JPH0963103A

JPH0963103A - 光学ピックアップ

Info

Publication number: JPH0963103A
Application number: JP7236214A
Authority: JP
Inventors: Junichi Ishibashi; 淳一石橋
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-08-22
Filing date: 1995-08-22
Publication date: 1997-03-07

Abstract

(57)【要約】【課題】基板の厚みの異なる光ディスクであっても、
光ディスクの記録再生が正しく行われるようにするこ
と。【解決手段】光ビームを出射する光源１１と、上記光
源から出射された光ビームを回転駆動される光ディスク
の信号記録面上に集光するように照射する対物レンズ１
３と、上記光源と対物レンズの間に配設されたビームス
プリッタ１２と、ビームスプリッタで分離された光ディ
スクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する光検出
器１４とを含み、さらに、光源と光ディスクとの間の光
路中に配設され、ディスクの基板の厚みに応じて印加さ
れる電流または電圧により光の透過率が変更可能な可変
開口手段１５を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに対し
て、光を照射して、戻り光を検出することにより、情報
を記録及び／または再生する、光ディスク再生装置に利
用される光学ピックアップに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、このような光ディスクを記録及び
／または再生するための光学ピックアップは、図８に示
すように構成されている。図８において、光学ピックア
ップ１は、半導体レーザ素子２，ビームスプリッタ３，
対物レンズ４及び光検出器５等を有している。

【０００３】ビームスプリッタ３は、その反射面３ａが
対物レンズ４の光軸に対して４５度傾斜した状態で配設
されており、半導体レーザ素子２から出射した光ビーム
と光ディスク６の信号記録面からの戻り光を分離する。
即ち、半導体レーザ素子２からの光ビームは、ビームス
プリッタ３の反射面３ａで反射され、光ディスク６から
の戻り光は、ビームスプリッタ３を透過する。

【０００４】対物レンズ４は、凸レンズであって、ビー
ムスプリッタ３で反射された光ビームを、回転駆動され
る光ディスク６の信号記録面の所望のトラック上に収束
させる。さらに、対物レンズ４は、図示しない二軸アク
チュエータによって、二軸方向即ち図面にて矢印ＦＣＳ
で示すフォーカシング方向及び矢印ＴＲＫで示すトラッ
キング方向に移動可能に支持されている。

【０００５】光検出器５は、ビームスプリッタ３を透過
して入射する戻り光ビームに対して、受光部を有するよ
うに構成されている。

【０００６】このような構成の光学ピックアップ１によ
れば、半導体レーザ素子２から出射された光ビームは、
ビームスプリッタ３の反射面３ａで反射され、さらに対
物レンズ４を介して、光ディスク６の信号記録面上のあ
る一点に収束される。

【０００７】光ディスク６の信号記録面で反射された戻
り光ビームは、再び対物レンズ４を介して、ビームスプ
リッタ３に入射する。ここで、戻り光ビームは、ビーム
スプリッタ３を透過して、光検出器５の受光部に入射す
る。これにより、光検出器５から出力される検出信号に
基づいて、光ディスク６の信号記録面に記録された情報
の再生が行なわれる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、光デ
ィスクは、コンピュータの補助記憶装置，音声・画像情
報のパッケージメディアとして、高密度化が進められて
おり、この高密度化を実現するために、対物レンズの開
口数ＮＡを、従来のコンパクトディスク用の光学ピック
アップにおける対物レンズの開口数ＮＡより大きくする
方法があるが、開口数ＮＡを大きくすると、光ディスク
の傾きに対する許容範囲が減少してしまうという問題が
ある。

【０００９】また、光ディスクは、所定のディスク基板
厚（一般に、コンパクトディスク等の場合には、１．２
ｍｍ）の透明基板を介して、信号記録面が備えられてい
るので、光学ピックアップの対物レンズの光軸に対して
光ディスクが傾いた場合には、波面収差が生じて、ＲＦ
信号の再生に影響が出てしまう。この際、波面収差に関
しては、開口数の３乗とスキュー角θの約１乗に比例し
て発生する３次のコマ収差が支配的である。従って、低
コストで大量生産されたポリカーボネイト等から成る透
明基板を備えた光ディスクは、スキュー角θが例えばプ
ラスマイナス０．５乃至プラスマイナス１度もあるの
で、上記波面収差によって、光学ピックアップ１の半導
体レーザ素子２からの光ディスク６への収束スポットが
非対称になって、符号間干渉が著しく増加することにな
り、正確な再生信号（ＲＦ信号）の再生が行なえなくな
ってしまう。

