JPH09281055A

JPH09281055A - 欠け検査方法

Info

Publication number: JPH09281055A
Application number: JP8086213A
Authority: JP
Inventors: Nobukatsu Igi; 宣克伊儀; Shigeyuki Nishi; 重幸西
Original assignee: Hitachi Metals Ltd; Hitachi Tool Engineering Ltd
Current assignee: Moldino Tool Engineering Ltd; Proterial Ltd
Priority date: 1996-04-09
Filing date: 1996-04-09
Publication date: 1997-10-31

Abstract

(57)【要約】【課題】複数の線種の異なる輪郭線を持つ被検査物に
対して、画像処理により輪郭部の欠陥欠けを検出できる
検査方法を提供する。【解決手段】画像処理により被検査物の輪郭座標デー
タを求め、前記輪郭座標データ上に検査ベクトルを設
け、そのうちの所定のものを基準ベクトルとし、基準ベ
クトルに対する検査ベクトルの成す角を算出し、これか
ら被検査物の輪郭形状変換点とその間の形状を求める。
次に前記データをもとに輪郭形状を数式化した輪郭近似
線を求め、この輪郭近似線をもとに輪郭座標データを走
査し、被検査物の輪郭部にある欠けを検出するととも
に、その大きさを算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、切削工具などのよ
うに、輪郭形状が直線と曲線との組み合わせによって形
成されているような被検査物の、輪郭部に発生している
欠けを画像処理により検査する方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】直線状周辺部の欠けを画像処理により検
査する方法が特開１−２６３７７４に開示されている
（以下、従来例１と呼ぶ）。これは、被検査物の撮像信
号を二値化画素データとして画像メモリに記憶し、直線
状周辺部を囲むように設定した走査領域内で、周辺部を
表す二値化画素データの座標をもとに、最小二乗法で直
線式を算出して輪郭近似線とした後、前記画素データ座
標のうち該算出した輪郭近似線から所定距離以上離れた
画素を除外し、改めて輪郭近似線を算出することを繰り
返して精度の良い輪郭近似線を求め、求めた輪郭近似線
のうち、相隣る輪郭近似線の交点を算出し、該交点座標
をもとに、所定ピッチで複数の走査線を設定し、該走査
線と周辺部を表す二値化画素データの交点を求め、相隣
る交点座標の差分から欠け部を認識するとともに、欠け
の幅と深さを算出し、判定値と比較することによって欠
けの有無を検査する方法である。また直接欠けを検出す
る技術ではないが、輪郭部の形状を同定する方法とし
て、特開１−１１６７７２（以下、従来例２と呼ぶ）に
線形図形の撮像信号の画像データから、図形の線種を一
次直線なのか円曲線なのかを認識する方法が開示されて
いる。これは、図形を二値画像データとして読みとり、
画像処理して輪郭座標点データを得て、得た座標点デー
タを複数点毎に短線分化してショートベクトルで表し、
ショートベクトルが一つ前のショートベクトルに対し持
っている変位角が略零か正か負かを算出することによっ
て、線種を、略零なら直線、正なら反時計回りの円弧、
負なら時計回りの円弧であると認識する方法である。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】切削工具の切れ刃部の
輪郭は、直線と円又は他の曲線等を組合せた、一つの関
数で表示できない複雑な形状をしているものが多い。こ
れに対して従来例１では、輪郭が直線だけで形成されて
いる部分を対象としており、他の曲線を含んでいる部分
には対応できない。また、この欠け検出方法は、画面内
の垂直又は水平に引いた走査ピッチ線と周辺部を表す二
値化画素データの交点をもとに、走査ピッチ線方向の差
分で求める方法のため、検査対象である直線状周辺部が
傾いていると、求めた欠けの大きさと実際の欠けの大き
さとに誤差が生じると言う問題がある。従来例２では、
撮像した線種が一次直線か円曲線かの識別方法について
述べられているが、欠け検出に対しては言及されていな
い。また、その識別方法では、実際の被検査物の輪郭線
の周辺部に存する微少な欠陥・欠けや表面粗さ、さらに
画素の量子化誤差に影響されて、直線であるべきはずの
所で差分が略零を示さなかったり、曲線であるべき所で
略零を示したりする事が多くあり、線種の同定精度に問
題がある。本発明は、従来技術では対応が難しい複雑な
輪郭形状を有する被検査物に対しても、その輪郭形状を
認識し、その形状に沿って欠けを検出して検査すること
を目的としている。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は、輪郭部の欠け
を画像処理を用いて検査する欠け検査方法において、１）検査対象部の撮像入力を二値化し、二値境を形成す
る画素を輪郭画素とし、２）輪郭画素の一端に、設定数離れた画素に向かって基
準ベクトルを設定するとともに、各輪郭画素から前記と
同一な設定数離れた画素に向かった検査ベクトルを設定
し、各検査ベクトルと基準ベクトルの方向の違いを表す
角度差の絶対値を算出し、３）角度差の絶対値が、予め設定した値を超えたとき、
該検査ベクトルの開始画素を輪郭形状変換画素として認
識し、４）前記で認識した輪郭形状変換画素間にある線種を、
輪郭形状変換画素間にある角度差の絶対値の累積度数分
布と、予め設定した累積度数分布形状と線種の関係をも
とに同定し、５）前記同定した線種と、輪郭形状変換画素間にある輪
郭画素の有する座標値をもとに、検査対象の輪郭形状を
各々数式で表した輪郭近似線を算出し、６）画面上で輪郭画素に輪郭近似線を重ね、７）輪郭近似線が通過している画素を、画面枠と交わる
画素から、輪郭画素に達するまで走査し、８）該輪郭画素から再び輪郭近似線に達するまで輪郭画
素を走査し、９）走査した輪郭画素のうち、画面に設定したＸＹ平面
で、まずＸ方向の最大及び最小位置の画素を抽出してＸ
座標値で表わすとともに、この点を通りＸ軸に垂直な直
線を引き、次にＹ方向の最大及び最小位置の画素を抽出
してＹ座標値で表わすとともに、この点を通りＹ軸に垂
直な直線を引き、これらの直線の交点を算出し、 10）この交点の内、検査対象部内部側にある３点を抽出
し、 11）この３点の内、輪郭近似線に近接する２点からは輪
郭近似線に垂直な線を、残りの点からは輪郭線に沿った
線を引き、 12）前記３つの線各々について、輪郭座標に接するまで
平行移動し、 13）平行移動後の各３つの線で囲まれた範囲を欠けと
し、その大きさを検査することを特徴としている。

