JPH0932830A - 部材連結構造および光電式塵埃センサ - Google Patents
部材連結構造および光電式塵埃センサInfo
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- JPH0932830A JPH0932830A JP18595895A JP18595895A JPH0932830A JP H0932830 A JPH0932830 A JP H0932830A JP 18595895 A JP18595895 A JP 18595895A JP 18595895 A JP18595895 A JP 18595895A JP H0932830 A JPH0932830 A JP H0932830A
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- light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造工数を増加させることなく、温度変化、
経時変化に起因する歪の発生を抑制する。 【解決手段】 発光部１ａおよび受光部１ｂを有するプ
リント配線基板１と、レンズ系２ｃ，２ｄおよび遮光部
材２ｅを有する暗箱２とを１対のねじ２ｈで連結してい
るとともに、遮光部材２ｅから離れた側のねじ２ｈを包
囲するように応力を逃がすためのスリット部２ｇを設け
た。
経時変化に起因する歪の発生を抑制する。 【解決手段】 発光部１ａおよび受光部１ｂを有するプ
リント配線基板１と、レンズ系２ｃ，２ｄおよび遮光部
材２ｅを有する暗箱２とを１対のねじ２ｈで連結してい
るとともに、遮光部材２ｅから離れた側のねじ２ｈを包
囲するように応力を逃がすためのスリット部２ｇを設け
た。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は光電式塵埃センサ
に関し、さらに詳細にいえば、発光部と受光部とを有
し、発光部からの光が直接には受光部に照射されないよ
うに、両者間に遮光部材を設け、塵埃（煙の粒子を含
む）が存在する場合に、塵埃に起因する散乱光の一部を
受光部により受光するようにした光電式塵埃センサに関
する。
に関し、さらに詳細にいえば、発光部と受光部とを有
し、発光部からの光が直接には受光部に照射されないよ
うに、両者間に遮光部材を設け、塵埃（煙の粒子を含
む）が存在する場合に、塵埃に起因する散乱光の一部を
受光部により受光するようにした光電式塵埃センサに関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、暗箱内に発光部と受光部とを
配置するとともに、発光部からの光が直接に受光部に導
かれることを阻止するための遮光部材を配置し、暗箱内
に煙などの塵埃が侵入した場合に、塵埃に起因する散乱
光を受光部において受光し、受光部からの出力信号（散
乱光強度にほぼ対応する出力信号）に基づいて塵埃を検
出するようにした光電式塵埃センサが提案されている。
配置するとともに、発光部からの光が直接に受光部に導
かれることを阻止するための遮光部材を配置し、暗箱内
に煙などの塵埃が侵入した場合に、塵埃に起因する散乱
光を受光部において受光し、受光部からの出力信号（散
乱光強度にほぼ対応する出力信号）に基づいて塵埃を検
出するようにした光電式塵埃センサが提案されている。
【０００３】このような光電式塵埃センサとしては、単
に塵埃の有無を検出するものと、塵埃の量を検出するも
のとがある。ここで、前者の光電式塵埃センサでは、塵
埃の有無の境界領域を除けば、温度変化、経時変化など
に起因する光学素子どうしの相対位置の変動はさほど問
題にはならないが、後者の光電式塵埃センサでは、温度
変化、経時変化などに起因する光学素子どうしの相対位
置の変動は塵埃の量の検出精度に影響を及ぼすのである
から、到底無視することはできない。
に塵埃の有無を検出するものと、塵埃の量を検出するも
のとがある。ここで、前者の光電式塵埃センサでは、塵
埃の有無の境界領域を除けば、温度変化、経時変化など
に起因する光学素子どうしの相対位置の変動はさほど問
題にはならないが、後者の光電式塵埃センサでは、温度
変化、経時変化などに起因する光学素子どうしの相対位
置の変動は塵埃の量の検出精度に影響を及ぼすのである
から、到底無視することはできない。
【０００４】このような不都合を解消するために、暗箱
のうち、発光部とレンズとを支持するホルダ部を熱膨張
係数が小さい金属で形成してなる光電式塵埃センサ（実
開平４−１１５０５１号公報参照）、発光部、受光部お
よび遮光部材を基板上に設け、この基板を暗箱内に収容
してなる光電式塵埃センサ（特公昭５８−８０２８号公
報参照）が提案されている。
のうち、発光部とレンズとを支持するホルダ部を熱膨張
係数が小さい金属で形成してなる光電式塵埃センサ（実
開平４−１１５０５１号公報参照）、発光部、受光部お
よび遮光部材を基板上に設け、この基板を暗箱内に収容
してなる光電式塵埃センサ（特公昭５８−８０２８号公
報参照）が提案されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】実開平４−１１５０５
１号公報に示す構成の光電式塵埃センサは、ホルダ部が
熱膨張係数が小さい金属製であるから、ホルダ部が高価
になり、また、ホルダ部と暗箱の他の部分とが別体とし
て製造された後に一体的に組み立てられることになるの
で、光電式塵埃センサを製造するための工数が増加し、
製造に手間がかかってしまうとともにコストアップを招
いてしまうという不都合がある。
１号公報に示す構成の光電式塵埃センサは、ホルダ部が
熱膨張係数が小さい金属製であるから、ホルダ部が高価
