JPH097210A - 対物レンズ及び光学ピックアップ - Google Patents
対物レンズ及び光学ピックアップInfo
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- JPH097210A JPH097210A JP7175406A JP17540695A JPH097210A JP H097210 A JPH097210 A JP H097210A JP 7175406 A JP7175406 A JP 7175406A JP 17540695 A JP17540695 A JP 17540695A JP H097210 A JPH097210 A JP H097210A
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- protective cover
- optical
- light
- optical disc
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/121—Protecting the head, e.g. against dust or impact with the record carrier
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 対物レンズの塵埃や汚れ等による光学特性の
劣化が防止されるようにした、対物レンズ及び光学ピッ
クアップを提供すること。 【構成】 発光手段からの光を光ディスク上に照射し且
つ光ディスクからの戻り光を光検出器に入射させる光学
ピックアップの対物レンズ14において、この対物レン
ズの表面を覆うための透明材料から成る保護カバー28
が備えられるように、対物レンズ14を構成する。
劣化が防止されるようにした、対物レンズ及び光学ピッ
クアップを提供すること。 【構成】 発光手段からの光を光ディスク上に照射し且
つ光ディスクからの戻り光を光検出器に入射させる光学
ピックアップの対物レンズ14において、この対物レン
ズの表面を覆うための透明材料から成る保護カバー28
が備えられるように、対物レンズ14を構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばミニディスク
(MD)・コンパクトディスク(CD)等の再生用また
は記録再生用の光学ピックアップと、例えばこの光学ピ
ックアップの光学系に好適に利用される対物レンズの保
護カバーに関するものである。
(MD)・コンパクトディスク(CD)等の再生用また
は記録再生用の光学ピックアップと、例えばこの光学ピ
ックアップの光学系に好適に利用される対物レンズの保
護カバーに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、コンパクトディスク用の光学ピッ
クアップは、例えば図8に示すように構成されている。
図8において、光学ピックアップ1は、光源となる半導
体レーザ2と、半導体レーザ2からの光を光ディスクD
に向かって反射させると共に光ディスクDからの戻り光
を透過するビームスプリッタ3と、ビームスプリッタ3
で反射された光ビームを光ディスクDの信号記録面に結
像させる対物レンズ4と、光ディスクDからの戻り光が
対物レンズ4及びビームスプリッタ3を介して結像され
る位置に配設された光検出器5と、対物レンズ4を情報
読出位置に設定する駆動手段(二軸アクチュエータ)6
と、上記各光学部品即ち半導体レーザ2,ビームスプリ
ッタ3,光検出器5が取り付けられるベース7と、ベー
ス7上の光学部品及び駆動手段6を覆うカバー8とを含
んでいる。
クアップは、例えば図8に示すように構成されている。
図8において、光学ピックアップ1は、光源となる半導
体レーザ2と、半導体レーザ2からの光を光ディスクD
に向かって反射させると共に光ディスクDからの戻り光
を透過するビームスプリッタ3と、ビームスプリッタ3
で反射された光ビームを光ディスクDの信号記録面に結
像させる対物レンズ4と、光ディスクDからの戻り光が
対物レンズ4及びビームスプリッタ3を介して結像され
る位置に配設された光検出器5と、対物レンズ4を情報
読出位置に設定する駆動手段(二軸アクチュエータ)6
と、上記各光学部品即ち半導体レーザ2,ビームスプリ
ッタ3,光検出器5が取り付けられるベース7と、ベー
ス7上の光学部品及び駆動手段6を覆うカバー8とを含
んでいる。
【0003】上記駆動手段である対物レンズアクチュエ
ータ6は、図9に示すように、対物レンズ4を保持する
ホルダー6aと、ホルダーを支持する支持部材6bと、
ホルダーを移動させるための電磁駆動機構6cと、対物
レンズ4の光軸を調整するための調整部材6dと、光学
ピックアップ1全体を光ディスクの半径方向に移動させ
るための送り機構6eとから構成されている。
ータ6は、図9に示すように、対物レンズ4を保持する
ホルダー6aと、ホルダーを支持する支持部材6bと、
ホルダーを移動させるための電磁駆動機構6cと、対物