【００１０】このため、この３次のコマ収差が光ディス
クのディスク基板厚に比例することに着目して、ディス
ク基板厚を半分の０．６ｍｍにすることにより、３次の
コマ収差を半減させるようにすることが可能である。こ
の場合、光ディスクとして、特性の異なる二つの規格、
即ちディスク基板厚が比較的厚い（例えば１．２ｍｍ）
のものと、ディスク基板厚が比較的薄い（例えば０．６
ｍｍ）のものが混在することになる。

【００１１】ここで、一般に、収束光の光路中に厚さｔ
の平行平板が挿入されると、この厚さｔと開口数ＮＡに
関して、ｔ×（ＮＡ）⁴に比例する球面収差が発生する
ので、対物レンズは、この球面収差を打ち消すように設
計されている。ところで、ディスク基板厚が異なると、
球面収差も異なることから、一方の規格例えばディスク
基板厚０．６ｍｍの光ディスクに対応した対物レンズを
使用して、他方の規格例えばディスク基板厚１．２ｍｍ
のコンパクトディスク，追記型光ディスク，光磁気ディ
スク等の光ディスクを再生しようとすると、ディスク基
板厚の差によって、４次の球面収差が発生するので、光
学ピックアップが対応し得るディスク基板の厚さの誤差
の許容範囲を大幅に越えることになる。従って、光ディ
スクからの戻り光から、正しく信号を検出することがで
きないという問題があった。かくして、従来の光学ピッ
クアップによって、双方の方式の光ディスクを再生する
ことができないという問題があった。

【００１２】本発明は、以上の点に鑑み、基板の厚みの
異なる光ディスクであっても、光ディスクの記録及び／
または再生が正しく行われるようにした、光ディスク再
生装置の光学ピックアップを提供することを目的として
いる。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、前記光源から出射さ
れた光ビームを光ディスクの信号記録面上に集光するよ
うに照射する対物レンズと、前記光源と対物レンズの間
に配設されたビームスプリッタと、ビームスプリッタで
分離された光ディスクの信号記録面からの戻り光ビーム
を受光する光検出器とを含み、且つ、前記光源と光ディ
スクとの間の光路中に配設され、光ディスクの基板厚に
応じて印加される電流または電圧により光の透過率を変
更する可変開口手段が備えられている、光学ピックアッ
プにより、達成される。

【００１４】上記構成によれば、光源と光ディスクとの
間に、可変開口手段が備えられているので、再生しよう
とする光ディスクのディスク基板厚に応じて、可変開口
手段に印加する電流または電圧を適宜に制御することに
より、可変開口手段の開口数が調整され、その結果とし
てディスク基板厚に応じて、球面収差が補正されること
になる。これにより、光源からの光ビームが可変開口手
段を介して光ディスクの信号記録面に対して正しく収束
され、光ディスクの信号記録面からの戻り光が、光検出
器に入射することによって、常に最適な信号再生が行わ
れることになる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図７を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００１６】図１は、本発明による光学ピックアップの
一実施形態を示している。図１において、光学ピックア
ップ１０は、有限系の光学ピックアップであって、半導
体レーザ素子１１，ビームスプリッタ１２，対物レンズ
１３及び光検出器１４と、ビームスプリッタ１２と対物
レンズ１３の間に配設された可変開口手段１５とを備え
ている。ここで、半導体レーザ素子１１、ビームスプリ
ッタ１２、対物レンズ１３、光検出器１４は、図８で説
明したものと同一の構成であるから、重複した説明は省
略し、相違する構成を中心に説明する。

【００１７】上記可変開口手段１５は、円環状の不透光
材料から成る枠部１５ａと、枠部１５ａの中空部に設け
られた円環状の調光素子から成る調光部１５ｂと、調光
部１５ｂの中空部により構成されるアパーチャ１５ｃと
から構成されている。これら枠部１５ａ，調光部１５ｂ
及びアパーチャ１５ｃは、光軸に対して同心状に配設さ
れている。尚、上記枠部１５ａ，調光部１５ｂ及びアパ
ーチャ１５ｃは、図２の場合、円形であるが、楕円形と
して形成されていてもよい。

