JPH09299349A

JPH09299349A - 画像の対応付け方法、画像処理方法および医用画像診断装置

Info

Publication number: JPH09299349A
Application number: JP8121373A
Authority: JP
Inventors: Nobuyuki Tasaka; 信之田坂; Eiji Yoshitome; 英二吉留
Original assignee: GE Yokogawa Medical System Ltd
Current assignee: GE Healthcare Japan Corp
Priority date: 1996-05-16
Filing date: 1996-05-16
Publication date: 1997-11-25
Anticipated expiration: 2016-05-16
Also published as: JP3685544B2

Abstract

(57)【要約】【目的】第１の一連の頭部断層画像と第２の一連の頭
部断層画像とを対応付けする。【構成】第１の一連の断層画像を構成する各断層画像
と第２の一連の断層画像を構成する各断層画像における
頭部像面積および関心領域内平均画素値を算出し、それ
ら頭部像面積および関心領域内平均画素値を正規化す
る。そして、正規化した頭部像面積および関心領域内平
均画素値を指標として、第１の一連の断層画像と第２の
一連の断層画像とを対応付ける。【効果】人の主観に頼らず、客観的に、第１の一連の
頭部断層画像と第２の一連の頭部断層画像とを対応付け
ることが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、画像の対応付け方
法、画像処理方法および医用画像診断装置に関し、さら
に詳しくは、第１の一連の画像と第２の一連の画像とを
対応付けるための画像の対応付け方法、第１の一連の画
像を構成する各画像に対して設定されている処理パラメ
ータ値を準用して第２の一連の画像を構成する各画像を
処理するための画像処理方法、前記画像の対応付け方法
および／または前記画像処理方法を実施する医用画像診
断装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば頭部疾患を診断するために、予め
手本となる患者の頭部について撮像した第１の一連の断
層画像と，診断対象の患者の頭部について撮像した第２
の一連の断層画像とを比較観察することが行われる。か
かる断層画像は、例えばＭＲＩ（Magnetic Resonance I
maging）装置やＣＴ（Computed Tomography）装置など
で撮像される。

【０００３】図２４の（ａ）は、手本となる患者Ｋ１の
頭部について撮像した第１の一連の断層画像Ｇ1iのスラ
イス位置を示している。また、図２４の（ｂ）は、診断
対象の患者Ｋ２の頭部について撮像した第２の一連の断
層画像Ｇ2iのスライス位置を示している。図２４から判
るように、患者もスライス位置も異なるため、第１の一
連の断層画像Ｇ1iのどれと第２の一連の断層画像Ｇ2iの
どれとを対応させるかは客観的に明白ではない。このた
め、従来は医師の主観に頼って対応させていた。

【０００４】また、図２５の（ａ）は、画像の表示パラ
メータであるＷＷ（Ｗindow Ｗidth）値＝１５００，Ｗ
Ｌ（Ｗindow Ｌevel）値＝３５０の場合の画像表示例を
示している。この画像表示例では、頭骨ｃは詳細に表現
されているが、脳ｎは詳細に表現されていない。一方、
図２５の（ｂ）は、ＷＷ値＝４００，ＷＬ値＝２５０の
場合の画像表示例を示している。この画像表示例では、
頭骨ｃは詳細に表現されていないが、脳ｎは詳細に表現
されている。図２５から判るように、ＷＷ値やＷＬ値の
設定によって画像の見え方が全く異なる。このため、従
来は画像を表示させる度に医師が適正なＷＷ値やＷＬ値
の設定を行っていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来
は、第１の一連の断層画像Ｇ1iのどれと第２の一連の断
層画像Ｇ2iのどれとを対応させるかを医師の主観に頼っ
て決めている。しかし、これでは医師によって対応のさ
せ方が異なることになりかねない問題点がある。また、
従来は、画像を表示させる度に医師が適正なＷＷ値やＷ
Ｌ値の設定を行っている。しかし、画像ごとに設定を行
うのは作業負担が大きい問題点がある。