レンズ4の光軸を調整するための調整部材6dと、光学
ピックアップ1全体を光ディスクの半径方向に移動させ
るための送り機構6eとから構成されている。
【0004】このように構成された光学ピックアップ1
によれば、半導体レーザ2から出射された光ビームL
は、ビームスプリッタ3により反射された後、対物レン
ズ4に入射し、対物レンズ4によって光ディスクDの信
号記録面に収束する。光ディスクDの信号記録面で反射
されレーザ光(戻り光)は、対物レンズ4を介してビー
ムスプリッタ3に入射し、このビームスプリッタ3を透
過して光検出器5に入射する。これにより、光検出器5
からの出力信号に基づいて、光ディスクDの再生信号及
びフォーカスエラー信号,トラッキングエラー信号が検
出される。そして、これらフォーカスエラー信号,トラ
ッキングエラー信号に基づいて、駆動手段6の電磁駆動
機構6cが適宜に制御されることにより、対物レンズ4
のフォーカシングサーボ及びトラッキングサーボが行な
われ、対物レンズ4は、光ディスクDの所望のトラック
に対して正確に位置決めされると共に、フォーカス調整
されることになる。
によれば、半導体レーザ2から出射された光ビームL
は、ビームスプリッタ3により反射された後、対物レン
ズ4に入射し、対物レンズ4によって光ディスクDの信
号記録面に収束する。光ディスクDの信号記録面で反射
されレーザ光(戻り光)は、対物レンズ4を介してビー
ムスプリッタ3に入射し、このビームスプリッタ3を透
過して光検出器5に入射する。これにより、光検出器5
からの出力信号に基づいて、光ディスクDの再生信号及
びフォーカスエラー信号,トラッキングエラー信号が検
出される。そして、これらフォーカスエラー信号,トラ
ッキングエラー信号に基づいて、駆動手段6の電磁駆動
機構6cが適宜に制御されることにより、対物レンズ4
のフォーカシングサーボ及びトラッキングサーボが行な
われ、対物レンズ4は、光ディスクDの所望のトラック
に対して正確に位置決めされると共に、フォーカス調整
されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
光学ピックアップ1を使用する再生用または記録再生用
の光ディスク装置は、その使用環境が多様であると共
に、一般的には光ディスクを上に且つ光学ピックアップ
を下に配置することが多いことから、対物レンズ4の上
面には、塵埃や汚れが付着し易い。対物レンズ4に塵埃
や汚れが付着すると、光学ピックアップの特性が劣化す
ることになり、環境変化に弱くなる等の弊害が生ずるこ
とから、最悪の場合には、記録・再生が不可能になって
しまうという問題があった。
光学ピックアップ1を使用する再生用または記録再生用
の光ディスク装置は、その使用環境が多様であると共
に、一般的には光ディスクを上に且つ光学ピックアップ
を下に配置することが多いことから、対物レンズ4の上
面には、塵埃や汚れが付着し易い。対物レンズ4に塵埃
や汚れが付着すると、光学ピックアップの特性が劣化す
ることになり、環境変化に弱くなる等の弊害が生ずるこ
とから、最悪の場合には、記録・再生が不可能になって
しまうという問題があった。
【0006】このため、光ディスクと同一形状のディス
クにクリーニング用のブラシを備えて、このディスクを
光ディスクの代わりに光ディスク装置に装填することに
より、対物レンズの表面の塵埃や汚れを取除いたり、あ
るいは布にアルコール等の洗浄液を滴下して、この布に
より対物レンズの表面を拭くことにより、塵埃や汚れの
除去が行なわれている。
クにクリーニング用のブラシを備えて、このディスクを
光ディスクの代わりに光ディスク装置に装填することに
より、対物レンズの表面の塵埃や汚れを取除いたり、あ
るいは布にアルコール等の洗浄液を滴下して、この布に
より対物レンズの表面を拭くことにより、塵埃や汚れの
除去が行なわれている。
【0007】しかしながら、特に最近の光ディスク装置
においては、光学ピックアップの対物レンズとして、プ
ラスチック製レンズが使用されていることが多いため、
上述したような機械的なクリーニングでは、対物レンズ
の表面が傷つく可能性が高く、また化学的なクリーニン
グでは、塵埃や汚れ等が完全に除去できないことにな
る。さらに、機械的クリーニングにおいては、駆動手段
6の支持部材6bを変形させることになり、光学ピック
アップ1の動作特性が劣化することがあるという問題が
あった。
においては、光学ピックアップの対物レンズとして、プ
ラスチック製レンズが使用されていることが多いため、
上述したような機械的なクリーニングでは、対物レンズ
の表面が傷つく可能性が高く、また化学的なクリーニン
グでは、塵埃や汚れ等が完全に除去できないことにな
る。さらに、機械的クリーニングにおいては、駆動手段
6の支持部材6bを変形させることになり、光学ピック
アップ1の動作特性が劣化することがあるという問題が
あった。
【0008】本発明は、以上の点に鑑み、対物レンズの
塵埃や汚れ等による光学特性の劣化が防止されるように
した、対物レンズ及びこれを利用した光学ピックアップ
