JPH0980401A - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその製造方法Info
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- JPH0980401A JPH0980401A JP7237490A JP23749095A JPH0980401A JP H0980401 A JPH0980401 A JP H0980401A JP 7237490 A JP7237490 A JP 7237490A JP 23749095 A JP23749095 A JP 23749095A JP H0980401 A JPH0980401 A JP H0980401A
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- Japan
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- ultraviolet light
- pixel electrode
- film
- light shielding
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 特性の優れた透明画素電極、液晶マイクロカ
プセル層を有する液晶表示装置を提供する。 【解決手段】 液晶表示装置は、絶縁基板上に薄膜トラ
ンジスタと、信号線と、走査線とが形成されたアレイ基
板と、このアレイ基板上に形成された絶縁膜と、絶縁膜
上に形成され、対応する前記薄膜トランジスタのソース
電極或いはドレイン電極の一方と電気的に接続された所
定形状の第1の画素電極と、第1の画素電極の上側から
絶縁膜上に形成された第1の液晶マイクロカプセル層
と、この液晶マイクロカプセル層上に形成された紫外線
遮光膜と、紫外線遮光膜上に形成され、対応する薄膜ト
ランジスタのソース電極或いはドレイン電極の他方と電
気的に接続された所定形状の第2の画素電極と、第2の
画素電極の上側から紫外線遮光膜上に形成された第2の
液晶マイクロカプセル層とを具備する。
プセル層を有する液晶表示装置を提供する。 【解決手段】 液晶表示装置は、絶縁基板上に薄膜トラ
ンジスタと、信号線と、走査線とが形成されたアレイ基
板と、このアレイ基板上に形成された絶縁膜と、絶縁膜
上に形成され、対応する前記薄膜トランジスタのソース
電極或いはドレイン電極の一方と電気的に接続された所
定形状の第1の画素電極と、第1の画素電極の上側から
絶縁膜上に形成された第1の液晶マイクロカプセル層
と、この液晶マイクロカプセル層上に形成された紫外線
遮光膜と、紫外線遮光膜上に形成され、対応する薄膜ト
ランジスタのソース電極或いはドレイン電極の他方と電
気的に接続された所定形状の第2の画素電極と、第2の
画素電極の上側から紫外線遮光膜上に形成された第2の
液晶マイクロカプセル層とを具備する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はポリマーマトリクス
に液晶分散させた液晶マイクロカプセル層を光バルブと
して用いた液晶表示装置に関する。
に液晶分散させた液晶マイクロカプセル層を光バルブと
して用いた液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】表示装置は、パソコン・ワープロ・EW
SなどのOA用表示装置、電卓・電子ブック・電子手帳
・PDA用の表示装置、携帯テレビ・携帯電話・携帯F
AXなどの表示装置など多方面で用いられている。この
ような表示装置は、例えばバッテリー駆動する等の必要
から消費電力の小さな表示装置が求められており、液晶
表示装置は低消費電力であることから広く実用化されて
いる。とりわけ携帯用情報機器の表示装置としては、バ
ックライトのいらない反射型液晶表示装置が適してい
る。
SなどのOA用表示装置、電卓・電子ブック・電子手帳
・PDA用の表示装置、携帯テレビ・携帯電話・携帯F
AXなどの表示装置など多方面で用いられている。この
ような表示装置は、例えばバッテリー駆動する等の必要
から消費電力の小さな表示装置が求められており、液晶
表示装置は低消費電力であることから広く実用化されて
いる。とりわけ携帯用情報機器の表示装置としては、バ
ックライトのいらない反射型液晶表示装置が適してい
る。
【0003】しかしながら従来の反射型液晶表示装置
は、反射率、コントラスト比を高くしようとすると消費
電力も高くなり、明るいペーパーホワイトな表示はでき
ず、また鮮やかなカラー表示もできなかった。
は、反射率、コントラスト比を高くしようとすると消費
電力も高くなり、明るいペーパーホワイトな表示はでき
ず、また鮮やかなカラー表示もできなかった。
【0004】液晶マイクロカプセル層とは、高分子膜で
あるマイクロカプセル内に液晶が分散されたものであ
る。液晶マイクロカプセル層はこの液晶マイクロカプセ
ルを層状に形成したものである。
あるマイクロカプセル内に液晶が分散されたものであ
る。液晶マイクロカプセル層はこの液晶マイクロカプセ
ルを層状に形成したものである。
【0005】図13はこのような液晶マイクロカプセル
を採用した従来の反射型液晶表示装置の構造の1例を示
す斜視図であり、1画素部分を取り出して示している。
を採用した従来の反射型液晶表示装置の構造の1例を示
す斜視図であり、1画素部分を取り出して示している。
【0006】一画素内にはカラー表示を可能にするため
の、例えばシアン、マゼンタ、イエロー色素を含有する
三層の液晶マイクロカプセル1301に対応して、3個
のTFT1302と、1本の走査線1303と、3本の
信号線1304とが形成されている。各信号線1304
に送られた信号は、TFT1301、導体柱1305を
経て反射画素電極1306や透明画素電極1307に伝
えられ、光バルブである各液晶マイクロカプセル130
1に電圧を印加する。
の、例えばシアン、マゼンタ、イエロー色素を含有する
三層の液晶マイクロカプセル1301に対応して、3個
のTFT1302と、1本の走査線1303と、3本の
信号線1304とが形成されている。各信号線1304
に送られた信号は、TFT1301、導体柱1305を
経て反射画素電極1306や透明画素電極1307に伝
えられ、光バルブである各液晶マイクロカプセル130
1に電圧を印加する。
【0007】このような液晶表示装置を製造する際に、
ITO等の透明画素電極を成膜する手法としてはスパッ
タ法がよく知られている。しかし、例えば図13に例示
した液晶表示装置を実際に製造しようとすると、真空中
での液晶マイクロカプセルから残留溶剤等の脱ガスによ
り、ITO膜の光透過率の低下、白濁、密着性の低下等
の膜質の劣化するという問題がある。
ITO等の透明画素電極を成膜する手法としてはスパッ
タ法がよく知られている。しかし、例えば図13に例示
した液晶表示装置を実際に製造しようとすると、真空中
での液晶マイクロカプセルから残留溶剤等の脱ガスによ
り、ITO膜の光透過率の低下、白濁、密着性の低下等
の膜質の劣化するという問題がある。
【0008】また、スパッタ時や露光時などに紫外線お
よびプラズマからのダメージにより液晶マイクロカプセ
ル中の液晶分子或いは色素の特性が劣化してしまうとい
う問題がある。 また、ITO膜は光透過率の低下を抑
えるため膜厚が薄くなっているため、画素電極形成の際
のマスク露光時の紫外線により液晶マイクロカプセルの
特性が劣化するという問題がある。
よびプラズマからのダメージにより液晶マイクロカプセ
ル中の液晶分子或いは色素の特性が劣化してしまうとい
