JPH0961294A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
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- JPH0961294A JPH0961294A JP21468695A JP21468695A JPH0961294A JP H0961294 A JPH0961294 A JP H0961294A JP 21468695 A JP21468695 A JP 21468695A JP 21468695 A JP21468695 A JP 21468695A JP H0961294 A JPH0961294 A JP H0961294A
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- Japan
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- optical fiber
- light
- light source
- output
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 微弱な反射光でも検査可能な光ファイバ検査
装置を実現する。 【解決手段】 周波数を掃引した電気信号を光信号に変
換した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点か
らの反射光を検出してその周波数情報から障害点を特定
する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した電
気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光源
と、光源を有し、光ファイバ内の障害点からの反射光と
光源の出力光とを干渉させて電気信号に変換する検波手
段と、強度変調光源の出力光を光ファイバに入射すると
共に光ファイバからの反射光を検波手段に入射する光学
手段と、周波数を掃引した電気信号と検波手段の出力信
号との差周波数に基づき光ファイバを検査する解析手段
とを設ける。
装置を実現する。 【解決手段】 周波数を掃引した電気信号を光信号に変
換した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点か
らの反射光を検出してその周波数情報から障害点を特定
する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した電
気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光源
と、光源を有し、光ファイバ内の障害点からの反射光と
光源の出力光とを干渉させて電気信号に変換する検波手
段と、強度変調光源の出力光を光ファイバに入射すると
共に光ファイバからの反射光を検波手段に入射する光学
手段と、周波数を掃引した電気信号と検波手段の出力信
号との差周波数に基づき光ファイバを検査する解析手段
とを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの検査
装置に関し、特により感度の高い光ファイバ検査装置に
関する。
装置に関し、特により感度の高い光ファイバ検査装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ファイバの検査装置としては一
般に知られているＯＴＤＲ(Optical Time Domain Refle
ctmeter)やＯＦＤＲ(Optical Frequency Domain Reflec
tmeter)がある。ＯＦＤＲは周波数を掃引した電気信号
を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイバ
内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報から
前記障害点を特定する。
般に知られているＯＴＤＲ(Optical Time Domain Refle
ctmeter)やＯＦＤＲ(Optical Frequency Domain Reflec
tmeter)がある。ＯＦＤＲは周波数を掃引した電気信号
を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイバ
内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報から
前記障害点を特定する。
【０００３】ここで、図４はこのような従来の強度変調
形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブロック図である。図４に
おいて１は出力周波数を掃引する発振器、２は分配器、
３は半導体レーザ等の外部信号で出力光の制御が可能な
光源、４はビームスプリッタ、５はレンズ、６は光ファ
イバ等のＤＵＴ(Device Under Test )、７は光検出器、
８はミキサ、９は周波数アナライザである。
形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブロック図である。図４に
おいて１は出力周波数を掃引する発振器、２は分配器、
３は半導体レーザ等の外部信号で出力光の制御が可能な
光源、４はビームスプリッタ、５はレンズ、６は光ファ
イバ等のＤＵＴ(Device Under Test )、７は光検出器、
８はミキサ、９は周波数アナライザである。
【０００４】また、１〜３は強度変調光源５０を、４及
び５は光学手段５１を、７は検波手段５２を、８及び９
は解析手段５３をそれぞれ構成している。
び５は光学手段５１を、７は検波手段５２を、８及び９
は解析手段５３をそれぞれ構成している。
【０００５】発振器１の出力は分配器２に接続され、分
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
ミキサ８の一方の入力端子に接続される。光源３の出力
光はビームスプリッタ４及びレンズ５を透過してＤＵＴ
６に入射される。
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
ミキサ８の一方の入力端子に接続される。光源３の出力
光はビームスプリッタ４及びレンズ５を透過してＤＵＴ
