JPH09308983A - レーザ加工装置 - Google Patents
レーザ加工装置Info
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- JPH09308983A JPH09308983A JP8123508A JP12350896A JPH09308983A JP H09308983 A JPH09308983 A JP H09308983A JP 8123508 A JP8123508 A JP 8123508A JP 12350896 A JP12350896 A JP 12350896A JP H09308983 A JPH09308983 A JP H09308983A
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Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザ加工装置の小形化を図ること。
【解決手段】 レーザ発振器10からのレーザ光を複数
に分割する反射ミラー11を備え、前記分割数に応じて
X−Yテーブル16a,16b及びその駆動機構を複数
組備えると共に、各駆動機構を制御する制御装置1を備
え、該制御装置は、前記各駆動機構を同じ動作をするよ
うに制御する。
に分割する反射ミラー11を備え、前記分割数に応じて
X−Yテーブル16a,16b及びその駆動機構を複数
組備えると共に、各駆動機構を制御する制御装置1を備
え、該制御装置は、前記各駆動機構を同じ動作をするよ
うに制御する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ加工装置に関
し、特にプリント配線基板への微小なビアホールの形成
に適したレーザ加工装置に関する。
し、特にプリント配線基板への微小なビアホールの形成
に適したレーザ加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小形化、高機能化に伴
い、プリント配線基板に実装される実装部品の高密度
化、狭リードピッチ化が進んでいる。このような進歩に
対応するためには、プリント配線基板に形成するビアホ
ールの径も0.3(mm)以下とすることが要求され
る。
い、プリント配線基板に実装される実装部品の高密度
化、狭リードピッチ化が進んでいる。このような進歩に
対応するためには、プリント配線基板に形成するビアホ
ールの径も0.3(mm)以下とすることが要求され
る。
【0003】これまでのプリント配線基板に対する穴あ
け加工は、NCドリルによる機械加工や露光加工(フォ
トビア方式)により行われている。しかし、NCドリル
では、穴の径は0.2(mm)が限界で、ドリルが折れ
る場合も多い。一方、フォトビア方式では0.15(m
m)が限界で、しかも材料費が高くなる。
け加工は、NCドリルによる機械加工や露光加工(フォ
トビア方式)により行われている。しかし、NCドリル
では、穴の径は0.2(mm)が限界で、ドリルが折れ
る場合も多い。一方、フォトビア方式では0.15(m
m)が限界で、しかも材料費が高くなる。
【0004】上記のような問題点を解消する手段とし
て、最近、レーザ光によって穴あけ加工を行うレーザ加
工装置が提供されている。このレーザ加工装置は、レー
ザ発振器でパルス状のレーザ光を発生し、一つの穴に対
するパルス個数やエネルギーを調整することで所望の深
さの穴あけ加工を行うものである。一方、穴の径につい
ては、レーザ光の導光路に径を規定するためのマスクを
配置し、このマスクでレーザ光を絞り込むことで被加工
部材に設ける穴を小さくすることができる。
て、最近、レーザ光によって穴あけ加工を行うレーザ加
工装置が提供されている。このレーザ加工装置は、レー
ザ発振器でパルス状のレーザ光を発生し、一つの穴に対
するパルス個数やエネルギーを調整することで所望の深
さの穴あけ加工を行うものである。一方、穴の径につい
ては、レーザ光の導光路に径を規定するためのマスクを
配置し、このマスクでレーザ光を絞り込むことで被加工
部材に設ける穴を小さくすることができる。
【0005】しかも、レーザ加工によれば、金属にダメ
ージを与えないので、絶縁層フィルムのラミネート後の
加工やベースフィルム側からの加工においても、導体パ
ターンに損傷なく加工できるという利点がある。
ージを与えないので、絶縁層フィルムのラミネート後の
加工やベースフィルム側からの加工においても、導体パ
