JPH0943640A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH0943640A JPH0943640A JP21538595A JP21538595A JPH0943640A JP H0943640 A JPH0943640 A JP H0943640A JP 21538595 A JP21538595 A JP 21538595A JP 21538595 A JP21538595 A JP 21538595A JP H0943640 A JPH0943640 A JP H0943640A
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- JP
- Japan
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- pixel
- liquid crystal
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 微細化された画素電極間におけるラビング処
理による短絡欠陥を防止する。 【解決手段】 液晶表示装置は配向面20Tを有する対
向基板2と、同じく配向面20Bを有する画素基板1
と、両配向面20T,20Bの間に保持された液晶層3
とを備えたパネル構造を有する。対向基板2は配向面2
0Tに沿って連続的に形成された対向電極5を備えてい
る。画素基板1は少なくとも、複数のスイッチング素子
7と、スイッチング素子7を被覆して凹凸を埋める平坦
化膜18と、配向面20Bに沿って平坦化膜18の上に
分割的に形成され且つスイッチング素子7により個々に
駆動される画素電極6とを備えている。画素電極6は厚
みが10nm〜60nmの範囲で薄膜化された透明導電膜か
らなり、ラビング時に繊維屑が生じるのを防止する。
理による短絡欠陥を防止する。 【解決手段】 液晶表示装置は配向面20Tを有する対
向基板2と、同じく配向面20Bを有する画素基板1
と、両配向面20T,20Bの間に保持された液晶層3
とを備えたパネル構造を有する。対向基板2は配向面2
0Tに沿って連続的に形成された対向電極5を備えてい
る。画素基板1は少なくとも、複数のスイッチング素子
7と、スイッチング素子7を被覆して凹凸を埋める平坦
化膜18と、配向面20Bに沿って平坦化膜18の上に
分割的に形成され且つスイッチング素子7により個々に
駆動される画素電極6とを備えている。画素電極6は厚
みが10nm〜60nmの範囲で薄膜化された透明導電膜か
らなり、ラビング時に繊維屑が生じるのを防止する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアクティブマトリク
ス型の液晶表示装置に関する。より詳しくは画素電極の
構造に関する。
ス型の液晶表示装置に関する。より詳しくは画素電極の
構造に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置はテレビやグラフィックデ
ィスプレイ等に盛んに用いられている。その中でも、特
にアクティブマトリクス型の液晶表示装置は高速応答性
を有し、高画素数化に適しており、ディスプレイ画面の
高画質化、大型化、カラー化等を実現するものとして期
待され、研究開発が進められて既に実用化されたものが
ある。アクティブマトリクス型の液晶表示装置は一般
に、画素基板と対向基板と両者の間に保持された液晶層
とからなるフラットパネル構造を有している。図2に画
素基板の従来構造を示す。画素基板101はガラス等の
透明板材を用いており、その上には薄膜トランジスタ等
のスイッチング素子102が集積形成されている。図で
は簡単の為1個のスイッチング素子のみを示している。
このスイッチング素子102は平坦化膜103により被
覆されており、その上に透明導電膜からなる画素電極1
04がパタニング形成されている。画素電極104の表
面は布材(バフ)105により所定の方向にラビングさ
れており、液晶層に対する配向面を構成する。なお、場
合によっては画素電極104を所定の配向被膜で被覆し
た後ラビングを行なう。この構造ではスイッチング素子
102や配線の凹凸を埋める為に平坦化膜103が用い
られている。画素の微細化に伴なって平坦化膜103は
必須の構成要素となっている。この平坦化膜103の上
に画素電極104がパタニングされる為、配向面は極め
て平坦性に優れている。従って、布材105を用いたラ
ビングが均一に行なえ、液晶層の配向異常を顕著に抑制
できる。
ィスプレイ等に盛んに用いられている。その中でも、特
にアクティブマトリクス型の液晶表示装置は高速応答性
を有し、高画素数化に適しており、ディスプレイ画面の
高画質化、大型化、カラー化等を実現するものとして期
待され、研究開発が進められて既に実用化されたものが
ある。アクティブマトリクス型の液晶表示装置は一般
に、画素基板と対向基板と両者の間に保持された液晶層
とからなるフラットパネル構造を有している。図2に画
素基板の従来構造を示す。画素基板101はガラス等の
透明板材を用いており、その上には薄膜トランジスタ等
のスイッチング素子102が集積形成されている。図で
は簡単の為1個のスイッチング素子のみを示している。
このスイッチング素子102は平坦化膜103により被
覆されており、その上に透明導電膜からなる画素電極1
