JPH0964675A - 密閉空洞上の圧電共振器および製造方法 - Google Patents
密閉空洞上の圧電共振器および製造方法Info
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- JPH0964675A JPH0964675A JP8229352A JP22935296A JPH0964675A JP H0964675 A JPH0964675 A JP H0964675A JP 8229352 A JP8229352 A JP 8229352A JP 22935296 A JP22935296 A JP 22935296A JP H0964675 A JPH0964675 A JP H0964675A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
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- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
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- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 密閉空洞上の圧電共振器をより簡単かつ容易
に製造し、小型、低価格および信頼性の高い共振器を実
現する。 【解決手段】 密閉空洞12を備えた薄膜圧電共振器2
0の製造方法は、面11に空洞12を備えた第1の基板
10を提供し、面16上に誘電体層15を備えた第2の
基板14を提供し、かつ第2の基板14を第1の基板1
0に対し空洞12に重なるように接合する段階を含む。
第2の基板14の少なくとも一部が誘電体15からエッ
チングされ空洞12の上に重なる領域にエッチングされ
た平坦面16を露出させる。第1の電極22がエッチン
グされた平坦面16上に配置され、圧電膜25が第1の
電極22上に配置され、かつ第2の電極24が圧電膜2
5上に配置される。
に製造し、小型、低価格および信頼性の高い共振器を実
現する。 【解決手段】 密閉空洞12を備えた薄膜圧電共振器2
0の製造方法は、面11に空洞12を備えた第1の基板
10を提供し、面16上に誘電体層15を備えた第2の
基板14を提供し、かつ第2の基板14を第1の基板1
0に対し空洞12に重なるように接合する段階を含む。
第2の基板14の少なくとも一部が誘電体15からエッ
チングされ空洞12の上に重なる領域にエッチングされ
た平坦面16を露出させる。第1の電極22がエッチン
グされた平坦面16上に配置され、圧電膜25が第1の
電極22上に配置され、かつ第2の電極24が圧電膜2
5上に配置される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は圧電装置(piez
oelectric devices)に関し、かつよ
り特定的には密閉されたチェンバを導入した圧電装置に
関する。
oelectric devices)に関し、かつよ
り特定的には密閉されたチェンバを導入した圧電装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】1つの種類の表面音響波(SAW)フィ
ルタが現在RFフィルタその他のために手持ち型無線機
の分野で非常に広く使用されている。圧電フィルタは1
つまたはそれぞれ以上の圧電共振器から形成され該圧電
共振器は小型および軽量に製作することができかつ、し
たがって、特に小型の携帯用通信装置において有用であ
る。
ルタが現在RFフィルタその他のために手持ち型無線機
の分野で非常に広く使用されている。圧電フィルタは1
つまたはそれぞれ以上の圧電共振器から形成され該圧電
共振器は小型および軽量に製作することができかつ、し
たがって、特に小型の携帯用通信装置において有用であ
る。
【0003】他の種類のバルク音響波(BAW)共振器
フィルタはいっそう小型でありかつICプロセスに集積
できる可能性を秘めている。これらの圧電共振器は非常
に敏感でありかつある種類の比較的でこぼこのある基板
上に形成されなければならない。しかしながら、圧電共
振器が適切に動作するためには、それは基板から分離さ
れなければならず、さもなければ基板が必要な共振、ま
たは振動を減衰させる(damp)ことになる。
フィルタはいっそう小型でありかつICプロセスに集積
できる可能性を秘めている。これらの圧電共振器は非常
に敏感でありかつある種類の比較的でこぼこのある基板
上に形成されなければならない。しかしながら、圧電共
振器が適切に動作するためには、それは基板から分離さ
れなければならず、さもなければ基板が必要な共振、ま
たは振動を減衰させる(damp)ことになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】いくつかの従来技術の
BAW装置においては、前記分離は基板の表面上に圧電
