JPH0954998A - 光記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】２値のビーム強度の比を一定に保ったままセッ
トで変化させてテスト記録を行い、その信号を評価して
最適なビーム強度を求めようとすると、テスト記録を行
ったデータが低レベルビーム強度により充分に消去され
ないことが原因で、合理的な最適記録ビーム強度が求ま
らないことが多かった。 【解決手段】テスト記録領域にテスト記録を行い、記録
された情報を一旦再生して評価を行い、そのテスト記録
情報は消去せずに、再び同一記録ビーム強度でオーバー
ライトテスト記録を行い、その記録情報を再生して評価
し、２つの評価結果を比較することで最適な記録ビーム
強度を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、オーバーライト記
録が可能な光記録媒体に情報を記録する光記録方法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】近年、高密度、大容量、高いアクセス速
度、並びに高い記録及び再生速度を含めた種々の要求を
満足する光学的記録再生方法、それに使用される記録装
置、再生装置及び記録媒体が普及している。光学的記録
再生方法には、熱による孔開け、相変化、光磁気等の原
理を用いた多数の種類がある。このうち、情報を記録し
た後、消去することができ、再び新たな情報を記録する
ことが繰り返し何度も可能である相変化や光磁気による
ものは、コンピュータの外部メモリーや民生用オーディ
オ機器向けに広く応用されてきている。

【０００３】最近まで光記録再生方法では、記録済みの
媒体に消去動作なしに新たな情報を記録するオーバーラ
イトは不可能とされていた。しかし、照射する光ビーム
の強度を記録すべき２値化情報に従い変調するだけで、
オーバーライトが可能な光記録方法、それに使用される
オーバーライト可能な光記録媒体、及びそれに使用され
るオーバーライト可能な記録装置が提案された。

【０００４】これを光磁気記録を例に説明する。なお、
この方法は複数国に特許出願され、このうち米国では特
許登録された（特開昭62−175948号＝DE3,619,618A1 ＝
USP5,239,524 ）。以下、この発明を「基本発明」と引
用する。光磁気記録再生方法で使用されるオーバーライ
ト可能な光磁気記録媒体は、記憶する層として、垂直磁
気異方性(perpendicular magnetic layer orlayers) を
有する多層の磁性層からなる。この磁性層は、例えば、
非晶質のTbFe、TbFeCo、GdFe、GdFeCo、DyFe、DyFeCo等
からなる。

【０００５】基本発明に使用する媒体は、「基本的に垂
直磁化可能な磁性薄膜からなる記録及び再生層として機
能する層（以下、メモリー層またはＭ層という）と、同
じく垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録補助層（以
下、記録層またはＷ層という）とを含み、両層は交換結
合（exchange-coupled) しており、かつ、室温でＭ層の
磁化の向きは変えないでＷ層の磁化のみを所定の向きに
向けておくことができるオーバーライト可能な多層光磁
気記録媒体」である。Ｗ層は、Ｍ層に比べて室温におい
て低い保磁力Ｈc と高いキュリー点Ｔc を持つ。そし
て、情報をＭ層（場合によりＷ層にも）における基板に
垂直な方向（「Ａ向き」とする）の磁化を有するマーク
とその反対方向（「逆Ａ向き」とする）の磁化を有する
マークにより記録する。

【０００６】この媒体は、Ｗ層が磁界手段（例えば初期
補助磁界Hini. ）によって、その磁化の向きを一方向に
揃えることができる。しかも、そのとき、Ｍ層の磁化の
向きは反転せず、更に、一旦一方向に揃えられたＷ層の
磁化の向きは、Ｍ層からの交換結合力を受けても反転せ
ず、逆にＭ層の磁化の向きは、一方向に揃えられたＷ層
からの交換結合力を受けても反転しない。

【０００７】基本発明の記録方法では、記録媒体は記録
前までに磁界手段によりＷ層の磁化の向きだけが一方向
に揃えられるようにする。その上で、２値化情報に従い
パルス変調されたビームを媒体に照射する。ビームの強
度は、高レベルＰ_H と低レベルＰ_L の２値に制御され、
これはパルスの高レベルと低レベルに相当する。この低
レベルは、再生時に媒体を照射する再生レベルＰ_R より
も高い。既に知られているように、記録をしない時に
も、例えば媒体における所定の記録場所をアクセスする
ためにビーム強度を「非常な低レベル」とすることが一
般的である。この非常な低レベルも、再生レベルＰ_R と
同一又は近似のレベルである。

