JPH09297926A - 光学式記録再生装置 - Google Patents

光学式記録再生装置

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JPH09297926A
JPH09297926A JP8113857A JP11385796A JPH09297926A JP H09297926 A JPH09297926 A JP H09297926A JP 8113857 A JP8113857 A JP 8113857A JP 11385796 A JP11385796 A JP 11385796A JP H09297926 A JPH09297926 A JP H09297926A
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light beam
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輝雄 藤田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ホログラム素子などの光束手段をセンサ光学
系に挿入することにより、品質の高いフォーカス誤差信
号およびトラッキング誤差信号を得る。 【解決手段】 センサ光学系の集束レンズ16と光検知
器18の間に格子形状の異なる2つの領域をもつ光束分
離手段(HOE)17を挿入して収束点および回折角の
異なる4本の光束30a,30b,31a,31bを生
成し、各光束をそれぞれ複数に分割された検出素子を有
する光検知器18で受光してフォーカスおよびトラッキ
ングの誤差信号を得るように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光学式記録再生
装置に関し、詳しくは、フォーカス誤差信号およびトラ
ッキング誤差信号の検出手段に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図10は、例えば特開昭60−1716
44号公報に示された従来の光学式記録再生装置を示す
図である。図において、1は光源である半導体レーザ、
2は半導体レーザより出射された光束であり、3はこの
光束2を平行光束4に変換するコリメータレンズ、5は
1/4波長板、6は光ディスク7の情報面上にスポット
8を形成する対物レンズである。
【0003】10はディスク7で反射された光束を半導
体レーザ1からの光束と分離するビ−ムスプリッタ、1
7はビ−ムスプリッタ10で反射された光束9を振幅の
等しい第1、第2の反射光束12、13に2分割する光
束分割器の働きをもつグレーティングレンズ(ホログラ
ム素子とも呼ばれ、以下、「HOE」と記す)であり、
第1の反射光束12の集光点Q1よりは近く、第2の反
射光束13の集光点Q2よりは遠い位置に配置された光
検知器18には、第1の反射光束を受光する第1の光検
知器14と、第2の反射光束13を受光する光検知器1
5が配置されている。図11は光検知器14、15の具
体的な形状を示しており、I,II,III,IVはそれぞれ
分割された素子である。
【0004】次に具体的な動作について説明する。図1
2に示すように、第1の反射光束12の集光点Q1と第
2の反射光束13の集光点Q2は光軸20の方向に2Δ
Zずれた位置にある。従って、光ディスク7が合焦点位
置にある時のQ1とQ2の間の位置(例えば点P)にお
いて、第1、第2の反射光束12、13の断面光束径が
等しくなる所がある。その位置で、光軸20の点で垂直
に2分割された第1、第2の光検知器14、15からな
る光検知器18を配置し、光検知器18の各素子の出力
の和Efが、 Ef=(II−I)+(III −IV)=0 ‥‥‥(1) となるように、各素子I〜IVの形状を設定すれば、光デ
ィスク7が合焦点位置より遠ざかる方向に動くとEfは
負、また逆に近づく方向に動くとEfは正となる。
【0005】また、上記従来例には、図13に示すよう
に、光検知器の素子を、それぞれ3分割した第1、第2
の光検知器22、23からなる6分割短冊型の光検知器
24を用いた例が提案されており、I,II,II’,III
,IV,IV’はそれぞれ分割された素子である。この例
の各素子の出力の和Efは Ef=(II+II’+III )−(I+IV+IV’) ‥‥‥(2) となり、このEfがフォーカス誤差信号となる。この例
では、光検知器24の分割線の方向を、トラッキングに
伴って光検知器24上の反射スポット12,13が動く
方向と平行になるように設定すれば、トラッキングに伴