共振器を形成しかつ次に裏面からほぼ基板をとおって空
洞をエッチングすることによって達成される。基板は比
較的厚くなることがあり得るから、このプロセスは多量
の非常に困難なエッチングを必要としかつエッチング工
程を圧電装置が損傷される前に確実に停止させるため充
分な注意が必要とされる。また、必要なエッチングの量
のため、圧電装置の下に残っている基板の厚さはかなり
変動する可能性がある。薄膜共振器の総合的な厚さは全
体で2分の1波長であり、したがって厚さの変動は制御
されない共振周波数として現われる。
BAW装置においては、前記分離は基板の表面上に圧電
共振器を形成しかつ次に裏面からほぼ基板をとおって空
洞をエッチングすることによって達成される。基板は比
較的厚くなることがあり得るから、このプロセスは多量
の非常に困難なエッチングを必要としかつエッチング工
程を圧電装置が損傷される前に確実に停止させるため充
分な注意が必要とされる。また、必要なエッチングの量
のため、圧電装置の下に残っている基板の厚さはかなり
変動する可能性がある。薄膜共振器の総合的な厚さは全
体で2分の1波長であり、したがって厚さの変動は制御
されない共振周波数として現われる。
【0005】いくつかの従来の装置においては、前記分
離は基板の上に犠牲層を形成しかつ次に該犠牲層の上に
支持層を形成することによって達成される。次に圧電装
置が前記支持層の上に形成されかつ前記犠牲層がエッチ
ング除去される。これによって前記支持層が、前記基板
から圧電装置を分離する、エアギャップの上にブリッジ
様に延在して残される。圧電装置を製造するこの方法に
伴なう問題は犠牲層を正確にエッチングするのが困難で
あることである。さらに、前記エアギャップは前記犠牲
層のエッチングを可能にするため開かれなければならず
かつその後、もし密閉された空洞が望まれる場合、密閉
するのが困難なものである。密閉された真空の空洞は空
気のダンピングによる損失を低減しかつ良好なフィルタ
につながる。また、この方法はコストを大幅に増加させ
る多くの付加的な処理工程を必要とする。
離は基板の上に犠牲層を形成しかつ次に該犠牲層の上に
支持層を形成することによって達成される。次に圧電装
置が前記支持層の上に形成されかつ前記犠牲層がエッチ
ング除去される。これによって前記支持層が、前記基板
から圧電装置を分離する、エアギャップの上にブリッジ
様に延在して残される。圧電装置を製造するこの方法に
伴なう問題は犠牲層を正確にエッチングするのが困難で
あることである。さらに、前記エアギャップは前記犠牲
層のエッチングを可能にするため開かれなければならず
かつその後、もし密閉された空洞が望まれる場合、密閉
するのが困難なものである。密閉された真空の空洞は空
気のダンピングによる損失を低減しかつ良好なフィルタ
につながる。また、この方法はコストを大幅に増加させ
る多くの付加的な処理工程を必要とする。
【0006】したがって、簡単でありかつ低価格の圧電
共振器を製造するための新しいプロセスを考案すること
が有利であろう。
共振器を製造するための新しいプロセスを考案すること
が有利であろう。
【0007】本発明の目的は、密閉された空洞の上に圧
電共振器を製造する新しいかつ改善された方法を提供す
ることにある。
電共振器を製造する新しいかつ改善された方法を提供す
ることにある。
【0008】本発明の他の目的は、従来技術の方法より
実質的に容易でありかつずっと低価格である、密閉され
た空洞の上に圧電共振器を製造する新しいかつ改善され
た方法を提供することにある。
実質的に容易でありかつずっと低価格である、密閉され
た空洞の上に圧電共振器を製造する新しいかつ改善され
た方法を提供することにある。
【0009】本発明のさらに他の目的は、工程がより正
確であり、したがってより大きな一貫性および信頼性が
達成される密閉された空洞の上に圧電共振器を製造する
新しいかつ改善された方法を提供することにある。
確であり、したがってより大きな一貫性および信頼性が
達成される密閉された空洞の上に圧電共振器を製造する
新しいかつ改善された方法を提供することにある。
【0010】本発明のさらに他の目的は、密閉された空
洞の上に新しいかつ改善された圧電共振器を提供するこ
とにある。
洞の上に新しいかつ改善された圧電共振器を提供するこ
とにある。
【0011】本発明のさらに他の目的は、密閉された空
洞の上に新しいかつ改善された圧電共振器を提供し、該
共振器は従来技術の共振器よりも小型でありかつ製造が
容易であり、かつ該共振器は従来技術の共振器よりも低
価格でありかつより信頼性があるものを提供することに
ある。
洞の上に新しいかつ改善された圧電共振器を提供し、該
共振器は従来技術の共振器よりも小型でありかつ製造が
容易であり、かつ該共振器は従来技術の共振器よりも低
価格でありかつより信頼性があるものを提供することに
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記問題および他のもの
は本発明に係わる方法によって少なくとも部分的に解決
