JPH09325277A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
- Publication number
- JPH09325277A JPH09325277A JP8141450A JP14145096A JPH09325277A JP H09325277 A JPH09325277 A JP H09325277A JP 8141450 A JP8141450 A JP 8141450A JP 14145096 A JP14145096 A JP 14145096A JP H09325277 A JPH09325277 A JP H09325277A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- focus detection
- focus
- objective lens
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Focusing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンフォーカル顕微鏡の原理を用いた焦点検
出装置を得る。 【解決手段】 焦点検出用光源11,12,13の光
を、対物レンズ1から接眼レンズ2に至る観察用光路中
に配設されたダイクロイックミラー15に反射させて観
察用光路中に導き、対物レンズ1を通して観察標本5に
照射させる。そして、観察標本5から反射されて対物レ
ンズ1を介して戻ってくる光をダイクロイックミラー1
5およびハーフミラー16により反射させて受光基板1
7のピンホール17aに照射させ、このピンホール17
aを通過する光の光量を光量検出器18により検出す
る。さらに、観察標本5の上下位置を変化させる焦点調
節装置6を有する。焦点検出用光源および受光基板17
は、対物レンズ1による観察標本5の像面の共役位置に
配設されており、焦点調節装置6により距離を変化させ
たときに、光量検出器18により検出される光量が最大
となるときにジャストフォーカス状態となる。
出装置を得る。 【解決手段】 焦点検出用光源11,12,13の光
を、対物レンズ1から接眼レンズ2に至る観察用光路中
に配設されたダイクロイックミラー15に反射させて観
察用光路中に導き、対物レンズ1を通して観察標本5に
照射させる。そして、観察標本5から反射されて対物レ
ンズ1を介して戻ってくる光をダイクロイックミラー1
5およびハーフミラー16により反射させて受光基板1
7のピンホール17aに照射させ、このピンホール17
aを通過する光の光量を光量検出器18により検出す
る。さらに、観察標本5の上下位置を変化させる焦点調
節装置6を有する。焦点検出用光源および受光基板17
は、対物レンズ1による観察標本5の像面の共役位置に
配設されており、焦点調節装置6により距離を変化させ
たときに、光量検出器18により検出される光量が最大
となるときにジャストフォーカス状態となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光学顕微鏡等のよう
な光学機器において、焦点が合う位置(合焦位置)を自
動的に検出する装置に関し、更に詳しくは、コンフォー
カル顕微鏡の原理を使って合焦位置を検出する装置に関
する。
な光学機器において、焦点が合う位置(合焦位置)を自
動的に検出する装置に関し、更に詳しくは、コンフォー
カル顕微鏡の原理を使って合焦位置を検出する装置に関
する。
【0002】
【従来の技術および解決課題】光学顕微鏡、望遠鏡等の
光学機器における自動焦点装置は従来から種々のものが
提案され、実用化されている。従来の自動焦点装置はそ
れなりに実用性があるが、さらに、実用性の高い自動焦
点装置が要求されている。このような要求から、本出願
人は新規な自動焦点装置を模索し、コンフォーカル顕微
鏡の原理を用いた新規な焦点検出装置を発明した。
光学機器における自動焦点装置は従来から種々のものが
提案され、実用化されている。従来の自動焦点装置はそ
れなりに実用性があるが、さらに、実用性の高い自動焦
点装置が要求されている。このような要求から、本出願
人は新規な自動焦点装置を模索し、コンフォーカル顕微
鏡の原理を用いた新規な焦点検出装置を発明した。
【0003】このように本発明はコンフォーカル顕微鏡
の原理を用いて合焦位置を自動検出する装置に関するも
のであるため、図5を参照して、コンフォーカル顕微鏡
の原理をまず説明する。このコンフォーカル顕微鏡で
は、レーザーダイオード71からの点光源光はハーフミ
ラー72に照射され、ここで反射されて対物レンズ73
により標本74の上に点像を結ぶ。この光は標本74で
反射されて再び対物レンズ73を通り、ハーフミラー7
2を透過してピンホール基板75に照射される。ここ
で、ピンホール基板75は、対物レンズ73による標本
74の一次像面位置、すなわち、レーザーダイオード7
1の光源位置と共役位置に配設されており、基板75に
形成されたピンホール75aに点像を結ぶ。このためこ
のように点像を結ぶ光はピンホール75aを通過して、
その直後に配設された検出器76に当たり、検出器76
により検出される。
の原理を用いて合焦位置を自動検出する装置に関するも
のであるため、図5を参照して、コンフォーカル顕微鏡
の原理をまず説明する。このコンフォーカル顕微鏡で
は、レーザーダイオード71からの点光源光はハーフミ
ラー72に照射され、ここで反射されて対物レンズ73
により標本74の上に点像を結ぶ。この光は標本74で
反射されて再び対物レンズ73を通り、ハーフミラー7
2を透過してピンホール基板75に照射される。ここ
で、ピンホール基板75は、対物レンズ73による標本
74の一次像面位置、すなわち、レーザーダイオード7
1の光源位置と共役位置に配設されており、基板75に
形成されたピンホール75aに点像を結ぶ。このためこ
のように点像を結ぶ光はピンホール75aを通過して、
その直後に配設された検出器76に当たり、検出器76
により検出される。
【0004】このようにコンフォーカル顕微鏡の場合、
レーザーダイオード71の光源位置とピンホール基板7
5とはともに対物レンズ73の像面位置(共役位置)に
配設されており、検出器76により検出される光量は標
本74のフォーカス位置に応じて変化する。この光量
は、標本74がジャストフォーカス位置(合焦位置)に
位置するときに最大となり、フォーカスがずれるに応じ
て低下する。
レーザーダイオード71の光源位置とピンホール基板7
5とはともに対物レンズ73の像面位置(共役位置)に
配設されており、検出器76により検出される光量は標
