JPH09306178A - 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御回路 - Google Patents
半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御回路Info
- Publication number
- JPH09306178A JPH09306178A JP8343117A JP34311796A JPH09306178A JP H09306178 A JPH09306178 A JP H09306178A JP 8343117 A JP8343117 A JP 8343117A JP 34311796 A JP34311796 A JP 34311796A JP H09306178 A JPH09306178 A JP H09306178A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- data
- output buffer
- buffer control
- pull
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
してデータを高速で出力する同期式半導体メモリ装置の
デ−タ出力バッファ制御回路を提供する。 【解決手段】 本発明は、チップの外部から供給される
システムクロックの入力に同期して動作される半導体メ
モリ装置のデ−タ出力バッファ制御回路において、前記
システムクロックの第1エッジに同期してチップ内部か
ら出力されるデータをデータ出力ライン対に伝送する出
力レジスタと、予め設定された出力モ−ド制御信号を前
記システムクロックに同期して出力する出力モ−ド制御
信号発生手段と、前記内部クロックの第1エッジから第
2エッジまで前記出力モ−ド制御信号をゲ−ティング出
力する出力バッファ制御手段と、前記出力バッファ制御
手段から出力される信号に応答して前記出力レジスタの
出力を外部に供給するデータ出力手段とから構成される
ことを特徴とする。
Description
データ出力バッファ制御回路に関し、特に、外部システ
ムクロックに同期して動作される同期式半導体メモリ装
置のデータ出力バッファ制御回路に関するものである。
リセルからアクセスされるデータを外部に出力するため
のデータ出力バッファを有している。一般的なダイナミ
ックランダムアクセスメモリのデータ出力バッファは、
データにより制御されてデータのレベルをCMOSのレ
ベルにプルアップさせてチップの出力パッドに伝送する
もので、当該技術分野ではよく知られている。そして、
データのアクセスを高速にするための同期式半導体メモ
リ装置のデータ出力バッファは、チップの外部から供給
されるシステムクロックCLKにより直接にデータ出力
を制御せず、前記システムクロックCLKにより制御さ
れるデータにより制御される構成を有し、その構成は図
1に示す通りである。
力バッファ制御回路図であって、外部から供給されるシ
ステムクロックCLKにより制御されるデータによって
出力が制御される構成を示す。
詳細構成図であって、データライン対DIO/DIOB
のデータ信号と出力制御信号PIDOCを内部クロック
PICLKの入力により制御してデータを出力する構成
を示す。
の動作タイミング図であって、図1に示した各部の出力
タイミング関係を示すもので、これを参照して図1の動
作を説明すれば、下記の通りである。
Kが供給されると、内部クロック発生器12は前記シス
テムクロックCLKの立上りエッジを検出して、一定の
デュレーション(duration)を有する内部クロックPIC
LKを図3に示すように発生し、出力ノードに接続され
た出力レジスタ14及び出力バッファ20に供給する。
出力レジスタ14は、このように発生された内部クロッ
クPICLKの入力により、内部に貯臓された出力デー
タ信号を図3のように出力ライン対DIO/DIOBに
伝送する。このとき、出力モード制御回路16から出力
される出力モード信号OUTMODEと、この信号が入
力される出力バッファ制御回路18の出力制御信号PI
DOCの出力状態は、出力バッファ20を制御する前に
図3のように論理“ハイ”に予め決定されて出力され
る。
ドに接続されている出力バッファ20内の伝送ゲート2
2、24、26は、前述した内部クロック発生器12が
図3のような内部クロックPICLKを出力するとき、
これに応答してデータライン対DIO/DIOBと出力
レジスタ14の出力を出力ノードに接続されているラッ
チ30、32、34にそれぞれ伝送する。即ち、前記出
力バッファ20では、内部クロックPICLKに同期し
て上記のように発生された出力制御信号PIDOCと、
出力レジスタ14のデータ入出力ライン対DIO/DI
OBから出力されるデータが入力されて、データ出力ラ
イン対DO/DOBのデータが決定される。このよう
に、内部クロックPICLKに同期して出力制御信号P
IDOCとデータ入出力ライン対DIO/DIOBを通
じたデータ信号が、それぞれのラッチ30、32、34
に伝送されると、NANDゲート36、38はそれぞれ
前記ラッチ34の出力制御信号PIDOCと前記ラッチ
30から出力されるデータ信号DO、出力制御信号PI
DOCと前記ラッチ32から出力されるデータ信号DO
Bをそれぞれ論理組合せて、出力ノードにそれぞれ接続
されたインバータ40、42を通じてプルアップ及びプ
ルダウンNMOSトランジスタ44、46のゲートに供
給する。従って、内部クロックPICLKにより、出力
レジスタ14のデータ入出力ライン対DIO/DIOB
の信号が出力バッファ20に入力されると、前記プルア
ップ及びプルダウンNMOSトランジスタ44、46は
互いに排他的に動作されて、図3に示すようなデータを
出力パッド等に伝送するようになる。
期式半導体メモリ装置のデータ出力制御は、出力バッフ
ァ制御回路18から出力される出力制御信号PIDOC