されかつ上記目的および他のものは本発明に係わる方法
によって実現される。本発明に係わる密閉された空洞と
共に薄膜圧電共振器を製造する方法は、その面に空洞を
備えた第1の基板を提供する段階、その面上に誘電体層
を備えた第2の基板を提供する段階、および前記空洞に
対し上に横たわる関係で前記第2の基板を前記第1の基
板に接合する段階を含む。第2の基板の厚さは、もし必
要であれば、研削(grinding)および研摩(p
olishing)のような、比較的簡単な機械的工程
によりかなり低減できる。第2の基板の少なくとも一部
が次に前記誘電体からエッチングされて前記空洞の上に
横たわる領域にエッチングされた平坦な面を露出する。
第1の電極が前記エッチングされた平坦な面の上に配置
され、圧電膜が前記第1の電極の上に配置され、かつ第
2の電極が前記圧電膜の上に配置される。
は本発明に係わる方法によって少なくとも部分的に解決
されかつ上記目的および他のものは本発明に係わる方法
によって実現される。本発明に係わる密閉された空洞と
共に薄膜圧電共振器を製造する方法は、その面に空洞を
備えた第1の基板を提供する段階、その面上に誘電体層
を備えた第2の基板を提供する段階、および前記空洞に
対し上に横たわる関係で前記第2の基板を前記第1の基
板に接合する段階を含む。第2の基板の厚さは、もし必
要であれば、研削(grinding)および研摩(p
olishing)のような、比較的簡単な機械的工程
によりかなり低減できる。第2の基板の少なくとも一部
が次に前記誘電体からエッチングされて前記空洞の上に
横たわる領域にエッチングされた平坦な面を露出する。
第1の電極が前記エッチングされた平坦な面の上に配置
され、圧電膜が前記第1の電極の上に配置され、かつ第
2の電極が前記圧電膜の上に配置される。
【0013】
【発明の実施の形態】次に図面を参照して本発明の実施
形態につき説明する。図面においては同じ文字は種々の
図面にわたり同じ部分を示している。図1〜図4は本発
明に係わる密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器を製
造するプロセスにおけるいくつかの工程を示す単純化さ
れかつ非常に拡大された断面図である。
形態につき説明する。図面においては同じ文字は種々の
図面にわたり同じ部分を示している。図1〜図4は本発
明に係わる密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器を製
造するプロセスにおけるいくつかの工程を示す単純化さ
れかつ非常に拡大された断面図である。
【0014】特に図1を参照すると、第1の基板10が
上部平坦面11を有するものとして示されている。基板
10は容易に加工可能な任意の都合のよい材料とするこ
とができ、例えば、よく知られた半導体材料の任意のも
のでよい。この特定の実施形態では、基板10は通常半
導体製品を製造するために使用されるシリコンウェハで
ある。
上部平坦面11を有するものとして示されている。基板
10は容易に加工可能な任意の都合のよい材料とするこ
とができ、例えば、よく知られた半導体材料の任意のも
のでよい。この特定の実施形態では、基板10は通常半
導体製品を製造するために使用されるシリコンウェハで
ある。
【0015】タブ様の(tub−like)くぼみまた
は空洞12が任意の都合のよい手段によって基板10の
前記上部平坦面11に形成される。基板10および1つ
の空洞12のみを含むウェハの一部のみが図面に示され
ているが、基板10は複数の空洞を含むことができ、そ
れらの空洞の全ては同時に形成することができる。この
好ましい実施形態では、空洞12はマスク、フォトレジ
スト、その他を使用して上部平坦面11をパターニング
しかつ技術的によく知られた方法で基板10をエッチン
グすることによって形成される。
は空洞12が任意の都合のよい手段によって基板10の
前記上部平坦面11に形成される。基板10および1つ
の空洞12のみを含むウェハの一部のみが図面に示され
ているが、基板10は複数の空洞を含むことができ、そ
れらの空洞の全ては同時に形成することができる。この
好ましい実施形態では、空洞12はマスク、フォトレジ
スト、その他を使用して上部平坦面11をパターニング
しかつ技術的によく知られた方法で基板10をエッチン
グすることによって形成される。
【0016】平坦な面を有する第2の基板14が提供さ
れかつ、一般に誘電体材料からなる、層15が該第2の
基板14の平坦な面の上に、基板14と層15の接合部
において平坦な面16を形成するように、配置される。
基板14を含むウェハの一部のみが図面に示されている
が、基板14の面全体を層15によってカバーすること
ができ、あるいは層15は空洞(単数または複数)12
の上に横たわる位置においてのみ前記面上にパターニン
グすることができる。層15は第1の基板10の平坦な
面11に接合可能な平坦な面16によって区別されまた
は区画される材料から形成される。また、層15の材料
は層15から選択的にエッチング可能な第2の基板14
