JPH09509502A - ポリエチレンナフタレートx線窓 - Google Patents

ポリエチレンナフタレートx線窓

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JPH09509502A
JPH09509502A JP8519619A JP51961996A JPH09509502A JP H09509502 A JPH09509502 A JP H09509502A JP 8519619 A JP8519619 A JP 8519619A JP 51961996 A JP51961996 A JP 51961996A JP H09509502 A JPH09509502 A JP H09509502A
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デル ボルスト ヨハネス ファン
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フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 X線検出器のようなX線構成部分のためのX線窓である。この種のX線窓はX線の吸収を最少にするためできるだけ薄いことが必要である。既知の材料であるポリプロピレンは1ミクロン程度の希望する厚さで入手することができず、厚さを減少させるためこの材料を伸長させると、許容できる厚さの拡がりが得られない。本発明による材料ポリエチレンナフタレート(PEN)は希望する厚さで、しかもその厚さの非常に小さい拡がりで入手できる。更に、窓の材料は圧力、温度、X線に関して連続して変化する状態の影響を受けても、著しく劣化しない適切な(強度、剛性、及び気密性のような)機械的性質を発揮することが必要である。既知のポリエチレンテレフタレート(PET)に比較し、本発明におけるPENは機械的要件を満たす一層良好な性質を有する。

