JPH09304056A - レーザレベル用ターゲットとレーザレベルシステム - Google Patents
レーザレベル用ターゲットとレーザレベルシステムInfo
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- JPH09304056A JPH09304056A JP15024896A JP15024896A JPH09304056A JP H09304056 A JPH09304056 A JP H09304056A JP 15024896 A JP15024896 A JP 15024896A JP 15024896 A JP15024896 A JP 15024896A JP H09304056 A JPH09304056 A JP H09304056A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定対象物の観測値と目標の高さの高低差
や、測定対象物の傾斜を一瞥で判断できるレーザレベル
用ターゲットとそれを用いたレーザレベルシステムを提
供する。 【解決手段】 レーザレベルシステムは、多数の液晶画
素がマトリックス状に配置され、中央にターゲットマー
ク２８がある液晶パネル２２と、液晶パネルの２辺に並
置され、レーザビームの照射位置を検知する多数の受光
素子からなる受光センサ２４，２６とを有するレーザレ
ベル用ターゲット２０を、測定対象物に設置し、水平面
内で回転するレーザレベルからのターゲット２０に照射
し、このレーザビームの照射を受けた受光素子間の直線
上にある液晶パネル２２の液晶画素を表示状態にして直
線を描く。この直線を直視することでレーザレベルとタ
ーゲット間の高低差や測定対象物の傾きを一瞥で観測す
る。
や、測定対象物の傾斜を一瞥で判断できるレーザレベル
用ターゲットとそれを用いたレーザレベルシステムを提
供する。 【解決手段】 レーザレベルシステムは、多数の液晶画
素がマトリックス状に配置され、中央にターゲットマー
ク２８がある液晶パネル２２と、液晶パネルの２辺に並
置され、レーザビームの照射位置を検知する多数の受光
素子からなる受光センサ２４，２６とを有するレーザレ
ベル用ターゲット２０を、測定対象物に設置し、水平面
内で回転するレーザレベルからのターゲット２０に照射
し、このレーザビームの照射を受けた受光素子間の直線
上にある液晶パネル２２の液晶画素を表示状態にして直
線を描く。この直線を直視することでレーザレベルとタ
ーゲット間の高低差や測定対象物の傾きを一瞥で観測す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、平面内で移動する
レーザビームの照射を受けた場合に、照射を受けたレー
ザビームの軌跡を表示することができるレーザレベル用
ターゲットおよびそれを用いたレーザレベルシステムに
関する。
レーザビームの照射を受けた場合に、照射を受けたレー
ザビームの軌跡を表示することができるレーザレベル用
ターゲットおよびそれを用いたレーザレベルシステムに
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、レーザレベル（レーザ水準儀）に
用いられるターゲットは、受光素子を縦方向に多数配列
したものからなり、レーザレベルから水平方向に回転し
ながら出射され、回転レーザビームを測定対象物に取り
付けられたターゲットに照射することにより、ターゲッ
トが取り付けられた高さと回転レーザビームの高さとの
高低差を測定するようになっている。
用いられるターゲットは、受光素子を縦方向に多数配列
したものからなり、レーザレベルから水平方向に回転し
ながら出射され、回転レーザビームを測定対象物に取り
付けられたターゲットに照射することにより、ターゲッ
トが取り付けられた高さと回転レーザビームの高さとの
高低差を測定するようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のレーザレベルを使用した水準測量では、レーザ
