JPH09509187A - ニッケルおよび/または酸化ニッケルの気相からの析出方法、並びに安定な蒸発特性を有する新規なニッケル化合物 - Google Patents
ニッケルおよび/または酸化ニッケルの気相からの析出方法、並びに安定な蒸発特性を有する新規なニッケル化合物Info
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- C07F15/00—Compounds containing elements of Groups 8, 9, 10 or 18 of the Periodic Table
- C07F15/04—Nickel compounds
- C07F15/045—Nickel compounds without a metal-carbon linkage
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
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Abstract
(57)【要約】
蒸発させようとするニッケル化合物としてNi(β−ジケトネート)2.Lm[式中、Lは有機(ポリ)エーテルおよび/または(ポリ)アミンでありそしてmは1または2であり且つ1個のニッケルイオンと結合された配位子Lの数を示す]を使用する、酸化ニッケルおよび/またはニッケルの気相からの析出方法が記載されている。Ni(R1R2R3C-CO-CR4-CO-R5R6R7)2.R8-A1-(CH2-CH2-A2)n-R9[式中、R1およびR7は互いに独立してH、CH3またはCpF2p+1を表し、ここでpは0〜3の数であり、そしてR2、R3、R4、R5およびR6は互いに独立してH、CH3、FまたはCF3を表し、A1およびA2は互いに独立してOまたはNR10を表し、R8、R9およびR10は各々水素原子またはC1−C3アルキル基。そして特にメチル基を表し、それによりR8およびR9が結合されてC2−C3アルキレン基を形成してもよく、そしてnは1〜3の数であり、但し条件として、A1およびA2がNR10を表すなら、nは2である]タイプの新規なニッケル化合物も記載されている。
Description
【発明の詳細な説明】
ニッケルおよび/または酸化ニッケルの気相からの析出方法、並び
に安定な蒸発特性を有する新規なニッケル化合物
本発明は、ニッケル化合物の液相もしくは固相からの蒸発、並びにその後の気
相における分解および基質上での気相からの析出、または基質上での気相からの
吸着およびその後の分解による、基質上でのニッケルおよび/または酸化ニッケ
ルの析出方法に関する。
このタイプの方法は、液相からより良好でさえある固相からの安定な蒸発特性
を示す揮発性ニッケル化合物の使用を必要とする。このタイプの方法には、例え
ば化学的蒸発析出(CVD)法が含まれるが、それに限定されない。CVDは多
くの変法で知られており、その中では有機金属(OM)CVDとしても知られて
いる金属−有機MO−CVDが第一の例として挙げられる。この変法では、金属
が炭素、酸素、窒素または他の原子を介して有機基と結合されているような金属
原子(形式的には変化しない)または金属イオン(形式的には変化した、例えば
2価の正に荷電したニッケルイオン)の揮発性化合物が使用される。考察中の場
合には、該有機基を電気的に中性または負に荷電させて金属上の正の電荷と均衡
をとることができる。CVDの他に、特別な態様のために気相エピタクシーVP
Eという語も使用される。さらに、ニッケル化合物の気相分解により多孔性基質
に酸化ニッケルおよび/またはニッケルをCVIすなわち化学的蒸気浸潤により
に含浸させることもできる。
ニッケルまたは酸化ニッケルは最近は気相中でのまたは気相からのニッケルテ
トラカルボニルNi(CO)4の分解により工業的に大規模に製造される。CV
D用途のためのNi(CO)4の使用はBell Telephone Lab
oratoriesの米国特許第2,759,848号にM.V.Sullivanによりすでに記載
されている。ニッケルテトラカルボニルは、特に世界最大のニッケル製造業者で
あるINCO(例えばカナダおよび英国における、インターナショナル・ニッケル・
カンパニー)により、ニッケルの製造用に工業的に大規模に使用されている。し
かしながら、この化合物は非常に有毒でありそして人間との接触は直ちにまたは
