を回収する。
Ｔ機器１の解体ラインにおいては、まず所定の形状測定
装置を用いてＣＲＴ機器１の形状を測定する。この場
合、キヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパ
ネル面６Ｃの寸法を測定してキヤビネツト２におけるＣ
ＲＴ６の位置を検出し、この測定結果をＩＣカードに格
納し、その後の工程でこのＩＣカードに格納された測定
データを用いてキヤビネツト２の切断分離を行つてＣＲ
Ｔ６を回収する。
【０００８】ここで従来においてはＣＲＴ機器１の形状
を測定する形状測定装置として、ＣＣＤ（Charge Coupl
ed Device ）カメラを用いた形状測定装置（すなわち画
像処理による方法）及びレーザ変位計を用いた形状測定
装置がある。ところが一般にこれらのＣＲＴ機器１の表
面は汚れて変色していることが多いため、ＣＣＤカメラ
及びレーザ変位計を用いた形状測定装置では信頼性及び
安定性のある測定データを得ることができず、この結
果、後工程においてキヤビネツト２を切断分離する際、
ＣＲＴ６を破損するおそれがあつた。またＣＣＤカメラ
及びレーザ変位計は構成が複雑であり、高価であるため
測定装置全体としてのコストが高くなる問題があつた。
を測定する形状測定装置として、ＣＣＤ（Charge Coupl
ed Device ）カメラを用いた形状測定装置（すなわち画
像処理による方法）及びレーザ変位計を用いた形状測定
装置がある。ところが一般にこれらのＣＲＴ機器１の表
面は汚れて変色していることが多いため、ＣＣＤカメラ
及びレーザ変位計を用いた形状測定装置では信頼性及び
安定性のある測定データを得ることができず、この結
果、後工程においてキヤビネツト２を切断分離する際、
ＣＲＴ６を破損するおそれがあつた。またＣＣＤカメラ
及びレーザ変位計は構成が複雑であり、高価であるため
測定装置全体としてのコストが高くなる問題があつた。
【０００９】さらにＣＣＤカメラを用いた形状測定装置
の場合には、カメラやレンズを使用するため振動や塵埃
等が少ない環境で測定を行わなければならず、作業場所
が制約される問題があつた。さらにレーザ変位計を用い
た形状測定装置の場合には、測定光学系の構成によつて
は、測定分解能がＣＲＴ機器１の寸法に依存するため、
適用できるＣＲＴ機器１に制約が生ずる問題があつた。
このようにＣＣＤカメラを用いた形状測定装置及びレー
ザ変位計を用いた形状測定装置は、キヤビネツト２にお
けるＣＲＴ６の位置を高精度に検出し得ず、ＣＲＴ機器
１の形状を測定する方法としては実用上未だ不十分であ
つた。
の場合には、カメラやレンズを使用するため振動や塵埃
等が少ない環境で測定を行わなければならず、作業場所
が制約される問題があつた。さらにレーザ変位計を用い
た形状測定装置の場合には、測定光学系の構成によつて
は、測定分解能がＣＲＴ機器１の寸法に依存するため、
適用できるＣＲＴ機器１に制約が生ずる問題があつた。
このようにＣＣＤカメラを用いた形状測定装置及びレー
ザ変位計を用いた形状測定装置は、キヤビネツト２にお
けるＣＲＴ６の位置を高精度に検出し得ず、ＣＲＴ機器
１の形状を測定する方法としては実用上未だ不十分であ
つた。
【００１０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、３次元空間の所定の一点を簡易な構成で高精度に測
定することにより、物体の形状を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置
及び形状測定方法を提案しようとするものである。
で、３次元空間の所定の一点を簡易な構成で高精度に測
定することにより、物体の形状を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置
及び形状測定方法を提案しようとするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、それぞれ異なる位置に配置され、
３次元空間の所定の一点までの距離をそれぞれ測定する
複数の測定手段と、各測定手段から３次元空間の所定の
一点までの距離に基づいて、当該所定の一点の３次元空
間における位置を算出する演算手段とを設ける。３次元
空間の所定の一点の位置を複数の測定手段からの距離と
して算出することにより、３次元空間の所定の一点の位
置が３次元的な位置として算出される。
め本発明においては、それぞれ異なる位置に配置され、
３次元空間の所定の一点までの距離をそれぞれ測定する
複数の測定手段と、各測定手段から３次元空間の所定の
一点までの距離に基づいて、当該所定の一点の３次元空
間における位置を算出する演算手段とを設ける。３次元
空間の所定の一点の位置を複数の測定手段からの距離と
して算出することにより、３次元空間の所定の一点の位
置が３次元的な位置として算出される。
【００１２】それぞれ異なる位置から３次元空間の所定
の一点までの距離を測定し、各位置から３次元空間の所
定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点の３次元
空間における位置を算出する。３次元空間の所定の一点
の位置を複数の異なる位置からの距離として算出するこ
とにより、３次元空間の所定の一点の位置が３次元的な
位置として算出される。
の一点までの距離を測定し、各位置から３次元空間の所
定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点の３次元
空間における位置を算出する。３次元空間の所定の一点
の位置を複数の異なる位置からの距離として算出するこ
とにより、３次元空間の所定の一点の位置が３次元的な
位置として算出される。
【００１３】それぞれ異なる位置に配置され、被測定対
象物の複数の測定点までの距離をそれぞれ測定する複数
の測定手段と、各測定手段からそれぞれ各測定点までの
距離に基づいて各測定点の位置を算出し、当該各測定点
の位置に基づいて被測定対象物の形状を算出する演算手
段とを設ける。各測定点の位置を複数の測定手段からの
距離として算出することにより、各測定点の位置が３次
元的な位置として算出される。
象物の複数の測定点までの距離をそれぞれ測定する複数
の測定手段と、各測定手段からそれぞれ各測定点までの
距離に基づいて各測定点の位置を算出し、当該各測定点
の位置に基づいて被測定対象物の形状を算出する演算手
段とを設ける。各測定点の位置を複数の測定手段からの
距離として算出することにより、各測定点の位置が３次
元的な位置として算出される。
【００１４】それぞれ異なる位置から被測定対象物の複
数の測定点までの距離を測定し、各位置からそれぞれ各
測定点までの距離に基づいて当該各測定点の位置を算出
した後、当該各測定点の位置に基づいて被測定対象物の
形状を算出する。各測定点の位置を複数の異なる位置か
らの距離として算出することにより、各測定点の位置が
３次元的な位置として算出される。
数の測定点までの距離を測定し、各位置からそれぞれ各
測定点までの距離に基づいて当該各測定点の位置を算出
した後、当該各測定点の位置に基づいて被測定対象物の
形状を算出する。各測定点の位置を複数の異なる位置か
らの距離として算出することにより、各測定点の位置が
３次元的な位置として算出される。
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
施例を詳述する。
【００１５】（１）ＣＲＴ機器の解体処理手順 図１は、実施例によるＣＲＴ機器の解体処理手順ＲＴ１
を示すものであり、ＣＲＴ機器１（図１１）が解体処理
ラインに搬送されると、このＣＲＴ機器１の解体処理手
順ＲＴ１を開始（ステツプＳＰ１）して、まずＣＲＴ機
器１のキヤビネツト２（図１１）のフロント面２Ａ及び
ＣＲＴ６（図１１）の管面（パネル面）６Ｃ（図１１）
の寸法を測定する（ステツプＳＰ２）。
を示すものであり、ＣＲＴ機器１（図１１）が解体処理
ラインに搬送されると、このＣＲＴ機器１の解体処理手
順ＲＴ１を開始（ステツプＳＰ１）して、まずＣＲＴ機
器１のキヤビネツト２（図１１）のフロント面２Ａ及び
ＣＲＴ６（図１１）の管面（パネル面）６Ｃ（図１１）
の寸法を測定する（ステツプＳＰ２）。
【００１６】次いでこの測定結果に基づいてＣＲＴ６が
固定されたキヤビネツト２のフロント部を他の部分から
切り離し、この切り離されたキヤビネツト２のフロント
部（以下、これを前キヤビネツトと呼ぶ）と一体にＣＲ
Ｔ６をキヤビネツト２内部から取り出す（ステツプＳＰ
３）。続いてこのＣＲＴ６から電子銃８（図１２）を切
断分離すると共に偏向ヨーク９（図１２）等を取り外
し、この後ＣＲＴ６から前キヤビネツトを取り外す（ス
テツプＳＰ４）。
固定されたキヤビネツト２のフロント部を他の部分から
切り離し、この切り離されたキヤビネツト２のフロント
部（以下、これを前キヤビネツトと呼ぶ）と一体にＣＲ
Ｔ６をキヤビネツト２内部から取り出す（ステツプＳＰ
３）。続いてこのＣＲＴ６から電子銃８（図１２）を切
断分離すると共に偏向ヨーク９（図１２）等を取り外
し、この後ＣＲＴ６から前キヤビネツトを取り外す（ス
テツプＳＰ４）。
【００１７】次いで図１１、図１２及び図１３との対応
部分に同一符号を付して示す図２に示すように、ＣＲＴ
