JPH0938074A - Ｘ線ｃｔ装置の焦点位置データ取得方法およびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置の焦点位置データ取得方法およびｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH0938074A JPH0938074A JP7190251A JP19025195A JPH0938074A JP H0938074 A JPH0938074 A JP H0938074A JP 7190251 A JP7190251 A JP 7190251A JP 19025195 A JP19025195 A JP 19025195A JP H0938074 A JPH0938074 A JP H0938074A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 23
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 短時間に少エネルギーで感度補正データを作
成する。 【解決手段】 コリメータ４０を第１方向Ｄ１に移動さ
せることにより、Ｘ線ビームＸｂの検出器アレイ５０へ
の入射位置を移動させながらモニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
の出力信号を測定し、Ｘ線ビーム位置データを作成す
る。また、各Ｘ線検出器５１の出力信号を測定し、その
出力信号と前記Ｘ線ビーム位置データから感度補正デー
タを作成する。 【効果】 Ｘ線照射を長時間継続して管温を上昇させ実
際に焦点位置を変動させる必要がなくなり、時間とエネ
ルギーを無駄に費やさずに感度補正データを作成でき
る。
成する。 【解決手段】 コリメータ４０を第１方向Ｄ１に移動さ
せることにより、Ｘ線ビームＸｂの検出器アレイ５０へ
の入射位置を移動させながらモニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
の出力信号を測定し、Ｘ線ビーム位置データを作成す
る。また、各Ｘ線検出器５１の出力信号を測定し、その
出力信号と前記Ｘ線ビーム位置データから感度補正デー
タを作成する。 【効果】 Ｘ線照射を長時間継続して管温を上昇させ実
際に焦点位置を変動させる必要がなくなり、時間とエネ
ルギーを無駄に費やさずに感度補正データを作成でき
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ（Ｃompu
ter Tomography）装置の焦点位置ずれデータ取得方法お
よびＸ線ＣＴ装置に関し、更に詳しくは、Ｘ線管温度に
よる焦点位置の変動を表わす焦点位置データを短時間に
取得することが出来る焦点位置データ取得方法およびＸ
線ビームの入射位置の変動に起因するＸ線検出器の感度
の変動を補正する機能を備えたＸ線ＣＴ装置に関する。
ter Tomography）装置の焦点位置ずれデータ取得方法お
よびＸ線ＣＴ装置に関し、更に詳しくは、Ｘ線管温度に
よる焦点位置の変動を表わす焦点位置データを短時間に
取得することが出来る焦点位置データ取得方法およびＸ
線ビームの入射位置の変動に起因するＸ線検出器の感度
の変動を補正する機能を備えたＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置において撮影を継続してい
ると、Ｘ線管の管温が上昇する。Ｘ線管の管温が上昇す
ると、焦点位置が変動し、Ｘ線検出器へのＸ線ビームの
入射位置が変動する。そして、Ｘ線ビームの入射位置が
変動すると、Ｘ線検出器の感度が変動する。このため、
撮影時には、Ｘ線検出器の感度補正が必要となる。この
ような感度補正を行う従来技術は、例えば特公平２−１
８８５３号公報に開示されている。
ると、Ｘ線管の管温が上昇する。Ｘ線管の管温が上昇す
ると、焦点位置が変動し、Ｘ線検出器へのＸ線ビームの
入射位置が変動する。そして、Ｘ線ビームの入射位置が
変動すると、Ｘ線検出器の感度が変動する。このため、
撮影時には、Ｘ線検出器の感度補正が必要となる。この
ような感度補正を行う従来技術は、例えば特公平２−１
８８５３号公報に開示されている。
【０００３】図８は、前記特公平２−１８８５３号公報
に開示のＸ線ＣＴ装置の要部斜視図である。このＸ線Ｃ
Ｔ装置５００において、Ｘ線管３０は、ハウジング３１
に、集束電極およびフィラメントを内蔵する陰極スリー
ブ３２と、回転するターゲット３３とを内設した構造で
あり、焦点ｆからＸ線Ｘａを放射する。コリメータ４０
は、第１方向Ｄ１（通常、被検体の体軸方向に一致す
る）の幅が比較的小さく且つ第１方向Ｄ１と直交する第
２方向Ｄ２の長さが比較的大きいスリット４１によりＸ
線Ｘａを偏平なＸ線ビームＸｂにする。検出器アレイ５
０は、第１方向Ｄ１の検出面幅Ｗ１がＸ線ビームＸｂの
厚さｄよりも大きい複数のＸ線検出器５１，５１，…を
第２方向Ｄ２に配列したものである。検出器アレイ５０
の一端のＸ線検出器５１ｍは、モニタ用Ｘ線検出器にな
っている。このモニタ用Ｘ線検出器５１ｍには、被検体
を撮影する時でも、被検体を透過せずにＸ線ビームＸｂ
が入射しうる。Ｘ線遮蔽板５０１は、モニタ用Ｘ線検出
器５１ｍに入射するＸ線ビームＸｂの厚さｄを制限する
ようになっている。
に開示のＸ線ＣＴ装置の要部斜視図である。このＸ線Ｃ
Ｔ装置５００において、Ｘ線管３０は、ハウジング３１
に、集束電極およびフィラメントを内蔵する陰極スリー
ブ３２と、回転するターゲット３３とを内設した構造で
あり、焦点ｆからＸ線Ｘａを放射する。コリメータ４０
は、第１方向Ｄ１（通常、被検体の体軸方向に一致す
る）の幅が比較的小さく且つ第１方向Ｄ１と直交する第
２方向Ｄ２の長さが比較的大きいスリット４１によりＸ
線Ｘａを偏平なＸ線ビームＸｂにする。検出器アレイ５
０は、第１方向Ｄ１の検出面幅Ｗ１がＸ線ビームＸｂの