【００１８】上記調光部１５ｂは、例えば図３に示すよ
うに、二つの互いに対向してスペーサ２０により平行に
配設された透明基板２１，２２と、これら透明基板２
１，２２の互いに対向する表面に形成された透明電極２
３及び透明電極２４と、透明基板２１，２２の間に封入
されたエレクトロケミカル素子２５とから構成されてい
る。エレクトロケミカル素子２５としては、例えばビオ
ロゲン，酸化タングステンまたは銀等が使用され、媒質
中にイオンとして溶解されている。

【００１９】これにより、透明電極２３を電源のマイナ
ス側に、また透明電極２４を電源のプラス側に接続する
ことにより、透明電極２３，２４間に電流または電圧を
印加することにより、調光部１５ｂでは、電気化学反応
が起こることで、マイナス側の透明電極２３の表面に、
エレクトロケミカル素子２５が還元反応によって析出す
る。かくして、マイナス側の透明電極２３に析出したエ
レクトロケミカル素子２５によって、調光部１５ｂは光
の透過率が低下し、実質的に不透明になる。

【００２０】また、二つの透明電極２３，２４間への電
流または電圧が逆転されると、調光部１５ｂでは、プラ
ス側の透明電極２３の表面に析出したエレクトロケミカ
ル素子２５がイオンに戻る。かくして、プラス側の透明
電極２３にはエレクトロケミカル素子２５が付着してい
ないので、調光部１５ｂは光の透過率が向上し、実質的
に透明になる。かくして、調光部１５ｂの透明，不透明
の切換えによって、可変開口手段１５は、調光部１５ｂ
が透明である場合には、調光部１５ｂ及びアパーチャ１
５ｃが実質的にアパーチャとして作用し、比較的大きな
開口となる。また、可変開口手段１５は、調光部１５ｂ
が不透明である場合には、アパーチャ１５ｃのみが実質
的にアパーチャとして作用し、比較的小さな開口とな
る。

【００２１】尚、上記可変開口手段１５は、円形に形成
されているが、これに限らず、他の形状に形成されてい
てもよい。例えば、可変開口手段１５は、図３に示すよ
うに、長方形に形成されていてもよく、この場合、可変
開口手段１５は、二つの互いに平行に延びる不透光材料
から成る枠部１５ｄ、枠部１５ｄ内側に設けられた二つ
の互いに平行に延びる調光素子から成る調光部１５ｅ、
調光部１５ｅの間のスリットにより構成されるアパーチ
ャ１５ｆとから構成されている。この構成によれば、調
光部１５ｅの透明，不透明の切換えによって、可変開口
手段１５は、調光部１５ｅが透明である場合には、調光
部１５ｅ及びアパーチャ１５ｆが実質的にアパーチャと
して作用し、比較的大きな開口となる。また、可変開口
手段１５は、調光部１５ｅが不透明である場合には、ア
パーチャ１５ｆのみが実質的にアパーチャとして作用
し、比較的小さな開口となる。

【００２２】ここで、上記可変開口手段１５は、調光部
１５ｂまたは１５ｅが透明である場合には、例えば開口
数ＮＡ＝０．６であり、また調光部１５ｂまたは１５ｅ
が不透明である場合には、開口数ＮＡ＝ＮＡ０以下であ
るように、調光部１５ｂ，１５ｅとアパーチャ１５ｃ，
１５ｆの大きさが選定されている。尚、ＮＡ０は、光源
波長λ（μｍ）の０．４５／０．７８倍で表わされる。
従って、光源波長λが０．６３５μｍの場合にはＮＡ０
＝０．３６６，光源波長λが０．６５０μｍの場合には
ＮＡ０＝０．３７，また光源波長λが０．６８０μｍの
場合にはＮＡ０＝０．３９２となる。これにより、比較
的薄いディスク基板厚０．６ｍｍの光ディスクに対して
は、調光部１５ｂ，１５ｅを不透明とすることにより、
可変開口手段１５の開口数ＮＡ＝０．６に設定され、ま
た比較的厚いディスク基板厚１．２ｍｍの光ディスクに
対しては、調光部１５ｂ，１５ｅが透明にされることに
より、可変開口手段１５の開口数ＮＡ＝ＮＡ０以下に設
定される。