ターンに損傷なく加工できるという利点がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】レーザ発振器として
は、エキシマレーザが用いられているが、エッチ速度
(パルス当たりの加工深さ)の関係上、加工処理速度が
比較的遅く、運転コストが高いという問題点がある。こ
れに対し、パルス幅が狭く高ピークパワー、高エネルギ
ー密度の得られるTEA(Transversely
Excited Atmospheric Press
ure)CO2 レーザが注目を浴びている。このTEA
CO2 レーザを使用したレーザ加工装置は、エッチ速
度がエキシマレーザに比べて1桁以上大きいので1穴当
たりの加工に必要なレーザ照射パルス数が少なくて済
み、加工速度を速くできる。
は、エキシマレーザが用いられているが、エッチ速度
(パルス当たりの加工深さ)の関係上、加工処理速度が
比較的遅く、運転コストが高いという問題点がある。こ
れに対し、パルス幅が狭く高ピークパワー、高エネルギ
ー密度の得られるTEA(Transversely
Excited Atmospheric Press
ure)CO2 レーザが注目を浴びている。このTEA
CO2 レーザを使用したレーザ加工装置は、エッチ速
度がエキシマレーザに比べて1桁以上大きいので1穴当
たりの加工に必要なレーザ照射パルス数が少なくて済
み、加工速度を速くできる。
【0007】しかしながら、上記のようなTEA CO
2 レーザを使用した場合でも加工速度には制限があり、
1穴当たりの加工コストを低減するための改良が望まれ
ている。
2 レーザを使用した場合でも加工速度には制限があり、
1穴当たりの加工コストを低減するための改良が望まれ
ている。
【0008】そこで、本発明の課題は、加工速度を大幅
に向上させることのできるレーザ加工装置を提供するこ
とにある。
に向上させることのできるレーザ加工装置を提供するこ
とにある。
【0009】本発明の他の課題は、レーザ加工装置の小
形化を図ることにある。
形化を図ることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、レーザ発振器
からのレーザ光をX−Yテーブル上に配置されたワーク
に照射して加工を行うレーザ加工装置において、前記レ
ーザ発振器からのレーザ光を複数に分割する分割手段を
備え、前記分割数に応じて前記X−Yテーブル及びその
駆動機構を複数組備えると共に、各駆動機構を制御する
制御装置を備え、該制御装置は、前記各駆動機構を同じ
動作をするように制御することを特徴とする。
からのレーザ光をX−Yテーブル上に配置されたワーク
に照射して加工を行うレーザ加工装置において、前記レ
ーザ発振器からのレーザ光を複数に分割する分割手段を
備え、前記分割数に応じて前記X−Yテーブル及びその
駆動機構を複数組備えると共に、各駆動機構を制御する
制御装置を備え、該制御装置は、前記各駆動機構を同じ
動作をするように制御することを特徴とする。
【0011】なお、互いに隣り合う前記X−Yテーブル
の対向し合う端部にはそれぞれ、互いの接近距離が所定
値以下になると動作する近接センサを設け、前記制御装
置は、前記近接センサからの検出信号を受けると、対応
する前記X−Yテーブルの動作を停止させるインタロッ
ク機能を有する。
の対向し合う端部にはそれぞれ、互いの接近距離が所定
値以下になると動作する近接センサを設け、前記制御装
置は、前記近接センサからの検出信号を受けると、対応
する前記X−Yテーブルの動作を停止させるインタロッ
ク機能を有する。
【0012】また、前記所定値は、前記X−Yテーブル
が最高速度で動作している状態において前記インタロッ
ク機能により停止するのに必要な距離よりも大きく設定
される。
が最高速度で動作している状態において前記インタロッ
ク機能により停止するのに必要な距離よりも大きく設定
される。
【0013】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
好ましい実施の形態について説明する。図1において、
TEA CO2 レーザによるレーザ発振器10で発生さ
れたパルス状のレーザ光は、45°反射ミラー11によ
りその断面積に関して2分割され、90°角度を変えて
それぞれマスク13a,13bに導かれる。マスク13
a,13bでは、ビアホール径を規定する穴を通過する
ことによって、分割されたレーザ光のビーム径が絞り込
まれてX−Yスキャナ14a,14bに導かれる。X−
