JPH0955298A - X線透視撮影方法及びx線透視撮影装置 - Google Patents
X線透視撮影方法及びx線透視撮影装置Info
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- JPH0955298A JPH0955298A JP7208170A JP20817095A JPH0955298A JP H0955298 A JPH0955298 A JP H0955298A JP 7208170 A JP7208170 A JP 7208170A JP 20817095 A JP20817095 A JP 20817095A JP H0955298 A JPH0955298 A JP H0955298A
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Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 透視画像を参照することでX線撮影時間制御
に適した撮影用センサを選択することが可能なX線透視
撮影方法及びX線透視撮影装置を実現する。 【解決手段】 X線撮影の際の露出制御のために撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行う際に、前記複数
の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につ
いて透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成し(ス
テップ1)、前記ヒストグラムから非照射野部分と直接
照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して(ステッ
プ2)被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を
生成し(ステップ3)、前記平均値と前記代表値とを比
較して、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1
つ選択し(ステップ4)、この選択された撮影用センサ
の検出信号を用いてX線撮影時間を制御する(ステップ
5,6)ことによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うことを特徴とする。
に適した撮影用センサを選択することが可能なX線透視
撮影方法及びX線透視撮影装置を実現する。 【解決手段】 X線撮影の際の露出制御のために撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行う際に、前記複数
の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につ
いて透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成し(ス
テップ1)、前記ヒストグラムから非照射野部分と直接
照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して(ステッ
プ2)被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を
生成し(ステップ3)、前記平均値と前記代表値とを比
較して、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1
つ選択し(ステップ4)、この選択された撮影用センサ
の検出信号を用いてX線撮影時間を制御する(ステップ
5,6)ことによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はX線透視若しくはX
線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方法及びX
線透視撮影装置に関し、特に、透視若しくは撮影に使用
するセンサを適確に選択することが可能なX線透視撮影
方法及びX線透視撮影装置に関する。
線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方法及びX
線透視撮影装置に関し、特に、透視若しくは撮影に使用
するセンサを適確に選択することが可能なX線透視撮影
方法及びX線透視撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のX線透視撮影装置では、まず、X
線透視によって被検体の像確認及び位置決めを行う。す
なわち、X線管装置から照射されたX線は開放状態のコ
リメータ及び被検体を通過し、X線透視像としてイメー
ジインテンシファイア(以下、I.I.と言う)で増幅され
つつ可視像とされ、この可視像がテレビカメラで映像信
号に変換される。そして、この映像信号は画像処理装置
で所定の処理がなされてCRT表示装置で画像表示され
る。
線透視によって被検体の像確認及び位置決めを行う。す
なわち、X線管装置から照射されたX線は開放状態のコ
リメータ及び被検体を通過し、X線透視像としてイメー
ジインテンシファイア(以下、I.I.と言う)で増幅され
つつ可視像とされ、この可視像がテレビカメラで映像信
号に変換される。そして、この映像信号は画像処理装置
で所定の処理がなされてCRT表示装置で画像表示され
る。
【0003】操作者は、CRT表示装置の表示画面上の
透視像を確認しながら操作卓を介して移動機構を駆動す
ることにより透視撮影台(若しくはI.I.)を移動させ
て、被検体の所望の部位の透視像が得られるように位置
決めを行う。
透視像を確認しながら操作卓を介して移動機構を駆動す
ることにより透視撮影台(若しくはI.I.)を移動させ
て、被検体の所望の部位の透視像が得られるように位置
決めを行う。
【0004】そして、位置決めが完了した時点で、X線
フィルム撮影を実行する。ここで、CRT表示装置への
X線透視がオフされ、速写撮影装置が待避から所定撮影
位置に移動する。
フィルム撮影を実行する。ここで、CRT表示装置への
X線透視がオフされ、速写撮影装置が待避から所定撮影
位置に移動する。
【0005】この後、撮影用のX線照射が行われ、速写
装置内のフィルムにX線像の露光が行われる。X線像の
フィルム露光が終了すると、速写装置は待避位置に戻
る。以上のような場合において、CRT表示装置に表示
する映像の明るさについて、ABC(Automatic Bright
ness Control)と呼ばれる自動輝度調整を行なってい
る。
装置内のフィルムにX線像の露光が行われる。X線像の
フィルム露光が終了すると、速写装置は待避位置に戻
る。以上のような場合において、CRT表示装置に表示
する映像の明るさについて、ABC(Automatic Bright
ness Control)と呼ばれる自動輝度調整を行なってい
る。
【0006】このABCとは、CRT表示画面の明るさ
でX線出力を制御し、被検体のX線吸収が変動しても得
られる画像の明るさを一定に保持する一種のゲインコン
トロールである。
でX線出力を制御し、被検体のX線吸収が変動しても得
られる画像の明るさを一定に保持する一種のゲインコン
トロールである。
【0007】例えば、このABCでは、図8に示すよう
に、CRT表示画面1に表れている略円形のI.I.透視領
域の中心部分付近のABCセンサ領域3を平均測光し
て、その測光値が一定になるようにX線出力を制御して
いる。
に、CRT表示画面1に表れている略円形のI.I.透視領
域の中心部分付近のABCセンサ領域3を平均測光し
て、その測光値が一定になるようにX線出力を制御して
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、胃部検診な
どにおいてバリウムを飲んだ場合、上述の中心部付近が
バリウムによって覆われるため、バリウムにCRT表示
画面の輝度が最適となるような透視条件(X線管の管電
圧kV,管電流mA)が定まることになる。従って、明
るさが偏ることになる。逆に、空気部分でABCを行な
った場合にも逆方向に偏りが生じて、同様の問題を生じ
る。
どにおいてバリウムを飲んだ場合、上述の中心部付近が
バリウムによって覆われるため、バリウムにCRT表示
画面の輝度が最適となるような透視条件(X線管の管電
圧kV,管電流mA)が定まることになる。従って、明
るさが偏ることになる。逆に、空気部分でABCを行な
った場合にも逆方向に偏りが生じて、同様の問題を生じ
る。
【0009】また、コリメータによって照射野を絞り、
ABCセンサ領域より照射野を狭めた場合にも適正な制
御が行なわれなくなる問題がある。従って、後述する写
真撮影と同じ様な複数のセンサを用意しておいて、選択
的に使用する事が望ましい。
ABCセンサ領域より照射野を狭めた場合にも適正な制
御が行なわれなくなる問題がある。従って、後述する写
真撮影と同じ様な複数のセンサを用意しておいて、選択
的に使用する事が望ましい。
【0010】一方、X線写真撮影では、例えば3つのセ
ンサを用意しておいて、バリウムによって覆われた領域
や空気が満たされた領域を避けるようにして、いずれか
のセンサを選択する。そして、この選択されたセンサの
出力を用いて露出制御(AEC:Automatic Exposion C
ontrol)を行なうようにする。この露出制御としては、
X線撮影時間(露光時間)の制御などが該当する。これ
により、写真撮影の結果を最適な濃度とすることができ
る。
ンサを用意しておいて、バリウムによって覆われた領域
や空気が満たされた領域を避けるようにして、いずれか
のセンサを選択する。そして、この選択されたセンサの
出力を用いて露出制御(AEC:Automatic Exposion C
ontrol)を行なうようにする。この露出制御としては、
X線撮影時間(露光時間)の制御などが該当する。これ
により、写真撮影の結果を最適な濃度とすることができ
る。
【0011】例えば、図9に示すような胸部撮影装置で
は、患者が静止した状態であるので、予め設けられたセ
ンサ位置マーキングを見ながら、位置決めをすることが
可能になっている。
は、患者が静止した状態であるので、予め設けられたセ
ンサ位置マーキングを見ながら、位置決めをすることが
可能になっている。
【0012】しかし、胃部撮影装置の場合には、検査中
に患者が動くことに加え、遠隔操作されるため、センサ
と被写体の位置関係を確認することが困難であるという
問題を有している。
に患者が動くことに加え、遠隔操作されるため、センサ
と被写体の位置関係を確認することが困難であるという
問題を有している。
【0013】本発明は上記の点を解決するためになされ
たもので、以下のような目的を有するものである。 (1)透視画像を参照することでX線撮影時間制御に適
した撮影用センサを選択することが可能なX線透視撮影
方法及びX線透視撮影装置を実現する。
たもので、以下のような目的を有するものである。 (1)透視画像を参照することでX線撮影時間制御に適
した撮影用センサを選択することが可能なX線透視撮影
方法及びX線透視撮影装置を実現する。
【0014】(2)撮影用センサの位置上の透視画像か
ら透視条件を決定することで、透視と撮影との条件を一
致させることが可能なX線透視撮影装置を実現する。 (3)透視画像上に撮影条件の決定のために選択された
撮影用センサの位置を重畳表示させることで撮影と透視
との関係を把握可能なX線透視撮影装置を実現する。
ら透視条件を決定することで、透視と撮影との条件を一
致させることが可能なX線透視撮影装置を実現する。 (3)透視画像上に撮影条件の決定のために選択された
撮影用センサの位置を重畳表示させることで撮影と透視
との関係を把握可能なX線透視撮影装置を実現する。
【0015】(4)透視条件や撮影条件を決定するに際
して補正を行うことが可能なX線透視撮影装置を実現す
る。
して補正を行うことが可能なX線透視撮影装置を実現す
る。
【0016】
【課題を解決するための手段】すなわち、課題を解決す
る手段としての本発明は以下に説明するようなものであ
る。
る手段としての本発明は以下に説明するようなものであ
る。
【0017】上記した(1)の目的を達成するための第
1の発明は、X線撮影の際の露出制御のための撮影用セ
ンサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも
1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基
づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若し
くはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方法
において、前記複数の撮影用センサに対応するX線透視
像の各々の領域について透視画素値の平均値及びヒスト
グラムを生成し、前記ヒストグラムから非照射野部分と
直接照射野部分と被検体の照射野部分(実質照射野部
分)とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代表す
る代表値を生成し、前記平均値と前記代表値とを比較し
て、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1つ選
択し、この選択された撮影用センサの検出信号を用いて
X線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX
線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線透
視撮影方法である。
1の発明は、X線撮影の際の露出制御のための撮影用セ
ンサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも
