JPH0961295A - 反射体の光促進劣化試験方法 - Google Patents
反射体の光促進劣化試験方法Info
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- JPH0961295A JPH0961295A JP21355595A JP21355595A JPH0961295A JP H0961295 A JPH0961295 A JP H0961295A JP 21355595 A JP21355595 A JP 21355595A JP 21355595 A JP21355595 A JP 21355595A JP H0961295 A JPH0961295 A JP H0961295A
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- reflector
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Abstract
(57)【要約】
【解決手段】 反射体の光促進劣化試験方法であって、
可視光光源１０よりでた光を、紫外線カットフィルター
２０で紫外線を除くことにより、可視光を主体とする光
を該反射体３０に照射することにより行う反射体の光促
進劣化試験方法。 【効果】 本発明の光促進劣化試験方法を用いることに
より、液晶表示装置のバックライト用ランプリフレクタ
ーにて発生する銀の光劣化を短時間で再現することがで
きる。
可視光光源１０よりでた光を、紫外線カットフィルター
２０で紫外線を除くことにより、可視光を主体とする光
を該反射体３０に照射することにより行う反射体の光促
進劣化試験方法。 【効果】 本発明の光促進劣化試験方法を用いることに
より、液晶表示装置のバックライト用ランプリフレクタ
ーにて発生する銀の光劣化を短時間で再現することがで
きる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器及び照明
機器等に用いられる反射体の光劣化試験方法に関し、更
に詳しくは、液晶表示装置及び蛍光灯等に用いられる高
分子を主材として形成される反射体の光促進劣化試験に
関する。
機器等に用いられる反射体の光劣化試験方法に関し、更
に詳しくは、液晶表示装置及び蛍光灯等に用いられる高
分子を主材として形成される反射体の光促進劣化試験に
関する。
【０００２】
【従来の技術】可視光域で高い反射率を持つ金属として
は銀があげられる。しかしながら銀は大気にさらされる
と硫化し黒化するために、銀を蒸着した光学用のミラー
などでは定期的に銀を成膜し直す必要があった。そのた
めに一部の用途を除いて一般的に用いられていなかっ
た。近年、反射膜として銀を用いた高反射率の銀反射体
が液晶表示装置のバックライト部のランプリフレクター
を中心に、蛍光灯の反射傘等に用いられている。これら
はＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）／銀薄膜層／
接着層／アルミ板からなるいわゆる銀反射板や、ＰＥＴ
／銀薄膜層／白塗装／接着層／アルミ薄膜層／高分子フ
ィルム／白塗装からなるいわゆる銀反射シートであり、
透明高分子フィルムであるＰＥＴを銀の保護層として用
いることにより、従来からの問題点であった大気曝露に
よる銀の硫化、酸化を防止し、高反射率を維持すること
に成功した。たとえば銀反射体である上記銀反射板、銀
反射シートの信頼性試験結果の一例をあげると、高温試
験（８０℃、１０００時間）及び、低温試験（−２０
℃、１０００時間）、高温高湿試験（６０℃、９５％Ｒ
Ｈ，１０００時間）においても硫化等による黒化は観察
されず、また反射率の低下も観察されなかった。
は銀があげられる。しかしながら銀は大気にさらされる
と硫化し黒化するために、銀を蒸着した光学用のミラー
などでは定期的に銀を成膜し直す必要があった。そのた
めに一部の用途を除いて一般的に用いられていなかっ
た。近年、反射膜として銀を用いた高反射率の銀反射体
が液晶表示装置のバックライト部のランプリフレクター
を中心に、蛍光灯の反射傘等に用いられている。これら
はＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）／銀薄膜層／
接着層／アルミ板からなるいわゆる銀反射板や、ＰＥＴ
／銀薄膜層／白塗装／接着層／アルミ薄膜層／高分子フ
ィルム／白塗装からなるいわゆる銀反射シートであり、
透明高分子フィルムであるＰＥＴを銀の保護層として用
いることにより、従来からの問題点であった大気曝露に
よる銀の硫化、酸化を防止し、高反射率を維持すること
に成功した。たとえば銀反射体である上記銀反射板、銀
反射シートの信頼性試験結果の一例をあげると、高温試
験（８０℃、１０００時間）及び、低温試験（−２０
℃、１０００時間）、高温高湿試験（６０℃、９５％Ｒ
Ｈ，１０００時間）においても硫化等による黒化は観察
されず、また反射率の低下も観察されなかった。
【０００３】しかしながら、バックライトユニット高温
点灯試験（上記銀反射シートからなるランプリフレクタ
ーを液晶表示装置のバックライトユニットに組み込み、
６０℃の高温槽内で行う点灯試験）を行ったところ、数
千時間で反射面が紫色に変色し、反射率が急激に低下す
るという新たな問題が発生した。本発明者らは、上記銀
反射体の光劣化を再現すると共に短時間で劣化させる目
的で、高強度のキセノンランプ光による照射試験及び紫
外線ランプ光を用いた光照射試験を行った。しかしなが
ら、どちらの試験においても反射率の低下は見られたも
のの、反射面は黄色に変色しており、バックライトユニ