になり、また、ホルダ部と暗箱の他の部分とが別体とし
て製造された後に一体的に組み立てられることになるの
で、光電式塵埃センサを製造するための工数が増加し、
製造に手間がかかってしまうとともにコストアップを招
いてしまうという不都合がある。
【０００６】特公昭５８−８０２８号公報に示す構成の
光電式塵埃センサは、基板、暗箱と別体で遮光部材を製
造するので、遮光部材を製造するための設備（金型な
ど）が必要になり、また、基板を暗箱に取り付ける前に
遮光部材を基板に取り付けなければならないので、光電
式塵埃センサを製造するための工数が増加し、製造に手
間がかかってしまうとともにコストアップを招いてしま
うという不都合がある。
光電式塵埃センサは、基板、暗箱と別体で遮光部材を製
造するので、遮光部材を製造するための設備（金型な
ど）が必要になり、また、基板を暗箱に取り付ける前に
遮光部材を基板に取り付けなければならないので、光電
式塵埃センサを製造するための工数が増加し、製造に手
間がかかってしまうとともにコストアップを招いてしま
うという不都合がある。
【０００７】なお、以上には光電式塵埃センサのみにつ
いて説明したが、熱膨張率が互いに異なる材質でそれぞ
れ形成された部材どうしを複数箇所で一体的に連結する
場合、例えば、フロッピーディスクドライブの筐体をプ
ラスチック化する場合における基板と筐体との連結構
造、モータと筐体との連結構造、筐体とコンピュータ本
体、取り付け金具との連結構造などにおいても同様の不
都合が生じる。
いて説明したが、熱膨張率が互いに異なる材質でそれぞ
れ形成された部材どうしを複数箇所で一体的に連結する
場合、例えば、フロッピーディスクドライブの筐体をプ
ラスチック化する場合における基板と筐体との連結構
造、モータと筐体との連結構造、筐体とコンピュータ本
体、取り付け金具との連結構造などにおいても同様の不
都合が生じる。
【０００８】
【発明の目的】この発明は上記の問題点に鑑みてなされ
たものであり、製造のための工数の増加を抑制し、しか
も温度変化、経時変化に起因する不都合の発生を大幅に
抑制することができる部材連結構造および光電式塵埃セ
ンサを提供することを目的としている。
たものであり、製造のための工数の増加を抑制し、しか
も温度変化、経時変化に起因する不都合の発生を大幅に
抑制することができる部材連結構造および光電式塵埃セ
ンサを提供することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１の部材連結構造
は、互いに熱膨張率が異なる材質からなる２つの部材を
複数箇所で一体的に連結してなる部材連結構造であっ
て、何れかの連結位置と他の連結位置との間において一
方の部材に応力を逃がすためのスリット部を設けたもの
である。
は、互いに熱膨張率が異なる材質からなる２つの部材を
複数箇所で一体的に連結してなる部材連結構造であっ
て、何れかの連結位置と他の連結位置との間において一
方の部材に応力を逃がすためのスリット部を設けたもの
である。
【００１０】請求項２の光電式塵埃センサは、基板に発
光部および受光部が設けられてあるとともに、ケース体
に遮光部材およびレンズ系が設けられてあり、基板とケ
ース体とが一体的に連結されてなる光電式塵埃センサで
あって、基板とケース体とが互いに熱膨張率が異なる材
質で形成されてあるとともに、基板とケース体とが互い
に所定距離だけ離れた位置において互いに連結されてあ
り、しかも両連結部の間に応力を逃がすためのスリット
部が基板またはケース体に形成されてある。
光部および受光部が設けられてあるとともに、ケース体
に遮光部材およびレンズ系が設けられてあり、基板とケ
ース体とが一体的に連結されてなる光電式塵埃センサで
あって、基板とケース体とが互いに熱膨張率が異なる材
質で形成されてあるとともに、基板とケース体とが互い
に所定距離だけ離れた位置において互いに連結されてあ
り、しかも両連結部の間に応力を逃がすためのスリット
部が基板またはケース体に形成されてある。
【００１１】請求項３の光電式塵埃センサは、基板上の
発光部および受光部が設けられている一方側の領域と、
ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられている一
方側の領域とをねじ手段により一体的に連結してあると
ともに、基板上の他方側の領域またはケース体の他方側
の領域に応力を逃がすためのスリット部が形成されてあ
り、両他方側の領域のうち、スリット部を基準として一
方側の領域から離れた所定位置がねじ手段により一体的
に連結されたものである。
発光部および受光部が設けられている一方側の領域と、
ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられている一
方側の領域とをねじ手段により一体的に連結してあると
ともに、基板上の他方側の領域またはケース体の他方側
の領域に応力を逃がすためのスリット部が形成されてあ
り、両他方側の領域のうち、スリット部を基準として一
方側の領域から離れた所定位置がねじ手段により一体的
に連結されたものである。
【００１２】請求項４の光電式塵埃センサは、基板上の
発光部および受光部が設けられている一方側の領域と、
ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられている一
方側の領域とをねじ手段により一体的に連結してあると
ともに、基板上の他方側の領域またはケース体の他方側
の領域に応力を逃がすための１対のスリット部が形成さ
れてあり、１対のスリット部により包囲される所定位置
において基板とケース体とがねじ手段により一体的に連
結されたものである。