【０００８】低レベルのビームを媒体に照射した場合に
媒体が達する温度においては、Ｗ層の磁化の向きは変わ
らず、Ｍ層の磁化の向きは、Ｍ層とＷ層との間に磁壁が
存在しない状態の向きになる。これを低温プロセスとい
い、このプロセスが起こる温度領域を低温プロセス温度
Ｔ_L という。一方、高レベルのビームを媒体に照射した
場合に媒体が達する更に高い温度においては、Ｗ層の磁
化の向きは記録磁界の方向に倣い、Ｍ層の磁化の向き
は、Ｍ層とＷ層との間に磁壁が存在しない状態の向きに
なる。これを高温プロセスといい、このプロセスが起こ
る温度領域を高温プロセス温度Ｔ_H という。

【０００９】ビームの照射後は、磁界手段が働くことに
より、高レベルのビーム照射によって記録磁界の方向に
倣ったＷ層の磁化は、再び磁界手段の向きに倣う。従っ
て、磁界手段の磁化の向きと記録磁界の向きを逆にして
おけば、既に記録されているＭ層に、新たな記録が繰り
返し記録（即ち、オーバーライト）できるのである。こ
れが光変調オーバーライト光磁気記録の原理である。

【００１０】以上説明した内容を若干表現を換えれば、
高レベルのビーム照射によって記録マークを形成し、低
レベルのビーム照射によって記録マークを消去すること
で、新しい情報を古い情報の上にオーバーライト（重ね
書き）するとも言える。ところで、光記録媒体に記録を
行う際には、信号パルスに対するマークの長さや太さ等
の形状を最適化するために、媒体の記録感度や環境温度
に応じて最適なビーム強度を設定することが必要とな
る。この最適なビーム強度を求める過程をテスト記録と
呼んでいる。現在、市販されている光磁気ディスク記録
装置にも、情報を記録する前にテスト記録を行って最適
なビーム強度を求めているものがある。

【００１１】テスト記録は、オーバーライトでない従来
の光記録媒体（非オーバーライト媒体）では、２値のビ
ーム強度の強度比を一定に保ったまま、２値のビーム強
度をセットで変化させて記録し、その記録信号を再生し
て再生信号を評価することにより、最適の記録ビーム強
度を求めていた。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、光強度変調オ
ーバーライト記録では、低レベルＰ_L のビーム強度は記
録のみならず消去にも関与している。従って、非オーバ
ーライト媒体のように、２値のビーム強度の比を一定に
保ったまま、２値のビーム強度をセットで変化させてテ
スト記録を行った後再生し、その信号を評価して最適な
ビーム強度を求めようとすると、テスト記録を行ったデ
ータが低レベルＰ_L のレーザービーム強度で充分に消去
されないことが原因で、合理的な最適記録ビーム強度が
求まらないことが多かった。

【００１３】本発明はかかる問題点を解決し、オーバー
ライト記録にとって最適なビーム強度を求める方法を提
供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記問題点の解決のため
本発明者らは、まず、テスト記録領域にテスト記録を行
い、記録された情報を一旦再生して評価を行い、そのテ
スト記録情報は消去せずに、再び同一記録ビーム強度で
オーバーライト（重ね書き）してテスト記録を行い、そ
の記録情報を再生して評価し、２つの評価結果を比較す
ることで最適な記録ビーム強度を求めることで、消去不
良をなくせることを見出し本発明を成すに至った。

【００１５】

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。図１は、本発明の光記録方法を示したフ
ローチャートである。まず、光ビーム強度変調によるオ
ーバーライト可能な光磁気ディスクを用意する。この光
磁気ディスクは、記録周波数の異なる複数の記録ゾーン
に区切られており、所定の領域には、複数の記録ゾーン
での25℃における記録レーザービーム強度に関する情報
が記録されている。

