JPH09329542A - 光沢測定方法及び光沢測定装置 - Google Patents
光沢測定方法及び光沢測定装置Info
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- JPH09329542A JPH09329542A JP14743396A JP14743396A JPH09329542A JP H09329542 A JPH09329542 A JP H09329542A JP 14743396 A JP14743396 A JP 14743396A JP 14743396 A JP14743396 A JP 14743396A JP H09329542 A JPH09329542 A JP H09329542A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 パール光沢やメタリック光沢を放つ物品の光
沢を測定することが可能な、光沢測定方法を提供するこ
と。 【構成】 パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の
光沢測定方法であって、偏光角入射条件下において、該
物品表面の被測定部に対してP偏光成分で入射した入射
光をP偏光成分で受光した受光光の強度PPから、P偏
光成分で入射した入射光をS偏光成分で受光した受光光
の強度PSを差し引いた値に基づいて、該物品のパール
光沢又はメタリック光沢を測定する。
沢を測定することが可能な、光沢測定方法を提供するこ
と。 【構成】 パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の
光沢測定方法であって、偏光角入射条件下において、該
物品表面の被測定部に対してP偏光成分で入射した入射
光をP偏光成分で受光した受光光の強度PPから、P偏
光成分で入射した入射光をS偏光成分で受光した受光光
の強度PSを差し引いた値に基づいて、該物品のパール
光沢又はメタリック光沢を測定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パール光沢やメタ
リック光沢を放つ物品の光沢を測定することが可能な、
光沢測定方法及光沢測定装置に関する。
リック光沢を放つ物品の光沢を測定することが可能な、
光沢測定方法及光沢測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、口紅等の棒状固形化粧料、化粧
料容器、パイプ等の種々の物品においてはその外観、特
に、光沢が商品価値を決定する重要な要素となる場合が
ある。特に、パール光沢やメタリック光沢を放つ物品が
多種多様に提供されている今日においては、当該物品に
おける光沢を客観的に測定することは重要である。
料容器、パイプ等の種々の物品においてはその外観、特
に、光沢が商品価値を決定する重要な要素となる場合が
ある。特に、パール光沢やメタリック光沢を放つ物品が
多種多様に提供されている今日においては、当該物品に
おける光沢を客観的に測定することは重要である。
【0003】物体表面の反射光には、物品表面の表面形
状や界面の屈折率に起因する表面反射成分と、入射した
光が物品内部において顔料等によって反射、吸収を繰り
返すことにより、外部に放出される内部拡散成分とがあ
るが、これらのうち表面反射成分のみが光沢を決定する
ことが多い。
状や界面の屈折率に起因する表面反射成分と、入射した
光が物品内部において顔料等によって反射、吸収を繰り
返すことにより、外部に放出される内部拡散成分とがあ
るが、これらのうち表面反射成分のみが光沢を決定する
ことが多い。
【0004】従来、物体の色及び光沢の測定方法には、
日本標準規格(JIS )のJIS Z8741、JIS Z8741 が主に
採用されている。
日本標準規格(JIS )のJIS Z8741、JIS Z8741 が主に
採用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たJISによる測定方法は、光沢が鏡面方向にしか観察
されない場合には適しているが、パール光沢やメタリッ
ク光沢を放つ物品表面のように、見る方向で光沢が微妙
に変化するものの光沢の測定には、適当でなかった。
たJISによる測定方法は、光沢が鏡面方向にしか観察
されない場合には適しているが、パール光沢やメタリッ
ク光沢を放つ物品表面のように、見る方向で光沢が微妙
に変化するものの光沢の測定には、適当でなかった。
【0006】尚、特開平2−291947号公報には、
米の食味度測定方法として平坦面に載置した米に偏光光
を入射してその偏光光の光量を測定し、次に、入射光の
偏光と異なる偏光成分の光量を測定して、これらの光量
測定値の差から米の光沢を測定し、食味度を測定する方
法が開示されているが、この測定方法は、パール光沢や
メタリック光沢を放つ物品の光沢測定を対象とした方法
ではない。
米の食味度測定方法として平坦面に載置した米に偏光光
を入射してその偏光光の光量を測定し、次に、入射光の
偏光と異なる偏光成分の光量を測定して、これらの光量
測定値の差から米の光沢を測定し、食味度を測定する方
法が開示されているが、この測定方法は、パール光沢や
メタリック光沢を放つ物品の光沢測定を対象とした方法
ではない。
【0007】従って、本発明の目的は、パール光沢やメ
タリック光沢を放つ物品の光沢を的確に測定することが
できる、光沢測定方法及び光沢測定装置を提供すること
である。
タリック光沢を放つ物品の光沢を的確に測定することが
できる、光沢測定方法及び光沢測定装置を提供すること
である。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の発明は、パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の
光沢測定方法であって、偏光角入射条件下において、該
物品表面の被測定部に対してP偏光成分で入射した入射
光をP偏光成分で受光した受光光の強度PPから、P偏
光成分で入射した入射光をS偏光成分で受光した受光光
の強度PSを差し引いた値に基づいて、該物品のパール
光沢又はメタリック光沢を測定することを特徴とする光
沢測定方法を提供することにより、上記目的を達成した
ものである。
の発明は、パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の
光沢測定方法であって、偏光角入射条件下において、該
物品表面の被測定部に対してP偏光成分で入射した入射
光をP偏光成分で受光した受光光の強度PPから、P偏
光成分で入射した入射光をS偏光成分で受光した受光光
の強度PSを差し引いた値に基づいて、該物品のパール
光沢又はメタリック光沢を測定することを特徴とする光
沢測定方法を提供することにより、上記目的を達成した
ものである。
【0009】また、本発明の請求項2に記載の発明は、
パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の光沢測定方
法であって、偏光角入射条件下において、該物品の被測
定面に対してS偏光成分で入射した入射光をS偏光成分
で受光した受光光の強度SSから、S偏光成分で入射し
た入射光をP偏光成分で受光した受光光の強度SPを差
し引いた値に基づいて、該物品の表面光沢を測定するこ
とを特徴とする光沢測定方法を提供することにより、上
記目的を達成したものである。
パール光沢又はメタリック光沢を放つ物品の光沢測定方
法であって、偏光角入射条件下において、該物品の被測
定面に対してS偏光成分で入射した入射光をS偏光成分
で受光した受光光の強度SSから、S偏光成分で入射し
た入射光をP偏光成分で受光した受光光の強度SPを差
し引いた値に基づいて、該物品の表面光沢を測定するこ
とを特徴とする光沢測定方法を提供することにより、上
記目的を達成したものである。
【0010】また、本発明の請求項3に記載の発明は、
上記本発明の光沢測定方法に使用する好ましい装置とし
て、請求項1又は2に記載の光沢測定方法に使用する光
沢測定装置であって、光を照射する光源を備えた光照射
部と、受光光の強度を測定する強度測定器を備えた受光
部とを主体として構成するとともに、上記光源と上記物
品との間、及び該物品と上記強度測定器との間に、それ
ぞれ偏光フィルターを配設し、偏光角入射条件下におい
て、上記光源から照射される光をP偏光成分又はS偏光
成分に分離して該物品に入射し、該物品からの反射光を
P偏光成分又はS偏光成分に分離した受光光を上記強度
測定器に入力するようになしてあることを特徴とする光
沢測定装置を提供するものである。
上記本発明の光沢測定方法に使用する好ましい装置とし
て、請求項1又は2に記載の光沢測定方法に使用する光
沢測定装置であって、光を照射する光源を備えた光照射
部と、受光光の強度を測定する強度測定器を備えた受光
部とを主体として構成するとともに、上記光源と上記物
品との間、及び該物品と上記強度測定器との間に、それ
ぞれ偏光フィルターを配設し、偏光角入射条件下におい
て、上記光源から照射される光をP偏光成分又はS偏光
成分に分離して該物品に入射し、該物品からの反射光を
P偏光成分又はS偏光成分に分離した受光光を上記強度
測定器に入力するようになしてあることを特徴とする光
沢測定装置を提供するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳しく説明する。
て詳しく説明する。
【0012】尚、以下の説明において、P偏光、S偏
光、及び偏光角は、次のように定義される。入射光及び
境界面の法線を含む平面(入射面)内で振動する偏光
(成分)をP偏光(成分)といい、入射面に垂直に振動
する偏光成分をS偏光(成分)という。また、反射光と
屈折光が直交する条件下、即ち、屈折率n1 の相から屈
折率n2 の相(n1 <n2 )に光が入射する場合、表面
反射光が入射光の入射面内で振動するP偏光成分を持た
ないときの入射角を、偏光角あるいはブリュースター角
という。
光、及び偏光角は、次のように定義される。入射光及び
境界面の法線を含む平面(入射面)内で振動する偏光
(成分)をP偏光(成分)といい、入射面に垂直に振動
する偏光成分をS偏光(成分)という。また、反射光と
屈折光が直交する条件下、即ち、屈折率n1 の相から屈
折率n2 の相(n1 <n2 )に光が入射する場合、表面
反射光が入射光の入射面内で振動するP偏光成分を持た
ないときの入射角を、偏光角あるいはブリュースター角
という。
【0013】一般に、光沢顔料(例えば、パール光沢顔
料)、着色顔料、及び透明な基剤からなる塗膜に光を入
射した場合、その反射光には、表面反射光、光沢顔料反
射光、内部拡散反射光(着色顔料拡散反射光)が含まれ
るが、偏光角鏡面入射条件(以下、偏光角入射条件とも
いう)下においては、測定モードにより、受光光に含ま
れる反射光成分はそれぞれ異なってくる。
料)、着色顔料、及び透明な基剤からなる塗膜に光を入
射した場合、その反射光には、表面反射光、光沢顔料反
射光、内部拡散反射光(着色顔料拡散反射光)が含まれ
るが、偏光角鏡面入射条件(以下、偏光角入射条件とも
いう)下においては、測定モードにより、受光光に含ま
れる反射光成分はそれぞれ異なってくる。
【0014】一例として、透明な基剤A、光沢顔料B、
着色顔料Cからなる平滑な平面状の塗膜表面に偏光角入
射条件下で光を入射したときの光の挙動を図1を参照し
ながら説明する。
着色顔料Cからなる平滑な平面状の塗膜表面に偏光角入
射条件下で光を入射したときの光の挙動を図1を参照し
ながら説明する。
【0015】図1(a)に示したように、偏光角入射条
件下において、塗膜にP偏光を入射すると、表面反射光
(塗膜表面反射光)は観測されず、また、光沢顔料反射
光は拡散反射特性を持たず且つP偏光状態を保存したま
ま反射されるので、受光光には、光沢顔料反射光Bpp及
び内部拡散反射光(Cpp、Cps)のみが含まれる。P偏
光入射P偏光受光(以下、PPモード測定という)で
は、内部拡散反射光Cpsは受光されないため、このとき
の受光光の強度PP(以下、PP値ともいう)は、光沢
顔料反射光Bppの強度と内部拡散反射光Cppの強度とな
る。また、偏光角入射条件下におけるP偏光入射S偏光
受光(以下、PSモード測定という)では、光沢顔料反
射光は、上記同様に、拡散反射特性を持たず且つその入
射光のP偏光状態を保存した光沢顔料反射光Bppとして
反射されるが、この光沢顔料反射光Bppは、S偏光フィ
ルターを透過しないので、受光光には、内部拡散反射光
Cpsのみが含まれる。従って、受光光の強度PS(以
下、PS値ともいう)は、内部拡散光Cpsの強度とな
る。
件下において、塗膜にP偏光を入射すると、表面反射光
(塗膜表面反射光)は観測されず、また、光沢顔料反射
光は拡散反射特性を持たず且つP偏光状態を保存したま
ま反射されるので、受光光には、光沢顔料反射光Bpp及
び内部拡散反射光(Cpp、Cps)のみが含まれる。P偏
光入射P偏光受光(以下、PPモード測定という)で
は、内部拡散反射光Cpsは受光されないため、このとき
の受光光の強度PP(以下、PP値ともいう)は、光沢
顔料反射光Bppの強度と内部拡散反射光Cppの強度とな
る。また、偏光角入射条件下におけるP偏光入射S偏光
受光(以下、PSモード測定という)では、光沢顔料反
射光は、上記同様に、拡散反射特性を持たず且つその入
射光のP偏光状態を保存した光沢顔料反射光Bppとして
反射されるが、この光沢顔料反射光Bppは、S偏光フィ
ルターを透過しないので、受光光には、内部拡散反射光
Cpsのみが含まれる。従って、受光光の強度PS(以
下、PS値ともいう)は、内部拡散光Cpsの強度とな
る。
【0016】故に、PP値からPS値を差し引いた(P
P−PS)値は、光沢顔料反射光Bppの強度であるか