本74のフォーカス位置に応じて変化する。この光量
は、標本74がジャストフォーカス位置(合焦位置)に
位置するときに最大となり、フォーカスがずれるに応じ
て低下する。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記のようなコ
ンフォーカル顕微鏡の原理を用いて焦点検出装置を得る
ことを目的とし、少なくとも対物レンズを有し、観察標
本を対物レンズを通して観察する光学機器に用いられ、
以下のように構成される。
ンフォーカル顕微鏡の原理を用いて焦点検出装置を得る
ことを目的とし、少なくとも対物レンズを有し、観察標
本を対物レンズを通して観察する光学機器に用いられ、
以下のように構成される。
【0006】この装置は、焦点検出用光源と、対物レン
ズから観察位置に至る観察用光路中に配設されて焦点検
出用光源からの光を対物レンズへ導き、この対物レンズ
を通過させて観察標本へ照射する第1部分反射光学素子
(なお、部分反射光学素子とは、ハーフミラー、ダイク
ロイックミラー、ビームスプリッター等のように、入射
された光の一部はそのまま透過させるが残りは反射させ
る機能を有した光学素子をいう)と、観察標本にて反射
された後に対物レンズを経て戻る光を、微少開口である
開口部を介して受光し、この開口部からの光の光量を検
出する光量検出手段と、観察標本と対物レンズとの距離
を変化させる焦点調節手段とを有して構成される。焦点
検出用光源および開口部は、対物レンズによる観察標本
の像面と共役な位置に配設されており、焦点調節手段に
より距離を変化させたときに、光量検出手段が検出する
光量変化に基づいて光学機器の合焦状態の検出を行う。
ズから観察位置に至る観察用光路中に配設されて焦点検
出用光源からの光を対物レンズへ導き、この対物レンズ
を通過させて観察標本へ照射する第1部分反射光学素子
(なお、部分反射光学素子とは、ハーフミラー、ダイク
ロイックミラー、ビームスプリッター等のように、入射
された光の一部はそのまま透過させるが残りは反射させ
る機能を有した光学素子をいう)と、観察標本にて反射
された後に対物レンズを経て戻る光を、微少開口である
開口部を介して受光し、この開口部からの光の光量を検
出する光量検出手段と、観察標本と対物レンズとの距離
を変化させる焦点調節手段とを有して構成される。焦点
検出用光源および開口部は、対物レンズによる観察標本
の像面と共役な位置に配設されており、焦点調節手段に
より距離を変化させたときに、光量検出手段が検出する
光量変化に基づいて光学機器の合焦状態の検出を行う。
【0007】上記コンフォーカル顕微鏡の原理説明から
分かるように、焦点検出用光源および開口部は、観察標
本からの反射光が対物レンズを通って観察標本の像を結
ぶ共役位置に配設されてコンフォーカル顕微鏡と同一の
構成を有しており、観察標本がジャストフォーカス状態
(合焦状態)のときに光量検出手段により検出される光
量が最大となる。このため、焦点調節手段により観察標
本と対物レンズとの距離を変化させながら光量検出手段
の検出光量が最大となる距離を検出すれば、光量最大と
なる位置がジャストフォーカス位置であり、自動的に焦
点位置検出を行うことができる。
分かるように、焦点検出用光源および開口部は、観察標
本からの反射光が対物レンズを通って観察標本の像を結
ぶ共役位置に配設されてコンフォーカル顕微鏡と同一の
構成を有しており、観察標本がジャストフォーカス状態
(合焦状態)のときに光量検出手段により検出される光
量が最大となる。このため、焦点調節手段により観察標
本と対物レンズとの距離を変化させながら光量検出手段
の検出光量が最大となる距離を検出すれば、光量最大と
なる位置がジャストフォーカス位置であり、自動的に焦
点位置検出を行うことができる。
【0008】なお、第1部分反射光学素子は、焦点検出
用光源からの光を対物レンズを通して観察標本へ導くと
ともに、観察標本からの反射光を焦点検出用光源へ向け
て反射させるようになし、焦点検出用光源から第1部分
反射光学素子へ至る検出用光路中に、観察標本にて反射
された後に第1部分反射光学素子にて焦点検出用光源へ
向けて反射された光を検出用光路の外へ向けて反射させ
る第2部分反射光学素子を配設し、光量検出手段の開口
部を第2部分反射光学素子に反射されて検出用光路の外
へ導かれる光の光路中における観察表面の像面と共役な
位置に配設するのが好ましい。
用光源からの光を対物レンズを通して観察標本へ導くと
ともに、観察標本からの反射光を焦点検出用光源へ向け
て反射させるようになし、焦点検出用光源から第1部分
反射光学素子へ至る検出用光路中に、観察標本にて反射
された後に第1部分反射光学素子にて焦点検出用光源へ
向けて反射された光を検出用光路の外へ向けて反射させ
る第2部分反射光学素子を配設し、光量検出手段の開口
部を第2部分反射光学素子に反射されて検出用光路の外
へ導かれる光の光路中における観察表面の像面と共役な
位置に配設するのが好ましい。
【0009】もう一つの本発明に係る焦点検出装置は、
焦点検出用光源と、対物レンズから観察位置へ至る観察
用光路中に配設されて焦点検出用光源からの光を観察用
光路へ導き、対物レンズを通って観察標本に照射する第
1部分反射光学素子と、観察標本にて反射された後にて
対物レンズを経て戻る光を第1〜第3の光路に三分割す
る光分割手段と、第1の光路において第1の開口部を通
過する光の光量を検出する第1光量検出手段と、第2の
光路において第2の開口部を通過する光の光量を検出す
る第2光量検出手段と、第3の光路において第3の開口
部を通過する光の光量を検出する第3光量検出手段と、
観察標本と対物レンズとの距離を変化させる焦点調節手
段とを有して構成される。その上で、焦点検出用光源お
よび第2の開口部とを対物レンズによる観察標本の像面
と共役な位置に配設し、第1の開口部は像面の共役位置
より光軸方向において観察標本に近い位置に配設し、第
3の開口部は像面の共役位置より観察標本に遠い位置に
配設している。そして、焦点調節手段により距離を変化
させたときに、第1〜第3光量検出手段により検出され
る光量変化に基づいて光学機器の焦点位置の検出を行
う。
焦点検出用光源と、対物レンズから観察位置へ至る観察
用光路中に配設されて焦点検出用光源からの光を観察用
光路へ導き、対物レンズを通って観察標本に照射する第
1部分反射光学素子と、観察標本にて反射された後にて
対物レンズを経て戻る光を第1〜第3の光路に三分割す
る光分割手段と、第1の光路において第1の開口部を通
過する光の光量を検出する第1光量検出手段と、第2の
光路において第2の開口部を通過する光の光量を検出す
る第2光量検出手段と、第3の光路において第3の開口
