JPH093638A - スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法 - Google Patents

スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法

Info

Publication number
JPH093638A
JPH093638A JP15480695A JP15480695A JPH093638A JP H093638 A JPH093638 A JP H093638A JP 15480695 A JP15480695 A JP 15480695A JP 15480695 A JP15480695 A JP 15480695A JP H093638 A JPH093638 A JP H093638A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
sputtering
target material
insulating layer
backing plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15480695A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Nakagama
晋 中釜
Atsushi Hayashi
篤 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP15480695A priority Critical patent/JPH093638A/ja
Publication of JPH093638A publication Critical patent/JPH093638A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】使用時間が長くなってもターゲット表面が黒色
化したり、突起が発生したりする林立黒化現象が発生し
ない長寿命化ターゲットの提供。 【構成】ターゲット材1とバッキングプレート5との間
に熱伝達係数を規定した導電性断熱層3を介在させたこ
とを特徴とするターゲット。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はスパッタリングターゲッ
ト(以下単にターゲットという)およびスパッタリング
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ターゲットはターゲット材とバッキング
プレートとから構成され、従来、透明導電膜、薄膜磁気
ディスク、ガラスおよびフィルムの表面処理などのスパ
ッタリングによる薄膜製造の原料として広く用いられて
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】これらのターゲット、
特にITO(In23 −SnO2 )においては、近年
使用上の問題として、その使用時間が長くなるに従っ
て、1)ターゲット材表面が黒色化する、2)突起が発
生したりする林立黒化現象が発生する、3)上記現象に
伴い膜形成速度が低下する、4)アーキングやパーティ
クルが発生する、という問題が知られている。
【0004】これらの現象により、従来のターゲットを
用いると、長時間の成膜にわたって安定した高品質のI
TO膜が得られないという問題が生じている。このた
め、ITO膜などのスパッタリング膜の成膜に際し、生
産性向上のために一定時間経過後にターゲット材表面の
黒色突起部を除去する必要がある。これと同様な問題
は、亜鉛酸化物や錫酸化物、特にシリサイド系のターゲ
ット材においても問題となりつつある。
【0005】量産機として使用するスパッタリング装置
においては、上記の黒色突起物の除去作業の頻度が生産
性に大きく影響している。従って、上記除去作業が少な
いか、あるいは全く必要としないで、連続的に安定して
高品質のITO膜が得られるような長寿命のターゲット
が望まれている。
【0006】これらのターゲットの長寿命化対策として
ターゲットの高密度化が挙げられるが、高密度ターゲッ
トにおいても林立黒化現象が生じることが知られてい
る。
【0007】そこで、特開平5−345973号公報に
おいては、ITOターゲット材を用いるスパッタリング
法による透明導電膜の製造法において、該ターゲット材
表面を290〜600℃に加熱する透明導電膜の製造法
が提案されている。この製造法ではターゲット材表面の
加熱手段としてヒータ、ホットプレート、高周波誘導加
熱器、ランプ加熱、レーザービーム加熱などが例示され
ているが、これらの方法は現在一般的に使用されている
スパッタリング装置においては、汎用性やコスト面から
みても現実的でない。
【0008】また、薄膜を形成するスパッタリングにお
いて、ターゲットを加熱する技術が特開平2−1633
68号公報に記載されている。この技術では、テルルの
ような酸化しやすい金属において、プラズマにおけるテ
ルルと酸素との反応による酸化物反応速度の変化を是正
すべく、この反応に加えてターゲットを加熱することに
よって、テルルと酸素との熱による酸化反応を併用した
もので、極めて特殊な手段によるものであった。
【0009】本発明の目的は、使用時間が長くなっても
ターゲット材表面が黒色化したり、突起が発生したりす
る林立黒化現象が発生せず、長時間の成膜にわたって安
定した高品質のスパッタリング膜の形成が可能で、低コ
ストで実用上用い得るターゲットと該ターゲットを用い
たスパッタリング方法を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、ターゲット材
とバッキングプレートとの間に、熱伝達係数が5.0〜
1250W/m2 ・Kである導電性断熱層を介在させた
ことを特徴とするスパッタリングターゲットと該ターゲ
ットを使用し、電力密度が0.2W/cm2 〜4.5W
/cm2 の条件で行うことを特徴とするスパッタリング
方法を提供する。
【0011】
【作用】本発明におけるターゲットにおいては、ターゲ
ット材とバッキングプレートとの間の熱伝達係数を5.
