JPH0944369A - トランスレータ検証装置 - Google Patents
トランスレータ検証装置Info
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- JPH0944369A JPH0944369A JP7198637A JP19863795A JPH0944369A JP H0944369 A JPH0944369 A JP H0944369A JP 7198637 A JP7198637 A JP 7198637A JP 19863795 A JP19863795 A JP 19863795A JP H0944369 A JPH0944369 A JP H0944369A
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- JP
- Japan
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- test
- translator
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- repair
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- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 トランスレータの条件設定洩れやテスト仕様
そのものの誤りが発生する可能性が高く、目視確認時に
不具合を見落し易く、ファイル指定作業に時間がかか
り、ファイルの指定やバージョンを誤って用いるなどの
課題があった。 【解決手段】 テスト報告書入力画面４０の各項目欄４
１〜４６に対して情報を入力し、テスト結果報告書テン
プレート５０を作成する。テスト結果報告書テンプレー
ト５０の作成後、テスト結果比較部３６がテスト結果報
告書テンプレート５０に基づいて検証を行い、テスト結
果６１を記述したテスト結果報告書６０を出力する。
そのものの誤りが発生する可能性が高く、目視確認時に
不具合を見落し易く、ファイル指定作業に時間がかか
り、ファイルの指定やバージョンを誤って用いるなどの
課題があった。 【解決手段】 テスト報告書入力画面４０の各項目欄４
１〜４６に対して情報を入力し、テスト結果報告書テン
プレート５０を作成する。テスト結果報告書テンプレー
ト５０の作成後、テスト結果比較部３６がテスト結果報
告書テンプレート５０に基づいて検証を行い、テスト結
果６１を記述したテスト結果報告書６０を出力する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＬＳＩテスタ装
置のテストプログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩ
の条件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすことができ、
テストパターンの不具合を容易に確認でき、しかもテス
ト用のデータ管理も容易に行うことができるトランスレ
ータ検証装置に関するものである。
置のテストプログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩ
の条件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすことができ、
テストパターンの不具合を容易に確認でき、しかもテス
ト用のデータ管理も容易に行うことができるトランスレ
ータ検証装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は従来のテストプログラム自動生成
装置のトランスレータを検証する方法を示した構成図で
あり、図において、１はプローブ２を介してＬＳＩ３の
機能や性能を満たしているかをテストするＬＳＩテスタ
装置、４はこのＬＳＩテスタ装置１に備えられたテスト
プログラム、５はテストプログラム４を自動生成するテ
ストプログラム自動生成装置、６はこのテストプログラ
ム自動生成装置５に備えられたプログラム（以下、トラ
ンスレータという）、７はテストプログラム自動生成装
置５により処理された出力結果を登録するテキストファ
イル、８は制御ファイル、９はテスト項目ファイル、１
０は機能テストパターンファイルである。
装置のトランスレータを検証する方法を示した構成図で
あり、図において、１はプローブ２を介してＬＳＩ３の
機能や性能を満たしているかをテストするＬＳＩテスタ
装置、４はこのＬＳＩテスタ装置１に備えられたテスト
プログラム、５はテストプログラム４を自動生成するテ
ストプログラム自動生成装置、６はこのテストプログラ
ム自動生成装置５に備えられたプログラム（以下、トラ
ンスレータという）、７はテストプログラム自動生成装
置５により処理された出力結果を登録するテキストファ
イル、８は制御ファイル、９はテスト項目ファイル、１
０は機能テストパターンファイルである。
【０００３】次に動作について説明する。ＬＳＩ３が設
計製造されると、それが設計者の意図した機能や性能を
満たしているかをＬＳＩテスタ装置１で確認するが、こ
のＬＳＩテスタ装置１は、それ自身がコンピュータであ
り、ＬＳＩテスタ装置１はＬＳＩをテストするためのテ
ストパターン（ＬＳＩの入力信号系列、出力信号系列の
組）と、その測定手順をテスタ専用用語で記述したメイ
ンプログラムによって動作するものである。ここで、テ
ストプログラム４はテストパターンとメインプログラム
を総称したものである。そしてこのテストパターンに
は、ＬＳＩの入力端子に印加する信号値（電源レベル、
接地レベル）の系列と、その入力信号の印加によって出
力端子に出力される信号値の期待値の系列がある。これ
らは通常、論理シミュレーションの結果や自動生成装置
によって作成されるが、メインプログラムは、ＬＳＩの
測定法、設定電圧、タイミングや判定装置をテスタ専用
言語で記述したものである。
計製造されると、それが設計者の意図した機能や性能を
満たしているかをＬＳＩテスタ装置１で確認するが、こ
のＬＳＩテスタ装置１は、それ自身がコンピュータであ