部を通過する光の光量を検出する第3光量検出手段と、
観察標本と対物レンズとの距離を変化させる焦点調節手
段とを有して構成される。その上で、焦点検出用光源お
よび第2の開口部とを対物レンズによる観察標本の像面
と共役な位置に配設し、第1の開口部は像面の共役位置
より光軸方向において観察標本に近い位置に配設し、第
3の開口部は像面の共役位置より観察標本に遠い位置に
配設している。そして、焦点調節手段により距離を変化
させたときに、第1〜第3光量検出手段により検出され
る光量変化に基づいて光学機器の焦点位置の検出を行
う。
【0010】この構成の焦点検出装置の場合には、第1
光量検出手段により検出された光量と第3光量検出手段
により検出された光量との差に基づいて焦点調節手段の
作動方向を設定するのが好ましい。
光量検出手段により検出された光量と第3光量検出手段
により検出された光量との差に基づいて焦点調節手段の
作動方向を設定するのが好ましい。
【0011】
【発明の実施の形態(その1)】以下、本発明の第1の
実施形態について図1を参照して説明する。ここでは、
対物レンズ1、接眼レンズ2、落射照明源3および第1
ハーフミラー4を有した光学顕微鏡MSに、本発明に係
る焦点検出装置を用いた例を示している。落射照明源3
からの光は、第1ハーフミラー4で反射され、後述する
ダイクロイックミラー15および対物レンズ1を通り、
標本5を照明する。照明された標本5からの光は逆のコ
ースを辿り、対物レンズ1、ダイクロイックミラー15
および第1ハーフミラー4をこの順に透過し、像面8の
上に標本5の像を結ぶので、これを接眼レンズ2を介し
て観察するように構成されている。
実施形態について図1を参照して説明する。ここでは、
対物レンズ1、接眼レンズ2、落射照明源3および第1
ハーフミラー4を有した光学顕微鏡MSに、本発明に係
る焦点検出装置を用いた例を示している。落射照明源3
からの光は、第1ハーフミラー4で反射され、後述する
ダイクロイックミラー15および対物レンズ1を通り、
標本5を照明する。照明された標本5からの光は逆のコ
ースを辿り、対物レンズ1、ダイクロイックミラー15
および第1ハーフミラー4をこの順に透過し、像面8の
上に標本5の像を結ぶので、これを接眼レンズ2を介し
て観察するように構成されている。
【0012】この観察に際して、焦点合わせは標本5
(具体的には、標本載置台)を焦点調節装置6により矢
印Aで示すように上下動させて、対物レンズ1との間隔
を変化させることにより行う。本装置では、焦点調節装
置6による焦点位置検出をコントローラ20により自動
的に行うようになっており、この焦点検出装置10につ
いて以下に説明する。
(具体的には、標本載置台)を焦点調節装置6により矢
印Aで示すように上下動させて、対物レンズ1との間隔
を変化させることにより行う。本装置では、焦点調節装
置6による焦点位置検出をコントローラ20により自動
的に行うようになっており、この焦点検出装置10につ
いて以下に説明する。
【0013】この装置10は、焦点検出用光源を形成す
るランプ11、コレクタレンズ12およぴ照明基板13
を有し、ランプ11の光をコレクタレンズ12により照
明基板13のピンホール13aに集め、ピンホール13
aを通過した光が焦点検出光として出射される。なお、
この照明基板13は光学顕微鏡MSの対物レンズ1によ
る標本5の像面8と共役な位置に配設されている。焦点
検出光は第2ハーフミラー16を通過して、光学顕微鏡
MSの観察用光路中に配設されたダイクロイックミラー
15に照射され、このダイクロイックミラー15により
反射された光は観察用光路に入って対物レンズ1により
標本5上にピンホール13aの像を結ぶ。
るランプ11、コレクタレンズ12およぴ照明基板13
を有し、ランプ11の光をコレクタレンズ12により照
明基板13のピンホール13aに集め、ピンホール13
aを通過した光が焦点検出光として出射される。なお、
この照明基板13は光学顕微鏡MSの対物レンズ1によ
る標本5の像面8と共役な位置に配設されている。焦点
検出光は第2ハーフミラー16を通過して、光学顕微鏡
MSの観察用光路中に配設されたダイクロイックミラー
15に照射され、このダイクロイックミラー15により
反射された光は観察用光路に入って対物レンズ1により
標本5上にピンホール13aの像を結ぶ。
【0014】この光は標本5により反射され、再び対物
レンズ1を通り、ダイクロイックミラー15で反射さ
れ、次に第2ハーフミラー16により反射され、受光基
板17に到達する。この受光基板17は上述のようにダ
イクロイックミラー15および第2ハーフミラー16に
より反射される光の光軸上において、対物レンズ1によ
る標本5の像面に配置されている(すなわち、照明基板
13と受光基板17とは共役位置に配置されている)。
このため、受光基板17には照明基板13のピンホール
13aから出射された光の像(すなわち、ピンホール1
3aの像)を結ぶ。
レンズ1を通り、ダイクロイックミラー15で反射さ
れ、次に第2ハーフミラー16により反射され、受光基
板17に到達する。この受光基板17は上述のようにダ
イクロイックミラー15および第2ハーフミラー16に
より反射される光の光軸上において、対物レンズ1によ
る標本5の像面に配置されている(すなわち、照明基板
13と受光基板17とは共役位置に配置されている)。
このため、受光基板17には照明基板13のピンホール
13aから出射された光の像(すなわち、ピンホール1
3aの像)を結ぶ。
【0015】この構成から分かるように、ここに示す焦
点検出装置10はコンフォーカル顕微鏡と同一の構成で
あり、前述の説明から分かるように、受光基板17の光
量密度は標本5がジャストフォーカスのときに最大とな
り、フォーカスがずれるに従って低下する。すなわち、
受光基板17の光量密度が最大となる時の標本5の位置
がジャストフォーカス位置である。
点検出装置10はコンフォーカル顕微鏡と同一の構成で
あり、前述の説明から分かるように、受光基板17の光
量密度は標本5がジャストフォーカスのときに最大とな
り、フォーカスがずれるに従って低下する。すなわち、
受光基板17の光量密度が最大となる時の標本5の位置
がジャストフォーカス位置である。
【0016】このため、この装置10では、受光基板1
7にピンホール17aを形成するとともに受光基板17
の直後に光量検出器18を配設し、受光基板に結像して
ピンホール17aを通過する光の光量密度を光量検出器
18により測定する。そして、この測定置は、コントロ
ーラ20に送られ、この測定値に基づいて焦点調節装置
6により観察標本5の上下動(矢印A)の制御を行う。
7にピンホール17aを形成するとともに受光基板17
