JPH097171A - Curved body memory and method of manufacturing the same - Google Patents

Curved body memory and method of manufacturing the same

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JPH097171A
JPH097171A JP14997895A JP14997895A JPH097171A JP H097171 A JPH097171 A JP H097171A JP 14997895 A JP14997895 A JP 14997895A JP 14997895 A JP14997895 A JP 14997895A JP H097171 A JPH097171 A JP H097171A
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Japan
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curved surface
film
memory device
wave
magnetic
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JP14997895A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuyoshi Chiba
克義 千葉
Masaaki Futamoto
正昭 二本
Yoshihiro Shiroishi
芳博 城石
Yuzuru Hosoe
譲 細江
Akira Ishikawa
石川  晃
Minoru Chokai
実 鳥海
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】2〜32Gb/in2および32Gb/in2以上の
高密度記録が可能な薄膜磁気記録媒体、すなわち、Sphe
re−Spin Memory(SSM)およびSSM装置およびSS
Mシステムさらに新メモリ半導体,IC,LSI等の製
膜,製造,処理および装置。特に曲面メモリを提供す
る。 【構成】高密度・高信頼化のメモリを得るための製膜,
製造装置において、立体曲面を有する、のぞましくは、
球体上にSphere−Spin Memory(SSM)を得る。得られたも
のをSSM装置およびSSMシステムとして電子計算機
用に使用可能とするシステム。また、その他の転用メモ
リおよび処理。
(57) [Abstract] [Purpose] A thin film magnetic recording medium capable of high density recording of 2 to 32 Gb / in 2 and 32 Gb / in 2 or more, that is, Sphe
re-Spin Memory (SSM) and SSM device and SS
M system Further film formation, manufacturing, processing and equipment of new memory semiconductor, IC, LSI, etc. In particular, it provides a curved surface memory. [Structure] Film formation for obtaining high density and high reliability memory,
In the manufacturing equipment, it is desirable to have a three-dimensional curved surface,
Obtain Sphere-Spin Memory (SSM) on the sphere. A system that enables the obtained product as an SSM device and an SSM system for a computer. Also other diversion memory and processing.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は情報記憶装置およびそれ
らの製造方法および製造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information storage device and a manufacturing method and manufacturing device thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在商業化されている磁気記録媒体は有
機バインダを使用した塗布型、すなわち、不連続媒体を
有するものが主である。この不連続媒体に用いられる磁
性粉は酸化物を使用し、この磁性体粒子を有機バインダ
で充填しているため不連続媒体として構成されている。
当然、磁化の値が小さくなり、出力を得ようとすると膜
厚が厚くなり高密度化には適さない。
2. Description of the Related Art Magnetic recording media currently commercialized are mainly coating types using an organic binder, that is, those having a discontinuous medium. An oxide is used as the magnetic powder used in this discontinuous medium, and the magnetic particles are filled with an organic binder, so that the discontinuous medium is formed.
Naturally, the value of magnetization becomes small, and the film thickness becomes thicker when trying to obtain an output, which is not suitable for high density.

【0003】近年、磁気記録媒体の高密度化が著しく発
展し、連続薄膜媒体からなる保磁力の大きい媒体が必要
になった。この高密度磁気記録可能な連続薄膜媒体の成
膜法は化学的方法(CVD:Chemical Vapour Depositi
on),プラズマ重合,物理的方法(PVD:Phsical Va
pour Deposition )等で行われているのが現状である。
すなわち、真空蒸着,スパッタリング,イオンプレーテ
ィング,イオンビーム蒸着,イオンアシステッドデポジ
ション等の手法で金属性薄膜、もしくは酸化物,窒化物
磁性薄膜が形成される。特に、磁性層が磁性合金の場
合、すぐれた特性を有し、成膜装置は高周波スパッタ
法,RF,DCマグネトロン・スパッタ法,バイアスス
パッタリング法又はRFスパッタ法などが利用される。
このような方法で得られた高密度磁気ディスクは、高密
度記録のディスク・ファイルに使用することのできる簡
単な構造のヘッド・サスペンション装置(特公平6−9086
0号公報)として磁気ディスク記憶装置に使用されてい
る。
In recent years, the density of magnetic recording media has been remarkably improved, and a medium having a large coercive force, which is a continuous thin film medium, has been required. This continuous thin-film medium capable of high-density magnetic recording is formed by a chemical method (CVD: Chemical Vapor Depositi).
on), plasma polymerization, physical method (PVD: Phsical Va
The current situation is that pour deposition) is performed.
That is, a metallic thin film, or an oxide or nitride magnetic thin film is formed by a method such as vacuum deposition, sputtering, ion plating, ion beam deposition, or ion assisted deposition. In particular, when the magnetic layer is made of a magnetic alloy, it has excellent characteristics, and a high frequency sputtering method, RF, DC magnetron sputtering method, bias sputtering method, RF sputtering method or the like is used as the film forming apparatus.
The high-density magnetic disk obtained by such a method is a head suspension device with a simple structure that can be used for a high-density recording disk file (Japanese Patent Publication No. 6-9086).
No. 0) is used in a magnetic disk storage device.

【0004】このような高密度用磁気ディスクの磁性層
として、例えば特開昭59−88806 号公報ではCoPtCr(C
r;1〜17%)の一層膜が、また、米国特許4789598
号ではCoPtCr(Cr;13〜20%)の一層膜が、特開
平2−281414 号公報ではCoPtCr(Cr;17%)とCr
の多層膜が記載されている。
As a magnetic layer of such a high density magnetic disk, for example, CoPtCr (C
r; 1 to 17%) also has a single layer film, and also US Pat. No. 4,789,598.
In Japanese Patent Laid-Open No. 2-281414, CoPtCr (Cr; 17%) and Cr are used as a single layer film of CoPtCr (Cr; 13-20%).
Is described.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来技術では高線記録
密度,高トラック密度に適した磁気記録媒体の特性につ
いては十分考慮されていない。すなわち、従来技術では
IEEEトランザクションズ オン,マグネティクスM
AG−22巻,579頁−518頁(1986)(IEE
E.Trans.on Magn.MAG−22,579−581(1986))や米国特
許4735840号に記載のように成膜条件によっては円周方
向の磁気特性,記録再生特性が不均一になるという問題
があった。
In the prior art, the characteristics of the magnetic recording medium suitable for high linear recording density and high track density have not been sufficiently taken into consideration. That is, in the prior art, IEEE Transactions On, Magnetics M
AG-22, 579-518 (1986) (IEE
As described in E.Trans.on Magn.MAG-22,579-581 (1986)) and US Pat. No. 4,735,840, the magnetic characteristics in the circumferential direction and the recording / reproducing characteristics become non-uniform depending on the film forming conditions. was there.

【0006】この不均一性を軽減するために従来はディ
スク基板の円周方向に沿って中心線平均面粗さで5nm
程度の凹凸(テクスチャ)を設けていた。ところが11
0KBPI以上に高線記録密度で記録再生を行うには、
ヘッド媒体との距離(スペーシング)を0.1μm 程度
以下につめることが必要とされ、このためには基板を極
力平滑にする必要がある。しかしテクスチャ処理を施す
と基板平面が粗れてしまうので、ヘッド媒体間のスペー
シングを安定して0.1μm 程度以下に狭くすることが
できない。
In order to reduce this non-uniformity, conventionally, the center line average surface roughness is 5 nm along the circumferential direction of the disk substrate.
It had unevenness (texture). But 11
To record / reproduce at a high linear recording density of 0 KBPI or more,
It is necessary to keep the distance (spacing) from the head medium to about 0.1 μm or less. For this purpose, it is necessary to make the substrate as smooth as possible. However, if the texture process is performed, the plane of the substrate becomes rough, so that the spacing between the head media cannot be stably narrowed down to about 0.1 μm or less.

【0007】すなわち、テクスチャ処理を施した基板で
はサーボ信号の品質が悪く、正確な位置決めができなく
なり5KTPI以上の高トラック密度化が困難であっ
た。このためテクスチャを小さくする、もしくはテクス
チャをなくせば、これらの問題を回避できるが、前述の
ように円周方向が不均一性が一般に極めて大きくなり、
高い周方向の配向性,S/Nを有し、高密度化に適した
磁気ディスクを安定して供給することが困難であるとい
う問題があった。
That is, on a textured substrate, the quality of the servo signal is poor and accurate positioning cannot be achieved, making it difficult to achieve a high track density of 5 KTPI or more. Therefore, if you reduce the texture or eliminate the texture, you can avoid these problems, but as mentioned above, the non-uniformity in the circumferential direction is generally extremely large.
There is a problem that it is difficult to stably supply a magnetic disk having a high orientation in the circumferential direction and S / N and suitable for high density.

【0008】これは、従来の薄膜媒体製造法によるテク
スチャを施さない平滑な基板上では、磁気ディスクの周
方向の異方性を具備させることが困難であることによ
る。なお、現行の高密度化技術は日経エレクトロニクス
1991,9,30(No.537)日本応用磁気学会誌,V
ol.17,No.5,1993の「面内薄膜磁気ディスクに
おける高密度化」および微小光学研究会(ハード磁気デ
ィスクの進展と将来),第52回,1994,7として
詳細に記述されている。
This is because it is difficult to provide anisotropy in the circumferential direction of the magnetic disk on a smooth substrate which is not textured by the conventional thin film medium manufacturing method. The current densification technology is Nikkei Electronics 1991, 9, 30 (No. 537), The Japan Society for Applied Magnetics, V
ol. 17, No. 5, 1993, "High Density in In-Plane Thin-Film Magnetic Disk" and Micro Optical Research Group (Development and Future of Hard Magnetic Disk), 52nd, 1994, 7 .

【0009】そこで、他の高密度化技術として特公平5
−61685号公報に、テクスチャを用いることなく表面粗
さを制御する方法が記載されている。この方法は基板上
に一時的に液体金属膜の下層を付着させるものである。
すなわち、一時的な液体金属の球状核(マクロ的)を形
成して、その上に磁性層の成膜を得るものである。
Therefore, as another technique for increasing the density, Japanese Patent Publication No.
-61685 describes a method of controlling surface roughness without using texture. This method temporarily deposits an underlayer of a liquid metal film on a substrate.
That is, a temporary spherical nucleus (macroscopic) of liquid metal is formed, and a magnetic layer is formed thereon.

【0010】また、固有のテクスチャを有しかつ固体潤
滑バリウムフェライト(BaM)を有する耐腐食性,耐
摩耗性にすぐれた特性からヘッドおよび媒体の表面潤滑
および保護膜等を不必要とする媒体(特開平7−44853号
公報)も現われた。
Further, a medium having a unique texture and having solid lubricating barium ferrite (BaM), which has excellent corrosion resistance and abrasion resistance, does not require surface lubrication of the head and the medium and a protective film, etc. JP-A-7-44853) has also appeared.

【0011】本発明の目的は、構成微粒子が均一であ
り、且つその構成微粒子の配向性も良好な薄膜が安定し
て得られる成膜方法および装置、さらには、ナノメート
ル(nm)技術における磁気ヘッドと磁気メモリ間の吸着防
止等さらには近接および接触可能で駆動するのに有効な
記録媒体製造技術、特に、球体メモリおよび球体スピン
メモリ(Sphere−spin Memory;以下SSMと略記する)
およびヘッドを具備したSSM装置、さらに有効な複重
SSM装置及び記憶システムを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a film forming method and apparatus capable of stably obtaining a thin film in which the constituent fine particles are uniform and the orientation of the constituent fine particles is stable, and further, the magnetic property in nanometer (nm) technology. A recording medium manufacturing technology effective for driving the head and the magnetic memory, such as prevention of adsorption between the head and the magnetic memory, and particularly a spherical memory and a sphere-spin memory (hereinafter abbreviated as SSM).
Another object of the present invention is to provide an SSM device having a head and a more effective double-duplex SSM device and storage system.