04がパタニング形成されている。画素電極104の表
面は布材(バフ)105により所定の方向にラビングさ
れており、液晶層に対する配向面を構成する。なお、場
合によっては画素電極104を所定の配向被膜で被覆し
た後ラビングを行なう。この構造ではスイッチング素子
102や配線の凹凸を埋める為に平坦化膜103が用い
られている。画素の微細化に伴なって平坦化膜103は
必須の構成要素となっている。この平坦化膜103の上
に画素電極104がパタニングされる為、配向面は極め
て平坦性に優れている。従って、布材105を用いたラ
ビングが均一に行なえ、液晶層の配向異常を顕著に抑制
できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、配向面
が平坦化された為、逆にパタニングされた画素電極10
4の端部における段差106が目立つ様になってきた。
この段差106に布材105の繊維107が引っ掛か
り、これが削れて微小な有機物のゴミ(バフカス)10
8を発生させていた。このバフカス108は配向面に付
着し、場合によっては隣接する画素電極104の間に介
在する。バフカス108は例えばセルロースを主成分と
し水分等を吸着して電流リークの原因になる。隣接する
画素電極104間に渡ってバフカス108が付着すると
電流リークが生じ画素の点欠陥となって現われ、表示品
位を著しく損なうという課題があった。スイッチング素
子102を構成する薄膜トランジスタのリーク電流レベ
ルが例えば10-13 A程度であるのに対し、バフカス1
08のリーク電流量は10-10 A程度に達する為、点欠
陥の重大な原因になっていた。このバフカス108は超
音波洗浄等では容易に除去できず、対策が望まれてい
た。
が平坦化された為、逆にパタニングされた画素電極10
4の端部における段差106が目立つ様になってきた。
この段差106に布材105の繊維107が引っ掛か
り、これが削れて微小な有機物のゴミ(バフカス)10
8を発生させていた。このバフカス108は配向面に付
着し、場合によっては隣接する画素電極104の間に介
在する。バフカス108は例えばセルロースを主成分と
し水分等を吸着して電流リークの原因になる。隣接する
画素電極104間に渡ってバフカス108が付着すると
電流リークが生じ画素の点欠陥となって現われ、表示品
位を著しく損なうという課題があった。スイッチング素
子102を構成する薄膜トランジスタのリーク電流レベ
ルが例えば10-13 A程度であるのに対し、バフカス1
08のリーク電流量は10-10 A程度に達する為、点欠
陥の重大な原因になっていた。このバフカス108は超
音波洗浄等では容易に除去できず、対策が望まれてい
た。
【0004】
【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題を解決する為以下の手段を講じた。即ち、本発明にか
かる液晶表示装置は基本的な構成として、配向面を有す
る対向基板と、同じく配向面を有する画素基板と、両配
向面の間に保持された液晶層とを備えたパネル構造を有
する。前記対向基板は該配向面に沿って連続的に形成さ
れた対向電極を備えている。前記画素基板は少なくと
も、複数のスイッチング素子と、該スイッチング素子を
被覆して凹凸を埋める平坦化膜と、配向面に沿って該平
坦化膜の上に分割的に形成され且つ該スイッチング素子
により個々に駆動される画素電極とを備えている。特徴
事項として、前記画素電極は厚みが10nm〜60nmの範
囲で薄膜化された透明導電膜からなる。本発明の一実施
態様では、前記画素電極は5μm以下の間隔で互いに分
離している。又他の態様によれば、前記画素基板は該画
素電極を被覆する配向被膜を含んでおり、該配向被膜は
ラビング処理を施されて配向面を形成する。
題を解決する為以下の手段を講じた。即ち、本発明にか
かる液晶表示装置は基本的な構成として、配向面を有す
る対向基板と、同じく配向面を有する画素基板と、両配
向面の間に保持された液晶層とを備えたパネル構造を有
する。前記対向基板は該配向面に沿って連続的に形成さ
れた対向電極を備えている。前記画素基板は少なくと
も、複数のスイッチング素子と、該スイッチング素子を
被覆して凹凸を埋める平坦化膜と、配向面に沿って該平
坦化膜の上に分割的に形成され且つ該スイッチング素子
により個々に駆動される画素電極とを備えている。特徴
事項として、前記画素電極は厚みが10nm〜60nmの範
囲で薄膜化された透明導電膜からなる。本発明の一実施
態様では、前記画素電極は5μm以下の間隔で互いに分
離している。又他の態様によれば、前記画素基板は該画
素電極を被覆する配向被膜を含んでおり、該配向被膜は
ラビング処理を施されて配向面を形成する。
【0005】本発明によれば、平坦化膜の上にパタニン
グ形成された画素電極が、10nm〜60nmの厚み範囲で
薄膜化された透明導電膜からなる。配向面に沿って最上
層に位置する画素電極を薄膜化する事で、配向面に現わ
れる段差を抑制している。これにより、ラビング処理時
のバフカス(有機物のゴミ)の発生を防止し、画素電極
間の短絡欠陥を抑える事が可能になる。
グ形成された画素電極が、10nm〜60nmの厚み範囲で
薄膜化された透明導電膜からなる。配向面に沿って最上
層に位置する画素電極を薄膜化する事で、配向面に現わ
れる段差を抑制している。これにより、ラビング処理時
のバフカス(有機物のゴミ)の発生を防止し、画素電極