Yスキャナ14a,14bはレーザ光を振らせるための
ものであり、振られたレーザ光は焦点合わせ用レンズと
して作用しfθレンズとも呼ばれる加工レンズ15a,
15bを通してX−Yテーブル16a,16b上におか
れたワーク(例えば、プリント配線基板)17a,17
bに照射される。X−Yテーブル16a,16bはX軸
方向の駆動機構とY軸方向の駆動機構とを有して、ワー
ク17a,17bをX−Y平面上で移動させて位置調整
することができる。
好ましい実施の形態について説明する。図1において、
TEA CO2 レーザによるレーザ発振器10で発生さ
れたパルス状のレーザ光は、45°反射ミラー11によ
りその断面積に関して2分割され、90°角度を変えて
それぞれマスク13a,13bに導かれる。マスク13
a,13bでは、ビアホール径を規定する穴を通過する
ことによって、分割されたレーザ光のビーム径が絞り込
まれてX−Yスキャナ14a,14bに導かれる。X−
Yスキャナ14a,14bはレーザ光を振らせるための
ものであり、振られたレーザ光は焦点合わせ用レンズと
して作用しfθレンズとも呼ばれる加工レンズ15a,
15bを通してX−Yテーブル16a,16b上におか
れたワーク(例えば、プリント配線基板)17a,17
bに照射される。X−Yテーブル16a,16bはX軸
方向の駆動機構とY軸方向の駆動機構とを有して、ワー
ク17a,17bをX−Y平面上で移動させて位置調整
することができる。
【0014】X−Yスキャナ14a,14b、X−Yテ
ーブル16a,16bはそれぞれ駆動機構を内蔵してお
り、これらの駆動機構は制御装置1により制御される。
ーブル16a,16bはそれぞれ駆動機構を内蔵してお
り、これらの駆動機構は制御装置1により制御される。
【0015】図2(a)において、45°反射ミラー1
1は、90°で交差する2つの反射面11a,11bを
持つことにより、入射したレーザ光を断面積に関して2
等分することができる。例えば、図2(b)に示すよう
に、レーザ光の断面積が12×12(mm)の正方形の
場合、6×12(mm)の断面積を持つ2つのレーザ光
に等分割することができる。マスク13a,13bで
は、縮小率Mとビアホールの径に応じて決まる径の穴
(通常、直径1〜2mm)を通して分割されたレーザ光
を絞り込むが、この穴の直径は分割されたレーザ光の断
面積に比べて十分小さいので、レーザ光を分割すること
による不都合は生じない。
1は、90°で交差する2つの反射面11a,11bを
持つことにより、入射したレーザ光を断面積に関して2
等分することができる。例えば、図2(b)に示すよう
に、レーザ光の断面積が12×12(mm)の正方形の
場合、6×12(mm)の断面積を持つ2つのレーザ光
に等分割することができる。マスク13a,13bで
は、縮小率Mとビアホールの径に応じて決まる径の穴
(通常、直径1〜2mm)を通して分割されたレーザ光
を絞り込むが、この穴の直径は分割されたレーザ光の断
面積に比べて十分小さいので、レーザ光を分割すること
による不都合は生じない。
【0016】なお、同様な原理で、反射面を3つ有する
3角錐状、反射面を4つ有する4角錐状の反射ミラーを
用いれば、レーザ光を3等分、4等分することができ
る。
3角錐状、反射面を4つ有する4角錐状の反射ミラーを
用いれば、レーザ光を3等分、4等分することができ
る。
【0017】図3はレーザ光の分割手段の他の例を示
し、50%反射ミラー21を用いてレーザ光を2分割す
る例である。この50%反射ミラー21は、半分に反射
材料を塗布して反射ミラー21aとし、残りの半分は全
透過形の透明部21bとすることでレーザ光を断面積に
関して2等分することができる。
し、50%反射ミラー21を用いてレーザ光を2分割す
る例である。この50%反射ミラー21は、半分に反射
材料を塗布して反射ミラー21aとし、残りの半分は全
透過形の透明部21bとすることでレーザ光を断面積に
関して2等分することができる。
【0018】上記のような反射ミラーを用いることで、
レーザ光のエネルギー密度を低下させることなくレーザ
光を分割できる。
レーザ光のエネルギー密度を低下させることなくレーザ
光を分割できる。
【0019】図4において、X−Yスキャナ14a(1
4b)は、2つのガルバノミラー14−1,14−2を
組み合わせて成るガルバノミラー方式と呼ばれるもので
ある。すなわち、2つの反射ミラーをガルバノメータの
駆動原理で独立して回動させることにより、レーザ光を
加工レンズ15を通してワーク17の所望の複数の位置