【００１６】この光磁気ディスクを本発明の光記録方法
を備えた記録再生装置にセットして回転させ、所定の領
域に記録してある記録レーザービーム強度に関する情報
を再生する。これらの情報により低レベルと高レベルの
レーザービーム強度の中心値及び強度比を設定する。次
に、テスト記録領域を一旦消去した後、連続の短マーク
と連続の長マークを交互に繰り返すテスト記録用パター
ンを用いて、複数のセクターに上記強度比は変えずに低
レベルと高レベルのレーザービーム強度を段階的に変化
させてテスト記録を行う。

【００１７】次に、記録したテスト情報を再生して、連
続の短マークの再生信号の振幅中心と連続の長マークの
再生信号の振幅中心の差（オフセット量）を測定する。
この値がゼロとなるレーザービーム強度を図３に示すよ
うに求める。更に、この領域を消去せずに、同一領域に
同一ビーム強度でテスト記録用パターンをオーバーライ
ト（重ね書き）記録し、その記録したテスト情報を再度
再生して、連続の短マークの再生信号の振幅中心と連続
の長マークの再生信号の振幅中心の差（オフセット量）
を測定する。この値がゼロとなるレーザービーム強度を
同じ要領で求める。

【００１８】オフセット量がゼロとなるようにして、２
度求めたレーザービーム強度が一致した場合には、その
強度を最適値とする。２度求めたレーザービーム強度が
一致しない場合には、オーバーライトでの消去が不良で
あると判断する。この場合、最適な記録レーザービーム
を求める手順としては幾つかが考えられる。例えば、図
１に示す通り、オーバーライト前に求めたビーム強度に
対し、低レベルのレーザービーム強度は高い側に、ま
た、高レベルのレーザービーム強度は低い側にシフトし
て、それらの値を最適値とする方法がある。この場合、
オフセット値は各々５％程度が望ましい。

【００１９】また、別の方法として、図２に示したよう
に、低レベル強度がより大きくなるように低レベル強度
と高レベル強度の強度比を小さくして再設定し、再度テ
スト記録を行って最適値を求める手順もある。以上のよ
うな手順で、高レベルと低レベルの記録レーザービーム
強度の組み合わせが決定される。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光強度変調オーバーライト可能な光ディスクに記録する
場合、低レベルビーム強度と高レベルビーム強度を適正
に設定できるため、オーバーライト記録時に低レベルビ
ーム強度が低過ぎて消去不良が起こることのない安定し
たオーバーライト光記録方法が提供できる。また、テス
ト記録時に再生不良を検出できるため、信頼度の高いオ
ーバーライト光記録方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の光記録方法を説明するフローチャー
トである。

【図２】 本発明の別の光記録方法を説明するフローチ
ャートである。

【図３】 本発明に係る、テスト記録時の高レベルレー
ザービームとオフセット量の差を示したグラフである。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石井 浩一郎 東京都千代田区丸の内３丁目２番３号 株 式会社ニコン内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ビーム強度を変調することによりオーバ
   ーライト記録が可能な光記録媒体に情報を記録する光記
   録方法において、光記録媒体のテスト記録領域を一旦消
   去した後テスト記録を行い、次いでテスト記録した情報
   を再生して評価し、その後、同一領域を消去せずに同じ
   記録ビーム強度で再度テスト記録を行い、テスト記録し
   た情報を再生して評価し、２度の評価結果より適正な記
   録ビーム強度を求めることを特徴とする光記録方法。
2. 【請求項２】 光記録媒体は互いに交換結合した２層以
   上の記録層からなる光磁気記録媒体を用いることを特徴
   とする請求項１に記載の光記録方法。
3. 【請求項３】 ２度の評価結果が異なる場合には、低レ
   ベルレーザービーム強度を高い側に、また、高レベルレ
   ーザービーム強度を低い側にシフトして、これらの値を
   適正な記録ビーム強度とすることを特徴とする請求項１
   に記載の光記録方法。
4. 【請求項４】 ２度の評価結果が異なる場合には、低レ
   ベルレーザービーム強度を高い側に、また、高レベルレ
   ーザービーム強度を低い側にシフトして、再度テスト記
   録を行って適正な記録ビーム強度を求めることを特徴と
   する請求項１に記載の光記録方法。