JPH09325095A

JPH09325095A - オ−トサンプラ

Info

Publication number: JPH09325095A
Application number: JP16686096A
Authority: JP
Inventors: Koichi Morita; 浩一森田
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1996-06-05
Filing date: 1996-06-05
Publication date: 1997-12-16

Abstract

(57)【要約】【課題】プログラムに設定された各凹部１３に試料が
実際に載置されているかどうかを事前にテストすること
により、試料の置き忘れや置き間違いによって生じる無
駄をなくすことができるオートサンプラを提供する。【解決手段】試料検査駆動部７が試料把持部１５にプ
ログラム設定部１のプログラムに設定された各凹部１３
の試料を順次把持し直に戻す動作を行わせると共に、こ
の試料把持部１５が各凹部１３で試料を把持できなかっ
た場合に、試料検出器５がこれを検出し、エラ−表示部
６によりディスプレイ２にエラ−表示を行わせる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試料を順次自動的
に熱分析装置等の処理装置に供給するオートサンプラに
関する。

【０００２】

【従来の技術】熱分析装置に試料を供給するためのオー
トサンプラの一例を図５に示す。このオートサンプラ１
１は、トレイ１２上に載置された試料を１個ずつアーム
１４の先端の試料把持部１５で把持して、側方に配置さ
れた熱分析装置１６まで搬送し順に供給するものであ
る。トレイ１２は、図６に示すように、矩形の金属盤の
表面に載置部として多数の凹部１３を形成したものであ
り、これらの各凹部１３内に図示しない試料が載置され
る。また、ここでは図示しないが、トレイ１２の各凹部
１３にはそれぞれ識別用の番号が付されている。試料
は、固体の場合には粉状や粒状に砕かれ、通常はセラミ
ックスや白金製の容器（セル又はｐａｎと称する）内に
収納されてこの凹部１３に載置される。そして、試料把
持部１５は、この試料を容器ごと把持して搬送する。

【０００３】図５に示すオートサンプラ１１は、試料把
持部１５が円筒座標系の３軸動作を行うものについて示
す。従って、この試料把持部１５は、アーム１４の基部
を中心に回転すると共に、このアーム１４の長手方向に
伸縮し、かつ、回転の中心軸に沿って上下動することが
できる。オートサンプラ１１は、熱分析装置１６に試料
を供給する場合に、まずこの試料把持部１５を回転と伸
縮動作によってトレイ１２の指定された凹部１３上に移
動させる。次に、試料把持部１５を下降させて、凹部１
３に載置された試料を把持させる。そして、試料把持部
１５を上昇させてから回転と伸縮動作によって熱分析装
置１６まで移動させることにより試料を搬送する。ま
た、熱分析処理が終了した場合には、試料把持部１５の
同様の動作によって熱分析装置１６から試料を取り出し
元の凹部１３に戻す。なお、熱分析装置１６では、通常
は測定用と参照用の２種類の試料を用いるので、熱分析
処理を１回実行するたびにトレイ１２の２箇所の凹部１
３からこれら２種類の試料を供給することになる。そし
て、オートサンプラ１１は、これらの供給動作を順次繰
り返すことにより、トレイ１２の各凹部１３に載置され
た多数の試料を順に熱分析装置１６に供給し、複数の熱
分析処理を連続的に実行させることができる。

【０００４】上記オートサンプラ１１は、熱分析処理を
行う試料を予めプログラムに設定しておくことにより、
複数の熱分析処理を自動的に連続して実行させるように
なっている。このプログラムの設定は、図７に示すプロ
グラム設定部１が行う。プログラム設定部１は、オート
サンプラ１１に内蔵されたコンピュータ又はこのオート
サンプラ１１に接続された図示しないパーソナルコンピ
ュータ等で実行されるソフトウエアからなり、ディスプ
レイ２にプログラムの設定画面を表示して、オペレータ
による入力装置３からの入力に従いこのプログラムの設
定を行う。プログラムの設定では、複数の熱分析処理の
実行順序を設定すると共に、これら各熱分析処理で使用
する測定試料や参照試料を載置したトレイ１２の凹部１
３の番号を設定する。