【００２３】本実施形態による光学ピックアップ１０
は、以上のように構成されており、先づ比較的薄いディ
スク基板厚０．６ｍｍの光ディスクの再生を行なう場合
について説明する。この場合、可変開口手段１５は、調
光部１５ｂまたは１５ｅが不透明に設定される（それぞ
れ図２，図４の構造に対応）。この状態にて、半導体レ
ーザ素子１１からの光ビームは、ビームスプリッタ１２
の反射面１２ａで反射された後、可変開口手段１５のア
パーチャ１５ｃまたは１５ｆを通過し、さらに対物レン
ズ１３を介して、光ディスク１６の信号記録面に収束さ
れる。この際、可変開口手段１５によって、ＮＡ＝０．
６に設定されているので、球面収差が低く抑えられ得る
ので、光ビームは、光ディスク１６の信号記録面に正し
く収束することになる。

【００２４】光ディスク１６からの戻り光は、再び対物
レンズ１３及び可変開口手段１５を介して、ビームスプ
リッタ１２を透過して、光検出器１４に収束する。これ
により、光検出器１４の検出信号に基づいて、光ディス
ク１６の記録信号が再生される。

【００２５】次に、比較的厚いディスク基板厚１．２ｍ
ｍの光ディスクを再生する場合には、先づ可変開口手段
１５は、調光部１５ｂ，１５ｅが透明に設定される。そ
して、この状態にて、半導体レーザ素子１１からの光ビ
ームは、ビームスプリッタ１２の反射面１２ａで反射さ
れた後、可変開口手段１５のアパーチャ１５ｃ，１５ｆ
及び調光部１５ｂ，１５ｄを透過し、さらに対物レンズ
１３を介して、光ディスク１６の信号記録面に収束され
る。この際、可変開口手段１５によって、ＮＡ＝ＮＡ０
以下に設定されているが、対物レンズ１３がディスク基
板厚１．２ｍｍの光ディスクに対して球面収差が最も抑
えられ得るように設計されているので、光ビームは、光
ディスク１６の信号記録面に正しく収束することにな
る。

【００２６】光ディスク１６からの戻り光は、再び対物
レンズ１３及び可変開口手段１５を介して、ビームスプ
リッタ１２を透過して、光検出器１４に収束する。これ
により、光検出器１４の検出信号に基づいて、光ディス
ク１６の記録信号が再生される。

【００２７】図５は、本発明による光学ピックアップの
第二の実施形態を示している。図５において、光学ピッ
クアップ３０は、有限系の光学ピックアップであって、
半導体レーザ素子１１，ビームスプリッタ１２，対物レ
ンズ１３及び光検出器１４と、ビームスプリッタ１２と
半導体レーザ素子１１の間に配設された可変開口手段１
５と、から構成されている。

【００２８】上記半導体レーザ素子１１，ビームスプリ
ッタ１２，対物レンズ１３及び光検出器１４と可変開口
手段１５は、図１に示した光学ピックアップ１０におけ
る半導体レーザ素子１１，ビームスプリッタ１２，対物
レンズ１３及び光検出器１４と可変開口手段１５と同じ
構成である。さらに、可変開口手段１５は、図１に示し
た光学ピックアップ１０の場合とは異なり、ビームスプ
リッタ１２と半導体レーザ素子１１との間に配設されて
いる。

【００２９】このような構成の光学ピックアップ３０に
よれば、半導体レーザ素子１１からの光ビームは、先づ
可変開口手段１５を通過した後、ビームスプリッタ１２
の反射面１２ａで反射された後、対物レンズ１３を介し
て、光ディスク１６の信号記録面に収束する。光ディス
ク１６からの戻り光は、再び対物レンズ１３を介して、
ビームスプリッタ１２を透過して、光検出器１４に収束
する。これにより、光検出器１４の検出信号に基づい
て、光ディスク１６の記録信号が再生される。ここで、
光ディスク１６が比較的薄いディスク基板厚０．６ｍｍ
である場合には、可変開口手段１５は、その調光部１５
ｂ，１５ｅが不透明であって、開口数ＮＡ＝０．６に設
定される。これにより、球面収差が低減され、光ビーム
が、光ディスク１６の信号記録面に正しく収束すること
になる。

