JPH09288145A - 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ - Google Patents

電子デバイスの温度特性測定用チャンバ

Info

Publication number
JPH09288145A
JPH09288145A JP10233596A JP10233596A JPH09288145A JP H09288145 A JPH09288145 A JP H09288145A JP 10233596 A JP10233596 A JP 10233596A JP 10233596 A JP10233596 A JP 10233596A JP H09288145 A JPH09288145 A JP H09288145A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
turntables
under test
turntable
device under
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10233596A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiki Akasaka
利樹 赤坂
Shigeaki Naito
茂明 内藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP10233596A priority Critical patent/JPH09288145A/ja
Publication of JPH09288145A publication Critical patent/JPH09288145A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子デバイスの温度特性をより効率良く測定
する。 【解決手段】 温度制御可能な密閉容器10内には、そ
れぞれ複数の被測定デバイス20が載置される2つのタ
ーンテーブル11,12が、上下方向に間隔をおいて配
置される。さらに、密閉容器10の内部には、各ターン
テーブル11,12上の被測定デバイス20の電気的特
性を測定する測定治具として、2つのフィクスチャ13
が、それぞれのターンテーブル11,12ごとに設けら
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子デバイスの温
度特性を測定する際に用いられる温度特性測定用チャン
バに関する。
【0002】
【従来の技術】水晶発振器等の電子デバイスの高温及び
低温環境での電気的特性の測定には、チャンバが使用さ
れる。
【0003】図2は、従来の温度特性測定用チャンバの
概略構造を示す図である。図2において、温度制御可能
な密閉容器110内には、ターンテーブル111とフィ
クスチャ113とが設けられている。ターンテーブル1
11は、複数の被測定デバイス120が全周にわたって
所定の位置に載置されるもので、回転手段により回転自
在に設けられている。フィクスチャ113は、上下方向
及び水平方向に移動可能に設けられてターンテーブル1
11上の被測定デバイス120の端子と接触するコンタ
クト部114を有する。コンタクト部114は、密閉容
器110の外部の測定装置(不図示)と電気的に接続さ
れ、コンタクト部114を被測定デバイス120の端子
に接触させて被測定デバイス120の電気的特性が測定
される。また、密閉容器110には扉110aが設けら
れ、被測定デバイス120はこの扉110aから出し入
れされる。
【0004】被測定デバイス120の温度特性を測定す
る際には、まず、ハンドラ(不図示)により、ターンテ
ーブル111上に複数の被測定デバイス120が載置さ
れる。この際、所定の角度でのターンテーブル111の
回転とハンドラの動作とを繰り返し、ターンテーブル1
11を1回転させることで、最終的にはターンテーブル
111の全周にわたって複数の被測定デバイス120が
載置される。次いで、密閉容器110の扉110aが閉
じられ、密閉容器110の内部の温度が所定の温度に制
御される。
【0005】密閉容器110内の温度が所定の温度に達
したら、フィクスチャ113を下方に移動させて、ター
ンテーブル111上の被測定デバイス120のうち所定
の被測定デバイス120の端子にコンタクト部114を
接触させ、その被測定デバイス120の電気的特性を測
定する。この測定が終了したら、フィクスチャ113を
上方に移動させるとともに、ターンテーブル111を所
定の角度だけ回転させ、同様にして次の被測定デバイス
120の電気的特性を測定する。
【0006】そして、全ての被測定デバイス120につ
いて測定が終了したら、気密容器110内の温度を常温
に戻す。その後、密閉容器110の扉110aを開い
て、ハンドラによってターンテーブル111上の被測定
デバイス120を密閉容器110から取り出し、測定結
果に基づいて被測定デバイス120が分類される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の温度特
性測定用チャンバでは、一度の処理で測定可能なデバイ
スの数は、ターンテーブルに載置可能なデバイスの数で
決定される。一方、密閉容器内の温度を所定の温度に設
定するまでの間、及び、設定温度から常温に戻すまでの
間は、デバイスの測定を行えず、実質的には無駄な時間