６をパネル部６Ａと、フアンネル部６Ｂと、パネル部６
Ａ及フアンネル部６Ｂの接合部（以下、これをアパーチ
ヤグリル取付け部と呼ぶ）６Ｄとに切断分離する（ステ
ツプＳＰ５）。さらにこの後パネル部６Ａをカレツト状
に破砕する（ステツプＳＰ６）ことによりガラス材を回
収し（ステツプＳＰ７）、フアンネル部６Ｂをカレツト
状に破砕する（ステツプＳＰ８）ことにより鉛ガラス材
を回収する（ステツプＳＰ９）。一方、アパーチヤグリ
ル取付け部６Ｄをカレツト状に破砕し（ステツプＳＰ１
０）、かけらをガラス材と鉛ガラス材とに選別する（ス
テツプＳＰ１１）ことによりガラス材及び鉛ガラス材を
回収する（ステツプＳＰ７及びステツプＳＰ９）。これ
により、廃棄されたＣＲＴ機器１のＣＲＴ６からガラス
材及び鉛ガラス材を回収効率良く得ることができる（ス
テツプＳＰ１２）。
部分に同一符号を付して示す図２に示すように、ＣＲＴ
６をパネル部６Ａと、フアンネル部６Ｂと、パネル部６
Ａ及フアンネル部６Ｂの接合部（以下、これをアパーチ
ヤグリル取付け部と呼ぶ）６Ｄとに切断分離する（ステ
ツプＳＰ５）。さらにこの後パネル部６Ａをカレツト状
に破砕する（ステツプＳＰ６）ことによりガラス材を回
収し（ステツプＳＰ７）、フアンネル部６Ｂをカレツト
状に破砕する（ステツプＳＰ８）ことにより鉛ガラス材
を回収する（ステツプＳＰ９）。一方、アパーチヤグリ
ル取付け部６Ｄをカレツト状に破砕し（ステツプＳＰ１
０）、かけらをガラス材と鉛ガラス材とに選別する（ス
テツプＳＰ１１）ことによりガラス材及び鉛ガラス材を
回収する（ステツプＳＰ７及びステツプＳＰ９）。これ
により、廃棄されたＣＲＴ機器１のＣＲＴ６からガラス
材及び鉛ガラス材を回収効率良く得ることができる（ス
テツプＳＰ１２）。
【００１８】（２）ＣＲＴ機器形状測定装置の構成 ここでこの実施例においては、上述のステツプＳＰ２に
おける処理を図３に示すＣＲＴ機器形状測定装置２０に
よつて行う。ＣＲＴ機器形状測定装置２０は、ＣＲＴ機
器搬送用コンベア２１の側壁２１Ａ側の所定位置に、３
つのワイヤ式リニアスケール（以下、単にリニアスケー
ルと呼ぶ）２２、２３及び２４と、ポインタ２５と、所
定の載置台２６上に設置されたデータ変換部２７、２８
及び２９と、例えばパーソナルコンピユータでなる演算
装置３０とが配置されて構成されている。ＣＲＴ機器搬
送用コンベア２１は、パレツト３１上に載置されたＣＲ
Ｔ機器１をＣＲＴ機器形状測定装置２０が設置されてい
る位置まで搬送する。
おける処理を図３に示すＣＲＴ機器形状測定装置２０に
よつて行う。ＣＲＴ機器形状測定装置２０は、ＣＲＴ機
器搬送用コンベア２１の側壁２１Ａ側の所定位置に、３
つのワイヤ式リニアスケール（以下、単にリニアスケー
ルと呼ぶ）２２、２３及び２４と、ポインタ２５と、所
定の載置台２６上に設置されたデータ変換部２７、２８
及び２９と、例えばパーソナルコンピユータでなる演算
装置３０とが配置されて構成されている。ＣＲＴ機器搬
送用コンベア２１は、パレツト３１上に載置されたＣＲ
Ｔ機器１をＣＲＴ機器形状測定装置２０が設置されてい
る位置まで搬送する。
【００１９】リニアスケール２２はＣＲＴ機器搬送用コ
ンベア２１の側壁２１Ａの手前側に設けられた板状でな
る支柱３２の所定の高さ位置に取り付けられた板状部材
３２Ａに設けられており、所定の長さでなるワイヤ２２
Ａを筐体内部に格納している。この板状部材３２Ａには
ワイヤ２２Ａをガイドするプーリ３２Ａ1 及びプーリ３
２Ａ2 が設けられており、ワイヤ２２Ａの一端はこれら
プーリ３２Ａ1 及びプーリ３２Ａ2 間を介してポインタ
２５に取り付けられている。
ンベア２１の側壁２１Ａの手前側に設けられた板状でな
る支柱３２の所定の高さ位置に取り付けられた板状部材
３２Ａに設けられており、所定の長さでなるワイヤ２２
Ａを筐体内部に格納している。この板状部材３２Ａには
ワイヤ２２Ａをガイドするプーリ３２Ａ1 及びプーリ３
２Ａ2 が設けられており、ワイヤ２２Ａの一端はこれら
プーリ３２Ａ1 及びプーリ３２Ａ2 間を介してポインタ
２５に取り付けられている。
【００２０】リニアスケール２３は支柱３２と所定の距
離を置いて側壁２１Ａの手前側に設けられた板状でなる
支柱３３の所定の高さ位置に取り付けられた板状部材３
３Ａに設けられており、所定の長さでなるワイヤ２３Ａ
を筐体内部に格納している。この板状部材３３Ａにはワ
イヤ２３Ａをガイドするプーリ３３Ａ1 及びプーリ３３
Ａ2 が設けられており、ワイヤ２３Ａはこれらプーリ３
３Ａ1 及びプーリ３３Ａ2 間を介してポインタ２５に取
り付けられている。ここで支柱３２及び支柱３３はそれ
ぞれ側壁２１Ａとの間隔が同じになるように設置されて
おりており、またリニアスケール２２及び２３はそれぞ
れ支柱３２及び３３にほぼ同じ高さ位置に設けられてい
る。
離を置いて側壁２１Ａの手前側に設けられた板状でなる
支柱３３の所定の高さ位置に取り付けられた板状部材３
３Ａに設けられており、所定の長さでなるワイヤ２３Ａ
を筐体内部に格納している。この板状部材３３Ａにはワ
イヤ２３Ａをガイドするプーリ３３Ａ1 及びプーリ３３
Ａ2 が設けられており、ワイヤ２３Ａはこれらプーリ３
３Ａ1 及びプーリ３３Ａ2 間を介してポインタ２５に取
り付けられている。ここで支柱３２及び支柱３３はそれ
ぞれ側壁２１Ａとの間隔が同じになるように設置されて
おりており、またリニアスケール２２及び２３はそれぞ
れ支柱３２及び３３にほぼ同じ高さ位置に設けられてい
る。
【００２１】リニアスケール２４は、支柱３２及び支柱
３３間に設けられた板状でなる横木３４と支柱３３との
接合部分に取り付けられた板状部材３４Ａに設けられて
おり、所定の長さでなるワイヤ２４Ａを筐体内部に格納
している。この板状部材３４Ａにはワイヤ２４Ａをガイ
ドするプーリ３４Ａ1 及びプーリ３４Ａ2 が設けられて
おり、ワイヤ２４Ａはこれらプーリ３４Ａ1 及びプーリ
３４Ａ2 間を介してポインタ２５に取り付けられてい
る。
３３間に設けられた板状でなる横木３４と支柱３３との
接合部分に取り付けられた板状部材３４Ａに設けられて
おり、所定の長さでなるワイヤ２４Ａを筐体内部に格納
している。この板状部材３４Ａにはワイヤ２４Ａをガイ
ドするプーリ３４Ａ1 及びプーリ３４Ａ2 が設けられて
おり、ワイヤ２４Ａはこれらプーリ３４Ａ1 及びプーリ
３４Ａ2 間を介してポインタ２５に取り付けられてい
る。
【００２２】これらリニアスケール２２、２３及び２４
は、筐体内から引き出されるワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び
２４Ａの長さに応じた数のパルス信号をそれぞれ接続線
２２Ｂ、２３Ｂ及び２４Ｂを介してデータ変換部２７、
２８及び２９に送出する。ここでリニアスケール２２、
２３及び２４は、それぞれワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２
４Ａが引き出されたとき、当該各ワイヤ２２Ａ、２３Ａ
及び２４Ａを巻き戻そうとするように構成されている。
は、筐体内から引き出されるワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び
２４Ａの長さに応じた数のパルス信号をそれぞれ接続線
２２Ｂ、２３Ｂ及び２４Ｂを介してデータ変換部２７、
２８及び２９に送出する。ここでリニアスケール２２、
２３及び２４は、それぞれワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２
４Ａが引き出されたとき、当該各ワイヤ２２Ａ、２３Ａ
及び２４Ａを巻き戻そうとするように構成されている。
【００２３】従つて作業者がポインタ２５を手に持つて
ＣＲＴ機器１の予め決められた測定点にポインタ２５の
先端を接触させた際、各ワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４
Ａは弛むことなく一直線状になるので、リニアスケール
２２、２３及び２４から測定点までの直線距離を、リニ
アスケール２２、２３及び２４から引き出された各ワイ
ヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さとして計測すること
ができる。
ＣＲＴ機器１の予め決められた測定点にポインタ２５の
先端を接触させた際、各ワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４
Ａは弛むことなく一直線状になるので、リニアスケール
２２、２３及び２４から測定点までの直線距離を、リニ
アスケール２２、２３及び２４から引き出された各ワイ
ヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さとして計測すること
ができる。
【００２４】ここでこの実施例の場合、リニアスケール
２２、２３及び２４からそれぞれ引き出されたワイヤ２
２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さの基準点は、図４に示す
ように、それぞれプーリ３２Ａ1 とプーリ３２Ａ2 の接
点３２Ａ3 、プーリ３３Ａ1とプーリ３３Ａ2 の接点３
３Ａ3 及びプーリ３４Ａ1 とプーリ３４Ａ2 の接点３４
Ａ3 である。従つてリニアスケール２２、２３及び２４