に連続して照射することができる。
4b)は、2つのガルバノミラー14−1,14−2を
組み合わせて成るガルバノミラー方式と呼ばれるもので
ある。すなわち、2つの反射ミラーをガルバノメータの
駆動原理で独立して回動させることにより、レーザ光を
加工レンズ15を通してワーク17の所望の複数の位置
に連続して照射することができる。
【0020】図5を参照してマスクの好ましい例につい
て説明する。このマスク13は、周方向に等角度間隔を
おいて異なる径の穴(ここでは16個)H1〜H16を
有する円板状のマスク板13−1と、このマスク板13
−1よりやや大きく、マスク板13−1の各穴H1〜H
16に対応する領域に窓W1〜W8を有してマスク板1
3−1を保持するマスクホルダ13−2と、図5(c)
に示すように一体に組み合わされたマスク板13−1と
マスクホルダ13−2とを回転駆動するモータを含む駆
動部13−3とを含む。
て説明する。このマスク13は、周方向に等角度間隔を
おいて異なる径の穴(ここでは16個)H1〜H16を
有する円板状のマスク板13−1と、このマスク板13
−1よりやや大きく、マスク板13−1の各穴H1〜H
16に対応する領域に窓W1〜W8を有してマスク板1
3−1を保持するマスクホルダ13−2と、図5(c)
に示すように一体に組み合わされたマスク板13−1と
マスクホルダ13−2とを回転駆動するモータを含む駆
動部13−3とを含む。
【0021】このマスク13は、マスク板13−1が回
転した時穴H1〜H16がレーザ光の光路を通過するよ
うに配置される。言い換えれば、マスク板13−1の回
転軸がレーザ光の光路と平行であり、しかも穴H1〜H
16の中心を結ぶ仮想円がレーザ光の光路に位置するよ
うに配置される。マスク13は更に、図示していない
が、マスク板13−1とマスクホルダ13−2との組合
わせ体あるいは機構全体を、マスク板13−1の面に関
して平行に位置を微調整することで、レーザ光の光路に
対応した穴の中心位置を微調整するマスク位置2軸微調
整機構を備えている。
転した時穴H1〜H16がレーザ光の光路を通過するよ
うに配置される。言い換えれば、マスク板13−1の回
転軸がレーザ光の光路と平行であり、しかも穴H1〜H
16の中心を結ぶ仮想円がレーザ光の光路に位置するよ
うに配置される。マスク13は更に、図示していない
が、マスク板13−1とマスクホルダ13−2との組合
わせ体あるいは機構全体を、マスク板13−1の面に関
して平行に位置を微調整することで、レーザ光の光路に
対応した穴の中心位置を微調整するマスク位置2軸微調
整機構を備えている。
【0022】マスク板13−1の材料としては、SUS
等の金属材が使用され、レーザ光の反射光がレーザ導光
系の他の光学部品に影響を及ぼさないように、乱反射さ
せる必要があるので、表面にショットブラスト等の加工
を施す。マスク板13−1の穴の径は、高密度多層プリ
ント配線基板に使用されるエポキシやPI等の樹脂に対
して加工性が良く、加工面のエネルギー密度(フルエン
ス)が10J/cm2程度になるようにマスク投影法の
原理にもとづいて設計される。本例では縮小率(M値)
は10程度に設計している。この場合、マスク板13−
1の穴H10が選択されると、ビアホールの径は0.1
(mm)となる。この縮小率(M値)は、マスク板13
−1と加工レンズとの間の距離を変えることで任意に設
定できる。
等の金属材が使用され、レーザ光の反射光がレーザ導光
系の他の光学部品に影響を及ぼさないように、乱反射さ
せる必要があるので、表面にショットブラスト等の加工
を施す。マスク板13−1の穴の径は、高密度多層プリ
ント配線基板に使用されるエポキシやPI等の樹脂に対
して加工性が良く、加工面のエネルギー密度(フルエン
ス)が10J/cm2程度になるようにマスク投影法の
原理にもとづいて設計される。本例では縮小率(M値)
は10程度に設計している。この場合、マスク板13−
1の穴H10が選択されると、ビアホールの径は0.1
(mm)となる。この縮小率(M値)は、マスク板13
−1と加工レンズとの間の距離を変えることで任意に設
定できる。
【0023】現在使用されるビアホールの径は0.1
(mm)が主流であるため、マスク板13−1に設けら
れる穴H1〜H16の径は1〜2(mm)を主としてそ
れらの前後の値、すなわち、H1:8,H2:6,H
3:4,H4:3,H5:2,H6:1.8,H7:
1.6,H8:1.4,H9:1.2,H10:1.
0,H11:0.9,H12:0.8,H13:0.
