JPH0966429A - 真空吸着装置および加工装置 - Google Patents
真空吸着装置および加工装置Info
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- JPH0966429A JPH0966429A JP10079196A JP10079196A JPH0966429A JP H0966429 A JPH0966429 A JP H0966429A JP 10079196 A JP10079196 A JP 10079196A JP 10079196 A JP10079196 A JP 10079196A JP H0966429 A JPH0966429 A JP H0966429A
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Abstract
入するのを防止し、しかも試料の外周部を容易に洗浄す
る。 【解決手段】 装置本体8の上部に試料9を吸着する円
板状の真空吸着部3を設け、真空吸着部3に真空ポンプ
(図示せず)と接続された真空排気孔2を接続し、真空
吸着部3の外側に第1のシール部5を設け、シール部5
の外側に第1の環状溝4aを配設し、環状溝4aの外側
に第2のシール部6を配設し、シール部6の外側に第2
の環状溝4bを配設し、環状溝4bの外側に第3のシー
ル部7を配設し、環状溝4aに陽圧付与手段(図示せ
ず)と接続された第1の供給孔1aを接続し、環状溝4
bに陽圧付与手段および洗浄液供給手段(図示せず)と
接続された第2の供給孔1bを接続する。
Description
どの加工装置の試料を保持するための真空吸着装置およ
びエッチング装置等の加工装置に関するものである。
す断面図、図27は図26に示した真空吸着装置を示す
平面図である。図に示すように、装置本体38の上部に
半導体ウェハ等の試料9を吸着する円板状の真空吸着部
33が設けられ、真空吸着部33は数十〜50%の空孔
を有する多孔質セラミックからなる。また、真空吸着部
33に真空排気孔32が接続され、真空排気孔32に真
空排気手段である真空ポンプ(図示せず)が接続され、
真空吸着部33の外側に平面状のシール部35が配設さ
れ、シール部35は緻密なセラミックからなる。
置本体38上に載置したのち、真空ポンプを作動する
と、試料9の裏面は真空吸着部33に押し付けられ、試
料9は真空吸着部33の高精度な平面に倣うから、試料
9の反り、曲がりなどは矯正される。
図である。図に示すように、エッチング槽131内に試
料載置台134が収納され、試料載置台134にネジ1
36により固定リング135が取り付けられ、試料載置
台134と固定リング135との間に試料9の周辺部が
挟まれており、試料載置台134と試料9との間にOリ
ング137が設けられ、試料載置台134、固定リング
135等により試料取付装置が構成されている。また、
エッチング槽131に送入出配管132が設けられ、エ
ッチング131槽内にエッチング液133が満たされて
いる。
裏面の外周部にOリング137が接触しているから、試
料9の裏面にエッチング液133が浸入するのを防止す
ることができる。
7に示した真空吸着装置においては、試料9の表面あら
さ、凹凸によりシール部35は完全に真空漏れを防止す
ることができないから、試料9を真空吸着して加工する
ときに、研磨液、ポリシ液等の加工液が真空吸着部33
と試料9の裏面との間に流入し、真空吸着部33と試料
9の裏面を汚すので、試料9の加工後に必ず真空吸着部
33と試料9の裏面とを洗浄しなければならない。ま
た、洗浄が不十分な場合には、加工液が真空吸着部33
に残るから、真空吸着部33の平面度が劣化し、また次
に吸着した試料9の裏面に加工液が付着する。
置を有する加工装置においては、加工液が上記真空ポン
プに吸い込まれるから、水封式の真空ポンプもしくは加
工液が真空ポンプに吸い込まれないように加工液と排気
空気とを分離する装置を用意しなければならない。ま
た、真空吸着部33が加工液によって汚れるから、真空
吸着部33を洗浄するブラシング洗浄装置等を付加する
必要がある。したがって、加工装置の製造コストが高価
となる。
いては、Oリング137から試料9に大きな力が作用す
るから、試料7に大きな曲げ応力が発生するので、試料
9が薄いときには割れが発生することがあり、またOリ
ング137はゴムからなるから、試料取付装置から試料
9を取り外したときにゴム跡が残り、さらに試料9を固
定リング135により固定するから、自動搬送を行なう
ときには、自動搬送装置によって固定リング135を試
料載置台134から取り外す必要があるから、自動搬送
装置が複雑になる。
れたもので、加工液が真空吸着部と試料の裏面との間に
流入することがなく、しかも試料の外周部を容易に洗浄
することができる真空吸着装置を提供することを目的と
する。
いときにも割れが発生することがなく、また試料にゴム
跡が残ることがない加工装置を提供することを目的とす
る。
め、本発明においては、装置本体の上部に試料を吸着す
る真空吸着部を設け、上記真空吸着部に真空排気手段を
接続し、上記真空吸着部の外側に第1のシール部を配設
し、上記第1のシール部の外側に第1の環状溝を配設
し、上記第1の環状溝の外側に第2のシール部を配設