【００３０】この場合、光ディスクの戻り光は、可変開
口手段１５を通過しないようになっているので、戻り光
が可変開口手段１５により絞り込まれることはなく、従
って、光検出器１４に対する戻り光の入射光量が多いこ
とから、光検出器１４によって、より正確な信号の読取
が行われることになる。

【００３１】図６は、本発明による光学ピックアップの
第三の実施形態を示している。図６において、光学ピッ
クアップ４０は、無限系の光学ピックアップであって、
半導体レーザ素子４１，コリメータレンズ４２，グレー
ティング４３，ビームスプリッタ４４，対物レンズ４
５，マルチレンズ４６及び光検出器４７と、ビームスプ
リッタ４４とグレーティング４３の間に配設された可変
開口手段４８と、から構成されている。

【００３２】上記半導体レーザ素子４１は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子４１から出射した光ビームは、
ビームコリメータレンズ４２に導かれる。

【００３３】コリメータレンズ４２は、凸レンズであっ
て、半導体レーザ素子４１からの光ビームを平行光に変
換する。

【００３４】グレーティング４３は、回折格子ともい
い、コリメータレンズ４２からの平行光をメインビーム
としての０次光及びサイドビームとしてのプラスマイナ
ス１次光に分離する。

【００３５】ビームスプリッタ４４は、その反射面４４
ａが対物レンズ４５の光軸に対して４５度傾斜した状態
で配設されており、半導体レーザ素子４１から出射した
光ビームと光ディスク４９の信号記録面からの戻り光を
分離する。即ち、半導体レーザ素子４１からの光ビーム
は、ビームスプリッタ１２を透過し、光ディスク４９か
らの戻り光は、ビームスプリッタ４４の反射面４４ａで
反射される。

【００３６】対物レンズ４５は、凸レンズであって、ビ
ームスプリッタ４４を透過した光ビームを、回転駆動さ
れる光ディスク４９の信号記録面の所望のトラック上に
収束させる。さらに、対物レンズ４５は、図示しない二
軸アクチュエータによって、二軸方向、即ちトラッキン
グ方向及びフォーカシング方向に移動可能に支持されて
いる。

【００３７】マルチレンズ４６は、円筒状に形成された
レンズであって、曲率を有する方向にのみ収束性を有す
る。これにより、マルチレンズ４６は、入射光ビームに
対して、非点収差を付与して、フォーカスサーボを容易
にしている。

【００３８】光検出器４７は、マルチレンズ４６を介し
て入射する光ビームに対して、それぞれ受光部を有する
ように構成されている。

【００３９】上記可変開口手段４８は、例えば、図２に
示した可変開口手段１５と同様に、円環状の不透光材料
から成る枠部と、枠部の中空部に設けられた円環状の調
光素子から成る調光部と、調光部の中空部により構成さ
れるアパーチャとから構成されている。尚、可変開口手
段４８は、これに限らず図４の構成もしくはそれ以外の
構成を採用してもよい。

【００４０】このように構成された光学ピックアップ４
０においては、半導体レーザ素子４１からの光ビーム
は、コリメータレンズ４２により平行光にされた後、グ
レーティングにより３つのビームに分離されて、ビーム
スプリッタ４４を透過し、可変開口手段４８のアパーチ
ャまたはアパーチャ及び調光部を通過し、さらに対物レ
ンズ４５を介して、光ディスク４９の信号記録面に収束
される。

【００４１】光ディスク４９からの戻り光は、再び対物
レンズ４５及び可変開口手段４８を介して、ビームスプ
リッタ４４に入射し、ビームスプリッタ４４の反射面４
４ａで反射された後、マルチレンズ４６を介して、光検
出器４７に収束する。これにより、光検出器４７の検出
信号に基づいて、光ディスク４９の記録信号が再生され
る。

