JPH09276775A - Processing device and processing method - Google Patents

Processing device and processing method

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JPH09276775A
JPH09276775A JP8115248A JP11524896A JPH09276775A JP H09276775 A JPH09276775 A JP H09276775A JP 8115248 A JP8115248 A JP 8115248A JP 11524896 A JP11524896 A JP 11524896A JP H09276775 A JPH09276775 A JP H09276775A
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cup
processed
holding means
processing
spin chuck
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Kimio Motoda
公男 元田
Takamitsu Yamaguchi
恭満 山口
Yoshitaka Matsuda
義隆 松田
Satoru Kawasaki
川崎  哲
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スループットの向上及び製品歩留まりの向上
を図り、かつ、装置の小型化及び使用電力の省力化を図
れるようにすること。 【解決手段】 LCD基板Gを保持するスピンチャック
10を第1のモータ11で回転駆動させ、処理室21を
有するカップ20を第2のモータ22で回転駆動させ
る。スピンチャック10をカップ20に対して接離移動
する昇降シリンダ12を設けると共に、スピンチャック
10とカップ20の接触部を気密にするシール部材14
を設ける。これにより、LCD基板Gの回転数が所定の
加速度を経て所定値に達した後、LCD基板Gの回転数
とカップ20の回転数をほぼ同期させ、その際に、スピ
ンチャック10とカップ20とを接触させてシール部材
14にて気密状態にし、この気密状態下で、LCD基板
Gの表面に処理液であるレジスト液を拡散塗布すること
ができる。
(57) [PROBLEMS] To improve throughput and product yield, and to reduce the size of an apparatus and save power consumption. A spin chuck 10 holding an LCD substrate G is rotationally driven by a first motor 11, and a cup 20 having a processing chamber 21 is rotationally driven by a second motor 22. An elevating cylinder 12 for moving the spin chuck 10 toward and away from the cup 20 is provided, and a sealing member 14 that hermetically seals the contact portion between the spin chuck 10 and the cup 20.
Is provided. As a result, after the rotation speed of the LCD substrate G reaches a predetermined value through a predetermined acceleration, the rotation speed of the LCD substrate G and the rotation speed of the cup 20 are substantially synchronized with each other. Are brought into contact with each other to be made airtight by the sealing member 14, and under this airtight state, the resist liquid which is a processing liquid can be applied by diffusion to the surface of the LCD substrate G.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば、LCD
基板等の被処理体に処理液を供給して処理する処理装置
及び処理方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to, for example, an LCD.
The present invention relates to a processing apparatus and a processing method for supplying a processing liquid to an object to be processed such as a substrate for processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、液晶表示ディスプレイ(LC
D)装置の製造工程においては、LCD基板(ガラス基
板)上に、例えば、ITO(Indium Tin O
xide)の薄膜や電極パターンを形成するために、半
導体製造工程に用いられるものと同様なフォトリソグラ
フィ技術を用いて回路パターン等を縮小してフォトレジ
ストに転写しこれを現像処理する処理装置が用いられて
いる。
2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display (LC) is used.
D) In the manufacturing process of the device, for example, ITO (Indium Tin O) is formed on the LCD substrate (glass substrate).
In order to form a thin film of xide) or an electrode pattern, a processing device for reducing a circuit pattern or the like using a photolithography technique similar to that used in a semiconductor manufacturing process and transferring it to a photoresist and developing it is used. Has been.

【0003】一般に、この処理装置は、矩形状のLCD
基板(以下に基板という)の表面に処理液例えばレジス
ト液を塗布して基板の表面に薄い塗膜を形成するため
に、基板と共に基板を収容する処理室を有するカップを
回転させて基板上にレジスト塗膜を形成する回転カップ
式塗布装置が使用されている。この回転カップ式塗布装
置は、図7に示すように、基板Gを載置するスピンチャ
ック10と、基板G及びスピンチャック10の上部及び
外周側を包囲する処理室21を有するカップ20と、カ
ップ20の開口部を開閉する蓋体30とを具備し、スピ
ンチャック10及びカップ20を同一のモータ1にタイ
ミングベルト2で連結して、同時に回転するように構成
されている。
Generally, this processing device has a rectangular LCD.
In order to apply a treatment liquid such as a resist liquid on the surface of a substrate (hereinafter referred to as a substrate) to form a thin coating film on the surface of the substrate, a cup having a treatment chamber for accommodating the substrate is rotated together with the substrate to form a thin film on the substrate A rotating cup type coating device for forming a resist coating film is used. As shown in FIG. 7, this rotary cup type coating apparatus includes a spin chuck 10 on which a substrate G is placed, a cup 20 having a processing chamber 21 surrounding the substrate G and the upper and outer peripheral sides of the spin chuck 10, and a cup 20. A lid 30 for opening and closing the opening of 20 is provided, and the spin chuck 10 and the cup 20 are connected to the same motor 1 by the timing belt 2 and are configured to rotate simultaneously.

【0004】上記のように構成される回転カップ式塗布
装置によりレジスト塗膜を形成するには、まず、ロボッ
トアーム40によって蓋体30を上方に持ち上げ、この
状態で基板搬送機構のアーム(図示せず)によって基板
Gをカップ20上に搬送し、スピンチャック10上に載
置する。そして、基板Gをスピンチャック10上に例え
ば真空吸着等によって保持した後、図示しない塗布液供
給ノズルが移動してきて、基板G上に処理液であるレジ
スト液を滴下させる。そして、塗布液供給ノズルが退避
すると、再度ロボットアーム40が作動してカップ20
上に蓋体30を被着して密閉処理室21を形成する。こ
の状態でスピンチャック10、カップ20、蓋体30及
び基板Gを一体に回転することにより、この際の遠心力
により基板Gの上表面にレジスト液の塗膜を形成するこ
とができる。
In order to form a resist coating film by the rotary cup type coating apparatus constructed as described above, first, the lid 30 is lifted up by the robot arm 40, and in this state, the arm of the substrate transfer mechanism (not shown). The substrate G is transferred onto the cup 20 by (1) and placed on the spin chuck 10. Then, after holding the substrate G on the spin chuck 10 by, for example, vacuum suction, a coating liquid supply nozzle (not shown) moves to drop the resist liquid as the processing liquid on the substrate G. Then, when the coating liquid supply nozzle retracts, the robot arm 40 operates again and the cup 20
The lid 30 is attached to the top to form the closed processing chamber 21. By rotating the spin chuck 10, the cup 20, the lid 30 and the substrate G integrally in this state, a centrifugal force at this time can form a coating film of the resist solution on the upper surface of the substrate G.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、半導
体デバイスの高集積化、微細化及び基板の大型化に伴
い、カップ20も大型化する必要がある。しかしなが
ら、カップが大型となると、重量も嵩むために慣性力が
増え加速が制限されてしまい、所期の目的の加速度を得
るために時間がかかり、処理能力の低下を招くと共に、
製品歩留まりの低下を招くという問題が生じる。
By the way, in recent years, it is necessary to increase the size of the cup 20 as the semiconductor device is highly integrated, miniaturized, and the size of the substrate is increased. However, when the cup becomes large, the weight also increases, the inertial force increases and the acceleration is limited, it takes time to obtain the intended acceleration, and the processing capacity decreases, and
There is a problem that the product yield is lowered.

