JPH09318946A - 液晶表示素子の製造方法 - Google Patents
液晶表示素子の製造方法Info
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Abstract
により十分大きな角度のプレチルトを与える配向処理を
より短時間で簡単に行うことを課題とする。 【解決手段】 偏光を吸収すると、偏光方向に対してあ
る方向に液晶分子を配向させる性質を生じる光偏光記憶
膜を表面に形成した基板を準備する工程と、非偏光を前
記基板の面に対して斜めの方向から前記光偏光記憶膜に
照射して前記光偏光記憶膜に吸収させる配向処理工程
と、前記配向処理工程により配向処理をした基板をすく
なくとも一方に含む一対の基板を対向配置して液晶セル
を作製し、該液晶セルに液晶材料を注入する工程とを有
する。
Description
液晶分子にプレチルトを持たせるように配向処理をする
液晶表示素子の製造方法に関する。
ラス基板を綿布のようなもので一方向に擦るいわゆるラ
ビング法がある。ラビング処理の場合、基板に発生する
静電気やゴミの付着等により配向不良や表示不良などの
問題点がある。
記憶膜を用いた配向処理方法がある。光偏光記憶膜を用
いた配向処理方法は、基板面に光偏光記憶膜を形成した
後、偏光を光偏光記憶膜に照射することにより所望の液
晶配向を形成するものである。偏光光が照射された光偏
光記憶膜は、照射光の偏光方向に応じた配向を液晶分子
に付与することができる。光偏光記憶膜を用いる配向処
理については以下のような方法が発表されている。
ンポリイミドを用いる方法(Wayne M. Gibbons 等、NATU
RE Vol.351 (1991) P49)。
ニルアルコール)を用いる方法(飯村靖文等、第18回
液晶討論会−日本化学会第64秋期年会−、p34 、平成
4年9月11日発行、社団法人日本化学会;Jpn J. App
l. Phys. Vol.32(1993) pp.L93-L96) 。
artin Schadt等、Jpn J. Appl. Phys. Vol.31(1992) p
p.2155-2164) 。
(PVC)膜に偏光を照射することにより、偏光方向と
直交する方向に液晶を水平配向させる方法。(特願平5
−326990号等に記載の方法。)
偏光を照射し、さらに基板の法線に対し一定の角度でか
つ前記偏光方向と直交(方位角方向)する方向から偏光
を照射することによりプレチル角を有する配向を与える
方法。(特願平5−203184号あるいは特願平7−
213610号等に記載の方法。)
マティック型液晶表示素子などでは、基板間に電圧を印
加した時にすべての液晶分子が一様に決まった方向から
傾き始めるような方向性を与えるために、液晶分子が基
板面に対して予め傾くように配向処理をしている。すな
わち、液晶セル間に電圧が印加されてない時の基板界面
の液晶分子の長軸方向の一端を基板面に対してある角度
を持って持ち上げている。この状態をプレチルトと言
い、この角度をプレチルト角度と称する。
圧が印加されると、基板面に対して持ち上がっている一
端側より立ち上がる。全ての液晶分子が同じ向きにプレ
チルトを持っていれば、液晶分子は全て同じ方向から立
ち上がる。
分子は、長軸方向のいずれの端部から立ち上がるかが定
まらない。全ての液晶分子がプレチルトを持たない、ま
たは極めて小さなプレチルト角であると、長軸方向のあ
る一端から立ち上がる液晶分子の領域と逆の他端から立
ち上がる液晶分子の領域とが生じる。それらの領域の境
界では、液晶表示画面上において線欠陥(リバースチル
トディスクリネーションライン)が現れ易い。
て、リバースチルトディスクリネーションラインが発生
し易い。また、印加電圧の変化や時間経過により、リバ
ースチルトディスクリネーションラインの位置が変化す
るため、線欠陥の存在が肉眼で認識できる。さらに、光
散乱の発生や、コントラストの低下も生じるため、液晶
表示装置として著しく表示品質を低下させることにな
る。
レチルトが出来ないので上記のような問題がある。一
方、上記の光配向処理方向では、2回の偏光照射工程