し、上記第2のシール部の外側に第2の環状溝を配設
し、上記第2の環状溝の外側に第3のシール部を配設
し、上記第1の環状溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を
接続し、上記第2の環状溝に洗浄液を供給する洗浄液供
給手段を接続する。
与手段、上記洗浄液供給手段と上記真空吸着部、上記第
1、第2の環状溝との間に切換弁を設け、上記切換弁を
制御するシーケンスコントローラを設ける。
有する真空吸着部を設け、上記真空吸着部に真空排気手
段を接続し、上記真空吸着部の外側に上記微小突起と同
程度の幅の第1のシール部を配設し、上記第1のシール
部の外側に幅が0.2〜1mmの環状溝を配設し、上記
環状溝の外側に上記微小突起と同程度の幅の第2のシー
ル部を配設し、上記第2のシール部の外側に上記微小突
起と同程度の幅の環状突起または上記微小突起と同程度
の大きさの多数の微小突起からなる試料支持部を配設
し、上記環状溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を接続す
る。
の上面および上記第1、第2のシール部の上面に着色
し、または上記試料支持部の上面に着色する。
彫り込みを設ける。
記第2のシール部の外側にかかる圧力と等しい圧力の陽
圧を付与するものを用い、上記真空吸着部、上記環状溝
に洗浄液を供給する洗浄液供給手段を接続する。
与手段、上記洗浄液供給手段と上記真空吸着部、上記環
状溝との間に切換弁を設け、上記切換弁を制御するシー
ケンスコントローラを設ける。
溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を接続し、上記第2の
環状溝に洗浄液を供給する洗浄液供給手段を接続した真
空吸着装置を設ける。
に試料を吸着する真空吸着部を設け、上記真空吸着部に
真空排気手段を接続し、上記真空吸着部の外側に第1の
シール部を配設し、上記第1のシール部の外側に環状溝
を配設し、上記環状溝の外側に第2のシール部を配設
し、上記環状溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を接続し
た真空吸着装置を設ける。
質部材からなるものを用いる。
に収納し、上記エッチング槽内にエッチング液を満た
し、上記エッチング槽に送入出配管を設ける。
を示す平面図、図2は図1に示した真空吸着装置の一部
を示す断面図である。図に示すように、装置本体8の上
部に試料9を吸着する円板状の真空吸着部3が設けら
れ、真空吸着部3は数十〜50%の空孔を有する多孔質
セラミックからなる。また、真空吸着部3に真空排気孔
2が接続され、真空排気孔2に真空排気手段である真空
ポンプ(図示せず)が接続され、真空吸着部3の外側に
平面状の第1のシール部5が配設され、シール部5の外
側に第1の環状溝4aが配設され、環状溝4aの外側に
平面状の第2のシール部6が配設され、シール部6の外
側に第2の環状溝4bが配設され、環状溝4bの外側に
平面状の第3のシール部7が配設され、シール部5〜7
は緻密なセラミックからなる。また、環状溝4aに第1
の供給孔1aが接続され、供給孔1a、真空排気孔2に
陽圧付与手段(図示せず)が接続され、環状溝4bに第
2の供給孔1bが接続され、供給孔1bに陽圧付与手段
および洗浄液供給手段(図示せず)が接続されている。
置本体8上に載置したのち、真空ポンプを作動すると、
試料9の裏面は真空吸着部3に押し付けられ、試料9は
真空吸着部3の高精度な平面に倣うから、試料9の反
り、曲がりなどは矯正される。そして、陽圧付与手段か
ら供給孔1a、1bを介して環状溝4a、4bに陽圧空
気を供給すると、陽圧空気は試料9とシール部6、7と
の間のすきまを通って試料9の外周部に放出される。こ
の場合、シール部5を通って真空ポンプにより真空引き
される陽圧空気の量より多くの空気を供給する。この空
気の放出圧力によって外側から試料9とシール部6、7
との間に浸入しようとする加工液を阻止することができ
るから、加工液が真空吸着部3と試料9の裏面との間に
流入するのを防止することができる。そして、試料9を
加工したのち、試料真空吸着部3から取り外す前に、環
状溝4aに陽圧空気を供給するとともに、洗浄液供給手
段から供給孔1bを介して環状溝4bに純水等の洗浄液
を供給すると、洗浄液は環状溝4aから吹き出される陽
圧空気によって真空吸着部3には流れず、試料9の外周
に向かって流れ、加工液の付着した試料9のエッジ部が
洗浄される。したがって、試料9のエッジ部を容易に洗
浄することができる。
第2の環状溝4a、4bをそれぞれ1つ設けたが、第
1、第2の環状溝をそれぞれ複数設けてもよい。そし
て、第1〜第3のシール部が緻密なセラミックからなる
ときには、第1〜第3のシール部に欠けが発生しやすい
が、第1、第2の環状溝を複数設けたときには、複数の
第1〜第3のシール部の一部に欠けが発生したとして
も、使用不能になることがない。また、上述実施の形態
においては、真空排気孔2、第1の供給孔1a、第2の
供給孔1bをそれぞれ1本設けたが、真空排気孔、第
1、第2の供給孔をそれぞれ複数、たとえば6〜8本設
けてもよい。また、上述実施の形態においては、第2の