う問題がある。 また、ITO膜は光透過率の低下を抑
えるため膜厚が薄くなっているため、画素電極形成の際
のマスク露光時の紫外線により液晶マイクロカプセルの
特性が劣化するという問題がある。
【0009】さらに、ITO加工時は酸性溶液等の薬液
を用いるか若しくはプラズマエッチングを行うため、こ
こでも液晶マイクロカプセルの特性が劣化するという問
題がある。
を用いるか若しくはプラズマエッチングを行うため、こ
こでも液晶マイクロカプセルの特性が劣化するという問
題がある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題を解決するためになされたものである。すなわち特性
の優れた透明画素電極、液晶マイクロカプセル層を有す
る液晶表示装置を提供することを目的とする。
題を解決するためになされたものである。すなわち特性
の優れた透明画素電極、液晶マイクロカプセル層を有す
る液晶表示装置を提供することを目的とする。
【0011】本発明は特性の優れた透明画素電極、液晶
マイクロカプセル層を有する液晶表示装置の製造方法を
提供することを目的とする。
マイクロカプセル層を有する液晶表示装置の製造方法を
提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、絶縁基板上に薄膜トランジスタと、信号線と、走査
線とが形成されたアレイ基板と、このアレイ基板上に形
成された絶縁膜と、絶縁膜上に形成され、対応する前記
薄膜トランジスタのソース電極或いはドレイン電極の一
方と電気的に接続された所定形状の第1の画素電極と、
第1の画素電極の上側から前記絶縁膜上に形成された第
1の液晶マイクロカプセル層と、液晶マイクロカプセル
層上に形成された紫外線遮光膜と、紫外線遮光膜上に形
成され、対応する前記薄膜トランジスタのソース電極或
いはドレイン電極の他方と電気的に接続された所定形状
の第2の画素電極と、第2の画素電極の上側から前記紫
外線遮光膜上に形成された第2の液晶マイクロカプセル
層とを具備することを特徴とする。
は、絶縁基板上に薄膜トランジスタと、信号線と、走査
線とが形成されたアレイ基板と、このアレイ基板上に形
成された絶縁膜と、絶縁膜上に形成され、対応する前記
薄膜トランジスタのソース電極或いはドレイン電極の一
方と電気的に接続された所定形状の第1の画素電極と、
第1の画素電極の上側から前記絶縁膜上に形成された第
1の液晶マイクロカプセル層と、液晶マイクロカプセル
層上に形成された紫外線遮光膜と、紫外線遮光膜上に形
成され、対応する前記薄膜トランジスタのソース電極或
いはドレイン電極の他方と電気的に接続された所定形状
の第2の画素電極と、第2の画素電極の上側から前記紫
外線遮光膜上に形成された第2の液晶マイクロカプセル
層とを具備することを特徴とする。
【0013】すなわち本発明は、ポリマーマトリクス中
に液晶を分散させた液晶マイクロカプセル層とこの液晶
マイクロカプセル層に電圧を印加する画素電極の積層構
造を有する液晶表示装置であって、液晶マイクロカプセ
ル層上に形成された紫外線遮光性物質を含有した薄膜を
具備したことを特徴とする。
に液晶を分散させた液晶マイクロカプセル層とこの液晶
マイクロカプセル層に電圧を印加する画素電極の積層構
造を有する液晶表示装置であって、液晶マイクロカプセ
ル層上に形成された紫外線遮光性物質を含有した薄膜を
具備したことを特徴とする。
【0014】また本発明の液晶表示装置は、ポリマーマ
中に液晶を封入した液晶マイクロカプセルを層状に形成
した液晶マイクロカプセル層を光バルブに用いた液晶表
示装置であって、ポリマーマトリクスまたは前記液晶に
紫外線遮光性物質を含有した前記液晶マイクロカプセル
層を具備したことを特徴とする。
中に液晶を封入した液晶マイクロカプセルを層状に形成
した液晶マイクロカプセル層を光バルブに用いた液晶表
示装置であって、ポリマーマトリクスまたは前記液晶に
紫外線遮光性物質を含有した前記液晶マイクロカプセル
層を具備したことを特徴とする。
【0015】液晶マイクロカプセル層はNCAP、PD
LC、LCPC、PNLCなどの分散型液晶材料を用い
るようにしてもよい。またこれらの液晶マイクロカプセ
ル層は懸濁法で形成してもよいし、また溶媒相分離法、
熱相分離法、重合相分離法などの相分離法、乳化法、含
浸法などで形成するようにしてもよい。
LC、LCPC、PNLCなどの分散型液晶材料を用い
るようにしてもよい。またこれらの液晶マイクロカプセ
ル層は懸濁法で形成してもよいし、また溶媒相分離法、
熱相分離法、重合相分離法などの相分離法、乳化法、含
浸法などで形成するようにしてもよい。
【0016】紫外線遮光膜、液晶マイクロカプセルを構
成するポリマーマトリクスまたは液晶が含有する紫外線
遮光性物質としてはベンゾフェノン系紫外線吸収剤、ベ
ンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、サリチル酸フェニル
系紫外線吸収剤、トリアジン系紫外線吸収剤、ニッケル
塩、ニッケル錯塩、サリチル酸ナトリウム、Fe3+、Z
n2+、La3+、Ce3+、Pr3+、Nd3+、Sm3+、Eu
3+、Gd3+、Tb3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er3+、T
m3+、Yb3+、Lu3+、Ti4+、V5+、Cr6+、U6+、
スルホン酸ナトリウム、Fe2 O3 、Ce2 O3 、La
2 O3 、Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2 O3 、Sm2
O3 、Eu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2 O3 、Dy2 O
3 、Ho2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O3 、Yb
2 O3 、Lu2 O3 、ZnO、TiO2 、V2 O5 、C
rO3 、UO3 、サリチル酸誘導体、安息香酸誘導体、
ケイ皮酸誘導体、クマリン誘導体からなる群の少なくと
も1種を含有するようにしてもよい。また、これらの錯
体を用いるようにしてもよい。
成するポリマーマトリクスまたは液晶が含有する紫外線
遮光性物質としてはベンゾフェノン系紫外線吸収剤、ベ
ンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、サリチル酸フェニル
系紫外線吸収剤、トリアジン系紫外線吸収剤、ニッケル
塩、ニッケル錯塩、サリチル酸ナトリウム、Fe3+、Z
n2+、La3+、Ce3+、Pr3+、Nd3+、Sm3+、Eu
3+、Gd3+、Tb3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er3+、T
m3+、Yb3+、Lu3+、Ti4+、V5+、Cr6+、U6+、
スルホン酸ナトリウム、Fe2 O3 、Ce2 O3 、La
2 O3 、Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2 O3 、Sm2
O3 、Eu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2 O3 、Dy2 O
3 、Ho2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O3 、Yb
2 O3 、Lu2 O3 、ZnO、TiO2 、V2 O5 、C
rO3 、UO3 、サリチル酸誘導体、安息香酸誘導体、