後になって有害である。これらの理由のために、Ni(CO)4を使用する工業
的方法はこの毒素付近での人間の存在が避けられる完全に自動化された方法での
み実施することができる。工程時間中にこのNi(CO)4の使用に対しても制
限があること並びに揮発性であり且つ安定な毒性の低い代用物に関する要望が多
くの方法にとって増大するであろうことは予測できる。
他のニッケル化合物もこの目的のために使用されている。例えば、G.T.Stau
t、D.C.Driscoll、P.A.Dowben、S.BanfussおよびM.Gradaはビス(シクロ
ペンタジエニル)ニッケルの使用をThin Solid Films 153(1987)p.421に記載
している。しかしながら、この化合物は大気酸素および効率的なCVD方法に必
要な水蒸気に関する安定性を有していない。ある研究者らは中性配位子を含まな
いニッケルビス(β−ジケトネート)類をNi(acac)2と共に使用するこ
と(例えばK.Sugimoto、M.Seto、S.TanakaおよびN.Hara,Journal of the E
lectrochemical Society 140(1993)p.1586)、または中性配位子として水をN
i(hfac)2.2H2Oと共に使用すること(H.L.van HemertL.B.Spendlo
veおよびR.E.Sievers、同一文献、112(1965)pp.1123-1126)を試みた[ac
ac=アセチルアセトネート;hfac=ヘキサフルオロアセチルアセトネート
]。Ni(hfac)2.3H2Oを用いる以
下の実施例2に記載されているように、水とのこれらのニッケル錯体は欠点を有
しており、錯体中の水の量を安定して保つことは容易ではなく、そしてその結果
として揮発度が安定でない。さらに、高温における蒸発中および蒸発後に、水は
ニッケル錯体の加水分解およびその結果としての分解、すなわち不安定な蒸発特
性、を生ずる。
蒸発中の良好な揮発度および安定性の指定条件に合致するニッケル化合物群が
今回見いだされた。本発明によると、タイプ1:
Ni2+(β−ジケトネート)2.Lm
[式中、β−ジケトネートは記号Hacacを有するアセチルアセトン
ら水素イオンH+を除去することにより得られるアニオン、すなわち残存する負
に荷電されたacac-基、或いはアセチルアセトンから有機基または弗素原子
による水素原子H1および/またはH2の置換により誘導される化合物のアニオン
であり、
Lはニッケルイオン用の配位子として作用しそして酸素原子をエーテル−O−の
形状で含有するが、好適には窒素原子をアミン−N<の形状で含有する中性有機
分子であり、
mは1個のNiイオン当たりの結合された分子Lの数を示す整数または分数であ
る]
の金属−有機ニッケル化合物が使用される。本発明に従う化合物では、以下に示
されている理由のために一般的にmは1である。
ここで使用される略語は下記の意味を有する:
acac=アセチルアセトネート、Hacac:アセチルアセトン(2,4−ペ
ンタンジオン)から誘導される、
hfac=ヘキサフルオロアセチルアセトネート、Hhfac=ヘキサフルオロ
アセチルアセトン=1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ペンタンジオ
ンから誘導される、
tfac=トリフルオロアセチルアセトネート、Htfac=トリフルオロアセ
チルアセトン=1,1,1−トリフルオロ−2,4−ペンタンジオンから誘導され
る、
TMEDA=N,N,N′,N′−テトラメチルエチレンジアミン、
PMDETΛ=N,N,N′,N′′,N′′−ペンタメチルジエチレントリアミン
、
ンテトラミン、
DME=ジメトキシエタン、
diglyme=ジエチレングリコールジメチルエーテル。
例えばY.Saito、T.TakeushiおよびY.FukudaによりBull.Chem.Soc.Japan
,54(1981),p.196に記載されているようなタイプ1の2、3の化合物がそれ
自体すでに知られている。この群の代表的なものがある程度の揮発度を有するこ
とも示唆されている。しかしながら、現在まで、酸素または窒素を指示された形
状で含有するものを含む中性分子Lがゆるく結合されているため熱による蒸発で
該配位子Lがニッケルを含有する分子から解離の結果として部分的または完全に
失われることが常に観察されおよび/または推定されていた。