環状溝4bにも陽圧付与手段を接続したが、第2の環状
溝に洗浄液供給手段のみを接続し、陽圧付与手段を接続
しなくともよい。
ーケンス装置を示す概略図である。図に示すように、接
続口S1〜S3が真空ポンプ、陽圧付与手段、洗浄液供
給手段に接続され、供給口P1〜P3が真空排気孔2、
供給孔1a、1bに接続され、接続口S1〜S3と供給
口P1〜P3との間に電磁切換弁10〜13が設けら
れ、電磁切換弁10〜13はシーケンスコントローラ1
4に接続され、シーケンスコントローラ14は表1に示
すように電磁切換弁10〜13を制御する。なお、表1
において、〇は開を意味し、×は閉を意味する。
換弁10の弁A、Cを開き、試料9を真空吸着部3に吸
着する。つぎに、加工開始前に電磁切換弁11〜13の
各弁A、C、電磁切換弁12の弁Dを開き、陽圧空気を
供給孔1a、1bに供給する。この状態で試料9を加工
し、加工終了後に電磁切換弁12の弁Cを閉じ、電磁切
換弁13の弁Aを閉じ、弁Bを開いて、環状溝4bに洗
浄液を流し、試料9のエッジ部についた加工液を洗浄す
る。この場合、環状溝4aから吹き出す陽圧空気によっ
て洗浄液が試料9の周辺に押し出され、洗浄液が真空吸
着部3に吸い込まれることはない。つぎに、電磁切換弁
12の弁Cを開き、電磁切換弁13の弁Aを開き、弁B
を閉じて、洗浄液を止めるとともに、環状溝4a、4b
に陽圧空気を流して、試料9のエッジ部とシール部6、
7を乾燥する。つぎに、電磁切換弁10の弁Aを閉じ、
弁Bを開き、電磁切換弁11の弁Dを開いて、真空吸着
部3、環状溝4a、4bに陽圧空気を流し、試料9を取
り外す。つぎに、全ての弁を閉じ、加工を終了する。ま
た、試料9を保持する真空吸着部3の汚れを除去するた
め、定期的に洗浄を行なう。すなわち、電磁切換弁1
0、13の弁B、C、電磁切換弁11、12の弁B、D
を開いて、真空吸着部3、環状溝4a、4bに洗浄液を
流し、真空吸着部3を洗浄する。つぎに、電磁切換弁1
1、12の弁A、Cを開き、弁Bを閉じ、電磁切換弁1
3の弁Aを開き、弁Bを閉じて、真空吸着部3、環状溝
4a、4bに陽圧空気を流して、真空吸着部3を乾燥す
る。
的に試料9を吸着し、加工液が真空吸着部3と試料9の
裏面との間に流入するのを防止し、試料9のエッジ部を
洗浄し、真空吸着部3を洗浄することができるから、試
料9の加工作業を容易に行なうことができる。
部を示す図である。図に示すように、真空吸着部43に
円環状溝43aが設けられ、円環状溝43aに真空排気
孔42が開口し、真空吸着部43の外側に平面状の第1
のシール部45が配設されている。
部を示す図である。図に示すように、真空吸着部53に
多数の微小孔53aが設けられ、微小孔53aが真空排
気孔(図示せず)に連通し、真空吸着部53の外側に平
面状の第1のシール部55が配設されている。
は、真空吸着部43、53と試料9の裏面との接触面積
が大きいから、加工圧力が大きい場合や試料9の厚さが
薄い場合に用いることにより、試料9を変形なく支持す
ることができるので、試料9の加工面を凹凸なく加工す
ることができる。
部を示す図である。図に示すように、真空吸着部63に
多数のピン状の微小突起63aが設けられ、微小突起6
3aが設けられた部分の底部に真空排気孔62が開口
し、真空吸着部63の外側に平面状の第1のシール部6
5が配設されている。
空吸着部63と試料9の裏面との接触面積が小さいか
ら、ダスト等の影響を受けにくく、また矯正時の変面度
劣化が極めて少ない。
す平面図、図8は図7に示した真空吸着装置の一部を示
す断面図である。図に示すように、装置本体28の上部
に試料9を吸着する真空吸着部23が設けられ、真空吸
着部23には高さが100μm〜1mmの多数の微小突
起が設けられている。また、真空吸着部23に真空排気
孔22が接続され、真空排気孔22に真空排気手段であ
る真空ポンプ(図示せず)が接続され、真空吸着部23
の外側に第1のシール部25が配設され、また、シール
部25の外側に第1の環状溝24aが配設され、環状溝
24aの外側に第2のシール部26が配設され、シール
部26の外側に第2の環状溝24bが配設され、環状溝
24bの外側に第3のシール部27が配設され、シール
部25〜27には高さが数〜50μmの微小突起が設け
られている。そして、真空吸着部23、シール部25〜
27に設けられた微小突起の間隔は1mmであり、微小
突起の断面形状は一辺の長さが0.2mmの正方形であ
り、微小突起の上面は高精度平面に加工されている。ま
た、環状溝24aに第1の供給孔21aが接続され、供
給孔21a、真空排気孔22に陽圧付与手段(図示せ
ず)が接続され、環状溝24bに第2の供給孔21bが
接続され、供給孔21bに陽圧付与手段および洗浄液供
給手段(図示せず)が接続されている。
を作動すると、図8の矢印のように空気が流れ、試料9
と真空吸着部23との間の圧力が下がり、試料9は大気
圧により微小突起の上面に押えつけられ、試料9は平面
に矯正される。このとき、シール部25の微小突起の長
さは短いから、環状溝24aからシール部25に流れ込
む陽圧空気に対する抵抗は大きいので、真空をシールす
ることができる。また、陽圧付与手段から供給孔21
a、21bを介して環状溝24a、24bに陽圧空気を