の直後に光量検出器18を配設し、受光基板に結像して
ピンホール17aを通過する光の光量密度を光量検出器
18により測定する。そして、この測定置は、コントロ
ーラ20に送られ、この測定値に基づいて焦点調節装置
6により観察標本5の上下動(矢印A)の制御を行う。
【0017】光量検出器18により測定される光量密度
(縦軸)と、標本5の上下位置(横軸)との関係を図2
に定性的に示している。標本5が上下位置pjに位置す
るときに光量密度が最大となり、位置pjがジャストフ
ォーカス位置である。ここで、例えば、標本5が図2に
おける位置p1に位置しているときに、自動焦点検出を
行う例を説明する。
(縦軸)と、標本5の上下位置(横軸)との関係を図2
に定性的に示している。標本5が上下位置pjに位置す
るときに光量密度が最大となり、位置pjがジャストフ
ォーカス位置である。ここで、例えば、標本5が図2に
おける位置p1に位置しているときに、自動焦点検出を
行う例を説明する。
【0018】自動焦点検出に際しては、コントローラ2
0はまず、標本20を上動もしくは下動させる。例え
ば、位置p1から矢印m1で示すようにこれを下動させ
ると光量密度は低下するため、位置p2においてコント
ローラ20は焦点作動方向が逆であると判断し、逆作動
させる。これにより、標本5は矢印m2で示すように上
動され、光量密度がピークとなる位置pjを通過してこ
れが低下するのを検出した位置p3においてピークとな
る位置pjを検出できる。そこで、行きすぎた分だけ
(矢印m3だけ)戻した位置がジャストフォーカス位置
となり、これにより自動焦点検出が完了する。
0はまず、標本20を上動もしくは下動させる。例え
ば、位置p1から矢印m1で示すようにこれを下動させ
ると光量密度は低下するため、位置p2においてコント
ローラ20は焦点作動方向が逆であると判断し、逆作動
させる。これにより、標本5は矢印m2で示すように上
動され、光量密度がピークとなる位置pjを通過してこ
れが低下するのを検出した位置p3においてピークとな
る位置pjを検出できる。そこで、行きすぎた分だけ
(矢印m3だけ)戻した位置がジャストフォーカス位置
となり、これにより自動焦点検出が完了する。
【0019】
【発明の実施の形態(その2)】次に、本発明の第2の
実施形態について図3を参照して説明する。この例でも
図1の例と同一の光学顕微鏡MSに、本発明に係る焦点
検出装置を用いている。すなわち、落射照明源3からの
光は、第1ハーフミラー4で反射され、後述するダイク
ロイックミラー15および対物レンズ1を通り、標本5
を照明し、照明された標本5からの光は、対物レンズ
1、ダイクロイックミラー15および第1ハーフミラー
4を透過し、像面8の上に標本5の像を結び、これを接
眼レンズ2を介して観察する。
実施形態について図3を参照して説明する。この例でも
図1の例と同一の光学顕微鏡MSに、本発明に係る焦点
検出装置を用いている。すなわち、落射照明源3からの
光は、第1ハーフミラー4で反射され、後述するダイク
ロイックミラー15および対物レンズ1を通り、標本5
を照明し、照明された標本5からの光は、対物レンズ
1、ダイクロイックミラー15および第1ハーフミラー
4を透過し、像面8の上に標本5の像を結び、これを接
眼レンズ2を介して観察する。
【0020】この例の焦点検出装置装置30は、図1の
例と同一の焦点検出用光源を有し、ランプ11の光をコ
レクタレンズ12により照明基板13のピンホール13
aに集め、ピンホール13aを通過した光を焦点検出光
として出射する。照明基板13は光学顕微鏡MSの像面
8と共役な位置に配設されている。焦点検出光は第2ハ
ーフミラー16を通過してダイクロイックミラー15に
照射され、ダイクロイックミラー15により反射された
光は観察用光路に入って対物レンズ1により標本5上に
ピンホール13aの像を結ぶ。
例と同一の焦点検出用光源を有し、ランプ11の光をコ
レクタレンズ12により照明基板13のピンホール13
aに集め、ピンホール13aを通過した光を焦点検出光
として出射する。照明基板13は光学顕微鏡MSの像面
8と共役な位置に配設されている。焦点検出光は第2ハ
ーフミラー16を通過してダイクロイックミラー15に
照射され、ダイクロイックミラー15により反射された
光は観察用光路に入って対物レンズ1により標本5上に
ピンホール13aの像を結ぶ。
【0021】この光は標本5により反射され、再び対物
レンズ1を通り、ダイクロイックミラー15で反射さ
れ、次に第2ハーフミラー16により反射され、図にお
ける上方に照射される。ここには、第3および第4ハー
フミラー32,33からなる光分割装置31が配設され
ており、第2ハーフミラー16に反射された光は、この
光分割装置31により図示のように三分割される。具体
的には、まず第3ハーフミラー32により反射された光
は第1受光基板41のピンホール41aに照射され、第
3ハーフミラー32を通過するとともに第4ハーフミラ
ー33も通過した光は第2受光基板43のピンホール4
3aに照射され、第4ハーフミラー33により反射され
た光は第3受光基板45のピンホール45aに照射され
る。
レンズ1を通り、ダイクロイックミラー15で反射さ
れ、次に第2ハーフミラー16により反射され、図にお
ける上方に照射される。ここには、第3および第4ハー
フミラー32,33からなる光分割装置31が配設され
ており、第2ハーフミラー16に反射された光は、この
光分割装置31により図示のように三分割される。具体
的には、まず第3ハーフミラー32により反射された光
は第1受光基板41のピンホール41aに照射され、第
3ハーフミラー32を通過するとともに第4ハーフミラ
ー33も通過した光は第2受光基板43のピンホール4
3aに照射され、第4ハーフミラー33により反射され
た光は第3受光基板45のピンホール45aに照射され
る。
【0022】ここで、第2受光基板43は光軸上におい
て対物レンズ1による標本5の像面、すなわち、照明基
板13と共役となる位置c2に配置されているが、第1
受光基板41は共役像面位置c1より距離Lだけ前方側
の位置(距離−Lだけ離れた位置)に配置されており、
第3受光基板45は共役像面位置c3より距離Lだけ後
方側の位置(距離+Lだけ離れた位置)に配置されてい
る。そして、これら第1〜第3受光基板41,43,4
5の直後には各基板のピンホール41a,43a,45
aを通過する光量を検出する第1〜第3光量検出器4
2,44,46が配設されている。
て対物レンズ1による標本5の像面、すなわち、照明基
板13と共役となる位置c2に配置されているが、第1
受光基板41は共役像面位置c1より距離Lだけ前方側
の位置(距離−Lだけ離れた位置)に配置されており、
