JPH09281167A - 表面電位測定装置 - Google Patents
表面電位測定装置Info
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- JPH09281167A JPH09281167A JP8119533A JP11953396A JPH09281167A JP H09281167 A JPH09281167 A JP H09281167A JP 8119533 A JP8119533 A JP 8119533A JP 11953396 A JP11953396 A JP 11953396A JP H09281167 A JPH09281167 A JP H09281167A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 SN比と信頼性を向上させ,安定した高感度
な測定ができる簡単な構成で小型かつ安価な表面電位測
定装置を提供する。 【解決手段】 本発明の表面電位測定装置6は、被測定
体2から所定の間隔を隔てた位置に被測定体2と電気的
に独立して設けられた振動部材7からなる測定電極と,
測定電極を振動させ,被測定体2と測定電極との間で形
成される静電容量を変化させる振動駆動部8と,被測定
体2の表面電位に対応して誘起される静電容量の変化に
伴って変化する測定電極の電位を検出する電位信号検出
部4とを備えている。
な測定ができる簡単な構成で小型かつ安価な表面電位測
定装置を提供する。 【解決手段】 本発明の表面電位測定装置6は、被測定
体2から所定の間隔を隔てた位置に被測定体2と電気的
に独立して設けられた振動部材7からなる測定電極と,
測定電極を振動させ,被測定体2と測定電極との間で形
成される静電容量を変化させる振動駆動部8と,被測定
体2の表面電位に対応して誘起される静電容量の変化に
伴って変化する測定電極の電位を検出する電位信号検出
部4とを備えている。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は,非接触に設けられ
た振動部材及び測定電極により,導電体又は絶縁体等の
被測定体の表面電位を測定する静電容量型表面電位測定
装置に関し,より詳細には,複写機,ファックス,印刷
機,プリンタ及びプロッタ等の感光体又は現像ローラ等
の帯電電位の制御に使用される表面電位測定装置に関す
る。
た振動部材及び測定電極により,導電体又は絶縁体等の
被測定体の表面電位を測定する静電容量型表面電位測定
装置に関し,より詳細には,複写機,ファックス,印刷
機,プリンタ及びプロッタ等の感光体又は現像ローラ等
の帯電電位の制御に使用される表面電位測定装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】各種の分野において,導電体及び絶縁体
等の表面電位を検出し測定する必要性が多々ある。特
に,電子写真複写機等の分野においては,画質向上のた
めに感光体上の表面電位を正確に検知して,その表面電
位を制御することが重要となっている。表面電位を検知
する手段として,従来より被測定体の電荷のリークが生
じないように非接触型の表面電位測定装置が用いられて
いる。非接触型の表面電位測定装置は,電気的な装置と
機械的な装置とに大別できる。
等の表面電位を検出し測定する必要性が多々ある。特
に,電子写真複写機等の分野においては,画質向上のた
めに感光体上の表面電位を正確に検知して,その表面電
位を制御することが重要となっている。表面電位を検知
する手段として,従来より被測定体の電荷のリークが生
じないように非接触型の表面電位測定装置が用いられて
いる。非接触型の表面電位測定装置は,電気的な装置と
機械的な装置とに大別できる。
【0003】電気的な表面電位測定装置は,特殊な機能
材料を必要とするため高価なものとなる。また,帯電吸
着によって測定電極表面が汚染されることや使用する絶
縁物の分極によって感度が低下するという問題もある。
材料を必要とするため高価なものとなる。また,帯電吸
着によって測定電極表面が汚染されることや使用する絶
縁物の分極によって感度が低下するという問題もある。
【0004】一方,機械的な表面電位測定装置は,測定
電極の汚れによる感度変化が少ないという点及び比較的
安価に製造できるという点に長所がある。したがって,
現在使用されている表面電位測定装置の殆どが,機械的
なものである。
電極の汚れによる感度変化が少ないという点及び比較的
安価に製造できるという点に長所がある。したがって,
現在使用されている表面電位測定装置の殆どが,機械的
なものである。
【0005】機械的な表面電位測定装置は,振動部材と
測定電極とを備え,振動部材によって被測定体と測定電
極との間の静電容量を周期的に変化させ,測定電極で被
測定体の表面電位を交流信号として検出する。機械的な
表面電位測定装置には,チョッパ型と振動容量型の2種
類がある。チョッパ型の表面電位測定装置は,測定電極
に入射する電気力線を周期的に遮断することにより,測
定電極上に誘起される電荷の量を変化させて交流信号を
得るというものである。また,振動容量型の表面電位測
定装置は,測定電極を被測定体からの電界方向に周期的
に変化させることにより,被測定体と測定電極との間の
静電容量を周期的に変化させ,その変化に応じて発生す
る交流信号を取り出すとうものである。
測定電極とを備え,振動部材によって被測定体と測定電
極との間の静電容量を周期的に変化させ,測定電極で被
測定体の表面電位を交流信号として検出する。機械的な
表面電位測定装置には,チョッパ型と振動容量型の2種
類がある。チョッパ型の表面電位測定装置は,測定電極
に入射する電気力線を周期的に遮断することにより,測
定電極上に誘起される電荷の量を変化させて交流信号を
得るというものである。また,振動容量型の表面電位測
定装置は,測定電極を被測定体からの電界方向に周期的
に変化させることにより,被測定体と測定電極との間の
静電容量を周期的に変化させ,その変化に応じて発生す
る交流信号を取り出すとうものである。
【0006】機械的な表面電位測定装置の例を以下に示
す。
す。
【0007】例えば,(a)特公昭63−1547号公
報には,被測定体の表面電位を交流信号として取り出す
ため,音叉型の振動子を振動させてチョッパ手段として
利用し,音叉振動子と固定された測定電極とによって表
面電位を測定するための表面電位計が開示されている。
この表面電位計によれば,比較的簡単な構成で安価な表
面電位計を得ることができる。
報には,被測定体の表面電位を交流信号として取り出す
ため,音叉型の振動子を振動させてチョッパ手段として
利用し,音叉振動子と固定された測定電極とによって表
面電位を測定するための表面電位計が開示されている。
この表面電位計によれば,比較的簡単な構成で安価な表
面電位計を得ることができる。
【0008】(b)特開昭60−120267号公報に
は,上記公報に開示されたものと同様に,被測定体の表
面電位を交流信号として取り出すために音叉型の振動子
を利用した非接触型表面電位検出装置が開示されてい
る。すなわち,この装置では,音叉振動子上に測定電極
を設置し,測定電極を被測定体と測定電極間で形成され
る電界に対してほぼ平行な方向に振動させる。そして,
この測定電極の振動によって被測定体と測定電極間の静
電容量を変化させ,被測定体の表面電位を検出すること
ができる。この非接触型表面電位検出装置によれば,表
面電位検出装置のSN比を向上させることができる。
は,上記公報に開示されたものと同様に,被測定体の表
面電位を交流信号として取り出すために音叉型の振動子
を利用した非接触型表面電位検出装置が開示されてい
る。すなわち,この装置では,音叉振動子上に測定電極
を設置し,測定電極を被測定体と測定電極間で形成され
る電界に対してほぼ平行な方向に振動させる。そして,
この測定電極の振動によって被測定体と測定電極間の静
電容量を変化させ,被測定体の表面電位を検出すること
ができる。この非接触型表面電位検出装置によれば,表
面電位検出装置のSN比を向上させることができる。
【0009】(c)実公平4−30545号公報には,
上記特開昭60−120267号公報に開示された音叉
振動子上に設置される測定電極の構造を改良した表面電
位検出装置が開示されている。すなわち,この装置で
は,測定電極にフレキシブルプリント基板を利用して,
そのプリント基板上に測定電極パターンと引出電極パタ
ーンを形成するという構成を有している。この表面電位
検出装置によれば,比較的簡単な構成で安価な表面電位
検出装置を得ることができる。
上記特開昭60−120267号公報に開示された音叉
振動子上に設置される測定電極の構造を改良した表面電
位検出装置が開示されている。すなわち,この装置で
は,測定電極にフレキシブルプリント基板を利用して,
そのプリント基板上に測定電極パターンと引出電極パタ
ーンを形成するという構成を有している。この表面電位
検出装置によれば,比較的簡単な構成で安価な表面電位
検出装置を得ることができる。
【0010】(d)特開昭60−55273号公報に
は,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すため
に音叉状の振動片上に測定電極を設置した構成の表面電
位センサが開示されている。この装置では,チョッパ型
のように音叉状振動片を振動させて測定電極を直接的に
振動させ,測定電極の被測定体に対向する面積を変化さ
せて測定体と測定電極間の静電容量を変化させる。そし
て,この静電容量の変化から被測定体の表面電位を検出
することができる。この表面電位センサによれば,比較
的簡単な構成で安価な表面電位センサを得ることができ
る。
は,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すため
に音叉状の振動片上に測定電極を設置した構成の表面電
位センサが開示されている。この装置では,チョッパ型
のように音叉状振動片を振動させて測定電極を直接的に
振動させ,測定電極の被測定体に対向する面積を変化さ
せて測定体と測定電極間の静電容量を変化させる。そし
て,この静電容量の変化から被測定体の表面電位を検出
することができる。この表面電位センサによれば,比較
的簡単な構成で安価な表面電位センサを得ることができ
る。
【0011】(e)特願平6−244339号には,被
測定体と測定電極との間の静電容量を変化させる手段と
してボイスコイルを採用し,ボイスコイルを駆動して被
測定体の正確な表面電位を検出するようにした表面電位
測定装置が開示されている。この表面電位測定装置は,
非接触に設けられた振動部材及び測定電極によって被測
定体の表面電位を測定する静電容量型表面電位測定装置
に関するものである。そして,この表面電位測定装置に
よれば,小型かつ安価な簡単な構成でSN比を向上さ
せ,高感度な測定ができる静電容量変化手段及びそれを
利用した表面電位測定装置を得ることができる。
測定体と測定電極との間の静電容量を変化させる手段と
してボイスコイルを採用し,ボイスコイルを駆動して被
測定体の正確な表面電位を検出するようにした表面電位
測定装置が開示されている。この表面電位測定装置は,
非接触に設けられた振動部材及び測定電極によって被測
定体の表面電位を測定する静電容量型表面電位測定装置
に関するものである。そして,この表面電位測定装置に
よれば,小型かつ安価な簡単な構成でSN比を向上さ
せ,高感度な測定ができる静電容量変化手段及びそれを
利用した表面電位測定装置を得ることができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,前述し
た従来の表面電位測定装置は,以下のような問題点があ
る。
た従来の表面電位測定装置は,以下のような問題点があ
る。
【0013】(a)特公昭63−1547号公報によれ
ば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すため
に音叉型振動子を振動させてチョッパ手段として利用
し,音叉振動子と固定された測定電極とにより比較的簡
単な構成で安価に表面電位計が得られる。
ば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すため
に音叉型振動子を振動させてチョッパ手段として利用
し,音叉振動子と固定された測定電極とにより比較的簡
単な構成で安価に表面電位計が得られる。
【0014】しかしながら,特公昭63−1547号公
報に開示された表面電位計は,音叉型振動子とは別体に
測定電極を設ける必要があるため,部品点数が増加する
と共にコストが高くなる。また,音叉型振動子をチョッ
パ手段として利用した場合,音叉振動子と測定電極との
間に空間スペースを取る必要があるため,測定装置のプ
ローブ形状の小型化に制限がある。更に,電位検出信号
が最大になるように,音叉型振動子と測定電極との間の
位置関係を十分配慮する必要がある。すなわち,チョッ
パ型の場合は通常,被測定体に対し音叉型振動子の後方
に測定電極を配置するため,それだけで表面電位に対す
る測定感度が悪くなる。
報に開示された表面電位計は,音叉型振動子とは別体に
測定電極を設ける必要があるため,部品点数が増加する
と共にコストが高くなる。また,音叉型振動子をチョッ
パ手段として利用した場合,音叉振動子と測定電極との
間に空間スペースを取る必要があるため,測定装置のプ
ローブ形状の小型化に制限がある。更に,電位検出信号
が最大になるように,音叉型振動子と測定電極との間の
位置関係を十分配慮する必要がある。すなわち,チョッ
パ型の場合は通常,被測定体に対し音叉型振動子の後方
に測定電極を配置するため,それだけで表面電位に対す
る測定感度が悪くなる。
【0015】(b)特開昭60−120267号公報に
よれば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出す
ために音叉型の振動子上に測定電極を設置し,被測定体
と測定電極との間で形成される電界に対してほぼ平行な
方向に測定電極を振動させ,被測定体と測定電極間の静
電容量の変化からSN比を向上させて表面電位を計測す
ることができる。
よれば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出す
ために音叉型の振動子上に測定電極を設置し,被測定体
と測定電極との間で形成される電界に対してほぼ平行な
方向に測定電極を振動させ,被測定体と測定電極間の静
電容量の変化からSN比を向上させて表面電位を計測す
ることができる。
【0016】しかしながら,特開昭60−120267
号公報に開示された非接触型表面電位検出装置も同様
に,音叉振動子とは別体に測定電極を設ける必要がある
ため,部品点数が増加すると共にコストが高くなる。ま
た,測定電極を音叉振動子上に設置した場合,測定電極
からの信号を取り出すための信号線が音叉の振動に追従
して振動する。その結果,信号線の振動が音叉の振動特
性に悪影響を及ぼし,音叉の振動特性が不安定となる。
また,音叉の振動特性に影響しないように信号線には通
常細い線材が使用されるが,細い線材を使用した場合,
振動により最悪の場合には信号線が断線するといった問
題を生じる。したがって,信号線の接続作業のみなら
ず,信号線の接続の際に断線しないよう気をつけて取り
付ける必要がある。また,信号線には可撓性に優れかつ
疲労強度に優れた高価な材料を使用する必要があるた
め,更にコストが高くなる。更に,測定電極を音叉振動
子上に設置した場合,音叉振動子の駆動部は,音叉振動
子ばかりでなく,測定電極及びその信号線をも振動させ
る必要があるため,音叉振動子の駆動に大きな駆動電力
が必要となる。
号公報に開示された非接触型表面電位検出装置も同様
に,音叉振動子とは別体に測定電極を設ける必要がある
ため,部品点数が増加すると共にコストが高くなる。ま
た,測定電極を音叉振動子上に設置した場合,測定電極
からの信号を取り出すための信号線が音叉の振動に追従
して振動する。その結果,信号線の振動が音叉の振動特
性に悪影響を及ぼし,音叉の振動特性が不安定となる。
また,音叉の振動特性に影響しないように信号線には通
常細い線材が使用されるが,細い線材を使用した場合,
振動により最悪の場合には信号線が断線するといった問
題を生じる。したがって,信号線の接続作業のみなら
ず,信号線の接続の際に断線しないよう気をつけて取り
付ける必要がある。また,信号線には可撓性に優れかつ
疲労強度に優れた高価な材料を使用する必要があるた
め,更にコストが高くなる。更に,測定電極を音叉振動
子上に設置した場合,音叉振動子の駆動部は,音叉振動
子ばかりでなく,測定電極及びその信号線をも振動させ
る必要があるため,音叉振動子の駆動に大きな駆動電力
が必要となる。
【0017】(c)実公平4−30545号公報に開示
された表面電位検出装置は,前述した問題を解決するた
めのものであって,前記特開昭60−120267号公
報に開示された音叉振動子上に設置される測定電極の構
造を改良し,測定電極にフレキシブルプリント基板を利
用してそのプリント基板上に測定電極パターンと引出電
極(信号線)パターンを形成し,比較的簡単な構成で信
頼性に優れかつ安価に表面電位を計測することができる
というものである。
された表面電位検出装置は,前述した問題を解決するた
めのものであって,前記特開昭60−120267号公
報に開示された音叉振動子上に設置される測定電極の構
造を改良し,測定電極にフレキシブルプリント基板を利
用してそのプリント基板上に測定電極パターンと引出電
極(信号線)パターンを形成し,比較的簡単な構成で信
頼性に優れかつ安価に表面電位を計測することができる
というものである。
【0018】しかしながら,実公平4−30545号公
報に開示された表面電位検出装置も前記と同様に音叉振
動子とは別体に測定電極を設ける必要があるため,部品
点数が増加すると共にコストが高くなる。また,フレキ
シブルプリント基板上に測定電極及び引出電極(信号
線)パターンをエッチング処理等を施して形成するため
にコストが高くなる。更に,フレキシブルプリント基板
を音叉振動子に接着固定して使用する必要があるため,
接着作業が必要となる。これに加え,接着の仕方によっ
ては,音叉振動子の振動特性が不安定となる等の悪影響
を及ぼしたり,最悪の場合には振動によりプリント基板
が剥がれてしまうといった問題がある。このように,こ
の発明によっても前述した従来技術の問題点を根本的に
解決することは達成されていない。
報に開示された表面電位検出装置も前記と同様に音叉振
動子とは別体に測定電極を設ける必要があるため,部品
点数が増加すると共にコストが高くなる。また,フレキ
シブルプリント基板上に測定電極及び引出電極(信号
線)パターンをエッチング処理等を施して形成するため
にコストが高くなる。更に,フレキシブルプリント基板
を音叉振動子に接着固定して使用する必要があるため,
接着作業が必要となる。これに加え,接着の仕方によっ
ては,音叉振動子の振動特性が不安定となる等の悪影響
を及ぼしたり,最悪の場合には振動によりプリント基板
が剥がれてしまうといった問題がある。このように,こ
の発明によっても前述した従来技術の問題点を根本的に
解決することは達成されていない。
【0019】(d)特開昭60−55273号公報によ
れば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すた
めに音叉状の振動片を利用し,その音叉状振動片上に測
定電極を設置して,チョッパ型のように音叉状振動片を
振動させ,測定電極を直接的に振動させて測定電極の被
測定体に対向する面積を変化させることにより,被測定
体と測定電極間の静電容量の変化から比較的簡単な構成
で小型かつ安価に表面電位を計測することができるとい
うものである。
れば,被測定体の表面電位を交流信号として取り出すた
めに音叉状の振動片を利用し,その音叉状振動片上に測
定電極を設置して,チョッパ型のように音叉状振動片を
振動させ,測定電極を直接的に振動させて測定電極の被
測定体に対向する面積を変化させることにより,被測定
体と測定電極間の静電容量の変化から比較的簡単な構成
で小型かつ安価に表面電位を計測することができるとい
うものである。
【0020】しかしながら,特開昭60−55273号
公報に開示された表面電位センサも前記と同様に,音叉
振動子とは別体に測定電極を設ける必要があるため,部
品点数が増加すると共にコストが高くなる。また,測定
電極を音叉状振動片上に設置した場合,特開昭60−1
20267号公報に開示された発明について説明したよ
うに,測定電極の信号線や音叉状振動片の駆動手段に関
する問題がある。
公報に開示された表面電位センサも前記と同様に,音叉
振動子とは別体に測定電極を設ける必要があるため,部
品点数が増加すると共にコストが高くなる。また,測定
電極を音叉状振動片上に設置した場合,特開昭60−1
20267号公報に開示された発明について説明したよ
うに,測定電極の信号線や音叉状振動片の駆動手段に関
する問題がある。
【0021】また,前述したいずれの装置も,被測定体
の表面電位を交流信号として取り出すために音叉を振動
子として利用している。したがって,更に高感度にSN
比を向上させて表面電位を検出しようとするためには,
音叉の振動の振幅をさらに大きくする必要がある。その
方法として音叉の機械的共振振動を利用する方法や音叉
の長手方向の長さを長くするという方法が考えられる
が,機械的共振振動を利用する場合は共振点(共振周波
数)が非常に不安定である。よって,その振動の振幅値
に応じて得られる表面電位検出信号も非常に不安定な信
号値として得られるため,正確な表面電位を検出するこ
とが比較的困難となる。また,音叉の長手方向を長くす
る場合は,センサプローブ形状が大きくなるという問題
がある。
の表面電位を交流信号として取り出すために音叉を振動
子として利用している。したがって,更に高感度にSN
比を向上させて表面電位を検出しようとするためには,
音叉の振動の振幅をさらに大きくする必要がある。その
方法として音叉の機械的共振振動を利用する方法や音叉
の長手方向の長さを長くするという方法が考えられる
が,機械的共振振動を利用する場合は共振点(共振周波
数)が非常に不安定である。よって,その振動の振幅値
に応じて得られる表面電位検出信号も非常に不安定な信
号値として得られるため,正確な表面電位を検出するこ
とが比較的困難となる。また,音叉の長手方向を長くす
る場合は,センサプローブ形状が大きくなるという問題
がある。
【0022】更に,音叉を振動させる手段として圧電材
料を採用し,それを音叉に取り付けたものが前記公報等
に開示されている。ところが,圧電材料は機械的応力に
弱いため,材料にひび(クラック)が入ったり,割れた
りすることがある。また,圧電材料へ過電圧を印加した
場合には,材料の分極が壊れ,測定電極が変動しなくな
るという問題がある。加えて,圧電材料は一般に特殊な
材料であるため,比較的高価であると共に材料の変動幅
が周囲の環境(特に温度等)に影響され易く,測定値が
不安定になり易いという問題がある。
料を採用し,それを音叉に取り付けたものが前記公報等
に開示されている。ところが,圧電材料は機械的応力に
弱いため,材料にひび(クラック)が入ったり,割れた
りすることがある。また,圧電材料へ過電圧を印加した