【0012】本発明の他の目的は、200KBPI,10KTPIか
ら800KBPI,40KTPIすなわち、2Gb/in2から32Gb
/in2あるいはそれ以上の高密度記録に好適な極めて平
滑な面(中心線平均面粗さが2nm以下)を持つ基材上
に、磁気異方性が均一で且つ低ノイズの磁性薄膜が安定
して得られる薄膜磁気記録媒体の製造方法および装置お
よび、本システムをその他の目的に転用できる新メモノ
等を提供することにある。すなわち磁性メモリ,光パタ
ーンメモリ,半導体メモリ等の平板メモリ(πr2メモ
リ)から球体メモリ(4πr2 メモリ)つまりπr2
ら4πr2へ転用可能で、従来の4倍の記憶容量を有す
るものである。特に、高密度化と共に小型化すなわち1
インチ以下になるにつれて球体メモリは4倍の表面積を
有することからメモリおよび高信頼化として有効であ
る。
Another object of the present invention is 200 KBPI, 10 KTPI to 800 KBPI, 40 KTPI, that is, 2 Gb / in 2 to 32 Gb.
A magnetic thin film with uniform magnetic anisotropy and low noise is stable on a substrate with an extremely smooth surface (center line average surface roughness of 2 nm or less) suitable for high density recording of / in 2 or more. It is an object of the present invention to provide a method and an apparatus for manufacturing a thin film magnetic recording medium obtained as described above, and a new memory device that can use the system for other purposes. That is, it can be diverted from a flat plate memory (πr 2 memory) such as a magnetic memory, an optical pattern memory, or a semiconductor memory to a spherical memory (4πr 2 memory), that is, from πr 2 to 4πr 2 , and has a storage capacity four times that of the conventional one. . Especially, high density and small size, that is, 1
Since the spherical memory has a surface area four times as large as the inch or less, it is effective as a memory and high reliability.

【0013】さらに、高密度化のための狭トラック幅に
適応するように低電流で駆動する高出力信号を得るため
のバイアス磁界を発生させるために高保持力磁性材を利
用した磁気抵抗変換型MRヘッド(特開平7−44827号公
報)も現われた。
Further, a magnetoresistive conversion type utilizing a high coercive force magnetic material for generating a bias magnetic field for obtaining a high output signal driven by a low current so as to adapt to a narrow track width for higher density. An MR head (Japanese Patent Laid-Open No. 7-44827) has also appeared.

【0014】本発明の他の目的は、2Gbから32Gb
/in2 あるいはそれ以上の高密度記録が可能なヘッドと
薄膜磁気記録媒体との接触可能な立体曲面、のぞましく
は球体スピンメモリ(sphere−spin Memory )およびそ
れを用いた磁気記憶装置を提供することにある。
Another object of the present invention is 2 Gb to 32 Gb.
A solid curved surface capable of contacting a thin film magnetic recording medium with a head capable of high-density recording of 1 / in 2 or more, preferably a sphere-spin memory and a magnetic storage device using the same. To provide.

【0015】本発明の他の目的は、高密度磁気記録時に
おける媒体ノイズが低く、ピーク・ジッタ及び媒体の信
号対雑音比(SNR)が高く、ビット誤り率の少ない媒
体および本媒体を用いた磁気記録装置、ならびに、半導
体の成膜およびメモリ、製造および処理さらにはより有
効なエネルギの注入等によるメモリおよび球体・球上メ
モリすなわち立体曲面メモリを提供することにある。
Another object of the present invention is to use a medium and a medium having a low medium noise, a high peak jitter, a high signal-to-noise ratio (SNR) of the medium and a small bit error rate during high density magnetic recording. It is to provide a magnetic recording device, a semiconductor film formation and memory, a memory by manufacturing and processing, and more effective energy injection, and a spherical / spherical memory, that is, a solid curved surface memory.

【0016】本発明の成膜システムを、種々の他の目
的、例えば半導体装置やその製造技術,自動車部品等や
その製造技術に転用することも本発明の重要な目的の一
つである。
It is also one of the important objects of the present invention to divert the film forming system of the present invention to various other purposes, for example, semiconductor devices and their manufacturing techniques, automobile parts and the like and their manufacturing techniques.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の構成は図1,図
2,図5,図7,図9,図10,図11,図12,図1
3,図14,図15,図16に示すように、立体曲面を
有する特に、球体スピンメモリ(sphere−spin Memory
)システムおよび成膜装置のシステム、特に波動成膜
装置さらには波動CVD成膜装置のシステムを音波のぞ
ましくは音波と電磁波との重畳すなわち波動エネルギ制
御によるエネルギを印加することによりSSMまたは他
の外形を有する立体曲面メモリを得ることを特徴とす
る。
The structure of the present invention is shown in FIGS. 1, 2, 5, 5, 7, 9, 10, 11, 12, and 1.
3, as shown in FIGS. 14, 15, and 16, in particular, a sphere-spin memory having a three-dimensional curved surface.
) System and film forming apparatus system, in particular, wave film forming apparatus, and further wave CVD film forming apparatus system, by applying energy by superposition of sound waves, preferably superposition of sound waves and electromagnetic waves, that is, wave energy control. It is characterized by obtaining a three-dimensional curved surface memory having the outer shape of.

【0018】よりのぞましい方法は本発明(システム)
の処理すなわち波動エネルギ,波動CVDエネルギを表
面に与えてミクロ的な核(エネルギ)を形成させてから
成膜する。
A more desirable method is the present invention (system).
That is, the wave energy and wave CVD energy are applied to the surface to form micronuclei (energy), and then the film is formed.

【0019】上記目的を達成するため、本発明は磁気ヘ
ッドの安定低浮上が可能な、表面の中心線平均面粗さが
2nm以下と平滑な非磁性基体を用い、前記基体上に薄
膜形成するプラズマ状,蒸気状の粒子、すなわち、スパ
ッタ蒸発法,蒸着法もしくはイオンビームスパッタ法等
による粒子に、外部から有効なエネルギを与え得る音
波,超音波の粗密波、のぞましくは制御された縦波,横
波を発生せしめる設備を有する薄膜形成装置を用い、エ
ネルギ制御による音波,超音波モード,音波と超音波の
重畳モード,干渉波を利用して蒸発,スパッタ,プラズ
マ化された粒子を、イオン音波法(参照;核融合研究,
第67巻第6号,1992年6月,P530〜)により有
効に制御しかつ励起,高エネルギ化して、薄膜を形成す
ることによって達成される。
In order to achieve the above object, the present invention uses a smooth non-magnetic substrate having a surface centerline average surface roughness of 2 nm or less, which enables stable and low flying of a magnetic head, and forms a thin film on the substrate. Plasma-like or vapor-like particles, that is, acoustic waves capable of giving effective energy from the outside to the particles produced by the sputter evaporation method, vapor deposition method, or ion beam sputtering method, compression waves of ultrasonic waves, and are preferably controlled. Using a thin film forming device with equipment for generating longitudinal and transverse waves, energy controlled acoustic waves, ultrasonic modes, superposition modes of acoustic waves and ultrasonic waves, particles evaporated, sputtered, and converted into plasma using interference waves, Ion-acoustic method (see; fusion research,
Vol. 67, No. 6, June 1992, P530-), which is achieved by forming a thin film by effectively controlling and exciting and increasing the energy.

【0020】そこで、立体曲面上の成膜を取り扱う表
面,界面での有効な手段は本発明の波動システムで用い
る、特に、波動CVD,波動PVD,波動プラズマ及び
重合すなわち波動エネルギを電磁波に重畳印加し工学的
に利用することである。すなわち、表面での核の形成か
ら成膜さらには新メモリを得るには都合のよい手段であ
る。
Therefore, effective means at the surface and interface handling film formation on a three-dimensional curved surface are used in the wave system of the present invention. In particular, wave CVD, wave PVD, wave plasma and polymerization, ie, wave energy are superimposed and applied to electromagnetic waves. And engineering use. In other words, it is a convenient means for obtaining a new memory by forming a nucleus on the surface and forming a film.

【0021】ここで、プラズマ状態、すなわち、放電中
に起る光子(フォトン)や音量子(フォノン)さらには
電子,原子,分子,イオン等の量子的ゆらぎをより有効
化するために本発明の新規な現象、波動CVD,波動P
VD,波動プラズマに、特に球面波(音波素子の形状効
果)による波動エネルギを与えることによって種々の有
効な成膜およびメモリおよび処理を得ることができる。
Here, in order to make more effective the plasma state, that is, the quantum fluctuations of photons (photons) and sound quanta (phonons) that occur during discharge, as well as electrons, atoms, molecules, and ions. New phenomenon, wave CVD, wave P
Various effective film formation, memory and processing can be obtained by giving wave energy to VD and wave plasma, particularly by a spherical wave (shape effect of the sound wave element).

【0022】つまり、本発明の波動エネルギのぞましく
は波動CVDエネルギ,波動PVDエネルギ,波動プラ
ズマエネルギを印加した電磁相互作用によって、確率論
的に種々の成膜条件を決定する核の形成および成長およ
びエネルギのレベル化が制御でき、かつ、粒子の特定エ
ネルギを有効化した成膜および新メモリを得るものであ
る。
That is, the formation of nuclei that stochastically determines various film-forming conditions by the electromagnetic interaction applying the wave energy of the present invention, preferably the wave CVD energy, the wave PVD energy, and the wave plasma energy. It is possible to obtain a film formation and a new memory in which the growth and the energy level can be controlled, and the specific energy of particles is made effective.

【0023】[0023]

【作用】本発明は、真空容器(槽)内で、スパッタ蒸発
粒子などのプラズマ状の粒子を、直接種々の波動,振動
可変の音波,粗密波など超音波、のぞましくは縦波と横
波との干渉波,形状効果による球面波等のエネルギを与
えて励起せしめることで所望の特性の薄膜情報記録体を
形成するものである。音波の波動モードと電磁波さらに
はCVD用ガスとを制御することにより特に優れた特性
が得られる。これは、球体等の曲面体表面上での薄膜成
長においては、粒子のエネルギ状態および挙動が極めて
重要な役割を果たすからである。
In the present invention, plasma-like particles such as sputter-evaporated particles are directly converted into various waves, variable sound waves, ultrasonic waves such as compression and compression waves, and preferably longitudinal waves in a vacuum container (tank). The thin film information recording medium having desired characteristics is formed by applying energy such as an interference wave with a transverse wave and a spherical wave due to a shape effect to excite the wave. Particularly excellent characteristics can be obtained by controlling the wave mode of the sound wave, the electromagnetic wave, and the CVD gas. This is because the energy state and behavior of particles play an extremely important role in thin film growth on the surface of a curved body such as a sphere.

【0024】すなわち、音波の波動モードを有する音
波,超音波の波動の電磁波を重畳することによって、粒
子を励起し、相互作用を強めることで通常の製法では準
安定で存在しにくい原子,イオンの結合状態を実現し、
下地層ないし磁性層の配向性と共に、分散性,組成偏析
を制御し、偏析状態が制御され、磁性粒子の大きさも均
一化された、高出力かつ低ノイズ、さらに周方向の磁気
特性の変動が5%以下と均一な立体曲面を有する高密度
記録に適した媒体を提供できる。
That is, by superimposing a sound wave having a wave mode of a sound wave or an electromagnetic wave of a wave of an ultrasonic wave, particles are excited and interaction is strengthened, so that atoms and ions which are metastable and hardly exist in a usual manufacturing method. Realize the combined state,
It controls the dispersibility and composition segregation as well as the orientation of the underlayer or magnetic layer, the segregation state is controlled, the size of the magnetic particles is made uniform, high output and low noise, and fluctuations in the magnetic properties in the circumferential direction. It is possible to provide a medium having a solid curved surface of 5% or less and suitable for high-density recording.