り、ＬＳＩテスタ装置１はＬＳＩをテストするためのテ
ストパターン（ＬＳＩの入力信号系列、出力信号系列の
組）と、その測定手順をテスタ専用用語で記述したメイ
ンプログラムによって動作するものである。ここで、テ
ストプログラム４はテストパターンとメインプログラム
を総称したものである。そしてこのテストパターンに
は、ＬＳＩの入力端子に印加する信号値（電源レベル、
接地レベル）の系列と、その入力信号の印加によって出
力端子に出力される信号値の期待値の系列がある。これ
らは通常、論理シミュレーションの結果や自動生成装置
によって作成されるが、メインプログラムは、ＬＳＩの
測定法、設定電圧、タイミングや判定装置をテスタ専用
言語で記述したものである。
【０００４】しかし、最近ＬＳＩ３の高性能化や高機能
化によりテストパターン数は増大し続けているととも
に、メインプログラムも複雑化しているため、人手によ
るテストパターンの作成は非常に困難なものになってい
る。そこで、ＬＳＩテスタ装置１のテストパターンやメ
インプログラムは、テストプログラム自動生成装置５に
よりＬＳＩテスタ装置１の機種毎に自動的に生成され
る。しかし、このテストプログラム自動生成装置５のト
ランスレータ６は、ＬＳＩ３の仕様変更、ＬＳＩ３のテ
スト項目の変更、ＬＳＩテスタ装置１の変更に伴い、度
々の改修が必要となる。このため、改修した毎にトラン
スレータの正当性を調べなおさなければならず、以下の
ような問題点が生じていた。
化によりテストパターン数は増大し続けているととも
に、メインプログラムも複雑化しているため、人手によ
るテストパターンの作成は非常に困難なものになってい
る。そこで、ＬＳＩテスタ装置１のテストパターンやメ
インプログラムは、テストプログラム自動生成装置５に
よりＬＳＩテスタ装置１の機種毎に自動的に生成され
る。しかし、このテストプログラム自動生成装置５のト
ランスレータ６は、ＬＳＩ３の仕様変更、ＬＳＩ３のテ
スト項目の変更、ＬＳＩテスタ装置１の変更に伴い、度
々の改修が必要となる。このため、改修した毎にトラン
スレータの正当性を調べなおさなければならず、以下の
ような問題点が生じていた。
【０００５】まず第１にトランスレータ６の検証では、
対象とするＬＳＩ３のテスト仕様（組み合わせ条件）に
ついて調べる必要があるが、組合せ条件の数が多いため
組み合わせ条件の設定誤りや設定洩れによる不具合が発
生する可能性がある。例を用いて説明すると、例えば
Ａ、Ｂ、Ｃのバッファを有するＬＳＩ３があった場合、
まず、Ａバッファをテストしようとすると、Ａバッファ
をテストするための設定とＢバッファ，Ｃバッファをテ
ストしないための設定をトランスレータ６に記述する必
要がある。ここでＡバッファをテストするための設定と
は、印加する信号の波形フォーマット、使用するタイミ
ングエッジ（クロック）、電圧レベルそしてテスト周期
を指定することである。
対象とするＬＳＩ３のテスト仕様（組み合わせ条件）に
ついて調べる必要があるが、組合せ条件の数が多いため
組み合わせ条件の設定誤りや設定洩れによる不具合が発
生する可能性がある。例を用いて説明すると、例えば
Ａ、Ｂ、Ｃのバッファを有するＬＳＩ３があった場合、
まず、Ａバッファをテストしようとすると、Ａバッファ
をテストするための設定とＢバッファ，Ｃバッファをテ
ストしないための設定をトランスレータ６に記述する必
要がある。ここでＡバッファをテストするための設定と
は、印加する信号の波形フォーマット、使用するタイミ
ングエッジ（クロック）、電圧レベルそしてテスト周期
を指定することである。
【０００６】また、同様にＢバッファおよびＣバッファ
をテストしないために電圧レベルを固定する。このよう
にトランスレータ６では、テストするＬＳＩ３の条件す
べてについて各バッファの端子に様々な設定を行うよう
にメインプログラムを生成しなければならない。なお、
ＬＳＩ３には、数十から数百もの設定すべき条件がある
ため、トランスレータ６を注意深く開発しても条件設定
洩れやテスト仕様そのものの誤りが発生する可能性が高
かった。
をテストしないために電圧レベルを固定する。このよう
にトランスレータ６では、テストするＬＳＩ３の条件す
べてについて各バッファの端子に様々な設定を行うよう
にメインプログラムを生成しなければならない。なお、
ＬＳＩ３には、数十から数百もの設定すべき条件がある
ため、トランスレータ６を注意深く開発しても条件設定
洩れやテスト仕様そのものの誤りが発生する可能性が高
かった。
【０００７】第２の問題点としては、結果の確認方法が
挙げられる。テストプログラム自動生成装置５から出力
されるテストパターンは０と１の信号の羅列であり、従
来はこれをテキストファイル７に出力し目視確認を行っ
ていた。このため、目視確認時に不具合を見落しやすか
った。
挙げられる。テストプログラム自動生成装置５から出力
されるテストパターンは０と１の信号の羅列であり、従
来はこれをテキストファイル７に出力し目視確認を行っ
ていた。このため、目視確認時に不具合を見落しやすか
った。
【０００８】第３の問題点としては、テストを正しく実
施するためには必要なファイル（例えば、制御ファイル
８，テスト項目ファイル９および機能テストパターンフ
ァイル１０等）の組を正しく準備し、トランスレータへ
入力しなければならないが、従来は、テストを実施しよ
うとする度に、このようなデータを人手作業により準備
していた。そのため、この作業に時間がかかることが多
く、また、ファイルの指定やバージョンを誤って用いる
とテストが正しく実施されないことがあった。
施するためには必要なファイル（例えば、制御ファイル
８，テスト項目ファイル９および機能テストパターンフ
ァイル１０等）の組を正しく準備し、トランスレータへ
入力しなければならないが、従来は、テストを実施しよ
うとする度に、このようなデータを人手作業により準備
していた。そのため、この作業に時間がかかることが多
く、また、ファイルの指定やバージョンを誤って用いる
とテストが正しく実施されないことがあった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従来のテストプログラ