を提供することを目的としている。
塵埃や汚れ等による光学特性の劣化が防止されるように
した、対物レンズ及びこれを利用した光学ピックアップ
を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、発光手段からの光を光ディスクの記録面に照射し
且つ光ディスクからの戻り光を光検出器に入射させる光
学ピックアップの対物レンズにおいて、この対物レンズ
の表面を覆うための透明材料から成る保護カバーが備え
られている、対物レンズにより、達成される。
れば、発光手段からの光を光ディスクの記録面に照射し
且つ光ディスクからの戻り光を光検出器に入射させる光
学ピックアップの対物レンズにおいて、この対物レンズ
の表面を覆うための透明材料から成る保護カバーが備え
られている、対物レンズにより、達成される。
【0010】また、上記目的は、本発明によれば、発光
手段と、発光手段からの光を光ディスク上に照射する対
物レンズと、この対物レンズを二軸方向に移動可能に支
持するアクチュエータと、光ディスクから対物レンズを
介して入射される戻り光を検出する光検出器とを含んで
おり、前記対物レンズの表面を覆うための透明薄板から
成る保護カバーが備えられている、光学ピックアップに
より、達成される。
手段と、発光手段からの光を光ディスク上に照射する対
物レンズと、この対物レンズを二軸方向に移動可能に支
持するアクチュエータと、光ディスクから対物レンズを
介して入射される戻り光を検出する光検出器とを含んで
おり、前記対物レンズの表面を覆うための透明薄板から
成る保護カバーが備えられている、光学ピックアップに
より、達成される。
【0011】
【作用】上記構成によれば、対物レンズの表面に、保護
カバーが備えられているので、対物レンズの表面には、
塵埃や汚れ等が付着するようなことはない。また、保護
カバーが着脱可能に固定保持されていることにより、保
護カバーの表面に塵埃や汚れ等が付着した場合には、保
護カバーを取り外して洗浄し、あるいは新しい保護カバ
ーと交換することにより、常に塵埃や汚れ等のない清浄
な保護カバーが備えられ得ることになる。
カバーが備えられているので、対物レンズの表面には、
塵埃や汚れ等が付着するようなことはない。また、保護
カバーが着脱可能に固定保持されていることにより、保
護カバーの表面に塵埃や汚れ等が付着した場合には、保
護カバーを取り外して洗浄し、あるいは新しい保護カバ
ーと交換することにより、常に塵埃や汚れ等のない清浄
な保護カバーが備えられ得ることになる。
【0012】
【実施例】以下、この発明の好適な実施例を図1乃至図
6を参照しながら、詳細に説明する。尚、以下に述べる
実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に
好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲
は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載
がない限り、これらの態様に限られるものではない。
6を参照しながら、詳細に説明する。尚、以下に述べる
実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に
好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲
は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載
がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【0013】図1及び図2は、本発明による対物レンズ
を備えた光学ピックアップの一実施例を示している。図
1及び図2において、光学ピックアップ10は、二軸ア
クチュエータ11,光軸調整部材12,ベース部13を
含んでいる。二軸アクチュエータ11は、そのベース1
1a(二軸ベース)が、光軸調整部材12を介してベー
ス部13に対してネジ等により固定されるようになって
いる。
を備えた光学ピックアップの一実施例を示している。図
1及び図2において、光学ピックアップ10は、二軸ア
クチュエータ11,光軸調整部材12,ベース部13を
含んでいる。二軸アクチュエータ11は、そのベース1
1a(二軸ベース)が、光軸調整部材12を介してベー
ス部13に対してネジ等により固定されるようになって
いる。
【0014】また、二軸アクチュエータ11は、ベース
11a,対物レンズ14を保持するホルダー15,電磁
駆動機構16,ホルダー15を支持する支持部材17を
含んでいる。二軸アクチュエータ11は、図2に示すよ
うに、防塵用のカバー18により覆われていて、対物レ
ンズ14はカバー18の孔18aに対応して配置されて
いる。カバー18は、電磁駆動機構16及び光学部品を
保護している。
11a,対物レンズ14を保持するホルダー15,電磁
駆動機構16,ホルダー15を支持する支持部材17を
含んでいる。二軸アクチュエータ11は、図2に示すよ