間の短絡欠陥を抑える事が可能になる。
【0006】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明にかか
る液晶表示装置の最良な実施形態を詳細に説明する。図
1は本液晶表示装置の基本的な構成を示す模式的な断面
図である。図示する様に、本液晶表示装置は所定の間隙
を介して対面配置された一対の画素基板1及び対向基板
2を用いて組み立てられている。画素基板1は配向面2
0Bを備えており、対向基板2も同じく配向面20Tを
備えている。両基板1,2の間隙には液晶層3が注入さ
れており、上下から配向面20T,20Bにより挟持さ
れ、その配向状態が制御されている。例えば、互いに直
交する方向にラビングされた配向面20T,20Bによ
り挟持されたネマティック液晶層3は周知の様にツイス
ト配向状態を呈する。対向基板2は配向面20Tに沿っ
て連続的に形成された対向電極5を備えている。画素基
板1は少なくとも、複数のスイッチング素子7と、この
スイッチング素子7を被覆して凹凸を埋める平坦化膜1
8と、配向面20Bに沿って平坦化膜18の上に分割的
に形成され且つスイッチング素子7により個々に駆動さ
れる画素電極6とを備えている。このスイッチング素子
7は例えば薄膜トランジスタからなる。本発明の特徴事
項として、画素電極6は厚みが10nm〜60nmの範囲で
薄膜化された透明導電膜からなる。又、この画素電極6
は5μm以下の間隔で互いに分離しており微細化されて
いる。さらに、画素基板1は画素電極6を被覆する配向
被膜を含んでおり、この配向被膜はラビング処理を施さ
れて配向面20Bを形成する。
る液晶表示装置の最良な実施形態を詳細に説明する。図
1は本液晶表示装置の基本的な構成を示す模式的な断面
図である。図示する様に、本液晶表示装置は所定の間隙
を介して対面配置された一対の画素基板1及び対向基板
2を用いて組み立てられている。画素基板1は配向面2
0Bを備えており、対向基板2も同じく配向面20Tを
備えている。両基板1,2の間隙には液晶層3が注入さ
れており、上下から配向面20T,20Bにより挟持さ
れ、その配向状態が制御されている。例えば、互いに直
交する方向にラビングされた配向面20T,20Bによ
り挟持されたネマティック液晶層3は周知の様にツイス
ト配向状態を呈する。対向基板2は配向面20Tに沿っ
て連続的に形成された対向電極5を備えている。画素基
板1は少なくとも、複数のスイッチング素子7と、この
スイッチング素子7を被覆して凹凸を埋める平坦化膜1
8と、配向面20Bに沿って平坦化膜18の上に分割的
に形成され且つスイッチング素子7により個々に駆動さ
れる画素電極6とを備えている。このスイッチング素子
7は例えば薄膜トランジスタからなる。本発明の特徴事
項として、画素電極6は厚みが10nm〜60nmの範囲で
薄膜化された透明導電膜からなる。又、この画素電極6
は5μm以下の間隔で互いに分離しており微細化されて
いる。さらに、画素基板1は画素電極6を被覆する配向
被膜を含んでおり、この配向被膜はラビング処理を施さ
れて配向面20Bを形成する。
【0007】従来、画素電極6を構成する透明導電膜の
膜厚は100〜150nm程度に設定されていた。例えば
130〜140nmの膜厚が多用されている。この様に比
較的厚い透明導電膜を用いた理由は、干渉による可視光
透過率の最適化と段差カバレッジを重視した為である。
即ち、膜厚を100〜150nm程度に設定すると薄膜干
渉による可視光の反射を抑制でき、透過率の最適化が図
れる。さらには、下地に現われる段差を十分にカバーし
て配向面の平坦性を保つ為、100〜150nm程度の比
較的厚い膜厚が採用されていた。しかしながら、この膜
厚では画素電極の端部にラビング用の布材の繊維が引っ
掛かりバフカスが大量に発生する為画素間の短絡欠陥を
生じていた。そこで、本発明では透明導電膜の厚みを6
0nm以下に制御して画素電極を形成した。この程度の膜
厚であれば布材の繊維が透明導電膜の端部に引っ掛かる
事はなかった。透過率については干渉によりやや低下す
るが、液晶パネル構造内では可視光域で約95%以上を
確保でき、実用上問題はない。段差カバレッジについて
も透明導電膜の下地を予め平坦化膜で平坦化している
為、画素電極を薄膜化しても特に問題は生じない。とこ
ろで、画素電極を被覆する配向被膜は一般にポリイミド
フィルム等からなり、その厚みは30nm〜100nm程度
である。好ましくは40nm〜50nm程度に制御されてい
る。これに対し画素電極を構成する透明導電膜の厚みを
60nm以下に抑制すれば端面の段差が実質的には配向被
膜により緩和される為殆どバフカスが発生しない。一
方、透明導電膜の厚みを10nm以下に超薄膜化すると均
一な組成を得る事が困難である。そこで、本発明では透
明導電膜の最適な膜厚範囲として10nm〜60nmを設定
している。例えば、ITO等の透明導電膜を30nm±5
nmの厚み範囲でスパッタリングにより成膜すれば本発明
の膜厚条件を十分に満たす事ができる。この場合には布
材の繊維は画素電極の端部に殆ど引っ掛からずバフカス
が発生しない為、画素間の短絡欠陥は防止できる。な
お、一般にバフカスは微小である為、特に画素電極の間
隔が5μm以下に微細化した場合本発明の効果が高く、
点欠陥を大幅に抑制できる。透明導電膜の材料はITO
に限られるものではなく、酸化錫や有機透明導電材料を
用いても良い。