7,H14:0.6,H15:0.5,H16:0.4
(いずれも単位はmm)としている。これらの穴は大き
い方から順に反時計回りに配列されている。
(mm)が主流であるため、マスク板13−1に設けら
れる穴H1〜H16の径は1〜2(mm)を主としてそ
れらの前後の値、すなわち、H1:8,H2:6,H
3:4,H4:3,H5:2,H6:1.8,H7:
1.6,H8:1.4,H9:1.2,H10:1.
0,H11:0.9,H12:0.8,H13:0.
7,H14:0.6,H15:0.5,H16:0.4
(いずれも単位はmm)としている。これらの穴は大き
い方から順に反時計回りに配列されている。
【0024】駆動部13−3は、制御装置1の制御下で
マスク板13−1の回転駆動を行う。すなわち、制御装
置1ではオペレータにより設定されるドリルデータ、C
ADファイル等のマスタデータにもとづいて指定された
ビアホールの径に対応する穴を選択し、この穴がレーザ
光の光路に位置するようにマスク板13−1を回転させ
る。一般に、ドリルデータ内ではTコードで穴径が指定
されている。本例では、このTコードにもとづいてマス
ク板13−1を回転させることで、所望の穴径を設定で
きる。
マスク板13−1の回転駆動を行う。すなわち、制御装
置1ではオペレータにより設定されるドリルデータ、C
ADファイル等のマスタデータにもとづいて指定された
ビアホールの径に対応する穴を選択し、この穴がレーザ
光の光路に位置するようにマスク板13−1を回転させ
る。一般に、ドリルデータ内ではTコードで穴径が指定
されている。本例では、このTコードにもとづいてマス
ク板13−1を回転させることで、所望の穴径を設定で
きる。
【0025】図1に戻って、X−Yスキャナ14aと1
4bとは、45°反射ミラー11に関して線対称の関係
で配置されるのが好ましい。これは、レーザ光にはビー
ム拡がり角、すなわち光路長が長くなるにつれてビーム
径が大きくなるという性質があるからである。これに対
し、上記のようにすることでレーザ発振器10における
レーザ光の出射口からワーク17a,17bの加工面ま
での距離を同じにし易くなり、加工面でのレーザ光のエ
ネルギー密度を同一にすることができる。
4bとは、45°反射ミラー11に関して線対称の関係
で配置されるのが好ましい。これは、レーザ光にはビー
ム拡がり角、すなわち光路長が長くなるにつれてビーム
径が大きくなるという性質があるからである。これに対
し、上記のようにすることでレーザ発振器10における
レーザ光の出射口からワーク17a,17bの加工面ま
での距離を同じにし易くなり、加工面でのレーザ光のエ
ネルギー密度を同一にすることができる。
【0026】次に、ワーク17a,17bの位置決めに
ついて説明する。X−Yテーブル16a,16b上には
ワーク17a,17bを位置決めするための複数のピン
が、ワーク17a,17bにはこのピンの挿入可能な複
数の穴がそれぞれ設けられている。更に、図1には図示
していないが、X−Yテーブル16a,16bの斜め上
方にはそれぞれ、ITVカメラが設置されている。これ
は、ワーク17a,17bには位置決め用のアライメン
トマークが付されており、レーザ加工の前にこのアライ
メントマークを画像処理によって読み取ってワーク17
a,17bの正確な位置決めを行うためである。このた
め、ITVカメラからの画像信号が制御装置1に送ら
れ、制御装置1では画像処理部が画像信号を処理してワ
ーク17a,17bのアライメントマークが所定位置に
くるようにX−Yテーブル16a,16bの位置を制御
する。
ついて説明する。X−Yテーブル16a,16b上には
ワーク17a,17bを位置決めするための複数のピン
が、ワーク17a,17bにはこのピンの挿入可能な複
数の穴がそれぞれ設けられている。更に、図1には図示
していないが、X−Yテーブル16a,16bの斜め上
方にはそれぞれ、ITVカメラが設置されている。これ
は、ワーク17a,17bには位置決め用のアライメン
トマークが付されており、レーザ加工の前にこのアライ
メントマークを画像処理によって読み取ってワーク17
a,17bの正確な位置決めを行うためである。このた
め、ITVカメラからの画像信号が制御装置1に送ら
れ、制御装置1では画像処理部が画像信号を処理してワ
ーク17a,17bのアライメントマークが所定位置に
くるようにX−Yテーブル16a,16bの位置を制御
する。
【0027】図6を参照して、制御装置1によるレーザ
加工に際してのX−Yテーブル16a,16bの制御に
ついて説明する。X−Yテーブル16a,16bはそれ
ぞれ、原則的には内蔵の駆動機構により独立して動作可
能である。しかし、本例では、制御装置1はX−Yテー
ブル16a,16bがまったく同じ動作をするようにそ
れぞれの駆動機構を制御する。すなわち、X−Yテーブ
ル16aが図中左方に距離X1 だけ移動する時、これに
同期してX−Yテーブル16bも図中左方に距離X1 だ
け移動する。また、X−Yテーブル16aが図中上方に
距離Y1 だけ移動する時は、X−Yテーブル16bもこ
れに同期して図中上方に距離Y1 だけ移動する。
加工に際してのX−Yテーブル16a,16bの制御に
ついて説明する。X−Yテーブル16a,16bはそれ
ぞれ、原則的には内蔵の駆動機構により独立して動作可
能である。しかし、本例では、制御装置1はX−Yテー
ブル16a,16bがまったく同じ動作をするようにそ
