JPH092836A - 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク - Google Patents
磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクInfo
- Publication number
- JPH092836A JPH092836A JP10033196A JP10033196A JPH092836A JP H092836 A JPH092836 A JP H092836A JP 10033196 A JP10033196 A JP 10033196A JP 10033196 A JP10033196 A JP 10033196A JP H092836 A JPH092836 A JP H092836A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass
- glass substrate
- magnetic disk
- cao
- mgo
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 81
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 49
- 238000003426 chemical strengthening reaction Methods 0.000 claims abstract description 14
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 235000010333 potassium nitrate Nutrition 0.000 claims abstract description 5
- 239000004323 potassium nitrate Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims abstract description 3
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 claims abstract description 3
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 26
- 239000011734 sodium Substances 0.000 claims description 14
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 claims description 10
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 6
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 6
- 230000032683 aging Effects 0.000 abstract description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 abstract description 3
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 abstract description 2
- 229910004742 Na2 O Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 229910018404 Al2 O3 Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 239000004129 EU approved improving agent Substances 0.000 abstract 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 abstract 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 abstract 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 10
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 9
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 9
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 8
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 7
- 238000004031 devitrification Methods 0.000 description 7
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 6
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018068 Li 2 O Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000006066 glass batch Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000010702 perfluoropolyether Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910001018 Cast iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021193 La 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017493 Nd 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018104 Ni-P Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018536 Ni—P Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005830 Polyurethane Foam Polymers 0.000 description 1