加熱による蒸発中の分解機能が該気相方法による基質上でのニッケルの析出に
関して相当な実際的な問題を生ずる。結局、できるだけ一定に保たれる条件下で
均一な被覆用の金属−有機出発物質の完成品を使用で
きるようにするために、この産業では金属化合物に関する一定速度の蒸発が望ま
れている。現在、蒸発中に分解する出発物質では、分解生成物の蒸発特性が出発
物質のものと異なるためこれは不可能である。一般的には、分解生成物、例えば
Ni(acac)2.LからのNi(acac)2、は出発物質より劣った蒸発機
能を有する。この分解時の機能はこれらの場合に関するMO−CVDの工業的応
用方法においてもそのままである。
新規な揮発性金属−有機ニッケル出発物質(「前駆体」)を捜すための第二の
重要な理由は、本発明に従い使用される一部の既知の化合物は蒸発時には安定で
あるが蒸発温度でまだ固体として生ずることである。CVDおよび関連技術では
、固体の一定で且つ迅速な蒸発は液体のものより達成が技術的に難しく、従って
費用もかかることが知られている。固体の結晶寸法および形状における差も一定
で且つ調節可能な蒸発の妨害となる。本発明は、驚異的に良好な安定性と高温に
おける高い揮発度を兼備する化合物の発見に基づいている。さらに、好適には低
い融点を有する化合物が使用されるため、それらは蒸発温度においてすでに液体
である。このタイプの機能例は下記の化合物により示される:
Ni(hfac)2.TMEDA(化合物1a)は安定な蒸発特性を与えるが、製
造純度により127−128℃の融点を有する。良好な蒸発速度は固体から約1
00℃において得られる。Ni(hfac)2.PTMEDA(化合物1b)はN
i化合物1aと同じ利点を有するが、その他に室温以上(33−35℃)におい
ては少しだけ融解し、従って100℃では液体であり、それは他の利点を与える
。
これらの物質は気相から蒸発温度よりかなり高い温度において熱分解により分
解しそして制限なしの安定性を有することが見いだされた。こ
の分解中に酸化条件下で酸化ニッケルが析出し、そして還元条件下で分解中また
は分解後にニッケルが析出する。酸化条件は多様な条件下で発生させることがで
きるが、その最も簡単な形態は分解前または分解中の気体混合物に対する気体状
酸素の添加である。還元条件は本発明に従いまたは文献に従い多くの相当する方
法で、例えば分解工程前、工程中または工程後に気体状水素を加えることにより
、発生させることができる。
本発明に従い使用できるニッケル化合物は、例えば、Ni2+と下記の群の荷電
された配位子および中性配位子との錯体である:
a)負に荷電されたβ−ジケトネート配位子:
式2:
[R1R2R3C−CO−CR4−CO−R5R6R7]- 2
[式中、R1およびR7は互いに独立してH、CH3、またはCpF2p+1を表し、こ
こでpは0〜3の数であり、そしてR2、R3、R4、R5およびR6は互いに独立
してH、CH3、FまたはCF3を表す]
に従うもの。
中性配位子Lの安定化効果およびNi錯体の揮発度はβ−ジケトネート中の弗
素原子数の増加につれて増加するため、式2において基R1R2R3Cは好適には
C1−C3ペルフルオロアルキル基を表すことが見いだされた。
例えば、下記の2,4−ペンタンジオネート類の誘導体が効果的なニッケル錯
体中のβ−ジケトネート配位子として適することが証明された:
2,4−ペンタンジオネート(acac)、トリフルオロペンタンジオネート(
tfac)、ヘキサフルオロペンタンジオネート(hfac)、1,1,1,2,2
,3,3−ヘプタフルオロ−7,7−ジメチル−4,6−オ
クタンジオネート(hfod)、およびジピバロイルメタネート(dpm)とし
ても知られる2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオネート(tmh
d)。
b)中性配位子L:
これらは少なくとも1個の酸素もしくは窒素原子を有する化合物、例えばジエチ
ルエーテル、トリメチルアミンもしくはピリジンであるか、または1個以上の酸
素および/もしくは窒素原子を有しそれらの各々が2つの炭素原子を介して結合
されている化合物である。後者の群の例はビピリジルおよび1,10−フェナン
トロリンであるが、α−位置にアミノメチルまたはアルコキシメチル基を有する
窒素を含有する環、例えば2−ジメチルアミノピリジンもしくは2−(メトキシ
メチル)ピペリジンでもある。しかしながら、式3:
R8−A1−(CH2−CH2−A2)n−R9 3
[式中、A1およびA2は互いに独立してOまたはNR10を表し、R8、R9および
R10は各々水素原子またはC1−C3アルキル基そして特にメチル基を表し、それ
によりR8およびR9が結合されてC2−C3アルキレン基を形成してもよく、そし
てnは0−4、特に1−3の数である]
に従う化合物が好ましい。
好適には、式3において、A2および場合によりA1はN−CH3を表し、そし
てR8およびR9はCH3を表す。
2個の荷電されたhfac配位子がNi上で使用される時には、タイプCH3
O(CH2CH2O)nCH3のポリエチレンエーテル類、例えばジメトキシエタ
ンDMA(n=1)およびdiglyme(n=2)、またはタイプ(CH2C
H2O)n+1、例えばジオキサン、トリオキソナンお
よびテトラオキサシクロドデカンの添加でNi(hfac)2基の安定化効果お
よび比較的高い揮発性が見られる。しかしながら、対応する過メチル化されたポ
リエチレンアミン類(CH3)N[CH2CH2N(CH3)]n(CH3)、例えば
n=1(TMEDA)もしくは2(PMDETA)、または[CH2CH2N(C
H3)]n+1、例えばトリメチルトリアゾナン(n=2)ではこれらの効果はさら
に大きい。前記のように、n=2である窒素化合物(化合物1b)に関しては低
い融点が得られるため、この化合物は本発明の目的に特に適する。n=1または
2である該窒素配位子は商業的に入手できるため、最近ではこれらが好ましく、
特にn=2のものが好ましい。挙げられている酸素を含有する配位子は対応する
窒素化合物(nに関する同じ値を有する)より少ない程度の安定化効果を示す。
他方で、酸素を含有する配位子は増加した揮発度をもたらす。それらの比較的安
い価格のために、これらのニッケル錯体、例えばNi(hfac)2.digly
meまたはNi(tfac)2.diglymeを使用することが多くの用途にと
って有利でもある。さらに、これらのポリエーテル類に関しては、比較的高いn
値(3もしくはそれ以上)を有する化合物は対応するペルメチル化されたポリエ
チレンアミン類より容易に且つより安い価格で得られる。エーテル−アミン類、
例えばエタノールアミン、ジエタノールアミン、オキシビスエチルアミン、アミ
ノエチルアミノエタノール、アミノエトキシエタノールおよびオキサジアゾナン
の部分的または完全にアルキル化された誘導体も本発明に従い使用することがで
きる。
本発明によると、条件により低い沸点を有するかまたは蒸発工程中に蒸発する
かまたは高い沸点を有しておりそして同様に蒸発しない有機溶
媒中に該ニッケル錯体、例えばNi(hfac)2.TMEDAを含む溶液を使用
することもできる。第一のタイプの溶媒の例は1価エーテル類、アミン類および
ジエーテル類、例えばDMEである。これらの溶媒を使用すると、酸素を含有し
その結果として酸化性の雰囲気をNi出発物質の気相分解中に発生させることも
できる。逆に、例えば、高分子量(nに関する高い値)を有するポリエーテルは
良好な安定化および蒸発のための溶媒として作用するがそれ自体は蒸発しない。
増加した揮発度を有する本発明に従う化合物の良好な安定化効果を説明するた
めには、中性配位子Lがニッケルイオン上の占領されていない配位部位を充填す
ると仮定され、その部位はさもないと無作為の不純物(例えば水)によりまたは
他のニッケルを含有する分子との自己反応により充填されてしまいそして安定性
および揮発度に対して調節できない方法でもしくは望ましくない方法で影響を与
えるであろう。この説明によると、ここに挙げられている錯体はできるだけ十分
に飽和したニッケル配位を示し、ニッケルの最高配位数は6(β−ジケトネート
の4つの酸素部位および配位子Lに関する2つの他の部位)であることが文献で
仮定されている。
この安定化の結果として、特に化合物1aおよび1bは空気または水(水蒸気
)の影響に長期間耐えることが見いだされた。このため、それらは本発明の目的
に非常に適する。
上記の出発物質を使用するニッケルおよび/または酸化ニッケルの析出方法は
、調節可能で且つできるだけ望ましくは一定の蒸発速度における一般式Ni(β
−ジケトネート)2.Lmの上記のニッケル化合物の固相または液相からの蒸発、
並びにその後の対応する化合物であるNi(β
−ジケトネート)2に関する増加した揮発度の結果として、一定の高温における
または所望する温度範囲内での、酸化条件下における酸化ニッケル生成のための