レベルとターゲット間の高低差を測定しているものの、
実際の高さ管理において、測定対象物の目標の高さと、
実際に測定した高さとの差分を直視できず、ターゲット
が傾斜している場合には、誤差が生じ、正確な高低差を
測定できないという問題があった。
た従来のレーザレベルを使用した水準測量では、レーザ
レベルとターゲット間の高低差を測定しているものの、
実際の高さ管理において、測定対象物の目標の高さと、
実際に測定した高さとの差分を直視できず、ターゲット
が傾斜している場合には、誤差が生じ、正確な高低差を
測定できないという問題があった。
【０００４】本発明は、上記の問題に鑑み、測定対象物
の目標の高さと、実際に測定した高さとの差分、および
測定対象物の傾斜を一瞥で判断することを可能とさせる
レーザレベル用ターゲットおよびそれを使用したレーザ
レベルシステムを提供することを目的とする。
の目標の高さと、実際に測定した高さとの差分、および
測定対象物の傾斜を一瞥で判断することを可能とさせる
レーザレベル用ターゲットおよびそれを使用したレーザ
レベルシステムを提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のレーザレベル用ターゲットは、平面内で移
動するレーザビームの照射を受けた場合に、照射を受け
たレーザビームの軌跡を表示することができるレーザレ
ベル用ターゲットであって、ｍ列およびｎ行で液晶画素
がマトリックス状に配置され、中心にターゲットマーク
が形成されている液晶パネルと、前記液晶パネルの対向
する少なくとも一組の２辺に前記各液晶画素と１対１に
対応して一列に配置され、レーザビームの照射位置を検
知する多数の受光素子からなる第１，第２の受光センサ
とを有することを特徴とする。また、本発明は、前記タ
ーゲットマークが、液晶パネルの液晶画素の行列方向に
延びる十字マークから構成されていることを特徴とす
る。
に、本発明のレーザレベル用ターゲットは、平面内で移
動するレーザビームの照射を受けた場合に、照射を受け
たレーザビームの軌跡を表示することができるレーザレ
ベル用ターゲットであって、ｍ列およびｎ行で液晶画素
がマトリックス状に配置され、中心にターゲットマーク
が形成されている液晶パネルと、前記液晶パネルの対向
する少なくとも一組の２辺に前記各液晶画素と１対１に
対応して一列に配置され、レーザビームの照射位置を検
知する多数の受光素子からなる第１，第２の受光センサ
とを有することを特徴とする。また、本発明は、前記タ
ーゲットマークが、液晶パネルの液晶画素の行列方向に
延びる十字マークから構成されていることを特徴とす
る。
【０００６】また、本発明のレーザレベルシステムは、
水平面内あるいは鉛直平面内で回転する回転レーザビー
ムを発生させるレーザレベルと、測定対象物に設置さ
れ、ｍ列およびｎ行で液晶画素がマトリックス状に配置
されているとともに、中心にターゲットマークが形成さ
れている液晶パネル、及び前記液晶パネルの対向する少
なくとも一組の２辺に前記各液晶画素と１対１に対向し
て一列に配置され、レーザビームの照射位置を検知する
多数の受光素子からなる第１，第２の受光センサとを有
するレーザレベル用ターゲットと、前記水平面内あるい
は鉛直平面内で回転する回転レーザビームが前記レーザ
レベル用ターゲットを水平又は鉛直方向に横切るとき
に、前記第１，第２の受光センサにより回転レーザビー
ムの照射位置を検出し、この位置信号を基に前記第１の
受光センサの受光素子と第２の受光センサの受光素子間
を結ぶ直線上の液晶パネルの各液晶画素の座標を算出
し、算出した座標に該当する各液晶画素を表示状態にす
ることにより、回転レーザビームの軌跡を液晶パネル上
に表示させる演算制御手段とを有することを特徴とす
る。
水平面内あるいは鉛直平面内で回転する回転レーザビー
ムを発生させるレーザレベルと、測定対象物に設置さ
れ、ｍ列およびｎ行で液晶画素がマトリックス状に配置
されているとともに、中心にターゲットマークが形成さ
れている液晶パネル、及び前記液晶パネルの対向する少