ら、この光沢顔料反射光Bppの強度に基づいて、当該光
沢顔料反射光Bppのみに起因する光沢、即ち、光沢顔料
からの光沢を的確に測定することが可能となる。また、
例えば、予め、基準となる白色硫酸バリウム板の内部拡
散反射光強度(PS値)、或いは光沢測定用の基準とな
る黒色ガラス板等からの反射光強度(後述の(SS−S
P)値)を測定しておき、これを基準値として当該基準
値と被測定物の測定値とを比較すれば、光沢顔料からの
光沢の相対的な評価が可能となる。
P−PS)値は、光沢顔料反射光Bppの強度であるか
ら、この光沢顔料反射光Bppの強度に基づいて、当該光
沢顔料反射光Bppのみに起因する光沢、即ち、光沢顔料
からの光沢を的確に測定することが可能となる。また、
例えば、予め、基準となる白色硫酸バリウム板の内部拡
散反射光強度(PS値)、或いは光沢測定用の基準とな
る黒色ガラス板等からの反射光強度(後述の(SS−S
P)値)を測定しておき、これを基準値として当該基準
値と被測定物の測定値とを比較すれば、光沢顔料からの
光沢の相対的な評価が可能となる。
【0017】一方、図1(b)に示したように、偏光角
入射条件下において、塗膜にS偏光を入射すると、表面
反射光(塗膜表面反射光)Ass、光沢顔料反射光Bss、
及び内部拡散反射光Css、Cspが観測されるが、S偏光
入射S偏光受光(以下、SSモード測定という)では、
内部拡散反射光CspはS偏光フィルターを透過しないの
で、受光光には、表面反射光Ass、光沢顔料反射光Bs
s、及び内部拡散反射光Cssが含まれる。従って、この
受光光の強度SS(以下、SS値ともいう)は、表面反
射光Assの強度、光沢顔料反射光Bssの強度、及び内部
拡散反射光Cssの強度の和となる。また、S偏光入射P
偏光受光(以下、SPモード測定という)では、受光光
には、内部拡散反射光Cspのみが含まれるので、この受
光光の強度SP(以下、SP値ともいう)は、内部拡散
反射光Cspの強度となる。
入射条件下において、塗膜にS偏光を入射すると、表面
反射光(塗膜表面反射光)Ass、光沢顔料反射光Bss、
及び内部拡散反射光Css、Cspが観測されるが、S偏光
入射S偏光受光(以下、SSモード測定という)では、
内部拡散反射光CspはS偏光フィルターを透過しないの
で、受光光には、表面反射光Ass、光沢顔料反射光Bs
s、及び内部拡散反射光Cssが含まれる。従って、この
受光光の強度SS(以下、SS値ともいう)は、表面反
射光Assの強度、光沢顔料反射光Bssの強度、及び内部
拡散反射光Cssの強度の和となる。また、S偏光入射P
偏光受光(以下、SPモード測定という)では、受光光
には、内部拡散反射光Cspのみが含まれるので、この受
光光の強度SP(以下、SP値ともいう)は、内部拡散
反射光Cspの強度となる。
【0018】従って、SS値からSP値を差し引いた
(SS−SP)値は、表面反射光Assの強度と光沢顔料
反射光Bssの強度との和となる。故に、この(SS−S
P)値に基づいて、表面反射光Ass及び光沢顔料反射光
Bssに起因する光沢を求めることができるが、Ass>>
Bssであるので、この(SS−SP)値に基づいて、表
面光沢のみを測定することが可能となる。また、例え
ば、予め基準となる黒色ガラス板などの光沢標準板の表
面反射光のSS値、又は硫酸バリウム板若しくは素焼き
板等の内部拡散反射光強度(SP値)を測定しておき、
これを基準値として当該基準値と被測定物の測定値とを
比較すれば、表面反射光及び光沢顔料反射光に起因する
光沢の相対的な評価が可能となる。これらの関係を下記
〔表1〕に示す。
(SS−SP)値は、表面反射光Assの強度と光沢顔料
反射光Bssの強度との和となる。故に、この(SS−S
P)値に基づいて、表面反射光Ass及び光沢顔料反射光
Bssに起因する光沢を求めることができるが、Ass>>
Bssであるので、この(SS−SP)値に基づいて、表
面光沢のみを測定することが可能となる。また、例え
ば、予め基準となる黒色ガラス板などの光沢標準板の表
面反射光のSS値、又は硫酸バリウム板若しくは素焼き
板等の内部拡散反射光強度(SP値)を測定しておき、
これを基準値として当該基準値と被測定物の測定値とを
比較すれば、表面反射光及び光沢顔料反射光に起因する
光沢の相対的な評価が可能となる。これらの関係を下記
〔表1〕に示す。
【0019】
【表1】
【0020】本発明は、入射光(被測定物より幅広の平
行光束)が偏光角で入射するように光源及び被測定物を
セットし、入射面内において受光部を変角させて測定を
行う方法(以下、受光変角法ともいう)、又は、入射光
(被測定物より狭いスポット状の平行光束)の入射角度
と受光光の受光角度との和が入射面内において偏光角の
2倍となるように光源及び受光部をセットし、被測定物
を回転させて測定する方法(以下、試料変角法ともい
う)のいずれの場合をも含むものである。試料変角法の
場合、入射光の光束の直径は、0.5〜30mm、好ま
しくは1〜5mmとする。光束の直径が0.5mm未満
であると、受光器に対する反射強度が不充分となり、逆
に、30mmを超えると、試料の向きに対する反射光情
報が平均化され、反射光の強度特性に関する詳細な特徴
が得られなくなる。
行光束)が偏光角で入射するように光源及び被測定物を
セットし、入射面内において受光部を変角させて測定を
行う方法(以下、受光変角法ともいう)、又は、入射光
(被測定物より狭いスポット状の平行光束)の入射角度
と受光光の受光角度との和が入射面内において偏光角の
2倍となるように光源及び受光部をセットし、被測定物
を回転させて測定する方法(以下、試料変角法ともい
う)のいずれの場合をも含むものである。試料変角法の
場合、入射光の光束の直径は、0.5〜30mm、好ま
しくは1〜5mmとする。光束の直径が0.5mm未満
であると、受光器に対する反射強度が不充分となり、逆
に、30mmを超えると、試料の向きに対する反射光情
報が平均化され、反射光の強度特性に関する詳細な特徴
が得られなくなる。
【0021】前者の受光変角法は、被測定物に対して広
範囲に光を照射して強度比(例えば、表面反射光:パー
ル顔料反射光:内部拡散反射)を測定・評価する際に適
している。
範囲に光を照射して強度比(例えば、表面反射光:パー
ル顔料反射光:内部拡散反射)を測定・評価する際に適
している。
【0022】また、後者の試料変角法は、被測定物の表
面をパール光沢顔料(これを試料変角法における微細素
面とする)を含む複数の微小平面の集合とし、反射光を
これらの微小平面からの反射光(例えば、表面反射光、
パール光沢顔料反射光、内部拡散反射光)の強度分布特
性として測定・評価する際に適している。即ち、例え
ば、図2(a)〜(c)に示すように、パール光沢顔料
を含む口紅の周面を、パール光沢顔料を一様に含む複数
の微小平面A0、A1、A2..の集合とし(図2
(a)参照)、A0を測定スポットとして、口紅を入射
面内において変角させて、受光光の強度を測定すること