【０００６】そこで、この発明の第１の目的は、医師の
主観に頼らず、客観的に第１の一連の画像と第２の一連
の画像とを対応付けることが出来る画像の対応付け方法
を提供することにある。また、この発明の第２の目的
は、操作者が画像ごとに処理パラメータ値を設定しなく
ても、第１の一連の画像を構成する各画像に対して設定
されている処理パラメータ値を準用して第２の一連の画
像を構成する各画像を処理することが出来る画像処理方
法を提供することにある。さらに、この発明の第３の目
的は、上記画像の対応付け方法および／または上記画像
処理方法を好適に実施することが出来る医用画像診断装
置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、第１の一連の画像と第２の一連の画像とを対応付
ける画像の対応付け方法であって、第１の一連の画像を
構成する各画像の特徴量を算出すると共に、第２の一連
の画像を構成する各画像の特徴量を算出し、その特徴量
を正規化し、その正規化した特徴量を指標として、第１
の一連の画像と第２の一連の画像とを対応付けることを
特徴とする画像の対応付け方法を提供する。上記構成に
おいて、第１の一連の画像と第２の一連の画像とは、例
えば、異なる被検体の同一部位を撮像して得られた２組
の画像群や、同じ被検体の同一部位を異なる時刻に撮像
して得られた２組の画像群である。なお、２組の画像群
の対応付けの反復により、３組以上の画像群を対応付け
ることも可能である。また、上記構成において、特徴量
としては、例えば、画像中の像面積や画像中に設けた関
心領域内の画素値平均値や画素値標準偏差などの統計量
である。上記第１の観点による画像の対応付け方法で
は、第１の一連の画像を構成する各画像の特徴量と第２
の一連の画像を構成する各画像の特徴量とを算出し、算
出した特徴量を正規化する。そして、正規化した特徴量
を指標として、第１の一連の画像と第２の一連の画像と
を対応付ける。これにより、人の主観に頼らず、客観的
に第１の一連の画像と第２の一連の画像とを対応付ける
ことが出来る。

【０００８】第２の観点では、この発明は、撮像対象が
頭部である第１の一連の断層画像と第２の一連の断層画
像とを対応付ける画像の対応付け方法であって、第１の
一連の断層画像を構成する各断層画像の頭部像面積およ
び関心領域内平均画素値を算出すると共に、第２の一連
の断層画像を構成する各断層画像の頭部像面積および関
心領域内平均画素値を算出し、前記頭部像面積をその最
大値で正規化し、前記関心領域内平均画素値をその変化
率で正規化し、前記正規化した頭部像面積および前記正
規化した関心領域内平均画素値を指標として、第１の一
連の断層画像と第２の断層画像とを対応付けることを特
徴とする画像の対応付け方法を提供する。本願発明者の
研究によれば、頭部断面積および関心領域内平均画素値
を基にして、頭部の断層画像のスライス位置を正規化で
きることが判った。そこで、上記第２の観点による画像
の対応付け方法では、第１の一連の断層画像を構成する
各断層画像と第２の一連の断層画像を構成する各断層画
像における特徴量として頭部像面積および関心領域内平
均画素値を算出し、それら頭部像面積および関心領域内
平均画素値を正規化する。そして、正規化した頭部像面
積および関心領域内平均画素値を指標として、第１の一
連の断層画像と第２の一連の断層画像とを対応付ける。
これにより、医師の主観に頼らず、客観的に第１の一連
の頭部断層画像と第２の一連の頭部断層画像とを対応付
けることが出来る。

【０００９】なお、上記第２の観点の発明は、別の表現
では、撮像対象が頭部である第１の一連の断層画像と第
２の一連の断層画像とを対応付ける画像の対応付け装置
であって、第１の一連の断層画像を構成する各断層画像
の頭部像面積および関心領域内平均画素値を算出すると
共に第２の一連の断層画像を構成する各断層画像の頭部
像面積および関心領域内平均画素値を算出する特徴量算
出手段と、前記頭部像面積をその最大値で正規化すると
共に前記関心領域内平均画素値をその変化率で正規化し
その正規化した頭部像面積および正規化した関心領域内
平均画素値を指標として第１の一連の断層画像と第２の
断層画像とを対応付ける対応付け処理手段とを具備した
ことを特徴とする画像の対応付け装置を提供するもので
ある。

【００１０】第３の観点では、この発明は、第１の一連
の画像を構成する各画像に対して処理パラメータ値が予
め設定されているとき、前記第１の一連の画像に第２の
一連の画像を対応付け、その対応付けと前記処理パラメ
ータ値とに基づいて、前記第２の一連の画像を構成する
各画像に対する処理パラメータ値を自動設定し、その処
理パラメータ値を用いて前記第２の一連の画像を構成す
る各画像を処理することを特徴とする画像処理方法を提
供する。上記第３の観点による画像処理方法では、トレ
ーニング用の第１の一連の画像を構成する各画像に対し
て、処理パラメータ値を、操作者が予め設定しておく。
次に、処理対象の第２の一連の画像を、前記第１の一連
の画像に対応付ける。次に、その対応付けに基づいて前
記第１の一連の画像を構成する各画像に対する処理パラ
メータ値を前記第２の一連の画像を構成する各画像に対
する処理パラメータ値に変換する。そして、この処理パ
ラメータ値を用いて前記第２の一連の画像を構成する各
画像を処理する。これにより、操作者が１回だけ処理パ
ラメータ値を設定しておけば、その後は画像ごとに処理
パラメータ値を設定しなくても、先に設定した処理パラ
メータ値を準用して別の一連の画像を構成する各画像を
処理することが出来る。