ケイ皮酸誘導体、クマリン誘導体からなる群の少なくと
も1種を含有するようにしてもよい。また、これらの錯
体を用いるようにしてもよい。
【0017】また、液晶マイクロカプセルを着色する色
素として、ポリマ−マトリクスまたはこのポリマーマト
リクスの分散した液晶ドロップレットにに紫外線遮光性
物質を混入して用いるようにしてもよく、色素と紫外線
遮光性物質を組み合わせて用いるようにしてもよい。紫
外線遮光性を有する錯イオンをもちいるようにしてもよ
い。
素として、ポリマ−マトリクスまたはこのポリマーマト
リクスの分散した液晶ドロップレットにに紫外線遮光性
物質を混入して用いるようにしてもよく、色素と紫外線
遮光性物質を組み合わせて用いるようにしてもよい。紫
外線遮光性を有する錯イオンをもちいるようにしてもよ
い。
【0018】用いる液晶マイクロカプセル層は3層に限
らず必要に応じて用いるようにすればよい。また、色素
もシアン、マゼンタ、イエローに限らず例えばRGBを
用いるなど必要に応じて設計するようにすればよい。
らず必要に応じて用いるようにすればよい。また、色素
もシアン、マゼンタ、イエローに限らず例えばRGBを
用いるなど必要に応じて設計するようにすればよい。
【0019】本発明の液晶表示装置の製造方法は、ポリ
マーマトリクス中に液晶を分散させた液晶マイクロカプ
セル層とこの液晶マイクロカプセル層に電圧を印加する
画素電極の積層構造を有する液晶表示装置の製造方法で
あって、液晶マイクロカプセル層を形成する工程と、液
晶マイクロカプセル層上に紫外線遮光膜を形成する工程
と、紫外線遮光膜上に画素電極を形成する工程とを有す
ることを特徴とする。すなわち、絶縁基板上にトランジ
スタアレイを形成する工程と、トランジスタアレイ上に
所定形状の絶縁保護膜を形成する工程と、絶縁保護膜の
前記トランジスタアレイを構成する各トランジスタのソ
ース電極に対応する位置に開口部を形成する工程と、開
口部に対応する位置に前記トランジスタのソース電極と
接続して所定高の導体柱を形成する工程と、対応する薄
膜トランジスタと前記導体柱を介して電気的に接続する
ように絶縁保護膜上に所定形状の反射画素電極を形成す
る工程と、反射画素電極の上から絶縁保護膜上に液晶マ
イクロカプセル層を形成する工程と、液晶マイクロカプ
セル層上に紫外線遮光膜を形成する工程と、紫外線遮光
膜の導体柱に対応する位置に所定形状のスルーホールを
形成する工程と、紫外線遮光膜上に所定形状の透明画素
電極を形成する工程と、透明画素電極の上から絶縁保護
膜上に液晶マイクロカプセル層を形成する工程とを有す
ることを特徴とする。
マーマトリクス中に液晶を分散させた液晶マイクロカプ
セル層とこの液晶マイクロカプセル層に電圧を印加する
画素電極の積層構造を有する液晶表示装置の製造方法で
あって、液晶マイクロカプセル層を形成する工程と、液
晶マイクロカプセル層上に紫外線遮光膜を形成する工程
と、紫外線遮光膜上に画素電極を形成する工程とを有す
ることを特徴とする。すなわち、絶縁基板上にトランジ
スタアレイを形成する工程と、トランジスタアレイ上に
所定形状の絶縁保護膜を形成する工程と、絶縁保護膜の
前記トランジスタアレイを構成する各トランジスタのソ
ース電極に対応する位置に開口部を形成する工程と、開
口部に対応する位置に前記トランジスタのソース電極と
接続して所定高の導体柱を形成する工程と、対応する薄
膜トランジスタと前記導体柱を介して電気的に接続する
ように絶縁保護膜上に所定形状の反射画素電極を形成す
る工程と、反射画素電極の上から絶縁保護膜上に液晶マ
イクロカプセル層を形成する工程と、液晶マイクロカプ
セル層上に紫外線遮光膜を形成する工程と、紫外線遮光
膜の導体柱に対応する位置に所定形状のスルーホールを
形成する工程と、紫外線遮光膜上に所定形状の透明画素
電極を形成する工程と、透明画素電極の上から絶縁保護
膜上に液晶マイクロカプセル層を形成する工程とを有す
ることを特徴とする。
【0020】また本発明の液晶表示装置の製造方法は、
ポリマーマトリクス中に液晶を分散させた液晶マイクロ
カプセル層と画素電極の積層構造を有する液晶表示装置
の製造方法であって、液晶マイクロカプセル層を形成す
る工程と、液晶マイクロカプセル層上に絶縁保護膜を塗
布して形成する工程と、絶縁保護膜上に紫外線遮光膜を
形成する工程と、紫外線遮光膜上に所定形状のレジスト
を形成し紫外線遮光膜及び絶縁保護膜に所定形状の開口
部を形成する工程と、レジスト及び紫外線遮光膜を除去
する工程と、絶縁保護膜上に前記画素電極を形成する工
程とを有することを特徴とする。
ポリマーマトリクス中に液晶を分散させた液晶マイクロ
カプセル層と画素電極の積層構造を有する液晶表示装置
の製造方法であって、液晶マイクロカプセル層を形成す
る工程と、液晶マイクロカプセル層上に絶縁保護膜を塗
布して形成する工程と、絶縁保護膜上に紫外線遮光膜を
形成する工程と、紫外線遮光膜上に所定形状のレジスト
を形成し紫外線遮光膜及び絶縁保護膜に所定形状の開口
部を形成する工程と、レジスト及び紫外線遮光膜を除去
する工程と、絶縁保護膜上に前記画素電極を形成する工
程とを有することを特徴とする。
【0021】紫外線遮光膜としてはAl、Cu、Zn、
Cr、Ti、W、Mo、Ta、Cなどからなる薄膜を用
いるようにしてもよい。
Cr、Ti、W、Mo、Ta、Cなどからなる薄膜を用
いるようにしてもよい。
【0022】また、絶縁保護膜は膜厚10nm以上に形
成しこの上に透明画素電極を形成するようにしてもよ
い。
成しこの上に透明画素電極を形成するようにしてもよ
い。
【0023】本発明の液晶表示装置の製造方法によれ
ば、液晶マイクロカプセル層を形成した後、その特性が
劣化がしない方法、例えば湿式成膜法で透明絶縁膜を成
膜しておくことにより、ITO膜をスパッタにより成膜
することができ、透明画素電極の加工も容易となる。
ば、液晶マイクロカプセル層を形成した後、その特性が
劣化がしない方法、例えば湿式成膜法で透明絶縁膜を成
膜しておくことにより、ITO膜をスパッタにより成膜
することができ、透明画素電極の加工も容易となる。
【0024】また、液晶マイクロカプセル層と、液晶マ
イクロカプセル層より後工程で形成される層との間に紫
外線遮光層を設けることにより通常のマスク露光が可能
となる。
イクロカプセル層より後工程で形成される層との間に紫
外線遮光層を設けることにより通常のマスク露光が可能
となる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を図に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【0026】図1は本発明の液晶表示装置の1例の1画
素部分を示したものである。
素部分を示したものである。
【0027】ガラス基板101上に複数のTFT10
2、走査線103、信号線104からなるTFTアレイ
が形成されているが、この実施例では1画素に3個のT
FT102、1本の走査線103、3本の信号線104
が形成されている。
2、走査線103、信号線104からなるTFTアレイ
が形成されているが、この実施例では1画素に3個のT
FT102、1本の走査線103、3本の信号線104
が形成されている。
【0028】これらTFTアレイ上にSiNx絶縁保護
膜105、反射画素電極106、液晶マイクロカプセル
層107、紫外線遮光膜108、透明画素電極109が
形成されており、この上に対向電極110が形成された
ガラス基板111が配設されている。
膜105、反射画素電極106、液晶マイクロカプセル
層107、紫外線遮光膜108、透明画素電極109が
形成されており、この上に対向電極110が形成された