【０００５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
〜図７に基づいて説明する。図１は、本発明に係わる装
置の概要を示す図である。被検査物１の欠けを強調する
照明手段２と、被検査物を撮像する工業用テレビジョン
カメラからなる撮像手段３と、撮像手段３と接続され、
撮像信号を二値化画素データに変換してメモリーに記憶
し、この二値化画素データをモニター７に画面表示する
画像処理装置４と、画像処理装置４に接続され、画像処
理装置４のメモリーをもとに欠け検査処理を行うコンピ
ューターを有する制御装置５と、制御装置５に接続され
て欠け検査結果等を表示するＣＲＴ６とを備えている。

【０００６】本発明の作用について、図２に示す処理フ
ローに従って説明する。最初に、処理目的別のブロック
２０１〜２０５をもとに、処理の概要を簡単に説明す
る。ブロック２０１は、検査対象の撮像信号を画像処理
装置４により、二値化画素データとしてしてメモリーに
記憶するとともに画面表示する。ブロック２０２以降は
制御装置５が主として処理し、ブロック２０２におい
て、前記２値化した画素データをもとに、輪郭を成す線
種とその構成を識別する。ブロック２０３では前記輪郭
構成線毎に線種を数式化した輪郭近似線と、それらの交
点を求める。ブロック２０４では、輪郭近似線をもとに
二値化された輪郭を表す画素を順次走査し、欠けとその
大きさを算出する。ブロック２０５は、ブロック２０４
で算出した欠けの大きさと、予め設定した判定値から、
欠けとすべきかどうかの判定を行うものである。