【0006】大型のカップを所期の目的の加速度で回転
する手段として、モータを大型なものに代えることが考
えられるが、大型のモータを用いてスピンチャック及び
カップを同時に回転するには、使用電力が増大するとい
う問題がある。また、大型のモータを用いることによ
り、装置が大型となり、塗布装置を組み込む塗布・現像
処理システムや設備が大型となるという問題もある。
As a means for rotating a large cup at a desired acceleration, it is conceivable to replace the motor with a large one. To rotate the spin chuck and the cup at the same time using a large motor, use There is the problem of increased power. In addition, there is also a problem that the apparatus becomes large by using a large-sized motor, and the coating / development processing system and equipment incorporating the coating apparatus also become large.

【0007】この発明は上記事情に鑑みてなされたもの
であり、被処理体と被処理体を収容する処理室を有する
カップを効率よく回転させて、スループットの向上及び
製品歩留まりの向上を図ることを第1の目的とし、装置
の小型化及び使用電力の省力化を図れるようにしたこと
を第2の目的とする処理装置及び処理方法を提供するも
のである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to efficiently rotate a cup having an object to be processed and a processing chamber for accommodating the object to improve throughput and product yield. The first object of the present invention is to provide a processing device and a processing method, the second object of which is to make it possible to reduce the size of the device and save the power consumption.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の処理装置は、被処理体を保持する回
転可能な保持手段と、上記保持手段の上部及び外周部を
包囲する処理室を有する回転可能なカップと、上記カッ
プの開口部を開閉可能に閉塞する蓋体とを具備する処理
装置において、 上記保持手段を回転駆動する第1の駆
動手段と、 上記カップを回転駆動する第2の駆動手段
と、 上記保持手段とカップとを相対的に接離移動する
移動手段と、 上記保持手段とカップの接触部を気密に
する気密手段と、を具備することを特徴とする。
To achieve the above object, a processing apparatus according to a first aspect of the present invention encloses a rotatable holding means for holding an object to be processed and an upper portion and an outer peripheral portion of the holding means. In a processing apparatus including a rotatable cup having a processing chamber and a lid body that opens and closes an opening of the cup, first driving means that rotationally drives the holding means, and rotationally drives the cup. And second moving means for moving the holding means and the cup relative to each other, and airtight means for making the contact portion of the holding means and the cup airtight. .

【0009】請求項2記載の処理装置は、請求項1記載
の処理装置と同様に、被処理体を保持する回転可能な保
持手段と、上記保持手段の上部及び外周部を包囲する処
理室を有する回転可能なカップと、上記カップの開口部
を開閉可能に閉塞する蓋体とを具備する処理装置におい
て、 上記保持手段を回転駆動する第1の駆動手段と、
上記カップを回転駆動する第2の駆動手段と、 上記
保持手段とカップとを相対的に接離移動する移動手段
と、 上記保持手段とカップの接触部を気密にする気密
手段と、 上記第1の駆動手段と第2の駆動手段の回転
数を制御する制御手段と、を具備することを特徴とす
る。
A processing apparatus according to a second aspect of the present invention, like the processing apparatus according to the first aspect, includes a rotatable holding means for holding an object to be treated and a processing chamber surrounding the upper and outer peripheral portions of the holding means. In a processing device comprising a rotatable cup having the same and a lid for closing the opening of the cup so as to be capable of opening and closing, first driving means for rotationally driving the holding means,
Second driving means for rotationally driving the cup; moving means for moving the holding means and the cup relatively toward and away from each other; airtight means for making the contact portion between the holding means and the cup airtight; Drive means and control means for controlling the number of revolutions of the second drive means.

【0010】請求項3記載の処理方法は、保持手段によ
り保持されて回転する被処理体の表面に処理液を供給す
ると共に、この被処理体及びこの被処理体を外気雰囲気
から遮断する処理室を有するカップを回転して、処理を
施す処理方法において、 上記被処理体の回転数が所定
の加速度を経て所定値に達した後、被処理体の回転数と
上記カップの回転数をほぼ同期させる工程と、 上記被
処理体及びカップの回転数がほぼ同期した際に、上記保
持手段とカップとの間を気密状態にすべく相対的に接触
させる工程と、 気密状態下で、上記被処理体の表面に
処理液を拡散塗布する工程と、を有することを特徴とす
る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a processing chamber for supplying the processing liquid to the surface of the object to be processed which is held and rotated by the holding means, and for shielding the object to be processed and the object to be processed from the outside air atmosphere. In a treatment method of rotating a cup having a number of revolutions, the number of revolutions of the subject to be treated and the number of revolutions of the cup are substantially synchronized after the number of revolutions of the subject reaches a predetermined value through a predetermined acceleration. And a step of bringing the holding means and the cup into relative contact with each other when the rotational speeds of the object to be treated and the cup are substantially synchronized to each other so that the holding means and the cup are in an airtight state. And diffusing the treatment liquid on the surface of the body.

【0011】請求項4記載の処理方法は、請求項3記載
の処理方法と同様に、保持手段により保持されて回転す
る被処理体の表面に処理液を供給すると共に、この被処
理体及びこの被処理体を外気雰囲気から遮断する処理室
を有するカップを回転して、処理を施す処理方法におい
て、 上記被処理体の回転数が所定の加速度を経て所定
値に達した後、被処理体の回転数と上記カップの回転数
をほぼ同期させる工程と、 上記被処理体及びカップの
回転数がほぼ同期した際に、上記保持手段とカップとの
間を気密状態にすべく相対的に接触させる工程と、 気
密状態下で、上記被処理体の表面に処理液を拡散塗布す
る工程と、 上記保持手段とカップを接触させた状態で
減速し停止する工程と、を有することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, similarly to the third aspect of the present invention, the treatment liquid is supplied to the surface of the object which is held and rotated by the holding means, and the object and the object to be treated. In a processing method of performing processing by rotating a cup having a processing chamber that shuts off the object to be treated from the outside atmosphere, after the number of rotations of the object reaches a predetermined value after a predetermined acceleration, A step of substantially synchronizing the rotation speed of the cup and the rotation speed of the cup, and when the rotation speeds of the object to be processed and the cup are substantially synchronized, the holding means and the cup are relatively contacted to each other so as to make an airtight state. The method is characterized by including a step, a step of diffusing and applying a treatment liquid on the surface of the object to be treated under an airtight state, and a step of decelerating and stopping in a state where the holding means and the cup are in contact with each other.

【0012】上記処理方法において、被処理体の回転と
カップの回転は同時に行っても差し支えないが、好まし
くはカップを回転駆動させた後、被処理体を回転駆動す
る方がよい(請求項5)。
In the above processing method, the object to be processed and the cup may be rotated at the same time, but it is preferable to rotate the cup and then the object to be processed (claim 5). ).

【0013】この発明の処理装置によれば、第1の駆動
手段により保持手段を回転駆動し、第2の駆動手段によ
りカップを回転駆動することにより、保持手段とカップ
を独立して回転駆動することができ、被処理体を所望の
加速度の回転状態に迅速に行うことができる。したがっ
て、スループットの向上が図れ、かつ使用電力の省力化
を図ることができると共に、装置の小型化を図ることが
できる。
According to the processing apparatus of the present invention, the first driving means rotationally drives the holding means and the second driving means rotationally drives the cup, whereby the holding means and the cup are independently rotationally driven. Therefore, the object to be processed can be quickly brought into a rotating state with a desired acceleration. Therefore, throughput can be improved, power consumption can be saved, and the device can be downsized.