うフォーカスずれ検出エラーを生じさせない利点を有し
ている。
【0006】ところで、光学式記録再生装置では上記の
ようなフォーカシング制御のほかに目標のトラックを確
実に追従するためのトラッキング制御が必要であり、そ
のためのトラッキング誤差信号検出手段も併せて盛り込
む必要がある。
【0007】このトラッキング誤差信号の検出法につい
ては色々な方法が提案されているが、記録再生を行う光
学式記録再生装置ではプッシュプル法がよく用いられて
いる。この方式は、光ディスク上のトラックによる回折
の影響で±1次の回折光が0次光に光束径の約半分だけ
ずれた状態で重なっており、トラックと集光スポットの
位置関係により0次光と±1次光の干渉領域の強度が変
化する現象を利用してトラッキング誤差信号を得る方式
である。しかし、上記従来例の光学式記録再生装置で
は、このトラッキング制御に関する記述はされていな
い。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記のよ
うな課題を解決するためになされたもので、第1の目的
は、HOEを用いた光学式記録再生装置において、トラ
ッキング誤差信号と同時に光ディスク上に形成されてい
るトラックの影響が小さいフォーカス誤差信号が得られ
る光学式記録再生装置を得ることである。
【0009】さらに、第2の目的は、部品の位置ずれに
伴うトラッキング誤差信号の品質の低下の小さい光学式
記録再生装置を得ることである。
【0010】また、第3の目的はHOEにおいて誤差信
号生成に用いない光束の影響を除去した光学式記録再生
装置を得ることである。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光学式記
録再生装置においては、フォーカス誤差信号およびトラ
ッキング誤差信号生成のための光学素子としてHOEを
用い、光ディスク上のトラックをHOE上に投影した座
標において、トラックと同じ方向に分割された領域が並
ぶようにHOEを複数の領域に分割するとともに、各領
域の回折方向とレンズ作用の量を異なった値に形成した
ものである。
【0012】また、HOEの位置を、光検知器へ集光す
るための集束レンズに近づけたものである。
【0013】さらに、HOEを回折せずに透過する0次
光を受光するための光検知器を配置するとともに、0次
光が±1次光を受光するための光検知器に入射しないよ
うに±1次光の回折角度を設定したものである。
【0014】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態である光学
式記録再生装置においては、センサ光学系に配置された
光束分離機能をもつHOEの回折作用により複数本の光
束に分割し、フォーカス誤差信号およびトラッキング誤
差信号を生成するように働く。また、HOEの分割方向
は光ディスク上のトラックを投影した座標においてトラ
ック方向に2つの領域に分割されているので、トラック
によって生じる回折の影響がフォーカス誤差信号に及ば
ないようにすることができ品質が向上する。
【0015】また、HOEを集束レンズに近づける配置
を取ったので、HOE上での光束径が大きくなり、HO
Eの位置ずれ等光学素子の配置ずれに伴うオフセットの
発生割合を小さくすることができる。
【0016】さらに、HOEを透過した光束のうち誤差
信号生成に作用していない0次回折光の影響を除去する
構成にしたので、不要な光の混入を避けることができ誤
差信号の品質が向上する。
【0017】以下、この発明をその実施の形態を示す図
面に基づいて説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1である光
学式記録再生装置を示す図である。図において、1は半
導体レーザ、2は光束、3はコリメータレンズ、6は対
物レンズ、7は光ディスク、8はスポット、9は反射
光、10は光ディスク7で反射された光束と半導体レー
ザ1からの光束とを分離するビームスプリッタ、16は
ビームスプリッタ10で反射された光束を集光する集束
レンズ、17は光束分離手段であるHOE、18は光検
知器である。
【0018】このように構成された光学式記録再生装置
では、光ディスク7で反射された光束9はHOE17で
複数の光束に分離され、各光束を所望の形状に分割され
た光検知器で受光してサーボのための誤差信号を得てい
る。この様子を図2、図3を用いて説明する。
【0019】図2はビームスプリッタ10で分離された
以降のいわゆるセンサ系部と、その光検知器上のスポッ
トの態様を示した図である。HOE17を透過した光束
は上下半分の光束がそれぞれさらに2つの光束30a、
