JPH09320020A - 磁気ヘッド及び磁気ヘッドの製造方法及び再生方法及び磁気再生装置 - Google Patents
磁気ヘッド及び磁気ヘッドの製造方法及び再生方法及び磁気再生装置Info
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- JPH09320020A JPH09320020A JP8141405A JP14140596A JPH09320020A JP H09320020 A JPH09320020 A JP H09320020A JP 8141405 A JP8141405 A JP 8141405A JP 14140596 A JP14140596 A JP 14140596A JP H09320020 A JPH09320020 A JP H09320020A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複合型MRヘッドは、ヘッド構造が従来の誘
導型ヘッドと比べかなり複雑であり、製造には高度な製
造技術が要求される。そこで、比較的簡単な構造でかつ
再生感度が優れた磁気ヘッドとその磁気ヘッドの製造方
法とその磁気ヘッドを用いた再生方法及び磁気再生装置
を提供することを目的とする。 【解決手段】 電極を備え、磁気コアが第1及び第2の
磁性層からなり、導体が磁気コア中の少なくとも複数ヵ
所において絶縁配置され、導体のインダクタンス成分に
よる位相の遅れとキャパシタンス成分による位相の進み
が相殺されるように容量結合部分の絶縁層の厚さを決定
し、全ての導体のインピーダンス成分の単純和として出
力を検出することを特徴とする磁気ヘッド、再生方法及
び磁気再生装置。
導型ヘッドと比べかなり複雑であり、製造には高度な製
造技術が要求される。そこで、比較的簡単な構造でかつ
再生感度が優れた磁気ヘッドとその磁気ヘッドの製造方
法とその磁気ヘッドを用いた再生方法及び磁気再生装置
を提供することを目的とする。 【解決手段】 電極を備え、磁気コアが第1及び第2の
磁性層からなり、導体が磁気コア中の少なくとも複数ヵ
所において絶縁配置され、導体のインダクタンス成分に
よる位相の遅れとキャパシタンス成分による位相の進み
が相殺されるように容量結合部分の絶縁層の厚さを決定
し、全ての導体のインピーダンス成分の単純和として出
力を検出することを特徴とする磁気ヘッド、再生方法及
び磁気再生装置。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高密度に記録され
た情報を再生する磁気ヘッドとその製造方法、及び当該
磁気ヘッドを用いた磁気再生装置、磁気再生手段に関す
るものである。
た情報を再生する磁気ヘッドとその製造方法、及び当該
磁気ヘッドを用いた磁気再生装置、磁気再生手段に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】近年、大容量の磁気記録装置の需要が拡
大し、そのため、より高密度に情報を磁気記録媒体に記
録し、また情報を再生できる磁気ヘッドが要求されつつ
ある。このような要求に応じて、広く用いられている誘
導型ヘッド、特に薄膜ヘッドより、より再生感度の高い
再生専用ヘッドであるMRヘッドを用いた複合型MRヘ
ッドが実用化されている。この複合型MRヘッドは、M
Rヘッドと従来の誘導型薄膜ヘッドとを備えたヘッドで
あり、再生時には、より再生感度のよいMRヘッドを用
い、記録時には、従来の誘導型薄膜ヘッドを用いる。こ
こで、MRヘッドとは、磁気抵抗効果素子(MR:Ma
gneteto−Resistance)を用いたヘッ
ドである。
大し、そのため、より高密度に情報を磁気記録媒体に記
録し、また情報を再生できる磁気ヘッドが要求されつつ
ある。このような要求に応じて、広く用いられている誘
導型ヘッド、特に薄膜ヘッドより、より再生感度の高い
再生専用ヘッドであるMRヘッドを用いた複合型MRヘ
ッドが実用化されている。この複合型MRヘッドは、M
Rヘッドと従来の誘導型薄膜ヘッドとを備えたヘッドで
あり、再生時には、より再生感度のよいMRヘッドを用
い、記録時には、従来の誘導型薄膜ヘッドを用いる。こ
こで、MRヘッドとは、磁気抵抗効果素子(MR:Ma
gneteto−Resistance)を用いたヘッ
ドである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、MR素子を
用いた複合型MRヘッドは、ヘッド構造が従来の誘導型
ヘッドと比べかなり複雑である。
用いた複合型MRヘッドは、ヘッド構造が従来の誘導型
ヘッドと比べかなり複雑である。
【0004】具体的には、MR素子の回りには再生用の
磁気ギャップやシールド層が必要であったり、MR膜を
単磁区化するための磁石を設けるなどの構成が必要であ
り、また線形な再生を行うためにバイアス磁界を印加す
る独自の構成が必要である。
磁気ギャップやシールド層が必要であったり、MR膜を
単磁区化するための磁石を設けるなどの構成が必要であ
り、また線形な再生を行うためにバイアス磁界を印加す
る独自の構成が必要である。
【0005】そのため、当該複合型MRヘッドの製造に
は、それだけ高度な製造技術が要求され、高い歩留まり
を確保することが難しくなるという問題点があった。
は、それだけ高度な製造技術が要求され、高い歩留まり
を確保することが難しくなるという問題点があった。
【0006】そこで、本願発明は、上記問題点を解決す
るため、比較的簡単な構造でかつ再生感度が従来の誘導
型ヘッドよりも優れた磁気ヘッドとその磁気ヘッドの製
造方法とその磁気ヘッドを用いた再生方法及び磁気再生
装置を提供することを目的とする。
るため、比較的簡単な構造でかつ再生感度が従来の誘導
型ヘッドよりも優れた磁気ヘッドとその磁気ヘッドの製
造方法とその磁気ヘッドを用いた再生方法及び磁気再生
装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1における発明では、第1及び第2の軟磁性
層からなる磁気コアと前記磁気コア中に絶縁配置した導
体とからなり、前記導体の両端に電極を備え、前記導体
が前記磁気コア中の少なくとも複数ヵ所において絶縁配
置されることを特徴とする。
め、請求項1における発明では、第1及び第2の軟磁性
層からなる磁気コアと前記磁気コア中に絶縁配置した導
体とからなり、前記導体の両端に電極を備え、前記導体
が前記磁気コア中の少なくとも複数ヵ所において絶縁配
置されることを特徴とする。
【0008】請求項2における発明では、前記導体は導
体中に所望厚からなる絶縁層を挟むことで容量結合され
ることを特徴とする。
体中に所望厚からなる絶縁層を挟むことで容量結合され
