JPH09321386A - 半導体レーザーの自動パワー制御装置および自動パワー制御方法 - Google Patents

半導体レーザーの自動パワー制御装置および自動パワー制御方法

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JPH09321386A
JPH09321386A JP13343396A JP13343396A JPH09321386A JP H09321386 A JPH09321386 A JP H09321386A JP 13343396 A JP13343396 A JP 13343396A JP 13343396 A JP13343396 A JP 13343396A JP H09321386 A JPH09321386 A JP H09321386A
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Tetsuya Nakamura
哲哉 中村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体レーザーの自動パワー制御(APC)
回路で半導体レーザーがサージ電流等によりダメージを
受けた場合に、すみやかにその異常を検知することがで
き、またその後の処置、トラブルの原因究明が容易にな
るようにする。 【解決手段】 APC区間の毎回の終了時点でアップ/
ダウンカウンタのカウント値(以下、制御量)を記憶す
るラッチ14と、APC区間内で変化している制御量か
らラッチ14に記憶された制御量を減算する減算器15
と、減算器15の出力とレジスタ17の所定の基準値と
を比較するコンパレータ18と、減算器15の出力が所
定の基準値よりも大きくなった場合は半導体レーザーに
何らかの異常が発生したと判断してAPCエラー信号を
生成するとともに、ANDゲート10を介して上記制御
量のそれ以上の増加を停止することで駆動電流源4の駆
動電流値の増加も停止するフリップフロップ19とを有
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザーの
自動パワー制御(Auto Power Contro
l;APC)装置および自動パワー制御方法に関する。
【0002】本発明は、特に、レーザービームプリンタ
等の、半導体レーザーの不規則なパルス駆動を行い、か
つ間欠的にAPC動作を行う機器において有効なもので
ある。また、本発明は、半導体レーザーを使用した電子
写真式の画像形成装置としては上記のレーザービームプ
リンタに限らず、この種のプリント機構を内蔵したデジ
タル複写機、ファクシミリ装置、券売機等の各種機器に
も好適である。
【0003】
【従来の技術】半導体レーザーの一般的な電流−光出力
特性を、図4に示す。同図から分かるように、半導体レ
ーザーの光出力特性は温度変化に敏感なため、一定電流
で駆動していても周囲の温度変化あるいは自己発熱等
で、光出力は大きく変動してしまう。
【0004】この光出力の温度依存性に反応するため、
半導体レーザーのパッケージ中には、一般にモニターダ
イオードと呼ばれるフォトダイオードが組み込まれてお
り、このフォトダイオードにより半導体レーザーの光出
力をモニターしてレーザー駆動電流を制御することで光
出力を一定に保つことができるようになっている。この
ようなフィードバック制御機構を持つ半導体レーザーの
駆動回路をAPC回路と呼んでいる。
【0005】さて、レーザービームプリンタ等の、画像
信号により半導体レーザーをオン/オフさせるような駆
動回路においては、レーザー点灯の時間が不規則なた
め、画像領域外で一定時間レーザーを連続点灯させてA
PC回路を動作させることが一般的である。このような
周期的に設定された特定の区間でのみフィードバック制
御を行って、半導体レーザーの光出力を一定に制御する
ような間欠的APC回路の従来例を、図5に示す。
【0006】図5において、1は半導体レーザー、2は
上記のモニターダイオード、3は半導体レーザー1の駆
動電流をオン/オフする電流スイッチング回路、4は半
導体レーザー1の駆動電流を供給する駆動電流源、5は
モニターダイオード2の電流出力をモニター電圧に変換
する抵抗、6は基準電圧を供給する基準電圧源、7はモ
ニター電圧と基準電圧とを比較するコンパレータであ
る。
【0007】また、8はコンパレータ7の比較結果であ
るアップ/ダウン信号によりアップカウントとダウンカ
ウントを切替えてクロックをカウントするアップ/ダウ
ンカウンタであり、イネーブル信号がインアクティブ
(ロー)になるとリセットされる。9はこのカウンタ8
のクロックを発生する発振回路、41はAPC区間信号
が示すAPC区間内でのみカウンタ8にクロックを供給
するようにするためのANDゲート、11はカウンタ8
のカウント出力を駆動電流源4のコントロール信号(コ
ントロール電圧)に変換するためのD/A(デジタル・
アナログ)コンバータである。
【0008】さらに、12は画像データ信号とAPC区
間信号とを合成して半導体レーザー1のオン/オフ信号
を作るためのOR(論理和)ゲート、13はイネーブル
信号がアクティブ(ハイ)の時にのみ電流スイッチング
回路3にレーザーオンパルスが加わるようにするための
AND(論理積)ゲートである。
【0009】図5の半導体レーザーAPC回路の動作を
次に説明する。まず、周期的に設定された特定の区間で
あるAPC区間においては、APC区間信号がハイ(H
igh)になり、そのため半導体レーザー1が点灯する
とともに、アップ/ダウンカウンタ8にクロックが供給
される。そして、モニターダイオード2の出力は抵抗5
により電圧に変換され、変換されたこのモニター電圧が
コンパレータ7により基準電圧源6の基準電圧と比較さ
れる。この比較結果がカウンタ8のアップ/ダウン信号
となり、モニター電圧が基準電圧よりも低い時にはカウ
ンタ8はアップカウントし、逆にモニター電圧が基準電
圧よりも高い時にはカウンタ8はダウンカウントする。
【0010】カウンタ8のカウント出力はD/Aコンバ
ータ11によりアナログ電圧に変換されて、駆動電流源
4のコントロール信号(コントロール電圧)となる。駆
動電流源4では、カウント出力(コントロール電圧)の
大小に比例して半導体レーザー1の駆動電流の大きさが
決定されるので、フィードバック制御がかかり、結果と
して上記のモニター電圧が基準電圧に等しくなるように
レーザー駆動電流の大きさが決定される。
【0011】次に、APC区間外になると、APC区間
信号はロー(Low)になり、そのためカウンタ8への
クロックの供給が停止するので、そのカウント出力は一
定値を保ち、D/Aコンバータ11のアナログ出力も一
定になるから、駆動電流源4の電流値も固定される。そ
の結果、画像形成区間においては、半導体レーザー1は
前回のAPC区間おいて決定された電流値で、画像デー
タ信号に従ってオン/オフされることとなる。
【0012】図5中のイネーブル信号は、レーザー点灯
時にはアップ/ダウンカウンタ8と、電流スイッチング
回路3とをアクティブにして上記動作を行わせ、レーザ