ット高温点灯試験に比べ明らかに劣化挙動が異なってい
た。
点灯試験（上記銀反射シートからなるランプリフレクタ
ーを液晶表示装置のバックライトユニットに組み込み、
６０℃の高温槽内で行う点灯試験）を行ったところ、数
千時間で反射面が紫色に変色し、反射率が急激に低下す
るという新たな問題が発生した。本発明者らは、上記銀
反射体の光劣化を再現すると共に短時間で劣化させる目
的で、高強度のキセノンランプ光による照射試験及び紫
外線ランプ光を用いた光照射試験を行った。しかしなが
ら、どちらの試験においても反射率の低下は見られたも
のの、反射面は黄色に変色しており、バックライトユニ
ット高温点灯試験に比べ明らかに劣化挙動が異なってい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、高分子を主
材として形成される反射体に関して、特に透明高分子フ
ィルム（Ａ）、銀薄膜層（Ｂ）の少なくともＡ、Ｂから
なる銀反射体に関して、バックライトユニット点灯試験
において発生した光劣化を短時間で再現する光促進劣化
試験方法を提供することを目的とする。
材として形成される反射体に関して、特に透明高分子フ
ィルム（Ａ）、銀薄膜層（Ｂ）の少なくともＡ、Ｂから
なる銀反射体に関して、バックライトユニット点灯試験
において発生した光劣化を短時間で再現する光促進劣化
試験方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するため手段】本発明者らは、かかる問題
を解決するために、鋭意研究を重ねた結果、上記銀反射
体の光劣化は、透明高分子フィルム（Ａ）が劣化し変色
しているのではなく、銀薄膜層（Ｂ）の表面が紫色に変
色していることを見いだした。そこで更に鋭意研究を重
ねた結果、紫外線を除いた可視光を主体とする光照射に
より、銀を選択的に劣化させ、紫色に変色させ得ること
を見いだした。更に、この銀の劣化は照射強度が大きい
ほど、また、試験温度が高いほど急速に進行することを
見いだした。本発明はかかる知見によりなされるに至っ
たものである。
を解決するために、鋭意研究を重ねた結果、上記銀反射
体の光劣化は、透明高分子フィルム（Ａ）が劣化し変色
しているのではなく、銀薄膜層（Ｂ）の表面が紫色に変
色していることを見いだした。そこで更に鋭意研究を重
ねた結果、紫外線を除いた可視光を主体とする光照射に
より、銀を選択的に劣化させ、紫色に変色させ得ること
を見いだした。更に、この銀の劣化は照射強度が大きい
ほど、また、試験温度が高いほど急速に進行することを
見いだした。本発明はかかる知見によりなされるに至っ
たものである。
【０００６】すなわち、本発明は、（１）反射体の光促
進劣化試験方法であって、該反射体に可視光を主体とす
る光を照射することにより行う反射体の光促進劣化試験
方法、（２）可視光を主体とする光が、疑似太陽光から
得られるものである（１）の反射体の光促進劣化試験方
法、（３）実質的に紫外光を除くことのできるフィルタ
ーを通して、照射強度１００ｍＷ／ｃｍ2 以上の疑似太
陽光を照射することにより行う（１）または（２）の反
射体の光促進劣化試験方法、（４）実質的に波長３６０
ｎｍ以下の紫外光を除くことのできるフィルターを通し
て、照射強度が１００ｍＷ／ｃｍ2 以上７００ｍＷ／ｃ
ｍ2 以下である疑似太陽光を照射することにより行う
（１）〜（３）のいずれかの反射体の光促進劣化試験方
法、（５）反射体を加熱して行う（１）〜（４）のいず
れかの反射体の光促進劣化試験方法、（６）反射体を６
０℃以上１５０℃以下に加熱して行う（５）の反射体の
光促進劣化試験方法、（７）反射体が高分子を主材とし
て形成される反射体である（１）〜（６）のいずれかの
反射体の光促進劣化試験方法、（８）反射体が少なくと
も透明高分子フィルム、銀薄膜層からなる銀反射体であ
り、透明高分子フィルム側より光を照射して行う（１）
〜（７）のいずれかの反射体の光促進劣化試験方法に関
するものである。
進劣化試験方法であって、該反射体に可視光を主体とす
る光を照射することにより行う反射体の光促進劣化試験
方法、（２）可視光を主体とする光が、疑似太陽光から
得られるものである（１）の反射体の光促進劣化試験方
法、（３）実質的に紫外光を除くことのできるフィルタ
ーを通して、照射強度１００ｍＷ／ｃｍ2 以上の疑似太
陽光を照射することにより行う（１）または（２）の反
射体の光促進劣化試験方法、（４）実質的に波長３６０
ｎｍ以下の紫外光を除くことのできるフィルターを通し
て、照射強度が１００ｍＷ／ｃｍ2 以上７００ｍＷ／ｃ
ｍ2 以下である疑似太陽光を照射することにより行う
（１）〜（３）のいずれかの反射体の光促進劣化試験方
法、（５）反射体を加熱して行う（１）〜（４）のいず
れかの反射体の光促進劣化試験方法、（６）反射体を６
０℃以上１５０℃以下に加熱して行う（５）の反射体の
光促進劣化試験方法、（７）反射体が高分子を主材とし
て形成される反射体である（１）〜（６）のいずれかの
反射体の光促進劣化試験方法、（８）反射体が少なくと
も透明高分子フィルム、銀薄膜層からなる銀反射体であ
り、透明高分子フィルム側より光を照射して行う（１）
〜（７）のいずれかの反射体の光促進劣化試験方法に関
するものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】先ず、添付図面について説明する
に、図１は本発明の光促進劣化試験方法を用いた装置概
略図である。可視光光源１０よりでた光は、紫外線カッ
トフィルター２０により紫外線を除かれ、反射体３０に
照射される。反射体３０は温度調節ステージ４０により
