JPH0933491A - 圧延材の介在物検査方法 - Google Patents
圧延材の介在物検査方法Info
- Publication number
- JPH0933491A JPH0933491A JP7202707A JP20270795A JPH0933491A JP H0933491 A JPH0933491 A JP H0933491A JP 7202707 A JP7202707 A JP 7202707A JP 20270795 A JP20270795 A JP 20270795A JP H0933491 A JPH0933491 A JP H0933491A
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- Japan
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、超音波探傷または漏洩磁束法にて
圧延材内部の介在物を検査するに際して、正確に介在物
幅を判定する介在物検査方法を提供する。 【構成】 圧延材1の内部に存在する介在物2を超音波
探傷または漏洩磁束法にて検査するに際して、先ず想定
される介在物2を挟んで圧延方向との角度θを変えて圧
延材上を複数回スキャニングし、スキャニング回数,ス
キャニング方向と圧延方向3とのなす角度θ,得られた
検出長yより介在物幅d0 を算出する圧延材の介在物検
査方法である。 【効果】 スキャニングした検出幅より介在物の真の幅
を正確に判定でき、製造過程における圧延材の品質管理
をさらに容易かつ正確に行うことができる。
圧延材内部の介在物を検査するに際して、正確に介在物
幅を判定する介在物検査方法を提供する。 【構成】 圧延材1の内部に存在する介在物2を超音波
探傷または漏洩磁束法にて検査するに際して、先ず想定
される介在物2を挟んで圧延方向との角度θを変えて圧
延材上を複数回スキャニングし、スキャニング回数,ス
キャニング方向と圧延方向3とのなす角度θ,得られた
検出長yより介在物幅d0 を算出する圧延材の介在物検
査方法である。 【効果】 スキャニングした検出幅より介在物の真の幅
を正確に判定でき、製造過程における圧延材の品質管理
をさらに容易かつ正確に行うことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波探傷または
漏洩磁束法にて、圧延された鋳片(以下これを圧延材と
称する)の内部に存在する介在物を検査するに際して、
より正確に介在物幅を判定する介在物検査方法に関す
る。
漏洩磁束法にて、圧延された鋳片(以下これを圧延材と
称する)の内部に存在する介在物を検査するに際して、
より正確に介在物幅を判定する介在物検査方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来圧延材の介在物の検査し、その大き
さを判定する方法としては、光学顕微鏡や、また超音波
探傷による方法が用いられているが、非破壊によりオン
ラインで圧延材の内部を検査する方法としては、超音波
探傷による方法が多く用いられている。
さを判定する方法としては、光学顕微鏡や、また超音波
探傷による方法が用いられているが、非破壊によりオン
ラインで圧延材の内部を検査する方法としては、超音波
探傷による方法が多く用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】超音波による方法の一
例として、特開昭59−218950号公報に開示され
た薄鋼板介在物の検出方法がある。この方法は、薄鋼板
に探触子から超音波集束ビームを垂直に送信するととも
に、薄鋼板より受信した第2回目以降の底面エコーを取
出す減衰方式を採用して、より小さな鋼中非金属介在物
をオンラインで適格に検出する技術である。
例として、特開昭59−218950号公報に開示され
た薄鋼板介在物の検出方法がある。この方法は、薄鋼板
に探触子から超音波集束ビームを垂直に送信するととも
に、薄鋼板より受信した第2回目以降の底面エコーを取
出す減衰方式を採用して、より小さな鋼中非金属介在物
をオンラインで適格に検出する技術である。
【0004】ところでこれら従来の超音波による圧延材
等の介在物の検査方法では、介在物位置に対する探触子
の進入角度等により、実際の介在物の大きさと探触によ
り判定する大きさに差が生じるという課題があった。
等の介在物の検査方法では、介在物位置に対する探触子
の進入角度等により、実際の介在物の大きさと探触によ
り判定する大きさに差が生じるという課題があった。
【0005】本発明は、超音波,漏洩磁束等にて圧延材
の内部に存在する介在物を検査するに際して、より正確
に介在物幅を判定する介在物検査方法を提供する。
の内部に存在する介在物を検査するに際して、より正確
に介在物幅を判定する介在物検査方法を提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、圧延材の内部
に存在する介在物を超音波探傷または漏洩磁束法にて検
査するに際して、先ず想定される介在物を挟んで圧延方
向との角度を変えて圧延材上を複数回スキャニングし、
スキャニング回数,スキャニング方向と圧延方向とのな
す角度,得られた検出長より介在物幅を下記(1)式に
て算出することを特徴とする圧延材の介在物検査方法で
ある。
に存在する介在物を超音波探傷または漏洩磁束法にて検
査するに際して、先ず想定される介在物を挟んで圧延方
向との角度を変えて圧延材上を複数回スキャニングし、
スキャニング回数,スキャニング方向と圧延方向とのな
す角度,得られた検出長より介在物幅を下記(1)式に
て算出することを特徴とする圧延材の介在物検査方法で
ある。
【0007】
【数2】
【0008】ただし d0 :求める介在物幅, N :スキャニング回数(N≧2), θi :それぞれのスキャニング方向と圧延方向とのなす
角度, yi :それぞれのスキャニング時の検出長,=Δx・n
i(i=1,2,……,N), Δx:スキャニングピッチ, ni:反射信号検知数
角度, yi :それぞれのスキャニング時の検出長,=Δx・n
i(i=1,2,……,N), Δx:スキャニングピッチ, ni:反射信号検知数
【0009】
【発明の実施の形態】当初鋳片の内部に取り込まれた介
在物は、圧延により同時にその方向に伸びるので、内部
に存在する介在物2の形状は図1に示すように極端に偏
平な楕円形状を呈する。ここで圧延材1の圧延方向3に