供給すると、シール部26、27の微小突起の長さは短
いから、環状溝24a、24b内の空気は陽圧状態とな
り、外側から試料9とシール部26、27との間に浸入
しようとする加工液を阻止することができる。
えば500μm以上の厚さの試料9を吸着すると、試料
9のたわみはほとんど観察されず、かつ試料9の裏面と
微小突起の上面との接触率は4%と極めて小さいから、
試料9の全面にわたってダストの影響は少なく、高い平
面度が得られる。
気孔22、第1の供給孔21a、第2の供給孔21bを
それぞれ1本設けたが、真空排気孔、第1、第2の供給
孔をそれぞれ複数、たとえば6〜8本設けてもよい。ま
た、上述実施の形態においては、微小突起の断面形状を
正方形としたが、微小突起の断面形状を円形等としても
よい。
部を示す断面図である。図に示すように、微小突起の長
さが外周から中心に向かって連続的に長くなっており、
シール部25〜27の微小突起の長さは数〜数十μmで
あり、真空吸着部23の微小突起の長さは数十〜数百μ
mである。
5〜27と試料9との間のすきまは空気や加工液を遮断
するのに適した狭さとなり、シールの役目を果たすと同
時に、真空吸着部23と試料9との間のすきまは大き
く、空気の通り道としての役目を十分に果たすことがで
きるから、試料9を容易に平面矯正することができる。
を搭載した加工装置においては、加工液が真空ポンプに
吸い込まれることがないから、水封式の真空ポンプもし
くは加工液と排気空気とを分離する装置を用意する必要
がなく、また真空吸着部3を洗浄するブラシング洗浄装
置等を付加する必要がないので、加工装置の製造コスト
が安価となる。さらに、試料9に回転を与えるために、
真空排気を行なうロータリジョイントを設けたとして
も、このロータリジョイントに加工液が付着しないか
ら、ロータリジョイントが摩耗することがないので、ロ
ータリジョイントの寿命が長くなる。
示す概略平面図、図11は図10に示した真空吸着装置
の一部を示す断面図である。図に示すように、装置本体
78の上部に試料9を吸着する真空吸着部73が設けら
れ、真空吸着部73に多数のピン状の微小突起73aが
設けられ、微小突起73aの断面形状は一辺の長さが
0.2mmの正方形であり、微小突起73a間の間隔は
1mmである。また、真空吸着部73に真空排気孔72
が接続され、真空排気孔72に真空排気手段である真空
ポンプ(図示せず)、洗浄液供給手段(図示せず)が接
続され、真空吸着部73の外側に幅が0.2mmの第1
のシール部75が配設され、シール部75の外側に幅が
0.2〜1mmの環状溝74が配設され、環状溝74の
外側に幅が0.2mmの第2のシール部76が配設さ
れ、シール部76の外側に幅が0.2mmの環状突起か
らなる試料支持部77が配設され、試料支持部77等に
試料9のオリフラに対応した直線状のオリフラ部88が
設けられている。また、環状溝74に供給孔71が接続
され、供給孔71、真空排気孔72に陽圧付与手段およ
び洗浄液供給手段が接続され、陽圧付与手段から供給孔
7にシール部76の外側にかかる圧力と等しい圧力(5
〜200g/cm2)の陽圧空気が供給される。
置本体78上に載置したのち、真空ポンプを作動する
と、試料9の裏面は真空吸着部73に押し付けられ、試
料9は真空吸着部73の高精度な平面に倣う。そして、
陽圧付与手段から供給孔71を介して環状溝74に陽圧
空気を供給すると、陽圧空気の圧力によって外側から試
料9とシール部76、試料支持部77との間に浸入しよ
うとする加工液を阻止することができるから、加工液が
真空吸着部73と試料9の裏面との間に流入するのを防
止することができる。そして、試料9を加工したのち、
真空吸着部73、環状溝74に陽圧空気を供給して、試
料9を取り外す。また、定期的に真空排気孔72、供給
孔71に洗浄液を供給すれば、真空吸着部73、環状溝
74を洗浄することができる。
装置を製造するときには、微小突起73aを有する真空
吸着部73とシール部75、76、試料支持部77とを
同一平面にするために、ダイヤモンド砥粒によって研磨
加工を行なう。このとき、シール部75、76、試料支
持部77の幅が広いと、シール部75、76、試料支持
部77に作用する加工圧が微小突起73aの先端に作用
する加工圧と比較して低くなるから、シール部75、7
6、試料支持部77の加工量が真空吸着部73の加工量
と比較して少なくなるので、シール部75、76、試料
支持部77が真空吸着部73より高くなる。しかし、図
10、11に示した真空吸着装置においては、シール部
75、76、試料支持部77の環状突起の幅が微小突起
73aの一辺の長さと同じであるから、シール部75、
76、試料支持部77に作用する加工圧と微小突起73
aの先端に作用する加工圧とが同じになるので、シール
部75、76、試料支持部77の加工量と真空吸着部7
3の加工量とが同じになるため、シール部75、76、
試料支持部77が真空吸着部73より高くなることがな
い。このため、試料9の反り、曲がりなどを適正に矯正
することができる。また、陽圧付与手段から供給孔71
にシール部76の外側にかかる圧力と等しい圧力の陽圧
空気が供給されるから、陽圧空気の圧力が低いので、試
料9の変形が無視できるほど小さい。たとえば、厚さ4
25μmの4インチシリコンウェハを吸着面の平面度が