- 229910018967 Pt—Rh Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000011496 polyurethane foam Substances 0.000 description 1
- 229910001414 potassium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
金属磁性膜の腐食を改善するガラス基板を提供する。 【解決手段】組成が重量%表示で実質的にSiO2 :5
0〜65、Al2 O3 :5〜15、Na2 O:2〜7、
K2 O:4〜9、Na2 O+K2 O:7〜14、MgO
+CaO+SrO+BaO:12〜25、ZrO2 :1
〜6、であるガラスを化学強化処理してなる磁気ディス
ク用ガラス基板。
Description
ス基板および磁気ディスクに関する。
メッキ、蒸着等のプロセスにより磁性膜および保護膜が
形成されたものであり、一般にガラスは表面の平滑性に
優れ、硬く、変形抵抗が大きく、かつ表面欠陥が少ない
等の理由から高密度化に適した磁気ディスク用基板の材
料として注目されている。
含むガラス、たとえばソーダライムシリカガラス、を用
いた場合、特に多湿環境下やエイジング処理をした場合
において磁性膜のピンホール部または磁性膜の周辺部な
ど磁性膜が薄い部分またはガラスが露出した部分からア
ルカリイオンが析出し、これが引きがねとなって磁性膜
が腐食または変色することが見出されている。
きわめて低いガラス、たとえばノンアルカリガラスを用
いればよいことになる。
は、実用上充分な強度を得ることが難しい。これは、イ
オン交換強化処理を行えないためである。実用上充分な
強度を得るために施すガラスの強化処理としては、風冷
強化やイオン交換強化があるが、厚さの薄いディスク用
ガラス基板においては、平坦性を保持するため、低温で
行えるイオン交換強化処理を採用する必要がある。イオ
ン交換処理とは、具体的には、Naを含むガラスの転移
温度以下の温度でガラス中のNa+ イオンをそれよりイ
オン半径の大きいK+ イオンと交換する処理である。
うにイオン交換される成分であるから、ノンアルカリガ
ラスはイオン交換強化の対策になり得ない。したがって
低温型イオン交換処理を行う以上は基板ガラスはアルカ
リを含むガラスでなければならない。
スクなどのガラス基板に要求される(1)多湿環境下ま
たはエイジングによる磁性膜の劣化を生起させないこ
と、および(2)実用上充分な強度を有すること、は相
反する性質であり、両者を満足することは難しい。
ためにイオン交換強化ができ、かつ従来のソーダライム
ガラスシリカで問題となっていたガラス基板上の金属磁
性膜の腐食を改善するガラス基板を提供することにあ
る。
表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al2 O3 5〜15、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO+CaO+SrO+BaO 12〜25、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる磁気ディスク用
ガラス基板である。
分について以下に説明する。SiO2 はガラスのネット
ワークフォーマーであり、本発明では、50〜65重量
%とする。これが少ないと化学的耐久性が低下し、多す
ぎると熔解が困難になる傾向がある。より好ましくは5
2〜62重量%である。
させるとともに、ガラス表層部のアルカリ金属をよりイ
オン半径の大きいアルカリ金属で置換するイオン交換の
速度を増大させ、深い圧縮応力を形成させやすくする作
用があり、本発明では5〜15重量%とする。これが多
すぎると、熔解が困難になる。より好ましくは6〜9重
量%、特に好ましくは6〜8重量%である。
て作用するとともに、化学強化時にイオン交換される主
たる成分となる。本発明では、2〜7重量%とする。こ
れが多すぎると、化学的耐久性が低下するだけでなく、
Na+ イオンがガラス基板表面へ多く析出するようにな
るため、磁性膜の耐食性が劣化するおそれがある。
速度を向上させる。また、Na2 Oを一部置換すること
により、Na2 Oの添加量を低減させ、磁性膜の耐食性
を高めうる。K2 Oの添加量は4〜9重量%とする。K
2 Oが多くなり、Na2 Oが相対的に少なくなりすぎる
と、イオン交換そのものが起こりにくくなる。K2 O+
Na2 Oは以上の観点で、7〜14重量%とする。
ラス熔解時のフラックスとしての作用があり、熔解を促
進させるために添加される。これを超えると、ガラスの
失透温度が高くなり、製板が困難になるおそれがある。
は、MgOは0.5〜5重量%とし、CaOは2〜8重
量%とし、またMgO+CaOは2.5〜10重量%と
することが好ましい。これらが多すぎると、失透温度が
高くなりフロート法による成形が困難になるおそれがあ
る。失透温度をある程度低くすることはフロート法によ
る成形性を確保するうえで重要である。つまり、フロー
ト法成形は、粘度104 ポイズ程度で行われるため、失
透温度が104 ポイズに相当する粘度を持つ温度より低
いガラスでないとフロート法による成形が難しくなる。
また、本発明において、CaOは、後に述べる発明者ら
の実験によると、多すぎる場合に化学強化が入りにくく
なる傾向がある。
は1〜3重量%である。またCaOは。より好ましくは
2〜5.5重量%であり、特に好ましくは3〜5.5重
量%である。さらに、MgO+CaOは、より好ましく
は4〜9重量%である。
るためには、4〜10重量%とすることが好ましい。こ
れが多すぎると失透温度が高くなる。より好ましくは6
〜9重量%である。また、BaOは5〜12重量%とす
ることが好ましい。これも多すぎると、失透温度が高く
