JPH09283848A - レーザダイオード駆動回路 - Google Patents
レーザダイオード駆動回路Info
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- JPH09283848A JPH09283848A JP8086965A JP8696596A JPH09283848A JP H09283848 A JPH09283848 A JP H09283848A JP 8086965 A JP8086965 A JP 8086965A JP 8696596 A JP8696596 A JP 8696596A JP H09283848 A JPH09283848 A JP H09283848A
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 チャーピングによる光スペクトラムの広がり
及び消光比劣化を防止するともに、品質のよい光信号を
安定に供給する。 【解決手段】 第１ピーク検出回路５はフォトダイオー
ド３のモニタ信号の交流成分のみの最大値を検出する。
第２ピーク検出回路６はモニタ信号の直流成分＋交流成
分の最大値を検出する。第１Ａ／Ｄ変換器８は交流成分
のみの最大値をディジタル値ａに変換する。第２Ａ／Ｄ
変換器９は直流成分＋交流成分の最大値をディジタル値
ｂに変換する。演算回路１０はディジタル値ａ，ｂを基
に演算式ｂ−２ａの演算を行い、バイアス電流制御回路
１１は演算結果に基づいてバイアス電流を制御する。比
較器７は交流成分のみの最大値と設定値とを比較し、パ
ルス電流制御回路１２は比較結果に基づいてパルス電流
を制御する。
及び消光比劣化を防止するともに、品質のよい光信号を
安定に供給する。 【解決手段】 第１ピーク検出回路５はフォトダイオー
ド３のモニタ信号の交流成分のみの最大値を検出する。
第２ピーク検出回路６はモニタ信号の直流成分＋交流成
分の最大値を検出する。第１Ａ／Ｄ変換器８は交流成分
のみの最大値をディジタル値ａに変換する。第２Ａ／Ｄ
変換器９は直流成分＋交流成分の最大値をディジタル値
ｂに変換する。演算回路１０はディジタル値ａ，ｂを基
に演算式ｂ−２ａの演算を行い、バイアス電流制御回路
１１は演算結果に基づいてバイアス電流を制御する。比
較器７は交流成分のみの最大値と設定値とを比較し、パ
ルス電流制御回路１２は比較結果に基づいてパルス電流
を制御する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザダイオード駆
動回路に関し、特に光通信装置に使用されるレーザダイ
オード（ＬＤ）駆動回路に関する。
動回路に関し、特に光通信装置に使用されるレーザダイ
オード（ＬＤ）駆動回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、レーザダイオード駆動回路（以
下、ＬＤ駆動回路とする）においては、図５に示すよう
に、駆動回路２３が入力端子２１から入力される入力デ
ータに基づいてレーザダイオード２４を駆動している。
下、ＬＤ駆動回路とする）においては、図５に示すよう
に、駆動回路２３が入力端子２１から入力される入力デ
ータに基づいてレーザダイオード２４を駆動している。
【０００３】フォトダイオード２５は駆動されたレーザ
ダイオード２４の背面光をモニタし、モニタした光を電
気信号に変換して電流電圧変換回路３０に出力する。電
流電圧変換回路３０はフォトダイオード２５からの電流
を電圧に変換してピーク値検出器２６及び第１の平均値
検出器２７に送出する。
ダイオード２４の背面光をモニタし、モニタした光を電
気信号に変換して電流電圧変換回路３０に出力する。電
流電圧変換回路３０はフォトダイオード２５からの電流
を電圧に変換してピーク値検出器２６及び第１の平均値
検出器２７に送出する。
【０００４】ピーク値検出器２６は電流電圧変換回路３
０からの電圧のピーク値をモニタし、検出したピーク値
を駆動回路２３に供給してレーザダイオード２４の駆動
電流を制御する。また、第１の平均値検出器２７は電流
電圧変換回路３０からの電圧の平均値をモニタし、検出
した電圧を増幅器２９に送出する。
０からの電圧のピーク値をモニタし、検出したピーク値
を駆動回路２３に供給してレーザダイオード２４の駆動
電流を制御する。また、第１の平均値検出器２７は電流
電圧変換回路３０からの電圧の平均値をモニタし、検出
した電圧を増幅器２９に送出する。
【０００５】第２の平均値検出器２８は入力端子２１か
ら入力される入力データの平均値をモニタし、検出した
電圧を増幅器２９に送出する。増幅器２９は第１の平均
値検出器２７で検出した電圧と第２の平均値検出器２８
で検出した電圧とを比較増幅し、その出力電圧をバイア
ス回路２２に制御電圧として供給してレーザダイオード
２４の光出力波形のパルス幅を制御する。
ら入力される入力データの平均値をモニタし、検出した
電圧を増幅器２９に送出する。増幅器２９は第１の平均
値検出器２７で検出した電圧と第２の平均値検出器２８
で検出した電圧とを比較増幅し、その出力電圧をバイア
ス回路２２に制御電圧として供給してレーザダイオード
２４の光出力波形のパルス幅を制御する。
【０００６】この結果、レーザダイオード２４の特性や
温度変動に依存しないでパルス幅歪のない、安定した光
出力電力を出力する光送信器が得られる。この技術につ
いては、特開平５−９０６７３号公報に詳述されてい
る。
温度変動に依存しないでパルス幅歪のない、安定した光
出力電力を出力する光送信器が得られる。この技術につ
いては、特開平５−９０６７３号公報に詳述されてい
る。
【０００７】また、他のＬＤ駆動回路としては、図７に
示すように、レーザダイオード３１の後方光出力を後方
光モニタ回路３２にて取出し、その光出力を低域ろ波器
（ＬＰＦ）３８を介して比較器３５に送り、比較器３５
で低域ろ波器（ＬＰＦ）３７を介して入力される入力デ
ータと比較するものがある。
示すように、レーザダイオード３１の後方光出力を後方
光モニタ回路３２にて取出し、その光出力を低域ろ波器
（ＬＰＦ）３８を介して比較器３５に送り、比較器３５
で低域ろ波器（ＬＰＦ）３７を介して入力される入力デ
ータと比較するものがある。
【０００８】この場合、比較器３５の出力Δｖにて直流
バイアス電流源３４の出力電流を制御するとともに、変
化比設定回路３６を介してパルス電流源３３の出力電流
を制御し、光出力パワーが一定になるように帰還をかけ
る。
バイアス電流源３４の出力電流を制御するとともに、変
化比設定回路３６を介してパルス電流源３３の出力電流
を制御し、光出力パワーが一定になるように帰還をかけ
る。
【０００９】変化比設定回路３６によってパルス電流の
変化ΔＩP と直流バイアス電流の変化ΔＩB との比を所
定の値に設定すれば、温度変化に対して光出力を安定化
しても閾値電流及び量子効率の変化に追従した直流バイ
アス電流及びパルス電流が得られ、消光比を落とさずに
光出力パルス幅の変化がなくなる。この技術について
は、特公平２−６２９５４号公報に詳述されている。
変化ΔＩP と直流バイアス電流の変化ΔＩB との比を所
定の値に設定すれば、温度変化に対して光出力を安定化
しても閾値電流及び量子効率の変化に追従した直流バイ
アス電流及びパルス電流が得られ、消光比を落とさずに