により、反射強度のA0スポットの法線方向に対する分
布(図2(b)参照)を求めると、当該分布を、スポッ
トA0の鏡面方向から観察した場合の、各スポット(A
0、A1、A2..)からの反射光の反射強度の分布
(図2(c)参照)と見なすことができる。
面をパール光沢顔料(これを試料変角法における微細素
面とする)を含む複数の微小平面の集合とし、反射光を
これらの微小平面からの反射光(例えば、表面反射光、
パール光沢顔料反射光、内部拡散反射光)の強度分布特
性として測定・評価する際に適している。即ち、例え
ば、図2(a)〜(c)に示すように、パール光沢顔料
を含む口紅の周面を、パール光沢顔料を一様に含む複数
の微小平面A0、A1、A2..の集合とし(図2
(a)参照)、A0を測定スポットとして、口紅を入射
面内において変角させて、受光光の強度を測定すること
により、反射強度のA0スポットの法線方向に対する分
布(図2(b)参照)を求めると、当該分布を、スポッ
トA0の鏡面方向から観察した場合の、各スポット(A
0、A1、A2..)からの反射光の反射強度の分布
(図2(c)参照)と見なすことができる。
【0023】実際の測定に当たって、被測定物の屈折率
が既知の場合には、当該屈折率から偏光角は一義的に求
められるので、当該偏光角入射条件下において、上述し
た種々のモードにて反射光の強度測定を行うことによっ
て、当該被測定物のパール光沢又はメタリック光沢、及
び表面光沢を測定することができる。
が既知の場合には、当該屈折率から偏光角は一義的に求
められるので、当該偏光角入射条件下において、上述し
た種々のモードにて反射光の強度測定を行うことによっ
て、当該被測定物のパール光沢又はメタリック光沢、及
び表面光沢を測定することができる。
【0024】一方、被測定物の屈折率が未知の場合に
は、被測定物を固定し、且つ入射角又は受光角の一方を
固定するとともに他方を変更して、PPモード測定及び
PSモード測定を行い、図3に示すように、種々の入射
角に対するPP値及びPS値を求め、PP値からPS値
を引いた値、即ち、(PP−PS)値が最小値となる入
射角をもって偏光角とすることが可能である。そして、
この偏光角における(PP−PS)値により、当該被測
定物のパール光沢又はメタリック光沢を測定することが
できる。また、この偏光角入射条件下においてSSモー
ド測定及びSPモード測定を行ってSS値及びSP値を
求めるとともにこれらの値から(SS−SP)値を求め
ることによって、当該被測定物の表面光沢を測定するこ
とができる。
は、被測定物を固定し、且つ入射角又は受光角の一方を
固定するとともに他方を変更して、PPモード測定及び
PSモード測定を行い、図3に示すように、種々の入射
角に対するPP値及びPS値を求め、PP値からPS値
を引いた値、即ち、(PP−PS)値が最小値となる入
射角をもって偏光角とすることが可能である。そして、
この偏光角における(PP−PS)値により、当該被測
定物のパール光沢又はメタリック光沢を測定することが
できる。また、この偏光角入射条件下においてSSモー
ド測定及びSPモード測定を行ってSS値及びSP値を
求めるとともにこれらの値から(SS−SP)値を求め
ることによって、当該被測定物の表面光沢を測定するこ
とができる。
【0025】本発明の光沢測定方法は、被測定物の平面
な部分は勿論、曲面部分にも適用が可能である。特に、
当該被測定物が一定の曲率の曲面部分を有する場合に
は、当該曲面部分の曲率中心回り(例えば、物品が円柱
状であり、その周面における光沢を測定する場合には、
その中心軸回り)に被測定物を回転させることにより、
当該被測定物の光沢情報を連続的に測定することができ
る。
な部分は勿論、曲面部分にも適用が可能である。特に、
当該被測定物が一定の曲率の曲面部分を有する場合に
は、当該曲面部分の曲率中心回り(例えば、物品が円柱
状であり、その周面における光沢を測定する場合には、
その中心軸回り)に被測定物を回転させることにより、
当該被測定物の光沢情報を連続的に測定することができ
る。
【0026】本発明は、パール光沢又はメタリック光沢
を放つ物品であれば、特に制限無く適用できる。パール
光沢を放つ物品には、パール光沢顔料を含む物品は勿
論、構造的にパール光沢を放つ物品が含まれる。また、
メタリック光沢を放つ物品としては、メタリック顔料を
含む物品が挙げられる。さらに、透明な容器内に、パー
ル光沢又はメタリック光沢を放つ物品を充填した物品の
光沢測定にも適用が可能である。
を放つ物品であれば、特に制限無く適用できる。パール
光沢を放つ物品には、パール光沢顔料を含む物品は勿
論、構造的にパール光沢を放つ物品が含まれる。また、
メタリック光沢を放つ物品としては、メタリック顔料を
含む物品が挙げられる。さらに、透明な容器内に、パー
ル光沢又はメタリック光沢を放つ物品を充填した物品の
光沢測定にも適用が可能である。
【0027】上記パール光沢顔料を含む物品に使用され
る具体的なパール光沢顔料としては、雲母チタン(雲母
小片表面に酸化チタン薄膜をコーティングしたもの)、
オキシ塩化ビスマス、ラメ、貝殻片、魚鱗箔等が挙げら
れる。
る具体的なパール光沢顔料としては、雲母チタン(雲母
小片表面に酸化チタン薄膜をコーティングしたもの)、
オキシ塩化ビスマス、ラメ、貝殻片、魚鱗箔等が挙げら
れる。
【0028】また、メタリック光沢を放つ物品に使用さ
れる具体的なメタリック光沢顔料としては、アルミニウ
ムフレーク、金箔等が挙げられる。
れる具体的なメタリック光沢顔料としては、アルミニウ
ムフレーク、金箔等が挙げられる。
【0029】上記パール光沢顔料含む具体的な物品とし
ては、口紅、ネイルエナメル、シャンプー、リンス、又
はクリーム状若しくはゼリー状の化粧料等の化粧品類、
ペンキ若しくはインク等の塗料類(該塗料類による印刷
面ないし塗工面を含む)、自動車、家具、家庭用品若し
くは看板等の表面塗装、プラスチック若しくはガラス製
の容器、ラッピングペーパー若しくは樹脂シートなどの
包装具、クレヨン、マーカ若しくは色鉛筆等の筆記具、
プラスチック若しくはガラス製玩具、服地、リボン若し
くは傘等の繊維製品、又は、キャンディー若しくはゼリ
ーなどの食品が挙げられる。
ては、口紅、ネイルエナメル、シャンプー、リンス、又
はクリーム状若しくはゼリー状の化粧料等の化粧品類、
ペンキ若しくはインク等の塗料類(該塗料類による印刷
面ないし塗工面を含む)、自動車、家具、家庭用品若し
くは看板等の表面塗装、プラスチック若しくはガラス製
の容器、ラッピングペーパー若しくは樹脂シートなどの
包装具、クレヨン、マーカ若しくは色鉛筆等の筆記具、
プラスチック若しくはガラス製玩具、服地、リボン若し
くは傘等の繊維製品、又は、キャンディー若しくはゼリ
ーなどの食品が挙げられる。
【0030】上記構造的にパール光沢を放つ具体的な物
品としては、真珠、ラメ若しくは貝殻、又はこれらを含
有する、宝飾品、化粧品若しくは容器、シャンプー若し