厚さｄよりも大きい複数のＸ線検出器５１，５１，…を
第２方向Ｄ２に配列したものである。検出器アレイ５０
の一端のＸ線検出器５１ｍは、モニタ用Ｘ線検出器にな
っている。このモニタ用Ｘ線検出器５１ｍには、被検体
を撮影する時でも、被検体を透過せずにＸ線ビームＸｂ
が入射しうる。Ｘ線遮蔽板５０１は、モニタ用Ｘ線検出
器５１ｍに入射するＸ線ビームＸｂの厚さｄを制限する
ようになっている。
【０００４】図９は、管温が室温の時のＸ線ビームＸｂ
の厚さｄ１を表している。Ｒ１は、この時にモニタ用Ｘ
線検出器５１ｍに入射するＸ線入射面積である。図１０
は、管温が上昇した時のＸ線ビームＸｂの厚さｄｊを表
している。Ｒｊは、この時にモニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
に入射するＸ線入射面積である。すなわち、管温の上昇
により焦点ｆの位置が変動し、それによりモニタ用Ｘ線
検出器５１ｍへのＸ線入射面積Ｒｊが変化し、モニタ用
Ｘ線検出器５１ｍの出力信号が変化する。なお、Ｘ線ビ
ームＸｂの入射位置の変化によるモニタ用Ｘ線検出器５
１ｍの感度変化を無視できる程度に前記Ｘ線入射面積Ｒ
ｊの変化を大きくしてある。
の厚さｄ１を表している。Ｒ１は、この時にモニタ用Ｘ
線検出器５１ｍに入射するＸ線入射面積である。図１０
は、管温が上昇した時のＸ線ビームＸｂの厚さｄｊを表
している。Ｒｊは、この時にモニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
に入射するＸ線入射面積である。すなわち、管温の上昇
により焦点ｆの位置が変動し、それによりモニタ用Ｘ線
検出器５１ｍへのＸ線入射面積Ｒｊが変化し、モニタ用
Ｘ線検出器５１ｍの出力信号が変化する。なお、Ｘ線ビ
ームＸｂの入射位置の変化によるモニタ用Ｘ線検出器５
１ｍの感度変化を無視できる程度に前記Ｘ線入射面積Ｒ
ｊの変化を大きくしてある。
【０００５】このＸ線ＣＴ装置５００では、次のように
校正処理を行う。まず、図９に示すように管温が室温の
時のモニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号を測定する。
同時に、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信
号を測定する。次に、Ｘ線の照射を一定時間継続し、図
１０に示すように管温を上昇させてからモニタ用Ｘ線検
出器５１ｍの出力信号を測定する。同時に、検出器アレ
イ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信号を測定する。これ
を繰り返して得られたモニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力
信号に基づいて、焦点位置データを取得する。また、検
出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信号および前
記焦点位置データに基づいて感度補正データを作成し、
記憶する。
校正処理を行う。まず、図９に示すように管温が室温の
時のモニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号を測定する。
同時に、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信
号を測定する。次に、Ｘ線の照射を一定時間継続し、図
１０に示すように管温を上昇させてからモニタ用Ｘ線検
出器５１ｍの出力信号を測定する。同時に、検出器アレ
イ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信号を測定する。これ
を繰り返して得られたモニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力
信号に基づいて、焦点位置データを取得する。また、検
出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１の出力信号および前
記焦点位置データに基づいて感度補正データを作成し、
記憶する。
【０００６】被検体を撮影する時は、モニタ用Ｘ線検出
器５１ｍで得られた出力信号および前記焦点位置データ
および前記感度補正データに基づいて検出器アレイ５０
の各Ｘ線検出器５１で得られた出力信号を感度補正す
る。
器５１ｍで得られた出力信号および前記焦点位置データ
および前記感度補正データに基づいて検出器アレイ５０
の各Ｘ線検出器５１で得られた出力信号を感度補正す
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のＸ線ＣＴ装
置５００では、焦点位置データを取得する際または感度
補正データを作成する際、Ｘ線照射を長時間継続して管
温を上昇せしめ、焦点位置を変動させている。しかし、
Ｘ線照射を長時間継続することは、時間とエネルギーを
無駄に費やす問題点がある。そこで、本発明の第１の目
的は、時間とエネルギーを無駄に費やすことなく、焦点
位置データを取得することが出来る焦点位置データ取得
方法を提供することにある。また、本発明の第２の目的
は、時間とエネルギーを無駄に費やすことなく、感度補
正データを作成することが出来るＸ線ＣＴ装置を提供す
ることにある。
置５００では、焦点位置データを取得する際または感度
補正データを作成する際、Ｘ線照射を長時間継続して管
温を上昇せしめ、焦点位置を変動させている。しかし、
Ｘ線照射を長時間継続することは、時間とエネルギーを
無駄に費やす問題点がある。そこで、本発明の第１の目
的は、時間とエネルギーを無駄に費やすことなく、焦点
位置データを取得することが出来る焦点位置データ取得
方法を提供することにある。また、本発明の第２の目的
は、時間とエネルギーを無駄に費やすことなく、感度補