1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基
づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若し
くはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方法
において、前記複数の撮影用センサに対応するX線透視
像の各々の領域について透視画素値の平均値及びヒスト
グラムを生成し、前記ヒストグラムから非照射野部分と
直接照射野部分と被検体の照射野部分(実質照射野部
分)とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代表す
る代表値を生成し、前記平均値と前記代表値とを比較し
て、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1つ選
択し、この選択された撮影用センサの検出信号を用いて
X線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX
線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線透
視撮影方法である。
【0018】この第1の発明において、撮影用センサに
対応するX線透視像の領域で透視画素値の平均値とヒス
トグラムとを生成し、ヒストグラムから非照射野部分と
直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被検
体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する。
そして、平均値と代表値とを比較して、この比較結果に
よりX線撮影に用いるセンサを少なくとも1つ選択す
る。このようにして選択したセンサの検出信号を用いて
X線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この制御
信号によりX線透視若しくはX線撮影を行う。
対応するX線透視像の領域で透視画素値の平均値とヒス
トグラムとを生成し、ヒストグラムから非照射野部分と
直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被検
体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する。
そして、平均値と代表値とを比較して、この比較結果に
よりX線撮影に用いるセンサを少なくとも1つ選択す
る。このようにして選択したセンサの検出信号を用いて
X線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この制御
信号によりX線透視若しくはX線撮影を行う。
【0019】この結果、透視画像を参照することでX線
撮影時間制御に適した撮影用センサを選択することが可
能なX線透視撮影方法が実現される。また、上記した
(1)の目的を達成するための第2の発明は、X線撮影
の際の露出制御のための撮影用センサを複数備え、この
複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択さ
れた撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うX線透視撮影装置において、前記複数の
撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につい
て透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成する平均
値・ヒストグラム生成手段と、前記平均値・ヒストグラ
ム生成手段で生成されたヒストグラムから非照射野部分
と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被
検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する
代表値生成手段と、前記平均値・ヒストグラム生成手段
で生成された平均値と前記代表値生成手段で生成された
代表値とを比較して、X線撮影に用いる撮影用センサを
少なくとも1つ選択するセンサ選択手段と、を備え、こ
のセンサ選択手段で選択されたセンサの検出信号若しく
は合成検出信号を用いてX線撮影時間制御のための制御
信号を生成し、この制御信号を用いてX線透視若しくは
X線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線
透視撮影装置である。
撮影時間制御に適した撮影用センサを選択することが可
能なX線透視撮影方法が実現される。また、上記した
(1)の目的を達成するための第2の発明は、X線撮影
の際の露出制御のための撮影用センサを複数備え、この
複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択さ
れた撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うX線透視撮影装置において、前記複数の
撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につい
て透視画素値の平均値及びヒストグラムを生成する平均
値・ヒストグラム生成手段と、前記平均値・ヒストグラ
ム生成手段で生成されたヒストグラムから非照射野部分
と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被
検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する
代表値生成手段と、前記平均値・ヒストグラム生成手段
で生成された平均値と前記代表値生成手段で生成された
代表値とを比較して、X線撮影に用いる撮影用センサを
少なくとも1つ選択するセンサ選択手段と、を備え、こ
のセンサ選択手段で選択されたセンサの検出信号若しく
は合成検出信号を用いてX線撮影時間制御のための制御
信号を生成し、この制御信号を用いてX線透視若しくは
X線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線
透視撮影装置である。
【0020】このの第2の発明において、撮影用センサ
に対応するX線透視像の領域で透視画素値の平均値とヒ
ストグラムとを生成し、ヒストグラムから非照射野部分
と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被
検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成す
る。そして、平均値と代表値とを比較して、この比較結
果によりX線撮影に用いるセンサを少なくとも1つ選択
する。このようにして選択したセンサの検出信号を用い
てX線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この制
御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行う。
に対応するX線透視像の領域で透視画素値の平均値とヒ
ストグラムとを生成し、ヒストグラムから非照射野部分
と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被
検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生成す
る。そして、平均値と代表値とを比較して、この比較結
果によりX線撮影に用いるセンサを少なくとも1つ選択
する。このようにして選択したセンサの検出信号を用い
てX線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この制
御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行う。
【0021】この結果、透視画像を参照することでX線
撮影時間制御に適した撮影用センサを選択することが可
能なX線透視撮影装置が実現される。また、上記した
(1)の目的を達成するための第3の発明は、上述の第
2の発明におけるセンサ選択手段として、前記平均値・
ヒストグラム生成手段で求められた複数のセンサの領域
についてのそれぞれの平均値と前記代表値生成手段で生
成された代表値との差を求め、この差を予め設定された
しきい値と比較し、前記差が前記しきい値以下となるセ
ンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセンサを
選択することが、X線撮影時間制御のために最適なセン
サを選択する手法として好ましい。
撮影時間制御に適した撮影用センサを選択することが可
能なX線透視撮影装置が実現される。また、上記した
(1)の目的を達成するための第3の発明は、上述の第
2の発明におけるセンサ選択手段として、前記平均値・
ヒストグラム生成手段で求められた複数のセンサの領域
についてのそれぞれの平均値と前記代表値生成手段で生
成された代表値との差を求め、この差を予め設定された
しきい値と比較し、前記差が前記しきい値以下となるセ
ンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセンサを
選択することが、X線撮影時間制御のために最適なセン
サを選択する手法として好ましい。
【0022】上述の第3の発明では、上述の第2の発明
において撮影用センサの選択をする場合に、複数のセン
サの領域についての平均値と代表値との差を求め、差を
予め設定されたしきい値と比較し、差がしきい値以下と
なるセンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセ
ンサを選択する。
において撮影用センサの選択をする場合に、複数のセン
サの領域についての平均値と代表値との差を求め、差を
予め設定されたしきい値と比較し、差がしきい値以下と
なるセンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセ
ンサを選択する。
【0023】この結果、X線撮影時間制御に適した撮影
用センサを選択することが可能になる。また、上記した
(1)の目的を達成するための第4の発明は、上述の第
2の発明におけるセンサ選択手段として、前記平均値・
ヒストグラム生成手段で求められた複数のセンサの領域
についてのそれぞれの平均値と前記代表値生成手段で生
成された代表値との差を求め、この差を予め設定された
しきい値と比較し、前記差が前記しきい値以下となるセ
ンサが存在する場合にはその中から最も代表値に近い平
均値を与えるセンサを選択し、前記差がしきい値以下と
なるセンサが存在しない場合には平均値の加算合成値が
しきい値内になるように複数のセンサの前記代表値に最
も近い平均値を持つセンサから選択することが、X線撮
影時間制御のために最適なセンサを選択する手法として
更に好ましい。
用センサを選択することが可能になる。また、上記した
(1)の目的を達成するための第4の発明は、上述の第
2の発明におけるセンサ選択手段として、前記平均値・
ヒストグラム生成手段で求められた複数のセンサの領域
についてのそれぞれの平均値と前記代表値生成手段で生
成された代表値との差を求め、この差を予め設定された
しきい値と比較し、前記差が前記しきい値以下となるセ
ンサが存在する場合にはその中から最も代表値に近い平
均値を与えるセンサを選択し、前記差がしきい値以下と
なるセンサが存在しない場合には平均値の加算合成値が
しきい値内になるように複数のセンサの前記代表値に最
も近い平均値を持つセンサから選択することが、X線撮
影時間制御のために最適なセンサを選択する手法として
更に好ましい。
【0024】上述の第4の発明では、上述の第2の発明
において撮影用センサの選択をする場合に、複数のセン
サの領域についての平均値と代表値との差を求め、差を
予め設定されたしきい値と比較し、差がしきい値以下と
なるセンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセ
ンサを選択し、差がしきい値以下となるセンサが存在し
ない場合には平均値の加算合成値がしきい値内になるよ
うに複数のセンサの代表値に最も近い平均値を持つセン
サから選択する。
において撮影用センサの選択をする場合に、複数のセン
サの領域についての平均値と代表値との差を求め、差を
予め設定されたしきい値と比較し、差がしきい値以下と
なるセンサの中から最も代表値に近い平均値を与えるセ
ンサを選択し、差がしきい値以下となるセンサが存在し
ない場合には平均値の加算合成値がしきい値内になるよ
うに複数のセンサの代表値に最も近い平均値を持つセン
サから選択する。
【0025】この結果、平均値と代表値との差がしきい
値を超えるような場合にも、X線撮影時間制御に適した
撮影用センサを選択することが可能になる。上記した
(2)の目的を達成するための第5の発明は、X線撮影
の際の露出制御のための撮影用センサを複数備え、この
複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択さ
れた撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うX線透視撮影装置において、前記複数の
撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につい
て透視画素値の平均値を生成する平均値生成手段と、選
択された1若しくは複数のセンサに対応する透視画像上
の領域の画素値の平均値から透視条件を決定するための
透視条件制御信号を生成する透視条件決定手段と、を備
え、前記透視条件制御信号を用いて透視を行うことを特