ることを特徴とする。
【0009】請求項3における発明では、前記磁気コア
は第1及び第2の軟磁性層からなり、前記導体は前記第
1及び第2の軟磁性層との間に絶縁配置された導体層で
あり、前記導体に設けられた前記容量結合部分は前記磁
気コアの外部に位置することを特徴とする。
は第1及び第2の軟磁性層からなり、前記導体は前記第
1及び第2の軟磁性層との間に絶縁配置された導体層で
あり、前記導体に設けられた前記容量結合部分は前記磁
気コアの外部に位置することを特徴とする。
【0010】請求項4における発明では、前記容量結合
を構成する絶縁層は鉛、ランタン、亜鉛、及びチタンを
主成分とする酸化物である事を特徴とする。
を構成する絶縁層は鉛、ランタン、亜鉛、及びチタンを
主成分とする酸化物である事を特徴とする。
【0011】請求項5における発明では、前記第1の磁
性層を形成する工程と、第1の絶縁層を形成する第1の
絶縁層形成工程と、前記第1の絶縁層の上に前記導体層
の一部をパターン形成する第1の導体層形成工程と、第
2の絶縁層を形成する第2の絶縁層形成工程と容量結合
の誘電体部分である絶縁層の形成工程と前記導体層の残
りの部分をパターン形成する第2の導体層形成工程と、
前記導体層の上に第3の絶縁層を形成する第3の絶縁層
形成工程と、前記第3の絶縁層の上に第2の磁性層を形
成する第2の磁性層形成工程とを有することを特徴とす
る。
性層を形成する工程と、第1の絶縁層を形成する第1の
絶縁層形成工程と、前記第1の絶縁層の上に前記導体層
の一部をパターン形成する第1の導体層形成工程と、第
2の絶縁層を形成する第2の絶縁層形成工程と容量結合
の誘電体部分である絶縁層の形成工程と前記導体層の残
りの部分をパターン形成する第2の導体層形成工程と、
前記導体層の上に第3の絶縁層を形成する第3の絶縁層
形成工程と、前記第3の絶縁層の上に第2の磁性層を形
成する第2の磁性層形成工程とを有することを特徴とす
る。
【0012】請求項6における発明では、請求項2記載
のヘッドを用いた再生方法であって、前記ヘッドの導体
のインダクタンス成分による位相の遅れとキャパシタン
ス成分による位相の進みが相殺されるように前記容量結
合部分の絶縁層の厚さを決定し、全ての導体のインピー
ダンス成分の単純和として出力を検出する事を特徴とす
る。
のヘッドを用いた再生方法であって、前記ヘッドの導体
のインダクタンス成分による位相の遅れとキャパシタン
ス成分による位相の進みが相殺されるように前記容量結
合部分の絶縁層の厚さを決定し、全ての導体のインピー
ダンス成分の単純和として出力を検出する事を特徴とす
る。
【0013】請求項7における発明では、前記導体の両
端の電極に定電流の高周波信号を印加するキャリア信号
発生器と、前記磁気コアにバイアス磁界を発生させるバ
イアス磁界発生手段とを有し、請求項2記載の磁気ヘッ
ドを用いたことを特徴とする。
端の電極に定電流の高周波信号を印加するキャリア信号
発生器と、前記磁気コアにバイアス磁界を発生させるバ
イアス磁界発生手段とを有し、請求項2記載の磁気ヘッ
ドを用いたことを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】上記請求項1における発明の磁気
インピーダンス素子は、外部磁界によって磁気コアが磁
化され、その磁気コアの透磁率が変化することにより高
周波信号が印加されている導体の両端間のインピーダン
ス値が変化する。その導体のインピーダンス値の変化に
基づいて導体の両端の電圧が変化する。導体が磁気コア
の複数カ所において絶縁配置されることで検出感度が高
くなる。
インピーダンス素子は、外部磁界によって磁気コアが磁
化され、その磁気コアの透磁率が変化することにより高
周波信号が印加されている導体の両端間のインピーダン
ス値が変化する。その導体のインピーダンス値の変化に
基づいて導体の両端の電圧が変化する。導体が磁気コア
の複数カ所において絶縁配置されることで検出感度が高
くなる。
【0015】請求項2及び、請求項3における発明で
は、導体を容量結合することでインピーダンス成分の遅
れをキャパシタンス成分の進みで相殺することが可能と
なる。
は、導体を容量結合することでインピーダンス成分の遅
れをキャパシタンス成分の進みで相殺することが可能と
なる。
【0016】請求項4における発明では、鉛、ランタ
ン、亜鉛、及びチタンを主成分とする酸化物は比誘電率
が高いため、本発明の磁気ヘッドにおいて絶縁層の厚さ
が制御可能となる。
ン、亜鉛、及びチタンを主成分とする酸化物は比誘電率
が高いため、本発明の磁気ヘッドにおいて絶縁層の厚さ
が制御可能となる。
【0017】請求項5における発明では、前記第1の磁
性層を形成した後第1の絶縁層を形成し、前記第1の絶
縁層の上に前記導体層の一部をパターン形成し、第2の
絶縁層を形成し、容量結合の誘電体部分である絶縁層の
形成工程と前記導体層の残りの部分をパターン形成し、
その後前記導体層の上に第3の絶縁層を形成し、前記第
3の絶縁層の上に第2の磁性層を形成する。
性層を形成した後第1の絶縁層を形成し、前記第1の絶
縁層の上に前記導体層の一部をパターン形成し、第2の
絶縁層を形成し、容量結合の誘電体部分である絶縁層の
形成工程と前記導体層の残りの部分をパターン形成し、
その後前記導体層の上に第3の絶縁層を形成し、前記第
3の絶縁層の上に第2の磁性層を形成する。
【0018】請求項6における発明では、前記ヘッドの
導体のインダクタンス成分による位相の遅れとキャパシ
タンス成分による位相の進みが相殺されるように前記容
量結合部分の絶縁層の厚さを決定することで、全ての導
体のインピーダンス成分の単純和として出力を検出す
る。
導体のインダクタンス成分による位相の遅れとキャパシ
タンス成分による位相の進みが相殺されるように前記容
量結合部分の絶縁層の厚さを決定することで、全ての導
体のインピーダンス成分の単純和として出力を検出す
る。
【0019】請求項7における発明では、請求項4記載
の磁気ヘッドを登載することで磁気インピーダンス効果
により、高感度再生が可能な磁気再生装置を提供でき
る。
の磁気ヘッドを登載することで磁気インピーダンス効果
により、高感度再生が可能な磁気再生装置を提供でき
る。
【0020】本発明の磁気ヘッドに関する第1の実施例
と、本発明の磁気ヘッドの製造方法に関する第2の実施
例と、本発明の再生方法に関する第3の実施例と、本発
明の磁気再生装置に関する第4の実施例について説明す
る。
と、本発明の磁気ヘッドの製造方法に関する第2の実施
例と、本発明の再生方法に関する第3の実施例と、本発
明の磁気再生装置に関する第4の実施例について説明す
る。
【0021】先ず、本発明の磁気ヘッドに関する第1の