ー消灯時(画像形成を行わない時間)にはカウンタ8を
リセットし、電流スイッチング回路3をインアクティブ
にして半導体レーザー1に電流が流れないようにするた
めの信号である。
【0013】半導体レーザーを使用するレーザービーム
プリンタ等においては、一般にこのようにAPC区間を
定期的に設けることにより、レーザーの光出力を一定に
制御している。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、もしも
上記の半導体レーザーが何らかの原因(例えばサージ電
流等)でダメージを受けた場合には、図6に示すよう
に、そのスレッショルド電流(しきい値電流)が増加し
て、スロープ効率も悪化する。その後も、その半導体レ
ーザーに通電を続けると、スレッショルド電流はさらに
時間とともに増大し、スロープ効率もさらに悪化して、
最終的にはほとんどレーザー発振をしない状態に至る。
【0015】このようなダメージを受けた半導体レーザ
ーを、上記のような従来のAPC回路で駆動すると、光
出力を一定に保とうとするために、レーザー駆動電流を
どんどん増加させてしまい、結果的に半導体レーザーの
劣化を加速してしまうことになる。
【0016】一般に、半導体レーザーのダメージは不可
逆的で回復することはないから、早めにそのダメージを
検出してシステムに半導体レーザーの異常を知らせ、部
品交換を促すことが必要である。
【0017】しかし、上記従来例では、半導体レーザー
のダメージが時間とともに進行し、所定の光出力を得る
ためのレーザー駆動電流がAPC回路の最大出力可能な
電流値を越えて光出力が下がり始め、正常な画像形成が
できなくならないと、半導体レーザーの異常を検知でき
なかった。そのため、半導体レーザーにダメージを与え
た原因の特定が難しくなり、トラブル解析に時間がかか
ることがしばしばあった。
【0018】本発明の目的は、上述の課題を解決すべ
く、半導体レーザーのダメージを早めに検出してシステ
ムに半導体レーザーの異常を知らせ、部品交換を促すこ
と、また半導体レーザーのダメージの進行を抑え、半導
体レーザーの故障モード解析によるトラブル原因の推定
をやりやすくすることを可能にすることにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、APC区間でフィードバック制御を行っ
た際の半導体レーザー駆動電流の増加分を検知し、それ
がある一定値を越えた場合には半導体レーザーの異常と
してシステムにエラー信号を返す。これにより、半導体
レーザーのダメージを早めに検出してシステムに半導体
レーザーの異常を知らせ、部品交換を促すことができ
る。
【0020】また、本発明は、半導体レーザーの異常を
検知した場合には、レーザー駆動電流の増加をストップ
する。これにより、半導体レーザーのダメージの進行を
抑え、半導体レーザーの故障モード解析によるトラブル
原因の推定をやりやすくすることができる。
【0021】更に詳細には、本発明の半導体レーザーの
自動パワー制御装置は、周期的に設定された特定の区間
でのみフィードバック制御を行って半導体レーザーの光
出力を一定の目標値に制御する自動パワー制御装置にお
いて、前記半導体レーザーの光出力を検出する光出力検
出手段と、該光出力検出手段の検出値と前記目標値とを
比較する比較手段と、該比較手段の出力に基づいて前記
光出力検出手段の検出値を前記目標値に一致させるよう
に特定の制御量を増減させる制御量増減手段と、該制御
量増減手段で増減された前記制御量の大小に従って前記
半導体レーザーの駆動電流値を決定する駆動電流値決定
手段と、前記特定の区間以外では前記制御量増減手段で
増減された前記制御量を一定に保持することによって前
記半導体レーザーの駆動電流値を一定に保持する駆動電
流値保持手段と、前記半導体レーザーの駆動電流をオン
/オフして前記半導体レーザーを点灯/消灯させる電流
スイッチング手段と、前記制御量増減手段で増減された
前記制御量を前記特定の区間の毎回の終了時点で記憶す
る制御量記憶手段と、前記特定の区間内で変化している
前記制御量増減手段で増減された前記制御量から前記制
御量記憶手段に記憶されている直前の制御量を減算する
減算手段と、該減算手段の出力と所定の基準値とを比較
して該減算手段の出力が該基準値よりも大きくなったか
否かを判断する判断手段と、前記減算手段の出力が前記
基準値よりも大きくなったとの前記判断手段の判断に応
じて、前記半導体レーザーでの異常の発生を示すエラー
信号を生成するとともに、前記制御量増減手段での前記
制御量のそれ以上の増加を停止することで前記半導体レ
ーザの前記駆動電流値の増加を停止する異常検知処理手
段とを有する。
【0022】また、好適な形態として、前記エラー信号
の発生に応じて前記半導体レーザーで異常が発生した旨
の表示を表示手段により行い、装置全体の動作停止を実
行する手段を更に有する。また、前記半導体レーザーの
点灯を開始してから該半導体レーザーの光出力が前記目
標値に達するまでの所定の時間だけ発生するエラーリセ
ット信号により、前記異常検知処理手段の前記エラー信
号をクリアし、これにより前記制御量増減手段の前記制
御量の増減を停止させないようにする手段を更に有す
る。あるいは、前記比較手段の比較結果を基に、前記半
導体レーザーの点灯を開始してから前記光出力検出手段
の検出値が前記目標値に最初に達するまでの時間だけ、
エラーリセット信号を生成して、該エラーリセット信号
により前記異常検知処理手段の前記エラー信号をクリア
し、これにより前記制御量増減手段の前記制御量の増減
を停止させないようにする手段を更に有する。
【0023】また、本発明装置の好ましい実施形態とし
て、周期的に設定された特定のAPC区間でのみフィー
ドバック制御を行って半導体レーザーの光出力を一定の
目標値に制御する自動パワー制御装置において、前記半
導体レーザーの光出力を検出するモニターダイオード
と、該モニターダイオードの出力電流をモニター電圧に
変換する抵抗器と、前記モニター電圧を所定の基準電圧
と比較する電圧コンパレータと、該電圧コンパレータの
出力に基づいてクロックをアップカウントまたはダウン
カウントすることでデジタルのカウント値を増減させる
アップ/ダウンカウンタと、前記カウント値をアナログ
の制御電圧に変換するD/Aコンバータと、前記制御電
圧に比例して出力電流値を決定するレーザー駆動電流源
と、前記出力電流値の駆動電流で前記半導体レーザーを
オン/オフして前記半導体レーザーを点灯/消灯させる
電流スイッチング回路と、前記APC区間内でのみ前記
アップ/ダウンカウンタにクロックを供給し、該APC
区間外では該アップ/ダウンカウンタへの該クロックの
供給を止めることにより前記カウント値を保持するゲー
ト回路と、前記APC区間の終了時点でパルスを生成す
るパルス生成回路と、前記パルスによって前記アップ/
ダウンカウンタの前記カウント値を取り込み保持するデ
ジタルのラッチと、前記アップ/ダウンカウンタの現カ
ウント値から前記ラッチの出力を減算するデジタルの減
算回路と、該減算回路の出力と所定のデジタル基準値と