ガラス基板111が配設されている。
【0029】図1に例示した液晶表示装置において用い
るTFTは、例えば逆スタガード構造のTFTを用いる
ようにしてもよく、また例えば正スタガード構造のTF
Tなど他の構造のTFTを用いるようにしてもよい。ま
たTFTの半導体層は例えばa−Si、p−Si、Cd
Seなどを用いて形成するようにしてもよい。絶縁保護
膜は、SiOxに限らずSiNxで形成するようにして
もよく、両者を積層して形成するようにしてもよい。
るTFTは、例えば逆スタガード構造のTFTを用いる
ようにしてもよく、また例えば正スタガード構造のTF
Tなど他の構造のTFTを用いるようにしてもよい。ま
たTFTの半導体層は例えばa−Si、p−Si、Cd
Seなどを用いて形成するようにしてもよい。絶縁保護
膜は、SiOxに限らずSiNxで形成するようにして
もよく、両者を積層して形成するようにしてもよい。
【0030】反射画素電極106、透明画素電極109
には、それぞれ対応するTFT102のソース電極と接
続する導体柱112が形成されている。
には、それぞれ対応するTFT102のソース電極と接
続する導体柱112が形成されている。
【0031】反射画素電極106は例えば例えばアルミ
ニウム等の金属を用いてスパッタ法により形成するよう
にしてもよい。
ニウム等の金属を用いてスパッタ法により形成するよう
にしてもよい。
【0032】3層の液晶マイクロカプセル層107はカ
ラー表示を行うために、それぞれシアン、マゼンタ、イ
エローの色素を含有している。
ラー表示を行うために、それぞれシアン、マゼンタ、イ
エローの色素を含有している。
【0033】またこれらの液晶マイクロカプセル層10
7は懸濁法で形成してもよいし、また溶媒相分離法、熱
相分離法、重合相分離法などの相分離法、乳化法、含浸
法などで形成するようにしてもよい。
7は懸濁法で形成してもよいし、また溶媒相分離法、熱
相分離法、重合相分離法などの相分離法、乳化法、含浸
法などで形成するようにしてもよい。
【0034】液晶マイクロカプセル層107上に形成す
る紫外線遮光膜108は、ベンゾフェノン系紫外線吸収
剤、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、サリチル酸フ
ェニル系紫外線吸収剤、トリアジン系紫外線吸収剤、ニ
ッケル塩、ニッケル錯塩、サリチル酸ナトリウム、Fe
3+、Zn2+、La3+、Ce3+、Pr3+、Nd3+、S
m3+、Eu3+、Gd3+、Tb3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er
3+、Tm3+、Yb3+、Lu3+、Ti4+、V5+、Cr6+、
U6+、スルホン酸ナトリウム、Fe2 O3 、Ce
2O3 、La2 O3 、Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2
O3 、Sm2 O3 、Eu2O3 、Gd2 O3 、Tb2 O
3 、Dy2 O3 、Ho2 O3 、Er2 O3 、Tm
2O3 、Yb2 O3 、Lu2 O3 、ZnO、TiO2 、
V2 O5 、CrO3 、UO3 、サリチル酸誘導体、安息
香酸誘導体、ケイ皮酸誘導体、クマリン誘導体からなる
群の少なくとも1種や、また、これらの錯体をを含有さ
せた例えばSOG(スピン オン グラス)、サイトッ
プ等のSiOxを塗布して形成するようにしてもよい。
図1に例示した液晶表示装置では、SOGにサリチル酸
ナトリウムを混入して用いている。
る紫外線遮光膜108は、ベンゾフェノン系紫外線吸収
剤、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、サリチル酸フ
ェニル系紫外線吸収剤、トリアジン系紫外線吸収剤、ニ
ッケル塩、ニッケル錯塩、サリチル酸ナトリウム、Fe
3+、Zn2+、La3+、Ce3+、Pr3+、Nd3+、S
m3+、Eu3+、Gd3+、Tb3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er
3+、Tm3+、Yb3+、Lu3+、Ti4+、V5+、Cr6+、
U6+、スルホン酸ナトリウム、Fe2 O3 、Ce
2O3 、La2 O3 、Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2
O3 、Sm2 O3 、Eu2O3 、Gd2 O3 、Tb2 O
3 、Dy2 O3 、Ho2 O3 、Er2 O3 、Tm
2O3 、Yb2 O3 、Lu2 O3 、ZnO、TiO2 、
V2 O5 、CrO3 、UO3 、サリチル酸誘導体、安息
香酸誘導体、ケイ皮酸誘導体、クマリン誘導体からなる
群の少なくとも1種や、また、これらの錯体をを含有さ
せた例えばSOG(スピン オン グラス)、サイトッ
プ等のSiOxを塗布して形成するようにしてもよい。
図1に例示した液晶表示装置では、SOGにサリチル酸
ナトリウムを混入して用いている。
【0035】なお、紫外線遮光性物質が着色している場
合であっても、表示を損なわない範囲で用いることがで
きる。
合であっても、表示を損なわない範囲で用いることがで
きる。
【0036】紫外線遮光膜108の導体柱112に対応
する位置には、コンタクトホ−ルが形成されており、こ
のコンタクトホールを通じて導体柱とITO透明画素電
極とは電気的に接続している。
する位置には、コンタクトホ−ルが形成されており、こ
のコンタクトホールを通じて導体柱とITO透明画素電
極とは電気的に接続している。
【0037】用いる液晶マイクロカプセル層は3層に限
らず必要に応じて用いるようにすればよい。また、色素
もシアンマ、ゼンタ、イエローに限らず必要に応じて用
いるようにすればよい。
らず必要に応じて用いるようにすればよい。また、色素
もシアンマ、ゼンタ、イエローに限らず必要に応じて用
いるようにすればよい。
【0038】図2は、本発明の液晶表示装置の1例を概
略的に示す断面図であり、1画素に対応する部分を示し
ている。
略的に示す断面図であり、1画素に対応する部分を示し
ている。
【0039】図2に例示した液晶表示装置は、ポリマー
マトリクスまたはこのポリマーマトリクスの分散した液
晶ドロップレットに紫外線遮光性物質を含有した液晶マ
イクロカプセル層を用いたものである。
マトリクスまたはこのポリマーマトリクスの分散した液
晶ドロップレットに紫外線遮光性物質を含有した液晶マ
イクロカプセル層を用いたものである。
【0040】複数のTFT、走査線、図示しない信号線
からなるTFTアレイが形成されたガラス基板201上
にSiNx絶縁保護膜202、反射画素電極203、液
晶マイクロカプセル層204、透明画素電極205が形
成されており、この上に対向電極が形成されたガラス基
板206が配設されている。
からなるTFTアレイが形成されたガラス基板201上
にSiNx絶縁保護膜202、反射画素電極203、液
晶マイクロカプセル層204、透明画素電極205が形
成されており、この上に対向電極が形成されたガラス基
板206が配設されている。
【0041】図2に例示した液晶表示装置においては逆
スタガード構造のTFTを用いているが、例えば正スタ
ガード構造のTFTなど他の構造のTFTを用いるよう
にしてもよい。またTFTの半導体層はa−Siに限ら
ず、例えばp−Si、CdSeを用いて形成するように
してもよい。絶縁保護膜202は、SiOxに限らずS
iNxで形成するようにしてもよく、両者を積層するよ
うにしてもよい。
スタガード構造のTFTを用いているが、例えば正スタ