1μm以下に仕上げられた真空吸着部73に吸着した場
合には、陽圧空気の圧力が200g/cm2より小さけ
れば、シリコンウェハの外周部に変形が生じない。ま
た、陽圧空気の圧力がシール部76の外側にかかる圧力
と等しいから、空気が試料9の外周部に漏れ出すことが
ないので、研磨やエッチングに悪影響を及ぼすことがな
く、たとえば研磨の場合には加工液を吹き飛ばすことが
ないので、加工能率を低下させることがない。また、環
状溝74の幅を0.2〜1mm、シール部75、76、
試料支持部77の幅を0.2mmとし、オリフラ部88
を設けてブシール部75、76、試料支持部77の形状
を試料9の形状に合わせているから、ダストが付き難く
なるとともに、試料9の周辺部まで十分に平面矯正する
ことができる。たとえば、環状溝74の幅を0.8m
m、シール部75、76、試料支持部77の幅を0.2
mmとしたときには、試料9の径のばらつき(±0.5
mm)やセッティング誤差(±0.5mm)を考慮して
も、真空吸着部73の外周から試料9の外周までの距離
を3mm以下にすることができる。このため、研磨や研
削における試料9の周辺の面だれを小さくすることがで
き、またたとえば数百μmと大きく変形した1mm厚の
試料9をも容易に周辺まで平面矯正することができる。
なお、環状溝74の幅を0.2mmより小さくすると、
陽圧供給用の孔の形成が困難になり、環状溝74の幅を
1mmより大きくすると、真空吸着部73が小さくな
る。また、シール部75、76、試料支持部77の幅を
0.2mmより小さくしたときには、シール部75、7
6、試料支持部77の加工が困難になり、シール部7
5、76、試料支持部77の幅を0.2mmより大きく
したときには、上述の如くシール部75、76、試料支
持部77が真空吸着部73より高くなることがある。ま
た、試料9は真空吸着部73の高精度な平面に倣うか
ら、試料9の反り、曲がりなどは矯正され、たとえば5
00μmより厚い試料9を吸着すると、試料のたわみは
ほとんど観察されない。また、試料9の裏面と微小突起
73aの上面との接触率は4%と極めて小さいから、試
料9と微小突起73aとの間にダストが挟み込まれるこ
とはほとんどなく、試料9の全面にわたって高い平面度
が得られる。また、試料加工前に行なわれる真空吸着部
73を高い平面度に仕上げるセルフカッティング時にお
いて、加工具となる砥石がドレッシング(目立て)され
る効果がある。また、試料吸着部が多孔質セラミックで
形成された真空吸着装置においては、セルフカッティン
グ時と試料加工時とに異なる砥石を用いなければならな
いから、真空吸着部と試料9とを同一形状に仕上げるこ
とが極めて難しい。これに対して、図10、11に示し
た真空吸着装置においては、セルフカッティング時と試
料加工時とに同じ砥石を使用することができるから、真
空吸着部73と試料9とを同一形状に加工することがで
きるので、試料に極めて高い平面度と平行度とを同時に
得ることができる。
シーケンス装置を示す概略図である。図に示すように、
接続口S1〜S3が真空ポンプ、陽圧付与手段、洗浄液
供給手段である純水供給手段に接続され、接続口S1〜
S3に真空度調整器85、圧力調整器86、流量調整器
87が接続され、圧力調整器86は陽圧空気の圧力を数
〜5kg/cm2に調整する。また、供給口P1、P2
が真空排気孔2、供給孔1に接続され、真空度調整器8
5、圧力調整器86、流量調整器87と供給口P1、P
2との間に電磁切換弁80〜82が設けられ、電磁切換
弁80〜82はシーケンスコントローラ84に接続さ
れ、シーケンスコントローラ84は表2に示すように電
磁切換弁80〜82を制御する。なお、表2において、
〇は開を意味し、×は閉を意味する。
換弁80の弁A、Cを開き、試料9を真空吸着部73に
吸着する。つぎに、加工開始前に電磁切換弁81、82
の各弁A、Cを開き、陽圧空気を供給孔71に供給す
る。この状態で試料9を加工し、加工終了後に電磁切換
弁80の弁Aを閉じ、弁Bを開き、電磁切換弁81の弁
Dを開いて、真空吸着部73、環状溝74に陽圧空気を
流し、試料9を取り外す。つぎに、全ての弁を閉じ、加
工を終了する。また、試料9を保持する真空吸着部73
の汚れを除去するため、定期的に洗浄を行なう。すなわ
ち、電磁切換弁80、82の弁B、C、電磁切換弁81
の弁B、Dを開いて、真空吸着部73、環状溝74に純
水を流し、真空吸着部73、環状溝74を洗浄する。つ
ぎに、電磁切換弁81の弁A、Cを開き、弁Bを閉じ、
電磁切換弁82の弁Aを開き、弁Bを閉じて、真空吸着
部73、環状溝74に陽圧空気を流して、真空吸着部7
3を乾燥する。
示す概略平面図、図14は図13に示した真空吸着装置
の一部を示す断面図である。図に示すように、シール部
76の外側に環状に設けられた多数の微小突起からなる
試料支持部83が配設されており、試料支持部83の微
小突起の断面形状は一辺の長さが0.2mmの正方形で
ある。
11に示した真空吸着装置と比較して試料支持部83へ
の加工液の付着が少なく、またたとえ試料支持部83に
加工液が付着したとしても、加工液を容易に除去するこ
とができる。
置、図13に示した真空吸着装置においては、真空吸着
部73の微小突起73aの断面形状を一辺の長さが0.