正データを作成することが出来るＸ線ＣＴ装置を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、Ｘ線を放射する焦点位置が管温により変動するＸ線
管と、前記焦点位置の変動方向（第１方向）の幅が比較
的小さく且つ前記第１方向と交差する方向（第２方向）
の長さが比較的大きいスリットにより前記Ｘ線管から放
射されたＸ線を偏平なＸ線ビームにするコリメータと、
前記第１方向の検出面幅が前記Ｘ線ビームの厚さよりも
大きいＸ線検出器を前記第２方向に複数配列した検出器
アレイとを有するＸ線ＣＴ装置の焦点位置データ取得方
法であって、前記コリメータを前記第１方向に移動させ
ることで前記管温による焦点位置の変動を模擬して焦点
位置データを取得することを特徴とするＸ線ＣＴ装置の
焦点位置データ取得方法を提供する。上記焦点位置デー
タ取得方法では、コリメータを第１方向に移動させるこ
とにより、Ｘ線ビームのＸ線検出器への入射位置を移動
せしめ、焦点位置の変動を模擬する。従って、Ｘ線照射
を長時間継続して管温を上昇させる必要がなくなり、時
間とエネルギーを無駄に費やすことなく、焦点位置デー
タを取得できるようになる。
は、Ｘ線を放射する焦点位置が管温により変動するＸ線
管と、前記焦点位置の変動方向（第１方向）の幅が比較
的小さく且つ前記第１方向と交差する方向（第２方向）
の長さが比較的大きいスリットにより前記Ｘ線管から放
射されたＸ線を偏平なＸ線ビームにするコリメータと、
前記第１方向の検出面幅が前記Ｘ線ビームの厚さよりも
大きいＸ線検出器を前記第２方向に複数配列した検出器
アレイとを有するＸ線ＣＴ装置の焦点位置データ取得方
法であって、前記コリメータを前記第１方向に移動させ
ることで前記管温による焦点位置の変動を模擬して焦点
位置データを取得することを特徴とするＸ線ＣＴ装置の
焦点位置データ取得方法を提供する。上記焦点位置デー
タ取得方法では、コリメータを第１方向に移動させるこ
とにより、Ｘ線ビームのＸ線検出器への入射位置を移動
せしめ、焦点位置の変動を模擬する。従って、Ｘ線照射
を長時間継続して管温を上昇させる必要がなくなり、時
間とエネルギーを無駄に費やすことなく、焦点位置デー
タを取得できるようになる。
【０００９】第２の観点では、この発明は、第１方向の
幅が比較的小さく且つ前記第１方向と交差する第２方向
の長さが比較的大きいスリットによりＸ線を偏平なＸ線
ビームにするコリメータと、前記第１方向の検出面幅が
前記Ｘ線ビームの厚さよりも大きいＸ線検出器を前記第
２方向に複数配列した検出器アレイとを有するＸ線ＣＴ
装置において、前記コリメータを前記第１方向に移動さ
せるコリメータ移動手段と、被検体を撮影する時でも被
検体を透過せずにＸ線ビームが入射し且つ前記第１方向
の単位長当たりのＸ線入射量が前記第１方向に沿って単
調に変化するモニタ用Ｘ線検出器と、前記コリメータ移
動手段により前記コリメータを移動させることにより前
記Ｘ線ビームの入射位置を前記第１方向に移動させなが
ら前記モニタ用Ｘ線検出器の出力信号を測定しその出力
信号に基づいてＸ線ビーム位置データを作成するＸ線ビ
ーム位置データ作成手段と、前記コリメータ移動手段に
より前記コリメータを移動させることにより前記Ｘ線ビ
ームの入射位置を前記第１方向に移動させながら被検体
を入れない状態での前記検出器アレイの各Ｘ線検出器の
出力信号を測定しその出力信号および前記Ｘ線ビーム位
置データに基づいて感度補正データを作成する感度補正
データ作成手段と、被検体を撮影する時に前記モニタ用
Ｘ線検出器で得られた出力信号および前記Ｘ線ビーム位
置データおよび前記感度補正データに基づいて前記検出
器アレイの各Ｘ線検出器で得られた出力信号を感度補正
する感度補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線Ｃ
Ｔ装置を提供する。上記Ｘ線ＣＴ装置では、コリメータ
を第１方向に移動させることにより、Ｘ線ビームのＸ線
検出器への入射位置を移動させながらモニタ用Ｘ線検出
器の出力信号を測定し、Ｘ線ビーム位置データを作成す
る。また、コリメータを第１方向に移動させることによ
り、Ｘ線ビームのＸ線検出器への入射位置を移動させな
がら各Ｘ線検出器の出力信号を測定し、その出力信号と
前記Ｘ線ビーム位置データから感度補正データを作成す
る。従って、Ｘ線照射を長時間継続して管温を上昇させ
る必要がなくなり、時間とエネルギーを無駄に費やすこ
となく、感度補正データを作成できるようになる。
幅が比較的小さく且つ前記第１方向と交差する第２方向
の長さが比較的大きいスリットによりＸ線を偏平なＸ線
ビームにするコリメータと、前記第１方向の検出面幅が
前記Ｘ線ビームの厚さよりも大きいＸ線検出器を前記第
２方向に複数配列した検出器アレイとを有するＸ線ＣＴ
装置において、前記コリメータを前記第１方向に移動さ
せるコリメータ移動手段と、被検体を撮影する時でも被
検体を透過せずにＸ線ビームが入射し且つ前記第１方向
の単位長当たりのＸ線入射量が前記第１方向に沿って単
調に変化するモニタ用Ｘ線検出器と、前記コリメータ移
動手段により前記コリメータを移動させることにより前
記Ｘ線ビームの入射位置を前記第１方向に移動させなが
ら前記モニタ用Ｘ線検出器の出力信号を測定しその出力
信号に基づいてＸ線ビーム位置データを作成するＸ線ビ
ーム位置データ作成手段と、前記コリメータ移動手段に
より前記コリメータを移動させることにより前記Ｘ線ビ
ームの入射位置を前記第１方向に移動させながら被検体
を入れない状態での前記検出器アレイの各Ｘ線検出器の
出力信号を測定しその出力信号および前記Ｘ線ビーム位
置データに基づいて感度補正データを作成する感度補正
データ作成手段と、被検体を撮影する時に前記モニタ用
Ｘ線検出器で得られた出力信号および前記Ｘ線ビーム位
置データおよび前記感度補正データに基づいて前記検出
器アレイの各Ｘ線検出器で得られた出力信号を感度補正