となるので、一度の処理でより多くのデバイスを測定可
能なチャンバが望まれていた。
【0008】そこで本発明は、電子デバイスの温度特性
をより効率良く測定できる温度特性測定用チャンバを提
供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の電子デバイスの温度特性測定用チャンバは、温
度制御可能な気密容器と、前記気密容器内に上下方向に
間隔をおいて配置され、それぞれ上面に複数の電子デバ
イスが載置される複数のターンテーブルと、前記気密容
器内に配置され、前記各ターンテーブルに載置された電
子デバイスと電気的に接続するように移動可能に設けら
れた測定治具とを有することを特徴とする。
【0010】上記のとおり構成された本発明の温度特性
測定用チャンバでは、密閉容器内に複数のターンテーブ
ルが設けられているので、一度の処理でより多くの電子
デバイスの温度特性の測定が可能である。また、各ター
ンテーブルは上下に配置されているので、チャンバの設
置にはそれほど大きな面積を必要としない。
【0011】特に、各ターンテーブルを上下方向に移動
可能に設けることで、各ターンテーブルに電子デバイス
を載置するのに使用されるハンドラは、従来のものがそ
のまま使用可能である。さらに、各ターンテーブルが互
いに独立して回転するようにすれば、1つのターンテー
ブル上の電子デバイスの温度特性を測定している間に他
のターンテーブル上の電子デバイスの温度特性の準備を
行えるため、測定に要する時間の短縮が可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0013】図1は、本発明の温度特性測定用チャンバ
の概略構造を示す図である。
【0014】図1に示すように、温度制御可能な密閉容
器10内には、それぞれ複数の被測定デバイス20が全
周にわたって所定の位置に載置される2つのターンテー
ブル11,12が配置されている。各ターンテーブル1
1,12は上下方向に間隔をおいて配置され、それぞれ
の回転中心は同軸上に位置している。また、各ターンテ
ーブル11,12は、一体となって上下方向に移動可能
に設けられるとともに、互いに独立して回転可能に設け
られている。同軸上の各ターンテーブル11,12を互
いに独立して回転させるためには、ターンテーブル1
1,12ごとにモータ等の回転手段を設け、各ターンテ
ーブル11,12をそれぞれの回転手段で個別に駆動し
てもよいし、1つの回転手段を共通に用い、この回転手
段の回転を切り替え手段により必要に応じて切り替える
構成としてもよい。
【0015】さらに、密閉容器10の内部には、各ター
ンテーブル11,12上の被測定デバイス20と電気的
に接続される測定治具として、2つのフィクスチャ13
が、それぞれのターンテーブル11,12ごとに設けら
れている。各フィクスチャ13は、従来のものと同様の
ものである。すなわち、密閉容器10の外部の測定装置
(不図示)と電気的に接続されるとともに、上下方向及
び水平方向に移動可能に設けられたコンタクト部14を
有し、コンタクト部14をターンテーブル11,12上
の被測定デバイス20の端子と接触させることで、被測
定デバイス20の電気的特性が測定される。なお、上述
したように各ターンテーブル11,12は上下方向にも
移動される構成となっているので、ターンテーブル1
1,12の移動によってフィクスチャ13がターンテー
ブル11,12と干渉しないようにするために、フィク
スチャ13は、ターンテーブル11,12の移動に伴っ
て上下方向に移動可能に設けられるか、あるいはターン
テーブル11,12に対して退避可能に設けられる。
【0016】一方、密閉容器10の外部には、被測定デ
バイス20を密閉容器10に搬入したり、密閉容器10
から搬出するためのハンドラ15が配置されている。ハ
ンドラ15も、従来と同様のものであり、水平方向に移
動可能なアーム16を有し、その先端部には、被測定デ
バイス20を着脱自在に保持する保持手段17が設けら
れている。被測定デバイス20の搬入及び搬出は、密閉
容器10の側壁に設けられた開口から行われるが、この
開口は、扉10aによって閉鎖可能となっている。被測
定デバイス20の搬入時及び搬出時以外は扉10aは閉
じられており、密閉容器10の内部は密閉されている。
【0017】次に、図1に示したチャンバにより被測定
デバイス20の温度特性を測定するときの動作について
説明する。
【0018】まず、扉10aを開いた状態で、水晶発振
器等の複数の被測定デバイス20が、ハンドラ15によ
り各ターンテーブル11,12上に載置される。このと
き、初めに従来と同様にして上方のターンテーブル11
上に被測定デバイス20が所定の位置に載置され、その
後、各ターンテーブル11,12を上方に移動させて、
同様に下方のターンテーブル12上に被測定デバイス2
0が所定の位置に載置される。各ターンテーブル11,
12上に被測定デバイス20が載置されたら、各ターン
テーブル11,12が元の位置まで降下されるととも
に、密閉容器10の扉10aが閉じられる。
【0019】次いで、密閉容器10の内部の温度が所定
の温度に制御される。密閉容器10内の温度が所定の温
度に達したら、各ターンテーブル11,12上の被測定
デバイス20の電気的特性が測定される。被測定デバイ
ス20の電気的特性の測定は、従来と同様に、ターンテ
ーブル11,12の所定の角度での回転とフィクスチャ