Description

【発明の詳細な説明】 ポリエチレンナフタレートX線窓 本発明は合成材料製のX線透過性窓を具えるX線検出器のようなX線構成部分 に関するものである。また、本発明はこのようなX線構成部分に使用するX線窓 に関するものである。 X線検出器の形のこの種のX線構成部分は米国特許第5345083号(PHN13.991) から既知である。 その米国特許に記載されたX線検出器は検出器ガスが充填されたイオン化検出 器である。この形式の検出器はX線分析装置に使用されており、X線管からのX 線を試料に照射し、試料から放射するX線がこの検出器内で検出される。このよ うな装置においては、比較的長波のX線に試料を露出するのが望ましいことが多 い。空気中、又はその他のガス中でのこのような放射線の吸収量は比較的多いか ら、X線管、及びX線検出器を含め、この分析装置の全試料空間は、操作中、排 気されている。この場合、特に、検出器内のX線窓は、検出器ガスを含む空間を 排気空間から分離する作用をしている。従って、X線窓は大気圧程度の圧力に耐 え得ることが必要である。更に、X線窓は零と大気圧との間の非常に多い(数千 回の)圧力変動にも、気密性と強度とを大きく低下させることなくこの圧力変動 に抵抗し得ることが必要である。 圧力変動に関するX線窓の機械的性質の他に、X線吸収性もX線窓の重要な性 質である。検出のための試料からのX線の量をできくだけ多く節約すためには、 窓のX線吸収量を最少にすることが望まれる。従って、目標はX線窓の厚さを最 少にすることである。 上に援用した米国特許はポリプロピレン製、又は「マイラー(mylar)」とし て知られるポリエチレンテレフタレート(PET)製のX線窓を開示している。こ れ等の材料は殆ど専ら原子番号が若い元素(炭素、及び水素)を含む合成材料で あり、従って、これ等窓の材料による長波のX線の吸収は比較的少ない。 吸収が少ないことが望まれるため、例えば1ミクロン以下の厚さのX線窓を製 作することが望まれる。しかし、上記ポリプロピレンはこの厚さの箔として市販 されていないため、そのような薄い厚さになるように、製作の前に処理する必要 がある。この薄い厚さは箔を伸長させることによって得られるが、この処理は箔 の最終厚さに関し、大きな拡がり(50%まで)となり、これ等窓を使用してい る検出器の動作には許容できない拡がりとなることがわかった。 また、上記PETは希望する厚さで得られるが、弾性係数が低く、多くの温度 変動に曝された時、漏洩に対する抵抗が低く、放射線に対する抵抗が低い等、好 ましくない多くの機械的性質を有する。 本発明の目的は、希望する厚さで入手できる材料から成り、その材料の厚さに 関して拡がりが僅かであり、それにも係わらず適切な機械的性質を有する材料か ら成るX線窓を得るにある。 この目的のため、本発明X線構成部分はポリエチレンナフタレート(PEN) の層から成ることを特徴とする。 希望する厚さのPENが市販されており、PENは非常に多くの圧力変動、温 度変動、及びX線による照射を受けた後でも適切な機械的性質を有することがわ かったため、PENで製造されたX線窓は従来から知られた材料で製造されたX 線窓より一層良好に上記要件を満たすことが明らかになった。 本発明の好適な実施例では、PEN層に接着された取付けフレームを具えるよ うにX線窓を構成する。このようにすれば、X線窓を容易に取り外すことができ 、容易に取り扱うことができ、更に、簡単に製作することができる。 本発明により製作されたX線構成部分はX線蛍光装置、又はX線回折装置のよ うなX線分析装置に使用することができる。多くの場合、試料とX線構成部分と の間のビーム通路にコリメーターを配置する。このようなコリメーターはX線吸 収板の堆積体から成ることが多く、これ等板の間をX線が通過する。本発明X線 分析装置の一実施例はコリメーターの端面がX線窓に接触していることを特徴と する。この一体構造の結果、非常に薄いPEN箔のための別個の支持グリッドを 省略することができる。 次に説明する実施例から本発明のこれ等の態様、及びその他の態様が明らかに なるであろう。 図面中、図1は本発明PENから成るX線窓を具えるガス充填X線検出器の線 図的断面図である。 図2は本発明PENから成るX線窓を有するX線検出器を具える分析装置の関 連部を示す。 図3aは非常に薄い箔からX線窓を製作するための工具の断面図である。 図3bは図3aに示す工具に使用する可撓性リングの断面図である。 図1は本発明X線窓を使用し得るX線検出器を示す。この検出器は入口窓2を 設けたハウジング4を有するように構成されている。上記ハウジングは空間6を 包囲し、この空間に検出器ガスを収容すると共に、絶縁物10によって金属ハウ ジング4から絶縁された陽極線8のような他の検出器構成部分をもこの空間に収 容する。入射X線12により空間6内の検出器ガスをイオン化し、電荷パルスが 陽極線8によって遮られる。出力側14に接続された処理装置(図示せず)によ ってこのパルスは更に処理される。この入口窓2はX線の吸収を最少にするため 、できるだけ薄くすべきである。しかし、温度や圧力の変動のような種々の作動 条件でも適切な気密なシールを得るためには十分に厚くすべきである。このため 、窓の材料に関して厳しい要件が課せられる。 図2は本発明による分析装置の関連部分を示す。X線源40は分析すべき試料 42に入射するX線ビーム12を放出する。試料内のX線蛍光はX線を励起し、 このX線は第1ビームリミッター16と第1コリメーター18とを通じて分析結 晶体20に入射する。この結晶内で、励起X線の波長選択が行われる。この選択 された波長のX線は最終的にX線検出器4によって検出される。窓2を通じてX 線が検出器4に入る前に、X線は第2ビームリミッター22と第2コリメーター 24とを通る。第2コリメーター24はX線窓2に向け配置されている。このコ リメーターはゾラー型であり、即ち、X線吸収材料の相互に平行な板の堆積体か ら成り(図面には線図的に示す)、これにより平行化されたX線を導入するため 、これ等堆積体は所定の間隔を有している。X線窓に向くこれ等板の端縁は合体 してグリッド状端面を構成しており、この端面はX線窓の箔のための支持グリッ ドとして作用することができる。この構成の結果、X線窓のための別個の支持グ リッドを省略することができる。 図3は非常に薄い箔からX線窓を製作するための工具の断面図である。円錐形 外面38を有する第1リング26上にPEN箔32を配置する。可撓性材料(例 えば、ゴム)のリング30を挿入した第2リング28をこの円錐形外面上に配置 することができる。第1リング26と第2リング28とは共通の中心線36を有 する。可撓性リング30の横断面を図3aには円形のように示したが、箔に一層 大きい把持力を得る横断面は図3bに示すものである。第1リング26上に箔3 2を設置した後、その上に第2リング28を配置して下方に押しつける。その結 果、箔32は引っ張られ、例えば、取付けフレームを箔に接着して窓をX線装置 に取り付けられるようにするような必要な操作を箔に行うことができる。この取 付けフレームは容易に取り扱うことができるルース窓として窓を容易に取り外す ことを可能にする。また、窓をガス放電検出器に使用する場合には、電荷を消失 させるため、引張り状態での箔に金属層(例えば、金、又はアルミニウム)を設 けてもよい。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.合成材料製のX線透過性窓を具えるX線検出器のようなX線構成部分におい て、 前記窓がポリエチレンナフタレートの層から成ることを特徴とするX線検出 器のようなX線構成部分。 2.前記ポリエチレンナフタレートの層の厚さが0.4ミクロンと5ミクロンとの 間であることを特徴とする請求項1に記載のX線構成部分。 3.取付けフレームを前記ポリエチレンナフタレートの層に接着したことを特徴 とする請求項1に記載のX線構成部分。 4.請求項1に記載のX線構成部分と、端面が前記X線窓に向くコリメーターと を具えるX線分析装置において、前記コリメーターの端面が前記X線窓に接触し ていることを特徴とするX線分析装置。 5.X線検出器のようなX線構成部分に使用するのに適するX線窓において、前 記窓がポリエチレンナフタレートの層から成ることを特徴とするX線窓。 6.前記ポリエチレンナフタレートの層が0.4ミクロンと5ミクロンとの間の厚 さを有することを特徴とする請求項5に記載のX線窓。 7.取付けフレームを前記ポリエチレンナフタレートの層に接着したことを特徴 とする請求項5に記載のX線窓。
JP8519619A 1994-12-19 1995-11-09 ポリエチレンナフタレートx線窓 Pending JPH09509502A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
EP94203669 1994-12-19
NL94203669.0 1994-12-19
PCT/IB1995/000985 WO1996019738A1 (en) 1994-12-19 1995-11-09 Polyethylene naphtalate x-ray window