【0014】また、この発明の処理方法によれば、被処
理体の回転数が所定の加速度を経て所定値に達した後、
被処理体の回転数とカップの回転数をほぼ同期させ、こ
の状態で保持手段とカップとを相対的に接触させて処理
室内を気密状態にし、この気密状態下で、被処理体の表
面に処理液を拡散塗布することができる。したがって、
塗布膜の均一化が図れると共に、製品歩留まりの向上が
図れる。
Further, according to the processing method of the present invention, after the number of revolutions of the object to be processed reaches a predetermined value through a predetermined acceleration,
The rotation speed of the object to be processed and the rotation speed of the cup are substantially synchronized, and in this state, the holding means and the cup are brought into relative contact with each other to make the processing chamber airtight. The treatment liquid can be applied by diffusion. Therefore,
The coating film can be made uniform and the product yield can be improved.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下に、この発明の実施の形態を
添付図面に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0016】図1はこの発明の処理装置の断面図であ
る。ここでは、従来の処理装置と同じ部分には同一符号
を付して説明する。
FIG. 1 is a sectional view of the processing apparatus of the present invention. Here, the same parts as those of the conventional processing apparatus will be described by giving the same reference numerals.

【0017】上記処理装置は、基板Gを載置するスピン
チャック10と、基板G及びスピンチャック10の上部
及び外周側を包囲する処理室21を有するカップ20
と、カップ20の開口部を開閉する蓋体30と、スピン
チャック10を回転駆動する第1の駆動手段である第1
のモータ11と、カップ20を回転駆動する第2の駆動
手段である第2のモータ22と、スピンチャック10を
垂直方向に移動する昇降シリンダ12(移動手段)と、
カップ20の外側に待機し、使用時に基板Gの中心部上
方に移動する処理液供給ノズル13とで主要部が構成さ
れている。
The above processing apparatus has a cup 20 having a spin chuck 10 on which a substrate G is placed, and a processing chamber 21 which surrounds the upper and outer peripheral sides of the substrate G and the spin chuck 10.
A lid 30 that opens and closes the opening of the cup 20, and a first drive unit that rotationally drives the spin chuck 10.
Motor 11, a second motor 22 that is a second driving unit that rotationally drives the cup 20, an elevating cylinder 12 (moving unit) that moves the spin chuck 10 in the vertical direction,
The main part is constituted by the processing liquid supply nozzle 13 that stands by outside the cup 20 and moves to above the central part of the substrate G during use.

【0018】この場合、上記スピンチャック10の載置
部10aの外周側下面には、カップ20の底面上部に当
接してスピンチャック10とカップ20との間を気密に
して処理室21内を気密状態にする気密手段例えばシー
ル部材14が取り付けられている。なお、このシール部
材14はカップ20の底面に取り付けてもよい。また、
第1のモータ11及び第2のモータ22は制御手段例え
ばCPU50(中央演算処理装置)によって回転が制御
されるように構成されている。また、CPU50によっ
て昇降シリンダ12は昇降制御されるようになってい
る。
In this case, the lower surface of the mounting portion 10a of the spin chuck 10 is in contact with the upper portion of the bottom surface of the cup 20 to make the space between the spin chuck 10 and the cup 20 airtight and the inside of the processing chamber 21 airtight. An airtight means for making the state, for example, a seal member 14 is attached. The seal member 14 may be attached to the bottom surface of the cup 20. Also,
The rotation of the first motor 11 and the second motor 22 is configured to be controlled by a control unit such as a CPU 50 (central processing unit). Further, the elevating cylinder 12 is controlled to be elevated by the CPU 50.

【0019】上記スピンチャック10は、第1のモータ
11の駆動によって回転される回転軸10bを介して水
平方向に回転可能になっており、また回転軸10bに連
結される昇降シリンダ12の駆動によって垂直方向に移
動し得るように構成されている。この場合、回転軸10
bは、固定カラー15の内周面にベアリング16aを介
して回転可能に装着される回転内筒17の内周面に嵌着
されるスプライン軸受18に摺動可能に連結されてい
る。スプライン軸受18には従動プーリ19aが装着さ
れており、従動プーリ19aには、第1のモータ11の
駆動軸11aに装着された駆動プーリ19bとの間にタ
イミングベルト19cが掛け渡されている。
The spin chuck 10 is horizontally rotatable via a rotating shaft 10b which is rotated by driving a first motor 11, and is driven by an elevating cylinder 12 connected to the rotating shaft 10b. It is configured to be movable in the vertical direction. In this case, the rotating shaft 10
b is slidably connected to a spline bearing 18 fitted to the inner peripheral surface of a rotating inner cylinder 17 which is rotatably mounted on the inner peripheral surface of the fixed collar 15 via a bearing 16a. A driven pulley 19a is mounted on the spline bearing 18, and a timing belt 19c is stretched between the driven pulley 19a and a drive pulley 19b mounted on the drive shaft 11a of the first motor 11.

【0020】したがって、第1のモータ11の駆動によ
ってタイミングベルト19cを介して回転軸10bが回
転してスピンチャック10が回転される。また、回転軸
10bの下部側は図示しない筒体内に配設されており、
筒体内において回転軸10bはバキュームシール部60
を介して昇降シリンダ12の駆動によって回転軸10b
が垂直方向に移動し得るようになっている。
Therefore, the rotation shaft 10b is rotated by the driving of the first motor 11 via the timing belt 19c, and the spin chuck 10 is rotated. Further, the lower side of the rotating shaft 10b is arranged in a cylinder body (not shown),
The rotary shaft 10b is attached to the vacuum seal portion 60 in the cylinder.
Driven by the lifting cylinder 12 via the rotary shaft 10b
Can move vertically.

【0021】上記カップ20は、上記固定カラー15の
外周面にベアリング16bを介して装着される回転外筒
23の上端部に固定される連結筒24を介して取り付け
られており、回転外筒23に装着される従動プーリ25
aと第2のモータ22の駆動軸22aに装着される駆動
プーリ25bに掛け渡されるタイミングベルト25cに
よって第2のモータ22からの駆動がカップ20に伝達
されてカップ20が水平方向に回転されるように構成さ
れている。なお、固定カラー15と回転内筒17及び回
転外筒23との対向面にはラビリンスシール(図示せ
ず)が介在されて回転処理時に下部の駆動系からカップ
20内にごみが侵入するのを防止している。
The cup 20 is attached to the outer peripheral surface of the fixed collar 15 via a connecting cylinder 24 fixed to the upper end of a rotating outer cylinder 23 mounted via a bearing 16b. Driven pulley 25 mounted on
The drive from the second motor 22 is transmitted to the cup 20 by a and the timing belt 25c that is wound around the drive pulley 25b attached to the drive shaft 22a of the second motor 22, and the cup 20 is rotated in the horizontal direction. Is configured. A labyrinth seal (not shown) is interposed between the fixed collar 15, the inner rotating cylinder 17, and the outer rotating cylinder 23 so that dust may not enter the cup 20 from the lower drive system during the rotation process. To prevent.