【０００５】プログラムの設定が完了すると、プログラ
ム設定部１は、まず最初の熱分析処理に用いる測定用と
参照用の試料を載置した凹部１３の番号を試料供給駆動
部４に送る。すると、試料供給駆動部４は、試料把持部
１５に上記の供給動作を行わせることにより、これらの
番号の凹部１３に載置された試料を順次取り出して熱分
析装置１６に搬送すると共に、熱分析処理が終了した後
に、これらの試料を元の凹部１３に戻す。また、このよ
うにして試料が元の凹部１３に戻されると、プログラム
設定部１が次の熱分析処理に用いる試料を載置した凹部
１３の番号を試料供給駆動部４に送り、以降、プログラ
ムに設定された全ての熱分析処理が完了するまで順次こ
れらの動作を繰り返す。

【０００６】上記試料把持部１５には、通常は試料検出
器５が設けられている。試料検出器５は、試料把持部１
５がピン等で挟み込んで試料を把持する動作を実行した
ときに、このピンの開き具合等によって実際に試料を把
持できたかどうかを検出する検出器である。そして、設
定された番号の凹部１３に試料がなかったり、試料把持
部１５が試料を挟み損ねて取り落としたような場合に、
この試料検出器５が試料の把持の失敗を検出してエラー
信号をエラー表示部６に送る。すると、エラー表示部６
がいずれの熱分析処理の際にどの凹部１３の試料を把持
し損ねたかをディスプレイ２に表示すると共に、熱分析
処理を停止させる。従って、オペレータは、このエラー
表示を見て熱分析処理の失敗を知ることができ、処理の
やり直し等の適当な措置を講じることができる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
オートサンプラ１１では、オペレータがディスプレイ２
に表示されたプログラムの設定内容を目で見ながら、各
熱分析処理で使用する測定用や参照用の試料をトレイ１
２における設定された番号の凹部１３にそれぞれ載置し
なければならない。このため、従来は、各熱分析処理ご
とにプログラム上の設定番号とトレイ１２の凹部１３に
付された番号とを逐一対比させて確認しなければならな
いので、試料の置き間違いが生じ易いという問題があっ
た。また、特に多数の熱分析処理を設定した場合には、
載置する試料の数も多くなるために、さらにこの試料の
置き間違いが生じ易くなるだけでなく、ディスプレイ２
に表示されたプログラムの設定内容を目で追ううちに、
例えば途中の熱分析処理を１回分見過ごす等のミスによ
り、試料を置き忘れるおそれがあるという問題も生じて
いた。

【０００８】１回の熱分析処理には、早くても３０分程
度の時間を要し、処理によっては数時間に及ぶこともあ
る。そして、これらの熱分析処理は、無人で自動的に連
続して実行されるため、上記のような試料の置き間違い
や置き忘れが生じると、長時間経過後にエラーが発見さ
れて、その試料を用いた熱分析処理をもう一度やり直さ
なければならず、長い時間が無駄になる。また、場合に
よっては、１個の試料の置き間違い等により、プログラ
ムに設定された一連の熱分析処理を全てやり直さなけれ
ばならないこともあるので、さらに長い時間が無駄にな
るおそれがある。なお、上記事情は、熱分析処理に用い
るオートサンプラに限らず、何らかの処理装置に試料を
供給するオートサンプラに共通するものである。

【０００９】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、プログラムに設定された載置部に試料が実際
に載置されているかどうかを事前に検査することによ
り、試料の置き忘れや置き間違いによって生じる無駄を
なくすことができるオートサンプラを提供することを目
的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、プロ
グラムの設定により試料を載置すべきとされた各載置部
に実際に試料が載置されているかどうかを検出し、この
試料が載置されていない場合にオペレータに対して警告
措置を講じることにより、オペレータが、試料の置き忘
れや載置部の置き間違いを事前に知り、一連の処理を実
行する前にこれを修正することができるようにする。

【００１１】また、請求項２の発明は、プログラムの設
定により試料を載置すべきとされた各載置部について、
試料把持部で試料を一旦把持し処理装置に供給すること
なく再び元に戻す動作を順に実行して、これらの各載置
部で実際に試料が把持できたかどうかを検出し、試料を
把持できなかった場合にオペレータに対して警告措置を
講じることにより、オートサンプラの制御ソフトウエア
にわずかな追加を行うだけで、オペレータが試料の置き
忘れや載置部の置き間違いを事前に知り、一連の処理を
実行する前にこれを修正することができるようにする。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。図１〜図４は本発明の一実施
形態を示すものであって、図１はオートサンプラの制御
部の構成を示すブロック図、図２はディスプレイに表示
されたプログラムの設定画面を示す図、図３はトレイの
平面図、図４はターンテーブルの斜視図である。なお、
図５〜図７に示した従来例と同様の機能を有する構成部
材には同じ番号を付記する。