場合には,材料の分極が壊れ,測定電極が変動しなくな
るという問題がある。加えて,圧電材料は一般に特殊な
材料であるため,比較的高価であると共に材料の変動幅
が周囲の環境(特に温度等)に影響され易く,測定値が
不安定になり易いという問題がある。
【0023】更に,前述したいずれの装置においても,
被測定体と測定電極との間の静電容量は,被測定体と測
定距離との測定距離の逆数に比例するため,得られる出
力値が測定距離に大きく依存して変化する。したがっ
て,例えば複写機等の感光体ドラムのように動いている
比測定体の表面電位を測定する場合,出力値の変動が測
定距離によるものなのか,あるいは被測定体の表面電位
分布によるものなのか判断できないという問題が生じ
る。よって,被測定体の表面電位を正確に得ることは困
難である。
被測定体と測定電極との間の静電容量は,被測定体と測
定距離との測定距離の逆数に比例するため,得られる出
力値が測定距離に大きく依存して変化する。したがっ
て,例えば複写機等の感光体ドラムのように動いている
比測定体の表面電位を測定する場合,出力値の変動が測
定距離によるものなのか,あるいは被測定体の表面電位
分布によるものなのか判断できないという問題が生じ
る。よって,被測定体の表面電位を正確に得ることは困
難である。
【0024】以上のような問題を解決する目的で,特願
平6−244339号において,被測定体と測定電極と
の間の静電容量を変化させる手段としてボイスコイルを
使用し,ボイスコイルを駆動して測定電極の電位から異
なる2つ以上の出力信号を検知し,その出力信号から正
確な表面電位を得ることができる表面電位測定装置が提
案された。
平6−244339号において,被測定体と測定電極と
の間の静電容量を変化させる手段としてボイスコイルを
使用し,ボイスコイルを駆動して測定電極の電位から異
なる2つ以上の出力信号を検知し,その出力信号から正
確な表面電位を得ることができる表面電位測定装置が提
案された。
【0025】しかしながら,特願平6−244339号
の表面電位測定装置においても,前述した発明と同様に
ボイスコイルの振動子とは別体に測定電極が必要なた
め,部品点数が増加すると共にコストが高くなる。ま
た,測定電極をボイスコイルの振動子上に設置した場
合,前記特開昭60−120267号公報に開示された
発明について説明したように,測定電極の信号線やボイ
スコイル振動子の駆動手段に関する問題が存在する。更
に,ボイスコイルを使用した場合では,前記測定電極の
信号線と同様にソレノイドコイルを駆動するための駆動
信号線が与える振動子の振動特性への影響や断線等の問
題を抱えている。
の表面電位測定装置においても,前述した発明と同様に
ボイスコイルの振動子とは別体に測定電極が必要なた
め,部品点数が増加すると共にコストが高くなる。ま
た,測定電極をボイスコイルの振動子上に設置した場
合,前記特開昭60−120267号公報に開示された
発明について説明したように,測定電極の信号線やボイ
スコイル振動子の駆動手段に関する問題が存在する。更
に,ボイスコイルを使用した場合では,前記測定電極の
信号線と同様にソレノイドコイルを駆動するための駆動
信号線が与える振動子の振動特性への影響や断線等の問
題を抱えている。
【0026】したがって,本発明は上記に鑑みてなされ
たものであって,SN比と信頼性を向上させ,安定した
高感度な測定ができる簡単な構成で小型かつ安価な表面
電位測定装置を提供することを目的とする。
たものであって,SN比と信頼性を向上させ,安定した
高感度な測定ができる簡単な構成で小型かつ安価な表面
電位測定装置を提供することを目的とする。
【0027】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め,本発明の請求項1の表面電位測定装置は,被測定体
から所定の間隔を隔てた位置に前記被測定体と電気的に
独立して設けられた振動部材からなる測定電極と,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と振動部材からなる
前記測定電極との間で形成される静電容量を変化させる
容量変化手段と,前記被測定体の表面電位に対応して誘
起される前記静電容量の変化に伴って変化する前記測定
電極の電位を検出する電位検出手段と,前記電位検出手
段の検出信号から前記被測定体の表面電位を導き出す表
面電位導出手段と,を備えたものである。
め,本発明の請求項1の表面電位測定装置は,被測定体
から所定の間隔を隔てた位置に前記被測定体と電気的に
独立して設けられた振動部材からなる測定電極と,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と振動部材からなる
前記測定電極との間で形成される静電容量を変化させる
容量変化手段と,前記被測定体の表面電位に対応して誘
起される前記静電容量の変化に伴って変化する前記測定
電極の電位を検出する電位検出手段と,前記電位検出手
段の検出信号から前記被測定体の表面電位を導き出す表
面電位導出手段と,を備えたものである。
【0028】また,本発明の請求項2の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
振動部材の節部又は固定部より前記測定電極の電位信号
を取り出すものである。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
振動部材の節部又は固定部より前記測定電極の電位信号
を取り出すものである。
【0029】また,本発明の請求項3の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定電極との
間で形成される静電容量を変化させる容量変化手段とし
て電磁コイルを用いるものである。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定電極との
間で形成される静電容量を変化させる容量変化手段とし
て電磁コイルを用いるものである。
【0030】また,本発明の請求項4の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定電極との
間で形成される静電容量を変化させる容量変化手段とし
てボイスコイルを用いるものである。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定電極との
間で形成される静電容量を変化させる容量変化手段とし
てボイスコイルを用いるものである。
【0031】また,本発明の請求項5の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
電位検出手段の前記検出信号から少なくとも2つ以上の
出力信号を検知する出力検知手段を備えたものである。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前記
電位検出手段の前記検出信号から少なくとも2つ以上の
出力信号を検知する出力検知手段を備えたものである。
【0032】また,本発明の請求項6の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,絶縁
層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成するもの
である。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,絶縁
層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成するもの
である。
【0033】また,本発明の請求項7の表面電位測定装
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,絶縁
体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振動部材を
構成するものである。
置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,絶縁
体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振動部材を
構成するものである。
【0034】また,本発明の請求項8の表面電位測定装
置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,絶縁
層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成し,前記
振動部材の節又は固定部より前記ボイスコイルの駆動信
号を印加するものである。
置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,絶縁
層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成し,前記
振動部材の節又は固定部より前記ボイスコイルの駆動信
号を印加するものである。
【0035】また,本発明の請求項9の表面電位測定装
置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,絶縁
体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振動部材を
構成し,前記振動部材の節又は固定部より前記ボイスコ
イルの駆動信号を印加するものである。
置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,絶縁
体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振動部材を
構成し,前記振動部材の節又は固定部より前記ボイスコ
イルの駆動信号を印加するものである。
【0036】また,本発明の請求項10の表面電位測定
装置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前
記振動部材の一端を固定し,前記被測定体に近接するよ
うに前記振動部材の他端を形成するものである。
装置は,請求項1記載の表面電位測定装置において,前
記振動部材の一端を固定し,前記被測定体に近接するよ
うに前記振動部材の他端を形成するものである。
【0037】更に,本発明の請求項11の表面電位測定
装置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,前
記ボイスコイルに使用される永久磁石の周囲に高透磁率
部材を配置し,前記永久磁石と磁気回路を形成して前記
振動部材を駆動するものである。
装置は,請求項4記載の表面電位測定装置において,前
記ボイスコイルに使用される永久磁石の周囲に高透磁率
部材を配置し,前記永久磁石と磁気回路を形成して前記
振動部材を駆動するものである。
【0038】
【発明の実施の形態】まず,本発明の実施の形態の説明
に先立ち,従来の非接触型の機械的手段による表面電位
測定装置の測定原理を説明する。図37は,従来の表面
電位測定装置の構成を示すブロック図であり,図37
(a)はチョッパ型の表面電位測定装置,図37(b)
は振動容量型の表面電位測定装置を示している。
に先立ち,従来の非接触型の機械的手段による表面電位
測定装置の測定原理を説明する。図37は,従来の表面
電位測定装置の構成を示すブロック図であり,図37
(a)はチョッパ型の表面電位測定装置,図37(b)
は振動容量型の表面電位測定装置を示している。
【0039】図37(a)に示すようにチョッパ型の表
面電位測定装置においては,測定電極1を被測定体2に
対向して配置し,被測定体2と測定電極1との間にチョ
ッパ電極3を設ける。そして,チョッパ電極3を図中矢
印の方向に振動させて,被測定体2から測定電極1に入
射する電気力線を周期的に遮断し,被測定体2と測定電
極1との間に生じる静電容量C0 を変化させる。
面電位測定装置においては,測定電極1を被測定体2に
対向して配置し,被測定体2と測定電極1との間にチョ
ッパ電極3を設ける。そして,チョッパ電極3を図中矢
印の方向に振動させて,被測定体2から測定電極1に入
射する電気力線を周期的に遮断し,被測定体2と測定電
極1との間に生じる静電容量C0 を変化させる。
【0040】また,図37(b)に示すように振動容量
型の表面電位測定装置においては,測定電極1を前記チ
ョッパ型の表面電位測定装置と同様に被測定体2に対向
して配置する。そして,測定電極1を被測定体2と対向
する方向に周期的に振動させて,被測定体2と測定電極
1との間に生じる静電容量C0 を変化させる。
型の表面電位測定装置においては,測定電極1を前記チ
ョッパ型の表面電位測定装置と同様に被測定体2に対向
して配置する。そして,測定電極1を被測定体2と対向
する方向に周期的に振動させて,被測定体2と測定電極
1との間に生じる静電容量C0 を変化させる。
【0041】このようにいずれの装置においても,被測
定体2と測定電極1との間に生じる静電容量C0 を機械
的に周期的に変化させる。この静電容量の変化に応じて
測定電極1上に誘起される微少な電荷の量が変化する。
この電荷の量の変化を電位信号検出部4において交流信
号として検出し,信号増幅部5においてその交流信号を
増幅して被測定体2の表面電位に応じた出力信号を得
る。
定体2と測定電極1との間に生じる静電容量C0 を機械
的に周期的に変化させる。この静電容量の変化に応じて
測定電極1上に誘起される微少な電荷の量が変化する。
この電荷の量の変化を電位信号検出部4において交流信
号として検出し,信号増幅部5においてその交流信号を
増幅して被測定体2の表面電位に応じた出力信号を得
る。
【0042】ここで,前記静電容量C0 は,測定電極1
の実効面積をS,被測定体2と測定電極1との間の測定
距離をL,空気の誘電率をεair とすると,(1)式の
ように表される。
の実効面積をS,被測定体2と測定電極1との間の測定
距離をL,空気の誘電率をεair とすると,(1)式の
ように表される。
【0043】C0 =εair (S/L) … (1)
【0044】機械的な表面電位測定装置は,(1)式の
S又はLを変化させてC0 の値を変化させている。Sを
変化させるものがチョッパ型,Lを変化させるものが振
動容量型の表面電位測定装置である。周期的な機械振動
により生ずるC0 の変化量CC が近似的に(2)式で与
えられたとすると,被測定体が持つ表面電位VS により
測定電極上に誘起される電荷QC は(3)式で与えられ
る。 CC =α0 ・C0 ・sinωt … (2) QC =CC ・VS … (3)
S又はLを変化させてC0 の値を変化させている。Sを
変化させるものがチョッパ型,Lを変化させるものが振
動容量型の表面電位測定装置である。周期的な機械振動
により生ずるC0 の変化量CC が近似的に(2)式で与
えられたとすると,被測定体が持つ表面電位VS により
測定電極上に誘起される電荷QC は(3)式で与えられ
る。 CC =α0 ・C0 ・sinωt … (2) QC =CC ・VS … (3)
【0045】ただし,tは変化時間,ωは振動の角周波
数,α0 は前記静電容量C0 の変化率を示す。したがっ
て,測定電極に生じる電流IC は,式(2)及び(3)
より, IC =dQC /dt=α0 ・ω・C0 ・VS ・cosωt … (4) と表され,よって測定電極から得られる出力信号V0 は
近似的に, V0 =A0 ・α0 ・ω・C0 ・VS ・cosωt … (5) と表される。ただし,A0 は増幅度に関する定数を表
す。
数,α0 は前記静電容量C0 の変化率を示す。したがっ
て,測定電極に生じる電流IC は,式(2)及び(3)
より, IC =dQC /dt=α0 ・ω・C0 ・VS ・cosωt … (4) と表され,よって測定電極から得られる出力信号V0 は
近似的に, V0 =A0 ・α0 ・ω・C0 ・VS ・cosωt … (5) と表される。ただし,A0 は増幅度に関する定数を表
す。
【0046】次に,本発明に係る表面電位測定装置の実
施の形態を図面を参照しつつ詳細に説明する。
施の形態を図面を参照しつつ詳細に説明する。
【0047】〔実施の形態1〕図1は,実施の形態1に
係る表面電位測定装置の概略構成を示すブロック図であ
る。図1に示す表面電位測定装置は,図37(a)に基
づいて説明したチョッパ型の表面電位測定装置に類似し
た原理を用いたものである。
係る表面電位測定装置の概略構成を示すブロック図であ
る。図1に示す表面電位測定装置は,図37(a)に基
づいて説明したチョッパ型の表面電位測定装置に類似し
た原理を用いたものである。
【0048】表面電位測定装置6では,図37(a)の
測定電極1として片持ち梁状の振動部材7を用いる。そ
して,この表面電位測定装置6は,電界方向(矢印記号
B)からの被測定体の表面電位信号を振動部材7の電位
感受面9で受けつつ,振動駆動部8により図1中の矢印
A方向に振動部材7振動させることにより,チョッパ電
極のように電位感受面9に入射する電気力線を周期的に
遮断して被測定体2と振動部材1との間に生じる静電容
量を変化させ,固定部材10で固定された振動部材7の
固定端11から電位信号検出部4を通じて静電容量の変
化を電位検出信号として取り出すものである。
測定電極1として片持ち梁状の振動部材7を用いる。そ
して,この表面電位測定装置6は,電界方向(矢印記号
B)からの被測定体の表面電位信号を振動部材7の電位
感受面9で受けつつ,振動駆動部8により図1中の矢印
A方向に振動部材7振動させることにより,チョッパ電
極のように電位感受面9に入射する電気力線を周期的に
遮断して被測定体2と振動部材1との間に生じる静電容
量を変化させ,固定部材10で固定された振動部材7の
固定端11から電位信号検出部4を通じて静電容量の変
化を電位検出信号として取り出すものである。
【0049】以下に,実施の形態1に係る表面電位測定
装置の具体的構成例を実施例として説明する。
装置の具体的構成例を実施例として説明する。
【0050】(実施例1)図2は,振動部材7の振動駆
動部8にボイスコイル12を使用した表面電位測定装置
の構成例を示し,図2(a)は表面電位測定装置の側面
図,図2(b)は上面図である。
動部8にボイスコイル12を使用した表面電位測定装置
の構成例を示し,図2(a)は表面電位測定装置の側面
図,図2(b)は上面図である。
【0051】なお,本発明においてボイスコイルとは,
電磁コイルと弾性体とで構成されるものであって,電磁
コイルの変動を変動源として,その変動幅を弾性体で制
限するものをいう。本発明の場合,特にボイスコイルと
はムービングコイル方式を指し,振動部材がその弾性部
材となる。弾性体として金属,樹脂及びゴム材等を用い
ることができるが,本発明の場合,金属性の梁状の板バ
ネからなる弾性体を振動部材7として用いる方が最も安
価で簡単な構成で済むため好ましい。以下,本発明の実
施の形態においては,梁状の板バネの振動部材を用いた
例を中心に説明する。
電磁コイルと弾性体とで構成されるものであって,電磁
コイルの変動を変動源として,その変動幅を弾性体で制
限するものをいう。本発明の場合,特にボイスコイルと
はムービングコイル方式を指し,振動部材がその弾性部
材となる。弾性体として金属,樹脂及びゴム材等を用い
ることができるが,本発明の場合,金属性の梁状の板バ
ネからなる弾性体を振動部材7として用いる方が最も安
価で簡単な構成で済むため好ましい。以下,本発明の実
施の形態においては,梁状の板バネの振動部材を用いた
例を中心に説明する。
【0052】図2(a)及び図2(b)に示す表面電位
測定装置においては,電位測定窓15を有する電界遮蔽
用のシールドケース14内に電位感受面9を有する板バ
ネとしての振動部材7の一端を絶縁性の固定部材10で
固定し,振動部材7を片持ち梁状に設置する。ボイスコ
イル12のムービングコイル方式を利用し,振動部材
(板バネ)7を弾性体としてこれに空心のソレノイドコ
イル16を取り付け,ソレノイドコイル16に交流信号
を印加することによりソレノイドコイル16に電流が流
れ,電流により発生する磁場と永久磁石17の永久磁場
との相互作用によりソレノイドコイル16が変動し,片
持ち梁状の振動部材7(板バネ)が矢印A方向に振動す
る。振動部材7の振動により電位感受面9を振動させつ
つ,シールドケース14の電位測定窓15を介して電界
方向(矢印B)からの被測定体2の表面電位信号を電位
感受面9で受ける。その結果,電位感受面9で生じる誘
導電荷の変化を表面電位信号として振動部材7の固定端
11に接続された電位信号検出部4で検出し,検出信号
としてシールドケース14外部へ取り出すことができ
る。
測定装置においては,電位測定窓15を有する電界遮蔽
用のシールドケース14内に電位感受面9を有する板バ
ネとしての振動部材7の一端を絶縁性の固定部材10で
固定し,振動部材7を片持ち梁状に設置する。ボイスコ
イル12のムービングコイル方式を利用し,振動部材
(板バネ)7を弾性体としてこれに空心のソレノイドコ
イル16を取り付け,ソレノイドコイル16に交流信号
を印加することによりソレノイドコイル16に電流が流
れ,電流により発生する磁場と永久磁石17の永久磁場
との相互作用によりソレノイドコイル16が変動し,片
持ち梁状の振動部材7(板バネ)が矢印A方向に振動す
る。振動部材7の振動により電位感受面9を振動させつ
つ,シールドケース14の電位測定窓15を介して電界
方向(矢印B)からの被測定体2の表面電位信号を電位
感受面9で受ける。その結果,電位感受面9で生じる誘
導電荷の変化を表面電位信号として振動部材7の固定端
11に接続された電位信号検出部4で検出し,検出信号
としてシールドケース14外部へ取り出すことができ
る。
【0053】なお,図2(a)及び(b)において,1
9は検出信号線であって振動部材と信号検出部18とを
接続するために用いられ,20は駆動信号線であってボ
イスコイルに駆動電力を供給するためのものであり,更
に21は電位信号線であって信号検出部18で検出され
た電位信号を伝送するために用いられるものである。
9は検出信号線であって振動部材と信号検出部18とを
接続するために用いられ,20は駆動信号線であってボ
イスコイルに駆動電力を供給するためのものであり,更
に21は電位信号線であって信号検出部18で検出され
た電位信号を伝送するために用いられるものである。
【0054】実施例1において,測定電極として用いら
れる振動部材7の実効面積Sは,振動部材7の電位感受
面9の面積とシールドケース14に設けられた電位測定
窓15の面積との相対関係から電位感受面9が被測定体
2表面にさらされる面積で決定される。また,被測定体
2から受ける電位感受面9上の誘導電荷の量が変化する
ように振動部材7を振動させる必要がある。更に,振動
部材7からの電位信号を検出するため,図2に示すよう
に振動部材7の固定端11より検出信号線19を導き出
し,これを電位信号検出部4に接続することが望まし
い。
れる振動部材7の実効面積Sは,振動部材7の電位感受
面9の面積とシールドケース14に設けられた電位測定
窓15の面積との相対関係から電位感受面9が被測定体
2表面にさらされる面積で決定される。また,被測定体
2から受ける電位感受面9上の誘導電荷の量が変化する