【０００７】以下、図２に示すステップ番号順に従い処
理内容を説明する。ステップ１０１において、照明手段
２により被検査物１の輪郭を強調し、撮像手段３で所定
の検査対象部を撮像し、撮像信号を画像処理装置４に入
力する。このとき、前記検査対象部の輪郭形状は、画面
内に入るようにしておく。ステップ１０２において、画
像処理装置４はステップ１０１で入力された撮像信号
を、二値化画素データ（例えば、被検査物部分を１、背
景や欠け部分を０とする）としてメモリに収納するとと
もに、モニター上に横方向をＸ軸、縦方向をＹ軸として
画像表示する。図３に二値化され、ＸＹ座標平面上に表
示された検査部分の画像の例を示す。以降この画像をも
とに説明する。

【０００８】ステップ１０３は、制御装置５において、
モニタ画面内の前記二値化データをＸ又はＹ方向に１画
素ずつ走査し、例えば１と判定された画素のうち、０の
画素に接する画素を輪郭画素として抽出し、まず画面枠
と交わる２箇所の輪郭画素である画素Ｓ、及び画素Ｅの
各座標（ｘ₀，ｙ₀）、（ｘ_n-1，ｙ_n-1）を算出する。ス
テップ１０４は、画素Ｓより画素Ｅまで境界画素を一画
素づつ走査して、画素Ｓ及び画素Ｅを含んだ全部でｎ個
の輪郭画素の中心部の座標データを算出する。以降、画
素の中心部の座標データを画素座標と称する。なお、座
標データとしては、画面内に設定したＸＹ座標の原点
（図３において、左下隅部とする）から、該画素の中心
部位置までのＸ、Ｙ方向距離とする。

【０００９】ステップ１０５において、基準ベクトルａ
（以降、単にａとも記す。図３では符号ａの上に矢印を
記して表す。）と、複数の検査ベクトルｂｉ（ｉ＝０〜
ｎ−ｔ−１。以降、単にｂｉとも記す。図３では符号ｂ
の上に矢印を記して表す。）を設け、ａに対して各ｂｉ
が作る角度の絶対値（以降単に角度差と称する）θｉを
求める。ここでａは、画素Ｓ座標からｔ個目（例えばｔ
＝３０）の輪郭画素座標（Ｘｔ、Ｙｔ）を結ぶベクトル
である。ｂｉはベクトルの始点が、画素Ｓ座標から始ま
り順次隣接する輪郭画素座標である（ｎ−ｔ）個のベク
トルであり、各ベクトルの終点は、始点からｔ個目の輪
郭画素座標である。ａ、ｂｉ及び角度差θｉは、輪郭画
素座標をもとに下記のように表すことができる。ａ =(Ｘｔ−Ｘ0,Ｙｔ−Ｙ0) ｂｉ=(Ｘｔ+ｉ−Ｘｉ，Ｙｔ+ｉ−Ｙｉ) θｉ=｜tan^-1((Ｙｔ−Ｙ0)/(Ｘｔ−Ｘ0))−tan^-1((Ｙｔ
+ｉ−Ｙｉ)/(Ｘｔ+ｉ−Ｘｉ))｜（ただし、ｉ＝０〜ｎ−ｔ−１）ｉを０、１、２・・・・、ｎ−ｔ−１としたときの、ａ
に対する各ｂｉの（ｎ−ｔ）個の角度差、θ0、θ1、θ
2、・・・・、θｎ−ｔ−１を求める。

