JPH0961361A - アンモニア濃度連続測定装置 - Google Patents
アンモニア濃度連続測定装置Info
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- JPH0961361A JPH0961361A JP21904895A JP21904895A JPH0961361A JP H0961361 A JPH0961361 A JP H0961361A JP 21904895 A JP21904895 A JP 21904895A JP 21904895 A JP21904895 A JP 21904895A JP H0961361 A JPH0961361 A JP H0961361A
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- gas
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- solenoid valve
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Abstract
(57)【要約】
【課題】検出率が低く、またＳＯ2 ガスの影響を受けて
排ガス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できない。 【解決手段】各々が減圧方式である試料ガス採取ライ
ン，ゼロガス採取ライン及びスパンガス採取ラインを有
し、各ラインに流れるガスの流路を切り替える流路切替
電磁弁(3) と、ガスの流量を調節する流量調節弁(12
1 ，122 ，123 ) と、ガスの流量を測定する流量計(14
1 ，142 ) を備えたことを特徴とするアンモニア濃度連
続測定装置。
排ガス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できない。 【解決手段】各々が減圧方式である試料ガス採取ライ
ン，ゼロガス採取ライン及びスパンガス採取ラインを有
し、各ラインに流れるガスの流路を切り替える流路切替
電磁弁(3) と、ガスの流量を調節する流量調節弁(12
1 ，122 ，123 ) と、ガスの流量を測定する流量計(14
1 ，142 ) を備えたことを特徴とするアンモニア濃度連
続測定装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はアンモニア濃度連続
測定装置に関し、特に排ガス中のアンモニア濃度（ＮＨ
3 濃度）を連続測定する装置に関する。
測定装置に関し、特に排ガス中のアンモニア濃度（ＮＨ
3 濃度）を連続測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガス中のＮＨ3 濃度分析装置とし
て現在実用されているものには、次の４タイプがある。 (1) 排ガス中のＮＨ3 を吸収液に捕捉した後、イオン電
極法で測定するもの。
て現在実用されているものには、次の４タイプがある。 (1) 排ガス中のＮＨ3 を吸収液に捕捉した後、イオン電
極法で測定するもの。
【０００３】(2) 排ガス中のＮＨ3 を触媒上でＮＯに酸
化し、ＮＯ濃度を測定して、間接的にＮＨ3 濃度を測定
するもの（以下、触媒酸化法と呼ぶ）。 (3) 排ガス中のＮＨ3 とＮＯを触媒上で反応させ、触媒
有，無の場合のＮＯ濃ｂ度を測定し、その差分をＮＨ3
濃度として間接的にＮＨ3 濃度を求めるもの（以下、触
媒還元法と呼ぶ）。
化し、ＮＯ濃度を測定して、間接的にＮＨ3 濃度を測定
するもの（以下、触媒酸化法と呼ぶ）。 (3) 排ガス中のＮＨ3 とＮＯを触媒上で反応させ、触媒
有，無の場合のＮＯ濃ｂ度を測定し、その差分をＮＨ3
濃度として間接的にＮＨ3 濃度を求めるもの（以下、触
媒還元法と呼ぶ）。
【０００４】(4) 紫外域に吸収波長を有するＮＨ3 ガス
の吸収スペクトルの高次導関数を利用し、吸収光度法
（以下、高次導関数−吸光光度法）でＮＨ3 濃度を求め
るもの。
の吸収スペクトルの高次導関数を利用し、吸収光度法
（以下、高次導関数−吸光光度法）でＮＨ3 濃度を求め