【００１１】第４の観点では、この発明は、第１の一連
の断層画像を構成する各断層画像に対してＷＷ／ＷＬ値
が予め設定されているとき、第２の一連の断層画像を前
記第１の一連の断層画像に対応付け、その対応付けと前
記ＷＷ／ＷＬ値とに基づいて、前記第２の一連の断層画
像を構成する各断層画像に対するＷＷ／ＷＬ値を自動設
定し、そのＷＷ／ＷＬ値を用いて前記第２の一連の断層
画像を構成する各断層画像を表示することを特徴とする
画像処理方法を提供する。上記第４の観点による断層画
像処理方法では、トレーニング用の第１の一連の断層画
像を構成する各断層画像に対して、ＷＷ／ＷＬ値を、医
師が予め設定しておく。次に、表示対象の第２の一連の
断層画像を、前記第１の一連の断層画像に対応付ける。
次に、その対応付けに基づいて前記第１の一連の断層画
像を構成する各断層画像に対するＷＷ／ＷＬ値を前記第
２の一連の断層画像を構成する各断層画像に対するＷＷ
／ＷＬ値に変換する。そして、このＷＷ／ＷＬ値を用い
て前記第２の一連の断層画像を構成する各断層画像を表
示する。これにより、医師が１回だけＷＷ／ＷＬ値を設
定しておけば、その後は断層画像ごとにＷＷ／ＷＬ値を
設定しなくても、先に設定したＷＷ／ＷＬ値の傾向を反
映させて別の一連の断層画像を構成する各断層画像を表
示することが出来る。

【００１２】上記第４の観点の発明は、別の表現では、
第１の一連の断層画像を構成する各断層画像に対してＷ
Ｗ／ＷＬ値が予め設定されているとき、第２の一連の断
層画像を前記第１の一連の断層画像に対応付ける対応付
け処理手段と、その対応付けと前記ＷＷ／ＷＬ値とに基
づいて前記第２の一連の断層画像を構成する各断層画像
に対するＷＷ／ＷＬ値を自動設定する自動設定手段と、
その自動設定したＷＷ／ＷＬ値を用いて前記第２の一連
の断層画像を構成する各断層画像を表示する表示手段と
を具備したことを特徴とする画像処理装置を提供するも
のである。

【００１３】第５の観点では、この発明は、上記構成の
画像処理方法において、前記第１の一連の断層画像を構
成する各断層画像中の関心領域内の画素値平均値および
画素値標準偏差を求めると共に、前記第２の一連の断層
画像を構成する各断層画像中の関心領域内の画素値平均
値および画素値標準偏差を求め、両方の一連の断層画像
の画素値平均値および画素値標準偏差を比較してＷＷ／
ＷＬオフセット量を算出し、第１の一連の断層画像を構
成する各断層画像に対して設定されているＷＷ／ＷＬ値
にＷＷ／ＷＬオフセット量を加えることにより、前記第
２の一連の断層画像を構成する各断層画像に対するＷＷ
／ＷＬ値を設定することを特徴とする画像処理方法を提
供する。本願発明者の研究によれば、操作者が設定する
ＷＷ／ＷＬ値と画素値平均値および画素値標準偏差との
間に相関があることが判った。そこで、上記第５の観点
による画像処理方法では、第１の一連の断層画像を構成
する各断層画像と第２の一連の断層画像を構成する各断
層画像における関心領域内の画素値平均値および画素値
標準偏差を算出し、それら関心領域内の画素値平均値お
よび画素値標準偏差の相違を反映させて第２の一連の断
層画像を構成する各断層画像に対するＷＷ／ＷＬ値を設
定するようにした。これにより、被検体の個体差や断層
画像の写り具合に適合したＷＷ／ＷＬ値を自動設定でき
ることとなる。