【0022】また、カップ20では、側壁20aが上方
側に向って縮径されたテーパ面となっており、この側壁
の上端が内側に向って内向きフランジ20bが形成され
ている。そして、カップ20の内向きフランジ20bに
は周方向に適宜間隔をおいて給気孔26が穿設され、下
部周辺部すなわち側壁20aの下部側の周方向の適宜位
置には排気孔27が穿設されている。このように給気孔
26と排気孔27を設けることにより、カップ20が回
転する際に、給気孔26から処理室21内に流れる空気
が排気孔27から外部に流れるので、カップ20の回転
時に処理室21内が負圧になるのを防止することがで
き、処理後にカップ20から蓋体30を開放する際に大
きな力を要することなく、蓋体を容易に開放することが
できる。
Further, in the cup 20, the side wall 20a is a tapered surface whose diameter is reduced toward the upper side, and the upper end of this side wall is formed with an inward flange 20b directed inward. An air supply hole 26 is formed in the inward flange 20b of the cup 20 at appropriate intervals in the circumferential direction, and an exhaust hole 27 is provided in an appropriate position in the circumferential direction on the lower peripheral portion, that is, on the lower side of the side wall 20a. Has been done. By providing the air supply hole 26 and the exhaust hole 27 in this way, when the cup 20 rotates, the air flowing from the air supply hole 26 into the processing chamber 21 flows from the exhaust hole 27 to the outside, so that the processing is performed when the cup 20 rotates. It is possible to prevent the inside of the chamber 21 from becoming negative pressure, and it is possible to easily open the lid body without requiring a large force when opening the lid body 30 from the cup 20 after the processing.

【0023】なお、カップ20の外周側には中空リング
状のドレンカップ28が配設されており、カップ20の
排気孔27から排出される排気と共にカップ20から飛
散されたミストを回収し得るようになっている。
A hollow ring-shaped drain cup 28 is disposed on the outer peripheral side of the cup 20 so that the mist scattered from the cup 20 can be collected together with the exhaust gas discharged from the exhaust hole 27 of the cup 20. It has become.

【0024】上記蓋体30は、上面に膨隆頭部31が突
設されており、この膨隆頭部31の下に挿入されるロボ
ットアーム40の上下動によって、カップ20の開口部
20cを開閉し得るようになっている。なお、蓋体30
は回転処理時にはカップ20の開口部20cに固定され
て一体に回転される必要がある。この固定手段として、
例えばカップ20の上部に固定ピン(図示せず)を突出
し、蓋体30にこの固定ピンに嵌合する嵌合凹所(図示
せず)を設けることにより、蓋体30をカップ20に固
定することができる。なおこの場合、固定ピンと嵌合凹
所の位置合せは、サーボモータ等にて形成される第2の
モータ22の回転角を制御することによって行うことが
できる。
The lid 30 has a bulging head 31 protruding from the upper surface thereof, and the robot arm 40 inserted under the bulging head 31 moves up and down to open and close the opening 20c of the cup 20. I'm supposed to get it. The lid 30
Must be fixed to the opening 20c of the cup 20 and rotated integrally during the rotation process. As this fixing means,
For example, by fixing a fixing pin (not shown) to the upper portion of the cup 20 and providing a fitting recess (not shown) in the lid body 30 to fit the fixing pin, the lid body 30 is fixed to the cup 20. be able to. In this case, the positioning of the fixing pin and the fitting recess can be performed by controlling the rotation angle of the second motor 22 formed by a servo motor or the like.

【0025】また、上記第1のモータ11及び第2のモ
ータ22には、それぞれエンコーダ71,72が取り付
けられており、これらエンコーダ71,72によって検
出された検出信号が制御手段であるCPU50に伝達さ
れ、CPU50にて比較演算された出力信号に基づいて
第1のモータ11及び第2のモータ22の回転が制御さ
れるようになっている。したがって、第1のモータ11
を所定の加速度例えば1000rpm/secを経て所
定の回転数例えば1000〜1500rpmに達した
後、第2のモータ22の回転数と同期させるようにコン
トロールすることができる。なお、CPU50からの出
力信号を上記昇降シリンダ12に伝達することにより、
上記第1のモータ11すなわちスピンチャック10の回
転数と第2のモータ22すなわちカップ20の回転数が
ほぼ同期した状態で昇降シリンダ12を下降して、シー
ル部材14をカップ20の底面に接触させて処理室21
内を気密にすることができる。
Further, encoders 71 and 72 are attached to the first motor 11 and the second motor 22, respectively, and the detection signals detected by these encoders 71 and 72 are transmitted to the CPU 50 which is the control means. The rotations of the first motor 11 and the second motor 22 are controlled on the basis of the output signals which are compared and calculated by the CPU 50. Therefore, the first motor 11
Can be controlled so as to be synchronized with the rotation speed of the second motor 22 after reaching a predetermined rotation speed, for example, 1000 to 1500 rpm through a predetermined acceleration, for example, 1000 rpm / sec. By transmitting the output signal from the CPU 50 to the lifting cylinder 12,
With the rotation speed of the first motor 11, that is, the spin chuck 10 and the rotation speed of the second motor 22, that is, the cup 20, substantially synchronized, the lifting cylinder 12 is lowered to bring the seal member 14 into contact with the bottom surface of the cup 20. Processing room 21
The inside can be made airtight.

【0026】なお、上記説明では、昇降シリンダ12を
作動させてスピンチャック10を下降させ、スピンチャ
ック10とカップ20の底面とを接触させる場合につい
て説明したが、昇降シリンダ12に代えて他の移動手段
によってスピンチャック10を垂直方向に移動させても
よい。また、スピンチャック10に対してカップ20を
垂直方向に移動させてスピンチャック10とカップ20
の底面とを接触させるようにしてもよい。また、気密手
段を、上記シール部材14と、このシール部材14に接
触するベアリングにて形成してもよい。
In the above description, the lifting cylinder 12 is operated to lower the spin chuck 10 to bring the spin chuck 10 and the bottom surface of the cup 20 into contact with each other, but instead of the lifting cylinder 12, another movement is performed. The spin chuck 10 may be moved in the vertical direction by means. In addition, the cup 20 is moved vertically with respect to the spin chuck 10 so that the spin chuck 10 and the cup 20 are moved.
You may make it contact with the bottom face of. Further, the airtight means may be formed by the seal member 14 and a bearing that contacts the seal member 14.

【0027】また、上記説明では、制御手段がCPU5
0である場合について説明したが、その他に例えば、第
1及び第2のモータ11,22の回転数を検出するエン
コーダ71,72からの信号をスピードモニタで確認し
て制御するようにしてもよく、あるいは、タイマを用い
て時間を管理することにより制御してもよい。なお、ス
ピードモニタあるいはタイマで制御する場合は、機械的
にカップ20とスピンチャック10の擦れを吸収するよ
うな機構を設ける必要がある。
In the above description, the control means is the CPU 5
Although the case of 0 has been described, in addition, for example, the signals from the encoders 71 and 72 that detect the rotation speeds of the first and second motors 11 and 22 may be confirmed by a speed monitor and controlled. Alternatively, control may be performed by managing the time using a timer. When controlling with a speed monitor or a timer, it is necessary to provide a mechanism that mechanically absorbs friction between the cup 20 and the spin chuck 10.