ように振動部材7を振動させる必要がある。更に,振動
部材7からの電位信号を検出するため,図2に示すよう
に振動部材7の固定端11より検出信号線19を導き出
し,これを電位信号検出部4に接続することが望まし
い。
【0055】実施例1からも明らかなように,実施の形
態1の表面電位測定装置では,図37(a)に示す従来
のチョッパ型の表面電位測定装置のようにチョッパ電極
3とは別体に測定電極1を設ける必要がないため,更に
小型,低コストの表面電位測定装置を得ることができ
る。
態1の表面電位測定装置では,図37(a)に示す従来
のチョッパ型の表面電位測定装置のようにチョッパ電極
3とは別体に測定電極1を設ける必要がないため,更に
小型,低コストの表面電位測定装置を得ることができ
る。
【0056】(実施例2)実施例1では振動部材7とし
て片持ち梁状のものを用いたが,実施例2として図3に
示すように,音叉状の振動部材22を振動部材7として
利用することができる。すなわち,実施例2の表面電位
測定装置は,外部から振動駆動部8で音叉状振動部材2
2を矢印A方向に振動させ,被測定体2(図3において
図示せず)の電界方向(B方向)からの表面電位信号を
音叉状振動部材22の電位感受面9で受けるという構成
を有している。実施例2においても,振動駆動部8とし
て前述したボイスコイルを用いることができる。
て片持ち梁状のものを用いたが,実施例2として図3に
示すように,音叉状の振動部材22を振動部材7として
利用することができる。すなわち,実施例2の表面電位
測定装置は,外部から振動駆動部8で音叉状振動部材2
2を矢印A方向に振動させ,被測定体2(図3において
図示せず)の電界方向(B方向)からの表面電位信号を
音叉状振動部材22の電位感受面9で受けるという構成
を有している。実施例2においても,振動駆動部8とし
て前述したボイスコイルを用いることができる。
【0057】なお,振動部材7の形状は実施例1及び2
に示すものに限られるわけではない。ただし,振動部材
7として音叉状振動部材22を使用した場合,振動部材
7からの電位信号を取り出すための検出信号線19は,
図3に示すように音叉状振動部材22の振動の節となる
節部23より導き出すことが望ましい。
に示すものに限られるわけではない。ただし,振動部材
7として音叉状振動部材22を使用した場合,振動部材
7からの電位信号を取り出すための検出信号線19は,
図3に示すように音叉状振動部材22の振動の節となる
節部23より導き出すことが望ましい。
【0058】また,実施例1及び2の表面電位検出装置
において,振動部材7を振動させる振動駆動部8として
ボイスコイル12を使用したが,図4(a)又は図4
(b)に示すように,プランジャー振動型の電磁コイル
25で片持ち梁状又は音叉状の振動部材7を振動させる
こともできる。
において,振動部材7を振動させる振動駆動部8として
ボイスコイル12を使用したが,図4(a)又は図4
(b)に示すように,プランジャー振動型の電磁コイル
25で片持ち梁状又は音叉状の振動部材7を振動させる
こともできる。
【0059】次に,実施例1及び2の表面電位測定装置
の特性を比較する。チョッパ型の表面電位検出装置の場
合,静電容量C0 の変化率α0 は, α0 =ΔS/S … (6) と表される。ただし,ΔSは電位感受面の実効面積の変
化分を表す。
の特性を比較する。チョッパ型の表面電位検出装置の場
合,静電容量C0 の変化率α0 は, α0 =ΔS/S … (6) と表される。ただし,ΔSは電位感受面の実効面積の変
化分を表す。
【0060】ここで,SN比を向上させるには,ΔSを
増加させれば良い。ΔSを増加させる手段として,ボイ
スコイル12の利用は有効である。すなわち,実施例1
及び2において,振動部材7がボイスコイル12の電磁
コイル部(ソレノイドコイル16)に取り付けられ,電
磁コイルの変動に伴い振動部材7が変動する。
増加させれば良い。ΔSを増加させる手段として,ボイ
スコイル12の利用は有効である。すなわち,実施例1
及び2において,振動部材7がボイスコイル12の電磁
コイル部(ソレノイドコイル16)に取り付けられ,電
磁コイルの変動に伴い振動部材7が変動する。
【0061】振動部材7として,図2及び図3に示す梁
状振動部材を用いた表面電位検出装置と音叉状振動部材
22を用いた表面電位検出装置とにおいて振動部材7の
変動の変化幅を比較した場合,梁状振動部材を用いた装
置の方が音叉状振動部材22を用いた方に対し10倍以
上大きな変動幅を得ることができる。したがって,変化
幅の大きさに応じて得られる表面電位検出信号について
も,梁状振動部材を用いた方が音叉状振動部材22を用
いた方に対し10倍以上大きなものが得られ,その検出
信号の大きさに応じてSN比を向上させることができ
る。
状振動部材を用いた表面電位検出装置と音叉状振動部材
22を用いた表面電位検出装置とにおいて振動部材7の
変動の変化幅を比較した場合,梁状振動部材を用いた装
置の方が音叉状振動部材22を用いた方に対し10倍以
上大きな変動幅を得ることができる。したがって,変化
幅の大きさに応じて得られる表面電位検出信号について
も,梁状振動部材を用いた方が音叉状振動部材22を用
いた方に対し10倍以上大きなものが得られ,その検出
信号の大きさに応じてSN比を向上させることができ
る。
【0062】なお,ボイスコイル12を駆動するための
電圧又は電流として,直流又は周期的に変化する電圧も
しくは電流を使用することができる。
電圧又は電流として,直流又は周期的に変化する電圧も
しくは電流を使用することができる。
【0063】(実施例3)実施例3として,ボイスコイ
ル12の構成例を説明する。図5(a)〜(f)は,チ
ョッパタイプの表面電位測定装置の振動駆動部8にボイ
スコイル12を使用した場合の例を示す表面電位測定装
置の上面図である。なお,図5(a)は,図2に示した
表面電位測定装置と同様の構成を示している。
ル12の構成例を説明する。図5(a)〜(f)は,チ
ョッパタイプの表面電位測定装置の振動駆動部8にボイ
スコイル12を使用した場合の例を示す表面電位測定装
置の上面図である。なお,図5(a)は,図2に示した
表面電位測定装置と同様の構成を示している。
【0064】ボイスコイルの電磁コイル部24は,ソレ
ノイドコイル16と永久磁石17とから構成され,その
構成方法により図5(a)〜(f)に示すものがある。
電磁コイル部24では,ソレノイドコイル16に直流又
は時間的に変化する電圧若しくは電流を印加することに
より,ソレノイドコイル16周囲で印加電圧あるいは印
加電流に応じた磁場が発生し,その磁場と永久磁石17
から発生される永久磁場との相互作用により,ソレノイ
ドコイル16側あるいは永久磁石17側が変動する。そ
の変動の大きさは,電磁コイル部24に取り付けられた
板バネである振動部材7によって制限される。
ノイドコイル16と永久磁石17とから構成され,その
構成方法により図5(a)〜(f)に示すものがある。
電磁コイル部24では,ソレノイドコイル16に直流又
は時間的に変化する電圧若しくは電流を印加することに
より,ソレノイドコイル16周囲で印加電圧あるいは印
加電流に応じた磁場が発生し,その磁場と永久磁石17
から発生される永久磁場との相互作用により,ソレノイ
ドコイル16側あるいは永久磁石17側が変動する。そ
の変動の大きさは,電磁コイル部24に取り付けられた
板バネである振動部材7によって制限される。
【0065】実施例3では,電磁コイル部24の構成と
して主として永久磁石17を用いた場合について説明す
る。ただし,永久磁石17に代えてソレノイドコイルを
使用し,そのソレノイドコイルに直流又は時間的に変化
する電圧若しくは電流を印加し,2つのソレノイドコイ
ルから発生される磁場の相互作用を利用してどちらか一
方のソレノイドコイルを変動させる構成とすることもで
きる。
して主として永久磁石17を用いた場合について説明す
る。ただし,永久磁石17に代えてソレノイドコイルを
使用し,そのソレノイドコイルに直流又は時間的に変化
する電圧若しくは電流を印加し,2つのソレノイドコイ
ルから発生される磁場の相互作用を利用してどちらか一
方のソレノイドコイルを変動させる構成とすることもで
きる。
【0066】なお,図5(a)〜(f)において,ボイ
スコイル12のソレノイドコイル16及び永久磁石17
の形状として円筒又は円柱を想定したが,角筒又は角柱
としても問題なくソレノイドコイル16又は永久磁石1
7のいずれか一方を変動させることができる。また,板
バネである振動部材7は,2枚であっても変動させるこ
とが可能である。振動部材7の支持については,必ずし
も一端のみで支持しなければならないわけではなく,両
端で支持する構成とすることもでき,両端で支持したと
しても十分振動部材7を変動させることが可能である。
永久磁石17の磁極方向は,ソレノイドコイル16の軸
方向とほぼ平行か垂直のどちらであっても振動部材7を
変動させることができる。
スコイル12のソレノイドコイル16及び永久磁石17
の形状として円筒又は円柱を想定したが,角筒又は角柱
としても問題なくソレノイドコイル16又は永久磁石1
7のいずれか一方を変動させることができる。また,板
バネである振動部材7は,2枚であっても変動させるこ
とが可能である。振動部材7の支持については,必ずし
も一端のみで支持しなければならないわけではなく,両
端で支持する構成とすることもでき,両端で支持したと
しても十分振動部材7を変動させることが可能である。
永久磁石17の磁極方向は,ソレノイドコイル16の軸
方向とほぼ平行か垂直のどちらであっても振動部材7を
変動させることができる。
【0067】また,ボイスコイルの変動方法としては,
図5(a)〜(f)に示すように永久磁石17を固定し
ソレノイドコイル16を変動させて振動部材7を変動さ
せる方法(図5(a),(c),(e))とソレノイド
コイル16を固定し永久磁石17を変動させて振動部材
7を変動させる方法(図5(b),(d),(f))と
がある。いずれも容易に振動部材7を変動させることが
できる。ただし,小電力で変動速度を高め,表面電位検
出の応答速度を高めるためには,永久磁石17を固定
し,ソレノイドコイル16を変動させて振動部材7を変
動させる方法の方が望ましい。なぜなら,一般に永久磁
石に比べてソレノイドコイルの方が比較的軽量に作製で
きるからであり,軽量であればある程,同じ変動幅を得
るのに弱い磁場を発生させれば済み,かつ変動速度を速
くすることができる。
図5(a)〜(f)に示すように永久磁石17を固定し
ソレノイドコイル16を変動させて振動部材7を変動さ
せる方法(図5(a),(c),(e))とソレノイド
コイル16を固定し永久磁石17を変動させて振動部材
7を変動させる方法(図5(b),(d),(f))と
がある。いずれも容易に振動部材7を変動させることが
できる。ただし,小電力で変動速度を高め,表面電位検
出の応答速度を高めるためには,永久磁石17を固定
し,ソレノイドコイル16を変動させて振動部材7を変
動させる方法の方が望ましい。なぜなら,一般に永久磁
石に比べてソレノイドコイルの方が比較的軽量に作製で
きるからであり,軽量であればある程,同じ変動幅を得
るのに弱い磁場を発生させれば済み,かつ変動速度を速
くすることができる。
【0068】なお,ソレノイドコイル16の形状を維持
するためにコイルボビンを利用したり,あるいはコイル
ボビンをなくして導電線のみの空心コイルとして変動さ
せることも可能である。図5(c)及び(e)に示すよ
うに永久磁石17をソレノイドコイル16の外側に配置
する構成とすることで,小型で軽量のボイスコイルを得
ることができ,その組立も容易に行うことができる。
するためにコイルボビンを利用したり,あるいはコイル
ボビンをなくして導電線のみの空心コイルとして変動さ
せることも可能である。図5(c)及び(e)に示すよ
うに永久磁石17をソレノイドコイル16の外側に配置
する構成とすることで,小型で軽量のボイスコイルを得
ることができ,その組立も容易に行うことができる。
【0069】(実施例4)実施例4として,信号線が振
動部材の振動特性に影響を与えること及び断線すること
を防止するための構成について説明する。
動部材の振動特性に影響を与えること及び断線すること
を防止するための構成について説明する。
【0070】図6は,振動駆動部8にボイスコイルを使
用した場合のソレノイドコイル16と駆動信号線20と
の要部を示している。ボイスコイルでムービングコイル
方式(ソレノイドコイルを変動させる方式)を採用した
場合,装置構成が小型で安価となり,小さな駆動電力で
応答速度が高い等の利点がある。通常,ボイスコイルで
利用されるソレノイドコイル16とボイスコイルを駆動
するための駆動信号線20は同一で一体の線材が使用さ
れる。この場合において,駆動信号線20のバネ定数
は,振動部材7のバネ定数よりも十分小さい値のものを
使用することが望ましい。なぜなら,ソレノイドコイル
16の駆動信号線20は,図6に示すように振動部材7
とは別体となっており,振動部材7の振動と同期しない
からである。例えば矢印A方向に振動部材7を振動させ
る場合,駆動信号線20は,振動部材7の振動特性に影
響を及ぼし,不安定な振動を与えると共に最悪の場合は
駆動信号線20が断線する等の問題を生じる。
用した場合のソレノイドコイル16と駆動信号線20と
の要部を示している。ボイスコイルでムービングコイル
方式(ソレノイドコイルを変動させる方式)を採用した
場合,装置構成が小型で安価となり,小さな駆動電力で
応答速度が高い等の利点がある。通常,ボイスコイルで
利用されるソレノイドコイル16とボイスコイルを駆動
するための駆動信号線20は同一で一体の線材が使用さ
れる。この場合において,駆動信号線20のバネ定数
は,振動部材7のバネ定数よりも十分小さい値のものを
使用することが望ましい。なぜなら,ソレノイドコイル
16の駆動信号線20は,図6に示すように振動部材7
とは別体となっており,振動部材7の振動と同期しない
からである。例えば矢印A方向に振動部材7を振動させ
る場合,駆動信号線20は,振動部材7の振動特性に影
響を及ぼし,不安定な振動を与えると共に最悪の場合は
駆動信号線20が断線する等の問題を生じる。
【0071】そこで,駆動信号線20が振動部材7の振
動特性に影響を及ぼす場合には,図7に示すように信号
部材7を絶縁層26を介した複数の導電層27で構成
し,それを一つの振動部材として利用することができ
る。例えば一つの導電層27を測定電極として利用し,
残りの導電層27を利用してソレノイドコイル16に駆
動信号を印加するような構成とする。この場合,駆動信
号線20が一体となっているため,矢印A方向に振動部
材7を振動させる場合であっても駆動信号線20は振動
部材7に何ら影響を与えず,安定した振動を得ることが
できる。
動特性に影響を及ぼす場合には,図7に示すように信号
部材7を絶縁層26を介した複数の導電層27で構成
し,それを一つの振動部材として利用することができ
る。例えば一つの導電層27を測定電極として利用し,
残りの導電層27を利用してソレノイドコイル16に駆
動信号を印加するような構成とする。この場合,駆動信
号線20が一体となっているため,矢印A方向に振動部
材7を振動させる場合であっても駆動信号線20は振動
部材7に何ら影響を与えず,安定した振動を得ることが
できる。
【0072】なお,前述した導電層27には金属性物質
を用いることが有効であり,絶縁層26には樹脂材料,
ゴム材料等を用いることができる。
を用いることが有効であり,絶縁層26には樹脂材料,
ゴム材料等を用いることができる。
【0073】(実施例5)実施例5として,信号線が振
動部材の振動特性に影響を与えること及び断線すること
を防止するための他の構成を説明する。
動部材の振動特性に影響を与えること及び断線すること
を防止するための他の構成を説明する。
【0074】図8に示すように振動部材7を絶縁体で構
成し,その表面上に複数の導電体領域28を設け,これ
を一つの振動部材として用いる。これにより,例えば一
つの導電体領域28を測定電極とし,残りの導電体領域
を利用してソレノイドコイル16に駆動信号を印加する
ような構成とすれば,駆動信号線20が振動部材7と一
体となっているため,矢印記号A方向に振動部材7を振
動させる場合でも駆動信号線20は振動部材7の振動特
性に何ら影響を与えず,安定した振動を得ることができ
る。
成し,その表面上に複数の導電体領域28を設け,これ
を一つの振動部材として用いる。これにより,例えば一
つの導電体領域28を測定電極とし,残りの導電体領域
を利用してソレノイドコイル16に駆動信号を印加する
ような構成とすれば,駆動信号線20が振動部材7と一
体となっているため,矢印記号A方向に振動部材7を振
動させる場合でも駆動信号線20は振動部材7の振動特
性に何ら影響を与えず,安定した振動を得ることができ
る。
【0075】なお,導電体領域28には金属性物質を用
いることが有効であり,絶縁体には樹脂材料,ゴム材料
等を用いることができる。
いることが有効であり,絶縁体には樹脂材料,ゴム材料
等を用いることができる。
【0076】前述した図7及び図8に示す実施例4及び
5では,複数の導電層27又は複数の導電体領域28を
測定電極と駆動信号線として利用したが,信頼性を高め
るため,こられの複数の導電層27又は複数の導電体領
域28を全て測定電極として利用することができる。ま
た,駆動信号線20についても,検出信号線19の場合
と同様,図7及び図8に示すように振動部材7の固定端
部11から駆動信号線20を導き出しこれに駆動電圧を
印加する構成とすることが望ましい。
5では,複数の導電層27又は複数の導電体領域28を
測定電極と駆動信号線として利用したが,信頼性を高め
るため,こられの複数の導電層27又は複数の導電体領
域28を全て測定電極として利用することができる。ま
た,駆動信号線20についても,検出信号線19の場合
と同様,図7及び図8に示すように振動部材7の固定端
部11から駆動信号線20を導き出しこれに駆動電圧を
印加する構成とすることが望ましい。
【0077】(実施例6)実施例6として,表面電位測
定装置の検出感度を向上させるための具体的構成を説明
する。
定装置の検出感度を向上させるための具体的構成を説明
する。
【0078】被測定体2の表面電位の検出感度を向上さ
せるためには,図9(a)又は(b)に示すように被測
定体2へ近接する方向に振動部材7の自由端側の高さを
変えるように構成する。これにより,(1)式から明ら
かなように被測定体2との測定距離Lが減少して(S/
L)の値が増加し,静電容量C0 の値を増加できる。更
に,(5)式から導き出されるように,C0 に従い電位
検出信号V0 も増加させることもできるため,被測定体
2の表面電位信号をSN比を良くすると共に検出感度を
向上させて検出することができる。
せるためには,図9(a)又は(b)に示すように被測
定体2へ近接する方向に振動部材7の自由端側の高さを
変えるように構成する。これにより,(1)式から明ら
かなように被測定体2との測定距離Lが減少して(S/
L)の値が増加し,静電容量C0 の値を増加できる。更
に,(5)式から導き出されるように,C0 に従い電位
検出信号V0 も増加させることもできるため,被測定体
2の表面電位信号をSN比を良くすると共に検出感度を
向上させて検出することができる。
【0079】(実施例7)実施例7として,表面電位測
定装置の振動部材を効率良く振動させるための構成を説
明する。
定装置の振動部材を効率良く振動させるための構成を説
明する。
【0080】図10に示すように振動部材7にボイスコ
イルのムービングコイル方式を採用し,振動部材7を矢
印A方向へ振動させる場合,通常はソレノイドコイル1
6の周辺に永久磁石17をソレノイドコイル16の磁場
と永久磁石17の永久磁場とが相互作用するように配置
する。この状態でソレノイドコイル16に交流信号を印
加すれば,ソレノイドコイル16が変動し,振動部材7
を振動させることができる。
イルのムービングコイル方式を採用し,振動部材7を矢
印A方向へ振動させる場合,通常はソレノイドコイル1
6の周辺に永久磁石17をソレノイドコイル16の磁場
と永久磁石17の永久磁場とが相互作用するように配置
する。この状態でソレノイドコイル16に交流信号を印
加すれば,ソレノイドコイル16が変動し,振動部材7
を振動させることができる。
【0081】より少ない駆動電力で効率良く振動部材7
を振動させるためには,図11〜図13に示す構成とす
ることで,従来のものに対し1/10以下の駆動電力で
振動部材7を効率良く振動させることができる。具体的
には,永久磁石17の周囲に高透磁率部材29を配置し
て永久磁石17と磁気回路31を形成し,その磁気回路
31中の一部に空隙30を設けて空隙30中を通る永久
磁場の方向と鎖交する方向にソレノイドコイル16の電
流を流すという構成にすれば良い。
を振動させるためには,図11〜図13に示す構成とす
ることで,従来のものに対し1/10以下の駆動電力で
振動部材7を効率良く振動させることができる。具体的
には,永久磁石17の周囲に高透磁率部材29を配置し
て永久磁石17と磁気回路31を形成し,その磁気回路
31中の一部に空隙30を設けて空隙30中を通る永久
磁場の方向と鎖交する方向にソレノイドコイル16の電
流を流すという構成にすれば良い。
【0082】例えば図11に示す表面電位測定装置は,
ソレノイドコイル16中に永久磁石17を配置し,永久
磁石17の周囲又はその一部に高透磁率部材29で一部
に空隙30を有する磁気回路31を形成し,空隙30中
に磁気回路31と鎖交する方向にソレノイドコイル16
を配置したものである。図11において,ソレノイドコ
イル16に交流信号の駆動信号を印加することにより,
振動部材7を矢印A方向に振動させることができる。空
隙30の長さは短ければ短いほど効率が良く,また,高
透磁率部材29の形状は永久磁石17からの永久磁場が
丁度飽和する磁束密度となる形状が望ましい。
ソレノイドコイル16中に永久磁石17を配置し,永久
磁石17の周囲又はその一部に高透磁率部材29で一部
に空隙30を有する磁気回路31を形成し,空隙30中
に磁気回路31と鎖交する方向にソレノイドコイル16
を配置したものである。図11において,ソレノイドコ
イル16に交流信号の駆動信号を印加することにより,
振動部材7を矢印A方向に振動させることができる。空
隙30の長さは短ければ短いほど効率が良く,また,高
透磁率部材29の形状は永久磁石17からの永久磁場が
丁度飽和する磁束密度となる形状が望ましい。
【0083】なお,高透磁率部材29には,純鉄,鉄を
含む合金,あるいはフェライト等の材料を用いることが
できる。
含む合金,あるいはフェライト等の材料を用いることが
できる。
【0084】図12に示す表面電位測定装置は,ソレノ
イドコイル16中に高透磁率部材29を配置し,ソレノ
イドコイル16の外周又はその一部において高透磁率部
材29と永久磁石17とで一部に空隙30を有する磁気
回路31を形成し,空隙30中に磁気回路31と鎖交す
る方向にソレノイドコイル16を配置したものである。
この表面電位測定装置も図11に示すものと同様な方法
で駆動することができ,磁気回路31として高透磁率部
材29の形状も図11のものと同様な形状とすることが
望ましい。