【0025】特に媒体表面の中心線平均面粗さRaが
2.5nm 以下の基体に対して本発明を適用することに
より、ヘッドの走行方向(球体の場合は曲面の周方向)
の磁気特性の変動を5%と均一にできるので特に好まし
い。本発明の実施により得られる記録媒体を用いること
で、磁気ヘッドの浮上量も0.05μm 以下にでき、磁
気抵抗効果型ヘッドと組み合わせることで立体曲面に2
Gbから32Gb/in2またはそれ以上の高密度装置が
提供できる。
In particular, by applying the present invention to a substrate whose center line average surface roughness Ra of the medium surface is 2.5 nm or less, the running direction of the head (in the case of a sphere, the circumferential direction of the curved surface).
It is particularly preferable because the fluctuation of the magnetic properties of can be made uniform at 5%. By using the recording medium obtained by implementing the present invention, the flying height of the magnetic head can be reduced to 0.05 μm or less.
High density devices from Gb to 32 Gb / in 2 or higher can be provided.

【0026】基体の面粗さが0.1nm 以上,2nm以
下のときに本効果は顕著である。また、さらに磁性層上
に、その中心線平均面粗さが基体の値よりも大きくなる
ように保護層をエネルギ処理することにより、コンタク
トスタートアンドストップ(CSS)時の粘着,接線力
の増大等をより効果的に防止できるので特に好ましい。
This effect is remarkable when the surface roughness of the substrate is 0.1 nm or more and 2 nm or less. Further, by further energy-treating the protective layer on the magnetic layer so that its center line average surface roughness becomes larger than that of the substrate, adhesion at contact start and stop (CSS), increase in tangential force, etc. Is more preferable because it can be effectively prevented.

【0027】さらに、成膜時に−400V程度のバイア
スを印加し、10W/cm2 以上で成膜する高配向プロセ
スと音波に(2から7Wの電磁波)を重畳する波動エネ
ルギを同時に行うことにより、SSM上に製膜する磁性
膜の保磁力,角形比等の電磁気特性や均一性をさらに向
上させることもできる。
Further, a bias of about -400 V is applied at the time of film formation, and a high orientation process for forming a film at 10 W / cm 2 or more and a wave energy for superimposing (an electromagnetic wave of 2 to 7 W) on a sound wave are simultaneously performed. Electromagnetic characteristics such as coercive force and squareness ratio of the magnetic film formed on the SSM and uniformity can be further improved.

【0028】さらに本発明において、プラズマ状、すな
わち、スパッタ蒸発された粒子に音波,超音波に波動エ
ネルギを印加する際にさらに磁場を印加し、種々の磁気
異方性を得ることもできる。また非磁性基体は、NiP
等をメッキしたAl合金基体,Ti基体,ガラス,シリ
コン,SiC,C結晶化ガラス又はセラミック基体、特
にSi34のように少なくとも表面が高強度で、飛来す
る粒子の捕獲性が高く、配向,偏析制御用の波動エネル
ギを有効に吸収する材質からなるものが好ましい。
Further, in the present invention, various magnetic anisotropies can be obtained by further applying a magnetic field when applying the wave energy to the sound waves or ultrasonic waves to the plasma-like particles, that is, sputter-evaporated particles. The non-magnetic substrate is NiP
Al alloy substrate, Ti substrate, glass, silicon, SiC, C crystallized glass or ceramic substrate plated with, for example, Si 3 N 4 , and at least the surface has high strength, high capturing property for flying particles, and orientation. It is preferable to use a material that effectively absorbs the wave energy for controlling segregation.

【0029】本方法によれば配向性,異方性,組織が制
御できるので磁気ヘッド用材料、例えばMR再生素子用
パーマロイ薄膜や記録用のアモルファス磁性体などにも
適用することができる。なお本装置は半導体製造装置,
自動車等の各種部品製造装置として使用可能である。
Since the orientation, anisotropy, and texture can be controlled by this method, the method can be applied to magnetic head materials such as permalloy thin films for MR reproducing elements and amorphous magnetic materials for recording. This equipment is a semiconductor manufacturing equipment,
It can be used as a device for manufacturing various parts such as automobiles.

【0030】セラミック,Si34,結晶化ガラス,強
化ガラス,カーボン,Si,ヒスイ,SiO2 ,サファ
イヤ,SiC,Ti,タングステン,タングステン・モ
リブデン,ダイヤモンドなどいずれも立体曲面からなる
基体や、アルミニウム合金にNiPをメッキした基体に
少なくともNb,Cr,Mo,W(異方性),CrTi等の
下地層を一層介して、もしくは、直接、CoCrPt,CoCrT
a,CoNiCr,CoNiPt等の磁性層を少なくとも一層形成す
る際に、物理蒸発された種々の粒子に音波,超音波に、
さらに電磁波を重畳した波動エネルギを空間内から印加
することにより、結晶粒がより微細化すると共に分散性
が高まり、結晶粒径偏析状態がさらに均一化するため低
ノイズ化に適した膜構造となる。
Ceramics, Si 3 N 4 , crystallized glass, tempered glass, carbon, Si, jade, SiO 2 , sapphire, SiC, Ti, tungsten, tungsten molybdenum, diamond, etc., all of which have a solid curved surface, and aluminum. A base material obtained by plating an alloy with NiP has at least one underlayer of Nb, Cr, Mo, W (anisotropic), CrTi or the like, or directly, or CoCrPt, CoCrT
When at least one magnetic layer of a, CoNiCr, CoNiPt, etc. is formed, various physically evaporated particles are subjected to sound waves and ultrasonic waves,
Furthermore, by applying wave energy superposed with electromagnetic waves from the space, the crystal grains become finer and the dispersibility increases, and the grain size segregation state becomes more uniform, resulting in a film structure suitable for noise reduction. .

【0031】磁性層を膜厚0.5 以上,10nm以下の
Cr,Mo,W,CrTi,CrSi,Nb,C,B,T
a,V等の非磁性層で少なくとも二層に分離すると著し
くノイズが低減できるので特に好ましい。さらに、通常
の蒸着法,スパッタリング法によって薄膜を形成した場
合に、基体の面粗さの分布,基体温度の分布や斜め入射
成分の粒子の成長等により、特に、基体の中心線平均面
粗さRaが2nm以下と小さい場合には球体の曲面周方
向の磁気特性は大きく変動してしまうが、本方法により
音波,超音波の波動エネルギと印加する電磁波的な波動
エネルギの重畳とも有効化することで外乱による分布の
乱れを抑制でき、さらに通常の成膜法によるエネルギ状
態では存在しない物理蒸発粒子群,波動プラズマ重合法
等の結合状態も存在するようになり、配向性が容易に制
御でき、特性の均一化を図ることが可能となる。
The magnetic layer is made of Cr, Mo, W, CrTi, CrSi, Nb, C, B, T having a thickness of 0.5 or more and 10 nm or less.
Separation into at least two layers with a non-magnetic layer such as a and V is particularly preferable because noise can be significantly reduced. Furthermore, when a thin film is formed by a normal vapor deposition method or a sputtering method, the center line average surface roughness of the substrate is particularly affected by the distribution of the surface roughness of the substrate, the distribution of the substrate temperature, and the growth of particles of the oblique incident component. If Ra is as small as 2 nm or less, the magnetic characteristics of the spherical body in the circumferential direction of the curved surface will fluctuate significantly, but this method should also enable the superposition of wave energy of sound waves and ultrasonic waves and applied wave energy of electromagnetic waves. It is possible to suppress the disturbance of the distribution due to disturbance, and the physical vaporization particle group that does not exist in the energy state by the ordinary film forming method, the bonded state of the wave plasma polymerization method, etc. will also exist, and the orientation can be easily controlled, It is possible to make the characteristics uniform.

【0032】Raが0.1nm よりも小さい場合には条
件の設定,処理がさらに重要である。なお波動の状態
は、縦波,横波および干渉波モードの三つに大きく分け
ることができる。これらのモードは周知であるので特に
説明は省略する(参照;超音波スペクトロスコピ,和田
・生嶋共編)。特に本発明に有効な干渉波モードは、音
波,超音波の縦波,横波など異なる波動の干渉から得ら
れるものである。
When Ra is smaller than 0.1 nm, it is more important to set and process the conditions. The wave state can be broadly divided into three modes: longitudinal wave, transverse wave, and interference wave mode. Since these modes are well known, a detailed description is omitted (see: Ultrasound Spectroscopy, edited by Wada and Ikushima). The interference wave mode particularly effective for the present invention is obtained from interference of different waves such as sound waves, longitudinal waves of ultrasonic waves, and transverse waves.

【0033】さらに音波,超音波はどのようなモードで
波動させ、かつ、その波動CVD,波動PVD,波動プ
ラズマに電磁波を重畳させてもよい。また、薄膜形成時
における重畳効果は物理蒸発時に、電磁波および印加さ
れる音波,超音波の周波数,位相及び振幅が等しく、か
つ周波数が基体の振動(厳密には磁性膜を含めたもの)の
整数倍に一致する場合に顕著であるが異なっていてもよ
い。例えば、直径1.0インチのSi34の基体(球体)
とするときは、約38kHzまたはその整数倍の周波数
で空間内に波動させればよい。同様に、例えば1/3イ
ンチ、球体の場合には約76kHzが望ましい。また、
成膜中に球体を回転させるとより効果がある。
Further, sound waves and ultrasonic waves may be waved in any mode, and electromagnetic waves may be superposed on the wave CVD, wave PVD and wave plasma. Also, the superposition effect during thin film formation is that the frequency, phase and amplitude of electromagnetic waves and applied sound waves and ultrasonic waves are equal during physical vaporization, and the frequency is an integer of the vibration of the substrate (strictly including the magnetic film). It is remarkable when they match twice, but may be different. For example, a 1.0 inch diameter Si 3 N 4 substrate (sphere)
In this case, the wave may be waved in space at a frequency of about 38 kHz or an integral multiple thereof. Similarly, for example, 1/3 inch, and in the case of a sphere, about 76 kHz is desirable. Also,
It is more effective to rotate the sphere during film formation.

【0034】[0034]

【実施例】図1は、本発明の立体曲面を有するSSM装置
の断面図であり、このSSMにヘッド200を具備し、
かつ制御駆動420することを特徴とするSSMシステ
ム1500である。
FIG. 1 is a sectional view of an SSM apparatus having a three-dimensional curved surface according to the present invention, which is equipped with a head 200.
In addition, the SSM system 1500 is characterized by being controlled and driven 420.

【0035】なお、予め球体上の位置を示すためのアド
レス情報やトラッキング信号等のプリフォーマット領域
及びデータ記録領域とは周知であるフォーマットを球体
上に変形転用したものである。
The preformat area and the data recording area for address information, tracking signals, and the like for indicating the position on the sphere are obtained by transforming a well-known format onto the sphere.

【0036】図2は、図1に示すSSM装置をより安定
化と高信頼化とを有した上下駆動するSSM装置とした
ものの概略断面図である。また、同時にヘッドの構成を
対にしたもので、よりヘッドとメモリ体との接触を安定
に動作するようにした高密度・高信頼化に適したもので
ある。
FIG. 2 is a schematic sectional view of the SSM device shown in FIG. 1 which is an SSM device which is vertically driven with more stability and higher reliability. At the same time, the configuration of the head is paired, and the head is more suitable for high density and high reliability in which the contact between the head and the memory body operates more stably.

【0037】なお、このSSMシステムにおいて、メモ
リ体におけるヘッドの単一,複数および対の浮動も接触
駆動も可能である。さらに球体300と誘導回転駆動体
600は連結軸700によって共に固定され、かつ軸受8
00を介して回転する。また、この回転駆動は電磁誘導
体600′の制御回路部400によって駆動される。同
様に、ヘッド部の制御420,421もこの制御回路部
400,401から同期をとりながら調整される。
In this SSM system, the heads in the memory body can be floated in single, plural and pairs, and can be contact-driven. Furthermore, sphere 300 and induction rotation drive
600 are fixed together by the connecting shaft 700, and the bearing 8
Rotate through 00. Further, this rotational drive is driven by the control circuit section 400 of the electromagnetic conductor 600 '. Similarly, the controls 420 and 421 of the head unit are adjusted while synchronizing from the control circuit units 400 and 401.