はこれら接点３２Ａ3 、接点３３Ａ3 及び接点３４Ａ3
を基準点としてリニアスケール２２、２３及び２４から
引き出されたワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さを
計測して、当該各長さに応じた数のパスル信号を送出す
る。
２２、２３及び２４からそれぞれ引き出されたワイヤ２
２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さの基準点は、図４に示す
ように、それぞれプーリ３２Ａ1 とプーリ３２Ａ2 の接
点３２Ａ3 、プーリ３３Ａ1とプーリ３３Ａ2 の接点３
３Ａ3 及びプーリ３４Ａ1 とプーリ３４Ａ2 の接点３４
Ａ3 である。従つてリニアスケール２２、２３及び２４
はこれら接点３２Ａ3 、接点３３Ａ3 及び接点３４Ａ3
を基準点としてリニアスケール２２、２３及び２４から
引き出されたワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの長さを
計測して、当該各長さに応じた数のパスル信号を送出す
る。
【００２５】ポインタ２５は作業者がＣＲＴ機器１のキ
ヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパネル面
６Ｃに予め決められた８つの測定点に直接接触させるた
めのものである。図５に示すように、ポインタ２５は例
えば弾性部材でなるグリツプ部２５Ａとポイント部２５
Ｂとによつて構成されている。ポイント部２５Ｂの先端
部にはリング２５Ｃ、２５Ｄ及び２５Ｅが取り付けられ
ており、これらリング２５Ｃ、２５Ｄ及び２５Ｅにはそ
れぞれワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａが取り付けられ
ている。またポイント部２５Ｂの先端はセラミツク等の
硬い材質で形成されていると共に、被測定対象物を損傷
させない程度に先端が丸く形成されている。
ヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパネル面
６Ｃに予め決められた８つの測定点に直接接触させるた
めのものである。図５に示すように、ポインタ２５は例
えば弾性部材でなるグリツプ部２５Ａとポイント部２５
Ｂとによつて構成されている。ポイント部２５Ｂの先端
部にはリング２５Ｃ、２５Ｄ及び２５Ｅが取り付けられ
ており、これらリング２５Ｃ、２５Ｄ及び２５Ｅにはそ
れぞれワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａが取り付けられ
ている。またポイント部２５Ｂの先端はセラミツク等の
硬い材質で形成されていると共に、被測定対象物を損傷
させない程度に先端が丸く形成されている。
【００２６】ここで図６に示すように、ＣＲＴ機器１の
キヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパネル
面６Ｃには８つの測定点Ａ〜Ｈが決められている。測定
点Ａ及びＣはそれぞれキヤビネツト２の上端縁における
両端近傍の位置、測定点Ｂ及びＤはそれぞれキヤビネツ
ト２の左端縁及び右端縁におけるほぼ同じ高さの位置、
測定点Ｅ及びＦはそれぞれフロント面２Ａ及びパネル面
６Ｃの上側境界及び下側境界の幅方向におけるほぼ中間
位置、測定点Ｇ及びＨはそれぞれフロント面２Ａ及びパ
ネル面６Ｃの左側境界及び右側境界の高さ方向における
ほぼ中間位置に設定されている。
キヤビネツト２のフロント面２Ａ及びＣＲＴ６のパネル
面６Ｃには８つの測定点Ａ〜Ｈが決められている。測定
点Ａ及びＣはそれぞれキヤビネツト２の上端縁における
両端近傍の位置、測定点Ｂ及びＤはそれぞれキヤビネツ
ト２の左端縁及び右端縁におけるほぼ同じ高さの位置、
測定点Ｅ及びＦはそれぞれフロント面２Ａ及びパネル面
６Ｃの上側境界及び下側境界の幅方向におけるほぼ中間
位置、測定点Ｇ及びＨはそれぞれフロント面２Ａ及びパ
ネル面６Ｃの左側境界及び右側境界の高さ方向における
ほぼ中間位置に設定されている。
【００２７】データ変換部２７、２８及び２９は、それ
ぞれリニアスケール２２、２３及び２４から送出される
測定点Ａ〜Ｈ毎のパルス信号の数をカウントして、当該
パルス信号の数に応じた測定点Ａ〜Ｈ毎の計測値ｌ1 、
ｌ2 及びｌ3 を演算装置３０に送出すると共に表示部
（図示せず）に表示する。演算装置３０は、以下に説明
する予め用意された変換式を用いて測定点Ａ〜Ｈ毎の計
測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 を基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ2
に変換し、この基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を以下に説
明する予め用意された変換式を用いて３次元の座標値に
変換する。
ぞれリニアスケール２２、２３及び２４から送出される
測定点Ａ〜Ｈ毎のパルス信号の数をカウントして、当該
パルス信号の数に応じた測定点Ａ〜Ｈ毎の計測値ｌ1 、
ｌ2 及びｌ3 を演算装置３０に送出すると共に表示部
（図示せず）に表示する。演算装置３０は、以下に説明
する予め用意された変換式を用いて測定点Ａ〜Ｈ毎の計
測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 を基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ2
に変換し、この基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を以下に説
明する予め用意された変換式を用いて３次元の座標値に
変換する。
【００２８】さらに演算装置３０は、測定点Ａ〜Ｈ毎に
得た８つの座標値と後述する基準座標値とをを用いて、
図７に示すように、キヤビネツト２の高さＨ及び幅Ｗ
と、キヤビネツト２の下端縁からパネル面６Ｃの高さ方
向における中心位置までの高さＨC と、キヤビネツト２
の左端縁からパネル面６Ｃの幅方向における中心位置ま
での幅ＷC と、キヤビネツト２の下端縁からパネル面６
Ｃの下端縁までの高さＨL と、パネル面６Ｃの中心位置
Ｉを測定データとして算出する。
得た８つの座標値と後述する基準座標値とをを用いて、
図７に示すように、キヤビネツト２の高さＨ及び幅Ｗ
と、キヤビネツト２の下端縁からパネル面６Ｃの高さ方
向における中心位置までの高さＨC と、キヤビネツト２
の左端縁からパネル面６Ｃの幅方向における中心位置ま
での幅ＷC と、キヤビネツト２の下端縁からパネル面６
Ｃの下端縁までの高さＨL と、パネル面６Ｃの中心位置
Ｉを測定データとして算出する。
【００２９】ここで測定データＷ、ＷC 、Ｈ、ＨC 、Ｈ
L 及びＩの算出方法について説明する。図８（Ａ）及び
（Ｂ）に示すように、ポインタ２５を測定点Ｐ（測定点
Ａ〜Ｈ）に接触させたときにリニアスケール２２、２３
及び２４から引き出されるワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２
４Ａの長さ（以下、これを計測長さと呼ぶ）、すなわち
計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 は、それぞれ接点３２Ａ3 か
ら測定点Ｐまでの長さ、接点３３Ａ3 から測定点Ｐまで
長さ及び接点３４Ａ3 から測定点Ｐまでの長さとなる。
しかしなから測定点Ｐの座標値を決定する際に必要なデ
ータは、プーリ３２Ａ1 、３３Ａ1 及び３４Ａ1 の中心
Ｃ1 、Ｃ2 及びＣ3 から測定点Ｐまでの直線距離（以
下、これを基準距離と呼ぶ）Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 であ
る。
L 及びＩの算出方法について説明する。図８（Ａ）及び
（Ｂ）に示すように、ポインタ２５を測定点Ｐ（測定点
Ａ〜Ｈ）に接触させたときにリニアスケール２２、２３
及び２４から引き出されるワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２
４Ａの長さ（以下、これを計測長さと呼ぶ）、すなわち
計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 は、それぞれ接点３２Ａ3 か
ら測定点Ｐまでの長さ、接点３３Ａ3 から測定点Ｐまで
長さ及び接点３４Ａ3 から測定点Ｐまでの長さとなる。
しかしなから測定点Ｐの座標値を決定する際に必要なデ
ータは、プーリ３２Ａ1 、３３Ａ1 及び３４Ａ1 の中心
Ｃ1 、Ｃ2 及びＣ3 から測定点Ｐまでの直線距離（以
下、これを基準距離と呼ぶ）Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 であ
る。
【００３０】ここで各プーリ３２Ａ1 、３３Ａ1 及び３
４Ａ1 の半径をｒで表すと、計測長さｌ1 、ｌ2 及びｌ
3 と、基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 とは次式（１）、
（２）及び（３）
４Ａ1 の半径をｒで表すと、計測長さｌ1 、ｌ2 及びｌ