イドコイル16中に高透磁率部材29を配置し,ソレノ
イドコイル16の外周又はその一部において高透磁率部
材29と永久磁石17とで一部に空隙30を有する磁気
回路31を形成し,空隙30中に磁気回路31と鎖交す
る方向にソレノイドコイル16を配置したものである。
この表面電位測定装置も図11に示すものと同様な方法
で駆動することができ,磁気回路31として高透磁率部
材29の形状も図11のものと同様な形状とすることが
望ましい。
【0085】図13に示す表面電位測定装置は,ソレノ
イドコイル16中に高透磁率部材29を配置し,ソレノ
イドコイル16の外周又はその一部において高透磁率部
材29と永久磁石17とで一部に空隙30を有する磁気
回路31を形成し,空隙30中に磁気回路31と鎖交す
る方向にソレノイドコイル16を配置したものである。
この表面電位測定装置も図11及び図12に示すものと
同様な方法で駆動することができ,磁気回路31として
高透磁率部材29の形状も図11及び図12のものと同
様な形状とすることが望ましい。
イドコイル16中に高透磁率部材29を配置し,ソレノ
イドコイル16の外周又はその一部において高透磁率部
材29と永久磁石17とで一部に空隙30を有する磁気
回路31を形成し,空隙30中に磁気回路31と鎖交す
る方向にソレノイドコイル16を配置したものである。
この表面電位測定装置も図11及び図12に示すものと
同様な方法で駆動することができ,磁気回路31として
高透磁率部材29の形状も図11及び図12のものと同
様な形状とすることが望ましい。
【0086】〔実施の形態2〕図14は,本発明の実施
の形態2に係る表面電位測定装置を示す図である。この
表面電位測定装置6は,従来技術に関し図37(b)で
説明した振動容量型の表面電位測定装置と同様の原理を
用いたものである。
の形態2に係る表面電位測定装置を示す図である。この
表面電位測定装置6は,従来技術に関し図37(b)で
説明した振動容量型の表面電位測定装置と同様の原理を
用いたものである。
【0087】図14において,表面電位測定装置6は,
片持ち梁状の振動部材7を図37(b)に示す測定電極
1のように利用し,振動駆動部8により矢印A方向に振
動させることにより,被測定体2(図14において図示
せず)の表面電位信号を電界方向(矢印B)から振動部
材7の電位感受面9にて受け,電位感受面9を被測定体
2と対向する方向に周期的に振動させることにより,被
測定体2と振動部材7との間に生じる静電容量を変化さ
せ,その変化を振動部材7の固定端11より電位検出部
4を介して電位検出信号として取り出すというものであ
る。この表面電位測定装置6により得られる電位検出信
号は,(5)式で示した出力式と同様のものである。
片持ち梁状の振動部材7を図37(b)に示す測定電極
1のように利用し,振動駆動部8により矢印A方向に振
動させることにより,被測定体2(図14において図示
せず)の表面電位信号を電界方向(矢印B)から振動部
材7の電位感受面9にて受け,電位感受面9を被測定体
2と対向する方向に周期的に振動させることにより,被
測定体2と振動部材7との間に生じる静電容量を変化さ
せ,その変化を振動部材7の固定端11より電位検出部
4を介して電位検出信号として取り出すというものであ
る。この表面電位測定装置6により得られる電位検出信
号は,(5)式で示した出力式と同様のものである。
【0088】(実施例1)図15は,図14に示す表面
電位測定装置6の実施例1を示しており,図15(a)
は側面図,図15(b)は上面図を示している。実施例
1の表面電位測定装置は,振動部材7の振動駆動部8に
ボイスコイル12を使用して被測定体2の表面電位を測
定することができるようにしたものである。
電位測定装置6の実施例1を示しており,図15(a)
は側面図,図15(b)は上面図を示している。実施例
1の表面電位測定装置は,振動部材7の振動駆動部8に
ボイスコイル12を使用して被測定体2の表面電位を測
定することができるようにしたものである。
【0089】実施例1の表面電位測定装置においては,
電位測定窓15を有する電界遮蔽用のシールドケース1
4内に前述した電位感受面9を有する振動部材7の一端
を絶縁性の固定部材10で固定して振動部材7を片持ち
梁状に設置する。ボイスコイル12のムービングコイル
方式を利用して振動部材7を弾性体として空心のソレノ
イドコイル16を取り付け,そのソレノイドコイル16
中に棒状の永久磁石17を設置する。ボイスコイル12
の駆動信号としてソレノイドコイル16に交流信号を印
加することにより,ソレノイドコイル16に電流が流
れ,その電流により発生する磁場と永久磁石17の永久
磁場との相互作用により,片持ち梁状の振動部材7が矢
印A(矢印記号A)方向に振動する。その振動部材7の
振動により電位感受面9が振動し,シールドケース14
の電位測定窓15より被測定体2の表面電位信号を電界
方向(矢印B及び矢印記号B)から電位感受面9にて受
け,電位感受面9にて生じる誘導電荷の変化を表面電位
信号として振動部材7の固定端11から電位信号検出部
4を介して検出信号としてシールドケース14外部へ取
り出すというものである。
電位測定窓15を有する電界遮蔽用のシールドケース1
4内に前述した電位感受面9を有する振動部材7の一端
を絶縁性の固定部材10で固定して振動部材7を片持ち
梁状に設置する。ボイスコイル12のムービングコイル
方式を利用して振動部材7を弾性体として空心のソレノ
イドコイル16を取り付け,そのソレノイドコイル16
中に棒状の永久磁石17を設置する。ボイスコイル12
の駆動信号としてソレノイドコイル16に交流信号を印
加することにより,ソレノイドコイル16に電流が流
れ,その電流により発生する磁場と永久磁石17の永久
磁場との相互作用により,片持ち梁状の振動部材7が矢
印A(矢印記号A)方向に振動する。その振動部材7の
振動により電位感受面9が振動し,シールドケース14
の電位測定窓15より被測定体2の表面電位信号を電界
方向(矢印B及び矢印記号B)から電位感受面9にて受
け,電位感受面9にて生じる誘導電荷の変化を表面電位
信号として振動部材7の固定端11から電位信号検出部
4を介して検出信号としてシールドケース14外部へ取
り出すというものである。
【0090】実施例1の場合,振動部材7からなる測定
電極の実効面積Sは,振動部材7の電位感受面9の面積
とシールドケース14に設けられた電位測定窓15の面
積との相対関係から電位感受面9が被測定体2表面にさ
らされる面積で決定される。振動部材7については,被
測定体から受ける電位感受面9上の誘導電荷の量が変化
するよう振動させる必要がある。また,振動部材7から
の電位信号を検出するため,検出信号線19は図15に
示すように振動部材7の固定端11より導き出し,電位
信号検出部4において電位信号を検出する構成とするこ
とが望ましい。
電極の実効面積Sは,振動部材7の電位感受面9の面積
とシールドケース14に設けられた電位測定窓15の面
積との相対関係から電位感受面9が被測定体2表面にさ
らされる面積で決定される。振動部材7については,被
測定体から受ける電位感受面9上の誘導電荷の量が変化
するよう振動させる必要がある。また,振動部材7から
の電位信号を検出するため,検出信号線19は図15に
示すように振動部材7の固定端11より導き出し,電位
信号検出部4において電位信号を検出する構成とするこ
とが望ましい。
【0091】実施例1の表面電位測定装置においては,
従来の振動容量型の表面電位測定装置にように振動部材
とは別体に測定電極を設ける必要がないため,更に小型
で低コストに表面電位測定装置を得ることができる。
従来の振動容量型の表面電位測定装置にように振動部材
とは別体に測定電極を設ける必要がないため,更に小型
で低コストに表面電位測定装置を得ることができる。
【0092】(実施例2)実施例1においては振動部材
7に片持ち梁状のものを使用したが,図16に示すよう
な音叉状振動部材22を振動部材7として使用すること
ができる。すなわち,外部から振動駆動部8により音叉
状振動部材22を矢印A方向に振動させ,被測定体2
(図16において図示せず)の電界方向(矢印記号B)
からの表面電位信号を音叉状振動部材22の電位感受面
9にて受けるという構成である。なお,この振動部材7
である音叉状振動部材22を振動させるための振動駆動
部8として,実施例1と同様にボイスコイル12を用い
ることができる。
7に片持ち梁状のものを使用したが,図16に示すよう
な音叉状振動部材22を振動部材7として使用すること
ができる。すなわち,外部から振動駆動部8により音叉
状振動部材22を矢印A方向に振動させ,被測定体2
(図16において図示せず)の電界方向(矢印記号B)
からの表面電位信号を音叉状振動部材22の電位感受面
9にて受けるという構成である。なお,この振動部材7
である音叉状振動部材22を振動させるための振動駆動
部8として,実施例1と同様にボイスコイル12を用い
ることができる。
【0093】なお,実施の形態2において,図14に示
す振動部材7の形状は前述した実施例1及び2のものに
限られるものではない。ただし,図16に示す実施例2
のように振動部材7に音叉状振動部材22を用いた場
合,音叉状振動部材22からの電位信号を取り出すため
の検出信号線19は,音叉状振動部材22の節となる節
部23から導き出すことが望ましい。
す振動部材7の形状は前述した実施例1及び2のものに
限られるものではない。ただし,図16に示す実施例2
のように振動部材7に音叉状振動部材22を用いた場
合,音叉状振動部材22からの電位信号を取り出すため
の検出信号線19は,音叉状振動部材22の節となる節
部23から導き出すことが望ましい。
【0094】また,実施例1(図15)及び実施例2
(図16)において,振動部材7を振動させる振動駆動
部8にボイスコイル12を用いたが,実施の形態1で説
明した図4(a)及び(b)に示すように,片持ち梁状
又は音叉状の振動部材7をプランジャー振動型の電磁コ
イル25を用いて振動させることも可能である。
(図16)において,振動部材7を振動させる振動駆動
部8にボイスコイル12を用いたが,実施の形態1で説
明した図4(a)及び(b)に示すように,片持ち梁状
又は音叉状の振動部材7をプランジャー振動型の電磁コ
イル25を用いて振動させることも可能である。
【0095】次に,前述した実施例1及び2の表面電位
測定装置の特性を比較する。実施の形態2として説明し
た振動容量タイプの表面電位検出装置の場合,静電容量
C0の変化率α0 は, α0 =ΔL/L … (7) と表される。ただし,ΔLは振動部材7の電位感受面9
の変動の変動幅を表している。
測定装置の特性を比較する。実施の形態2として説明し
た振動容量タイプの表面電位検出装置の場合,静電容量
C0の変化率α0 は, α0 =ΔL/L … (7) と表される。ただし,ΔLは振動部材7の電位感受面9
の変動の変動幅を表している。
【0096】ここで,SN比を向上させるには,ΔLを
増加させれば良い。ΔLを増加させる方法としてボイス
コイル12の利用は有効である。振動部材7が電磁コイ
ル部に取り付けられ,電磁コイルの変動にともなって振
動部材7が変動する。
増加させれば良い。ΔLを増加させる方法としてボイス
コイル12の利用は有効である。振動部材7が電磁コイ
ル部に取り付けられ,電磁コイルの変動にともなって振
動部材7が変動する。
【0097】振動容量タイプの表面電位測定装置の場合
も実施の形態1で説明したチョッパタイプのものと同様
に,振動部材7に音叉状ものを利用したものと梁状のも
のを利用したものとの振動部材7の変動の変化幅を比較
した場合,梁状のものを利用した場合の方が音叉状のも
のを利用したものに対して10倍以上大きな振動部材7
の変動幅を得ることができる。したがって,その変化幅
の大きさに応じて得られる表面電位検出信号も梁状のも
のを利用した装置の方が音叉状のものを利用した装置に
対して10倍以上大きな検出信号を得ることができ,そ
の検出信号の大きさに応じてSN比を向上させることが
できる。
も実施の形態1で説明したチョッパタイプのものと同様
に,振動部材7に音叉状ものを利用したものと梁状のも
のを利用したものとの振動部材7の変動の変化幅を比較
した場合,梁状のものを利用した場合の方が音叉状のも
のを利用したものに対して10倍以上大きな振動部材7
の変動幅を得ることができる。したがって,その変化幅
の大きさに応じて得られる表面電位検出信号も梁状のも
のを利用した装置の方が音叉状のものを利用した装置に
対して10倍以上大きな検出信号を得ることができ,そ
の検出信号の大きさに応じてSN比を向上させることが
できる。
【0098】(実施例3)図17(a)〜(f)は,実
施の形態2に係る表面電位測定装置の実施例3の概略構
成を示す上面図であり,振動容量タイプの表面電位測定
装置の振動部材7を振動させる振動駆動部8にボイスコ
イル12を使用する例を示している。なお,図17
(a)は,図15に示す実施例1の場合と同様の構成を
示している。
施の形態2に係る表面電位測定装置の実施例3の概略構
成を示す上面図であり,振動容量タイプの表面電位測定
装置の振動部材7を振動させる振動駆動部8にボイスコ
イル12を使用する例を示している。なお,図17
(a)は,図15に示す実施例1の場合と同様の構成を
示している。
【0099】図17(a)〜(f)において,ボイスコ
イル12のソレノイドコイル16及び永久磁石17の形
状は円筒又は円柱を想定しているが,角筒又は角柱とし
ても問題なくソレノイドコイル16又は永久磁石17を
変動させることができる。また,板バネとして作用する
振動部材7は,2枚であっても変動させることができ
る。また,振動部材7の支持については,必ずしも各板
バネの一端側で支持しなければならないという必要はな
く,各板バネの両端側を支持する構成であっても良い。
更に,永久磁石17の磁極方向は,ソレノイドコイル1
6の軸方向とほぼ平行か垂直のいずれであっても良い。
イル12のソレノイドコイル16及び永久磁石17の形
状は円筒又は円柱を想定しているが,角筒又は角柱とし
ても問題なくソレノイドコイル16又は永久磁石17を
変動させることができる。また,板バネとして作用する
振動部材7は,2枚であっても変動させることができ
る。また,振動部材7の支持については,必ずしも各板
バネの一端側で支持しなければならないという必要はな
く,各板バネの両端側を支持する構成であっても良い。
更に,永久磁石17の磁極方向は,ソレノイドコイル1
6の軸方向とほぼ平行か垂直のいずれであっても良い。
【0100】また,ボイスコイル12の変動方法とし
て,永久磁石17を固定しソレノイドコイル16を変動
させて振動部材7を変動させる方法(図17(a),
(c),(e))とソレノイドコイル16を固定し永久
磁石17を変動させて振動部材7を変動させる方法(図
17(b),(d),(f))とがある。いずれも容易
に変動可能な方法であるが,小電力で変動速度を高め,
表面電位検出の応答速度を高める場合には,永久磁石1
7を固定し,ソレノイドコイル16を変動させて振動部
材7を変動させる方法が好ましい。なぜなら,一般に永
久磁石17に比べてソレノイドコイル16の方が比較的
軽量なものを作製できるからである。したがって,軽量
であればある程,同じ変動幅を得るのに弱い磁場を発生
すれば良く,かつ変動速度も速くすることができる。
て,永久磁石17を固定しソレノイドコイル16を変動
させて振動部材7を変動させる方法(図17(a),
(c),(e))とソレノイドコイル16を固定し永久
磁石17を変動させて振動部材7を変動させる方法(図
17(b),(d),(f))とがある。いずれも容易
に変動可能な方法であるが,小電力で変動速度を高め,
表面電位検出の応答速度を高める場合には,永久磁石1
7を固定し,ソレノイドコイル16を変動させて振動部
材7を変動させる方法が好ましい。なぜなら,一般に永
久磁石17に比べてソレノイドコイル16の方が比較的
軽量なものを作製できるからである。したがって,軽量
であればある程,同じ変動幅を得るのに弱い磁場を発生
すれば良く,かつ変動速度も速くすることができる。
【0101】なお,ソレノイドコイル16は,形状を維
持するためにコイルボビンを利用したり,コイルボビン
をなくして導電線のみの空心コイルとして変動させるこ
とも可能である。
持するためにコイルボビンを利用したり,コイルボビン
をなくして導電線のみの空心コイルとして変動させるこ
とも可能である。
【0102】また,図17(c)及び(e)に示すよう
に永久磁石17をソレノイドコイル16の外側に配置す
ることで,ボイスコイル12の大きさを小型で軽量と
し,組立を容易にすることができる。
に永久磁石17をソレノイドコイル16の外側に配置す
ることで,ボイスコイル12の大きさを小型で軽量と
し,組立を容易にすることができる。
【0103】なお,実施の形態2においても,駆動信号
線20が振動部材7の振動特性に影響を及ぼす場合に
は,実施の形態1で図7及び図8に基づいて説明した構
成の振動部材を用いることにより,振動部材の振動特性
に何ら影響を与えず,安定して振動部材を振動させるこ
とができる。また,安定した信頼性を高めるため,複数
の導電層又は複数の導電体領域を設け,これら全てを測
定電極として利用することも可能である。
線20が振動部材7の振動特性に影響を及ぼす場合に
は,実施の形態1で図7及び図8に基づいて説明した構
成の振動部材を用いることにより,振動部材の振動特性
に何ら影響を与えず,安定して振動部材を振動させるこ
とができる。また,安定した信頼性を高めるため,複数
の導電層又は複数の導電体領域を設け,これら全てを測
定電極として利用することも可能である。
【0104】また,実施の形態2においても,駆動信号
線20を振動部材7の固定端11に接続して駆動信号を
印加する構成が望ましい。更に,被測定体2の表面電位
の検出感度を向上させたい場合には,図9(a)及び
(b)に示すように振動部材7の自由端側が被測定体に
近接する位置に来るようその形状を変形させることによ
り,SN比及び検出感度を向上させて被測定体の表面電
位信号を測定することができる。更に,振動部材7を少
ない駆動電力で効率良く振動させたい場合には,実施の
形態1において説明した図11〜図13に示す構成とす
ることで,更に振動部材7を少ない駆動電力で効率良く
振動させることができる。
線20を振動部材7の固定端11に接続して駆動信号を
印加する構成が望ましい。更に,被測定体2の表面電位
の検出感度を向上させたい場合には,図9(a)及び
(b)に示すように振動部材7の自由端側が被測定体に
近接する位置に来るようその形状を変形させることによ
り,SN比及び検出感度を向上させて被測定体の表面電
位信号を測定することができる。更に,振動部材7を少
ない駆動電力で効率良く振動させたい場合には,実施の
形態1において説明した図11〜図13に示す構成とす
ることで,更に振動部材7を少ない駆動電力で効率良く
振動させることができる。
【0105】(実施例3)被測定体と測定電極との間の
測定距離が変動した場合において,測定距離の変動に応
じて変化する出力信号を補正するための構成を実施例3
として説明する。
測定距離が変動した場合において,測定距離の変動に応
じて変化する出力信号を補正するための構成を実施例3
として説明する。
【0106】実施の形態2においては,前述したように
(5)式から被測定体2の表面電位VS ,静電容量C0
及び静電容量C0 の変化率α0 の大きさに比例して出力
信号V0 を得ることができる。しかしながら,(1)式
から明らかなように,静電容量C0 が被測定体と測定電
極との間の対向距離(測定距離)Lの逆数に比例するた
め,静電容量C0 に比例して得られる出力信号V0 も対
向距離Lに依存して大きく変化する。したがって,測定
距離が変動した場合,被測定体2の正確な表面電位が得
られにくいという問題が生じる。そこで,測定距離の変
動による出力変動を補正する手段として,図18に示す
ように1つの測定電極(振動部材7)から測定距離Lに
依存して変化する複数の異なる出力信号(V1 ,V2 ,
V3 ,・・・)を第1出力信号検出部32,第2出力信
号検出部33,第3出力信号検出部34,・・・によっ
て得て,出力補正部35によって各々の出力信号を測定
距離に応じて補正することにより,測定距離に依存しな
い正確な表面電位を測定することが可能となる。
(5)式から被測定体2の表面電位VS ,静電容量C0
及び静電容量C0 の変化率α0 の大きさに比例して出力
信号V0 を得ることができる。しかしながら,(1)式
から明らかなように,静電容量C0 が被測定体と測定電
極との間の対向距離(測定距離)Lの逆数に比例するた
め,静電容量C0 に比例して得られる出力信号V0 も対
向距離Lに依存して大きく変化する。したがって,測定
距離が変動した場合,被測定体2の正確な表面電位が得
られにくいという問題が生じる。そこで,測定距離の変
動による出力変動を補正する手段として,図18に示す
ように1つの測定電極(振動部材7)から測定距離Lに
依存して変化する複数の異なる出力信号(V1 ,V2 ,
V3 ,・・・)を第1出力信号検出部32,第2出力信
号検出部33,第3出力信号検出部34,・・・によっ
て得て,出力補正部35によって各々の出力信号を測定
距離に応じて補正することにより,測定距離に依存しな
い正確な表面電位を測定することが可能となる。
【0107】そこで,1つの測定電極(振動部材7)か
ら測定距離に依存して変化する複数の異なる出力信号を
得るための手段として,実施の形態2で説明した振動容
量タイプの表面電位測定装置を用いることは好適であ
る。なお,実施の形態1で説明したチョッパタイプの振
動部材を利用した表面電位測定装置では,1つの測定電
極(振動部材7)から測定距離に依存して変化する複数
の異なる出力信号を得ることは困難である。
ら測定距離に依存して変化する複数の異なる出力信号を
得るための手段として,実施の形態2で説明した振動容
量タイプの表面電位測定装置を用いることは好適であ
る。なお,実施の形態1で説明したチョッパタイプの振
動部材を利用した表面電位測定装置では,1つの測定電
極(振動部材7)から測定距離に依存して変化する複数
の異なる出力信号を得ることは困難である。
【0108】以下に振動容量タイプの表面電位測定装置
を利用し,測定距離に依存せず正確な表面電位を検出す
る方法について説明する。
を利用し,測定距離に依存せず正確な表面電位を検出す
る方法について説明する。
【0109】図19は,1つの測定電極から周波数の異
なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号の出力変動
を補正する方法に関する説明図である。図19は,図1
8で説明した複数の出力信号を検知する装置において,
測定電極をω1 ,ω2 の異なる周波数成分で足し合わせ
た状態で正弦波状に周期的に振動させることにより,測
定電極の電位検出信号から各周波数成分を異なる出力信
号として検出し,電位検出信号の出力補正を行う方法を
示している。
なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号の出力変動
を補正する方法に関する説明図である。図19は,図1
8で説明した複数の出力信号を検知する装置において,