【0038】また、本発明の球体メモリ図1,図2と従
来の円板メモリ図3,図4との比較実施例をそれぞれに
示したように、従来は円板3上に浮動型ヘッド200が
おさめられている。ここで、図4に示す複数の円板3に
も同様のことが言えることは周知である。つまり共に高
密度化には困難な技術的要素(すなわち、表面積πr2
高密度化のための浮動および接触化)が見られる。
Further, as shown in comparative examples of the spherical memory FIGS. 1 and 2 of the present invention and the conventional disk memory FIGS. 3 and 4, respectively, the floating head 200 is conventionally mounted on the disk 3. Has been saved. Here, it is well known that the same can be said for the plurality of discs 3 shown in FIG. In other words, both are technical factors that are difficult to achieve high density (ie surface area πr 2 ,
Floating and contacting for densification).

【0039】その具体例を図5(a),(b)の本発明お
よび図6の従来法を示す。すなわち、本発明の球体30
0は高密度(4πr2)と球の特性から信頼性が高く小型
メモリとしては有望である。特に、接触動作には利点が
あり、図5(a)は球体メモリ333上で動作するヘッ
ド200が平面のぞましくは曲面を有し、より望ましい
ものは図5(b)に示す多列MRヘッドを具備してなる
三ケ月型の曲面ヘッドで動作するようになっている。
Specific examples thereof are shown in the present invention of FIGS. 5 (a) and 5 (b) and the conventional method of FIG. That is, the sphere 30 of the present invention
0 is highly reliable due to the high density (4πr 2 ) and the characteristics of the sphere and is promising as a small memory. In particular, the contact operation has an advantage. In FIG. 5A, the head 200 operating on the sphere memory 333 has a flat surface, preferably a curved surface, and more desirable one is a multi-row structure shown in FIG. 5B. It operates with a crescent-shaped curved head equipped with an MR head.

【0040】つまり、図6に示す従来型の浮動タイプに
見られない特徴を有するものである。すなわち、本発明
SSMシステムは、図6の従来例におけるヘッドと媒体
表面間のスペースhを限りなく0(ゼロ)に近づけるこ
とができ、かつその動作が接触駆動まで可能になること
である。
That is, it has a characteristic not found in the conventional floating type shown in FIG. That is, in the SSM system of the present invention, the space h between the head and the medium surface in the conventional example shown in FIG. 6 can be made as close as possible to zero (0), and the operation can be performed up to contact driving.

【0041】よって、本発明の球体スピンメモリ(SS
M)と従来の円板型回転メモリとでは、特に、小型にな
るにつれて表面積がメモリとして重要な要因となり、本
発明の球体メモリは小型化に有利で、よりすぐれた球体
表面を有効化したメモリを提供する。
Therefore, the spherical spin memory (SS
M) and the conventional disk-type rotating memory, in particular, the surface area becomes an important factor as the memory becomes smaller as the size becomes smaller, and the spherical memory of the present invention is advantageous for miniaturization, and is a memory having a more effective spherical surface. I will provide a.

【0042】そこで、図7はこの発明SSMを得る一般
的な蒸着法やプラズマ方式による製膜構造の一部断面図
を示したものである。すなわち、球体(Si34)30
0の面をプラズマ処理301した後Cr合金膜51さら
にCo合金膜52をつけ、さらに特殊なプラズマ処理法
302でNiF53膜を形成した。このNiF膜53は
耐久性にすぐれかつ潤滑膜として接触にも耐える球体メ
モリ333を提供した。
Therefore, FIG. 7 shows a partial cross-sectional view of a film forming structure by a general vapor deposition method or a plasma method for obtaining the SSM of the present invention. That is, the sphere (Si 3 N 4 ) 30
After the plasma treatment 301 on the 0 surface, a Cr alloy film 51 and a Co alloy film 52 were applied, and a NiF53 film was formed by a special plasma treatment method 302. The NiF film 53 provided a spherical memory 333 that was excellent in durability and could withstand contact as a lubricating film.

【0043】さらには、耐久性にすぐれた球体セラミッ
クに直接磁性メモリ333と固体潤滑とを兼用する有効
なBaM55を本装置を用いてスパッタすることによっ
てより接触に耐えるヘッド−メモリの接触駆動型も可能
である。また、必要に応じて処理303をする。
Further, a head-memory contact drive type which withstands more contact by sputtering an effective BaM55 which also serves as a magnetic memory 333 and solid lubrication directly on a spherical ceramic excellent in durability is also available. It is possible. Further, processing 303 is performed as necessary.

【0044】なお、このBaMメモリ333は耐久性,
固体潤滑性にもすぐれていることは特開平7−44853号公
報に示されるように周知である。
The BaM memory 333 has durability,
It is well known that the solid lubricity is also excellent, as shown in JP-A-7-44853.

【0045】また、図8は従来の円板型メモリの膜構造
の一部断面図を示したもので、本発明の立体曲面を有す
る球体型メモリの膜構造との比較のためのものである。
FIG. 8 is a partial cross-sectional view of a film structure of a conventional disk type memory, which is for comparison with the film structure of a spherical memory having a three-dimensional curved surface according to the present invention. .

【0046】すなわち、一般的な製膜方法として基体
(平板)3上に格子定数の関係からまずCr合金51を
スパッタし、さらにCo合金膜52を成長させ、その上
に保護膜としてC53′および潤滑を有するF系(特公
平6−90787号)の有機薄膜54′を形成するものであ
る。
That is, as a general film forming method, a Cr alloy 51 is first sputtered on the substrate (flat plate) 3 from the relation of the lattice constant, and further a Co alloy film 52 is grown, on which C53 'and a protective film are formed. The organic thin film 54 'of F type (Japanese Patent Publication No. 6-90787) having lubrication is formed.

【0047】ここで、図13は、このSSMの製膜媒体
およびメモリを得る一般的なプラズマ方式の製膜(メモ
リ)装置500の概略図を示したものである。すなわ
ち、真空容器1内に設けられた電極に高周波発生機10
0より増幅器90をへて駆動される。なお、Sは回転軸
2に取り付けられた立体曲面を有する基体のぞましくは
球体で、Tはターゲットである。
Here, FIG. 13 is a schematic view of a general plasma type film forming (memory) device 500 for obtaining the SSM film forming medium and the memory. That is, the high frequency generator 10 is attached to the electrode provided in the vacuum container 1.
Driven from 0 through amplifier 90. In addition, S is a base body having a three-dimensional curved surface attached to the rotary shaft 2, preferably a sphere, and T is a target.

【0048】同様に、図12の蒸着装置550でもSS
M製膜が可能である。すなわち、真空容器1外にD.
C,A.C発生機と制御器(A),(B)を有し、これら
から抵抗加熱等により材料の蒸発源V1,V2を加熱し、
回転する基体S上に製膜させる。
Similarly, the vapor deposition device 550 of FIG.
M film formation is possible. That is, D.
C, AC generator and controllers (A), (B), from which the material evaporation sources V 1 , V 2 are heated by resistance heating or the like,
A film is formed on the rotating substrate S.

【0049】次に、この発明のより臭体的な実施例を示
す。
Next, a more odorous embodiment of the present invention will be shown.

【0050】図14に本発明のSSM製造装置の実施例
の断面図を示す。本実施例では対の波動駆動体4a,4
bが設置されており、音波,超音波の周波数を共に一致
せしめてもよいし、僅かにずらして音波,超音波の干渉
波モードを発生せしめてもよい。さらに、有効なガス1
55とRF電源150すなわちCVD法および磁場発生
機5a,5bとターゲット材60をスパッタさせるため
の他のプラズマ用電源100,101すなわちPVD
法,プラズマ重合法が設置され、かつ、その音波,超音
波に重畳させて、球体300上により有効な製膜333
を得る。
FIG. 14 shows a sectional view of an embodiment of the SSM manufacturing apparatus of the present invention. In the present embodiment, a pair of wave driving bodies 4a, 4
b is provided, and the frequency of the sound wave and the ultrasonic wave may be made to coincide with each other, or the interference wave mode of the sound wave and the ultrasonic wave may be generated slightly shifted. Furthermore, effective gas 1
55 and an RF power source 150, ie, a CVD method, and other plasma power sources 100, 101 for sputtering the magnetic field generators 5a, 5b and the target material 60, ie, PVD.
Method and a plasma polymerization method are installed, and superposed on the sound wave and the ultrasonic wave to form a more effective film 333 on the sphere 300.
Get.

【0051】ここで、いずれの方法でも磁性面の球表面
は平滑であった。また、音波,超音波、さらに、波動と
同時に磁石からの磁界を作用させることにより両者のそ
れぞれの相互作用より基体上の金属磁性粒子の磁気異方
性の向きをのぞましい方向にさらに整列させることもで
きるので特にのぞましい。
Here, the spherical surface of the magnetic surface was smooth by any method. In addition, the magnetic anisotropy direction of the metal magnetic particles on the substrate can be further aligned in a desired direction by the action of the magnetic field from the magnet simultaneously with the sound waves, the ultrasonic waves, and the wave motion. This is especially desirable because it can be done.

【0052】また、装置の仕様から要求される記録再生
特性の仕様に応じ、波動に重畳する場合に、モードを使
い分けることが望ましい。すなわち、再生出力が特に要
求される場合には、曲面周方向の配向性に優れたより完
全性の高い結晶が成長される同相モード(縦波または横
波)、特に著しい低ノイズ性が要求される場合には偏析
状態を促進し、均一で微細な結晶粒を成長させることが
できる干渉波モード、両者の平均的特性が要求される場
合には干渉波モードの一方を0.001 〜20kHzの
音波、他方を25〜500kHz超音波とする複重畳波
動とすることがのぞましい。また、特にすぐれた音波素
子の形状効果による球面波も使われる。
Further, it is desirable to use different modes when superimposing on the wave according to the specifications of the recording / reproducing characteristics required from the specifications of the apparatus. That is, when reproduction output is particularly required, in-phase mode (longitudinal wave or transverse wave) in which a crystal with higher perfection having excellent orientation in the circumferential direction of the curved surface is grown, particularly when extremely low noise is required. Is an interference wave mode capable of promoting a segregation state and growing uniform and fine crystal grains, and if an average characteristic of both is required, one of the interference wave modes is a sound wave of 0.001 to 20 kHz, Desirably, the other is a superposed wave with 25 to 500 kHz ultrasonic waves. Also, spherical waves due to the excellent shape effect of the acoustic wave element are also used.

【0053】このように本発明による媒体は、基体の中
心線平均面粗さを2nm以下としても配向性,組織を制
御できるため磁気特性の均一性に優れ、低ノイズとする
ことができる。特にこのように平滑な表面上に磁性層を
形成するとSSMからの信号が、曲面上のトラック幅の
1/10程度の単位(0.5μm 以下)で評価しても充
分均一であり、サーボ信号の品質が改善されるので特に
好ましい。なお、磁性体と固体潤滑とを共有し、かつ耐
久性にすぐれたBaMを使用した膜では、本発明の球体
スピンメモリ(SSM)としてより好ましい。すなわ
ち、ヘッド−メモリ接触の高密度・高信頼化のSSM装
置が可能である。
As described above, the medium according to the present invention can control the orientation and the texture even if the center line average surface roughness of the substrate is 2 nm or less, and thus the magnetic properties are excellent in uniformity and the noise can be reduced. In particular, when the magnetic layer is formed on such a smooth surface, the signal from the SSM is sufficiently uniform even if evaluated in units of about 1/10 of the track width on the curved surface (0.5 μm or less), and the servo signal Is particularly preferable because it improves the quality of. A film made of BaM that shares a magnetic substance and solid lubrication and is excellent in durability is more preferable as the spherical spin memory (SSM) of the present invention. That is, an SSM device with high density and high reliability of head-memory contact is possible.