れぞれの駆動機構を制御する。すなわち、X−Yテーブ
ル16aが図中左方に距離X1 だけ移動する時、これに
同期してX−Yテーブル16bも図中左方に距離X1 だ
け移動する。また、X−Yテーブル16aが図中上方に
距離Y1 だけ移動する時は、X−Yテーブル16bもこ
れに同期して図中上方に距離Y1 だけ移動する。
【0028】したがって、X−Yテーブル16a,16
bが正確に駆動制御されるとすれば、X−Yテーブル1
6a,16bは衝突することは無い。しかしながら、誤
動作によってX−Yテーブル16a,16bが異なる方
向に移動するようなこともあり得る。そして、その移動
方向が互いに接近し合うような移動の場合、X−Yテー
ブル16a,16bが衝突するおそれがある。このよう
な衝突を防ぐためには、図6(a)に一点鎖線で示すよ
うに、X−Yテーブル16a,16bの可動範囲が互い
に重ならないようなレイアウトにすれば良い。しかし、
図6(a)のようなレイアウトではX−Yテーブル16
a,16bのための設置スペースが大きくなり、加工装
置が大型化してしまう。
bが正確に駆動制御されるとすれば、X−Yテーブル1
6a,16bは衝突することは無い。しかしながら、誤
動作によってX−Yテーブル16a,16bが異なる方
向に移動するようなこともあり得る。そして、その移動
方向が互いに接近し合うような移動の場合、X−Yテー
ブル16a,16bが衝突するおそれがある。このよう
な衝突を防ぐためには、図6(a)に一点鎖線で示すよ
うに、X−Yテーブル16a,16bの可動範囲が互い
に重ならないようなレイアウトにすれば良い。しかし、
図6(a)のようなレイアウトではX−Yテーブル16
a,16bのための設置スペースが大きくなり、加工装
置が大型化してしまう。
【0029】これに対し、本例では、X−Yテーブル1
6a,16bの対向し合う端部にそれぞれ、互いの接近
距離が所定値以下になると動作する複数の近接センサ1
6−1a,16−2a,16−1b,16−2bを設
け、これらの近接センサ16−1a,16−2a,16
−1b,16−2bの検出信号を制御装置1に入力させ
るようにしている。制御装置1は、いずれかの近接セン
サから接近距離が所定値以下になったことを示す検出信
号を受けると、インタロック機能を起動させるべくX−
Yテーブル16a,16bの駆動機構に対して停止を指
令するインタロック信号を出力する。
6a,16bの対向し合う端部にそれぞれ、互いの接近
距離が所定値以下になると動作する複数の近接センサ1
6−1a,16−2a,16−1b,16−2bを設
け、これらの近接センサ16−1a,16−2a,16
−1b,16−2bの検出信号を制御装置1に入力させ
るようにしている。制御装置1は、いずれかの近接セン
サから接近距離が所定値以下になったことを示す検出信
号を受けると、インタロック機能を起動させるべくX−
Yテーブル16a,16bの駆動機構に対して停止を指
令するインタロック信号を出力する。
【0030】ここで、前記所定値は、X−Yテーブル1
6a,16bが最高速度で動作している状態においてイ
ンタロック機能が起動した場合に完全に停止するまでに
要した移動距離よりも大きくなるように設定されること
は言うまでもない。
6a,16bが最高速度で動作している状態においてイ
ンタロック機能が起動した場合に完全に停止するまでに
要した移動距離よりも大きくなるように設定されること
は言うまでもない。
【0031】上記のようにすることで、図6(b)に示
すように、X−Yテーブル16aの移動範囲を一点鎖線
とし、X−Yテーブル16bの移動範囲は二点鎖線とし
てそれぞれ範囲を一部重なるようにすることができる。
その結果、それぞれの移動範囲が重なった領域だけ図6
(a)の場合よりも設置スペースを狭くすることができ
る。
すように、X−Yテーブル16aの移動範囲を一点鎖線
とし、X−Yテーブル16bの移動範囲は二点鎖線とし
てそれぞれ範囲を一部重なるようにすることができる。
その結果、それぞれの移動範囲が重なった領域だけ図6
(a)の場合よりも設置スペースを狭くすることができ
る。
【0032】参考のために、図7に図6(a)、(b)
に対応する装置の実際の寸法の一例を示す。図6(a)
に対応する装置では、幅寸法2050(mm)であるの
に対し、本発明による図6(b)に対応する装置では幅
寸法1550(mm)となり、大幅に寸法を縮小でき
る。
に対応する装置の実際の寸法の一例を示す。図6(a)
に対応する装置では、幅寸法2050(mm)であるの
に対し、本発明による図6(b)に対応する装置では幅
寸法1550(mm)となり、大幅に寸法を縮小でき
る。
【0033】上記説明はX−Yテーブルが2つの場合で
あるが、3つ以上の場合にも同様にして適用可能である
ことは明らかである。
あるが、3つ以上の場合にも同様にして適用可能である
ことは明らかである。
【0034】いずれにしても、この実施の形態において
は、レーザ発振器10からのレーザ光をそのエネルギー
密度を低下させることなく2分割して2つのレーザ加工
系に導き、2つのワーク17a,17bに対してまった
く同じ穴あけ加工を行うことで、加工速度を2倍にする
ことができる。したがって、1穴当たりの加工コストを
大幅に低減することができる。
は、レーザ発振器10からのレーザ光をそのエネルギー
密度を低下させることなく2分割して2つのレーザ加工