くはリンスの成分である多価アルコール脂肪酸エステ
ル、又はこれを含有する物品、包装フィルム(ポリプロ
ピレン)、PETボトル等が挙げられる。
品としては、真珠、ラメ若しくは貝殻、又はこれらを含
有する、宝飾品、化粧品若しくは容器、シャンプー若し
くはリンスの成分である多価アルコール脂肪酸エステ
ル、又はこれを含有する物品、包装フィルム(ポリプロ
ピレン)、PETボトル等が挙げられる。
【0031】また、上記メタリック顔料を含む具体的な
物品としては、メタリック塗装を行った自動車、金箔等
の金属箔を含む工芸品等が挙げられる。
物品としては、メタリック塗装を行った自動車、金箔等
の金属箔を含む工芸品等が挙げられる。
【0032】次に、本発明の光沢測定方法に使用する光
沢測定装置の一実施形態について、添付図面を参照しな
がら詳しく説明する。なお、本発明の光沢測定装置は、
本実施形態の光沢測定装置に限定されるものではない。
沢測定装置の一実施形態について、添付図面を参照しな
がら詳しく説明する。なお、本発明の光沢測定装置は、
本実施形態の光沢測定装置に限定されるものではない。
【0033】図4は、本発明の光沢測定装置の一実施形
態を示したものである。図4において、符号1は光沢測
定装置、13は被測定物である口紅、Aは入射光の光
路、Bは反射光の光路、Nは対象物品(例えば口紅)1
3の曲面の法線、iはこの法線Nに対して入射光の光路
Aのなす角(入射角)、rは法線Nに対して受光光路B
のなす角(受光角)を示している。
態を示したものである。図4において、符号1は光沢測
定装置、13は被測定物である口紅、Aは入射光の光
路、Bは反射光の光路、Nは対象物品(例えば口紅)1
3の曲面の法線、iはこの法線Nに対して入射光の光路
Aのなす角(入射角)、rは法線Nに対して受光光路B
のなす角(受光角)を示している。
【0034】上記光沢測定装置1は、上記口紅13のよ
うな円柱状の被測定物において、周表面に平行光束を入
射し、当該周表面において、偏光角入射条件となるよう
な位置で反射光を受光し、それに含まれる各偏光成分の
強度を測定するように構成された装置である。
うな円柱状の被測定物において、周表面に平行光束を入
射し、当該周表面において、偏光角入射条件となるよう
な位置で反射光を受光し、それに含まれる各偏光成分の
強度を測定するように構成された装置である。
【0035】図4に示したように、光沢測定装置1は、
口紅13の周表面の被測定箇所に光を照射する光照射部
2と、被測定箇所にて反射された反射光を受光する受光
部3とを主体として構成されている。
口紅13の周表面の被測定箇所に光を照射する光照射部
2と、被測定箇所にて反射された反射光を受光する受光
部3とを主体として構成されている。
【0036】上記光照射部2は、光を発する光源4と、
一対のレンズ5、6と、これらレンズ5、6間に配され
たスリット7とを備えている。また、レンズ6と口紅1
3との間には、偏光フィルター8が配設されており、こ
の偏光フィルター8に照射光を透過させてS偏光光又は
P偏光光に切り替えるようになしてある。切り替えは、
偏光フィルター8を90°回転させることにより行える
ようになっている。
一対のレンズ5、6と、これらレンズ5、6間に配され
たスリット7とを備えている。また、レンズ6と口紅1
3との間には、偏光フィルター8が配設されており、こ
の偏光フィルター8に照射光を透過させてS偏光光又は
P偏光光に切り替えるようになしてある。切り替えは、
偏光フィルター8を90°回転させることにより行える
ようになっている。
【0037】上記受光部3は、受光した反射光の光強度
を測定する光強度測定器9と、レンズ10と、受光絞り
11とを備えており、レンズ10と口紅13との間に
は、偏光フィルター12が配設されている。この偏光フ
ィルター12も、上述した偏光フィルター8と同様に、
90°回転させることにより、受光する反射光をS偏光
光又はP偏光光に選択できるようになしてある。
を測定する光強度測定器9と、レンズ10と、受光絞り
11とを備えており、レンズ10と口紅13との間に
は、偏光フィルター12が配設されている。この偏光フ
ィルター12も、上述した偏光フィルター8と同様に、
90°回転させることにより、受光する反射光をS偏光
光又はP偏光光に選択できるようになしてある。
【0038】上記照射部2及び上記受光部3は口紅13
の周表面に対して、所定の位置に配設されており、口紅
13の中心軸回りに回動自在に設けられている。更に、
口紅13を載置する載置台(図示せず)も必要に応じて
一定の角速度で回転可能に設けられている。
の周表面に対して、所定の位置に配設されており、口紅
13の中心軸回りに回動自在に設けられている。更に、
口紅13を載置する載置台(図示せず)も必要に応じて
一定の角速度で回転可能に設けられている。
【0039】上記光沢測定装置1において、光源4から
発せられた光は、レンズ5、スリット7、及びレンズ6
を経た後、偏光フィルター8にてS偏光光又はP偏光光
に偏光され、口紅13に入射される。一方、口紅13で
反射した反射光は、偏光フィルター12でP偏光光又は
S偏光光に偏光され、レンズ10、及びスリット11を
経た後、光強度測定器9に導かれて光強度が測定され
る。
発せられた光は、レンズ5、スリット7、及びレンズ6
を経た後、偏光フィルター8にてS偏光光又はP偏光光
に偏光され、口紅13に入射される。一方、口紅13で
反射した反射光は、偏光フィルター12でP偏光光又は
S偏光光に偏光され、レンズ10、及びスリット11を
経た後、光強度測定器9に導かれて光強度が測定され
る。
【0040】次に、上記光沢測定装置1を用いた、受光
角変角法による光沢測定方法(光沢顔料を含む物品の光
沢の測定方法)について説明する。
角変角法による光沢測定方法(光沢顔料を含む物品の光
沢の測定方法)について説明する。
【0041】まず、光源4から口紅13の周表面の被測
定箇所に一定の入射角でP偏光光を入射し、当該被測定
箇所で反射された反射光のうちのP偏光光を、受光部3
を回動させて種々の受光角で上記偏光フィルター12を
切り替えて受光し、その反射強度(PP値及びPS値)
を求める(図3参照)。
定箇所に一定の入射角でP偏光光を入射し、当該被測定
箇所で反射された反射光のうちのP偏光光を、受光部3
を回動させて種々の受光角で上記偏光フィルター12を
切り替えて受光し、その反射強度(PP値及びPS値)
を求める(図3参照)。
【0042】次いで、PP値からPS値を引いた値、即
ち、(PP−PS)値が最小値となる入射角を求め、こ
の入射角を偏光角とする。そして、この偏光角における
(PP−PS)値により、当該口紅13のパール光沢又
はメタリック光沢を測定する。また、この偏光角入射条
件下においてSSモード測定及びSPモード測定を行っ
てSS値及びSP値を求め、これらの値から(SS−S
P)値を求めることによって、当該口紅13のパール光