６に入射される。
【０００６】ＤＵＴ６からの反射光はレンズ５を介して
ビームスプリッタ４に入射され、ビームスプリッタ４で
反射されて光検出器７に入射される。光検出器７の出力
はミキサ８の他方の入力端子に接続され、ミキサ８の出
力は周波数アナライザ９に接続される。
ビームスプリッタ４に入射され、ビームスプリッタ４で
反射されて光検出器７に入射される。光検出器７の出力
はミキサ８の他方の入力端子に接続され、ミキサ８の出
力は周波数アナライザ９に接続される。
【０００７】ここで、図４に示す従来例の動作を説明す
る。発振器１の出力は分配器２で２つに分配され、その
一方の出力で光源３を駆動する。この時、光源３の出力
光は発振器１の出力により強度変調される。
る。発振器１の出力は分配器２で２つに分配され、その
一方の出力で光源３を駆動する。この時、光源３の出力
光は発振器１の出力により強度変調される。
【０００８】この強度変調された光はＤＵＴ６に入射さ
れ、ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じ
る。この反射光は光検出器７で検出され、ミキサ８にお
いて分配器２の他方の出力、言い換えれば発振器１の出
力と合成される。
れ、ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じ
る。この反射光は光検出器７で検出され、ミキサ８にお
いて分配器２の他方の出力、言い換えれば発振器１の出
力と合成される。
【０００９】周波数アナライザ９ではミキサ８の出力で
ある２つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等の
ＤＵＴ６を検査する。
ある２つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等の
ＤＵＴ６を検査する。
【００１０】即ち、発振器１を単位時間当たり一定の周
波数変化でリニアに掃引すると、ミキサ８に接続される
２つの入力信号の差周波数は遅れ時間差に比例し、さら
に、この遅れ時間差はＤＵＴ６内の障害点までの距離に
比例するので、前記差周波数からＤＵＴ６内の障害点ま
での距離が求まり、前記差周波数の信号強度から障害点
の大きさが求まり、光ファイバを検査することができ
る。
波数変化でリニアに掃引すると、ミキサ８に接続される
２つの入力信号の差周波数は遅れ時間差に比例し、さら
に、この遅れ時間差はＤＵＴ６内の障害点までの距離に
比例するので、前記差周波数からＤＵＴ６内の障害点ま
での距離が求まり、前記差周波数の信号強度から障害点
の大きさが求まり、光ファイバを検査することができ
る。
【００１１】例えば、発振器１を”１ＧＨｚ／ｓｅｃ”
の割合で掃引し、ＤＵＴ６を群屈折率”ｎ＝１．５”の
光ファイバとし、真空中の光速を”Ｃ”とした場合、光
ファイバ”１ｍ”を光が往復する時間”ｔ”は、 ｔ＝１×２×ｎ／Ｃ≒１×１０-8 ［ｓｅｃ］ (1) となる。
の割合で掃引し、ＤＵＴ６を群屈折率”ｎ＝１．５”の
光ファイバとし、真空中の光速を”Ｃ”とした場合、光
ファイバ”１ｍ”を光が往復する時間”ｔ”は、 ｔ＝１×２×ｎ／Ｃ≒１×１０-8 ［ｓｅｃ］ (1) となる。
【００１２】さらに、掃引の割合から、 １×１０9×１×１０-8 ＝１０9×１０-8＝１０ ［Ｈｚ］ (2) となり、”１０Ｈｚ”の差周波数が生じることになる。
【００１３】言い換えれば、ＤＵＴ６内の障害点までの
距離が”１ｍ”であれば”１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であ
れば”１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１ＫＨ
ｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周波数出力として
得られることになる。
距離が”１ｍ”であれば”１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であ
れば”１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１ＫＨ
ｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周波数出力として
得られることになる。
【００１４】この結果、この具体例においては差周波
数”１０Ｈｚ”がＤＵＴ６内の障害点までの距離”１
ｍ”に相当するので、周波数アナライザ９において差周
波数を解析することにより、ＤＵＴ６内の障害点までの
距離等を得ることができる。
数”１０Ｈｚ”がＤＵＴ６内の障害点までの距離”１
ｍ”に相当するので、周波数アナライザ９において差周
波数を解析することにより、ＤＵＴ６内の障害点までの
距離等を得ることができる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＤＵＴ６内の
障害点までの距離が長い場合や障害点が小さい場合等に
より反射光の強度が弱くなると、光検出器７の感度等に
より前記反射光が検出できず前述の差周波数を得ること
ができないと言った問題点がある。従って本発明が解決
しようとする課題は、微弱な反射光でも検査可能な光フ
ァイバ検査装置を実現することにある。
障害点までの距離が長い場合や障害点が小さい場合等に
より反射光の強度が弱くなると、光検出器７の感度等に
より前記反射光が検出できず前述の差周波数を得ること
ができないと言った問題点がある。従って本発明が解決
しようとする課題は、微弱な反射光でも検査可能な光フ
ァイバ検査装置を実現することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明の第１では、周波数を掃引した電気信
号を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイ
バ内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報か
ら前記障害点を特定する光ファイバ検査装置において、
周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、光源を有し、前記光ファイバ内
の障害点からの前記反射光と前記光源の出力光とを干渉
させて電気信号に変換する検波手段と、前記強度変調光