ム自動生成装置は以上のように構成されているので、Ｌ
ＳＩ３には、数十から数百もの設定すべき条件があるた
め、トランスレータ６を注意深く開発しても条件設定洩
れやテスト仕様そのものの誤りが発生する可能性が高い
などの課題があった。また、出力されるテストパターン
は０と１の信号の羅列であり、従来はこれをテキストフ
ァイル７に出力し目視確認を行っていたため、目視確認
時に不具合を見落し易いなどの課題があった。さらに、
ファイルの組を人手作業により準備していたので、この
作業に時間がかかるとともにファイルの指定やバージョ
ンを誤って用いるとテストが正しく実施されないなどの
課題があった。
ム自動生成装置は以上のように構成されているので、Ｌ
ＳＩ３には、数十から数百もの設定すべき条件があるた
め、トランスレータ６を注意深く開発しても条件設定洩
れやテスト仕様そのものの誤りが発生する可能性が高い
などの課題があった。また、出力されるテストパターン
は０と１の信号の羅列であり、従来はこれをテキストフ
ァイル７に出力し目視確認を行っていたため、目視確認
時に不具合を見落し易いなどの課題があった。さらに、
ファイルの組を人手作業により準備していたので、この
作業に時間がかかるとともにファイルの指定やバージョ
ンを誤って用いるとテストが正しく実施されないなどの
課題があった。
【００１０】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、ＬＳＩテスタ装置のテストプログ
ラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定漏れや
テスト仕様誤りをなくすことができるトランスレータ検
証装置を得ることを目的とする。
めになされたもので、ＬＳＩテスタ装置のテストプログ
ラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定漏れや
テスト仕様誤りをなくすことができるトランスレータ検
証装置を得ることを目的とする。
【００１１】また、この発明は、テストパターンの不具
合を容易に確認できるトランスレータ検証装置を得るこ
とを目的とする。
合を容易に確認できるトランスレータ検証装置を得るこ
とを目的とする。
【００１２】さらに、この発明は、テスト用のデータ管
理も容易に行うことができるトランスレータ検証装置を
得ることを目的とする。
理も容易に行うことができるトランスレータ検証装置を
得ることを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明に係
るトランスレータ検証装置は、テストファイル設定手段
により改修後のテストプログラム自動生成装置のトラン
スレータの検証に必要なテストパターンおよびテストプ
ログラムを設定し、改修後トランスレータ検証手段によ
り設定されたテストパターンおよびテストプログラムが
記述されたテスト手順書に基づいて、改修後トランスレ
ータを自動的に実行し、その結果が予め設定された出力
値と一致するか否かを検証するようにしたものである。
るトランスレータ検証装置は、テストファイル設定手段
により改修後のテストプログラム自動生成装置のトラン
スレータの検証に必要なテストパターンおよびテストプ
ログラムを設定し、改修後トランスレータ検証手段によ
り設定されたテストパターンおよびテストプログラムが
記述されたテスト手順書に基づいて、改修後トランスレ
ータを自動的に実行し、その結果が予め設定された出力
値と一致するか否かを検証するようにしたものである。
【００１４】請求項２記載の発明に係るトランスレータ
検証装置は、テストファイル設定手段により改修後のテ
ストプログラム自動生成装置のトランスレータの検証に
必要なテストパターンおよびテストプログラムを設定
し、改修後トランスレータ検証手段により設定されたテ
ストパターンおよびテストプログラムが記述されたテス
ト手順書に基づいて、改修後トランスレータを自動的に
実行し、その結果が予め設定された出力値と一致するか
否かを検証し、検証結果出力手段により検証結果をテス
ト手順書の項目毎に出力するようにしたものである。
検証装置は、テストファイル設定手段により改修後のテ
ストプログラム自動生成装置のトランスレータの検証に
必要なテストパターンおよびテストプログラムを設定
し、改修後トランスレータ検証手段により設定されたテ
ストパターンおよびテストプログラムが記述されたテス
ト手順書に基づいて、改修後トランスレータを自動的に
実行し、その結果が予め設定された出力値と一致するか
否かを検証し、検証結果出力手段により検証結果をテス
ト手順書の項目毎に出力するようにしたものである。
【００１５】請求項３記載の発明に係るトランスレータ
検証装置は、テストファイル設定手段により改修後のテ
ストプログラム自動生成装置のトランスレータの検証に
必要なテストパターンおよびテストプログラムを設定
し、改修後トランスレータ検証手段により設定されたテ
ストパターンおよびテストプログラムが記述されたテス
ト手順書に基づいて、改修後トランスレータを自動的に
実行し、その結果が予め設定された出力値と一致するか
否かを検証し、検証結果出力手段により検証結果をテス
ト手順書の項目毎に出力し、出力処理部によりトランス
レータが改修される度にテストパターンおよびテストプ
ログラムのバージョン管理を実施するようにしたもので
ある。
検証装置は、テストファイル設定手段により改修後のテ
ストプログラム自動生成装置のトランスレータの検証に
必要なテストパターンおよびテストプログラムを設定
し、改修後トランスレータ検証手段により設定されたテ
ストパターンおよびテストプログラムが記述されたテス
ト手順書に基づいて、改修後トランスレータを自動的に
実行し、その結果が予め設定された出力値と一致するか
否かを検証し、検証結果出力手段により検証結果をテス
ト手順書の項目毎に出力し、出力処理部によりトランス
レータが改修される度にテストパターンおよびテストプ
ログラムのバージョン管理を実施するようにしたもので
ある。
【００１６】
実施の形態１．以下、この発明の実施の形態を説明す