徴とするX線透視撮影装置である。
値を超えるような場合にも、X線撮影時間制御に適した
撮影用センサを選択することが可能になる。上記した
(2)の目的を達成するための第5の発明は、X線撮影
の際の露出制御のための撮影用センサを複数備え、この
複数の撮影用センサの少なくとも1つを選択し、選択さ
れた撮影用センサの検出信号に基づいてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行うX線透視撮影装置において、前記複数の
撮影用センサに対応するX線透視像の各々の領域につい
て透視画素値の平均値を生成する平均値生成手段と、選
択された1若しくは複数のセンサに対応する透視画像上
の領域の画素値の平均値から透視条件を決定するための
透視条件制御信号を生成する透視条件決定手段と、を備
え、前記透視条件制御信号を用いて透視を行うことを特
徴とするX線透視撮影装置である。
【0026】上述の第5の発明では、複数の撮影用セン
サの少なくとも1つを選択し、選択された撮影用センサ
の検出信号に基づいてX線撮影時間制御のための制御信
号を生成して、制御信号を用いてX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行う場合に、選択された1若し
くは複数のセンサに対応する透視画像上の領域の画素値
の平均値から透視条件決定のための透視条件制御信号を
生成する。
サの少なくとも1つを選択し、選択された撮影用センサ
の検出信号に基づいてX線撮影時間制御のための制御信
号を生成して、制御信号を用いてX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行う場合に、選択された1若し
くは複数のセンサに対応する透視画像上の領域の画素値
の平均値から透視条件決定のための透視条件制御信号を
生成する。
【0027】この結果、撮影用センサの位置上の透視画
像から透視条件を決定することで、透視と撮影との条件
を一致させることが可能なX線透視撮影装置を実現でき
る。上記の(3)の目的を達成するための第6の発明
は、X線撮影の際の露出制御のための撮影用センサを複
数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも1つを選
択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づいてX
線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装置におい
て、前記センサのそれぞれの有感領域に対応する透視画
像上の領域を予め記憶しておき、そのうちの1つ若しく
は複数の領域を透視画像に重ねて表示可能にする表示制
御手段を備えたことを特徴とするX線透視撮影装置であ
る。
像から透視条件を決定することで、透視と撮影との条件
を一致させることが可能なX線透視撮影装置を実現でき
る。上記の(3)の目的を達成するための第6の発明
は、X線撮影の際の露出制御のための撮影用センサを複
数備え、この複数の撮影用センサの少なくとも1つを選
択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づいてX
線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装置におい
て、前記センサのそれぞれの有感領域に対応する透視画
像上の領域を予め記憶しておき、そのうちの1つ若しく
は複数の領域を透視画像に重ねて表示可能にする表示制
御手段を備えたことを特徴とするX線透視撮影装置であ
る。
【0028】上述の第6の発明では、複数の撮影用セン
サの少なくとも1つを選択し、選択された撮影センサの
検出信号若しくは合成検出信号を用いてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行う場合に、撮影用センサのそれぞれの有感
領域に対応する透視画像上の領域を予め記憶しておき、
選択された撮影用センサの領域を透視画像に重ねて表示
する。
サの少なくとも1つを選択し、選択された撮影センサの
検出信号若しくは合成検出信号を用いてX線撮影時間を
制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なく
とも一方を行う場合に、撮影用センサのそれぞれの有感
領域に対応する透視画像上の領域を予め記憶しておき、
選択された撮影用センサの領域を透視画像に重ねて表示
する。
【0029】この結果、透視画像上に撮影条件の決定の
ために選択された撮影用センサの位置を重畳表示させる
ことで撮影と透視との関係を把握可能にすることができ
る。上記の(4)の目的を達成するための第7の発明
は、X線透視条件の制御のための透視用センサとX線撮
影の際の露出制御用の撮影用センサとを複数備え、前記
X線撮影の露出制御用の複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装
置において、前記選択された1若しくは複数の撮影用セ
ンサに対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得
られた撮影用センサ領域画素平均値と、透視用センサに
対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得られた
透視用センサ領域画素平均値とを求める平均値算出手段
と、これら撮影用センサ領域画素平均値と透視用センサ
領域画素平均値とから、前記透視用センサの検出信号を
補正する補正信号を生成する補正信号生成手段と、前記
透視用センサの検出信号と前記補正信号とから透視条件
を決定するための透視条件制御信号を生成する透視条件
信号生成手段とを備え、この透視条件制御信号を用いて
透視を行うことを特徴とするX線透視撮影装置である。
ために選択された撮影用センサの位置を重畳表示させる
ことで撮影と透視との関係を把握可能にすることができ
る。上記の(4)の目的を達成するための第7の発明
は、X線透視条件の制御のための透視用センサとX線撮
影の際の露出制御用の撮影用センサとを複数備え、前記
X線撮影の露出制御用の複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装
置において、前記選択された1若しくは複数の撮影用セ
ンサに対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得
られた撮影用センサ領域画素平均値と、透視用センサに
対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得られた
透視用センサ領域画素平均値とを求める平均値算出手段
と、これら撮影用センサ領域画素平均値と透視用センサ
領域画素平均値とから、前記透視用センサの検出信号を
補正する補正信号を生成する補正信号生成手段と、前記
透視用センサの検出信号と前記補正信号とから透視条件
を決定するための透視条件制御信号を生成する透視条件
信号生成手段とを備え、この透視条件制御信号を用いて
透視を行うことを特徴とするX線透視撮影装置である。
【0030】上述の第7の発明では、撮影センサの少な
くとも1つを選択し、選択された1つの撮影センサの検
出信号若しくは合成検出信号を用いてX線撮影時間を制
御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なくと
も一方を行う場合に、選択された1若しくは複数の撮影
用センサに対応する透視画像上の領域の画素値を平均し
て得られた撮影用センサ領域画素平均値と、透視用セン
サに対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得ら
れた透視用センサ領域画素平均値とを求め、これら撮影
用センサ領域画素平均値と透視用センサ領域画素平均値
とから、撮影用センサの検出信号を補正する補正信号を
生成して、透視用センサの検出信号と補正信号とから透
視条件を決定するための透視条件制御信号を生成して、
この透視条件制御信号を用いて透視を行うようにする。
くとも1つを選択し、選択された1つの撮影センサの検
出信号若しくは合成検出信号を用いてX線撮影時間を制
御することによりX線透視若しくはX線撮影の少なくと
も一方を行う場合に、選択された1若しくは複数の撮影
用センサに対応する透視画像上の領域の画素値を平均し
て得られた撮影用センサ領域画素平均値と、透視用セン
サに対応する透視画像上の領域の画素値を平均して得ら
れた透視用センサ領域画素平均値とを求め、これら撮影
用センサ領域画素平均値と透視用センサ領域画素平均値
とから、撮影用センサの検出信号を補正する補正信号を
生成して、透視用センサの検出信号と補正信号とから透
視条件を決定するための透視条件制御信号を生成して、
この透視条件制御信号を用いて透視を行うようにする。
【0031】この結果、透視条件が撮影用センサの検出
信号により補正されることになり、透視と撮影との露出
制御に関する整合性を保つことができるようになる。上
記の(4)の目的を達成するための第8の発明は、X線
透視条件の制御のための透視用センサとX線撮影の際の
露出制御用の撮影用センサとを備え、前記撮影用センサ
の検出信号を用いてX線撮影時間を制御することにより
X線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線
透視撮影装置において、透視画像全体若しくは幾つかに
分割された領域のヒストグラムから非照射野部分と直接
照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被検体の
照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する代表値
生成手段と、透視用センサに対応する透視画像上の領域
の画素値を平均して得られた透視用センサ領域画素平均
値を求める画素平均値算出手段と、前記代表値生成手段
で生成された代表値と前記画素平均値算出手段で算出さ
れた透視用センサ領域画素平均値との2つから前記撮影
用センサの検出信号を補正するための補正信号を生成す
る補正信号生成手段と、前記撮影用センサの検出信号と
前記補正信号とから撮影条件制御信号を生成する撮影条
件制御信号生成手段とを備え、この撮影条件制御信号を
用いて撮影を行うことを特徴とするX線透視撮影装置で
ある。
信号により補正されることになり、透視と撮影との露出
制御に関する整合性を保つことができるようになる。上
記の(4)の目的を達成するための第8の発明は、X線
透視条件の制御のための透視用センサとX線撮影の際の
露出制御用の撮影用センサとを備え、前記撮影用センサ
の検出信号を用いてX線撮影時間を制御することにより
X線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線
透視撮影装置において、透視画像全体若しくは幾つかに
分割された領域のヒストグラムから非照射野部分と直接
照射野部分と被検体の照射野部分とを認識して被検体の
照射野部分の画素値を代表する代表値を生成する代表値
生成手段と、透視用センサに対応する透視画像上の領域
の画素値を平均して得られた透視用センサ領域画素平均
値を求める画素平均値算出手段と、前記代表値生成手段
で生成された代表値と前記画素平均値算出手段で算出さ
れた透視用センサ領域画素平均値との2つから前記撮影
用センサの検出信号を補正するための補正信号を生成す
る補正信号生成手段と、前記撮影用センサの検出信号と
前記補正信号とから撮影条件制御信号を生成する撮影条
件制御信号生成手段とを備え、この撮影条件制御信号を
用いて撮影を行うことを特徴とするX線透視撮影装置で
ある。
【0032】上述の第8の発明では、撮影用センサの検
出信号を用いてX線撮影時間を制御することによりX線
透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場合に、
透視画像全体若しくは幾つかに分割された領域のヒスト
グラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照
射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代
表する代表値を生成し、透視用センサに対応する透視画
像上の領域の画素値を平均して得られた透視用センサ領
域画素平均値を求め、代表値と透視用センサ領域画素平
均値との2つから撮影用センサの検出信号を補正するた
めの補正信号を生成し、撮影用センサの検出信号と補正
信号とから撮影条件制御信号を生成し、この撮影条件制
御信号を用いて撮影を行うようにする。
出信号を用いてX線撮影時間を制御することによりX線
透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場合に、
透視画像全体若しくは幾つかに分割された領域のヒスト
グラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照
射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代
表する代表値を生成し、透視用センサに対応する透視画
像上の領域の画素値を平均して得られた透視用センサ領
域画素平均値を求め、代表値と透視用センサ領域画素平
均値との2つから撮影用センサの検出信号を補正するた
めの補正信号を生成し、撮影用センサの検出信号と補正
信号とから撮影条件制御信号を生成し、この撮影条件制
御信号を用いて撮影を行うようにする。
【0033】この結果、撮影条件が透視用センサの検出
信号により補正されることになり、透視と撮影との露出
制御に関する整合性を保つことができるようになる。ま