発光部および受光部が設けられている一方側の領域と、
ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられている一
方側の領域とをねじ手段により一体的に連結してあると
ともに、基板上の他方側の領域またはケース体の他方側
の領域に応力を逃がすための１対のスリット部が形成さ
れてあり、１対のスリット部により包囲される所定位置
において基板とケース体とがねじ手段により一体的に連
結されたものである。
【００１３】請求項５の光電式塵埃センサは、一方側の
領域における連結位置が、遮光部材の所定位置に設定さ
れたものである。
領域における連結位置が、遮光部材の所定位置に設定さ
れたものである。
【００１４】
【作用】請求項１の部材連結構造であれば、互いに熱膨
張率が異なる材質からなる２つの部材を複数箇所で一体
的に連結してなる部材連結構造であって、何れかの連結
位置と他の連結位置との間において一方の部材に応力を
逃がすためのスリット部を設けているので、温度変化、
経時変化に起因する熱膨張の程度が部材どうしの間で異
なっていても、この相違に起因する応力をスリット部に
おいて逃がすことができ、両部材に生じる歪を大幅に低
減することができる。また、スリット部の形成は、部材
の形成時に同時に達成できるので、部材連結構造を得る
ための工数の増加を防止することができる。
張率が異なる材質からなる２つの部材を複数箇所で一体
的に連結してなる部材連結構造であって、何れかの連結
位置と他の連結位置との間において一方の部材に応力を
逃がすためのスリット部を設けているので、温度変化、
経時変化に起因する熱膨張の程度が部材どうしの間で異
なっていても、この相違に起因する応力をスリット部に
おいて逃がすことができ、両部材に生じる歪を大幅に低
減することができる。また、スリット部の形成は、部材
の形成時に同時に達成できるので、部材連結構造を得る
ための工数の増加を防止することができる。
【００１５】請求項２の光電式塵埃センサであれば、基
板に発光部および受光部が設けられてあるとともに、ケ
ース体に遮光部材およびレンズ系が設けられてあり、基
板とケース体とが一体的に連結されてなる光電式塵埃セ
ンサであって、基板とケース体とが互いに熱膨張率が異
なる材質で形成されてあるとともに、基板とケース体と
が互いに所定距離だけ離れた位置において互いに連結さ
れてあり、しかも両連結部の間に応力を逃がすためのス
リット部が基板またはケース体に形成されてあるので、
温度変化、経時変化に起因する熱膨張の程度が基板とケ
ース体との間で異なっていても、この相違に起因する応
力をスリット部において逃がすことができ、発光部、受
光部、遮光部材およびレンズ系相互の相対位置関係のズ
レを大幅に抑制して、塵埃検出精度を高く維持すること
ができる。また、特別に別体で形成しなければならない
部材がなくなるので、光電式塵埃センサを製造するため
の工数を低減することができる。
板に発光部および受光部が設けられてあるとともに、ケ
ース体に遮光部材およびレンズ系が設けられてあり、基
板とケース体とが一体的に連結されてなる光電式塵埃セ
ンサであって、基板とケース体とが互いに熱膨張率が異
なる材質で形成されてあるとともに、基板とケース体と
が互いに所定距離だけ離れた位置において互いに連結さ
れてあり、しかも両連結部の間に応力を逃がすためのス
リット部が基板またはケース体に形成されてあるので、
温度変化、経時変化に起因する熱膨張の程度が基板とケ
ース体との間で異なっていても、この相違に起因する応
力をスリット部において逃がすことができ、発光部、受
光部、遮光部材およびレンズ系相互の相対位置関係のズ
レを大幅に抑制して、塵埃検出精度を高く維持すること
ができる。また、特別に別体で形成しなければならない
部材がなくなるので、光電式塵埃センサを製造するため
の工数を低減することができる。
【００１６】請求項３の光電式塵埃センサであれば、基
板上の発光部および受光部が設けられている一方側の領
域と、ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられて
いる一方側の領域とをねじ手段により一体的に連結して
あるとともに、基板上の他方側の領域またはケース体の
他方側の領域に応力を逃がすためのスリット部が形成さ
れてあり、両他方側の領域のうち、スリット部を基準と
して一方側の領域から離れた所定位置がねじ手段により
一体的に連結されているので、請求項２と同様の作用を
達成することができる。また、ねじ手段のゆるみを抑制
することができる。
板上の発光部および受光部が設けられている一方側の領
域と、ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられて
いる一方側の領域とをねじ手段により一体的に連結して
あるとともに、基板上の他方側の領域またはケース体の
他方側の領域に応力を逃がすためのスリット部が形成さ
れてあり、両他方側の領域のうち、スリット部を基準と
して一方側の領域から離れた所定位置がねじ手段により
一体的に連結されているので、請求項２と同様の作用を
達成することができる。また、ねじ手段のゆるみを抑制
することができる。
【００１７】請求項４の光電式塵埃センサであれば、基
板上の発光部および受光部が設けられている一方側の領
域と、ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられて
いる一方側の領域とをねじ手段により一体的に連結して
あるとともに、基板上の他方側の領域またはケース体の
他方側の領域に応力を逃がすための１対のスリット部が
形成されてあり、１対のスリット部により包囲される所