によりプレチルト角を与えることが出来る。すなわち、
最初の偏光の照射では、偏光を基板の法線方向から光偏
光記憶膜に照射することにより、基板面と平行な方向
で、偏光軸方向に対して直角の方向の配向を与える。そ
して次の2回目の照射では、偏光を基板面に対して斜め
の方向から光偏光記憶膜に照射することによりプレチル
ト配向を与えている。この方法では2回の照射処理をし
ないとプレチルトを有する所望の方向の配向処理はでき
ない。
角は非常に小さい。たとえば、PVC膜を光偏光記憶膜
とし、液晶材料にフッ素型混合液晶を使用した場合、プ
レチルト角は0.1°〜0.3°程度である。このよう
な小さなプレチルト角では、プレチルト角のない場合と
同様に、電圧を印加した直後は多数のリバースチルトデ
ィスクリネーションラインが発生する。このリバースチ
ルトディスクリネーションラインは時間経過とともに消
滅していくものの、消滅にかかる時間(数十秒程度)の
ため動画などを表示するディスプレイには使用できな
い。
(自然光)を直接利用することはできない。偏光子など
を透過した偏光を使用するために光のエネルギの利用効
率が低く、光強度も元の光源の約半分と低くなってしま
う。しかも、の方法では配向処理工程で偏光照射が2
回必要であり、作業時間や手間がかかるために製造工程
のスループットが低下し、製造コストが高くなるなどの
問題がある。
の原因となるラビング処理を不要とするとともに、十分
大きな角度のプレチルトを与える配向処理をより短時間
で簡単に行うことの可能な液晶表示素子の製造方法を提
供することである。
製造方法は、偏光を吸収すると、偏光方向に対してある
方向に液晶分子を配向させる性質を生じる光偏光記憶膜
を表面に形成した基板を準備する工程と、非偏光を前記
基板の面に対して斜めの方向から前記光偏光記憶膜に照
射して前記光偏光記憶膜に吸収させる配向処理工程と、
前記配向処理工程により配向処理をした基板をすくなく
とも一方に含む一対の基板を対向配置して液晶セルを作
製し、該液晶セルに液晶材料を注入する工程とを有す
る。
製造方法における、光配向処理工程を示す図である。図
1の(A)は配向処理の装置の側面図であり、同図の矢
印Bで示す方向から見た正面図が図1(B)である。同
図でx,y,zは互いに直交する方向を示す。この実施
例の光配向処理では、非偏光すなわち自然光の1回の照
射のみで十分大きなプレチルト角を与えることができ
る。
れたガラス基板1がステージ3の上に配置されている。
光偏光記憶膜2の下には、通常の電極や駆動素子が形成
される。光源4は紫外線波長領域の光(非偏光)5を発
生して基板1の光偏光記憶膜2に照射するように配置さ
れている。図示のように、ステージ3はx−y水平面に
対してx方向に沿って角度θだけ傾斜している。同様に
基板1もx−y水平面に対して角度θだけ傾斜してい
る。
面に対して垂直なz方向に平行である。従って照射光5
の基板1の法線Lに対する傾き角度はθである。すなわ
ち、光偏光記憶膜2に対して入射角θで斜め方向から紫
外線5が照射されることになる。なお、照射光5は非偏
光であり、偏光成分に分解すればx方向の偏光成分51
とy方向の偏光成分52を含む。
膜上の照射領域Rはx方向に引き伸ばされる。ここで、
光偏光記憶膜2が平坦な表面を有し、この表面が照射光
の偏光成分51、52と相互作用すると考える。y方向
偏光成分52は傾斜角θの大小に係わらず、常に光偏光
記憶膜2の表面と平行であり、その全強度が相互作用に
寄与する。一方x方向偏光成分51は、傾斜角θが増大
するとともに、光偏光記憶膜2の表面となす角度θが大
きくなり、面内成分はcosθに減少する。すなわち、
x方向偏光成分の実効強度は傾斜角θの増大と共に減少
することが判る。
傾けた基板に光照射した場合には、y方向の偏光成分の
実効的照射量が最も多く、x方向の偏光成分に近い程実
効的光照射量は減少する。そのために面内方向に関して
方向性が生じる。
ド膜であり、偏光方向に対して直交する方向に液晶分子
を配向する性質を持つ場合は、紫外線吸収によって消滅
する側鎖が液晶分子配向の原因になると考えられる。す