光出力パルス幅の変化がなくなる。この技術について
は、特公平２−６２９５４号公報に詳述されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＬＤ駆
動回路では、光出力電力のピーク値をモニタしてレーザ
ダイオードの駆動電流を制御し、光出力電力の平均値と
入力データの平均値とを比較してバイアス電流を制御す
る技術の場合、図６に示すように、バイアス電流がレー
ザダイオードの閾値電流値を下回っている時でも、平衡
状態が成立する。これは光出力波形におけるピーク値が
所望の値となっており、しかも光出力波形の平均値と入
力データの平均値とが等しいからである。
動回路では、光出力電力のピーク値をモニタしてレーザ
ダイオードの駆動電流を制御し、光出力電力の平均値と
入力データの平均値とを比較してバイアス電流を制御す
る技術の場合、図６に示すように、バイアス電流がレー
ザダイオードの閾値電流値を下回っている時でも、平衡
状態が成立する。これは光出力波形におけるピーク値が
所望の値となっており、しかも光出力波形の平均値と入
力データの平均値とが等しいからである。
【００１１】よって、光出力波形の光スペクトラム広が
り（チャーピング：Ｃｈｉｒｐｉｎｇ）を生じた状態に
て平衡となることがあり、チャーピングがファイバの分
散によってその伝送波形を劣化させることになる。
り（チャーピング：Ｃｈｉｒｐｉｎｇ）を生じた状態に
て平衡となることがあり、チャーピングがファイバの分
散によってその伝送波形を劣化させることになる。
【００１２】また、レーザダイオードの後方光出力と入
力データとを比較器で比較し、その比較器の出力にて直
流バイアス電流源の出力電流及びパルス電流源の出力電
流を制御して光出力パワーが一定になるように帰還をか
ける技術の場合、予め個々のレーザダイオードの特性デ
ータから温度変化の定数を求め、この定数となるように
変化比設定回路の抵抗値を個々に設定しなければならな
い。すなわち、レーザダイオードを交換すると、そのレ
ーザダイオードに対応する抵抗値に設定し直さなければ
ならない。
力データとを比較器で比較し、その比較器の出力にて直
流バイアス電流源の出力電流及びパルス電流源の出力電
流を制御して光出力パワーが一定になるように帰還をか
ける技術の場合、予め個々のレーザダイオードの特性デ
ータから温度変化の定数を求め、この定数となるように
変化比設定回路の抵抗値を個々に設定しなければならな
い。すなわち、レーザダイオードを交換すると、そのレ
ーザダイオードに対応する抵抗値に設定し直さなければ
ならない。
【００１３】この技術の場合、特性データにおいては経
年変化によってレーザダイオードに流れる電流と光出力
パワーとの関係も効率が劣化して変化してしまい、初期
設定のままでは目的を達成できない。
年変化によってレーザダイオードに流れる電流と光出力
パワーとの関係も効率が劣化して変化してしまい、初期
設定のままでは目的を達成できない。
【００１４】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
消し、チャーピングによる光スペクトラムの広がり及び
消光比劣化を防止することができ、品質のよい光信号を
安定に供給することができるレーザダイオード駆動回路
を提供することにある。
消し、チャーピングによる光スペクトラムの広がり及び
消光比劣化を防止することができ、品質のよい光信号を
安定に供給することができるレーザダイオード駆動回路
を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明による第１のレー
ザダイオード駆動回路は、強度変調を行うレーザダイオ
ードモジュール内にレーザダイオード素子及びモニタ用
のフォトダイオード素子を含むレーザダイオード駆動回
路であって、前記フォトダイオード素子の出力のうち交
流成分のみの最大値を検出する第１のピーク検出手段
と、前記フォトダイオード素子の出力の最大値を検出す
る第２のピーク検出手段と、前記第１及び第２のピーク
検出手段各々の出力をアナログ／ディジタル変換する第
１及び第２の変換手段と、前記第１及び第２の変換手段
各々の出力から前記フォトダイオード素子の出力のうち
の直流成分を抽出する抽出手段と、前記第１のピーク検
出手段の出力と予め設定された所定値とを比較する比較
手段と、前記抽出手段で抽出された前記直流成分に基づ
いて前記レーザダイオードのバイアス電流を制御するバ
イアス電流制御手段と、前記比較手段の比較結果に基づ
いて前記レーザダイオードの変調信号振幅を制御するパ
ルス電流制御手段とを備えている。
ザダイオード駆動回路は、強度変調を行うレーザダイオ
ードモジュール内にレーザダイオード素子及びモニタ用
のフォトダイオード素子を含むレーザダイオード駆動回
路であって、前記フォトダイオード素子の出力のうち交
流成分のみの最大値を検出する第１のピーク検出手段
と、前記フォトダイオード素子の出力の最大値を検出す
る第２のピーク検出手段と、前記第１及び第２のピーク
検出手段各々の出力をアナログ／ディジタル変換する第
１及び第２の変換手段と、前記第１及び第２の変換手段
各々の出力から前記フォトダイオード素子の出力のうち
の直流成分を抽出する抽出手段と、前記第１のピーク検
出手段の出力と予め設定された所定値とを比較する比較
手段と、前記抽出手段で抽出された前記直流成分に基づ
いて前記レーザダイオードのバイアス電流を制御するバ
イアス電流制御手段と、前記比較手段の比較結果に基づ
いて前記レーザダイオードの変調信号振幅を制御するパ
ルス電流制御手段とを備えている。
【００１６】本発明による第２のレーザダイオード駆動
回路は、上記の構成のほかに、前記フォトダイオード素
子の出力から前記交流信号のみを抽出する手段を具備し
ている。
回路は、上記の構成のほかに、前記フォトダイオード素
子の出力から前記交流信号のみを抽出する手段を具備し
ている。
【００１７】本発明による第３のレーザダイオード駆動
回路は、強度変調を行うレーザダイオードモジュール内
にレーザダイオード素子及びモニタ用のフォトダイオー
ド素子を含むレーザダイオード駆動回路であって、前記
フォトダイオード素子の出力のうち交流信号のみの最大
値を検出する第１のピーク検出手段と、前記フォトダイ
オード素子の出力の最大値を検出する第２のピーク検出
手段と、前記第１及び第２のピーク検出手段各々の出力
をアナログ／ディジタル変換する第１及び第２の変換手
段と、前記第１及び第２の変換手段各々の出力に対して
所定演算を行う演算手段と、前記第１のピーク検出手段
の出力と予め設定された所定値とを比較する比較手段
と、前記演算手段の演算結果に基づいて前記レーザダイ
オードのバイアス電流を制御するバイアス電流制御手段
と、前記比較手段の比較結果に基づいて前記レーザダイ
オードの変調信号振幅を制御するパルス電流制御手段と
を備えている。
回路は、強度変調を行うレーザダイオードモジュール内
にレーザダイオード素子及びモニタ用のフォトダイオー
ド素子を含むレーザダイオード駆動回路であって、前記
フォトダイオード素子の出力のうち交流信号のみの最大
値を検出する第１のピーク検出手段と、前記フォトダイ
オード素子の出力の最大値を検出する第２のピーク検出
手段と、前記第１及び第２のピーク検出手段各々の出力
をアナログ／ディジタル変換する第１及び第２の変換手
