JPH0974156A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

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JPH0974156A
JPH0974156A JP22774395A JP22774395A JPH0974156A JP H0974156 A JPH0974156 A JP H0974156A JP 22774395 A JP22774395 A JP 22774395A JP 22774395 A JP22774395 A JP 22774395A JP H0974156 A JPH0974156 A JP H0974156A
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JP
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socket
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lead
wiring
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JP22774395A
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English (en)
Inventor
Yasunari Ogawa
康徳 小川
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 インダクタンス成分の小さい高周波用ICソ
ケットを提供する。 【解決手段】 IC受け部11dに塔載されるICパッ
ケージ13のリード13aとIC受け部の外側に設けら
れた配線部の配線11とを導通・接続させるコンタクト
ピン12cをICパッケージ13に冠着するカバー12
に備えたICソケットのコンタクトピン12cのカバー
部材からの支柱部分が弾性体からなり、かつその両端に
接触部を有し、カバー部材のICソケットへの冠着時に
接触部によって橋渡し的にリード13aと配線11aと
を押圧状に接続するもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はICソケットに関
し、特に配線の特性インピーダンス等の電気的特性の制
御を考慮したICソケットに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、ICパッケージのリード端子の表
面を覆っている自然酸化皮膜を確実に剥離させ電気的な
接続不良を回避するためのオープントップタイプのIC
ソケットの一例として、文献:実開平6−77254号
公報に開示されたものがある。
【0003】図6は上述の文献に提示されている従来の
ICソケットの構造説明図である。図6において、この
ICソケットは、ソケット本体1、カバー2及びコンタ
クトピン3によって構成されている。コンタクトピン3
は、ICのリード端子(図示せず)を下から支える受部
3eと、リード端子を上から押さえ付ける接触部3d
と、係合部3aの弾性復元力を増大させるための強制ピ
ン3bとからできており、ICのリード端子を接触部3
dと受部3eとの面で挾み込むことによって、リードと
コンタクトピン3の確実な接触を図っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
構成のような従来のICソケットでは、コンタクトピン
部の構造・構成が複雑であり、コスト高が避けられない
ばかりでなく、複雑なコンタクトピン構成は回路のイン
ダクタンス(L)成分の増大につながるという問題点が
指摘される。すなわち、最近のICを使用しての電子機
器において、特に高周波信号を扱う場合等においては、
上述のL成分の増大はリンギングなど波形劣化の原因と
なるため、その値をできる限り小さくしなければならな
いというのが、大きな課題となっている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係るICソケ
ットは、IC受け部に塔載されるICパッケージのリー
ドとIC受け部の外側に設けられた配線部の配線とを導
通・接続させるコンタクトピンをICパッケージに冠着
するカバー部材に備えたICソケットであって、コンタ
クトピンのカバー部材からの支柱部分が弾性体からな
り、かつその両端に接触部を有し、カバー部材のICソ
ケットへの冠着時に接触部によって橋渡し的にリードと
配線部とを押圧状に接続するものである。
【0006】ここで、接触部を備えたコンタクトピン
は、弾性体支柱に回転自在に軸止されていることが望ま
しい。また、別の態様として、接触部を備えたコンタク
トピンはマイクロストリップライン構成によって形成さ