【0028】次に、この発明の処理方法について、図2
ないし図5を参照して説明する。 ★第1の処理方法 まず、昇降シリンダ12を駆動してスピンチャック10
を上昇させ、図示しない搬送機構のアームによって搬送
される基板Gをスピンチャック10に載置する(図2
(a)参照)。基板Gを搬送した搬送機構のアームが後
退すると共に、スピンチャック10がカップ20に接触
しない位置に下降し、その状態で基板Gの上方に処理液
供給ノズル13が移動し、ノズル13から基板表面に処
理液例えばレジスト液を滴下(供給)する(図2(b)
参照)。レジスト液を滴下した後、ノズル13は待機位
置に後退すると共に、蓋体30が下降してカップ20の
開口部を閉塞する。次に、第1のモータ11及び第2の
モータ22を駆動してスピンチャック10及びカップ2
0を回転して、基板G上のレジスト液を振り切る(図2
(c)参照)。
Next, the processing method of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. ★ First processing method First, the lifting cylinder 12 is driven to drive the spin chuck 10.
And the substrate G transported by the arm of the transport mechanism (not shown) is placed on the spin chuck 10 (see FIG. 2).
(A)). While the arm of the transfer mechanism that has transferred the substrate G is retracted, the spin chuck 10 is lowered to a position where it does not contact the cup 20, and in that state, the processing liquid supply nozzle 13 is moved above the substrate G, and the nozzle 13 causes the substrate surface to move. A treatment liquid, for example, a resist liquid is dropped (supplied) onto the substrate (FIG. 2B)
reference). After dropping the resist solution, the nozzle 13 retracts to the standby position, and the lid 30 descends to close the opening of the cup 20. Next, the spin chuck 10 and the cup 2 are driven by driving the first motor 11 and the second motor 22.
0 is rotated to shake off the resist solution on the substrate G (see FIG. 2).
(C)).

【0029】レジスト液を振り切って所定の回転数例え
ば1000〜1500rpmに達した後、その回転数に
カップ20の回転数がほぼ同回転数になるのを待ち、ス
ピンチャック10とカップ20の回転数がほぼ同期した
時点で、CPU50からの信号を受けて昇降シリンダ1
2が作動してスピンチャック10が下降し、スピンチャ
ック10とカップ20を接触させてシール部材14によ
って処理室21内を気密状態にする(図2(d)参
照)。この気密状態において、スピンチャック10すな
わち基板Gとカップ20が同回転数(例えば1000〜
1500rpm)で回転して、レジスト液が拡散塗布さ
れて所定の膜厚例えば1〜3μmのレジスト塗膜が形成
される(図2(e)参照)。
After the resist solution is shaken off to reach a predetermined rotation speed, for example, 1000 to 1500 rpm, the rotation speed of the cup 20 is waited until the rotation speed of the cup 20 becomes almost the same as the rotation speed of the spin chuck 10 and the rotation speed of the cup 20. When they are almost synchronized, a signal from the CPU 50 is received and the lift cylinder 1
2, the spin chuck 10 descends, the spin chuck 10 and the cup 20 are brought into contact with each other, and the inside of the processing chamber 21 is made airtight by the seal member 14 (see FIG. 2D). In this airtight state, the spin chuck 10, that is, the substrate G and the cup 20 have the same rotation speed (for example, 1000 to
It is rotated at 1500 rpm) and the resist solution is applied by diffusion to form a resist coating film having a predetermined film thickness, for example, 1 to 3 μm (see FIG. 2E).

【0030】上記のようにして所定時間経過した後、カ
ップ20の減速回転数の加速・減速の限界値より低い加
速度でスピンチャック10及びカップ20を接触させた
まま、第1及び第2のモータ11,22を同回転数で駆
動して減速した後、停止して処理作業を終了する。
After the elapse of a predetermined time as described above, the first and second motors are kept in contact with the spin chuck 10 and the cup 20 at an acceleration lower than the limit value of the acceleration / deceleration of the deceleration rotation speed of the cup 20. After driving 11 and 22 at the same number of revolutions to decelerate, they are stopped and the processing operation is completed.

【0031】上記処理工程を回転数と時間との関係で表
わすと、図4に示すようになる。すなわち、同時に回転
されるスピンチャック10とカップ20の加速度の違い
(スピンチャック10の加速度:1000rpm/se
c,カップ20の加速度:500rpm)により、ま
ず、スピンチャック10がAsec(1〜1.5se
c)後に所期の目的の所定の回転数R(1000〜15
00rpm)に達し、遅れてカップ20が所定の回転数
Rに達するのを待つ{待ち時間Bsec(1〜1.5s
ec)}。この間にレジスト液の振り切りが行われる。
そして、スピンチャック10とカップ20の回転数がほ
ぼ同じ回転数に同期した状態で、スピンチャック10と
カップ20が相対的に近接して気密状態となり、この気
密状態下でスピンチャック10とカップ20が同回転し
て所定時間Csec(10〜20sec)レジスト液を
拡散塗布する。その後、スピンチャック10及びカップ
20が同回転数で減速し停止して処理作業を終了する
{減速・停止時間Dsec(2〜3sec)}。
The above processing steps are shown in FIG. 4 in terms of the relationship between the number of revolutions and time. That is, the difference in acceleration between the spin chuck 10 and the cup 20 which are simultaneously rotated (acceleration of the spin chuck 10: 1000 rpm / se
c, the acceleration of the cup 20: 500 rpm, the spin chuck 10 first moves to Asec (1 to 1.5 sec).
c) A predetermined number of revolutions R (1000 to 15
(Waiting time Bsec (1 to 1.5 seconds).
ec)}. During this period, the resist solution is shaken off.
Then, the spin chuck 10 and the cup 20 are in a hermetically sealed state in which the spin chuck 10 and the cup 20 are relatively close to each other in a state where the spin chuck 10 and the cup 20 are synchronized with each other in the substantially same number of revolutions. Rotates for the same time, and the resist solution is applied by diffusion for a predetermined time Csec (10 to 20 sec). After that, the spin chuck 10 and the cup 20 are decelerated at the same number of revolutions and stopped to end the processing work {deceleration / stop time Dsec (2 to 3 sec)}.

【0032】★第2の処理方法 まず、上記第1の処理方法と同様に、昇降シリンダ12
を駆動してスピンチャック10を上昇させ、図示しない
搬送機構のアームによって搬送される基板Gをスピンチ
ャック10に載置する(図2(a)参照)。基板Gを搬
送した搬送機構のアームが後退すると共に、スピンチャ
ック10がカップ20に接触しない位置に下降し、その
状態で基板Gの上方に処理液供給ノズル13が移動し、
ノズル13から基板表面に処理液例えばレジスト液を滴
下(供給)する(図3(a)参照)。レジスト液を滴下
した後、ノズル13は待機位置に後退すると共に、蓋体
30が下降してカップ20の開口部を閉塞する。この間
又はその後、第2のモータ22を駆動してカップ20を
回転し(図3(b)参照)、その後に第1のモータ11
を駆動してスピンチャック10を回転して基板G上のレ
ジスト液を振り切る(図3(c)参照)。
Second Processing Method First, similarly to the first processing method, the lifting cylinder 12
Is driven to raise the spin chuck 10, and the substrate G transported by the arm of the transport mechanism (not shown) is placed on the spin chuck 10 (see FIG. 2A). While the arm of the transfer mechanism that has transferred the substrate G is retracted, the spin chuck 10 is lowered to a position where it does not contact the cup 20, and in that state, the processing liquid supply nozzle 13 is moved above the substrate G,
A treatment liquid, for example, a resist liquid is dropped (supplied) from the nozzle 13 onto the surface of the substrate (see FIG. 3A). After dropping the resist solution, the nozzle 13 retracts to the standby position, and the lid 30 descends to close the opening of the cup 20. During or after this, the second motor 22 is driven to rotate the cup 20 (see FIG. 3B), and then the first motor 11 is rotated.
Is driven to rotate the spin chuck 10 to shake off the resist solution on the substrate G (see FIG. 3C).