うに、防塵用のカバー18により覆われていて、対物レ
ンズ14はカバー18の孔18aに対応して配置されて
いる。カバー18は、電磁駆動機構16及び光学部品を
保護している。
【0015】図1の二軸アクチュエータ11における電
磁駆動機構16は、上記ホルダー15及び対物レンズ1
4をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動するた
めのものであり、以下のように構成されている。即ち、
図1及び図3に示すように、ホルダー15は、一対のフ
ォーカスコイル19と二組のトラッキングコイル20を
有している。これに対して、ベース11aは、一対のマ
グネット21及び一対のヨーク22を有している。
磁駆動機構16は、上記ホルダー15及び対物レンズ1
4をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動するた
めのものであり、以下のように構成されている。即ち、
図1及び図3に示すように、ホルダー15は、一対のフ
ォーカスコイル19と二組のトラッキングコイル20を
有している。これに対して、ベース11aは、一対のマ
グネット21及び一対のヨーク22を有している。
【0016】また、ホルダー15は対物レンズ14を保
持するものであり、二軸アクチュエータ11の支持部材
17のフォーカスヒンジ17a及びトラッキングヒンジ
17bを介して、固定部23に支持されている。二軸ア
クチュエータ11の支持部材17は、対物レンズ14を
光ディスクDの情報読出位置に設定するためのものであ
る。フォーカスコイル19は、図3において、線材を水
平方向に沿って巻回されることにより形成されている。
トラッキングコイル20は、このフォーカスコイル19
と直交する方向に巻回されている。
持するものであり、二軸アクチュエータ11の支持部材
17のフォーカスヒンジ17a及びトラッキングヒンジ
17bを介して、固定部23に支持されている。二軸ア
クチュエータ11の支持部材17は、対物レンズ14を
光ディスクDの情報読出位置に設定するためのものであ
る。フォーカスコイル19は、図3において、線材を水
平方向に沿って巻回されることにより形成されている。
トラッキングコイル20は、このフォーカスコイル19
と直交する方向に巻回されている。
【0017】フォーカスコイル19に通電することによ
り、図3に示すように、対物レンズ14を保持するホル
ダー15は、フォーカスヒンジ17aを介してフォーカ
ス方向Fcsに移動するようになっている。また、トラ
ッキングコイル20に通電することにより、ホルダー1
5及び対物レンズ14は、トラッキングヒンジ17bを
介してトラッキング方向Trkに移動するようになって
いる。
り、図3に示すように、対物レンズ14を保持するホル
ダー15は、フォーカスヒンジ17aを介してフォーカ
ス方向Fcsに移動するようになっている。また、トラ
ッキングコイル20に通電することにより、ホルダー1
5及び対物レンズ14は、トラッキングヒンジ17bを
介してトラッキング方向Trkに移動するようになって
いる。
【0018】図1の光軸調整部材12は、ベース11a
を一体的に取り付けることができるものであり、この光
軸調整部材12をベース部13に対して移動して位置決
めすることにより、光学ピックアップを構成する半導体
レーザ,ビームスプリッタ,光検出器等の光学部品(図
示せず)に対する対物レンズ14の光軸の位置が調整さ
れるようになっている。
を一体的に取り付けることができるものであり、この光
軸調整部材12をベース部13に対して移動して位置決
めすることにより、光学ピックアップを構成する半導体
レーザ,ビームスプリッタ,光検出器等の光学部品(図
示せず)に対する対物レンズ14の光軸の位置が調整さ
れるようになっている。
【0019】上記ベース部13は、送り機構部24を有
している。この送り機構部24は、ラック24aと案内
用の孔24bを有しており、この案内用の孔24bに
は、ガイド棒24cが挿入されている。ラック24a
は、図示しないピニオンに噛合するようになっており、
このピニオンが図示しないモータにより駆動されて、ベ
ース部13が、矢印FDに沿ってガイド棒24c上を移
動して、位置決めされるようになっている。これによ
り、ベース部13と一体である二軸アクチュエータ11
は、光ディスクDの半径方向に移動され、所望のトラッ
ク位置に対してアクセスされる。
している。この送り機構部24は、ラック24aと案内
用の孔24bを有しており、この案内用の孔24bに
は、ガイド棒24cが挿入されている。ラック24a
は、図示しないピニオンに噛合するようになっており、
このピニオンが図示しないモータにより駆動されて、ベ
ース部13が、矢印FDに沿ってガイド棒24c上を移
動して、位置決めされるようになっている。これによ
り、ベース部13と一体である二軸アクチュエータ11
は、光ディスクDの半径方向に移動され、所望のトラッ
ク位置に対してアクセスされる。
【0020】光学ピックアップ10の光学系は、以下の