30bと31a、31bに分割され、結局4本の光束に
分割される。なお、HOE17は回折型の光束分離素子
であり、厳密には弱い光束を含めると無数の光束に分割
されるが、形状を最適化することでほぼ±1次光に集約
することが可能であるので、ここでは4本に分割したと
して扱う。
【0020】HOE17の上半分で回折した光束(実線
で表示)は、図示されているように光検知器18の手前
で集束する光束30aと光検知器18の後方で集束する
光束30bに分かれる。同様に、HOE17の下半分で
回折された光束(点線で表示)は、光検知器18の手前
で集束する光束31aと後方の31bに分かれるが、上
半分と下半分では回折角が異なっているので、4本の光
束のスポット33a〜33dは、図2に示すように、H
OE17への入射光束の光軸に対して対称の位置に配置
している。このような光束分離性能を示すHOE17の
形状の一例を図4に示す。これら4個のスポット33a
〜33dを受光する光検知器18上の分離された素子の
形状は、図3の32a〜32dに示すように従来例の図
13に示したものに、それぞれ3個の短冊状に分割され
ているが、各スポット33a〜33dの形状は半円形と
なっている。
【0021】次に動作について説明する。光検知器18
の手前で集束している光束30a、31aは光検知器1
8上では別々のスポット33b、33aとなっている
が、もともとHOE17の上下半分の光束であり、二つ
を合わせるとHOE17で分割される前の光束と考えら
れる。したがって、光束30b、31bは、図12に示
した従来例の光束13、12と同じであり、光検知器1
8も従来例の光検知器24と同じ6分割の光検知器と同
じとなるので、同様の演算をすることによりフォーカス
誤差信号が得られる。
【0022】具体的な演算式を図3で説明する。図13
に示した従来例では、片側の中央部と他方の外側を加え
たもの同志の減算でフォーカス誤差信号を得ていたこと
から、この実施の形態1でのフォーカス誤差信号も Ef=((32am+32bm)+(32cs+32ds)) −((32as+32bs)+(32cm+32dm))‥‥(3) として得ることができる。
【0023】この理由を図5、6を用いて説明する。図
5は対物レンズ6がディスク7に近づいた場合の光検知
器18上のスポット33a〜33dを示している。対物
レンズ6がディスク7に近づいた場合、センサ系では集
束点が伸びるので、光検知器18の前で一度集束してい
る光束30a、31aの集光点は光検知器18に近づ
き、一方、光検知器18の後方で集束する光束30b、
31bの集光点は光検知器18より遠ざかるので、光束
30a、31aのスポット33a、33bは小さくな
り、光束30b、31bのスポット33c、33dは大
きくなる。そこで上式によりフォーカス誤差信号Efを
求めると、 Ef>0 となる。
【0024】一方、対物レンズ6がディスク7より遠ざ
かった場合は図6に示すように、反対に光束30a、3
1aのスポット33a、33bは大きくなり、光束30
b、31bのスポット33c、33dは小さくなる。従
って、フォーカス誤差信号は、 Ef<0 となる。
【0025】以上より、ディスク7に対して対物レンズ
6の位置が変化する方向(近づいたり、遠ざかったりす
る)に対応した極性の信号が得られるので、フォーカス
誤差信号として利用することができる。
【0026】ところで、サーボにはもう一つトラッキン
グ制御があり、このための誤差信号を生成する必要があ
る。これについて次に説明する。トラッキング誤差信号
の生成方式としてプッシュプル法を採用する。プッシュ
プル法はトラックよる回折光と0次光の干渉を利用する
方式であり、回折する方向に光束を2分割して各々の信
号の強度差より誤差信号を生成する。図1においてプッ
シュプル信号の方向を確認する。光ディスク7上のトラ
ックは図面においてy軸方向であるから回折光はx方向
に現れ、これをHOE17上に投影して考えるとz方向
である。今HOE17は光束を中央で上下(z方向)に
分割しているので、分割された光束を各々減算すること
によりトラッキング誤差信号が得られることがわかる。
【0027】実際の演算を図2、図3を用いて説明す
る。図2において、HOE17の上半分に入射した光束
は30a、30bであり、一方下半分に入射した光束は
31a、31bである。従って、トラッキング誤差信号
Etは図3より Et=((32bm+32bs)+(32cm+32cs)) −((32am+32as)+(32dm+32ds))‥‥(4) となる。
【0028】ところで、光学式記録再生装置では、光デ