する感度補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線Ｃ
Ｔ装置を提供する。上記Ｘ線ＣＴ装置では、コリメータ
を第１方向に移動させることにより、Ｘ線ビームのＸ線
検出器への入射位置を移動させながらモニタ用Ｘ線検出
器の出力信号を測定し、Ｘ線ビーム位置データを作成す
る。また、コリメータを第１方向に移動させることによ
り、Ｘ線ビームのＸ線検出器への入射位置を移動させな
がら各Ｘ線検出器の出力信号を測定し、その出力信号と
前記Ｘ線ビーム位置データから感度補正データを作成す
る。従って、Ｘ線照射を長時間継続して管温を上昇させ
る必要がなくなり、時間とエネルギーを無駄に費やすこ
となく、感度補正データを作成できるようになる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図に示す本発明の実施の形
態により本発明をさらに詳しく説明する。なお、これに
より本発明が限定されるものではない。
態により本発明をさらに詳しく説明する。なお、これに
より本発明が限定されるものではない。
【００１１】図１は、この発明の一実施形態のＸ線ＣＴ
装置１００の構成ブロック図である。このＸ線ＣＴ装置
１００は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、
走査ガントリ２０とを具備している。前記操作コンソー
ル１は、操作者の指示や情報などを受け付ける入力装置
２と、校正処理（後述）や撮影処理（後述）や画像再構
成処理などを実行する中央処理装置３と、制御信号など
を前記撮影テーブル１０や前記走査ガントリ２０とやり
取りする制御インタフェース４と、走査ガントリ２０で
取得したデータを収集するデータ収集バッファ５と、前
記データから再構成した画像を表示するＣＲＴ６と、プ
ログラムやデータを記憶する記憶装置７とを具備してい
る。前記撮影テーブル１０は、被検体を乗せて体軸方向
に移動させる。前記走査ガントリ２０は、Ｘ線コントロ
ーラ２１と、コリメータコントローラ２２と、Ｘ線管３
０と、コリメータ４０と、検出器アレイ５０と、データ
収集部２３と、被検体の体軸の回りにＸ線管３０などを
回転させる回転コントローラ２４とを具備している。
装置１００の構成ブロック図である。このＸ線ＣＴ装置
１００は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、
走査ガントリ２０とを具備している。前記操作コンソー
ル１は、操作者の指示や情報などを受け付ける入力装置
２と、校正処理（後述）や撮影処理（後述）や画像再構
成処理などを実行する中央処理装置３と、制御信号など
を前記撮影テーブル１０や前記走査ガントリ２０とやり
取りする制御インタフェース４と、走査ガントリ２０で
取得したデータを収集するデータ収集バッファ５と、前
記データから再構成した画像を表示するＣＲＴ６と、プ
ログラムやデータを記憶する記憶装置７とを具備してい
る。前記撮影テーブル１０は、被検体を乗せて体軸方向
に移動させる。前記走査ガントリ２０は、Ｘ線コントロ
ーラ２１と、コリメータコントローラ２２と、Ｘ線管３
０と、コリメータ４０と、検出器アレイ５０と、データ
収集部２３と、被検体の体軸の回りにＸ線管３０などを
回転させる回転コントローラ２４とを具備している。
【００１２】図２は、上記Ｘ線ＣＴ装置１００の要部構
成図である。Ｘ線管３０は、ハウジング３１に、集束電
極およびフィラメントを内蔵する陰極スリーブ３２と、
回転するターゲット３３とを内設した構造であり、焦点
ｆからＸ線Ｘａを放射する。コリメータ４０は、第１方
向Ｄ１の幅が比較的小さく且つ第１方向Ｄ１と直交する
第２方向Ｄ２の長さが比較的大きいスリット４１により
Ｘ線Ｘａを偏平なＸ線ビームＸｂにする。また、コリメ
ータ４０は、サーボ機構４２およびコリメータコントロ
ーラ２２により、第１方向Ｄ１に移動される。尚、コリ
メータコントローラ２２によりスリット４１の第１方向
Ｄ１の幅を変えることも出来る。検出器アレイ５０は、
第１方向Ｄ１の検出面幅Ｗ１がＸ線ビームＸｂの厚さｄ
よりも大きい複数のＸ線検出器５１，５１，…を第２方
向Ｄ２に配列したものである。検出器アレイ５０の一端
のＸ線検出器５１ｍは、モニタ用Ｘ線検出器になってい
る。このモニタ用Ｘ線検出器５１ｍには、被検体を撮影
する時でも、被検体を透過せずにＸ線ビームＸｂが入射
しうる。Ｘ線遮蔽板５２は、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
に入射するＸ線ビームＸｂの入射面積を制限する。これ
により、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍにおける第１方向Ｄ
１の単位長当たりのＸ線入射量は、第１方向Ｄ１に沿っ
て線形に変化する。
成図である。Ｘ線管３０は、ハウジング３１に、集束電
極およびフィラメントを内蔵する陰極スリーブ３２と、
回転するターゲット３３とを内設した構造であり、焦点
ｆからＸ線Ｘａを放射する。コリメータ４０は、第１方
向Ｄ１の幅が比較的小さく且つ第１方向Ｄ１と直交する
第２方向Ｄ２の長さが比較的大きいスリット４１により
Ｘ線Ｘａを偏平なＸ線ビームＸｂにする。また、コリメ
ータ４０は、サーボ機構４２およびコリメータコントロ
ーラ２２により、第１方向Ｄ１に移動される。尚、コリ
メータコントローラ２２によりスリット４１の第１方向
Ｄ１の幅を変えることも出来る。検出器アレイ５０は、
第１方向Ｄ１の検出面幅Ｗ１がＸ線ビームＸｂの厚さｄ
よりも大きい複数のＸ線検出器５１，５１，…を第２方
向Ｄ２に配列したものである。検出器アレイ５０の一端
のＸ線検出器５１ｍは、モニタ用Ｘ線検出器になってい
る。このモニタ用Ｘ線検出器５１ｍには、被検体を撮影
する時でも、被検体を透過せずにＸ線ビームＸｂが入射
しうる。Ｘ線遮蔽板５２は、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