実施例について説明する。図1と図2は、本発明の磁気
ヘッドの第1の実施例を示す図である。当該磁気ヘッド
は、第1の磁性層1と、第2の磁性層2と導体線3と電
極5、6とから構成される。導体線は絶縁層4を挟んで
容量結合されている。
実施例について説明する。図1と図2は、本発明の磁気
ヘッドの第1の実施例を示す図である。当該磁気ヘッド
は、第1の磁性層1と、第2の磁性層2と導体線3と電
極5、6とから構成される。導体線は絶縁層4を挟んで
容量結合されている。
【0022】磁性層1、及び2は、コバルト、ジルコ
ン、ニオブ、及びタンタルからなるアモルファス(Coー
ZrーNbーTa)薄膜である。膜厚は第1および第2の磁性
層ともに1μmである。
ン、ニオブ、及びタンタルからなるアモルファス(Coー
ZrーNbーTa)薄膜である。膜厚は第1および第2の磁性
層ともに1μmである。
【0023】導体線3は、磁性層1と2とからなる磁気
コア10を4カ所で貫通する位置に設けられており、そ
れぞれが絶縁層4を挟んで容量結合されている。材質は
Cu薄膜等を用いる。絶縁層4は誘電率の高い薄膜が望
ましく実施例1では鉛、ランタン、亜鉛、及びチタンを
主成分とする酸化物(PLZT)を用いた。また、当該
導体線3は、磁性層1、2と電気的に絶縁されるように
当該導体線3と磁性層1、2との間には絶縁膜7が形成
されている。絶縁膜7としては主としてSiO2膜を用
いた。
コア10を4カ所で貫通する位置に設けられており、そ
れぞれが絶縁層4を挟んで容量結合されている。材質は
Cu薄膜等を用いる。絶縁層4は誘電率の高い薄膜が望
ましく実施例1では鉛、ランタン、亜鉛、及びチタンを
主成分とする酸化物(PLZT)を用いた。また、当該
導体線3は、磁性層1、2と電気的に絶縁されるように
当該導体線3と磁性層1、2との間には絶縁膜7が形成
されている。絶縁膜7としては主としてSiO2膜を用
いた。
【0024】電極端子5及び電極端子6は、前記導体線
3の両端に設けられた電極である。当該電極端子5及び
電極端子6は、導体線3に後述する交流の定電流を流す
ための端子である。
3の両端に設けられた電極である。当該電極端子5及び
電極端子6は、導体線3に後述する交流の定電流を流す
ための端子である。
【0025】図3は、図1及び図2の磁気ヘッドを含む
磁気再生装置の等価回路図である。本図は、インピーダ
ンス素子21と、キャリヤ信号発生器22と、再生電圧
出力回路25とからなる。
磁気再生装置の等価回路図である。本図は、インピーダ
ンス素子21と、キャリヤ信号発生器22と、再生電圧
出力回路25とからなる。
【0026】インピーダンス素子21は、図1で示した
磁気ヘッドの導体線3を等価的にインピーダンス素子と
して示したものである。端子23と端子24は、それぞ
れ図1に示す電極端子5、6に相当する。
磁気ヘッドの導体線3を等価的にインピーダンス素子と
して示したものである。端子23と端子24は、それぞ
れ図1に示す電極端子5、6に相当する。
【0027】キャリヤ信号発生器22は、インピーダン
ス素子21に交流の定電流であるキャリア信号を発生す
る。
ス素子21に交流の定電流であるキャリア信号を発生す
る。
【0028】再生電圧出力回路25は、端子23と端子
24間に生じる電圧を測定して端子26から出力する。
24間に生じる電圧を測定して端子26から出力する。
【0029】次に、図1及び図3を用いて磁気情報の再
生動作を説明する。図1に示す磁気ヘッドにおける磁性
層1及び2からなる磁気コア10が磁気記録媒体の磁気
情報の磁化上にある時、磁気コアには磁束が通る。この
とき、該磁気コアはその磁束によって磁化され、透磁率
が低下している。つまり、図3におけるインピーダンス
素子21のインピーダンスが低下しているのと等価な状
態になる。このとき導体線3に交流の定電流を流してい
るので、端子23と24間にはそのインピーダンスに比
例した逆起電圧が発生する。結局、再生電圧出力回路2
5から出力される電圧値は、インピーダンス値すなわち
透磁率に比例している。
生動作を説明する。図1に示す磁気ヘッドにおける磁性
層1及び2からなる磁気コア10が磁気記録媒体の磁気
情報の磁化上にある時、磁気コアには磁束が通る。この
とき、該磁気コアはその磁束によって磁化され、透磁率
が低下している。つまり、図3におけるインピーダンス
素子21のインピーダンスが低下しているのと等価な状
態になる。このとき導体線3に交流の定電流を流してい
るので、端子23と24間にはそのインピーダンスに比
例した逆起電圧が発生する。結局、再生電圧出力回路2
5から出力される電圧値は、インピーダンス値すなわち
透磁率に比例している。
【0030】さらに言えば、流入した磁束の量、すなわ
ち磁化の強さに逆比例した電圧値が、再生電圧出力回路
25から出力されることとなり、いわゆる磁束応答型の
再生が行われることが分かる。出力される電圧値を大き
くするには、インピーダンスが大きいことが好ましく、
またその磁界応答性が高いことが望まれる。従って、磁
気コアの透磁率が高い範囲内で、できるだけ周波数は高
いほうが良い。
ち磁化の強さに逆比例した電圧値が、再生電圧出力回路
25から出力されることとなり、いわゆる磁束応答型の
再生が行われることが分かる。出力される電圧値を大き
くするには、インピーダンスが大きいことが好ましく、
またその磁界応答性が高いことが望まれる。従って、磁
気コアの透磁率が高い範囲内で、できるだけ周波数は高
いほうが良い。
【0031】以上説明してきたように、本発明の磁気ヘ
ッドは、従来の複合型MRヘッドのように再生用に特に
磁気ギャップを設ける必要がなく、さらにシールド層も
必要がない比較的簡単な構成で、再生感度が従来の誘導
型ヘッドよりも優れた磁束応答型の再生ヘッドが得られ
る。
ッドは、従来の複合型MRヘッドのように再生用に特に
磁気ギャップを設ける必要がなく、さらにシールド層も
必要がない比較的簡単な構成で、再生感度が従来の誘導
型ヘッドよりも優れた磁束応答型の再生ヘッドが得られ
る。
【0032】次に、本発明の磁気ヘッドの製造方法に関
する第2の実施例について説明する。
する第2の実施例について説明する。
【0033】図4及び図5は、第2の実施例を説明する
ものであり、本発明の磁気ヘッドの第1の実施例の製造
方法を示すための、磁気ヘッドの断面概略図である。図
4は図2に示した第1の実施例の磁気ヘッドを線Aにて
切断した場合、図5は線Bにて切断した場合の断面概略
図である。
ものであり、本発明の磁気ヘッドの第1の実施例の製造
方法を示すための、磁気ヘッドの断面概略図である。図
4は図2に示した第1の実施例の磁気ヘッドを線Aにて
切断した場合、図5は線Bにて切断した場合の断面概略
図である。