れているものであってもよい。さらに、もう1つの態様
として、コンタクトピンは接触部を兼ねた平面形状が半
円形状の弾性体をカバー部材に係止したものであっても
よい。
【0007】この発明のもう1つの発明に係るICソケ
ットは、IC受け部に塔載されるICパッケージのリー
ドとIC受け部の外側に設けられた配線部の配線とを導
通・接続させるコンタクトピンをICパッケージに冠着
するカバー部材に備えたICソケットにおいて、コンタ
クトピンの両端に接触部を有し、コンタクトピンは支点
を軸に回転自在で、かつ、上下動の自由度を持ってひも
または棒によりカバー部材に固定され、コンタクトピン
とカバー部材との間に弾性体を有し、カバー部材のIC
ソケットへの冠着時に接触部によって橋渡し的にリード
と配線部とを押圧状に接続するものである。
【0008】ここで、この発明による上述のすべての構
成において、IC受け部の上面にリードの設置形状に合
わせ凹凸の段差を設け、ICパッケージ設置時にリード
が段差の凹部の溝にはまる構造とすることが好ましい。
【0009】この発明においては、もともと高周波信号
を通すために配線をマイクロストリップライン構造とし
たICソケットにおいて、ICパッケージのICリード
と配線部の配線とをICパッケージの搭載時に接続する
ために使用されるコンタクトピンをカバーに取り付けた
ものであって、コンタクトピンのカバー部材からの支柱
部分が弾性体からなり、かつその両端に接触部を有し、
カバー部材のICソケットへの冠着時に接触部によって
橋渡し的にリードと配線部とを押圧状に接続する構造と
しているから、上下動と回転の自由が得られ、ICリー
ドとソケット側配線との間に例えば多少の段差があって
も、その接触が確実なものとなる。そして、コンタクト
ピンは小形に形成することが可能であるので、回路のL
成分を低減するのに役立つ。
【0010】また、この発明の他の発明においては、接
触部を備えたコンタクトピンそのものをマイクロストリ
ップライン構成によって形成しているから、コンタクト
ピンるよる波形劣化の影響を最小限にすることが可能と
なる。
【0011】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)図1はこの発明によるICソケット
の第1の実施形態の要部を示す断面説明図であり、大き
く分けると、ICパッケージの受台11とカバー12と
で構成されている。図1において、受台11は高周波用
プリント基板を用いて構成し、その誘電体部11bは誘
電特性の優れているテフロンで形成し、表面配線部11
aと裏面配線部11cはいずれも金めっきを施した銅配
線としている。表面配線部11aはICパッケージ13
のICリード13aに接続するための配線であり、高周
波信号を通すためにインピーダンス50Ωのマイクロス
トリップライン構成とした。従って、裏面配線部11c
は全面をベタパターンとし、GNDに接地して使用する
ようになっている。
【0012】図示のように基板の受台11は、ICパッ
ケージ13を設置するためのIC受け部11dと配線部
11eとからなり、IC受け部11dの表面側には配線
を施さず、また配線部11eは各ICリード13aに対
応して配線パターンが形成されている。そして、ICリ
ード13aの端面と配線パターンの端面とは、できるだ
け近付けるように形成されている。なお、上述のマイク
ロストリップラインはマイクロストリップ線路ともいわ
れ、信号配線の下にグランド(GND)面を配置した構
造をいうものである。
【0013】カバー12はプラスチック製のカバー本体
12a、非導電性の弾性プラスチック製の支柱12b及
び金めっきを施した金属製のコンタクトピン12cから
構成されている。コンタクトピン12cは中央部の支点
で支柱12bによって係止され、支点を軸にして回転自
由度が与えられている。また、弾性のある支柱12bに
よって支えられているので、コンタクトピン12cはカ
バー本体12aに対して弾性押圧による上下動が可能で
ある。さらに、コンタクトピン12cの両端下部には、
ICリード13aと基板配線との接触をさせるために半
球形の突起が形成されている。そして、コンタクトピン
12cは全体の小形化が可能であり、この小形化によっ
て課題となっているL成分をより小さくすることが可能
なようになっている。
【0014】以上のような第1の実施形態の構成におい
て、受台11のIC受け部11dにICパッケージ13
を設置しカバー12を閉めると、コンタクトピン12c
の両端の突起がICリード13aと表面配線部11aと
に接触する。コンタクトピン12cには前述のように上
下動と回転の自由度があるので、ICリード13aと表
面配線部11aの高さが異なっていても、両端の接触を
確実にすることができる。この半田付けによらない接触
により、ICリード13aと表面配線部11aの確実な