るもの。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、イオン電極法
では、応答速度が遅く（９０％応答約５分）、また、溶
液を取り扱うので保守に手間がかかる等の欠点を有して
いる。次に、触媒酸化法では触媒上におけるＮＨ3 のＮ
Ｏへの酸化効率、及び触媒の耐久性（ＳＯ2 ガスによる
触媒の被覆等）、またＮＯが共存する場合、触媒有、無
しの差分をＮＨ3 濃度ととするため、ＮＨ3 濃度に対
し、ＮＯ濃度が非常に多い場合は測定精度が悪いという
欠点を有している。
では、応答速度が遅く（９０％応答約５分）、また、溶
液を取り扱うので保守に手間がかかる等の欠点を有して
いる。次に、触媒酸化法では触媒上におけるＮＨ3 のＮ
Ｏへの酸化効率、及び触媒の耐久性（ＳＯ2 ガスによる
触媒の被覆等）、またＮＯが共存する場合、触媒有、無
しの差分をＮＨ3 濃度ととするため、ＮＨ3 濃度に対
し、ＮＯ濃度が非常に多い場合は測定精度が悪いという
欠点を有している。
【０００６】また、触媒還元法では、触媒上でのＮＨ3
とＮＯの反応効率、触媒の耐久性、差分で測定するため
ＮＨ3 に対しＮＯ濃度が低い場合は測定できないという
欠点を有している。
とＮＯの反応効率、触媒の耐久性、差分で測定するため
ＮＨ3 に対しＮＯ濃度が低い場合は測定できないという
欠点を有している。
【０００７】これらの方法に対し、高次導関数−吸光光
度法はその測定原理がＮＨ3 の紫外域での吸収を利用し
たものであるから、反応速度が早く、共存するＮＯガス
濃度の影響を受けないという利点を有しているものの、
現状の装置は測定値フラツキ（変動幅）が大きく、検出
率が低いという欠点を有しており、排ガス中のＮＨ3濃
度を精度良く連続測定可能な装置はまだ実用化されてい
ないのが現状である。
度法はその測定原理がＮＨ3 の紫外域での吸収を利用し
たものであるから、反応速度が早く、共存するＮＯガス
濃度の影響を受けないという利点を有しているものの、
現状の装置は測定値フラツキ（変動幅）が大きく、検出
率が低いという欠点を有しており、排ガス中のＮＨ3濃
度を精度良く連続測定可能な装置はまだ実用化されてい
ないのが現状である。
【０００８】本発明は、その測定原理から他の測定方法
に比べ、応答性が速く、ＮＯ濃度の影響を受けない高次
導関数−吸光光度法を用いた装置の改良に関するもので
ある。ガス中のＮＨ3 濃度の測定装置として、高次導関
数−吸光光度法を用いた装置は、特許第１３３４０８４
号に基づいた装置が現在市販され、大気中あるいはＮＨ
3 ガスボンベ中の濃度測定に何ら問題なく使用されてい
る。しかし、本装置を燃焼排ガスに適用した場合、下記
のような問題点があることが明らかとなった。
に比べ、応答性が速く、ＮＯ濃度の影響を受けない高次
導関数−吸光光度法を用いた装置の改良に関するもので
ある。ガス中のＮＨ3 濃度の測定装置として、高次導関
数−吸光光度法を用いた装置は、特許第１３３４０８４
号に基づいた装置が現在市販され、大気中あるいはＮＨ
3 ガスボンベ中の濃度測定に何ら問題なく使用されてい
る。しかし、本装置を燃焼排ガスに適用した場合、下記
のような問題点があることが明らかとなった。
【０００９】第１に、周囲温度の影響を受けるため、周
囲の温度が１０℃の巾で変化すると、シグナルがフルス
ケールの±３％の範囲で変動する。第２に、ＪＩＳＫ０
０９９に基づき、インドフェンエノール吸光光度法を用
いた場合に比べ、測定値が約２０％低い値を示す。
囲の温度が１０℃の巾で変化すると、シグナルがフルス
ケールの±３％の範囲で変動する。第２に、ＪＩＳＫ０
０９９に基づき、インドフェンエノール吸光光度法を用
いた場合に比べ、測定値が約２０％低い値を示す。
【００１０】第３に、ＮＨ3 濃度が測定基準レンジ（低
濃度側）に対し１０倍以上変化すると、現状のセル長さ
一定、測定波長固定というやり方では測定できない。第
４に、ＳＯ2 ガスが共存するとＳＯ2 の干渉を受ける。
濃度側）に対し１０倍以上変化すると、現状のセル長さ
一定、測定波長固定というやり方では測定できない。第
４に、ＳＯ2 ガスが共存するとＳＯ2 の干渉を受ける。