13の動作とを繰り返して行い、ターンテーブル11,
12が1回転した時点で全ての被測定デバイス20の電
気的特性の測定が終了する。
【0020】被測定デバイス20の電気的特性の測定
は、初めに上方のターンテーブル11上の全ての被測定
デバイス20について行った後、下方のターンテーブル
12上の全ての被測定デバイス20について行ってもよ
いが、本実施形態では、上方のターンテーブル11上の
被測定デバイス20についての測定と、下方のターンテ
ーブル12上の被測定デバイス20についての測定を交
互に行っている。
【0021】つまり、例えば上方のターンテーブル11
上の被測定デバイス20の電気的特性を測定している間
に、下方のターンテーブル12を回転させてそのターン
テーブル12上の被測定デバイス20にフィクスチャ1
3のコンタクト部14を接触させておき、下方のターン
テーブル12上の被測定デバイス20の電気的特性の測
定の準備をしておく。そして、上方のターンテーブル1
1上の被測定デバイス20の電気的特性の測定が終了し
たら、直ちに下方のターンテーブル12上の被測定デバ
イス20の電気的特性の測定を開始する。下方のターン
テーブル12上の被測定デバイス20の電気的特性を測
定している間に、今度は、上方のターンテーブル11上
の次の被測定デバイス20の電気的特性の測定の準備を
行う。これにより、ターンテーブル11,12の回転及
びフィクスチャ13の動作を待たずに被測定デバイス2
0の電気的特性を測定でき、より効率的な測定が達成さ
れる。各被測定デバイス20の測定結果は、その位置情
報とともに密閉容器10の外部の測定装置に保持され
る。
【0022】全ての被測定デバイス20について測定が
終了したら、気密容器10内の温度を常温に戻す。な
お、他の温度環境での測定も行う場合には、気密容器1
0内の温度を常温に戻す前に、続けて他の温度に気密容
器10を制御し、その温度での被測定デバイス20の電
気的特性を測定した後、気密容器10内の温度を常温に
戻す。
【0023】その後、密閉容器10の扉10aを開い
て、ハンドラ15によって各ターンテーブル11,12
上の被測定デバイス20を密閉容器10から取り出し、
測定結果に基づいて被測定デバイス20が分類される。
被測定デバイス20を取り出すときも、初めに上方のタ
ーンテーブル11上の被測定デバイス20を取り出した
後、各ターンテーブル11,12を上方に移動させて、
下方のターンテーブル12上の被測定デバイス20を取
り出す。
【0024】以上説明したように、本実施形態では密閉
容器10内に2つのターンテーブル11,12を有する
ので、一度の処理で従来の2倍の数のデバイスの温度特
性を測定でき、より効率的な処理が可能となる。しか
も、各ターンテーブル11,12は上下に配置されてい
るので、設置面積は従来と同等である。
【0025】上述した実施形態では、2つのターンテー
ブル11,12を有する構造としたが、3つ以上のター
ンテーブルを有する構造としてもよい。また、各ターン
テーブル11,12ごとにフィクスチャ13を設けた例
を示したが、上方のターンテーブル11上の被測定デバ
イス20の測定と下方のターンテーブル12上の被測定
デバイス20の測定とは同時には行わないので、フィク
スチャ13自体を上下方向に移動可能に設け、1つのフ
ィクスチャ13で各ターンテーブル11,12上の被測
定デバイス20を測定できるようにしてもよい。さら
に、各ターンテーブル11,12が上下方向に移動して
被測定デバイス20が載置または取り外される構成とし
ているが、必ずしもその必要はなく、ハンドラ15のア
ーム16を上下方向にも移動可能に設け、ターンテーブ
ル11,12の上下方向の移動の代りにアーム16を上
下方向に移動させてもよい。ただし、上下方向にも移動
可能なアーム16を有するハンドラ15を用いること
は、新たなハンドラ15の設計が必要となり、しかも、
アーム16の位置決め精度が低下するおそれがあるの
で、ターンテーブル11,12を上下に移動させる構成
とした方が好ましい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、密閉容器
内に、上下方向に間隔をおいて配置されてそれぞれ電子
デバイスが載置されるターンテーブルと、各ターンテー
ブル上の電気的特性を測定するための測定治具とを配置
することで、従来と同等の設置面積しか必要としないな
がらも、一度の処理でより多数の電子デバイスの温度特
性を測定することができる。
【0027】また、各ターンテーブルを上下方向に移動
可能に設けることで、各ターンテーブルに電子デバイス
を載置するのに使用されるハンドラは、従来のものをそ
のまま使用することができる。さらに、各ターンテーブ
ルを互いに独立して回転する構成とすることで、1つの
ターンテーブル上の電子デバイスの温度特性を測定して
いる間に他のターンテーブル上の電子デバイスの温度特
性の準備を行うことができるようになり、電子デバイス
の温度特性をより効率的に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の温度特性測定用チャンバの概略構造を
示す図である。
【図2】従来の温度特性測定用チャンバの概略構造を示
す図である。
【符号の説明】
10 密閉容器 10a 扉 11,12 ターンテーブル 13 フィクスチャ 14 コンタクト部 15 ハンドラ 16 アーム 17 保持手段 20 被測定デバイス