【0054】基体はテクスチャ処理を施してあってもな
くても良いが、テクスチャ処理が施してない方がサーボ
信号の品質が高いのでより好ましく、本発明の効果がよ
り顕著に発揮される。
The substrate may or may not be textured, but it is more preferable not to texture it because the quality of the servo signal is higher, and the effect of the present invention is more remarkably exhibited.

【0055】本発明による媒体は低ノイズで、特性の均
一性に優れるため、特に再生感度の高い磁気抵抗効果型
ヘッドと組み合わせることで、10KTPI,200KBPI から40
KTPI,800KBPI すなわち、2Gb/in2から32Gb/i
n2の高密度で高いS/Nが実現でき、また2Gb〜32
Gb/in2 の高密度SSM装置を提供できる。また、さ
らにヘッド−メモリ接触可能であることから設計条件を
考慮すれば32Gb/in2 以上の高密度・高信頼化のS
SMシステムも可能である。
Since the medium according to the present invention has a low noise and an excellent uniformity of characteristics, it can be used in combination with a magnetoresistive head having a high reproducing sensitivity to obtain from 10 KTPI, 200 KBPI to 40 KBPI.
KTPI, 800KBPI, that is, 2Gb / in 2 to 32Gb / i
High density of n 2 can realize high S / N, and 2 Gb to 32
It is possible to provide a high density GSM / in 2 SSM device. In addition, since head-memory contact is possible, considering the design conditions, the high density and high reliability S of 32 Gb / in 2 or more is achieved.
SM systems are also possible.

【0056】ここで、磁性面の表面に、その平均面粗さ
(Ra)が基体の値よりも大きくなるような波動エネル
ギを注入(表面処理)した耐久性・潤滑性にすぐれた保
護膜NiFを設けることで、CSS時の粘着力,接線力
の増大をさらに抑制でき、かつ、ヘッド−媒体接触駆動
にも強く、また信頼性も格段に改善できる。これは、面
粗さやNiF膜の物質固有の特性と波動エネルギ注入よ
り有効な接触面を得ることで空気中の水分等がヘッドと
媒体間で凝集するのを防げるためである。
Here, a protective film NiF excellent in durability and lubricity, which is obtained by injecting (surface-treating) wave energy such that its average surface roughness (Ra) becomes larger than that of the substrate, on the surface of the magnetic surface. By providing the above, it is possible to further suppress the increase in the adhesive force and the tangential force during CSS, and it is also strong against the head-medium contact drive, and the reliability can be remarkably improved. This is to prevent the moisture in the air from aggregating between the head and the medium by obtaining a contact surface more effective than the surface roughness and the characteristics peculiar to the substance of the NiF film and the wave energy injection.

【0057】本発明による媒体は、保護膜を、一且設け
た後、マスクを用いて数%程度の面積でnmからμmの
凸起部に波動エネルギを注入したり、保護膜形成中に異
相の核形成をさせることなどによっても得られる。面粗
さとしては、最大突起高さRpの値で20nm以下、よ
りのぞましくは15nm以下とすることで、見かけのヘ
ッド媒体間スペーシングを低減でき、12Gb/in2
高記録密度化を達成できる。
In the medium according to the present invention, after the protective film is provided once, the wave energy is injected into the protrusions of nm to μm in the area of several% by using a mask, or a different phase is formed during the formation of the protective film. It can also be obtained by causing nucleation of. As the surface roughness, the maximum protrusion height Rp is set to 20 nm or less, and more preferably 15 nm or less, so that the apparent head-medium spacing can be reduced and the recording density can be increased to 12 Gb / in 2 . Can be achieved.

【0058】(実施例1)図7は本発明の一実施例のS
SMの断面図を示す。300は立体曲面を有するSi3
4,ガラス,カーボン,Si,SiO2 ,サファイ
ヤ,Ti,SiC,NiPメッキAl合金,セラミッ
ク,タングステン,タングステン・モリブデン,ダイヤ
モンド等の非磁性基体である。51はCr,Mo,W
(異方性),CrTi,Nb,Cr−W,Cr−Mo,
CrSi等の非磁性下地層、52はCoCrTa,CoCrPt,Co
NiPt,CoNiCr等の単層もしくは非磁性中間層を有する多
層磁性層、53はNiF,B,C,i−C,B4C ,Z
rO2,SiO2,Al23等の保護層またはMoS2
WS2等の固体潤滑を有する保護層である。なお保護膜
表面に波動エネルギ注入またはその表面に極性,吸着
性,反応性等の末端基を有するパーフルオロアルキルポ
リエーテル,特公平6−90787号等の有機潤滑剤またはC
60系すなわち、C50,C60,C70,C76,C84等の特殊
潤滑剤等54が形成されていてもよい。これらは、ヘッ
ドと媒体との関係から選ばれる。なお、球体300上に
処理をして直接磁性膜と潤滑膜とを併用する耐久性にす
ぐれたBaM333(特開平7−44853号)を設けても良い。
(Embodiment 1) FIG. 7 shows S of an embodiment of the present invention.
FIG. 4 shows a sectional view of the SM. 300 is Si 3 having a three-dimensional curved surface
It is a non-magnetic substrate such as N 4 , glass, carbon, Si, SiO 2 , sapphire, Ti, SiC, NiP plated Al alloy, ceramic, tungsten, tungsten molybdenum, diamond. 51 is Cr, Mo, W
(Anisotropic), CrTi, Nb, Cr-W, Cr-Mo,
Nonmagnetic underlayer such as CrSi, 52 is CoCrTa, CoCrPt, Co
NiPt, multilayered magnetic layer having a single layer or a non-magnetic intermediate layer such as CoNiCr, 53 are NiF, B, C, i- C, B 4 C, Z
a protective layer such as rO 2 , SiO 2 , Al 2 O 3 or MoS 2 ,
It is a protective layer having solid lubrication such as WS 2 . It should be noted that wave energy is injected into the surface of the protective film or perfluoroalkyl polyether having a terminal group of polarity, adsorptivity, reactivity, etc. on its surface, an organic lubricant such as Japanese Patent Publication No. 6-90787 or C
A special lubricant or the like 54 such as 60 series, that is, C 50 , C 60 , C 70 , C 76 , C 84 may be formed. These are selected from the relationship between the head and the medium. Incidentally, BaM333 (Japanese Patent Laid-Open No. 7-44853) having excellent durability may be provided on the sphere 300 by directly treating it with a magnetic film and a lubricating film.

【0059】本SSMの形成方法についてさらに詳しく
述べる。図14の装置において、スパッタ装置の真空箱
1内にセラミック,テフロンを被覆したタングステン等
の材料からなる回転支持台2が配置される。この支持台
2の上に0.7 インチのSi34の基体300が取り付
けられ、この非磁性基体300に物理蒸発(PVD)および
CVDされた粒子が音波,超音波の波動エネルギを伴っ
て伝わるように波動駆動体4a,4bが設置される。基
体の表面粗さRaは2nmであり、成膜時に基板温度を
250℃とした。また、磁場を印加するための磁石5
a,5b(電磁石もしくは永久磁石)は目的に応じて音
波と重畳して製膜した。
The method of forming the SSM will be described in more detail. In the apparatus of FIG. 14, a rotary support base 2 made of a material such as ceramic and tungsten coated with Teflon is arranged in a vacuum box 1 of a sputtering apparatus. A 0.7-inch Si 3 N 4 substrate 300 is mounted on the support base 2, and physical vaporization (PVD) and CVD particles are accompanied by sound energy of ultrasonic waves and ultrasonic waves on the non-magnetic substrate 300. Wave drive bodies 4a and 4b are installed so as to be transmitted. The surface roughness Ra of the substrate was 2 nm, and the substrate temperature was 250 ° C. during film formation. Also, a magnet 5 for applying a magnetic field
A and 5b (electromagnets or permanent magnets) were superposed with sound waves to form a film, depending on the purpose.

【0060】なお、図14の波動駆動体(傾斜角θa,
θbに対する波動駆動体をそれぞれ10a,10bおよ
び波動111を示す)4a,4bは円環状である。ま
た、本実施例においては、一方を0.001 〜20kH
zの音波,他方を25〜500kHzの超音波(いずれ
も3〜7W)とする重畳モードとしたが、当然その可変
モードも有効である。ここでのプラズマ中に印加する波
動エネルギは、目的に応じて2W〜37Wまで可変でき
るもので、当然、音波,超音波に加重する複重畳にな
る。
It should be noted that the wave drive member (inclination angle θa,
Wave drive members for θb are shown as 10a, 10b and wave 111 respectively) 4a, 4b are annular. Further, in this embodiment, one is 0.001 to 20 kH.
Although the superposition mode is set so that the z sound wave and the other is an ultrasonic wave of 25 to 500 kHz (both are 3 to 7 W), the variable mode is naturally effective. The wave energy applied to the plasma here can be varied from 2 W to 37 W depending on the purpose, and naturally, it is a multiple superposition that weights sound waves and ultrasonic waves.

【0061】さらに、装置内の蒸発源は、CrSi,N
b,Cr−W,Cr−Mo,Cr,CrTi,Mo,W
等の非磁性下地層もしくは中間層用ターゲット、FeCoNi
Cr,CoCrTa,CoCrPt,CoNiCr等の磁性材ターゲット;
C,B,B4C ,W等の保護膜用ターゲットが設置され
ている(図では磁性ターゲット60のみを示す)。
Further, the evaporation source in the apparatus is CrSi, N
b, Cr-W, Cr-Mo, Cr, CrTi, Mo, W
Target for non-magnetic underlayer or intermediate layer such as FeCoNi
Magnetic material targets such as Cr, CoCrTa, CoCrPt, CoNiCr;
Targets for protective films such as C, B, B 4 C and W are installed (only the magnetic target 60 is shown in the figure).

【0062】本装置を用い、1.0″φ,Ra1.2nm
のカーボン基体上に、各波動モードでCr下地層をAr
ガス圧3mTorr,15W/cm2 で40nm,CoCr0.16Pt
0.4磁性層を35nm,C保護層を20nm,DCマグ
ネトロンスパッタリング法に7Wの波動エネルギを重畳
して形成し、真空層からSSMを取り出して最後に吸着
性の極性基を有するパーフルオロアルキルポリエーテル
を3nmを形成した。各SSMを、ギャップ長0.13
μm,トラック幅2.5μmの薄膜ヘッドを記録部と
し、パーマロイを磁極とする磁気抵抗効果素子を再生部
とする記録再生分離型ヘッドで、浮上量0.052μm
で2.5Gb/in2 の条件で記録再生した時の特性を表
1に示す。
Using this apparatus, 1.0 ″ φ, Ra 1.2 nm
Cr underlayer in Ar wave mode on each carbon substrate
Gas pressure 3 mTorr, 40 nm at 15W / cm 2, CoCr 0. 16 Pt
0.4 magnetic layer 35 nm, the C protective layer 20 nm, formed by superimposing a wave energy of 7W in DC magnetron sputtering method, perfluoroalkyl having end adsorptive polar group removed SSM from the vacuum layer Ether formed 3 nm. Each SSM has a gap length of 0.13
A recording / playback separation type head having a thin film head with a track width of 2.5 μm and a track width of 2.5 μm as a recording section and a magnetoresistive element having a magnetic pole of Permalloy as a playback section, and a flying height of 0.052 μm
Table 1 shows the characteristics when recording and reproducing were performed under the conditions of 2.5 Gb / in 2 .

【0063】[0063]

【表1】 [Table 1]

【0064】すなわち、スパッタ蒸発時の粒子への波動
エネルギを伴う本発明のSSM製造方法はいずれもS/
Nが高く、出力変動も3.5% 以下と小さいことが分か
る。基体が球体であることから球面波の適合に最も高い
S/Nが得られるが、いずれもS/Nは5以上であり、
2.5Gb/in2と高い曲面上での面記録密度でSSM装
置が8−7変換,PRMLを用い10-9のエラーレート
で動作した。
That is, the SSM manufacturing method of the present invention involving wave energy to particles during sputter evaporation is S /
It can be seen that N is high and the output fluctuation is as small as 3.5% or less. Since the substrate is a sphere, the highest S / N for matching the spherical wave is obtained, but the S / N is 5 or more in each case,
With an areal recording density on a curved surface as high as 2.5 Gb / in 2 , the SSM device operated with 8-7 conversion and PRML with an error rate of 10 -9 .