膜厚は100〜150nm程度に設定されていた。例えば
130〜140nmの膜厚が多用されている。この様に比
較的厚い透明導電膜を用いた理由は、干渉による可視光
透過率の最適化と段差カバレッジを重視した為である。
即ち、膜厚を100〜150nm程度に設定すると薄膜干
渉による可視光の反射を抑制でき、透過率の最適化が図
れる。さらには、下地に現われる段差を十分にカバーし
て配向面の平坦性を保つ為、100〜150nm程度の比
較的厚い膜厚が採用されていた。しかしながら、この膜
厚では画素電極の端部にラビング用の布材の繊維が引っ
掛かりバフカスが大量に発生する為画素間の短絡欠陥を
生じていた。そこで、本発明では透明導電膜の厚みを6
0nm以下に制御して画素電極を形成した。この程度の膜
厚であれば布材の繊維が透明導電膜の端部に引っ掛かる
事はなかった。透過率については干渉によりやや低下す
るが、液晶パネル構造内では可視光域で約95%以上を
確保でき、実用上問題はない。段差カバレッジについて
も透明導電膜の下地を予め平坦化膜で平坦化している
為、画素電極を薄膜化しても特に問題は生じない。とこ
ろで、画素電極を被覆する配向被膜は一般にポリイミド
フィルム等からなり、その厚みは30nm〜100nm程度
である。好ましくは40nm〜50nm程度に制御されてい
る。これに対し画素電極を構成する透明導電膜の厚みを
60nm以下に抑制すれば端面の段差が実質的には配向被
膜により緩和される為殆どバフカスが発生しない。一
方、透明導電膜の厚みを10nm以下に超薄膜化すると均
一な組成を得る事が困難である。そこで、本発明では透
明導電膜の最適な膜厚範囲として10nm〜60nmを設定
している。例えば、ITO等の透明導電膜を30nm±5
nmの厚み範囲でスパッタリングにより成膜すれば本発明
の膜厚条件を十分に満たす事ができる。この場合には布
材の繊維は画素電極の端部に殆ど引っ掛からずバフカス
が発生しない為、画素間の短絡欠陥は防止できる。な
お、一般にバフカスは微小である為、特に画素電極の間
隔が5μm以下に微細化した場合本発明の効果が高く、
点欠陥を大幅に抑制できる。透明導電膜の材料はITO
に限られるものではなく、酸化錫や有機透明導電材料を
用いても良い。
【0008】引き続き図1を参照して本液晶表示装置の
構成を具体的に説明する。画素基板1は行列配置した画
素4を有している。なお、図では1個の画素のみを取り
出して表わしている。画素基板1は上層部と中層部と下
層部とに分かれている。上層部は各画素4毎に形成され
た画素電極6を含んでおり、平坦化膜18の上にパタニ
ング形成されている。前述した様に、この画素電極6は
膜厚が10nm〜60nmに設定された透明導電膜からな
る。画素電極6はポリイミド等からなる配向被膜により
覆われており、この配向被膜は布材等でラビングを施さ
れ配向面20Bを形成している。これに対し、下層部は
個々の画素電極6を駆動するスイッチング素子7、画素
4の各行に対応してスイッチング素子7の行を走査する
走査配線8及び画素4の各列に対応してスイッチング素
子7の列に所定の画像信号を供給する信号配線9とを含
んでいる。なおスイッチング素子7は薄膜トランジスタ
で構成されており、多結晶シリコン等からなる半導体薄
膜10を活性層として用いる。半導体薄膜10の上には
ゲート絶縁膜を介してゲート電極Gがパタニング形成さ
れている。このゲート電極Gは前述した走査配線8に連
続している。薄膜トランジスタはゲート電極Gの両側に
ソース領域S及びドレイン領域Dを備えている。ソース
領域S側には一方の引出電極11が接続しており、前述
した信号配線9に連続している。ドレイン領域Dには他
方の引出電極12が接続している。なお、半導体薄膜1
0には上述した薄膜トランジスタに加え補助容量13も
形成されている。この補助容量13は半導体薄膜10を
一方の電極とし補助配線14を他方の電極とする。両電
極10,14の間にゲート絶縁膜と同層の誘電体膜が介
在している。なお、ゲート電極G、走査配線8及び補助
配線14は同一層からなり、第1層間絶縁膜15によ
り、引出電極11,12から電気的に絶縁されている。
構成を具体的に説明する。画素基板1は行列配置した画
素4を有している。なお、図では1個の画素のみを取り
出して表わしている。画素基板1は上層部と中層部と下
層部とに分かれている。上層部は各画素4毎に形成され
た画素電極6を含んでおり、平坦化膜18の上にパタニ
ング形成されている。前述した様に、この画素電極6は
膜厚が10nm〜60nmに設定された透明導電膜からな
る。画素電極6はポリイミド等からなる配向被膜により
覆われており、この配向被膜は布材等でラビングを施さ
れ配向面20Bを形成している。これに対し、下層部は
個々の画素電極6を駆動するスイッチング素子7、画素
4の各行に対応してスイッチング素子7の行を走査する
走査配線8及び画素4の各列に対応してスイッチング素
子7の列に所定の画像信号を供給する信号配線9とを含
んでいる。なおスイッチング素子7は薄膜トランジスタ
で構成されており、多結晶シリコン等からなる半導体薄
膜10を活性層として用いる。半導体薄膜10の上には
ゲート絶縁膜を介してゲート電極Gがパタニング形成さ
れている。このゲート電極Gは前述した走査配線8に連
続している。薄膜トランジスタはゲート電極Gの両側に
ソース領域S及びドレイン領域Dを備えている。ソース
領域S側には一方の引出電極11が接続しており、前述