によって区別または区画される。この好ましい実施形態
においては、例えば、基板14は(基板10に関して述
べたように)シリコンウェハでありかつ層15は任意の
よく知られた酸化技術によって基板14の平坦な面上に
成長される酸化物層(SiO2)である。
れかつ、一般に誘電体材料からなる、層15が該第2の
基板14の平坦な面の上に、基板14と層15の接合部
において平坦な面16を形成するように、配置される。
基板14を含むウェハの一部のみが図面に示されている
が、基板14の面全体を層15によってカバーすること
ができ、あるいは層15は空洞(単数または複数)12
の上に横たわる位置においてのみ前記面上にパターニン
グすることができる。層15は第1の基板10の平坦な
面11に接合可能な平坦な面16によって区別されまた
は区画される材料から形成される。また、層15の材料
は層15から選択的にエッチング可能な第2の基板14
によって区別または区画される。この好ましい実施形態
においては、例えば、基板14は(基板10に関して述
べたように)シリコンウェハでありかつ層15は任意の
よく知られた酸化技術によって基板14の平坦な面上に
成長される酸化物層(SiO2)である。
【0017】特に図2を参照すると、層15の面が少な
くとも空洞12の上に横たわるように基板10の平坦な
面11に接合される。接着材または他の化学製品、ウェ
ハ接合、その他のような、任意の接合技術をこの目的の
ために使用できることが理解される。この好ましい実施
形態では、標準的なウェハ接合技術が使用され、すなわ
ち、結合面(mating surfaces)が平坦
性を保証するよう研摩されかつこれらの面が単に結合さ
れ(並置され)そして堅固な化学的接合を提供するため
加熱される。
くとも空洞12の上に横たわるように基板10の平坦な
面11に接合される。接着材または他の化学製品、ウェ
ハ接合、その他のような、任意の接合技術をこの目的の
ために使用できることが理解される。この好ましい実施
形態では、標準的なウェハ接合技術が使用され、すなわ
ち、結合面(mating surfaces)が平坦
性を保証するよう研摩されかつこれらの面が単に結合さ
れ(並置され)そして堅固な化学的接合を提供するため
加熱される。
【0018】基板14は次に研削および/または研摩に
よって都合のよい厚さまで機械加工され、かつ基板14
の残りの部分が、標準的な半導体エッチング技術を使用
して、エッチングにより除去される。機械加工および/
またはエッチングの量は元の厚さおよび使用される材料
の分離または隔離(decoupling)特性に依存
することが理解される。この好ましい実施形態において
はおよび操作の単純化のため、ウェハ全体(基板14)
は機械加工およびエッチングにより除去されて、図3に
示されるように、面16を露出する。エッチング工程の
間に、2酸化シリコンの層15は多くの材料が除去され
すぎないことを保証するための自然のまたは天然のエッ
チングストッパを形成する。
よって都合のよい厚さまで機械加工され、かつ基板14
の残りの部分が、標準的な半導体エッチング技術を使用
して、エッチングにより除去される。機械加工および/
またはエッチングの量は元の厚さおよび使用される材料
の分離または隔離(decoupling)特性に依存
することが理解される。この好ましい実施形態において
はおよび操作の単純化のため、ウェハ全体(基板14)
は機械加工およびエッチングにより除去されて、図3に
示されるように、面16を露出する。エッチング工程の
間に、2酸化シリコンの層15は多くの材料が除去され
すぎないことを保証するための自然のまたは天然のエッ
チングストッパを形成する。
【0019】特に図4を参照すると、薄膜共振器構造2
0が次に空洞12に対し上に横たわるような関係で層1
5の平坦な面16上に製作される。共振器構造20は空
洞12に対し上に横たわるような関係で層15の面16
上に配置された第1の電極22、および第1の電極22
の上に横たわりそれらの間に圧電膜25がはさまれた第
2の電極24を含む。共振器の製造技術においてよく知
られた方法で、第1の電極22が面16の上に形成さ
れ、圧電膜25が電極22の上に被着されかつ第2の電
極24が圧電膜25の前記面の上に被着される。電極2
2および24は、例えば、都合のよい金属の真空被着、
無電解被着、その他のような、任意のよく知られた技術
を使用して形成できる。
0が次に空洞12に対し上に横たわるような関係で層1
5の平坦な面16上に製作される。共振器構造20は空
洞12に対し上に横たわるような関係で層15の面16
上に配置された第1の電極22、および第1の電極22
の上に横たわりそれらの間に圧電膜25がはさまれた第
2の電極24を含む。共振器の製造技術においてよく知
られた方法で、第1の電極22が面16の上に形成さ
れ、圧電膜25が電極22の上に被着されかつ第2の電
極24が圧電膜25の前記面の上に被着される。電極2
2および24は、例えば、都合のよい金属の真空被着、