なくとも一組の２辺に前記各液晶画素と１対１に対向し
て一列に配置され、レーザビームの照射位置を検知する
多数の受光素子からなる第１，第２の受光センサとを有
するレーザレベル用ターゲットと、前記水平面内あるい
は鉛直平面内で回転する回転レーザビームが前記レーザ
レベル用ターゲットを水平又は鉛直方向に横切るとき
に、前記第１，第２の受光センサにより回転レーザビー
ムの照射位置を検出し、この位置信号を基に前記第１の
受光センサの受光素子と第２の受光センサの受光素子間
を結ぶ直線上の液晶パネルの各液晶画素の座標を算出
し、算出した座標に該当する各液晶画素を表示状態にす
ることにより、回転レーザビームの軌跡を液晶パネル上
に表示させる演算制御手段とを有することを特徴とす
る。
【０００７】本発明のレーザレベル用ターゲットは、多
数の液晶画素をマトリックス状に配置した液晶パネル
と、その対向する辺に沿って配置した多数の受光素子か
らなる受光センサとを用いることにより、レーザレベル
用ターゲットを横切るレーザビームの軌跡を液晶に直線
として表示できる。また、本発明は、このレーザレベル
用ターゲットを使用したレーザレベルシステムで、水平
面内や鉛直面内で回転するレーザビームをレーザレベル
用ターゲットに照射することにより、水平面内や垂直面
内で回転するレーザビームの軌跡を液晶パネル上に直線
として表示することができ、この表示直線を直視するこ
とにより、レーザレベルとターゲット間の高低差、水平
性又は鉛直性を一瞥で正確に判断することができる。
数の液晶画素をマトリックス状に配置した液晶パネル
と、その対向する辺に沿って配置した多数の受光素子か
らなる受光センサとを用いることにより、レーザレベル
用ターゲットを横切るレーザビームの軌跡を液晶に直線
として表示できる。また、本発明は、このレーザレベル
用ターゲットを使用したレーザレベルシステムで、水平
面内や鉛直面内で回転するレーザビームをレーザレベル
用ターゲットに照射することにより、水平面内や垂直面
内で回転するレーザビームの軌跡を液晶パネル上に直線
として表示することができ、この表示直線を直視するこ
とにより、レーザレベルとターゲット間の高低差、水平
性又は鉛直性を一瞥で正確に判断することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
説明する。図１は、本発明の実施の形態に係わるレーザ
レベル用ターゲットがレーザレベルとともに使用されて
いるレーザレベルシステムを示す図、図２は、本発明の
実施の形態に係わるレーザレベル用ターゲットの第１の
例を示す正面図、図３は、図２のレーザレベル用ターゲ
ットを水平および高さの検出に用いているところを示す
図、図４は、図２のレーザレベル用ターゲットの詳細な
構造とそれを水平および高さの検出に用いた場合の動作
を説明するための図、図５は、図２のレーザレベル用タ
ーゲットを垂直および通りの検出に用いているところを
示す図、図６は、本発明の実施の形態に係わるレーザレ
ベル用ターゲットの第２の例を示す正面図、図７は、本
発明の実施の形態に係わるレーザレベルシステムの演算
制御手段を示すブロック図である。
説明する。図１は、本発明の実施の形態に係わるレーザ
レベル用ターゲットがレーザレベルとともに使用されて
いるレーザレベルシステムを示す図、図２は、本発明の
実施の形態に係わるレーザレベル用ターゲットの第１の
例を示す正面図、図３は、図２のレーザレベル用ターゲ
ットを水平および高さの検出に用いているところを示す
図、図４は、図２のレーザレベル用ターゲットの詳細な
構造とそれを水平および高さの検出に用いた場合の動作
を説明するための図、図５は、図２のレーザレベル用タ
ーゲットを垂直および通りの検出に用いているところを
示す図、図６は、本発明の実施の形態に係わるレーザレ
ベル用ターゲットの第２の例を示す正面図、図７は、本
発明の実施の形態に係わるレーザレベルシステムの演算
制御手段を示すブロック図である。
【０００９】レーザレベル１０は、目標の高さＨＴにあ
る水平面内でレーザビームを回転あるいは所定角度内で