析出中および析出後のまたは還元条件下でのニッケルもしくはニッケルと酸化ニ
ッケルとの混合物の生成のための析出中および/もしくは析出後の該化合物の気
相における熱分解または他の分解により、行われる。このタイプの方法に関する
条件は当技術の専門家には既知である。
所望するなら、本発明に従う析出をニッケルの他に別の金属、例えばジルコニ
ウムおよび/またはイットリウム、を用いて行うこともできる。このタイプの金
属に関しては、上記の如く、金属とβ−ジケトネート配位子および/または中性
配位子Lとの錯体を使用することができる。
本発明は上記の如くニッケルおよび/または酸化ニッケルの化学的蒸気析出方
法で使用できる新規なニッケル錯体にも関する。新規な化合物は一般式4:
Ni(R1R2R3C-CO-CR4-CO-R5R6R7)2.R8-A1-(CH2-CH2-A2)n-R9 4
[式中、R1およびR7は互いに独立してH、CH3またはCpF2p+1を表し、ここ
でpは0〜3の数でありそしてR2、R3、R4、R5およびR6は互いに独立して
H、CH3、FまたはCF3を表し、
A1およびA2は互いに独立してOまたはNR10を表し、
R8、R9およびR10は各々水素原子またはC1−C3アルキル基、そして特にメチ
ル基を表し、それによりR8およびR9が結合されてC2−C3アルキレン基を形成
してもよく、そしてnは1〜3の数であり、但し条件として、A1およびA2がN
R10を表し且つR8がC1−C3アルキルを表すなら、nは2である]
を有する。
式4において基R1R2R3CがC1−C3ペルフルオロアルキル基を表しそして
nが2である新規なニッケル化合物が特に好ましい。新規なニッケル化合物の一
例はNi(hfac)2.PMDETAである。
上記のニッケル化合物は、例えばマイクロエレクトロニクス分野の、噴霧熱分
解、浸漬コーテイングおよびゾル−ゲル析出における使用にも同様に適する。
実施例1
ニッケル化合物1a−1eの製造
使用されるニッケル化合物の製造例として下記の方法が示されるが、それらは
選択される製造条件を制限するものでない。
1aはTMEDA(11.12g=95.88ミリモル)から製造され、それを
Ni(hfac)2.3H2O(25.25g=47.94ミリモル)のトルエン(
250ml)中の撹拌された懸濁液に加えた。残った暗緑色の濁った溶液を乾燥
硫酸マグネシウムの存在下で0.5時間撹拌しそして次に濾過しそして蒸発乾固
した。残渣をトルエン(75ml)中に溶解させそしてこの溶液を再び蒸発乾固
した。127−128℃の融点を有する緑色の結晶性生成物1a(27.42g
=97.2%)がこれから得られた。C16H18N2O4F12Niに関する元素分析
:実測値(計算値)昇華後:C32.66(32.61)32.67;H3.18(
3.06)3.18;N4.76(4.76)4.71%。1H NMR分光法 δ(CH
)8.22(一重項);δ(CH 2N)48および93(広い);δ(CH 3N
)85および109(広い)。19F NMR:δ(CF 3)139.2および14
1(一重項)。化学シフトδはバリアン・ユニティ
400機械上で溶媒C6D6中で基準としてテトラメチルシランTMS(1H)ま
たはアセトン中の外部CFCl3(19F)を用いてppmで測定された。
1aは低温における揮発度の概略指示値である60℃/0.05mmHgにお
いて昇華させることができる。昇華物は正しい元素分析(測定誤差<0.2%)
を与えた。
1bは1.05g=2.0ミリモルのNi(hfac)2.3H2Oおよび0.35
g=2.0ミリモルのPMDETAから同様にして1.21gの収量=93.8%
で製造された:緑色、33−35℃の融点を有する。C19H25N3O4F12Niに
関する元素分析:順番に実測値(計算値)および昇華後:C35.43(35.3
1)35.33;H4.00(3.87)3.84;N6.49(6.51)6.63
%。1bは70℃/0.03mmHgで昇華する。
Ni(hfac)2.DME(1c)は対応して1.05g=2.0ミリモルのN
i(hfac)2.3H2Oおよび0.72g=8.0ミリモルのDMEから1.05
gの収量=93.3%で製造された;55−56℃の融点を有する緑色の固体。
C14H12O6F12Niに関する元素分析:実測値(計算値)昇華後:C29.82
(29.86)29.64;H2.26(2.13)2.16%。1cは50℃/0.