る。図１はこの発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置を示す構成図であり、図において、２１は入
力処理部２２を介して各ファイルから取り込んだ情報に
基づいて改修されたトランスレータ（テストパターンお
よびＬＳＩテストプログラム）を実行し、従来のトラン
スレータの機能が保持されているか否か、および改修し
た箇所のプログラムが正規に動作するか否かを検証する
トランスレータ検証装置、２２はトランスレータ６を検
証するための各種のファイルを保管しているデータ保管
部、２３はデータ保管部２２を制御するデータベース制
御部、２４はデータ保管部２２に保管されている各種の
ファイルをタッチパネル等からなるＣＲＴ２５に表示す
る画面表示部（テストファイル設定手段）であり、操作
者は必要なファイルをこのタッチパネル等から指定する
ことができる。
る。図１はこの発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置を示す構成図であり、図において、２１は入
力処理部２２を介して各ファイルから取り込んだ情報に
基づいて改修されたトランスレータ（テストパターンお
よびＬＳＩテストプログラム）を実行し、従来のトラン
スレータの機能が保持されているか否か、および改修し
た箇所のプログラムが正規に動作するか否かを検証する
トランスレータ検証装置、２２はトランスレータ６を検
証するための各種のファイルを保管しているデータ保管
部、２３はデータ保管部２２を制御するデータベース制
御部、２４はデータ保管部２２に保管されている各種の
ファイルをタッチパネル等からなるＣＲＴ２５に表示す
る画面表示部（テストファイル設定手段）であり、操作
者は必要なファイルをこのタッチパネル等から指定する
ことができる。
【００１７】２６はトランスレータ検証装置２１により
指定された種々のファイルを取り込む入力処理部、２７
はトランスレータ検証装置２１により処理されたトラン
スレータの検証に関する情報を各種のファイルに格納す
る出力処理部、２８ａは改修前のトランスレータの内容
（テストパターンおよびＬＳＩテストプログラム）が格
納される改修前トランスレータファイル、２８ｂは改修
後のトランスレータの期待値が格納されている期待値フ
ァイル、２８ｃは画面表示部２４で選択されたファイル
に基づいて作成されたテスト報告書（図３参照）が格納
されるテスト報告書ファイルである。
指定された種々のファイルを取り込む入力処理部、２７
はトランスレータ検証装置２１により処理されたトラン
スレータの検証に関する情報を各種のファイルに格納す
る出力処理部、２８ａは改修前のトランスレータの内容
（テストパターンおよびＬＳＩテストプログラム）が格
納される改修前トランスレータファイル、２８ｂは改修
後のトランスレータの期待値が格納されている期待値フ
ァイル、２８ｃは画面表示部２４で選択されたファイル
に基づいて作成されたテスト報告書（図３参照）が格納
されるテスト報告書ファイルである。
【００１８】２８ｄはトランスレータの制御データ等の
入力データが格納される入力データファイルである。２
８ｅは改修後のトランスレータの内容（テストパターン
およびＬＳＩテストプログラム）が格納される改修後ト
ランスレータファイル、２８ｆはトランスレータ検証装
置２１により検証された結果をも記述したテスト結果報
告書が格納されるテスト結果報告書ファイルである。３
１は改修前トランスレータファイル２８ａから読み込ん
だ改修前トランスレータ３２を一旦格納する改修前トラ
ンスレータメモリ、３３は改修後トランスレータファイ
ル２８ｅから読み込んだ改修後トランスレータ３４を一
旦格納する改修後トランスレータメモリである。
入力データが格納される入力データファイルである。２
８ｅは改修後のトランスレータの内容（テストパターン
およびＬＳＩテストプログラム）が格納される改修後ト
ランスレータファイル、２８ｆはトランスレータ検証装
置２１により検証された結果をも記述したテスト結果報
告書が格納されるテスト結果報告書ファイルである。３
１は改修前トランスレータファイル２８ａから読み込ん
だ改修前トランスレータ３２を一旦格納する改修前トラ
ンスレータメモリ、３３は改修後トランスレータファイ
ル２８ｅから読み込んだ改修後トランスレータ３４を一
旦格納する改修後トランスレータメモリである。
【００１９】３５はテスト結果比較部（改修後トランス
レータ検証手段）であり、テスト結果報告書ファイル２
８ｃから読み込んだテスト結果報告書の記述に従い、入
力データファイル２８ｄからトランスレータの制御デー
タおよびＬＳＩテスタ装置のテストパターン等を読み込
み、この読み込んだ情報を改修前トランスレータ３２お
よび改修後トランスレータ３４に入力し、改修されてい
ない従来の機能の出力結果が一致するか否かを検証する
とともに、改修した機能が正規に実行されているか否か
を検証する。３６はテスト結果比較部３５の検証結果を
格納する比較結果ファイル、３７はテスト報告書ファイ
ル２８ｃから読み込んだテスト報告書に比較結果ファイ
ルに格納されている比較結果を書き込んだ後、この書き
込んだテスト報告書を出力処理部２７を介してテスト結
果報告書ファイル２８ｆに登録するテスト結果報告書作
成部（検証結果出力手段）である。
レータ検証手段）であり、テスト結果報告書ファイル２
８ｃから読み込んだテスト結果報告書の記述に従い、入
力データファイル２８ｄからトランスレータの制御デー
タおよびＬＳＩテスタ装置のテストパターン等を読み込
み、この読み込んだ情報を改修前トランスレータ３２お
よび改修後トランスレータ３４に入力し、改修されてい
ない従来の機能の出力結果が一致するか否かを検証する
とともに、改修した機能が正規に実行されているか否か
を検証する。３６はテスト結果比較部３５の検証結果を
格納する比較結果ファイル、３７はテスト報告書ファイ
ル２８ｃから読み込んだテスト報告書に比較結果ファイ
ルに格納されている比較結果を書き込んだ後、この書き
込んだテスト報告書を出力処理部２７を介してテスト結
果報告書ファイル２８ｆに登録するテスト結果報告書作
成部（検証結果出力手段）である。