を比較して該減算回路の出力の方が大きかった場合には
セット信号を出力するデジタルコンパレータと、該デジ
タルコンパレータの前記セット信号によりセットされて
エラー信号を出力すると共に、前記アップ/ダウンカウ
ンタへのクロックの供給を停止させ、レーザー駆動電流
値のそれ以上の増加を停止させるための信号を前記ゲー
ト回路へ出力するセット/リセットフリップフロップと
を有する。
【0024】この場合、前記半導体レーザーの点灯を開
始してから該半導体レーザーの光出力が前記目標値に達
するまでの所定の時間だけ、エラーリセット信号により
前記セット/リセットフリップフロップをリセットして
前記エラー信号をクリアするとともに、前記アップ/ダ
ウンカウンタへのクロックの供給を停止させないように
する回路を更に有することが好ましい。あるいは、前記
半導体レーザーの点灯を開始してから前記電圧コンパレ
ータの出力が最初に反転するまでの時間だけ、エラーリ
セット信号を生成する回路と、該エラーリセット信号に
より前記セット/リセットフリップフロップをリセット
して前記エラー信号をクリアするとともに、前記アップ
/ダウンカウンタへのクロックの供給を停止させないよ
うにする回路とを更に有するとしても好ましい。
【0025】また、本発明装置の好ましい他の実施形態
としては、周期的に設定された特定のAPC区間でのみ
フィードバック制御を行って半導体レーザーの光出力を
一定の目標値に制御する自動パワー制御装置において、
前記半導体レーザーの光出力を検出するモニターダイオ
ードと、該モニターダイオードの出力電流をモニター電
圧に変換する抵抗器と、前記モニター電圧を所定の第1
の基準電圧と比較する第1の電圧コンパレータと、ホー
ルドコンデンサをチャージ/ディスチャージするための
2つの電流源を備え、前記第1の電圧コンパレータの出
力に基づいて2つのアナログスイッチを操作することに
より、前記ホールドコンデンサに前記2つの電流源のう
ちの1つを接続して、該ホールドコンデンサをチャージ
またはディスチャージするスイッチ制御回路と、前記ホ
ールドコンデンサの電圧に所定のゲインをかけて制御電
圧に変換する増幅器と、該増幅器で変換された前記制御
電圧に比例して出力電流値を決定するレーザー駆動電流
源と、前記出力電流値の駆動電流で前記半導体レーザー
をオン/オフして前記半導体レーザーを点灯/消灯させ
る電流スイッチング回路と、前記APC区間内でのみ前
記スイッチ制御回路をアクティブにし、前記APC区間
外では前記スイッチ制御回路をインアクティブにするこ
とにより前記ホールドコンデンサの電圧を保つゲート回
路と、前記APC区間の終了時点でパルスを生成するパ
ルス生成回路と、該パルス生成回路で生成された前記パ
ルスによって前記ホールドコンデンサの電圧を取り込み
保持するサンプル/ホールド回路と、前記ホールドコン
デンサの電圧から前記サンプル/ホールド回路の出力を
減算する電圧減算回路と、該電圧減算回路の出力を所定
の第2の基準電圧と比較して該電圧減算回路の出力の方
が大きかった場合にはセット信号を出力する第2の電圧
コンパレータと、該第2の電圧コンパレータの前記セッ
ト信号によりセットされてエラー信号を出力すると共
に、前記スイッチ制御装置をインアクティブにしてレー
ザー駆動電流値のそれ以上の増加を停止させるための信
号を前記ゲート回路へ出力するセット/リセットフリッ
プフロップとを有する。
【0026】この場合、前記半導体レーザーの点灯を開
始してから該半導体レーザーの光出力が前記目標値に達
するまでの所定の時間だけ、エラーリセット信号により
前記セット/リセットフリップフロップをリセットして
前記エラー信号をクリアするとともに、前記スイッチ制
御装置をアクティブ状態に保つ回路を更に有することが
好ましい。あるいは、前記半導体レーザーの点灯を開始
してから前記第1の電圧コンパレータの出力が最初に反
転するまでの時間だけ、エラーリセット信号を生成する
回路と、該エラーリセット信号により前記セット/リセ
ットフリップフロップをリセットして前記エラー信号を
クリアするとともに、前記スイッチ制御装置をアクティ
ブ状態に保つ回路とを更に有するとしても好ましい。
【0027】本発明の半導体レーザーの自動パワー制御
方法は、周期的に設定された特定の区間でのみフィード
バック制御を行って半導体レーザーの光出力を一定の目
標値に制御する自動パワー制御方法において、前記半導
体レーザーの光出力を検出する光出力検出ステップと、
該光出力検出ステップでの検出値と前記目標値とを比較
する比較ステップと、該比較ステップでの比較結果に基
づいて前記光出力検出ステップでの検出値を前記目標値
に一致させるように特定の制御量を増減させる制御量増
減ステップと、該制御量増減ステップで増減された前記
制御量の大小に従って前記半導体レーザーの駆動電流値
を決定する駆動電流値決定ステップと、前記特定の区間
以外では前記制御量増減ステップで増減された前記制御
量を一定に保持することによって前記半導体レーザーの
駆動電流値を一定に保持する駆動電流値保持ステップ
と、前記半導体レーザーの駆動電流をオン/オフして前
記半導体レーザーを点灯/消灯させる電流スイッチング
ステップと、前記制御量増減ステップで増減された前記
制御量を前記特定の区間の毎回の終了時点で記憶する制
御量記憶ステップと、前記特定の区間内で変化している
前記制御量増減ステップで増減された前記制御量から前
記制御量記憶ステップで記憶された直前の制御量を減算
する減算ステップと、該減算ステップでの減算結果と所
定の基準値とを比較して該減算ステップの減算結果が該
基準値よりも大きくなったか否かを判断する判断ステッ
プと、前記減算ステップの減算結果が前記基準値よりも
大きくなったとの前記判断ステップの判断に応じて、前
記半導体レーザーでの異常の発生を示すエラー信号を生
成するとともに、前記制御量増減ステップでの前記制御
量のそれ以上の増加を停止することで前記半導体レーザ
の前記駆動電流値の増加を停止する異常検知処理ステッ
プとを有する。
【0028】そして、好ましくは、前記エラー信号の発
生に応じて前記半導体レーザーで異常が発生した旨の表
示を行う表示ステップと、前記エラー信号の発生に応じ
て装置全体の動作停止を実行する制御ステップとを更に
有する。
【0029】また、好適には、前記半導体レーザーの点
灯を開始してから該半導体レーザーの光出力が前記目標
値に達するまでの所定の時間だけ発生するエラーリセッ
ト信号により、前記異常検知処理ステップでの前記エラ
ー信号をクリアし、これにより前記制御量増減ステップ
での前記制御量の増減を停止させないようにするステッ
プを更に有する。あるいは、前記比較ステップでの比較
結果を基に、前記半導体レーザーの点灯を開始してから
前記光出力検出ステップでの検出値が前記目標値に最初
に達するまでの時間だけ、エラーリセット信号を生成し
て、該エラーリセット信号により前記異常検知処理ステ
ップでの前記エラー信号をクリアし、これにより前記制
御量増減ステップでの前記制御量の増減を停止させない
ようにするステップを更に有する。
【0030】また、上記いずれかに記載の半導体レーザ