段と、前記第１及び第２の変換手段各々の出力に対して
所定演算を行う演算手段と、前記第１のピーク検出手段
の出力と予め設定された所定値とを比較する比較手段
と、前記演算手段の演算結果に基づいて前記レーザダイ
オードのバイアス電流を制御するバイアス電流制御手段
と、前記比較手段の比較結果に基づいて前記レーザダイ
オードの変調信号振幅を制御するパルス電流制御手段と
を備えている。
【００１８】本発明による第４のレーザダイオード駆動
回路は、上記の構成のほかに、前記フォトダイオード素
子の出力から前記交流信号のみを抽出する手段を具備し
ている。
回路は、上記の構成のほかに、前記フォトダイオード素
子の出力から前記交流信号のみを抽出する手段を具備し
ている。
【００１９】本発明による第５のレーザダイオード駆動
回路は、上記の構成において、前記演算手段を、前記第
１の変換手段の出力と前記第２の変換手段の出力との差
分を算出するよう構成し、前記バイアス電流制御手段
を、前記演算手段の演算結果が予め定められた第１及び
第２の設定値各々の間となるように前記バイアス電流を
制御するよう構成している。
回路は、上記の構成において、前記演算手段を、前記第
１の変換手段の出力と前記第２の変換手段の出力との差
分を算出するよう構成し、前記バイアス電流制御手段
を、前記演算手段の演算結果が予め定められた第１及び
第２の設定値各々の間となるように前記バイアス電流を
制御するよう構成している。
【００２０】本発明による第６のレーザダイオード駆動
回路は、上記の構成において、前記演算手段を、前記第
１の変換手段の出力ａと前記第２の変換手段の出力ｂと
に対してｂ−２ａの演算を行うよう構成し、前記バイア
ス電流制御手段を、前記演算手段の演算結果が予め定め
られた第１及び第２の設定値各々の間となるように前記
バイアス電流を制御するよう構成している。
回路は、上記の構成において、前記演算手段を、前記第
１の変換手段の出力ａと前記第２の変換手段の出力ｂと
に対してｂ−２ａの演算を行うよう構成し、前記バイア
ス電流制御手段を、前記演算手段の演算結果が予め定め
られた第１及び第２の設定値各々の間となるように前記
バイアス電流を制御するよう構成している。
【００２１】
【発明の実施の形態】まず、本発明の作用について以下
に述べる。
に述べる。
【００２２】第１ピーク検出回路で検出したレーザダイ
オードの出力の交流成分ＳACのみの最大値ＭACと、第２
ピーク検出回路で検出したレーザダイオードの出力の直
流成分＋交流成分ＳACDCの最大値ＭACDCとを第１Ａ／Ｄ
変換器及第２Ａ／Ｄ変換器で夫々ディジタル値ａ，ｂに
変換し、演算回路で演算式ｂ−２ａの演算を行って得た
演算結果ｃが条件式Ｙ≧ｃ≧Ｘを満たすようにバイアス
電流制御回路でバイアス電流ＩB を調整するとともに、
比較器で得た最大値ＭACと設定値ＶREF との差分値ＰCO
NTに基づいてパルス電流制御回路でパルス電流ＩP を調
整する。
オードの出力の交流成分ＳACのみの最大値ＭACと、第２
ピーク検出回路で検出したレーザダイオードの出力の直
流成分＋交流成分ＳACDCの最大値ＭACDCとを第１Ａ／Ｄ
変換器及第２Ａ／Ｄ変換器で夫々ディジタル値ａ，ｂに
変換し、演算回路で演算式ｂ−２ａの演算を行って得た
演算結果ｃが条件式Ｙ≧ｃ≧Ｘを満たすようにバイアス
電流制御回路でバイアス電流ＩB を調整するとともに、
比較器で得た最大値ＭACと設定値ＶREF との差分値ＰCO
NTに基づいてパルス電流制御回路でパルス電流ＩP を調
整する。
【００２３】これによって、レーザダイオードを消光比
及びチャーピングの点からバランスのとれた最良の条件
で、また安定したパワーで発光させることが可能とな
り、設定条件に合せて自動的に適正なパルス電流ＩP 及
びバイアス電流ＩB をレーザダイオードに供給すること
が可能となる。
及びチャーピングの点からバランスのとれた最良の条件
で、また安定したパワーで発光させることが可能とな
り、設定条件に合せて自動的に適正なパルス電流ＩP 及
びバイアス電流ＩB をレーザダイオードに供給すること
が可能となる。
【００２４】したがって、温度変動や経年劣化に影響さ
れることなく、伝送しようとする光信号の品質の劣化を
防止することができるとともに、レーザダイオードの特
性の個体差に依存しない性能が得られるので、生産性の
向上が可能となる。
れることなく、伝送しようとする光信号の品質の劣化を
防止することができるとともに、レーザダイオードの特
性の個体差に依存しない性能が得られるので、生産性の
向上が可能となる。
【００２５】次に、本発明の一実施例について図面を参
照して説明する。図１は本発明の一実施例の構成を示す
ブロック図である。図において、本発明の一実施例によ
るレーザダイオード駆動回路（以下、ＬＤ駆動回路とす
る）はレーザダイオードモジュール（以下、ＬＤモジュ
ールとする）１と、コンデンサ４と、第１ピーク検出回
路５と、第２ピーク検出回路６と、比較器７と、第１Ａ
／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換器８と、第２Ａ／Ｄ
変換器９と、演算回路１０と、バイアス電流制御回路１
１と、パルス電流制御回路１２とから構成されており、
ＬＤモジュール１内にはレーザダイオード（ＬＤ）２と
フォトダイオード（ＰＤ）３とが配設されている。
照して説明する。図１は本発明の一実施例の構成を示す
ブロック図である。図において、本発明の一実施例によ
るレーザダイオード駆動回路（以下、ＬＤ駆動回路とす
る）はレーザダイオードモジュール（以下、ＬＤモジュ
ールとする）１と、コンデンサ４と、第１ピーク検出回
路５と、第２ピーク検出回路６と、比較器７と、第１Ａ
／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換器８と、第２Ａ／Ｄ
変換器９と、演算回路１０と、バイアス電流制御回路１
１と、パルス電流制御回路１２とから構成されており、
ＬＤモジュール１内にはレーザダイオード（ＬＤ）２と
フォトダイオード（ＰＤ）３とが配設されている。
【００２６】ＬＤモジュール１内のレーザダイオード２
はパルス電流制御回路１２が出力するパルス電流ＩP と
バイアス電流制御回路１１が出力するバイアス電流ＩB
とを入力して光信号ＯＰＴ−ＯＵＴを出力する。
はパルス電流制御回路１２が出力するパルス電流ＩP と
バイアス電流制御回路１１が出力するバイアス電流ＩB
とを入力して光信号ＯＰＴ−ＯＵＴを出力する。
【００２７】ＬＤモジュール１内のフォトダイオード３
はレーザダイオード２からの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴをモ
ニタし、モニタ信号Ｍを出力する。コンデンサ４はフォ
トダイオード３からのモニタ信号Ｍの直流成分をカット
し、モニタ信号Ｍの交流成分ＳACのみを第１ピーク検出
回路５に出力する。
はレーザダイオード２からの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴをモ
ニタし、モニタ信号Ｍを出力する。コンデンサ４はフォ
トダイオード３からのモニタ信号Ｍの直流成分をカット
し、モニタ信号Ｍの交流成分ＳACのみを第１ピーク検出
回路５に出力する。
【００２８】第１ピーク検出回路５はコンデンサ４から