の論理が出力バッファ20を制御する前に決定されて出
力されることになり、内部クロックPICLKにより出
力レジスタ14のデータ入出力ライン対DIO/DIO
Bから出力されるデータの出力周期と出力バッファ20
の出力周期とが同一になり、出力バッファ20から出力
されるデータレベルの遷移が入力データ信号の遷移と同
一になるので、高速でデータを出力することができなく
なるという問題と、雑音の影響を多く受けるという問題
を引起す。
ファ制御回路は、出力バッファに入力されるデータと同
じデュレーションを有するデータを出力することによ
り、データ出力バッファの出力周期を制御できないとい
う問題が発生する。
は、外部から供給されるシステムクロックに同期してデ
ータを高速で出力する同期式半導体メモリ装置のデータ
出力バッファ制御回路を提供することにある。
周期を可変させ得る同期式半導体メモリ装置のデータ出
力バッファ制御回路を提供することにある。
るために本発明は、チップの外部から供給されるシステ
ムクロックの入力に同期して動作される半導体メモリ装
置のデータ出力バッファ制御回路において、前記システ
ムクロックの第1エッジに同期してチップ内部から出力
されるデータをデータ出力ライン対に伝送する出力レジ
スタと、予め設定された出力モード制御信号を前記シス
テムクロックに同期して出力する出力モード制御信号発
生手段と、前記内部クロックの第1エッジから次の内部
クロックの第1エッジまで前記出力モード制御信号をゲ
ーティング出力する出力バッファ制御手段と、前記出力
バッファ制御手段から出力される信号に応答して前記出
力レジスタの出力を外部に供給するデータ出力手段とか
ら構成されることを特徴とする。
を添付の図面を参照して詳細に説明する。図面の説明に
おいて、同一の構成要素に対してはできるだけ同一の参
照符号を使用する。
ータ出力バッファ制御回路図で、外部から供給されるシ
ステムクロックCLKに同期し、データを高速で出力す
るバッファの構成を示す。
路19の詳細図である。同図の構成において、内部クロ
ック発生器12から出力される内部クロックパルスPI
CLKの第1エッジ、例えば立上りエッジを検出して出
力制御パルスを発生し、この出力制御パルスに応答して
出力モード制御回路16から出力される出力モード制御
信号OUTMODEを出力制御信号PIDOCとしてゲ
ーティングする出力バッファ制御回路19の詳細図を示
すものである。ここで、出力バッファの特徴は、内部ク
ロックPICLKの第2エッジ、例えば下降エッジから
第1エッジまで出力モード制御信号OUTMODEをゲ
ーティングして出力することにある。
1の詳細図で、前記出力レジスタ14のデータ出力ライ
ン対DO/DOBのデータを前記出力制御信号PIDO
Cによって制御し、出力端子DOUTにパッファリング
する構成を示している。
イミング図で、図8は図5に示した出力バッファ制御回
路19の動作を説明するための動作タイミング図であ
る。以下、本発明により構成された図4の実施例の具体
的な動作を図5、図6、及び図7の動作タイミング図を
参照して詳細に説明する。
Kが供給されると、内部クロック発生器12は前記シス
テムクロックCLKの上昇エッジを検出し、一定のデュ
レーションを有する内部クロックPICLKを図7のよ
うに発生し、出力ノードに接続された出力レジスタ1
4、出力モード制御回路16、及び出力バッファ制御回
路19にそれぞれ供給する。このとき、前記内部クロッ
ク発生12の構成は同期式半導体メモリ装置で利用され
る自動パルス発生器を利用することができる。
CLKに同期して出力されるデータを図7のようにデー
タ出力ライン対DO/DOBに伝送する。そして、出力
モード制御回路16は、予め設定された出力モード制御
信号OUTMODEを、前記内部クロック発生器12か
ら出力される内部クロックPICLKの第1エッジ、例
えば上昇エッジに同期して図7のように出力する。前記
出力モード制御回路16の出力ノードと内部クロック発
生器12の出力ノードに接続された出力バッファ制御回
路19は、前記内部クロックPICLKの立上りエッジ
との周期の間、前記出力モード制御信号OUTMODE
を図7のようにゲーティングして出力制御信号PIDO
Cとして出力する。前記出力バッファ制御回路19の動
作を図5及び図8のタイミング図を参照して説明すれ
ば、下記の通りである。
に入力されると、これは奇数個のインバータで構成され
た反転遅延器50の入力ノードに入力されると同時にN
ANDゲート52の第1入力ノードに供給される。この
反転遅延器52は前記図8のように入力される内部クロ
ックPICLKを遅延及び反転させて、図8のOUT5
0のような信号を前記NANDゲート52の第2入力ノ
ードに供給する。従って、内部クロックPICLKが連
続して入力されると、前記NANDゲート52は前記内
部クロックPICLKの立上りエッジごとにトリガ (tr
igger)され、反転遅延器50の遅延時間に対応すデュレ
ーションを有する論理“ロウ”のパルスを図8のOUT
52のように出力する。このとき、前記内部クロックP
ICLKに同期する出力モード制御信号OUTMODE
が図8のように論理“ハイ”にエネーブルされた状態の
場合には、NANDゲート54とインバータ56の動作
により出力制御信号PIDOCは図8のように出力され
る。即ち、出力モード制御信号OUTMODEがエネー
ブルされたときには、内部クロックPICLKの立上り
エッジ検出制御のみにより、出力モード制御信号OUT
MODEを所定時間の間にディスエーブル(論理“ロ
ウ”に遷移する区間)されるパルス形態の信号に変換し
て出力する。即ち、出力制御信号PIDOCは内部クロ
ックPICLKが立上りエッジである場合にはディスエ
ーブル (disable)され、前記内部クロックPICLKが
立下エッジになる場合にはエネーブルされる。
より制御される出力制御信号PIDOCは図6に示すよ
うに構成される出力バッファ21に供給される。従っ