01mmHgで昇華する。
Ni(hfac)2.diglyme(1d)は対応して1.05g=2.0ミリ
モルのNi(hfac)2.3H2Oおよび0.27g=2.0ミリモルのdigl
ymeから1.05gの収量=86.6%で緑色のシロップ剤状液体の形態で製造
された。C16H16O7F12Niに関する元素分析:実測値(計算値):C31.6
6(31.65);H2.81(2.64)
%。
Ni(hfac)2.diglyme.H2O(1e)は1dを空気中に放置する
ことにより得られた。ペンタンからの再結晶化後に、1eは56.1%の収率で
単離された;緑色、75−77℃の融点を有する。C16H18O8F12Niに関す
る元素分析:実測値(計算値)昇華後:C30.53(30.73)30.66;
H3.15(2.88)3.31%。1eは75℃/0.03mmHgで昇華する。
1eの製造および使用は、diglyme化合物1dが吸湿性でありそして空
気露呈で1eにゆっくり転化することことを示した。両方の化合物とも揮発性で
ありそしてそのままで本発明の目的のために使用することができる。しかしなが
ら、1dが水(水蒸気)と接触する時に得られる1dと1eの混合物は一定の揮
発度を有していない。
実施例2
酸化ニッケル析出
以下の実験では、NiOの析出例として新規な出発物質を用いる条件が記載さ
れているが、それらは使用する化合物での析出を限定するものではない。
これらの実験は垂直なスルーフロー(through-flow)のある熱壁反応器の中で行
われた。この反応器中で成長速度を反応器温度の関数として測定した。Ni析出
はN2およびO2(1:1)からなる混合気体の中で10mmHgの反応器圧力下
で行われ、これらの条件下で黄色/緑色の酸化ニッケルが製造された。
比較のために、製造されそして精製されたが市販の化合物であるNi(hfa
c)2.2H2O 1fを用いる析出も行った。この化合物では、
化合物1fは気相で分解して水を放出し、それが異なる揮発度および分解機能を
有する化合物てあるNi(hfac)2.(2−x)H2O(O<x<2)を与える
ため、蒸発および分解後に気相中でまたは気相から種々の温度において正確な析
出速度を測定することができなかった。予め水の全てを除去する試みは成功しな
かった。
しかしながら、例えば1a−dの如き本発明に従う化合物の1種を使用すると
これらの問題は生じなかった。
図1には、800±5℃の基質温度における個別の錯体Ni(hfac)2.T
MEDA 1bおよびNi(hfac)2.2H2O 1fに関する逆蒸発温度の関
数として析出速度が示されている。
実施例3
金属酸化物の混合析出
ここにはニッケル「前駆体」と同時に蒸発および分解しそしてその結果として
単一結晶相であってもまたは非晶質相であってもよい混合金属酸化物を生成する
揮発性金属化合物の混合の結果として存在する多数の混合可能性の特徴である実
施例が記載されている。特に、他の金属出発物質の同時蒸発および分解により、
例えばMO−CVDにより、他の金属酸化物を同時に共析出することができる。
これは、ニッケル化合物に匹敵する温度における各々Zr(tfac)4または
Zr[N(C2H5)2]4およびY(tmhd)3の蒸発および分解により酸化ジ
ルコニウムおよび/または酸化イットリウムを析出させることにより示されてお
り、それにより例えば酸化ジルコニウムをそれ自体でまたは酸化イットリウムと
混合して(単一結晶相で)製造することができる。この方法では、上記のMO−
CVD法を用いて相対的に短い時間内に析出する例えば10μ
mの層厚さを有する多孔性陽極がSOFC(固体酸化物燃料電池)用に製造され
、その陽極は1000℃(最近のSOFCの操作温度)における電気化学的測定
によると、固体YSZを基質および電解質として使用して水素を半導体電池に供
給する時に良好な陽極機能を与える。
析出は沈滞流のある垂直の熱壁反応器の中で行われ、そこでは粒子が粒子−沈
澱(PP−)MO−CVD法により沈澱する。この反応器は三領域炉により加熱
された。該反応器は基質を含有しており、それは基質台(直径100mm)の上
に置かれ、それを水または気体により冷却することができた。出発物質を11.