【0034】図4(a)及び図5(a)に示した基板3
1は、アルミナ・チタンカーバイド(AlTiC)基板
上に鏡面加工されたアルミナ膜が被着されている。第1
の磁性層32は、CoーZrーNbーTaからなるアモルファス
合金をスパッタ形成したものである。
1は、アルミナ・チタンカーバイド(AlTiC)基板
上に鏡面加工されたアルミナ膜が被着されている。第1
の磁性層32は、CoーZrーNbーTaからなるアモルファス
合金をスパッタ形成したものである。
【0035】図4(b)及び図5(b)は第1の磁性層
がイオンミリング処理されたものである。
がイオンミリング処理されたものである。
【0036】図4(c)及び図5(c)はSiO2をス
パッタリングする事で第1の絶縁膜33を形成し、その
上に第1の導体層34としてCu薄膜等をスパッタ形成
したものである。
パッタリングする事で第1の絶縁膜33を形成し、その
上に第1の導体層34としてCu薄膜等をスパッタ形成
したものである。
【0037】図4(d)及び図5(d)はイオンミリン
グ処理してパターン化した後に、第2の絶縁膜35とし
てSiO2をスパッタ形成したものである。第2の絶縁
膜35は第1の絶縁膜33と同じSiO2である。
グ処理してパターン化した後に、第2の絶縁膜35とし
てSiO2をスパッタ形成したものである。第2の絶縁
膜35は第1の絶縁膜33と同じSiO2である。
【0038】図4(e)及び図5(e)は第2の絶縁膜
35をイオンミリング処理によりパターン化した後に、
PLZT等の誘電体をスパッタリングして絶縁層36を
形成し、その上に第2の導体層37をスパッタ形成した
ものである。第2の導体層37は第1の導体層34と同
じ材質である。
35をイオンミリング処理によりパターン化した後に、
PLZT等の誘電体をスパッタリングして絶縁層36を
形成し、その上に第2の導体層37をスパッタ形成した
ものである。第2の導体層37は第1の導体層34と同
じ材質である。
【0039】図4(f)及び図5(f)のイオンミリン
グ処理により、パターン化したものである。図5(f)
から分かるように導体の容量結合部分38が構成されて
いる。
グ処理により、パターン化したものである。図5(f)
から分かるように導体の容量結合部分38が構成されて
いる。
【0040】図4(g)及び図5(g)は第3の絶縁膜
39をスパッタリング形成した後イオンミリング処理に
よりパターン化し、その後第2の磁性層30をスパッタ
リング形成し、ドライまたはケミカルエッチングにより
パターン化したものである。
39をスパッタリング形成した後イオンミリング処理に
よりパターン化し、その後第2の磁性層30をスパッタ
リング形成し、ドライまたはケミカルエッチングにより
パターン化したものである。
【0041】ここで重要なのは、絶縁膜33、35、3
9の大きさが第1の磁性層32及び第2の磁性層30の
パターンよりも小さいことである。その理由は、磁気コ
アに絶縁層33、35、39による磁気ギャップが形成
されないようにするためである。もし、ここでギャップ
が形成されてしまうと、再生時に、磁気記録媒体からの
漏洩磁束が第1及び第2の磁性層を磁化する際に磁束が
漏れ、損失が生じ再生効率が下がる。また、再生時に導
体層34、37に流れているキャリア信号電流によって
生じる磁性層32、30内部の磁束が、磁気コア表面に
おいて形成された前記ギャップから漏れてしまい、その
磁束によって磁気記録媒体が磁化されてしまう可能性が
あるからである。
9の大きさが第1の磁性層32及び第2の磁性層30の
パターンよりも小さいことである。その理由は、磁気コ
アに絶縁層33、35、39による磁気ギャップが形成
されないようにするためである。もし、ここでギャップ
が形成されてしまうと、再生時に、磁気記録媒体からの
漏洩磁束が第1及び第2の磁性層を磁化する際に磁束が
漏れ、損失が生じ再生効率が下がる。また、再生時に導
体層34、37に流れているキャリア信号電流によって
生じる磁性層32、30内部の磁束が、磁気コア表面に
おいて形成された前記ギャップから漏れてしまい、その
磁束によって磁気記録媒体が磁化されてしまう可能性が
あるからである。
【0042】なお、各層の製法および材質は、ここに記
載したものに限られるものではない。磁性層の材質とし
ては、例えばNiFe合金、Co系の他のアモルファス
膜でも良いし、Fe系の膜でも良い。また製法も、蒸着
やスパッター、メッキ等様々な薄膜製法を用いてもよ
い。第1の磁性層と第2の磁性層は違う材質でもよい。
載したものに限られるものではない。磁性層の材質とし
ては、例えばNiFe合金、Co系の他のアモルファス
膜でも良いし、Fe系の膜でも良い。また製法も、蒸着
やスパッター、メッキ等様々な薄膜製法を用いてもよ
い。第1の磁性層と第2の磁性層は違う材質でもよい。
【0043】また、高周波での透磁率を高めるための、
磁気コアの多層化なども、有効である。
磁気コアの多層化なども、有効である。
【0044】さらに、基板の材質や保護膜の材質及び製
法も本実施例に限定されるものではない。
法も本実施例に限定されるものではない。
【0045】次に、磁気再生方法及び磁気再生装置に関
する第3の実施例について、図6及び図7を用いて説明
する。図6は、本発明の磁気再生装置を示す概念図であ
り、図7は本発明の磁気再生装置に特に必要な記録再生
回路について示した図である。
する第3の実施例について、図6及び図7を用いて説明
する。図6は、本発明の磁気再生装置を示す概念図であ
り、図7は本発明の磁気再生装置に特に必要な記録再生
回路について示した図である。
【0046】図6において、磁気ヘッド400は第1の
実施例で述べた本発明の磁気ヘッドと同じものである。
この磁気ヘッド400は、図示していない浮上型スライ
ダー上に設置されている。第1の磁性層41と第2の磁
性層42とからなる磁気コア46を貫通するように絶縁
配置された導体線45の両端に電極端子43、44が設
けられている。導体線45には磁性層41、42を一方
向にバイアス磁化するために微小レベルの直流電流が流
れる。
実施例で述べた本発明の磁気ヘッドと同じものである。
この磁気ヘッド400は、図示していない浮上型スライ
ダー上に設置されている。第1の磁性層41と第2の磁
性層42とからなる磁気コア46を貫通するように絶縁
配置された導体線45の両端に電極端子43、44が設
けられている。導体線45には磁性層41、42を一方
向にバイアス磁化するために微小レベルの直流電流が流
れる。
【0047】ディスク状磁気記録媒体40は、面内に磁
気容易軸を有するいわゆる面内記録用の記録媒体であ
る。当該ディスク状磁気記録憶媒体40は、非常に平滑
な表面を持つガラスディスク上に記録層として膜厚0.