旋回あるいは移動させるものである（以降、回転レーザ
ビームと呼ぶ）。レーザレベル用ターゲット２０は、レ
ーザレベル１０との高低差を測定すべき測定対象物に固
定される。レーザレベル用ターゲット２０は、図２に示
すように、多数の液晶画素２２ａ（図４参照）がマトリ
ックス状に配置された四角形の液晶パネル２２と、その
対向する２辺である両側面に沿って取り付けられた受光
センサ２４，２６とから構成されている。受光センサ２
４，２６は、それぞれ一列に配列され、照射されるレー
ザビームの照射位置を検知可能な多数の受光素子から構
成されている。
る水平面内でレーザビームを回転あるいは所定角度内で
旋回あるいは移動させるものである（以降、回転レーザ
ビームと呼ぶ）。レーザレベル用ターゲット２０は、レ
ーザレベル１０との高低差を測定すべき測定対象物に固
定される。レーザレベル用ターゲット２０は、図２に示
すように、多数の液晶画素２２ａ（図４参照）がマトリ
ックス状に配置された四角形の液晶パネル２２と、その
対向する２辺である両側面に沿って取り付けられた受光
センサ２４，２６とから構成されている。受光センサ２
４，２６は、それぞれ一列に配列され、照射されるレー
ザビームの照射位置を検知可能な多数の受光素子から構
成されている。
【００１０】また、液晶パネル２２の中心部には十字状
に交差するターゲットマーク２８が形成されている。こ
の場合、ターゲットマーク２８の中心は、液晶パネル２
２の中心部にある液晶画素の中心に合わされているのが
好ましく、また、レーザレベル用ターゲット２０は、そ
のターゲットマーク２８の中心が、測定対象物の予め決
められた位置に合致するように、また、ターゲットマー
ク２８の横線が、測定対象物の水平方向に合致するよう
に、測定対象物に固定される。
に交差するターゲットマーク２８が形成されている。こ
の場合、ターゲットマーク２８の中心は、液晶パネル２
２の中心部にある液晶画素の中心に合わされているのが
好ましく、また、レーザレベル用ターゲット２０は、そ
のターゲットマーク２８の中心が、測定対象物の予め決
められた位置に合致するように、また、ターゲットマー
ク２８の横線が、測定対象物の水平方向に合致するよう
に、測定対象物に固定される。
【００１１】レーザレベル用ターゲット２０の液晶パネ
ル２２は、図７に示すように、液晶表示制御部２９を介
して、マイクロプロセッサ等からなる演算制御部６０に
接続され、受光センサ２４、２６で検出されたレーザビ
ームの照射位置情報は演算制御部６０に取り込まれる。
また、レーザレベル１０から出射される回転レーザビー
ム４０は、図３に示されるようにレーザレベル用ターゲ
ット２０を水平方向に横切るようになっている。演算制
御部６０は回転レーザビーム４０が横切る受光センサ２
４の受光素子の位置と、受光センサ２６の受光素子の位
置とを検出し、この２つの位置データから両受光素子間
を結ぶ直線上にある液晶パネル２２の液晶画素２２ａの
座標を算出し、算出した座標にある液晶画素２２ａを表
示状態（例えば、光を通さない黒の状態）に制御し、両
受光素子間を図３で示されるように表示状態の液晶画素
２２ａによる太い表示直線４１で結ぶことによって、回
転レーザビームが横切った軌跡として表示する。この表
示直線４１とターゲットマーク２８との高低差から目標
の高さと観測された測定対象物の高さとの差を直視で確
認できるとともに、測定対象物が左に傾いていることが
一瞥して明らかとなる。
ル２２は、図７に示すように、液晶表示制御部２９を介
して、マイクロプロセッサ等からなる演算制御部６０に
接続され、受光センサ２４、２６で検出されたレーザビ
ームの照射位置情報は演算制御部６０に取り込まれる。
また、レーザレベル１０から出射される回転レーザビー
ム４０は、図３に示されるようにレーザレベル用ターゲ
ット２０を水平方向に横切るようになっている。演算制
御部６０は回転レーザビーム４０が横切る受光センサ２
４の受光素子の位置と、受光センサ２６の受光素子の位
置とを検出し、この２つの位置データから両受光素子間
を結ぶ直線上にある液晶パネル２２の液晶画素２２ａの