【００１１】本発明はこうした事情を考慮してなされた
もので、各ガス採取ラインを減圧方式とすることによ
り、検出率を向上させ、ＳＯ2 ガスの影響を受けること
なく、排ガス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定でき
るアンモニア濃度連続測定装置を提供することを目的と
する。
もので、各ガス採取ラインを減圧方式とすることによ
り、検出率を向上させ、ＳＯ2 ガスの影響を受けること
なく、排ガス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定でき
るアンモニア濃度連続測定装置を提供することを目的と
する。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、各々が減圧方
式である試料ガス採取ライン，ゼロガス採取ライン及び
スパンガス採取ラインを有し、各ラインに流れるガスの
流路を切り替える流路切替電磁弁と、ガスの流量を調節
する流量調節弁と、ガスの流量を測定する流量計を備え
たことを特徴とするアンモニア濃度連続測定装置であ
る。
式である試料ガス採取ライン，ゼロガス採取ライン及び
スパンガス採取ラインを有し、各ラインに流れるガスの
流路を切り替える流路切替電磁弁と、ガスの流量を調節
する流量調節弁と、ガスの流量を測定する流量計を備え
たことを特徴とするアンモニア濃度連続測定装置であ
る。
【００１３】つまり、本発明では、検出率の向上に関
し、従来は試料ガスラインは減圧方式、ゼロガス及びス
パンガス採取ラインは加圧方式であったため、試料セル
内の圧力差によりスパンガス校正（加圧）後の試料ガス
採取（減圧）測定において低い値となることが分かった
ので、ゼロガス採取及びスパンガス採取ラインも試料ガ
ス採取ラインと同じ減圧方式を採用して圧力差による検
出率の低下をなくした。
し、従来は試料ガスラインは減圧方式、ゼロガス及びス
パンガス採取ラインは加圧方式であったため、試料セル
内の圧力差によりスパンガス校正（加圧）後の試料ガス
採取（減圧）測定において低い値となることが分かった
ので、ゼロガス採取及びスパンガス採取ラインも試料ガ
ス採取ラインと同じ減圧方式を採用して圧力差による検
出率の低下をなくした。
【００１４】本発明装置においては、ゼロガス採取及び
スパンガス採取ラインも試料ガス採取ラインと同じ減圧
方式を採用するもので、これにより圧力差による検出率
の低下を防止しようとした。なお、ＺＥＲＯガス校正，
ＳＰＡＮガス校正及び試料ガス採取は、例えば実施例の
欄で記述する通りに行われる。その結果、検出率を向上
でき、ＳＯ2 ガスの影響を受けることなく、排ガス中の
ＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できるものである。
スパンガス採取ラインも試料ガス採取ラインと同じ減圧
方式を採用するもので、これにより圧力差による検出率
の低下を防止しようとした。なお、ＺＥＲＯガス校正，
ＳＰＡＮガス校正及び試料ガス採取は、例えば実施例の
欄で記述する通りに行われる。その結果、検出率を向上
でき、ＳＯ2 ガスの影響を受けることなく、排ガス中の
ＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できるものである。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施例に係る
アンモニア濃度連続測定装置について図１を参照して説
明する。図中の符番１は装置本体である。この装置本体
１内には、ダストフィルター２や三方電磁弁３を加熱恒
温する恒温槽４と、前記三方電磁弁３と連結され，一端
に光源（Ｄ2 ランプ）５が他端に分光器６，受光器（ホ
トマル）７が配置された試料セル８と、この試料セル８
と冷却管９を介して接続された，水位検知器（フロート
スイッチ）10を有する水トラップ11とが配置されてい
る。ここで、前記Ｄ2 ランプ５は白色光を放射する。ま
た、分光器６は白色光を単色光として取り出す。前記水
トラップ11は、加温されたサンプルを凝縮せずに精度良
く測定するために、試料セル出口では加熱恒温とし、試