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JPH09509502A true JPH09509502A (ja) 1997-09-22

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JP8519619A Pending JPH09509502A (ja) 1994-12-19 1995-11-09 ポリエチレンナフタレートx線窓

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EP (1) EP0748456B1 (ja)
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WO (1) WO1996019738A1 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU5799298A (en) 1997-03-31 1998-10-22 Imation Corp. Method for applying a coating onto a moving web
US6459768B1 (en) * 1999-10-08 2002-10-01 Varian Medical Systems, Inc. X-ray tube window and frame
DE10102034A1 (de) * 2001-01-18 2002-08-08 Leica Microsystems Objektträger, Mikrodissektionseinrichtung mit Objektträger und Verfahren zur Mikrodissektion
DE10120335C2 (de) * 2001-04-26 2003-08-07 Bruker Daltonik Gmbh Ionenmobilitätsspektrometer mit nicht-radioaktiver Ionenquelle
US7180981B2 (en) 2002-04-08 2007-02-20 Nanodynamics-88, Inc. High quantum energy efficiency X-ray tube and targets
US7403596B1 (en) 2002-12-20 2008-07-22 Varian Medical Systems, Inc. X-ray tube housing window
US7432518B2 (en) * 2003-09-10 2008-10-07 Canberra Industries, Inc. Entrance window for gas filled radiation detectors
US7985467B1 (en) 2007-05-23 2011-07-26 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Radiation-transparent windows, method for imaging fluid transfers
US9305735B2 (en) 2007-09-28 2016-04-05 Brigham Young University Reinforced polymer x-ray window
US8498381B2 (en) * 2010-10-07 2013-07-30 Moxtek, Inc. Polymer layer on X-ray window
US8503616B2 (en) * 2008-09-24 2013-08-06 Varian Medical Systems, Inc. X-ray tube window
DE102010034597A1 (de) 2010-08-12 2012-02-16 Ifg - Institute For Scientific Instruments Gmbh Röntgenoptik mit Strahleneintrittsfenster und Strahlenaustrittsfenster
US8929515B2 (en) 2011-02-23 2015-01-06 Moxtek, Inc. Multiple-size support for X-ray window

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4933557A (en) * 1988-06-06 1990-06-12 Brigham Young University Radiation detector window structure and method of manufacturing thereof
JP3026284B2 (ja) * 1990-09-18 2000-03-27 住友電気工業株式会社 X線窓材とその製造方法
DE69310233T2 (de) * 1992-02-21 1997-11-13 Philips Electronics Nv Röntgendetektor mit verbessertem Eingansgfenster

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EP0748456A1 (en) 1996-12-18
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DE69522675T2 (de) 2002-06-20
DE69522675D1 (de) 2001-10-18
US5585644A (en) 1996-12-17

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