た、透視用センサを用いて補正を行う上述した発明にお
いては、透視用センサを移動可能にすることで、撮影用
センサの位置に一致させることにより最適な位置でのデ
ータを得られる。
信号により補正されることになり、透視と撮影との露出
制御に関する整合性を保つことができるようになる。ま
た、透視用センサを用いて補正を行う上述した発明にお
いては、透視用センサを移動可能にすることで、撮影用
センサの位置に一致させることにより最適な位置でのデ
ータを得られる。
【0034】また、透視用センサを用いて補正を行う上
述した第6及び第8の発明においては、透視用センサを
移動可能にすることも、最適な位置でのデータを得られ
ることから好ましい。
述した第6及び第8の発明においては、透視用センサを
移動可能にすることも、最適な位置でのデータを得られ
ることから好ましい。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態例を詳細に説明する。図1は本発明のX線透視
撮影方法の基本的な処理手順及びX線透視撮影装置の動
作状態を示すフローチャートである。
施の形態例を詳細に説明する。図1は本発明のX線透視
撮影方法の基本的な処理手順及びX線透視撮影装置の動
作状態を示すフローチャートである。
【0036】また、図2は本発明のX線透視撮影方法に
用いる装置であるX線透視撮影装置の主要部となる部分
の構成を示すブロック図であり、更に図3はX線透視撮
影装置の全体の概略構成を示す構成図である。
用いる装置であるX線透視撮影装置の主要部となる部分
の構成を示すブロック図であり、更に図3はX線透視撮
影装置の全体の概略構成を示す構成図である。
【0037】<X線透視撮影装置の構成(1)>まず、
本発明の実施の形態例におけるX線透視撮影装置の全体
構成について図3を用いて説明を行なう。
本発明の実施の形態例におけるX線透視撮影装置の全体
構成について図3を用いて説明を行なう。
【0038】この図3に示す構成のX線透視撮影装置に
おいては、後述する高圧発生部が発生する高圧によりX
線管6が透視若しくは撮影に必要なX線照射を行う。そ
して、天板7上の被検体の透視像をイメージインテンシ
ファイア(Image Intensifier :I.I.)8で可視像にす
ると共に増強し、この可視像をテレビカメラ9aで撮像
する。そして、テレビカメラ9aからの映像信号を信号
処理回路10でディジタルデータとしての扱って必要な
各種画像処理を施す。この画像処理された撮像データを
アナログの映像信号に戻し、表示部15に供給して透視
像若しくは撮影像としての画像表示をするような構成に
なっている。また、フィルム装置Fによってフィルム撮
影も行なえるようになっている。
おいては、後述する高圧発生部が発生する高圧によりX
線管6が透視若しくは撮影に必要なX線照射を行う。そ
して、天板7上の被検体の透視像をイメージインテンシ
ファイア(Image Intensifier :I.I.)8で可視像にす
ると共に増強し、この可視像をテレビカメラ9aで撮像
する。そして、テレビカメラ9aからの映像信号を信号
処理回路10でディジタルデータとしての扱って必要な
各種画像処理を施す。この画像処理された撮像データを
アナログの映像信号に戻し、表示部15に供給して透視
像若しくは撮影像としての画像表示をするような構成に
なっている。また、フィルム装置Fによってフィルム撮
影も行なえるようになっている。
【0039】次に、本発明の実施の形態例におけるX線
透視撮影装置の主要部の構成について図2を用いて説明
を行なう。ADコンバータ(以下、ADC)11はテレ
ビカメラ9aで撮影されて生成された映像信号をディジ
タルデータに変換してイメージメモリ12に供給するA
/D変換手段である。イメージメモリ12はADC11
からのディジタルデータをフレーム若しくはフィールド
等の一定の単位で蓄積して所定の大きさのイメージデー
タとする記憶手段である。加算部13はイメージメモリ
12からのイメージデータと後述するセンサ位置マスク
データとを加算する加算手段である。DAコンバータ
(以下、DAC)14は加算部13で加算されたディジ
タルデータをアナログ映像信号に変換するD/A変換手
段である。表示部15はDAC14からのアナログ映像
信号を受けて映像表示を行う画像表示手段であり、具体
的にはCRT(Cathode-ray Tube)表示装置や液晶表示
装置などの各種表示装置が該当する。
透視撮影装置の主要部の構成について図2を用いて説明
を行なう。ADコンバータ(以下、ADC)11はテレ
ビカメラ9aで撮影されて生成された映像信号をディジ
タルデータに変換してイメージメモリ12に供給するA
/D変換手段である。イメージメモリ12はADC11
からのディジタルデータをフレーム若しくはフィールド
等の一定の単位で蓄積して所定の大きさのイメージデー
タとする記憶手段である。加算部13はイメージメモリ
12からのイメージデータと後述するセンサ位置マスク
データとを加算する加算手段である。DAコンバータ
(以下、DAC)14は加算部13で加算されたディジ
タルデータをアナログ映像信号に変換するD/A変換手
段である。表示部15はDAC14からのアナログ映像
信号を受けて映像表示を行う画像表示手段であり、具体
的にはCRT(Cathode-ray Tube)表示装置や液晶表示
装置などの各種表示装置が該当する。
【0040】操作部21は操作者からの各種操作の入力
を受け付けるユーザ・インタフェース部であり、操作内
容に応じた信号を発生する。主制御部22は操作部21
からの操作に応じた信号や透視用センサ9bからの信号
並びに図示しない各部からの信号を受けて各部を統括的
に制御する制御手段である。センサ選択決定部23はイ
メージデータ12からのイメージデータを受けて自動輝
度調整を行う際に使用すべきセンサの選択・決定を行う
センサ選択決定手段である。
を受け付けるユーザ・インタフェース部であり、操作内
容に応じた信号を発生する。主制御部22は操作部21
からの操作に応じた信号や透視用センサ9bからの信号
並びに図示しない各部からの信号を受けて各部を統括的
に制御する制御手段である。センサ選択決定部23はイ
メージデータ12からのイメージデータを受けて自動輝
度調整を行う際に使用すべきセンサの選択・決定を行う
センサ選択決定手段である。
【0041】センサ位置情報保持部31は複数のセンサ
のそれぞれの位置情報を保持している情報保持手段であ
り、複数のセンサの位置情報を必要に応じて出力するよ
う構成されている。センサ位置情報制御部32はセンサ
位置情報保持部31で保持されているセンサ位置情報を
イメージデータ上の輝度情報として展開する制御手段で
ある。フレームメモリ33はセンサ位置情報制御部32
で展開生成された輝度情報のイメージデータを保持する
記憶手段である。
のそれぞれの位置情報を保持している情報保持手段であ
り、複数のセンサの位置情報を必要に応じて出力するよ
う構成されている。センサ位置情報制御部32はセンサ
位置情報保持部31で保持されているセンサ位置情報を
イメージデータ上の輝度情報として展開する制御手段で
ある。フレームメモリ33はセンサ位置情報制御部32
で展開生成された輝度情報のイメージデータを保持する
記憶手段である。
【0042】撮影用センサ41(撮影用センサ41a,
41b,41c)はI.I.の所定の位置に配置されて複数
の領域の輝度を検出する撮影用の輝度検出手段である。
センサ信号制御部42は撮影用センサ41a〜41cの
いずれか1つ若しくは複数を切り替えて選択するための
切り替え制御信号をセンサ選択決定部23での選択・決
定に従って生成する切り替え制御手段である。センサ信
号切替部43はセンサ信号制御部42からの切り替え制
御信号に従って選択された1つ若しくは複数の撮影用セ
ンサ41a〜41cの検出信号を通過させる切り替え手
段である。積分器44はセンサ信号切替部43を通過し
た検出信号を積分する積分手段である。基準信号発生部
45は自動輝度調整のために撮影用センサ41からの検
出信号と比較すべき基準信号を発生する信号発生手段で
ある。比較部46は積算器44での積算結果と基準信号
発生部45からの基準信号とを比較して露出制御(AE
C)のためのAEC制御信号を生成するものである。
41b,41c)はI.I.の所定の位置に配置されて複数
の領域の輝度を検出する撮影用の輝度検出手段である。
センサ信号制御部42は撮影用センサ41a〜41cの
いずれか1つ若しくは複数を切り替えて選択するための
切り替え制御信号をセンサ選択決定部23での選択・決
定に従って生成する切り替え制御手段である。センサ信
号切替部43はセンサ信号制御部42からの切り替え制
御信号に従って選択された1つ若しくは複数の撮影用セ
ンサ41a〜41cの検出信号を通過させる切り替え手
段である。積分器44はセンサ信号切替部43を通過し
た検出信号を積分する積分手段である。基準信号発生部
45は自動輝度調整のために撮影用センサ41からの検
出信号と比較すべき基準信号を発生する信号発生手段で
ある。比較部46は積算器44での積算結果と基準信号
発生部45からの基準信号とを比較して露出制御(AE
C)のためのAEC制御信号を生成するものである。
【0043】透視制御部51は主制御部22からの指示
により透視のための高圧発生の制御を行う制御手段であ
り、撮影制御部51は主制御部22からの指示により撮
影のための高圧発生の制御を行う制御手段であり、高圧
発生部53は透視制御部51及び撮影制御部52からの
指示により透視と撮影とに必要な高圧を発生してX線管
6に印加するよう構成されている。
により透視のための高圧発生の制御を行う制御手段であ
り、撮影制御部51は主制御部22からの指示により撮
影のための高圧発生の制御を行う制御手段であり、高圧
発生部53は透視制御部51及び撮影制御部52からの
指示により透視と撮影とに必要な高圧を発生してX線管
6に印加するよう構成されている。
【0044】<X線透視撮影装置の動作>ここで、上述
のX線透視撮影装置の動作について図1も参照して説明
を行う。X線管6からのX線が被検体を透過しており、
この透過X線をI.I.8で受ける。このとき、I.I.8の出
力を撮影したテレビカメラ9aからの映像信号はADC
11でディジタルデータに変換された後、イメージメモ
リ12に蓄積される。そして、イメージメモリ12から
読み出されて、必要に応じて加算部13で後述するセン
サ位置マスクデータと加算された後、DAC14でアナ
ログ映像信号に変換されて表示部15でリアルタイムで
映像表示がなされている。この状態がX線透視の動作状
態である。
のX線透視撮影装置の動作について図1も参照して説明
を行う。X線管6からのX線が被検体を透過しており、
この透過X線をI.I.8で受ける。このとき、I.I.8の出
力を撮影したテレビカメラ9aからの映像信号はADC
11でディジタルデータに変換された後、イメージメモ
リ12に蓄積される。そして、イメージメモリ12から
読み出されて、必要に応じて加算部13で後述するセン
サ位置マスクデータと加算された後、DAC14でアナ
ログ映像信号に変換されて表示部15でリアルタイムで
映像表示がなされている。この状態がX線透視の動作状
態である。
【0045】センサ選択決定部23ではイメージメモリ
12からのイメージデータを受けて、撮影用センサ41
a〜41cの有感領域に相当する信号を検出信号として
サンプリングし、各領域毎に画素値の平均値、並びに、
画素値の出現頻度についてのヒストグラムを生成する
(図1ステップ1)。従って、センサ選択決定部23が
平均値・ヒストグラム生成手段を構成している。
12からのイメージデータを受けて、撮影用センサ41
a〜41cの有感領域に相当する信号を検出信号として
サンプリングし、各領域毎に画素値の平均値、並びに、
画素値の出現頻度についてのヒストグラムを生成する
(図1ステップ1)。従って、センサ選択決定部23が
平均値・ヒストグラム生成手段を構成している。
【0046】図4(a)はテレビカメラ9aで撮影され
た映像信号と撮影用センサ41a〜41cの位置的対応
関係を示す模式図であり、映像信号としては一部がバリ
ウムで造影された被検体の様子を示している。
た映像信号と撮影用センサ41a〜41cの位置的対応
関係を示す模式図であり、映像信号としては一部がバリ
ウムで造影された被検体の様子を示している。
【0047】ここでは、撮影用センサ41cは被検体外
部の領域をサンプリングし、撮影用センサ41bは被検
体の領域をサンプリングし、撮影用センサ41cはバリ
ウムで造影された被検体の領域をサンプリングしている
場合を例にして示している。
部の領域をサンプリングし、撮影用センサ41bは被検
体の領域をサンプリングし、撮影用センサ41cはバリ
ウムで造影された被検体の領域をサンプリングしている
場合を例にして示している。
【0048】また、非照射野部分,直接照射野部分,被
検体の照射野部分というように分かれることもある。図
4(a)の場合を例にして考えると、このような配置の
撮影用センサ41a〜41cの各領域のサンプリング結
果の検出信号からヒストグラム及び平均値を生成した場
合には、図4(b)に示すようになる。
検体の照射野部分というように分かれることもある。図
4(a)の場合を例にして考えると、このような配置の
撮影用センサ41a〜41cの各領域のサンプリング結
果の検出信号からヒストグラム及び平均値を生成した場
合には、図4(b)に示すようになる。
【0049】ここでは、2点鎖線の特性曲線Aが撮影用
センサ41aの検出信号から生成されたヒストグラムで
あり、空気の領域であるため画素値が大きい部分で頻度
が大きくなっている。また、このヒストグラムAの内部
のA’が画素値の平均値である。
センサ41aの検出信号から生成されたヒストグラムで
あり、空気の領域であるため画素値が大きい部分で頻度
が大きくなっている。また、このヒストグラムAの内部