【００１３】本実施形態では、図５に示したものと同様
の構造のオートサンプラ１１について説明する。なお、
このオートサンプラ１１は、試料把持部１５が円筒座標
系の３軸動作を行うものであるが、直交座標系等の他の
座標系の動作を行うものであってもよい。また、このオ
ートサンプラ１１は、熱分析装置１６に試料を供給する
ためのものであるが、本発明はこれに限らず、その他の
何らかの処理を行う処理装置に試料を供給するためのも
のにも同様に実施することができる。本実施形態のオー
トサンプラ１１は、図１に示すプログラム設定部１がプ
ログラムの設定を行う。プログラム設定部１は、ディス
プレイ２に図２に示すような「プログラムの設定」画面
を表示して、オペレータによるマウスやキーボード等の
入力装置３からの入力に従いこのプログラムの設定を行
う。なお、このプログラム設定部１も、図７の従来例と
同様に、オートサンプラ１１に内蔵されたコンピュータ
又はこのオートサンプラ１１に接続された図示しないパ
ーソナルコンピュータ等で実行されるソフトウエアによ
って構成することができる。また、ここではプログラム
設定部１のソフトウエアとして、ウインドウシステム上
で実行されるアプリケーションを用いるものとする。

【００１４】図２の「プログラムの設定」画面では、一
覧表示枠２１の各行が各ステップの熱分析処理の設定を
示す。また、各行の左端の欄２２の「１」〜「１１」の
数字は、熱分析処理のステップ数を示し、数字が若い順
に実行される。処理する熱分析処理が１１ステップを超
える場合には、スクロールバー２３で一覧表示枠２１内
の行をスクロールさせることにより、さらに多くのステ
ップ数（例えば９９ステップまで）の熱分析処理を設定
することができる。ただし、図２では、熱分析処理を６
ステップまで設定した場合について示す。

【００１５】一覧表示枠２１の「測定条件」の欄２４
は、各熱分析処理の測定条件を設定する欄である。「測
定条件」ボタン２５をクリックする（マウスボタンを押
す）と、新たなウインドウを開いて熱分析処理の温度プ
ロセスやガスの導入等の測定条件を定めることができ
る。そして、ここで定めた測定条件の識別番号を「測定
条件」の欄２４に記入することにより、各ステップの熱
分析処理ごとに測定条件を設定することができる。この
「測定条件」の欄２４中に例示した「００３」は、測定
条件の識別番号であり、「９６／２／２２」は、その測
定条件の作成日付を示す。なお、図２では全ステップの
熱分析処理を識別番号「００３」の同じ測定条件に設定
しているが、それぞれ異なる測定条件を設定することが
できるのはもちろんである。一覧表示枠２１の「ファイ
ル情報」の欄２６は、熱分析処理の処理結果のデータを
出力するファイル名を設定する欄であり、ここに「自動
ファイル名」とあるのは、システムが自動的にユニーク
なファイル名を作成して出力することを示す。また、
「ファイル情報」ボタン２７をクリックすると、新たな
ウインドウを開いて、この出力ファイルに含める各種の
情報を設定することができる。

【００１６】一覧表示枠２１の「試料」の欄２８は、各
ステップの熱分析処理で用いる測定用の試料を設定する
欄であり、この測定用の試料を載置するトレイ１２の凹
部１３の番号を記入する。また、「参照」の欄２９は、
各ステップの熱分析処理で用いる参照用の試料を設定す
る欄であり、この参照用の試料を載置する凹部１３の番
号を記入する。これらの欄２８，２９の番号の記入は、
「セルの設定」ボックス３０で番号を選択し「設定」ボ
タンをクリックすることにより行われる。

【００１７】トレイ１２は、図３に示すように、各凹部
１３ごとに異なる連続した番号が付されている。そし
て、「試料」の欄２８や「参照」の欄２９は、この凹部
１３に付された番号を記入することにより、その凹部１
３に載置される試料を設定する。例えば図２では、第１
ステップと第２ステップの熱分析処理で同じ１番の番号
が付された凹部１３に載置される試料が測定用として設
定されている。また、第１ステップから第３ステップま
での熱分析処理では、同じ８５番の番号が付された凹部
１３に載置される試料が参照用として設定されている。
ただし、第３ステップの熱分析処理では、２番の番号が
付された凹部１３に載置される試料が測定用として設定
されている。第４ステップから第６ステップまでの熱分
析処理では、それぞれ異なる番号が付された凹部１３に
載置される試料が測定用と参照用に設定されている。