3 と、基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 とは次式（１）、
（２）及び（３）
【数１】
【数２】
【数３】 によつて表すことができる。
【００３１】ここでθ1 は、図８（Ａ）及び（Ｂ）に示
すように、プーリ３２Ａ1 の中心Ｃ1 とプーリ３３Ａ1
の中心Ｃ2 とを結んだ直線（距離ｄ1 ）と、プーリ３２
Ａ1の中心Ｃ1 と測定点Ｐとを結んだ直線（基準距離Ｌ
1 ）とがなす角度を表し、θ 2 は、プーリ３２Ａ1 の中
心Ｃ1 とプーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 とを結んだ直線（距
離ｄ1 ）と、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 と測定点Ｐとを
結んだ直線（基準距離Ｌ2 ）とがなす角度を表し、θ3
は、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 とプーリ３４Ａ1 の中心
Ｃ3 とを結んだ直線（距離ｄ2 ）と、プーリ３４Ａ1 の
中心Ｃ3 と測定点Ｐとを結んだ直線（基準距離Ｌ3 ）と
がなす角度を表す。
すように、プーリ３２Ａ1 の中心Ｃ1 とプーリ３３Ａ1
の中心Ｃ2 とを結んだ直線（距離ｄ1 ）と、プーリ３２
Ａ1の中心Ｃ1 と測定点Ｐとを結んだ直線（基準距離Ｌ
1 ）とがなす角度を表し、θ 2 は、プーリ３２Ａ1 の中
心Ｃ1 とプーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 とを結んだ直線（距
離ｄ1 ）と、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 と測定点Ｐとを
結んだ直線（基準距離Ｌ2 ）とがなす角度を表し、θ3
は、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 とプーリ３４Ａ1 の中心
Ｃ3 とを結んだ直線（距離ｄ2 ）と、プーリ３４Ａ1 の
中心Ｃ3 と測定点Ｐとを結んだ直線（基準距離Ｌ3 ）と
がなす角度を表す。
【００３２】これらθ1 、θ2 及びθ3 は、それぞれ次
式（４）、（５）及び（６）
式（４）、（５）及び（６）
【数４】
【数５】
【数６】 によつて求めることかできる。
【００３３】従つて（１）式、（２）式及び（３）式を
それぞれＬ1 、Ｌ2 及びＬ3 について解くと、次式
（７）、（８）及び（９）
それぞれＬ1 、Ｌ2 及びＬ3 について解くと、次式
（７）、（８）及び（９）
【数７】
【数８】
【数９】 を得ることができ、演算装置３０はこれら（７）式、
（８）式及び（９）式を予め用意している。
（８）式及び（９）式を予め用意している。
【００３４】従つて演算装置３０は、計測値ｌ1 、ｌ2
及びｌ3 をそれぞれ（１）式、（２）式及び（３）式に
代入することにより、これら計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3
をそれぞれプーリ３２Ａ1 の中心Ｃ1 から測定点Ｐまで
の基準距離Ｌ1 、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 から測定点
Ｐまでの基準距離Ｌ2 及びプーリ３４Ａ1 の中心Ｃ3か
ら測定点Ｐまでの基準距離Ｌ3 に変換することができ
る。
及びｌ3 をそれぞれ（１）式、（２）式及び（３）式に
代入することにより、これら計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3
をそれぞれプーリ３２Ａ1 の中心Ｃ1 から測定点Ｐまで
の基準距離Ｌ1 、プーリ３３Ａ1 の中心Ｃ2 から測定点
Ｐまでの基準距離Ｌ2 及びプーリ３４Ａ1 の中心Ｃ3か
ら測定点Ｐまでの基準距離Ｌ3 に変換することができ
る。
【００３５】次に各測定点Ｐ毎に得た基準距離Ｌ1 、Ｌ
2 及びＬ3 の座標値への変換方法について説明する。図
９に示すように、測定点Ｐ（ｘ、ｙ、ｚ）のｘ座標値、
ｙ座標値及びｚ座標値は、それぞれ次式（１０）、（１
１）及び（１２）
2 及びＬ3 の座標値への変換方法について説明する。図
９に示すように、測定点Ｐ（ｘ、ｙ、ｚ）のｘ座標値、
ｙ座標値及びｚ座標値は、それぞれ次式（１０）、（１
１）及び（１２）
【数１０】
【数１１】
【数１２】 より求めることができる。演算装置３０はこれら（１
０）式、（１１）式及び（１２）式を予め用意してい
る。
０）式、（１１）式及び（１２）式を予め用意してい
る。
【００３６】従つて演算装置３０は、各測定点Ｐ毎に得
た基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を（１０）式、（１１）
式及び（１２）式に代入することにより、各測定点Ｐ毎
の座標値を得ることができる。
た基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を（１０）式、（１１）
式及び（１２）式に代入することにより、各測定点Ｐ毎
の座標値を得ることができる。
【００３７】また演算装置３０は、図１０に示すよう
に、作業者が測定開始前にパレツト３１上の例えばＣＲ
Ｔ機器１の左側手前に所定の治具３５を設置すると共に
当該治具３５にポインタ２５をセツトしたときの座標値
を算出する。従つて上述のようにして得た各測定点Ｐの
座標値は、ポインタ２５を治具３５にセツトした状態で
得られる座標値（以下、これを基準座標値と呼ぶ）を原
点としたときの座標値となる。これにより、パレツト３
１上に載置されたＣＲＴ機器１の載置状態に関係なく、
治具３５にポインタ２５をセツトしたときの状態を基準
として、測定点Ｐの座標値を得ることができる。
に、作業者が測定開始前にパレツト３１上の例えばＣＲ
Ｔ機器１の左側手前に所定の治具３５を設置すると共に
当該治具３５にポインタ２５をセツトしたときの座標値
を算出する。従つて上述のようにして得た各測定点Ｐの
座標値は、ポインタ２５を治具３５にセツトした状態で
得られる座標値（以下、これを基準座標値と呼ぶ）を原
点としたときの座標値となる。これにより、パレツト３
１上に載置されたＣＲＴ機器１の載置状態に関係なく、
治具３５にポインタ２５をセツトしたときの状態を基準
として、測定点Ｐの座標値を得ることができる。
【００３８】（３）実施例の動作及び効果 以上の構成において、このＣＲＴ機器形状測定装置２０
では、まず作業者がポインタ２５を治具３５にセツトす
ると、演算装置３０はこのポインタ２５が治具３５にセ
ツトされたときの基準座標値を算出する。続いて作業者
はポインタ２５の先端を測定点Ａ〜Ｈに測定点Ａ〜Ｈの
順で接触させる。
では、まず作業者がポインタ２５を治具３５にセツトす
ると、演算装置３０はこのポインタ２５が治具３５にセ
ツトされたときの基準座標値を算出する。続いて作業者
はポインタ２５の先端を測定点Ａ〜Ｈに測定点Ａ〜Ｈの
順で接触させる。
【００３９】演算装置３０は各測定点Ａ〜Ｈ毎に得られ
る計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 を（７）式、（８）式及び
（９）式にそれぞれ代入して、各測定点Ａ〜Ｉ毎に基準
距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を算出する。続いて演算装置３
０は、算出した基準距離Ｌ1、Ｌ2 及びＬ3 を（１０）
式、（１１）式及び（１２）式に代入して各測定点Ａ〜
Ｈ毎の座標値を得る。
る計測値ｌ1 、ｌ2 及びｌ3 を（７）式、（８）式及び
（９）式にそれぞれ代入して、各測定点Ａ〜Ｉ毎に基準
距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 を算出する。続いて演算装置３
０は、算出した基準距離Ｌ1、Ｌ2 及びＬ3 を（１０）
式、（１１）式及び（１２）式に代入して各測定点Ａ〜
Ｈ毎の座標値を得る。
【００４０】次に演算装置３０はこれら測定点Ａ〜Ｉの
座標値を基に、キヤビネツト２の高さＨ及び幅Ｗ、キヤ
ビネツト２の下端縁からパネル面６Ｃの高さ方向におけ
る中心位置までの高さＨC 、キヤビネツト２の左端縁か
らパネル面６Ｃの幅方向における中心位置までの幅
ＷC 、キヤビネツト２の下端縁からＣＲＴ６のパネル面
６の下端縁までの高さＨl 及びパネル面６Ｃの中心位置
Ｉ（図７）を求める。ここで実際上、演算装置３０は、
測定点Ｂ及びＤのｘ座標値の差を求めることによりキヤ
ビネツト２の幅Ｗを算出し、測定点Ｇ及びＨのｘ座標値
の中間点を求めることによりキヤビネツト２の左端縁か
らパネル面６Ｃの幅方向における中心位置までの幅ＷC
を算出する。
座標値を基に、キヤビネツト２の高さＨ及び幅Ｗ、キヤ
ビネツト２の下端縁からパネル面６Ｃの高さ方向におけ
る中心位置までの高さＨC 、キヤビネツト２の左端縁か
らパネル面６Ｃの幅方向における中心位置までの幅
ＷC 、キヤビネツト２の下端縁からＣＲＴ６のパネル面
６の下端縁までの高さＨl 及びパネル面６Ｃの中心位置
Ｉ（図７）を求める。ここで実際上、演算装置３０は、
測定点Ｂ及びＤのｘ座標値の差を求めることによりキヤ
ビネツト２の幅Ｗを算出し、測定点Ｇ及びＨのｘ座標値