0〜1250W/m2 ・Kの範囲とし、この範囲の中か
らスパッタリング時の電力密度などの条件に応じて適切
な熱伝達係数を選択する。
【0012】このようにすることによって、従来方法に
おけるターゲットと比べて、同一使用条件においてター
ゲットの温度をより上昇させることができるため、ター
ゲット使用時にアルゴンイオンによってたたき出された
ターゲット材物質のターゲット材へ再付着が抑制可能と
なり、再付着物などが原因と考えられるターゲット材の
表面黒化および突起物の生成を抑制することができる。
【0013】また、上記現象に伴って生じる膜形成速度
の低下およびアーキングやパーティクルの発生を抑制あ
るいは消滅させることが可能である。
【0014】従って上記現象の解消により、長時間にわ
たって安定した高品質のスパッタリング膜を成膜するこ
とが可能となる。
【0015】通常のターゲットは、図8にその断面を示
すようにターゲット材1、接着層7およびバッキングプ
レート5から構成されている。これに対して本発明のタ
ーゲットは、図1(平面図)の断面図である図2に示す
ように、ターゲット材1とバッキングプレート5との間
に導電性断熱層3を形成し、該層を接着層2および4に
より固定した断面構造を有している。
【0016】本発明のターゲットにおいて使用されるタ
ーゲット材としては、たとえば、MoSi2 、WSiな
どの金属珪化物、In23 とSnO2 を主成分とする
ITO、ZnOなどが挙げられるが、これらのうちでは
In23 およびSnO2 を主成分とするITOまたは
金属珪化物からなるターゲット材が好ましく使用され
る。
【0017】上記材料から構成されるターゲット材は、
たとえば、厚み6mm程度で直径が150mm程度の円
板状であるが、ターゲットの使用目的によってその形状
や厚みは任意に変化させることができる。
【0018】また、本発明のターゲットにおいて使用さ
れるバッキングプレート材としては、たとえば、銅(C
u)やステンレスなどが挙げられるが、これらのうちで
はCuやCu合金、特に無酸素銅が好ましく使用され
る。
【0019】また、上記材料から構成されるバッキング
プレートは、通常上記ターゲット材と相似形であり、た
とえば、厚み10mm程度で直径が200mm程度の円
板状であるが、ターゲットの使用目的によってその形状
や厚みは任意に変化させることができる。
【0020】また、以上のごときターゲットとバッキン
グプレートとの接着に使用する接着剤としては、たとえ
ば、黒鉛含有ペーストや、銀含有ペースト、インジウム
などが好ましく使用される。
【0021】本発明においては、図2に示すように、上
記のごとき各材料を使用して、ターゲット1とバッキン
グプレート5との間に特定の熱伝達係数を有する導電性
断熱層3を形成し、該層を接着層2および4により固定
しターゲットを形成する。
【0022】ターゲット材の接着固定方法としては、図
2における接着層4の部分はIn系の低融点金属で接着
固定する方法が好ましい。この方法によれば、使用済み
ターゲット材の剥離が容易であるという利点がある。接
着層2の部分に関しては、この部分が150℃〜600
℃前後の温度となるため、In系の合金は好ましくな
く、その他の導電性の粉末などを含有した接着剤が好ま
しい。
【0023】本発明において解決しようとしている、従
来技術のターゲット材の林立黒化現象などのごとき成膜
時の種々の問題は、特に直流電流(DC)によるスパッ
タリング法において顕著である。DCによるスパッタリ
ング法ではターゲット材とバッキングプレートとの間が
導電性であることを要する。このため本発明のターゲッ
トにおける断熱層3は導電性を有する必要がある。
【0024】また、この導電性断熱層を形成する物質
は、気体、液体または固体のごとく物質の各状態におい
て使用可能ではあるが、真空中での使用および上記断熱
層の温度上昇があることから、固体物質を骨材としたも
のが適している。これらの固体物質としては樹脂、金属
または無機物などが挙げられる。本発明の目的を達成す
るためには、断熱層が部分的に150℃〜600℃の高
温となるため、シリコン樹脂、ポリイミド樹脂、弗素樹
脂などの耐熱性樹脂、金属または無機物からなる断熱層
が好ましい。
【0025】一般的に、熱伝導率の低いもの、たとえ
ば、酸化物セラミックスは一般的に絶縁材料である。こ