なわち、紫外線照射後も残る側鎖によって液晶分子に配
向が与えられると考えられる。紫外線によりポリイミド
の分解反応が進むと考えられ、光照射量が多い程、液晶
分子を配向する力が減少する。
側部拡大断面図を示す。図1(C)は、非偏光の紫外線
照射前であり、図1(D)は照射後である。側鎖のある
ポリイミド分子でプレチルトを発現させるものは同図で
ギザギザで示す側鎖6である。前述のように、ポリイミ
ド材料は、実効光照射量が多い程液晶分子を配向させる
力が減少する。すなわち、側鎖の分解反応が進む。従っ
て、紫外光5の照射方向に対して大きく90度に近い角
度傾いている側鎖(×印)程分解されやすく、照射方向
とほぼ同じ方向を向いている側鎖(○印)はかなり強い
照射によってもなかなか分解されにくいと考えることが
できる。その結果、ポリイミド膜2上には紫外光5の照
射方向に傾いている側鎖はほとんど残り、その側鎖によ
り液晶分子が傾いて配向するために光照射方向に向いた
プレチルトが発現すると考えられる。
偏光の1回の照射でプレチルトを有する均一配向を得る
ことが出来たが、側鎖有りの場合よりもより大きな傾き
角θを必要とした。
を2枚用意するか、あるいは上記光配向処理をした1枚
の基板と従来技術による配向処理をした他の基板1枚と
を用意する。配向方向が両基板間で直交するように配置
して両基板を所定ギャップを設けて対向して空セルを作
製する。この空セルにネマティック液晶材料を注入し、
セルの両側に直交ニコル配置の偏光板を配置すれば90
°ツイストネマティック液晶表示素子が完成する。
板上に形成する。ポリイミド膜の基板への形成方法は公
知の塗布技術を使用することができる。このポリイミド
膜は液晶装置用ポリイミドとしてすでに市販されている
材料であり特別なものではない。この膜は、偏光照射に
対して、偏光軸方向と直交する方向に液晶分子を配向す
る性質がある。
うに傾き角θ=30°で配置し、z軸方向から非偏光を
100秒間照射する。(500mJ/cm2 )なお、こ
の場合紫外光源と基板との間に中心波長254nmの干
渉フィルタ(図示せず)を設け、照射光の内、波長が2
10〜300nm以外の光をカットするようにした。
向が互いに90°ねじれた関係になるようにし、5μm
ギャップ間隔になるようギャップコントロール材を間に
入れて重ね合わせて空セルを作製した。空セルの作製お
よび以下の液晶注入方法は公知の製造技術が利用でき
る。
11)を添加した液晶材料を真空注入法により空セル内
に注入した。注入完了後に、注入口を封止して、セルを
N−I(ネマティック−アイソトロピック)相転移温度
(この場合98℃)以上に加熱して流動配向を消失さ
せ、その後徐冷して液晶相に戻して再配向させた。
て偏光顕微鏡にて表示面を観察したがリバースチルトデ
ィスクリネーションラインは全く観察されなかった。こ
こで、254nm付近の紫外光で100秒照射という条
件は一定にしておき、傾き角θの値をいろいろ変えて上
記の工程と同様に液晶セルをいくつか作製した。それら
の液晶セルで電圧印加に対するリバースチルトディスク
リネーションラインの発生状態を観察した。その結果を
図2のグラフに示す。
θが25°〜50°付近までは全くリバースチルトディ
スクリネーションラインが発生しない。また20°や6
0°では、非常に小さい(短い)リバースチルトディス
クリネーションラインが発生し得るが、0.5秒以下の
一瞬後には完全に消滅した。さらに僅か10°の傾き角
においても3秒以下でリバースチルトディスクリネーシ
ョンラインが消滅する。同じポリイミド材料に対し、従
来の偏光を2回照射する方法では、最適条件においても
付与できるプレチルト角は0.3°以下であり、リバー
スチルトディスクリネーションラインが完全に消滅する
まで数十秒かかっていた事と比較すると、図2の結果は
本実施例の効果が非常に優れていることを示している。
膜を基板上に形成して、このポリイミド膜付き基板を傾
き角θ=45°に配置した。z軸方向から実施例1のよ
うな干渉フィルタを使用せずに254〜365nmの範
囲の全波長を含む非偏光を50秒間照射した。実施例1
と同様にこの光偏光処理をした基板2枚を5μmギャッ