て、出力制御信号PIDOCの初期出力が論理“ロウ”
にディスエーブルされた場合は、出力バッファ21内の
NANDゲート58、60はそれぞれ全部論理“ハイ”
を出力する。これにより、インバータ62、64の出力
ノードにゲートがそれぞれ接続されているプルアップ及
びプルダウンNMOSトランジスタ66、68がすべて
ターンオフされ、出力端子DOUTのレベルは図7に示
したようにハイインピーダンス(Hi−Z)の状態で出
力される。このような状態で、内部クロックPICLK
によりデータ出力ライン対DO/DOBを通じたデータ
信号及び相補データ信号が前略NANDデート58、6
0の第2入力ノードに入力され、内部クロックPICL
Kが下降エッジに遷移すると、出力制御信号PIDOC
が図7に示したように再び論理“ハイ”にエネーブルさ
れる。それにより、電源電圧Vccと接地電圧Vssと
の間に接続されたプルアップ及びプルダウンNMOSト
ランジスタ66、68が、データ出力ライン対DO/D
OB上のデータ及び相補データのレベルによって駆動さ
れ、図7のようにデータを出力端子DOUTに出力する
ことになる。このように、出力バッファ21内のプルア
ップ及びプルダウンNMOSトランジスタ66、68が
動作され、データが出力される状態で内部クロックPI
CLKが論理“ハイ”に遷移すると、前述したように出
力制御信号PIDOCが図7に示すようにさらに論理
“ロウ”に遷移する。それにより、出力バッファ21の
出力端子DOUTが早い速度で遷移され、データの高速
出力が可能になる。
力バッファ制御回路は内部クロックPICLKによりデ
ータ出力バッファ21の初期出力状態をハイインピーダ
ンス状態にした後、データまたは内部クロックPICL
Kに同期した出力制御信号PIDOCにより出力バッフ
ァ内のプルアップ及びプルダウンNMOSトランジスタ
を駆動することにより、データの遷移を高速にすること
ができる。
路の他の実施例を示すものである。同図に示した出力バ
ッファ制御回路は、前述した図5のような構成を有する
回路の内部クロックPICLKの入力ノードに、クロッ
クの入力を遅延させる遅延回路70がさらに加える構成
からなっている。このような遅延回路70は、内部クロ
ックPICLKの入力を遅延して図8のように発生され
る出力制御信号PIDOCの出力を遅延させるものであ
る。前記のような遅延回路70により内部クロックPI
CLKの入力が遅延されると、図8のように出力される
出力制御信号PIDOCの出力も共に遅延されることに
より、出力バッファ21のエネーブルとディスエーブル
の時間を容易に調整することができる。
ら供給されるシステムクロックに同期する同期式半導体
メモリ装置の内部クロックにより、データの出力をハイ
インピーダンスから遷移して出力する。それにより、高
速でデータを伝送することが可能で、また、データ出力
バッファのエネーブル/ディスエーブルの時点を容易に
調節可能である利点を有する。
バッファ制御回路図。
図。
ミング図。
ッファ制御回路図。
図。
図。
グ図。
例示図。
Claims (7)
- 【請求項1】 チップの外部から供給されるシステムク
ロックの入力に同期して動作される半導体メモリ装置の
データ出力バッファ制御回路において、 前記システムクロックの第1エッジに同期してチップ内
部から出力されるデータをデータ出力ライン対に伝送す
る出力レジスタと、 予め設定された出力モード制御信号を前記システムロッ
クに同期して出力する出力モード制御信号発生手段と、 前記内部クロックに第1エッジから次の内部クロックの
第1エッジまで前記出力モード制御信号をゲーティング
出力する出力バッファ制御手段と、 前記出力バッファ制御手段から出力される信号に応答し
て前記出力レジスタの出力を外部に供給するデータ出力
手段とから構成されることを特徴とする同期式半導体メ
モリ装置のデータ出力バッファ制御回路。 - 【請求項2】 前記出力バッファ制御手段は、 前記システムクロックの第1エッジを検出して所定の幅
を有する制御パルスを発生する発生手段と、 前記発生された制御パルスと前記システムクロックに同
期する出力モード制御信号を論理組合せて、前記制御パ
ルスの第2エッジと第1エッジとの区間で前記出力モー
ド制御信号を出力する手段とから構成される請求項1記
載の同期式半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御
回路。 - 【請求項3】 前記データ出力手段は、 電源電圧と出力ノードとの間に接続され、プルアップ信
号に応答して前記出力ノードをプルアップするプルアッ
プトランジスタ及び前記出力ノードと接地電圧との間に
接続され、プルダウン信号に応答して前記出力ノードの
レベルをプルダウンするプルダウントランジスタで構成
されるデータドライバと、 前記出力バッファ制御手段から出力される出力制御信号
の非活性化に応答して前記プルアップ及びプルダウント
ランジスタをターンオフ(turn off)させ、前記出力制御
信号の活性化にエネーブルされて前記データ出力ライン
対のデータ及び相補データを前記プルアップ及びプルダ
ウントランジスタのゲートに供給する手段とから構成さ
れる請求項1又は2に記載の同期式半導体メモリ装置の
データ出力バッファ制御回路。 - 【請求項4】 チップ外部から供給されるシステムクロ
ックに入力に同期して動作される半導体メモリ装置のデ
ータ出力バッファ制御回路において、 前記システムクロックのエッジに応答して所定のパルス
幅を有する内部クロックを発生するクロック発生手段
と、 前記内部クロックに同期してチップ内部から出力される
データをデータ出力ライン対に伝送する出力レジスタ
と、 出力モード制御信号を前記内部クロックに同期し出力す
る出力モード制御信号発生手段と、 前記内部クロックの第1エッジから次の内部クロックの
第1エッジまで前記出力モード制御信号をゲーティング
出力する出力バッファ制御手段と、 前記出力バッファ制御手段から出力される信号に応答し