【００１４】上記第５の観点の発明は、別の表現では、
上記第４の観点にかかる画像処理装置において、前記自
動設定手段が、第１の一連の断層画像を構成する各断層
画像中の関心領域内の画素値平均値および画素値標準偏
差を求めると共に、第２の一連の断層画像を構成する各
断層画像中の関心領域内の画素値平均値および画素値標
準偏差を求め、両方の一連の断層画像の画素値平均値お
よび画素値標準偏差を比較してＷＷ／ＷＬオフセット量
を算出し、第１の一連の断層画像を構成する各断層画像
に対して設定されているＷＷ／ＷＬ値にＷＷ／ＷＬオフ
セット量を加えることにより、前記第２の一連の断層画
像を構成する各断層画像に対するＷＷ／ＷＬ値を設定す
るものである、ことを特徴とする画像処理装置を提供す
るものである。

【００１５】第６の観点では、この発明は、第１の一連
の断層画像を構成する各断層画像の特徴量を算出すると
共に第２の一連の断層画像を構成する各断層画像の特徴
量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量を正規化し
その正規化した特徴量を指標として第１の一連の断層画
像と第２の断層画像とを対応付ける対応付け処理手段と
を具備したことを特徴とする医用画像診断装置を提供す
る。上記第６の観点による医用画像診断装置では、上記
第２の観点による画像の対応付け方法を好適に実施する
ことが出来るため、診断に好適である。

【００１６】第７の観点では、この発明は、第１の一連
の断層画像を構成する各画像に対して処理パラメータ値
を操作者に設定させるトレーニング処理手段と、前記第
１の一連の断層画像と同一の部位を撮像した第２の一連
の画像を前記第１の一連の断層画像に対応付けその対応
付けと前記処理パラメータ値とに基づいて前記第２の一
連の断層画像を構成する各断層画像に対する処理パラメ
ータ値を自動設定する自動設定手段とを具備したことを
特徴とする医用画像診断装置を提供する。上記第７の観
点による医用画像診断装置では、上記第３の観点，上記
第４の観点または上記第５の観点による画像処理方法を
好適に実施することが出来るため、診断に好適である。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態に基づい
てこの発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより
この発明が限定されるものではない。

【００１８】−第１の実施形態− 図１は、この発明の第１の実施形態にかかるＭＲＩ装置
１００の構成を示すブロック図である（但し、第１の実
施形態の説明に関連する要部構成のみを示す）。このＭ
ＲＩ装置１００は、撮像装置１と、処理装置２と、記憶
装置３と、表示装置４と、入力装置５とを具備してい
る。前記撮像装置１は、被検体Ｋをスキャンし、得られ
たスキャンデータを処理装置２に渡す。前記処理装置２
は、前記撮像装置１からスキャンデータを取得するデー
タ取得部２ａと、スキャンデータから断層画像の画像デ
ータを生成する画像データ生成部２ｂと、一連の画像の
特徴量を算出しその特徴量を正規化しその正規化した特
徴量に基づいて各画像を領域分けする領域分け処理部２
ｃと、各画像の正規化した特徴量に基づいて第１の一連
の画像と第２の一連の画像とを対応付けする対応付け処
理部２ｄとを含んでいる。前記記憶装置３は、前記スキ
ャンデータや前記画像データを記憶する。前記表示装置
４は、前記断層画像や各種の情報を表示する。前記入力
装置５は、操作者が入力する情報を受け付ける。

【００１９】図２は、前記領域分け処理部２ｃで一連の
頭部断層画像の領域分けを行う場合のフローチャートで
ある。ステップＣ１では、一連の頭部断層画像Ｇｉを読
み込む。例えば、図３に示すごとき各スライス位置での
断層画像から構成される一連の頭部断層画像Ｇｉを読み
込む。ステップＣ２では、各頭部断層画像Ｇｉの像輪郭
を抽出する。例えば、図４の（ａ）に示す頭部断層画像
では、図４の（ｂ）に太破線で示す如き像輪郭が抽出さ
れる。

【００２０】ステップＣ３では、各頭部断層画像Ｇｉの
像輪郭内の面積Ｓｉを求める。ステップＣ４では、最大
面積Ｓmxをもつ頭部断層画像Ｇmxのスライス位置をＬoc
１とする。なお、最大面積ＳmxとなるＬoc１は、大脳基
底核レベルに相当する。ステップＣ５では、最大面積Ｓ
mxで各面積Ｓｉを正規化し、正規化値Ｎｉを求める。ス
テップＣ６では、正規化値Ｎｉの近似曲線がＬoc１より
上で初めて閾値αを切る位置をＰos２とする。ステップ
Ｃ７では、Ｐos２よりスライス位置が上の頭部断層画像
を頭上部の画像とする。図５に、各頭部断層画像Ｇｉの
スライス位置と，正規化値Ｎｉと，近似曲線と，閾値α
と，Ｌoc１と，Ｐos２とを例示する。近似曲線は、簡単
のため、折れ線としている。閾値αは“８０％”として
いる。