【0033】レジスト液を振り切って所定の回転数例え
ば1000〜1500rpmに達した後、スピンチャッ
ク10とカップ20の回転数がほぼ同期した時点で、C
PU50からの信号を受けて昇降シリンダ12が作動し
てスピンチャック10が下降し、スピンチャック10と
カップ20を接触させてシール部材14によって処理室
21内を気密状態にする(図3(d)参照)。この気密
状態において、スピンチャック10すなわち基板Gとカ
ップ20が同回転数(例えば1000〜1500rp
m)で回転して、レジスト液が拡散塗布されて所定の膜
厚例えば1〜3μmのレジスト塗膜が形成される(図2
(e)参照)。
After the resist solution has been shaken off to reach a predetermined rotation speed, for example, 1000 to 1500 rpm, when the rotation speeds of the spin chuck 10 and the cup 20 are substantially synchronized, C
In response to a signal from the PU 50, the elevating cylinder 12 operates and the spin chuck 10 descends to bring the spin chuck 10 and the cup 20 into contact with each other to make the inside of the processing chamber 21 airtight by the seal member 14 (FIG. 3D). reference). In this airtight state, the spin chuck 10, that is, the substrate G and the cup 20 have the same rotation speed (for example, 1000 to 1500 rp).
m) and the resist solution is applied by diffusion to form a resist coating film having a predetermined film thickness, for example, 1 to 3 μm (FIG. 2).
(E)).

【0034】上記のようにして所定時間経過した後、カ
ップ20の減速回転数の加速・減速の限界値より低い加
速度でスピンチャック10及びカップ20を接触させた
まま、第1及び第2のモータ11,22を同回転数で駆
動して減速した後、停止して処理作業を終了する。
After the lapse of a predetermined time as described above, the first and second motors are kept in contact with the spin chuck 10 and the cup 20 at an acceleration lower than the acceleration / deceleration limit value of the deceleration speed of the cup 20. After driving 11 and 22 at the same number of revolutions to decelerate, they are stopped and the processing operation is completed.

【0035】上記処理工程を回転数と時間との関係で表
わすと、図5に示すようになる。すなわち、スピンチャ
ック10とカップ20の加速度の違い(スピンチャック
10の加速度:1000rpm/sec,カップ20の
加速度:500rpm)を考慮して、まず、カップ20
を回転して、所定時間Esec(1〜1.5sec)経
過後にスピンチャック10を回転してスピンチャック1
0の回転後Fsec(1〜1.5sec)後に、先に回
転したカップと後に回転したスピンチャック10を同じ
所期の目的の所定の回転数R(1000〜1500rp
m)にする。この間にレジスト液の振り切りが行われ
る。そして、スピンチャック10とカップ20の回転数
がほぼ同じ回転数に同期した状態で、スピンチャック1
0とカップ20が相対的に近接して気密状態となり、こ
の気密状態下でスピンチャック10とカップ20が同回
転して所定時間Gsec(10〜20sec)レジスト
液を拡散塗布する。その後、スピンチャック10及びカ
ップ20が同回転数で減速し停止して処理作業を終了す
る{減速・停止時間Hsec(2〜3)}。
The above processing steps are shown in FIG. 5 in terms of the relationship between the number of revolutions and time. That is, in consideration of the difference in acceleration between the spin chuck 10 and the cup 20 (acceleration of the spin chuck 10: 1000 rpm / sec, acceleration of the cup 20: 500 rpm), first, the cup 20
And spin chuck 10 is rotated after a predetermined time Esec (1 to 1.5 sec) has elapsed.
After Fsec (1 to 1.5 sec) after the rotation of 0, the previously rotated cup and the later rotated spin chuck 10 are rotated at the same predetermined target rotational speed R (1000 to 1500 rp).
m). During this period, the resist solution is shaken off. Then, the spin chuck 1 and the cup 20 are synchronized with each other at substantially the same rotation speed, and the spin chuck 1
0 and the cup 20 are relatively close to each other to be in an airtight state, and under this airtight state, the spin chuck 10 and the cup 20 are rotated in the same manner to apply the resist solution by diffusion for a predetermined time Gsec (10 to 20 sec). After that, the spin chuck 10 and the cup 20 are decelerated at the same number of revolutions and stopped to end the processing work {deceleration / stop time Hsec (2 to 3)}.

【0036】上記のように、カップ20を先に回転させ
た後にスピンチャック10すなわち基板Gを回転させる
ことにより、スピンチャック10とカップ20を同じ回
転数に同期させる時間を短縮することができるので、時
間のロスを少なくしスループットの向上を図ることがで
きる。
As described above, by rotating the cup 20 first, and then rotating the spin chuck 10, that is, the substrate G, it is possible to shorten the time for synchronizing the spin chuck 10 and the cup 20 at the same rotational speed. Therefore, it is possible to reduce the time loss and improve the throughput.

【0037】上記のように構成されるこの発明の処理装
置は単独の装置として使用することができる他、その他
の処理装置例えば洗浄装置、熱処理装置や現像装置と組
み合せた塗布・現像処理システムに適用して使用するこ
とができる。次に、塗布・現像処理システムに適用した
場合について説明する。
The processing apparatus of the present invention configured as described above can be used as a single apparatus, and is also applied to other processing apparatuses such as a cleaning apparatus, a heat treatment apparatus and a coating / developing processing system in combination with a developing apparatus. Can be used. Next, a case where the present invention is applied to a coating / developing processing system will be described.

【0038】上記塗布・現像処理システムは、例えば図
6に示すように、基板を搬入・搬出するローダ部80
と、基板Gの第1の処理部90Aと、中継部81を介し
て上記第1の処理部90Aに連接される第2の処理部9
0Bとで主に構成され、第2の処理部90Bには受渡し
部82を介してレジスト膜に所定の微細パターンを露光
するための露光装置83が連接可能となっている。
In the coating / developing system described above, for example, as shown in FIG. 6, a loader section 80 for loading and unloading substrates is provided.
And the first processing unit 90A of the substrate G and the second processing unit 9 connected to the first processing unit 90A via the relay unit 81.
0B, the exposure unit 83 for exposing a predetermined fine pattern on the resist film can be connected to the second processing unit 90B via the transfer unit 82.

【0039】上記ローダ部80は、未処理の基板Gを収
容するカセット84及び処理済みの基板Gを収容するカ
セット84aを載置するカセット載置台85と、このカ
セット載置台85上の処理、未処理のカセット84,8
4aとの間で基板Gの搬出入を行うべく水平(X,Y)
方向、垂直方向(Z)方向への移動及び回転(θ)可能
な基板搬出入ピンセット86とで構成されている。
The loader section 80 has a cassette mounting table 85 for mounting a cassette 84 for accommodating the unprocessed substrate G and a cassette 84a for accommodating the processed substrate G, and a processing table Processing cassette 84,8
Horizontal (X, Y) for loading and unloading the substrate G with 4a
Direction, and a substrate loading / unloading tweezers 86 capable of moving and rotating (θ) in the vertical direction (Z) direction.