のA’が画素値の平均値である。
【0050】実線の特性曲線Bが撮影用センサ41bの
検出信号から生成されたヒストグラムであり、被検体の
領域であるため画素値が中程度の部分で頻度が大きくな
っている。また、このヒストグラムBの内部のB’が画
素値の平均値である。
検出信号から生成されたヒストグラムであり、被検体の
領域であるため画素値が中程度の部分で頻度が大きくな
っている。また、このヒストグラムBの内部のB’が画
素値の平均値である。
【0051】1点鎖線の特性曲線Cが撮影用センサ41
cの検出信号から生成されたヒストグラムであり、バリ
ウムにより造影された領域であるため画素値が小さい部
分で頻度が大きくなっている。また、このヒストグラム
Cの内部のC’が画素値の平均値である。
cの検出信号から生成されたヒストグラムであり、バリ
ウムにより造影された領域であるため画素値が小さい部
分で頻度が大きくなっている。また、このヒストグラム
Cの内部のC’が画素値の平均値である。
【0052】このようなヒストグラムを生成したセンサ
選択決定部23は、各ヒストグラムの画素値のピーク値
やその分散などにより、各ヒストグラムが非照射野部
分,直接照射野部分,被検体の照射野部分(若しくは、
空気部分,被検体部分,被検体の造影部分)のいずれに
属するかを認識する(図1ステップ2)。尚、このヒス
トグラムによる認識の際には、透視の映像信号から画面
全体で1つのヒストグラムを生成し、このヒストグラム
の極大及び極小となる画素値を参照して認識を行うよう
にしても良い。
選択決定部23は、各ヒストグラムの画素値のピーク値
やその分散などにより、各ヒストグラムが非照射野部
分,直接照射野部分,被検体の照射野部分(若しくは、
空気部分,被検体部分,被検体の造影部分)のいずれに
属するかを認識する(図1ステップ2)。尚、このヒス
トグラムによる認識の際には、透視の映像信号から画面
全体で1つのヒストグラムを生成し、このヒストグラム
の極大及び極小となる画素値を参照して認識を行うよう
にしても良い。
【0053】この図4(b)の場合には、ヒストグラム
Bを照射野部分として認識し、そのヒストグラムから照
射野部分を画素値を代表する代表値(図4D)を生成す
る(図1ステップ3)。従って、センサ選択決定部23
が代表値生成手段を構成している。
Bを照射野部分として認識し、そのヒストグラムから照
射野部分を画素値を代表する代表値(図4D)を生成す
る(図1ステップ3)。従って、センサ選択決定部23
が代表値生成手段を構成している。
【0054】尚、ここで、画素値を代表するとは、ある
程度の拡がりを持つ被検体の照射野の輝度範囲が最も良
く描写されるような中心的値を意味し、例えば実質照射
野部分のヒストグラムの重心などによって求められる。
程度の拡がりを持つ被検体の照射野の輝度範囲が最も良
く描写されるような中心的値を意味し、例えば実質照射
野部分のヒストグラムの重心などによって求められる。
【0055】以上のようにして生成された代表値Dと、
各センサ領域での画素値の平均値A,B,Cとのそれぞ
れで比較を行う。そして、比較した結果、代表値Dの値
と近い平均値を有する撮影用センサを選択する(図1ス
テップ4)。
各センサ領域での画素値の平均値A,B,Cとのそれぞ
れで比較を行う。そして、比較した結果、代表値Dの値
と近い平均値を有する撮影用センサを選択する(図1ス
テップ4)。
【0056】この選択としては、いくつかの変形例が考
えられる。 代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用センサ1つを
選択する。 代表値Dと各撮影用センサの平均値との間で比較を行
って差を求め、差が所定のしきい値以下である場合に、
代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用センサ1つを選
択する。
えられる。 代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用センサ1つを
選択する。 代表値Dと各撮影用センサの平均値との間で比較を行
って差を求め、差が所定のしきい値以下である場合に、
代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用センサ1つを選
択する。
【0057】代表値Dと各撮影用センサの平均値との
間で比較を行って差を求め、差が所定のしきい値以下で
ある場合に、代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用セ
ンサ1つを選択する。差がしきい値を超えた場合には、
複数の撮影用センサを選択して、平均値の加算合成値が
しきい値の範囲内に納まるようにする。
間で比較を行って差を求め、差が所定のしきい値以下で
ある場合に、代表値Dの値に一番近い平均値の撮影用セ
ンサ1つを選択する。差がしきい値を超えた場合には、
複数の撮影用センサを選択して、平均値の加算合成値が
しきい値の範囲内に納まるようにする。
【0058】以上のような場合、によれば処理が簡略
化できる利点を有している。また、によればよりも
精度を向上させることが可能になるが、しきい値を超え
た場合にエラーとするなどの手当が必要である。によ
ればどのような場合にでも確実に処理を行うことができ
るようになる。
化できる利点を有している。また、によればよりも
精度を向上させることが可能になるが、しきい値を超え
た場合にエラーとするなどの手当が必要である。によ
ればどのような場合にでも確実に処理を行うことができ
るようになる。
【0059】尚、図5のフローチャートにおいて、ステ
ップ1〜ステップ3までは図1のフローチャートと同じ
処理であり、ステップ4〜ステップ7が上述の若しく
はの処理の様子を示している。
ップ1〜ステップ3までは図1のフローチャートと同じ
処理であり、ステップ4〜ステップ7が上述の若しく
はの処理の様子を示している。
【0060】このように撮影用センサの選択のための決
定を行なったセンサ選択決定部23の決定結果を受けて
センサ信号制御部42がセンサ信号切替部43の切替状
態を制御する。このようにして撮影用センサ41の選択
が実行される。
定を行なったセンサ選択決定部23の決定結果を受けて
センサ信号制御部42がセンサ信号切替部43の切替状
態を制御する。このようにして撮影用センサ41の選択
が実行される。
【0061】また、以上のような代表値を生成して撮影
用センサの選択を選択する以外に、ヒストグラムからし
きい値を定めて、このしきい値で求めるべきセンサを選
択することも可能である。
用センサの選択を選択する以外に、ヒストグラムからし
きい値を定めて、このしきい値で求めるべきセンサを選
択することも可能である。
【0062】この場合、例えば、映像信号全体のイメー
ジデータからヒストグラムを生成する。このヒストグラ
ムは、空気の領域,被検体の領域及び造影された被検体
の領域のそれぞれの部分でピークを有する特性になって
いる。そこで、このヒストグラムの極小値を見つけ、極
小値となる画素値をしきい値T1及びT2として定め
る。
ジデータからヒストグラムを生成する。このヒストグラ
ムは、空気の領域,被検体の領域及び造影された被検体
の領域のそれぞれの部分でピークを有する特性になって
いる。そこで、このヒストグラムの極小値を見つけ、極
小値となる画素値をしきい値T1及びT2として定め
る。
【0063】また、極小値を検出してしきい値を決定す
る以外に、各ピーク値の間の最小値を検出する方法でも
構わない。更に、X線強度(管電圧,管電流など)によ
ってヒストグラムの画素値の最大値や最小値は計算によ
り求めることが可能であるため、計算によって求めた最
大値や最小値から更に計算によりしきい値を決定する事
も可能である。例えば、最小値×1.1を第1のしきい
値T1とし、最大値×0.9を第2のしきい値T2とす
ることも可能である。この場合の定数(1.1や0.
9)は必要に応じて変更することは可能である。
る以外に、各ピーク値の間の最小値を検出する方法でも
構わない。更に、X線強度(管電圧,管電流など)によ
ってヒストグラムの画素値の最大値や最小値は計算によ
り求めることが可能であるため、計算によって求めた最
大値や最小値から更に計算によりしきい値を決定する事
も可能である。例えば、最小値×1.1を第1のしきい
値T1とし、最大値×0.9を第2のしきい値T2とす
ることも可能である。この場合の定数(1.1や0.
9)は必要に応じて変更することは可能である。
【0064】そして、各センサ領域のヒストグラム(図
4A,B,C)について、第1のしきい値T1及び第2
のしきい値T2と比較を行って、第1及び第2のしきい
値の間(T1〜T2)の中間の部分の画素値に大きな面
積(画素数×頻度)を有するヒストグラムのセンサを選
択する。または、第1のしきい値T1及び第2のしきい
値T2の間に最大値若しくは極大値を有するヒストグラ
ムのセンサを選択する。
4A,B,C)について、第1のしきい値T1及び第2
のしきい値T2と比較を行って、第1及び第2のしきい
値の間(T1〜T2)の中間の部分の画素値に大きな面
積(画素数×頻度)を有するヒストグラムのセンサを選
択する。または、第1のしきい値T1及び第2のしきい
値T2の間に最大値若しくは極大値を有するヒストグラ
ムのセンサを選択する。
【0065】このように、しきい値を用いるセンサ選択
によっても、例えば、図4の場合にはBのヒストグラム
が中間部分の画素値の範囲に大きな面積(及び、最大
値)を有しているため、このBのヒストグラムを生成し
た撮影用センサ41bを選択することができる。
によっても、例えば、図4の場合にはBのヒストグラム
が中間部分の画素値の範囲に大きな面積(及び、最大
値)を有しているため、このBのヒストグラムを生成し
た撮影用センサ41bを選択することができる。
【0066】尚、上述のしきい値を求めることなく、複
数のヒストグラムを比較して中間の画素値の領域に一番
大きな面積または最大値若しくは極大値を有するセンサ
を選択することも可能である。
数のヒストグラムを比較して中間の画素値の領域に一番
大きな面積または最大値若しくは極大値を有するセンサ
を選択することも可能である。
【0067】以上のようないずれかの方法により選択さ
れた撮影用センサ41を用いてX線撮影時間制御のため
の制御信号を生成し(図1ステップ5)、この制御信号
を用いてX線透視若しくはX線撮影を実行する(図1ス
テップ6)。
れた撮影用センサ41を用いてX線撮影時間制御のため
の制御信号を生成し(図1ステップ5)、この制御信号
を用いてX線透視若しくはX線撮影を実行する(図1ス
テップ6)。
【0068】すなわち、センサ選択決定部23からの選
択決定結果を受けたセンサ信号制御部42は、選択決定
結果に従ってセンサ信号切替部43を切替え制御する。
従って、撮影用センサ41a〜41cの検出結果のうち
選択結果に従って切替えられたセンサ信号切替部43を
通過した検出結果が積分器44に供給される。
択決定結果を受けたセンサ信号制御部42は、選択決定
結果に従ってセンサ信号切替部43を切替え制御する。
従って、撮影用センサ41a〜41cの検出結果のうち
選択結果に従って切替えられたセンサ信号切替部43を
通過した検出結果が積分器44に供給される。
【0069】積分器44では検出結果が積分されて一定
時間あたりの平均値とされる。この積分結果と基準信号
発生部45からの基準信号とが比較部46で比較され、
比較結果が露出制御のためのAEC制御信号として使用
される。そして撮影制御部52の制御により高圧発生部
53が発生するX線強度が調整される。
時間あたりの平均値とされる。この積分結果と基準信号
発生部45からの基準信号とが比較部46で比較され、
比較結果が露出制御のためのAEC制御信号として使用
される。そして撮影制御部52の制御により高圧発生部
53が発生するX線強度が調整される。
【0070】尚、基準信号発生部45が発生する基準信
号としては、体厚などによって操作者が選択して複数の
基準値の中から最適と思われる信号を選択して発生する
事も可能である。
号としては、体厚などによって操作者が選択して複数の
基準値の中から最適と思われる信号を選択して発生する
事も可能である。
【0071】以上詳細に説明したように、透視画像を参
照することでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを
選択することが可能なX線透視撮影方法及び装置が実現
される。
照することでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを
選択することが可能なX線透視撮影方法及び装置が実現
される。
【0072】ところで、以上のようにして選択された撮
影用センサ41に応じた透視画像の画素値の平均値をセ
ンサ選択決定部23が求めているので、この選択された
撮影用センサ41に応じた透視画像の画素値の平均値
(透視用センサ領域画素平均値)を用いて、透視条件を
定めることが可能である。
影用センサ41に応じた透視画像の画素値の平均値をセ
ンサ選択決定部23が求めているので、この選択された
撮影用センサ41に応じた透視画像の画素値の平均値
(透視用センサ領域画素平均値)を用いて、透視条件を
定めることが可能である。
【0073】すなわち、選択されたセンサに応じた透視
画像での画素値の平均値を透視制御部51が参照して、
透視条件としてのX線管電圧や電流を決定する。そし
て、このように決定された透視条件に従って高圧発生部
53が透視用の高圧を発生して、X線管6がX線の照射
を行う。このようにすることで、撮影用センサの位置上
の透視画像から透視条件を決定することになり、透視の
ABC制御と撮影のAEC制御との間で制御を行うセン
サエリアの条件を一致させることが可能になる。従っ