【００２１】ステップＣ８では、各頭部断層画像Ｇｉの
像輪郭を円で近似し、その円の半径をＤ（例えば２０ｍ
ｍ）だけ縮めた円の後ろ半分を関心領域とし、その関心
領域内の画素値の平均値Ｍｉを求める。例えば、図６に
示す頭部断層画像では、Ａが像輪郭を近似した円であ
り、ＲＯＩが関心領域である。ステップＣ９では、Ｌoc
１よりスライス位置が下で平均値Ｍｉが極小（極小がな
ければ最小）となる頭部断層画像Ｇacのスライス位置を
Ｌoc３とする。なお、平均値Ｍｉが極小（最小）となる
Ｌoc３は、蝶形骨洞レベルに相当する。ステップＣ１０
では、Ｌoc１とＬoc３の中点の位置をＰos４とする。ス
テップＣ１１では、Ｐos４からスライス位置が下の頭部
断層画像を頭下部の画像とする。ステップＣ１２では、
残りの頭部断層画像を頭中部の画像とする。図７に、各
頭部断層画像Ｇｉのスライス位置と，平均値Ｍｉと，近
似曲線と，Ｌoc１と，Ｐos２と，Ｌoc３と，Ｐos４とを
例示する。近似曲線は、簡単のため、折れ線としてい
る。

【００２２】以上により、図８に示すように、一連の頭
部断層画像Ｇｉを、頭上部，頭中部，頭下部に領域分け
できる。図９に、頭上部の典型的な断層画像を示す。こ
の頭上部は、大脳基底核レベルの断面積からα％だけ断
面積が小さくなる位置Ｐos２から上の部分である。図１
０に、頭中部の典型的な断層画像を示す。この頭中部
は、Ｐos２から大脳基底核レベルと蝶形骨洞レベルの中
点の位置Ｐos４までの部分である。図１１に、頭下部の
典型的な断層画像を示す。この頭下部は、Ｐos４から下
の部分である。

【００２３】図１２は、前記対応付け処理部２ｄで第１
の一連の頭部断層画像と第２の一連の頭部断層画像の対
応付けを行う場合のフローチャートである。ステップＱ
１では、領域分け処理済の第１および第２の一連の頭部
断層画像Ｇ1i，Ｇ2iを読み込む。例えば、図２４の
（ａ）に示すごとき各スライス位置での断層画像から構
成される第１の一連の頭部断層画像Ｇ1iと、図２４の
（ｂ）に示すごとき各スライス位置での断層画像から構
成される第２の一連の頭部断層画像Ｇ2iとを読み込む。
ここで、第１の一連の頭部断層画像Ｇ1iについては図５
および図７の正規化された特徴量が得られており、第２
の一連の頭部断層画像Ｇ2iについては図１３および図１
４の正規化された特徴量が得られているとする。

【００２４】ステップＱ２では、頭部断層画像Ｇ1iの頭
上部の各断層画像におけるスライス位置に対する正規化
値Ｎｉの変化率ｋ1iおよび頭部断層画像Ｇ2iの頭上部の
各断層画像におけるスライス位置に対する正規化値Ｎｉ
の変化率ｋ2iを、正規化値Ｎｉの近似曲線から求める。
例えば、近似曲線が折れ線の場合、上下の連結線の傾き
の平均（下の連結線しかない場合はその傾き）を変化率
ｋとする。ステップＱ３では、正規化値Ｎｉの変化率ｋ
1i，ｋ2iを指標として、頭部断層画像Ｇ1iの頭上部の各
断層画像におけるスライス位置と頭部断層画像Ｇ2iの頭
上部の各断層画像におけるスライス位置とを対応付け
る。正規化値Ｎｉの変化率ｋ1i，ｋ2iを指標とするの
は、頭頂部を対応させるためである。図１５に、頭上部
の対応付け結果を例示する。

【００２５】ステップＱ４では、図１５に示すように、
Ｌoc１の断層画像のスライス位置を対応付ける。これは
大脳基底核レベルを対応付けることを意味する。また、
Ｌoc１とＰos２の距離を等しくしたときの相対位置を指
標として、Ｌoc１よりスライス位置が上の頭中部の断層
画像のスライス位置を対応付ける。また、Ｌoc１とＰos
４の距離を等しくしたときの相対位置を指標として、Ｌ
oc１よりスライス位置が下の頭中部の断層画像のスライ
ス位置を対応付ける。