【００１０】次にステップ１０６において、角度差θｉ
をもとに輪郭形状の変換点を求める。図４（ａ）に示す
ように、横軸に（ｎ−ｔ）個の検査ベクトルｂｉの開始
点画素順序を、縦軸に角度差θｉをプロットし、例えば
検査部分の輪郭形状が３種類の形状の組合せから成って
いるとすれば、角度差θｉが、予め設定した２個の閾値
ｔｈ１及びｔｈ２を越えたとき、その検査ベクトルｂｉ
の開始点画素Ｊ及びＫを形状の変換画素とし、その画素
座標（Ｘｊ，Ｙｊ）及び（Ｘｋ，Ｙｋ）が形状の変換点
となる（図３参照）。なお、輪郭形状がｒ種類の形状の
組合せで成っているとすれば、予め（ｒ−１）個の角度
差θｉの閾値を制御装置５に設定しておく。

【００１１】ステップ１０７において、各形状を数式で
定義するための各輪郭近似線を算出するために、輪郭画
素座標データの内から近似用座標データを区分けする。
前記説明において、３種類の形状に対し、形状変換点と
しての座標（Ｘｊ，Ｙｊ）及び（Ｘｋ，Ｙｋ）を求め
た。これより、下記輪郭近似線を算出するための近似用
座標データ（Ｘｉ，Ｙｉ）は、下記のｉで示す範囲の輪
郭画素の中心部で表す。第１の形状を近似…ｉ＝０〜ｊ第２の形状を近似…ｉ＝ｊ+1〜ｋ第３の形状を近似…ｉ＝ｋ+1〜ｎ−1

【００１２】ステップ１０８は、各輪郭近似線の線種を
認識するもので、角度差θｉの度数分布を求め、これよ
り同定する。制御装置５には予め、線種、例えば直線、
円、２次曲線等と角度差θｉの度数分布の関係データ
と、例えば度数に集中がみられれば一次直線、度数が平
坦であれば円であるというように判定する論理を登録し
ておく。図４（ａ）で示す角度差θｉ変化について、図
４（ｂ）にその度数分布を示す。この場合、ｉ＝０〜ｊ
の範囲の第１の形状の線種は直線、ｉ＝（ｊ+1）〜ｋの
範囲の第２の形状の線種は円、ｉ＝（ｋ+1）〜（ｎ−
1）の範囲の第３の形状の線種は直線というふうに判定
できる。図５に別の輪郭形状の例を示すが、図５（ｂ）
のような角度差θｉの度数分布の場合、ｉ＝０〜ｊの範
囲の第１の形状の線種は直線、ｉ＝（ｊ+1）〜ｋの範囲
の第２の形状の線種も直線、ｉ＝（ｋ+1）〜（ｎ−1）
の範囲の第３の形状の線種も直線というように判定でき
る。ここで、ｉ＝ｊの周辺とｉ＝ｋの周辺は度数が平坦
であり、円形状の部分があることを示している。即ち、
第１の形状の直線と第２の形状の直線は、円弧でつなが
っていると判断することができる。第２の形状の直線と
第３の形状の直線についても同様である。以上のように
して、各輪郭線の線種を自動的に同定する。なお、予め
輪郭形状と線種の関係を登録しておき、この情報を用い
るようにしてもよい。

【００１３】ステップ１０９において、第１の形状から
第３の形状までの各輪郭形状を、前記同定した線種と近
似用座標データを用いて計算し、各々の数式化した輪郭
近似線Ｌ１、輪郭近似線Ｌ２及び輪郭近似線Ｌ３を算出
する（以降、単にＬ１、Ｌ２、Ｌ３と表すこともあ
る）。図４で示す輪郭形状では、前記説明したようにＬ
１とＬ３は一次直線式の最小二乗近似を用いて、またＬ
２は円方程式の最小二乗近似を用いて算出する。ステッ
プ１１０は、ステップ１０９で得られた輪郭近似線Ｌ
１、Ｌ２及びＬ３を表す数式をもとに、画面枠とＬ１と
の交点ｐ１、Ｌ１とＬ２との交点ｐ２、Ｌ２とＬ３との
交点ｐ３、Ｌ３と画面枠との交点ｐ４を求める。図６に
二値化画像と、これをもとにしたＬ１、Ｌ２、Ｌ３及び
前述した各交点ｐ１、ｐ２、ｐ３、ｐ４の関係を示す。