した信号配線9に連続している。ドレイン領域Dには他
方の引出電極12が接続している。なお、半導体薄膜1
0には上述した薄膜トランジスタに加え補助容量13も
形成されている。この補助容量13は半導体薄膜10を
一方の電極とし補助配線14を他方の電極とする。両電
極10,14の間にゲート絶縁膜と同層の誘電体膜が介
在している。なお、ゲート電極G、走査配線8及び補助
配線14は同一層からなり、第1層間絶縁膜15によ
り、引出電極11,12から電気的に絶縁されている。
【0009】上層部と下層部との間の中層部には導電性
を有する遮光膜が介在している。この遮光膜はマスク遮
光膜16Mとパッド遮光膜16Pとに分割されている。
これらの遮光膜16M,16Pは金属膜からなる。マス
ク遮光膜16Mは画素の行方向に沿って連続的にパタニ
ングされ、少なくとも部分的にスイッチング素子7を遮
光する。マスク遮光膜16Mは第2層間絶縁膜17及び
平坦化膜18により上下から挟持されており、下層部及
び上層部から絶縁されている。マスク遮光膜16Mは例
えば対向電極5の電位と等しい固定電位に保持されてい
る。一方、パッド遮光膜16Pは画素4毎に離散的にパ
タニングされている。パッド遮光膜16Pは対応する画
素電極6とスイッチング素子7との間のコンタクト部C
に介在してその電気的接続及び遮光を図る。
を有する遮光膜が介在している。この遮光膜はマスク遮
光膜16Mとパッド遮光膜16Pとに分割されている。
これらの遮光膜16M,16Pは金属膜からなる。マス
ク遮光膜16Mは画素の行方向に沿って連続的にパタニ
ングされ、少なくとも部分的にスイッチング素子7を遮
光する。マスク遮光膜16Mは第2層間絶縁膜17及び
平坦化膜18により上下から挟持されており、下層部及
び上層部から絶縁されている。マスク遮光膜16Mは例
えば対向電極5の電位と等しい固定電位に保持されてい
る。一方、パッド遮光膜16Pは画素4毎に離散的にパ
タニングされている。パッド遮光膜16Pは対応する画
素電極6とスイッチング素子7との間のコンタクト部C
に介在してその電気的接続及び遮光を図る。
【0010】最後に、図1に示したアクティブマトリク
ス型液晶表示装置の製造方法を詳細に説明する。画素基
板1はガラス又は石英等からなり、この画素基板1の上
に減圧CVD法で半導体薄膜10を成膜する。例えば、
この半導体薄膜10は50nm程度の膜厚に堆積した多結
晶シリコンからなり、薄膜トランジスタの活性層として
用いられる。この半導体薄膜10は成膜された後アイラ
ンド状にパタニングされる。半導体薄膜10の上に例え
ばSiO2 からなるゲート絶縁膜を成膜する。ここで、
半導体薄膜10の材料としては多結晶シリコンの他に非
晶質シリコン等を用いても良い。又、ゲート絶縁膜の材
料としてはSiO2 の他に、SiNや酸化タンタル及び
これらの積層膜等を用いても良い。
ス型液晶表示装置の製造方法を詳細に説明する。画素基
板1はガラス又は石英等からなり、この画素基板1の上
に減圧CVD法で半導体薄膜10を成膜する。例えば、
この半導体薄膜10は50nm程度の膜厚に堆積した多結
晶シリコンからなり、薄膜トランジスタの活性層として
用いられる。この半導体薄膜10は成膜された後アイラ
ンド状にパタニングされる。半導体薄膜10の上に例え
ばSiO2 からなるゲート絶縁膜を成膜する。ここで、
半導体薄膜10の材料としては多結晶シリコンの他に非
晶質シリコン等を用いても良い。又、ゲート絶縁膜の材
料としてはSiO2 の他に、SiNや酸化タンタル及び
これらの積層膜等を用いても良い。
【0011】次に、画素基板1の上に走査配線8、ゲー
ト電極G、補助配線14等を同時に形成する。例えば、
減圧CVD法により350nm程度の膜厚で多結晶シリコ
ンを堆積した後、不純物をドーピングして低抵抗化を図
り、さらに所定の形状にパタニングする。これらの走査
配線8、ゲート電極G及び補助配線14の材料として
は、多結晶シリコンの他に、Ta,Mo,Al,Cr等
の金属やそれらのシリサイド、ポリサイド等を用いても
良い。この様にして、半導体薄膜10、ゲート絶縁膜及
びゲート電極Gからなる薄膜トランジスタが形成され、
スイッチング素子7となる。本例ではこの薄膜トランジ
スタはプレーナ型であるが正スタガ型や逆スタガ型等を
採用しても良い。同時に、半導体薄膜10には補助容量
13も形成される。
ト電極G、補助配線14等を同時に形成する。例えば、
減圧CVD法により350nm程度の膜厚で多結晶シリコ
ンを堆積した後、不純物をドーピングして低抵抗化を図
り、さらに所定の形状にパタニングする。これらの走査
配線8、ゲート電極G及び補助配線14の材料として
は、多結晶シリコンの他に、Ta,Mo,Al,Cr等
の金属やそれらのシリサイド、ポリサイド等を用いても
良い。この様にして、半導体薄膜10、ゲート絶縁膜及
びゲート電極Gからなる薄膜トランジスタが形成され、
スイッチング素子7となる。本例ではこの薄膜トランジ
スタはプレーナ型であるが正スタガ型や逆スタガ型等を
採用しても良い。同時に、半導体薄膜10には補助容量
13も形成される。
【0012】次に常圧CVD法により600nm程度の膜
厚でPSG等を堆積し第1層間絶縁膜15を形成する。
この第1層間絶縁膜15は上述した走査配線8、ゲート
電極G、補助配線14等を被覆している。この第1層間
絶縁膜15には薄膜トランジスタのソース領域Sやドレ