【００２０】ここで、画面表示部２４とこの画面表示部
２４により作成されるテスト結果報告書について説明を
する。図２はこの発明の実施の一形態によるトランスレ
ータ検証装置の画面表示部を示す構成図、図３及び図４
はこの発明の実施の一形態によるトランスレータ検証装
置の画面表示部２４により作成されるテスト結果報告書
テンプレートを示す構成図、図４はこの発明の実施の一
形態によるトランスレータ検証装置により作成されるテ
スト結果報告書を示す構成図、図５はこの発明の実施の
一形態によるトランスレータ検証装置のデータ保管部２
２に格納されているファイルの格納状態を示す構成図で
ある。
２４により作成されるテスト結果報告書について説明を
する。図２はこの発明の実施の一形態によるトランスレ
ータ検証装置の画面表示部を示す構成図、図３及び図４
はこの発明の実施の一形態によるトランスレータ検証装
置の画面表示部２４により作成されるテスト結果報告書
テンプレートを示す構成図、図４はこの発明の実施の一
形態によるトランスレータ検証装置により作成されるテ
スト結果報告書を示す構成図、図５はこの発明の実施の
一形態によるトランスレータ検証装置のデータ保管部２
２に格納されているファイルの格納状態を示す構成図で
ある。
【００２１】図において、４０はＣＲＴ２５に表示され
たテスト報告書入力画面、４１はトランスレータ名を設
定する項目欄、４２はテスト結果報告書テンプレート
（テスト手順書）５０での入力データ格納ディレクトリ
５２を設定する項目欄、４３はテスト結果報告書テンプ
レート５０での出力データ格納ディレクトリ５３を設定
する項目欄、４４はテスト結果報告書テンプレート５０
でのテスト項目５１において、新規につけ加えられた入
力データ格納ディレクトリ５４（図３において、usr/V
2.0.0）を設定する項目欄である。４５はテスト結果報
告書テンプレート５０でのテスト項目５１において、新
規につけ加えられた出力データ格納ディレクトリ５５を
設定する項目欄、４６はその他の情報を設定する項目欄
である。また、図３において、５６は改修後のトランス
レータを実行した際に、正規で改修であれば出力される
であろう期待値を格納した期待値格納ディレクトリであ
る。
たテスト報告書入力画面、４１はトランスレータ名を設
定する項目欄、４２はテスト結果報告書テンプレート
（テスト手順書）５０での入力データ格納ディレクトリ
５２を設定する項目欄、４３はテスト結果報告書テンプ
レート５０での出力データ格納ディレクトリ５３を設定
する項目欄、４４はテスト結果報告書テンプレート５０
でのテスト項目５１において、新規につけ加えられた入
力データ格納ディレクトリ５４（図３において、usr/V
2.0.0）を設定する項目欄である。４５はテスト結果報
告書テンプレート５０でのテスト項目５１において、新
規につけ加えられた出力データ格納ディレクトリ５５を
設定する項目欄、４６はその他の情報を設定する項目欄
である。また、図３において、５６は改修後のトランス
レータを実行した際に、正規で改修であれば出力される
であろう期待値を格納した期待値格納ディレクトリであ
る。
【００２２】６０はテスト結果比較部３５の比較結果６
１が記録されたテスト結果報告書である。図５におい
て、７１はデータ保管部２２内での最上位の階層に位置
する親ディレクトリｕｓｒ、７２はこの親ディレクトリ
ｕｓｒ７１の一段下層に位置するディレクトリV1.0.0、
７３は同じくこの親ディレクトリｕｓｒ７１の一段下層
に位置するディレクトリV2.0.0である。このディレクト
リV1.0.0７２は改修前トランスレータ３２に関するファ
イルが格納されているものであり、ディレクトリV2.0.0
７３はディレクトリV1.0.0７２に格納されているトラン
スレータに対して改修された場合に新規に作成されたデ
ィレクトリである。
１が記録されたテスト結果報告書である。図５におい
て、７１はデータ保管部２２内での最上位の階層に位置
する親ディレクトリｕｓｒ、７２はこの親ディレクトリ
ｕｓｒ７１の一段下層に位置するディレクトリV1.0.0、
７３は同じくこの親ディレクトリｕｓｒ７１の一段下層
に位置するディレクトリV2.0.0である。このディレクト
リV1.0.0７２は改修前トランスレータ３２に関するファ
イルが格納されているものであり、ディレクトリV2.0.0
７３はディレクトリV1.0.0７２に格納されているトラン
スレータに対して改修された場合に新規に作成されたデ
ィレクトリである。
【００２３】次に動作について説明する。図６はこの発
明の実施の一形態によるトランスレータ検証装置の全体
の動作手順を示すフローチャート、図７はこの発明の実
施の一形態によるトランスレータ検証装置の一部の動作
手順を示すフローチャートである。改修後トランスレー
タ３４の機能が正しく動作するか否かを検証する場合、
まず、予めＣＲＴ２５に表示されたテスト報告書入力画
面４０の各項目欄４１〜４６に対して情報を入力し、図
３に示すようなテスト結果報告書テンプレート５０を作
成する（ステップＳＴ１）。このテスト結果報告書テン
プレート５０の作成後、同じく入力処理部２６を介して
トランスレータ実行用制御データの格納ファイルを指定
すると共に、テスト結果６１を記述したテスト結果報告
書６０を紙に出力するか否かを設定する（ステップＳＴ
２）。
明の実施の一形態によるトランスレータ検証装置の全体
の動作手順を示すフローチャート、図７はこの発明の実
施の一形態によるトランスレータ検証装置の一部の動作
手順を示すフローチャートである。改修後トランスレー
タ３４の機能が正しく動作するか否かを検証する場合、
まず、予めＣＲＴ２５に表示されたテスト報告書入力画
面４０の各項目欄４１〜４６に対して情報を入力し、図
３に示すようなテスト結果報告書テンプレート５０を作
成する（ステップＳＴ１）。このテスト結果報告書テン
プレート５０の作成後、同じく入力処理部２６を介して
トランスレータ実行用制御データの格納ファイルを指定
すると共に、テスト結果６１を記述したテスト結果報告
書６０を紙に出力するか否かを設定する（ステップＳＴ
２）。
【００２４】そして、トランスレータ検証装置２１は、