料セル出口以降の流路においては後記するニードルバル
ブ，サンプリングポンプ，流量計の保護のため、冷却
し、凝縮水をトラップへためガスのみを通過させる。
アンモニア濃度連続測定装置について図１を参照して説
明する。図中の符番１は装置本体である。この装置本体
１内には、ダストフィルター２や三方電磁弁３を加熱恒
温する恒温槽４と、前記三方電磁弁３と連結され，一端
に光源（Ｄ2 ランプ）５が他端に分光器６，受光器（ホ
トマル）７が配置された試料セル８と、この試料セル８
と冷却管９を介して接続された，水位検知器（フロート
スイッチ）10を有する水トラップ11とが配置されてい
る。ここで、前記Ｄ2 ランプ５は白色光を放射する。ま
た、分光器６は白色光を単色光として取り出す。前記水
トラップ11は、加温されたサンプルを凝縮せずに精度良
く測定するために、試料セル出口では加熱恒温とし、試
料セル出口以降の流路においては後記するニードルバル
ブ，サンプリングポンプ，流量計の保護のため、冷却
し、凝縮水をトラップへためガスのみを通過させる。
【００１６】また、前記装置本体１内には、前記水トラ
ップ11に第１ニードルバルブ121 ，サンプリングポンプ
13を介して接続された第１流量計141 と、前記三方電磁
弁３に接続する第２流量計142 と、前記三方電磁弁３に
第２ニードルバルブ122 を介して接続する二方電磁弁15
1 と、前記三方電磁弁３に第３ニードルバルブ123 を介
して接続する二方電磁弁152 と、前記水トラップ11に接
続する二方電磁弁153とが配置されている。なお、図中
の符番16は煙道、符番17はサンプリングプローブであ
る。このサンプリングプローブ17と装置本体１は、サン
プリングガス入口18でサンプリング導管19により接続さ
れている。このサンプリング導管19には、装置本体１内
の加熱導管20に接続されている。また、図中の符番21は
スパンガス入口、符番22はゼロガス入口、符番23はガス
出口、符番24はオーバーフローガス出口、符番25は排水
口である。
ップ11に第１ニードルバルブ121 ，サンプリングポンプ
13を介して接続された第１流量計141 と、前記三方電磁
弁３に接続する第２流量計142 と、前記三方電磁弁３に
第２ニードルバルブ122 を介して接続する二方電磁弁15
1 と、前記三方電磁弁３に第３ニードルバルブ123 を介
して接続する二方電磁弁152 と、前記水トラップ11に接
続する二方電磁弁153とが配置されている。なお、図中
の符番16は煙道、符番17はサンプリングプローブであ
る。このサンプリングプローブ17と装置本体１は、サン
プリングガス入口18でサンプリング導管19により接続さ
れている。このサンプリング導管19には、装置本体１内
の加熱導管20に接続されている。また、図中の符番21は
スパンガス入口、符番22はゼロガス入口、符番23はガス
出口、符番24はオーバーフローガス出口、符番25は排水
口である。
【００１７】こうした構成のアンモニア濃度連続測定装
置では、セルガス採取ライン及びスパンガス採取ライン
を減圧方式にし、試料採取ラインの減圧方式と同じ方式
にするものである。以下に、同装置の作用について図３
のガスの流路図を用いて説明する。
置では、セルガス採取ライン及びスパンガス採取ライン
を減圧方式にし、試料採取ラインの減圧方式と同じ方式
にするものである。以下に、同装置の作用について図３
のガスの流路図を用いて説明する。
【００１８】［１］ＺＥＲＯガス校正 ゼロ（ＺＥＲＯ）ガス入口22よりＺＥＲＯガス（Ｎ2 ）
を流す。操作部スイッチのＺＥＲＯスイッチをＯＮする
ことにより、二方電磁弁151 が開状態（二方電磁弁152
は閉状態）となり、三方電磁弁３がＯＮとなり、添字ｂ
とｃ間が開状態、サンプリングポンプ13が作動し、ＺＥ
ＲＯガスの流れは、ゼロガス入口22→二方電磁弁151 →
ニードルバルブ122 →三方電磁弁３→試料セル８→水ト
ラップ11→ニードルバルブ121 →サンプリングポンプ13
→流量計141 →オーバーフローガス出口23となる。
を流す。操作部スイッチのＺＥＲＯスイッチをＯＮする
ことにより、二方電磁弁151 が開状態（二方電磁弁152