無電解被着、その他のような、任意のよく知られた技術
を使用して形成できる。
【0020】この場合、複数の個々の圧電共振器を単一
のウェハ上に製作することができ、あるいは例えば1個
の圧電共振器を単一のウェハ上に製作しかつ同じウェハ
上に形成された電子回路と集積することもできることに
注目すべきである。一般に、圧電フィルタは回路に接続
された1つまたはそれ以上の圧電共振器を含む。説明さ
れた製造技術を使用して、必要な数の圧電共振器を単一
の基板またはウェハ上に製作しかつ電気的に接続して所
望の圧電フィルタ構造を形成することができる。例え
ば、電極(単数または複数)24をウェハ上にパターニ
ングするのと同時に電気的接続をウェハ上にパターニン
グすることができる。
のウェハ上に製作することができ、あるいは例えば1個
の圧電共振器を単一のウェハ上に製作しかつ同じウェハ
上に形成された電子回路と集積することもできることに
注目すべきである。一般に、圧電フィルタは回路に接続
された1つまたはそれ以上の圧電共振器を含む。説明さ
れた製造技術を使用して、必要な数の圧電共振器を単一
の基板またはウェハ上に製作しかつ電気的に接続して所
望の圧電フィルタ構造を形成することができる。例え
ば、電極(単数または複数)24をウェハ上にパターニ
ングするのと同時に電気的接続をウェハ上にパターニン
グすることができる。
【0021】当業者には圧電膜25、電極22および2
4、および酸化物層15の総合的な厚さは2分の1波長
(またはその倍数)の厚さであることが理解されるであ
ろう。良好なフィルタ特性(広い帯域幅)のためには、
層15の厚さは公称上圧電膜25の厚さの半分とされ
る。もし良好な第1オーバトーン特性および良好な温度
補償特性が望まれるならば、酸化物層15の厚さは圧電
膜25の厚さの1.5倍まで増大できる。好ましい実施
形態では、シリコン基板14上に成長される酸化物層1
5の厚さは非常に正確に制御することができる。さら
に、層15は基板14の除去の間に自然のまたは天然の
エッチングストッパを形成するから、層15の厚さは残
りの製造工程の間に実質的に変更されることはない。し
たがって、従来技術の製造プロセスにおいて必要とされ
たチューニング工程のような操作は必要ではなく、ある
いは実質的に低減される。また、好ましい本実施形態に
おいては空洞12はエッチングにより形成されかつ層1
6は所望の厚さに成長されかつ基板10に接合されるか
ら、完成した圧電共振器は従来技術の共振器よりもずっ
と小型に製造できる。
4、および酸化物層15の総合的な厚さは2分の1波長
(またはその倍数)の厚さであることが理解されるであ
ろう。良好なフィルタ特性(広い帯域幅)のためには、
層15の厚さは公称上圧電膜25の厚さの半分とされ
る。もし良好な第1オーバトーン特性および良好な温度
補償特性が望まれるならば、酸化物層15の厚さは圧電
膜25の厚さの1.5倍まで増大できる。好ましい実施
形態では、シリコン基板14上に成長される酸化物層1
5の厚さは非常に正確に制御することができる。さら
に、層15は基板14の除去の間に自然のまたは天然の
エッチングストッパを形成するから、層15の厚さは残
りの製造工程の間に実質的に変更されることはない。し
たがって、従来技術の製造プロセスにおいて必要とされ
たチューニング工程のような操作は必要ではなく、ある
いは実質的に低減される。また、好ましい本実施形態に
おいては空洞12はエッチングにより形成されかつ層1
6は所望の厚さに成長されかつ基板10に接合されるか
ら、完成した圧電共振器は従来技術の共振器よりもずっ
と小型に製造できる。
【0022】
【発明の効果】したがって、密閉された空洞の上に圧電
共振器を製造するための新規なプロセスが開示され、こ
のプロセスは従来技術の方法より実質的に簡単でありか
つより低価格である。さらに、前記密閉された空洞上に
圧電共振器を製造する新規なかつ改善された方法はより
正確な工程を含み、したがってより優れた一貫性および
信頼性が達成される。また、密閉された空洞上の新規な
かつ改善された圧電共振器は従来技術の共振器より小型
でありかつ製造するのが容易であり、かつ従来技術の共
振器よりも低価格でありかつより信頼性が高い。
共振器を製造するための新規なプロセスが開示され、こ
のプロセスは従来技術の方法より実質的に簡単でありか
つより低価格である。さらに、前記密閉された空洞上に
圧電共振器を製造する新規なかつ改善された方法はより
正確な工程を含み、したがってより優れた一貫性および
信頼性が達成される。また、密閉された空洞上の新規な
かつ改善された圧電共振器は従来技術の共振器より小型
でありかつ製造するのが容易であり、かつ従来技術の共
振器よりも低価格でありかつより信頼性が高い。
【0023】本発明の特定の実施形態を示しかつ説明し
たが、当業者にはさらに他の修正および改善をなすこと
ができる。したがって、本発明は示された特定の形式に
限定されるのではなくかつ添付の特許請求の範囲によっ
てこの発明の精神および範囲から離れることのない全て
の変更をカバーすることを意図するものと理解されるべ