ーの自動パワー制御方法の前記ステップの内容をプログ
ラムの形態で記憶した記憶媒体も本発明に含まれる。
【0031】また、上記半導体レーザーの自動パワー制
御装置を有する画像形成装置も本発明に含まれる。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
【0033】(第1の実施形態)本発明の第1の実施形
態の半導体レーザーのAPC回路(自動パワー制御回
路)の構成を図1に示す。図1は、本発明の特徴を最も
よく表す図面であり、同図において、1〜13は図5に
示した従来例とほぼ同様の構成のAPC回路本体であ
り、14〜19はこのAPC回路本体1〜13に連結し
た本発明によるエラー検知回路である。ここで、1は半
導体レーザー、2は半導体レーザー1と同一パッケージ
内に組み込まれたモニターダイオード、3は半導体レー
ザー1の駆動電流をオン/オフする電流スイッチング回
路、4は半導体レーザー1の駆動電流を供給する駆動電
流源、5はモニターダイオード2の電流出力をモニター
電圧に変換する抵抗、6は基準電圧を供給する基準電圧
源、7はモニター電圧と基準電圧とを比較するコンパレ
ータである。
【0034】8はアップ/ダウンカウンタ、9はこのカ
ウンタ8のクロックを発生する発振回路、10はAPC
区間内でかつAPCエラー信号がロー(エラーでない)
の時のみカウンタ8にクロックを供給するようにするた
めのANDゲート、11はカウンタ8のカウント出力を
駆動電流源4のコントロール信号に変換するD/Aコン
バータである。
【0035】12は形成する画像に従って半導体レーザ
ー1をオン/オフする画像データ信号とAPC区間信号
とを合成して半導体レーザー1のオン/オフ信号を作る
ためのORゲート、13はイネーブル信号がアクティブ
(ハイ)の時にのみ電流スイッチング回路3にレーザー
オンパルスが加わるようにするためのANDゲートであ
る。
【0036】また、図1において、14はAPC区間の
終わりでアップ/ダウンカウンタ8のカウント出力を保
持するためのラッチ、15はカウンタ8のカウント出力
からラッチ14の保持出力を減算するための減算器、1
6はAPC区間信号を反転してラッチ14のクロックを
作るためのインバータ、17は設定されたある一定値を
保持するレジスタである。18は減算器15の出力とレ
ジスタ17の出力とを比較するコンパレータであって、
減算器15の出力の方がレジスタ17の出力よりも大き
い時にハイ(High)レベルを出力する。なお、減算
器15は、カウンタ8のカウント出力がラッチ14の保
持出力よりも大きい時にのみ減算結果を出力し、逆にそ
の保持出力がカウント出力よりも大きい場合にはゼロを
出力するような構成になっている。
【0037】また、図1において、19はコンパレータ
18の出力によりセットされ、外部からのエラーリセッ
ト信号によりリセットされるセット/リセットフリップ
フロップ(R−Sフリップフロップ)である。このフリ
ップフロップ(FF)19はQ端子からAPCエラー信
号を外部に出力し、反転Q端子からAPCエラー信号の
反転信号をANDゲート10に出力する。
【0038】本実施形態の半導体レーザーAPC回路の
動作を次に説明する。
【0039】半導体レーザー1が正常な状態での本回路
の動作は図5に示した従来例と全く同様である。
【0040】半導体レーザー1が何らかのダメージを受
けて、同じ光出力を出し続けるために必要な駆動電流
が、急に大きくなった場合を考える。直前のAPC区間
の終了時点でのカウンタ8の出力はラッチ14に保持さ
れている。
【0041】次のAPC区間では、半導体レーザー1が
ダメージを受けているため、光出力を保つようにフィー
ドバック制御を行うと、駆動電流を増やそうとしてカウ
ンタ8の出力は大幅に増加し、カウンタ8の出力からラ
ッチ14の値を減算している減算器15の出力も増大す
る。この減算器15の出力値はそのAPC区間内でカウ
ンタ8のカウント出力がどれだけ増加したか、すなわち
半導体レーザー1の駆動電流がどれだけ増加したかを示
している。
【0042】この減算器15の出力がレジスタ17の値
よりも大きいと、コンパレータ18の出力はハイにな
り、セット/リセットフリップフロップ19をセット
し、このためセット/リセットフリップフロップ9から
出力するAPCエラー信号がハイ(エラー状態)にな
る。APCエラー信号がハイになると、その反転信号が
ANDゲート10に供給されるからカウンタ8へのクロ
ックの供給が絶たれ、そのため駆動電流源4のレーザー
駆動電流はそれ以上増加せず、半導体レーザー1のダメ
ージの進行を最小限に抑える。
【0043】APCエラー信号は図示外のシステムのC
PU(中央演算処理装置)によって読み取られ、このA
PCエラー信号に応じてそのCPUは半導体レーザーの
異常を表示部(図示しない)に表示する、また画像形成
を中止する等の、そのシステムにとって最適な処置をと
る。
【0044】ここで、上記レジスタ17の値は、使用す
る半導体レーザー1の特性から値を決めてあらかじめ設
定しておいてもよいし、上記CPUから適当な値を1つ
でも設定できるようにしておいてもよい。
【0045】さて、このようなエラー検知回路14〜1
9を追加した場合に気をつけなければいけないのは、レ
ーザー点灯を開始する時の処置である。本構成のような
APC回路では、イネーブル信号をアクティブにしてレ
ーザー点灯を開始した時点では、アップ/ダウンカウン
タ8はクリアされていてレーザー駆動電流はほぼゼロに
絞られているから、半導体レーザー1の光出力が目標値
に達するまでの間カウンタ8の出力は連続的に増大す
る。このとき、エラー検知回路14〜19がアクティブ
のままだと、この点灯時のカウンタ出力の増大をエラー
として検知してしまい、カウンタ8へのクロックを止め
てしまうので、レーザー出力が上がらなくなってしま
う。
【0046】この問題を回避するため、本実施形態の半
導体レーザーAPC回路にはエラーリセット信号を設け
てある。すなわち、レーザー点灯開始時には、半導体レ
ーザーの光出力が目標値に達するのに十分な時間だけ、
上記CPUからエラーリセット信号をセット/リセット
フリップフロップ19のリセット端子に加えてやってA
PCエラー信号をローのままにすることでレーザー光出
力を増加させ、その後、エラーリセット信号をインアク
ティブにしてエラー検知を開始している。
【0047】このエラーリセット信号を加える時間は、
使用する半導体レーザー1の特性、カウンタ8の各1カ
ウントの増加に対応するレーザー駆動電流の増大幅等か
ら、適切な値を計算で求めることができる。
【0048】(第2実施形態)次に述べる本発明の第2
の実施形態も上述の第1の実施形態とほぼ同じ構成であ
るが、エラーリセット信号の加え方が第1の実施形態と
異なるものである。
【0049】本実施形態の半導体レーザーAPC回路の
構成を図2に示す。図2において、1から19までの構
成要素は図1の第1の実施形態と同様である。51はセ
ット/リセットフリップフロップ19へ供給するエラー
リセット信号を作るためのD型フリップフロップであっ