加熱され一定温度に保たれる。
に、図１は本発明の光促進劣化試験方法を用いた装置概
略図である。可視光光源１０よりでた光は、紫外線カッ
トフィルター２０により紫外線を除かれ、反射体３０に
照射される。反射体３０は温度調節ステージ４０により
加熱され一定温度に保たれる。
【０００８】本発明で使用する温度調節ステージとは例
えば、面状ヒーター、熱電対、温調器からなり、熱電対
でサンプルである反射体の温度を測定し、温調器により
面状ヒーターをＯＮ／ＯＦＦすることにより、反射体の
温度を一定に保つものである。
えば、面状ヒーター、熱電対、温調器からなり、熱電対
でサンプルである反射体の温度を測定し、温調器により
面状ヒーターをＯＮ／ＯＦＦすることにより、反射体の
温度を一定に保つものである。
【０００９】また、可視光光源とは波長３８０ｎｍから
７８０ｎｍの可視域の光を発生する光源のことであり、
タングステンランプ、ハロゲンランプ、キセノンラン
プ、蛍光灯などが挙げられる。特にキセノンランプは、
高い照射強度が得られること、また、スペクトルが屋外
曝露に近似性があることから耐光性試験等に用いられて
いる。なお、可視光光源の中では、疑似太陽光が好まし
い。疑似太陽光とは、ソーラーシュミレーターと呼ばれ
る光源であり、そのスペクトルは晴天時屋外における太
陽光線と同様なスペクトルを持つ光源であり、上記キセ
ノンランプの規格化された光源といえる。ランプ間の差
異を無くすためにも試験にはこの様な規格化された光源
が用いられることが望ましい。
７８０ｎｍの可視域の光を発生する光源のことであり、
タングステンランプ、ハロゲンランプ、キセノンラン
プ、蛍光灯などが挙げられる。特にキセノンランプは、
高い照射強度が得られること、また、スペクトルが屋外
曝露に近似性があることから耐光性試験等に用いられて
いる。なお、可視光光源の中では、疑似太陽光が好まし
い。疑似太陽光とは、ソーラーシュミレーターと呼ばれ
る光源であり、そのスペクトルは晴天時屋外における太
陽光線と同様なスペクトルを持つ光源であり、上記キセ
ノンランプの規格化された光源といえる。ランプ間の差
異を無くすためにも試験にはこの様な規格化された光源
が用いられることが望ましい。
【００１０】本発明において可視光を主体とする光と
は、上記可視光光源、特に好ましくは疑似太陽光より得
られる光の中で特に紫外部の光をカットした光を言い、
一例としてはいわゆる紫外線カットフィルターを通すこ
とによって得られる光を言う。紫外線カットフィルター
とは、紫外線を実質的に除くことのできるフィルターで
あり、紫外光をできるだけカットし、可視光等のより長
波長の光をできるだけ透過するフィルターである。
は、上記可視光光源、特に好ましくは疑似太陽光より得
られる光の中で特に紫外部の光をカットした光を言い、
一例としてはいわゆる紫外線カットフィルターを通すこ
とによって得られる光を言う。紫外線カットフィルター
とは、紫外線を実質的に除くことのできるフィルターで
あり、紫外光をできるだけカットし、可視光等のより長
波長の光をできるだけ透過するフィルターである。
【００１１】本発明において実質的に波長３６０ｎｍ以
下の紫外光を除くことのできるフィルターとは、波長３
６０ｎｍにおける透過率が５％以下のフィルターであ
り、より好ましくは３％以下のフィルターであり、更に
好ましくは１％以下のフィルターである。ここでフィル
ターのカット波長を表す指標に透過限界波長（例えば透
過率が７２％になる波長と５％になる波長の中間値を言
う）があるが、これらの値と実質的に除かれる波長の値
が異なることは当業者の知るところである。実質的に波
長３６０ｎｍ以下の紫外光を除くことのできるフィルタ
ーを通して得られた疑似太陽光のスペクトルの一例を図
２に示す。これらの光の照射強度は好ましくは１００ｍ
Ｗ／ｃｍ2 以上であり、より好ましくは１００ｍＷ／ｃ
ｍ2 以上７００ｍＷ／ｃｍ2 以下であり、更に好ましく
は３００ｍＷ／ｃｍ2 以上７００ｍＷ／ｃｍ2 以下であ
る。１００ｍＷ／ｃｍ2 より弱い光では劣化に長時間を
要し現実的でない。また、７００ｍＷ／ｃｍ2 を越える
と、劣化に要する時間は短いものの、透明高分子フィル
ムが劣化し破断する。また高熱になるために冷却の必要
性が生ずる。
下の紫外光を除くことのできるフィルターとは、波長３
６０ｎｍにおける透過率が５％以下のフィルターであ
り、より好ましくは３％以下のフィルターであり、更に
好ましくは１％以下のフィルターである。ここでフィル
ターのカット波長を表す指標に透過限界波長（例えば透
過率が７２％になる波長と５％になる波長の中間値を言
う）があるが、これらの値と実質的に除かれる波長の値
が異なることは当業者の知るところである。実質的に波
長３６０ｎｍ以下の紫外光を除くことのできるフィルタ
ーを通して得られた疑似太陽光のスペクトルの一例を図
２に示す。これらの光の照射強度は好ましくは１００ｍ
Ｗ／ｃｍ2 以上であり、より好ましくは１００ｍＷ／ｃ
ｍ2 以上７００ｍＷ／ｃｍ2 以下であり、更に好ましく
は３００ｍＷ／ｃｍ2 以上７００ｍＷ／ｃｍ2 以下であ
る。１００ｍＷ／ｃｍ2 より弱い光では劣化に長時間を
要し現実的でない。また、７００ｍＷ／ｃｍ2 を越える
と、劣化に要する時間は短いものの、透明高分子フィル
ムが劣化し破断する。また高熱になるために冷却の必要
性が生ずる。
【００１２】反射体の光劣化を促進するためには反射体
を加熱することが好ましい。加熱温度は特に限定される
ものではないが、強いて言えば６０℃以上１５０℃以下
である。６０℃より低い温度では、十分な促進効果が得
られない。また、１５０℃を越える温度では高分子フィ