【0040】また、上記第1の処理部90Aは、X、
Y、Z方向の移動及びθ回転可能なメインアーム100
の搬送路101の一方側に、基板Gをブラシ洗浄するブ
ラシ洗浄装置91と、基板Gを高圧ジェット水で洗浄す
るジェット水洗浄装置92と、基板Gの表面を疎水化処
理するアドヒージョン処理装置93と、基板Gを所定温
度に冷却する冷却処理装置94とを配置し、搬送路10
1の他方側に、この発明の処理装置であるレジスト塗布
装置95及び塗布膜除去装置96を配置して構成されて
いる。
Further, the first processing section 90A has X,
Main arm 100 capable of moving in Y and Z directions and rotating by θ
A brush cleaning device 91 for cleaning the substrate G with a brush, a jet water cleaning device 92 for cleaning the substrate G with high-pressure jet water, and an adhesion processing device 93 for hydrophobizing the surface of the substrate G on one side of the transport path 101. And a cooling processing device 94 that cools the substrate G to a predetermined temperature.
On the other side of 1, the resist coating device 95 and the coating film removing device 96 which are the processing devices of the present invention are arranged.

【0041】上記第2の処理部90Bは、第1の処理部
90Aと同様にX、Y、Z方向の移動及びθ回転可能な
メインアーム100aを有し、このメインアーム100
aの搬送路101a側の一方側に、レジスト液塗布の前
後で基板Gを加熱してプリベークまたはポストベークを
行う加熱装置97を配置し、搬送路101aの他方側
に、現像装置98を配置している。なお、上記中継部8
1は、必要に応じてこの中継部81を第1の処理部90
A及び第2の処理部90Bから引出して、第1の処理部
90Aまたは第2の処理部90B内に作業員が入って補
修や点検等を容易に行うことができるようになってい
る。
The second processing section 90B has a main arm 100a which is movable in the X, Y and Z directions and can be rotated by the same as the first processing section 90A.
A heating device 97 that heats the substrate G before and after applying the resist solution to perform pre-baking or post-baking is arranged on one side of the conveyance path 101a of a, and a developing device 98 is arranged on the other side of the conveyance path 101a. ing. In addition, the relay unit 8
1 connects the relay unit 81 to the first processing unit 90 as necessary.
A is pulled out from A and the second processing unit 90B, and an operator can enter the first processing unit 90A or the second processing unit 90B to easily perform repair or inspection.

【0042】なお、上記受渡し部82には、基板Gを一
時待機させるためのカセット82aとこのカセット82
aとの間で基板Gの出し入れを行う搬送用ピンセット8
2bと、基板Gの受渡し台82cが設けられている。
A cassette 82a for temporarily holding the substrate G and the cassette 82 are provided in the transfer section 82.
Transport tweezers 8 for loading and unloading the substrate G with respect to a
2b and a transfer table 82c for the substrate G are provided.

【0043】上記の構成の塗布・現像処理システムにお
いては、カセット84内に収容された未処理の基板G
は、ローダ部80の搬出入ピンセット86によって取り
出された後、第1の処理部90Aのメインアーム100
に受け渡され、そして、ブラシ洗浄装置91またはジェ
ット水洗浄装置92内に搬送され、この洗浄装置91,
92内にて洗浄される。この後、基板Gは、アドヒージ
ョン処理装置93による疎水化処理が施され、冷却処理
装置94にて冷却された後、レジスト塗布装置95にて
上述したような工程により処理液例えばレジスト液が塗
布され、レジスト膜すなわち感光膜が塗布形成され、こ
れに引続いて塗布膜除去装置96によって基板Gの周辺
部の不要なレジスト膜が除去される。そして、このレジ
スト膜が加熱装置97にて加熱されてベーキング処理が
施された後、露光装置83にて所定のパターンが露光さ
れる。そして、露光後の基板Gは現像装置98内に搬送
され、所定の現像液により現像された後にリンス液によ
り現像液が洗い出され現像処理を完了する。そして、現
像処理された処理済みの基板Gはローダ部80のカセッ
ト84a内に収容された後に、搬出されて次の処理工程
へ向けて移送される。
In the coating / developing processing system having the above structure, the unprocessed substrate G housed in the cassette 84.
Is taken out by the carry-in / take-out tweezers 86 of the loader section 80, and then the main arm 100 of the first processing section 90A.
To the brush cleaning device 91 or the jet water cleaning device 92, and the cleaning device 91,
It is cleaned in 92. After that, the substrate G is subjected to a hydrophobic treatment by the adhesion treatment device 93, cooled by the cooling treatment device 94, and then the treatment liquid, for example, the resist liquid is applied by the resist coating device 95 by the above-described steps. A resist film, that is, a photosensitive film is formed by coating, and subsequently, the unnecessary resist film on the peripheral portion of the substrate G is removed by the coating film removing device 96. Then, after the resist film is heated by the heating device 97 to be subjected to a baking process, the exposure device 83 exposes a predetermined pattern. Then, the exposed substrate G is conveyed into the developing device 98, is developed with a predetermined developing solution, and then is rinsed with the developing solution to complete the developing process. Then, the processed and processed substrate G is housed in the cassette 84a of the loader unit 80, then carried out and transferred to the next processing step.

【0044】なお、上記実施形態では、、この発明の処
理装置をLCD基板の塗布装置に適用した場合について
説明したが、この発明の処理装置は、LCD基板以外の
被処理体例えば半導体ウエハの塗布装置やその他の各種
処理手段を具備する処理装置にも適用できることは勿論
である。
In the above embodiment, the case where the processing apparatus of the present invention is applied to the coating apparatus for the LCD substrate has been described. However, the processing apparatus of the present invention is for coating an object to be processed other than the LCD substrate, for example, a semiconductor wafer. Of course, the present invention can be applied to a processing apparatus including the apparatus and other various processing means.

【0045】[0045]

【発明の効果】【The invention's effect】

1)請求項1及び2記載の処理装置によれば、第1の駆
動手段と第2の駆動手段を用いて保持手段とカップを独
立して回転駆動することができ、被処理体を所望の加速
度の回転状態に迅速に行うことができるので、スループ
ットの向上が図れ、かつ使用電力の省力化を図ることが
できると共に、装置の小型化を図ることができる。
1) According to the processing apparatus of claims 1 and 2, the holding means and the cup can be independently driven to rotate by using the first driving means and the second driving means, and the object to be processed can be formed in a desired manner. Since the acceleration can be quickly changed to the rotating state, the throughput can be improved, the power consumption can be saved, and the device can be downsized.

【0046】2)請求項3及び4記載の処理方法によれ
ば、被処理体の回転数が所定の加速度を経て所定値に達
した後、被処理体の回転数とカップの回転数をほぼ同期
させ、この状態で保持手段とカップとを相対的に接触さ
せて処理室内を気密状態にし、この気密状態下で、被処
理体の表面に処理液を拡散塗布することができるので、
塗布膜の均一化が図れると共に、製品歩留まりの向上を
図ることができる。
2) According to the processing method of claims 3 and 4, after the rotational speed of the object to be processed reaches a predetermined value through a predetermined acceleration, the rotational speed of the object to be processed and the rotational speed of the cup are almost equalized. In synchronization, in this state, the holding means and the cup are brought into relative contact with each other to make the processing chamber airtight, and under this airtight state, the processing liquid can be diffused and coated on the surface of the object to be processed.
The coating film can be made uniform and the product yield can be improved.

【0047】3)請求項5記載の処理方法によれば、カ
ップを回転駆動させた後、被処理体を回転駆動すること
により、被処理体の回転数とカップの回転数の同期時間
を短縮することができるので、上記2)に加えて更にス
ループットの向上を図ることができる。
3) According to the processing method of claim 5, by rotating the cup and then rotating the object to be processed, the synchronizing time between the number of rotations of the object and the number of rotations of the cup is shortened. Therefore, the throughput can be further improved in addition to the above 2).