源の出力光を前記光ファイバに入射すると共に前記光フ
ァイバからの前記反射光を前記検波手段に入射する光学
手段と、周波数を掃引した前記電気信号と前記検波手段
の出力信号との差周波数に基づき前記光ファイバを検査
する解析手段とを備えたことを特徴とするものである。
るために、本発明の第１では、周波数を掃引した電気信
号を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイ
バ内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報か
ら前記障害点を特定する光ファイバ検査装置において、
周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、光源を有し、前記光ファイバ内
の障害点からの前記反射光と前記光源の出力光とを干渉
させて電気信号に変換する検波手段と、前記強度変調光
源の出力光を前記光ファイバに入射すると共に前記光フ
ァイバからの前記反射光を前記検波手段に入射する光学
手段と、周波数を掃引した前記電気信号と前記検波手段
の出力信号との差周波数に基づき前記光ファイバを検査
する解析手段とを備えたことを特徴とするものである。
【００１７】本発明の第２では、本発明の第１において
検波手段の有する光源の出力光を周波数を掃引した電気
信号に基づき強度変調して出力する強度変調光源を備え
たことを特徴とするものである。
検波手段の有する光源の出力光を周波数を掃引した電気
信号に基づき強度変調して出力する強度変調光源を備え
たことを特徴とするものである。
【００１８】
【作用】ＤＵＴ内に存在する障害点において生じる反射
光と光源の出力光とを干渉させて光検出器で検出するこ
とにより、直接反射光のパワーを検出する従来例と比較
して数倍〜数１０倍の強度変調信号を得ることができ、
微弱な反射光でも検査可能になる。
光と光源の出力光とを干渉させて光検出器で検出するこ
とにより、直接反射光のパワーを検出する従来例と比較
して数倍〜数１０倍の強度変調信号を得ることができ、
微弱な反射光でも検査可能になる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下本発明を図面を用いて詳細に
説明する。図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一
実施例を示す構成ブロック図である。図１において１０
は連続光を出力する光源、１１はビームスプリッタであ
る。また、ここで、１〜９，５０，５１及び５３は図４
と同一符号を付してあり、７，１０及び１１は検波手段
５２ａを構成している。
説明する。図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一
実施例を示す構成ブロック図である。図１において１０
は連続光を出力する光源、１１はビームスプリッタであ
る。また、ここで、１〜９，５０，５１及び５３は図４
と同一符号を付してあり、７，１０及び１１は検波手段
５２ａを構成している。
【００２０】接続関係についても図４に示す従来例とほ
ぼ同様であり、異なる点はビームスプリッタ４の反射光
がビームスプリッタ１１で反射されて光検出器７に入射
されると共に光源１０の出力光がビームスプリッタ１１
を透過して光検出器７に入射される点である。
ぼ同様であり、異なる点はビームスプリッタ４の反射光
がビームスプリッタ１１で反射されて光検出器７に入射
されると共に光源１０の出力光がビームスプリッタ１１
を透過して光検出器７に入射される点である。
【００２１】ここで、図１に示す実施例の動作を説明す
る。強度変調光源５０の出力光はＤＵＴ６に入射され、
ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じる。こ
の反射光は光源１０の出力光と合波されて干渉し、光検
出器７で検出される。
る。強度変調光源５０の出力光はＤＵＴ６に入射され、
ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じる。こ
の反射光は光源１０の出力光と合波されて干渉し、光検
出器７で検出される。
【００２２】ミキサ８は光検出器７の出力と分配器２の
他方の出力、言い換えれば発振器１の出力と合成し、周
波数アナライザ９はミキサ８の出力である２つの入力信
号の差周波数に基づき光ファイバ等のＤＵＴ６を検査す
る。
他方の出力、言い換えれば発振器１の出力と合成し、周
波数アナライザ９はミキサ８の出力である２つの入力信
号の差周波数に基づき光ファイバ等のＤＵＴ６を検査す
る。
【００２３】例えば、ＤＵＴ６からの反射光のパワー
を”Ｅ１”、光源１０の出力光のパワーを”Ｅ２”とす
れば、 Ｅ１＜Ｅ２ (3) の関係であり、両者が干渉して光検出器７で検出される
パワー”Ｅ”は干渉する両者の光周波数差を”Δ
ｆopt ”とすれば、 Ｅ≒Ｅ１＋Ｅ２＋(Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) (4) となる。
を”Ｅ１”、光源１０の出力光のパワーを”Ｅ２”とす
れば、 Ｅ１＜Ｅ２ (3) の関係であり、両者が干渉して光検出器７で検出される
パワー”Ｅ”は干渉する両者の光周波数差を”Δ
ｆopt ”とすれば、 Ｅ≒Ｅ１＋Ｅ２＋(Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) (4) となる。
【００２４】ここで、”Ｅ１＝１０μＷ”、”Ｅ２＝１
ｍＷ”とすると式（４）の第３項から、 (Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) ＝(１０×１０-6・１０-3)1/2・cos(Δｆopt) ＝１００×１０-6・cos(Δｆopt) (5) となり、直接反射光のパワー”Ｅ１”を検出する従来例
と比較して約１０倍の強度変調信号を得ることができ
る。
ｍＷ”とすると式（４）の第３項から、 (Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) ＝(１０×１０-6・１０-3)1/2・cos(Δｆopt) ＝１００×１０-6・cos(Δｆopt) (5) となり、直接反射光のパワー”Ｅ１”を検出する従来例
と比較して約１０倍の強度変調信号を得ることができ
る。