定位置において基板とケース体とがねじ手段により一体
的に連結されているので、応力を効果的に逃がすことが
でき、発光部、受光部、遮光部材およびレンズ系相互の
相対位置関係のズレを一層大幅に抑制して、塵埃検出精
度を一層高く維持することができる。
板上の発光部および受光部が設けられている一方側の領
域と、ケース体の遮光部材およびレンズ系が設けられて
いる一方側の領域とをねじ手段により一体的に連結して
あるとともに、基板上の他方側の領域またはケース体の
他方側の領域に応力を逃がすための１対のスリット部が
形成されてあり、１対のスリット部により包囲される所
定位置において基板とケース体とがねじ手段により一体
的に連結されているので、応力を効果的に逃がすことが
でき、発光部、受光部、遮光部材およびレンズ系相互の
相対位置関係のズレを一層大幅に抑制して、塵埃検出精
度を一層高く維持することができる。
【００１８】請求項５の光電式塵埃センサであれば、一
方側の領域における連結位置が、遮光部材の所定位置に
設定されているので、発光部、受光部および遮光部材相
互の相対位置を正確に維持することができ、塵埃検出精
度を高く維持することができる。
方側の領域における連結位置が、遮光部材の所定位置に
設定されているので、発光部、受光部および遮光部材相
互の相対位置を正確に維持することができ、塵埃検出精
度を高く維持することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、添付図面によってこの発明
の実施の態様を詳細に説明する。図１はこの発明の光電
式塵埃センサの一実施態様の内部機構を示す平面図、図
２は概略正面図である。この光電式塵埃センサは、発光
ダイオードなどからなる発光部１ａおよびフォトダイオ
ードなどからなる受光部１ｂが搭載された基板１と、暗
箱（ケース体）２とから構成されている。ここで、基板
１としては、例えば、ガラスエポキシからなるプリント
配線基板が例示でき、暗箱２としては、例えば、アクリ
ルニトリルブタジエンスチレン共重合体（以下、ＡＢＳ
と略称する）を用いて成形された箱体が例示できる。
の実施の態様を詳細に説明する。図１はこの発明の光電
式塵埃センサの一実施態様の内部機構を示す平面図、図
２は概略正面図である。この光電式塵埃センサは、発光
ダイオードなどからなる発光部１ａおよびフォトダイオ
ードなどからなる受光部１ｂが搭載された基板１と、暗
箱（ケース体）２とから構成されている。ここで、基板
１としては、例えば、ガラスエポキシからなるプリント
配線基板が例示でき、暗箱２としては、例えば、アクリ
ルニトリルブタジエンスチレン共重合体（以下、ＡＢＳ
と略称する）を用いて成形された箱体が例示できる。
【００２０】暗箱２は全体が立方体状の箱体であり、そ
の内部に上方に延びる壁部材を形成することにより、発
光部収容空間２ａ、受光部収容空間２ｂを形成している
とともに、発光部収容空間２ａ、受光部収容空間２ｂに
それぞれレンズ系２ｃ、２ｄを設けている。そして、両
レンズ系２ｃ，２ｄの光軸が所定の角度をなすように両
レンズ系２ｃ，２ｄが配置されている。また、レンズ系
２ｃの光軸上であって、発光部収容空間２ａの内奥部に
発光部１ａを侵入させるための穴が形成されているとと
もに、レンズ系２ｄの光軸上であって、受光部収容空間
２ｂの内奥部に受光部１ｂを侵入させるための穴が形成
されている。なお、レンズ系２ｃは省略することが可能
である。
の内部に上方に延びる壁部材を形成することにより、発
光部収容空間２ａ、受光部収容空間２ｂを形成している
とともに、発光部収容空間２ａ、受光部収容空間２ｂに
それぞれレンズ系２ｃ、２ｄを設けている。そして、両
レンズ系２ｃ，２ｄの光軸が所定の角度をなすように両
レンズ系２ｃ，２ｄが配置されている。また、レンズ系
２ｃの光軸上であって、発光部収容空間２ａの内奥部に
発光部１ａを侵入させるための穴が形成されているとと
もに、レンズ系２ｄの光軸上であって、受光部収容空間
２ｂの内奥部に受光部１ｂを侵入させるための穴が形成
されている。なお、レンズ系２ｃは省略することが可能
である。
【００２１】そして、発光部収容空間２ａと受光部収容
空間２ｂとの中間部に、発光部１ａからレンズ系２ｃを
通して出射される光が直接レンズ系２ｄを通して受光部
１ｂに導かれることを防止する遮光部材２ｅが設けられ
ている。また、ノイズ光として作用する可能性がある光
がレンズ系２ｄを通して受光部１ｂに導かれることを防
止するノイズ光遮光部材２ｆが発光部収容空間２ａ、受
光部収容空間２ｂ、遮光部材２ｅとほぼ正対する位置に
設けられている。ノイズ光遮光部材２ｆは複数個設けら
れており、互いに隣合うノイズ光遮光部材２ｆによって
ノイズ光減衰室を構成している。このノイズ光減衰室に
導入された光はこの室の吸光度が高い内壁面で複数回反
射させられることにより、その強度が十分に減衰させら
れる。また、発光部１ａからの直接光が照射されるノイ
ズ光遮光部材２ｆの所定位置に直接光を通過させるため
の穴２ｊが形成されているとともに、このノイズ光遮光
部材２ｆと、受光部収容空間２ａを規定する板部材と、
暗箱２の外壁部材とで光トラップ２ｋを構成している。
空間２ｂとの中間部に、発光部１ａからレンズ系２ｃを
通して出射される光が直接レンズ系２ｄを通して受光部
１ｂに導かれることを防止する遮光部材２ｅが設けられ
ている。また、ノイズ光として作用する可能性がある光
がレンズ系２ｄを通して受光部１ｂに導かれることを防
止するノイズ光遮光部材２ｆが発光部収容空間２ａ、受
光部収容空間２ｂ、遮光部材２ｅとほぼ正対する位置に
設けられている。ノイズ光遮光部材２ｆは複数個設けら
れており、互いに隣合うノイズ光遮光部材２ｆによって