ルムが劣化し破断等が起こる。
を加熱することが好ましい。加熱温度は特に限定される
ものではないが、強いて言えば６０℃以上１５０℃以下
である。６０℃より低い温度では、十分な促進効果が得
られない。また、１５０℃を越える温度では高分子フィ
ルムが劣化し破断等が起こる。
【００１３】本発明で試験することができる反射体と
は、反射体に入射する光を元の媒質に戻す物体のことで
あり、主にここでは可視領域の光の７０％以上を、元の
媒質に戻す物体のことであり、より好ましくは可視光領
域の光の８０％以上を元の媒質に戻す物体のことであ
り、更に好ましくは可視領域の光の９０％以上を元の媒
質に戻す物体のことである。具体的には、銀を反射金属
として用いた銀反射体、アルミを反射金属に用いたいわ
ゆる鏡等が、また、硫酸バリウムやアルミナ等の白色顔
料を高分子中に分散させた白色シート等が挙げられる。
は、反射体に入射する光を元の媒質に戻す物体のことで
あり、主にここでは可視領域の光の７０％以上を、元の
媒質に戻す物体のことであり、より好ましくは可視光領
域の光の８０％以上を元の媒質に戻す物体のことであ
り、更に好ましくは可視領域の光の９０％以上を元の媒
質に戻す物体のことである。具体的には、銀を反射金属
として用いた銀反射体、アルミを反射金属に用いたいわ
ゆる鏡等が、また、硫酸バリウムやアルミナ等の白色顔
料を高分子中に分散させた白色シート等が挙げられる。
【００１４】高分子を主材として形成さるた反射体と
は、いわゆる反射体を構成する部材中に高分子フィルム
等の樹脂を含む反射体を言う。特に光が透過または反射
する部分に高分子が用いられている反射体を言い、銀反
射板及び銀反射シート、白反射シート、金属蒸着フィル
ム等はこれにあたる。
は、いわゆる反射体を構成する部材中に高分子フィルム
等の樹脂を含む反射体を言う。特に光が透過または反射
する部分に高分子が用いられている反射体を言い、銀反
射板及び銀反射シート、白反射シート、金属蒸着フィル
ム等はこれにあたる。
【００１５】銀反射体とは光の反射物質として銀を用い
た反射体を言い、銀反射板、銀反射シートがこれに当た
る。銀反射板とは、透明高分子フィルム（Ａ）、銀薄膜
層（Ｂ）、接着層（Ｃ）、金属板（Ｄ）の少なくとも
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる反射体であり、光は透明高分子
フィルム（Ａ）側から入射し、銀薄膜層（Ｂ）により反
射される。
た反射体を言い、銀反射板、銀反射シートがこれに当た
る。銀反射板とは、透明高分子フィルム（Ａ）、銀薄膜
層（Ｂ）、接着層（Ｃ）、金属板（Ｄ）の少なくとも
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる反射体であり、光は透明高分子
フィルム（Ａ）側から入射し、銀薄膜層（Ｂ）により反
射される。
【００１６】銀反射シートとは、透明高分子フィルム
（Ａ）、銀薄膜層（Ｂ）、接着層（Ｃ）、高分子フィル
ム（Ｄ）の少なくともＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる反射体で
あり、例えば、ＰＥＴ／銀薄膜層／白色顔料層／接着層
／アルミ薄膜層／ＰＥＴ／白色顔料層からなる反射シー
トも含まれる。銀反射板と同様に透明高分子フィルム
（Ａ）より光が入射し、銀薄膜層（Ｂ）により反射され
る。
（Ａ）、銀薄膜層（Ｂ）、接着層（Ｃ）、高分子フィル
ム（Ｄ）の少なくともＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからなる反射体で
あり、例えば、ＰＥＴ／銀薄膜層／白色顔料層／接着層
／アルミ薄膜層／ＰＥＴ／白色顔料層からなる反射シー
トも含まれる。銀反射板と同様に透明高分子フィルム
（Ａ）より光が入射し、銀薄膜層（Ｂ）により反射され
る。
【００１７】透明高分子フィルムとは、可視光域におい
て透明な高分子フィルムのことであり、例えばポリエチ
レン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリスチレン
（ＰＳ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポ
リエーテルスルホン（ＰＥＳ）、ポリカーボネート（Ｐ
Ｃ）、三酢酸セルロース系樹脂、ポリアリレート系樹
脂、ポリスルホン系樹脂等が挙げられる。しかしながら
必ずしもこれらに限定されるわけではなく、可視光域で
透明であれば良い。透明性としては、波長５５０ｎｍの
光線透過率が８０％以上であることが好ましい。より好
ましくは、波長５００〜７００ｎｍの範囲の光に対して
光線透過率が８０％以上であり、更に好ましくは波長３
８０〜７８０ｎｍの範囲の光に対して光線透過率が８０
％以上である。
て透明な高分子フィルムのことであり、例えばポリエチ
レン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリスチレン
（ＰＳ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポ
リエーテルスルホン（ＰＥＳ）、ポリカーボネート（Ｐ
Ｃ）、三酢酸セルロース系樹脂、ポリアリレート系樹
脂、ポリスルホン系樹脂等が挙げられる。しかしながら
必ずしもこれらに限定されるわけではなく、可視光域で
透明であれば良い。透明性としては、波長５５０ｎｍの
光線透過率が８０％以上であることが好ましい。より好
ましくは、波長５００〜７００ｎｍの範囲の光に対して
光線透過率が８０％以上であり、更に好ましくは波長３
８０〜７８０ｎｍの範囲の光に対して光線透過率が８０