対してθの角度に介在物2をスキャニングした場合に得
られる検出長をyとし、検出長の測定値母集団の真の値
をd0とすると、y,d0 の関係は次のように表すこと
ができる。
在物は、圧延により同時にその方向に伸びるので、内部
に存在する介在物2の形状は図1に示すように極端に偏
平な楕円形状を呈する。ここで圧延材1の圧延方向3に
対してθの角度に介在物2をスキャニングした場合に得
られる検出長をyとし、検出長の測定値母集団の真の値
をd0とすると、y,d0 の関係は次のように表すこと
ができる。
【0010】
【数3】
【0011】上記(2)式の右辺第1項は、角度θに起
因する拡大率を表現しており、右辺第2項bは、超音波
の散乱/回折による見かけの増加分である。
因する拡大率を表現しており、右辺第2項bは、超音波
の散乱/回折による見かけの増加分である。
【0012】圧延方向とのなす角度θをθ1 ,θ2 ,…
…θN のようにN通り変えて、測定された測定値をそれ
ぞれy1 ,y2 ,……yN とすると、これらの値は
(2)式の右辺の項以外に更に測定誤差や丸め誤差等を
含んでいる。従って測定値(y1,y2 ,……yN )を
最小自乗法により(2)式で回帰する。即ち次(3)式
のIを最小にするd0 , bの値を求め、d0 を介在物の
幅とする。
…θN のようにN通り変えて、測定された測定値をそれ
ぞれy1 ,y2 ,……yN とすると、これらの値は
(2)式の右辺の項以外に更に測定誤差や丸め誤差等を
含んでいる。従って測定値(y1,y2 ,……yN )を
最小自乗法により(2)式で回帰する。即ち次(3)式
のIを最小にするd0 , bの値を求め、d0 を介在物の
幅とする。
【0013】
【数4】
【0014】Iのd0 とbによる偏微分値をそれぞれ0
とおいて、d0 とbを求める。
とおいて、d0 とbを求める。
【0015】
【数5】
【0016】
【数6】
【0017】(4)式 ,(5)式 から次の(6)式 ,
(7)式を得る。
(7)式を得る。
【0018】
【数7】
【0019】
【数8】
【0020】
【実施例】実施例として、圧延材の内部に存在する介在
物を超音波探傷により検査するに際して、下記表1に示
すように、圧延方向との角度を15〜90°に変えて6
回スキャニングし、得られた検出長より前記(6)式お
よび(7)式を使って介在物の幅d0 および回帰式
(2)式における係数bを求めた。
物を超音波探傷により検査するに際して、下記表1に示
すように、圧延方向との角度を15〜90°に変えて6
回スキャニングし、得られた検出長より前記(6)式お
よび(7)式を使って介在物の幅d0 および回帰式
(2)式における係数bを求めた。
【0021】
【表1】
【0022】
【数9】
【0023】
【数10】
【0024】図2は、本実施例における実測値すなわち
検出幅と回帰値の関係を示し、また図3は同様スキャニ
ング角度と検出幅の関係を示す図面である。
検出幅と回帰値の関係を示し、また図3は同様スキャニ
ング角度と検出幅の関係を示す図面である。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
キャニングした検出幅より介在物の真の幅を容易かつ正
確に判定することが可能であり、製造過程における圧延
材の品質管理をさらに容易かつ正確に行うことができ
る。
キャニングした検出幅より介在物の真の幅を容易かつ正
確に判定することが可能であり、製造過程における圧延
材の品質管理をさらに容易かつ正確に行うことができ
る。
【図1】本発明による圧延材内部に存在する介在物をス
キャニングする一例を示す図面である。
キャニングする一例を示す図面である。
【図2】本実施例における検出幅と回帰値の関係を示す
図面である。
図面である。
【図3】本実施例におけるスキャニング角度と検出幅の
関係を示す図面である。
関係を示す図面である。
1 圧延材 2 介在物 3 圧延方向 d0 求める介在物幅 θ スキャニング角度 y 介在物の検出長
Claims (1)
- 【請求項1】 圧延された鋳片の内部に存在する介在物
を超音波探傷または漏洩磁束法にて検査するに際して、
先ず想定される介在物を挟んで圧延方向との角度を変え
て圧延材上を複数回スキャニングし、スキャニング回
数,スキャニング方向と圧延方向とのなす角度,得られ
た検出長より介在物幅を下記数1にて算出することを特
徴とする圧延材の介在物検査方法。 【数1】 ただし d0 :求める介在物幅, N :スキャニング回数(N≧2), θi :それぞれのスキャニング方向と圧延方向とのなす
角度, yi :それぞれのスキャニング時の検出長,=Δx・n
i(i=1,2,……,N), Δx:スキャニングピッチ, ni:反射信号検知数
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7202707A JPH0933491A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 圧延材の介在物検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7202707A JPH0933491A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 圧延材の介在物検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0933491A true JPH0933491A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16461827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7202707A Withdrawn JPH0933491A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 圧延材の介在物検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0933491A (ja) |
-
1995
- 1995-07-18 JP JP7202707A patent/JPH0933491A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021001 |