ノイズ光減衰室を構成している。このノイズ光減衰室に
導入された光はこの室の吸光度が高い内壁面で複数回反
射させられることにより、その強度が十分に減衰させら
れる。また、発光部１ａからの直接光が照射されるノイ
ズ光遮光部材２ｆの所定位置に直接光を通過させるため
の穴２ｊが形成されているとともに、このノイズ光遮光
部材２ｆと、受光部収容空間２ａを規定する板部材と、
暗箱２の外壁部材とで光トラップ２ｋを構成している。
【００２２】さらに、遮光部材２ｅとほぼ正対する所定
位置に応力を逃がすためのスリット部２ｇが形成されて
おり、遮光部材２ｅの基部およびスリット部２ｇを挟ん
で遮光部材２ｅと反対側の所定位置にねじ止め用の穴が
形成され、これらの穴を通して基板１がねじ２ｈによっ
てねじ止めされている。また、遮光部材２ｅの先端に近
接する所定位置に流体導入用の開口２ｉが設けられてい
る。もちろん、基板１の対応箇所にも流体導入用の開口
（図示せず）が設けられている。
位置に応力を逃がすためのスリット部２ｇが形成されて
おり、遮光部材２ｅの基部およびスリット部２ｇを挟ん
で遮光部材２ｅと反対側の所定位置にねじ止め用の穴が
形成され、これらの穴を通して基板１がねじ２ｈによっ
てねじ止めされている。また、遮光部材２ｅの先端に近
接する所定位置に流体導入用の開口２ｉが設けられてい
る。もちろん、基板１の対応箇所にも流体導入用の開口
（図示せず）が設けられている。
【００２３】上記の構成の光学式塵埃センサの作用は次
のとおりである。発光部１ａおよび受光部１ｂが搭載さ
れた基板１を暗箱２の下面に接触させ、この状態におい
て１対のねじ２ｈにより基板１と暗箱２とを一体的に連
結することにより、光学的塵埃センサの組み立てを完了
する。この状態においては、発光部１ａ、レンズ系２
ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび受光部１ｂの相
対位置が所期のとおりに設定されている。
のとおりである。発光部１ａおよび受光部１ｂが搭載さ
れた基板１を暗箱２の下面に接触させ、この状態におい
て１対のねじ２ｈにより基板１と暗箱２とを一体的に連
結することにより、光学的塵埃センサの組み立てを完了
する。この状態においては、発光部１ａ、レンズ系２
ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび受光部１ｂの相
対位置が所期のとおりに設定されている。
【００２４】このようにして組み立てられた光電式塵埃
センサを所定位置に配置することにより、以下のように
して測定対象雰囲気中における塵埃の濃度を測定するこ
とができる。測定対象雰囲気が塵埃を全く含んでいない
場合には、発光部１ａからレンズ系２ｃを通して出射さ
れる光はそのまま直線的に伝播し、遮光部材２ｅの存在
によってレンズ系２ｄには全く照射されない。この結
果、受光部１ｂからの出力信号は小さいままである。な
お、直線的に伝播する光のうち、少なくとも一部は穴２
ｊを通して光トラップ２ｋに導入され、とじ込められる
ことによりほぼ完全に減衰する。また、直線的に伝播す
る光の残部は穴２ｊが形成されたノイズ光遮光部材２
ｆ、このノイズ光遮光部材２ｆと対向するノイズ光遮光
部材２ｆ、および暗箱２の外壁部材により形成されるノ
イズ光減衰室で多重反射されることにより十分に減衰す
る。したがって、発光部１ａからの直接光に起因するノ
イズ光は受光部１ｂには殆ど影響を及ぼさない。
センサを所定位置に配置することにより、以下のように
して測定対象雰囲気中における塵埃の濃度を測定するこ
とができる。測定対象雰囲気が塵埃を全く含んでいない
場合には、発光部１ａからレンズ系２ｃを通して出射さ
れる光はそのまま直線的に伝播し、遮光部材２ｅの存在
によってレンズ系２ｄには全く照射されない。この結
果、受光部１ｂからの出力信号は小さいままである。な
お、直線的に伝播する光のうち、少なくとも一部は穴２
ｊを通して光トラップ２ｋに導入され、とじ込められる
ことによりほぼ完全に減衰する。また、直線的に伝播す
る光の残部は穴２ｊが形成されたノイズ光遮光部材２
ｆ、このノイズ光遮光部材２ｆと対向するノイズ光遮光
部材２ｆ、および暗箱２の外壁部材により形成されるノ
イズ光減衰室で多重反射されることにより十分に減衰す
る。したがって、発光部１ａからの直接光に起因するノ
イズ光は受光部１ｂには殆ど影響を及ぼさない。
【００２５】測定対象雰囲気が塵埃を含んでいる場合に
は、流体導入用の開口２ｉを通して塵埃を含む流体が暗
箱２の内部に侵入するので、発光部１ａからレンズ系２
ｃを通して出射される光が塵埃によって散乱反射され、
散乱反射光の一部がレンズ系２ｄを通して受光部１ｂに
導かれる。この結果、受光部１ｂからの出力信号が、受
光する散乱反射光の強度に対応して大きくなる。また、
直線的に伝播する光はノイズ光減衰室および光トラップ
２ｋにより十分に減衰されるので、受光部１ｂには殆ど
影響を及ぼさない。
は、流体導入用の開口２ｉを通して塵埃を含む流体が暗
箱２の内部に侵入するので、発光部１ａからレンズ系２
ｃを通して出射される光が塵埃によって散乱反射され、
散乱反射光の一部がレンズ系２ｄを通して受光部１ｂに
導かれる。この結果、受光部１ｂからの出力信号が、受
光する散乱反射光の強度に対応して大きくなる。また、
直線的に伝播する光はノイズ光減衰室および光トラップ
２ｋにより十分に減衰されるので、受光部１ｂには殆ど
影響を及ぼさない。
【００２６】したがって、受光部１ｂからの出力信号に
基づいて測定対象雰囲気中の塵埃の濃度を測定すること
ができる。以上は温度変化、経時変化などの影響を受け
ていない状態における作用である。温度変化、経時変化
などの影響を受けた場合には、基板１と暗箱２との熱膨