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 温度制御可能な気密容器と、 前記気密容器内に上下方向に間隔をおいて配置され、そ
    れぞれ上面に複数の電子デバイスが載置される複数のタ
    ーンテーブルと、 前記気密容器内に配置され、前記各ターンテーブルに載
    置された電子デバイスと電気的に接続するように移動可
    能に設けられた測定治具とを有することを特徴とする電
    子デバイスの温度特性測定用チャンバ。
  2. 【請求項2】 前記各ターンテーブルは、上下方向に移
    動可能に設けられている請求項1に記載の電子デバイス
    の温度特性測定用チャンバ。
  3. 【請求項3】 前記各ターンテーブルは、互いに独立し
    て回転される請求項1または2に記載の電子デバイスの
    温度特性測定用チャンバ。
JP10233596A 1996-04-24 1996-04-24 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ Withdrawn JPH09288145A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10233596A JPH09288145A (ja) 1996-04-24 1996-04-24 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10233596A JPH09288145A (ja) 1996-04-24 1996-04-24 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09288145A true JPH09288145A (ja) 1997-11-04

Family

ID=14324650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10233596A Withdrawn JPH09288145A (ja) 1996-04-24 1996-04-24 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09288145A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100315605B1 (ko) 고양된 온도에서의 반도체 소자의 급속테스팅장치및방법
US6124725A (en) Apparatus and method for testing semiconductor devices formed on a semiconductor wafer
JPH0634932B2 (ja) 試薬ボトルテ−ブルの温度調整構造
CN210514525U (zh) 一种pcb电路板检测装置
JPH09288145A (ja) 電子デバイスの温度特性測定用チャンバ
US6320401B1 (en) Substrate inspection using the propagation characteristics of RF electromagnetic waves
JPH1050716A (ja) 基板の枚葉式熱処理装置
JPS5986235A (ja) 半導体基板の電気的特性測定方法
CN210126075U (zh) 一种用于帮助机械手定位的工具
CN218885986U (zh) 一种集成电路测试座
US4904934A (en) Testing apparatus for semiconductor devices
CN114019441B (zh) 电能表检测装置及其控制方法
JP2002222848A (ja) 熱処理装置
JPS6258660B2 (ja)
JPH05264654A (ja) バーンイン・ボード検査装置
CN109916595B (zh) 一种点亮夹具及大视角光学测试装置
CN216646588U (zh) 电极试样闪络试验装置
CN223711716U (zh) 一种钳型接地电阻测试仪
JP2000114323A (ja) 静電破壊試験装置
JPS63118081A (ja) 真空内処理方法及びその装置
JPH0250451A (ja) 半導体素子切換え機構
JP2003332395A (ja) 試験装置
TW202113376A (zh) 具天線之射頻電子元件的測試裝置及其應用之測試設備
CN217007504U (zh) 电阻性能测试装置
JPH01315153A (ja) プローバのウェハ搭載部材

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030701