沢又はメタリック光沢と表面光沢とをその特性を分離し
て評価する。
ち、(PP−PS)値が最小値となる入射角を求め、こ
の入射角を偏光角とする。そして、この偏光角における
(PP−PS)値により、当該口紅13のパール光沢又
はメタリック光沢を測定する。また、この偏光角入射条
件下においてSSモード測定及びSPモード測定を行っ
てSS値及びSP値を求め、これらの値から(SS−S
P)値を求めることによって、当該口紅13のパール光
沢又はメタリック光沢と表面光沢とをその特性を分離し
て評価する。
【0043】上記口紅13の周面における、光沢を連続
的に測定する場合には、口紅13を所定の回転速度でそ
の中心軸回りに回転させながら上述したPPモード測定
及びPSモード測定、SSモード測定、及びSPモード
測定を行うことによって、当該口紅13の周表面におけ
る上記光沢をパール光沢又はメタリック光沢と表面光沢
とを分離して連続的に測定することが出来る。
的に測定する場合には、口紅13を所定の回転速度でそ
の中心軸回りに回転させながら上述したPPモード測定
及びPSモード測定、SSモード測定、及びSPモード
測定を行うことによって、当該口紅13の周表面におけ
る上記光沢をパール光沢又はメタリック光沢と表面光沢
とを分離して連続的に測定することが出来る。
【0044】また、上述した試料変角法による測定を行
う場合には、図5に示すように、上記測定装置1におい
て、スリット7を絞って入射光の光束を狭めるととも
に、載置台(図示せず)を、口紅13が入射面内におい
て回動(点Oを中心とする)可能なものに変更したもの
を使用する。
う場合には、図5に示すように、上記測定装置1におい
て、スリット7を絞って入射光の光束を狭めるととも
に、載置台(図示せず)を、口紅13が入射面内におい
て回動(点Oを中心とする)可能なものに変更したもの
を使用する。
【0045】そして、照射部と受光部のなす角(i+
r)が、入射面内において当該口紅13の偏光角の2倍
となるようにセットし、上記口紅を口紅13が入射面内
において回動させて、PPモード、PSモード、SSモ
ード、SPモード測定を行い、口紅13の周面における
被測定箇所の法線方向に対する、PP値、PS値、SS
値、及びSP値の分布を求め(図6(a)及び(b)参
照)、さらに、口紅13の周面における被測定箇所の法
線方向に対する、(PP−PS)値、(SS−SP)値
の分布を求めることによって、当該口紅13のパール光
沢又はメタリック光沢と、表面光沢とを分離した分布を
求めることが出来る。そして、その分布から、上記のよ
うに口紅13表面を、当該被測定箇所(微細平面)から
なる集合とモデル化することによって、(PP−PS)
値又は(SS−SP)値の分布を口紅13のにおける実
際に観察されるパール光沢又はメタリック光沢の分布と
みなして、例えば、目視によるパール光沢又はメタリッ
ク光沢の見え易さ等を評価することができる。
r)が、入射面内において当該口紅13の偏光角の2倍
となるようにセットし、上記口紅を口紅13が入射面内
において回動させて、PPモード、PSモード、SSモ
ード、SPモード測定を行い、口紅13の周面における
被測定箇所の法線方向に対する、PP値、PS値、SS
値、及びSP値の分布を求め(図6(a)及び(b)参
照)、さらに、口紅13の周面における被測定箇所の法
線方向に対する、(PP−PS)値、(SS−SP)値
の分布を求めることによって、当該口紅13のパール光
沢又はメタリック光沢と、表面光沢とを分離した分布を
求めることが出来る。そして、その分布から、上記のよ
うに口紅13表面を、当該被測定箇所(微細平面)から
なる集合とモデル化することによって、(PP−PS)
値又は(SS−SP)値の分布を口紅13のにおける実
際に観察されるパール光沢又はメタリック光沢の分布と
みなして、例えば、目視によるパール光沢又はメタリッ
ク光沢の見え易さ等を評価することができる。
【0046】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。な
お、本発明は、本実施例に限定されるものではない。
お、本発明は、本実施例に限定されるものではない。
【0047】(実施例1)パール光沢顔料の配合量及び
表面粗さRaをそれぞれ〔表2〕及び〔表3〕に示すよ
うに変化させて作製した直径12mmの円柱状の口紅A
〜Jのサンプルについて、各サンプル毎に下記のように
受光角変角法による光沢測定を行った。
表面粗さRaをそれぞれ〔表2〕及び〔表3〕に示すよ
うに変化させて作製した直径12mmの円柱状の口紅A
〜Jのサンプルについて、各サンプル毎に下記のように
受光角変角法による光沢測定を行った。
【0048】各サンプルの周表面に対して垂直に直径2
0mmのP偏光成分のみからなる平行光束を入射し、受光
位置を変化させながら、PPモード、PSモード、SS
モード、及びSPモード測定を行い、PP値、PS値、
SS値、及びSP値を測定した。そして、PP値とPS
値との差が最小になる時の受光位置を偏光角とし、(P
P−PS)値、及び(SS−SP)値を求めた。それぞ
れのサンプルについての偏光角、PP値、PS値、及び
(PP−PS)値を〔表2〕に、また、偏光角、SS
値、SP値、及び(SS−SP)値を〔表3〕に示す。
0mmのP偏光成分のみからなる平行光束を入射し、受光
位置を変化させながら、PPモード、PSモード、SS
モード、及びSPモード測定を行い、PP値、PS値、
SS値、及びSP値を測定した。そして、PP値とPS
値との差が最小になる時の受光位置を偏光角とし、(P
P−PS)値、及び(SS−SP)値を求めた。それぞ
れのサンプルについての偏光角、PP値、PS値、及び
(PP−PS)値を〔表2〕に、また、偏光角、SS
値、SP値、及び(SS−SP)値を〔表3〕に示す。
【0049】
【表2】
【0050】
【表3】
【0051】〔表2〕から明かなように、偏光角入射条
件下における(PP−PS)値の大小関係と、光沢顔料
の配合量とは略一致しており、パール光沢を放つ物品の
該パール光沢と表面光沢とを分離して測定できることが
確認された。また、〔表3〕から明らかなように、サン
プルの表面光沢(目視による)と、(SS−SP)値の
大小関係は、表面粗さを反映して一致しており、本測定
法によって、表面光沢情報を測定できることが確認され
た。
件下における(PP−PS)値の大小関係と、光沢顔料
の配合量とは略一致しており、パール光沢を放つ物品の
該パール光沢と表面光沢とを分離して測定できることが
確認された。また、〔表3〕から明らかなように、サン
プルの表面光沢(目視による)と、(SS−SP)値の
大小関係は、表面粗さを反映して一致しており、本測定
法によって、表面光沢情報を測定できることが確認され
た。
【0052】(実施例2)実施例1のサンプルの口紅A
〜Jについて、各サンプル毎に下記のように試料変角法
による光沢測定を行った。
〜Jについて、各サンプル毎に下記のように試料変角法