座標を算出し、算出した座標にある液晶画素２２ａを表
示状態（例えば、光を通さない黒の状態）に制御し、両
受光素子間を図３で示されるように表示状態の液晶画素
２２ａによる太い表示直線４１で結ぶことによって、回
転レーザビームが横切った軌跡として表示する。この表
示直線４１とターゲットマーク２８との高低差から目標
の高さと観測された測定対象物の高さとの差を直視で確
認できるとともに、測定対象物が左に傾いていることが
一瞥して明らかとなる。
【００１２】ここで、レーザレベル用ターゲット２０の
構造および直線の表示の方法について図４を参照してさ
らに詳しく説明する。液晶パネル２２においては、列方
向にｍ個、行方向にｎ個の液晶画素２２ａがマトリクス
状に配置されている。液晶パネル２２の左右の辺には、
ｎ個の液晶画素２２ａのそれぞれに１：１で対応するよ
うに配置されたｎ個の受光素子２４ａ，２６ａから構成
される受光センサ２４，２６が設けられている。
構造および直線の表示の方法について図４を参照してさ
らに詳しく説明する。液晶パネル２２においては、列方
向にｍ個、行方向にｎ個の液晶画素２２ａがマトリクス
状に配置されている。液晶パネル２２の左右の辺には、
ｎ個の液晶画素２２ａのそれぞれに１：１で対応するよ
うに配置されたｎ個の受光素子２４ａ，２６ａから構成
される受光センサ２４，２６が設けられている。
【００１３】例えば、受光センサ２４のｊ番目の受光素
子（横方向のハッチングが付けてある）と、受光センサ
２６のｋ番目の受光素子（横方向のハッチングが付けて
ある）がレーザビームを受光したことを検出すると、演
算制御部６０は、液晶パネルのｉ番目のカラムにおいて
何番目（ｈ（ｉ））の液晶画素を表示状態にさせるかを
下記の式（１）を用いて算出する（但し、小数点以下は
切り上げた整数とし、ｉは、０からｍまで順次変化させ
る）。 ｈ（ｉ）＝ｊ＋｛（ｋ−ｊ）／ｍ｝・ｉ ・・・（１）
子（横方向のハッチングが付けてある）と、受光センサ
２６のｋ番目の受光素子（横方向のハッチングが付けて
ある）がレーザビームを受光したことを検出すると、演
算制御部６０は、液晶パネルのｉ番目のカラムにおいて
何番目（ｈ（ｉ））の液晶画素を表示状態にさせるかを
下記の式（１）を用いて算出する（但し、小数点以下は
切り上げた整数とし、ｉは、０からｍまで順次変化させ
る）。 ｈ（ｉ）＝ｊ＋｛（ｋ−ｊ）／ｍ｝・ｉ ・・・（１）
【００１４】したがって、レーザレベル用ターゲット２
０の水平が出ていない場合には、図４の斜線ハッチング
が付けられた液晶画素が表示状態となってレーザビーム
４０に沿う斜めの直線となり、水平が出た場合には、同
一の行に属する全部の液晶画素が表示状態となって、水
平な直線となる。また、水平な直線がターゲットマーク
２０の中心を通れば、レーザレベル１０とターゲット２
０間の高低差はゼロになる。また、設置しようとする測
定対象物が移動した場合にも、液晶パネル２２上に表示
された直線４１とターゲットマーク２８とを観察すれ
ば、測定対象物の観測値と目標の高さの高低差や測定対
象物の傾斜を直視により正確に判断することが容易にで
きるとともに、操作者１人でも設置の操作ができるとい
う利点がある。
０の水平が出ていない場合には、図４の斜線ハッチング
が付けられた液晶画素が表示状態となってレーザビーム
４０に沿う斜めの直線となり、水平が出た場合には、同
一の行に属する全部の液晶画素が表示状態となって、水
平な直線となる。また、水平な直線がターゲットマーク
２０の中心を通れば、レーザレベル１０とターゲット２
０間の高低差はゼロになる。また、設置しようとする測
定対象物が移動した場合にも、液晶パネル２２上に表示
された直線４１とターゲットマーク２８とを観察すれ
ば、測定対象物の観測値と目標の高さの高低差や測定対
象物の傾斜を直視により正確に判断することが容易にで
きるとともに、操作者１人でも設置の操作ができるとい
う利点がある。
【００１５】上述の実施の形態では、測定対象物のレー
ザレベル１０に対する高低差と水平を測定する場合につ
いて説明したが、測定対象物の鉛直性を観測する場合に