の中間点を求めることによりキヤビネツト２の左端縁か
らパネル面６Ｃの幅方向における中心位置までの幅ＷC
を算出する。
【００４１】すなわち演算装置３０は、測定点Ａの座標
値から基準座標値を差し引いて得られる座標値のｙ座標
値と、測定点Ｃの座標値から基準座標値を差し引いて得
られる座標値のｙ座標値との平均値を求めることにより
キヤビネツト２の高さＨを算出する。同様に演算装置３
０は、測定点Ｅの座標値から基準座標値を差し引いて得
られる座標値のｙ座標値と、測定点Ｆの座標値から基準
座標値を差し引いて得られる座標値のｙ座標値との中間
点を求めることにより、キヤビネツト２の下端からパネ
ル面６Ｃの高さ方向における中心位置までの高さＨC を
算出し、測定点Ｆの座標値から基準座標値を差し引いて
得られる座標値のｙ座標値を求めることによりキヤビネ
ツト２の下端からパネル面６Ｃの下端までの高さＨl を
算出する。また演算装置３０は、測定点Ｅの座標値から
基準座標値を差し引いて得られる座標値と、測定点Ｆの
座標値から基準座標値を差し引いて得られる座標値と、
測定点Ｇ及びＨの座標値とに基づいて、ＣＲＴ６のパネ
ル面６Ｃの中心位置Ｉの座標値を算出する。
値から基準座標値を差し引いて得られる座標値のｙ座標
値と、測定点Ｃの座標値から基準座標値を差し引いて得
られる座標値のｙ座標値との平均値を求めることにより
キヤビネツト２の高さＨを算出する。同様に演算装置３
０は、測定点Ｅの座標値から基準座標値を差し引いて得
られる座標値のｙ座標値と、測定点Ｆの座標値から基準
座標値を差し引いて得られる座標値のｙ座標値との中間
点を求めることにより、キヤビネツト２の下端からパネ
ル面６Ｃの高さ方向における中心位置までの高さＨC を
算出し、測定点Ｆの座標値から基準座標値を差し引いて
得られる座標値のｙ座標値を求めることによりキヤビネ
ツト２の下端からパネル面６Ｃの下端までの高さＨl を
算出する。また演算装置３０は、測定点Ｅの座標値から
基準座標値を差し引いて得られる座標値と、測定点Ｆの
座標値から基準座標値を差し引いて得られる座標値と、
測定点Ｇ及びＨの座標値とに基づいて、ＣＲＴ６のパネ
ル面６Ｃの中心位置Ｉの座標値を算出する。
【００４２】続いて演算装置３０は、測定開始前に予め
作業者が設定した基準範囲内にパネル面６Ｃの中心位置
Ｉの座標値が存在するか否かを判断する。演算装置３０
は、パネル面６Ｃの中心位置Ｉの座標値が基準範囲内に
あると判断したときは、上述のようにして算出した各測
定データＷ、ＷC 、Ｈ、ＨC 、Ｈl 及びＩを例えばＩＣ
カード（図示せず）に記録し、パネル面６Ｃの中心位置
Ｉの座標値が基準範囲外であると判断したときは、ＣＲ
Ｔ機器１が測定精度の許容範囲を越えて傾斜しているも
のと判断し、再測定を指示する旨を例えば表示部に表示
するなどして作業者に知らせる。
作業者が設定した基準範囲内にパネル面６Ｃの中心位置
Ｉの座標値が存在するか否かを判断する。演算装置３０
は、パネル面６Ｃの中心位置Ｉの座標値が基準範囲内に
あると判断したときは、上述のようにして算出した各測
定データＷ、ＷC 、Ｈ、ＨC 、Ｈl 及びＩを例えばＩＣ
カード（図示せず）に記録し、パネル面６Ｃの中心位置
Ｉの座標値が基準範囲外であると判断したときは、ＣＲ
Ｔ機器１が測定精度の許容範囲を越えて傾斜しているも
のと判断し、再測定を指示する旨を例えば表示部に表示
するなどして作業者に知らせる。
【００４３】従つてこの形状認識装置２０では、ポイン
タ２５をＣＲＴ機器１の測定点Ａ〜Ｈに順に直接接触さ
せるだけで、各測定点Ａ〜Ｈの位置を３次元座標値とし
て得ることができる。またこの形状認識装置２０では、
ポインタ２５をＣＲＴ機器１の測定点Ａ〜Ｈに直接接触
させて各測定点Ａ〜Ｈの位置を測定しているので、従来
のようにＣＲＴ機器１が汚れていても、各測定点Ａ〜Ｈ
の位置を高精度に測定することができる。
タ２５をＣＲＴ機器１の測定点Ａ〜Ｈに順に直接接触さ
せるだけで、各測定点Ａ〜Ｈの位置を３次元座標値とし
て得ることができる。またこの形状認識装置２０では、
ポインタ２５をＣＲＴ機器１の測定点Ａ〜Ｈに直接接触
させて各測定点Ａ〜Ｈの位置を測定しているので、従来
のようにＣＲＴ機器１が汚れていても、各測定点Ａ〜Ｈ
の位置を高精度に測定することができる。
【００４４】以上の構成によれば、リニアスケール２
２、２３及び２４のワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの
一端が取り付けられたポインタ２５を、測定点Ａ〜Ｈに
順に直接接触させて測定点Ａ〜Ｈ毎に計測値ｌ1 、ｌ2
及びｌ3 を得、当該測定点Ａ〜Ｈ毎に得た計測値ｌ1 、
ｌ2 及びｌ3 を基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 に変換する
と共に、当該測定点Ａ〜Ｈ毎に得た基準距離Ｌ1 、Ｌ2
及びＬ3 を測定点Ａ〜Ｈ毎に３次元座標値に変換した
後、これら測定点Ａ〜Ｈ毎の座標値及び基準座標値に基
づいて測定データＷ、ＷC 、Ｈ、ＨC 、Ｈl 及びＩを算
出するようにしたことにより、ポインタ２５をＣＲＴ機
器１の測定点Ａ〜Ｉに直接接触させるだけで、各測定点
Ａ〜Ｈの位置を３次元座標値として精度良く測定するこ
とができ、かくしてキヤビネツト２のフロント面２Ａ及
びＣＲＴ６のパネル面６Ｃの寸法を簡易な構成で高精度
に測定することのできるＣＲＴ機器形状測定装置２０を
実現することができる。
２、２３及び２４のワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａの
一端が取り付けられたポインタ２５を、測定点Ａ〜Ｈに
順に直接接触させて測定点Ａ〜Ｈ毎に計測値ｌ1 、ｌ2
及びｌ3 を得、当該測定点Ａ〜Ｈ毎に得た計測値ｌ1 、
ｌ2 及びｌ3 を基準距離Ｌ1 、Ｌ2 及びＬ3 に変換する
と共に、当該測定点Ａ〜Ｈ毎に得た基準距離Ｌ1 、Ｌ2
及びＬ3 を測定点Ａ〜Ｈ毎に３次元座標値に変換した
後、これら測定点Ａ〜Ｈ毎の座標値及び基準座標値に基
づいて測定データＷ、ＷC 、Ｈ、ＨC 、Ｈl 及びＩを算
出するようにしたことにより、ポインタ２５をＣＲＴ機
器１の測定点Ａ〜Ｉに直接接触させるだけで、各測定点
Ａ〜Ｈの位置を３次元座標値として精度良く測定するこ
とができ、かくしてキヤビネツト２のフロント面２Ａ及
びＣＲＴ６のパネル面６Ｃの寸法を簡易な構成で高精度
に測定することのできるＣＲＴ機器形状測定装置２０を
実現することができる。
【００４５】（４）他の実施例 なお上述の実施例においては、キヤビネツト２の高さＨ
及び幅Ｗ、キヤビネツト２の下端からパネル面６Ｃの高
さ方向における中心位置までの高さＨC 、キヤビネツト
２の左端からパネル面６Ｃの幅方向における中心位置ま
での幅ＷC 、キヤビネツト２の下端からＣＲＴ６のパネ
ル面６の下端までの高さＨl 及びパネル面６Ｃの中心位
置Ｉを測定した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、キヤビネツト２の奥行きを測定してＣＲＴ機器
１の形状を３次元的に測定するようにしてもよい。
及び幅Ｗ、キヤビネツト２の下端からパネル面６Ｃの高
さ方向における中心位置までの高さＨC 、キヤビネツト
２の左端からパネル面６Ｃの幅方向における中心位置ま
での幅ＷC 、キヤビネツト２の下端からＣＲＴ６のパネ
ル面６の下端までの高さＨl 及びパネル面６Ｃの中心位
置Ｉを測定した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、キヤビネツト２の奥行きを測定してＣＲＴ機器
１の形状を３次元的に測定するようにしてもよい。
【００４６】また上述の実施例においては、パネル面６
Ｃにほぼ平行となるようにリニアスケール２２、２３及
び２４と、プーリ３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３
Ａ2、３４Ａ1 、３４Ａ2 とを配設した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、パネル面６Ｃに直交す
る方向（すなわちパレツト３１のＣＲＴ機器載置面に平
行）にリニアスケール２２、２３及び２４と、プーリ３
２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 、３
４Ａ2 とを配設するようにしてもよい。この場合、ワイ
ヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａをそれぞれガイドするプー
リをプーリ３２Ａ1 、３３Ａ1 及び ３４Ａ1 だけにす
ることができるので、ＣＲＴ機器形状測定装置２０の構
成を一段と簡易にすることができる。
Ｃにほぼ平行となるようにリニアスケール２２、２３及
び２４と、プーリ３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３
Ａ2、３４Ａ1 、３４Ａ2 とを配設した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、パネル面６Ｃに直交す
る方向（すなわちパレツト３１のＣＲＴ機器載置面に平
行）にリニアスケール２２、２３及び２４と、プーリ３