テスト結果報告書６０の作成を行うか否かを判断し（ス
テップＳＴ３）、テスト結果報告書６０を紙に出力する
ように設定された場合には、テスト結果報告書テンプレ
ート５０の記述に基づいてテストが実行され、テスト実
行後、新規のテスト結果報告書６０が出力される。この
詳しい動作手順については、図７のフローチャートを用
いて説明する。まず、テスト結果報告書テンプレート５
０からデータを１行ずつ読み込み、以下の処理を行う。
テスト番号，テスト項目５１，入力データ格納ディレク
トリ５２，出力データ格納ディレクトリ５３，および期
待値格納ディレクトリ５６を読み込む（ステップＳＴ１
１）。
テスト結果報告書６０の作成を行うか否かを判断し（ス
テップＳＴ３）、テスト結果報告書６０を紙に出力する
ように設定された場合には、テスト結果報告書テンプレ
ート５０の記述に基づいてテストが実行され、テスト実
行後、新規のテスト結果報告書６０が出力される。この
詳しい動作手順については、図７のフローチャートを用
いて説明する。まず、テスト結果報告書テンプレート５
０からデータを１行ずつ読み込み、以下の処理を行う。
テスト番号，テスト項目５１，入力データ格納ディレク
トリ５２，出力データ格納ディレクトリ５３，および期
待値格納ディレクトリ５６を読み込む（ステップＳＴ１
１）。
【００２５】ここで、期待値格納ディレクトリ５６が空
白の場合に、従来機能のテストを実行するか、今回の改
修作業により新規に追加された機能のみのテストを実行
するかを設定することができるが、従来機能のテストを
実行する場合（ステップＳＴ１２）、入力データ格納デ
ィレクトリにある入力ファイル（コントロールファイ
ル，テストスペックファイル，テスタ制限値ファイルな
ど）を入力データとして改修後トランスレータを実行す
る（ステップＳＴ１３）。次に、実行し得られたテスト
パターンとメインプログラムについて、出力データ格納
ディレクトリのテストパターンとメインプログラムとを
比較する（ステップＳＴ１４）。その結果、テスト番
号，テスト項目５１，入力データ格納ディレクトリ５
２，出力データ格納ディレクトリ５３，および期待値格
納ディレクトリ５６、そして、テスト結果（ＯＫあるい
はＮＧ）をテスト結果報告書６０に記述して出力する
（ステップＳＴ１８）。
白の場合に、従来機能のテストを実行するか、今回の改
修作業により新規に追加された機能のみのテストを実行
するかを設定することができるが、従来機能のテストを
実行する場合（ステップＳＴ１２）、入力データ格納デ
ィレクトリにある入力ファイル（コントロールファイ
ル，テストスペックファイル，テスタ制限値ファイルな
ど）を入力データとして改修後トランスレータを実行す
る（ステップＳＴ１３）。次に、実行し得られたテスト
パターンとメインプログラムについて、出力データ格納
ディレクトリのテストパターンとメインプログラムとを
比較する（ステップＳＴ１４）。その結果、テスト番
号，テスト項目５１，入力データ格納ディレクトリ５
２，出力データ格納ディレクトリ５３，および期待値格
納ディレクトリ５６、そして、テスト結果（ＯＫあるい
はＮＧ）をテスト結果報告書６０に記述して出力する
（ステップＳＴ１８）。
【００２６】一方、今回の改修作業により新規に追加さ
れた機能のみのテストを実行する場合（ステップＳＴ１
５）、入力データ格納ディレクトリにある入力ファイル
（コントロールファイル，テストスペックファイル，テ
スタ制限値ファイルなど）を入力データとして改修後ト
ランスレータの新規に追加された機能のみを実行する
（ステップＳＴ１３）。次に、実行し得られたテストパ
ターンとメインプログラムについて、出力データ格納デ
ィレクトリのテストパターンとメインプログラムとを比
較する（ステップＳＴ１４）。その結果、テスト番号，
テスト項目５１，入力データ格納ディレクトリ５２，出
力データ格納ディレクトリ５３，および期待値格納ディ
レクトリ５６、そして、テスト結果（ＯＫあるいはＮ
Ｇ）をテスト結果報告書６０に記述して出力する（ステ
ップＳＴ１８）。
れた機能のみのテストを実行する場合（ステップＳＴ１
５）、入力データ格納ディレクトリにある入力ファイル
（コントロールファイル，テストスペックファイル，テ
スタ制限値ファイルなど）を入力データとして改修後ト
ランスレータの新規に追加された機能のみを実行する
（ステップＳＴ１３）。次に、実行し得られたテストパ
ターンとメインプログラムについて、出力データ格納デ
ィレクトリのテストパターンとメインプログラムとを比
較する（ステップＳＴ１４）。その結果、テスト番号，
テスト項目５１，入力データ格納ディレクトリ５２，出
力データ格納ディレクトリ５３，および期待値格納ディ
レクトリ５６、そして、テスト結果（ＯＫあるいはＮ
Ｇ）をテスト結果報告書６０に記述して出力する（ステ
ップＳＴ１８）。
【００２７】その後、ステップＳＴ６にジャンプし、全
処理が終了したら画面表示部２４に終了メッセージが表
示される。一方、ステップＳＴ３において、テスト結果
報告書６０を紙に出力しないように設定した場合には、
ステップＳＴ１１からステップＳＴ１８と同じ動作を実
行するが、今回の場合はテストの進行状況と結果がＣＲ
Ｔ画面２５に表示される。
処理が終了したら画面表示部２４に終了メッセージが表
示される。一方、ステップＳＴ３において、テスト結果
報告書６０を紙に出力しないように設定した場合には、
ステップＳＴ１１からステップＳＴ１８と同じ動作を実
行するが、今回の場合はテストの進行状況と結果がＣＲ
Ｔ画面２５に表示される。
【００２８】以上の説明で明らかなように、この実施の
形態によれば、改修後トランスレータ３４の検証を実行
する度に、テストすべきトランスレータ６とその入力デ
ータ及び出力データとがデータ保管部２２へ蓄積されて
ゆき、次回の検証時点で自動的に参照されるので、ＬＳ
Ｉテスタ装置のテストプログラムを自動的に生成する際
に、ＬＳＩの条件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすこ
とができ、テストパターンの不具合を容易に確認でき、
しかもテスト用のデータ管理も容易に行うことができる
効果がある。