れらの材料を断熱層として使用する場合には、これらの
材料中に導電性のある物質を混入させたり、あるいはタ
ーゲット端部などを利用して導通をとる必要がある。
【0026】また、ターゲットを特に低電力密度で使用
する場合、本発明の目的を達成するためには、ターゲッ
ト材は低熱伝導率であることが必要となり、従って、断
熱層の骨材は多孔質もしくは断熱層自体を多層構造にす
ることが好ましい。
【0027】また、上記断熱層あるいはターゲット材と
バッキングプレートとの間の間隔が大きくなるほど、タ
ーゲット材からバッキングプレートへの熱伝達が悪くな
るため、使用できる断熱材料が多岐にわたり選択可能と
なるが、スパッタリング装置の構造上、ターゲット材と
断熱層との間あるいは断熱層とバッキングプレートとの
間の間隔は、現実的には0mm以上20mm以下の範囲
である。これ以上の間隔を持たせるとすると装置の改造
などが必要となり現実的でない。
【0028】導電性断熱層3の熱伝導率は、2.5×1
-3〜50W/m・Kであることが好ましく、熱伝導率
が2.5×10-3W/m・K上記範囲未満であると、ス
パッタリング時のターゲット温度が、通常のスパッタリ
ング条件では上昇しすぎて、それによるターゲット材の
割れや幅射熱による基板への影響が避けられないなどの
理由で好ましくない。一方、熱伝導率が50W/m・K
を超えるとスパッタリング時に、スパッタリングが効率
的に行われる温度範囲までターゲットの温度が上昇しな
いので好ましくない。
【0029】また、上記断熱層と、その両面に配置され
る接着層とのトータルとして、ターゲット材とバッキン
グプレートとの間の熱伝達係数を5.0〜1250W/
2・Kとするのが好ましい。上記熱伝達係数が5.0
W/m2 ・K未満であると、スパッタリング時のターゲ
ット温度が通常のスパッタリング条件では上昇しすぎ
て、ターゲット材の割れや幅射熱による基板への影響が
避けられないなどの理由で好ましくない。一方、熱伝達
係数が1250W/m2 ・Kを超えると、スパッタリン
グ時にスパッタリングが有効に行われる温度範囲までタ
ーゲットの温度が上昇しないので好ましくない。
【0030】スパッタリングにおいては、ターゲットの
温度、特にエロージョン領域の温度は、スパッタリング
時に投入される電力密度、ターゲット材、接着層(層数
=n層)、バッキングプレートの各々の熱伝導率、ター
ゲット材と接着層との間、接着層とバッキングプレート
との間、バッキングプレートと冷却水との間の各々の熱
伝達係数および冷却水の温度によって大きく支配される
ので、これらの要因に基づいて上記ターゲット材とバッ
キングプレートとの間の熱伝達係数(または断熱層の熱
伝導率)を上記範囲内において種々変更することが好ま
しい。上記各要因の関係は(1)式によって簡易的に表
される。
【0031】
【化1】
【0032】ここで、Qは電力密度(W/m2 =104
W/cm2 )、hwは冷却水とバッキングプレートとの
間の熱伝達係数(W/m2 ・K)、h0はターゲット材
とバッキングプレートとの間の熱伝達係数(W/m2
K)、xiはターゲット材、接着層、バッキングプレー
トなど、ターゲットを構成する各構成材の厚さ(m=1
3 mm)、λi は各構成材の熱伝導率(W/m・
K)、Tsはターゲット材の表面温度(K)、Twは冷
却水のバッキングプレート界面の温度(K)である。
(1)式を移衡すると、(2)式となり、ターゲット材
の温度がターゲットの構成材の熱伝達係数および/また
は熱伝導率、電力密度、冷却水の温度により制御できる
ことが明らかである。
【0033】
【化2】
【0034】ここで、電力密度はターゲット材の材質お
よびスパッタリングにより、目的物すなわち基板上に形
成される膜の使用目的および用途により決定される。ま
た、冷却水の温度は、それに起因するターゲット材の割
れや脱落などの制約により、通常20℃前後の循環水を
使用しているため、ターゲット材および電力密度がわか
れば、容易に接着層の熱伝達係数などを制御した接着層
が特定できる。
【0035】冷却水の温度を著しく高くすると、本発明
の条件を逸脱する。しかし、それに起因するターゲット
材の割れや、脱落、基板の輻射熱による影響が大きくな
るなどの理由から冷却水温度の上限は制約される。ま
た、冷却液温を著しく低くする、たとえば、液体窒素の