【0065】なお、カーボン保護層をマスクを用いて3
nmエッチングし、100μmφの凸起部を面積比で5
%設けたものは、媒体表面のRaが2.2nm であり、
特にコンタクトスタートアンドストップ(CSS)10
k回後の接線力がほとんど認められなかった。
It should be noted that the carbon protective layer is formed by using a mask.
nm etching, and the protrusion of 100 μmφ is 5 in area ratio.
%, The Ra of the medium surface is 2.2 nm,
Especially contact start and stop (CSS) 10
Almost no tangential force was observed after k times.

【0066】(実施例2)基体1.2″φ の強化ガラス
を用い、非磁性保護層を−400Vのバイアスを印加し
て成膜した平均膜厚22nmの(WNb)0.5(N)0.5
した以外は実施例1と同じ条件でSSMを形成した。保
護層成膜時も波動を印加させることで、高さ5nmの主
成分NbNの凸起が成長し、SSMの面粗さはRpで1
1nmとなった。本SSMA〜CおよびQと比較例Dの
ディスクの10k回後のCSS後の接線力を比べたとこ
ろ、Dでは接線力が2.7g 増加したのに対し、本実施
例A〜CおよびQでは接線力の増大は全く認められず、
極めて良好な耐摺動性を示した。曲面上の磁気特性,記
録再生特性についても実施例と同様の良好な特性を示し
た。
[0066] (Example 2) substrate 1.2 "using tempered glass of phi, the average film thickness of 22nm to a non-magnetic protective layer was formed by applying a bias of -400V (WNb) 0. 5 ( N) 0.5 and with other than the formed a SSM under the same conditions as in example 1. when the protective layer forming also be applied wave, and convex Kiga growth of the main component NbN height 5 nm, surface roughness of the SSM Sa is 1 in Rp
1 nm. When the tangential forces after CSS of the discs of Comparative Examples D after 10 k times were compared with those of SSMA to C and Q, the tangential force increased by 2.7 g in D, whereas in Examples A to C and Q, No increase in tangential force is observed,
It showed extremely good sliding resistance. The magnetic characteristics on the curved surface and the recording / reproducing characteristics also showed good characteristics similar to those of the examples.

【0067】(実施例3)基体をポリイミド,PET,
エポキシ−フェノール系または電顕用RESIN等の
1.2″φ 有機体とした以外は実施例1と同じ条件で作
成したSSMの媒体は、縦波,横波,干渉波のいずれの
波動モードで形成した場合も表1と同様の優れた特性が
得られた。
(Embodiment 3) The substrate is made of polyimide, PET,
The SSM medium prepared under the same conditions as in Example 1 except that it was made of 1.2 ″ φ organic material such as epoxy-phenol or RESIN for electron microscope was formed in any wave mode of longitudinal wave, transverse wave and interference wave. Also when it did, the same outstanding characteristic as Table 1 was obtained.

【0068】(実施例4)基体の両側にターゲットを有
するDCマグネトロン・スパッタリング装置を用い、面
粗さRaが0.1,0.2,0.6,1,1.5,2,3,
5,7,10nmの外径5/16″(≒0.3″),Si
34基体(球体)に、基板温度300℃,Arガス圧1
mTorr,投入電力密度10W/cm2 及び印加する波動エ
ネルギを5Wで膜厚100nmのCr0.9Ti0.1合金非
磁性下地層,膜厚30nmのCo0.82Cr0.14Pt0.04磁性
層,膜厚20nmの(W0.8−Mo0.2)0.3C0.7 保護膜をそ
れぞれの波動駆動体(75kHz,10W)より縦波モー
ドに複重畳して逐次形成した。最後に、本発明の図14
に示す装置でフッ素系のガス155を波動CVDおよび
波動プラズマ重合法で5nmの薄膜形成してSSMとし
た。
Example 4 A DC magnetron sputtering apparatus having targets on both sides of a substrate was used, and the surface roughness Ra was 0.1, 0.2, 0.6, 1, 1.5, 2, 3, 3.
5,7,10 nm outer diameter 5/16 "(≈0.3"), Si
A substrate temperature of 300 ° C. and an Ar gas pressure of 1 are applied to a 3 N 4 substrate (sphere).
mTorr, Cr 0 with a thickness of 100nm to input power density 10 W / cm 2 and wave energy applied at 5W. 9 Ti 0. 1 alloy and a nonmagnetic underlayer, Co having a thickness of 30nm 0. 82 Cr 0. 14 Pt 0. 04 magnetic layer, the film thickness of 20nm (W 0. 8 -Mo 0 . 2) 0. 3 C 0. 7 sequentially formed by multiple superimposed protective film each wave driver (75 kHz, 10 W) from the longitudinal wave mode did. Finally, FIG.
A fluorine-based gas 155 was formed into a 5 nm thin film by wave CVD and wave plasma polymerization in the apparatus shown in FIG.

【0069】また、実施例1と同条件で評価した場合の
出力変動(%)と面粗さRa(nm)との関係も重畳する
波動エネルギのない比較例に比べていずれの中心線平均
面粗さでも0.7% 以下の出力変動が得られている。本
効果は、特にRaが2nm以下の時に顕著である。
In addition, the relationship between the output fluctuation (%) and the surface roughness Ra (nm) when evaluated under the same conditions as in Example 1 was compared with Comparative Example in which no wave energy was superimposed. Even with the roughness, an output fluctuation of 0.7% or less is obtained. This effect is particularly remarkable when Ra is 2 nm or less.

【0070】(実施例5)実施例1と同様により有効な
SSM連続薄膜媒体を得る他の方法として、図15には
本発明の別のスパッタリング方法による成膜装置ならび
に成膜方法の概略図を示す。すなわち、Arイオンを放
電によりプラズマ化し、ターゲット60のスパッタリン
グを行うが、前述の通りターゲットからのスパッタリン
グ原子,分子,イオン等の粒子に音波,超音波の波動エ
ネルギ、さらに、有効なガス155と補助RF電源150
とを与えることでエネルギ励起,均一化,高配向化させ
ながら基体に付着させるものである。
(Example 5) As another method for obtaining a more effective SSM continuous thin film medium as in Example 1, FIG. 15 is a schematic view of a film forming apparatus and a film forming method by another sputtering method of the present invention. Show. That is, Ar ions are turned into plasma by discharge and the target 60 is sputtered. As described above, particles of sputtering atoms, molecules, ions, etc. from the target are subjected to sound energy of ultrasonic waves, ultrasonic waves, and effective gas 155 and auxiliary. RF power supply 150
Is given to the substrate while energizing the energy, making it uniform, and making it highly oriented.

【0071】ここで、ターゲット材60はFeCoNiCrや、
コバルト基合金からなるものを用いることができる。強
磁性金属薄膜層を記録層とする磁気記録媒体は、配向性
が高く磁気特性に優れたものを得るため、強磁性材の入
射方向を基体に対して斜め方向にするとよい。このこと
を考慮して得られるものが、特に、図15に示す磁場5
a,5b面に設けた波動駆動体10a,10bを傾斜
(θa,θb=15°;4a′,4b′)させた縦波
(矢印111)であり、さらにSSMへはその磁束とR
F電源150からパルスを重畳する成膜システムを導入
した別の特徴とするところである。すなわち、基体30
0への垂直な磁束面と波動エネルギとの相乗効果(条件
設定)により、連続薄膜媒体のより高配向化,高密度化
(微粒子の緻密性),高S/N化(微粒子の均一な配向
性)が期待できるものである。また、パルス成膜システ
ムの導入によって、図7(b)に示すBaMの垂直磁
化,面内磁化も可能である。
Here, the target material 60 is FeCoNiCr or
A cobalt-based alloy can be used. In order to obtain a magnetic recording medium having a ferromagnetic metal thin film layer as a recording layer, which has high orientation and excellent magnetic characteristics, it is preferable to make the incident direction of the ferromagnetic material oblique to the substrate. What is obtained in consideration of this is especially the magnetic field 5 shown in FIG.
It is a longitudinal wave (arrow 111) obtained by inclining (θa, θb = 15 °; 4a ′, 4b ′) wave drive bodies 10a and 10b provided on the a and 5b surfaces, and further to the SSM, its magnetic flux and R
Another feature is the introduction of a film forming system that superimposes pulses from the F power supply 150. That is, the base body 30
Due to the synergistic effect (condition setting) of the magnetic flux plane perpendicular to 0 and the wave energy, the continuous thin film medium has higher orientation, higher density (fine particle density), and higher S / N (uniform orientation of fine particles). Sex) can be expected. Further, by introducing the pulse film forming system, the perpendicular magnetization and in-plane magnetization of BaM shown in FIG. 7B are also possible.

【0072】なお、ペルジャー1内に傾斜駆動支持具1
0a,10bに波動駆動体4a,4a′,4b,4b′
(音波,超音波)が取り付けられている。膜厚の均一性
を確保するために基体は成膜中は回転させておくことが
望ましい。この際、基体の前にマスク66(窓)を設けて
もよい。また、電極部61にはターゲット材60が設置
され、これはさらにプラズマ発生用電源(RF用10
0,高圧DC用101)と支持金具62,リード線6
3,64、および電極平板65等、さらに、磁場発生機
5a,5bとによって回路構成されている。なお、図の
音波,超音波駆動電源は外部で制御される。また、図の
71は真空保持用のロータリポンプ、70は同じくクラ
イオポンプである。これらはターボポンプでもよい。
It should be noted that the tilt drive support 1
Wave drive members 4a, 4a ', 4b, 4b' are attached to 0a and 10b.
(Sound wave, ultrasonic wave) is attached. It is desirable to rotate the substrate during film formation in order to ensure the uniformity of film thickness. At this time, a mask 66 (window) may be provided in front of the substrate. Further, a target material 60 is installed on the electrode portion 61, which is further provided with a power source for plasma generation (RF
0, high-voltage DC 101), support bracket 62, lead wire 6
3, 64, the electrode plate 65, and the magnetic field generators 5a and 5b. Note that the sound wave and ultrasonic drive power sources in the figure are controlled externally. In addition, reference numeral 71 in the drawing is a rotary pump for holding a vacuum, and 70 is a cryopump. These may be turbo pumps.

【0073】なお、エネルギ励起用音波としては生産に
優れた1GHz以上の極超音波(マイクロ波超音波)や
マグネトロン型も適用可能であり、ターゲットの替わり
にEB法などによる蒸着源を用い、蒸着法で成膜するこ
とも可能である。
It should be noted that as the sound wave for energy excitation, a hypersonic wave (microwave ultrasonic wave) of 1 GHz or more which is excellent in production or a magnetron type can also be applied, and a vapor deposition source by an EB method or the like is used instead of the target, and vapor deposition is performed. It is also possible to form a film by the method.

【0074】以下さらに詳細に本実施例について説明す
る。成膜条件は実施例4と同じにし、面粗さ0.2nm
の外径約1/3″(球体)すなわち0.335″(8.5
mm)のサファイヤ(タングステン・モリブデン合金で
可)基体を50rpm で回転(図示せず)し、重畳する波
動エネルギを与えながら、膜厚22nmをCoNiPtCrを傾
斜角θ=45°平均入射角50°で形成し、さらに同条
件で膜厚3nmのWCの上に2nmのMoS2 の固体潤
滑兼保護層(波動エネルギ注入)を形成してSSMとし
た。
This embodiment will be described in more detail below. The film forming conditions were the same as in Example 4, and the surface roughness was 0.2 nm.
Outer diameter of about 1/3 "(sphere) or 0.335" (8.5
mm) sapphire (tungsten-molybdenum alloy) substrate is rotated at 50 rpm (not shown), while giving overlapping wave energy, CoNiPtCr with a film thickness of 22 nm is tilted at θ = 45 ° and average incident angle is 50 °. Under the same conditions, a 2 nm MoS 2 solid lubricating and protective layer (wave energy injection) was further formed on the WC having a film thickness of 3 nm to form an SSM.