て前記出力レジスタの出力を外部に供給するデータ出力
手段とから構成されることを特徴とする同期式半導体メ
モリ装置のデータ出力バッファ制御回路。 - 【請求項5】 前記出力バッファ制御手段は、 前記システムクロックの第1エッジを検出して所定の幅
を有する制御パルスを発生するパルス発生手段と、 前記発生された制御パルスと前記システムクロックに同
期する出力モード制御信号を論理組合せて前記制御パル
スの第2エッジと第1エッジとの区間で前記出力モード
制御信号を出力する手段とから構成される請求項4記載
の同期式半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御回
路。 - 【請求項6】 前記出力バッファ制御手段は、前記内部
クロックを所定時間遅延して入力する遅延手段を備える
請求項5記載の同期式半導体メモリ装置のデータ出力バ
ッファ制御回路。 - 【請求項7】 前記データ出力手段は、 電源電圧と出力ノードとの間に接続され、プルアップ信
号に応答して前記出力ノードをプルアップするプルアッ
プトランジスタ及び前記出力ノードと接地電圧との間に
接続され、プルダウン信号に応答して前記出力ノードの
レベルをプルダウンするプルダウントランジスタで構成
されるデータドライバと、 前記出力バッファ制御手段から出力される出力制御信号
の非活性化に応答して前記プルアップ及びプルダウント
ランジスタをターンオフさせ、前記出力制御信号の活性
化にエネーブルされ、前記データ出力ライン対のデータ
及び相補データを前記プルアップ及びプルダウントラン
ジスタのゲートに供給する手段とから構成される請求項
5記載の同期式半導体メモリ装置のデータ出力バッファ
制御回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950054749A KR0164807B1 (ko) | 1995-12-22 | 1995-12-22 | 반도체 메모리 장치의 데이타 출력버퍼 제어회로 |
| KR1995P54749 | 1995-12-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09306178A true JPH09306178A (ja) | 1997-11-28 |
Family
ID=19443309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8343117A Pending JPH09306178A (ja) | 1995-12-22 | 1996-12-24 | 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5798969A (ja) |
| JP (1) | JPH09306178A (ja) |
| KR (1) | KR0164807B1 (ja) |
| TW (1) | TW374175B (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10222464A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-21 | Mitsubishi Electric Corp | 同期式直列データ転送装置 |
| JPH10241360A (ja) * | 1997-02-24 | 1998-09-11 | Kawasaki Steel Corp | 半導体記憶装置 |
| JPH10328163A (ja) | 1997-05-28 | 1998-12-15 | Siemens Ag | 核スピン断層撮影装置のためのパルスシーケンスの制御方法及び装置 |
| KR100298182B1 (ko) * | 1997-06-24 | 2001-08-07 | 박종섭 | 반도체메모리소자의출력버퍼 |
| KR100343133B1 (ko) * | 1998-01-16 | 2002-10-25 | 삼성전자 주식회사 | 안정된내부전원전압구동드라이버를갖는반도체메모리장치 |
| JP4057125B2 (ja) * | 1998-01-23 | 2008-03-05 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
| US6046943A (en) * | 1998-03-10 | 2000-04-04 | Texas Instuments Incorporated | Synchronous semiconductor device output circuit with reduced data switching |
| US6502123B1 (en) | 1998-06-09 | 2002-12-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Isochronous system using certified drivers to ensure system stability |
| US6418459B1 (en) | 1998-06-09 | 2002-07-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Isochronous task scheduling structure for a non-real-time operating system |
| US6704763B1 (en) | 1998-06-09 | 2004-03-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Hardware enforcement mechanism for an isochronous task scheduler |