ガード構造のTFTなど他の構造のTFTを用いるよう
にしてもよい。またTFTの半導体層はa−Siに限ら
ず、例えばp−Si、CdSeを用いて形成するように
してもよい。絶縁保護膜202は、SiOxに限らずS
iNxで形成するようにしてもよく、両者を積層するよ
うにしてもよい。
【0042】反射画素電極203、透明画素電極205
にはそれぞれ対応するTFTのソース電極206と接続
する導体柱207が形成されている。
にはそれぞれ対応するTFTのソース電極206と接続
する導体柱207が形成されている。
【0043】図2に例示した液晶表示装置においては,
カラー表示のために、それぞれシアン、マゼンタ、イエ
ローの色素を含有した3層の液晶マイクロカプセル層2
04を具備している。これらの液晶マイクロカプセル層
204は懸濁法で形成してもよいし、また相分離法、乳
化法、含浸法などで形成するようにしてもよい。
カラー表示のために、それぞれシアン、マゼンタ、イエ
ローの色素を含有した3層の液晶マイクロカプセル層2
04を具備している。これらの液晶マイクロカプセル層
204は懸濁法で形成してもよいし、また相分離法、乳
化法、含浸法などで形成するようにしてもよい。
【0044】紫外線遮光性物質としては、前述同様に用
いるようにすればよい。また、液晶マイクロカプセル層
を着色する色素として、ポリマ−マトリクスまたはこの
ポリマーマトリクスの分散した液晶ドロップレットにに
紫外線遮光性物質を混入して用いるようにしてもよく、
色素と紫外線遮光性物質を組み合わせて用いるようにし
てもよい。紫外線遮光性を有する錯イオンを用いるよう
にしてもよい。
いるようにすればよい。また、液晶マイクロカプセル層
を着色する色素として、ポリマ−マトリクスまたはこの
ポリマーマトリクスの分散した液晶ドロップレットにに
紫外線遮光性物質を混入して用いるようにしてもよく、
色素と紫外線遮光性物質を組み合わせて用いるようにし
てもよい。紫外線遮光性を有する錯イオンを用いるよう
にしてもよい。
【0045】用いる液晶マイクロカプセル層204は3
層に限らず必要に応じて用いるようにすればよい。ま
た、色素もシアン、マゼンタ、イエローに限らず例えば
RGBを用いるなど必要に応じて設計するようにすれば
よい。
層に限らず必要に応じて用いるようにすればよい。ま
た、色素もシアン、マゼンタ、イエローに限らず例えば
RGBを用いるなど必要に応じて設計するようにすれば
よい。
【0046】本発明の液晶表示装置の製造方法を図3〜
5により説明する。
5により説明する。
【0047】まず透明絶縁基板にTFTアレイを形成す
る。ガラス基板301上にMoTa合金を厚さ300n
mでスパッタ法により形成しパターニングすることによ
り、ゲート電極302、図示しないアドレス線を形成す
る。
る。ガラス基板301上にMoTa合金を厚さ300n
mでスパッタ法により形成しパターニングすることによ
り、ゲート電極302、図示しないアドレス線を形成す
る。
【0048】ついで、プラズマCVD法により厚さ35
0nmのSiO2ゲート絶縁膜303、厚さ50nmの
a−Si半導体膜304、厚さ200nmのSiNx半
導体保護膜305を順次成膜して、半導体保護膜305
をパターニングする。パターニングの後プラズマCVD
法でn+ a−Si膜306を厚さ50nmに成膜し、島
状のa−Si活性層を形成する。次にMo等の所定の金
属配スパッタリングしパターニングすることにより、ソ
ース電極307、ドレイン電極308、図示しないデー
タ配線を同時に形成する。そして、ソース・ドレイン間
のn+ a−Si膜を取り除いてTFT309とする。
0nmのSiO2ゲート絶縁膜303、厚さ50nmの
a−Si半導体膜304、厚さ200nmのSiNx半
導体保護膜305を順次成膜して、半導体保護膜305
をパターニングする。パターニングの後プラズマCVD
法でn+ a−Si膜306を厚さ50nmに成膜し、島
状のa−Si活性層を形成する。次にMo等の所定の金
属配スパッタリングしパターニングすることにより、ソ
ース電極307、ドレイン電極308、図示しないデー
タ配線を同時に形成する。そして、ソース・ドレイン間
のn+ a−Si膜を取り除いてTFT309とする。
【0049】このように形成したTFT309上に厚さ
200nmのSiNxからなる絶縁保護膜310をプラ
ズマCVD法により成膜する。ついで、絶縁保護膜31
0上のTFTのソース電極に対応する位置に、ソース電
極307とコンタクトをとるためのスルーホールを形成
する。このスルーホールに電解メッキプロセスによって
Cuを用いた導体柱311を形成する。この導体柱31
1の高さはレジスト工程と電界印加時間を制御すること
により各画素電極に対応した高さに形成するようにすれ
ばよい。この上に画素電極としてアルミニウム等の金属
をスパッタ法により300nmの膜厚で形成して反射画
素電極312とする。この反射画素電極312は反射特
性がなるべく完全拡散に近くなるように表面に凹凸をつ
けるようにしてもよい。また、完全拡散特性をもつ酸化
マグネシウムや硫酸マグネシウムなどの粉体を堆積する
ようにしてもよい。
200nmのSiNxからなる絶縁保護膜310をプラ
ズマCVD法により成膜する。ついで、絶縁保護膜31
0上のTFTのソース電極に対応する位置に、ソース電
極307とコンタクトをとるためのスルーホールを形成
する。このスルーホールに電解メッキプロセスによって
Cuを用いた導体柱311を形成する。この導体柱31
1の高さはレジスト工程と電界印加時間を制御すること
により各画素電極に対応した高さに形成するようにすれ
ばよい。この上に画素電極としてアルミニウム等の金属
をスパッタ法により300nmの膜厚で形成して反射画
素電極312とする。この反射画素電極312は反射特
性がなるべく完全拡散に近くなるように表面に凹凸をつ
けるようにしてもよい。また、完全拡散特性をもつ酸化
マグネシウムや硫酸マグネシウムなどの粉体を堆積する
ようにしてもよい。
【0050】反射画素電極312を形成後に、ペースト
状の、イエローのGH液晶の入った液晶マイクロカプセ
ル層313を厚さ5〜15μmとなるように形成する。
液晶マイクロカプセル層313は、懸濁法により形成し
てもよいし、また溶媒相分離法、熱相分離法、重合相分
離法などの相分離法で形成するようにしてもよい。さら
に、場合によっては含浸法で形成するようにしてもよ
い。
状の、イエローのGH液晶の入った液晶マイクロカプセ
ル層313を厚さ5〜15μmとなるように形成する。
液晶マイクロカプセル層313は、懸濁法により形成し
てもよいし、また溶媒相分離法、熱相分離法、重合相分
離法などの相分離法で形成するようにしてもよい。さら
に、場合によっては含浸法で形成するようにしてもよ
い。
【0051】液晶マイクロカプセル層313形成後、紫
外線遮光性物質を混入したSOG(スピンオングラ
ス)、サイトップ等のSiOxを塗布して紫外線遮光膜
314を形成する。混入する紫外線遮光性物質としては
ベンゾフェノン系紫外線吸収剤、ベンゾトリアゾール系
紫外線吸収剤、サリチル酸フェニル系紫外線吸収剤、ト
リアジン系紫外線吸収剤、ニッケル塩、ニッケル錯塩、
サリチル酸ナトリウム、Fe3+、Zn2+、La3+、Ce
3+、Pr3+、Nd3+、Sm3+、Eu3+、Gd3+、T
b3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er3+、Tm3+、Yb3+、Lu
3+、Ti4+、V5+、Cr6+、、U6+、スルホン酸ナトリ