％以上である。
【００１８】白反射シートとは、いわゆるアルミナ、チ
タニア（チタン白）、酸化鉛（鉛白）、酸化亜鉛（亜鉛
華）、炭酸カルシウム、炭酸バリウム、硫酸バリウム、
チタン酸カリウム、珪酸ソーダ等の白色顔料入りの高分
子シートのことである。金属蒸着フィルムとは、高分子
フィルム上に金属薄膜を成膜したフィルムのことであ
り、アルミ蒸着フィルム等がこれに当たる。本発明は、
上記反射体に透明高分子フィルム側より可視光を主体と
する光を照射して行う、反射体の光促進劣化試験方法で
ある。
タニア（チタン白）、酸化鉛（鉛白）、酸化亜鉛（亜鉛
華）、炭酸カルシウム、炭酸バリウム、硫酸バリウム、
チタン酸カリウム、珪酸ソーダ等の白色顔料入りの高分
子シートのことである。金属蒸着フィルムとは、高分子
フィルム上に金属薄膜を成膜したフィルムのことであ
り、アルミ蒸着フィルム等がこれに当たる。本発明は、
上記反射体に透明高分子フィルム側より可視光を主体と
する光を照射して行う、反射体の光促進劣化試験方法で
ある。
【００１９】
【実施例】以下実施例を用いて本発明について説明す
る。反射率は、日立自動自記分光光度計（Ｕ−３４０
０）に１５０φ積分球を設置し測定した。尚、以下に示
す反射率は波長５５０ｎｍにおける値である。 〔実施例１〕光源には山下電装（株）のソーラーシュミ
レータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ−５０５Ｈ
を、紫外線カットフィルターには東芝化成工業（株）シ
ャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限界波長３９
０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１％以下）を
用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた照
射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得た。この光
を、温度調節ステージにより１００℃に保たれた銀反射
シートに照射した。その結果、試験前には９５％であっ
た反射率が、２００時間経過後には５０％に低下した。
劣化率は約４７％であった。劣化部分を調べたところ、
銀薄膜層表面であることが分かった。これはバックライ
トユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様であり、且
つ２００時間という短時間で再現できた。
る。反射率は、日立自動自記分光光度計（Ｕ−３４０
０）に１５０φ積分球を設置し測定した。尚、以下に示
す反射率は波長５５０ｎｍにおける値である。 〔実施例１〕光源には山下電装（株）のソーラーシュミ
レータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ−５０５Ｈ
を、紫外線カットフィルターには東芝化成工業（株）シ
ャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限界波長３９
０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１％以下）を
用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた照
射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得た。この光
を、温度調節ステージにより１００℃に保たれた銀反射
シートに照射した。その結果、試験前には９５％であっ
た反射率が、２００時間経過後には５０％に低下した。
劣化率は約４７％であった。劣化部分を調べたところ、
銀薄膜層表面であることが分かった。これはバックライ
トユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様であり、且
つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２０】〔実施例２〕光源には山下電装（株）のソ
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより７０℃に保たれ
た銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９５
％であった反射率が、２００時間経過後には８５％に低
下した。劣化率は約１１％であった。劣化部分を調べた
ところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これはバ
ックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様で
あり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより７０℃に保たれ
た銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９５
％であった反射率が、２００時間経過後には８５％に低
下した。劣化率は約１１％であった。劣化部分を調べた
ところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これはバ
ックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様で
あり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２１】〔実施例３〕光源には山下電装（株）のソ