は閉状態）となり、三方電磁弁３がＯＮとなり、添字ｂ
とｃ間が開状態、サンプリングポンプ13が作動し、ＺＥ
ＲＯガスの流れは、ゼロガス入口22→二方電磁弁151 →
ニードルバルブ122 →三方電磁弁３→試料セル８→水ト
ラップ11→ニードルバルブ121 →サンプリングポンプ13
→流量計141 →オーバーフローガス出口23となる。
【００１９】但し、減圧方式のため、採取量以上に流さ
ないと正確に採取できないため、オーバーフローライン
に余剰ガスを流す。余剰ガスの流れは、ゼロガス入口22
→二方電磁弁151 →ニードルバルブ122 →流量計142 →
オーバーフローガス出口24となる。ＺＥＲＯガス（Ｎ
2 ）によるＺＥＲＯ点が安定したところでＺＥＲＯ点を
設定する。設定は測定制御部にて行う。
ないと正確に採取できないため、オーバーフローライン
に余剰ガスを流す。余剰ガスの流れは、ゼロガス入口22
→二方電磁弁151 →ニードルバルブ122 →流量計142 →
オーバーフローガス出口24となる。ＺＥＲＯガス（Ｎ
2 ）によるＺＥＲＯ点が安定したところでＺＥＲＯ点を
設定する。設定は測定制御部にて行う。
【００２０】［２］ＳＰＡＮガス校正 ＺＥＲＯ点が設定できれば、スパンガス入口21よりＳＰ
ＡＮガス（ＮＨ3 ）を流す。操作部スイッチのＳＰＡＮ
ＮスイッチをＯＮすることにより、ＺＥＲＯからＳＰＡ
Ｎにかわり、二方電磁弁152 が開状態（二方電磁弁151
は閉状態）、三方電磁弁３がＯＮとなり、添字ｂとｃ間
が開状態以下ＺＥＲＯガスラインと同じ流れになる。
ＡＮガス（ＮＨ3 ）を流す。操作部スイッチのＳＰＡＮ
ＮスイッチをＯＮすることにより、ＺＥＲＯからＳＰＡ
Ｎにかわり、二方電磁弁152 が開状態（二方電磁弁151
は閉状態）、三方電磁弁３がＯＮとなり、添字ｂとｃ間
が開状態以下ＺＥＲＯガスラインと同じ流れになる。
【００２１】ＳＰＡＮガスの流れは、スパンガス入口21
→二方電磁弁152 →ニードルバルブ123 →三方電磁弁３
→試料セル８→水トラップ11→ニードルバルブ121 →サ
ンプリングポンプ13→流量計141 →ガス出口23となる。
→二方電磁弁152 →ニードルバルブ123 →三方電磁弁３
→試料セル８→水トラップ11→ニードルバルブ121 →サ
ンプリングポンプ13→流量計141 →ガス出口23となる。
【００２２】但し、ＺＥＲＯガス同様、余剰ガスの流れ
は、スパンガス入口21→二方電磁弁152 →ニードルバル
ブ123 →流量計142 →オーバーフローガス出口24とな
る。ＳＰＡＮガス（ＮＨ3 ）によるＳＰＡＮ値が安定し
たところでＳＰＡＮ値を設定する。設定は測定制御部に
て行う。
は、スパンガス入口21→二方電磁弁152 →ニードルバル
ブ123 →流量計142 →オーバーフローガス出口24とな
る。ＳＰＡＮガス（ＮＨ3 ）によるＳＰＡＮ値が安定し
たところでＳＰＡＮ値を設定する。設定は測定制御部に
て行う。
【００２３】［３］試料ガス採取 ＳＰＡＮ値が設定できれば、サンプルガス入口18より試
料ガスを採取する。操作部スイッチのサンプルスイッチ
をＯＮすることにより、ＳＰＡＮからＳＡＭＰＬＥにか
わり、三方電磁弁３がＯＦＦとなり、添字ｂとａの間が
開状態、二方電磁弁152 、二方電磁弁151 は閉状態、以
下ＺＥＲＯガス、ＳＰＡＮガスラインと共通ラインを流
れる。
料ガスを採取する。操作部スイッチのサンプルスイッチ
をＯＮすることにより、ＳＰＡＮからＳＡＭＰＬＥにか
わり、三方電磁弁３がＯＦＦとなり、添字ｂとａの間が
開状態、二方電磁弁152 、二方電磁弁151 は閉状態、以
下ＺＥＲＯガス、ＳＰＡＮガスラインと共通ラインを流
れる。
【００２４】試料ガスの流れは、サンプルガス入口18→
ダストフィルター２→三方電磁弁３→試料セル８→水ト
ラップ11→ニードルバルブ121 →サンプリングポンプ13
→流量計141 →ガス出口23となる。
ダストフィルター２→三方電磁弁３→試料セル８→水ト
ラップ11→ニードルバルブ121 →サンプリングポンプ13
→流量計141 →ガス出口23となる。
【００２５】試料ガスが冷却され、水トラップに溜まっ