に入射するＸ線ビームＸｂの入射面積を制限する。これ
により、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍにおける第１方向Ｄ
１の単位長当たりのＸ線入射量は、第１方向Ｄ１に沿っ
て線形に変化する。
【００１３】図３は、上記Ｘ線ＣＴ装置１００の校正処
理のフローチャートである。ステップＳ１では、コリメ
ータ４０を測定開始位置Ｐ１へ移動する。ここでは、図
４の（ａ）に示す位置を測定開始位置Ｐ１とする。検出
器アレイ５０へのＸ線ビームＸｂの入射位置から見る
と、コリメータ４０が測定開始位置Ｐ１にある状態は、
図４の（ｂ）に示すように、コリメータ４０が撮影時位
置Ｐｃにあって且つＸ線管の焦点ｆが位置ｆ’に移動し
た状態と等価である。すなわち、コリメータ４０を移動
させることによって、管温による焦点位置の変動を模擬
することが出来る。
理のフローチャートである。ステップＳ１では、コリメ
ータ４０を測定開始位置Ｐ１へ移動する。ここでは、図
４の（ａ）に示す位置を測定開始位置Ｐ１とする。検出
器アレイ５０へのＸ線ビームＸｂの入射位置から見る
と、コリメータ４０が測定開始位置Ｐ１にある状態は、
図４の（ｂ）に示すように、コリメータ４０が撮影時位
置Ｐｃにあって且つＸ線管の焦点ｆが位置ｆ’に移動し
た状態と等価である。すなわち、コリメータ４０を移動
させることによって、管温による焦点位置の変動を模擬
することが出来る。
【００１４】図３に戻って、ステップＳ２では、１回目
のＸ線曝射を行う。ステップＳ３では、前記モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍの出力信号Ｑ１を測定する。ステップＳ
４では、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ
用Ｘ線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉi1を測定す
る。ここで、ｉは各Ｘ線検出器５１のチャネル番号を表
わし、ｉ＝１〜ｎとする。従って、出力信号Ｉi1の測定
は、ｉ＝１〜ｎについて行う。図５に、コリメータ４０
が測定開始位置Ｐ１にある時のモニタ用Ｘ線検出器５１
ｍへのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａ１および出力信号Ｑ
１の対応関係（Ｐ１，Ａ１，Ｑ１）を示す。同じく、チ
ャネル番号ｉのＸ線検出器５１へのＸ線ビームＸｂの入
射面積Ａおよび出力信号Ｉi1の対応関係（Ｐ１，Ａ，Ｉ
i1）を示す。
のＸ線曝射を行う。ステップＳ３では、前記モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍの出力信号Ｑ１を測定する。ステップＳ
４では、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ
用Ｘ線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉi1を測定す
る。ここで、ｉは各Ｘ線検出器５１のチャネル番号を表
わし、ｉ＝１〜ｎとする。従って、出力信号Ｉi1の測定
は、ｉ＝１〜ｎについて行う。図５に、コリメータ４０
が測定開始位置Ｐ１にある時のモニタ用Ｘ線検出器５１
ｍへのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａ１および出力信号Ｑ
１の対応関係（Ｐ１，Ａ１，Ｑ１）を示す。同じく、チ
ャネル番号ｉのＸ線検出器５１へのＸ線ビームＸｂの入
射面積Ａおよび出力信号Ｉi1の対応関係（Ｐ１，Ａ，Ｉ
i1）を示す。
【００１５】図３に戻って、ステップＳ５では、コリメ
ータ位置カウンタｊの値を“２”に設定する。すなわ
ち、ここではｊはコリメータ４０の位置を表わしてい
る。ステップＳ６では、コリメータ４０を位置Ｐｊへ移
動する。これにより、検出器アレイ５０へのＸ線ビーム
Ｘｂの入射位置が移動する。ステップＳ７では、ｊ回目
のＸ線曝射を行う。ステップＳ８では、前記モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍの出力信号Ｑｊを測定する。ステップＳ
９では、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ
用Ｘ線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉijを測定す
る。図５に、コリメータ４０が位置Ｐｊにある時のモニ
タ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａ
ｊおよび出力信号Ｑｊの対応関係（Ｐｊ，Ａｊ，Ｑｊ）
を示す。同じく、チャネル番号ｉのＸ線検出器５１への
Ｘ線ビームＸｂの入射面積Ａおよび出力信号Ｉijの対応
関係（Ｐｊ，Ａ，Ｉij）を示す。
ータ位置カウンタｊの値を“２”に設定する。すなわ
ち、ここではｊはコリメータ４０の位置を表わしてい
る。ステップＳ６では、コリメータ４０を位置Ｐｊへ移
動する。これにより、検出器アレイ５０へのＸ線ビーム
Ｘｂの入射位置が移動する。ステップＳ７では、ｊ回目
のＸ線曝射を行う。ステップＳ８では、前記モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍの出力信号Ｑｊを測定する。ステップＳ
９では、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ
用Ｘ線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉijを測定す
る。図５に、コリメータ４０が位置Ｐｊにある時のモニ
タ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａ
ｊおよび出力信号Ｑｊの対応関係（Ｐｊ，Ａｊ，Ｑｊ）
を示す。同じく、チャネル番号ｉのＸ線検出器５１への
Ｘ線ビームＸｂの入射面積Ａおよび出力信号Ｉijの対応
関係（Ｐｊ，Ａ，Ｉij）を示す。
【００１６】図３に戻って、ステップＳ１０では、Ｚｊ
＝Ｑｊ／Ｑ１により、Ｘ線ビーム位置データＺｊを作成
する。なお、このＸ線ビーム位置データＺｊは、焦点位
置データと等価である（コリメータ４０の位置を考慮す
れば、相互変換が可能である）。ステップＳ１１では、
Ｃｉ（Ｚｊ）＝Ｉij／Ｉi1により、感度補正データＣｉ
（Ｚｊ）を作成する。図６に、感度補正データＣｉ（Ｚ
ｊ）を例示する。この感度補正データＣｉ（Ｚｊ）は、
記憶装置７に記憶する。なお、感度補正データＣｉ（Ｚ
ｊ）をルックアップテーブル形式で記憶してもよいし、
関数形式で記憶してもよい。
＝Ｑｊ／Ｑ１により、Ｘ線ビーム位置データＺｊを作成
する。なお、このＸ線ビーム位置データＺｊは、焦点位
置データと等価である（コリメータ４０の位置を考慮す
れば、相互変換が可能である）。ステップＳ１１では、
Ｃｉ（Ｚｊ）＝Ｉij／Ｉi1により、感度補正データＣｉ
（Ｚｊ）を作成する。図６に、感度補正データＣｉ（Ｚ
ｊ）を例示する。この感度補正データＣｉ（Ｚｊ）は、
記憶装置７に記憶する。なお、感度補正データＣｉ（Ｚ
ｊ）をルックアップテーブル形式で記憶してもよいし、
関数形式で記憶してもよい。
【００１７】ステップＳ１２，Ｓ１３では、予め定めた
全てのコリメータ位置について上記ステップＳ６〜Ｓ１
１を繰り返す。ここで、最後のコリメータ位置をＰＪと
している。図５に、コリメータ４０が位置ＰＪにある時
のモニタ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線ビームＸｂの入射
面積ＡＪおよび出力信号ＱＪの対応関係（ＰＪ，ＡＪ，
ＱＪ）を示す。同じく、チャネル番号ｉのＸ線検出器５
１へのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａおよび出力信号ＩiJ
の対応関係（ＰＪ，Ａ，ＩiJ）を示す。
全てのコリメータ位置について上記ステップＳ６〜Ｓ１
１を繰り返す。ここで、最後のコリメータ位置をＰＪと
している。図５に、コリメータ４０が位置ＰＪにある時
のモニタ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線ビームＸｂの入射
面積ＡＪおよび出力信号ＱＪの対応関係（ＰＪ，ＡＪ，
ＱＪ）を示す。同じく、チャネル番号ｉのＸ線検出器５
１へのＸ線ビームＸｂの入射面積Ａおよび出力信号ＩiJ
の対応関係（ＰＪ，Ａ，ＩiJ）を示す。
【００１８】図５から判るように、コリメータ４０の第
１方向Ｄ１への移動により、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
へのＸ線ビームＸｂの入射位置が変動し、それによりモ
ニタ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線入射面積Ａｊが変化
し、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号Ｑｊが変化す
る。ここで、Ｘ線ビームＸｂの入射位置の変化によるモ
ニタ用Ｘ線検出器５１ｍの感度変化を無視できる程度に
前記Ｘ線入射面積Ａｊの変化を大きくしてある。従っ
て、出力信号Ｑｊの変化により、Ｘ線ビームＸｂの入射
位置を知ることが出来る。すなわち、上記ステップＳ１
０で、Ｘ線ビーム位置データを作成することが出来る。
一方、各Ｘ線検出器５１へのＸ線ビームＸｂの入射位置
が変動しても、Ｘ線入射面積Ａは一定であり、もし感度
が一定なら各Ｘ線検出器５１の出力信号Ｉijの変化は生
じないはずである。従って、各Ｘ線検出器５１の出力信
号Ｉijの変化により、感度変化を知ることが出来る。す
なわち、上記ステップＳ１１で、感度補正データを作成
することが出来る。
１方向Ｄ１への移動により、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍ
へのＸ線ビームＸｂの入射位置が変動し、それによりモ
ニタ用Ｘ線検出器５１ｍへのＸ線入射面積Ａｊが変化
し、モニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号Ｑｊが変化す
る。ここで、Ｘ線ビームＸｂの入射位置の変化によるモ
ニタ用Ｘ線検出器５１ｍの感度変化を無視できる程度に
前記Ｘ線入射面積Ａｊの変化を大きくしてある。従っ
て、出力信号Ｑｊの変化により、Ｘ線ビームＸｂの入射
位置を知ることが出来る。すなわち、上記ステップＳ１
０で、Ｘ線ビーム位置データを作成することが出来る。
一方、各Ｘ線検出器５１へのＸ線ビームＸｂの入射位置
が変動しても、Ｘ線入射面積Ａは一定であり、もし感度
が一定なら各Ｘ線検出器５１の出力信号Ｉijの変化は生
じないはずである。従って、各Ｘ線検出器５１の出力信
号Ｉijの変化により、感度変化を知ることが出来る。す
なわち、上記ステップＳ１１で、感度補正データを作成
することが出来る。
【００１９】図７は、上記Ｘ線ＣＴ装置１００の撮影処
理のフローチャートである。ステップＴ１では、コリメ
ータ４０を測定開始位置Ｐ１へ移動する。ステップＴ２
では、基準用のＸ線曝射を行う。ステップＴ３では、前
記モニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号Ｑ１を測定す
る。ステップＴ４では、コリメータ４０を撮影時位置Ｐ
ｃへ移動する。ステップＴ５では、ビューカウンタｊの
値を“１”に設定する。すなわち、ここではｊはビュー
番号を表わしている。ステップＴ６では、ｊビューのＸ
線曝射を行う。ステップＴ７では、前記モニタ用Ｘ線検
出器５１ｍの出力信号Ｑｊを測定する。ステップＴ８で
は、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉi1を測定する。こ