ウム、Fe2 O3 、Ce2 O3 、La2 O3 Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2 O3 、Sm2 O3 、E
u2 O3 、Gd2 O3 、Tb2 O3 、Dy2 O3 、Ho
2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O3 、Yb2 O3 、Lu2
O3 、ZnO、TiO2 、V2 O5 、CrO3 、U
O3 、サリチル酸誘導体、安息香酸誘導体、ケイ皮酸誘
導体、クマリン誘導体からなる群の少なくとも1種や、
また、これらの錯体などの1成分もしく複数成分を微量
含んでいればよい。
外線遮光性物質を混入したSOG(スピンオングラ
ス)、サイトップ等のSiOxを塗布して紫外線遮光膜
314を形成する。混入する紫外線遮光性物質としては
ベンゾフェノン系紫外線吸収剤、ベンゾトリアゾール系
紫外線吸収剤、サリチル酸フェニル系紫外線吸収剤、ト
リアジン系紫外線吸収剤、ニッケル塩、ニッケル錯塩、
サリチル酸ナトリウム、Fe3+、Zn2+、La3+、Ce
3+、Pr3+、Nd3+、Sm3+、Eu3+、Gd3+、T
b3+、Dy 3+ 、Ho3+、Er3+、Tm3+、Yb3+、Lu
3+、Ti4+、V5+、Cr6+、、U6+、スルホン酸ナトリ
ウム、Fe2 O3 、Ce2 O3 、La2 O3 Ce2 O3 、Pr2 O3 、Nd2 O3 、Sm2 O3 、E
u2 O3 、Gd2 O3 、Tb2 O3 、Dy2 O3 、Ho
2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O3 、Yb2 O3 、Lu2
O3 、ZnO、TiO2 、V2 O5 、CrO3 、U
O3 、サリチル酸誘導体、安息香酸誘導体、ケイ皮酸誘
導体、クマリン誘導体からなる群の少なくとも1種や、
また、これらの錯体などの1成分もしく複数成分を微量
含んでいればよい。
【0052】形成した紫外線遮光膜314の導体柱31
1に対応する位置に、導体柱311と透明画素電極31
5とを接続するためのコンタクトホ−ルを形成し、その
後スパッタ法によりITOを成膜して所定形状にパター
ニングして透明画素電極315を形成する(図4参
照)。紫外線遮光膜314を形成してあるので、コンタ
クトホールのパターニングを行う際にも液晶マイクロカ
プセル層313に紫外線が照射されることはない。ま
た、その上のITOパターン形成時にも、たとえITO
が紫外線を透過するほどの薄膜であってもパターニング
時に液晶マイクロカプセル層が紫外線によりダメージを
受けることはない。同時にITOスパッタ時の残留溶剤
の脱ガスによるITO膜の変質を抑える効果、スパッタ
時に発生する紫外線およびプラズマダメージの保護膜と
しての効果、ITOエッチング時の保護膜としての効果
もある。
1に対応する位置に、導体柱311と透明画素電極31
5とを接続するためのコンタクトホ−ルを形成し、その
後スパッタ法によりITOを成膜して所定形状にパター
ニングして透明画素電極315を形成する(図4参
照)。紫外線遮光膜314を形成してあるので、コンタ
クトホールのパターニングを行う際にも液晶マイクロカ
プセル層313に紫外線が照射されることはない。ま
た、その上のITOパターン形成時にも、たとえITO
が紫外線を透過するほどの薄膜であってもパターニング
時に液晶マイクロカプセル層が紫外線によりダメージを
受けることはない。同時にITOスパッタ時の残留溶剤
の脱ガスによるITO膜の変質を抑える効果、スパッタ
時に発生する紫外線およびプラズマダメージの保護膜と
しての効果、ITOエッチング時の保護膜としての効果
もある。
【0053】同様の方法で、マゼンタGH液晶の入った
液晶マイクロカプセル層313、紫外線遮光膜、透明画
素電極、シアンGH液晶の入った液晶マイクロカプセル
層313を同様の方法で順次形成する。最後に、透明対
向電極を形成したガラス基板316を載せる(図5参
照)。
液晶マイクロカプセル層313、紫外線遮光膜、透明画
素電極、シアンGH液晶の入った液晶マイクロカプセル
層313を同様の方法で順次形成する。最後に、透明対
向電極を形成したガラス基板316を載せる(図5参
照)。
【0054】この液晶表示装置は、それぞれシアン・マ
ゼンタ・イエローの色素が入ったGH液晶マイクロカプ
セル層をそれぞれ挟む4枚の電極に印加する電圧を制御
することにより各層での光の吸収・透過の割合を変化さ
せて階調表示を可能とする。
ゼンタ・イエローの色素が入ったGH液晶マイクロカプ
セル層をそれぞれ挟む4枚の電極に印加する電圧を制御
することにより各層での光の吸収・透過の割合を変化さ
せて階調表示を可能とする。
【0055】つぎに、本発明の液晶表示装置の製造方法
を図6〜11に基づいて説明する。まず、ガラス基板上
にTFTアレイを形成し、この上にSiNx絶縁膜を形
成する。反射画素電極を形成し、さらにその上に液晶マ
イクロカプセル層601を形成する(図6参照)。
を図6〜11に基づいて説明する。まず、ガラス基板上
にTFTアレイを形成し、この上にSiNx絶縁膜を形
成する。反射画素電極を形成し、さらにその上に液晶マ
イクロカプセル層601を形成する(図6参照)。
【0056】液晶マイクロカプセル層601形成後、液
晶マイクロカプセル層601上に絶縁保護膜602を湿
式成膜法で形成する。絶縁保護膜602は、例えばSO
G(スピン オン グラス)、サイトップ等を塗布する
ことにより形成するようにしてもよい。このように形成
すれば平坦化の作用もあり、ITO膜による散乱を抑制
することもできる。さらに、絶縁保護膜602に紫外線
遮光膜としての機能を持たせるようにしてもよい。保護
絶縁膜602を塗布により形成し、この上に紫外線遮光
膜としてAl、Cu、Ti、Mo、Ta、Cr、W等の
金属薄膜603を例えばスパッタ法により形成する。レ
ジスト604塗布後マスク露光して、SiOx保護絶縁
膜602の導体柱605に対応する位置に所定形状のコ
ンタクトホール606を形成する(図7参照)。
晶マイクロカプセル層601上に絶縁保護膜602を湿
式成膜法で形成する。絶縁保護膜602は、例えばSO
G(スピン オン グラス)、サイトップ等を塗布する
ことにより形成するようにしてもよい。このように形成
すれば平坦化の作用もあり、ITO膜による散乱を抑制
することもできる。さらに、絶縁保護膜602に紫外線
遮光膜としての機能を持たせるようにしてもよい。保護
絶縁膜602を塗布により形成し、この上に紫外線遮光
膜としてAl、Cu、Ti、Mo、Ta、Cr、W等の
金属薄膜603を例えばスパッタ法により形成する。レ
ジスト604塗布後マスク露光して、SiOx保護絶縁
膜602の導体柱605に対応する位置に所定形状のコ
ンタクトホール606を形成する(図7参照)。
【0057】コンタクトホール606形成の後、レジス
ト604と金属薄膜603を除去する(図8参照)。
ト604と金属薄膜603を除去する(図8参照)。
【0058】レジスト604と金属薄膜603を除去し
た後、コンタクトホール606が形成されたSiOx保
護絶縁膜602の上に、スパッタ法により透明画素電極
であるITO膜607を形成する(図9参照)。
た後、コンタクトホール606が形成されたSiOx保
護絶縁膜602の上に、スパッタ法により透明画素電極
であるITO膜607を形成する(図9参照)。
【0059】ITO膜607上に紫外線遮光膜608、
レジスト609を形成し、マスク露光してITO膜60
7を所定形状の透明画素電極に形成する(図10参
照)。
レジスト609を形成し、マスク露光してITO膜60
7を所定形状の透明画素電極に形成する(図10参