２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 、３
４Ａ2 とを配設するようにしてもよい。この場合、ワイ
ヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａをそれぞれガイドするプー
リをプーリ３２Ａ1 、３３Ａ1 及び ３４Ａ1 だけにす
ることができるので、ＣＲＴ機器形状測定装置２０の構
成を一段と簡易にすることができる。
【００４７】さらに上述の実施例においては、測定点Ａ
〜Ｈを図６に示すような位置に設定した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、要は被測定対象物の形
状を測定し得れば、測定点を他の位置に設定してもよ
い。さらに上述の実施例においては、被測定対象物とし
てＣＲＴ機器１に本発明を適用した場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、例えば冷蔵庫等この他種々
の被測定対象物に本発明を適用し得る。
〜Ｈを図６に示すような位置に設定した場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、要は被測定対象物の形
状を測定し得れば、測定点を他の位置に設定してもよ
い。さらに上述の実施例においては、被測定対象物とし
てＣＲＴ機器１に本発明を適用した場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、例えば冷蔵庫等この他種々
の被測定対象物に本発明を適用し得る。
【００４８】さらに上述の実施例においては、被測定対
象物の形状を測定する場合に本発明を適用した場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、３次元空間の所
定の一点の位置を測定する際に本発明を適用し得る。さ
らに上述の実施例においては、それぞれ異なる位置に配
置され、３次元空間の所定の一点までの距離をそれぞれ
測定する複数の測定手段として、リニアスケール２２、
２３及び２４と、プーリ３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３
Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 及び３４Ａ2 と、ポインタ２
５と、データ変換部２７、２８及び２９とを用いた場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、測定手段と
してこの他種々の測定手段を適用し得る。
象物の形状を測定する場合に本発明を適用した場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、３次元空間の所
定の一点の位置を測定する際に本発明を適用し得る。さ
らに上述の実施例においては、それぞれ異なる位置に配
置され、３次元空間の所定の一点までの距離をそれぞれ
測定する複数の測定手段として、リニアスケール２２、
２３及び２４と、プーリ３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３
Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 及び３４Ａ2 と、ポインタ２
５と、データ変換部２７、２８及び２９とを用いた場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、測定手段と
してこの他種々の測定手段を適用し得る。
【００４９】さらに上述の実施例においては、各測定手
段から所定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点
の３次元空間における位置を算出する演算手段として、
データ変換部２７〜２９及びパーソルコンピユータでな
る演算装置３０を用いた場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、演算手段としてこの他種々の演算手段
を適用し得る。さらに上述の実施例においては、所定の
一点を指示するための指示手段としてポインタ２５を用
いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、指
示手段としてこの他種々の指示手段を適用し得る。
段から所定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点
の３次元空間における位置を算出する演算手段として、
データ変換部２７〜２９及びパーソルコンピユータでな
る演算装置３０を用いた場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、演算手段としてこの他種々の演算手段
を適用し得る。さらに上述の実施例においては、所定の
一点を指示するための指示手段としてポインタ２５を用
いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、指
示手段としてこの他種々の指示手段を適用し得る。
【００５０】さらに上述の実施例においては、それぞれ
一端が指示手段に接続された所定長さでなる複数の所定
の部材としてワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａを用いた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、所定の
部材としてテープ状や紐状のものなどこの他種々の部材
を適用し得る。さらに上述の実施例においては、指示手
段によつて所定の一点を指示した際の各測定手段から所
定の一点までの各所定の部材の長さに基づいて所定の一
点の位置を座標値として算出する位置算出手段として、
データ変換手段２７、２８及び２９と演算装置３０を用
いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、位
置算出手段としてこの他種々の位置算出手段を適用し得
る。
一端が指示手段に接続された所定長さでなる複数の所定
の部材としてワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａを用いた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、所定の
部材としてテープ状や紐状のものなどこの他種々の部材
を適用し得る。さらに上述の実施例においては、指示手
段によつて所定の一点を指示した際の各測定手段から所
定の一点までの各所定の部材の長さに基づいて所定の一
点の位置を座標値として算出する位置算出手段として、
データ変換手段２７、２８及び２９と演算装置３０を用
いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、位
置算出手段としてこの他種々の位置算出手段を適用し得
る。
【００５１】さらに上述の実施例においては、指示手段
によつて所定の一点を指示した際の各プーリの所定の位
置から所定の一点までの各所定の部材の長さを、各プー
リの中心から所定の一点までの各所定の部材の長さに変
換する変換手段として演算装置３０を用いた場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、変換手段としてこ
の他種々の変換手段を適用し得る。
によつて所定の一点を指示した際の各プーリの所定の位
置から所定の一点までの各所定の部材の長さを、各プー
リの中心から所定の一点までの各所定の部材の長さに変
換する変換手段として演算装置３０を用いた場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、変換手段としてこ
の他種々の変換手段を適用し得る。
【００５２】さらに上述の実施例においては、それぞれ
異なる位置に配置され、被測定対象物の複数の測定点ま
での距離をそれぞれ測定する複数の測定手段として、リ
ニアスケール２２、２３及び２４と、プーリ３２Ａ1 、
３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 及び３４Ａ2
と、ポインタ２５と、データ変換部２７、２８及び２９
とを用いた場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、測定手段としてこの他種々の測定手段を適用し得
る。
異なる位置に配置され、被測定対象物の複数の測定点ま
での距離をそれぞれ測定する複数の測定手段として、リ
ニアスケール２２、２３及び２４と、プーリ３２Ａ1 、
３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ2 、３４Ａ1 及び３４Ａ2
と、ポインタ２５と、データ変換部２７、２８及び２９
とを用いた場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、測定手段としてこの他種々の測定手段を適用し得
る。
【００５３】さらに上述の実施例においては、各測定手
段からそれぞれ各測定点までの距離に基づいて各測定点