第3受光基板45は共役像面位置c3より距離Lだけ後
方側の位置(距離+Lだけ離れた位置)に配置されてい
る。そして、これら第1〜第3受光基板41,43,4
5の直後には各基板のピンホール41a,43a,45
aを通過する光量を検出する第1〜第3光量検出器4
2,44,46が配設されている。
【0023】この装置30においては、各光量検出器4
2,44,46の検出値に基づいてコントローラ35に
より焦点調節装置6による標本5の上下動制御を行って
焦点位置検出を行う。この装置においても、基本的には
対物レンズ5による標本5の共役像面位置c2に位置す
る第2受光基板43のピンホール43aを通過する光量
密度が最大になる位置がジャストフォーカス位置であ
り、図1の装置と同様にして自動焦点位置検出を行うこ
とができる。
2,44,46の検出値に基づいてコントローラ35に
より焦点調節装置6による標本5の上下動制御を行って
焦点位置検出を行う。この装置においても、基本的には
対物レンズ5による標本5の共役像面位置c2に位置す
る第2受光基板43のピンホール43aを通過する光量
密度が最大になる位置がジャストフォーカス位置であ
り、図1の装置と同様にして自動焦点位置検出を行うこ
とができる。
【0024】但し、この装置においては、第1および第
3光量検出器42,46の検出値も用いてより簡単且つ
迅速に自動焦点検出を行うことができるようにしてい
る。上述のように、第1および第3受光基板41,45
は共役像面位置c1,c3に対してそれぞれ距離−Lお
よび+Lだけ離れているため、標本位置と第1〜第3光
量検出器42,44,46の検出値R1,R2,R3と
の関係は図4に示すようになる。なお、この図では、検
出値R1,R2,R3のピーク値が同一となっている
が、このように同一ピーク値が得られるように、光分割
装置31を構成する第3および第4ハーフミラー32,
33の性能を設定する。但し、このような設定のハーフ
ミラーの製作は難しいので、各検出値の検出ゲインを調
整し、ピーク値が同一となるようなゲイン補正を行うの
が好ましい。
3光量検出器42,46の検出値も用いてより簡単且つ
迅速に自動焦点検出を行うことができるようにしてい
る。上述のように、第1および第3受光基板41,45
は共役像面位置c1,c3に対してそれぞれ距離−Lお
よび+Lだけ離れているため、標本位置と第1〜第3光
量検出器42,44,46の検出値R1,R2,R3と
の関係は図4に示すようになる。なお、この図では、検
出値R1,R2,R3のピーク値が同一となっている
が、このように同一ピーク値が得られるように、光分割
装置31を構成する第3および第4ハーフミラー32,
33の性能を設定する。但し、このような設定のハーフ
ミラーの製作は難しいので、各検出値の検出ゲインを調
整し、ピーク値が同一となるようなゲイン補正を行うの
が好ましい。
【0025】図4にはさらに、第1および第3光量検出
器42,46の検出値R1,R3の差(R1−R3)も
示しており、この差は図示のように、標本5が所定範囲
(PLからPHの間の範囲)にある限りは、単調減少曲
線で表され、ジャストフォーカス位置pjにおいて零と
なる。このため、この差(R1−R3)の値を見れば、
ジャストフォーカスを得るために必要な標本5の移動方
向が分かる。そこで、コントローラ35は、差(R1−
R3)を零にする方向に標本5を移動させるように焦点
調節装置6の作動を行い、簡単且つ迅速に自動焦点検出
ができるようになっている。
器42,46の検出値R1,R3の差(R1−R3)も
示しており、この差は図示のように、標本5が所定範囲
(PLからPHの間の範囲)にある限りは、単調減少曲
線で表され、ジャストフォーカス位置pjにおいて零と
なる。このため、この差(R1−R3)の値を見れば、
ジャストフォーカスを得るために必要な標本5の移動方
向が分かる。そこで、コントローラ35は、差(R1−
R3)を零にする方向に標本5を移動させるように焦点
調節装置6の作動を行い、簡単且つ迅速に自動焦点検出
ができるようになっている。
【0026】なお、第1および第3受光基板41,45
に形成されるピンホール41a,45aの径Dは、 L>=D/(2NA) 但し、L:基板41,45の位置から像面c1,c3ま
での距離 NA:受光基板(光量検出器)の位置における開口数 を満たすように設定するのが好ましい。
に形成されるピンホール41a,45aの径Dは、 L>=D/(2NA) 但し、L:基板41,45の位置から像面c1,c3ま
での距離 NA:受光基板(光量検出器)の位置における開口数 を満たすように設定するのが好ましい。
【0027】この条件を外れる場合には、ピンホール4
1a,45aの径Dが光束径より大きくなり、ジャスト
フォーカス付近において検出器は光束全体の光量を検出
することになり、標本5を移動させても光量検出器の検
出値が変化しなくなる。このため、上記条件を外れるよ
うな大きなピンホール径を設定すると、ジャストフォー
カス位置付近において光量差(R1−R3)の値が常に
零となり、この部分においては焦点合わせを行う方向の
設定が難しくなるという問題があるが、上記条件を満た
す径を設定することにより、常に良好な焦点調節が可能
となる。
1a,45aの径Dが光束径より大きくなり、ジャスト
フォーカス付近において検出器は光束全体の光量を検出
することになり、標本5を移動させても光量検出器の検
出値が変化しなくなる。このため、上記条件を外れるよ
うな大きなピンホール径を設定すると、ジャストフォー
カス位置付近において光量差(R1−R3)の値が常に
零となり、この部分においては焦点合わせを行う方向の
設定が難しくなるという問題があるが、上記条件を満た
す径を設定することにより、常に良好な焦点調節が可能
となる。
【0028】以上の実施形態(その1およびその2)に
おいて、光源11、コレクタレンズ12および照明基板
13からなる焦点検出用光源に代えて、レーザーダイオ
ードを照明基板13の位置において構成しても良い。ま
た、第1から第3受光基板41,43,45のピンホー
ル41a,43a,45aを微少スリットに代えても良
い。この場合、上記条件式におけるピンホール径Dに代
えてスリット幅を用いて上記条件式を満たすスリット幅
設定を行うのが好ましい。
おいて、光源11、コレクタレンズ12および照明基板
13からなる焦点検出用光源に代えて、レーザーダイオ
ードを照明基板13の位置において構成しても良い。ま
た、第1から第3受光基板41,43,45のピンホー
ル41a,43a,45aを微少スリットに代えても良
い。この場合、上記条件式におけるピンホール径Dに代
えてスリット幅を用いて上記条件式を満たすスリット幅