プで配置して液晶を注入して液晶セルを作製した。この
実施例でもリバースチルトディスクリネーションライン
は全く観察されなかった。この広い光波長範囲の紫外線
を照射したときの傾き角とリバースチルトディスクリネ
ーションラインとの関係は図2のグラフとほぼ同様な特
性であった。
複数の小領域に分割配向する実施例を図3と図4を参照
して説明する。実施例1と同じポリイミド膜2を基板1
上に形成し、傾けたステージ3の上に配置した。光源と
基板1との間に石英製のフォトマスク7を図3のように
配置する。図4はフォトマスク7の平面図である。石英
板上に金属パターンが形成されている。8はフォトマス
ク7の開口部でありそこだけを紫外線が透過する。
を照射するときに、傾き角θがあまり大きい場合や、照
射時間が短い場合には、フォトマスク7の表面や内部で
光が反射したり、吸収されたりして十分な光量が基板上
に照射されにくくなると考えられる。例えば傾き角θ=
60°で照射実験すると、かなり長時間の照射を行って
もきれいに配向しなかった。
フォトマスク7を配置し、z軸方向から中心波長254
nmの干渉フィルタを介して紫外光5を200秒間照射
して配向処理をした。その基板の液晶の配向状態の顕微
鏡写真を図5に示す。フォトマスク7の開口部8を通過
した光が照射された領域はきれいに配向しているが、フ
ォトマスク7で遮蔽されて照射されていないはずの領域
の一部も写真のにじんだ部分のように弱く配向されてい
ることがわかる。
下側部分9のみに見られ、照射領域の左右と上側には見
られない。これは、フォトマスク7の開口部8から斜め
方向に漏れた光がポリイミド膜2の9の部分に照射され
てしまったものか、ポリイミド膜2内で多重反射したも
のと考えられる。
基板の傾き角θ=35°と小さくし、z軸方向から中心
波長254nmの干渉フィルタを介して紫外光5を20
0秒間照射して配向処理をした。その基板の液晶の配向
状態の顕微鏡写真を図6に示す。この写真では、フォト
マスク7の開口部8の光透過領域の形状および大きさと
同じ四角いパターンできれいに配向していることがわか
る。
方向とを変えながら4回光偏光記憶膜に紫外線を照射し
た所、非常にきれいな4分割配向が得られた。このよう
にして4分割光配向処理をした基板を使用してツイステ
ッドネマティック型液晶セル(スーパーマルチドメイン
液晶表示装置)を作製し、その中間調の視角特性を測定
したところ、図7のようなグラフが得られた。フォトマ
スクを使用して斜め方向から光照射をする場合には、傾
き角θは25°から最大でも40°までの範囲が好まし
い。
0°を100%の透過率とし、それに対する透過率の割
合(%)を示す。横軸は視角0°を中心に左右に振った
角度を示す。図示された曲線は上から下に向かって印加
電圧を増加している。図7の特性は広い視角範囲にわた
って透過率がほぼ平坦な優れた視角特性が得られること
を示している。
して直交する方向に配向する光偏光記憶膜を例に説明し
たが、偏光軸方向に対して平行な方向に配向する光偏光
記憶膜を使用しても同様な効果が得られる。液晶の注入
方法は、真空注入法に限らず、毛細管現象を利用する方
法など他の方法も利用できる。また、液晶材料をアイソ
トロピック(等方相)状態でセルに注入し、注入後に徐
冷して再配向させてもよい。
0dyn/cm程度の小さな側鎖のないポリイミド膜を
使用することもできる。そのような膜で均一なプレチル
ト角を得るように光配向処理をする場合には、基板の傾
き角θを45°以上にすることが好ましい。また、それ
以外の膜、例えば光配向PVC膜を使用することもでき
る。さらに、照射方向や基板の傾き角を場所により変え
ることによりマルチドメイン配向が可能なことは説明し
た通りである。
はあくまでも例示であって、本発明はこれに限るもので
はなく、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能である
ことは当業者にとって自明であろう。
た基板に対し斜め方向から非偏光を1回照射するだけ
で、十分大きなプレチルト角を与える配向処理を簡単に
短時間で施すことができる。また、偏光でなく非偏光の