て、イネーブル信号がインアクティブになるとリセット
される。52はフリップフロップ51のクロックを作る
ためのインバータであって、コンパレータ7の出力を反
転したものをクロックとしてフリップフロップ51に供
給する。その他の構成は図1と同様なのでその詳細な説
明は省略する。
【0050】本実施形態の半導体レーザーAPC回路の
レーザー点灯時の動作について次に説明する。
【0051】レーザー消灯状態(イネーブル信号:ロ
ー)では、アップ/ダウンカウンタ8がクリアされると
ともに、フリップフロップ51はリセットされており、
そのためフリップフロップ51から出力するエラーリセ
ット信号はハイレベルであって、セット/リセットフリ
ップフロップ19はリセット状態である。
【0052】レーザー点灯開始(イネーブル信号:ハ
イ)からしばらくは、カウンタ8の値が小さく駆動電流
値も小さいためレーザー光出力は目標値に達せず、コン
パレータ7の出力はハイのままである。
【0053】半導体レーザー1の光出力が目標値に近づ
き、初めてその目標値(基準電圧)を越えるとコンパレ
ータ7の出力はローに反転し、カウンタ8をダウンカウ
ントモードにする。コンパレータ7の出力が反転した瞬
間、フリップフロップ51には立ち上がりクロックがイ
ンバータ52から供給され、エラーリセット信号はロー
になる。このロー信号はセット/リセットフリップフロ
ップ19に供給され、APCエラー検知が開始される。
すなわち、コンパレータ7の出力が初めて反転した時点
をもって、レーザー光出力が目標値に達した瞬間と判断
し、そこからエラー検知を開始するのである。
【0054】本実施形態では、以上のような構成にする
ことにより、第1の実施形態のようにCPU(図示しな
い)が適当な時間を見計らってエラーリセット信号を解
除する必要がなくなり、制御を簡略化できる。
【0055】(第3実施形態)本発明の第1,第2の実
施形態は、アップ/ダウンカウンタ8のカウント値の大
小によりレーザー駆動電流を制御するデジタル的なAP
C回路であったが、次に述べる本発明の第3の実施形態
はアナログAPC回路に半導体レーザーの異常検知回路
を設けたものである。
【0056】本実施形態の半導体レーザーAPC回路の
構成を、図3に示す。同図において、1から7、および
12,13,19の構成要素は第1の実施形態と同様で
ある。61はホールドコンデンサ、62a,62b,6
2c,62dはホールドコンデンサ61をチャージ/デ
ィスチャージするための電流源とアナログスイッチ、6
3はコンパレータ7の出力結果に従ってアナログスイッ
チ62c,62dのオン/オフを制御するためのスイッ
チ制御回路である。64はAPC区間でかつAPCエラ
ー信号がロー(エラーでない)の時にのみスイッチ制御
回路63がアナログスイッチ62c,62dをオンでき
るようにする信号を作るためのANDゲートである。6
5はイネーブル信号がインアクティブ状態(ロー)の時
にホールドコンデンサ61をディスチャージ(放電)す
るためのアナログスイッチ、66はホールドコンデンサ
61の電圧を駆動電流源4のコントロール信号に変換す
るための増幅器である。
【0057】また、図3において、67はエラー検知の
ためホールドコンデンサ61の電圧をピックアップする
バッファ、68はこのバッファ67の出力電圧を各AP
C区間の終わりで保持するためのサンプルホールド回路
である。69はAPC区間信号の立ち下がりエッジから
サンプルホールド回路68のサンプルパルスを作るため
のパルス生成回路である。70はバッファ67の出力電
圧からサンプルホールド回路68の出力電圧を引いた値
を所定のゲイン倍して出力する減算回路である。71は
所定の電圧(第2の基準電圧)を出力する第2の基準電
圧源、72は減算回路70の出力電圧を第2の基準電圧
源71の第2の基準電圧と比較して、減算回路70の出
力の方が大きい場合にはハイレベルを出力する第2のコ
ンパレータである。
【0058】また、図3に示すように、サンプルホール
ド回路68はアナログスイッチ68a、ホールドコンデ
ンサ68b、およびバッファ68cとから構成され、パ
ルス生成回路69はインバーター69a、およびNOR
ゲート69bとから構成されている。また、減算回路7
0は演算増幅器(オペアンプ)70aと、抵抗70b,
70c,70d,70eとから構成され、70bと70
c、70dと70eはそれぞれ同じ値の抵抗である。
【0059】本実施形態の半導体レーザーAPC回路の
動作を次に説明する。
【0060】まず、半導体レーザー1が正常な場合に
は、APC区間ではAPC区間信号がハイになり、半導
体レーザー1が点灯するとともに、スイッチ制御回路6
3がアクティブになり、ホールドコンデンサ61のチャ
ージ/ディスチャージが可能になる。
【0061】モニターダイオード2の出力は抵抗5によ
り電圧に変換され、第1のコンパレータ7により第1の
基準電圧源6の第1の基準電圧と比較される。コンパレ
ータ7の出力が、スイッチ制御回路63を介してホール
ドコンデンサ61のチャージ/ディスチャージ信号とな
り、コンパレータ7の出力がハイの時(すなわち、大1
の基準電圧の方が大のとき)には電流源62a、スイッ
チ62cによりホールドコンデンサ61はチャージさ
れ、コンパレータ7の出力がローの時には電流源62
b、スイッチ62dによりホールドコンデンサ61はデ
ィスチャージされる。ホールドコンデンサ61の電圧
は、増幅器66により増幅されてレーザー駆動電流源4
のコントロール信号となる。
【0062】レーザー駆動電流源4の電流値は増幅器6
6から出力するコントロール信号(電圧)に比例して変
化するので、フィードバックループが形成され、半導体
レーザー1の光量は一定に保たれる。
【0063】次に、APC区間外になると、APC区間
信号はローになり、スイッチ制御回路63がインアクテ
ィブになり、スイッチ62c,62dはオープン状態に
保たれるので、ホールドコンデンサ61の電圧値も一定
に保たれ、レーザー駆動電流源4の電流値も固定され
る。その結果、画像形成区間においては、半導体レーザ
ー1は前回のAPC区間において決定された電流値で、
画像データ信号に従ってオン/オフされる。
【0064】図3中のイネーブル信号は、レーザー点灯
時には上記動作を行わせ、レーザー消灯時(画像形成を
行わない時間)にはアナログスイッチ65を閉じてホー
ルドコンデンサ61を完全にディスチャージして駆動電
流をほぼゼロにし、かつ電流スイッチング回路3をイン
アクティブにして、半導体レーザー1に電流が流れない
ようにするための信号である。
【0065】半導体レーザー1が正常ならば、各APC
区間での駆動電流の変化量は、その間の半導体レーザー
1の温度変化によるものだけなので微小である。そのた
め、減算回路70の出力値も小さく、その出力値は第2
の基準電圧源71の第2の基準電圧を越えないので第2
のコンパレータ72の出力はローを保ち、セット/リセ
ットフリップフロップ19はセットされず、APCエラ
ー信号はロー(エラー状態でない)のままである。
【0066】次に、半導体レーザー1が何らかのダメー
ジを受けて、同じ光出力を出し続けるために必要な駆動