設定を行うのが好ましい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
焦点検出用光源および開口部は観察標本からの反射光が
対物レンズを通って観察標本の像を結ぶ共役位置に配設
されてコンフォーカル顕微鏡と同一の構成を有してお
り、観察標本がジャストフォーカスのときに光量検出手
段により検出される光量(すなわち、開口部を通過する
光の光量)が最大となる。このため、焦点調節手段によ
り観察標本と対物レンズとの距離を変化させながら光量
検出手段の検出光量が最大となる距離を検出すれば、光
量最大となる位置がジャストフォーカス位置であり、自
動的に焦点位置検出を行うことができる。
焦点検出用光源および開口部は観察標本からの反射光が
対物レンズを通って観察標本の像を結ぶ共役位置に配設
されてコンフォーカル顕微鏡と同一の構成を有してお
り、観察標本がジャストフォーカスのときに光量検出手
段により検出される光量(すなわち、開口部を通過する
光の光量)が最大となる。このため、焦点調節手段によ
り観察標本と対物レンズとの距離を変化させながら光量
検出手段の検出光量が最大となる距離を検出すれば、光
量最大となる位置がジャストフォーカス位置であり、自
動的に焦点位置検出を行うことができる。
【0030】もう一つの本発明に係る焦点検出装置は、
光分割手段により三分割されて第1〜第3の開口部を通
過する光の光量をそれぞれ検出する第1〜第3光量検出
手段および観察標本と対物レンズとの距離を変化させる
焦点調節手段を有しており、焦点検出用光源および第2
の開口部を対物レンズによる観察標本の像面の共役位置
に配設し、第1の開口部を光軸上において像面の共役位
置より観察標本に近い位置に配設し、第3の開口部を光
軸上において像面の共役位置より観察標本に遠い位置に
配設し、焦点調節手段により距離を変化させたときに、
第1〜第3光量検出手段により検出される光量変化に基
づいて光学機器の焦点位置の検出を行う。このため、第
2光量検出手段の検出光量が最大となる位置検出により
ジャストフォーカス位置検出ができるのであるが、この
構成の焦点検出装置の場合には、第1光量検出手段によ
り検出された光量と第3光量検出手段により検出された
光量との差に基づいて焦点調節手段の作動方向を設定す
ることができ、より簡易且つ迅速な自動焦点検出が可能
である。
光分割手段により三分割されて第1〜第3の開口部を通
過する光の光量をそれぞれ検出する第1〜第3光量検出
手段および観察標本と対物レンズとの距離を変化させる
焦点調節手段を有しており、焦点検出用光源および第2
の開口部を対物レンズによる観察標本の像面の共役位置
に配設し、第1の開口部を光軸上において像面の共役位
置より観察標本に近い位置に配設し、第3の開口部を光
軸上において像面の共役位置より観察標本に遠い位置に
配設し、焦点調節手段により距離を変化させたときに、
第1〜第3光量検出手段により検出される光量変化に基
づいて光学機器の焦点位置の検出を行う。このため、第
2光量検出手段の検出光量が最大となる位置検出により
ジャストフォーカス位置検出ができるのであるが、この
構成の焦点検出装置の場合には、第1光量検出手段によ
り検出された光量と第3光量検出手段により検出された
光量との差に基づいて焦点調節手段の作動方向を設定す
ることができ、より簡易且つ迅速な自動焦点検出が可能
である。
【図1】本発明の第1実施形態に係る焦点検出装置を有
した光学顕微鏡の概略構成図である。
した光学顕微鏡の概略構成図である。
【図2】この焦点検出装置の光量検出器による光量密度
と標本位置との関係を示すグラフである。
と標本位置との関係を示すグラフである。
【図3】本発明の第2実施形態に係る焦点検出装置を有
した光学顕微鏡の概略構成図である。
した光学顕微鏡の概略構成図である。
【図4】この焦点検出装置の光量検出器による光量密度
と標本位置との関係および、第1および第3光量検出器
の検出値の差と標本位置との関係をそれぞれ示すグラフ
である。
と標本位置との関係および、第1および第3光量検出器
の検出値の差と標本位置との関係をそれぞれ示すグラフ
である。
【図5】コンフォーカル顕微鏡の原理構成を示す概略図
である。
である。
1 対物レンズ 2 接眼レンズ 5 標本 6 焦点調節装置 13 照明基板 15 ダイクロイックミラー 17 受光基板 18 光量検出器 20,35 コントローラ 31 光分割装置 41,43,45 第1〜第3受光基板 42,44,46 第1〜第3光量検出器
Claims (10)
- 【請求項1】 観察標本を対物レンズを通して観察する
ための光学機器に設けられて前記観察標本の合焦状態を
検出する焦点検出装置において、 所定の一方向において実質的な点光源である焦点検出用
光源と、 前記対物レンズから観察位置に至る観察用光路中に配設
されて前記焦点検出用光源からの光を前記対物レンズへ
導き、前記対物レンズを通過させて前記観察標本へ照射
する第1部分反射光学素子と、 前記観察標本にて反射された後に前記対物レンズを経て
戻る前記焦点検出用光源からの光を、前記所定の一方向
に対応する一方向において微少開口である開口部を介し
て受光し、この開口部からの光の光量を検出する光量検
出手段と、 前記観察標本と前記対物レンズとの距離を変化させる焦
点調節手段とを有し、 前記焦点検出用光源と前記開口部とは、前記対物レンズ
による前記観察標本の像面と共役な位置に配設され、 前記焦点調節手段により前記距離を変化させたときの前
記光量検出手段が検出する光量変化に基づいて、前記光
学機器の合焦状態の検出を行うことを特徴とする焦点検
出装置。 - 【請求項2】 前記第1部分反射光学素子は、前記焦点
検出用光源からの光を前記対物レンズを透過させて前記
観察標本へ導くとともに、前記観察標本からの反射光を
前記焦点検出用光源に向けて反射させ、 前記焦点検出用光源から前記第1部分反射光学素子へ至
る検出用光路中に、前記観察標本にて反射された後に前
記第1部分反射光学素子にて前記焦点検出用光源へ向け
て反射された光を前記検出用光路の外へ向けて反射させ
る第2部分反射光学素子が配設され、 前記光量検出手段の前記開口部は、前記第2部分反射光
学素子に反射されて前記検出用光路の外へ導かれる光の
光路中における前記観察標本の像面と共役な位置に配設
されることを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装
置。 - 【請求項3】 前記第1部分反射光学素子がダイクロイ
ックミラーからなり、前記第2部分反射光学素子がハー
フミラーからなることを特徴とする請求項2に記載の焦