きである。
たが、当業者にはさらに他の修正および改善をなすこと
ができる。したがって、本発明は示された特定の形式に
限定されるのではなくかつ添付の特許請求の範囲によっ
てこの発明の精神および範囲から離れることのない全て
の変更をカバーすることを意図するものと理解されるべ
きである。
【図1】本発明に係わる薄膜圧電共振器を製造するプロ
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
【図2】本発明に係わる薄膜圧電共振器を製造するプロ
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
【図3】本発明に係わる薄膜圧電共振器を製造するプロ
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
【図4】本発明に係わる薄膜圧電共振器を製造するプロ
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
セスにおけるいくつかの工程を示す単順化したかつ大幅
に拡大した断面図である。
10 第1の基板 11 上部平坦面 12 くぼみまたは空洞 14 第2の基板 15 層 16 平坦面 20 薄膜共振器構造 22 第1の電極 24 第2の電極 25 圧電膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フレッド・エス・ヒッカーネル アメリカ合衆国アリゾナ州85018、フェニ ックス、イースト・ウェルドン 5012 (72)発明者 ドナルド・エル・ヒューズ アメリカ合衆国アリゾナ州85213、メサ、 ノース・アッシュブルック 1727
Claims (5)
- 【請求項1】 密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器
の製造方法であって、 平坦な面(11)を備えた第1の基板(10)を提供す
る段階、 前記第1の基板(10)の前記平坦な面(11)に空洞
(12)を形成する段階、 平坦な面(16)を備えた第2の基板(14)を提供す
る段階、 前記第2の基板(14)の前記平坦な面(16)上に材
料の層(15)を、該材料の層の上に前記第2の基板
(14)の前記平坦な面(16)と平行に平坦な面を形
成するように配置する段階であって、前記材料の層(1
5)は前記第1の基板(10)の前記平坦な面(11)
に接合可能な平坦な面によって区別され、前記材料の層
(15)はさらに前記材料の層(15)から選択的にエ
ッチング可能である第2の基板(14)によって区別さ
れるもの、 前記空洞(12)に重なる関係で前記第1の基板(1
0)の前記平坦な面(11)に前記材料の層(15)の
前記平坦な面を接合する段階、 前記材料の層から前記第2の基板の一部をエッチングし
て前記空洞(12)の上に横たわる領域においてエッチ
ングされた平坦な面(16)を露出する段階、 前記空洞(12)の上に横たわる領域において前記エッ
チングされた平坦な面(16)上に第1の電極(22)
を配置する段階、 前記第1の電極(22)上に圧電膜(25)を配置する
段階、そして前記圧電膜(25)上に第2の電極(2
4)を配置する段階、 を具備することを特徴とする密閉された空洞を備えた薄
膜圧電共振器の製造方法。 - 【請求項2】 密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器
の製造方法であって、 平坦な面を備えた第1のシリコン基板を提供する段階、 前記第1の基板の前記平坦な面に空洞をエッチングする
段階、 平坦な面を備えた第2のシリコン基板を提供する段階、 前記第2のシリコン基板の前記平坦な面の上に2酸化シ
リコンの層を、該2酸化シリコンの層の上に前記第2の
シリコン基板の前記平坦な面と平行に平坦な面を形成す
るように成長させる段階、 前記2酸化シリコンの層の前記平坦な面を前記空洞に対
し上に横たわる関係で前記第1のシリコン基板の前記平
坦な面に対し接合する段階、 前記2酸化シリコンの層から前記第2のシリコン基板の
一部をエッチングして前記空洞の上に横たわる領域にお
いてエッチングされた平坦な面を露出する段階、 前記空洞の上に横たわる領域において前記エッチングさ
れた平坦な面の上に第1の金属電極を被着する段階、 前記第1の金属電極の上に圧電膜を配置する段階、そし
て前記圧電膜の上に第2の金属電極を被着する段階、 を具備することを特徴とする密閉された空洞を備えた薄
膜圧電共振器の製造方法。 - 【請求項3】 各々密閉された空洞を有する複数の薄膜
圧電共振器を製造する方法であって、 平坦な面を備えた第1のシリコンウェハを提供する段
階、 前記第1のシリコンウェハの前記平坦な面に複数の別個
の空洞をエッチングする段階、 平坦な面を備えた第2のシリコンウェハを提供する段
階、 前記第2のシリコンウェハの前記平坦な面の上に2酸化
シリコンの層を、該2酸化シリコンの層の上に前記第2
のシリコンウェハの前記平坦な面と平行に平坦な面を形