測定電極をω1 ,ω2 の異なる周波数成分で足し合わせ
た状態で正弦波状に周期的に振動させることにより,測
定電極の電位検出信号から各周波数成分を異なる出力信
号として検出し,電位検出信号の出力補正を行う方法を
示している。
【0110】図19において,測定電極のω1 の振動の
振幅をΔL1 ,ω2 の振動の振幅をΔL2 とし,測定電
極が時間的にΔL1 ・sinω1 t+ΔL2 ・sinω
2 tで振動している場合を考えると,その周期的な機械
振動により時間的に変化する静電容量Ct は,
振幅をΔL1 ,ω2 の振動の振幅をΔL2 とし,測定電
極が時間的にΔL1 ・sinω1 t+ΔL2 ・sinω
2 tで振動している場合を考えると,その周期的な機械
振動により時間的に変化する静電容量Ct は,
【数1】 で与えられ,更に(8)式を変形すると,
【数2】 と表される。
【0111】ここで(9)式の右辺の(ΔL1 ・sin
ω1 t+ΔL2 ・sinω2 t)/Lは物理的に,
ω1 t+ΔL2 ・sinω2 t)/Lは物理的に,
【数3】 という条件であるため,(9)式の右辺は数学的にティ
ラー展開することが可能である。
ラー展開することが可能である。
【0112】そこで,(9)式の右辺のティラー展開を
行うと,
行うと,
【数4】 と表され,Ct は時間的に0次(測定電極が静止状態)
の項,1次(測定電極がsinω1 t,sinω2 tの
時間変化)の項の他に高次の項を含む複数の周波数成分
が現れるものとして表すことができる。
の項,1次(測定電極がsinω1 t,sinω2 tの
時間変化)の項の他に高次の項を含む複数の周波数成分
が現れるものとして表すことができる。
【0113】故に,そのCt と被測定体の持つ表面電位
VS により測定電極上に誘起される電荷Qt は,
VS により測定電極上に誘起される電荷Qt は,
【数5】 と表される。
【0114】測定電極に生じる電流It は(11)式よ
り,
り,
【数6】 となる。
【0115】測定電極から得られる電位検出信号V
t は,
t は,
【数7】 と表される。ただし,A0 は増幅度に関する定数を表
す。
す。
【0116】(14)式からわかるように,測定電極か
ら得られる電位検出信号からは測定距離Lに依存して変
化する複数の異なる周波数成分が現れる。したがって,
その複数の異なる周波数成分を異なる出力信号として検
出することにより,1つの測定電極から測定距離Lに依
存して変化する複数の出力信号が得られ,その各出力信
号を利用して,測定距離変動による電位検出信号の出力
変動を補正することが可能となる。
ら得られる電位検出信号からは測定距離Lに依存して変
化する複数の異なる周波数成分が現れる。したがって,
その複数の異なる周波数成分を異なる出力信号として検
出することにより,1つの測定電極から測定距離Lに依
存して変化する複数の出力信号が得られ,その各出力信
号を利用して,測定距離変動による電位検出信号の出力
変動を補正することが可能となる。
【0117】ここで,(14)式の電位検出信号から周
波数の異なる出力信号として,3次以降の周波数成分は
信号出力レベルが比較的小さいので,3次以降の周波数
成分を無視し,1次及び2次の周波数成分のみを出力信
号として利用することにより,十分なSN比で効率良く
出力信号を検知することができる。したがって,十分正
確な表面電位出力を得ることができる。
波数の異なる出力信号として,3次以降の周波数成分は
信号出力レベルが比較的小さいので,3次以降の周波数
成分を無視し,1次及び2次の周波数成分のみを出力信
号として利用することにより,十分なSN比で効率良く
出力信号を検知することができる。したがって,十分正
確な表面電位出力を得ることができる。
【0118】そこで,(14)式の電位検出信号から1
次及び2次の周波数成分のみを検出すると,近似的に
次及び2次の周波数成分のみを検出すると,近似的に
【数8】 となり,(15)式において,ω1 ,ω2 ,2ω1 ,2
ω2 ,ω2 +ω1 ,ω2−ω1 の各周波数成分を検出す
ることにより,周波数の異なる6つの出力信号を得るこ
とができる。
ω2 ,ω2 +ω1 ,ω2−ω1 の各周波数成分を検出す
ることにより,周波数の異なる6つの出力信号を得るこ
とができる。
【0119】実施の形態2の場合,ω1 《ω2 と仮定
し,(ΔL2 /L)2 《1とみなして(15)式を再度
考慮し,更に簡略化すると,
し,(ΔL2 /L)2 《1とみなして(15)式を再度
考慮し,更に簡略化すると,
【数9】 と近似的に表され,ω2 ,ω2 +ω1 (あるいはω2 −
ω1 )の各周波数成分のみを選択的に検出すれば,十分
なSN比で効率良く周波数の異なる2つの出力信号
V1 ,V2 を得ることができる。
ω1 )の各周波数成分のみを選択的に検出すれば,十分
なSN比で効率良く周波数の異なる2つの出力信号
V1 ,V2 を得ることができる。
【0120】以下に,このようにして得られた周波数の
異なる出力信号V1 ,V2 を利用し,測定距離変動によ
る電位検出信号の出力変動を補正して正確な表面電位を
求める方法を説明する。
異なる出力信号V1 ,V2 を利用し,測定距離変動によ
る電位検出信号の出力変動を補正して正確な表面電位を
求める方法を説明する。
【0121】まず,第1の方法として,各出力信号
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VSに依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る方法について説明する。
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VSに依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る方法について説明する。
【0122】(16)式より検出された各出力信号
V1 ,V2 の大きさ(出力値)|V1 |,|V2 |は,
V1 ,V2 の大きさ(出力値)|V1 |,|V2 |は,
【数10】 と表され,表面電位VSに依存せずに測定距離Lを一義
的に求めるには,|V1|,|V2 |の出力比を求めれ
ば良い。
的に求めるには,|V1|,|V2 |の出力比を求めれ
ば良い。
【0123】例えば,出力比を|V2 |/|V1 |とし
た場合,|V2 |/|V1 |は(17)及び(18)式
より,
た場合,|V2 |/|V1 |は(17)及び(18)式
より,
【数11】 となり,Lに関しての一時関数F(L)として表され
る。このとき,Lと|V2|/|V1 |との関係は,図
20(a)のような関係曲線で表され,出力比|V2 |
/|V1 |を求めれば,表面電位VS に依存せずLを一
義的に求めることができる。
る。このとき,Lと|V2|/|V1 |との関係は,図
20(a)のような関係曲線で表され,出力比|V2 |
/|V1 |を求めれば,表面電位VS に依存せずLを一
義的に求めることができる。
【0124】また,出力比を|V1 |/|V2 |とした
場合,|V1 |/|V2 |は,
場合,|V1 |/|V2 |は,
【数12】 となり,同様にLに関しての一時関数F(L)で表され
る。このとき,Lと|V 1 |/|V2 |との関係は図2
0(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力
比|V1 |/|V2 |を求めれば,表面電位VS に依存
せずにLを一義的に求めることができる。
る。このとき,Lと|V 1 |/|V2 |との関係は図2
0(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力
比|V1 |/|V2 |を求めれば,表面電位VS に依存
せずにLを一義的に求めることができる。
【0125】このようにして一義的に求められたLを利
用して,既知である|V1 |又は|V2 |の出力値と測
定距離Lとの関係から|V1 |又は|V2 |の出力値を
補正し,更に既知である表面電位VS と出力値|V1 |
又は|V2 |との関係から補正された|V1 |又は|V
2 |の出力値に対応する表面電位VS を求めることによ
り,被測定体の正確な表面電位を得ることができる。
用して,既知である|V1 |又は|V2 |の出力値と測
定距離Lとの関係から|V1 |又は|V2 |の出力値を
補正し,更に既知である表面電位VS と出力値|V1 |
又は|V2 |との関係から補正された|V1 |又は|V
2 |の出力値に対応する表面電位VS を求めることによ
り,被測定体の正確な表面電位を得ることができる。
【0126】また,得られたLを|V1 |又は|V2 |
の出力式((17)又は(18)式)に代入し,VS に
ついて求めることにより,被測定体の表面電位を一義的
に求めることもできる。
の出力式((17)又は(18)式)に代入し,VS に
ついて求めることにより,被測定体の表面電位を一義的
に求めることもできる。
【0127】次に,第2の方法として,各出力信号
V1 ,V2 は測定距離Lに依存して変化するため,|V
1 |,|V2 |の出力値を利用して測定距離Lに依存し
ないようLの変数を打ち消す演算処理を行い,その演算
結果から正確な表面電位を得る補正方法について説明す
る。
V1 ,V2 は測定距離Lに依存して変化するため,|V
1 |,|V2 |の出力値を利用して測定距離Lに依存し
ないようLの変数を打ち消す演算処理を行い,その演算
結果から正確な表面電位を得る補正方法について説明す
る。
【0128】例えば,(16)式より検出された(1
7)式の|V1 |を3乗し,その結果を(18)式の|
V2 |を2乗した値で割算することにより,
7)式の|V1 |を3乗し,その結果を(18)式の|
V2 |を2乗した値で割算することにより,
【数13】 のような出力結果が得られる。(21)式からは測定距
離Lに依存しない被測定体の表面電位VS に対応した出
力値が得られるため,(21)式の出力値と被測定体の
表面電位VS との関係から正確な表面電位を得ることが
可能となる。
離Lに依存しない被測定体の表面電位VS に対応した出
力値が得られるため,(21)式の出力値と被測定体の
表面電位VS との関係から正確な表面電位を得ることが
可能となる。
【0129】また,(18)式の|V2 |を2乗し,
(17)式の|V1 |を3乗した値で割り算することに
より,
(17)式の|V1 |を3乗した値で割り算することに
より,
【数14】 のような出力結果を得られ,前記と同様に(22)式の
出力値と被測定体の表面電位VS との関係から正確な表
面電位を得ることができる。
出力値と被測定体の表面電位VS との関係から正確な表
面電位を得ることができる。
【0130】(19)式を利用する場合,(17)式の
|V1 |を(19)式の出力値を2乗した値で割算する
か又は(19)式の出力値を2乗した値を(17)式の
|V1 |で割算することにより,(21)式又は(2
2)式のような出力結果が得られ,同様に正確な表面電
位を得ることができる。
|V1 |を(19)式の出力値を2乗した値で割算する
か又は(19)式の出力値を2乗した値を(17)式の
|V1 |で割算することにより,(21)式又は(2
2)式のような出力結果が得られ,同様に正確な表面電
位を得ることができる。
【0131】また,(18)式の|V2 |を(19)式
の出力値を3乗した値で割算するか又は(19)式の出
力値を3乗した値を(18)式の|V2 |で割算するこ
とによっても,(21)式又は(22)式のような出力
結果が得られ,同様に正確な表面電位を得ることができ
る。
の出力値を3乗した値で割算するか又は(19)式の出
力値を3乗した値を(18)式の|V2 |で割算するこ
とによっても,(21)式又は(22)式のような出力
結果が得られ,同様に正確な表面電位を得ることができ
る。
【0132】更に,(20)式を利用する場合,(1
7)式の|V1 |に(20)式の出力値を2乗した値を
掛け合わせるか又は(18)式の|V2 |に(20)式
の出力値を3乗した値を掛け合わせることにより,(2
1)式のような出力結果が得られ,同様に正確な表面電
位を得ることができる。
7)式の|V1 |に(20)式の出力値を2乗した値を
掛け合わせるか又は(18)式の|V2 |に(20)式
の出力値を3乗した値を掛け合わせることにより,(2
1)式のような出力結果が得られ,同様に正確な表面電
位を得ることができる。
【0133】図21は,以上のようにして周波数の異な
る複数の出力振動を利用し,測定距離変動による電位検
出信号の出力変動を補正し,被測定体の表面電位に対応
した正確な出力信号を得る具体的な手段について説明す
るための装置構成図を示している。すなわち,図21
は,各出力信号V1 ,V2 から測定距離検出部36によ
って被測定体の表面電位VS に依存せずに測定距離Lを
逆に一義的に求め,得られた測定距離から正確な表面電
位を得る手段について示している。
る複数の出力振動を利用し,測定距離変動による電位検
出信号の出力変動を補正し,被測定体の表面電位に対応
した正確な出力信号を得る具体的な手段について説明す
るための装置構成図を示している。すなわち,図21
は,各出力信号V1 ,V2 から測定距離検出部36によ
って被測定体の表面電位VS に依存せずに測定距離Lを
逆に一義的に求め,得られた測定距離から正確な表面電
位を得る手段について示している。
【0134】図21に示す装置は,測定電極(振動部材
7)上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信号検出
部4にて交流信号として検出し,その検出信号から周波
数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び第2出
力信号検出部32,33にて検出し,その各出力信号の
出力比を利用して測定距離検出部36にて測定距離を求
め,得られた測定距離から各出力信号の出力値を出力補
正部35にて補正することにより,正確な表面電位出力
信号を得るものである。
7)上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信号検出
部4にて交流信号として検出し,その検出信号から周波
数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び第2出
力信号検出部32,33にて検出し,その各出力信号の
出力比を利用して測定距離検出部36にて測定距離を求
め,得られた測定距離から各出力信号の出力値を出力補
正部35にて補正することにより,正確な表面電位出力
信号を得るものである。
【0135】電位信号検出部4において測定電極に生じ
る微少な交流信号を検出する手段としては,FET,O
Pアンプ等を利用した交流信号増幅回路を使用すること
ができる。また,各出力信号検出部32,33において
周波数の異なる出力信号を検出する手段としては,同期
検波回路,復調回路,必要な周波数成分のみを通過させ
る狭帯域なバンドパスフィルタ回路等を使用することが
できる。測定距離検出部36において各出力信号の出力
比から測定距離を求める手段としては,掛け算又は割算
等のアナログ演算回路,アナログ−ディジタル変換回
路,コンピュータ等を使用することができ,これらによ
って演算処理することによって測定距離を求めることが
できる。更に,出力補正部35において測定距離から各
出力信号の出力値を補正し,表面電位出力信号を得る手
段としては,コンピュータ,ディジタル−アナログ変換
回路等を使用することができる。
る微少な交流信号を検出する手段としては,FET,O
Pアンプ等を利用した交流信号増幅回路を使用すること
ができる。また,各出力信号検出部32,33において
周波数の異なる出力信号を検出する手段としては,同期
検波回路,復調回路,必要な周波数成分のみを通過させ
る狭帯域なバンドパスフィルタ回路等を使用することが
できる。測定距離検出部36において各出力信号の出力
比から測定距離を求める手段としては,掛け算又は割算
等のアナログ演算回路,アナログ−ディジタル変換回
路,コンピュータ等を使用することができ,これらによ
って演算処理することによって測定距離を求めることが
できる。更に,出力補正部35において測定距離から各
出力信号の出力値を補正し,表面電位出力信号を得る手
段としては,コンピュータ,ディジタル−アナログ変換
回路等を使用することができる。
【0136】また,各出力信号の出力値|V1 |,|V
2 |を利用して測定距離Lに依存しないよう演算処理を
行い,その演算結果から正確な表面電位を得る手段とし
ては,図22(a)〜(e)に示す装置がある。
2 |を利用して測定距離Lに依存しないよう演算処理を
行い,その演算結果から正確な表面電位を得る手段とし
ては,図22(a)〜(e)に示す装置がある。
【0137】図22(a)に示す表面電位測定装置は,
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び
第2出力信号検出部32,33において検出し,各出力
信号の出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算
処理するため,|V1 |を3乗して|V1 |3 を得る第
1演算部37及び|V2 |を2乗して|V2 |2 を得る
第2演算部38と,|V1 |3 を|V2 |2 で割り算す
る第3演算部39とを設け,その演算結果から測定距離
に依存しない正確な表面電位出力信号を得るというもの
である。電位信号検出部,周波数の異なる各出力信号検
出部には,前記図21に示す装置を適用することができ
る。
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び
第2出力信号検出部32,33において検出し,各出力
信号の出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算
処理するため,|V1 |を3乗して|V1 |3 を得る第
1演算部37及び|V2 |を2乗して|V2 |2 を得る
第2演算部38と,|V1 |3 を|V2 |2 で割り算す
る第3演算部39とを設け,その演算結果から測定距離
に依存しない正確な表面電位出力信号を得るというもの
である。電位信号検出部,周波数の異なる各出力信号検
出部には,前記図21に示す装置を適用することができ
る。
【0138】第1演算部37,第2演算部38及び第3
演算部39において,各出力値を演算処理し,表面電位
出力信号を得る手段としては,掛け算又は割算等のアナ
ログ演算回路,アナログ−ディジタル回路,コンピュー
タ又はディジタル−アナログ変換回路等を用いることが
できる。
演算部39において,各出力値を演算処理し,表面電位
出力信号を得る手段としては,掛け算又は割算等のアナ
ログ演算回路,アナログ−ディジタル回路,コンピュー
タ又はディジタル−アナログ変換回路等を用いることが
できる。
【0139】図22(b)に示す表面電位測定装置は,
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び
第2出力信号検出部32,33において検出し,その各
出力信号の出力値を利用して測定距離に依存しないよう
演算処理するため,|V2 |を|V1 |で割り算し,そ
の値を2乗する第4演算部40と,|V2 |を|V1 |
で割り算し,その値を2乗した(|V2 |/|V1 |)
2 を|V1 |で割り算する第5割算部41とを設け,そ
の演算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出
力信号を得る装置構成を示すものである。
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を第1及び
第2出力信号検出部32,33において検出し,その各
出力信号の出力値を利用して測定距離に依存しないよう
演算処理するため,|V2 |を|V1 |で割り算し,そ
の値を2乗する第4演算部40と,|V2 |を|V1 |
で割り算し,その値を2乗した(|V2 |/|V1 |)
2 を|V1 |で割り算する第5割算部41とを設け,そ
の演算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出
力信号を得る装置構成を示すものである。
【0140】電位信号検出部4及び周波数の異なる各出
力信号検出部32,33には,前記図21と同様の手段
が適用可能である。第4演算部40と第5演算部41と
において,各出力値を演算処理し,表面電力出力信号を
得る手段としては前記図22(a)と同様のものを使用
することができる。
力信号検出部32,33には,前記図21と同様の手段
が適用可能である。第4演算部40と第5演算部41と
において,各出力値を演算処理し,表面電力出力信号を
得る手段としては前記図22(a)と同様のものを使用
することができる。
【0141】図22(c)に示す表面電位測定装置は,
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力V1 ,V2 を第1及び第2
出力信号検出部32,33において検出し,各出力信号
の出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理
するため,|V2 |を|V1 |で割り算し,その値を3
乗する第6演算部42と,|V2 |を|V1 |で割り算
し,その値を3乗した(|V2 |/|V1 |)3 を|V
2 |で割り算する第7演算部43とを設け,その演算結
果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力信号を
得る装置構成を示すものである。
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力V1 ,V2 を第1及び第2
出力信号検出部32,33において検出し,各出力信号
の出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理
するため,|V2 |を|V1 |で割り算し,その値を3
乗する第6演算部42と,|V2 |を|V1 |で割り算
し,その値を3乗した(|V2 |/|V1 |)3 を|V
2 |で割り算する第7演算部43とを設け,その演算結
果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力信号を
得る装置構成を示すものである。
【0142】電位信号検出部4,周波数の異なる各出力
信号検出部32,33には,前記図21と同様の手段が
適用可能である。第6演算部42と第7演算部43とに
おいて,各出力値を演算処理し,表面電力出力信号を得
る手段としては前記図22(a)と同様のものを使用す
ることができる。
信号検出部32,33には,前記図21と同様の手段が
適用可能である。第6演算部42と第7演算部43とに
おいて,各出力値を演算処理し,表面電力出力信号を得
る手段としては前記図22(a)と同様のものを使用す
ることができる。
【0143】図22(d)に示す表面電位測定装置は,
測定電極上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信号