【００２６】ステップＱ５では、図１５に示すように、
Ｌoc３の断層画像のスライス位置を対応付ける。これは
蝶形骨洞レベルを対応付けることを意味する。また、Ｌ
oc３とＰos４の距離を等しくしたときの相対位置を指標
として、頭下部の断層画像のスライス位置を対応付け
る。

【００２７】上記ＭＲＩ装置１００によれば、医師の主
観に頼らず、客観的に第１の一連の頭部断層画像Ｇ1iと
第２の一連の頭部断層画像Ｇ2iとを対応付けることが出
来る。

【００２８】−第２の実施形態− 図１６は、この発明の第２の実施形態にかかるＭＲＩ装
置２００の構成を示すブロック図である（但し、第２の
実施形態の説明に関連する要部構成のみを示す）。この
ＭＲＩ装置２００は、撮像装置１と、処理装置２Ａと、
記憶装置３と、表示装置４と、入力装置５とを具備して
いる。処理装置２Ａ以外は第１の実施形態における構成
要素と同じである。前記処理装置２Ａは、第１の実施形
態と同じデータ取得部２ａと画像データ生成部２ｂと領
域分け処理部２ｃと対応付け処理部２ｄとを含むと共
に、第１の一連の画像を構成する各画像に対して処理パ
ラメータ値を操作者が設定するためのトレーニング処理
部２ｆと、前記第１の一連の画像に第２の一連の画像を
対応付けその対応付けと前記処理パラメータ値とに基づ
いて前記第２の一連の画像を構成する各画像に対する処
理パラメータ値を自動設定する自動設定処理部２ｇとを
含んでいる。

【００２９】図１７は、前記トレーニング処理部２ｆ
で、第１の一連の頭部断層画像を構成する各断層画像に
対して、ＷＷ値，ＷＬ値を操作者が設定する場合のフロ
ーチャートである。ステップＴ１では、第１の一連の頭
部断層画像（これをトレーニングシリーズの頭部断層画
像という）ＧTiを読み込む。ステップＴ２では、各頭部
断層画像ＧTiに対してＷＷTi値およびＷＬTi値を操作者
が設定する。ステップＴ３では、図１８に示すように、
各頭部断層画像ＧTiのスライス位置ｘｉに対して設定さ
れたＷＷTi値を滑らかに結ぶ近似曲線を求めて、それを
トレーニングＷＷテーブル曲線ＷＷT(X)とする。ステッ
プＴ４では、図１９に示すように、各頭部断層画像ＧTi
のスライス位置ｘｉに対して設定されたＷＬTi値を滑ら
かに結ぶ近似曲線を求めて、それをトレーニングＷＬテ
ーブル曲線ＷＬT(X)とする。

【００３０】ステップＴ５では、トレーニングシリーズ
の頭部断層画像ＧTiに対して図２の領域分け処理を実行
する。但し、トレーニングシリーズの頭部断層画像ＧTi
を既に読み込んでいるので、ステップＣ１は省略する。
ステップＴ６では、断層画像ＧTi中の関心領域ＲＯＩ内
の画素値の各領域ｊごとの平均値ＭＮTjおよび標準偏差
ＳＤTjを求める。ステップＴ７では、図２０に示すよう
に、各領域ｊごとに重み関数ωj(X)を設定する。

【００３１】図２１は、前記自動設定処理部２ｇで、第
２の一連の頭部断層画像を構成する各断層画像に対し
て、ＷＷ値，ＷＬ値を自動設定する場合のフローチャー
トである。ステップＨ１では、第２の一連の頭部断層画
像（これを設定対象シリーズの頭部断層画像という）Ｇ
Aiを読み込む。ステップＨ２では、設定対象シリーズの
頭部断層画像ＧAiに対して図２の領域分け処理を実行す
る。但し、設定対象シリーズの頭部断層画像ＧAiを前記
ステップＨ１で読み込んでいるので、ステップＣ１は省
略する。ステップＨ３では、断層画像ＧAi中の関心領域
ＲＯＩ内の画素値の各領域ｊごとの平均値ＭＮAjおよび
標準偏差ＳＤAjを求める。ステップＨ４では、トレーニ
ング処理済のトレーニングシリーズの頭部断層画像ＧTi
を読み込む。ステップＨ５では、トレーニングシリーズ
の頭部断層画像ＧTiと設定対象シリーズの頭部断層画像
ＧAiに対して図１２の対応付け処理を実行する。但し、
両シリーズの頭部断層画像ＧTi，ＧAiを既に読み込んで
いるので、ステップＱ１は省略する。ステップＨ６で
は、トレーニングシリーズの頭部断層画像ＧTiと設定対
象シリーズの頭部断層画像ＧAiの対応付けに応じて、ト
レーニングＷＷテーブル曲線ＷＷT(X)から出力ＷＷテー
ブル曲線ＷＷ(X')を求めると共に、トレーニングＷＬテ
ーブル曲線ＷＬT(X)から出力ＷＬテーブル曲線ＷＬ(X')
を求める。ここで、Ｘ’は、対応付けされたスライス位
置を表わす。