張係数が互いに異なるとともに、基板１と暗箱２とが１
対のねじ２ｈにより一体的に連結されているのであるか
ら、両者の間の熱膨張差に起因して応力が発生し、基板
１、暗箱２に歪が発生する。しかし、この実施態様にお
いては、１対のねじ２ｈによる連結部どうしの間に応力
を逃がすためのスリット部２ｇが形成されているのであ
るから、上述のように応力が発生しても、この応力の大
半がスリット部２ｇにより逃がされ、発光部１ａ、レン
ズ系２ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび受光部１
ｂの相対位置は殆ど変化しない。したがって、温度変
化、経時変化などの影響を受けない場合と同様に測定雰
囲気中の塵埃の濃度を測定することができる。
基づいて測定対象雰囲気中の塵埃の濃度を測定すること
ができる。以上は温度変化、経時変化などの影響を受け
ていない状態における作用である。温度変化、経時変化
などの影響を受けた場合には、基板１と暗箱２との熱膨
張係数が互いに異なるとともに、基板１と暗箱２とが１
対のねじ２ｈにより一体的に連結されているのであるか
ら、両者の間の熱膨張差に起因して応力が発生し、基板
１、暗箱２に歪が発生する。しかし、この実施態様にお
いては、１対のねじ２ｈによる連結部どうしの間に応力
を逃がすためのスリット部２ｇが形成されているのであ
るから、上述のように応力が発生しても、この応力の大
半がスリット部２ｇにより逃がされ、発光部１ａ、レン
ズ系２ｃ、遮光部材２ｅ、レンズ系２ｄおよび受光部１
ｂの相対位置は殆ど変化しない。したがって、温度変
化、経時変化などの影響を受けない場合と同様に測定雰
囲気中の塵埃の濃度を測定することができる。
【００２７】この実施態様においては、スリット部２ｇ
の位置、形状と特には規定していないが、遮光部材２ｅ
から離れた側のねじ２ｈによる連結位置に近い位置にス
リット部２ｇを設けることが好ましい。また、この場合
に、ねじ２ｈによる連結位置を包囲するようにほぼ半円
弧状のスリット部２ｇを設けることが好ましい。さら
に、ほぼ半円弧状のスリット部２ｇの両端部から外方に
延びる直線状のスリット部を付加することが好ましい。
の位置、形状と特には規定していないが、遮光部材２ｅ
から離れた側のねじ２ｈによる連結位置に近い位置にス
リット部２ｇを設けることが好ましい。また、この場合
に、ねじ２ｈによる連結位置を包囲するようにほぼ半円
弧状のスリット部２ｇを設けることが好ましい。さら
に、ほぼ半円弧状のスリット部２ｇの両端部から外方に
延びる直線状のスリット部を付加することが好ましい。
【００２８】
【発明の実施の形態】基板１としてガラスエポキシから
なるプリント配線基板を採用し、暗箱２としてＡＢＳ樹
脂からなる箱体を採用してなる光電式塵埃センサの雰囲
気温度を２１℃から７０℃まで変化させた状態の全体形
状を図３に示す。また、スリット部２ｇを省略したほか
は同一の構成を有する光電式塵埃センサの温度を２１℃
から７０℃まで変化させた状態の全体形状を比較例とし
て図４に示す。
なるプリント配線基板を採用し、暗箱２としてＡＢＳ樹
脂からなる箱体を採用してなる光電式塵埃センサの雰囲
気温度を２１℃から７０℃まで変化させた状態の全体形
状を図３に示す。また、スリット部２ｇを省略したほか
は同一の構成を有する光電式塵埃センサの温度を２１℃
から７０℃まで変化させた状態の全体形状を比較例とし
て図４に示す。
【００２９】なお、ＡＢＳ樹脂の熱膨張率は８〜９．５
×１０-5／℃であり、プリント配線基板の熱膨張率は、
縦方向が１．３×１０-5／℃、横方向が１．８×１０-5
／℃、厚さ方向が５．１×１０-5／℃である。また、ス
リット部２ｇの幅が１ｍｍであり、スリット部２ｇの半
円弧状部がねじ２ｈによる連結位置を中心とし、φ９ｍ
ｍであり、直線状部の長さが約５ｍｍである。
×１０-5／℃であり、プリント配線基板の熱膨張率は、
縦方向が１．３×１０-5／℃、横方向が１．８×１０-5
／℃、厚さ方向が５．１×１０-5／℃である。また、ス
リット部２ｇの幅が１ｍｍであり、スリット部２ｇの半
円弧状部がねじ２ｈによる連結位置を中心とし、φ９ｍ
ｍであり、直線状部の長さが約５ｍｍである。
【００３０】図３と図４を比較すれば、スリット部２ｇ
を設けたことにより、暗箱２の歪を大幅に低減できてい
ることが分かる。特に、図４では、遮光部材に大きな歪
が生じていることに起因して受光部１ｂからの出力信号
がかなり変動したが、図３の場合には、受光部１ｂから
の出力信号は殆ど変動しなかった。図５はこの発明の光
電式塵埃センサの他の実施の態様を示す平面図である。
を設けたことにより、暗箱２の歪を大幅に低減できてい
ることが分かる。特に、図４では、遮光部材に大きな歪
が生じていることに起因して受光部１ｂからの出力信号
がかなり変動したが、図３の場合には、受光部１ｂから
の出力信号は殆ど変動しなかった。図５はこの発明の光
電式塵埃センサの他の実施の態様を示す平面図である。
【００３１】この実施態様が図１の実施態様と異なる点
は、ほぼ半円弧状部分とこれに続く直線状部分とを有す
る１対のスリット部２ｇを、ねじ２ｈによる連結部分を
中心として互いに対称に設けた点のみである。この実施
態様を採用する場合には、ねじ２ｈによる連結部分と他
の部分との間の殆どがスリット部２ｇにより離されてい
るのであるから、応力を逃がす効果を高めることがで
き、歪の発生を大幅に抑制することができる。
は、ほぼ半円弧状部分とこれに続く直線状部分とを有す
る１対のスリット部２ｇを、ねじ２ｈによる連結部分を
中心として互いに対称に設けた点のみである。この実施
態様を採用する場合には、ねじ２ｈによる連結部分と他
の部分との間の殆どがスリット部２ｇにより離されてい