【００１４】以下、ステップ１１１〜１２１に基づいて
欠け検出及び検査方法を説明する。ステップ１１１にお
いて、輪郭近似線に沿って、輪郭近似線を含んだ画素を
走査し、１から０に変わる直前の画素Ｕを抽出する。画
素Ｕは二値化された輪郭画素を走査して欠けを検出する
ための欠け検出開始画素である。輪郭近似線としてまず
Ｌ１について、交点ｐ１からｐ２の間を処理する。この
間に複数の欠けがあれば、複数の欠け検出開始画素が存
在することになり、後述の欠け検出処理は各々の欠け検
出開始画素について行う。ステップ１１２において、画
素Ｕを出発点にして、輪郭近似線Ｌ１に対して被検査物
内部方向に輪郭画素上を再び輪郭近似線Ｌ１が通過する
画素に達するまで走査し、走査した輪郭画素座標を求め
る。図７は、図６における交点ｐ１から交点ｐ２に至る
範囲を拡大したものであり、以下図７をもとに説明す
る。ステップ１１３において、前記走査した輪郭画素座
標データから得られたＸ方向の最大値Ｘ_maxと最小値Ｘ
_min、及びＹ方向の最大値Ｙ_maxと最小値Ｙ_minを求め
る。ステップ１１４において、Ｘ方向の最大値Ｘ_maxと
最小値Ｘ_minを通るＸ軸に垂直な直線と、Ｙ方向の最大
値Ｙ_maxと最小値Ｙ_minを通るＹ軸に垂直な直線を引き、
４本の直線の４つの交点から被検査物内部側に位置する
点Ａ、Ｂ及びＣを求める。即ち、点Ａ、Ｂ及びＣを頂点
とするＸＹ軸に平行な長方形は、欠けを内包しており、
欠けの大きさを表すことができる。図７においては、点
Ａ、Ｂ、Ｃの座標は以下のようにした。Ａ（Ｘ_min、Ｙ_max）Ｂ（Ｘ_max、Ｙ_min）Ｃ（Ｘ_max、Ｙ_max）

【００１５】ステップ１１５において、欠け検出補助線
ｖ１、ｖ２及びｈを求める。ｖ１は点Ａを通り輪郭近似
線Ｌ１に垂直な直線、ｖ２は点Ｂを通りＬ１に垂直な直
線、ｈは点Ｃを通りＬ１に沿った線である。ステップ１
１６では、Ｌ１とｖ１とｖ２とｈの線の交点を求める。
この交点を結ぶ図形は、輪郭近似線を一辺とする長方形
又は略四辺形であり、欠けの大きさの評価を、ＸＹ軸に
平行な基準から、輪郭近似線を基準とするものに変換す
るために設けるものである。ステップ１１７において、
まずｖ１上をＬ１との交点からｈとの交点まで走査し
て、輪郭画素が存在するかどうかを調べる。ｈとの交点
までで輪郭画素が検出されなかった場合、ｖ１を欠けの
ある側に一画素分シフトして、新規な直線ｖ１とし、再
度Ｌ１との交点からｈとの交点まで走査をして輪郭画素
の有無を調べる。この処理を輪郭画素が検出されるまで
繰り返す。ステップ１１８において、輪郭画素が検出さ
れたときのｖ１を、欠け検出線ｖ１ａとして算出する。

【００１６】ステップ１１９は、残りの欠け検出補助線
ｖ２及びｈに対して、ステップ１１７及び１１８の処理
をするための繰り返しループである。従って、ステップ
１１９を抜けたときには、図７に示すように欠け検出補
助線ｖ２とｈに対して、ｖ１の場合と同様にして、欠け
検出線ｖ２ａ及びｈａが算出されている。ステップ１２
０において、前記算出したｖ１ａとｖ２ａの垂直距離
Ｗ、Ｌ１とｈａの垂直距離Ｄを計算する。このＷとＤを
検査部分に存在する欠けの幅及び深さとする。このた
め、被検査物の輪郭が画面内でどのように傾いていて
も、この傾きに影響されずに欠けの幅と深さを算出でき
る。この値は輪郭を基準とした実際の検査に則してい
る。