03μmのCoNiCr膜が被着形成されており、その
直径は25mmである。本実施例の磁気情報再生装置
は、スピンドルモーター等によってディスク状磁気記録
媒体40が図4中の矢印Aの方向に回転し、磁気ヘッド
400が前記ディスク状媒体の上を浮上しながら記録再
生を行う。49は、ディスク状磁気記録媒体40に記録
された磁気情報の磁化ベクトルを示している。
気容易軸を有するいわゆる面内記録用の記録媒体であ
る。当該ディスク状磁気記録憶媒体40は、非常に平滑
な表面を持つガラスディスク上に記録層として膜厚0.
03μmのCoNiCr膜が被着形成されており、その
直径は25mmである。本実施例の磁気情報再生装置
は、スピンドルモーター等によってディスク状磁気記録
媒体40が図4中の矢印Aの方向に回転し、磁気ヘッド
400が前記ディスク状媒体の上を浮上しながら記録再
生を行う。49は、ディスク状磁気記録媒体40に記録
された磁気情報の磁化ベクトルを示している。
【0048】図7は、本実施例の再生回路のブロック図
である。当該再生装置は、磁気ヘッド500と、キャリ
ア信号発生器55と、再生信号検出回路56と、再生ア
ンプ57と、再生信号処理回路58とから構成される。
である。当該再生装置は、磁気ヘッド500と、キャリ
ア信号発生器55と、再生信号検出回路56と、再生ア
ンプ57と、再生信号処理回路58とから構成される。
【0049】磁気ヘッド500は、本発明の磁気ヘッド
400を等価回路的に示したものである。当該磁気ヘッ
ド500は、インピーダンス素子51を有する。インピ
ーダンス素子51は、再生時において、磁気コアに設け
られた導体線45をインピーダンス素子として等価的に
示したものである。図6の電極端子43と44に相当す
る電極端子52、53が接続されている。
400を等価回路的に示したものである。当該磁気ヘッ
ド500は、インピーダンス素子51を有する。インピ
ーダンス素子51は、再生時において、磁気コアに設け
られた導体線45をインピーダンス素子として等価的に
示したものである。図6の電極端子43と44に相当す
る電極端子52、53が接続されている。
【0050】キャリア信号発生器55は、再生時に電極
端子52と53を介してインピーダンス素子51にキャ
リア信号である交流の定電流を流す。また、図示してい
ないがバイヤス磁界を発生させるため導体線45に微小
電流を流す。当該キャリア信号発生器55は、キャリア
信号の発振回路と定電流ドライブ回路と導体線に直流電
流を流す回路とからなる。キャリア信号の周波数は例え
ば500MHzである。
端子52と53を介してインピーダンス素子51にキャ
リア信号である交流の定電流を流す。また、図示してい
ないがバイヤス磁界を発生させるため導体線45に微小
電流を流す。当該キャリア信号発生器55は、キャリア
信号の発振回路と定電流ドライブ回路と導体線に直流電
流を流す回路とからなる。キャリア信号の周波数は例え
ば500MHzである。
【0051】再生信号検出回路56は、AM検波回路
(不図示)及びAM復調回路(不図示)とから構成され
る。AM検波回路は、電極端子52と電極端子53との
間の信号を検出する。AM復調回路は、前記AM検波回
路で検出されたAM波を復調して、本来再生すべき信号
を出力する。
(不図示)及びAM復調回路(不図示)とから構成され
る。AM検波回路は、電極端子52と電極端子53との
間の信号を検出する。AM復調回路は、前記AM検波回
路で検出されたAM波を復調して、本来再生すべき信号
を出力する。
【0052】再生アンプ57は、再生信号検出回路56
で復調された再生信号を増幅する。再生信号処理回路5
8は、再生アンプ57で増幅された再生信号を、出力す
るに適した信号に変換する。例えば符号復調などを行
う。変換された信号は、出力端子59から出力される。
で復調された再生信号を増幅する。再生信号処理回路5
8は、再生アンプ57で増幅された再生信号を、出力す
るに適した信号に変換する。例えば符号復調などを行
う。変換された信号は、出力端子59から出力される。
【0053】次に、本実施例の磁気再生装置の再生動作
を図6及び図7を用いて説明する。先ず、図6に示す磁
気ヘッド400がディスク状磁気記録媒体40上の記録
磁化49上を走査する。記録磁化49の上を走査する
と、磁性層41、42からなる磁気コア46に記録磁化
49からの漏洩磁束が通る。磁気コア46は、前記磁束
によって磁化され、透磁率は低下する。
を図6及び図7を用いて説明する。先ず、図6に示す磁
気ヘッド400がディスク状磁気記録媒体40上の記録
磁化49上を走査する。記録磁化49の上を走査する
と、磁性層41、42からなる磁気コア46に記録磁化
49からの漏洩磁束が通る。磁気コア46は、前記磁束
によって磁化され、透磁率は低下する。
【0054】一方、電極端子43、44間には、図7に
示すキャリア信号発生器55により2MHzのキャリア
信号電流が流されており、その電流により変化する電極
端子43、44間の信号電圧Vは、V=ZI(但しI
は、一定)の関係式より電極端子間のインピーダンスZ
により決定される。このインピーダンスZは、磁気コア
46の透磁率が低下すると、インピーダンスZも低下す
る関係にある。即ち、磁気記録媒体からの漏れ磁界が大
きいとインピーダンスZが小さくなり、漏れ磁界が小さ
いとインピーダンスZが大きくなる関係にある。例え
ば、図8に示すように、磁気ヘッドが読み取った磁気記
録媒体のもれ磁界が、−a〜+aの範囲で変動している
とする。ここで、−+の極性は、磁界の向きを示す。す
ると、図9に示すように、インピーダンスZの値は、磁
気記録媒体からの漏れ磁界である外部磁界Hextが0の
ときは、インピーダンス値は、大きな値b2をとり、漏
れ磁界が、−a又は+aのときは、小さい値b2をと
る。
示すキャリア信号発生器55により2MHzのキャリア
信号電流が流されており、その電流により変化する電極
端子43、44間の信号電圧Vは、V=ZI(但しI
は、一定)の関係式より電極端子間のインピーダンスZ
により決定される。このインピーダンスZは、磁気コア
46の透磁率が低下すると、インピーダンスZも低下す
る関係にある。即ち、磁気記録媒体からの漏れ磁界が大
きいとインピーダンスZが小さくなり、漏れ磁界が小さ
いとインピーダンスZが大きくなる関係にある。例え
ば、図8に示すように、磁気ヘッドが読み取った磁気記
録媒体のもれ磁界が、−a〜+aの範囲で変動している
とする。ここで、−+の極性は、磁界の向きを示す。す
ると、図9に示すように、インピーダンスZの値は、磁
気記録媒体からの漏れ磁界である外部磁界Hextが0の