こで、各Ｘ線検出器５１のチャネル番号ｉ＝１〜ｎとす
る。従って、出力信号Ｉijの測定は、ｉ＝１〜ｎについ
て行う。ステップＴ９では、Ｚｊ＝Ｑｊ／Ｑ１により、
Ｘ線ビーム位置データＺｊを作成する。ステップＴ１０
では、上記ステップＴ９で求めたＸ線ビーム位置データ
Ｚｊを検索キーとして、記憶装置７に記憶していた感度
補正データＣｉ（Ｚｊ）を検索し、各チャネルｉの感度
補正データＣｉ（Ｚｊ）を読み出す。ステップＴ１１で
は、Ｉij＝Ｉij／Ｃｉ（Ｚｊ）により感度補正を行い、
出力信号Ｉijを更新する。
理のフローチャートである。ステップＴ１では、コリメ
ータ４０を測定開始位置Ｐ１へ移動する。ステップＴ２
では、基準用のＸ線曝射を行う。ステップＴ３では、前
記モニタ用Ｘ線検出器５１ｍの出力信号Ｑ１を測定す
る。ステップＴ４では、コリメータ４０を撮影時位置Ｐ
ｃへ移動する。ステップＴ５では、ビューカウンタｊの
値を“１”に設定する。すなわち、ここではｊはビュー
番号を表わしている。ステップＴ６では、ｊビューのＸ
線曝射を行う。ステップＴ７では、前記モニタ用Ｘ線検
出器５１ｍの出力信号Ｑｊを測定する。ステップＴ８で
は、検出器アレイ５０の各Ｘ線検出器５１（モニタ用Ｘ
線検出器５１ｍを除く）の出力信号Ｉi1を測定する。こ
こで、各Ｘ線検出器５１のチャネル番号ｉ＝１〜ｎとす
る。従って、出力信号Ｉijの測定は、ｉ＝１〜ｎについ
て行う。ステップＴ９では、Ｚｊ＝Ｑｊ／Ｑ１により、
Ｘ線ビーム位置データＺｊを作成する。ステップＴ１０
では、上記ステップＴ９で求めたＸ線ビーム位置データ
Ｚｊを検索キーとして、記憶装置７に記憶していた感度
補正データＣｉ（Ｚｊ）を検索し、各チャネルｉの感度
補正データＣｉ（Ｚｊ）を読み出す。ステップＴ１１で
は、Ｉij＝Ｉij／Ｃｉ（Ｚｊ）により感度補正を行い、
出力信号Ｉijを更新する。
【００２０】ステップＴ１２，Ｔ１３では、予め定めた
全てのビューについて上記ステップＴＳ６〜Ｔ１１を繰
り返す。ここで、最後のビュー番号をＶとしている。
全てのビューについて上記ステップＴＳ６〜Ｔ１１を繰
り返す。ここで、最後のビュー番号をＶとしている。
【００２１】以上のＸ線ＣＴ装置１００によれば、Ｘ線
照射を長時間継続して管温を上昇させ焦点位置を変動さ
せる必要がなくなり、短時間に少ないエネルギーで焦点
位置データ（Ｘ線ビーム位置データＺｊ）を取得できる
ようになると共に感度補正データを作成できるようにな
る。また、測定開始位置Ｐ１でのモニタ用Ｘ線検出器５
１ｍの出力信号Ｑ１で正規化したＸ線ビーム位置データ
Ｚｊを用いるため、Ｘ線ビームＸｂの変動に左右されず
にＸ線ビーム位置を検出できるようになる。
照射を長時間継続して管温を上昇させ焦点位置を変動さ
せる必要がなくなり、短時間に少ないエネルギーで焦点
位置データ（Ｘ線ビーム位置データＺｊ）を取得できる
ようになると共に感度補正データを作成できるようにな
る。また、測定開始位置Ｐ１でのモニタ用Ｘ線検出器５
１ｍの出力信号Ｑ１で正規化したＸ線ビーム位置データ
Ｚｊを用いるため、Ｘ線ビームＸｂの変動に左右されず
にＸ線ビーム位置を検出できるようになる。
【００２２】
【発明の効果】本発明のＸ線ＣＴ装置の焦点位置データ
取得方法によれば、時間とエネルギーを無駄に費やすこ
となく、焦点位置データを取得することが出来る。ま
た、本発明のＸ線ＣＴ装置によれば、時間とエネルギー
を無駄に費やすことなく、感度補正データを作成するこ
とが出来る。
取得方法によれば、時間とエネルギーを無駄に費やすこ
となく、焦点位置データを取得することが出来る。ま
た、本発明のＸ線ＣＴ装置によれば、時間とエネルギー
を無駄に費やすことなく、感度補正データを作成するこ
とが出来る。
【図１】本発明の一実施形態のＸ線ＣＴ装置のブロック
図である。
図である。
【図２】図１のＸ線ＣＴ装置の要部構成図である。
【図３】図１のＸ線ＣＴ装置の校正処理を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図４】コリメータの移動により焦点位置の移動を模擬
する原理の説明図である。
する原理の説明図である。
【図５】Ｘ線ビームの入射位置の移動を示す説明図であ
る。
る。
【図６】感度補正データを示す説明図である。
【図７】図１のＸ線ＣＴ装置の撮影処理を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図８】従来のＸ線ＣＴ装置の一例の要部斜視図であ
る。
る。
【図９】Ｘ線ビームの厚さの説明図である。
【図１０】焦点位置の移動とＸ線ビームの厚さの変化の
説明図である。
説明図である。
１００ Ｘ線ＣＴ装置 ２２ コリメータコントローラ ３０ Ｘ線管 ４０ コリメータ ４２ サーボ機構 ５０ 検出器アレイ ５１ Ｘ線検出器 ５１ｍ モニタ等Ｘ線検出器 ５２ Ｘ線遮蔽板 ｆ 焦点 Ｘｂ Ｘ線ビーム
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線を放射する焦点位置が管温により変
動するＸ線管と、前記焦点位置の変動方向（以下、第１
方向という）の幅が比較的小さく且つ前記第１方向と交
差する方向（以下、第２方向という）の長さが比較的大
きいスリットにより前記Ｘ線管から放射されたＸ線を偏
平なＸ線ビームにするコリメータと、前記第１方向の検
出面幅が前記Ｘ線ビームの厚さよりも大きいＸ線検出器
を前記第２方向に複数配列した検出器アレイとを有する
Ｘ線ＣＴ装置の焦点位置データ取得方法であって、 前記コリメータを前記第１方向に移動させることで前記
管温による焦点位置の変動を模擬して焦点位置データを
取得することを特徴とするＸ線ＣＴ装置の焦点位置デー
タ取得方法。 - 【請求項２】 第１方向の幅が比較的小さく且つ前記第
１方向と交差する第２方向の長さが比較的大きいスリッ
トによりＸ線を偏平なＸ線ビームにするコリメータと、