系に導き、2つのワーク17a,17bに対してまった
く同じ穴あけ加工を行うことで、加工速度を2倍にする
ことができる。したがって、1穴当たりの加工コストを
大幅に低減することができる。
【0035】なお、本発明はTEA CO2 レーザに使
用した場合に最も有効であるが、既存のCO2 レーザ、
YAGレーザ、エキシマレーザ等のどのような加工装置
にも適用可能であり、レーザ光の形態もパルス状、連続
波のいずれでも良い。また、被加工物は、特にプリント
配線基板やフレキシブルプリント配線基板に適している
が、その他の樹脂、ガラスにも適用できる。
用した場合に最も有効であるが、既存のCO2 レーザ、
YAGレーザ、エキシマレーザ等のどのような加工装置
にも適用可能であり、レーザ光の形態もパルス状、連続
波のいずれでも良い。また、被加工物は、特にプリント
配線基板やフレキシブルプリント配線基板に適している
が、その他の樹脂、ガラスにも適用できる。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、1つのレーザ発振器か
らのレーザ光をエネルギー密度の低減なしで複数に分割
してまったく同じ加工を行う複数の加工系に導入できる
ようにしたことにより、ワークの加工速度を大幅に向上
させることができ、結果として加工コストを大幅に低下
させることができる。また、複数のX−Yテーブルの占
有するスペースを小さくして装置の小形化を図ることが
できる。
らのレーザ光をエネルギー密度の低減なしで複数に分割
してまったく同じ加工を行う複数の加工系に導入できる
ようにしたことにより、ワークの加工速度を大幅に向上
させることができ、結果として加工コストを大幅に低下
させることができる。また、複数のX−Yテーブルの占
有するスペースを小さくして装置の小形化を図ることが
できる。
【図1】本発明によるレーザ加工装置の概略構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】図1に示された45°反射ミラーの作用を説明
するための拡大図(図a)、レーザ光の断面形状を説明
するための図(図b)である。
するための拡大図(図a)、レーザ光の断面形状を説明
するための図(図b)である。
【図3】図1に示された45°反射ミラーの代わりの例
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図4】図1に示されたX−Yスキャナの概略構成を示
した図である。
した図である。
【図5】図1に示されたマスクの他の例の構成を示した
図である。
図である。
【図6】図1に示されたX−Yテーブルの動きを説明す
るための図である。
るための図である。
【図7】一般的な制御方式と本発明方式とによる加工装
置寸法の一例を示すための側面図である。
置寸法の一例を示すための側面図である。
11 45°反射ミラー 11a,11b 反射面 15,15a,15b 加工レンズ 16a,16b X−Yテーブル 17,17a,17b ワーク 21 50%反射ミラー
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザ発振器からのレーザ光をX−Yテ
ーブル上に配置されたワークに照射して加工を行うレー
ザ加工装置において、前記レーザ発振器からのレーザ光
を複数に分割する分割手段を備え、前記分割数に応じて
前記X−Yテーブル及びその駆動機構を複数組備えると
共に、各駆動機構を制御する制御装置を備え、該制御装
置は、前記各駆動機構を同じ動作をするように制御する
ことを特徴とするレーザ加工装置。 - 【請求項2】 互いに隣り合う前記X−Yテーブルの対
向し合う端部にはそれぞれ、互いの接近距離が所定値以
下になると動作する近接センサを設け、前記制御装置
は、前記近接センサからの検出信号を受けると、対応す
る前記X−Yテーブルの動作を停止させるインタロック
機能を有することを特徴とする請求項1記載のレーザ加
工装置。 - 【請求項3】 前記所定値は、前記X−Yテーブルが最
高速度で動作している状態において前記インタロック機
能により停止するのに必要な距離よりも大きく設定され
ていることを特徴とする請求項2記載のレーザ加工装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8123508A JPH09308983A (ja) | 1996-05-17 | 1996-05-17 | レーザ加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8123508A JPH09308983A (ja) | 1996-05-17 | 1996-05-17 | レーザ加工装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09308983A true JPH09308983A (ja) | 1997-12-02 |
Family
ID=14862359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8123508A Withdrawn JPH09308983A (ja) | 1996-05-17 | 1996-05-17 | レーザ加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09308983A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005511313A (ja) * | 2001-11-30 | 2005-04-28 | 松下電器産業株式会社 | レーザーフライス加工方法 |