電流が、急に大きくなった場合を考える。直前のAPC
区間終了時点でのホールドコンデンサ61の電圧はサン
プルホールド回路68によって保持されている。
【0067】次のAPC区間では、半導体レーザー1が
ダメージを受けているため、光出力を保つようにフィー
ドバック制御を行うと、駆動電流を増やそうとしてホー
ルドコンデンサ61の電圧は急に上昇し、バッファ67
の出力電圧からサンプルホールド回路68の出力電圧を
減算している減算回路70の出力も増大する。減算回路
70の出力値はそのAPC区間内でホールドコンデンサ
61の電圧がどれだけ増加したか、すなわち半導体レー
ザー1の駆動電流がどれだけ増加したかを示している。
【0068】この減算回路70の出力電圧が第2の基準
電圧源71の第2の基準電圧よりも大きいと、第2のコ
ンパレータ72の出力はハイになり、その出力はセット
/リセットフリップフロップ19をセットし、APCエ
ラー信号がハイ(エラー状態)になる。APCエラー信
号がハイになると、ANDゲート64を介してスイッチ
制御回路63がインアクティブ状態になってスイッチ6
2c,62dを開放状態に保ち、ホールドコンデンサ6
1の電圧も保たれるので、レーザー駆動電流はそれ以上
に増加せず、半導体レーザー1のダメージの進行を最小
限に抑える。
【0069】APCエラー信号は図示外のシステムのC
PUによって読み取られ、そのCPUはAPCエラー信
号に応じた半導体レーザー1の異常を表示部に表示す
る、また画像形成を中止する等の、そのシステムにとっ
て最適な処置をとる。
【0070】第2の基準電圧源71の第2の基準電圧の
値は、使用する半導体レーザー1の特性から値を決めて
設定しておいてもよいし、CPUからD/Aコンバータ
等を介して適当な値を設定できるようにしておいてもよ
い。
【0071】なお、本実施形態においても第1の実施形
態と同様に、レーザー点灯を開始してからレーザーパワ
ーが目標値に達するまでの間、APCエラー信号をリセ
ットしておかなければならない。そのため、第1の実施
形態と同様にエラーリセット信号を設けてある。このエ
ラーリセット信号の働きは、図1の第1の実施形態と全
く同じである。また、図2の第2の実施形態のように、
第1のコンパレータ7の反転タイミングからエラーリセ
ット信号を作るようにしてもよい。
【0072】(その他の実施形態)本発明は、複数の機
器から構成されるシステムに適用しても、1つの機器か
らなる装置に適用しても良い。また、本発明はシステム
或は装置にプログラムを供給することによって達成する
場合にも適用できることは言うまでもない。この場合、
本発明を達成するためのソフトウエアによって表される
プログラムを格納した記憶媒体を該システム或は装置に
読み出すことによって、そのシステム或は装置が、本発
明の効果を享受することが可能となる。
【0073】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
APC区間内でのレーザー駆動電流の急激な増大を検出
してシステムにエラー信号を送るとともに、レーザー駆
動電流のそれ以上の増加を止めるように構成したので、
半導体レーザーがサージ電流等によりダメージを受けた
場合に、すみやかにその異常を検知することができ、ま
たその後の処置、トラブルの原因究明が容易になるとい
う効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の半導体レーザーAP
C回路の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態の半導体レーザーAP
C回路の構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施形態の半導体レーザーAP
C回路の構成を示すブロック図である。
【図4】半導体レーザーの電流−光出力特性を示すグラ
フである。
【図5】従来例の半導体レーザーAPC回路の構成を示
すブロック図である。
【図6】ダメージを受けた半導体レーザーの電流−光出
力特性を示すグラフである。
【符号の説明】
1 半導体レーザー 2 モニターダイオード 3 電流スイッチング回路 4 駆動電流源 5 抵抗 6 基準電圧源(第1の基準電圧源) 7 コンパレータ(第1のコンパレータ) 8 アップ/ダウンカウンタ 9 発振回路 10 ANDゲート 11 D/Aコンバータ 12 ORゲート 13 ANDゲート 14 ラッチ 15 減算器 16 インバータ 17 レジスタ 18 コンパレータ 19 セット/リセットフリップフロップ 51 フリップフロップ 52 インバータ 61 ホールドコンデンサ 62a,62b 電流源 62c,62d アナログスイッチ 63 スイッチ制御回路 64 ANDゲート 65 アナログスイッチ 66 増幅器 67 バッファ 68 サンプルホールド回路 69 パルス生成回路 70 減算回路 71 第2の基準電圧源 72 第2のコンパレータ

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 周期的に設定された特定の区間でのみフ
    ィードバック制御を行って半導体レーザーの光出力を一
    定の目標値に制御する自動パワー制御装置において、 前記半導体レーザーの光出力を検出する光出力検出手段
    と、 該光出力検出手段の検出値と前記目標値とを比較する比
    較手段と、 該比較手段の出力に基づいて前記光出力検出手段の検出
    値を前記目標値に一致させるように特定の制御量を増減
    させる制御量増減手段と、 該制御量増減手段で増減された前記制御量の大小に従っ
    て前記半導体レーザーの駆動電流値を決定する駆動電流
    値決定手段と、 前記特定の区間以外では前記制御量増減手段で増減され
    た前記制御量を一定に保持することによって前記半導体
    レーザーの駆動電流値を一定に保持する駆動電流値保持
    手段と、 前記半導体レーザーの駆動電流をオン/オフして前記半
    導体レーザーを点灯/消灯させる電流スイッチング手段
    と、 前記制御量増減手段で増減された前記制御量を前記特定
    の区間の毎回の終了時点で記憶する制御量記憶手段と、 前記特定の区間内で変化している前記制御量増減手段で
    増減された前記制御量から前記制御量記憶手段に記憶さ
    れている直前の制御量を減算する減算手段と、 該減算手段の出力と所定の基準値とを比較して該減算手
    段の出力が該基準値よりも大きくなったか否かを判断す
    る判断手段と、 前記減算手段の出力が前記基準値よりも大きくなったと
    の前記判断手段の判断に応じて、前記半導体レーザーで
    の異常の発生を示すエラー信号を生成するとともに、前
    記制御量増減手段での前記制御量のそれ以上の増加を停
    止することで前記半導体レーザの前記駆動電流値の増加
    を停止する異常検知処理手段とを有することを特徴とす
    る半導体レーザーの自動パワー制御装置。
  2. 【請求項2】 前記エラー信号の発生に応じて前記半導
