JPH097925A - 基板冷却装置 - Google Patents
基板冷却装置Info
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- JPH097925A JPH097925A JP7154701A JP15470195A JPH097925A JP H097925 A JPH097925 A JP H097925A JP 7154701 A JP7154701 A JP 7154701A JP 15470195 A JP15470195 A JP 15470195A JP H097925 A JPH097925 A JP H097925A
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
度が上昇するのを防止して、短時間で、しかも優れた温
調精度で基板を冷却することができる基板冷却装置を提
供する。 【構成】 処理空間SPに面するユニットカバー2の内
面2aに熱吸収層4が形成される。この熱吸収層4は、
アルミニウムよりも大きな熱の吸収率を有しており、基
板3からの輻射熱を効率良く吸収する。また、ユニット
カバー2の外面2bに冷却フィン5が取り付けられると
ともに、排気ユニットがカバー6と、ユニットカバー2
および冷却フィン5との間の気流経路7に接続され排気
する。これにより、吸収された熱をユニットカバー2の
外面2bおよび冷却フィン5により効率良く処理空間外
に放熱する。また、処理空間SP内で下方から上方への
気流9が形成され、基板表面近傍の高温雰囲気をユニッ
トカバー2の外に除去する。
Description
基板や液晶用ガラス基板などの薄板状基板(以下、単に
「基板」という。)を冷却するための基板冷却装置に関
する。
ソグラフィー工程においては、ガラス基板表面に塗布さ
れたレジストを乾燥するため、当該基板をホットプレー
トなどの発熱体を備えた加熱装置上に載置して加熱して
高温で熱処理し、その後常温に冷却する工程が含まれ
る。このような冷却工程においては、図3に示すような
基板冷却装置が用いられている。
である。この基板冷却装置は、同図に示すように、アル
ミニウムなどの金属で形成された載置台(冷却プレー
ト)1と、その載置台1上に配置されて載置台1との間
で処理空間SPを形成するユニットカバー2とを備えて
いる。この基板冷却装置では、高温の基板3を載置台1
に直接載置するとともに、その基板3を覆うようにユニ
ットカバー2を載置台1上に配置して処理空間SP内で
基板3の冷却処理を行う。具体的には、ペルチェ素子や
冷却水を利用して当該基板を高温から所定の温度、例え
ば100℃から23℃までに冷却する。
にして高温の基板3を冷却している間に、冷却処理中の
基板3からの輻射熱がユニットカバー2に蓄熱される。
このため、載置台1とユニットカバー2とで形成される
処理空間SPの雰囲気温度が載置台1の設定温度よりも
高くなり、基板3の温調精度の悪化を招いたり、目的の
温度にまで基板3を冷却するのに要する処理時間が長く
なってスループットに対して悪影響を及ぼすなどの問題
が生じている。
基板からの輻射熱により処理空間の雰囲気温度が上昇す
るのを防止して、短時間で、しかも優れた温調精度で基
板を冷却することができる基板冷却装置を提供すること
を目的とするものである。
台と、前記載置台の少なくとも上面を覆うように配置さ
れて前記載置台との間で処理空間を形成する第1カバー
手段とを備え、前記処理空間内で基板を前記載置台の前
記上面に直接もしくは所定の間隔をおいて載置して当該
基板を冷却する基板冷却装置であって、上記目的を達成
するため、前記処理空間に面する前記第1カバー手段の
内面に、熱の吸収率が前記第1カバー手段より高い物質
で構成された熱吸収層を形成し、前記第1カバー手段の
外面に冷却フィンを設けるとともに、前記第1カバー手
段の底部あるいは側面部から前記処理空間に向けて気体
を導入する一方、前記第1カバー手段の上面に設けられ
た排気口を介して前記処理空間内の気体を排気して、前
記処理空間内に下方から上方への気流を形成している。
よび前記冷却フィンを取り囲むように配置されて前記第
1カバー手段および前記冷却フィンとの間で気流経路を
形成する第2カバー手段と、前記気流経路に接続されて
当該気流経路内を強制的に排気する強制排気手段と、を
さらに備えている。
らなる熱吸収層が、処理空間に面する第1カバー手段の
内面に形成されて、基板からの輻射熱を効率良く吸収す
る。しかも、こうして吸収された熱は、第1カバー手段
の外面および当該外面に取り付けられた冷却フィンによ
り効率良く処理空間外に放熱される。このため、処理空
間の雰囲気温度の上昇が抑えられる。
となるが、処理空間内で下方から上方への気流を形成し
たことで、その気流に乗って高温雰囲気が第1カバー手
段の上面に設けられた排気口を介して外部に除去され
る。
1カバー手段および冷却フィンを取り囲むように配置さ
れて第1カバー手段などとの間で気流経路を形成してい
る。そして、この気流経路に強制排気手段が接続されて
当該気流経路内を排気して気流経路内に空気の流れを形
成する。このため、第1カバー手段および冷却フィンに
よる放熱が促進されて処理空間の雰囲気温度の上昇をよ
り効果的に抑制することができる。
は気流経路に沿って第2カバー手段の外部に除去され
る。
に説明するが、これにより本発明の技術的範囲が制限さ