成するように成長させる段階、 前記複数の空洞の上に横たわる関係で前記第1のシリコ
ンウェハの前記平坦な面に前記2酸化シリコンの層の前
記平坦な面をウェハ接合する段階、 前記第2のシリコンウェハをエッチングして、前記複数
の空洞の各々の上に1つがそれぞれ横たわるよう、複数
の領域にエッチングされた平坦な面を露出させる段階、 前記複数の第1の金属電極を前記空洞の各々の上に横た
わる領域に被着する段階であって、前記第1の金属電極
の各々1つが前記空洞の各々に対し上に横たわる関係で
被着されるもの、 複数の圧電膜を前記複数の第1の金属電極の上に横たわ
る関係で被着する段階であって、前記圧電膜の各々1つ
が前記第1の金属電極の各々に対し上に横たわる関係で
被着されるもの、そして複数の第2の金属電極を前記各
々の圧電膜の上に横たわる関係で被着する段階であっ
て、前記第2の金属電極の各々1つが前記圧電膜の各々
に対し上に横たわる関係で被着されるもの、 を具備することを特徴とする、各々密閉された空洞を有
する複数の薄膜圧電共振器を製造する方法。 - 【請求項4】 密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器
であって、 平坦な面(11)を備えた基板(10)、 前記基板(10)の前記平坦な面(11)に画定された
空洞(12)、 前記空洞(12)の上に横たわる材料の層(15)の上
に平坦な面(16)を形成するように前記基板(10)
の前記平坦な面(11)に接合された誘電体材料の層
(15)、 前記空洞(12)の上に横たわる領域における材料の層
(15)の前記平坦な面(16)上に配置された第1の
電極(22)、 前記第1の電極(22)の上に配置された圧電膜(2
5)、そして前記圧電膜(25)の上に配置された第2
の電極(24)、 を具備することを特徴とする密閉された空洞を備えた薄
膜圧電共振器。 - 【請求項5】 密閉された空洞を備えた薄膜圧電共振器
であって、 平坦な面を備えた第1の基板、 前記第1の基板の前記平坦な面に画定された空洞、 第2の基板であって、平坦な面および前記第2の基板の
前記平坦な面上に配置された誘電体材料の層を備え、前
記第2の基板の前記平坦な面と平行に誘電体材料の層の
上に平坦な面を形成し、前記誘電体材料の層の平坦な面
は前記第1の基板の前記平坦な面に接合されかつ前記第
2の基板の部分は前記空洞の上に横たわる誘電体材料の
層の上に第2の平坦な面を形成するよう除去されている
もの、 前記空洞の上に横たわる領域において前記誘電体材料の
層の前記第2の平坦な面の上に配置された第1の電極、 前記第1の電極上に配置された圧電膜、そして前記圧電
膜の上に配置された第2の電極、 を具備することを特徴とする密閉された空洞を備えた薄
膜圧電共振器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US51622295A | 1995-08-17 | 1995-08-17 | |
| US08/516,222 | 1995-08-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0964675A true JPH0964675A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=24054638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8229352A Pending JPH0964675A (ja) | 1995-08-17 | 1996-08-12 | 密閉空洞上の圧電共振器および製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0964675A (ja) |
| KR (1) | KR970013677A (ja) |
| CN (1) | CN1148290A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002103900A1 (fr) * | 2001-06-15 | 2002-12-27 | Ube Electronics, Ltd. | Resonateur piezoelectrique a film fin |
| KR100516571B1 (ko) * | 2002-05-29 | 2005-09-22 | 엘지이노텍 주식회사 | 공진기 |
| US7053730B2 (en) * | 2003-04-18 | 2006-05-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Fabricating methods for air-gap type FBARs and duplexers including securing a resonating part substrate to a cavity forming substrate |