| KR100598878B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-10 | 현대자동차주식회사 | 레이저빔 스포트를 이용한 용접장치 |
| JP2006289415A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ加工装置 |
| JP2008110383A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | レーザー加工装置 |
| US7456372B2 (en) | 1996-11-20 | 2008-11-25 | Ibiden Co., Ltd. | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| US7462802B2 (en) | 1996-11-20 | 2008-12-09 | Ibiden Co., Ltd. | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| JP2009172647A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Pulstec Industrial Co Ltd | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 |
| WO2012014879A1 (ja) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工機およびレーザ光保護装置 |
| JP2017064743A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
| JP2017064744A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
| JP2019528180A (ja) * | 2016-12-14 | 2019-10-10 | 東台精機股▲ふん▼有限公司Tongtai Machine & Tool Co.,Ltd. | 複合加工機及びそのレーザ分光装置 |
-
1996
- 1996-05-17 JP JP8123508A patent/JPH09308983A/ja not_active Withdrawn
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7732732B2 (en) | 1996-11-20 | 2010-06-08 | Ibiden Co., Ltd. | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| US7456372B2 (en) | 1996-11-20 | 2008-11-25 | Ibiden Co., Ltd. | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| US7462802B2 (en) | 1996-11-20 | 2008-12-09 | Ibiden Co., Ltd. | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| US7667160B2 (en) | 1996-11-20 | 2010-02-23 | Ibiden Co., Ltd | Laser machining apparatus, and apparatus and method for manufacturing a multilayered printed wiring board |
| JP2005511313A (ja) * | 2001-11-30 | 2005-04-28 | 松下電器産業株式会社 | レーザーフライス加工方法 |
| KR100598878B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-10 | 현대자동차주식회사 | 레이저빔 스포트를 이용한 용접장치 |
| JP2006289415A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ加工装置 |
| JP2008110383A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Disco Abrasive Syst Ltd | レーザー加工装置 |
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| JP2019528180A (ja) * | 2016-12-14 | 2019-10-10 | 東台精機股▲ふん▼有限公司Tongtai Machine & Tool Co.,Ltd. | 複合加工機及びそのレーザ分光装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030805 |