ときは、インピーダンス値は、大きな値b2をとり、漏
れ磁界が、−a又は+aのときは、小さい値b2をと
る。
【0055】ただし、このインピーダンス値の高低は、
記録磁化49からの漏れ磁界の強さに反比例するもの
の、記録磁化49の極性には無関係である。コアを通過
する磁束量が同じであれば、電極端子43、44間の信
号電圧は同じになる。
記録磁化49からの漏れ磁界の強さに反比例するもの
の、記録磁化49の極性には無関係である。コアを通過
する磁束量が同じであれば、電極端子43、44間の信
号電圧は同じになる。
【0056】そこで、このままではいかなる信号処理を
行っても記録磁化を再現することができないので、記録
磁化の極性によってインピーダンス値が変化するように
するため磁気コアを一方向に直流バイアス磁化してい
る。具体的には、例えば、図6に示す導体線45に直流
の微小電流(図7に示すキャリア信号発生器55から流
される。)を流すことにより磁気コアを一方向に直流バ
イアス磁化する。その結果、記録磁化49の極性に応じ
て信号電圧が変化するようになる。図10は、大きさd
で極性が−のバイアス磁界をかけたときの、インピーダ
ンスZと外部磁界Hextの関係を示した図である。図9
と対比してみると、バイアス磁界dの分だけ、曲線が右
に移動していることが分かる。インピーダンスZの値
は、磁気記録媒体からの漏れ磁界が−aのときは、イン
ピーダンス値は最小値c3をとり、漏れ磁界が0のとき
は、インピーダンスZの値は中間値c2をとり、漏れ磁
界が+aのときは、最大値c1をとっていることから分
かるように、外部磁界の極性を反映したインピーダンス
値をとる。
行っても記録磁化を再現することができないので、記録
磁化の極性によってインピーダンス値が変化するように
するため磁気コアを一方向に直流バイアス磁化してい
る。具体的には、例えば、図6に示す導体線45に直流
の微小電流(図7に示すキャリア信号発生器55から流
される。)を流すことにより磁気コアを一方向に直流バ
イアス磁化する。その結果、記録磁化49の極性に応じ
て信号電圧が変化するようになる。図10は、大きさd
で極性が−のバイアス磁界をかけたときの、インピーダ
ンスZと外部磁界Hextの関係を示した図である。図9
と対比してみると、バイアス磁界dの分だけ、曲線が右
に移動していることが分かる。インピーダンスZの値
は、磁気記録媒体からの漏れ磁界が−aのときは、イン
ピーダンス値は最小値c3をとり、漏れ磁界が0のとき
は、インピーダンスZの値は中間値c2をとり、漏れ磁
界が+aのときは、最大値c1をとっていることから分
かるように、外部磁界の極性を反映したインピーダンス
値をとる。
【0057】このように、外部磁界及びキャリア信号電
流に基づいて変化するインピーダンス値に基づいて変化
する電圧が、電極端子52、53に現れる。
流に基づいて変化するインピーダンス値に基づいて変化
する電圧が、電極端子52、53に現れる。
【0058】ここで、磁気ヘッド400は、次々に極性
やその長さの異なる記録磁化上を走査するので、電極端
子52、53間の電圧の変化は、キャリア信号電流をキ
ャリアーとするAM波となる。このAM波は、再生信号
検出回路56において再生信号として復調され、再生ア
ンプ57に出力される。再生アンプ57は、復調された
再生信号を増幅し、再生信号処理回路58に出力する。
再生信号処理回路58は、再生信号を出力するに適した
信号に変換し、出力端子59から出力する。
やその長さの異なる記録磁化上を走査するので、電極端
子52、53間の電圧の変化は、キャリア信号電流をキ
ャリアーとするAM波となる。このAM波は、再生信号
検出回路56において再生信号として復調され、再生ア
ンプ57に出力される。再生アンプ57は、復調された
再生信号を増幅し、再生信号処理回路58に出力する。
再生信号処理回路58は、再生信号を出力するに適した
信号に変換し、出力端子59から出力する。
【0059】ここでインピーダンスZの絶対値は(数
1)で表わされる。
1)で表わされる。
【0060】
【数1】
【0061】前述したように出力はZに比例するため、
高出力を得るには磁気コアを貫通した各導体のZIが単
純に加算されれば良い。ところが磁気コアを4カ所で貫
通した本発明の磁気ヘッド400の導体45のインピー
ダンスZは、その位相がインダクタンス(L)成分によ
り遅れ、キャパシタンス(C)成分により進むため各導
体間で位相のずれが生じる。そこでL成分による位相の
遅れとC成分による位相の進みが相殺されるように、す
なわち(数2)に示す如く磁気ヘッド400の容量結合
部分47の絶縁層48の厚さを決定した。
高出力を得るには磁気コアを貫通した各導体のZIが単
純に加算されれば良い。ところが磁気コアを4カ所で貫
通した本発明の磁気ヘッド400の導体45のインピー
ダンスZは、その位相がインダクタンス(L)成分によ
り遅れ、キャパシタンス(C)成分により進むため各導
体間で位相のずれが生じる。そこでL成分による位相の
遅れとC成分による位相の進みが相殺されるように、す
なわち(数2)に示す如く磁気ヘッド400の容量結合
部分47の絶縁層48の厚さを決定した。
【0062】
【数2】
【0063】このような処理をする事でZIは4カ所で
貫通した導体のそれぞれのZI(1〜4)の和、即ち、 ZI=ZI(1)+ZI(2)+ZI(3)+ZI
(4)となる。
貫通した導体のそれぞれのZI(1〜4)の和、即ち、 ZI=ZI(1)+ZI(2)+ZI(3)+ZI
(4)となる。
【0064】(数2)から絶縁層48の厚さの求め方に
ついて説明する。(数3)はキャパシタンスを示す。
ついて説明する。(数3)はキャパシタンスを示す。
【0065】
【数3】
【0066】インピーダンスについては(数4)に示す
如く仮定した。
如く仮定した。
【0067】
【数4】
【0068】式中の代理数については図11に示す。こ
こで導体45は銅であるから比透磁率は1である。絶縁
層PLZTの比誘電率は2300である。絶縁面の面積
Sは50μm×25μmとした。導体45の断面積は2
5μm×1ミクロンとした。従ってr2は2ミクロンで
ある。r1は100μmとした。キャリア周波数は50
0MHzである。(数2)に(数3)及び、(数4)を
代入する事で絶縁層48の厚さは7nmとした。実施例
においてはスパッタリングによりPLZTを製膜した後
膜厚を測定し、7nmのものを選択することで絶縁層4
8の厚さを制御した。
こで導体45は銅であるから比透磁率は1である。絶縁
層PLZTの比誘電率は2300である。絶縁面の面積
Sは50μm×25μmとした。導体45の断面積は2