【００２５】即ち、反射光のパワー”Ｅ１”が微弱であ
っても、光源１０の出力光のパワー”Ｅ２”を大きくし
て式（４）中第３項を光検出器７で検出することによ
り、必要な強度変調信号を得ることができる。
っても、光源１０の出力光のパワー”Ｅ２”を大きくし
て式（４）中第３項を光検出器７で検出することによ
り、必要な強度変調信号を得ることができる。
【００２６】一方、ミキサ８の周波数出力に関しては検
波手段５２ａで干渉される２つの光の光周波数差”Δｆ
opt ”がオフセット成分として加算されることになる。
波手段５２ａで干渉される２つの光の光周波数差”Δｆ
opt ”がオフセット成分として加算されることになる。
【００２７】即ち、”Δｆopt ＝１０ＧＨｚ”とした場
合、ＤＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれ
ば”１０ＧＨｚ＋１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１
０ＧＨｚ＋１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１０
ＧＨｚ＋１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周
波数出力として得られることになる。
合、ＤＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれ
ば”１０ＧＨｚ＋１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１
０ＧＨｚ＋１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１０
ＧＨｚ＋１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周
波数出力として得られることになる。
【００２８】この結果、ＤＵＴ６内に存在する障害点に
おいて生じる反射光と光源１０の出力光とを干渉させて
光検出器７で検出することにより、微弱な反射光でも検
査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
おいて生じる反射光と光源１０の出力光とを干渉させて
光検出器７で検出することにより、微弱な反射光でも検
査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
【００２９】なお、図２は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第２の実施例を示す構成ブロック図である。図２
において１２は変調器である。また、ここで、１，２，
４〜１１，５１，５２ａ及び５３は図１と同一符号を付
してあり、１，２及び１２は強度変調光源５０ａを構成
している。
装置の第２の実施例を示す構成ブロック図である。図２
において１２は変調器である。また、ここで、１，２，
４〜１１，５１，５２ａ及び５３は図１と同一符号を付
してあり、１，２及び１２は強度変調光源５０ａを構成
している。
【００３０】接続関係は図１に示す実施例とほぼ同様で
あり、異なる点は分配器２の出力が変調器１２に接続さ
れると共に光源１０の出力光が変調器１２に入射され、
変調器１２の出力光が強度変調光としてビームスプリッ
タ４及びレンズ５を介してＤＵＴ６に入射される点であ
る。
あり、異なる点は分配器２の出力が変調器１２に接続さ
れると共に光源１０の出力光が変調器１２に入射され、
変調器１２の出力光が強度変調光としてビームスプリッ
タ４及びレンズ５を介してＤＵＴ６に入射される点であ
る。
【００３１】ここで、図２に示す第２の実施例の動作を
説明する。変調器１２において光源１０の出力光が分配
器２の出力に基づき強度変調されてＤＵＴ６に入射され
る以外は図１に示す実施例の動作と同様である。
説明する。変調器１２において光源１０の出力光が分配
器２の出力に基づき強度変調されてＤＵＴ６に入射され
る以外は図１に示す実施例の動作と同様である。
【００３２】但し、第２の実施例では同一の光源を用い
ているため式（４）及び式（５）に記載されている光周
波数差”Δｆopt ”は”０”である。
ているため式（４）及び式（５）に記載されている光周
波数差”Δｆopt ”は”０”である。
【００３３】即ち、オフセット成分は”０”となり、Ｄ
ＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれば”１０
Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１００Ｈｚ”、”１００
ｍ”であれば”１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ
８の周波数出力として得られることになる。
ＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれば”１０
Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１００Ｈｚ”、”１００
ｍ”であれば”１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ
８の周波数出力として得られることになる。
【００３４】また、図３は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第３の実施例を示す構成ブロック図である。図３
において１３は周波数シフタである。また、ここで、
１，２，４〜１２，５０ａ，５１及び５３は図２と同一
符号を付してあり、７，１０，１１及び１３は検波手段
５２ｂを構成している。
装置の第３の実施例を示す構成ブロック図である。図３
において１３は周波数シフタである。また、ここで、
１，２，４〜１２，５０ａ，５１及び５３は図２と同一
符号を付してあり、７，１０，１１及び１３は検波手段
５２ｂを構成している。
【００３５】接続関係は図２に示す実施例とほぼ同様で
あり、光源１０の出力光が周波数シフタ１３を介してビ
ームスプリッタ１１に入射される点である。
あり、光源１０の出力光が周波数シフタ１３を介してビ
ームスプリッタ１１に入射される点である。
【００３６】ここで、図３に示す第３の実施例の動作を
説明する。この動作も図２に示す第２の実施例と同様で