は、レーザレベル１０のレーザビームを鉛直面で回転さ
せる回転レーザビーム５０を発生させるとともに、図２
で示されたレーザレベル用ターゲット２０を図２の向き
に対して９０度回転させた図５で示されるような向きで
測定対象物に固定する。したがって、回転レーザビーム
５０がターゲット２０を鉛直方向に横切ると、液晶パネ
ル２２上には図５に示すように鉛直な直線５１が表示さ
れる。この直線５１を直視することにより、測定対象物
の鉛直性を観測することができる。
ザレベル１０に対する高低差と水平を測定する場合につ
いて説明したが、測定対象物の鉛直性を観測する場合に
は、レーザレベル１０のレーザビームを鉛直面で回転さ
せる回転レーザビーム５０を発生させるとともに、図２
で示されたレーザレベル用ターゲット２０を図２の向き
に対して９０度回転させた図５で示されるような向きで
測定対象物に固定する。したがって、回転レーザビーム
５０がターゲット２０を鉛直方向に横切ると、液晶パネ
ル２２上には図５に示すように鉛直な直線５１が表示さ
れる。この直線５１を直視することにより、測定対象物
の鉛直性を観測することができる。
【００１６】図６は、本発明の実施の形態に係わるレー
ザレベル用ターゲットの第２の例を示す正面図である。
この例は、高低差の測定と鉛直性を同時に観測できるよ
うにしたものである。すなわち、レーザレベル１０から
は、水平面および垂直面で回転する回転レーザビーム４
０，５０を発生させる。演算制御部６０は、測定対象物
の高低差及び水平性に関しては、受光センサ２４，２６
を利用し、鉛直性に関しては、受光センサ２４，２６と
同様な構成の受光センサ３４，３６を利用して回転レー
ザビーム４０，５０の通過軌跡を示す直線４１、５１を
図６に示すように液晶パネル２２に同時に表示できる。
したがって、操作者は、測定対象物の高低差、水平性、
鉛直性が目標に一致しているか否かを一瞥で観察できる
という利点がある。
ザレベル用ターゲットの第２の例を示す正面図である。
この例は、高低差の測定と鉛直性を同時に観測できるよ
うにしたものである。すなわち、レーザレベル１０から
は、水平面および垂直面で回転する回転レーザビーム４
０，５０を発生させる。演算制御部６０は、測定対象物
の高低差及び水平性に関しては、受光センサ２４，２６
を利用し、鉛直性に関しては、受光センサ２４，２６と
同様な構成の受光センサ３４，３６を利用して回転レー
ザビーム４０，５０の通過軌跡を示す直線４１、５１を
図６に示すように液晶パネル２２に同時に表示できる。
したがって、操作者は、測定対象物の高低差、水平性、
鉛直性が目標に一致しているか否かを一瞥で観察できる
という利点がある。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明のレーザレベ
ル用ターゲットは、多数の液晶画素をマトリックス状に
配置した液晶パネルと、その対向する辺に沿って配置し
た多数の受光素子からなる受光センサとを用いることに
より、レーザレベル用ターゲットを横切るレーザビーム
の軌跡を液晶に直線として表示できる。また、本発明
は、このレーザレベル用ターゲットを使用したレーザレ
ベルシステムで、水平面内や鉛直面内で回転するレーザ
ビームをレーザレベル用ターゲットに照射することによ
り、水平面内や垂直面内で回転するレーザビームの軌跡
を液晶パネル上に直線として表示することができ、この
表示直線を直視することにより、レーザレベルとターゲ
ット間の高低差、水平性又は鉛直性を一瞥で正確に判断
することができる。トマークとを観察すれば、測定対象
物の目標の高さと、実際の高さとの差分や測定対象物の
傾斜を正確に判断することが容易であるので、操作者１
人でも設置の操作ができるという効果もある。また、測
定対象物を設置する場合に、液晶パネルに表示される直
線とターゲットマークとを観察すれば、測定対象物の観
測値と目標の高さの高低差や測定対象物の傾斜を正確に
判断することが容易であるので、操作者１人でも設置の
操作ができるという効果もある。