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１４０℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には２０％に
低下した。劣化率は約７９％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１４０℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には２０％に
低下した。劣化率は約７９％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２２】〔実施例４〕光源には山下電装（株）のソ
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度１５０ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には８５％に
低下した。劣化率は約１１％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度１５０ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には８５％に
低下した。劣化率は約１１％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２３】〔実施例５〕光源には山下電装（株）のソ
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度４００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には６０％に
低下した。劣化率は約３７％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度４００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には６０％に
低下した。劣化率は約３７％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２４】〔実施例６〕光源には山下電装（株）のソ
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度６００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には４０％に
低下した。劣化率は約５８％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
ーラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ
−５０５Ｈを、紫外線カットフィルターには東芝化成工
業（株）シャープカットフィルター Ｌ−３９（透過限
界波長３９０ｎｍ、波長３６０ｎｍにおける透過率が１
％以下）を用いて、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光
を除いた照射強度６００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太陽光を得
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には４０％に
低下した。劣化率は約５８％であった。劣化部分を調べ
たところ、銀薄膜層表面であることが分かった。これは
バックライトユニット高温点灯試験で起きた劣化と同様
であり、且つ２００時間という短時間で再現できた。
【００２５】〔比較例１〕銀反射シートからなるランプ
リフレクターを液晶表示装置のバックライトユニットに
組み込み組み、バックライトユニット点灯試験（２５℃
の室温で行う点灯試験）を行った。尚、光源は冷陰極管
である。実施例１と同様に２００時間経過後に銀反射シ
ートからなるランプリフレクターを取り出し反射率を測
定したところ、反射率は９５％であり反射率の低下は観
察されなかった。また、変色も観察されなかった。
リフレクターを液晶表示装置のバックライトユニットに
組み込み組み、バックライトユニット点灯試験（２５℃
の室温で行う点灯試験）を行った。尚、光源は冷陰極管
である。実施例１と同様に２００時間経過後に銀反射シ
ートからなるランプリフレクターを取り出し反射率を測
定したところ、反射率は９５％であり反射率の低下は観
察されなかった。また、変色も観察されなかった。
【００２６】〔比較例２〕銀反射シートからなるランプ
リフレクターを液晶表示装置のバックライトユニットに
組み込み組み、バックライトユニット高温点灯試験（６
０℃の室温で行う点灯試験）を行った。尚、光源は冷陰
極管である。実施例１と同様に２００時間経過後に銀反
射シートからなるランプリフレクターを取り出し反射率
を測定したところ、反射率は９５％であり反射率の変化
は観察されなかった。また、変色も観察されなかった。
リフレクターを液晶表示装置のバックライトユニットに
組み込み組み、バックライトユニット高温点灯試験（６
０℃の室温で行う点灯試験）を行った。尚、光源は冷陰
極管である。実施例１と同様に２００時間経過後に銀反
射シートからなるランプリフレクターを取り出し反射率
を測定したところ、反射率は９５％であり反射率の変化
は観察されなかった。また、変色も観察されなかった。
【００２７】〔比較例３〕光源に紫外線ランプ（Ｑ−Ｐ
ＡＮＥＬ社製、ＵＶＡ−３５１ランプ）を用いた。この