た水はフロートスイッチ10にて検知された時、二方電磁
弁153 が動作し、水トラップ内の水を排水口25より排出
する。
た水はフロートスイッチ10にて検知された時、二方電磁
弁153 が動作し、水トラップ内の水を排水口25より排出
する。
【００２６】このように、本実施例では、セルガス採取
ライン，スパンガス採取ライン及び試料採取ラインを減
圧方式とした。そして、ガス採取ラインの圧力差による
影響を確認するため、ＮＨ3 標準ガスを用いて、試料セ
ル内の圧力を変化させＮＨ3濃度を測定した。
ライン，スパンガス採取ライン及び試料採取ラインを減
圧方式とした。そして、ガス採取ラインの圧力差による
影響を確認するため、ＮＨ3 標準ガスを用いて、試料セ
ル内の圧力を変化させＮＨ3濃度を測定した。
【００２７】図２は、上記実施例に係る試料セル内の圧
力変化に伴うＮＨ3 濃度変化を示す特性図である。図２
より、試料セル内を減圧にするとシグナルは低下し、加
圧すると上昇する傾向にあり、従来の装置ではＮＨ3 検
出率が低い原因は、スパンガスを加圧状態で試料セル内
に流して調整しサンプルガスを減圧状態で試料セル内に
流して測定するためによることが判った。
力変化に伴うＮＨ3 濃度変化を示す特性図である。図２
より、試料セル内を減圧にするとシグナルは低下し、加
圧すると上昇する傾向にあり、従来の装置ではＮＨ3 検
出率が低い原因は、スパンガスを加圧状態で試料セル内
に流して調整しサンプルガスを減圧状態で試料セル内に
流して測定するためによることが判った。
【００２８】次に、本発明の効果を確認するため、灯油
焚ボイラーの排ガスにＮＨ3 を注入して、その濃度を測
定した。下記表１は、注入ＮＨ3 濃度に対する手分析，
従来装置及び本発明装置による排ガス中のＮＨ3 濃度の
測定結果を示す。
焚ボイラーの排ガスにＮＨ3 を注入して、その濃度を測
定した。下記表１は、注入ＮＨ3 濃度に対する手分析，
従来装置及び本発明装置による排ガス中のＮＨ3 濃度の
測定結果を示す。
【００２９】
【表１】 上記表１によれば、本発明のように試料ガスライン、ゼ
ロガス採取ライン及びスパンガス採取ラインを減圧方式
とすることにより、ＪＩＳ法で測定したＮＨ3 濃度を基
準としてＮＨ3 の検出率を求めると、９３〜９７％と従
来に比べ、飛躍的に検出率が向上することが判った。
ロガス採取ライン及びスパンガス採取ラインを減圧方式
とすることにより、ＪＩＳ法で測定したＮＨ3 濃度を基
準としてＮＨ3 の検出率を求めると、９３〜９７％と従
来に比べ、飛躍的に検出率が向上することが判った。
【００３０】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
各ガス採取ラインを減圧方式とすることにより、検出率
を向上させ、ＳＯ2 ガスの影響を受けることなく、排ガ
ス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できるアンモニ
ア濃度連続測定装置を提供できる。
各ガス採取ラインを減圧方式とすることにより、検出率
を向上させ、ＳＯ2 ガスの影響を受けることなく、排ガ
ス中のＮＨ3 濃度を正確に連続的に測定できるアンモニ
ア濃度連続測定装置を提供できる。
【図１】本発明の一実施例に係るアンモニア濃度連続測
定装置の要部の説明図。
定装置の要部の説明図。
【図２】本発明に係るアンモニア濃度連続測定装置の試
料セル内の圧力変化に伴うＮＨ3 濃度変化を示す特性
図。
料セル内の圧力変化に伴うＮＨ3 濃度変化を示す特性
図。
１…装置本体、 ２…ダストフィルター、 ３…
三方電磁弁、４…恒温槽、 ５…Ｄ2 ランプ、
６…分光器、７…受光器、 ８…
試料セル、 ９…冷却管、10…水位検知器、
11…水トラップ、121 ，122 ，123 …ニードルバル
ブ、13…サンプリングポンプ、 141 ，142
…流量計、151 ，152 ，153 …二方電磁弁、 17…
サンプリングプローブ、18…サンプルガス入口、
19…サンプリング導管、20…加熱導管、
21…スパンガス入口、 22…ゼロガス入口、23
…ガス出口、 24…オーバーフローガス出口、 25
…排水口。
三方電磁弁、４…恒温槽、 ５…Ｄ2 ランプ、