ル用ターゲットは、多数の液晶画素をマトリックス状に
配置した液晶パネルと、その対向する辺に沿って配置し
た多数の受光素子からなる受光センサとを用いることに
より、レーザレベル用ターゲットを横切るレーザビーム
の軌跡を液晶に直線として表示できる。また、本発明
は、このレーザレベル用ターゲットを使用したレーザレ
ベルシステムで、水平面内や鉛直面内で回転するレーザ
ビームをレーザレベル用ターゲットに照射することによ
り、水平面内や垂直面内で回転するレーザビームの軌跡
を液晶パネル上に直線として表示することができ、この
表示直線を直視することにより、レーザレベルとターゲ
ット間の高低差、水平性又は鉛直性を一瞥で正確に判断
することができる。トマークとを観察すれば、測定対象
物の目標の高さと、実際の高さとの差分や測定対象物の
傾斜を正確に判断することが容易であるので、操作者１
人でも設置の操作ができるという効果もある。また、測
定対象物を設置する場合に、液晶パネルに表示される直
線とターゲットマークとを観察すれば、測定対象物の観
測値と目標の高さの高低差や測定対象物の傾斜を正確に
判断することが容易であるので、操作者１人でも設置の
操作ができるという効果もある。
【図１】本発明の実施の形態に係わるレーザレベル用タ
ーゲットがレーザレベルとともに使用されているレーザ
レベルシステムを示す図である。
ーゲットがレーザレベルとともに使用されているレーザ
レベルシステムを示す図である。
【図２】本発明の実施の形態に係わるレーザレベル用タ
ーゲットの第１の例を示す正面図である。
ーゲットの第１の例を示す正面図である。
【図３】図２のレーザレベル用ターゲットを水平方向の
検出に用いているところを示す図である。
検出に用いているところを示す図である。
【図４】図２のレーザレベル用ターゲットの詳細な構造
とそれを水平方向の検出に用いた場合の動作を説明する
ための図である。
とそれを水平方向の検出に用いた場合の動作を説明する
ための図である。
【図５】図２のレーザレベル用ターゲットを垂直方向の
検出に用いているところを示す図である。
検出に用いているところを示す図である。
【図６】本発明の実施の形態に係わるレーザレベル用タ
ーゲットの第２の例を示す正面図である。
ーゲットの第２の例を示す正面図である。
【図７】本発明の実施の形態に係わるレーザレベルシス
テムの演算制御手段を示すブロック図である。
テムの演算制御手段を示すブロック図である。
１０ レーザレベル ２０ レーザレベル用ターゲット ２２ 液晶パネル ２２ａ 液晶画素 ２４，２６，３４，３６ 受光センサ ２８ ターゲットマーク ２９ 液晶表示制御部 ４０，５０ 回転レーザビーム ６０ 演算制御部
Claims (3)
- 【請求項１】 平面内で移動するレーザビームの照射を
受けた場合に、照射を受けたレーザビームの軌跡を表示
することができるレーザレベル用ターゲットであって、 ｍ列およびｎ行で液晶画素がマトリックス状に配置さ
れ、中心にターゲットマークが形成されている液晶パネ
ルと、 前記液晶パネルの対向する少なくとも一組の２辺に前記
各液晶画素と１対１に対応して一列に配置され、レーザ
ビームの照射位置を検知する多数の受光素子からなる第
１，第２の受光センサと、 を有するレーザレベル用ターゲット。 - 【請求項２】 前記ターゲットマークは、液晶パネルの
液晶画素の行列方向に延びる十字マークから構成されて
いる請求項１記載のレーザレベル用ターゲット。 - 【請求項３】 水平面内あるいは鉛直平面内で回転する
回転レーザビームを発生させるレーザレベルと、 測定対象物に設置され、ｍ列およびｎ行で液晶画素がマ
トリックス状に配置されているとともに、中心にターゲ
ットマークが形成されている液晶パネル、及び前記液晶
パネルの対向する少なくとも一組の２辺に前記各液晶画
素と１対１に対向して一列に配置され、レーザビームの
照射位置を検知する多数の受光素子からなる第１，第２
の受光センサとを有するレーザレベル用ターゲットと、 前記水平面内あるいは鉛直平面内で回転する回転レーザ
ビームが前記レーザレベル用ターゲットを水平又は鉛直