2mmの正方形としたが、真空吸着部73の微小突起の
断面形状を円形等としてもよい。また、図12に示した
真空吸着装置のシーケンス装置においては、3方向、4
方向の切換のできる電磁切換弁80〜82を用いたが、
オン、オフ電磁弁と電磁切換弁とを組み合わせてもよ
い。
示す概略平面図、図16は図15に示した真空吸着装置
を示す概略正面図である。図に示すように、装置本体7
8が収納装置89に収納されており、装置本体78の試
料支持部77の外側に試料9のオリフラに対応した形状
の段差90が設けられている。
示す概略平面図、図18は図17に示した真空吸着装置
を示す概略正面図である。図に示すように、装置本体7
8が収納装置89に収納されており、装置本体78の試
料支持部77の外側に試料9のノッチに対応した形状の
彫り込み91が設けられている。
17、図18に示した真空吸着装置においては、段差9
0、彫り込み91が設けられているから、目視や触覚に
より試料9を真空吸着部73上にセットすることが容易
になる。
上面およびシール部75、76の上面に着色し、または
試料支持部77、83の上面に着色したときにも、目視
や触覚により試料9を真空吸着部73上にセットするこ
とが容易になる。
す断面図、図20は図19に示したエッチング装置に用
いられる真空吸着装置を示す概略平面図、図21は図2
0に示した真空吸着装置の一部を示す断面図である。図
に示すように、真空吸着装置の装置本体108の上部に
試料9を吸着する真空吸着部103が設けられ、真空吸
着部103に多数のピン状の微小突起103aが設けら
れ、微小突起103aの断面形状は一辺の長さが0.2
mmの正方形であり、微小突起103a間の間隔は1m
mであり、真空吸着部103の平面度は1μm以下であ
る。また、真空吸着部103に真空排気孔102が接続
され、真空排気孔102に真空排気手段である真空ポン
プ(図示せず)が接続され、真空吸着部103の外側に
幅が0.2mmの第1のシール部105が配設され、シ
ール部105の外側に幅が0.2〜1mmの環状溝10
4が配設され、環状溝104の外側に幅が0.2mmの
第2のシール部106が配設され、シール部106等に
試料9のオリフラに対応した直線状のオリフラ部118
が設けられている。また、環状溝104に供給孔101
が接続され、供給孔101、真空排気孔102に陽圧付
与手段(図示せず)が接続され、陽圧付与手段から供給
孔101にシール部106の外側にかかる圧力と等しい
圧力(5〜200g/cm2)の陽圧空気が供給され
る。また、エッチング槽111内に真空吸着装置が収納
され、エッチング槽111に送入出配管112が設けら
れ、送入出配管112にエッチング液供給装置(図示せ
ず)が接続され、エッチング槽111内にエッチング液
113が満たされている。
装置本体108上に載置したのち、真空ポンプを作動す
ると、試料9の裏面は真空吸着部103に押し付けら
れ、試料9は真空吸着部103の吸着される。つぎに、
陽圧付与手段から供給孔101に陽圧空気を供給した状
態で、エッチング液供給装置からエッチング槽111内
にエッチング液113を供給すると、試料9のエッチン
グが開始される。この場合、陽圧付与手段から供給孔1
01に陽圧空気を供給しているから、エッチング液11
3がシール部106に浸入するのを防止することができ
る。そして、エッチングが終了した時点でエッチング槽
111から送入出配管112を介してエッチング液を排
出し、試料9を取り出して洗浄することによりエッチン
グ作業を完了する。
リングを使用しないから、Oリングから試料9に大きな
力が作用することがないので、試料9に大きな曲げ応力
が発生することがないため、試料9が薄いときにも割れ
が発生することがなく、また真空吸着装置から試料9を
取り外したときにゴム跡が残ることがない。また、真空
により試料9を吸着して固定するから、固定リングが不
要であるので、自動搬送装置が構造が簡単になる。ま
た、シール部105、106の環状突起の幅が微小突起
103aの一辺の長さと同じであるから、製造時にシー
ル部105、106の加工量と真空吸着部103の加工
量とが同じになるので、シール部105、106が真空
吸着部103より高くなることがない。このため、試料
9の反り、曲がりなどを適正に矯正することができるか
ら、試料9の加工を適正に行なうことができる。また、
環状溝104の幅を0.2〜1mmとし、シール部10
5、106の幅を0.2mmとし、オリフラ部118を
設けてシール部105、106の形状を試料9の形状に
合わせているから、シール部106を試料9の外周端ま
で寄せることができるので、エッチングによって侵され
る試料9の裏面の面積を最小にすることができる。たと
えば、環状溝104の幅を0.8mmとしたときには、
試料9の径のばらつき(±0.5mm)やセッティング
誤差(±0.5mm)を考慮しても、シール部106の
外周から試料9の外周までの距離を1mm以下にするこ
とができる。また、陽圧空気の圧力をシール部106の
外側にかかる圧力と等しくしているから、陽圧空気の圧
力が小さいので、試料9に大きな力が作用することがな
いから、試料9に大きな曲げ応力が発生することがない
ので、試料9が薄いときにも割れが発生することはな
く、また試料9の変形が無視できるほど小さく、かつ空
気がシール部106の外周部から漏れ出さないから、エ
ッチングに悪影響を及ぼすこともない。また、真空吸着
装置により試料9を取り付けることができるから、エッ
チング作業を容易に行なうことができる。
装置の真空吸着装置においては、真空吸着部103に微
小突起103aを設けたが、図22(a)に示すように、
真空吸着部103の平面部に直接真空排気孔102を設
けてもよく、また図22(b)に示すように、真空吸着部
103に環状突起103bを設けてもよく、また図22
(c)に示すように、真空吸着部103に環状溝103c
を設けてもよい。さらに、真空吸着部を多孔質部材で構
成してもよく、この場合には真空吸着部を容易に製造す