5μm×1ミクロンとした。従ってr2は2ミクロンで
ある。r1は100μmとした。キャリア周波数は50
0MHzである。(数2)に(数3)及び、(数4)を
代入する事で絶縁層48の厚さは7nmとした。実施例
においてはスパッタリングによりPLZTを製膜した後
膜厚を測定し、7nmのものを選択することで絶縁層4
8の厚さを制御した。
【0069】このようにL成分による位相の遅れとC成
分による位相の進みが相殺されるようにすることで、全
ての導体のインピーダンス成分の単純和として出力を検
出することができ、精度を上げることができる。
分による位相の進みが相殺されるようにすることで、全
ての導体のインピーダンス成分の単純和として出力を検
出することができ、精度を上げることができる。
【0070】以上説明してきたように、本発明の磁気イ
ンピーダンス素子を用い、記録は従来の方法で行ない、
再生を磁気インピーダンス素子により行なうことで、従
来の複合型MRヘッドのように再生用に特に磁気ギャッ
プを設ける必要がなく、さらにシールド層も必要がない
比較的簡単な構成で、再生感度が従来の誘導型ヘッドよ
りも優れた磁束応答型の磁気記録再生ヘッドが得られ
る。
ンピーダンス素子を用い、記録は従来の方法で行ない、
再生を磁気インピーダンス素子により行なうことで、従
来の複合型MRヘッドのように再生用に特に磁気ギャッ
プを設ける必要がなく、さらにシールド層も必要がない
比較的簡単な構成で、再生感度が従来の誘導型ヘッドよ
りも優れた磁束応答型の磁気記録再生ヘッドが得られ
る。
【0071】なお、磁気コア等の材質は、ここに記載し
たものに限られるものではない。材質としては、例え
ば、Co系の他のアモルファス膜でも良いし、Fe系の
膜でも良い。磁気ヘッドの磁気コアと磁気インピーダン
ス素子の磁気コアとは同じ材質でもよい。
たものに限られるものではない。材質としては、例え
ば、Co系の他のアモルファス膜でも良いし、Fe系の
膜でも良い。磁気ヘッドの磁気コアと磁気インピーダン
ス素子の磁気コアとは同じ材質でもよい。
【0072】また、高周波での透磁率を高めるための、
磁気インピーダンス素子の磁気コアの多層化なども、有
効である。
磁気インピーダンス素子の磁気コアの多層化なども、有
効である。
【0073】さらに、磁気ヘッドの形状も本実施例に示
された形状に限定されるものではない。磁気インピーダ
ンス素子は磁気コアの磁化容易軸が磁気ヘッドの磁気コ
ア中の磁束に平行であれば本実施例以外の磁気コア中の
他の部分に配置されてもよい。
された形状に限定されるものではない。磁気インピーダ
ンス素子は磁気コアの磁化容易軸が磁気ヘッドの磁気コ
ア中の磁束に平行であれば本実施例以外の磁気コア中の
他の部分に配置されてもよい。
【0074】
【発明の効果】請求項1の発明の磁気ヘッドは、磁気コ
アを貫通する導体が絶縁配置された構成であり、MRヘ
ッドと比較し、より単純な構造であるので、その製造工
程もより単純であって、比較的高い歩留まりを確保しや
すく、量産性に優れている。さらに、従来よりも感度の
高い磁気インピーダンス効果による再生が可能になる。
また、磁気コアの複数カ所において導体が貫通絶縁配置
されることから更に高感度が達成できる。さらに従来の
MRヘッド同様に磁束応答型なので、記録再生装置の小
型化による低速度化にも対応できる。
アを貫通する導体が絶縁配置された構成であり、MRヘ
ッドと比較し、より単純な構造であるので、その製造工
程もより単純であって、比較的高い歩留まりを確保しや
すく、量産性に優れている。さらに、従来よりも感度の
高い磁気インピーダンス効果による再生が可能になる。
また、磁気コアの複数カ所において導体が貫通絶縁配置
されることから更に高感度が達成できる。さらに従来の
MRヘッド同様に磁束応答型なので、記録再生装置の小
型化による低速度化にも対応できる。
【0075】請求項2及び請求項3の発明は、導体を容
量結合することでインピーダンス成分の遅れをキャパシ
タンス成分の進みで相殺することが可能となり、感度の
高いヘッドを提供できる。
量結合することでインピーダンス成分の遅れをキャパシ
タンス成分の進みで相殺することが可能となり、感度の
高いヘッドを提供できる。
【0076】請求項4における発明では、鉛、ランタ
ン、亜鉛、及びチタンを主成分とする酸化物は比誘電率
が高いため、本発明の磁気ヘッドにおいて絶縁層の厚さ
が制御可能となる。
ン、亜鉛、及びチタンを主成分とする酸化物は比誘電率
が高いため、本発明の磁気ヘッドにおいて絶縁層の厚さ
が制御可能となる。
【0077】請求項5の発明では、導体を2回に分けて
形成することで、容量結合を精度良く行なうことが出来
る。
形成することで、容量結合を精度良く行なうことが出来
る。
【0078】請求項6の発明では、ヘッドの導体のイン
ダクタンス成分による位相の遅れとキャパシタンス成分
による位相の進みが相殺されるように容量結合部分の絶
縁層の厚さを決定することで、全ての導体のインピーダ
ンス成分の単純和として出力を検出することができ、簡
単に高感度を達成できる。
ダクタンス成分による位相の遅れとキャパシタンス成分
による位相の進みが相殺されるように容量結合部分の絶
縁層の厚さを決定することで、全ての導体のインピーダ
ンス成分の単純和として出力を検出することができ、簡
単に高感度を達成できる。
【0079】請求項7の発明は、本発明の磁気ヘッドを
登載することで磁気インピーダンス効果による再生が可
能となり、再生感度が従来の誘導型ヘッドよりも優れて
いる。さらに従来のMRヘッド同様に磁束応答型なの
で、記録再生装置の小型化による低速度化にも対応でき
る磁気再生装置を提供できる。
登載することで磁気インピーダンス効果による再生が可
能となり、再生感度が従来の誘導型ヘッドよりも優れて
いる。さらに従来のMRヘッド同様に磁束応答型なの
で、記録再生装置の小型化による低速度化にも対応でき
る磁気再生装置を提供できる。
【図1】本発明の磁気ヘッドの外観図
【図2】本発明の磁気ヘッドの外観図
【図3】本発明の磁気ヘッドの等価回路図
【図4】本発明の第2の実施例の製造方法を説明するた
めの断面図
めの断面図
【図5】本発明の第2の実施例の製造方法を説明するた
めの断面図
めの断面図
【図6】本発明の磁気再生装置の概念図
【図7】本発明の磁気再生装置のブロック図
【図8】媒体からの漏れ磁界の経時変化を示す図
【図9】バイアス磁界がかけられていない場合の、外部
磁界とインピーダンスとの関係を示す図
磁界とインピーダンスとの関係を示す図
【図10】バイアス磁界がかけられている場合の、外部