のモニタ信号Ｍの交流成分ＳACの最大値ＭACを検出して
比較器７及び第１Ａ／Ｄ変換器８に出力する。第２ピー
ク検出回路６はフォトダイオード３からのモニタ信号Ｍ
の直流成分＋交流成分ＳACDCの最大値ＭACDCを検出して
第２Ａ／Ｄ変換器９に出力する。
のモニタ信号Ｍの交流成分ＳACの最大値ＭACを検出して
比較器７及び第１Ａ／Ｄ変換器８に出力する。第２ピー
ク検出回路６はフォトダイオード３からのモニタ信号Ｍ
の直流成分＋交流成分ＳACDCの最大値ＭACDCを検出して
第２Ａ／Ｄ変換器９に出力する。
【００２９】第１Ａ／Ｄ変換器８はアナログ値である第
１ピーク検出回路５からの最大値ＭACをディジタル値ａ
に変換し、そのディジタル値ａを演算回路１０に出力す
る。第２Ａ／Ｄ変換器９はアナログ値である第２ピーク
検出回路６からの最大値ＭACDCをディジタル値ｂに変換
し、そのディジタル値ｂを演算回路１０に出力する。
１ピーク検出回路５からの最大値ＭACをディジタル値ａ
に変換し、そのディジタル値ａを演算回路１０に出力す
る。第２Ａ／Ｄ変換器９はアナログ値である第２ピーク
検出回路６からの最大値ＭACDCをディジタル値ｂに変換
し、そのディジタル値ｂを演算回路１０に出力する。
【００３０】演算回路１０は第１Ａ／Ｄ変換器８からの
ディジタル値ａと第２Ａ／Ｄ変換器９からのディジタル
値ｂとを基に演算式ｂ−２ａの演算を行い、その演算結
果ｃをバイアス電流制御回路１１に出力する。バイアス
電流制御回路１１は演算回路１０の演算結果ｃに基づい
てバイアス電流ＩB をレーザダイオード２に出力する。
ディジタル値ａと第２Ａ／Ｄ変換器９からのディジタル
値ｂとを基に演算式ｂ−２ａの演算を行い、その演算結
果ｃをバイアス電流制御回路１１に出力する。バイアス
電流制御回路１１は演算回路１０の演算結果ｃに基づい
てバイアス電流ＩB をレーザダイオード２に出力する。
【００３１】比較器７は第１ピーク検出回路５からの最
大値ＭACを設定値ＶREF と比較し、その差分値ＰCONTを
パルス電流制御回路１２に出力する。パルス電流制御回
路１２は入力したデータＤを比較器７からの差分値ＰCO
NTに基づいたパルス振幅でパルス電流ＩP としてレーザ
ダイオード２に出力する。
大値ＭACを設定値ＶREF と比較し、その差分値ＰCONTを
パルス電流制御回路１２に出力する。パルス電流制御回
路１２は入力したデータＤを比較器７からの差分値ＰCO
NTに基づいたパルス振幅でパルス電流ＩP としてレーザ
ダイオード２に出力する。
【００３２】この図１を用いて本発明の一実施例の動作
について説明する。ＬＤモジュール１内のフォトダイオ
ード３はレーザダイオード２からの光信号ＯＰＴ−ＯＵ
Ｔをモニタし、モニタ信号Ｍを出力する。このモニタ信
号Ｍは２分岐され、一方はコンデンサ４に入力され、他
方は第２ピーク検出回路６に入力される。
について説明する。ＬＤモジュール１内のフォトダイオ
ード３はレーザダイオード２からの光信号ＯＰＴ−ＯＵ
Ｔをモニタし、モニタ信号Ｍを出力する。このモニタ信
号Ｍは２分岐され、一方はコンデンサ４に入力され、他
方は第２ピーク検出回路６に入力される。
【００３３】コンデンサ４に入力されたモニタ信号Ｍは
直流成分がカットされ、モニタ信号Ｍの交流成分ＳACの
みとなって第１ピーク検出回路５に入力される。第１ピ
ーク検出回路５に入力された交流成分ＳACはその最大値
ＭACが検出される。
直流成分がカットされ、モニタ信号Ｍの交流成分ＳACの
みとなって第１ピーク検出回路５に入力される。第１ピ
ーク検出回路５に入力された交流成分ＳACはその最大値
ＭACが検出される。
【００３４】第１ピーク検出回路５で検出された最大値
ＭACは２分岐され、一方は比較器７に入力され、他方は
第１Ａ／Ｄ変換器８に入力される。第１Ａ／Ｄ変換器８
に入力された最大値ＭACはアナログ／ディジタル変換さ
れ、そのディジタル値ａは演算回路１０に入力される。
ＭACは２分岐され、一方は比較器７に入力され、他方は
第１Ａ／Ｄ変換器８に入力される。第１Ａ／Ｄ変換器８
に入力された最大値ＭACはアナログ／ディジタル変換さ
れ、そのディジタル値ａは演算回路１０に入力される。
【００３５】第２ピーク検出回路６に入力されたモニタ
信号Ｍ、すなわちモニタ信号Ｍの直流成分＋交流成分Ｓ
ACDCはその最大値ＭACDCが検出され、最大値ＭACDCは第
２Ａ／Ｄ変換器９に入力される。第２Ａ／Ｄ変換器９に
入力された最大値ＭACDCはアナログ／ディジタル変換さ
れ、そのディジタル値ｂは演算回路１０に入力される。
信号Ｍ、すなわちモニタ信号Ｍの直流成分＋交流成分Ｓ
ACDCはその最大値ＭACDCが検出され、最大値ＭACDCは第
２Ａ／Ｄ変換器９に入力される。第２Ａ／Ｄ変換器９に
入力された最大値ＭACDCはアナログ／ディジタル変換さ
れ、そのディジタル値ｂは演算回路１０に入力される。
【００３６】演算回路１０は第１Ａ／Ｄ変換器８から入
力されたディジタル値ａと第２Ａ／Ｄ変換器９から入力
されたディジタル値ｂとに対して演算式ｂ−２ａの演算
を行う。この演算式ｂ−２ａの演算結果ｃはモニタ信号
Ｍに重畳している直流成分の値であり、バイアス電流制
御回路１１に入力される。
力されたディジタル値ａと第２Ａ／Ｄ変換器９から入力
されたディジタル値ｂとに対して演算式ｂ−２ａの演算
を行う。この演算式ｂ−２ａの演算結果ｃはモニタ信号
Ｍに重畳している直流成分の値であり、バイアス電流制
御回路１１に入力される。
【００３７】バイアス電流制御回路１１は演算結果ｃと
予め定められた設定値Ｘ，Ｙ（Ｙ＞Ｘ＞０）とを基に、
Ｙ≧ｃ≧Ｘが成立するようにレーザダイオード２へのバ
イアス電流ＩB の調整をフィードバック動作によって行
う（ＩB →ＩB ′）。
予め定められた設定値Ｘ，Ｙ（Ｙ＞Ｘ＞０）とを基に、
Ｙ≧ｃ≧Ｘが成立するようにレーザダイオード２へのバ
イアス電流ＩB の調整をフィードバック動作によって行
う（ＩB →ＩB ′）。
【００３８】上記の設定値Ｘ，Ｙを十分ゼロに近付けて
おけば、レーザダイオード２の出力に重畳する直流成分
がゼロに等しくなり、消光比劣化を防止することができ
る。また、演算結果ｃが負の値になる時にはバイアス電
流ＩB がレーザダイオード２の閾値電流Ｉthに対して不
足していることを示しており、これも演算結果ｃがゼロ
に十分近い正の値となるようにフィードバックが働き、
バイアス電流ＩB が閾値電流Ｉthにほぼ等しくなる。
おけば、レーザダイオード２の出力に重畳する直流成分
がゼロに等しくなり、消光比劣化を防止することができ
る。また、演算結果ｃが負の値になる時にはバイアス電
流ＩB がレーザダイオード２の閾値電流Ｉthに対して不
足していることを示しており、これも演算結果ｃがゼロ
に十分近い正の値となるようにフィードバックが働き、
バイアス電流ＩB が閾値電流Ｉthにほぼ等しくなる。
【００３９】よって、チャーピングによる光スペクトラ
ム広がりを防止することができる。ここで、第１Ａ／Ｄ
変換器８と第２Ａ／Ｄ変換器９と演算回路１０とを用い
たのは設定値Ｘ，Ｙに対して精度の高い制御が要求され
るからである。
ム広がりを防止することができる。ここで、第１Ａ／Ｄ
変換器８と第２Ａ／Ｄ変換器９と演算回路１０とを用い
たのは設定値Ｘ，Ｙに対して精度の高い制御が要求され
るからである。