点検出装置。 - 【請求項4】 前記焦点検出用光源は、前記点光源を前
記所定の一方向とは直交する方向に沿って延びた形状の
線光源であり、 前記光量検出手段の前記開口部は、前記所定の一方向と
直交する方向に対応する一方向に沿って延びたスリット
形状であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに
記載の焦点検出装置。 - 【請求項5】 観察標本を対物レンズを通して観察する
ための光学機器に設けられて前記観察標本の合焦状態を
検出する焦点検出装置において、 所定の一方向において実質的な点光源である焦点検出用
光源と、 前記対物レンズから観察位置へ至る観察用光路中に配置
されて前記焦点検出用光源からの光を前記対物レンズへ
導き、前記対物レンズを通過させて前記観察標本へ照射
する第1部分反射光学素子と、 前記観察標本にて反射された後に前記対物レンズを経て
戻る前記焦点検出用光源からの光を第1〜第3の光路に
分割する光分割手段と、 前記第1光路に配置されて前記光分割手段からの光を第
1の開口部を介して受光し、この第1の開口部からの光
の光量を検出する第1光量検出手段と、 前記第2光路に配置されて前記光分割手段からの光を第
2の開口部を介して受光し、この第2の開口部からの光
の光量を検出する第2光量検出手段と、 前記第3光路に配置されて前記光分割手段からの光を第
3の開口部を介して受光し、この第3の開口部からの光
の光量を検出する第3光量検出手段と、 前記観察標本と前記対物レンズとの距離を変化させる焦
点調節手段とを有し、 前記第1〜第3の開口部は、前記所定の一方向に対応す
る一方向において微少開口であり、 前記焦点検出用光源と前記第2の開口部とは、前記対物
レンズによる前記観察標本の像面と共役な位置に配設さ
れ、 前記第1の開口部は、前記観察標本の像面の共役位置よ
り光軸方向において近い位置に配設され、 前記第3の開口部は、前記観察標本の像面の共役位置よ
り光軸方向において遠い位置に配設され、 前記焦点調節手段により前記距離を変化させたときの前
記第1〜第3光量検出手段により検出される光量変化に
基づいて、前記光学機器の合焦状態の検出を行うことを
特徴とする焦点検出装置。 - 【請求項6】 前記第1光量検出手段により検出された
光量と前記第3光量検出手段により検出された光量との
差に基づいて前記焦点調節手段の作動方向を設定するこ
とを特徴とする請求項5に記載の焦点検出装置。 - 【請求項7】 前記第1部分反射光学素子は、前記焦点
検出用光源からの光を前記対物レンズを通過させて前記
観察標本へ導くとともに、前記観察標本からの反射光を
前記焦点検出用光源へ向けて反射させ、 前記焦点検出用光源から前記第1部分反射光学素子へ至
る検出用光路中に、前記観察標本にて反射された後に前
記第1部分反射光学素子にて前記焦点検出用光源へ向け
て反射された光を前記検出用光路の外へ向けて反射させ
る第2部分反射光学素子が配設され、 前記光分割手段は、前記第2部分反射光学素子により前
記検出用光路の外へ反射された光を前記第1〜第3の光
路に分割するように構成されることを特徴とする請求項
5もしくは6に記載の焦点検出装置。 - 【請求項8】 前記第1部分反射光学素子がダイクロイ
ックミラーからなり、前記第2部分反射光学素子がハー
フミラーからなることを特徴とする請求項5〜7のいず
れかに記載の焦点検出装置。 - 【請求項9】 前記焦点検出用光源は、前記点光源を前
記所定の一方向とは直交する方向に沿って延びた形状の
線光源であり、 前記第1〜第3光量検出手段の前記開口部は、前記所定
の一方向と直交する方向と対応する一方向に沿って延び
たスリット形状であることを特徴とする請求項5〜8の
いずれかに記載の焦点検出装置。 - 【請求項10】 前記光学機器は、対物レンズによる前
記観察標本の像を観察するための接眼レンズをさらに有
する光学顕微鏡であり、 前記第1の部分反射光学素子は、前記対物レンズから前
記接眼レンズに至る観察用光路中に配設されることを特
徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の焦点検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8141450A JPH09325277A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8141450A JPH09325277A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09325277A true JPH09325277A (ja) | 1997-12-16 |
Family
ID=15292208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8141450A Pending JPH09325277A (ja) | 1996-06-04 | 1996-06-04 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09325277A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000162506A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 共焦点顕微鏡 |
| WO2000037984A3 (de) * | 1998-12-21 | 2001-10-18 | Evotec Biosystems Ag | Positionierung des messvolumens in einem scanning-mikroskopischen verfahren |
| WO2001088590A1 (de) * | 2000-05-18 | 2001-11-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Anordnung zur konfokalen autofokussierung |
| JP2005525550A (ja) * | 2002-05-14 | 2005-08-25 | アマーシャム バイオサイエンセズ ナイアガラ,インク. | 細胞の迅速自動化スクリーニングシステム及び方法 |
| JP2008310107A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Sunx Ltd | 合焦装置及びこれを備えた加工装置 |
| JP2009058259A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 分光エリプソメータ、膜厚測定装置および分光エリプソメータのフォーカス調整方法 |