電気的導通が行われる。また、カバー12を取り外すと
この導通は解除され、その状態でICパッケージ13を
取り外すことも容易である。
【0015】以上のように第1の実施形態によれば、コ
ンタクトピン12cをカバー12側に取り付け、上下動
と回転の自由度を付与したことにより、ICリード13
aと表面配線部11aの接触を確実にとることが可能と
なる効果が得られた。さらに、コンタクトピン12cは
構造的に小形化が可能であり、2mm以下の長さに形成
することは容易である。従って、コンタクトピン12c
のL成分はその長さにほぼ比例するため、L成分の低減
が期待できる。一般的な1nH/1mmという条件を使
用すれば、本実施形態におけるコンタクトピン12cの
L成分は2nH以下となり、通常ソケットにおける一般
的な値である10nHと比べて大幅なL成分低減が実現
できるようになる。
【0016】(第2の実施形態)本実施例では、第1の
実施形態に示したコンタクトピンの他の態様例について
示す。図2はこの発明によるICソケットのコンタクト
ピンの第2のの実施形態を示す断面説明図である。図2
に示すコンタクトピン23は、第1の実施形態のものよ
りL成分をさらに小さくする目的をもって案出されたも
ので、小さいテフロン基板23bを基体として形成され
たものである。コンタクトピン23の下部面はマイクロ
ストリップライン23cとし、その両端には接触を良く
するための半球状の金属ボール23dを設けている。テ
フロン基板23bの裏面はGNDベタ配線23aであ
る。このGNDベタ配線23aは、金属弾性バネ22を
介して、カバー本体21aの裏面に形成したGND金属
面21bと導通している。金属弾性バネ22は2本使用
して両端支持の構造とした。
【0017】以上のような第2の実施形態の構成におい
て、図1の実施形態におけるカバー12の代わりに、受
台11のIC受け部11dにICパッケージ13を設置
した状態で、カバー21を使用し、これを閉めていく
と、コンタクトピン23の両端の金属ボール23dがI
Cリード13aと表面配線部11aとに接触する。コン
タクトピン23には金属弾性バネ22により上下動の自
由度があるので、ICリード13aと表面配線部11a
の高さが異なっていても、両端の接触を確実にすること
ができる。この半田付けによらない接触により、ICリ
ード13aと表面配線部11aの確実な電気的導通が行
われる。また、カバー21を取り外すとこの導通は解除
され、その状態でICパッケージ13を取り外すことも
容易である。
【0018】以上のように第2の実施形態によれば、コ
ンタクトピン23を絶縁体のテフロン基板23bを基体
とするマイクロストリップライン構成としたため、第1
の実施例の場合よりも、インピーダンス不整合による波
形劣化の影響を低減できる効果が得られる。また、コン
タクトピン23の長さが多少長くなっても、インピーダ
ンス整合は保たれるので、特に無理をしてコンタクトピ
ンの小形化を図る必要がないという利点がある。さら
に、金属弾性バネ22は2点支持としているから、電気
的接触の確実性が高められる。
【0019】(第3の実施形態)図3はこの発明による
ICソケットのコンタクトピンの第3の実施形態を示す
断面説明図である。図3に見られるように、半円形状の
金属弾性バネからなるコンタクトピン32をカバー31
のカバー本体31aに取り付けたものでコンタクトピン
を構成している。
【0020】上述の第3の実施形態において、第1、第
2の実施形態の場合と同様に、図1の実施形態における
カバー12の代わりに、受台11のIC受け部11dに
ICパッケージ13を設置した状態で、カバー31を使
用し、これを閉めていくと、まず、コンタクトピン31
aの両端がICリード13aと表面配線部11aとに接
触する。さらに力が加わると、コンタクトピン31には
金属弾性バネにより上下動の自由度があるので、ICリ
ード13aと表面配線部11aの高さが異なっていて
も、両端が外側方向に広がる。このようにして、両端の
接触部が擦れるので、表面の汚れ(例えば自然酸化膜)
が削られ、ICリード13aと表面配線部11aのより
確実な電気的導通が行われる効果がある。また、カバー
31を取り外すとこの導通は解除され、その状態でIC
パッケージ13を取り外すことも容易である。
【0021】(第4の実施形態)図4はこの発明による
ICソケットのコンタクトピンの第4の実施形態を示
し、コンタクトピンの押さえつける力をゴムシートの弾
性力により得る構造としたものである。そして、図4は
ICソケットにICが設置された時のICリード接続部
付近の断面図を示すものである。図4において、カバー
42はプラスチック製のカバー本体42a、シリコンゴ
ム製の弾性ゴムシート42b、金めっきされた金属製の
コンタクトピン42c、プラスチック製のコンタクトピ
ンガイド42e及びひも状のシリコンゴムからなる支え