の位置を算出し、当該各測定点の位置に基づいて被測定
対象物の形状を算出する演算手段として、データ変換部
２７〜２９及びパーソルコンピユータでなる演算装置３
０を用いた場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、演算手段としてこの他種々の演算手段を適用し得
る。さらに上述の実施例においては、各測定点に接触さ
せるための測定点接触手段としてポインタ２５を用いた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、測定点
接触手段としてこの他種々の測定点接触手段を適用し得
る。
段からそれぞれ各測定点までの距離に基づいて各測定点
の位置を算出し、当該各測定点の位置に基づいて被測定
対象物の形状を算出する演算手段として、データ変換部
２７〜２９及びパーソルコンピユータでなる演算装置３
０を用いた場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、演算手段としてこの他種々の演算手段を適用し得
る。さらに上述の実施例においては、各測定点に接触さ
せるための測定点接触手段としてポインタ２５を用いた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、測定点
接触手段としてこの他種々の測定点接触手段を適用し得
る。
【００５４】さらに上述の実施例においては、それぞれ
一端が測定点接触手段に接続された所定長さでなる複数
の所定の部材としてワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａを
用いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
所定の部材としてテープ状や紐状のものなどこの他種々
の部材を適用し得る。
一端が測定点接触手段に接続された所定長さでなる複数
の所定の部材としてワイヤ２２Ａ、２３Ａ及び２４Ａを
用いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
所定の部材としてテープ状や紐状のものなどこの他種々
の部材を適用し得る。
【００５５】さらに上述の実施例においては、測定点接
触手段を各測定点に接触させた際の各測定手段からそれ
ぞれ各測定点までの各所定の部材の長さに基づいて各測
定点の位置を座標値として算出し、当該各測定点の座標
値に基づいて被測定対象物の形状を算出する形状算出手
段として、データ変換手段２７、２８及び２９と演算装
置３０を用いた場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、形状算出手段としてこの他種々の形状算出手段
を適用し得る。
触手段を各測定点に接触させた際の各測定手段からそれ
ぞれ各測定点までの各所定の部材の長さに基づいて各測
定点の位置を座標値として算出し、当該各測定点の座標
値に基づいて被測定対象物の形状を算出する形状算出手
段として、データ変換手段２７、２８及び２９と演算装
置３０を用いた場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、形状算出手段としてこの他種々の形状算出手段
を適用し得る。
【００５６】さらに上述の実施例においては、測定点接
触手段を各測定点に接触させた際の各プーリの所定の位
置からそれぞれ各測定点までの各所定の部材の長さを、
各プーリの中心からそれぞれ各測定点までの各所定の部
材の長さに変換する変換手段として演算装置３０を用い
た場合について述べたが、本発明はこれに限らず、変換
手段としてこの他種々の変換手段を適用し得る。
触手段を各測定点に接触させた際の各プーリの所定の位
置からそれぞれ各測定点までの各所定の部材の長さを、
各プーリの中心からそれぞれ各測定点までの各所定の部
材の長さに変換する変換手段として演算装置３０を用い
た場合について述べたが、本発明はこれに限らず、変換
手段としてこの他種々の変換手段を適用し得る。
【００５７】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、それぞれ
異なる位置に配置された複数の測定手段から３次元空間
の所定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点の３
次元空間における位置を演算手段によつて算出すること
により、３次元空間における所定の一点の位置を３次元
的な位置として精度良く算出することができ、かくして
３次元空間の所定の一点の位置を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定装置を実現することができる。
異なる位置に配置された複数の測定手段から３次元空間
の所定の一点までの距離に基づいて当該所定の一点の３
次元空間における位置を演算手段によつて算出すること
により、３次元空間における所定の一点の位置を３次元
的な位置として精度良く算出することができ、かくして
３次元空間の所定の一点の位置を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定装置を実現することができる。
【００５８】また上述のように本発明によれば、それぞ
れ異なる位置から３次元空間の所定の一点までの距離を
測定し、各位置から所定の一点までの距離に基づいて当
該所定の一点の３次元空間における位置を算出すること
により、３次元空間における所定の一点の位置を３次元
的な位置として精度良く算出することができ、かくして
３次元空間の所定の一点の位置を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定方法を実現することができる。
れ異なる位置から３次元空間の所定の一点までの距離を
測定し、各位置から所定の一点までの距離に基づいて当
該所定の一点の３次元空間における位置を算出すること
により、３次元空間における所定の一点の位置を３次元
的な位置として精度良く算出することができ、かくして
３次元空間の所定の一点の位置を簡易な構成で高精度に
測定し得る位置測定方法を実現することができる。
【００５９】さらに上述のように本発明によれば、それ
ぞれ異なる位置に配置された複数の測定手段から被測定
対象物の複数の測定点までの距離に基づいて各測定点の
位置を算出した後、当該各測定点の位置に基づいて被測
定対象物の形状を演算手段によつて算出することによ
り、被測定対象物の各測定点の位置を３次元的な位置と
して精度良く算出することができ、かくして被測定対象
物の形状を簡易な構成で高精度に測定し得る形状測定装
置を実現することができる。
ぞれ異なる位置に配置された複数の測定手段から被測定
対象物の複数の測定点までの距離に基づいて各測定点の
位置を算出した後、当該各測定点の位置に基づいて被測
定対象物の形状を演算手段によつて算出することによ
り、被測定対象物の各測定点の位置を３次元的な位置と
して精度良く算出することができ、かくして被測定対象
物の形状を簡易な構成で高精度に測定し得る形状測定装
置を実現することができる。
【００６０】さらに上述のように本発明によれば、それ
ぞれ異なる位置から被測定対象物の複数の測定点までの
距離を測定し、各位置から各測定点までの距離に基づい
て各測定点の位置を算出した後、当該各測定点の位置に
基づいて被測定対象物の形状を算出することにより、被
測定対象物の各測定点の位置を３次元的な位置として精
度良く算出することができ、かくして被測定対象物の形
状を簡易な構成で高精度に測定し得る形状測定方法を実
現することができる。
ぞれ異なる位置から被測定対象物の複数の測定点までの
距離を測定し、各位置から各測定点までの距離に基づい
て各測定点の位置を算出した後、当該各測定点の位置に
基づいて被測定対象物の形状を算出することにより、被
測定対象物の各測定点の位置を３次元的な位置として精
度良く算出することができ、かくして被測定対象物の形
状を簡易な構成で高精度に測定し得る形状測定方法を実
現することができる。
【図１】ＣＲＴ機器の解体処理手順を示すフローチヤー
トである。
トである。
【図２】分離されたＣＲＴの説明に供する略線図であ
る。
る。
【図３】実施例によるＣＲＴ機器形状測定装置の構成を
示す略線的斜視図である。
示す略線的斜視図である。
【図４】各ワイヤの長さの基準点の説明に供する略線図
である。
である。
【図５】ポインタの構成の説明に供する略線的斜視図で
ある。
ある。
【図６】ＣＲＴ機器における測定点の説明に供する略線
図である。
図である。
【図７】測定データの説明に供する略線図である。
【図８】測定長さの基準距離への変換の説明に供する略
線図である。
線図である。
【図９】基準距離の３次元座標値への変換の説明に供す
る略線図である。
る略線図である。
【図１０】ポインタを位置決めするための治具の説明に
供する略線的斜視図である。
供する略線的斜視図である。
【図１１】ＣＲＴ機器の構成の説明に供する略線的斜視
図である。
図である。
【図１２】ＣＲＴ機器の構成の説明に供する略線的斜視
図である。
図である。
【図１３】ＣＲＴの構成の説明に供する略線的斜視図で
ある。
ある。
１……ＣＲＴ機器、２……キヤビネツト、２Ａ……フロ