形態によれば、改修後トランスレータ３４の検証を実行
する度に、テストすべきトランスレータ６とその入力デ
ータ及び出力データとがデータ保管部２２へ蓄積されて
ゆき、次回の検証時点で自動的に参照されるので、ＬＳ
Ｉテスタ装置のテストプログラムを自動的に生成する際
に、ＬＳＩの条件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすこ
とができ、テストパターンの不具合を容易に確認でき、
しかもテスト用のデータ管理も容易に行うことができる
効果がある。
【００２９】
【発明の効果】以上のように、請求項１記載の発明によ
れば、テストファイル設定手段により改修後のテストプ
ログラム自動生成装置のトランスレータの検証に必要な
テストパターンおよびテストプログラムを設定し、改修
後トランスレータ検証手段により設定されたテストパタ
ーンおよびテストプログラムが記述されたテスト手順書
に基づいて、改修後トランスレータを自動的に実行し、
その結果が予め設定された出力値と一致するか否かを検
証するように構成したので、ＬＳＩテスタ装置のテスト
プログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定
漏れやテスト仕様誤りをなくすことができる効果があ
る。
れば、テストファイル設定手段により改修後のテストプ
ログラム自動生成装置のトランスレータの検証に必要な
テストパターンおよびテストプログラムを設定し、改修
後トランスレータ検証手段により設定されたテストパタ
ーンおよびテストプログラムが記述されたテスト手順書
に基づいて、改修後トランスレータを自動的に実行し、
その結果が予め設定された出力値と一致するか否かを検
証するように構成したので、ＬＳＩテスタ装置のテスト
プログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定
漏れやテスト仕様誤りをなくすことができる効果があ
る。
【００３０】請求項２記載の発明によれば、テストファ
イル設定手段により改修後のテストプログラム自動生成
装置のトランスレータの検証に必要なテストパターンお
よびテストプログラムを設定し、改修後トランスレータ
検証手段により設定されたテストパターンおよびテスト
プログラムが記述されたテスト手順書に基づいて、改修
後トランスレータを自動的に実行し、その結果が予め設
定された出力値と一致するか否かを検証し、検証結果出
力手段により検証結果をテスト手順書の項目毎に出力す
るように構成したので、ＬＳＩテスタ装置のテストプロ
グラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定漏れ
やテスト仕様誤りをなくすことができるとともに、テス
トパターンの不具合を容易に確認できる効果がある。
イル設定手段により改修後のテストプログラム自動生成
装置のトランスレータの検証に必要なテストパターンお
よびテストプログラムを設定し、改修後トランスレータ
検証手段により設定されたテストパターンおよびテスト
プログラムが記述されたテスト手順書に基づいて、改修
後トランスレータを自動的に実行し、その結果が予め設
定された出力値と一致するか否かを検証し、検証結果出
力手段により検証結果をテスト手順書の項目毎に出力す
るように構成したので、ＬＳＩテスタ装置のテストプロ
グラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条件設定漏れ
やテスト仕様誤りをなくすことができるとともに、テス
トパターンの不具合を容易に確認できる効果がある。
【００３１】請求項３記載の発明によれば、テストファ
イル設定手段により改修後のテストプログラム自動生成
装置のトランスレータの検証に必要なテストパターンお
よびテストプログラムを設定し、改修後トランスレータ
検証手段により設定されたテストパターンおよびテスト
プログラムが記述されたテスト手順書に基づいて、改修
後トランスレータを自動的に実行し、その結果が予め設
定された出力値と一致するか否かを検証し、検証結果出
力手段により検証結果をテスト手順書の項目毎に出力
し、出力処理部によりトランスレータが改修される度に
テストパターンおよびテストプログラムのバージョン管
理を実施するように構成したので、ＬＳＩテスタ装置の
テストプログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条
件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすことができるとと
もに、テストパターンの不具合を容易に確認でき、テス
ト用のデータ管理も容易に行うことができる効果があ
る。
イル設定手段により改修後のテストプログラム自動生成
装置のトランスレータの検証に必要なテストパターンお
よびテストプログラムを設定し、改修後トランスレータ
検証手段により設定されたテストパターンおよびテスト
プログラムが記述されたテスト手順書に基づいて、改修
後トランスレータを自動的に実行し、その結果が予め設
定された出力値と一致するか否かを検証し、検証結果出
力手段により検証結果をテスト手順書の項目毎に出力
し、出力処理部によりトランスレータが改修される度に
テストパターンおよびテストプログラムのバージョン管
理を実施するように構成したので、ＬＳＩテスタ装置の
テストプログラムを自動的に生成する際に、ＬＳＩの条
件設定漏れやテスト仕様誤りをなくすことができるとと
もに、テストパターンの不具合を容易に確認でき、テス
ト用のデータ管理も容易に行うことができる効果があ
る。
【図１】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置を示す構成図である。
タ検証装置を示す構成図である。
【図２】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置の画面表示部を示す構成図である。
タ検証装置の画面表示部を示す構成図である。
【図３】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置の画面表示部のテスト結果報告書テンプレー