【００４０】また、第１ピーク検出回路５から比較器７
に入力された最大値ＭACは設定値ＶREF と比較され、差
分値ＰCONTとしてパルス電流制御回路１２に出力され
る。パルス電流制御回路１２はその差分値ＰCONTを基に
予め設定されたレーザダイオード２の出力振幅ＡLDとな
るように、レーザダイオード２へのパルス電流ＩP の調
整をフィードバック動作によって行う（ＩP →ＩP
′）。
に入力された最大値ＭACは設定値ＶREF と比較され、差
分値ＰCONTとしてパルス電流制御回路１２に出力され
る。パルス電流制御回路１２はその差分値ＰCONTを基に
予め設定されたレーザダイオード２の出力振幅ＡLDとな
るように、レーザダイオード２へのパルス電流ＩP の調
整をフィードバック動作によって行う（ＩP →ＩP
′）。
【００４１】上記の構成において、例えばパルス電流制
御回路１２が５６０ＭＨｚ，５０ｍＡのパルス電流ＩP
を出力し、バイアス電流制御回路１１が２０ｍＡのバイ
アス電流ＩB を出力することで、レーザダイオード２が
１ｍＷの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴを出力するものとする。
御回路１２が５６０ＭＨｚ，５０ｍＡのパルス電流ＩP
を出力し、バイアス電流制御回路１１が２０ｍＡのバイ
アス電流ＩB を出力することで、レーザダイオード２が
１ｍＷの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴを出力するものとする。
【００４２】フォトダイオード３はレーザダイオード２
からの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴをモニタし、モニタ信号Ｍ
を出力する。０．１μＦのコンデンサ４はモニタ信号Ｍ
の直流成分を除去し、交流成分ＳACのみを第１ピーク検
出回路５に出力する。
からの光信号ＯＰＴ−ＯＵＴをモニタし、モニタ信号Ｍ
を出力する。０．１μＦのコンデンサ４はモニタ信号Ｍ
の直流成分を除去し、交流成分ＳACのみを第１ピーク検
出回路５に出力する。
【００４３】このとき、例えば第１ピーク検出回路５が
交流成分ＳACの最大値ＭACとして２０ｍＶを検出し、第
２ピーク検出回路６が直流成分＋交流成分ＳACDCの最大
値ＭACDCとして４１ｍＶを検出すると、第１Ａ／Ｄ変換
器８から“０１０１００”が、第２Ａ／Ｄ変換器９から
“１０１００１”が夫々演算回路１０に出力される。
交流成分ＳACの最大値ＭACとして２０ｍＶを検出し、第
２ピーク検出回路６が直流成分＋交流成分ＳACDCの最大
値ＭACDCとして４１ｍＶを検出すると、第１Ａ／Ｄ変換
器８から“０１０１００”が、第２Ａ／Ｄ変換器９から
“１０１００１”が夫々演算回路１０に出力される。
【００４４】演算回路１０は“１０１００１”−２×
“０１０１００”を計算し、その演算結果ｃ＝１をバイ
アス電流制御回路１１に出力する。バイアス電流制御回
路１１は演算結果ｃ＝１に基づいて条件式０．３≧ｃ≧
０．１（アナログ値）を満足するようにバイアス電流Ｉ
B を調整して出力する。
“０１０１００”を計算し、その演算結果ｃ＝１をバイ
アス電流制御回路１１に出力する。バイアス電流制御回
路１１は演算結果ｃ＝１に基づいて条件式０．３≧ｃ≧
０．１（アナログ値）を満足するようにバイアス電流Ｉ
B を調整して出力する。
【００４５】比較器７は第１ピーク検出回路５から最大
値ＭACとして２０ｍＶが入力されると、例えばそれを設
定値ＶREF ＝２２ｍＶと比較し、差分値ＰCONT＝−２ｍ
Ｖをパルス電流制御回路１２に出力する。パルス電流制
御回路１２はその差分値ＰCONT＝−２ｍＶを０ｍＶとす
るようなパルス振幅４８ｍＡでデータＤをパルス電流Ｉ
P として出力する。
値ＭACとして２０ｍＶが入力されると、例えばそれを設
定値ＶREF ＝２２ｍＶと比較し、差分値ＰCONT＝−２ｍ
Ｖをパルス電流制御回路１２に出力する。パルス電流制
御回路１２はその差分値ＰCONT＝−２ｍＶを０ｍＶとす
るようなパルス振幅４８ｍＡでデータＤをパルス電流Ｉ
P として出力する。
【００４６】図２及び図３は図１に示すＬＤ駆動回路の
各部の入出力例を示す図である。図２（ａ）は図１のパ
ルス電流制御回路１２に入力されるデータＤの波形例を
示し、図２（ｂ）は図１のパルス電流制御回路１２から
出力されるパルス電流ＩP の波形例を示し、図２（ｃ）
は図１のレーザダイオード２から出力される光出力ＯＰ
Ｔ−ＯＵＴの波形例を示している。
各部の入出力例を示す図である。図２（ａ）は図１のパ
ルス電流制御回路１２に入力されるデータＤの波形例を
示し、図２（ｂ）は図１のパルス電流制御回路１２から
出力されるパルス電流ＩP の波形例を示し、図２（ｃ）
は図１のレーザダイオード２から出力される光出力ＯＰ
Ｔ−ＯＵＴの波形例を示している。
【００４７】図２（ｄ）は図１のフォトダイオード３か
ら出力されるモニタ信号Ｍの波形例を示し、図２（ｅ）
は図１のフォトダイオード３から出力されるモニタ信号
Ｍの交流成分ＳACの波形例を示し、図２（ｆ）は図１の
フォトダイオード３から出力されるモニタ信号Ｍの直流
成分＋交流成分ＳACDCの波形例を示している。
ら出力されるモニタ信号Ｍの波形例を示し、図２（ｅ）
は図１のフォトダイオード３から出力されるモニタ信号
Ｍの交流成分ＳACの波形例を示し、図２（ｆ）は図１の
フォトダイオード３から出力されるモニタ信号Ｍの直流
成分＋交流成分ＳACDCの波形例を示している。
【００４８】図３（ａ）は図１の第１ピーク検出回路５
から出力される最大値ＭACの波形例を示し、図３（ｂ）
は図１の第２ピーク検出回路６から出力される最大値Ｍ
ACDCの波形例を示し、図３（ｃ）は図１の第１Ａ／Ｄ変
換器８から出力されるディジタル値ａの波形例を示して
いる。
から出力される最大値ＭACの波形例を示し、図３（ｂ）
は図１の第２ピーク検出回路６から出力される最大値Ｍ
ACDCの波形例を示し、図３（ｃ）は図１の第１Ａ／Ｄ変
換器８から出力されるディジタル値ａの波形例を示して
いる。
【００４９】図３（ｄ）は図１の第２Ａ／Ｄ変換器９か
ら出力されるディジタル値ｂの波形例を示し、図３
（ｅ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器８から出力されるディ
ジタル値ａに２を乗じた値（２ａ）の波形例を示し、図
３（ｆ）は図１の演算回路１０から出力される演算結果
ｃの波形例を示している。
ら出力されるディジタル値ｂの波形例を示し、図３
（ｅ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器８から出力されるディ
ジタル値ａに２を乗じた値（２ａ）の波形例を示し、図
３（ｆ）は図１の演算回路１０から出力される演算結果
ｃの波形例を示している。
【００５０】これら図１〜図３を用いて本発明の一実施
例の動作について詳細に説明する。このＬＤ駆動回路に
入力されるデータＤはマーク率１／２のパターンとなっ
ており［図２（ａ）参照］、パルス電流制御回路１２に
入力されることでレーザダイオード２を駆動するパルス
電流ＩP となり［図２（ｂ）参照］、ＬＤモジュール１
に供給される。
例の動作について詳細に説明する。このＬＤ駆動回路に
入力されるデータＤはマーク率１／２のパターンとなっ