【００３２】ステップＨ７では、トレーニングシリーズ
の頭部断層画像ＧTiと設定対象シリーズの頭部断層画像
ＧAiの対応付けに応じて、重み関数ωj(X)から重み関数
ωj(X’)を求める。ステップＨ８では、各領域ｊごと
に、標準偏差ＳＤAj，ＳＤTjを用いて、ＷＷオフセット
基準量ΔＷＷAjを求める。また、平均値ＭＮAj，ＭＮTj
を用いて、ＷＬオフセット基準量ΔＷＬAjを求める。 ΔＷＷAj＝２（ＳＤAj−ＳＤTj） ΔＷＬAj＝ＭＮAj−ＭＮTj ステップＨ９では、図２２に示すように、重み関数ωj
(X’)を用いて各領域ｊのＷＷオフセット基準量ΔＷＷA
jを滑らかに連結して得られたＷＷオフセット量を、前
記出力ＷＷテーブル曲線ＷＷ(X’)に加えて、出力ＷＷ
テーブル曲線ＷＷA(X’)を求める。ＷＷA(X')＝ＷＷ(X')＋｛Σ（ωj(X')・ΔＷＷAj）｝／
Σ（ωj(X')）ステップＨ１０では、図２３に示すように、重み関数ω
j(X’)を用いて各領域ｊのＷＬオフセット基準量ΔＷＬ
Ajを滑らかに連結して得られたＷＬオフセット量を、前
記出力ＷＬテーブル曲線ＷＬ(X')に加えて、出力ＷＬテ
ーブル曲線ＷＬA(X’)を求める。ＷＬA(X')＝ＷＬ(X')＋｛Σ（ωj(X')・ΔＷＬAj）｝／
Σ（ωj(X')）以上により得られた出力ＷＷテーブル曲線ＷＷA(X’)お
よび出力ＷＬテーブル曲線ＷＬA(X’)に基づいて設定対
象シリーズの各断層画像ＧAiのＷＷAi値およびＷＬAi値
を求め、そのＷＷAi値およびＷＬAi値を用いて断層画像
ＧAiを表示すればよい。

【００３３】上記第２の実施形態にかかるＭＲＩ装置２
００によれば、医師が１回だけＷＷ／ＷＬ値を設定して
おけば、その後は断層画像ごとにＷＷ／ＷＬ値を設定し
なくても、先に設定したＷＷ／ＷＬ値の傾向を反映させ
て別の一連の断層画像を構成する各断層画像を表示する
ことが出来る。

【００３４】

【発明の効果】この発明の画像の対応付け方法によれ
ば、人の主観に頼らず、客観的に、第１の一連の画像と
第２の一連の画像とを対応付けることが出来る。この発
明の画像処理方法によれば、操作者が１回だけ処理パラ
メータ値を設定しておけば、その後は画像ごとに処理パ
ラメータ値を設定しなくても、先に設定した処理パラメ
ータ値を準用して別の一連の画像を構成する各画像を処
理することが出来る。また、この発明の医用画像診断装
置によれば、上記画像の対応付け方法または上記画像処
理方法を好適に実施することが出来るため、診断に好適
である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施形態にかかるＭＲＩ装置
の構成ブロック図である。