なる。より好ましくは6〜11重量%である。
がある。本発明では1〜6重量%とする。多すぎると、
熔解性が低下するおそれがある。好ましくは2〜5重量
%である。
に、ガラスの熔解性、清澄性、成形性を改善するため、
As2 O3 、Sb2 O3 、P2 O5 、F、Cl、SO3
を合量で2重量%以下添加できる。また、ガラスの化学
的耐久性向上のため、La2 O3 、TiO2 、SnO
2 、ZnOを合量で5重量%以下添加できる。さらに、
Fe2 O3 、CoO、NiO、Nd2 O3 等の着色材を
添加してガラスの色調を調整できる。この着色材の含有
量は合量で1重量%以下が好ましい。なお、K2 O、N
a2 Oなどのアルカリ成分は、この若干量をLi2 Oに
置換できる。Li2Oの含有量は1重量%以下が好まし
い。
方法で製造できる。すなわち、通常使用される各成分の
原料を目標成分になるように調合し、これを熔解炉に連
続的に投入し、1500〜1600℃に加熱して、熔融
する。この熔融ガラスをフロート法により所定の板厚に
成形し、徐冷後切断する。
イズに切断されたガラス板を化学強化処理する。化学強
化処理は公知の方法で行えばよい。すなわち、400〜
530℃の硝酸カリウムまたはこれと硝酸ナトリウムと
の混合液にガラス物品を2〜20時間程度浸漬した後取
り出し、徐冷することにより行える。
のテクスチャを形成するテクスチャ加工は、基板をドー
ナツ状に加工し、エッチング、研磨、洗浄した後、化学
強化処理の前に行われる。テクスチャ加工は、フッ酸の
液または蒸気を使用して行える。テクスチャ加工された
ガラス基板は化学強化処理がなされる。
て、磁気ディスクを形成するには、ガラス基板の上に順
次、下地層、磁性層、保護層、潤滑層を設ければよい。
性層としては、Co−Cr系、Co−Cr−Pt系、C
o−Ni−Cr系、Co−Ni−Cr−Pt系、Co−
Ni−Pt系、Co−Cr−Ta系などのCo系合金を
好ましく採用できる。耐久性や磁気特性を向上するため
に、磁性層の下に設けられる下地層としては、Ni層、
Ni−P層、Cr層、SiO2 層などを採用できる。
料からなる金属または合金層を磁性層の上または下に設
けうる。
のカーボンまたはシリカの層が使用でき、潤滑層を形成
するためには、30Å程度の厚みのパーフルオロポリエ
ーテル系の液体潤滑剤が使用できる。
組成について常法に従い調合・混合し、ガラスバッチを
調製した。次いで容量約500mlのPt−Rh10%
坩堝にガラスバッチを入れ1500℃で均質化のため約
1時間の撹拌を含め約4時間熔解し、カーボン板上に流
し出して板状とし徐冷後、常法に従い切断・研磨して約
1mm厚の板状ガラスサンプルを得た。表1には比較例
として通常のソーダライムシリカガラスも記載した(例
5)。
の温度、102 ポイズの温度、歪点温度を表1に併記す
る。
断・研磨して外径65mm、内径20mm、厚さ0.6
35mmのドーナツ状の円形ガラスディスク基板を各2
0枚作成した。
ガラスディスク基板の各10枚について化学強化処理を
行った。すなわち、例1〜4については480℃の熔融
硝酸カリウム塩に、また、例5については450℃の熔
融硝酸カリウム塩に、それぞれ10時間浸漬し、化学強
化処理を行った。
硝子製の主表面応力計FSW−60にて表面圧縮応力層
の厚みを測定した結果を表1に併記する。また、例1に
ついては、別途、500℃の熔融硝酸カリウム塩に10
時間浸漬し、化学強化処理を行ったところ、表面圧縮応
力層の厚みは20μmとなった。
にかかるガラス基板は10μm以上の表面圧縮応力層を
有し、かつCaOの含有量が5.5重量%未満のもの
は、14μm以上の表面圧縮応力層を有することがわか
る。すなわち、同条件で化学強化処理を行った場合、本
発明においては、CaOの含有量が少なくなると、表面
の圧縮応力相の深さは深くなり、化学強化が入りやすく
なる傾向がある。具体的には、前述したように、CaO
の含有量は2〜5.5重量%であることが好ましい。
強化品についてディスクの外周全周を支持し、内周部に
荷重をかける曲げ強度テストを各10枚のディスクにつ
いて行い平均強度を求めた。
/mm2 、深さ20μmの圧縮応力層をもつ強化品が3
4.1kg/mm2 であった。これに対し、例1〜4未
強化品は15.5kg/mm2 であり、例1のガラス基
板に対して深さ20μmの圧縮応力層を形成した強化品
は43.6kg/mm2 であった。
板は従来のソーダライムシリカガラスからなる基板と遜
色のない化学強化処理ができ、その強化処理後の強度も
従来のソーダライムシリカガラスと同等以上のものであ
り、磁気記録媒体用として、実用上充分な強度を持つも
のと認められる。このことは、現在磁気ディスク基板と
して広く用いられているアルミニウムの降伏強度10k
g/mm2 に比べて上記の曲げ強度がはるかに大きいこ
とからも裏付けられる。
品および強化品のそれぞれの主表面上にスパッタ法によ
り厚さ約500ÅのCrからなる下地層を形成した後、
厚さ約600ÅのCo−30原子%Ni合金磁性層を形
成し、その上に厚さ約300Åのカーボン保護膜を形成
し、さらにその上にパーフルオロポリエーテル系の液体
潤滑剤を塗布することにより磁気記録媒体を得た。
気条件で100時間保持することにより耐湿テストを実
施したところ、例5のガラス基板からなる未強化品磁気
記録媒体はディスクの内周および外周の端面から2〜3
mmの範囲にわたってCo−Ni合金層とガラスとの界
面から面内にかけて変色が認められ、例5のガラス基板
からなる強化品磁気記録媒体では同じく1〜2mmの範
囲にわたって変色が認められた。これに対し例1〜4の
ガラス基板からなる磁気記録媒体は未強化品、強化品と
もに変色が認められなかった。
機を用いて、アルミナ・ジルコニア系の1500番の研
磨剤を用いて、加工圧60g/cm2 で研磨すると、ソ
ーダライムシリカガラスが厚み変化3.78μm/分で
あったのに対し、例1のガラスは、厚み変化4.35μ
m/分であった。
パッドを備えた両面研磨機を用いて酸化セリウムからな
る研磨剤を用いて、加工圧100g/cm2 で研磨する
と、ソーダライムシリカガラスが厚み変化0.74μm
/分であったのに対し、例1のガラスは、厚み変化1.