ィスク7の偏芯や光学式記録再生装置の光ヘッド部の送
り機構等の影響で、対物レンズがトラッキング方向(x
方向)に並進動作を行う。このとき、この実施の形態の
方式では、光検知器18上で集光していないので、ここ
でも並進動作が伴う。図3に示すようにスポット33a
〜33dを配置しているので、並進方向によってはフォ
ーカス誤差信号に誤った信号が発生する。しかしこの実
施の形態では、並進方向は光ディスク7上でx方向であ
り、これを光検知器18上に投影して考えるとz方向で
光検知器18の分割線方向であり、フォーカス誤差信号
に誤った信号は重畳されず、正確なフォーカス制御が可
能なことがわかる。
【0029】さらに、一般に光源である半導体レーザ
は、温度や光出力および個々のばらつきによって波長が
変動する。HOE17は回折型の素子であるから、波長
が変動するとその回折角が変動し、ひいては光検知器1
8上のスポット位置が変動する。しかし、図2、図3に
示したようにHOE17の回折方向はz方向であり、光
検知器18上では分割線の方向と一致しているため、波
長変動に伴うオフセットは生じない。
【0030】実施の形態2.プッシュプル法では、集光
点位置で光束を分割していないので、分割領域で光束も
並進移動を伴う。プッシュプル法では、上記に説明した
ように光束の半分(図1のz方向の上下)ずつの強度の
差を演算しているので、例えばHOE17の位置がトラ
ッキング方向(HOE上でz方向)にずれると誤った誤
差信号が現れ、トラッキング制御性能が劣化するという
問題がある。
【0031】これは、ずれ量を一定に考えると、HOE
17上での光束径が大きい方が有利であることがわか
る。このことを図7を用いて説明する。図7はHOE1
7とHOE上の光束の様子を、ディスク7のトラックに
よる回折パターンを含めて記載したものである。プッシ
ュプル法では、上下の光検知器の各素子の差信号より誤
差信号を生成するので、図のようにHOE17と反射光
束9の相対位置がずれた場合、本来減算されなければな
らない光束が同一素子内に入り込んでくるため、誤差信
号の感度の低下が発生することが明白である。
【0032】ところが、図7に示すように、このずれの
影響は反射光束9の径dに依存しており、ずれ量をΔと
すると、Δ/dで表せるので、光束径dが大きいほど影
響が小さいことがわかる。光束径dは図1より集束レン
ズ16とHOE17との距離で定まるので、この間隔が
狭いほど光束径が大きくなる。そこで、できる限り集束
レンズ16とHOE17の距離を近づけるように配置す
ることで、配置誤差や信頼性に対する許容値が大きくな
る。
【0033】さらに、同じ焦点距離の集束レンズであれ
ば、HOE17と光検知器18の距離が遠いほうがHO
E17による回折角が小さくできくので、HOE17に
対する設計許容が大きくなるという利点もある。
【0034】実施の形態3.HOE17では回折光がほ
ぼ4本に分離されるが、回折されない0次光光束は全く
ゼロではなく、場合によっては無視できない場合があ
る。そこで、0次光束が本来の光検知器18上の素子に
入射しないように、±1次光の回折角度を設定すること
により性能をさらに向上させることができる。この様子
を図8、図9を用いて説明する。
【0035】HOE17からの0次光は、図8中に2点
鎖線で示すような光束34であり、光軸上にほぼ集光す
る。一般に合焦点でのスポット径(直径)の2倍以上離
して隣接するスポットが配置されるようにすれば、隣接
スポットによる影響を除去することができる。フォーカ
ス誤差信号のリニアゾーンの両端の点では、この0次光
束34によるスポット35はほぼ合焦点での±1次光ス
ポット33a〜33dと同じ大きさであるから、0次光
の集光点と隣接する±1次光の集光点との距離をL、合
焦点での±1次光スポットの半径をrとすると L=2×(2×r) を満足するように±1次光の回折角を設定すれば、0次
光の影響を除去することができる。
【0036】また、本来使用する光検知器上の受光素子
以外の位置に光が入射した場合、たとえその位置に受光
素子がなくても光電変換によって電子が生じ、受光素子
に到達して誤った誤差信号を生成してしまう場合があ
る。そこで、0次光を受光する受光素子を設け、出力を
接地することにより、強制的に不要な信号を排除するこ
とができる。図9にはこのような構成を実現するための
構成が示されており、0次光束34は受光素子32eに
よって受光され、発生した信号は他の受光素子32a〜
32dへ流れないように制限されている。
【0037】なお、上記実施の形態実施例では、HOE
17の2つの領域17a、17bから回折された±1次