【００１８】ここでは、測定用と参照用の試料を区別し
易くするために、測定用の試料については、トレイ１２
の番号の若い凹部１３から順に使用し、参照用の試料に
ついては、番号の古い凹部１３から順に使用するように
している。ただし、これらの試料は、必ずしも連続した
番号の凹部１３に載置する必要はなく、第５ステップの
熱分析処理における測定用の試料の５番の設定や第６ス
テップの熱分析処理における測定用と参照用の試料の８
番と８０番の設定のように、少し番号を飛ばした凹部１
３に載置してもよい。また、一般には、さらに多数のス
テップを設定した場合にも、トレイ１２の全ての凹部１
３に試料を載置することはほとんどなく、多くは歯抜け
状にある程度まばらに試料が載置される。なお、第１ス
テップと第２ステップの熱分析処理は、同じ試料と同じ
測定条件を設定することにより、同じ熱分析処理を２回
繰り返すことを意味する。

【００１９】上記一覧表示枠２１中のいずれかのステッ
プの熱分析処理を削除する場合には、「行の削除」ボタ
ン３１を用いる。ただし、設定自体は保存しておき、一
時的に熱分析処理の実行をスキップしたい場合には、こ
の行の「実行」欄３２に「×」印を記入すればよい。ま
た、いずれかのステップの前に別の熱分析処理を挿入す
る場合には、「行の挿入」ボタン３３を用いる。さら
に、全ての設定を削除して新たに設定をやり直す場合に
は、「全クリアー」ボタン３４をクリックする。

【００２０】上記プログラムの設定が完了した場合に
は、「測定開始」ボタン３５をクリックすることによ
り、各ステップの熱分析処理を順に実行させることがで
きる。即ち、熱分析処理の実行が開始されると、図１に
示したプログラム設定部１は、まず第１ステップの熱分
析処理で設定された測定用の試料の番号「１」を試料供
給駆動部４に送る。すると、試料供給駆動部４は、トレ
イ１２の１番目の凹部１３に載置された試料を試料把持
部１５で把持して熱分析装置１６に搬送する。また、こ
の第１ステップの熱分析処理で設定された参照用の試料
の番号「８５」を試料供給駆動部４に送ることにより、
８５番目の凹部１３に載置された試料を試料把持部１５
で把持して熱分析装置１６に搬送する。そして、熱分析
装置１６でこの第１ステップの熱分析処理が終了する
と、これらの試料を順に元の凹部１３に戻し、以降同様
にして第２ステップから第６ステップまでの各熱分析処
理が全て完了するまでこれらの動作を繰り返す。

【００２１】また、上記試料供給駆動部４による動作が
実行される際には、プログラムで設定された番号の凹部
１３に試料が載置されていなかったり、試料把持部１５
が試料を挟み損ねて取り落としたような場合に、この試
料把持部１５に設けられた試料検出器５が試料の把持の
失敗を検出してエラー信号をエラー表示部６に送る。す
ると、エラー表示部６がいずれのステップの熱分析処理
の際にどの番号の凹部１３の試料を把持し損ねたかをデ
ィスプレイ２に表示すると共に、熱分析処理を停止させ
る。従って、オペレータは、このエラー表示を見て熱分
析処理の失敗を知ることができ、処理のやり直し等の適
当な措置を講じることができる。なお、図２に示した一
覧表示枠２１の「状態」の欄３６は、熱分析処理の実行
中に、現在処理中のステップや処理を終了したステップ
を表示するための欄である。また、「閉じる」ボタン３
７をクリックすると、このプログラムの設定操作が中止
される。

【００２２】以上説明した構成は、図７に示した従来例
のオートサンプラ１１と全く同じものである。しかし、
本実施形態のオートサンプラ１１は、従来例とは異な
り、図１に示す試料検査駆動部７を備えている。この試
料検査駆動部７は、試料供給駆動部４と同様に、プログ
ラム設定部１からの情報を受けて試料把持部１５を駆動
制御する。ただし、試料供給駆動部４は、図２に示した
「測定開始」ボタン３５をクリックした場合に起動され
るが、この試料検査駆動部７は、「テスト実行」ボタン
３８をクリックした場合に起動される。また、この試料
検査駆動部７は、図１に示したプログラム設定部１から
試料の番号が送られて来た場合に、この番号の凹部１３
に載置された試料を試料把持部１５で一旦把持するが、
熱分析装置１６には搬送することなく直ちに元の凹部１
３に戻す動作を行う。なお、この際、熱分析装置１６が
熱分析処理を実行しないのはもちろんである。