【0075】本SSMを21.7Gb/in2(660KBPI,33
KTPI)の条件で評価したところ、S/Nで6.3,出力
変動で0.6%であった。なお、特に回転数を8800RPM
、3nmのWC膜を処理(波動エネルギ注入)し、そ
の処理面にC60系の特殊潤滑剤2nmを形成した場合も
同様であった。
This SSM is operated at 21.7 Gb / in 2 (660KBPI, 33
When evaluated under the conditions of (KTPI), the S / N ratio was 6.3 and the output fluctuation was 0.6%. Especially, the rotation speed is 8800 RPM
The same was true when a 3 nm WC film was treated (wave energy injection) and a C 60 -based special lubricant of 2 nm was formed on the treated surface.

【0076】(実施例6)上記、高密度の球体メモリ3
33と巨大磁気抵抗効果を用いた再生部を有する記録再
生分離型の磁気ヘッド200を図9,図10に示す特別
の超小型の本発明の複式SSM装置2000に組み込ん
だ。本SSMすなわち、イオン,原子,電子等の粒子
(量子)の波動エネルギ注入型フォーマット同期により
位置決めが高精度で行え、さらにスペーシングを0.0
16μm,0.014μmとできたことで24.5Gb/
in2,32Gb/in2 の高い記録密度で動作するSSM
装置が提供できた。なお、182は高速回転のための駆
動部、184は高精度位置決めのためのヘッド駆動部、
185は特殊方式による高度復号信号処理回路処理系を
示す。さらに、これらの本発明の複式SSMシステムを
多段連結する多連SSMシステムを図11に示す。この
ことにより本システムはさらに多重・連結することが可
能であり、すなわち、より有効な小型大容量の電子計算
機システムとして有望である。
(Embodiment 6) The high-density spherical memory 3 described above
A recording / reproducing separation type magnetic head 200 having a reproducing section 33 and a reproducing section using a giant magnetoresistive effect is incorporated in a special ultra-compact dual SSM apparatus 2000 of the present invention shown in FIGS. This SSM, that is, the wave energy injection type format synchronization of particles (quantum) such as ions, atoms, and electrons can perform positioning with high precision, and further the spacing can be 0.0
24.5Gb / due to being able to achieve 16μm and 0.014μm
SSM operating at high recording density of in 2 , 32 Gb / in 2
The equipment could be provided. 182 is a drive unit for high-speed rotation, 184 is a head drive unit for highly accurate positioning,
Reference numeral 185 represents a special decoding signal processing circuit processing system. FIG. 11 shows a multiple SSM system in which these multiple SSM systems of the present invention are connected in multiple stages. Thus, the present system can be further multiplexed and connected, that is, it is promising as a more effective small-sized and large-capacity computer system.

【0077】(実施例7)図16(a),(b)に、生産
性に優れたEB(Electron Beam )法による本発明の方
法の実施例の主要概略断面図を示す。本方法では特に、
低エネルギから高エネルギの電子線200a,200b
を利用することができるのが特徴である。すなわち、図
に示す電子銃201a,201bによる電子線(電子ビ
ーム)を利用してボート(受皿)202a,202bの
中の磁性合金203a,203bを蒸発させる。この蒸
発された粒子に、空間内に設置する波動駆動体4a,4
bから音波,超音波の波動エネルギ内に、さらに、カオ
ス・歪(波動エネルギ)を重畳せしめ、これらの相互作
用で得られる高エネルギ励起状態の粒子により回転(7
0RPM)する1/2インチ,Si34の球体300上
に高配向,高分散状態で蒸着される。ここでの製造法,
条件は実施例とほぼ同様であるが、特に、成膜の真空度
は10-6〜10-9Torrで行った。また、本方式では回転
する基体300は真空槽内に設けた多連する球体図16
(a)が別の空洞から連続的に供給される(周知である
ので図示せず)。なお、音波,超音波の波動エネルギ
(出力)はいずれも1W以上とし、さらに、また、成膜
条件において、波動エネルギの周波数57kHz,15
Wの場合は真空圧10-6〜10-9Torrで充分効果が得ら
れたが、この超音波の波動エネルギを高めた場合、すな
わち、周波数57kHz,35Wの場合には、真空圧1
-3〜10-5Torrで充分な効果が得られた。
(Embodiment 7) FIGS. 16 (a) and 16 (b) are main schematic sectional views of an embodiment of the method of the present invention by the EB (Electron Beam) method which is excellent in productivity. In this method,
Low energy to high energy electron beams 200a, 200b
The feature is that you can use. That is, the magnetic alloys 203a and 203b in the boats (sauce trays) 202a and 202b are evaporated by using the electron beam (electron beam) from the electron guns 201a and 201b shown in the figure. The wave drive bodies 4a, 4 installed in the space are attached to the evaporated particles.
Chaos and strain (wave energy) are further superposed on the wave energy of sound waves and ultrasonic waves from b, and rotation (7
It is vapor-deposited in a highly oriented and highly dispersed state on a sphere 300 made of 1/2 inch, Si 3 N 4 at 0 RPM. Manufacturing method here,
The conditions are almost the same as those in the example, but the vacuum degree of film formation is 10 −6 to 10 −9 Torr. Further, in this method, the rotating substrate 300 is a multi-sphere body provided in a vacuum chamber.
(A) is continuously fed from another cavity (not shown because it is well known). The wave energy (output) of each of the sound wave and the ultrasonic wave is 1 W or more, and the wave energy frequency of 57 kHz, 15
In the case of W, a sufficient effect was obtained at a vacuum pressure of 10 -6 to 10 -9 Torr, but when the wave energy of this ultrasonic wave is increased, that is, when the frequency is 57 kHz and 35 W, the vacuum pressure is 1
A sufficient effect was obtained at 0 -3 to 10 -5 Torr.

【0078】(実施例8)本システムすなわち図1,図
2,図5,図7,図9,図10,図11さらに図12,
図13,図14,図15,図16(a),(b)におい
て、特に図の中に示すSまたは300の基体をSi(シ
リコン),N型シリコン(N型半導体),P型シリコン
(P型半導体),GaAs(ガリウムヒ素)等の半導体
材料にすることによって、容易に前記各実施例と同様
に、種々の半導体への成膜,製造または処理(プラズマ
エッチング等−この場合ターゲットT,60は除去)さ
らにはイオン,電子,原子,分子等の粒子(量子)から
なる種々のエネルギを注入することができた。特に、目
的に応じてさらに高電圧(高エネルギ化)の場合もあ
る。
(Embodiment 8) This system, that is, FIG. 1, FIG. 2, FIG. 5, FIG. 7, FIG. 9, FIG.
13, FIG. 14, FIG. 15, FIG. 16 (a), and (b), the substrate of S or 300 shown in the figures is made of Si (silicon), N-type silicon (N-type semiconductor), P-type silicon ( By using a semiconductor material such as P-type semiconductor) or GaAs (gallium arsenide), it is possible to easily form, manufacture, or process (plasma etching etc.-target T in this case) on various semiconductors in the same manner as in the above-mentioned embodiments. (60 is removed) Furthermore, various energies composed of particles (quantum) such as ions, electrons, atoms and molecules could be injected. In particular, higher voltage (higher energy) may be used depending on the purpose.

【0079】[0079]

【発明の効果】本発明により、特性が均一でノイズ特性
に優れ、さらに、ヘッドと媒体との間隔(スペーシン
グ)を0.02μm以下、特に、SSMシステムでは0.
014μm以下に小さくした場合にも安定してヘッドが
浮上し高い耐摺動特性及び高密度化を有し、さらに高ト
ラック密度でも高いサーボ信号が得られるSSMを製
造,提供できるので、2Gb〜32Gb/in2 の高い記
録密度でも動作するSSMシステムおよびメモリが提供
できる。また、ヘッド−媒体間の接触動作可能とする本
SSMシステムから32Gb/in2 以上のものも得るこ
とができる。なお、本システムは他へのメモリおよび処
理等の転用が容易である。
According to the present invention, the characteristics are uniform and the noise characteristics are excellent, and the spacing between the head and the medium (spacing) is 0.02 μm or less, particularly, 0.2 mm in the SSM system.
Even if the size is reduced to 014 μm or less, the head floats stably, has high sliding resistance and high density, and it is possible to manufacture and provide an SSM that can obtain a high servo signal even at a high track density. It is possible to provide an SSM system and a memory that can operate even at a high recording density of / in 2 . Further, 32 Gb / in 2 or more can be obtained from the present SSM system which enables the contact operation between the head and the medium. It should be noted that this system is easy to divert memory and processing to another.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のSSM装置の断面図。FIG. 1 is a sectional view of an SSM device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の対(複)のSSM装置の断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view of the paired SSM device of the present invention.

【図3】従来のHDD装置の説明のための断面図。FIG. 3 is a sectional view for explaining a conventional HDD device.

【図4】従来のHDD装置の説明のための断面図。FIG. 4 is a sectional view for explaining a conventional HDD device.

【図5】本発明のSSM一部の断面図。FIG. 5 is a sectional view of a part of the SSM of the present invention.

【図6】従来のHDD一部の断面図。FIG. 6 is a sectional view of a part of a conventional HDD.

【図7】本発明SSMの一部の断面図。FIG. 7 is a partial cross-sectional view of the SSM of the present invention.

【図8】従来のHDDの一部の断面図。FIG. 8 is a cross-sectional view of a part of a conventional HDD.

【図9】本発明の複式SSMの断面図。FIG. 9 is a cross-sectional view of the compound SSM of the present invention.

【図10】本発明の複式対SSMの断面図。FIG. 10 is a cross-sectional view of a duplex versus SSM of the present invention.

【図11】本発明の多列・連結SSMシステムの断面
図。
FIG. 11 is a cross-sectional view of a multi-row, concatenated SSM system of the present invention.

【図12】本発明のSSM用の製膜装置の蒸着型の説明
図。
FIG. 12 is an explanatory view of a deposition type of a film forming apparatus for SSM of the present invention.

【図13】本発明のSSM用のスパッタの説明図。FIG. 13 is an explanatory view of a sputtering for SSM of the present invention.

【図14】本発明のSSM用の製膜装置の断面図。FIG. 14 is a sectional view of a film forming apparatus for SSM of the present invention.

【図15】本発明のSSM用の磁場と波動を有効化した
製膜装置の断面図。
FIG. 15 is a cross-sectional view of a film forming apparatus of the present invention in which a magnetic field and a wave for SSM are validated.

【図16】本発明のSSMの生産用に適した他のEB法
による説明図。
FIG. 16 is an explanatory view of another EB method suitable for producing the SSM of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…真空容器、100…高周波発生機、200…ヘッ
ド、300…球体スピンメモリSphere−Spin Memory(S
SM)、400…制御回路システム、500…製膜装
置、1500…SSMシステム、2000…複SSMシ
ステム、3000…多列・連結SSMシステム。
1 ... Vacuum container, 100 ... High frequency generator, 200 ... Head, 300 ... Sphere spin memory Sphere-Spin Memory (S
SM), 400 ... Control circuit system, 500 ... Film forming apparatus, 1500 ... SSM system, 2000 ... Multiple SSM system, 3000 ... Multi-row / connected SSM system.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 11/10 541 9075−5D G11B 11/10 541F 20/12 101 9295−5D 20/12 101 25/00 25/00 33/02 33/02 Z (72)発明者 細江 譲 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 石川 晃 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 鳥海 実 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Reference number within the agency FI Technical display location G11B 11/10 541 9075-5D G11B 11/10 541F 20/12 101 9295-5D 20/12 101 25/00 25 / 00 33/02 33/02 Z (72) Inventor, Yuzuru Hosoe 1-280 Higashi Koikeku, Kokubunji, Tokyo Inside Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Akira Ishikawa 1-280 Higashi Koikeku, Kokubunji, Tokyo Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Minoru Toriumi 1-280, Higashi Koigokubo, Kokubunji, Tokyo Metropolitan Research Laboratory, Hitachi, Ltd.