検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号から
周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を各出力信号
検出部32,33において検出し,その各出力信号の出
力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理する
ため,|V1 |を|V2 |で割り算して,その値を2乗
する第8演算部44と|V1 |を|V2 |で割り算し
て,その値を2乗した(|V1 |/|V2 |)2と,|
V1 |とを掛け算する第9演算部45とを設け,その演
算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力信
号を得る装置構成を示すものである。
測定電極上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信号
検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号から
周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を各出力信号
検出部32,33において検出し,その各出力信号の出
力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理する
ため,|V1 |を|V2 |で割り算して,その値を2乗
する第8演算部44と|V1 |を|V2 |で割り算し
て,その値を2乗した(|V1 |/|V2 |)2と,|
V1 |とを掛け算する第9演算部45とを設け,その演
算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力信
号を得る装置構成を示すものである。
【0144】電位信号検出部4,周波数の異なる各出力
信号検出部32,33には,前記図21に示すものと同
様の手段が適用可能である。第8演算部44と第9演算
部45において,各出力値を演算処理し,表面電力出力
信号を得る手段としては前記図22(a)と同様のもの
を使用することができる。
信号検出部32,33には,前記図21に示すものと同
様の手段が適用可能である。第8演算部44と第9演算
部45において,各出力値を演算処理し,表面電力出力
信号を得る手段としては前記図22(a)と同様のもの
を使用することができる。
【0145】図22(e)に示す表面電位測定装置は,
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を各出力信
号検出部32,33において検出し,その各出力信号の
出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理す
るため,|V1 |を|V2 |で割り算し,その値を3乗
する第10演算部46と,|V1 |を|V2 |で割り算
し,その値を3乗した(|V1 |/|V2 |)3 と,|
V2 |とを掛け算する第11演算部47とを設け,その
演算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力
信号を得る装置構成を示すものである。
測定電極7上に誘起された微少な電荷量の変化を電位信
号検出部4にて交流信号として検出し,その検出信号か
ら周波数の異なる2つの出力信号V1 ,V2 を各出力信
号検出部32,33において検出し,その各出力信号の
出力値を利用して測定距離に依存しないよう演算処理す
るため,|V1 |を|V2 |で割り算し,その値を3乗
する第10演算部46と,|V1 |を|V2 |で割り算
し,その値を3乗した(|V1 |/|V2 |)3 と,|
V2 |とを掛け算する第11演算部47とを設け,その
演算結果から測定距離に依存しない正確な表面電位出力
信号を得る装置構成を示すものである。
【0146】電位信号検出部4,周波数の異なる各出力
信号検出部32,33には,前記図21に示すものと同
様の手段が適用可能である。第10演算部46と第11
演算部47とにおいて,各出力値を演算処理し,表面電
力出力信号を得る手段としては前記図22(a)と同様
のものを使用することができる。
信号検出部32,33には,前記図21に示すものと同
様の手段が適用可能である。第10演算部46と第11
演算部47とにおいて,各出力値を演算処理し,表面電
力出力信号を得る手段としては前記図22(a)と同様
のものを使用することができる。
【0147】また,本実施の形態2において測定電極
(振動部材7)を振動させる電極振動手段を使用する場
合には,例えば,図23(a)に示すような周波数ω1
の駆動電圧(駆動電流)波形と同図(b)に示すような
周波数ω2 の駆動電圧(駆動電流)波形とを重畳させた
状態の周波数(ω1 +ω2 )の電圧(電流)波形(同図
(c))を有する電圧(電流)を各電極振動手段に印加
することにより,1つの電極振動手段により複数の異な
る周波数で測定電極を振動させることが可能である。
(振動部材7)を振動させる電極振動手段を使用する場
合には,例えば,図23(a)に示すような周波数ω1
の駆動電圧(駆動電流)波形と同図(b)に示すような
周波数ω2 の駆動電圧(駆動電流)波形とを重畳させた
状態の周波数(ω1 +ω2 )の電圧(電流)波形(同図
(c))を有する電圧(電流)を各電極振動手段に印加
することにより,1つの電極振動手段により複数の異な
る周波数で測定電極を振動させることが可能である。
【0148】実施例3のように,周波数の異なる出力信
号として1次及び2次の周波数成分のみを出力信号とし
て利用することで,十分正確な表面電位を効率よく得る
ことができる。更に測定精度を高めたい場合は,1次及
び2次の周波数成分の他に3次以降の周波数成分を利用
し,1つの測定電極から2つ以上の出力信号を得て,各
出力信号を利用して被測定体の表面電位を求めることに
しても良い。また,信頼性を高めたい場合には,測定電
極を2つ以上設け,各測定電極について上記と同様な測
定方法及び測定手段を用いて被測定体の表面電位を求め
ても良い。
号として1次及び2次の周波数成分のみを出力信号とし
て利用することで,十分正確な表面電位を効率よく得る
ことができる。更に測定精度を高めたい場合は,1次及
び2次の周波数成分の他に3次以降の周波数成分を利用
し,1つの測定電極から2つ以上の出力信号を得て,各
出力信号を利用して被測定体の表面電位を求めることに
しても良い。また,信頼性を高めたい場合には,測定電
極を2つ以上設け,各測定電極について上記と同様な測
定方法及び測定手段を用いて被測定体の表面電位を求め
ても良い。
【0149】また,他の例として,図24は,1つの測
定電極から周波数の異なる複数の出力信号を検出し,電
位検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図で
ある。これは前述した複数の出力信号を検知する方法と
して,図24に示すように測定電極(振動部材7)を単
一な周波数ωで正弦波状に周期的に大きく振動させるこ
とにより,測定電極の電位検出信号から複数の周波数成
分を生じさせ,各周波数成分を異なる出力信号として検
出し,電位検出信号の出力補正を行うというものであ
る。
定電極から周波数の異なる複数の出力信号を検出し,電
位検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図で
ある。これは前述した複数の出力信号を検知する方法と
して,図24に示すように測定電極(振動部材7)を単
一な周波数ωで正弦波状に周期的に大きく振動させるこ
とにより,測定電極の電位検出信号から複数の周波数成
分を生じさせ,各周波数成分を異なる出力信号として検
出し,電位検出信号の出力補正を行うというものであ
る。
【0150】図24において,測定電極の振動の振幅を
dとし,測定電極が時間的にd・sinωtで振動して
いる場合を考えると,その周期的な機械振動により時間
的に変化する静電容量Ct は,
dとし,測定電極が時間的にd・sinωtで振動して
いる場合を考えると,その周期的な機械振動により時間
的に変化する静電容量Ct は,
【数15】 で与えられ,(23)式を変形すると,
【数16】 と表される。
【0151】ここで,(24)式の右辺の(d/L)・
sinωtは物理的に
sinωtは物理的に
【数17】 という条件であるため,(24)式の右辺は数学的にテ
ィラー展開することができる。
ィラー展開することができる。
【0152】そこで,(24)式の右辺をティラー展開
を行うと,
を行うと,
【数18】 と表され,Ct は時間的に0次(測定電極が停止状態)
の項,1次(測定電極がsinωtの時間変化)の項の
他に高次の項を含む複数の周波数成分が現れるものとし
て表すことができる。
の項,1次(測定電極がsinωtの時間変化)の項の
他に高次の項を含む複数の周波数成分が現れるものとし
て表すことができる。
【0153】故に,そのCt と被測定体の持つ表面電位
VS により測定電極上に誘起される電荷Qt は,
VS により測定電極上に誘起される電荷Qt は,
【数19】 と表され,測定電極に生じる電流It は(27)式よ
り,
り,
【数20】 となり,測定電極から得られる電位検出信号Vt は,
【数21】 と表される。ただし,A0 は増幅度に関する定数を表
す。
す。
【0154】(29)式からわかるように,測定電極か
ら得られる電位検出信号からは測定距離Lに依存して変
化する複数の異なる周波数成分が現れる。したがって,
その複数の異なる周波数成分を異なる出力信号として検
出することにより,1つの測定電極から測定距離Lに依
存して変化する複数の出力信号が得られる。そして,各
出力信号を利用して,測定距離変動による電位検出信号
の出力変動を補正することが可能となる。
ら得られる電位検出信号からは測定距離Lに依存して変
化する複数の異なる周波数成分が現れる。したがって,
その複数の異なる周波数成分を異なる出力信号として検
出することにより,1つの測定電極から測定距離Lに依
存して変化する複数の出力信号が得られる。そして,各
出力信号を利用して,測定距離変動による電位検出信号
の出力変動を補正することが可能となる。
【0155】3次以降の周波数成分は信号出力レベルが
比較的小さいため3次以降の周波数成分を無視し,(2
9)式の電位検出信号から周波数の異なる出力信号とし
て1次及び2次の周波数成分のみを出力信号として利用
することにより,十分なSN比で効率よく出力信号を検
知することができる。したがって,十分正確な表面電位
出力を得ることができる。
比較的小さいため3次以降の周波数成分を無視し,(2
9)式の電位検出信号から周波数の異なる出力信号とし
て1次及び2次の周波数成分のみを出力信号として利用
することにより,十分なSN比で効率よく出力信号を検
知することができる。したがって,十分正確な表面電位
出力を得ることができる。
【0156】そこで,(29)式の電位検出信号から1
次及び2次の周波数成分のみを検出すると,近似的に,
次及び2次の周波数成分のみを検出すると,近似的に,
【数22】 となり,(30)式においてω,2ωの各周波数成分を
選択的に検出することにより,周波数の異なる2つの出
力信号V1 ,V2 を得ることができる。
選択的に検出することにより,周波数の異なる2つの出
力信号V1 ,V2 を得ることができる。
【0157】以下,このようにして得られた周波数の異
なる出力信号V1 ,V2 を利用し,測定距離変動による
電位検出信号の出力変動を補正して正確な表面電位を求
める方法について説明する。
なる出力信号V1 ,V2 を利用し,測定距離変動による
電位検出信号の出力変動を補正して正確な表面電位を求
める方法について説明する。
【0158】まず,第1の方法として,各出力信号
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VSに依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る方法について説明する。
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VSに依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る方法について説明する。
【0159】(30)式より検出された各出力信号
V1 ,V2 の大きさ(出力値)|V1 |,|V2 |は,
V1 ,V2 の大きさ(出力値)|V1 |,|V2 |は,
【数23】 と表され,表面電位VS に依存せずに測定距離Lを一義
的に求めるためには,|V1 |,|V2 |の出力比を求
めれば良い。
的に求めるためには,|V1 |,|V2 |の出力比を求
めれば良い。
【0160】例えば,出力比を|V2 |/|V1 |とし
た場合,|V2 |/|V1 |は,(31)及び(32)
式より,
た場合,|V2 |/|V1 |は,(31)及び(32)
式より,
【数24】 となり,Lに関しての一次関数F(L)として表され
る。
る。
【0161】このとき,Lと|V2 |/|V1 |との関
係は図20(a)のような関係曲線で表され,出力比|
V2 |/|V1 |を求めることにより,表面電位VS に
依存せずにLを一義的に求めることが可能となる。
係は図20(a)のような関係曲線で表され,出力比|
V2 |/|V1 |を求めることにより,表面電位VS に
依存せずにLを一義的に求めることが可能となる。
【0162】また,出力比を|V1 |/|V2 |とした
場合,|V1 |/|V2 |は,
場合,|V1 |/|V2 |は,
【数25】 となり,同様にLに関しての一次関数F(L)で表さ
れ,このときLと|V1 |/|V2 |との関係は図20
(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力比
|V1 |/|V2 |を求めれば表面電位VS に依存せず
にLを求めることが可能となる。
れ,このときLと|V1 |/|V2 |との関係は図20
(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力比
|V1 |/|V2 |を求めれば表面電位VS に依存せず
にLを求めることが可能となる。
【0163】このようにして一義的に求められたLを利
用して,既知である|V1 |又は|V2 |の出力値と測
定距離Lとの関係から|V1 |又は|V2 |の出力値を
補正し,更に既知である表面電位VS と出力値|V1 |
又は|V2 |との関係から前記補正された|V1 |又は
|V2 |の出力値に対応する表面電位VS を求めること
により,被測定体の正確な表面電位を得ることが可能と
なる。また,得られたLを|V1 |又は|V2 |の出力
式((31)又は(32))に代入し,VS について求
めることにより,被測定体の表面電位を一義的に求める
ことができる。
用して,既知である|V1 |又は|V2 |の出力値と測
定距離Lとの関係から|V1 |又は|V2 |の出力値を
補正し,更に既知である表面電位VS と出力値|V1 |
又は|V2 |との関係から前記補正された|V1 |又は
|V2 |の出力値に対応する表面電位VS を求めること
により,被測定体の正確な表面電位を得ることが可能と
なる。また,得られたLを|V1 |又は|V2 |の出力
式((31)又は(32))に代入し,VS について求
めることにより,被測定体の表面電位を一義的に求める
ことができる。
【0164】次に,第2の方法として,各出力信号
V1 ,V2 は測定距離Lに依存して変化するため,|V
1 |,|V2 |の出力値を利用して測定距離Lに依存し
ないようにLの変数を打ち消す演算処理を行い,その演
算結果から正確な表面電位を得る方法について説明す
る。
V1 ,V2 は測定距離Lに依存して変化するため,|V
1 |,|V2 |の出力値を利用して測定距離Lに依存し
ないようにLの変数を打ち消す演算処理を行い,その演
算結果から正確な表面電位を得る方法について説明す
る。
【0165】例えば,(30)式より検出された(3
1)式の|V1 |を3乗し,その結果を(32)式の|
V2 |を2乗した値で割算することにより,
1)式の|V1 |を3乗し,その結果を(32)式の|
V2 |を2乗した値で割算することにより,
【数26】 のような出力結果が得られる。(35)式より測定距離
Lに依存しない被測定体の表面電位VS に対応した出力
値が得られるので,(35)式の出力値と被測定体の表
面電位VS との関係から正確な表面電位を得ることが可
能となる。
Lに依存しない被測定体の表面電位VS に対応した出力
値が得られるので,(35)式の出力値と被測定体の表
面電位VS との関係から正確な表面電位を得ることが可
能となる。
【0166】また,(32)式の|V2 |を2乗し,
(31)式の|V1 |を3乗した値で割算することによ
り,
(31)式の|V1 |を3乗した値で割算することによ
り,
【数27】 のような出力結果が得られる。前記同様に(36)式の
出力値と被測定体の表面電位VS との関係から正確な表
面電位を得ることが可能となる。
出力値と被測定体の表面電位VS との関係から正確な表
面電位を得ることが可能となる。
【0167】(33)式を利用する場合,(31)式の
|V1 |を(33)式の出力値を2乗した値で割算する
か又は(33)式の出力値を2乗した値を(31)式の
|V1 |で割算することにより,(35)式又は(3
6)式のような出力結果が得られ,前述したのと同様に
正確な表面電位を得ることができる。
|V1 |を(33)式の出力値を2乗した値で割算する
か又は(33)式の出力値を2乗した値を(31)式の
|V1 |で割算することにより,(35)式又は(3
6)式のような出力結果が得られ,前述したのと同様に
正確な表面電位を得ることができる。
【0168】また,(32)式の|V2 |を(33)式
の出力値を3乗した値で割算するか又は(33)式の出
力値を3乗した値を(32)式の|V2 |で割算するこ
とによっても,(35)式又は(36)式のような出力
結果が得られ,前述したものと同様に正確な表面電位を
得ることができる。
の出力値を3乗した値で割算するか又は(33)式の出
力値を3乗した値を(32)式の|V2 |で割算するこ
とによっても,(35)式又は(36)式のような出力
結果が得られ,前述したものと同様に正確な表面電位を
得ることができる。
【0169】更に,(34)式を利用する場合,(3
1)式の|V1 |に(34)式の出力値を2乗した値を
掛け合わせるか又は(32)式の|V2 |に(34)式
の出力値を3乗した値を掛け合わせることにより,(3
5)式のような出力結果が得られ,前述したものと同様
に正確な表面電位を得ることができる。
1)式の|V1 |に(34)式の出力値を2乗した値を
掛け合わせるか又は(32)式の|V2 |に(34)式
の出力値を3乗した値を掛け合わせることにより,(3
5)式のような出力結果が得られ,前述したものと同様
に正確な表面電位を得ることができる。
【0170】この例においても,周波数の異なる複数の
出力信号を利用し,測定距離変動による電位検出信号の
出力変動を補正し,被測定体の表面電位に対応した正確
な出力信号を得る具体的な手段として,各出力信号
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VS に依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る手段としては,図21で説明した装
置を適用することができる。また,各出力信号の出力値
|V1 |,|V2 |を利用して測定距離Lに依存しない
よう演算処理を行い,その演算結果から正確な表面電位
を得る手段としては,図22(a)〜(e)で説明した
装置を適用することができる。
出力信号を利用し,測定距離変動による電位検出信号の
出力変動を補正し,被測定体の表面電位に対応した正確
な出力信号を得る具体的な手段として,各出力信号
V1 ,V2 から被測定体の表面電位VS に依存せずに測
定距離Lを逆に一義的に求め,得られた測定距離から正
確な表面電位を得る手段としては,図21で説明した装
置を適用することができる。また,各出力信号の出力値
|V1 |,|V2 |を利用して測定距離Lに依存しない
よう演算処理を行い,その演算結果から正確な表面電位
を得る手段としては,図22(a)〜(e)で説明した
装置を適用することができる。
【0171】また,この例のように周波数の異なる出力
信号として1次及び2次の周波数成分のみを出力信号と
して利用することで,十分正確な表面電位を効率良く得
ることが可能である。更に測定精度を高めたい場合に
は,1次及び2次の周波数成分の他に3次以降の周波数
成分を利用し,1つの測定電極から2つ以上の出力信号
を得て,各出力信号を利用して被測定体の表面電位を求
めても良い。また,信頼性を高めたい場合には,測定電
極を2つ以上設け,各測定電極について上記と同様な測
定方法及び測定手段を利用して被測定体の表面電位を求
めても良い。
信号として1次及び2次の周波数成分のみを出力信号と
して利用することで,十分正確な表面電位を効率良く得
ることが可能である。更に測定精度を高めたい場合に
は,1次及び2次の周波数成分の他に3次以降の周波数
成分を利用し,1つの測定電極から2つ以上の出力信号
を得て,各出力信号を利用して被測定体の表面電位を求
めても良い。また,信頼性を高めたい場合には,測定電
極を2つ以上設け,各測定電極について上記と同様な測
定方法及び測定手段を利用して被測定体の表面電位を求
めても良い。
【0172】また,他の例として図25は,1つの測定
電極から出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電位
検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図であ
る。これは,前述した2つ以上の出力信号を得る方法と
して,表面電位を検出するために測定電極を被測定体方
向に周期的に変動させながら測定電極の検出位置を変動
させることにより,被測定体と測定電極との間の距離を
異ならせて,各々の出力信号から被測定体の表面電位を
得るというものである。被測定体の表面電位の検出原理
は,図37(b)に示すものと同様である。なお,測定
電極の変動方法としては,図25に示す正弦波状,ある
いは矩形波状,台形波状,三角波状,鋸波状及びパルス
波状等の周期的又は非周期的な変動を用いても表面電位
の検出は可能である。
電極から出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電位
検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図であ
る。これは,前述した2つ以上の出力信号を得る方法と
して,表面電位を検出するために測定電極を被測定体方
向に周期的に変動させながら測定電極の検出位置を変動
させることにより,被測定体と測定電極との間の距離を
異ならせて,各々の出力信号から被測定体の表面電位を