ようなものを用いれば、本発明の条件を逸脱するが、こ
れは現実的ではない。
【0036】従って、たとえば、スパッタリング時の電
力密度が0.2W/cm2 以上0.6W/cm2 未満に
おいては、本発明のターゲットのターゲット材とバッキ
ングプレートとの間の熱伝達係数は5.0W/m2 ・K
以上37.5W/m2 ・K以下が好ましい。
【0037】電力密度が0.6W/cm2 以上1.4W
/cm2 未満においては、本発明のターゲットのターゲ
ット材とバッキングプレートとの間の熱伝達係数が1
2.5W/m2 ・K以上75.0W/m2 ・K以下が好
ましい。
【0038】電力密度が1.4W/cm2 以上2.0W
/cm2 未満においては、本発明のターゲットのターゲ
ット材とバッキングプレートとの間の熱伝達係数が25
W/m2 ・K以上125W/m2 ・K以下が好ましい。
【0039】電力密度が2.0W/cm2 以上4.5W
/cm2 未満においては、本発明のターゲットのターゲ
ット材とバッキングプレートとの間の熱伝達係数が3
7.5W/m2 ・K以上1250W/m2 ・K以下が好
ましい。
【0040】なお、スパッタリングの他の条件は従来技
術と同様であり特に限定されることはない。
【0041】
【実施例】
[実施例1]In23 にSnO2 を10重量%添加し
た密度95%のITOターゲット材1を用い、図2のよ
うに、熱伝導率が25W/m・Kで厚さ1mmの金属T
iを断熱層3として介在させ、上記断熱層3とITOタ
ーゲット材1との間は、シリカとアルミニウムを基材と
する接着剤2で接着し、かつ断熱層3とCu製バッキン
グプレート5との間は0.2mmの厚みのInを用いて
接着して本発明のターゲットとした。このターゲット材
1とバッキングプレート5との間の熱伝達係数は70W
/m2 ・Kであった。
【0042】上記ターゲットを用いて、電力密度1.0
W/cm2 およびスパッタ圧力5mmtorrでスパッ
タリングを行った。40時間連続使用後のターゲット材
1表面を評価し、そのエロージョン部分の模式図を図3
に示す。図3から明らかなように、エロージョン付近の
突起は、比較例1の結果を示す図7と比較して低減して
いた。
【0043】[実施例2]実施例1と同様のITOター
ゲット材1を用い、熱伝導率が5.0W/m・Kで厚さ
3mmの黒鉛ペーストを塗布したSiO2 とAl23
系のセラミックスを断熱層3として介在させた以外は、
実施例1と同様にして本発明のターゲットとした。この
ターゲット材1とバッキングプレート5との間の熱伝達
係数は25W/m2 ・Kであった。それ以外の条件は実
施例1と同様とした。実施例1と同様に40時間連続使
用後のターゲット材1表面を評価し、そのエロージョン
部分の模式図を図4に示す。図4から明らかなように、
エロージョン付近の突起の発生は確認できなかった。
【0044】[実施例3]実施例1と同様のITOター
ゲット材1を、図2のように、比抵抗0.1Ω/cmの
導電性を付与した厚さ1mmのPTFE(ポリテトラフ
ルオロエチレン)を断熱層3として介在させ、上記断熱
層3とITOターゲット材1との間は、炭素を基材とす
る接着剤を接着層2として0.2mm、上記断熱層3と
バッキングプレート5との間は接着層4としてIn
0.2mm使用してそれぞれ接着して本発明のターゲッ
トとした。このターゲット材1とバッキングプレート5
との間の熱伝達係数は1000W/m2 ・Kであった。
【0045】また、電力密度を4.0W/cm2 とした
以外は、実施例1と同様にしてスパッタリングを行っ
た。40時間連続使用後のターゲット材1表面を評価
し、そのエロージョン部分の模式図を図5に示す。図5
から明らかなように、エロージョン付近の突起は、図7
と比較して低減していた。
【0046】[実施例4]WSi2 ターゲット材を用
い、熱伝導率が5.0W/m・Kで厚さ3mmの黒鉛ペ
ーストを塗布したSiO2 とAl23 系のセラミック
スを断熱層3として介在させた以外は実施例1と同様に
して本発明のターゲットとした。このターゲット材1と
バッキングプレート5との間の熱伝達係数は25W/m
2 ・Kであった。それ以外の条件は実施例1と同様にし
てスパッタリングを行った。40時間連続使用後のター
ゲット表面を評価し、そのエロージョン部分の模式図を
図6に示す。図6から明らかなように、エロージョン付