Claims (27)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】球体または楕円体あるいは中空を有してな
る球体または楕円体の表面上のぞましくは立体の曲面に
少なくともメモリとして情報記録可能な記録膜、または
電子回路素子が形成されてなる曲面体メモリ装置。
1. A recording film or an electronic circuit element capable of recording information at least as a memory is formed on a surface of a sphere or an ellipsoid or a sphere or an ellipsoid having a hollow, preferably a three-dimensional curved surface. Curved surface memory device.
【請求項2】請求項1の曲面体メモリと上記メモリにア
クセスするためのヘッドとを具備してなる曲面体メモリ
装置。
2. A curved surface memory device comprising the curved surface memory according to claim 1 and a head for accessing the memory.
【請求項3】請求項1または2において、前記曲面体メ
モリ表面上に少なくとも薄膜メモリとして情報記録可能
な磁気記録媒体層もしくは光磁気記録媒体層が形成さ
れ、予め曲面体上の位置を示すためのアドレス情報また
はトラッキング信号またはデータ等がサーボパターンと
して一定間隔で形成されたプリフォーマット領域とデー
タを記録,再生するためのデータ領域が形成されてなる
曲面体メモリ装置。
3. The magnetic recording medium layer or the magneto-optical recording medium layer capable of recording information as at least a thin film memory on the curved surface memory surface according to claim 1 or 2, for indicating a position on the curved surface body in advance. A curved surface memory device having a preformatted area in which address information, tracking signals, data, etc. are formed as servo patterns at regular intervals and a data area for recording and reproducing data.
【請求項4】請求項3において、前記磁気記録媒体層は
Baフェライト系の磁性材料からなる曲面体メモリ装
置。
4. The curved surface memory device according to claim 3, wherein the magnetic recording medium layer is made of a Ba ferrite magnetic material.
【請求項5】請求項1ないし3のいずれか記載の曲面体
メモリ装置と、これを収容する密閉容器と、上記容器内
に密封される気体潤滑材を有してなる曲面体メモリ装
置。
5. A curved surface memory device comprising a curved surface memory device according to claim 1, an airtight container for housing the curved surface memory device, and a gas lubricant sealed in the container.
【請求項6】前記曲面体メモリ装置の曲面体を回転駆動
する手段を有してなる請求項1乃至5のいずれか記載の
曲面体メモリ装置。
6. The curved surface memory device according to claim 1, further comprising means for rotationally driving the curved surface member of the curved surface memory device.
【請求項7】曲面体表面に形成される記録媒体層は、単
層または多層薄膜の磁性膜及び非磁性膜からなり、最上
層にはNiFの薄膜を有してなる請求項1乃至6のいず
れか記載の曲面体メモリ装置。
7. The recording medium layer formed on the surface of the curved body is composed of a single-layer or multi-layer thin film of a magnetic film and a non-magnetic film, and has a NiF thin film as the uppermost layer. The curved surface memory device according to any one of the above.
【請求項8】請求項7において、メモリ最上部NiF膜
の下部磁性膜または非磁性膜を介して下地がセラミック
のぞましくはSi34であるメモリヘッド接触駆動可能
な曲面体メモリ装置。
8. A curved surface type memory device capable of contact-driving a memory head, wherein a base is ceramics, preferably Si 3 N 4 via a lower magnetic film or a non-magnetic film of a memory uppermost NiF film. .
【請求項9】請求項4,5,6,7または8において、
曲面体メモリは、潤滑性を有する、フッ素系のガスまた
は微粒子化したC50,C60,C70,C76,C84系ガス中
において駆動される曲面体メモリ装置。
9. The method according to claim 4, 5, 6, 7 or 8.
Curved body memory has a lubricating property, a fluorine-based gas or microparticulated C 50, C 60, C 70 , C 76, curved body memory device driven in C 84 based gas.
【請求項10】曲面体の表面上に単層の磁性膜または磁
性膜および非磁性膜からなる多層薄膜を形成し、いずれ
の場合も最上層にWS2 ,MoS2 等の固体潤滑膜を有
する曲面体メモリ装置。
10. A single-layer magnetic film or a multilayer thin film composed of a magnetic film and a non-magnetic film is formed on the surface of a curved body, and in each case, a solid lubricating film such as WS 2 or MoS 2 is provided as the uppermost layer. Curved body memory device.
【請求項11】請求項10において、前記固体潤滑膜に
気体潤滑または液体潤滑を併用してなる曲面体メモリ装
置。
11. The curved surface memory device according to claim 10, wherein the solid lubricating film is used in combination with gas lubrication or liquid lubrication.
【請求項12】請求項1乃至11のいずれか記載の曲面
体メモリ装置において、記憶部にアクセスするヘッド形
状は、曲面に合うように制御された平面のぞましくは曲
面を有する曲面体メモリ装置。
12. The curved surface memory device according to claim 1, wherein the head shape for accessing the storage portion has a flat surface, preferably a curved surface, which is controlled to match the curved surface. apparatus.
【請求項13】請求項1乃至12のいずれか記載の装置
において、多列する複数のヘッドを使用し、ヘッド形状
は曲面に合うように制御された三ケ月状の曲面を有する
曲面体メモリ装置。
13. The curved surface memory device according to claim 1, wherein a plurality of heads arranged in multiple rows are used, and the head shape has a crescent-shaped curved surface which is controlled so as to match the curved surface.
【請求項14】請求項13において、使用するヘッドは
少なくとも対または複数の対を伴って駆動制御される曲
面体メモリ装置。
14. The curved surface memory device according to claim 13, wherein the head to be used is drive-controlled with at least a pair or a plurality of pairs.
【請求項15】請求項13において、多列する複数の三
ケ月状の曲面を有するヘッドの構成が少なくとも対また
は複数の対を伴って駆動制御される曲面体メモリ装置。
15. The curved surface memory device according to claim 13, wherein the configuration of the head having a plurality of crescent-shaped curved surfaces arranged in multiple rows is drive-controlled with at least one pair or a plurality of pairs.
【請求項16】請求項12,13,14または15にお
いて、使用するヘッドは電磁コイル型または磁気抵抗変
換器またはGMR型である曲面体メモリ装置。
16. A curved surface memory device according to claim 12, 13, 14 or 15, wherein the head used is an electromagnetic coil type, a magnetoresistive converter or a GMR type.
【請求項17】請求項16において、上記曲面体メモリ
装置が複数個連動して用いられる曲面体メモリ装置。
17. The curved surface memory device according to claim 16, wherein a plurality of curved surface memory devices are used in conjunction with each other.
【請求項18】真空中で球体上に薄膜を形成する製膜シ
ステムにおいて、蒸着装置内の蒸発物やスパッタ蒸発時
さらには有効なガス等のプラズマ中を伝搬する粒子に波
動エネルギを印加しつつ、かつ縦波,横波,干渉波に伴
う電子,原子,分子,イオンさらには放電中に生じる光
子等粒子への変位、すなわち、粒子の配向性のぞましく
は球体に合う球面波すなわち波動エネルギ制御とを与え
る音波,超音波と電磁波との相互作用を伴って得られる
曲面体メモリ装置の製造方法。
18. In a film forming system for forming a thin film on a sphere in a vacuum, while applying wave energy to particles propagating in plasma such as vaporized substances in a vapor deposition apparatus and sputter vaporization, and effective gas. , And the displacement of electrons, atoms, molecules, ions, and photons such as photons generated during discharge due to longitudinal waves, transverse waves, and interference waves, that is, the orientation of the particles, or the spherical wave or wave energy that fits the sphere. A method for manufacturing a curved surface memory device, which is obtained by the interaction between a sound wave that gives control and an ultrasonic wave and an electromagnetic wave.
【請求項19】曲面上に薄膜を形成する方法において、
前記システムを、球面波すなわち波動エネルギ制御で表
面処理またはエネルギ注入することを特徴とする膜処理
方法。
19. A method of forming a thin film on a curved surface, comprising:
A film processing method, wherein the system is surface-treated or energy-injected by controlling spherical energy, that is, wave energy.
【請求項20】真空中で球体上に薄膜を形成する方法に
おいて、回転する球体上に波動エネルギ制御で順次膜形
成をすることを特徴とする膜形成方法。
20. A method of forming a thin film on a sphere in a vacuum, wherein the film is sequentially formed on a rotating sphere by controlling wave energy.
【請求項21】真空中で情報記録媒体基板上に直接また
は下地層,中間層を介して磁性薄膜を形成する薄膜磁気
記録媒体の製造方法において、前記下地層,中間層およ
び磁性薄膜の少なくとも一者を形成する際にプラズマ音
波のぞましくは音波CVD等を直接もしくは間接に与え
ることを特徴とする曲面体上の情報記録製膜製造方法。
21. A method of manufacturing a thin film magnetic recording medium, comprising forming a magnetic thin film directly on an information recording medium substrate in vacuum or via an underlayer and an intermediate layer, wherein at least one of the underlayer, the intermediate layer and the magnetic thin film. A method for producing an information recording film on a curved body, characterized by directly or indirectly applying plasma sound waves, preferably sound wave CVD or the like when forming a person.
【請求項22】請求項18,19,20または21にお
いて、波動エネルギすなわち音波・超音波を伴わない場
合には複数の蒸発部または複数個のスパッタ部を設けて
なる曲面体上の情報記録製膜製造方法。
22. The information recording product on a curved surface body according to claim 18, 19, 20 or 21, which is provided with a plurality of evaporation portions or a plurality of sputtering portions when wave energy, that is, sound waves and ultrasonic waves is not involved. Membrane manufacturing method.
【請求項23】請求項18,19,20,21または2
2の方法によって得られた前記曲面体上の情報記録膜と
ヘッドとを備えてなる曲面体記憶装置。
23. A method according to claim 18, 19, 20, 21 or 2.
A curved surface memory device comprising an information recording film on the curved surface obtained by the method 2 and a head.
【請求項24】請求項18,19,20または21にお
いて、少なくとも音波と電磁波との有効エネルギすなわ
ち種々の物質,基体,膜等に注入または波動として印加
せしめる曲面体メモリ製造用製膜装置。
24. The film forming apparatus for manufacturing a curved surface memory according to claim 18, 19, 20 or 21, wherein effective energy of at least a sound wave and an electromagnetic wave, that is, a material, a substrate, a film or the like is injected or applied as a wave.
【請求項25】請求項18乃至24のいずれかにおい
て、エネルギ注入すなわちメモリ化による同期化または
エネルギの量子化による同期化、のぞましくは、波動エ
ネルギによる同期信号化を記録媒体中に内在せしめた曲
面体上の情報記録媒体。
25. The recording medium according to any one of claims 18 to 24, wherein energy injection, that is, synchronization by memory formation or synchronization by energy quantization, preferably synchronization signal formation by wave energy is inherent in the recording medium. An information recording medium on a curved curved surface.
【請求項26】請求項2において、波動エネルギのぞま
しくは重畳・波動エネルギを注入した曲面体半導体メモ
リ。
26. A curved surface semiconductor memory according to claim 2, wherein wave energy, preferably superposition / wave energy, is injected.
【請求項27】請求項1のメモリ装置において、曲面上
の位置を示すためのアドレス情報またはトラッキング信
号等のプリフォーマット領域及びデータ記録領域をその
曲面上に設けてなる曲面体メモリ装置。
27. The curved surface memory device according to claim 1, wherein a preformatted area for address information or a tracking signal for indicating a position on a curved surface and a data recording area are provided on the curved surface.
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