軸42dから構成されている。図5は図4の実施形態を
補足説明するための図であり、カバー本体42a、弾性
ゴムシート42b及びコンタクトピンガイド42eのI
Cソケット上部から見た平面図を示したものである。
【0022】図4及び図5において、コンタクトピン4
2cに設けられた穴に支え軸42dを通し、支え軸42
dをコンタクトピンガイド42eの支え軸受け溝42g
に嵌め込むことにより、コンタクトピン42cはコンタ
クトピンガイド42eのガイド穴42fに設置される。
このとき、コンタクトピン42c下部の両端の2つの突
起はコンタクトピンガイド42eよりも下方に飛び出て
いる。このような設置方法により、コンタクトピン42
cは支え軸42dを軸として回転自由度が与えられてい
る。さらに、コンタクトピン42cを支える支え軸42
dは例えば弾性のあるシリコンゴムひもであり、また、
コンタクトピン42cの穴が支え軸42dの径より大き
いことによる遊びのため、上下動が可能になっている。
この遊びが十分に得られる場合は、支え軸42dは弾性
を持つ必要はなく単にひも状または棒状のものであって
もかまわない。上下動以外の平面的な動きはコンタクト
ピンガイド42eのガイド穴42fにより最小限に抑え
られる。
【0023】受け台41は、基本的に第1の実施形態の
構造と同じであるが、本実施形態では、更にICのリー
ド曲がりを防止し、確実な接触が得られる機構を追加し
たものとしている。基板表面配線部41a、テフロンか
らなる基板材質部41b、基板裏面配線部(GND)4
1cは第1の実施形態で説明したマイクロストリップ基
板を構成し、41dは金属製の受け台本体、41eはテ
フロン製のIC受け部である。IC受け部41eはIC
のリード配列に合わせて凹凸を設けてリード設置溝41
fを形成し、ICパッケージ43を装着時にリート43
aがこの凹部にはまる構造となっている。
【0024】次に動作を説明する。IC受け部41eに
ICパッケージ43を設置しカバー42を閉めると、弾
性ゴムシート42bがコンタクトピン42cの上部を押
さえつけ、さらに、コンタクトピン42cの両端の突起
がリード43aと基板表面配線部41aに接触する。コ
ンタクトピン42cには上下動と回転の自由度があるの
で、リード43aと基板表面配線部41aの高さが異な
っていても、両端の突起には均等に力が加わり確実な接
触が得られる。また、弾性ゴムシート42bの弾性によ
り、どのコンタクトピン42cにも均等に力が加わり、
すべてのコンタクトピン42cで確実な接触が得られる
のである。
【0025】この半田付けによらない接触機構により、
リード43aと基板表面配線部41aの確実な電気的導
通が達成される。また、カバー42を取り外すことによ
ってこの導通は解除されるので、その状態でICパッケ
ージ43を取り外すことも容易である。
【0026】以上のように第4の実施形態によれば、弾
性ゴムシート42bによりICパッケージ43のすべて
のコンタクトピン42cを同時に押さえつける構造とし
たので、各コンタクトピンに独立した弾性体を設ける必
要がなくなり、第1の実施形態の場合よりも構造が簡素
化できるという効果が得られる。この簡素化により、I
Cリードの狭ピッチ化にも対応可能となり、また、IC
ソケットのコスト減や信頼性向上が期待できる。さら
に、IC受け部41eにICパッケージ43のリード4
3aの形状に合わせて凹凸のくぼみ(溝等)を設けたこ
とにより、ICパッケージ43の設置時の位置決めを確
実に行うことが可能となり、カバー42の開閉時におけ
るICリード曲がりも防止できる利点がある。
【0027】上述の第1〜第4の実施形態では、この発
明によるICソケットを特に高周波回路に使用する場合
について説明したが、この発明のICソケットは高周波
の用途に限定されず、その電気的接続の確実性を利用し
て、例えばICテスト(ICの不良検査)装置等のIC
ソケット類にも幅広く使用できる。
【0028】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、IC受け部に塔載されるICパッケージに冠着する
カバー部材に備えたICソケットのコンタクトピンのカ
バー部材からの支柱部分が弾性体からなり、かつその両
端に接触部を有し、上述のコンタクトピンの接触部又は
マイクロストリップライン構造によって形成されたコン
タクトピンの接触部を備えたものとし、カバー部材のI
Cソケットへの冠着時に、このコンタクトピンによって
橋渡し的にリードと配線部とを押圧状に接続するので、
弾性による押圧によって接触・接続が確実になるばかり
でなく、回路的にL成分が低減された低インダクタンス
のICソケットが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるICソケットの第1の実施形態
の要部を示す断面説明図である。