15μm/分であった。
基板はソーダライムシリカガラスを使用したガラス基板
に比べ、耐食性および耐エージング性がきわめて優れ
る。また、本発明のガラス基板はイオン交換強化の効果
が充分に得られ、実際使用上充分な機械的強度を有す
る。さらに、本発明のうちのひとつの磁気ディスク用ガ
ラス基板は、フロート法による成形にも適するものであ
る。また、本発明の基板ガラスは、加工性にも優れ、研
磨した場合の速度は、通常のソーダライムシリカガラス
と比べて15〜55%高い。したがって、生産性の点で
も有利である。
aOの含有量が少ないことから、化学強化用の熔融硝酸
カリウム塩にCaOが解けだしにくく、熔融硝酸カリウ
ム塩の寿命が長くなる効果も有することが予想される。
Claims (7)
- 【請求項1】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al2 O3 5〜15、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO+CaO+SrO+BaO 12〜25、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる磁気ディスク用
ガラス基板。 - 【請求項2】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al2 O3 5〜9、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO 0.5〜5、 CaO 2〜8、 MgO+CaO 2.5〜10、 SrO 4〜10、 BaO 5〜12、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる請求項1記載の
磁気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項3】表面から10μm以上の厚さの圧縮応力層
を有する請求項1または2記載の磁気ディスク用ガラス
基板。 - 【請求項4】組成が重量%表示で実質的に、 SiO2 50〜65、 Al2 O3 5〜9、 Na2 O 2〜7、 K2 O 4〜9、 Na2 O+K2 O 7〜14、 MgO 0.5〜5、 CaO 2〜5.5、 MgO+CaO 2.5〜9、 SrO 4〜10、 BaO 5〜12、 ZrO2 1〜 6、 からなるガラスを化学強化処理してなる請求項2記載の
磁気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項5】表面から14μm以上の厚さの圧縮応力層
を有する請求項4記載の磁気ディスク用ガラス基板。 - 【請求項6】400〜530℃の硝酸カリウムまたはこ
れと硝酸ナトリウムとの混合液にガラスを2〜20時間
浸漬することによって化学強化処理されることを特徴と
する請求項1〜5いずれか1項記載の磁気ディスク用ガ
ラス基板。 - 【請求項7】請求項1〜6いずれか1項記載の磁気ディ
スク用ガラス基板の上に、順次、下地層、磁性層、保護
層、潤滑層を設けてなる磁気ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10033196A JPH092836A (ja) | 1995-04-20 | 1996-04-22 | 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9547495 | 1995-04-20 | ||
| JP7-95474 | 1995-04-20 | ||
| JP10033196A JPH092836A (ja) | 1995-04-20 | 1996-04-22 | 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006287485A Division JP2007051064A (ja) | 1995-04-20 | 2006-10-23 | 磁気ディスク基板用ガラス、磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH092836A true JPH092836A (ja) | 1997-01-07 |
Family
ID=26436693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10033196A Pending JPH092836A (ja) | 1995-04-20 | 1996-04-22 | 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH092836A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1160283A (ja) * | 1997-08-12 | 1999-03-02 | Hoya Corp | 化学強化ガラス基板及びその製造方法 |
| JPH11191212A (ja) * | 1997-12-25 | 1999-07-13 | Toshitomo Morisane | 高強度スムーズガラス基板 |
| JP2000203872A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-07-25 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | ガラス組成物、それを用いた情報記録媒体用基板および情報記録媒体 |
| JP2005015328A (ja) * | 2003-06-06 | 2005-01-20 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | ジルコニウムを含むガラス組成物、化学強化ガラス物品、磁気記録媒体用ガラス基板、およびガラス板の製造方法 |
| JP2007099557A (ja) * | 2005-10-04 | 2007-04-19 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 強化ガラス物品およびその製造方法 |
| US7273668B2 (en) | 2003-06-06 | 2007-09-25 | Hoya Corporation | Glass composition including zirconium, chemically strengthened glass article, glass substrate for magnetic recording media, and method of producing glass sheet |
| WO2013118897A1 (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-15 | 旭硝子株式会社 | 透明導電膜形成用ガラス基板、および透明導電膜付き基板 |
| JP2014037346A (ja) * | 2013-09-13 | 2014-02-27 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 太陽電池用ガラス基板 |
-
1996