イン領域Dに達するコンタクトホールが開口されてい
る。第1層間絶縁膜15の上には信号配線9や引出電極
11,12がパタニング形成されている。例えば、スパ
ッタリング法により600nm程度の膜厚でアルミニウム
を堆積し、所定の形状にパタニングして信号配線9及び
引出電極11,12に加工する。一方の引出電極11は
コンタクトホールを介して薄膜トランジスタのソース領
域Sに接続し、他方の引出電極12は同じくコンタクト
ホールを介して薄膜トランジスタのドレイン領域Dに接
続する。これら信号配線9及び引出電極11,12の材
料としては、Alの他に、Ta,Cr,Mo,Ni等を
用いても良い。
厚でPSG等を堆積し第1層間絶縁膜15を形成する。
この第1層間絶縁膜15は上述した走査配線8、ゲート
電極G、補助配線14等を被覆している。この第1層間
絶縁膜15には薄膜トランジスタのソース領域Sやドレ
イン領域Dに達するコンタクトホールが開口されてい
る。第1層間絶縁膜15の上には信号配線9や引出電極
11,12がパタニング形成されている。例えば、スパ
ッタリング法により600nm程度の膜厚でアルミニウム
を堆積し、所定の形状にパタニングして信号配線9及び
引出電極11,12に加工する。一方の引出電極11は
コンタクトホールを介して薄膜トランジスタのソース領
域Sに接続し、他方の引出電極12は同じくコンタクト
ホールを介して薄膜トランジスタのドレイン領域Dに接
続する。これら信号配線9及び引出電極11,12の材
料としては、Alの他に、Ta,Cr,Mo,Ni等を
用いても良い。
【0013】信号配線9や引出電極11,12の上には
第2層間絶縁膜17が成膜されており、これらを被覆す
る。例えば、常圧CVD法により600nm程度の膜厚で
PSGを堆積して第2層間絶縁膜17を形成する。この
第2層間絶縁膜17には引出電極12に達するコンタク
トホールCが開口されている。この第2層間絶縁膜17
の上にはマスク遮光膜16M及びパッド遮光膜16Pが
形成されている。例えば、スパッタリング法により25
0nm程度の膜厚でTiを堆積し、所定の形状にパタニン
グしてマスク遮光膜16M及びパッド遮光膜16Pに加
工する。マスク遮光膜16Mは表示画素外の領域で固定
電位にコンタクトしている。一方、パッド遮光膜16P
は前述したコンタクトホールCを介して引出電極12に
コンタクトしている。マスク遮光膜16Mは全表示画素
領域に渡って互いに接続されている。
第2層間絶縁膜17が成膜されており、これらを被覆す
る。例えば、常圧CVD法により600nm程度の膜厚で
PSGを堆積して第2層間絶縁膜17を形成する。この
第2層間絶縁膜17には引出電極12に達するコンタク
トホールCが開口されている。この第2層間絶縁膜17
の上にはマスク遮光膜16M及びパッド遮光膜16Pが
形成されている。例えば、スパッタリング法により25
0nm程度の膜厚でTiを堆積し、所定の形状にパタニン
グしてマスク遮光膜16M及びパッド遮光膜16Pに加
工する。マスク遮光膜16Mは表示画素外の領域で固定
電位にコンタクトしている。一方、パッド遮光膜16P
は前述したコンタクトホールCを介して引出電極12に
コンタクトしている。マスク遮光膜16Mは全表示画素
領域に渡って互いに接続されている。
【0014】マスク遮光膜16M及びパッド遮光膜16
Pを被覆する様に平坦化膜18が形成されている。この
平坦化膜18はスイッチング素子や各配線の凹凸を埋め
平坦化する為に十分な厚みを有している。平坦化膜18
の表面は略完全な平面状態にあり、その上に画素電極6
がパタニング形成される。従って、画素電極6のレベル
にはその端面の段差を除いて何等凹凸が存在しない。平
坦化膜18は一般に無色透明である事が要求される。
又、コンタクトホールCを設ける必要がある為、微細加
工が可能でなければならない。さらに、画素電極6のエ
ッチング等に薬品を用いる為、所望の耐薬品性が要求さ
れる。加えて、後工程で高温に晒される為、所定の耐熱
性を要求される。かかる要求特性を満たす為、所望の有
機材料や無機材料が選択される。有機材料としては、例
えばアクリル樹脂やポリイミド樹脂が挙げられる。ポリ
イミドは耐熱性に優れているが若干着色がある。これに
対してアクリル樹脂は略完全に無色透明である。これら
の樹脂は、例えばスピンコート法や転写法等により塗布
される。無機材料としては、例えば二酸化珪素を主成分
とする無機ガラスが挙げられる。本例では、所定の粘性
を有し凹凸を埋めるのに好適なアクリル樹脂を用いてい
る。
Pを被覆する様に平坦化膜18が形成されている。この
平坦化膜18はスイッチング素子や各配線の凹凸を埋め
平坦化する為に十分な厚みを有している。平坦化膜18
の表面は略完全な平面状態にあり、その上に画素電極6
がパタニング形成される。従って、画素電極6のレベル
にはその端面の段差を除いて何等凹凸が存在しない。平
坦化膜18は一般に無色透明である事が要求される。
又、コンタクトホールCを設ける必要がある為、微細加
工が可能でなければならない。さらに、画素電極6のエ
ッチング等に薬品を用いる為、所望の耐薬品性が要求さ
れる。加えて、後工程で高温に晒される為、所定の耐熱
性を要求される。かかる要求特性を満たす為、所望の有
機材料や無機材料が選択される。有機材料としては、例
えばアクリル樹脂やポリイミド樹脂が挙げられる。ポリ
イミドは耐熱性に優れているが若干着色がある。これに