光を、温度調節ステージにより１００℃に保たれた銀反
射シートに照射した。実施例１と同様に２００時間経過
後に反射率を測定したところ、反射率は９５％であり反
射率の変化は観察されなかった。また、変色も観察され
なかった。
ＡＮＥＬ社製、ＵＶＡ−３５１ランプ）を用いた。この
光を、温度調節ステージにより１００℃に保たれた銀反
射シートに照射した。実施例１と同様に２００時間経過
後に反射率を測定したところ、反射率は９５％であり反
射率の変化は観察されなかった。また、変色も観察され
なかった。
【００２８】〔比較例４〕光源に山下電装（株）のソー
ラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ−
５０５Ｈを用い、照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太
陽光を得た。紫外線カットフィルターは使用しなかっ
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には５５％に
低下した。劣化率は４２％であった。しかしながら変色
は黄色であり、劣化部位を調べたところ、高分子フィル
ムであり、銀薄膜層は劣化していないことが分かった。
よってバックライトユニット高温点灯試験における長期
の試験で観察された劣化とは異なることが分かった。
ラーシュミレータ（キセノンランプ使用）型式ＹＳＳ−
５０５Ｈを用い、照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の擬似太
陽光を得た。紫外線カットフィルターは使用しなかっ
た。この光を、温度調節ステージにより１００℃に保た
れた銀反射シートに照射した。その結果、試験前には９
５％であった反射率が、２００時間経過後には５５％に
低下した。劣化率は４２％であった。しかしながら変色
は黄色であり、劣化部位を調べたところ、高分子フィル
ムであり、銀薄膜層は劣化していないことが分かった。
よってバックライトユニット高温点灯試験における長期
の試験で観察された劣化とは異なることが分かった。
【００２９】表１に実施例１及び比較例１〜４に示した
試験方法による劣化率と劣化部位を示す。本発明の光劣
化試験ではバックライトユニット高温点灯試験における
数千時間の長期の試験で観察された劣化（反射率の低下
及び紫色の変色）が２００時間という短時間で達成され
ていることが分かる。
試験方法による劣化率と劣化部位を示す。本発明の光劣
化試験ではバックライトユニット高温点灯試験における
数千時間の長期の試験で観察された劣化（反射率の低下
及び紫色の変色）が２００時間という短時間で達成され
ていることが分かる。
【００３０】
【表１】
【００３１】表２に照射強度５００ｍＷ／ｃｍ2 の実質
的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた疑似太陽光を用
いたときの、反射体の加熱温度による劣化率の違いを示
す。加熱することにより光劣化が促進されることが分か
る。
的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた疑似太陽光を用
いたときの、反射体の加熱温度による劣化率の違いを示
す。加熱することにより光劣化が促進されることが分か
る。
【００３２】
【表２】
【００３３】表３に反射体の加熱温度を１００℃とした
際の、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた疑似
太陽光の照射強度の違いによる劣化率の変化を示す。照
射強度が大きくなるにつれて劣化率が大きくなっている
ことが分かる。
際の、実質的に３６０ｎｍ以下の波長の光を除いた疑似
太陽光の照射強度の違いによる劣化率の変化を示す。照
射強度が大きくなるにつれて劣化率が大きくなっている
ことが分かる。
【００３４】
【表３】
【００３５】
【発明の効果】本発明の光劣化試験方法を用いることに
より、液晶表示装置のバックライトユニット用ランプリ
フレクターにおいて発生した光劣化を非常に短期間で再
現できる。これにより反射体の光劣化の研究を効率よく
行うことが可能となった。
より、液晶表示装置のバックライトユニット用ランプリ
フレクターにおいて発生した光劣化を非常に短期間で再
現できる。これにより反射体の光劣化の研究を効率よく
行うことが可能となった。
【図１】本発明の光促進劣化試験装置概略図
【図２】実質的に波長３６０ｎｍ以下の紫外光を除くこ
とのできるフィルターを通して得られた疑似太陽光のス
ペクトル図
とのできるフィルターを通して得られた疑似太陽光のス
ペクトル図
１０ 可視光光源 ２０ 紫外線カットフィルター ３０ 反射体 ４０ 温度調節ステージ
Claims (8)
- 【請求項１】 反射体の光促進劣化試験方法であって、
該反射体に可視光を主体とする光を照射することにより
行う反射体の光促進劣化試験方法。 - 【請求項２】 可視光を主体とする光が、疑似太陽光か
ら得られるものである請求項１記載の反射体の光促進劣
化試験方法。 - 【請求項３】 実質的に紫外光を除くことのできるフィ
ルターを通して、照射強度１００ｍＷ／ｃｍ2 以上の疑
似太陽光を照射することにより行う請求項１または２に
記載の反射体の光促進劣化試験方法。 - 【請求項４】 実質的に波長３６０ｎｍ以下の紫外光を
除くことのできるフィルターを通して、照射強度が１０
０ｍＷ／ｃｍ2 以上７００ｍＷ／ｃｍ2 以下である疑似
太陽光を照射することにより行う請求項１〜３のいずれ
かに記載の反射体の光促進劣化試験方法。 - 【請求項５】 反射体を加熱して行う請求項１〜４のい