【図2】この発明によるICソケットのコンタクトピン
の第2の実施形態を示す断面説明図である。
【図3】この発明によるICソケットのコンタクトピン
の第3の実施形態を示す断面説明図である。
【図4】この発明によるICソケットのコンタクトピン
の第4の実施形態を示断面説明図である。
【図5】図4の実施形態を補足説明するための図であ
る。
【図6】従来のICソケットの構造説明図である。
【符号の説明】
1 ICソケット 2 カバー 3 コンタクトピン 3a 係合部 3b 強制ピン 3d 接触部 3e 受部 11 受台 11a 表面配線部 11b 誘電体部 11c 裏面配線部 11d IC受け部 11e 配線部 12,21,31 カバー 12a,31a カバー本体 12b 支柱 12c,23,32 コンタクトピン 13 ICパッケージ 13a ICリード 21a カバー本体 21b GND金属面 22 金属弾性バネ 23a GNDベタ配線 23b テフロン基板 23c マイクロストリップライン 23d 金属ボール 41 受け台 41a 基板表面配線部 41b 基板材質部 41c 基板裏面配線部 41d 受け台本体 41e IC受け部 41f リード設置溝 42 カバー 42a カバー本体 42b 弾性ゴムシート 42c コンタクトピン 42d 支え軸 42e コンタクトピンガイド 42f ガイド穴 43 ICパッケージ 43a リード

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 IC受け部に塔載されるICパッケージ
    のリードと前記IC受け部の外側に設けられた配線部の
    配線とを導通・接続させるコンタクトピンを前記ICパ
    ッケージに冠着するカバー部材に備えたICソケットに
    おいて、 前記コンタクトピンの前記カバー部材らの支柱部分が弾
    性体からなり、かつその両端に接触部を有し、前記カバ
    ー部材の前記ICソケットへの冠着時に前記接触部によ
    って橋渡し的に前記リードと前記配線部とを押圧状に接
    続することを特徴とするICソケット。
  2. 【請求項2】 前記接触部を備えた前記コンタクトピン
    は、弾性体支柱に回転自在に軸止されていることを特徴
    とする請求項1記載のICソケット。
  3. 【請求項3】 前記接触部を備えた前記コンタクトピン
    はマイクロストリップライン構成によって形成されてい
    ることを特徴とする請求項1記載のICソケット。
  4. 【請求項4】 前記コンタクトピンは前記接触部を兼ね
    た半円形状の弾性体を前記カバー部材に係止したもので
    あることを特徴とする請求項1記載のICソケット。
  5. 【請求項5】 IC受け部に塔載されるICパッケージ
    のリードと前記IC受け部の外側に設けられた配線部の
    配線とを導通・接続させるコンタクトピンを前記ICパ
    ッケージに冠着するカバー部材に備えたICソケットに
    おいて、 前記コンタクトピンの両端に接触部を有し、前記コンタ
    クトピンは支点を軸に回転自在で、かつ、上下動の自由
    度を持ってひもまたは棒により前記カバー部材に固定さ
    れ、前記コンタクトピンと前記カバー部材との間に弾性
    体を有し、前記カバー部材の前記ICソケットへの冠着
    時に前記接触部によって橋渡し的に前記リードと前記配
    線部とを押圧状に接続することを特徴とするICソケッ
    ト。
  6. 【請求項6】 前記IC受け部の上面に前記リードの設
    置形状に合わせ凹凸の段差を設け、前記ICパッケージ
    設置時に前記リードが凹部の溝にはまる構造としたこと
    を特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載のI
    Cソケット。
JP22774395A 1995-09-05 1995-09-05 Icソケット Pending JPH0974156A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11162605A (ja) * 1997-11-25 1999-06-18 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
JP2008066195A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Fujitsu Access Ltd 半導体集積回路部品のソケット機構
CN118794664A (zh) * 2024-09-12 2024-10-18 武汉精立电子技术有限公司 一种vr模组的压接机构及测试方法

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