対してアクリル樹脂は略完全に無色透明である。これら
の樹脂は、例えばスピンコート法や転写法等により塗布
される。無機材料としては、例えば二酸化珪素を主成分
とする無機ガラスが挙げられる。本例では、所定の粘性
を有し凹凸を埋めるのに好適なアクリル樹脂を用いてい
る。
【0015】この後、平坦化膜18の上に画素電極6を
形成する。例えば、スパッタリング法により30±5nm
の膜厚でITO等の透明導電膜を成膜し、所定の形状に
パタニングして画素電極6に加工する。さらに、この画
素電極6を被覆する様にポリイミド等の配向被膜を成膜
する。この配向被膜を所定の方向にラビングして配向面
20Bとする。最後に、ガラス等からなり対向電極5が
全面に形成されている対向基板2を画素基板1に接合す
る。両基板1,2の間隙に液晶層3を封入する。この
際、対向基板2にも予め配向面20Tが形成されてい
る。この為、液晶層3は上下から配向面20T,20B
で保持され、例えばツイスト配向される。
形成する。例えば、スパッタリング法により30±5nm
の膜厚でITO等の透明導電膜を成膜し、所定の形状に
パタニングして画素電極6に加工する。さらに、この画
素電極6を被覆する様にポリイミド等の配向被膜を成膜
する。この配向被膜を所定の方向にラビングして配向面
20Bとする。最後に、ガラス等からなり対向電極5が
全面に形成されている対向基板2を画素基板1に接合す
る。両基板1,2の間隙に液晶層3を封入する。この
際、対向基板2にも予め配向面20Tが形成されてい
る。この為、液晶層3は上下から配向面20T,20B
で保持され、例えばツイスト配向される。
【0016】なお、上述した実施形態では、スイッチン
グ素子7として薄膜トランジスタからなる3端子素子を
用いているが、これに代えてダイオード、バリスタ及び
金属−絶縁物−金属(MIM)素子等の2端子素子をス
イッチング素子として用いる事ができる。2端子素子を
用いる場合は、マトリクス状の複数の画素電極、2端子
素子、第1の電極群等を画素基板1側に設け、第1の電
極群と交差する第2の電極群を対向基板2側に設ける。
なお、上述した実施形態では薄膜トランジスタのドレイ
ン領域Dに画素電極6を接続し、ソース領域Sに信号配
線9が接続している。しかしながら、実際には液晶層3
を交流駆動する為、薄膜トランジスタのソース領域S及
びドレイン領域Dは交互にその役割が交換する。
グ素子7として薄膜トランジスタからなる3端子素子を
用いているが、これに代えてダイオード、バリスタ及び
金属−絶縁物−金属(MIM)素子等の2端子素子をス
イッチング素子として用いる事ができる。2端子素子を
用いる場合は、マトリクス状の複数の画素電極、2端子
素子、第1の電極群等を画素基板1側に設け、第1の電
極群と交差する第2の電極群を対向基板2側に設ける。
なお、上述した実施形態では薄膜トランジスタのドレイ
ン領域Dに画素電極6を接続し、ソース領域Sに信号配
線9が接続している。しかしながら、実際には液晶層3
を交流駆動する為、薄膜トランジスタのソース領域S及
びドレイン領域Dは交互にその役割が交換する。
【0017】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、ス
イッチング素子等を被覆して凹凸を埋める平坦化膜の上
に画素電極が形成されており、この画素電極は厚みが1
0nm〜60nmの範囲で薄膜化されている。この様に、画
素基板の最上層に位置する画素電極を薄膜化する事で、
ラビング処理時に発生するバフカスを抑制し、画素電極
間の短絡欠陥を効果的に防止している。
イッチング素子等を被覆して凹凸を埋める平坦化膜の上
に画素電極が形成されており、この画素電極は厚みが1
0nm〜60nmの範囲で薄膜化されている。この様に、画
素基板の最上層に位置する画素電極を薄膜化する事で、
ラビング処理時に発生するバフカスを抑制し、画素電極
間の短絡欠陥を効果的に防止している。
【図1】本発明にかかる液晶表示装置の実施形態を示す
模式的な断面図である。
模式的な断面図である。
【図2】従来の液晶表示装置の一例を示す模式図であ
る。
る。
1 画素基板 2 対向基板 3 液晶層 5 対向電極 6 画素電極 7 スイッチング素子 20B 配向面 20T 配向面
Claims (3)
- 【請求項1】 配向面を有する対向基板と、同じく配向
面を有する画素基板と、両配向面の間に保持された液晶
層とを備えたパネル構造を有し、 前記対向基板は該配向面に沿って連続的に形成された対
向電極を備え、 前記画素基板は少なくとも、複数のスイッチング素子
と、該スイッチング素子を被覆して凹凸を埋める平坦化
膜と、配向面に沿って該平坦化膜の上に分割的に形成さ
れ且つ該スイッチング素子により個々に駆動される画素
電極とを備え、 前記画素電極は厚みが10nm〜60nmの範囲で薄膜化さ
れた透明導電膜からなる液晶表示装置。 - 【請求項2】 前記画素電極は5μm以下の間隔で互い
に分離している請求項1記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】 前記画素基板は該画素電極を被覆する配
向被膜を含んでおり、該配向被膜はラビング処理を施さ