ように構成されている。即ち、半導体レーザ25は、図
2において、ベース部13の壁部13aに固定されてい
る。半導体レーザ25から出射するレーザ光Lは、半透
過反射部品(ビームスプリッタ)26を介して対物レン
ズ14に経て、光ディスクDの信号記録面に結像するよ
うになっている。この光ディスクDの信号記録面で反射
されたレーザ光の戻り光は、逆方向を辿って対物レンズ
14,半透過反射部品26を介して、光検出器27に入
射できるようになっている。ここで、光検出器27は、
受光した戻り光に基づいて検出信号を図示しない制御装
置に出力し、制御装置は、光ディスクDに記録された信
号を再生することができる。
ように構成されている。即ち、半導体レーザ25は、図
2において、ベース部13の壁部13aに固定されてい
る。半導体レーザ25から出射するレーザ光Lは、半透
過反射部品(ビームスプリッタ)26を介して対物レン
ズ14に経て、光ディスクDの信号記録面に結像するよ
うになっている。この光ディスクDの信号記録面で反射
されたレーザ光の戻り光は、逆方向を辿って対物レンズ
14,半透過反射部品26を介して、光検出器27に入
射できるようになっている。ここで、光検出器27は、
受光した戻り光に基づいて検出信号を図示しない制御装
置に出力し、制御装置は、光ディスクDに記録された信
号を再生することができる。
【0021】さらに、本実施例による光学ピックアップ
10においては、上記対物レンズ14は、図3に示すよ
うに、その上面を覆うように配設された保護カバー28
を備えている。保護カバー28は、対物レンズ14の光
学特性を損なわないように、例えば使用する光源である
半導体レーザ25からのレーザ光に関して、光透過率が
少なくとも90%以上である光学材料、例えばアクリル
樹脂,ポリカーボネート,ポリスチレン等の光学プラス
チックから構成され、図3の実施例においては、薄板状
に形成されている。そして、この保護カバー28は、透
過波面収差の球面収差を除いた値である残存収差が、使
用する光源の波長に対して、0.01λ以下に設定され
ている。尚、保護カバー28は、光学ガラスから構成さ
れていてもよい。
10においては、上記対物レンズ14は、図3に示すよ
うに、その上面を覆うように配設された保護カバー28
を備えている。保護カバー28は、対物レンズ14の光
学特性を損なわないように、例えば使用する光源である
半導体レーザ25からのレーザ光に関して、光透過率が
少なくとも90%以上である光学材料、例えばアクリル
樹脂,ポリカーボネート,ポリスチレン等の光学プラス
チックから構成され、図3の実施例においては、薄板状
に形成されている。そして、この保護カバー28は、透
過波面収差の球面収差を除いた値である残存収差が、使
用する光源の波長に対して、0.01λ以下に設定され
ている。尚、保護カバー28は、光学ガラスから構成さ
れていてもよい。
【0022】上記保護カバー28は、その周囲に、下方
に延びる複数個の固定用の係合部28aを備えている。
各係合部28aは、その下端に、内側に向かって突出し
た係合爪28bを備えている。この場合、係合部28a
は、保護カバー28と一体に成形されているが、これに
限らず、光学プラスチックまたは光学ガラスから構成さ
れる保護カバー28に対して、構造用プラスチックから
構成されていてもよい。
に延びる複数個の固定用の係合部28aを備えている。
各係合部28aは、その下端に、内側に向かって突出し
た係合爪28bを備えている。この場合、係合部28a
は、保護カバー28と一体に成形されているが、これに
限らず、光学プラスチックまたは光学ガラスから構成さ
れる保護カバー28に対して、構造用プラスチックから
構成されていてもよい。
【0023】これに対して、対物レンズ14の外周縁に
は、図4に示すように、外側に突出した係合段部14a
が形成されている。これにより、保護カバー28は、上
方から対物レンズ14の上面に移動されると、その係合
部28aの先端の係合爪28bが、一端外側に変形した
後、対物レンズ14の係合段部14aに係合することに
より、対物レンズ14は、その上面が保護カバー28に
より覆われることになる。これにより、一般的な使用状
態である光ディスクDの下面に対して信号の記録・再生
を行なう場合に、対物レンズ14に対して上方から付着
する塵埃や、光ディスク装填時等における誤接触による
汚れに対して、対物レンズ14が保護されることにな
る。
は、図4に示すように、外側に突出した係合段部14a
が形成されている。これにより、保護カバー28は、上
方から対物レンズ14の上面に移動されると、その係合
部28aの先端の係合爪28bが、一端外側に変形した
後、対物レンズ14の係合段部14aに係合することに
より、対物レンズ14は、その上面が保護カバー28に
より覆われることになる。これにより、一般的な使用状
態である光ディスクDの下面に対して信号の記録・再生
を行なう場合に、対物レンズ14に対して上方から付着
する塵埃や、光ディスク装填時等における誤接触による
汚れに対して、対物レンズ14が保護されることにな
る。