れるものではない。
一実施例を示す断面図である。この基板冷却装置は、同
図に示すように、アルミニウムなどの金属で形成された
載置台(冷却プレート)1と、その載置台1を取り囲む
ように配置されて載置台1との間で処理空間SPを形成
するユニットカバー(第1カバー手段)2と、さらにユ
ニットカバー2を取り囲むように配置されてユニットカ
バー2および冷却フィン5との間で気流経路7を形成す
る別のカバー(第2カバー手段)6と、この気流経路7
に接続されて当該気流経路7内を強制的に排気する排気
ユニット(図示省略)とを備えている。
2に示すように、処理空間SPに面するユニットカバー
2の内面2aに熱吸収層4が形成されている。この実施
例では、ユニットカバー2はアルミニウムで形成されて
おり、特定の溶液(例えば硫酸溶液やしゅう酸溶液)中
での陽極電解によりユニットカバー2の内面2aに黒色
酸化皮膜(通称:黒アルマイト皮膜)を形成し、これを
熱吸収層4としている。このようにして形成された熱吸
収層(黒色酸化皮膜)4はアルミニウムよりも大きな熱
の吸収率を有しており、基板3からの輻射熱を効率良く
吸収することができる。なお、ここで、「熱の吸収率」
とは、与えられた面に投射される熱放射のエネルギーの
うち、その面に吸収されて熱となるものの割合をいう。
なお、この実施例では、黒色酸化皮膜により熱吸収層4
を形成しているが、これ以外に黒鉛板材により構成した
り、ユニットカバー2の内面2aを塗装する等により、
当該熱吸収層4の熱の吸収率をユニットカバー2のそれ
よりも大きくすることで、上記実施例と同様に、基板3
からの輻射熱を効率良く吸収することができる。
の外面2bに冷却フィン5が取り付けられている。この
ように冷却フィン5を取り付けることで、放熱表面積が
大きくなり、ユニットカバー2から熱を効率良く処理空
間SPの外側に放熱することができる。なお、冷却フィ
ン5の形状や枚数などは任意である。
素ガス(N2)が処理空間SPに導入されている。しか
も、ユニットカバー2の上面2dには複数の排気口8が
形成されているので、処理空間SP内に導入された窒素
ガスは排気口8に向けて流れ、その結果、処理空間SP
内に下方から上方への気流9が形成される。ここで、処
理空間SP内に気流が形成されていない場合には、冷却
中の基板3の表面近傍に形成される比較的高温の雰囲気
が基板表面近傍に残ったままとなり、冷却処理の妨げの
要因となる。これに対して、上記のようにして処理空間
SP内に下方から上方への気流9を形成することで、そ
の気流9に乗って高温雰囲気をユニットカバー2の上面
2dに形成された排気口8を介して処理空間SPの外部
に除去することができ、基板3をより効率良く冷却する
ことができる。
ットカバー2および冷却フィン5との間で気流経路7を
形成しているので、この気流経路7に接続された排気ユ
ニットを作動させて、排気口8を介して除去された高温
雰囲気をさらにカバー6の上面に設けられた排気口10
を介してカバー6外に排気除去することができる。ま
た、排気ユニットの作動により、気流経路7内において
も、排気口10に向けての気流11が形成され、ユニッ
トカバー2の外面2bおよび冷却フィン5に当たりなが
ら、排気ユニット側に排気される。このため、ユニット
カバー2の外面2bおよび冷却フィン5からの放熱をよ
り効果的に行うことができる。
装置によれば、ユニットカバー2の内面2aに熱吸収層
4を形成して処理空間SP内の基板3からの輻射熱を効
率良く吸収するとともに、ユニットカバー2の外面2b
および冷却フィン5から効率良く放熱するようにしてい
るのに加え、処理空間SP内に下方から上方への気流9
を形成して基板3の表面近傍の高温雰囲気を処理空間S
Pの外部に除去するので、基板3からの輻射熱を効率良
く処理空間SPの外側に放熱することができ、処理空間
SP内の雰囲気温度の上昇を抑えることができる。その
結果、高温の基板3を短時間で、しかも優れた温調精度
で所定の目的温度に冷却することができる。
および冷却フィン5を全体的に別のカバー6で覆って気
流経路7を形成するとともに、排気ユニットにより気流
経路7に沿って気流11を形成しているが、これらの構
成は必須の構成要素というわけではない。ただし、放熱
効率を考慮した場合には、これらの構成を設けるのが好
適である。
がアルミニウムで形成されている場合について説明した
が、ステンレス鋼などの別の金属材料で形成されている
場合についても同様にユニットカバー2の内面2aに熱
吸収層4を設ければ良く、同様の効果が得られる。
の底部2cから窒素ガス(N2)を処理空間SPに導入
しているが、導入位置はこれに限定されるものではな
く、例えばユニットカバー2の側面部に設けても良く、
また導入する気体についても窒素ガスに限定されるもの
ではなく、窒素ガスの代わりに、例えば空気や不活性ガ
スなどを導入して下方から上方への気流9を形成するよ
うにしてもよい。
で載置台1全体を覆って処理空間SPを形成している
が、載置台1の上面にユニットカバー2を配置して処理
空間SPを形成するようにしてもよく、要は載置台1の
少なくとも上面を覆うようにユニットカバー2を配置し
て処理空間SPを形成するようにすればよい。
置面に直接載置するタイプの基板冷却装置のみならず、
プロキシミティピンなどにより基板3を当該載置面から
少し離した状態で水平に保持して冷却する基板冷却装置
に対しても適用することができる。