れて配向面を形成する請求項1記載の液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21538595A JPH0943640A (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21538595A JPH0943640A (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0943640A true JPH0943640A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16671433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21538595A Pending JPH0943640A (ja) | 1995-07-31 | 1995-07-31 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0943640A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004111356A (ja) * | 1997-02-17 | 2004-04-08 | Seiko Epson Corp | 発光装置及びその製造方法 |
| US7206053B2 (en) | 1996-06-25 | 2007-04-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
| US7221339B2 (en) | 1997-02-17 | 2007-05-22 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
| JP2007165924A (ja) * | 1997-02-17 | 2007-06-28 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
| JP2014102519A (ja) * | 2006-12-26 | 2014-06-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
-
1995
- 1995-07-31 JP JP21538595A patent/JPH0943640A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7542103B2 (en) | 1996-06-25 | 2009-06-02 | Semiconductor Energy Laboratory | Electro-optical device |
| US7206053B2 (en) | 1996-06-25 | 2007-04-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro-optical device |
| US7710364B2 (en) | 1997-02-17 | 2010-05-04 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
| JP2007165924A (ja) * | 1997-02-17 | 2007-06-28 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
| US7253793B2 (en) | 1997-02-17 | 2007-08-07 | Seiko Epson Corporation | Electro-luminiscent apparatus |
| US7221339B2 (en) | 1997-02-17 | 2007-05-22 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
| JP2004111356A (ja) * | 1997-02-17 | 2004-04-08 | Seiko Epson Corp | 発光装置及びその製造方法 |
| US7880696B2 (en) | 1997-02-17 | 2011-02-01 | Seiko Epson Corporation | Display apparatus |
| JP2014102519A (ja) * | 2006-12-26 | 2014-06-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
| JP2021073523A (ja) * | 2006-12-26 | 2021-05-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
| JP2023083427A (ja) * | 2006-12-26 | 2023-06-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
| JP2024074300A (ja) * | 2006-12-26 | 2024-05-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
| JP2024129123A (ja) * | 2006-12-26 | 2024-09-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
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