による光沢測定を行った。
【0053】サンプルに対して、入射光(2mmφ)の
入射角度と受光光の受光角度との和が、入射面内におい
て実施例1で測定したそれぞれの偏光角の2倍となるよ
うに、照射部及び受光部の角度をセットし、その被測定
箇所の法線方向が当該サンプルの鏡面方向に対して±6
0度以内となるように、当該サンプルを入射面内におい
て回転させ、PPモード、PSモード、SSモード、及
びSPモード測定を行い、PP値、PS値、SS値、及
びSP値を測定した。そして、サンプルの測定箇所の法
線方向に対する、(PP−PS)値及び(SS−SP)
値の分布をそれぞれ求めた。各サンプルについての偏光
角、当該偏光角におけるPP値、PS値、及び(PP−
PS)値、並びに(PP−PS)値のピークの半値幅を
〔表4〕に、また、各サンプルについての偏光角、当該
該偏光角におけるSS値、SP値、及び(SS−SP)
値、並びに(SS−SP)値のピークの半値幅を〔表
5〕にそれぞれ示す。
入射角度と受光光の受光角度との和が、入射面内におい
て実施例1で測定したそれぞれの偏光角の2倍となるよ
うに、照射部及び受光部の角度をセットし、その被測定
箇所の法線方向が当該サンプルの鏡面方向に対して±6
0度以内となるように、当該サンプルを入射面内におい
て回転させ、PPモード、PSモード、SSモード、及
びSPモード測定を行い、PP値、PS値、SS値、及
びSP値を測定した。そして、サンプルの測定箇所の法
線方向に対する、(PP−PS)値及び(SS−SP)
値の分布をそれぞれ求めた。各サンプルについての偏光
角、当該偏光角におけるPP値、PS値、及び(PP−
PS)値、並びに(PP−PS)値のピークの半値幅を
〔表4〕に、また、各サンプルについての偏光角、当該
該偏光角におけるSS値、SP値、及び(SS−SP)
値、並びに(SS−SP)値のピークの半値幅を〔表
5〕にそれぞれ示す。
【0054】
【表4】
【0055】
【表5】
【0056】〔表4〕に示したように、パール光沢顔料
の粒径・配合量に応じてパール光沢強度及びその広がり
が変化しており、また、これらの変化は、目視によるパ
ール光沢の強さにも対応しており、入射角度と受光光の
受光角度との和が、入射面内において偏光角の2倍とな
るように設定した本測定法が、パール顔料を含む外観の
評価として有効であることが確認された。また、〔表
5〕に示したように、表面光沢強度は、口紅の表面粗さ
(〔表3〕参照)に対応して変化しており、また、パー
ル光沢の見え易さは、表面光沢の広がり伴って悪くなっ
ていることが確認された(図6(a)及び(b)参
照)。
の粒径・配合量に応じてパール光沢強度及びその広がり
が変化しており、また、これらの変化は、目視によるパ
ール光沢の強さにも対応しており、入射角度と受光光の
受光角度との和が、入射面内において偏光角の2倍とな
るように設定した本測定法が、パール顔料を含む外観の
評価として有効であることが確認された。また、〔表
5〕に示したように、表面光沢強度は、口紅の表面粗さ
(〔表3〕参照)に対応して変化しており、また、パー
ル光沢の見え易さは、表面光沢の広がり伴って悪くなっ
ていることが確認された(図6(a)及び(b)参
照)。
【0057】(実施例3)パール光沢顔料の配合量を2
wt%又は0wt%とし、且つパール光沢顔料の粒径を
〔表6〕に示すように変化させて作製した直径12mm
の円柱状の口紅K〜Zについて、各サンプル毎に下記の
ように試料変角法による光沢測定を行った。
wt%又は0wt%とし、且つパール光沢顔料の粒径を
〔表6〕に示すように変化させて作製した直径12mm
の円柱状の口紅K〜Zについて、各サンプル毎に下記の
ように試料変角法による光沢測定を行った。
【0058】サンプルに対して、(実施例1)と同様の
方法により予め偏光角を測定し、当該各サンプル毎に、
入射光(2mmφ)の入射角度と受光光の受光角度との
和が、入射面内において偏光角の2倍となるように、照
射部及び受光部の角度をセットし、サンプルの被測定箇
所の法線方向が鏡面方向に対して±60度以内となるよ
うに、当該サンプルを入射面内において回転させ、PP
モード、PSモード測定を行い、PP値、PS値を測定
した。そして、サンプルの被測定箇所の法線方向に対す
る、(PP−PS)値(縦軸)の分布を求めた。それぞ
れのサンプルについての偏光角、当該偏光角におけるP
P値、PS値、及び(PP−PS)値、並びに(PP−
PS)のピークの半値幅を〔表6〕に示す。
方法により予め偏光角を測定し、当該各サンプル毎に、
入射光(2mmφ)の入射角度と受光光の受光角度との
和が、入射面内において偏光角の2倍となるように、照
射部及び受光部の角度をセットし、サンプルの被測定箇
所の法線方向が鏡面方向に対して±60度以内となるよ
うに、当該サンプルを入射面内において回転させ、PP
モード、PSモード測定を行い、PP値、PS値を測定
した。そして、サンプルの被測定箇所の法線方向に対す
る、(PP−PS)値(縦軸)の分布を求めた。それぞ
れのサンプルについての偏光角、当該偏光角におけるP
P値、PS値、及び(PP−PS)値、並びに(PP−
PS)のピークの半値幅を〔表6〕に示す。
【0059】
【表6】
【0060】〔表6〕から明らかなように、パール光沢
顔料の粒径の違いによる、パール光沢強度及びその広が
りの違いは、目視によるパール光沢強度と対応してお
り、入射角度と受光角度との和が、入射面内において偏
光角の2倍となるように設定した本測定法が、パール顔
料を含む物品の外観の評価法として有効であることが確
認された。
顔料の粒径の違いによる、パール光沢強度及びその広が
りの違いは、目視によるパール光沢強度と対応してお
り、入射角度と受光角度との和が、入射面内において偏
光角の2倍となるように設定した本測定法が、パール顔
料を含む物品の外観の評価法として有効であることが確
認された。
【0061】本発明は、上述した一実施例に限定され
ず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であ
る。
ず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であ
る。
【0062】
【発明の効果】本発明の光沢測定方法によれば、パール
光沢又はメタリック光沢を放つ物品の光沢を的確に測定
することができる。
光沢又はメタリック光沢を放つ物品の光沢を的確に測定
することができる。
【図1】偏光角入射条件下における光の挙動を示す図で
あり、(a)はP偏光光入射の際の挙動を示す概略図、
(b)はS偏光光入射の際の光の挙動を示す概略図であ
る。
あり、(a)はP偏光光入射の際の挙動を示す概略図、
(b)はS偏光光入射の際の光の挙動を示す概略図であ
る。
【図2】試料変角法の測定結果を実際の被測定物(口
紅)から観察される反射光の強度分布に対応させるため
のモデルを示す図であり、(a)は試料変角法における