ることができる。また、図20、図21に示したエッチ
ング装置の真空吸着装置においては、真空吸着部103
の微小突起103aの断面形状を一辺の長さが0.2m
mの正方形としたが、真空吸着部103の微小突起の断
面形状を円形等としてもよい。また、装置本体108の
材料はエッチング液により侵されないもの、たとえばセ
ラミックス、テフロン、塩化ビニール、ステンレス等を
用いることができ、エッチング液113の種類により使
い分ける。また、エッチング槽111にエッチング液1
13を撹拌する撹拌装置、エッチング液113を一定温
度に保持する保温装置、高温下でエッチングを行なうた
めにエッチング液113を加熱する加熱装置等を設けて
もよい。また、エッチング工程を順序よく行なうため
に、真空、陽圧空気、エッチング液用の電磁弁をオン、
オフするシーケンス装置等を設けてもよい。また、試料
9を真空吸着部103に自動的に装填するオートローダ
を設けてもよい。
を示す断面図である。図に示すように、装置本体108
の中央部に円状の穴部114が設けられ、真空吸着部1
03の外側、内側に幅が0.2mmの第1のシール部1
05a、105bが設けられ、シール部105aの外側
に幅が0.2〜1mmの環状溝104aが配設され、シ
ール部105bの内側に幅が0.2〜1mmの環状溝1
04bが配設され、環状溝104aの外側に幅が0.2
mmの第2のシール部106aが配設され、環状溝10
4bの内側に幅が0.2mmの第2のシール部106b
が配設され、環状溝104a、104bに供給孔101
が接続されている。
グ槽111の全体にエッチング液113を満たせば、試
料9の表面と裏面とを同時にエッチングすることができ
る。また、図24に示すように、エッチング槽111の
図24紙面左下部にのみエッチング113を満たせば、
試料9の裏面のみをエッチングすることができる。
する場合には、真空吸着装置に第1、第2のシール部1
05a、106a、環状溝104aを設ける必要はな
い。
図である。図に示すように、真空吸着装置が完全に密閉
した容器121内に収納されており、容器121に排出
管122が接続され、容器121にノズル123が取り
付けられ、ノズル123に洗浄液供給装置(図示せず)
が接続されている。
ら洗浄液124を放射状に噴出することにより、試料9
の洗浄を行なうことができる。また、試料9を洗浄した
洗浄液は排出管122から排出される。
を設ければ、試料9の全面を一様に洗浄することができ
る。
ング装置、洗浄装置について説明したが、他の加工装置
に本発明を適用することができる。
圧を付与する陽圧付与手段を接続し、第2の環状溝に洗
浄液を供給する洗浄液供給手段を接続したときには、陽
圧付与手段から第1の環状溝に陽圧空気を供給すると、
陽圧空気は試料と第2、第3のシール部との間のすきま
を通って試料の外周部に放出されるから、加工液が真空
吸着部と試料の裏面との間に流入することがなく、また
第1の環状溝に陽圧空気を供給するとともに、洗浄液供
給手段から第2の環状溝に洗浄液を供給すると、試料の
外周部が洗浄されるから、試料の外周部を容易に洗浄す
ることができる。
液供給手段と真空吸着部、第1、第2の環状溝との間に
切換弁を設け、切換弁を制御するシーケンスコントロー
ラを設けたときには、自動的に試料を吸着し、加工液が
真空吸着部と試料の裏面との間に流入するのを防止し、
試料の外周部を洗浄することができるから、試料の加工
作業を容易に行なうことができる。
有する真空吸着部を設け、真空吸着部に真空排気手段を
接続し、真空吸着部の外側に微小突起と同程度の幅の第
1のシール部を配設し、第1のシール部の外側に幅が
0.2〜1mmの環状溝を配設し、環状溝の外側に微小
突起と同程度の幅の第2のシール部を配設し、第2のシ
ール部の外側に微小突起と同程度の幅の環状突起または
微小突起と同程度の大きさの多数の微小突起からなる試
料支持部を配設し、環状溝に陽圧を付与する陽圧付与手
段を接続したときには、製造時に第1、第2のシール部
に作用する加工圧と真空吸着部の微小突起の先端に作用
する加工圧とが同じになるから、第1、第2のシール部
の加工量と真空吸着部の加工量とが同じになるので、第
1、第2のシール部が真空吸着部より高くなることがな
いため、試料の反り、曲がりなどを適正に矯正すること
ができる。
込みを設けたときには、目視や触覚により試料を真空吸
着部上にセットすることが容易になる。
第1、第2のシール部の上面に着色し、または試料支持
部の上面に着色したときには、目視や触覚により試料を
真空吸着部上にセットすることが容易になる。
の外側にかかる圧力と等しい圧力の陽圧を付与するもの
を用い、真空吸着部、環状溝に洗浄液を供給する洗浄液
供給手段を接続したときには、試料の外周部から第2の
シール部に浸入しようとする加工液を阻止することがで
きるとともに、試料の変形が無視できるほど小さくな
り、かつ空気が試料の外周部に漏れ出すことがないか
ら、研磨やエッチングに悪影響を及ぼすことがなので、
加工能率を低下させることがない。
液供給手段と真空吸着部、環状溝との間に切換弁を設
け、切換弁を制御するシーケンスコントローラを設けた
ときには、自動的に試料を吸着し、加工液が真空吸着部
と試料の裏面との間に流入するのを防止し、試料の外周
部を洗浄することができるから、試料の加工作業を容易
に行なうことができる。
陽圧を付与する陽圧付与手段を接続し、第2の環状溝に
洗浄液を供給する洗浄液供給手段を接続した真空吸着装
置を設けたときには、水封式の真空排気手段もしくは加
工液と排気空気とを分離する装置を用意する必要がな
く、また真空吸着部を洗浄するブラシング洗浄装置等を
付加する必要がないから、加工装置の製造コストが安価
となる。
に試料を吸着する真空吸着部を設け、真空吸着部に真空
排気手段を接続し、真空吸着部の外側に第1のシール部
を配設し、第1のシール部の外側に環状溝を配設し、環
状溝の外側に第2のシール部を配設し、環状溝に陽圧を