れば、熱の吸収率が高い物質からなる熱吸収層を、処理
空間に面する第1カバー手段の内面に形成して基板から
の輻射熱を効率良く吸収するとともに、吸収された熱を
第1カバー手段の外面および当該外面に取り付けられた
冷却フィンにより効率良く処理空間外に放熱するように
している。また、処理空間内で下方から上方への気流を
形成し、その気流に乗って高温雰囲気が第1カバー手段
の上面に設けられた排気口を介して外部に除去するよう
にしている。そのため、処理空間の雰囲気温度の上昇を
抑えることができ、その結果、高温の基板を短時間で、
しかも優れた温調精度で冷却することができる。
を第1カバー手段および冷却フィンを取り囲むように配
置して第1カバー手段などとの間で気流経路を形成する
とともに、この気流経路に強制排気手段を接続し、当該
気流経路内を排気して気流経路内に空気の流れを形成し
ているので、第1カバー手段の外面および冷却フィンに
よる放熱が促進されて処理空間の雰囲気温度の上昇をよ
り効果的に抑制することができる。その結果、請求項1
の発明の場合よりも、より短時間で、しかもより高精度
で基板を冷却することができる。
す断面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 載置台と、前記載置台の少なくとも上面
を覆うように配置されて前記載置台との間で処理空間を
形成する第1カバー手段とを備え、前記処理空間内で基
板を前記載置台の前記上面に直接もしくは所定の間隔を
おいて載置して当該基板を冷却する基板冷却装置におい
て、 前記処理空間に面する前記第1カバー手段の内面に、熱
の吸収率が前記第1カバー手段より高い物質で構成され
た熱吸収層が形成され、 前記第1カバー手段の外面に冷却フィンが設けられると
ともに、 前記第1カバー手段の底部あるいは側面部から前記処理
空間に向けて気体を導入する一方、前記第1カバー手段
の上面に設けられた排気口を介して前記処理空間内の気
体を排気して、前記処理空間内に下方から上方への気流
が形成されたことを特徴とする基板冷却装置。 - 【請求項2】 前記第1カバー手段および前記冷却フィ
ンを取り囲むように配置されて前記第1カバー手段およ
び前記冷却フィンとの間で気流経路を形成する第2カバ
ー手段と、 前記気流経路に接続されて当該気流経路内を強制的に排
気する強制排気手段と、をさらに備える請求項1記載の
基板冷却装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15470195A JP3364055B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 基板冷却装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15470195A JP3364055B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 基板冷却装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097925A true JPH097925A (ja) | 1997-01-10 |
| JP3364055B2 JP3364055B2 (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=15590066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15470195A Expired - Fee Related JP3364055B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 基板冷却装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3364055B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013044044A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-03-04 | Ihi Corp | アレイアンテナ式のcvdプラズマ装置 |
| TWI391794B (zh) * | 2007-02-19 | 2013-04-01 | 東京威力科創股份有限公司 | 基板處理裝置 |
-
1995
- 1995-06-21 JP JP15470195A patent/JP3364055B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI391794B (zh) * | 2007-02-19 | 2013-04-01 | 東京威力科創股份有限公司 | 基板處理裝置 |
| JP2013044044A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-03-04 | Ihi Corp | アレイアンテナ式のcvdプラズマ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3364055B2 (ja) | 2003-01-08 |
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