結果を実際に口紅表面から観察される反射光の強度分布
に対応させるためのモデルを示す場合の概念図、(b)
はA0スポットについて試料変角法を行った際に得られ
るA0スポットの法線方向に対する反射強度の分布を示
す概略図、(c)は(b)の図を(a)のモデルにおい
て実際に口紅表面から観察される反射光の反射強度の分
布に置き換えた図。
紅)から観察される反射光の強度分布に対応させるため
のモデルを示す図であり、(a)は試料変角法における
結果を実際に口紅表面から観察される反射光の強度分布
に対応させるためのモデルを示す場合の概念図、(b)
はA0スポットについて試料変角法を行った際に得られ
るA0スポットの法線方向に対する反射強度の分布を示
す概略図、(c)は(b)の図を(a)のモデルにおい
て実際に口紅表面から観察される反射光の反射強度の分
布に置き換えた図。
【図3】入射角と受光光中の角偏光成分の反射率との関
係を示すグラフ図である。
係を示すグラフ図である。
【図4】本発明の光沢測定方法に使用する光沢測定装置
の構成を示す概略図である。
の構成を示す概略図である。
【図5】本発明の光沢測定方法に使用する他の光沢測定
装置の構成を示す概略図である。
装置の構成を示す概略図である。
【図6】試料変角法における測定結果の一例を示す図で
あり、(a)は表面光沢のある口紅(パール光沢顔料を
含むもの)の測定結果を示す図、(b)は表面光沢の少
ない口紅(パール光沢顔料を含むもの)の測定結果を示
す図である。
あり、(a)は表面光沢のある口紅(パール光沢顔料を
含むもの)の測定結果を示す図、(b)は表面光沢の少
ない口紅(パール光沢顔料を含むもの)の測定結果を示
す図である。
1 光沢測定装置 2 光照射部 3 受光部 4 光源 8、12 偏光フィルター 9 光強度測定器 13 口紅(被測定物)
Claims (3)
- 【請求項1】 パール光沢又はメタリック光沢を放つ物
品の光沢測定方法であって、偏光角入射条件下におい
て、該物品表面の被測定部に対してP偏光成分で入射し
た入射光をP偏光成分で受光した受光光の強度PPか
ら、P偏光成分で入射した入射光をS偏光成分で受光し
た受光光の強度PSを差し引いた値に基づいて、該物品
のパール光沢又はメタリック光沢を測定することを特徴
とする光沢測定方法。 - 【請求項2】 パール光沢又はメタリック光沢を放つ物
品の光沢測定方法であって、偏光角入射条件下におい
て、該物品の被測定面に対してS偏光成分で入射した入
射光をS偏光成分で受光した受光光の強度SSから、S
偏光成分で入射した入射光をP偏光成分で受光した受光
光の強度SPを差し引いた値に基づいて、該物品の表面
光沢を測定することを特徴とする光沢測定方法。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の光沢測定方法に
使用する光沢測定装置であって、光を照射する光源を備
えた光照射部と、受光光の強度を測定する強度測定器を
備えた受光部とを主体として構成するとともに、上記光
源と上記物品との間、及び該物品と上記強度測定器との
間に、それぞれ偏光フィルターを配設し、偏光角入射条
件下において、上記光源から照射される光をP偏光成分
又はS偏光成分に分離して該物品に入射し、該物品から
の反射光をP偏光成分又はS偏光成分に分離した受光光
を上記強度測定器に入力するようになしてあることを特
徴とする光沢測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14743396A JPH09329542A (ja) | 1996-06-10 | 1996-06-10 | 光沢測定方法及び光沢測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14743396A JPH09329542A (ja) | 1996-06-10 | 1996-06-10 | 光沢測定方法及び光沢測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09329542A true JPH09329542A (ja) | 1997-12-22 |
Family
ID=15430224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14743396A Pending JPH09329542A (ja) | 1996-06-10 | 1996-06-10 | 光沢測定方法及び光沢測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09329542A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003194710A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-09 | Shiseido Co Ltd | 光散乱体の屈折率の測定方法およびその装置 |
| JP2009068891A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-02 | Ricoh Co Ltd | 反射光検出装置、画像特性計測装置および画像形成装置 |
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-
1996
- 1996-06-10 JP JP14743396A patent/JPH09329542A/ja active Pending
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| JPWO2019070042A1 (ja) * | 2017-10-05 | 2020-10-22 | マクセル株式会社 | 非接触内部計測装置、非接触内部計測方法、および内部計測結果表示システム |
| US11430581B2 (en) | 2017-10-05 | 2022-08-30 | Maxell, Ltd. | Contactless infernal measurement device, contactless internal measurement method, and internal measurement result display system |
| US11721452B2 (en) | 2017-10-05 | 2023-08-08 | Maxell, Ltd. | Contactless internal measurement device, contactless internal measurement method, and internal measurement result display system |
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