【図２】領域分け処理のフローチャートである。

【図３】スライス位置の説明図である。

【図４】像輪郭の説明図である。

【図５】第１の一連の断層画像のスライス位置と正規化
値のグラフである。

【図６】関心領域の説明図である。

【図７】第１の一連の断層画像のスライス位置と平均値
のグラフである。

【図８】各領域の説明図である。

【図９】頭上部の典型的な断層画像の例示図である。

【図１０】頭中部の典型的な断層画像の例示図である。

【図１１】頭下部の典型的な断層画像の例示図である。

【図１２】対応付け処理のフローチャートである。

【図１３】第２の一連の断層画像のスライス位置と正規
化値のグラフである。

【図１４】第２の一連の断層画像のスライス位置と平均
値のグラフである。

【図１５】第１の一連の断層画像と第２の一連の断層画
像を対応付けした結果の説明図である。

【図１６】この発明の第２の実施形態にかかるＭＲＩ装
置の構成ブロック図である。

【図１７】トレーニング処理のフローチャートである。

【図１８】トレーニングＷＷテーブル曲線の説明図であ
る。

【図１９】トレーニングＷＬテーブル曲線の説明図であ
る。

【図２０】重み関数の説明図である。

【図２１】自動設定処理のフローチャートである。

【図２２】出力ＷＷテーブル曲線の説明図である。

【図２３】出力ＷＬテーブル曲線の説明図である。

【図２４】第１の一連の断層画像のスライス位置と第２
の一連の断層画像のスライス位置の説明図である。

【図２５】ＷＷ／ＷＬ値による画像の現れかたの違いの
説明図である。

【符号の説明】

１００，２００ＭＲＩ装置１撮像装置２処理装置２ａデータ取得部２ｂ画像データ生成部２ｃ領域分け処理部２ｄ対応付け処理部２ｆトレーニング処理部２ｇ自動設定処理部ＲＯＩ関心領域

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１の一連の画像と第２の一連の画像と
を対応付ける画像の対応付け方法であって、第１の一連
の画像を構成する各画像の特徴量を算出すると共に、第
２の一連の画像を構成する各画像の特徴量を算出し、そ
の特徴量を正規化し、その正規化した特徴量を指標とし
て、第１の一連の画像と第２の一連の画像とを対応付け
ることを特徴とする画像の対応付け方法。
【請求項２】撮像対象が頭部である第１の一連の断層
画像と第２の一連の断層画像とを対応付ける画像の対応
付け方法であって、第１の一連の断層画像を構成する各
断層画像の頭部像面積および関心領域内平均画素値を算
出すると共に、第２の一連の断層画像を構成する各断層
画像の頭部像面積および関心領域内平均画素値を算出
し、前記頭部像面積をその最大値で正規化し、前記関心
領域内平均画素値をその変化率で正規化し、前記正規化
した頭部像面積および前記正規化した関心領域内平均画
素値を指標として、第１の一連の断層画像と第２の断層
画像とを対応付けることを特徴とする画像の対応付け方
法。
【請求項３】第１の一連の画像を構成する各画像に対
して処理パラメータ値が予め設定されているとき、前記
第１の一連の画像に第２の一連の画像を対応付け、その
対応付けと前記処理パラメータ値とに基づいて、前記第
２の一連の画像を構成する各画像に対する処理パラメー
タ値を自動設定し、その処理パラメータ値を用いて前記
第２の一連の画像を構成する各画像を処理することを特
徴とする画像処理方法。
【請求項４】第１の一連の断層画像を構成する各断層
画像に対してＷＷ／ＷＬ値が予め設定されているとき、
第２の一連の断層画像を前記第１の一連の断層画像に対
応付け、その対応付けと前記ＷＷ／ＷＬ値とに基づい
て、前記第２の一連の断層画像を構成する各断層画像に
対するＷＷ／ＷＬ値を自動設定し、そのＷＷ／ＷＬ値を
用いて前記第２の一連の断層画像を構成する各断層画像
を表示することを特徴とする画像処理方法。
【請求項５】請求項４に記載の画像処理方法におい
て、前記第１の一連の断層画像を構成する各断層画像中
の関心領域内の画素値平均値および画素値標準偏差を求
めると共に、前記第２の一連の断層画像を構成する各断
層画像中の関心領域内の画素値平均値および画素値標準
偏差を求め、両方の一連の断層画像の画素値平均値およ
び画素値標準偏差を比較してＷＷ／ＷＬオフセット量を
算出し、第１の一連の断層画像を構成する各断層画像に
対して設定されているＷＷ／ＷＬ値にＷＷ／ＷＬオフセ
ット量を加えることにより、前記第２の一連の断層画像
を構成する各断層画像に対するＷＷ／ＷＬ値を設定する
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項６】第１の一連の断層画像を構成する各断層
画像の特徴量を算出すると共に第２の一連の断層画像を
構成する各断層画像の特徴量を算出する特徴量算出手段
と、前記特徴量を正規化しその正規化した特徴量を指標
として第１の一連の断層画像と第２の断層画像とを対応
付ける対応付け処理手段とを具備したことを特徴とする
医用画像診断装置。
【請求項７】第１の一連の断層画像を構成する各画像
に対して処理パラメータ値を操作者に設定させるトレー
ニング処理手段と、前記第１の一連の断層画像と同一の
部位を撮像した第２の一連の画像を前記第１の一連の断
層画像に対応付けその対応付けと前記処理パラメータ値
とに基づいて前記第２の一連の断層画像を構成する各断
層画像に対する処理パラメータ値を自動設定する自動設
定手段とを具備したことを特徴とする医用画像診断装
置。