ており［図２（ａ）参照］、パルス電流制御回路１２に
入力されることでレーザダイオード２を駆動するパルス
電流ＩP となり［図２（ｂ）参照］、ＬＤモジュール１
に供給される。
【００５１】ＬＤモジュール１には適正なバイアス電流
ＩB が与えられており、これにパルス電流ＩP が重畳さ
れてレーザダイオード２が発光し、光出力ＯＰＴ−ＯＵ
Ｔが出力される［図２（ｃ）参照］。
ＩB が与えられており、これにパルス電流ＩP が重畳さ
れてレーザダイオード２が発光し、光出力ＯＰＴ−ＯＵ
Ｔが出力される［図２（ｃ）参照］。
【００５２】この光出力ＯＰＴ−ＯＵＴはフォトダイオ
ード３で受光され、フォトダイオード３からモニタ信号
Ｍが出力される［図２（ｄ）参照］。モニタ信号Ｍは２
分岐され、一方がコンデンサ４を介して交流成分ＳACの
みとして第１ピーク検出回路５に供給され、他方が直流
成分＋交流成分ＳACDCとして第２ピーク検出回路６に供
給される。
ード３で受光され、フォトダイオード３からモニタ信号
Ｍが出力される［図２（ｄ）参照］。モニタ信号Ｍは２
分岐され、一方がコンデンサ４を介して交流成分ＳACの
みとして第１ピーク検出回路５に供給され、他方が直流
成分＋交流成分ＳACDCとして第２ピーク検出回路６に供
給される。
【００５３】ここで、交流成分ＳACはコンデンサ４を通
過しているので直流成分が取り除かれた波形となってお
り、その電力の中心がグランド（ＧＮＤ）レベルとなる
［図２（ｅ）参照］。これに対し、直流成分＋交流成分
ＳACDCは直流成分が取り除かれていない波形となってお
り、その波形はグランドレベルより上となる［図２
（ｆ）参照］。
過しているので直流成分が取り除かれた波形となってお
り、その電力の中心がグランド（ＧＮＤ）レベルとなる
［図２（ｅ）参照］。これに対し、直流成分＋交流成分
ＳACDCは直流成分が取り除かれていない波形となってお
り、その波形はグランドレベルより上となる［図２
（ｆ）参照］。
【００５４】第１ピーク検出回路５及び第２ピーク検出
回路６は交流成分ＳAC及び直流成分＋交流成分ＳACDC夫
々の振幅の最大値ＭAC，ＭACDCを出力する［図３（ａ）
及び図３（ｂ）参照］。これら最大値ＭAC，ＭACDCは演
算を容易にするために第１Ａ／Ｄ変換器８及び第２Ａ／
Ｄ変換器９にてディジタル値ａ，ｂに変換される［図３
（ｃ）及び図３（ｄ）参照］。
回路６は交流成分ＳAC及び直流成分＋交流成分ＳACDC夫
々の振幅の最大値ＭAC，ＭACDCを出力する［図３（ａ）
及び図３（ｂ）参照］。これら最大値ＭAC，ＭACDCは演
算を容易にするために第１Ａ／Ｄ変換器８及び第２Ａ／
Ｄ変換器９にてディジタル値ａ，ｂに変換される［図３
（ｃ）及び図３（ｄ）参照］。
【００５５】演算回路１０はレーザダイオード２の出力
のうち直流成分にて発光している量（演算結果ｃ）を算
出する。この場合、ディジタル値ｂは直流成分＋交流成
分ＳACDCによる発光量を示し、ディジタル値ａは交流成
分ＳACによる発光量の１／２を示しているので、直流成
分による発光量はｂ−２ａから得られる［図３（ｅ）及
び図３（ｆ）参照］。
のうち直流成分にて発光している量（演算結果ｃ）を算
出する。この場合、ディジタル値ｂは直流成分＋交流成
分ＳACDCによる発光量を示し、ディジタル値ａは交流成
分ＳACによる発光量の１／２を示しているので、直流成
分による発光量はｂ−２ａから得られる［図３（ｅ）及
び図３（ｆ）参照］。
【００５６】この演算結果ｃがバイアス電流供給回路１
１に供給され、バイアス電流供給回路１１から条件式Ｙ
≧ｃ≧Ｘを満足するようなバイアス電流ＩB が出力され
る。設定値Ｘ，Ｙはゼロに十分近い値であり、Ｙ＞Ｘ＞
０の関係である。すなわち、演算結果ｃはゼロに十分近
い値であり、直流成分による発光量はわずかにあるが、
無視できる程度で、バイアス電流ＩB は閾値電流Ｉｔｈ
に等しいと言える。
１に供給され、バイアス電流供給回路１１から条件式Ｙ
≧ｃ≧Ｘを満足するようなバイアス電流ＩB が出力され
る。設定値Ｘ，Ｙはゼロに十分近い値であり、Ｙ＞Ｘ＞
０の関係である。すなわち、演算結果ｃはゼロに十分近
い値であり、直流成分による発光量はわずかにあるが、
無視できる程度で、バイアス電流ＩB は閾値電流Ｉｔｈ
に等しいと言える。
【００５７】ここで、図４に示すように、初期のＬＤ特
性曲線から変動によって劣化した場合を考える。する
と、光出力ＯＰＴ−ＯＵＴは変動によって低下するの
で、パルス電流制御回路１２はフィードバック機能によ
ってパルス電流ＩP を大きくする。
性曲線から変動によって劣化した場合を考える。する
と、光出力ＯＰＴ−ＯＵＴは変動によって低下するの
で、パルス電流制御回路１２はフィードバック機能によ
ってパルス電流ＩP を大きくする。
【００５８】一方、バイアス電流ＩB は不足しており、
直流成分による発光がゼロになっている。このとき、演
算結果ｃはゼロと等しくなっており、条件式Ｙ≧ｃ≧Ｘ
を満足していないことになる。これによって、バイアス
電流制御回路１１ではバイアス電流ＩB を増加するよう
にフィードバック機能が働く。
直流成分による発光がゼロになっている。このとき、演
算結果ｃはゼロと等しくなっており、条件式Ｙ≧ｃ≧Ｘ
を満足していないことになる。これによって、バイアス
電流制御回路１１ではバイアス電流ＩB を増加するよう
にフィードバック機能が働く。
【００５９】次に、初期のＬＤ特性曲線から変動によっ
て効率が上がった場合を考える。すると、光出力ＯＰＴ
−ＯＵＴは変動によって設定値よりも大きくなっている
ので、パルス電流制御回路１２はフィードバック機能に
よってパルス電流ＩP を小さくする。
て効率が上がった場合を考える。すると、光出力ＯＰＴ
−ＯＵＴは変動によって設定値よりも大きくなっている
ので、パルス電流制御回路１２はフィードバック機能に
よってパルス電流ＩP を小さくする。
【００６０】一方、バイアス電流ＩB は大きすぎであ
り、直流成分によって発光している状態となる。このと
き、演算結果ｃが設定値Ｙを越えていることになり、条
件式Ｙ≧ｃ≧Ｘを満足していないことになる。これによ
って、バイアス電流制御回路１１ではバイアス電流ＩB
を減少するようにフィードバック機能が働く。
り、直流成分によって発光している状態となる。このと
き、演算結果ｃが設定値Ｙを越えていることになり、条
件式Ｙ≧ｃ≧Ｘを満足していないことになる。これによ
って、バイアス電流制御回路１１ではバイアス電流ＩB
を減少するようにフィードバック機能が働く。
【００６１】したがって、ＬＤ特性が変化しても、パル
ス電流ＩP が変化して光出力ＯＰＴ−ＯＵＴが一定にな
るとともに、バイアス電流ＩB が変化して閾値電流Ｉｔ
ｈと等しくなるので、消光比劣化とチャーピングによる
光スペクトラムの広がりとを防止することができる。
ス電流ＩP が変化して光出力ＯＰＴ−ＯＵＴが一定にな
るとともに、バイアス電流ＩB が変化して閾値電流Ｉｔ
ｈと等しくなるので、消光比劣化とチャーピングによる
光スペクトラムの広がりとを防止することができる。
【００６２】このように、第１ピーク検出回路５で検出
したレーザダイオード２の出力の交流成分ＳACのみの最
大値ＭACと、第２ピーク検出回路６で検出したレーザダ
イオード２の出力の直流成分＋交流成分ＳACDCの最大値
ＭACDCとを第１Ａ／Ｄ変換器８及第２Ａ／Ｄ変換器９で