６…分光器、７…受光器、 ８…
試料セル、 ９…冷却管、10…水位検知器、
11…水トラップ、121 ，122 ，123 …ニードルバル
ブ、13…サンプリングポンプ、 141 ，142
…流量計、151 ，152 ，153 …二方電磁弁、 17…
サンプリングプローブ、18…サンプルガス入口、
19…サンプリング導管、20…加熱導管、
21…スパンガス入口、 22…ゼロガス入口、23
…ガス出口、 24…オーバーフローガス出口、 25
…排水口。
フロントページの続き (72)発明者 尾林 良昭 広島県広島市西区観音新町四丁目６番22号 三菱重工業株式会社広島研究所内 (72)発明者 飯田 耕三 広島県広島市西区観音新町四丁目６番22号 三菱重工業株式会社広島研究所内 (72)発明者 城鼻 明 広島県広島市西区観音新町四丁目６番22号 三菱重工業株式会社広島研究所内 (72)発明者 守井 淳 長崎県長崎市飽の浦町１番１号 三菱重工 業株式会社長崎造船所内 (72)発明者 芹澤 暁 長崎県長崎市飽の浦町１番１号 三菱重工 業株式会社長崎造船所内 (72)発明者 西本 茂 京都府京都市伏見区下鳥羽浄春ケ前町20番 地８ 株式会社柳本製作所内 (72)発明者 山本 英雄 京都府京都市伏見区下鳥羽浄春ケ前町20番 地８ 株式会社柳本製作所内 (72)発明者 吉川 恵 広島県広島市佐伯区五日市中央４丁目15番 48号 ラボテック株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 各々が減圧方式である試料ガス採取ライ
ン，ゼロガス採取ライン及びスパンガス採取ラインを有
し、各ラインに流れるガスの流路を切り替える流路切替
電磁弁と、ガスの流量を調節する流量調節弁と、ガスの
流量を測定する流量計を備えたことを特徴とするアンモ
ニア濃度連続測定装置。
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|---|---|---|---|
| JP21904895A JP3924013B2 (ja) | 1995-08-28 | 1995-08-28 | アンモニア濃度連続測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP21904895A JP3924013B2 (ja) | 1995-08-28 | 1995-08-28 | アンモニア濃度連続測定装置 |
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Family
ID=16729450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21904895A Expired - Lifetime JP3924013B2 (ja) | 1995-08-28 | 1995-08-28 | アンモニア濃度連続測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3924013B2 (ja) |
Cited By (4)
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|---|---|---|---|---|
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| JP2019086371A (ja) * | 2017-11-06 | 2019-06-06 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置の校正方法、ガス分析システム、及び、圧力変動装置 |
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-
1995
- 1995-08-28 JP JP21904895A patent/JP3924013B2/ja not_active Expired - Lifetime
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