    体レーザーで異常が発生した旨の表示を表示手段により
    行い、装置全体の動作停止を実行する手段を更に有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザーの自
    動パワー制御装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体レーザーの点灯を開始してか
    ら該半導体レーザーの光出力が前記目標値に達するまで
    の所定の時間だけ発生するエラーリセット信号により、
    前記異常検知処理手段の前記エラー信号をクリアし、こ
    れにより前記制御量増減手段の前記制御量の増減を停止
    させないようにする手段を更に有することを特徴とする
    請求項1に記載の半導体レーザーの自動パワー制御装
    置。
  4. 【請求項4】前記比較手段の比較結果を基に、前記半導
    体レーザーの点灯を開始してから前記光出力検出手段の
    検出値が前記目標値に最初に達するまでの時間だけ、エ
    ラーリセット信号を生成して、該エラーリセット信号に
    より前記異常検知処理手段の前記エラー信号をクリア
    し、これにより前記制御量増減手段の前記制御量の増減
    を停止させないようにする手段を更に有することを特徴
    とする請求項1に記載の半導体レーザーの自動パワー制
    御装置。
  5. 【請求項5】 周期的に設定された特定のAPC区間で
    のみフィードバック制御を行って半導体レーザーの光出
    力を一定の目標値に制御する自動パワー制御装置におい
    て、 前記半導体レーザーの光出力を検出するモニターダイオ
    ードと、 該モニターダイオードの出力電流をモニター電圧に変換
    する抵抗器と、 前記モニター電圧を所定の基準電圧と比較する電圧コン
    パレータと、 該電圧コンパレータの出力に基づいてクロックをアップ
    カウントまたはダウンカウントすることでデジタルのカ
    ウント値を増減させるアップ/ダウンカウンタと、 前記カウント値をアナログの制御電圧に変換するD/A
    コンバータと、 前記制御電圧に比例して出力電流値を決定するレーザー
    駆動電流源と、 前記出力電流値の駆動電流で前記半導体レーザーをオン
    /オフして前記半導体レーザーを点灯/消灯させる電流
    スイッチング回路と、 前記APC区間内でのみ前記アップ/ダウンカウンタに
    クロックを供給し、該APC区間外では該アップ/ダウ
    ンカウンタへの該クロックの供給を止めることにより前
    記カウント値を保持するゲート回路と、 前記APC区間の終了時点でパルスを生成するパルス生
    成回路と、 前記パルスによって前記アップ/ダウンカウンタの前記
    カウント値を取り込み保持するデジタルのラッチと、 前記アップ/ダウンカウンタの現カウント値から前記ラ
    ッチの出力を減算するデジタルの減算回路と、 該減算回路の出力と所定のデジタル基準値とを比較して
    該減算回路の出力の方が大きかった場合にはセット信号
    を出力するデジタルコンパレータと、 該デジタルコンパレータの前記セット信号によりセット
    されてエラー信号を出力すると共に、前記アップ/ダウ
    ンカウンタへのクロックの供給を停止させ、レーザー駆
    動電流値のそれ以上の増加を停止させるための信号を前
    記ゲート回路へ出力するセット/リセットフリップフロ
    ップとを有することを特徴とする半導体レーザーの自動
    パワー制御装置。
  6. 【請求項6】 前記半導体レーザーの点灯を開始してか
    ら該半導体レーザーの光出力が前記目標値に達するまで
    の所定の時間だけ、エラーリセット信号により前記セッ
    ト/リセットフリップフロップをリセットして前記エラ
    ー信号をクリアするとともに、前記アップ/ダウンカウ
    ンタへのクロックの供給を停止させないようにする回路
    を更に有することを特徴とする請求項5に記載の半導体
    レーザーの自動パワー制御装置。
  7. 【請求項7】 前記半導体レーザーの点灯を開始してか
    ら前記電圧コンパレータの出力が最初に反転するまでの
    時間だけ、エラーリセット信号を生成する回路と、 該エラーリセット信号により前記セット/リセットフリ
    ップフロップをリセットして前記エラー信号をクリアす
    るとともに、前記アップ/ダウンカウンタへのクロック
    の供給を停止させないようにする回路とを更に有するこ
    とを特徴とする請求項5に記載の半導体レーザーの自動
    パワー制御装置。
  8. 【請求項8】 周期的に設定された特定のAPC区間で
    のみフィードバック制御を行って半導体レーザーの光出
    力を一定の目標値に制御する自動パワー制御装置におい
    て、 前記半導体レーザーの光出力を検出するモニターダイオ
    ードと、 該モニターダイオードの出力電流をモニター電圧に変換
    する抵抗器と、 前記モニター電圧を所定の第1の基準電圧と比較する第
    1の電圧コンパレータと、 ホールドコンデンサをチャージ/ディスチャージするた
    めの2つの電流源を備え、前記第1の電圧コンパレータ
    の出力に基づいて2つのアナログスイッチを操作するこ
    とにより、前記ホールドコンデンサに前記2つの電流源
    のうちの1つを接続して、該ホールドコンデンサをチャ
    ージまたはディスチャージするスイッチ制御回路と、 前記ホールドコンデンサの電圧に所定のゲインをかけて
    制御電圧に変換する増幅器と、 該増幅器で変換された前記制御電圧に比例して出力電流
    値を決定するレーザー駆動電流源と、 前記出力電流値の駆動電流で前記半導体レーザーをオン
    /オフして前記半導体レーザーを点灯/消灯させる電流
    スイッチング回路と、 前記APC区間内でのみ前記スイッチ制御回路をアクテ
    ィブにし、前記APC区間外では前記スイッチ制御回路
    をインアクティブにすることにより前記ホールドコンデ
    ンサの電圧を保つゲート回路と、 前記APC区間の終了時点でパルスを生成するパルス生
    成回路と、 該パルス生成回路で生成された前記パルスによって前記
    ホールドコンデンサの電圧を取り込み保持するサンプル
    /ホールド回路と、 前記ホールドコンデンサの電圧から前記サンプル/ホー
    ルド回路の出力を減算する電圧減算回路と、 該電圧減算回路の出力を所定の第2の基準電圧と比較し
    て該電圧減算回路の出力の方が大きかった場合にはセッ
    ト信号を出力する第2の電圧コンパレータと、 該第2の電圧コンパレータの前記セット信号によりセッ
    トされてエラー信号を出力すると共に、前記スイッチ制
    御装置をインアクティブにしてレーザー駆動電流値のそ
    れ以上の増加を停止させるための信号を前記ゲート回路
    へ出力するセット/リセットフリップフロップとを有す