| US6421702B1 (en) * | 1998-06-09 | 2002-07-16 | Advanced Micro Devices, Inc. | Interrupt driven isochronous task scheduler system |
| JP2000030456A (ja) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Fujitsu Ltd | メモリデバイス |
| KR100406565B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2004-03-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이타전송장치 |
| US5986945A (en) * | 1999-04-20 | 1999-11-16 | Winbond Electronics Corporation | Memory device output circuit having multiple operating modes |
| US6438040B1 (en) * | 2000-07-31 | 2002-08-20 | Stmicroelectronics S.R.L. | Enabling circuit for output devices in electronic memories |
| US6519188B2 (en) | 2000-12-18 | 2003-02-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit and method for controlling buffers in semiconductor memory device |
| KR100393217B1 (ko) * | 2001-03-09 | 2003-07-31 | 삼성전자주식회사 | 메모리장치들과 데이터 버퍼를 동일한 클럭 주파수로동작시키기 위한 제어 회로를 구비하는 메모리 모듈 |
| KR100723472B1 (ko) * | 2001-09-08 | 2007-05-30 | 삼성전자주식회사 | 외부 전원 전압의 변화에 따라 외부 출력 데이터 신호의출력 시점을 조절할 수 있는 반도체 메모리 장치의 데이터출력 회로 |
| US6510099B1 (en) * | 2001-09-28 | 2003-01-21 | Intel Corporation | Memory control with dynamic driver disabling |
| KR100825001B1 (ko) * | 2002-03-14 | 2008-04-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력 버퍼 |
| JP4005909B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2007-11-14 | スパンション インク | 半導体記憶装置、および半導体記憶装置の制御方法 |
| TWI300230B (en) * | 2005-06-10 | 2008-08-21 | Hynix Semiconductor Inc | Data output circuti of synchronous memory device |
| KR100599216B1 (ko) * | 2005-07-11 | 2006-07-12 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 출력회로 및 데이터 출력방법 |
| KR100757925B1 (ko) * | 2006-04-05 | 2007-09-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 데이터 출력 장치 및 제어방법 |
| US7710295B2 (en) * | 2006-12-22 | 2010-05-04 | Intel Corporation | Inverter based return-to-zero (RZ)+non-RZ (NRZ) signaling |
| US8627132B2 (en) * | 2008-12-31 | 2014-01-07 | Linear Technology Corporation | Autonomous multi-device event synchronization and sequencing technique eliminating master and slave assignments |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR950010564B1 (en) * | 1992-10-02 | 1995-09-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Data output buffer of synchronous semiconductor memory device |
| KR950012019B1 (ko) * | 1992-10-02 | 1995-10-13 | 삼성전자주식회사 | 반도체메모리장치의 데이타출력버퍼 |
| KR960004567B1 (ko) * | 1994-02-04 | 1996-04-09 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 데이타 출력 버퍼 |
-
1995