あり、異なる点は干渉用の光を周波数シフタ１３により
シフトさせている点である。
説明する。この動作も図２に示す第２の実施例と同様で
あり、異なる点は干渉用の光を周波数シフタ１３により
シフトさせている点である。
【００３７】但し、この為、ミキサ８の周波数出力に関
しては周波数シフタ１３でシフトされた周波数相当分が
オフセット成分として加算されることになる。
しては周波数シフタ１３でシフトされた周波数相当分が
オフセット成分として加算されることになる。
【００３８】また、図３において光源１０とビームスプ
リッタ１１との間に周波数シフタ１３を設けているが、
光源１０と変調器１２との間若しくはビームスプリッタ
４と変調器１２との間に周波数シフタ１３を設けても良
い。この場合の動作は図３に示す第３の実施例と同様で
ある。
リッタ１１との間に周波数シフタ１３を設けているが、
光源１０と変調器１２との間若しくはビームスプリッタ
４と変調器１２との間に周波数シフタ１３を設けても良
い。この場合の動作は図３に示す第３の実施例と同様で
ある。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。ＤＵＴ内に存在
する障害点において生じる反射光と光源の出力光とを干
渉させて光検出器で検出することにより、微弱な反射光
でも検査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
本発明によれば次のような効果がある。ＤＵＴ内に存在
する障害点において生じる反射光と光源の出力光とを干
渉させて光検出器で検出することにより、微弱な反射光
でも検査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。
示す構成ブロック図である。
【図２】本発明に係る光ファイバ検査装置の第２の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図３】本発明に係る光ファイバ検査装置の第３の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図４】従来の強度変調形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブ
ロック図である。
ロック図である。
１ 発振器 ２ 分配器 ３，１０ 光源 ４，１１ ビームスプリッタ ５ レンズ ６ ＤＵＴ ７ 光検出器 ８ ミキサ ９ 周波数アナライザ １２ 変調器 １３ 周波数シフタ ５０，５０ａ 強度変調光源 ５１ 光学手段 ５２，５２ａ，５２ｂ 検波手段 ５３ 解析手段
Claims (2)
- 【請求項１】周波数を掃引した電気信号を光信号に変換
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、 周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、 光源を有し、前記光ファイバ内の障害点からの前記反射
光と前記光源の出力光とを干渉させて電気信号に変換す
る検波手段と、 前記強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射する
と共に前記光ファイバからの前記反射光を前記検波手段
に入射する光学手段と、 周波数を掃引した前記電気信号と前記検波手段の出力信
号との差周波数に基づき前記光ファイバを検査する解析
手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ検査装置。 - 【請求項２】検波手段の有する光源の出力光を周波数を
掃引した電気信号に基づき強度変調して出力する強度変
調光源を備えたことを特徴とする特許請求の範囲請求項
１記載の光ファイバ検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21468695A JPH0961294A (ja) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 光ファイバ検査装置 |
| DE69632000T DE69632000T2 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| EP96901143A EP0754939B1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| PCT/JP1996/000170 WO1996024038A1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| US08/727,377 US5844235A (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device |
| DE0754939T DE754939T1 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| US09/039,944 US6008487A (en) | 1995-02-02 | 1998-03-16 | Optical-fiber inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21468695A JPH0961294A (ja) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961294A true JPH0961294A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16659915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21468695A Pending JPH0961294A (ja) | 1995-02-02 | 1995-08-23 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961294A (ja) |
-
1995
- 1995-08-23 JP JP21468695A patent/JPH0961294A/ja active Pending
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