て、透視で得られる画像と撮影で得られる画像とで露出
に関して大きな違いが生じることはなくなる。
画像での画素値の平均値を透視制御部51が参照して、
透視条件としてのX線管電圧や電流を決定する。そし
て、このように決定された透視条件に従って高圧発生部
53が透視用の高圧を発生して、X線管6がX線の照射
を行う。このようにすることで、撮影用センサの位置上
の透視画像から透視条件を決定することになり、透視の
ABC制御と撮影のAEC制御との間で制御を行うセン
サエリアの条件を一致させることが可能になる。従っ
て、透視で得られる画像と撮影で得られる画像とで露出
に関して大きな違いが生じることはなくなる。
【0074】尚、以上のようにして選択された撮影用セ
ンサの位置を透視画像に重畳して表示することも可能で
ある。この場合には、予め撮影用センサ41a〜41c
の有感領域のデータをセンサ位置情報保持部31に格
納,記憶しておく。
ンサの位置を透視画像に重畳して表示することも可能で
ある。この場合には、予め撮影用センサ41a〜41c
の有感領域のデータをセンサ位置情報保持部31に格
納,記憶しておく。
【0075】そして、センサ選択決定部23からの選択
決定結果を受けたセンサ位置情報制御部32は、選択決
定結果に応じてセンサ位置情報保持部31より必要なセ
ンサ位置情報を読み出す。
決定結果を受けたセンサ位置情報制御部32は、選択決
定結果に応じてセンサ位置情報保持部31より必要なセ
ンサ位置情報を読み出す。
【0076】更に、センサ位置情報制御部32は読み出
したセンサ位置情報をイメージデータ上の輝度情報とし
てフレームメモリ33上に展開生成する。この場合の展
開生成された輝度情報としては、選択決定されたセンサ
の有感領域に相当する部分を明るくし、他の領域全体を
暗くするようなマスクなどが考えられる。例えばイメー
ジメモリ12上のイメージデータが256階調であった
とすると、選択決定された撮影用センサ41cの位置
(実線で囲まれた範囲)において−32,他の領域全体
において+32の値が書込まれたイメージデータによる
マスク(センサ位置マスクデータ)をフレームメモリ3
3上に生成する。この場合選択されなかったセンサの範
囲もセンサが存在しない領域と同じ様に+32のデータ
が書込まれている。
したセンサ位置情報をイメージデータ上の輝度情報とし
てフレームメモリ33上に展開生成する。この場合の展
開生成された輝度情報としては、選択決定されたセンサ
の有感領域に相当する部分を明るくし、他の領域全体を
暗くするようなマスクなどが考えられる。例えばイメー
ジメモリ12上のイメージデータが256階調であった
とすると、選択決定された撮影用センサ41cの位置
(実線で囲まれた範囲)において−32,他の領域全体
において+32の値が書込まれたイメージデータによる
マスク(センサ位置マスクデータ)をフレームメモリ3
3上に生成する。この場合選択されなかったセンサの範
囲もセンサが存在しない領域と同じ様に+32のデータ
が書込まれている。
【0077】このセンサ位置マスクデータ(図8
(a))とイメージメモリ12からのイメージデータ
(図8(b))とを加算部13で各ピクセル毎にディジ
タル的に加算し、加算されたディジタルデータをDAC
14でアナログの映像信号に戻して表示部15に画像表
示する。この結果、図8(c)に示したように、選択決
定されてABC制御に用いられているセンサの領域が前
述のマスクにより明るくなった映像が得られる。前述の
マスクの例では、選択決定された撮影用センサ41cの
位置では周囲の領域より64階調明るくなって表示され
るため、その範囲を明瞭に表すことができる。
(a))とイメージメモリ12からのイメージデータ
(図8(b))とを加算部13で各ピクセル毎にディジ
タル的に加算し、加算されたディジタルデータをDAC
14でアナログの映像信号に戻して表示部15に画像表
示する。この結果、図8(c)に示したように、選択決
定されてABC制御に用いられているセンサの領域が前
述のマスクにより明るくなった映像が得られる。前述の
マスクの例では、選択決定された撮影用センサ41cの
位置では周囲の領域より64階調明るくなって表示され
るため、その範囲を明瞭に表すことができる。
【0078】尚、このマスクの内容は上述の例に限ら
ず、選択されたセンサの位置が明瞭になるように各種の
変更が可能であり、明暗を逆にしたり、明暗の値を変更
したり、また、明暗による点滅表示や枠を用いた表示も
可能である。
ず、選択されたセンサの位置が明瞭になるように各種の
変更が可能であり、明暗を逆にしたり、明暗の値を変更
したり、また、明暗による点滅表示や枠を用いた表示も
可能である。
【0079】これにより、どの撮影用センサが使用され
て撮影の際に露出制御がなされるかが透視の際に操作者
に明らかになる。尚、このような撮影用センサ位置を重
畳表示する際の表示モードとしては以下の態様が考えら
れる。 撮影用センサ位置表示が操作者により選択された場合
にのみ、撮影センサ位置を重畳して表示する。 撮影用センサの選択決定が手動若しくは自動で切り替
わった場合に、切り替わったタイミングから所定の時間
だけセンサ位置を重畳して表示する。 表示を行うか表示を行なわないかを選択し、その状態
が保持される。 以上の〜において、表示の中止の操作がなされる
と表示を中止する。
て撮影の際に露出制御がなされるかが透視の際に操作者
に明らかになる。尚、このような撮影用センサ位置を重
畳表示する際の表示モードとしては以下の態様が考えら
れる。 撮影用センサ位置表示が操作者により選択された場合
にのみ、撮影センサ位置を重畳して表示する。 撮影用センサの選択決定が手動若しくは自動で切り替
わった場合に、切り替わったタイミングから所定の時間
だけセンサ位置を重畳して表示する。 表示を行うか表示を行なわないかを選択し、その状態
が保持される。 以上の〜において、表示の中止の操作がなされる
と表示を中止する。
【0080】以上のようにして使用されるセンサ位置を
透視画像に重畳表示することで、フィルム撮影の際のA
EC制御にもABC制御と同じ位置のセンサを操作者が
確認して選択することが容易になり、撮影の露出の失敗
が減少することが期待できる。
透視画像に重畳表示することで、フィルム撮影の際のA
EC制御にもABC制御と同じ位置のセンサを操作者が
確認して選択することが容易になり、撮影の露出の失敗
が減少することが期待できる。
【0081】図7はセンサ位置情報保持部31で予め記
憶しておくセンサ位置のキャリブレーション処理の手順
を示したフローチャートである。このフローチャートを
参照してキャリブレーション処理について説明する。
憶しておくセンサ位置のキャリブレーション処理の手順
を示したフローチャートである。このフローチャートを
参照してキャリブレーション処理について説明する。
【0082】まず、複数の撮影用センサのうち、いずれ
か1番目のセンサを選択して処理を開始する(図7ステ
ップ1)。そして、センサ形状の選択を行う(図7ステ
ップ2)。例えば、センサ位置情報として書込むべきセ
ンサの形状を所定の色のパターンなどで表示しておい
て、表示装置15の表示画面に実際に撮像した結果に含
まれるセンサの形状と合致するように、センサの形状を
選択する。
か1番目のセンサを選択して処理を開始する(図7ステ
ップ1)。そして、センサ形状の選択を行う(図7ステ
ップ2)。例えば、センサ位置情報として書込むべきセ
ンサの形状を所定の色のパターンなどで表示しておい
て、表示装置15の表示画面に実際に撮像した結果に含
まれるセンサの形状と合致するように、センサの形状を
選択する。
【0083】次に、センサ大きさの選択を行う(図7ス
テップ3)。例えば、センサ位置情報として書込むべき
センサの大きさを上述の処理で決定された形状に従って
所定の色のパターンで表示しておいて、表示装置15の
表示画面に実際に撮像した結果に含まれるセンサの大き
さと合致するように、センサの大きさを選択する。
テップ3)。例えば、センサ位置情報として書込むべき
センサの大きさを上述の処理で決定された形状に従って
所定の色のパターンで表示しておいて、表示装置15の
表示画面に実際に撮像した結果に含まれるセンサの大き
さと合致するように、センサの大きさを選択する。
【0084】そして、センサ位置の選択を行う(図7ス
テップ4)。例えば、センサ位置情報として書込むべき
センサの位置を上述の処理で決定された形状及び大きさ
に従って所定の色のパターンで表示しておいて、表示装
置15の表示画面に実際に撮像した結果に含まれるセン
サの位置と合致するように、センサの位置を選択する。
テップ4)。例えば、センサ位置情報として書込むべき
センサの位置を上述の処理で決定された形状及び大きさ
に従って所定の色のパターンで表示しておいて、表示装
置15の表示画面に実際に撮像した結果に含まれるセン
サの位置と合致するように、センサの位置を選択する。
【0085】このように形状,大きさ及び位置の調整を
全てのセンサについて行なって(図7ステップ5,6〜
2,3,4)、全センサについて得られた形状,大きさ
及び位置の情報をセンサ位置情報保持部31の所定の領
域に記憶させる。以上のようにして、位置情報保持部3
1の記憶内容を決定し、記憶させておく。
全てのセンサについて行なって(図7ステップ5,6〜
2,3,4)、全センサについて得られた形状,大きさ
及び位置の情報をセンサ位置情報保持部31の所定の領
域に記憶させる。以上のようにして、位置情報保持部3
1の記憶内容を決定し、記憶させておく。
【0086】ところで、透視の際の輝度調整にあって
は、透視用センサ9bでの検出信号か、前述したように
選択された撮影用センサ41に対応する位置の透視画像
の画素値の平均値かを参照して、主制御部22の指示で
透視制御部51が透視条件を制御するものであった。
は、透視用センサ9bでの検出信号か、前述したように
選択された撮影用センサ41に対応する位置の透視画像
の画素値の平均値かを参照して、主制御部22の指示で
透視制御部51が透視条件を制御するものであった。
【0087】このような透視条件の制御以外に、選択さ
れた撮影用センサ41に対応する位置の透視画像の画素
値の平均値(撮影用センサ領域画素平均値)と、透視用
センサ9bに対応する位置の透視画像の画素値の平均値
(透視用センサ領域画素平均値)とを参照して主制御部
22が補正値を生成し、この補正値をもって透視用セン
サ9bでの検出信号を補正することが可能である。
れた撮影用センサ41に対応する位置の透視画像の画素
値の平均値(撮影用センサ領域画素平均値)と、透視用
センサ9bに対応する位置の透視画像の画素値の平均値
(透視用センサ領域画素平均値)とを参照して主制御部
22が補正値を生成し、この補正値をもって透視用セン
サ9bでの検出信号を補正することが可能である。
【0088】このような処理(平均値の算出及び補正値
の生成)を主制御部22で行うことにより、補正された
検出信号の結果を透視制御部51に伝達する。そして、
透視制御部51は補正された検出信号の結果を参照し
て、透視条件としてのX線管電圧や電流を決定する。そ
して、このように決定された透視条件に従って高圧発生
部53が透視用の高圧を発生して、X線管6がX線の照
射を行う。このようにして透視を実行する。従って、主
制御部22が平均値算出手段と補正信号生成手段とを構
成している。
の生成)を主制御部22で行うことにより、補正された
検出信号の結果を透視制御部51に伝達する。そして、
透視制御部51は補正された検出信号の結果を参照し
て、透視条件としてのX線管電圧や電流を決定する。そ
して、このように決定された透視条件に従って高圧発生
部53が透視用の高圧を発生して、X線管6がX線の照
射を行う。このようにして透視を実行する。従って、主
制御部22が平均値算出手段と補正信号生成手段とを構
成している。
【0089】このような透視を実行した場合、撮影用セ
ンサ及び透視用センサの位置上の透視画像で実際の透視
用センサ9bの検出信号を補正してから透視条件を決定
することになり、透視のABC制御の状態を撮影のAE
C制御の状態に近づけることができる。従って、透視で
得られる画像と撮影で得られる画像とで露出に関して大
きな違いが生じることがなくなる。
ンサ及び透視用センサの位置上の透視画像で実際の透視
用センサ9bの検出信号を補正してから透視条件を決定
することになり、透視のABC制御の状態を撮影のAE
C制御の状態に近づけることができる。従って、透視で
得られる画像と撮影で得られる画像とで露出に関して大
きな違いが生じることがなくなる。
【0090】また、このような補正信号を用いる場合に
おいて、補正信号と透視用センサの検出結果との比率に
ついては、以上の特性に鑑みて任意の比率に調整するこ
とが可能である。
おいて、補正信号と透視用センサの検出結果との比率に
ついては、以上の特性に鑑みて任意の比率に調整するこ
とが可能である。
【0091】尚、以上のように透視用センサ9bの検出
結果を用いる場合に、従来例で説明したような固定の位
置(例えば画面中心)に配置しておくのではなく、駆動
機構を用いて移動可能にすることも可能である。この場
合には、選択された撮影用センサ41の位置に透視用セ
ンサ9bを移動させることも可能である。このようにす
ることでも、透視条件と撮影条件との制御を近づけるこ
とが可能になる。
結果を用いる場合に、従来例で説明したような固定の位
置(例えば画面中心)に配置しておくのではなく、駆動
機構を用いて移動可能にすることも可能である。この場
合には、選択された撮影用センサ41の位置に透視用セ
ンサ9bを移動させることも可能である。このようにす
ることでも、透視条件と撮影条件との制御を近づけるこ
とが可能になる。
【0092】また、撮影条件を制御するに際しても、既
に説明した実施の形態例のように選択された撮影用セン
サ41の検出結果による撮影条件の制御以外に、補正値