【００４２】ここで、光ディスク４９が、比較的薄いデ
ィスク基板厚０．６ｍｍの光ディスクである場合には、
可変開口手段４８は、調光部が不透明に設定される。こ
れにより、可変開口手段４８は、アパーチャのみが光を
透過させるので、比較的小さな開口を有し、その開口数
ＮＡ＝０．６に設定される。従って、球面収差が低く抑
えられることにより、光ビームは、ディスク基板厚の薄
い光ディスク４９の信号記録面に正しく収束することに
なる。また、比較的厚いディスク基板厚１．２ｍｍの光
ディスクである場合には、可変開口手段４８は、その調
光部が透明に設定される。これにより、可変開口手段４
８は、アパーチャ及び調光部が光を透過させるので、比
較的大きな開口を有し、その開口数ＮＡ＝ＮＡ０以下に
設定される。ここで、対物レンズ４５がディスク基板厚
１．２ｍｍの光ディスクに対して球面収差が最も抑えら
れ得るように設計されているので、光ビームは、光ディ
スク４９の信号記録面に正しく収束することになる。

【００４３】図７は、本発明による光学ピックアップの
第四の実施形態を示している。図７において、光学ピッ
クアップ５０は、無限系の光学ピックアップであって、
半導体レーザ素子４１，コリメータレンズ４２，グレー
ティング４３，ビームスプリッタ４４，対物レンズ４
５，マルチレンズ４６及び光検出器４７と、ビームスプ
リッタ４４とグレーティング４３の間に配設された可変
開口手段４８と、から構成されている。

【００４４】上記半導体レーザ素子４１，コリメータレ
ンズ４２，グレーティング４３，ビームスプリッタ４
４，対物レンズ４５，マルチレンズ４６及び光検出器４
７と可変開口手段４８は、図６に示した光学ピックアッ
プ４０における半導体レーザ素子４１，コリメータレン
ズ４２，グレーティング４３，ビームスプリッタ４４，
対物レンズ４５，マルチレンズ４６及び光検出器４７と
可変開口手段４８と同じ構成である。さらに、可変開口
手段４８は、図６に示した光学ピックアップ４０の場合
とは異なり、ビームスプリッタ４４とグレーティング４
３との間に配設されている。

【００４５】このように構成された光学ピックアップ５
０においては、半導体レーザ素子４１からの光ビーム
は、コリメータレンズ４２により平行光にされた後、グ
レーティングにより３つのビームに分離されて、可変開
口手段４８のアパーチャまたはアパーチャ及び調光部を
通過し、ビームスプリッタ４４を透過して、さらに対物
レンズ４５を介して、光ディスク４９の信号記録面に収
束される。

【００４６】光ディスク４９からの戻り光は、再び対物
レンズ４５を介して、ビームスプリッタ４４に入射し、
ビームスプリッタ４４の反射面４４ａで反射された後、
マルチレンズ４６を介して、光検出器４７に収束する。
これにより、光検出器４７の検出信号に基づいて、光デ
ィスク４９の記録信号が再生される。

【００４７】ここで、光ディスク４９が、比較的薄いデ
ィスク基板厚０．６ｍｍの光ディスクである場合には、
可変開口手段４８は、調光部が不透明に設定される。こ
れにより、可変開口手段４８は、アパーチャのみが光を
透過させるので、比較的小さな開口を有し、その開口数
ＮＡ＝０．６に設定される。従って、球面収差が低く抑
えられることにより、光ビームは、ディスク基板厚の薄
い光ディスク４９の信号記録面に正しく収束することに
なる。また、比較的厚いディスク基板厚１．２ｍｍの光
ディスクである場合には、可変開口手段４８は、その調
光部が透明に設定される。これにより、可変開口手段４
８は、アパーチャ及び調光部が光を透過させるので、比
較的大きな開口を有し、その開口数ＮＡ＝ＮＡ０以下に
設定される。ここで、対物レンズ４５がディスク基板厚
１．２ｍｍの光ディスクに対して球面収差が最も抑えら
れ得るように設計されているので、光ビームは、光ディ
スク４９の信号記録面に正しく収束することになる。

【００４８】この場合、光ディスク４９からの戻り光
は、可変開口手段４８を通過せずに、光検出器４７に入
射するようになっているので、戻り光が可変開口手段４
８により絞り込まれることはなく、従って、光検出器４
７に対する戻り光の入射光量が多いことから、光検出器
４７によって、より正確な信号の読取が行われることに
なる。