| JP2010142846A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 3次元走査型レーザ加工機 |
| JP2014155936A (ja) * | 2013-02-14 | 2014-08-28 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 加工装置 |
| CN111352084A (zh) * | 2020-03-17 | 2020-06-30 | 广东博智林机器人有限公司 | 一种光学装调装置及采用其装调待调激光雷达的方法 |
-
1996
- 1996-06-04 JP JP8141450A patent/JPH09325277A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000162506A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 共焦点顕微鏡 |
| US6204962B1 (en) | 1998-11-30 | 2001-03-20 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Confocal microscope |
| WO2000037984A3 (de) * | 1998-12-21 | 2001-10-18 | Evotec Biosystems Ag | Positionierung des messvolumens in einem scanning-mikroskopischen verfahren |
| WO2001088590A1 (de) * | 2000-05-18 | 2001-11-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Anordnung zur konfokalen autofokussierung |
| JP2005525550A (ja) * | 2002-05-14 | 2005-08-25 | アマーシャム バイオサイエンセズ ナイアガラ,インク. | 細胞の迅速自動化スクリーニングシステム及び方法 |
| JP2008310107A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Sunx Ltd | 合焦装置及びこれを備えた加工装置 |
| JP2009058259A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 分光エリプソメータ、膜厚測定装置および分光エリプソメータのフォーカス調整方法 |
| JP2010142846A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 3次元走査型レーザ加工機 |
| JP2014155936A (ja) * | 2013-02-14 | 2014-08-28 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 加工装置 |
| CN111352084A (zh) * | 2020-03-17 | 2020-06-30 | 广东博智林机器人有限公司 | 一种光学装调装置及采用其装调待调激光雷达的方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2995411B2 (ja) | 顕微鏡の自動焦点合わせ装置 | |
| JP4047225B2 (ja) | 適応光学装置を有する顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡 | |
| US6823079B1 (en) | Device for examining samples | |
| US7480046B2 (en) | Scanning microscope with evanescent wave illumination | |
| JPH0772378A (ja) | 合焦装置 | |
| JP2003526814A (ja) | 自動焦点合わせ装置を有し高スループット選考に好適な顕微鏡 | |
| US6812446B2 (en) | Autofocus module for microscope-based systems | |
| US4686360A (en) | Device for the automatic focussing of optical instruments with complementary measuring and detecting diaphragms | |
| JP2006084794A (ja) | 焦点位置制御機構付き観察装置 | |
| JP2001108910A (ja) | 投射光および透過光観察型顕微鏡 | |
| JP4782391B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
| JP2001235684A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
| JPH05142462A (ja) | 合焦装置 | |
| JPWO2009142312A1 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| US6875972B2 (en) | Autofocus module for microscope-based systems | |
| JP3678456B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡装置 | |
| JP2003307681A5 (ja) | ||
| JP4228125B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JPH06265773A (ja) | 顕微鏡自動焦点装置 | |
| JP2009505126A (ja) | 全反射顕微鏡検査用の顕微鏡および方法 | |
| JPH0545573A (ja) | 焦点検出装置 | |
| JP2000352661A (ja) | 合焦装置 | |
| JPH10123425A5 (ja) | ||
| JPH0580246A (ja) | 自動合焦装置及びそれを備えた観察装置 | |
| JP3163803B2 (ja) | 焦点位置検出装置 |