照射でプレチルト配向が可能となり、光源のエネルギ利
用効率が向上する。よって、製造コストの低減が可能で
ある。
の立ち上がり方向が一定方向に規制され、リバースチル
トディスクリネーションラインのような欠陥の無い均一
な表示が実現できる。もちろん、光配向処理によりラビ
ング処理が不要になり、ラビングにともなう静電気やゴ
ミの発生の問題が解決される。
マルチドメイン配向(分割配向)にも容易に対応でき
る。
あり、図1(B)はその正面図であり、図1(C)は非
偏光の紫外線照射前のポリイミド光偏光記憶膜の側部拡
大断面図であり、図1(D)はその照射後である。
ルで電圧印加時のリバースチルトディスクリネーション
ラインの発生状態(消滅時間)の特性を示すグラフであ
る。
一例の形状である。
図である。
セルの配向状態を撮影した基板上に形成された微細なパ
ターンを表す顕微鏡写真である。
液晶セルの配向状態を撮影した基板上に形成された微細
なパターンを表す顕微鏡写真である。
割配向(マルチドメイン)して作製したツイステッドネ
マティック型液晶セルのいろいろな印加電圧における光
透過率の視角特性である。
Claims (12)
- 【請求項1】 偏光を吸収すると、偏光方向に対してあ
る方向に液晶分子を配向させる性質を生じる光偏光記憶
膜を表面に形成した基板を準備する工程と、 非偏光を前記基板の面に対して斜めの方向から前記光偏
光記憶膜に照射して前記光偏光記憶膜に吸収させる配向
処理工程と、 前記配向処理工程により配向処理をした基板をすくなく
とも一方に含む一対の基板を対向配置して液晶セルを作
製し、該液晶セルに液晶材料を注入する工程とを有する
液晶表示素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記基板を準備する工程において、前記
光偏光記憶膜として直線偏光あるいは楕円偏光長軸方向
と直交する方向に液晶分子を配向させる性質を持つ材料
を使用することを特徴とする請求項1記載の液晶表示素
子の製造方法。 - 【請求項3】 前記基板を準備する工程において、前記
光偏光記憶膜として直線偏光あるいは楕円偏光長軸方向
と平行な方向に液晶分子を配向させる性質を持つ材料を
使用することを特徴とする請求項1記載の液晶表示素子
の製造方法。 - 【請求項4】 前記光偏光記憶膜が、側鎖付きのポリイ
ミドであることを特徴とする請求項1記載の液晶表示素
子の製造方法。 - 【請求項5】 前記光偏光記憶膜が、40dyn/cm
程度の表面エネルギを有する請求項1記載の液晶表示素
子の製造方法。 - 【請求項6】 前記光偏光記憶膜が、可溶性のポリビニ
ルシンナメートであることを特徴とする請求項1記載の
液晶表示素子の製造方法。 - 【請求項7】 前記非偏光を前記基板の面の法線に対し
て10°〜60°の範囲の角度の方向から前記基板の光
偏光記憶膜に照射することを特徴とする請求項1記載の
液晶表示素子の製造方法。 - 【請求項8】 前記非偏光を前記基板の面の法線に対し
て25°〜50°の範囲の角度の方向から前記基板の光
偏光記憶膜に照射することを特徴とする請求項1記載の
液晶表示素子の製造方法。 - 【請求項9】 前記配向処理工程において、所定の光透
過パターンを有するフォトマスクを介して前記非偏光を
前記基板の面の法線に対して25°〜40°の範囲の角
度の方向から前記基板の光偏光記憶膜に照射することを
特徴とする請求項1記載の液晶表示素子の製造方法。 - 【請求項10】 前記配向処理工程において、前記非偏
光の照射方向と位置とを同時に変えて、前記非偏光を2
回以上照射して互いに異なる配向方向を持つ領域を前記
基板面に形成することを特徴とする請求項1記載の液晶
表示素子の製造方法。 - 【請求項11】 前記非偏光が波長254nmの光を含
むことを特徴とする請求項1記載の液晶表示素子の製造
方法。 - 【請求項12】 前記非偏光が254から365nmの
範囲の波長を含む光であることを特徴とする請求項1記
載の液晶表示素子の製造方法。
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