照)。
【0060】透明画素電極形成後レジスト609と紫外
線遮光膜608を除去する(図11参照)。
線遮光膜608を除去する(図11参照)。
【0061】以上の工程を繰り返して、画素電極、液晶
マイクロカプセル層、保護絶縁膜の積層構造を形成し、
最後に透明対向電極が形成されたガラス基板を液晶マイ
クロカプセル層の上に載せる。このような工程によれ
ば、液晶マイクロカプセル層が紫外線によりダメージを
受けることはない。
マイクロカプセル層、保護絶縁膜の積層構造を形成し、
最後に透明対向電極が形成されたガラス基板を液晶マイ
クロカプセル層の上に載せる。このような工程によれ
ば、液晶マイクロカプセル層が紫外線によりダメージを
受けることはない。
【0062】本発明は図12に示したような単純マトリ
クス駆動の液晶表示装置にも適用できる。例えば、透明
基板1201、配線1202、液晶層を液晶マイクロカ
プセル層1203で構成し、その上に絶縁膜1204を
介して透明配線1205を形成するようにしてもよい。
マスク露光の際に配線とのあわせずれが基板のあわせず
れよりも小さい。なお、パッシベーション絶縁膜120
6を成膜した後に対向基板と張り合わせるようにしても
よい。
クス駆動の液晶表示装置にも適用できる。例えば、透明
基板1201、配線1202、液晶層を液晶マイクロカ
プセル層1203で構成し、その上に絶縁膜1204を
介して透明配線1205を形成するようにしてもよい。
マスク露光の際に配線とのあわせずれが基板のあわせず
れよりも小さい。なお、パッシベーション絶縁膜120
6を成膜した後に対向基板と張り合わせるようにしても
よい。
【0063】なお、以上説明した製造工程は1例であ
り、各層の材料、厚みや製造方法等は必要に応じて設計
するようにしてもよい。たとえば、ITOの成膜方法は
スパッタに限らずゾル・ゲル法等の湿式成膜法でもよ
い。また、TFTには他の構造のもの、例えばスタガー
ド型構造(トップゲート)のTFTを用いることも可能
である。半導体層はa−Siに限らず、p−Si、Cd
Se等を用いて形成するようにしてもよい。また、デー
タ線上の絶縁膜は、SiOxに限らずSiNxでもよ
く、両者の積層でもよい。
り、各層の材料、厚みや製造方法等は必要に応じて設計
するようにしてもよい。たとえば、ITOの成膜方法は
スパッタに限らずゾル・ゲル法等の湿式成膜法でもよ
い。また、TFTには他の構造のもの、例えばスタガー
ド型構造(トップゲート)のTFTを用いることも可能
である。半導体層はa−Siに限らず、p−Si、Cd
Se等を用いて形成するようにしてもよい。また、デー
タ線上の絶縁膜は、SiOxに限らずSiNxでもよ
く、両者の積層でもよい。
【0064】
【発明の効果】本発明の液晶表示装置は、透明画素電極
であるITO膜のスパッタ成膜時やエッチング時などの
ダメージ、およびマスク露光時の紫外線によるダメージ
による液晶マイクロカプセル層中の液晶分子の特性劣化
という問題を解決することができ、透過率の低下および
視角の低下を伴うことなく液晶層上に透明画素電極IT
Oを積層する構造の実現することができる。
であるITO膜のスパッタ成膜時やエッチング時などの
ダメージ、およびマスク露光時の紫外線によるダメージ
による液晶マイクロカプセル層中の液晶分子の特性劣化
という問題を解決することができ、透過率の低下および
視角の低下を伴うことなく液晶層上に透明画素電極IT
Oを積層する構造の実現することができる。
【0065】本発明の液晶表示装置の製造方法によれ
ば、特性の優れた透明画素電極、液晶マイクロカプセル
層を有する液晶表示装置を製造することができる。
ば、特性の優れた透明画素電極、液晶マイクロカプセル
層を有する液晶表示装置を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液晶表示装置の1例を概略的に示す斜
視図。
視図。
【図2】本発明の液晶表示装置の1例を概略的に示す断
面図。
面図。
【図3】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図4】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図5】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図6】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図7】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図8】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図9】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概略
的に示す図。
的に示す図。
【図10】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概
略的に示す図。
略的に示す図。
【図11】本発明の液晶表示装置の製造工程の1例を概
略的に示す図。
略的に示す図。
【図12】本発明の液晶表示装置の1例を概略的に示す
断面図。
断面図。
【図13】従来の液晶表示装置の1例を概略的に示す断
面図。
面図。
101……ガラス基板、102……TFT、103……
走査線 104……信号線、105……絶縁保護膜、106……
反射画素電極 107……液晶マイクロカプセル層、108……紫外線
遮光膜 109……透明画素電極、110……対向電極、111
……ガラス基板 112……導体柱、201……ガラス基板、202……
絶縁保護膜 203……反射画素電極、204……液晶マイクロカプ
セル層 205……透明画素電極、206……ソース電極、20
7……導体柱 301……ガラス基板、302……ゲート電極、303
……ゲート絶縁膜 304……半導体膜、305……半導体保護膜、306
……n+ 半導体膜 307……ソース電極、308……ドレイン電極、30
9……TFT 310……絶縁保護膜、311……導体柱、312……
反射画素電極 313……液晶マイクロカプセル層、314……紫外線
遮光膜 315……透明画素電極、316……ガラス基板 601……液晶マイクロカプセル層、602……絶縁保
護膜 603……金属薄膜、604……レジスト、605……
導体柱 606……コンタクトホール、607……ITO膜、6
08……紫外線遮光膜 609……レジスト、1201……透明基板、1202
……配線 1203……液晶マイクロカプセル層、1204……絶
縁膜 1205……透明配線、1206……パッシベーション
絶縁膜 1301……液晶マイクロカプセル層、1302……T
FT 1303……走査線、1304……信号線、1305…
…導体柱 1306……反射画素電極、1307……透明画素電極
走査線 104……信号線、105……絶縁保護膜、106……
反射画素電極 107……液晶マイクロカプセル層、108……紫外線
遮光膜 109……透明画素電極、110……対向電極、111
……ガラス基板 112……導体柱、201……ガラス基板、202……
絶縁保護膜 203……反射画素電極、204……液晶マイクロカプ
セル層 205……透明画素電極、206……ソース電極、20
7……導体柱 301……ガラス基板、302……ゲート電極、303
……ゲート絶縁膜 304……半導体膜、305……半導体保護膜、306
……n+ 半導体膜 307……ソース電極、308……ドレイン電極、30
9……TFT 310……絶縁保護膜、311……導体柱、312……