方向に横切るときに、前記第１，第２の受光センサによ
り回転レーザビームの照射位置を検出し、この位置信号
を基に前記第１の受光センサの受光素子と第２の受光セ
ンサの受光素子間を結ぶ直線上の液晶パネルの各液晶画
素の座標を算出し、算出した座標に該当する各液晶画素
を表示状態にすることにより、回転レーザビームの軌跡
を液晶パネル上に表示させる演算制御手段と、 を有するレーザレベルシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15024896A JPH09304056A (ja) | 1996-05-21 | 1996-05-21 | レーザレベル用ターゲットとレーザレベルシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15024896A JPH09304056A (ja) | 1996-05-21 | 1996-05-21 | レーザレベル用ターゲットとレーザレベルシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09304056A true JPH09304056A (ja) | 1997-11-28 |
Family
ID=15492805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15024896A Pending JPH09304056A (ja) | 1996-05-21 | 1996-05-21 | レーザレベル用ターゲットとレーザレベルシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09304056A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160034997A (ko) * | 2013-09-30 | 2016-03-30 | 요코하마 고무 가부시키가이샤 | 세로형 공기식 방현재 및 그 감시 방법 |
| CN110132248A (zh) * | 2018-02-09 | 2019-08-16 | 苏州宝时得电动工具有限公司 | 便携式投线仪快速校准仪 |
| CN121540119A (zh) * | 2026-01-22 | 2026-02-17 | 北京中控交安科技有限公司 | 滑坡检测装置及方法 |
-
1996
- 1996-05-21 JP JP15024896A patent/JPH09304056A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160034997A (ko) * | 2013-09-30 | 2016-03-30 | 요코하마 고무 가부시키가이샤 | 세로형 공기식 방현재 및 그 감시 방법 |
| EP3054054A4 (en) * | 2013-09-30 | 2017-05-24 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Vertical pneumatic fender and monitoring method for same |
| US9725863B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-08-08 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Vertical pneumatic fender and monitoring method for same |
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| CN121540119B (zh) * | 2026-01-22 | 2026-04-07 | 北京中控交安科技有限公司 | 滑坡检测装置及方法 |
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