夫々ディジタル値ａ，ｂに変換し、演算回路１０で演算
式ｂ−２ａの演算を行って得た演算結果ｃが条件式Ｙ≧
ｃ≧Ｘを満たすようにバイアス電流制御回路１１でバイ
アス電流ＩB を調整するとともに、比較器７で得た最大
値ＭACと設定値ＶREF との差分値ＰCONTに基づいてパル
ス電流制御回路１２でパルス電流ＩP を調整することに
よって、レーザダイオード２を消光比及びチャーピング
の点からバランスのとれた最良の条件で、また安定した
パワーで発光させることができる。
したレーザダイオード２の出力の交流成分ＳACのみの最
大値ＭACと、第２ピーク検出回路６で検出したレーザダ
イオード２の出力の直流成分＋交流成分ＳACDCの最大値
ＭACDCとを第１Ａ／Ｄ変換器８及第２Ａ／Ｄ変換器９で
夫々ディジタル値ａ，ｂに変換し、演算回路１０で演算
式ｂ−２ａの演算を行って得た演算結果ｃが条件式Ｙ≧
ｃ≧Ｘを満たすようにバイアス電流制御回路１１でバイ
アス電流ＩB を調整するとともに、比較器７で得た最大
値ＭACと設定値ＶREF との差分値ＰCONTに基づいてパル
ス電流制御回路１２でパルス電流ＩP を調整することに
よって、レーザダイオード２を消光比及びチャーピング
の点からバランスのとれた最良の条件で、また安定した
パワーで発光させることができる。
【００６３】よって、設定条件に合せて自動的に適正な
パルス電流ＩP 及びバイアス電流ＩB をレーザダイオー
ド２に供給することができるので、温度変動や経年劣化
に影響されることなく、伝送しようとする光信号の品質
の劣化を防止することができるとともに、レーザダイオ
ード２の特性の個体差に依存しない性能が得られる。ま
た、レーザダイオード２の特性の個体差に依存しない性
能が得られるので、生産性を向上させることができる。
パルス電流ＩP 及びバイアス電流ＩB をレーザダイオー
ド２に供給することができるので、温度変動や経年劣化
に影響されることなく、伝送しようとする光信号の品質
の劣化を防止することができるとともに、レーザダイオ
ード２の特性の個体差に依存しない性能が得られる。ま
た、レーザダイオード２の特性の個体差に依存しない性
能が得られるので、生産性を向上させることができる。
【００６４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、フ
ォトダイオード素子の出力のうち交流成分のみの最大値
を検出するとともに、フォトダイオード素子の出力の最
大値を検出し、これら最大値をディジタル変換した値か
ら抽出したフォトダイオード素子の出力のうちの直流成
分に基づいてレーザダイオードへのバイアス電流を制御
し、交流成分のみの最大値と予め設定された所定値との
比較結果に基づいてレーザダイオードへのパルス電流を
制御することによって、チャーピングによる光スペクト
ラムの広がり及び消光比劣化を防止することができ、品
質のよい光信号を安定に供給することができるという効
果がある。
ォトダイオード素子の出力のうち交流成分のみの最大値
を検出するとともに、フォトダイオード素子の出力の最
大値を検出し、これら最大値をディジタル変換した値か
ら抽出したフォトダイオード素子の出力のうちの直流成
分に基づいてレーザダイオードへのバイアス電流を制御
し、交流成分のみの最大値と予め設定された所定値との
比較結果に基づいてレーザダイオードへのパルス電流を
制御することによって、チャーピングによる光スペクト
ラムの広がり及び消光比劣化を防止することができ、品
質のよい光信号を安定に供給することができるという効
果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】（ａ）は図１のパルス電流制御回路に入力され
るデータの波形例を示す図、（ｂ）は図１のパルス電流
制御回路から出力されるパルス電流の波形例を示す図、
（ｃ）は図１のレーザダイオードから出力される光出力
の波形例を示す図、（ｄ）は図１のフォトダイオードか
ら出力されるモニタ信号の波形例を示す図、（ｅ）は図
１のフォトダイオードから出力されるモニタ信号の交流
成分の波形例を示す図、（ｆ）は図１のフォトダイオー
ドから出力されるモニタ信号の直流成分＋交流成分の波
形例を示す図である。
るデータの波形例を示す図、（ｂ）は図１のパルス電流
制御回路から出力されるパルス電流の波形例を示す図、
（ｃ）は図１のレーザダイオードから出力される光出力
の波形例を示す図、（ｄ）は図１のフォトダイオードか
ら出力されるモニタ信号の波形例を示す図、（ｅ）は図
１のフォトダイオードから出力されるモニタ信号の交流
成分の波形例を示す図、（ｆ）は図１のフォトダイオー
ドから出力されるモニタ信号の直流成分＋交流成分の波
形例を示す図である。
【図３】（ａ）は図１の第１ピーク検出回路から出力さ
れる最大値の波形例を示す図、（ｂ）は図１の第２ピー
ク検出回路から出力される最大値の波形例を示す図、
（ｃ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジ
タル値の波形例を示す図、（ｄ）は図１の第２Ａ／Ｄ変
換器から出力されるディジタル値の波形例を示す図、
（ｅ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジ
タル値に２を乗じた値の波形例を示す図、（ｆ）は図１
の演算回路から出力される演算結果の波形例を示す図で
ある。
れる最大値の波形例を示す図、（ｂ）は図１の第２ピー
ク検出回路から出力される最大値の波形例を示す図、
（ｃ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジ
タル値の波形例を示す図、（ｄ）は図１の第２Ａ／Ｄ変
換器から出力されるディジタル値の波形例を示す図、
（ｅ）は図１の第１Ａ／Ｄ変換器から出力されるディジ
タル値に２を乗じた値の波形例を示す図、（ｆ）は図１
の演算回路から出力される演算結果の波形例を示す図で
ある。
【図４】レーザダイオードの特性曲線を示す図である。
【図５】従来例の一例の構成を示すブロック図である。
【図６】（ａ）は光スペクトラム広がり劣化時のデータ
入力の波形例を示す図、（ｂ）は光スペクトラム広がり
劣化時のＬＤ駆動の波形例を示す図、（ｃ）はスペクト
ラム広がり劣化時の光出力の波形例を示す図である。
入力の波形例を示す図、（ｂ）は光スペクトラム広がり
劣化時のＬＤ駆動の波形例を示す図、（ｃ）はスペクト
ラム広がり劣化時の光出力の波形例を示す図である。
【図７】従来例の他の例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
１ レーザダイオードモジュール ２ レーザダイオード ３ フォトダイオード ４ コンデンサ ５ 第１ピーク検出回路 ６ 第２ピーク検出回路 ７ 比較器 ８ 第１Ａ／Ｄ変換器 ９ 第２Ａ／Ｄ変換器 １０ 演算回路 １１ バイアス電流制御回路 １２ パルス電流制御回路
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｂ 10/26 10/14 10/04 10/06
Claims (6)
- 【請求項１】 強度変調を行うレーザダイオードモジュ
ール内にレーザダイオード素子及びモニタ用のフォトダ
イオード素子を含むレーザダイオード駆動回路であっ