- 1995-12-22 KR KR1019950054749A patent/KR0164807B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-12-06 TW TW085115074A patent/TW374175B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-12-20 US US08/770,784 patent/US5798969A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-24 JP JP8343117A patent/JPH09306178A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR0164807B1 (ko) | 1999-02-01 |
| US5798969A (en) | 1998-08-25 |
| TW374175B (en) | 1999-11-11 |
| KR970051227A (ko) | 1997-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH09306178A (ja) | 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ制御回路 | |
| JP3357501B2 (ja) | フリップフロップ回路及びこれを含む同期型半導体記憶装置 | |
| US6104643A (en) | Integrated circuit clock input buffer | |
| US6324119B1 (en) | Data input circuit of semiconductor memory device | |
| JP2895765B2 (ja) | データ出力バッファ | |
| US6198327B1 (en) | Pulse generator with improved high speed performance for generating a constant pulse width | |
| KR100311044B1 (ko) | 클럭 주파수에 따라 레이턴시 조절이 가능한 레이턴시 결정 회로 및 레이턴시 결정 방법 | |
| US6222411B1 (en) | Integrated circuit devices having synchronized signal generators therein | |
| KR20000065711A (ko) | 펄스발생기를 채용한 내부클럭신호 발생회로 | |
| US20010017805A1 (en) | Automatic precharge apparatus of semiconductor memory device | |
| US6486713B2 (en) | Differential input buffer with auxiliary bias pulser circuit | |
| US5983314A (en) | Output buffer having inherently precise data masking | |
| US6169704B1 (en) | Apparatus and method for generating a clock within a semiconductor device and devices and systems including same | |
| US6346823B1 (en) | Pulse generator for providing pulse signal with constant pulse width | |
| JP3800478B2 (ja) | 半導体メモリ装置における出力制御信号発生方法と出力バッファ制御回路、及びその半導体メモリ装置 | |
| US6486721B2 (en) | Latch control circuit for crossing clock domains | |
| US6094376A (en) | Data output buffer control circuit for a semiconductor memory device | |
| KR100406565B1 (ko) | 데이타전송장치 | |
| KR930003534A (ko) | 동시 상보 출력 펄스를 생성하는 펄스 발생회로 | |
| JP2928739B2 (ja) | パルス発生器 | |
| JP3206737B2 (ja) | ラッチ回路 | |
| KR100373348B1 (ko) | 디디알에스디램의 데이터 입력 장치 | |
| EP1028529B1 (en) | Synchronized data capturing circuits using reduced voltage levels and methods therefor | |
| US6240041B1 (en) | Signal generator with timing margin by using control signal to control different circuit | |
| KR20020002540A (ko) | 리드 동작 시에 지연고정루프의 록킹 위치를 고정시키는쉬프트활성화신호 발생 장치를 갖는 지연고정루프 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20040902 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040907 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050307 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051011 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060111 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060828 |