5cmの長さを有する大きい射出ノズル(直径100mm)を通して注入した。
PP−MO−CVD法では、これらの寸法が56×56mm2の基質上で事実上
均質な析出を与える。使用された基質は8容量%の酸化イットリウムY2O3で安
定化された多結晶性酸化ジルコニウム(YSZ=イットリアで安定化されたジル
コニア)であった。
種々の「前駆体」の混合比を変えることにより、Zr/Y/Niの酸化物間の
析出比およびその結果として必要な金属酸化物の混合比を一般的に選択すること
ができる。これらの実験では、30%以下から50%以上までのニッケル含有量
がこれらのNi−またはNiO−YSZ混合物用に選択された。層の構造(密で
あるかまたは多孔性)は炉温度の選択により影響を受ける。これは反応器構造に
依存する。それ故、解放構造は850℃における析出で見られそして密な構造は
それより高い温度、例えば950℃で見られる。基質を冷却することにより、析
出速度をいわゆる熱泳動効果により増加させることができる。
実施例4
ニッケル析出
以下の実験は新規な出発物質を用いるNiの析出例として記載される。
これらの実験は垂直の沈滞冷壁反応器の中で行われた。多孔性基質が該反応器
中で析出しそしてCVI(化学的蒸気浸潤)によりニッケルコーテイングが与え
られた。使用された出発化合物は100℃で蒸発するNi(hfac)2.PMD
ETA 1bであった。基質台は400または500℃に保たれ、前駆体が分解
した。反応はN2−H2流(1:1)の中でそして0.5mmHgの反応器圧力下
で起きた。全ての場合にNi0が析出し、それは多孔性基質全体にわたり均質に
広がった。使用された多孔性担体は8容量%の酸化イットリウムY2O3で安定化
された多結晶性酸化ジルコニウムZrO2であった。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE,
DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M
C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG
,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN,
TD,TG),AP(KE,MW,SD,SZ,UG),
AM,AT,AU,BB,BG,BR,BY,CA,C
H,CN,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB
,GE,HU,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,
LK,LR,LT,LU,LV,MD,MG,MN,M
W,MX,NL,NO,NZ,PL,PT,RO,RU
,SD,SE,SI,SK,TJ,TT,UA,US,
UZ,VN
(72)発明者 スペー, カロルス・イダ・マリア・アン
トニウス
オランダ・エヌエル−3401テイエム イセ
ルスタイン・クロムペンマカー4
(72)発明者 マツコル, アドリアヌス
オランダ・エヌエル−3971ジエイデイ ド
リーベルゲン・ブントラーン36
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.蒸発させようとするニッケル化合物として一般式1: Ni(β−ジケトネート)2.Lm 1 [式中、Lは有機(ポリ)エーテルおよび/または(ポリ)アミンであり、そし てmは1または2であり且つ1個のニッケルイオンと結合された配位子Lの数を 示す] の化合物を使用することを特徴とする、固相または液相からのニッケル化合物の 蒸発、並びにその後の酸化条件下での酸化ニッケル生成のための析出中および析 出後の、または還元条件下でのニッケルもしくはニッケルと酸化ニッケルとの混 合物生成のための析出中および/もしくは析出後の、気相における分解による、 酸化ニッケルおよび/またはニッケルの析出方法。 2.ニッケル化合物であるβ−ジケトネートが式2; [R1R2R3C−CO−CR4−CO−R5R6R7] 2 [式中、R1およびR7は互いに独立してH、CH3、またはCpF2p+1を表し、こ こでpは0〜3の数であり、そしてR2、R3、R4、R5およびR6は互いに独立 してH、CH3、FまたはCF3を表す] を有することを特徴とする、請求の範囲第1項記載の方法。 3.式2においてR1R2R3CがC1−C3ペルフルオロアルキル基を表すことを 特徴とする、請求の範囲第2項記載の方法。 4.β−ジケトネートが1,1,1−トリフルオロ−2,4−ペンタンジオネート (tfac)、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ペンタンジオネー ト(hfac)、1,1,1,2,2,3,3−ヘプタフルオロ−7,7−ジメチル− 4,6−オクタンジオネート(hfod)、2, 2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオネート(tmhd)または2,4 −ペンタンジオネート(acac)であることを特徴とする、請求の範囲第2ま たは3項に記載の方法。 