をもって撮影用センサ41の検出結果を補正することが
可能である。
に説明した実施の形態例のように選択された撮影用セン
サ41の検出結果による撮影条件の制御以外に、補正値
をもって撮影用センサ41の検出結果を補正することが
可能である。
【0093】例えば、前述した照射野部分を画素値を代
表する代表値値と、透視用センサ9bに対応する位置の
透視画像の画素値の平均値とを参照して主制御部22が
補正値を生成し、この補正値をもって透視用センサ9b
での検出信号を補正することが可能である。
表する代表値値と、透視用センサ9bに対応する位置の
透視画像の画素値の平均値とを参照して主制御部22が
補正値を生成し、この補正値をもって透視用センサ9b
での検出信号を補正することが可能である。
【0094】このような処理を主制御部22で行うこと
により、補正された検出信号の結果を撮影制御部52に
伝達する。そして、撮影制御部52は補正された検出信
号の結果を参照して、撮影条件としてのX線管電圧や電
流を決定する。そして、このように決定された撮影条件
に従って高圧発生部53が撮影用の高圧を発生して、X
線管6がX線の照射を行う。このようにして撮影を実行
する。
により、補正された検出信号の結果を撮影制御部52に
伝達する。そして、撮影制御部52は補正された検出信
号の結果を参照して、撮影条件としてのX線管電圧や電
流を決定する。そして、このように決定された撮影条件
に従って高圧発生部53が撮影用の高圧を発生して、X
線管6がX線の照射を行う。このようにして撮影を実行
する。
【0095】このような補正を伴った撮影条件の決定を
実行した場合、予め求めた代表値値を参照することで、
何等かの理由により撮影用センサ41の検出結果が突然
大きく変動したような場合であっても、撮影条件が大き
く変ることはなくなる。従って、制御系が安定する利点
を有する。また、透視用センサの位置上の透視画像画素
値を参照することで、撮影のAEC制御の状態を透視の
ABC制御の状態に近づけることができるようになる。
従って、撮影で得られる画像と透視で得られる画像とで
露出に関して大きな違いが生じることがなくなる。
実行した場合、予め求めた代表値値を参照することで、
何等かの理由により撮影用センサ41の検出結果が突然
大きく変動したような場合であっても、撮影条件が大き
く変ることはなくなる。従って、制御系が安定する利点
を有する。また、透視用センサの位置上の透視画像画素
値を参照することで、撮影のAEC制御の状態を透視の
ABC制御の状態に近づけることができるようになる。
従って、撮影で得られる画像と透視で得られる画像とで
露出に関して大きな違いが生じることがなくなる。
【0096】尚、このような補正信号を用いる場合にお
いて、補正信号と撮影用センサの検出結果との比率、ま
た、補正信号に含まれる代表値と透視用センサ位置上の
画素値との比率については、以上の各特性に鑑みて任意
の比率に調整することが可能である。
いて、補正信号と撮影用センサの検出結果との比率、ま
た、補正信号に含まれる代表値と透視用センサ位置上の
画素値との比率については、以上の各特性に鑑みて任意
の比率に調整することが可能である。
【0097】
【発明の効果】以上実施の形態例と共に詳細に説明した
ように、この明細書記載の各発明によれば以下のような
効果が得られる。
ように、この明細書記載の各発明によれば以下のような
効果が得られる。
【0098】撮影用センサに対応するX線透視像の領域
で透視画素値の平均値とヒストグラムとを生成し、ヒス
トグラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の
照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を
代表する代表値を生成し、平均値と代表値とを比較し
て、この比較結果により選択したセンサの検出信号を用
いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この
制御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行うことを
特徴とする第1の発明によれば、透視画像を参照するこ
とでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを選択する
ことが可能なX線透視撮影方法が実現される。
で透視画素値の平均値とヒストグラムとを生成し、ヒス
トグラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の
照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を
代表する代表値を生成し、平均値と代表値とを比較し
て、この比較結果により選択したセンサの検出信号を用
いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成し、この
制御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行うことを
特徴とする第1の発明によれば、透視画像を参照するこ
とでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを選択する
ことが可能なX線透視撮影方法が実現される。
【0099】また、撮影用センサに対応するX線透視像
の領域で透視画素値の平均値とヒストグラムとを生成
し、ヒストグラムから非照射野部分と直接照射野部分と
被検体の照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の
画素値を代表する代表値を生成し、平均値と代表値とを
比較して、この比較結果により選択したセンサの検出信
号を用いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成
し、この制御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行
うことを特徴とする第2の発明によれば、透視画像を参
照することでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを
選択することが可能なX線透視撮影装置が実現される。
の領域で透視画素値の平均値とヒストグラムとを生成
し、ヒストグラムから非照射野部分と直接照射野部分と
被検体の照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の
画素値を代表する代表値を生成し、平均値と代表値とを
比較して、この比較結果により選択したセンサの検出信
号を用いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成
し、この制御信号によりX線透視若しくはX線撮影を行
うことを特徴とする第2の発明によれば、透視画像を参
照することでX線撮影時間制御に適した撮影用センサを
選択することが可能なX線透視撮影装置が実現される。
【0100】また、上述の第2の発明において撮影用セ
ンサの選択をする場合に、複数のセンサの領域について
の平均値と代表値との差を求め、差を予め設定されたし
きい値と比較し、差がしきい値以下となるセンサの中か
ら最も代表値に近い平均値を与えるセンサを選択するこ
とを特徴とする第3の発明によれば、X線撮影時間制御
に適した撮影用センサを選択することが可能になる。
ンサの選択をする場合に、複数のセンサの領域について
の平均値と代表値との差を求め、差を予め設定されたし
きい値と比較し、差がしきい値以下となるセンサの中か
ら最も代表値に近い平均値を与えるセンサを選択するこ
とを特徴とする第3の発明によれば、X線撮影時間制御
に適した撮影用センサを選択することが可能になる。
【0101】また、上述の第2の発明において撮影用セ
ンサの選択をする場合に、複数のセンサの領域について
の平均値と代表値との差を求め、差を予め設定されたし
きい値と比較し、差がしきい値以下となるセンサの中か
ら最も代表値に近い平均値を与えるセンサを選択し、差
がしきい値以下となるセンサが存在しない場合には平均
値の加算合成値がしきい値内になるように複数のセンサ
の代表値に最も近い平均値を持つセンサから選択するこ
とを特徴とする第4の発明によれば、平均値と代表値と
の差がしきい値を超えるような場合にも、X線撮影時間
制御に適した撮影用センサを選択することが可能にな
る。
ンサの選択をする場合に、複数のセンサの領域について
の平均値と代表値との差を求め、差を予め設定されたし
きい値と比較し、差がしきい値以下となるセンサの中か
ら最も代表値に近い平均値を与えるセンサを選択し、差
がしきい値以下となるセンサが存在しない場合には平均
値の加算合成値がしきい値内になるように複数のセンサ
の代表値に最も近い平均値を持つセンサから選択するこ
とを特徴とする第4の発明によれば、平均値と代表値と
の差がしきい値を超えるような場合にも、X線撮影時間
制御に適した撮影用センサを選択することが可能にな
る。
【0102】また、複数の撮影用センサの少なくとも1
つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づ
いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成して、制
御信号を用いてX線透視若しくはX線撮影の少なくとも
一方を行う場合に、選択された1若しくは複数のセンサ
に対応する透視画像上の領域の画素値の平均値から透視
条件決定のための透視条件制御信号を生成することを特
徴とする第5の発明によれば、撮影用センサの位置上の
透視画像から透視条件を決定することで、透視と撮影と
の条件を一致させることが可能なX線透視撮影装置を実
現できる。
つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に基づ
いてX線撮影時間制御のための制御信号を生成して、制
御信号を用いてX線透視若しくはX線撮影の少なくとも
一方を行う場合に、選択された1若しくは複数のセンサ
に対応する透視画像上の領域の画素値の平均値から透視
条件決定のための透視条件制御信号を生成することを特
徴とする第5の発明によれば、撮影用センサの位置上の
透視画像から透視条件を決定することで、透視と撮影と
の条件を一致させることが可能なX線透視撮影装置を実
現できる。
【0103】また、複数の撮影用センサの少なくとも1
つを選択し、選択された撮影センサの検出信号若しくは
合成検出信号を用いてX線撮影時間を制御することによ
りX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場
合に、撮影用センサのそれぞれの有感領域に対応する透
視画像上の領域を予め記憶しておき、選択された撮影用
センサの領域を透視画像に重ねて表示することを特徴と
する第6の発明によれば、透視画像上に撮影条件の決定
のために選択された撮影用センサの位置を重畳表示させ
ることで撮影と透視との関係を把握可能にすることがで
きる。
つを選択し、選択された撮影センサの検出信号若しくは
合成検出信号を用いてX線撮影時間を制御することによ
りX線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場
合に、撮影用センサのそれぞれの有感領域に対応する透
視画像上の領域を予め記憶しておき、選択された撮影用
センサの領域を透視画像に重ねて表示することを特徴と
する第6の発明によれば、透視画像上に撮影条件の決定
のために選択された撮影用センサの位置を重畳表示させ
ることで撮影と透視との関係を把握可能にすることがで
きる。
【0104】また、撮影センサの少なくとも1つを選択
し、選択された1つの撮影センサの検出信号若しくは合
成検出信号を用いてX線撮影時間を制御することにより
X線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場合
に、選択された1若しくは複数の撮影用センサに対応す
る透視画像上の領域の画素値を平均して得られた撮影用
センサ領域画素平均値と、透視用センサに対応する透視
画像上の領域の画素値を平均して得られた透視用センサ
領域画素平均値とを求め、これら撮影用センサ領域画素
平均値と透視用センサ領域画素平均値とから、撮影用セ
ンサの検出信号を補正する補正信号を生成して、透視用
センサの検出信号と補正信号とから透視条件を決定する
ための透視条件制御信号を生成して、この透視条件制御
信号を用いて透視を行うことを特徴とする第7の発明に
よれば、透視条件が撮影用センサの検出信号により補正
されることになり、透視と撮影との露出制御に関する整
合性を保つことができるようになる。
し、選択された1つの撮影センサの検出信号若しくは合
成検出信号を用いてX線撮影時間を制御することにより
X線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行う場合
に、選択された1若しくは複数の撮影用センサに対応す
る透視画像上の領域の画素値を平均して得られた撮影用
センサ領域画素平均値と、透視用センサに対応する透視
画像上の領域の画素値を平均して得られた透視用センサ
領域画素平均値とを求め、これら撮影用センサ領域画素
平均値と透視用センサ領域画素平均値とから、撮影用セ
ンサの検出信号を補正する補正信号を生成して、透視用
センサの検出信号と補正信号とから透視条件を決定する
ための透視条件制御信号を生成して、この透視条件制御
信号を用いて透視を行うことを特徴とする第7の発明に
よれば、透視条件が撮影用センサの検出信号により補正
されることになり、透視と撮影との露出制御に関する整
合性を保つことができるようになる。
【0105】また、撮影用センサの検出信号を用いてX