【0024】従って、例えば長期間の使用や保存によ
り、保護カバー28の表面に塵埃が堆積したり、誤って
汚れが付着した場合には、保護カバー28が対物レンズ
14から取り外され、新しい保護カバー28が対物レン
ズ14に装着される。尚、上記保護カバー28は、その
係合部28aの係合爪28bが、対物レンズ14の外周
縁に設けられた係合段部14aに係合するようになって
いるが、これに限らず、例えば図5に示すように、係合
爪28bがホルダー15の周縁に設けられた係合溝15
a内に係合することにより、保護カバー28が対物レン
ズ14に対して間接的に固定保持されるようにしてもよ
い。
り、保護カバー28の表面に塵埃が堆積したり、誤って
汚れが付着した場合には、保護カバー28が対物レンズ
14から取り外され、新しい保護カバー28が対物レン
ズ14に装着される。尚、上記保護カバー28は、その
係合部28aの係合爪28bが、対物レンズ14の外周
縁に設けられた係合段部14aに係合するようになって
いるが、これに限らず、例えば図5に示すように、係合
爪28bがホルダー15の周縁に設けられた係合溝15
a内に係合することにより、保護カバー28が対物レン
ズ14に対して間接的に固定保持されるようにしてもよ
い。
【0025】本実施例による光学ピックアップ10は、
以上のように構成されており、半導体レーザ25から出
射されたレーザ光は、半透過反射部品26により反射さ
れて対物レンズ14に入射し、対物レンズ14により保
護カバー28を介して光ディスクDの信号記録面に収束
する。そして、光ディスク15の信号記録面で反射され
たレーザ光(戻り光)は、保護カバー28及び対物レン
ズ14を介して、さらに半透過反射部品26を透過し
て、光検出器27に入射する。これにより、光検出器2
7からの検出信号に基づいて、光ディスクDからの情報
信号とフォーカシングエラー信号及びトラッキングエラ
ー信号が検出されるようになっている。
以上のように構成されており、半導体レーザ25から出
射されたレーザ光は、半透過反射部品26により反射さ
れて対物レンズ14に入射し、対物レンズ14により保
護カバー28を介して光ディスクDの信号記録面に収束
する。そして、光ディスク15の信号記録面で反射され
たレーザ光(戻り光)は、保護カバー28及び対物レン
ズ14を介して、さらに半透過反射部品26を透過し
て、光検出器27に入射する。これにより、光検出器2
7からの検出信号に基づいて、光ディスクDからの情報
信号とフォーカシングエラー信号及びトラッキングエラ
ー信号が検出されるようになっている。
【0026】この場合、保護カバー28は、対物レンズ
14の光学特性を損なわないように構成されているの
で、従来の保護カバー28がない場合と同様に、光ディ
スクDからの戻り光の検出が行なわれ得る。さらに、対
物レンズ14の上面が、保護カバー28によって覆われ
ているので、塵埃や汚れが対物レンズ14の表面に付着
するようなことはなく、また保護カバー28の表面に塵
埃や汚れが付着した場合には、保護カバー28が新しい
ものと交換されることにより、容易に且つ迅速に塵埃や
汚れが除去されることになる。
14の光学特性を損なわないように構成されているの
で、従来の保護カバー28がない場合と同様に、光ディ
スクDからの戻り光の検出が行なわれ得る。さらに、対
物レンズ14の上面が、保護カバー28によって覆われ
ているので、塵埃や汚れが対物レンズ14の表面に付着
するようなことはなく、また保護カバー28の表面に塵
埃や汚れが付着した場合には、保護カバー28が新しい
ものと交換されることにより、容易に且つ迅速に塵埃や
汚れが除去されることになる。
【0027】ところで、半導体レーザ25から出射され
たレーザ光は、図6に図式的に示すように、対物レンズ
14により光ディスクDの信号記録面に収束するが、一
般的に半導体レーザ25は、その構造の点から、活性層
の方向に依存する非点隔差を有するので、出射ビームに
は非点収差が残存する。従って、図6に示すように、レ
ーザ光Lが光ディスクDの信号記録面に収束したとき、
そのスポットは円形にならなくなってしまう。また、ビ
ームスプリッタ26は、その取付の際あるいは外部温度
による変形によって、非点収差やコマ収差を発生する可
能性がある。
たレーザ光は、図6に図式的に示すように、対物レンズ
14により光ディスクDの信号記録面に収束するが、一
般的に半導体レーザ25は、その構造の点から、活性層
の方向に依存する非点隔差を有するので、出射ビームに
は非点収差が残存する。従って、図6に示すように、レ
ーザ光Lが光ディスクDの信号記録面に収束したとき、
そのスポットは円形にならなくなってしまう。また、ビ
ームスプリッタ26は、その取付の際あるいは外部温度
による変形によって、非点収差やコマ収差を発生する可
能性がある。
【0028】このため、本発明の他の実施例において
は、図7に示すように、保護カバー29は、対物レンズ
14の光軸に対して回転非対称な形状に、例えばシリン
ドリカルレンズとして形成される。これにより、上述し