| EP1523097A3 (en) * | 2003-10-07 | 2007-07-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Air-gap type FBAR, method for fabricating the same, and filter and duplexer using the same |
| KR100753705B1 (ko) * | 2004-10-28 | 2007-08-30 | 후지쓰 메디아 데바이스 가부시키가이샤 | 압전 박막 공진자 및 이를 이용한 필터 |
| US7456707B2 (en) | 2004-08-18 | 2008-11-25 | Panasonic Corporation | Resonator and filter using the same |
| US7501739B2 (en) * | 2004-04-30 | 2009-03-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Thin film piezoelectric resonator and manufacturing process thereof |
| US7531943B2 (en) | 2004-03-31 | 2009-05-12 | Panasonic Corporation | Acoustic resonator and filter |
| US8776334B2 (en) * | 2004-12-24 | 2014-07-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric thin film resonator and manufacturing method thereof |
| CN114342255A (zh) * | 2019-09-05 | 2022-04-12 | 常州承芯半导体有限公司 | 一种体声波谐振装置的形成方法 |
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|---|---|---|---|---|
| KR100425675B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2004-04-03 | 엘지전자 주식회사 | 공진기의 제조방법 |
| EP2082481B1 (en) * | 2006-10-09 | 2010-05-05 | Nxp B.V. | Resonator |
| CN104767500B (zh) * | 2014-01-03 | 2018-11-09 | 佛山市艾佛光通科技有限公司 | 空腔型薄膜体声波谐振器及其制备方法 |
| WO2021134684A1 (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-08 | 瑞声声学科技(深圳)有限公司 | 薄膜体声波谐振器 |
| CN111327288B (zh) * | 2020-01-14 | 2021-04-16 | 诺思(天津)微系统有限责任公司 | 一种体声波谐振器、超窄带滤波器、双工器及多工器 |
-
1996
- 1996-06-28 KR KR1019960024828A patent/KR970013677A/ko not_active Withdrawn
- 1996-08-12 CN CN96111658A patent/CN1148290A/zh active Pending
- 1996-08-12 JP JP8229352A patent/JPH0964675A/ja active Pending
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| US7233218B2 (en) | 2003-04-18 | 2007-06-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Air-gap type FBAR, and duplexer using the FBAR |
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| US8776334B2 (en) * | 2004-12-24 | 2014-07-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric thin film resonator and manufacturing method thereof |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1148290A (zh) | 1997-04-23 |
| KR970013677A (ko) | 1997-03-29 |
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