【００２３】上記「テスト実行」ボタン３８がクリック
されると、プログラム設定部１がまず第１ステップの熱
分析処理で設定された測定用の試料の番号「１」を試料
検査駆動部７に送る。すると、試料検査駆動部７は、１
番目の凹部１３に載置された試料を試料把持部１５で一
旦把持した後に直ちに元の凹部１３に戻す。また、プロ
グラム設定部１は、次にこの第１ステップの熱分析処理
で設定された参照用の試料の番号「８５」を試料検査駆
動部７に送る。すると、試料検査駆動部７は、８５番目
の凹部１３に載置された試料を試料把持部１５で一旦把
持した後に直ちに元の凹部１３に戻す。そして、プログ
ラム設定部１は、引き続いて第２ステップから第６ステ
ップまでの各熱分析処理で設定された測定用と参照用の
試料の番号を順次送り、これに応じて試料検査駆動部７
は、これらの番号の凹部１３に載置された試料を順次試
料把持部１５で一旦把持した後に直ちに元の凹部１３に
戻す動作を繰り返す。なお、本実施形態のオートサンプ
ラ１１は、試料把持部１５による試料の把持と上方への
移動の一連の動作を制御の１工程として構成しているの
で、試料検査駆動部７は、実際には試料把持部１５で試
料を把持して上昇させた後に、再び下降させて把持を解
除する動作を行うことになる。

【００２４】また、上記試料検査駆動部７によるテスト
動作が実行される際にも、プログラムに設定された番号
の凹部１３に試料を載置し忘れたり誤って他の番号の凹
部１３に試料を載置した場合には、試料検出器５が試料
の把持の失敗を検出してエラー信号をエラー表示部６に
送る。すると、エラー表示部６は、いずれのステップの
熱分析処理の際にどの番号の凹部１３の試料を把持し損
ねたかをディスプレイ２に表示すると共に、このテスト
動作を停止させる。従って、オペレータは、このエラー
表示を見て、熱分析処理の実行の前に間違いを確認する
ことができる。また、プログラムに設定された番号の凹
部１３に試料は載置されているが、載置状態が悪かった
り容器形状が不適切なために試料把持部１５がこれを把
持し損ねたような場合も、事前にこれを検知して適切な
措置を講じることができる。しかも、このテスト動作
は、長時間を要する熱分析処理が実行されることはない
ので、極めて短時間に完了し、オペレータが不要な時間
を取られることもほとんどない。

【００２５】試料は、上記のように図３に示したトレイ
１２の各凹部１３に載置される。この際、プログラムに
多数のステップの熱分析処理を設定すると、載置する試
料数も多くなるので、特に置き間違いが生じ易くなる。
また、プログラムを何度も修正した場合には、載置する
試料が必ずしもステップ順に連続した番号の凹部１３に
載置されるとは限らず、歯抜け状に載置されたり全く異
なる番号の凹部１３に載置されることが多くなるので、
この場合にも置き間違いが生じ易くなる。単に１個の試
料を置き忘れるだけでなく、例えば試料を連続して載置
する場合に番号がずれたようなときにも、プログラムに
設定された番号の凹部１３のいずれかに試料が存在しな
くなる。そして、これらの場合に、上記テストによって
間違いを検出することができる。もっとも、２個の試料
が置き替わって載置された場合には、いずれの番号の凹
部１３にも試料は存在するので、上記テストにより間違
いを検出することはできない。しかし、このように２個
の試料が同時にしかも入れ違いに置き間違することは極
めて希である。

【００２６】以上説明したように、本実施形態のオート
サンプラ１１によれば、実際に熱分析処理を実行する前
に、試料検査駆動部７によるテストを実行することによ
り、事前に試料の置き間違い等をディスプレイ２のエラ
ー表示によってオペレータが知ることができるので、長
時間を要する熱分析処理を実行した後に処理のやり直し
等を行う無駄をなくすことができる。しかも、試料検査
駆動部７は、試料供給駆動部４による試料把持部１５の
制御動作を一部省略して実行するものにすぎないので、
オートサンプラ１１に簡単な制御ソフトウエアを追加す
るだけで容易に実施することができる。