た非点収差やコマ収差が補正されることになり、光ディ
スクDの信号記録面には円形のスポットが形成される。
かくして、光学ピックアップ10の特性が向上されるこ
とになる。
は、図7に示すように、保護カバー29は、対物レンズ
14の光軸に対して回転非対称な形状に、例えばシリン
ドリカルレンズとして形成される。これにより、上述し
た非点収差やコマ収差が補正されることになり、光ディ
スクDの信号記録面には円形のスポットが形成される。
かくして、光学ピックアップ10の特性が向上されるこ
とになる。
【0029】さらに、他の実施例によれば、その係合爪
と対物レンズもしくはホルダーの係合構造を変更して、
例えば対物レンズの周囲に複数の係合段部を設けるよう
にしてもよい。これにより、保護カバー29の係合爪
が、対物レンズ14の周囲に段階的に変位して係合する
ことで、対物レンズ14の光軸の周りに回転可能に固定
されるようにしてもよい。これにより、保護カバー29
を対物レンズ14の光軸の周りに回転させることによ
り、保護カバー29による非点収差及びコマ収差の補正
が、最小になるように調整される。尚、この保護カバー
29の回転調整の後、保護カバー29は、接着または熱
カシメ等によって固着されるようにしてもよい。
と対物レンズもしくはホルダーの係合構造を変更して、
例えば対物レンズの周囲に複数の係合段部を設けるよう
にしてもよい。これにより、保護カバー29の係合爪
が、対物レンズ14の周囲に段階的に変位して係合する
ことで、対物レンズ14の光軸の周りに回転可能に固定
されるようにしてもよい。これにより、保護カバー29
を対物レンズ14の光軸の周りに回転させることによ
り、保護カバー29による非点収差及びコマ収差の補正
が、最小になるように調整される。尚、この保護カバー
29の回転調整の後、保護カバー29は、接着または熱
カシメ等によって固着されるようにしてもよい。
【0030】上記実施例においては、保護カバー28,
29は、対物レンズ14の上面即ち光ディスクD側の面
に配設されているが、これに限らず、対物レンズ14の
任意の片面あるいは両面に配設されてもよい。さらに、
本発明は、光学ピックアップに限らず、塵埃や汚れの付
着により光学特性が劣化してしまうような他の任意の構
成の光学機器の対物レンズに適用することも可能であ
る。また、実施例においては、光ディスクが水平に配設
されている場合について説明したが、これに限らず、光
ディスクが垂直または斜めに配設され回転駆動される光
学ピックアップに本発明を適用することも可能である。
29は、対物レンズ14の上面即ち光ディスクD側の面
に配設されているが、これに限らず、対物レンズ14の
任意の片面あるいは両面に配設されてもよい。さらに、
本発明は、光学ピックアップに限らず、塵埃や汚れの付
着により光学特性が劣化してしまうような他の任意の構
成の光学機器の対物レンズに適用することも可能であ
る。また、実施例においては、光ディスクが水平に配設
されている場合について説明したが、これに限らず、光
ディスクが垂直または斜めに配設され回転駆動される光
学ピックアップに本発明を適用することも可能である。
【0031】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、対
物レンズの塵埃や汚れ等による光学特性の劣化が防止さ
れるようにした、対物レンズ及びこれを利用した光学ピ
ックアップが提供されることになる。
物レンズの塵埃や汚れ等による光学特性の劣化が防止さ
れるようにした、対物レンズ及びこれを利用した光学ピ
ックアップが提供されることになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による対物レンズの第一の実施例を備え
た光学ピックアップの構成を示す分解斜視図である。
た光学ピックアップの構成を示す分解斜視図である。
【図2】図1の光学ピックアップを組み立てた状態を示
す概略斜視図である。
す概略斜視図である。
【図3】図1の光学ピックアップの要部を示す概略斜視
図である。
図である。
【図4】図1の光学ピックアップにおける対物レンズの
拡大断面図である。
拡大断面図である。
【図5】本発明による対物レンズの第二の実施例の構成
を示す部分断面図である。
を示す部分断面図である。
【図6】図1の光学ピックアップにおける光源から光デ
ィスクまでの光路を示す概念図である。
ィスクまでの光路を示す概念図である。
【図7】本発明による対物レンズの第三の実施例による
図5と同様の概念図である。
図5と同様の概念図である。
【図8】従来の光学ピックアップの一例の構成を示す概
略斜視図である。
略斜視図である。
【図9】図8の光学ピックアップにおける駆動手段(二
軸アクチュエータ)の分解斜視図である。
軸アクチュエータ)の分解斜視図である。
10 光学ピックアップ 11 二軸アクチュエータ 12 光軸調整部材 13 ベース部 14 対物レンズ 14a 係合段部 15 ホルダー 15a 係合溝 16 電磁駆動機構 17 支持部材 18 カバー 19 フォーカスコイル 20 トラッキングコイル 21 マグネット 22 ヨーク 23 固定部 24 送り機構部 25 半導体レーザ 26 ビームスプリッタ 27 光検出器 28,29 保護カバー 28a 係合部 28b 係合爪