近の突起の発生は確認できなかった。
【0047】[比較例1]実施例1と同様のITOター
ゲット材を、図8のように断熱層3を介在させず、バッ
キングプレート5に接着させた。このターゲットを用い
てスパッタリングを行い基板上にITO膜を成膜した。
このターゲット材1とバッキングプレート5との間の熱
伝達係数は12500W/m2 ・Kであった。また、ス
パッタリング時の電力密度は2.5W/cm2 で、スパ
ッタ圧力は5mmtorrである。40時間連続使用後
のターゲット材1表面を評価し、そのエロージョン部分
の模式を図7に示す。図7から明らかなように、エロー
ジョン付近に多数の突起が発生し、林立黒化が発生して
いた。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、従来のITOターゲッ
トなどのスパッタリング時に発生する黒色突起物の発生
に起因する膜形成速度の低下を防止することができ、ま
た、アーキングやパーティクを防止および抑制すること
ができる。従って本発明によれば、ターゲットをクリー
ニングすることなしに、良好な一定の特性を有する薄膜
を連続的に製造できる。
【0049】以上により、スパッタリング製膜にかかる
ランニングコストを大幅に低減でき、しかも、その効果
がターゲット側の改良により可能となるため、装置の改
良、改造などのコストも必要なく、スパッタリング薄膜
を安価に供給することができる。
【0050】また、ターゲット材と断熱層との接合を室
温で行うことも可能であるため、接合に要する費用も初
回以降は大幅に低減することができる、すなわち、ター
ゲットコストの上昇を抑制できるばかりか、ターゲット
のコストダウンが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1のターゲットの平面図
【図2】実施例1のターゲットの断面図
【図3】実施例1の40時間使用後のターゲット表面の
模式図
【図4】実施例2の40時間使用後のターゲット表面の
模式図
【図5】実施例3の40時間使用後のターゲット表面の
模式図
【図6】実施例4の40時間使用後のターゲット表面の
模式図
【図7】比較例1の40時間使用後のターゲット表面の
模式図
【図8】従来例のターゲットの断面図
【符号の説明】
1:ターゲット材 2:ターゲット材と断熱層間の接着層 3:断熱層 4:断熱層とバッキングプレート間の接着層 5:バッキングプレート 6:黒色突起物(ノジュール) 7:ターゲット材とバッキングプレート間の接着層

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ターゲット材とバッキングプレートとの間
    に、熱伝達係数が5.0〜1250W/m2 ・Kである
    導電性断熱層を介在させたことを特徴とするスパッタリ
    ングターゲット。
  2. 【請求項2】導電性断熱層の熱伝導率が2.5×10-3
    W/m・K以上50W/m・K以下である請求項1に記
    載のスパッタリングターゲット。
  3. 【請求項3】導電性断熱層が、シリコン樹脂、ポリイミ
    ド樹脂、弗素樹脂、金属および無機物からなる群から選
    ばれる少なくとも1種を骨材として含有している請求項
    1または2に記載のスパッタリングターゲット。
  4. 【請求項4】ターゲット材が、In23 とSnO2
    主成分とするITO(In23 −SnO2 )、ZnO
    および金属珪化物からなる群から選ばれる少なくとも1
    種の材料で構成されている請求項1〜3のいずれか1項
    に記載のスパッタリングターゲット。
  5. 【請求項5】請求項1〜4のいずれか1項に記載のスパ
    ッタリングターゲットを使用し、電力密度が0.2W/
    cm2 〜4.5W/cm2 の条件でスパッタリングを行
    うことを特徴とするスパッタリング方法。