線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行う場合に、透視画像全体若し
くは幾つかに分割された領域のヒストグラムから非照射
野部分と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識
して被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生
成し、透視用センサに対応する透視画像上の領域の画素
値を平均して得られた透視用センサ領域画素平均値を求
め、代表値と透視用センサ領域画素平均値との2つから
撮影用センサの検出信号を補正するための補正信号を生
成し、撮影用センサの検出信号と補正信号とから撮影条
件制御信号を生成し、この撮影条件制御信号を用いて撮
影を行うことを特徴とする第8の発明によれば、撮影条
件が透視用センサの検出信号により補正されることにな
り、透視と撮影との露出制御に関する整合性を保つこと
ができるようになる。
線撮影時間を制御することによりX線透視若しくはX線
撮影の少なくとも一方を行う場合に、透視画像全体若し
くは幾つかに分割された領域のヒストグラムから非照射
野部分と直接照射野部分と被検体の照射野部分とを認識
して被検体の照射野部分の画素値を代表する代表値を生
成し、透視用センサに対応する透視画像上の領域の画素
値を平均して得られた透視用センサ領域画素平均値を求
め、代表値と透視用センサ領域画素平均値との2つから
撮影用センサの検出信号を補正するための補正信号を生
成し、撮影用センサの検出信号と補正信号とから撮影条
件制御信号を生成し、この撮影条件制御信号を用いて撮
影を行うことを特徴とする第8の発明によれば、撮影条
件が透視用センサの検出信号により補正されることにな
り、透視と撮影との露出制御に関する整合性を保つこと
ができるようになる。
【0106】また、透視用センサを用いて補正を行う上
述した発明において透視用センサを移動可能にすること
で、撮影用センサの位置に一致させることにより最適な
位置でのデータを得られるようになる。
述した発明において透視用センサを移動可能にすること
で、撮影用センサの位置に一致させることにより最適な
位置でのデータを得られるようになる。
【図1】本発明のX線透視撮影方法の基本的な処理手順
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図2】本発明のX線透視撮影方法に用いる装置である
X線透視撮影装置の主要部となる部分の構成を示すブロ
ック図である。
X線透視撮影装置の主要部となる部分の構成を示すブロ
ック図である。
【図3】本発明のX線透視撮影方法に用いるX線透視撮
影装置の全体の構成例を示す構成図である。
影装置の全体の構成例を示す構成図である。
【図4】本発明のX線透視撮影方法での撮影用センサの
決定の様子を示す説明図である。
決定の様子を示す説明図である。
【図5】本発明のX線透視撮影方法の処理手順の他の例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図6】本発明のX線透視撮影方法における選択決定さ
れた撮影用センサ領域の重畳表示の様子を示す説明図で
ある。
れた撮影用センサ領域の重畳表示の様子を示す説明図で
ある。
【図7】本発明のX線透視撮影方法において表示を行う
センサ領域のキャリブレーション処理の様子を示すフロ
ーチャートである。
センサ領域のキャリブレーション処理の様子を示すフロ
ーチャートである。
【図8】CRT表示画面とI.I.透視領域並びにABCセ
ンサ領域の様子を示す説明図である。
ンサ領域の様子を示す説明図である。
【図9】胸部撮影装置の様子を示す説明図である。
6 X線管 9a テレビカメラ 9b 透視用センサ 11 ADC 12 イメージメモリ 13 加算部 14 DAC 15 表示部 21 操作部 22 主制御部 23 センサ選択決定部 31 センサ位置情報保持部 32 センサ位置情報制御部 33 フレームメモリ 41a〜41c 撮影用センサ 42 センサ信号制御部 43 センサ信号切替部 44 積分器 45 基準信号発生部 46 比較部 51 透視制御部 52 撮影制御部 53 高圧発生部
Claims (9)
- 【請求項1】 X線撮影の際の露出制御のために撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影方
法において、 前記複数の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の
領域について透視画素値の平均値及びヒストグラムを生
成し、 前記ヒストグラムから非照射野部分と直接照射野部分と
被検体の照射野部分とを認識して被検体の照射野部分の
画素値を代表する代表値を生成し、 前記平均値と前記代表値とを比較して、X線撮影に用い
る撮影用センサを少なくとも1つ選択し、 この選択された撮影用センサの検出信号を用いてX線撮
影時間を制御することによりX線透視若しくはX線撮影
の少なくとも一方を行うことを特徴とするX線透視撮影
方法。 - 【請求項2】 X線撮影の際の露出制御のための撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装
置において、 前記複数の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の
領域について透視画素値の平均値及びヒストグラムを生
成する平均値・ヒストグラム生成手段と、 前記平均値・ヒストグラム生成手段で生成されたヒスト
グラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照
射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代
表する代表値を生成する代表値生成手段と、 前記平均値・ヒストグラム生成手段で生成された平均値
と前記代表値生成手段で生成された代表値とを比較し
て、X線撮影に用いる撮影用センサを少なくとも1つ選
択するセンサ選択手段と、を備え、 このセンサ選択手段で選択されたセンサの検出信号若し
くは合成検出信号を用いてX線撮影時間制御のための制
御信号を生成し、この制御信号を用いてX線透視若しく
はX線撮影の少なくとも一方を行うことを特徴とするX
線透視撮影装置。 - 【請求項3】 前記平均値・ヒストグラム生成手段で求
められた複数のセンサの領域についてのそれぞれの平均
値と前記代表値生成手段で生成された代表値との差を求
め、この差を予め設定されたしきい値と比較し、前記差
が前記しきい値以下となるセンサの中から最も代表値に
近い平均値を与えるセンサを選択するセンサ選択手段を
備えたことを特徴とする請求項2記載のX線透視撮影装
置。 - 【請求項4】 前記平均値・ヒストグラム生成手段で求
められた複数のセンサの領域についてのそれぞれの平均
値と前記代表値生成手段で生成された代表値との差を求
め、この差を予め設定されたしきい値と比較し、前記差
が前記しきい値以下となるセンサが存在する場合にはそ
の中から最も代表値に近い平均値を与えるセンサを選択
し、前記差がしきい値以下となるセンサが存在しない場
合には平均値の加算合成値がしきい値内になるように複
数のセンサの前記代表値に最も近い平均値を持つセンサ
から選択するセンサ選択手段を備えたことを特徴とする
請求項2記載のX線透視撮影装置。 - 【請求項5】 X線撮影の際の露出制御のための撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装
置において、 前記複数の撮影用センサに対応するX線透視像の各々の
領域について透視画素値の平均値を生成する平均値生成
手段と、 選択された1若しくは複数のセンサに対応する透視画像
上の領域の画素値の平均値から透視条件を決定するため
の透視条件制御信号を生成する透視条件決定手段と、を
備え、 前記透視条件制御信号を用いて透視を行うことを特徴と
するX線透視撮影装置。 - 【請求項6】 X線撮影の際の露出制御のための撮影用
センサを複数備え、この複数の撮影用センサの少なくと
も1つを選択し、選択された撮影用センサの検出信号に
基づいてX線撮影時間を制御することによりX線透視若
しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線透視撮影装
置において、 前記センサのそれぞれの有感領域に対応する透視画像上
の領域を予め記憶しておき、そのうちの1つ若しくは複
数の領域を透視画像に重ねて表示可能にする表示制御手
段を備えたことを特徴とするX線透視撮影装置。 - 【請求項7】 X線透視条件の制御のための透視用セン
サとX線撮影の際の露出制御用の撮影用センサとを複数
備え、前記X線撮影の露出制御用の複数の撮影用センサ
の少なくとも1つを選択し、選択された撮影用センサの
検出信号に基づいてX線撮影時間を制御することにより
X線透視若しくはX線撮影の少なくとも一方を行うX線
透視撮影装置において、 前記選択された1若しくは複数の撮影用センサに対応す
る透視画像上の領域の画素値を平均して得られた撮影用
センサ領域画素平均値と、透視用センサに対応する透視
画像上の領域の画素値を平均して得られた透視用センサ
領域画素平均値とを求める平均値算出手段と、 これら撮影用センサ領域画素平均値と透視用センサ領域
画素平均値とから、前記透視用センサの検出信号を補正
する補正信号を生成する補正信号生成手段と、 前記透視用センサの検出信号と前記補正信号とから透視
条件を決定するための透視条件制御信号を生成する透視
条件信号生成手段とを備え、 この透視条件制御信号を用いて透視を行うことを特徴と
するX線透視撮影装置。 - 【請求項8】 X線透視条件の制御のための透視用セン
サとX線撮影の際の露出制御用の撮影用センサとを備
え、前記撮影用センサの検出信号を用いてX線撮影時間
を制御することによりX線透視若しくはX線撮影の少な
くとも一方を行うX線透視撮影装置において、 透視画像全体若しくは幾つかに分割された領域のヒスト
グラムから非照射野部分と直接照射野部分と被検体の照
射野部分とを認識して被検体の照射野部分の画素値を代
表する代表値を生成する代表値生成手段と、 透視用センサに対応する透視画像上の領域の画素値を平
均して得られた透視用センサ領域画素平均値を求める画
素平均値算出手段と、 前記代表値生成手段で生成された代表値と前記画素平均
値算出手段で算出された透視用センサ領域画素平均値と
の2つから前記撮影用センサの検出信号を補正するため
の補正信号を生成する補正信号生成手段と、 前記撮影用センサの検出信号と前記補正信号とから撮影
条件制御信号を生成する撮影条件制御信号生成手段とを
備え、 この撮影条件制御信号を用いて撮影を行うことを特徴と
するX線透視撮影装置。 - 【請求項9】 前記透視用センサが移動可能に構成され
たことを特徴とする請求項6または8のいずれかに記載
のX線透視撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7208170A JPH0955298A (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | X線透視撮影方法及びx線透視撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7208170A JPH0955298A (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | X線透視撮影方法及びx線透視撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0955298A true JPH0955298A (ja) | 1997-02-25 |
Family
ID=16551824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7208170A Pending JPH0955298A (ja) | 1995-08-15 | 1995-08-15 | X線透視撮影方法及びx線透視撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0955298A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998052388A1 (fr) * | 1997-05-09 | 1998-11-19 | Hitachi Medical Corporation | Procede de commande de rayons x et dispositif a rayons x |
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| JP2002102212A (ja) * | 2000-09-29 | 2002-04-09 | Toshiba Corp | X線診断装置 |
| JP2005211514A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Canon Inc | X線撮影制御装置及び方法 |
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| EP2623032A1 (en) | 2012-02-03 | 2013-08-07 | Fujifilm Corporation | Radiation imaging apparatus and control method thereof, and radiation imaging system |
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