トを示す構成図である。
タ検証装置の画面表示部のテスト結果報告書テンプレー
トを示す構成図である。
【図４】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置のテスト結果報告書を示す構成図である。
タ検証装置のテスト結果報告書を示す構成図である。
【図５】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置のデータ保管部のファイル格納状態を示す構
成図である。
タ検証装置のデータ保管部のファイル格納状態を示す構
成図である。
【図６】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置の全体の動作手順を示すフローチャートであ
る。
タ検証装置の全体の動作手順を示すフローチャートであ
る。
【図７】 この発明の実施の一形態によるトランスレー
タ検証装置の一部の動作手順を示すフローチャートであ
る。
タ検証装置の一部の動作手順を示すフローチャートであ
る。
【図８】 従来のテストプログラム自動生成装置のトラ
ンスレータを検証する方法を示した構成図である。
ンスレータを検証する方法を示した構成図である。
５ テストプログラム自動生成装置、６ トランスレー
タ、２４ 画面表示部（テストファイル設定手段）、２
７ 出力処理部、３４ 改修後トランスレータ、３５
テスト結果比較部（改修後トランスレータ検証手段）、
３７ テスト結果報告書作成部（検証結果出力手段）、
５０ テスト結果報告書テンプレート（テスト手順
書）。
タ、２４ 画面表示部（テストファイル設定手段）、２
７ 出力処理部、３４ 改修後トランスレータ、３５
テスト結果比較部（改修後トランスレータ検証手段）、
３７ テスト結果報告書作成部（検証結果出力手段）、
５０ テスト結果報告書テンプレート（テスト手順
書）。
Claims (3)
- 【請求項１】 改修後のテストプログラム自動生成装置
のトランスレータの検証に必要なテストパターンおよび
テストプログラムを設定するテストファイル設定手段
と、このテストファイル設定手段により設定されたテス
トパターンおよびテストプログラムが記述されたテスト
手順書に基づいて、上記改修後トランスレータを自動的
に実行し、その結果が予め設定された出力値と一致する
か否かを検証する改修後トランスレータ検証手段とを備
えたトランスレータ検証装置。 - 【請求項２】 改修後のテストプログラム自動生成装置
のトランスレータの検証に必要なテストパターンおよび
テストプログラムを設定するテストファイル設定手段
と、このテストファイル設定手段により設定されたテス
トパターンおよびテストプログラムが記述されたテスト
手順書に基づいて、上記改修後トランスレータを自動的
に実行し、その結果が予め設定された出力値と一致する
か否かを検証する改修後トランスレータ検証手段と、こ
のトランスレータ検証手段の検証結果を上記テスト手順
書の項目毎に出力する検証結果出力手段とを備えたトラ
ンスレータ検証装置。 - 【請求項３】 改修後のテストプログラム自動生成装置
のトランスレータの検証に必要なテストパターンおよび
テストプログラムを設定するテストファイル設定手段
と、このテストファイル設定手段により設定されたテス
トパターンおよびテストプログラムが記述されたテスト
手順書に基づいて、上記改修後トランスレータを自動的
に実行し、その結果が予め設定された出力値と一致する
か否かを検証する改修後トランスレータ検証手段と、こ
のトランスレータ検証手段の検証結果を上記テスト手順
書の項目毎に記述し出力する検証結果出力手段と、上記
トランスレータが改修される度に上記テストパターンお
よびテストプログラムのバージョン管理を実施する出力
処理部とを備えたトランスレータ検証装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7198637A JPH0944369A (ja) | 1995-08-03 | 1995-08-03 | トランスレータ検証装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7198637A JPH0944369A (ja) | 1995-08-03 | 1995-08-03 | トランスレータ検証装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0944369A true JPH0944369A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16394527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7198637A Pending JPH0944369A (ja) | 1995-08-03 | 1995-08-03 | トランスレータ検証装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0944369A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006137126A1 (ja) * | 2005-06-21 | 2006-12-28 | Renesas Technology Corp. | 雛形プログラム管理サーバ、雛形プログラム管理システム及び雛形プログラム管理ネットワーク |
-
1995
- 1995-08-03 JP JP7198637A patent/JPH0944369A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006137126A1 (ja) * | 2005-06-21 | 2006-12-28 | Renesas Technology Corp. | 雛形プログラム管理サーバ、雛形プログラム管理システム及び雛形プログラム管理ネットワーク |
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