るのであるから、応力を逃がす効果を高めることがで
き、歪の発生を大幅に抑制することができる。
【００３２】以上の各実施態様においては、基板１と暗
箱２との連結をねじ２ｈにより達成する場合についての
み説明しているが、ねじ以外の連結手段、例えば、溶
接、接着、かしめ止めなどを採用してもよいことはもち
ろんである。また、暗箱２にスリット部２ｇを設ける代
わりに基板にスリット部を設けてもよい。ただし、基板
としてプリント配線基板を採用する場合には、プリント
配線形成の自由度が制約されるので、前者の構成を採用
することが好ましい。
箱２との連結をねじ２ｈにより達成する場合についての
み説明しているが、ねじ以外の連結手段、例えば、溶
接、接着、かしめ止めなどを採用してもよいことはもち
ろんである。また、暗箱２にスリット部２ｇを設ける代
わりに基板にスリット部を設けてもよい。ただし、基板
としてプリント配線基板を採用する場合には、プリント
配線形成の自由度が制約されるので、前者の構成を採用
することが好ましい。
【００３３】なお、以上には光電式塵埃センサのみにつ
いて説明したが、熱膨張率が互いに異なる材質でそれぞ
れ形成された部材どうしを複数箇所で一体的に連結する
場合、例えば、フロッピーディスクドライブの筐体をプ
ラスチック化する場合における基板と筐体との連結構
造、モータと筐体との連結構造、筐体とコンピュータ本
体、取り付け金具との連結構造などにも適用することが
可能であり、温度変化、経時変化に拘らず、両部材に発
生する歪を大幅に抑制することができ、高精度の位置決
めが要求される部材どうしの位置ずれを大幅に低減する
ことができる。
いて説明したが、熱膨張率が互いに異なる材質でそれぞ
れ形成された部材どうしを複数箇所で一体的に連結する
場合、例えば、フロッピーディスクドライブの筐体をプ
ラスチック化する場合における基板と筐体との連結構
造、モータと筐体との連結構造、筐体とコンピュータ本
体、取り付け金具との連結構造などにも適用することが
可能であり、温度変化、経時変化に拘らず、両部材に発
生する歪を大幅に抑制することができ、高精度の位置決
めが要求される部材どうしの位置ずれを大幅に低減する
ことができる。
【００３４】
【発明の効果】請求項１の発明は、温度変化、経時変化
に起因する熱膨張の程度が部材どうしの間で異なってい
ても、この相違に起因する応力をスリット部において逃
がすことにより、両部材に生じる歪を大幅に低減するこ
とができ、また、スリット部の形成は、部材の形成時に
同時に達成できるので、部材連結構造を得るための工数
の増加を防止することができるという特有の効果を奏す
る。
に起因する熱膨張の程度が部材どうしの間で異なってい
ても、この相違に起因する応力をスリット部において逃
がすことにより、両部材に生じる歪を大幅に低減するこ
とができ、また、スリット部の形成は、部材の形成時に
同時に達成できるので、部材連結構造を得るための工数
の増加を防止することができるという特有の効果を奏す
る。
【００３５】請求項２の発明は、温度変化、経時変化に
起因する熱膨張の程度が基板とケース体との間で異なっ
ていても、この相違に起因する応力をスリット部におい
て逃がすことにより、発光部、受光部、遮光部材および
レンズ系相互の相対位置関係のズレを大幅に抑制して、
塵埃検出精度を高く維持することができ、また、特別に
別体で形成しなければならない部材がなくなるので、光
電式塵埃センサを製造するための工数を低減することが
できるという特有の効果を奏する。
起因する熱膨張の程度が基板とケース体との間で異なっ
ていても、この相違に起因する応力をスリット部におい
て逃がすことにより、発光部、受光部、遮光部材および
レンズ系相互の相対位置関係のズレを大幅に抑制して、
塵埃検出精度を高く維持することができ、また、特別に
別体で形成しなければならない部材がなくなるので、光
電式塵埃センサを製造するための工数を低減することが
できるという特有の効果を奏する。
【００３６】請求項３の発明は、請求項２と同様の効果
を奏するほか、ねじ手段のゆるみを抑制することができ
るという特有の効果を奏する。請求項４の発明は、応力
を効果的に逃がすことができ、発光部、受光部、遮光部
材およびレンズ系相互の相対位置関係のズレを一層大幅
に抑制して、塵埃検出精度を一層高く維持することがで
きるという特有の効果を奏する。
を奏するほか、ねじ手段のゆるみを抑制することができ
るという特有の効果を奏する。請求項４の発明は、応力
を効果的に逃がすことができ、発光部、受光部、遮光部
材およびレンズ系相互の相対位置関係のズレを一層大幅
に抑制して、塵埃検出精度を一層高く維持することがで
きるという特有の効果を奏する。
【００３７】請求項５の発明は、発光部、受光部および
遮光部材相互の相対位置を正確に維持することができ、
塵埃検出精度を高く維持することができるという特有の
効果を奏する。
遮光部材相互の相対位置を正確に維持することができ、
塵埃検出精度を高く維持することができるという特有の
効果を奏する。
【図１】図１はこの発明の光電式塵埃センサの一実施態
様の内部機構を示す平面図である。
様の内部機構を示す平面図である。
【図２】同上概略正面図である。
【図３】基板としてガラスエポキシからなるプリント配
線基板を採用し、暗箱としてＡＢＳ樹脂からなる箱体を
採用してなる光電式塵埃センサの雰囲気温度を２１℃か
ら７０℃まで変化させた状態の全体形状を示す平面図で
ある。
線基板を採用し、暗箱としてＡＢＳ樹脂からなる箱体を
採用してなる光電式塵埃センサの雰囲気温度を２１℃か
ら７０℃まで変化させた状態の全体形状を示す平面図で
ある。
【図４】スリット部を省略したほかは図３と同一の構成