ずれかに記載の反射体の光促進劣化試験方法。 - 【請求項６】 反射体を６０℃以上１５０℃以下に加熱
して行う請求項５記載の反射体の光促進劣化試験方法。 - 【請求項７】 反射体が高分子を主材として形成される
反射体である請求項１〜６のいずれかに記載の反射体の
光促進劣化試験方法。 - 【請求項８】 反射体が少なくとも透明高分子フィル
ム、銀薄膜層からなる銀反射体であり、透明高分子フィ
ルム側より光を照射して行う請求項１〜７のいずれかに
記載の反射体の光促進劣化試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21355595A JPH0961295A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 反射体の光促進劣化試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21355595A JPH0961295A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 反射体の光促進劣化試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961295A true JPH0961295A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16641153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21355595A Pending JPH0961295A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 反射体の光促進劣化試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961295A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005514590A (ja) * | 2001-12-19 | 2005-05-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 加速風化装置におけるスペクトル出力分布を操作するための光学フィルタ |
| JP2008197092A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-08-28 | Atlas Material Testing Technology Gmbh | 紫外線フィルタが一体形成された試験片用容器を備える露光又は暴露試験装置 |
| CN108055005A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-05-18 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种电池片的光衰方法 |
| CN110736608A (zh) * | 2019-09-28 | 2020-01-31 | 杭州丹鹏科技有限公司 | 一种测试反光板的智能设备 |
| JP2024509443A (ja) * | 2021-03-05 | 2024-03-01 | ロンザ リミテッド | 光安定性試験のための試験チャンバ |
-
1995
- 1995-08-22 JP JP21355595A patent/JPH0961295A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005514590A (ja) * | 2001-12-19 | 2005-05-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 加速風化装置におけるスペクトル出力分布を操作するための光学フィルタ |
| JP2008197092A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-08-28 | Atlas Material Testing Technology Gmbh | 紫外線フィルタが一体形成された試験片用容器を備える露光又は暴露試験装置 |
| US9377391B2 (en) | 2007-01-17 | 2016-06-28 | Artur Schoenlein | Light or weathering testing device comprising a specimen enclosure with an integrated UV radiation filter |
| CN108055005A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-05-18 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种电池片的光衰方法 |
| CN110736608A (zh) * | 2019-09-28 | 2020-01-31 | 杭州丹鹏科技有限公司 | 一种测试反光板的智能设备 |
| JP2024509443A (ja) * | 2021-03-05 | 2024-03-01 | ロンザ リミテッド | 光安定性試験のための試験チャンバ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20040706 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050111 |