付与する陽圧付与手段を接続した真空吸着装置を設けた
ときには、Oリングを使用しないから、Oリングから試
料に大きな力が作用することがないので、試料が薄いと
きにも割れが発生することがなく、また真空吸着装置か
ら試料を取り外したときにゴム跡が残ることがない。
るものを用いたときには、真空吸着部を容易に製造する
ことができる。
納し、エッチング槽内にエッチング液を満たし、エッチ
ング槽に送入出配管を設けたときには、真空吸着装置に
より試料を取り付けることができるから、エッチング作
業を容易に行なうことができる。
る。
である。
置を示す概略図である。
である。
である。
である。
ある。
である。
面図である。
面図である。
面図である。
装置を示す概略図である。
面図である。
面図である。
面図である。
図である。
面図である。
図である。
ある。
真空吸着装置を示す概略平面図である。
面図である。
装置の真空吸着部を示す図である。
図である。
示す図である。
る。
ある。
Claims (11)
- 【請求項1】装置本体の上部に試料を吸着する真空吸着
部を設け、上記真空吸着部に真空排気手段を接続し、上
記真空吸着部の外側に第1のシール部を配設し、上記第
1のシール部の外側に第1の環状溝を配設し、上記第1
の環状溝の外側に第2のシール部を配設し、上記第2の
シール部の外側に第2の環状溝を配設し、上記第2の環
状溝の外側に第3のシール部を配設し、上記第1の環状
溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を接続し、上記第2の
環状溝に洗浄液を供給する洗浄液供給手段を接続したこ
とを特徴とする真空吸着装置。 - 【請求項2】上記真空排気手段、上記陽圧付与手段、上
記洗浄液供給手段と上記真空吸着部、上記第1、第2の
環状溝との間に切換弁を設け、上記切換弁を制御するシ
ーケンスコントローラを設けたことを特徴とする請求項
1に記載の真空吸着装置。 - 【請求項3】装置本体の上部に多数の微小突起を有する
真空吸着部を設け、上記真空吸着部に真空排気手段を接
続し、上記真空吸着部の外側に上記微小突起と同程度の
幅の第1のシール部を配設し、上記第1のシール部の外
側に幅が0.2〜1mmの環状溝を配設し、上記環状溝
の外側に上記微小突起と同程度の幅の第2のシール部を
配設し、上記第2のシール部の外側に上記微小突起と同
程度の幅の環状突起または上記微小突起と同程度の大き
さの多数の微小突起からなる試料支持部を配設し、上記
環状溝に陽圧を付与する陽圧付与手段を接続したことを
特徴とする真空吸着装置。 - 【請求項4】上記試料支持部の外側に段差または彫り込
みを設けたことを特徴とする請求項3に記載の真空吸着
装置。 - 【請求項5】上記真空吸着部の上記微小突起の上面およ
び上記第1、第2のシール部の上面に着色し、または上
記試料支持部の上面に着色したことを特徴とする請求項
3に記載の真空吸着装置。 - 【請求項6】上記陽圧付与手段として上記第2のシール
部の外側にかかる圧力と等しい圧力の陽圧を付与するも
のを用い、上記真空吸着部、上記環状溝に洗浄液を供給
する洗浄液供給手段を接続したことを特徴とする請求項
3、4または5に記載の真空吸着装置。 - 【請求項7】上記真空排気手段、上記陽圧付与手段、上
記洗浄液供給手段と上記真空吸着部、上記環状溝との間
に切換弁を設け、上記切換弁を制御するシーケンスコン
トローラを設けたことを特徴とする請求項6に記載の真
空吸着装置。 - 【請求項8】請求項1に記載の真空吸着装置を有するこ
とを特徴とする加工装置。 - 【請求項9】装置本体の上部に試料を吸着する真空吸着
部を設け、上記真空吸着部に真空排気手段を接続し、上
記真空吸着部の外側に第1のシール部を配設し、上記第
1のシール部の外側に環状溝を配設し、上記環状溝の外
側に第2のシール部を配設し、上記環状溝に陽圧を付与
する陽圧付与手段を接続した真空吸着装置を有すること
を特徴とする加工装置。 - 【請求項10】上記真空吸着部として多孔質部材からな
るものを用いたことを特徴とする請求項8または9に記
載の加工装置。 - 【請求項11】上記真空吸着装置をエッチング槽内に収
納し、上記エッチング槽内にエッチング液を満たし、上
記エッチング槽に送入出配管を設けたことを特徴とする
請求項8、9または10に記載の加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10079196A JP3287761B2 (ja) | 1995-06-19 | 1996-04-23 | 真空吸着装置および加工装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7-151373 | 1995-06-19 | ||
| JP15137395 | 1995-06-19 | ||
| JP10079196A JP3287761B2 (ja) | 1995-06-19 | 1996-04-23 | 真空吸着装置および加工装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0966429A true JPH0966429A (ja) | 1997-03-11 |
| JP3287761B2 JP3287761B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=26441750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10079196A Expired - Lifetime JP3287761B2 (ja) | 1995-06-19 | 1996-04-23 | 真空吸着装置および加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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