得るというものである。被測定体の表面電位の検出原理
は,図37(b)に示すものと同様である。なお,測定
電極の変動方法としては,図25に示す正弦波状,ある
いは矩形波状,台形波状,三角波状,鋸波状及びパルス
波状等の周期的又は非周期的な変動を用いても表面電位
の検出は可能である。
【0173】図25において,測定電極が被測定体から
L1 の距離にあるときの出力信号をV1 ,L1 からdだ
け離れた距離をL2 としたときの出力信号をV2 とする
と,出力値は測定距離に依存して変動するため,図26
のような出力値の異なる各々の信号が得られる。この場
合,測定電極の検出位置をL1 とL2 との間(間隔d)
で周期的又は非周期的に変動させることにより,正弦波
状(図27),矩形波状(図28),三角波状(図2
9),鋸波状(図30)及び台形波状(図31)等に変
動した異なる出力値を有する信号を得ることができる。
L1 の距離にあるときの出力信号をV1 ,L1 からdだ
け離れた距離をL2 としたときの出力信号をV2 とする
と,出力値は測定距離に依存して変動するため,図26
のような出力値の異なる各々の信号が得られる。この場
合,測定電極の検出位置をL1 とL2 との間(間隔d)
で周期的又は非周期的に変動させることにより,正弦波
状(図27),矩形波状(図28),三角波状(図2
9),鋸波状(図30)及び台形波状(図31)等に変
動した異なる出力値を有する信号を得ることができる。
【0174】次に,以上のようにして得られた異なる出
力値V1 ,V2 を用いて被測定体の表面電位VS に依存
せずに測定距離L1 を逆に一義的に求める。まず,振動
容量型の場合,被測定体と測定電極との間の静電容量C
0 の変化率α0 は,測定距離L1 ,L2 に対し, α1 =ΔL/(L1 −ΔL) … (37) α2 =ΔL/(L2 −ΔL) … (38) と表される。ただし,ΔLは測定電極の変動の変化幅を
表す。
力値V1 ,V2 を用いて被測定体の表面電位VS に依存
せずに測定距離L1 を逆に一義的に求める。まず,振動
容量型の場合,被測定体と測定電極との間の静電容量C
0 の変化率α0 は,測定距離L1 ,L2 に対し, α1 =ΔL/(L1 −ΔL) … (37) α2 =ΔL/(L2 −ΔL) … (38) と表される。ただし,ΔLは測定電極の変動の変化幅を
表す。
【0175】ここで,測定電極が被測定体からL1 の距
離にあるときの静電容量をC1 ,L2 の距離にあるとき
の静電容量をC2 とすると,各出力信号V1 ,V2 の出
力式は(1),(5),(37),(38)を用いて, V1 =A0 ・α1 ・ω・C1 ・V S ・cosωt =A0 ・ΔL/(L1 −ΔL)・ω・εair ・(S/L1 ) ・VS ・cosωt … (39) V2 =A0 ・α2 ・ω・C2 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL/(L2 −ΔL)・ω・εair ・(S/L2 ) ・VS ・cosωt … (40) と表される。
離にあるときの静電容量をC1 ,L2 の距離にあるとき
の静電容量をC2 とすると,各出力信号V1 ,V2 の出
力式は(1),(5),(37),(38)を用いて, V1 =A0 ・α1 ・ω・C1 ・V S ・cosωt =A0 ・ΔL/(L1 −ΔL)・ω・εair ・(S/L1 ) ・VS ・cosωt … (39) V2 =A0 ・α2 ・ω・C2 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL/(L2 −ΔL)・ω・εair ・(S/L2 ) ・VS ・cosωt … (40) と表される。
【0176】また,L2 はL2 =L1 +dなので,(3
9),(40)式より測定距離L1について逆に求める
ことができ,表面電位VS に依存せずにL1 を一義的に
求めるためには,(39),(40)式よりV1 ,V2
の出力比を求めれば良い。
9),(40)式より測定距離L1について逆に求める
ことができ,表面電位VS に依存せずにL1 を一義的に
求めるためには,(39),(40)式よりV1 ,V2
の出力比を求めれば良い。
【0177】例えば,出力比をV2 /V1 とした場合,
V2 /V1 は, V2 /V1 =L1 ・(L1 −ΔL)/〔L2 ・(L2 −ΔL)〕 =L1 ・(L1 −ΔL)/〔(L1 +d)・(L1 +d−ΔL)〕 =F(L1 2 ) … (41) となり,L1に関しての2次関数F(L1 2)で表され
る。このとき,L1 とV2/V1 との関係は,図32
(a)のような関係曲線で表され,出力比V2 /V1を
求めれば,表面電位VS に依存せずにL1 を一義的に求
めることが可能となる。
V2 /V1 は, V2 /V1 =L1 ・(L1 −ΔL)/〔L2 ・(L2 −ΔL)〕 =L1 ・(L1 −ΔL)/〔(L1 +d)・(L1 +d−ΔL)〕 =F(L1 2 ) … (41) となり,L1に関しての2次関数F(L1 2)で表され
る。このとき,L1 とV2/V1 との関係は,図32
(a)のような関係曲線で表され,出力比V2 /V1を
求めれば,表面電位VS に依存せずにL1 を一義的に求
めることが可能となる。
【0178】また,出力比をV1 /V2 とすれば,V1
/V2 は, V1 /V2 =L2 ・(L2 −ΔL)/〔L1 ・(L1 −ΔL)〕 =(L1 +d)・(L1 +d−ΔL)/〔L1・(L1 −ΔL)〕 =F(L1 2 ) … (42) となり,同様にL1 に関しての二次関数F(L1 2 )で
表され,このとき,L1とV1 /V2 との関係は,図3
2(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力
比V1 /V2 を求めれば,表面電位VS に依存せずにL
1 を一義的に求めることが可能となる。
/V2 は, V1 /V2 =L2 ・(L2 −ΔL)/〔L1 ・(L1 −ΔL)〕 =(L1 +d)・(L1 +d−ΔL)/〔L1・(L1 −ΔL)〕 =F(L1 2 ) … (42) となり,同様にL1 に関しての二次関数F(L1 2 )で
表され,このとき,L1とV1 /V2 との関係は,図3
2(b)のような関係曲線で表され,これも同様に出力
比V1 /V2 を求めれば,表面電位VS に依存せずにL
1 を一義的に求めることが可能となる。
【0179】このようにして一義的に求められたL1 を
利用して,既知のV1 又はV2 の出力値と測定距離Lと
の関係からV1 又はV2 の出力値を補正し,更に既知で
ある表面電位VS と出力値V1 又はV2 との関係から補
正されたV1 又はV2 の出力値に対応する表面電位VS
を求めることにより,被測定体の表面電位を正確に得る
ことが可能となる。また,得られたL1 をV1 又はV2
の出力式((39)又は(40)式)に代入し,VS に
ついて求めることにより,被測定体の表面電位を正確に
得ることが可能となる。
利用して,既知のV1 又はV2 の出力値と測定距離Lと
の関係からV1 又はV2 の出力値を補正し,更に既知で
ある表面電位VS と出力値V1 又はV2 との関係から補
正されたV1 又はV2 の出力値に対応する表面電位VS
を求めることにより,被測定体の表面電位を正確に得る
ことが可能となる。また,得られたL1 をV1 又はV2
の出力式((39)又は(40)式)に代入し,VS に
ついて求めることにより,被測定体の表面電位を正確に
得ることが可能となる。
【0180】この例の場合も,図33のような構成とす
ることで第1及び第2出力信号検出部32,33によっ
て得た2つ以上の出力信号から測定距離補正部49によ
って測定距離補正を行い,被測定体の表面電位に対応し
て正確な出力信号を得ることが可能となる。
ることで第1及び第2出力信号検出部32,33によっ
て得た2つ以上の出力信号から測定距離補正部49によ
って測定距離補正を行い,被測定体の表面電位に対応し
て正確な出力信号を得ることが可能となる。
【0181】また,図25のように表面電位を検出する
ために測定電極を被測定体方向に周期的に変動させなが
ら測定電極の検出位置を変動させて被測定体と測定電極
との間の距離を異ならせる手段としては,前述した電極
振動部に図23(a)に示すような駆動電圧(駆動電
流)波形と図23(b)に示すような駆動電圧(駆動電
流)波形を重畳させた状態の電圧波形(図23(c))
を各変動手段に印加することで可能となる。なお,この
印加電圧(印加電流)波形としては,図23(a)〜
(c)に示す正弦波状の波形に限られず,測定電極を変
動させるための波形(矩形波状,台形波状,三角波状,
鋸波状,パルス波状等の周期的又は非周期的に変動する
波形)及び測定電極の検出位置を異ならせるための波形
(正弦波状(図27),矩形波状(図28),三角波状
(図29),鋸波状(図30),台形波状(図31)等
の周期的又は非周期的に変動する波形)に従う印加電圧
波形を用いることができる。
ために測定電極を被測定体方向に周期的に変動させなが
ら測定電極の検出位置を変動させて被測定体と測定電極
との間の距離を異ならせる手段としては,前述した電極
振動部に図23(a)に示すような駆動電圧(駆動電
流)波形と図23(b)に示すような駆動電圧(駆動電
流)波形を重畳させた状態の電圧波形(図23(c))
を各変動手段に印加することで可能となる。なお,この
印加電圧(印加電流)波形としては,図23(a)〜
(c)に示す正弦波状の波形に限られず,測定電極を変
動させるための波形(矩形波状,台形波状,三角波状,
鋸波状,パルス波状等の周期的又は非周期的に変動する
波形)及び測定電極の検出位置を異ならせるための波形
(正弦波状(図27),矩形波状(図28),三角波状
(図29),鋸波状(図30),台形波状(図31)等
の周期的又は非周期的に変動する波形)に従う印加電圧
波形を用いることができる。
【0182】更に,他の例として,図34は,1つの測
定電極から出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電
位検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図で
ある。これは前述した2つ以上の出力信号を得る方法と
して,表面電位を検出するために測定電極を被測定体方
向に周期的に変動させ,その際,変動の変化幅を異なら
せて各々の変化幅に対応する出力信号から被測定体の表
面電位を得る方法を示している。被測定体の表面電位の
検出原理は,図37(b)に示すものと同様である。
定電極から出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電
位検出信号の出力変動を補正する方法に関する説明図で
ある。これは前述した2つ以上の出力信号を得る方法と
して,表面電位を検出するために測定電極を被測定体方
向に周期的に変動させ,その際,変動の変化幅を異なら
せて各々の変化幅に対応する出力信号から被測定体の表
面電位を得る方法を示している。被測定体の表面電位の
検出原理は,図37(b)に示すものと同様である。
【0183】なお,測定電極の変動方法としては,図3
4に示すような正弦波状,あるいは矩形波状,台形波
状,三角波状,鋸波状,パルス波状等の周期的又は非周
期的な変動を用いても表面電位の検出は可能である。
4に示すような正弦波状,あるいは矩形波状,台形波
状,三角波状,鋸波状,パルス波状等の周期的又は非周
期的な変動を用いても表面電位の検出は可能である。
【0184】図34において,測定電極を被測定体から
Lだけはなした距離に配置し,測定電極を被測定体方向
にΔL1 の変化幅で変動させたときの出力信号をV1 ,
ΔL2 の変化幅で変動させたときの出力信号をV2 とす
ると,出力信号は測定電極の変動の変化幅にほぼ比例す
るため,図26のV1 ,V2 に対応するような出力値の
異なる各々の信号が得られる。この場合,測定電極の変
動の変動幅を周期的又は非周期的に変動させることによ
り,正弦波状(図27),矩形波状(図28),三角波
状(図29),鋸波状(図30),台形波状(図31)
等に変動した異なる出力値を有する信号を得ることがで
きる。
Lだけはなした距離に配置し,測定電極を被測定体方向
にΔL1 の変化幅で変動させたときの出力信号をV1 ,
ΔL2 の変化幅で変動させたときの出力信号をV2 とす
ると,出力信号は測定電極の変動の変化幅にほぼ比例す
るため,図26のV1 ,V2 に対応するような出力値の
異なる各々の信号が得られる。この場合,測定電極の変
動の変動幅を周期的又は非周期的に変動させることによ
り,正弦波状(図27),矩形波状(図28),三角波
状(図29),鋸波状(図30),台形波状(図31)
等に変動した異なる出力値を有する信号を得ることがで
きる。
【0185】次に,前述のようにして得られた異なる出
力値V1 及びV2 を用いて,被測定体の表面電位VS に
依存せずに測定距離Lを逆に一義的に求める。まず,振
動容量型の場合,被測定体と測定電極との間の静電容量
C0 の変化率α0 は,測定電極の変動の各変化幅Δ
L1 ,ΔL2 に対し, β1 =ΔL1 /(L−ΔL1 ) … (43) β2 =ΔL2 /(L−ΔL2 ) … (44) と表される。
力値V1 及びV2 を用いて,被測定体の表面電位VS に
依存せずに測定距離Lを逆に一義的に求める。まず,振
動容量型の場合,被測定体と測定電極との間の静電容量
C0 の変化率α0 は,測定電極の変動の各変化幅Δ
L1 ,ΔL2 に対し, β1 =ΔL1 /(L−ΔL1 ) … (43) β2 =ΔL2 /(L−ΔL2 ) … (44) と表される。
【0186】したがって,各出力信号V1 ,V2 の出力
式は,(1),(5),(43),(44)式を用い
て, V1 =A0 ・β1 ・ω・C0 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL1 /(L−ΔL1 )・ω・εair ・(S/L) ・VS ・cosωt … (45) V2 =A0 ・β2 ・ω・C0 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL2 /(L−ΔL2 )・ω・εair ・(S/L) ・VS ・cosωt … (46) と表される。表面電位VS に依存せずにLを逆に一義的
に求めるためには,(45),(46)式よりV1 とV
2 との出力比を求めれば良い。
式は,(1),(5),(43),(44)式を用い
て, V1 =A0 ・β1 ・ω・C0 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL1 /(L−ΔL1 )・ω・εair ・(S/L) ・VS ・cosωt … (45) V2 =A0 ・β2 ・ω・C0 ・VS ・cosωt =A0 ・ΔL2 /(L−ΔL2 )・ω・εair ・(S/L) ・VS ・cosωt … (46) と表される。表面電位VS に依存せずにLを逆に一義的
に求めるためには,(45),(46)式よりV1 とV
2 との出力比を求めれば良い。
【0187】例えば,出力比をV2 /V1 とした場合,
V2 /V1 は, V2 /V1 =ΔL2 ・(L−ΔL1 )/〔ΔL1 ・(L−ΔL2 )〕 =F(L) … (47) となり,Lに関しての一次関数F(L)で表される。こ
のとき,LとV2 /V1との関係は図35(a)のよう
な関係曲線で表され,出力比V2 /V1 を求めれば,表
面電位VS に依存せずにLを一義的に求めることが可能
である。
V2 /V1 は, V2 /V1 =ΔL2 ・(L−ΔL1 )/〔ΔL1 ・(L−ΔL2 )〕 =F(L) … (47) となり,Lに関しての一次関数F(L)で表される。こ
のとき,LとV2 /V1との関係は図35(a)のよう
な関係曲線で表され,出力比V2 /V1 を求めれば,表
面電位VS に依存せずにLを一義的に求めることが可能
である。
【0188】また,出力比をV1 /V2 とした場合,V
1 /V2 は, V1 /V2 =ΔL1 ・(L−ΔL2 )/〔ΔL2 ・(L−ΔL1 )〕 =F(L) … (48) となり,同様にLに関しての一次関数F(L)で表さ
れ,LとV1 /V2 との関係は図35(b)のような関
係曲線で表される。したがって,同様に出力比V1/V
2 を求めれば,表面電位VS に依存せずにLを一義的に
求めることができる。
1 /V2 は, V1 /V2 =ΔL1 ・(L−ΔL2 )/〔ΔL2 ・(L−ΔL1 )〕 =F(L) … (48) となり,同様にLに関しての一次関数F(L)で表さ
れ,LとV1 /V2 との関係は図35(b)のような関
係曲線で表される。したがって,同様に出力比V1/V
2 を求めれば,表面電位VS に依存せずにLを一義的に
求めることができる。
【0189】このように一義的に求められたLを利用し
て既知のV1 又はV2 の出力値と測定距離Lとの関係か
らV1 又はV2 の出力値を補正し,更に既知の表面電位
VSと出力値V1 又はV2 との関係から補正されたV1
又はV2 の出力値に対応する表面電位VS を求めること
により,被測定体の表面電位を正確に得ることができ
る。また,得られたLをV1 又はV2 の出力式((4
5)又は(46)式)に代入し,VS について求めるこ
とにより,被測定体の表面電位を一義的に求めることも
できる。本例の場合も図33のような構成とすることに
より,2つ以上の出力信号から測定距離補正を行い被測
定体の表面電位に対応した正確な出力信号を得ることが
できる。
て既知のV1 又はV2 の出力値と測定距離Lとの関係か
らV1 又はV2 の出力値を補正し,更に既知の表面電位
VSと出力値V1 又はV2 との関係から補正されたV1
又はV2 の出力値に対応する表面電位VS を求めること
により,被測定体の表面電位を正確に得ることができ
る。また,得られたLをV1 又はV2 の出力式((4
5)又は(46)式)に代入し,VS について求めるこ
とにより,被測定体の表面電位を一義的に求めることも
できる。本例の場合も図33のような構成とすることに
より,2つ以上の出力信号から測定距離補正を行い被測
定体の表面電位に対応した正確な出力信号を得ることが
できる。
【0190】更に,図34のように表面電位を検出する
ために測定電極を被測定体方向に周期的に変動させると
共にその変動の変化幅を異ならせる手段としては,図3
6(a)に示すような駆動電圧(駆動電流)の大きさを
異ならせた状態の電圧(電流)波形の電圧(電流)を印
加することにより可能となる。
ために測定電極を被測定体方向に周期的に変動させると
共にその変動の変化幅を異ならせる手段としては,図3
6(a)に示すような駆動電圧(駆動電流)の大きさを
異ならせた状態の電圧(電流)波形の電圧(電流)を印
加することにより可能となる。
【0191】また,図36(b)に示すように駆動電圧
(駆動電流)の大きさは一定として,駆動電圧(駆動電
流)波形の周波数を異ならせた状態の電圧波形の電圧
(電流)を印加することでも可能である。
(駆動電流)の大きさは一定として,駆動電圧(駆動電
流)波形の周波数を異ならせた状態の電圧波形の電圧
(電流)を印加することでも可能である。
【0192】更に,図36(a)及び(b)に示した各
駆動電圧(駆動電流)波形において,駆動電圧(駆動電
流)の大きさとその周波数とを同時に異ならせた状態の
電圧(電流)波形の電圧(電流)を各変動手段に印加し
ても可能である。
駆動電圧(駆動電流)波形において,駆動電圧(駆動電
流)の大きさとその周波数とを同時に異ならせた状態の
電圧(電流)波形の電圧(電流)を各変動手段に印加し
ても可能である。
【0193】なお,この印加電圧(印加電流)波形とし
ては,図36(a)及び(b)に示した正弦波状の波形
に限らず,測定電極を変動させるための波形(矩形波
状,台形波状,三角波状,鋸波状,パルス波状等の周期
的又は非周期的に変動する波形)及び測定電極の変動の
変化幅を異ならせるための波形(正弦波状(図27),
矩形波状(図28),三角波状(図29),鋸波状(図
30),台形波状(図31)等の周期的又は非周期的に
変動する波形)に従う印加電圧波形を使用することがで
きる。
ては,図36(a)及び(b)に示した正弦波状の波形
に限らず,測定電極を変動させるための波形(矩形波
状,台形波状,三角波状,鋸波状,パルス波状等の周期
的又は非周期的に変動する波形)及び測定電極の変動の
変化幅を異ならせるための波形(正弦波状(図27),
矩形波状(図28),三角波状(図29),鋸波状(図
30),台形波状(図31)等の周期的又は非周期的に
変動する波形)に従う印加電圧波形を使用することがで
きる。
【0194】
【発明の効果】以上説明したように,本発明に係る表面
電位測定装置(請求項1)によれば,非測定体から所定
の間隔を隔てた位置に非測定体と電気的に独立した振動
部材を測定電極として利用するため,SN比と信頼性を
を向上することができると共に,安定した高感度な表面
電位の検出ができ,簡単な構成で小型かつ安価な表面電
位測定装置を得ることができる。
電位測定装置(請求項1)によれば,非測定体から所定
の間隔を隔てた位置に非測定体と電気的に独立した振動
部材を測定電極として利用するため,SN比と信頼性を
を向上することができると共に,安定した高感度な表面
電位の検出ができ,簡単な構成で小型かつ安価な表面電
位測定装置を得ることができる。
【0195】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項2)によれば,振動部材の節部又は固定部から振動
部材による測定電極の電位信号を取り出すため,安定し
て測定電極からの電位信号を取り出すことができると共
に信頼性の高い表面電位の検出ができ,簡単な構成で小
型かつ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項2)によれば,振動部材の節部又は固定部から振動
部材による測定電極の電位信号を取り出すため,安定し
て測定電極からの電位信号を取り出すことができると共
に信頼性の高い表面電位の検出ができ,簡単な構成で小
型かつ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0196】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項3)によれば,振動部材を振動させ,被測定体と振
動部材の測定電極との間で形成される静電容量を変化さ
せる容量変化手段として電磁コイルを利用するため,S
N比と信頼性をを向上することができると共に,安定し
た高感度な表面電位の検出ができ,簡単な構成で小型か
つ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項3)によれば,振動部材を振動させ,被測定体と振
動部材の測定電極との間で形成される静電容量を変化さ
せる容量変化手段として電磁コイルを利用するため,S
N比と信頼性をを向上することができると共に,安定し
た高感度な表面電位の検出ができ,簡単な構成で小型か