    ることを特徴とする半導体レーザーの自動パワー制御装
    置。
  9. 【請求項9】 前記半導体レーザーの点灯を開始してか
    ら該半導体レーザーの光出力が前記目標値に達するまで
    の所定の時間だけ、エラーリセット信号により前記セッ
    ト/リセットフリップフロップをリセットして前記エラ
    ー信号をクリアするとともに、前記スイッチ制御装置を
    アクティブ状態に保つ回路を更に有することを特徴とす
    る請求項8に記載の半導体レーザーの自動パワー制御装
    置。
  10. 【請求項10】 前記半導体レーザーの点灯を開始して
    から前記第1の電圧コンパレータの出力が最初に反転す
    るまでの時間だけ、エラーリセット信号を生成する回路
    と、 該エラーリセット信号により前記セット/リセットフリ
    ップフロップをリセットして前記エラー信号をクリアす
    るとともに、前記スイッチ制御装置をアクティブ状態に
    保つ回路とを更に有することを特徴とする請求項8に記
    載の半導体レーザーの自動パワー制御装置。
  11. 【請求項11】 周期的に設定された特定の区間でのみ
    フィードバック制御を行って半導体レーザーの光出力を
    一定の目標値に制御する自動パワー制御方法において、 前記半導体レーザーの光出力を検出する光出力検出ステ
    ップと、 該光出力検出ステップでの検出値と前記目標値とを比較
    する比較ステップと、 該比較ステップでの比較結果に基づいて前記光出力検出
    ステップでの検出値を前記目標値に一致させるように特
    定の制御量を増減させる制御量増減ステップと、 該制御量増減ステップで増減された前記制御量の大小に
    従って前記半導体レーザーの駆動電流値を決定する駆動
    電流値決定ステップと、 前記特定の区間以外では前記制御量増減ステップで増減
    された前記制御量を一定に保持することによって前記半
    導体レーザーの駆動電流値を一定に保持する駆動電流値
    保持ステップと、 前記半導体レーザーの駆動電流をオン/オフして前記半
    導体レーザーを点灯/消灯させる電流スイッチングステ
    ップと、 前記制御量増減ステップで増減された前記制御量を前記
    特定の区間の毎回の終了時点で記憶する制御量記憶ステ
    ップと、 前記特定の区間内で変化している前記制御量増減ステッ
    プで増減された前記制御量から前記制御量記憶ステップ
    で記憶された直前の制御量を減算する減算ステップと、 該減算ステップでの減算結果と所定の基準値とを比較し
    て該減算ステップの減算結果が該基準値よりも大きくな
    ったか否かを判断する判断ステップと、 前記減算ステップの減算結果が前記基準値よりも大きく
    なったとの前記判断ステップの判断に応じて、前記半導
    体レーザーでの異常の発生を示すエラー信号を生成する
    とともに、前記制御量増減ステップでの前記制御量のそ
    れ以上の増加を停止することで前記半導体レーザの前記
    駆動電流値の増加を停止する異常検知処理ステップとを
    有することを特徴とする半導体レーザーの自動パワー制
    御方法。
  12. 【請求項12】 前記エラー信号の発生に応じて前記半
    導体レーザーで異常が発生した旨の表示を行う表示ステ
    ップと、 前記エラー信号の発生に応じて装置全体の動作停止を実
    行する制御ステップとを更に有することを特徴とする請
    求項11に記載の半導体レーザーの自動パワー制御方
    法。
  13. 【請求項13】 前記半導体レーザーの点灯を開始して
    から該半導体レーザ1ーの光出力が前記目標値に達する
    までの所定の時間だけ発生するエラーリセット信号によ
    り、前記異常検知処理ステップでの前記エラー信号をク
    リアし、これにより前記制御量増減ステップでの前記制
    御量の増減を停止させないようにするステップを更に有
    することを特徴とする請求項11に記載の半導体レーザ
    ーの自動パワー制御方法。
  14. 【請求項14】前記比較ステップでの比較結果を基に、
    前記半導体レーザーの点灯を開始してから前記光出力検
    出ステップでの検出値が前記目標値に最初に達するまで
    の時間だけ、エラーリセット信号を生成して、該エラー
    リセット信号により前記異常検知処理ステップでの前記
    エラー信号をクリアし、これにより前記制御量増減ステ
    ップでの前記制御量の増減を停止させないようにするス
    テップを更に有することを特徴とする請求項11に記載
    の半導体レーザーの自動パワー制御方法。
  15. 【請求項15】 請求項11ないし14のいずれかに記
    載の半導体レーザーの自動パワー制御方法の前記ステッ
    プの内容をプログラムの形態で記憶したことを特徴とす
    る記憶媒体。
  16. 【請求項16】 請求項1ないし10のいずれかに記載
    の半導体レーザーの自動パワー制御装置を有する画像形
    成装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7512164B2 (en) 2004-06-15 2009-03-31 Hitachi Cable, Ltd. Laser drive IC and optical transceiver using same
JP2010123715A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置
JP2016174057A (ja) * 2015-03-17 2016-09-29 日本電気株式会社 出力制御装置、出力制御システム、出力制御方法、及び出力制御プログラム
US12470042B2 (en) 2020-08-31 2025-11-11 Ams Sensors Asia Pte. Ltd. Self-calibrating driver circuit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7512164B2 (en) 2004-06-15 2009-03-31 Hitachi Cable, Ltd. Laser drive IC and optical transceiver using same
JP2010123715A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置
JP2016174057A (ja) * 2015-03-17 2016-09-29 日本電気株式会社 出力制御装置、出力制御システム、出力制御方法、及び出力制御プログラム
US12470042B2 (en) 2020-08-31 2025-11-11 Ams Sensors Asia Pte. Ltd. Self-calibrating driver circuit

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