【００２７】なお、上記実施形態では、オートサンプラ
１１に着脱自在に装着したトレイ１２に凹部１３を形成
する場合について説明したが、例えば図４に示すよう
に、オートサンプラ１１に設置した円盤状のターンテー
ブル１７の円周上に凹部１３を形成することもでき、そ
の他のいずれの部材に凹部１３を形成してもよい。ま
た、この凹部１３は、凹状の窪みに限らず、試料を位置
決めして載置できる載置部であればどのような構成であ
ってもよい。

【００２８】さらに、上記実施形態では、試料検査駆動
部７のテスト動作により試料の置き間違いが発見された
場合にも、試料供給駆動部４の熱分析処理の場合と同じ
エラー表示部６を用いてエラー表示と動作の停止を行わ
せているが、必ずしも途中でテスト動作を停止させる必
要はなく、全てのステップの終了後にエラーの一覧を表
示させるようにしてもよい。また、試料の置き間違いを
オペレータに知らせる警告措置であれば、エラー表示部
６によるエラー表示に代えて、他の任意の措置を講じて
もよい。

【００２９】さらに、上記実施形態では、試料把持部１
５で実際に試料を把持して試料検出器５により試料の検
出を行ったが、例えばこの試料把持部１５に非接触で試
料の有無を検出するセンサを設ければ、試料検査駆動部
７がこの試料把持部１５を各凹部１３の上方に移動させ
るだけで、プログラムに設定された各凹部１３に試料が
存在しないことを検出することができるようになる。ま
た、トレイ１２の各凹部１３に試料の有無を検出する光
学センサ等を設ければ、試料検査駆動部７は、試料把持
部１５を動作させることなく、各光学センサ等の検出結
果を調べるだけで、プログラムに設定された各凹部１３
に試料が存在しないことを検出することができる。ただ
し、この場合には、凹部１３の数だけ光学センサ等を設
ける必要が生じる。また、これらの場合には、プログラ
ムに設定された各凹部１３についてのみ試料が存在する
かどうかを検出したが、全ての凹部１３について試料の
有無を検出し、プログラムの設定と比較すれば、このプ
ログラムに設定されていない凹部１３に試料が無意味に
存在するという間違いも検出することができるようにな
る。

【００３０】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のオートサンプラによれば、プログラムで設定された各
載置部に試料が載置されていない場合に警告措置が講じ
られるので、オペレータは、試料の置き忘れや置き間違
いを事前に知ることができ、処理のやり直し等に要する
無駄をなくすことができるようになる。また、試料把持
部で試料の把持動作のみを行う簡単な制御ソフトウエア
を追加するだけで、上記試料の置き忘れや置き間違いの
検査を行うことができるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示すものであって、オー
トサンプラの制御部の構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の一実施形態を示すものであって、ディ
スプレイに表示されたプログラムの設定画面を示す図で
ある。

【図３】本発明の一実施形態を示すものであって、トレ
イの平面図である。

【図４】本発明の一実施形態を示すものであって、ター
ンテーブルの斜視図である。

【図５】オートサンプラの構成を示す全体斜視図であ
る。

【図６】オートサンプラに設置するトレイの斜視図であ
る。

【図７】従来例を示すものであって、オートサンプラの
制御部の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

１プログラム設定部２ディスプレイ５試料検出器６エラー表示部７試料検査駆動部１１オートサンプラ１３凹部１５試料把持部３８「テスト実行」ボタン

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料を載置するための載置部が複数形成
され、プログラムの設定に従ってこの載置部から試料を
取り出して処理装置に供給するオートサンプラにおい
て、載置部に試料が載置されているかどうかを検出する試料
検出手段と、プログラムの設定により試料を載置すべき各載置部につ
いて、試料検出手段が試料の載置を検出しない場合にエ
ラー判定を行う試料載置判定手段と、この試料載置判定手段がエラー判定を行った場合に、当
該各載置部について警告措置を講じる警告手段とが設け
られたことを特徴とするオートサンプラ。
【請求項２】試料を載置するための載置部が複数形成
され、プログラムの設定に従って試料把持部によりこれ
らの各載置部の試料を把持して処理装置に搬送するオー
トサンプラにおいて、試料把持部が載置部の試料を把持する際に、この試料を
把持できたかどうかを検出する試料検出手段と、プログラムの設定により試料を載置すべき各載置部につ
いて、これらの各載置部の試料を試料把持部で一旦把持
し再び元の載置部に戻す動作を順に実行する試料把持検
査手段と、この試料把持検査手段が各載置部で試料の把持を実行し
た際に、試料検出手段が試料を把持できなかったことを
検出すると、当該各載置部について警告措置を講じる警
告手段とが設けられたことを特徴とするオートサンプ
ラ。