ント面、６……ＣＲＴ、６Ｃ……パネル面（管面）、２
０……ＣＲＴ機器形状測定装置、２１……ＣＲＴ機器搬
送用コンベア、２２、２３、２４……ワイヤ式リニアス
ケール、２２Ａ、２３Ａ、２４Ａ……ワイヤ、２５……
ポインタ、２７、２８、２９……データ変換部、３０…
…演算装置、３１……パレツト、３２、３３……支柱、
３４……横木、３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ
2 、３４Ａ1 、３４Ａ2 ……プーリ、３５……治具。
ント面、６……ＣＲＴ、６Ｃ……パネル面（管面）、２
０……ＣＲＴ機器形状測定装置、２１……ＣＲＴ機器搬
送用コンベア、２２、２３、２４……ワイヤ式リニアス
ケール、２２Ａ、２３Ａ、２４Ａ……ワイヤ、２５……
ポインタ、２７、２８、２９……データ変換部、３０…
…演算装置、３１……パレツト、３２、３３……支柱、
３４……横木、３２Ａ1 、３２Ａ2 、３３Ａ1 、３３Ａ
2 、３４Ａ1 、３４Ａ2 ……プーリ、３５……治具。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村松 成治 東京都品川区北品川６丁目７番35号ソニー 株式会社内 (72)発明者 石井 修 東京都品川区北品川６丁目７番35号ソニー 株式会社内
Claims (12)
- 【請求項１】それぞれ異なる位置に配置され、３次元空
間の所定の一点までの距離をそれぞれ測定する複数の測
定手段と、 上記各測定手段から上記所定の一点までの距離に基づい
て当該所定の一点の上記３次元空間における位置を算出
する演算手段とを具えることを特徴とする位置測定装
置。 - 【請求項２】上記所定の一点を指示するための指示手段
と、 それぞれ一端が上記指示手段に接続された所定長さでな
る複数の所定の部材と、 上記指示手段によつて上記所定の一点を指示した際の上
記各測定手段から上記所定の一点までの上記所定の部材
の長さ基づいて上記所定の一点の位置を座標値として算
出する位置算出手段とを具えることを特徴とする請求項
１に記載の位置測定装置。 - 【請求項３】上記各測定手段は、 上記所定の部材を巻き取る巻取り手段と、 引き出される上記所定の部材の長さを測定して、当該長
さに応じた数のパルス信号を出力するパルス信号出力手
段と、 上記所定の部材をガイドするプーリとを具え、上記パル
ス出力手段は、上記プーリの円周上の所定の位置を基準
として、当該所定の位置から上記各測定点までの上記所
定の部材の長さに応じた数の上記パルス信号を出力する
ことを特徴すとる請求項２に記載の位置測定装置。 - 【請求項４】上記位置算出手段は、 上記指示手段によつて上記所定の一点を指示した際の上
記各プーリの所定の位置から上記所定の一点までの上記
各所定の部材の長さを、上記各プーリの中心から上記所
定の一点までの上記各所定の部材の長さに変換する変換
手段を具えることを特徴とする請求項３に記載の位置測
定装置。 - 【請求項５】上記測定手段、上記所定の部材及び上記プ
ーリをそれぞれ３つ具え、上記変換手段は、上記指示手
段によつて上記所定の一点を指示した際の上記各プーリ
の所定の位置から上記所定の一点までの上記各所定の部
材の長さを、当該各所定の部材の長さと、上記各プーリ
の半径と、第１の上記プーリ及び第２又は第３の上記プ
ーリの中心を結ぶ線と上記第１のプーリ及び上記所定の
一点を結ぶ線とがなす角度と、上記第２のプーリ及び上
記第１又は第３のプーリの中心を結ぶ線と上記第２のプ
ーリ及び上記所定の一点を結ぶ線とがなす角度と、上記
第３のプーリ及び上記第１又は第２のプーリの中心を結
ぶ線と上記第３のプーリ及び上記所定の一点を結ぶ線と
がなす角度とに基づいて、上記各プーリの中心から上記
所定の一点までの上記各所定の部材の長さに変換するこ
とを特徴とする請求項４に記載の位置測定装置。 - 【請求項６】それぞれ異なる位置から３次元空間の所定
の一点までの距離を測定し、 上記各位置から上記所定の一点までの距離に基づいて当
該所定の一点の上記３次元空間における位置を算出する
ことを特徴とする位置測定方法。 - 【請求項７】被測定対象物の形状を測定する形状測定装
置において、 それぞれ異なる位置に配置され、上記被測定対象物の複
数の測定点までの距離をそれぞれ測定する複数の測定手
段と、 上記各測定手段からそれぞれ上記各測定点までの距離に
基づいて上記各測定点の位置を算出し、当該各測定点の
位置に基づいて上記被測定対象物の形状を算出する演算
手段とを具えることを特徴とする形状測定装置。 - 【請求項８】上記各測定点に接触させるための測定点接
触手段と、 それぞれ一端が上記測定点接触手段に接続された所定長
さでなる複数の所定の部材と、 上記測定点接触手段を上記各測定点に接触させた際の上
記各測定手段からそれぞれ上記各測定点までの上記各所
定の部材の長さ基づいて上記各測定点の位置を座標値と
して算出し、当該各測定点の座標値に基づいて上記被測
定対象物の形状を算出する形状算出手段とを具えること
を特徴とする請求項７に記載の形状測定装置。 - 【請求項９】上記各測定手段は、 上記所定の部材を巻き取る巻取り手段と、 引き出される上記所定の部材の長さを測定して、当該長
さに応じた数のパルス信号を出力するパルス信号出力手
段と、 上記所定の部材をガイドするプーリとを具え、上記パル
ス出力手段は、上記プーリの円周上の所定の位置を基準
として、当該所定の位置から上記各測定点までの上記所
定の部材の長さに応じた数の上記パルス信号を出力する
ことを特徴すとる請求項８に記載の形状測定装置。 - 【請求項１０】上記形状算出手段は、 上記測定点接触手段を上記各測定点に接触させた際の上
記各プーリの所定の位置からそれぞれ上記各測定点まで
の上記各所定の部材の長さを、上記各プーリの中心から
それぞれ上記各測定点までの上記各所定の部材の長さに
変換する変換手段を具えることを特徴とする請求項９に
記載の形状測定装置。 - 【請求項１１】上記測定手段、上記所定の部材及び上記
プーリをそれぞれ３つ具え、上記変換手段は、上記測定
点接触手段を上記各測定点に接触させた際の上記各プー
リの所定の位置からそれぞれ上記各測定点までの上記各
所定の部材の長さを、当該各所定の部材の長さと、上記
各プーリの半径と、第１の上記プーリ及び第２又は第３
の上記プーリの中心を結ぶ線と上記第１のプーリ及び上
記各測定点を結ぶ線とがなす角度と、上記第２のプーリ
及び上記第１又は第３のプーリの中心を結ぶ線と上記第
２のプーリ及び上記各測定点を結ぶ線とがなす角度と、
上記第３のプーリ及び上記第１又は第２のプーリの中心
を結ぶ線と上記第３のプーリ及び上記各測定点を結ぶ線
とがなす角度とに基づいて、上記各プーリの中心からそ
れぞれ上記各測定点までの上記各所定の部材の長さに変
換することを特徴とする請求項１０に記載の形状測定装
置。 - 【請求項１２】被測定対象物の形状を測定する形状測定
方法において、 それぞれ異なる位置から上記被測定対象物の複数の測定
点までの距離を測定し、 上記各位置からそれぞれ上記各測定点までの距離に基づ
いて当該各測定点の位置を算出した後、当該各測定点の
位置に基づいて上記被測定対象物の形状を算出すること
を特徴とする形状測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9757596A JPH09264737A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9757596A JPH09264737A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09264737A true JPH09264737A (ja) | 1997-10-07 |
Family
ID=14196046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9757596A Pending JPH09264737A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 位置測定装置、位置測定方法、形状測定装置及び形状測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09264737A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103557821A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-02-05 | 福建汇川数码技术科技有限公司 | 在非整平、对中、量高状态下实现三维空间测量方法 |
-
1996
- 1996-03-27 JP JP9757596A patent/JPH09264737A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103557821A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-02-05 | 福建汇川数码技术科技有限公司 | 在非整平、对中、量高状态下实现三维空间测量方法 |
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