5.配位子Lが式3: R8−A1−(CH2−CH2−A2)n−R9 3 [式中、A1およびA2は互いに独立してOまたはNR10を表し、R8、R9および R10は各々水素原子またはC1−C3アルキル基そして特にメチル基を表し、それ によりR8およびR9が結合されてC2−C3アルキレン基を形成してもよく、そし てnは1〜3の数でありそしてmは数1である] を有することを特徴とする、請求の範囲第1−4項のいずれかに記載の方法。 6.式3において、A1およびA2がN−CH3を表しそしてR8およびR9がCH3 を表すことを特徴とする、請求の範囲第5項記載の方法。 7.式3においてnが2であることを特徴とする、請求の範囲第5または6項記 載の方法。 8.ニッケル化合物がニッケルビス(ヘキサフルオロペンタンジオネート)−ペ ンタメチルジエチレントリアミンであることを特徴とする、請求の範囲第7項記 載の方法。 9.1種もしくはそれ以上の他の金属または金属酸化物も析出される、請求の範 囲第1−8項のいずれかに記載の方法。 10.配位子Lを液相または気相においてニッケルビスジケトネートに加えるこ とによりニッケル化合物が工程中に製造されることを特徴とする、請求の範囲第 1−9項のいずれかに記載の方法。 11.一般式4: Ni(R1R2R3C-CO-CR4-CO-R5R6R7)2.R8-A1-(CH2-CH2-A2)n-R9 4 [式中、R1およびR7は互いに独立してH、CH3またはCpF2p+1を表し、ここ でpは0〜3の数でありそしてR2、R3、R4、R5およびR6は互いに独立して H、CH3、FまたはCF3を表し、 A1およびA2は互いに独立してOまたはNR10を表し、 R8、R9およびR10は各々水素原子またはC1−C3アルキル基。そして持にメチ ル基を表し、それによりR8およびR9が結合されてC2−C3アルキレン基を形成 してもよく、そしてnは1〜3の数であり、但し条件として、A1およびA2がN R10を表し且つR8がC1−C3アルキルを表すならnは2である] のニッケル化合物。 12.式4においてR1R2R3CがC1−C3ペルフルオロアルキル基を表しそし てnが2であることを特徴とする、請求の範囲第11項記載のニッケル化合物。
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| NL9400279A NL9400279A (nl) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | Werkwijze voor het deponeren van nikkel en/of nikkeloxide vanuit de gasfase, alsmede nieuwe nikkelverbindingen met stabiel verdampingsgedrag. |
| PCT/NL1995/000070 WO1995023155A1 (en) | 1994-02-23 | 1995-02-22 | Method for the deposition of nickel and/or nickel oxide from the gas phase, and novel nickel compounds having stable vaporisation characteristics |
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- 1995-02-22 JP JP7522275A patent/JPH09509187A/ja active Pending
- 1995-02-22 WO PCT/NL1995/000070 patent/WO1995023155A1/en not_active Ceased
- 1995-02-22 AU AU16726/95A patent/AU1672695A/en not_active Abandoned
Cited By (1)
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| JP2011051919A (ja) * | 2009-08-31 | 2011-03-17 | Fujifilm Corp | 有機電界発光素子 |
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| NL9400279A (nl) | 1995-10-02 |
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