て、前記フォトダイオード素子の出力のうち交流成分の
みの最大値を検出する第１のピーク検出手段と、前記フ
ォトダイオード素子の出力の最大値を検出する第２のピ
ーク検出手段と、前記第１及び第２のピーク検出手段各
々の出力をアナログ／ディジタル変換する第１及び第２
の変換手段と、前記第１及び第２の変換手段各々の出力
から前記フォトダイオード素子の出力のうちの直流成分
を抽出する抽出手段と、前記第１のピーク検出手段の出
力と予め設定された所定値とを比較する比較手段と、前
記抽出手段で抽出された前記直流成分に基づいて前記レ
ーザダイオードのバイアス電流を制御するバイアス電流
制御手段と、前記比較手段の比較結果に基づいて前記レ
ーザダイオードの変調信号振幅を制御するパルス電流制
御手段とを有することを特徴とするレーザダイオード駆
動回路。 - 【請求項２】 前記フォトダイオード素子の出力から前
記交流信号のみを抽出する手段を含むことを特徴とする
請求項１記載のレーザダイオード駆動回路。 - 【請求項３】 強度変調を行うレーザダイオードモジュ
ール内にレーザダイオード素子及びモニタ用のフォトダ
イオード素子を含むレーザダイオード駆動回路であっ
て、前記フォトダイオード素子の出力のうち交流信号の
みの最大値を検出する第１のピーク検出手段と、前記フ
ォトダイオード素子の出力の最大値を検出する第２のピ
ーク検出手段と、前記第１及び第２のピーク検出手段各
々の出力をアナログ／ディジタル変換する第１及び第２
の変換手段と、前記第１及び第２の変換手段各々の出力
に対して所定演算を行う演算手段と、前記第１のピーク
検出手段の出力と予め設定された所定値とを比較する比
較手段と、前記演算手段の演算結果に基づいて前記レー
ザダイオードのバイアス電流を制御するバイアス電流制
御手段と、前記比較手段の比較結果に基づいて前記レー
ザダイオードの変調信号振幅を制御するパルス電流制御
手段とを有することを特徴とするレーザダイオード駆動
回路。 - 【請求項４】 前記フォトダイオード素子の出力から前
記交流信号のみを抽出する手段を含むことを特徴とする
請求項３記載のレーザダイオード駆動回路。 - 【請求項５】 前記演算手段は、前記第１の変換手段の
出力と前記第２の変換手段の出力との差分を算出するよ
う構成し、 前記バイアス電流制御手段は、前記演算手段の演算結果
が予め定められた第１及び第２の設定値各々の間となる
ように前記バイアス電流を制御するよう構成したことを
特徴とする請求項３または請求項４記載のレーザダイオ
ード駆動回路。 - 【請求項６】 前記演算手段は、前記第１の変換手段の
出力ａと前記第２の変換手段の出力ｂとに対してｂ−２
ａの演算を行うよう構成し、 前記バイアス電流制御手段は、前記演算手段の演算結果
が予め定められた第１及び第２の設定値各々の間となる
ように前記バイアス電流を制御するよう構成したことを
特徴とする請求項３から請求項５のいずれか記載のレー
ザダイオード駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8086965A JP2842369B2 (ja) | 1996-04-10 | 1996-04-10 | レーザダイオード駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8086965A JP2842369B2 (ja) | 1996-04-10 | 1996-04-10 | レーザダイオード駆動回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09283848A true JPH09283848A (ja) | 1997-10-31 |
| JP2842369B2 JP2842369B2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=13901595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8086965A Expired - Lifetime JP2842369B2 (ja) | 1996-04-10 | 1996-04-10 | レーザダイオード駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2842369B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001076023A3 (en) * | 2000-03-31 | 2002-06-13 | Marconi Comm Inc | Digital laser driver circuit |
| JP2002250947A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Fujitsu Ltd | ラマン励起制御方法及び、これを用いる光伝送装置 |
| JP2007502085A (ja) * | 2003-05-06 | 2007-02-01 | 富士通株式会社 | 光パフォーマンス監視方法及びシステム |
| JP2007180452A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザの駆動制御装置及び駆動制御方法 |
| US7894497B2 (en) | 2006-09-26 | 2011-02-22 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Driving circuit using probability density function |
| CN108983064A (zh) * | 2018-08-10 | 2018-12-11 | 武汉盛为芯科技有限公司 | 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试方法及装置 |
| CN115118343A (zh) * | 2021-03-17 | 2022-09-27 | 富士通光器件株式会社 | 调制信号的控制装置及方法 |
-
1996
- 1996-04-10 JP JP8086965A patent/JP2842369B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN108983064A (zh) * | 2018-08-10 | 2018-12-11 | 武汉盛为芯科技有限公司 | 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试方法及装置 |
| CN108983064B (zh) * | 2018-08-10 | 2024-05-31 | 武汉盛为芯科技有限公司 | 半导体激光二极管芯片高速直调动态光谱测试方法及装置 |
| CN115118343A (zh) * | 2021-03-17 | 2022-09-27 | 富士通光器件株式会社 | 调制信号的控制装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2842369B2 (ja) | 1999-01-06 |
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