を有する光電式塵埃センサの温度を２１℃から７０℃ま
で変化させた状態の全体形状を示す平面図である。
を有する光電式塵埃センサの温度を２１℃から７０℃ま
で変化させた状態の全体形状を示す平面図である。
【図５】この発明の光電式塵埃センサの他の実施の態様
を示す平面図である。
を示す平面図である。
１ 基板 １ａ 発光部 １ｂ 受光部 ２ 暗箱 ２ｃ，２ｄ レンズ系 ２ｅ 遮光部材 ２ｇ スリット部 ２ｈ ねじ
Claims (5)
- 【請求項１】 互いに熱膨張率が異なる材質からなる２
つの部材（１）（２）を複数箇所で一体的に連結してな
る部材連結構造であって、何れかの連結位置と他の連結
位置との間において一方の部材（２）に応力を逃がすた
めのスリット部（２ｇ）を設けたことを特徴とする部材
連結構造。 - 【請求項２】 基板（１）に発光部（１ａ）および受光
部（１ｂ）が設けられてあるとともに、ケース体（２）
に遮光部材（２ｅ）およびレンズ系（２ｄ）が設けられ
てあり、基板（１）とケース体（２）とが一体的に連結
されてなる光電式塵埃センサであって、基板（１）とケ
ース体（２）とが互いに熱膨張率が異なる材質で形成さ
れてあるとともに、基板（１）とケース体（２）とが互
いに所定距離だけ離れた位置において互いに連結されて
あり、しかも両連結部の間に応力を逃がすためのスリッ
ト部（２ｇ）が基板（１）またはケース体（２）に形成
されてあることを特徴とする光電式塵埃センサ。 - 【請求項３】 基板（１）上の発光部（１ａ）および受
光部（１ｂ）が設けられている一方側の領域と、ケース
体（２）の遮光部材（２ｅ）およびレンズ系（２ｄ）が
設けられている一方側の領域とをねじ手段（２ｈ）によ
り一体的に連結してあるとともに、基板（１）上の他方
側の領域またはケース体（２）の他方側の領域に応力を
逃がすためのスリット部（２ｇ）が形成されてあり、両
他方側の領域のうち、スリット部（２ｇ）を基準として
一方側の領域から離れた所定位置がねじ手段（２ｈ）に
より一体的に連結されてある請求項１に記載の光電式塵
埃センサ。 - 【請求項４】 基板（１）上の発光部（１ａ）および受
光部（１ｂ）が設けられている一方側の領域と、ケース
体（２）の遮光部材（２ｅ）およびレンズ系（２ｄ）が
設けられている一方側の領域とをねじ手段（２ｈ）によ
り一体的に連結してあるとともに、基板（１）上の他方
側の領域またはケース体（２）の他方側の領域に応力を
逃がすための１対のスリット部（２ｇ）が形成されてあ
り、１対のスリット部（２ｇ）により包囲される所定位
置において基板（１）とケース体（２）とがねじ手段
（２ｈ）により一体的に連結されてある請求項２に記載
の光電式塵埃センサ。 - 【請求項５】 一方側の領域における連結位置が、遮光
部材（２ｅ）に設けられている請求項２から請求項４の
何れかに記載の光電式塵埃センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18595895A JP2956539B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 光電式塵埃センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18595895A JP2956539B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 光電式塵埃センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0932830A true JPH0932830A (ja) | 1997-02-04 |
| JP2956539B2 JP2956539B2 (ja) | 1999-10-04 |
Family
ID=16179859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18595895A Expired - Fee Related JP2956539B2 (ja) | 1995-07-21 | 1995-07-21 | 光電式塵埃センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2956539B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9885602B2 (en) | 2015-12-28 | 2018-02-06 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Particle sensor |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3111635U (ja) | 2005-04-15 | 2005-07-28 | 良星国際有限公司 | クリスマス装飾ライト |
-
1995
- 1995-07-21 JP JP18595895A patent/JP2956539B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9885602B2 (en) | 2015-12-28 | 2018-02-06 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Particle sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2956539B2 (ja) | 1999-10-04 |
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