つ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0197】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項4)によれば,振動部材を振動させ,被測定体と振
動部材の測定電極との間で形成される静電容量を変化さ
せる容量変化手段としてボイスコイルを利用するため,
SN比と信頼性をを向上することができると共に,安定
した高感度な表面電位の検出ができ,簡単な構成で小型
かつ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項4)によれば,振動部材を振動させ,被測定体と振
動部材の測定電極との間で形成される静電容量を変化さ
せる容量変化手段としてボイスコイルを利用するため,
SN比と信頼性をを向上することができると共に,安定
した高感度な表面電位の検出ができ,簡単な構成で小型
かつ安価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0198】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項5)によれば,振動部材を被測定体に対向する方向
に振動させ,被測定体と振動部材の測定電極との間で形
成される静電容量を変化させ,被測定体の表面電位に対
応して誘起され該静電容量の変化に伴って変化する振動
部材の測定電極の電位を検出し,該検出信号から少なく
とも2つ以上の出力信号を検知する出力検知手段と,該
出力信号から被測定体の表面電位を導き出す表面電位導
出手段とを備えているため,電位出力信号が測定距離に
依存せずに高精度な表面電位の検出が可能でかつ簡単な
構成で安価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項5)によれば,振動部材を被測定体に対向する方向
に振動させ,被測定体と振動部材の測定電極との間で形
成される静電容量を変化させ,被測定体の表面電位に対
応して誘起され該静電容量の変化に伴って変化する振動
部材の測定電極の電位を検出し,該検出信号から少なく
とも2つ以上の出力信号を検知する出力検知手段と,該
出力信号から被測定体の表面電位を導き出す表面電位導
出手段とを備えているため,電位出力信号が測定距離に
依存せずに高精度な表面電位の検出が可能でかつ簡単な
構成で安価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0199】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項6)によれば,振動部材を絶縁層を介した複数の導
電層で構成して一つの振動部材として利用するため,安
定して信頼性の高い表面電位の検出が可能となると共に
簡単な構成で安価な表面電位測定装置を得ることができ
る。
求項6)によれば,振動部材を絶縁層を介した複数の導
電層で構成して一つの振動部材として利用するため,安
定して信頼性の高い表面電位の検出が可能となると共に
簡単な構成で安価な表面電位測定装置を得ることができ
る。
【0200】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項7)によれば,振動部材を絶縁体とし,その表面に
複数の導電体領域を設けた構成の一つの振動部材を利用
するため,安定して信頼性の高い表面電位の検出が可能
となると共に簡単な構成で安価な表面電位測定装置を得
ることができる。
求項7)によれば,振動部材を絶縁体とし,その表面に
複数の導電体領域を設けた構成の一つの振動部材を利用
するため,安定して信頼性の高い表面電位の検出が可能
となると共に簡単な構成で安価な表面電位測定装置を得
ることができる。
【0201】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項8)によれば,絶縁層を介した複数の導電層で振動
部材を構成し,振動部材の節又は固定部よりボイスコイ
ルの駆動信号を印加するため,安定して信頼性の高い表
面電位の検出が可能となると共に簡単な構成で安価な表
面電位測定装置を得ることができる。
求項8)によれば,絶縁層を介した複数の導電層で振動
部材を構成し,振動部材の節又は固定部よりボイスコイ
ルの駆動信号を印加するため,安定して信頼性の高い表
面電位の検出が可能となると共に簡単な構成で安価な表
面電位測定装置を得ることができる。
【0202】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項9)によれば,絶縁体の表面上に複数の導電体領域
を設けた振動部材を構成し,振動部材の節又は固定部よ
りボイスコイルの駆動信号を印加するため,安定して信
頼性の高い表面電位の検出が可能となると共に簡単な構
成で安価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項9)によれば,絶縁体の表面上に複数の導電体領域
を設けた振動部材を構成し,振動部材の節又は固定部よ
りボイスコイルの駆動信号を印加するため,安定して信
頼性の高い表面電位の検出が可能となると共に簡単な構
成で安価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0203】また,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項10)によれば,振動部材の自由端の高さを被測定
体方向に対して近接する方向に異ならせることにしたた
め,測定電極の検出感度を向上させ,安定して信頼性の
高い表面電位の検出が可能となると共に簡単な構成で安
価な表面電位測定装置を得ることができる。
求項10)によれば,振動部材の自由端の高さを被測定
体方向に対して近接する方向に異ならせることにしたた
め,測定電極の検出感度を向上させ,安定して信頼性の
高い表面電位の検出が可能となると共に簡単な構成で安
価な表面電位測定装置を得ることができる。
【0204】更に,本発明に係る表面電位測定装置(請
求項11)によれば,ボイスコイルに使用される永久磁
石の周囲に高透磁率部材を配置して,永久磁石と磁気回
路を形成して駆動部材を駆動するため,振動部材を小電
力で効率良く駆動でき,高精度な表面電位の検出が可能
な表面電位測定装置を得ることができる。
求項11)によれば,ボイスコイルに使用される永久磁
石の周囲に高透磁率部材を配置して,永久磁石と磁気回
路を形成して駆動部材を駆動するため,振動部材を小電
力で効率良く駆動でき,高精度な表面電位の検出が可能
な表面電位測定装置を得ることができる。
【図1】本発明の実施の形態1に係る表面電位測定装置
の概略構成を示す説明図である。
の概略構成を示す説明図である。
【図2】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部にボ
イスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図であ
り,(a)は側面図,(b)は上面図である。
イスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図であ
り,(a)は側面図,(b)は上面図である。
【図3】図1に示す表面電位測定装置の振動部材に音叉
状振動部材を用いた場合の概略構成を示す説明図であ
る。
状振動部材を用いた場合の概略構成を示す説明図であ
る。
【図4】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部にプ
ランジャー振動型の電磁コイルを用いた場合の概略構成
を示す説明図であり,(a)は片持ち梁状の振動部材
に,(b)は音叉状振動部材に適用した状態を示してい
る。
ランジャー振動型の電磁コイルを用いた場合の概略構成
を示す説明図であり,(a)は片持ち梁状の振動部材
に,(b)は音叉状振動部材に適用した状態を示してい
る。
【図5】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部にボ
イスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図であ
り,(a)〜(f)はボイスコイルの構成例を示してい
る。
イスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図であ
り,(a)〜(f)はボイスコイルの構成例を示してい
る。
【図6】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部にボ
イスコイルを用いた場合の構成を示す説明図である。
イスコイルを用いた場合の構成を示す説明図である。
【図7】図1に示す表面電位測定装置の振動部材の構成
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図8】図1に示す表面電位測定装置の振動部材の構成
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図9】図1に示す表面電位測定装置の振動部材の構成
を示す説明図であり,(a)及び(b)はそれぞれ異な
る形状の振動部材を示している。
を示す説明図であり,(a)及び(b)はそれぞれ異な
る形状の振動部材を示している。
【図10】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部に
ボイスコイルを用いた場合の構成を示す説明図である。
ボイスコイルを用いた場合の構成を示す説明図である。
【図11】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部に
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
【図12】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部に
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
【図13】図1に示す表面電位測定装置の振動駆動部に
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
ボイスコイルを用いた場合において,ボイスコイルの構
成を示す説明図である。
【図14】本発明の実施の形態2に係る表面電位測定装
置の概略構成を示す説明図である。
置の概略構成を示す説明図である。
【図15】図14に示す表面電位測定装置の振動駆動部
にボイスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図で
あり,(a)は側面図,(b)は上面図である。
にボイスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図で
あり,(a)は側面図,(b)は上面図である。
【図16】図14に示す表面電位測定装置の振動部材に
音叉状振動部材を用いた場合の概略構成を示す説明図で
ある。
音叉状振動部材を用いた場合の概略構成を示す説明図で
ある。
【図17】図14に示す表面電位測定装置の振動駆動部
にボイスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図で
あり,(a)〜(f)はボイスコイルの構成例を示して
いる。
にボイスコイルを用いた場合の概略構成を示す説明図で
あり,(a)〜(f)はボイスコイルの構成例を示して
いる。
【図18】本発明の実施の形態2に係る表面電位測定装
置の概略構成を示すブロック図である。
置の概略構成を示すブロック図である。
【図19】図18に示す表面電位測定装置において,振
動部材の振動の様子を示す波形図である。
動部材の振動の様子を示す波形図である。
【図20】図18に示す表面電位測定装置の出力信号を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図21】本発明の実施の形態2に係る表面電位測定装
置の概略構成を示すブロック図である。
置の概略構成を示すブロック図である。
【図22】本発明の実施の形態2に係る表面電位測定装
置の概略構成を示すブロック図であり,(a)〜(f)
は複数の構成例を示している。
置の概略構成を示すブロック図であり,(a)〜(f)
は複数の構成例を示している。
【図23】図18に示す表面電位測定装置において,測
定電極(振動部材)を駆動する電圧の作成方法の一例を
説明するための図である。
定電極(振動部材)を駆動する電圧の作成方法の一例を
説明するための図である。
【図24】実施の形態2において,1つの測定電極から
周波数の異なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号
の出力変動を補正する方法に関する説明図である。
周波数の異なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号
の出力変動を補正する方法に関する説明図である。
【図25】実施の形態2において,1つの測定電極から
出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号
の出力変動を補正する方法に関する説明図である。
出力値の異なる複数の出力信号を検出し,電位検出信号
の出力変動を補正する方法に関する説明図である。
【図26】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を変位させたときの出力信号を示す図である。
部材)を変位させたときの出力信号を示す図である。
【図27】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
【図28】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
【図29】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
【図30】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
【図31】図25に示す方法において,測定電極(振動
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
部材)を周期的に変化させたときの出力信号を示す図で
ある。
【図32】(a)及び(b)は,図25に示す方法にお
いて,測定電極(振動部材)と被測定体との距離を変化
させたときの出力信号の比と距離との関係を示す図であ
る。
いて,測定電極(振動部材)と被測定体との距離を変化
させたときの出力信号の比と距離との関係を示す図であ
る。
【図33】本発明の実施の形態2に係る表面電位測定装
置の好適な信号検出回路の一例を示すブロック図であ
る。
置の好適な信号検出回路の一例を示すブロック図であ
る。
【図34】1つの測定電極から出力値の異なる複数の出
力信号を検出し,電位検出信号の出力変動を補正する方
法に関する説明図である。
力信号を検出し,電位検出信号の出力変動を補正する方
法に関する説明図である。
【図35】(a)及び(b)は,図34に示す方法にお
いて,測定電極(振動部材)と比測定体との距離を変化
させたときの出力信号の比と距離との関係を示す図であ
る。
いて,測定電極(振動部材)と比測定体との距離を変化
させたときの出力信号の比と距離との関係を示す図であ
る。
【図36】測定電極(振動部材)を周期的に変位させる
振動駆動部に印加する電圧(電流)波形を示す図であ
る。
振動駆動部に印加する電圧(電流)波形を示す図であ
る。
【図37】従来の表面電位測定装置の構成を示すブロッ
ク図であり,図37(a)はチョッパ型の表面電位測定
装置,図37(b)は振動容量型の表面電位測定装置を
示している。
ク図であり,図37(a)はチョッパ型の表面電位測定
装置,図37(b)は振動容量型の表面電位測定装置を
示している。
1 測定電極 2 被測定体 3 チョッパ電極 4 電位信号検出部 5 信号増幅部 6 表面電位測定装置 7 片持ち梁状の振動部材 8 振動駆動部 9 電位感受面 10 固定部 11 固定端 12 ボイスコイル 13 振動部材(板バネ) 14 シールドケース 15 電位測定窓 16 ソレノイドコイル 17 永久磁石 18 信号検出部 19 検出信号線 20 駆動信号線 21 電位信号線 22 音叉状振動部材 23 節部 24 電磁コイル部 25 プランジャー型の電磁コイル 26 絶縁層 27 導電層 28 導電体領域 29 高透磁率部材 30 空隙 31 磁気回路 32 第1出力信号検出部 33 第2出力信号検出部 34 第3出力信号検出部 35 出力補正部 36 測定距離検出部 37 第1演算部 38 第2演算部 39 第3演算部 40 第4演算部 41 第5演算部 42 第6演算部 43 第7演算部 44 第8演算部 45 第9演算部 46 第10演算部 47 第11演算部 48 信号増幅部 49 測定距離補正部
Claims (11)
- 【請求項1】 被測定体から所定の間隔を隔てた位置に
前記被測定体と電気的に独立して設けられた振動部材か
らなる測定電極と,前記測定電極を振動させ,前記被測
定体と振動部材からなる前記測定電極との間で形成され
る静電容量を変化させる容量変化手段と,前記被測定体
の表面電位に対応して誘起される前記静電容量の変化に
伴って変化する前記測定電極の電位を検出する電位検出
手段と,前記電位検出手段の検出信号から前記被測定体
の表面電位を導き出す表面電位導出手段と,を備えたこ
とを特徴とする表面電位測定装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,前記振動部材の節部又は固定部より前記測定電極の
電位信号を取り出すことを特徴とする表面電位測定装
置。 - 【請求項3】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,前記測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定
電極との間で形成される静電容量を変化させる容量変化
手段として電磁コイルを用いることを特徴とする表面電
位測定装置。 - 【請求項4】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,前記測定電極を振動させ,前記被測定体と前記測定
電極との間で形成される静電容量を変化させる容量変化
手段としてボイスコイルを用いることを特徴とする表面
電位測定装置。 - 【請求項5】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,前記電位検出手段の前記検出信号から少なくとも2
つ以上の出力信号を検知する出力検知手段を備えたこと
を特徴とする表面電位測定装置。 - 【請求項6】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,絶縁層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成
することを特徴とする表面電位測定装置。 - 【請求項7】 請求項1記載の表面電位測定装置におい
て,絶縁体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振
動部材を構成することを特徴とする表面電位測定装置。 - 【請求項8】 請求項4記載の表面電位測定装置におい
て,絶縁層を介した複数の導電層で前記振動部材を構成
し,前記振動部材の節又は固定部より前記ボイスコイル
の駆動信号を印加することを特徴とする表面電位測定装
置。 - 【請求項9】 請求項4記載の表面電位測定装置におい
て,絶縁体の表面上に複数の導電体領域を設けて前記振
動部材を構成し,前記振動部材の節又は固定部より前記
ボイスコイルの駆動信号を印加することを特徴とする表
面電位測定装置。 - 【請求項10】 請求項1記載の表面電位測定装置にお
いて,前記振動部材の一端を固定し,前記被測定体に近
接するように前記振動部材の他端を形成することを特徴
とする表面電位測定装置。 - 【請求項11】 請求項4記載の表面電位測定装置にお
いて,前記ボイスコイルに使用される永久磁石の周囲に
高透磁率部材を配置し,前記永久磁石と磁気回路を形成
して前記振動部材を駆動することを特徴とする表面電位
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8119533A JPH09281167A (ja) | 1996-04-18 | 1996-04-18 | 表面電位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8119533A JPH09281167A (ja) | 1996-04-18 | 1996-04-18 | 表面電位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09281167A true JPH09281167A (ja) | 1997-10-31 |
Family
ID=14763647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8119533A Pending JPH09281167A (ja) | 1996-04-18 | 1996-04-18 | 表面電位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09281167A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006162457A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Canon Inc | 電位測定装置および画像形成装置 |
| JP2013224904A (ja) * | 2012-04-23 | 2013-10-31 | Koganei Corp | 電位測定装置 |
| CN105116171A (zh) * | 2015-07-01 | 2015-12-02 | 清华大学 | 一种平板绝缘材料表面电势快速测量系统 |
| JP2019040001A (ja) * | 2017-08-24 | 2019-03-14 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像形成装置 |
| CN114527337A (zh) * | 2022-01-14 | 2022-05-24 | 深圳市中明科技股份有限公司 | 一种非接触式静电场检测传感探头装置和系统 |
-
1996
- 1996-04-18 JP JP8119533A patent/JPH09281167A/ja active Pending
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| US9121875B2 (en) | 2012-04-23 | 2015-09-01 | Koganei Corporation | Potential measuring device |
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