Claims (9)
- 【請求項1】 発光手段からの光を光ディスクの記録面
に照射し且つ光ディスクからの戻り光を光検出器に入射
させる光学ピックアップの対物レンズにおいて、 前記対物レンズの表面を覆うための透明材料から成る保
護カバーが備えられていることを特徴とする対物レン
ズ。 - 【請求項2】 前記保護カバーが、着脱可能な取付手段
により、対物レンズまたは対物レンズのホルダーに対し
て固定保持されることを特徴とする請求項1に記載の対
物レンズ。 - 【請求項3】 前記取付手段が、保護カバーに対して一
体に成形されていることを特徴とする請求項2に記載の
対物レンズ。 - 【請求項4】 前記保護カバーが、対物レンズの光学性
能に影響を与えないように、薄板状に形成されているこ
とを特徴とする請求項1に記載の対物レンズ。 - 【請求項5】 前記保護カバーの透過波面収差の球面収
差を除いた値である残存収差が、使用する光源の波長に
対して、0.01λ以下であることを特徴とする請求項
4に記載の対物レンズ。 - 【請求項6】 前記保護カバーが、対物レンズの光学性
能を改善または偏光するために、対物レンズの光軸に対
して回転非対称に形成されていて、且つ対物レンズの光
軸の周りに回動可能に固定保持されることを特徴とする
請求項1に記載の対物レンズ。 - 【請求項7】 前記保護カバーが、残像収差を除去する
ために、シリンドリカルレンズとして形成されているこ
とを特徴とする請求項6に記載の対物レンズ。 - 【請求項8】 対物レンズが、前記保護カバーにより生
ずる球面収差を補正するように、構成されていることを
特徴とする請求項1に記載の対物レンズ。 - 【請求項9】 発光手段と、 発光手段からの光を光ディスク上に照射する対物レンズ
と、 この対物レンズを二軸方向に移動可能に支持するアクチ
ュエータと、 光ディスクから対物レンズを介して入射される戻り光を
検出する光検出器と、を含んでおり、 前記対物レンズの表面を覆うための透明薄板から成る保
護カバーが備えられていることを特徴とする光学ピック
アップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7175406A JPH097210A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 対物レンズ及び光学ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7175406A JPH097210A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 対物レンズ及び光学ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097210A true JPH097210A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15995542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7175406A Pending JPH097210A (ja) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | 対物レンズ及び光学ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH097210A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100417336B1 (ko) * | 2001-12-28 | 2004-02-05 | 삼성전기주식회사 | 광픽업 액츄에이터용 렌즈 보호커버 |
| EP1482492A3 (en) * | 2003-05-31 | 2007-06-27 | Daewoo Electronics Corporation | Optical storage system |
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7175406A patent/JPH097210A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100417336B1 (ko) * | 2001-12-28 | 2004-02-05 | 삼성전기주식회사 | 광픽업 액츄에이터용 렌즈 보호커버 |
| EP1482492A3 (en) * | 2003-05-31 | 2007-06-27 | Daewoo Electronics Corporation | Optical storage system |
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