- 1996-04-22 JP JP10033196A patent/JPH092836A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1160283A (ja) * | 1997-08-12 | 1999-03-02 | Hoya Corp | 化学強化ガラス基板及びその製造方法 |
| JPH11191212A (ja) * | 1997-12-25 | 1999-07-13 | Toshitomo Morisane | 高強度スムーズガラス基板 |
| JP2000203872A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-07-25 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | ガラス組成物、それを用いた情報記録媒体用基板および情報記録媒体 |
| JP2005015328A (ja) * | 2003-06-06 | 2005-01-20 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | ジルコニウムを含むガラス組成物、化学強化ガラス物品、磁気記録媒体用ガラス基板、およびガラス板の製造方法 |
| US7273668B2 (en) | 2003-06-06 | 2007-09-25 | Hoya Corporation | Glass composition including zirconium, chemically strengthened glass article, glass substrate for magnetic recording media, and method of producing glass sheet |
| JP2007099557A (ja) * | 2005-10-04 | 2007-04-19 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 強化ガラス物品およびその製造方法 |
| WO2013118897A1 (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-15 | 旭硝子株式会社 | 透明導電膜形成用ガラス基板、および透明導電膜付き基板 |
| JP2014037346A (ja) * | 2013-09-13 | 2014-02-27 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 太陽電池用ガラス基板 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5900296A (en) | Glass substrate for magnetic disk | |
| JP2837005B2 (ja) | 化学強化用ガラス | |
| JP4086211B2 (ja) | ガラス組成物およびその製造方法 | |
| JP3804101B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板 | |
| JPH11302032A (ja) | ガラス組成物およびそれを用いた情報記録媒体用基板 | |
| JP4213232B2 (ja) | 化学強化処理されたガラスの製造方法及びその使用 | |
| JP3187321B2 (ja) | 化学強化用ガラス組成物および化学強化ガラス物品 | |
| US6436859B1 (en) | Glass composition and ion exchange strengthened glass article produced from same | |
| US6376403B1 (en) | Glass composition and process for producing the same | |
| CN100468526C (zh) | 用于信息记录介质的玻璃衬底及其制备方法,和信息记录介质及其制备方法 | |
| JP4086210B2 (ja) | 情報記録媒体用基板 | |
| JPH1072238A (ja) | 化学強化可能なアルミノケイ酸塩ガラス及びその使用 | |
| JPH09507206A (ja) | 強化ガラス基材 | |
| JP2000203872A (ja) | ガラス組成物、それを用いた情報記録媒体用基板および情報記録媒体 | |
| JPH11314931A (ja) | 化学強化用ガラス | |
| JP2001229526A (ja) | 化学強化用ガラス組成物からなる磁気ディスク基板および磁気ディスク媒体。 | |
| JPWO2004039738A1 (ja) | 化学強化用ガラス、情報記録媒体用基板、情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法 | |
| JP4656863B2 (ja) | ジルコニウムを含むガラス組成物、化学強化ガラス物品、磁気記録媒体用ガラス基板、およびガラス板の製造方法 | |
| JP2977068B2 (ja) | 化学強化用ガラス | |
| JP2589986B2 (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH092836A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスク | |
| JP2837134B2 (ja) | 情報記録用基板および情報記録媒体 | |
| JP2000272931A (ja) | プレス成形用ガラスおよび情報記録媒体用基板ガラス | |
| JP2001226137A (ja) | 化学強化用のガラス素板の製造方法およびそれを用いて得られる化学強化ガラス物品 | |
| JP4081826B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板、磁気ディスクおよびドーナツ状円形ガラスディスク基板 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050201 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20050705 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050901 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20061003 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061023 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20061219 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20070206 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Effective date: 20070413 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 |