前記第１方向の検出面幅が前記Ｘ線ビームの厚さよりも
大きいＸ線検出器を前記第２方向に複数配列した検出器
アレイとを有するＸ線ＣＴ装置において、 前記コリメータを前記第１方向に移動させるコリメータ
移動手段と、被検体を撮影する時でも被検体を透過せず
にＸ線ビームが入射し且つ前記第１方向の単位長当たり
のＸ線入射量が前記第１方向に沿って単調に変化するモ
ニタ用Ｘ線検出器と、前記コリメータ移動手段により前
記コリメータを移動させることにより前記Ｘ線ビームの
入射位置を前記第１方向に移動させながら前記モニタ用
Ｘ線検出器の出力信号を測定しその出力信号に基づいて
Ｘ線ビーム位置データを作成するＸ線ビーム位置データ
作成手段と、前記コリメータ移動手段により前記コリメ
ータを移動させることにより前記Ｘ線ビームの入射位置
を前記第１方向に移動させながら被検体を入れない状態
での前記検出器アレイの各Ｘ線検出器の出力信号を測定
しその出力信号および前記Ｘ線ビーム位置データに基づ
いて感度補正データを作成する感度補正データ作成手段
と、被検体を撮影する時に前記モニタ用Ｘ線検出器で得
られた出力信号および前記Ｘ線ビーム位置データおよび
前記感度補正データに基づいて前記検出器アレイの各Ｘ
線検出器で得られた出力信号を感度補正する感度補正手
段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7190251A JPH0938074A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Ｘ線ｃｔ装置の焦点位置データ取得方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7190251A JPH0938074A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Ｘ線ｃｔ装置の焦点位置データ取得方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0938074A true JPH0938074A (ja) | 1997-02-10 |
Family
ID=16255032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7190251A Pending JPH0938074A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Ｘ線ｃｔ装置の焦点位置データ取得方法およびｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0938074A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106908457A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-06-30 | 赛诺威盛科技（北京）有限公司 | 基于实时跟踪x射线焦点位置的动态校准方法 |
| CN108937993A (zh) * | 2017-05-27 | 2018-12-07 | 上海西门子医疗器械有限公司 | X射线系统和测量准直屏蔽板的移动精度的方法 |
| EP4147641A4 (en) * | 2020-06-10 | 2024-05-15 | Siemens Shanghai Medical Equipment Ltd. | Method and device for determining target position of single-slot collimating plate, and collimator assembly |
| CN120019790A (zh) * | 2023-11-20 | 2025-05-20 | 西门子医疗股份公司 | 用于运行x射线装置的方法、x射线装置、计算机程序和电子可读的数据载体 |
-
1995
- 1995-07-26 JP JP7190251A patent/JPH0938074A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106908457A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-06-30 | 赛诺威盛科技（北京）有限公司 | 基于实时跟踪x射线焦点位置的动态校准方法 |
| CN108937993A (zh) * | 2017-05-27 | 2018-12-07 | 上海西门子医疗器械有限公司 | X射线系统和测量准直屏蔽板的移动精度的方法 |
| EP4147641A4 (en) * | 2020-06-10 | 2024-05-15 | Siemens Shanghai Medical Equipment Ltd. | Method and device for determining target position of single-slot collimating plate, and collimator assembly |
| US12232896B2 (en) | 2020-06-10 | 2025-02-25 | Siemens Shanghai Medical Equipment Ltd. | Method and apparatus for determining target location of single-slot collimating plate and collimator assembly |
| CN120019790A (zh) * | 2023-11-20 | 2025-05-20 | 西门子医疗股份公司 | 用于运行x射线装置的方法、x射线装置、计算机程序和电子可读的数据载体 |
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