JP15480695A 1995-06-21 1995-06-21 スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法 Pending JPH093638A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15480695A JPH093638A (ja) 1995-06-21 1995-06-21 スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15480695A JPH093638A (ja) 1995-06-21 1995-06-21 スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH093638A true JPH093638A (ja) 1997-01-07

Family

ID=15592300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15480695A Pending JPH093638A (ja) 1995-06-21 1995-06-21 スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH093638A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013253295A (ja) * 2012-06-07 2013-12-19 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 高速成膜用スパッタリング装置
WO2014104292A1 (ja) * 2012-12-31 2014-07-03 株式会社Pat フッ素樹脂シートとその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013253295A (ja) * 2012-06-07 2013-12-19 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 高速成膜用スパッタリング装置
WO2014104292A1 (ja) * 2012-12-31 2014-07-03 株式会社Pat フッ素樹脂シートとその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR19990088384A (ko) 서셉터
CN100515145C (zh) 加热元件及其制造方法,具有所述元件的用具及其制造方法
CN108323137A (zh) 均热板
JPH05194065A (ja) 銅層と酸化アルミニウムセラミックとの間の堅固な結合の形成方法
CN102409299B (zh) 一种氧化物陶瓷溅射靶的制备方法
CN119872085B (zh) 耐高能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制造方法
GB2359234A (en) Resistive heating elements composed of binary metal oxides, the metals having different valencies
CN102409300B (zh) 氧化物陶瓷溅射靶及其制备方法和所用的钎焊合金
JPH093638A (ja) スパッタリングターゲットおよびスパッタリング方法
CN119427951B (zh) 耐高能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制法
CN100418389C (zh) 具有直接加热的玻璃陶瓷片的烹饪系统
WO2017117873A1 (zh) 一种双面高导热能力的厚膜发热元件
CN212305683U (zh) 金属加热体及金属加热装置
JP3829367B2 (ja) スパッタリングターゲット
JPH1050811A (ja) 半導体基板の温度調節機構
CN2838195Y (zh) 电热结构
CN114921766A (zh) 一种金刚石/金属复合散热片及其制备方法
CN111836413A (zh) 金属加热体及金属加热装置
JP2961466B2 (ja) ヒーター
JPH0845651A (ja) 複層セラミックヒーター
JP2002289330A (ja) 加熱体
WO1999008484A1 (en) Elecric heaters
JP3885265B2 (ja) セラミックス回路基板の製造方法
JP4013220B2 (ja) 金属被覆セラミック抵抗体
JPH08250465A (ja) 半導体プラズマ処理装置の電極カバー