【００１７】ステップ１２１は、ステップ１１１〜１２
０の操作をＬ２とＬ３についても行うためのループであ
る。従ってステップ１２１をぬけた時点で、Ｌ２とＬ３
の範囲にある欠けの幅Ｗと深さＤは求められいる。Ｌ２
に対しては、被検査物の円弧状の第２の形状にほぼ沿う
ような輪郭近似線Ｌ２をもとに、前述したと同様な欠け
検出処理を行うことになる。前述したように欠け検出開
始画素が何カ所かあれば、各々に対して上述の処理を行
う。ステップ１２２においては、ステップ１２１までで
求めた全ての欠けに対し、その幅Ｗと深さＤを、予め決
めておいた判定値と比較し、判定値よりも大きければ被
検査物に欠けがあると判定する判定処理をする。欠け判
定結果は、ＣＲＴ６に適宜表示する等で、外部に情報出
力することができる。

【００１８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は以下の効
果を有している。輪郭形状が一つの数式で表現できない
複雑な形状の被検査物に対しても、形状の組合せ数に関
する情報だけを設定すれば、実際の輪郭形状に近似した
輪郭近似線を自動設定できるため、予め詳細に輪郭形状
を形成する全ての線種とその位置等の情報を登録する必
要がなく、被検査物の輪郭形状変更に対して容易に対応
できるため、欠け検査の適用範囲が拡大する。また、撮
像画面のＸＹ軸に平行な基準でなく、輪郭近似線を基準
として欠けの幅と長さを計測するため、被検査物の輪郭
が画面上どのようにＸＹ軸に対して傾いていても、欠け
の大きさは同等に算出され、信頼性の高い欠け検査がで
きる。さらに、輪郭近似線をもとに撮像した二値化輪郭
画素を走査して欠けを検出検査するため、輪郭形状部の
みを欠け検査対象とできるので、効率的な欠け検査がで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態を説明するための装置構成を示す
図。