光のうち、光検知器18の手前に集光する光束と後方に
集束する光束が光軸に対して同じ側に配置する構成を説
明したが、手前と後方に集束する光束が1本ずつ存在す
るような構成にしても、全く同様の効果が得られること
は言うまでもない。
【0038】
【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に示すような効果を奏する。
【0039】光ディスク上のトラック方向に分割線をも
つ2つの領域に分割され、各領域で集光作用と回折方向
の量が異なったHOEをセンサ光学系に用いることによ
り、トラッキングに伴う対物レンズの並進動作や光源の
波長変動に対してもオフセットの発生しにくいフォーカ
ス誤差信号およびトラッキング誤差信号が容易に得られ
る。
【0040】また、集束レンズとHOEの距離を短くし
てHOE上での光束径を大きくしたので、HOEの位置
ずれに伴うオフセットの発生を緩和することができる。
【0041】さらに、本来用いない光束を受光してその
信号を排除する構成にしたので、不要光によるオフセッ
トの発生を除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1の光学式記録再生装
置の光学系を示す図である。
【図2】 実施の形態1のセンサ光学系を示す図であ
る。
【図3】 実施の形態1の光検知器上のスポットの形状
を示す図である。
【図4】 実施の形態1のHOEの構成を示す図であ
る。
【図5】 実施の形態1の対物レンズがディスクに近づ
いた場合の光検知器上のスポットの形状を示す図であ
る。
【図6】 実施の形態1の対物レンズがディスクから遠
ざかった場合の光検知器上のスポットの形状を示す図で
ある。
【図7】 この発明の実施の形態2のHOE上の光束が
移動した場合の入射光束の形状を示す図である。
【図8】 この発明の実施の形態3の光学式記録再生装
置のセンサ光学系を示す図である。
【図9】 実施の形態3の光検知器上の様子を示す図で
ある。
【図10】 従来の光学式記録再生装置の光学系を示す
図である。
【図11】 従来の光学式記録再生装置の光検知器の構
成を示す図である。
【図12】 従来の光学式記録再生装置のセンサ光学系
を示す図である。
【図13】 従来の光学式記録再生装置の他の形状をも
つ光検知器を示す図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ、7 光ディスク、16 集束レン
ズ、17 光束分離手段(グレーティングレンズ,HO
E)、18 光検知器、30a,30b,31a,31
b 分割された光束、32a〜32e 受光素子、33
a〜33d ±1次光スポット、34 0次光束、35
0次光スポット。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、この光源からの光束を光ディス
    ク上に集光する対物レンズと、前記光ディスクからの反
    射光束を受光してフォーカス誤差信号およびトラッキン
    グ誤差信号を得る光検知器を備えた光学式記録再生装置
    において、前記反射光束中に配置され、光ディスク上の
    トラックを投影した座標において上記トラックとほぼ同
    じ方向に分割線が形成された複数の領域を有する光束分
    離手段を有し、この光束分離手段によって光軸を境にし
    て上記反射光束が2分割されるとともに、少なくとも±
    1次光の光束に分離されて少なくとも4本の光束に分割
    され、さらに集束作用によって+1次光と−1次光で集
    光点が異なるように構成するとともに、上記光検知器を
    上記複数の分割された光束の集光点の中間位置に配設す
    るとともに、各光束を受光する複数の受光素子を備えて
    いることを特徴とする光学式記録再生装置。
  2. 【請求項2】 光ディスクからの反射光束を光検知器上
    に集光する集束レンズと前記反射光束を分離する光束分
    離手段との距離を可能な限り近づけたことを特徴とする
    請求項1記載の光学式記録再生装置。
  3. 【請求項3】 光束分離手段にて回折せずに透過した0
    次の光束を受光する受光素子を光検知器上に設けるとと
    もに、前記光束分離手段によって回折された光束を受光
    するための受光素子に上記0次の光束が入射しないよう
    に前記光束分離手段の回折角度を設定したことを特徴と
    する請求項1記載の光学式記録再生装置。
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