【００４９】尚、上記実施形態においては、光ディスク
として、ディスク基板厚が１．２ｍｍ及び０．６ｍｍの
ものに関して、それぞれ可変開口手段１５の調光部１５
ｂ，１５ｅを透明または不透明にすることにより、光ビ
ームを、比較的薄いディスク基板厚の光ディスクと、比
較的厚いディスク基板厚の光ディスクの信号記録面に収
束させるようにしているが、これに限らず、例えば、二
枚の基板を貼り合わせた貼り合わせ光ディスクと、通常
の光ディスクとを再生する場合に、本発明を適用するこ
とも可能である。

【００５０】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、デ
ィスク基板厚の異なる方式の光ディスクであっても、光
ディスクの記録及び／または再生が正しく行われるよう
にした、光学ピックアップが提供されることになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ピックアップの第一の実施形
態を示す概略斜視図である。

【図２】図１の光学ピックアップにおける可変開口手段
の構成を示す拡大斜視図である。

【図３】図２の可変開口手段の調光部を構成するエレク
トロケミカル素子を利用した調光手段の原理を示す概略
図である。

【図４】図１の光学ピックアップにおける可変開口手段
の他の構成を示す拡大斜視図である。

【図５】本発明による光学ピックアップの第二の実施形
態を示す概略斜視図である。

【図６】本発明による光学ピックアップの第三の実施形
態を示す概略斜視図である。

【図７】本発明による光学ピックアップの第四の実施形
態を示す概略斜視図である。

【図８】従来の光学ピックアップの一例を示す概略斜視
図である。

【符号の説明】１０，３０光学ピックアップ１１半導体レーザ素子（光源）１２ビームスプリッタ１２ａ反射面１３対物レンズ１４光検出器１５可変開口手段１５ａ枠部１５ｂ調光部１５ｃアパーチャ１６光ディスク２０スペーサ２１，２２透明基板２３，２４透明電極２５エレクトロケミカル素子４０，５０光学ピックアップ４１半導体レーザ素子（光源）４２コリメータレンズ４３グレーティング４４ビームスプリッタ４５対物レンズ４６マルチレンズ４７光検出器４８可変開口手段４９光ディスク

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ビームを出射する光源と、前記光源から出射された光ビームを光ディスクの信号記
録面上に集光するように照射する対物レンズと、前記光源と対物レンズの間に配設されたビームスプリッ
タと、ビームスプリッタで分離された光ディスクの信号記録面
からの戻り光ビームを受光する光検出器とを含んでお
り、さらに、前記光源と光ディスクとの間の光路中に配設さ
れ、光ディスクの基板厚に応じて、印加される電流また
は電圧により光の透過率を変更する可変開口手段が備え
られていることを特徴とする光学ピックアップ。
【請求項２】前記可変開口手段が、エレクトロケルカ
ル素子を利用した調光素子であることを特徴とする請求
項１に記載の光学ピックアップ。
【請求項３】前記調光素子が、固体から構成されてい
ることを特徴とする、請求項２に記載の光学ピックアッ
プ。
【請求項４】前記調光素子が、アモルファスから構成
されていることを特徴とする請求項２に記載の光学ピッ
クアップ。
【請求項５】前記調光素子が、液体から構成されてい
ることを特徴とする請求項２に記載の光学ピックアッ
プ。
【請求項６】前記調光素子が、気体から構成されてい
ることを特徴とする、請求項２に記載の光学ピックアッ
プ。
【請求項７】前記可変開口手段が、対物レンズと光源
との間の光路中に配設されていることを特徴とする請求
項１に記載の光学ピックアップ。
【請求項８】前記可変開口手段が、対物レンズとビー
ムスプリッタとの間の光路中に配設されていることを特
徴とする請求項１に記載の光学ピックアップ。
【請求項９】前記可変開口手段が、ビームスプリッタ
と光源との間の光路中に配設されていることを特徴とす
る請求項１に記載の光学ピックアップ。
【請求項１０】前記可変開口手段が、対物レンズと光
ディスクとの間の光路中に配設されていることを特徴と
する請求項１に記載の光学ピックアップ。