磁界とインピーダンスとの関係を示す図
磁界とインピーダンスとの関係を示す図
【図11】本発明の磁気ヘッドを示す概略図
1 第1の磁性層 2 第2の磁性層 3 導体線 4 絶縁層 5,6 電極端子 7 絶縁膜 21 インピーダンス素子 22 キャリヤ信号発生器 23,24 電極端子 25 再生電圧出力回路 26 端子 31 基板 32 第1の磁性層 33 第1の絶縁膜 34 導体層 35 第2の絶縁膜 36 絶縁層 37 第2の磁性層 38 容量結合部分 39 第3の絶縁膜 30 第2の磁性層 400 磁気ヘッド 40 ディスク状磁気記録媒体 41 第1の磁性層 42 第2の磁性層 43 電極端子 44 電極端子 45 導体線 46 磁気コア 47 容量結合部分 48 絶縁層 49 磁気情報の磁化ベクトル 500 磁気ヘッド 51 インピーダンス素子 52,53 電極端子 55 キャリア信号発生器 56 再生信号検出回路 57 再生アンプ 58 再生信号処理回路 59 出力端子
Claims (7)
- 【請求項1】 第1及び第2の軟磁性層からなる磁気コ
アと前記磁気コア中に絶縁配置した導体とからなり、前
記導体の両端に電極を備え、前記導体が前記磁気コア中
の少なくとも複数ヵ所において絶縁配置されることを特
徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項2】 前記導体は導体中に所望厚からなる絶縁
層を挟むことで容量結合されることを特徴とする請求項
1記載の磁気ヘッド。 - 【請求項3】 前記磁気コアは第1及び第2の軟磁性層
からなり、前記導体は前記第1及び第2の軟磁性層との
間に絶縁配置された導体層であり、前記導体に設けられ
た前記容量結合部分は前記磁気コアの外部に位置するこ
とを特徴とする請求項2記載の磁気ヘッド。 - 【請求項4】 前記容量結合を構成する絶縁層は鉛、ラ
ンタン、亜鉛、及びチタンを主成分とする酸化物である
事を特徴とする請求項3記載の磁気ヘッド。 - 【請求項5】 前記第1の磁性層を形成する工程と、第
1の絶縁層を形成する第1の絶縁層形成工程と、前記第
1の絶縁層の上に前記導体層の一部をパターン形成する
第1の導体層形成工程と、第2の絶縁層を形成する第2
の絶縁層形成工程と容量結合の誘電体部分である絶縁層
の形成工程と前記導体層の残りの部分をパターン形成す
る第2の導体層形成工程と、前記導体層の上に第3の絶
縁層を形成する第3の絶縁層形成工程と、前記第3の絶
縁層の上に第2の磁性層を形成する第2の磁性層形成工
程とを有することを特徴とする請求項3記載の磁気ヘッ
ドの製造方法。 - 【請求項6】 請求項2記載のヘッドを用いた再生方法
であって、前記ヘッドの導体のインダクタンス成分によ
る位相の遅れとキャパシタンス成分による位相の進みが
相殺されるように前記容量結合部分の絶縁層の厚さを決
定し、全ての導体のインピーダンス成分の単純和として
出力を検出することを特徴とする再生方法。 - 【請求項7】 前記導体の両端の電極に定電流の高周波
信号を印加するキャリア信号発生器と、前記磁気コアに
バイアス磁界を発生させるバイアス磁界発生手段とを有
し、請求項2記載の磁気ヘッドを用いたことを特徴とす
る磁気再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8141405A JPH09320020A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 磁気ヘッド及び磁気ヘッドの製造方法及び再生方法及び磁気再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8141405A JPH09320020A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 磁気ヘッド及び磁気ヘッドの製造方法及び再生方法及び磁気再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09320020A true JPH09320020A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15291248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8141405A Pending JPH09320020A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 磁気ヘッド及び磁気ヘッドの製造方法及び再生方法及び磁気再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09320020A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003009403A1 (en) * | 2001-07-19 | 2003-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic sensor and method for manufacturing the same |
-
1996
- 1996-06-04 JP JP8141405A patent/JPH09320020A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003009403A1 (en) * | 2001-07-19 | 2003-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic sensor and method for manufacturing the same |
| JPWO2003009403A1 (ja) * | 2001-07-19 | 2004-11-11 | 松下電器産業株式会社 | 磁気センサ及びその製造方法 |
| US7145331B2 (en) | 2001-07-19 | 2006-12-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetic sensor having a closed magnetic path formed by soft magnetic films |
| CN100356605C (zh) * | 2001-07-19 | 2007-12-19 | 松下电器产业株式会社 | 磁性传感器及其制造方法 |
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