【図２】実施の形態を説明するフローを示す図。

【図３】輪郭画素と基本ベクトル、検査ベクトルの関係
を示す概念図。

【図４】検査ベクトル位置と基本ベクトルに対する方向
の違いの絶対値と示す例。

【図５】検査ベクトル位置と基本ベクトルに対する方向
の違いの絶対値と示す別の例。

【図６】欠けの検出方法を説明する図。

【図７】欠けの大きさを算出する方法を説明する図。

【記号の説明】

１…被検査物３…撮像手段４…画像処理装置５…制御装置ａ…基本ベクトルｂ…検査ベクトル θ…ａとｂの作る角度の絶対値Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３…輪郭近似線Ｕ…欠けの検出開始画素ｖ１ａ、ｖ２ａ、ｈａ…輪郭近似線基準で欠けを囲む線Ｗ…欠けの幅Ｄ…欠けの深さ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】輪郭部の欠けを画像処理を用いて検査す
る欠け検査方法において、１）検査対象部の撮像入力を二値化し、二値境を形成す
る画素を輪郭画素とし、２）輪郭画素の一端に、設定数離れた画素に向かって基
準ベクトルを設定するとともに、各輪郭画素から前記と
同一な設定数離れた画素に向かった検査ベクトルを設定
し、基準ベクトルに対して各検査ベクトルが作る角度の
絶対値を算出し、３）角度の絶対値が、予め設定した値を超えたとき、該
検査ベクトルの開始画素を輪郭形状変換画素として認識
し、４）前記で認識した輪郭形状変換画素間にある線種を、
輪郭形状変換画素間にある角度の絶対値の累積度数分布
と、予め設定した累積度数分布形状と線種の関係をもと
に同定し、５）前記同定した線種と、輪郭形状変換画素間にある輪
郭画素の有する座標値をもとに、検査対象の輪郭形状を
各々数式で表した輪郭近似線を算出し、６）該輪郭近似線に沿って欠け検査処理を行うことを特
徴とする欠け検査方法。
【請求項２】輪郭部の欠けを画像処理を用いて検査す
る欠け検査方法において、１）検査対象部の撮像入力を二値化し、二値境を形成す
る画素を輪郭画素とし、２）輪郭画素と輪郭形状を成す線種情報をもとに、輪郭
近似線を算出し、３）画面上で輪郭画素に輪郭近似線を重ね、４）輪郭近似線が通過している画素を、画面枠と交わる
画素から、輪郭画素に達するまで走査し、５）該輪郭画素から再び輪郭近似線に達するまで輪郭画
素を走査し、６）走査した輪郭画素のうち、画面に設定したＸＹ平面
で、まずＸ方向の最大及び最小位置の画素を抽出してＸ
座標値で表わすとともに、この点を通りＸ軸に垂直な直
線を引き、次にＹ方向の最大及び最小位置の画素を抽出
してＹ座標値で表わすとともに、この点を通りＹ軸に垂
直な直線を引き、これらの直線の交点を算出し、７）この交点の内、検査対象部内部側にある３点を抽出
し、８）この３点の内、輪郭近似線に近接する２点からは輪
郭近似線に垂直な線を、残りの点からは輪郭線に沿った
線を引き、９）前記３つの線各々について、輪郭座標に接するまで
平行移動し、 10）平行移動後の各３つの線で囲まれた範囲を欠けと
し、その大きさを検査することを特徴とする欠け検査方
法。
【請求項３】輪郭部の欠けを画像処理を用いて検査す
る欠け検査方法において、１）検査対象部の撮像入力を二値化し、二値境を形成す
る画素を輪郭画素とし、２）輪郭画素の一端に、設定数離れた画素に向かって基
準ベクトルを設定するとともに、各輪郭画素から前記と
同一な設定数離れた画素に向かった検査ベクトルを設定
し、基準ベクトルに対して各検査ベクトルが作る角度の
絶対値を算出し、３）角度の絶対値が、予め設定した値を超えたとき、該
検査ベクトルの開始画素を輪郭形状変換画素として認識
し、４）前記で認識した輪郭形状変換画素間にある線種を、
輪郭形状変換画素間にある角度の絶対値の累積度数分布
と、予め設定した累積度数分布形状と線種の関係をもと
に同定し、５）前記同定した線種と、輪郭形状変換画素間にある輪
郭画素の有する座標値をもとに、検査対象の輪郭形状を
各々数式で表した輪郭近似線を算出し、６）画面上で輪郭画素に輪郭近似線を重ね、７）輪郭近似線が通過している画素を、画面枠と交わる
画素から、輪郭画素に達するまで走査し、８）該輪郭画素から再び輪郭近似線に達するまで輪郭画
素を走査し、９）走査した輪郭画素のうち、画面に設定したＸＹ平面
で、まずＸ方向の最大及び最小位置の画素を抽出してＸ
座標値で表わすとともに、この点を通りＸ軸に垂直な直
線を引き、次にＹ方向の最大及び最小位置の画素を抽出
してＹ座標値で表わすとともに、この点を通りＹ軸に垂
直な直線を引き、これらの直線の交点を算出し、 10）この交点の内、検査対象部内部側にある３点を抽出
し、 11）この３点の内、輪郭近似線に近接する２点からは輪
郭近似線に垂直な線を、残りの点からは輪郭線に沿った
線を引き、 12）前記３つの線各々について、輪郭座標に接するまで
平行移動し、 13）平行移動後の各３つの線で囲まれた範囲を欠けと
し、その大きさを検査することを特徴とする欠け検査方
法。