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の処理装置を示す概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a processing apparatus of the present invention.

【図2】この発明の第1の処理方法の工程を示す説明図
である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a step of the first processing method of the present invention.

【図3】この発明の第2の処理方法の工程を示す説明図
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a step of the second processing method of the present invention.

【図4】第1の処理方法の回転数と時間の関係を示すグ
ラフである。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the number of rotations and time in the first processing method.

【図5】第2の処理方法の回転数と時間の関係を示すグ
ラフである。
FIG. 5 is a graph showing the relationship between the rotation speed and time of the second processing method.

【図6】この発明の処理装置を適用した塗布・現像処理
システムを示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a coating / developing processing system to which the processing apparatus of the present invention is applied.

【図7】従来の処理装置を示す概略断面図である。FIG. 7 is a schematic sectional view showing a conventional processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G LCD基板(被処理体) 10 スピンチャック(保持手段) 11 第1のモータ(第1の駆動手段) 12 昇降シリンダ(移動手段) 13 処理液供給ノズル 14 シール部材(気密手段) 20 カップ 21 処理室 22 第2のモータ(第2の駆動手段) 30 蓋体 50 CPU(中央演算処理装置;制御手段) 71,72 エンコーダ G LCD substrate (object to be processed) 10 Spin chuck (holding means) 11 First motor (first driving means) 12 Elevating cylinder (moving means) 13 Processing liquid supply nozzle 14 Sealing member (airtight means) 20 Cup 21 Processing Chamber 22 Second motor (second drive means) 30 Lid body 50 CPU (central processing unit; control means) 71, 72 Encoder

フロントページの続き (72)発明者 松田 義隆 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成272 の4 東京エレクトロン九州株式会社大津 事業所内 (72)発明者 川崎 哲 山梨県韮崎市穂坂町三ツ沢650 東京エレ クトロン九州株式会社山梨開発センター内Front page continuation (72) Yoshitaka Matsuda Yoshitaka Matsuda Otsu-machi, Kumamoto Prefecture Takao-oji 4 of Heisei 272 4 Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd. Otsu Works (72) Inventor Satoshi Kawasaki 650 Mitsuzawa, Hosaka-cho, Nirasaki-shi, Yamanashi Prefecture Tokyo Electron Kyushu Corporation Yamanashi Development Center

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被処理体を保持する回転可能な保持手段
と、上記保持手段の上部及び外周部を包囲する処理室を
有する回転可能なカップと、上記カップの開口部を開閉
可能に閉塞する蓋体とを具備する処理装置において、 上記保持手段を回転駆動する第1の駆動手段と、 上記カップを回転駆動する第2の駆動手段と、 上記保持手段とカップとを相対的に接離移動する移動手
段と、 上記保持手段とカップの接触部を気密にする気密手段
と、を具備することを特徴とする処理装置。
1. A rotatable holding means for holding an object to be processed, a rotatable cup having a processing chamber surrounding an upper portion and an outer peripheral portion of the holding means, and an opening portion of the cup for opening and closing. In a processing apparatus including a lid, first driving means for rotationally driving the holding means, second driving means for rotationally driving the cup, and relatively moving the holding means and the cup relative to each other. And a sealing means for sealing the contact portion between the holding means and the cup.
【請求項2】 被処理体を保持する回転可能な保持手段
と、上記保持手段の上部及び外周部を包囲する処理室を
有する回転可能なカップと、上記カップの開口部を開閉
可能に閉塞する蓋体とを具備する処理装置において、 上記保持手段を回転駆動する第1の駆動手段と、 上記カップを回転駆動する第2の駆動手段と、 上記保持手段とカップとを相対的に接離移動する移動手
段と、 上記保持手段とカップの接触部を気密にする気密手段
と、 上記第1の駆動手段と第2の駆動手段の回転数を制御す
る制御手段と、を具備することを特徴とする処理装置。
2. A rotatable holding means for holding an object to be processed, a rotatable cup having a processing chamber surrounding an upper portion and an outer peripheral portion of the holding means, and an opening portion of the cup which is openably and closably closed. In a processing apparatus including a lid, first driving means for rotationally driving the holding means, second driving means for rotationally driving the cup, and relatively moving the holding means and the cup relative to each other. Moving means, an airtight means for making the contact portion between the holding means and the cup airtight, and a control means for controlling the rotational speeds of the first driving means and the second driving means. Processing equipment.
【請求項3】 保持手段により保持されて回転する被処
理体の表面に処理液を供給すると共に、この被処理体及
びこの被処理体を外気雰囲気から遮断する処理室を有す
るカップを回転して、処理を施す処理方法において、 上記被処理体の回転数が所定の加速度を経て所定値に達
した後、被処理体の回転数と上記カップの回転数をほぼ
同期させる工程と、 上記被処理体及びカップの回転数がほぼ同期した際に、
上記保持手段とカップとの間を気密状態にすべく相対的
に接触させる工程と、 気密状態下で、上記被処理体の表面に処理液を拡散塗布
する工程と、を有することを特徴とする処理方法。
3. The processing liquid is supplied to the surface of the object to be processed which is held and rotated by the holding means, and the object to be processed and a cup having a processing chamber which shields the object to be processed from the outside air are rotated. In the processing method of applying a process, after the rotational speed of the object to be processed reaches a predetermined value through a predetermined acceleration, a step of substantially synchronizing the rotational speed of the object to be processed with the rotational speed of the cup, When the rotation speed of the body and the cup are almost synchronized,
The method further comprises: a step of relatively contacting the holding means and the cup so as to be in an airtight state; and a step of diffusing and coating the treatment liquid on the surface of the object to be treated under the airtight state. Processing method.
【請求項4】 保持手段により保持されて回転する被処
理体の表面に処理液を供給すると共に、この被処理体及
びこの被処理体を外気雰囲気から遮断する処理室を有す
るカップを回転して、処理を施す処理方法において、 上記被処理体の回転数が所定の加速度を経て所定値に達
した後、被処理体の回転数と上記カップの回転数をほぼ
同期させる工程と、 上記被処理体及びカップの回転数がほぼ同期した際に、
上記保持手段とカップとの間を気密状態にすべく相対的
に接触させる工程と、 気密状態下で、上記被処理体の表面に処理液を拡散塗布
する工程と、 上記保持手段とカップを接触させた状態で減速し停止す
る工程と、を有することを特徴とする処理方法。
4. The processing liquid is supplied to the surface of the object to be processed which is held and rotated by the holding means, and the object to be processed and a cup having a processing chamber for shielding the object to be processed from the outside air are rotated. In the processing method of applying a process, after the rotational speed of the object to be processed reaches a predetermined value through a predetermined acceleration, a step of substantially synchronizing the rotational speed of the object to be processed with the rotational speed of the cup, When the rotation speed of the body and the cup are almost synchronized,
A step of making relative contact between the holding means and the cup so as to be airtight; a step of diffusing and applying a treatment liquid on the surface of the object to be treated under the airtight state; and a step of bringing the holding means and the cup into contact with each other. And a step of decelerating and stopping in this state.
【請求項5】 請求項3又は4記載の処理方法におい
て、 上記カップを回転駆動させた後、被処理体を回転駆動す
ることを特徴とする処理方法。
5. The processing method according to claim 3, wherein the object to be processed is rotationally driven after the cup is rotationally driven.
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