反射画素電極 313……液晶マイクロカプセル層、314……紫外線
遮光膜 315……透明画素電極、316……ガラス基板 601……液晶マイクロカプセル層、602……絶縁保
護膜 603……金属薄膜、604……レジスト、605……
導体柱 606……コンタクトホール、607……ITO膜、6
08……紫外線遮光膜 609……レジスト、1201……透明基板、1202
……配線 1203……液晶マイクロカプセル層、1204……絶
縁膜 1205……透明配線、1206……パッシベーション
絶縁膜 1301……液晶マイクロカプセル層、1302……T
FT 1303……走査線、1304……信号線、1305…
…導体柱 1306……反射画素電極、1307……透明画素電極
フロントページの続き (72)発明者 内古閑 修一 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33 株式会 社東芝生産技術研究所内 (72)発明者 大竹 利也 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33 株式会 社東芝生産技術研究所内
Claims (5)
- 【請求項1】 絶縁基板上に薄膜トランジスタと、信号
線と、走査線とが形成されたアレイ基板と、 前記アレイ基板上に形成された絶縁膜と、 前記絶縁膜上に形成され、対応する前記薄膜トランジス
タのソース電極或いはドレイン電極の一方と電気的に接
続された第1の画素電極と、 前記第1の画素電極の上側から前記絶縁膜上に形成され
た第1の液晶マイクロカプセル層と、 前記液晶マイクロカプセル層上に形成された紫外線遮光
膜と、 前記紫外線遮光膜上に形成され、対応する前記薄膜トラ
ンジスタのソース電極或いはドレイン電極の他方と電気
的に接続された第2の画素電極と、 前記第2の画素電極の上側から前記紫外線遮光膜上に形
成された第2の液晶マイクロカプセル層とを具備するこ
とを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項2】 前記紫外線遮光性物質は、ベンゾフェノ
ン系紫外線吸収剤、ベンゾトリアゾール系紫外線吸収
剤、サリチル酸フェニル系紫外線吸収剤、トリアジン系
紫外線吸収剤、ニッケル塩、ニッケル錯塩、サリチル酸
ナトリウム、Fe3+、Zn2+、La3+、Ce3+、P
r3+、Nd3+、Sm3+、Eu3+、Gd3+、Tb3+、Dy
3+、Ho3+、Er3+、Tm3+、Yb3+、Lu3+、T
i4+、V5+、Cr6+、U6+、スルホン酸ナトリウム、F
e2 O3 、Ce2 O3 、La2 O3 、Ce2 O3 、Pr
2 O3 、Nd2 O3 、Sm2 O3 、Eu2 O3 、Gd2
O3 、Tb2 O3 、Dy2 O3 、Ho2 O3 、Er2 O
3 、Tm2 O3 、Yb2 O3 、Lu2 O3 、ZnO、T
iO2 、V2 O5 、CrO3 、UO3 、サリチル酸誘導
体、安息香酸誘導体、ケイ皮酸誘導体及びクマリン誘導
体からなる群の少なくとも1種を含有することを特徴と
する請求項1に記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】 ポリマーマトリクス中に液晶を分散させ
た液晶マイクロカプセル層とこの液晶マイクロカプセル
層に電圧を印加する画素電極の積層構造を有する液晶表
示装置の製造方法であって、 前記液晶マイクロカプセル層を形成する工程と、 前記液晶マイクロカプセル層上に紫外線遮光膜を形成す
る工程と、 前記紫外線遮光膜上に前記画素電極を形成する工程とを
有することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項4】 ポリマーマトリクス中に液晶を分散させ
た液晶マイクロカプセル層と画素電極の積層構造を有す
る液晶表示装置の製造方法であって、 前記液晶マイクロカプセル層を形成する工程と、 前記液晶マイクロカプセル層上に絶縁保護膜を塗布して
形成する工程と、 前記絶縁保護膜上に紫外線遮光膜を形成する工程と、 前記紫外線遮光膜上に所定形状のレジストを形成し前記
紫外線遮光膜及び前記絶縁保護膜に所定形状の開口部を
形成する工程と、 前記レジスト及び前記紫外線遮光膜を除去する工程と、 前記絶縁保護膜上に前記画素電極を形成する工程とを有
することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項5】 前記紫外線遮光膜はAl、Cu、Zn、
Cr、Ti、W、Mo、Ta、Cからなる薄膜であるこ
とを特徴とする請求項4記載の液晶表示装置の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7237490A JPH0980401A (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7237490A JPH0980401A (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0980401A true JPH0980401A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=17016103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7237490A Withdrawn JPH0980401A (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0980401A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002540591A (ja) * | 1998-12-15 | 2002-11-26 | イー−インク コーポレイション | プラスチック基板へのトランジスタアレイの印刷方法 |
| US6628355B1 (en) | 1996-12-17 | 2003-09-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display panel including a light shielding film to control incident light |
| WO2016110274A1 (zh) * | 2015-01-08 | 2016-07-14 | 江苏和成显示科技股份有限公司 | 液晶显示装置及其驱动方法 |
-
1995
- 1995-09-14 JP JP7237490A patent/JPH0980401A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6628355B1 (en) | 1996-12-17 | 2003-09-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display panel including a light shielding film to control incident light |
| JP2002540591A (ja) * | 1998-12-15 | 2002-11-26 | イー−インク コーポレイション | プラスチック基板へのトランジスタアレイの印刷方法 |
| WO2016110274A1 (zh) * | 2015-01-08 | 2016-07-14 | 江苏和成显示科技股份有限公司 | 液晶显示装置及其驱动方法 |
| TWI608275B (zh) * | 2015-01-08 | 2017-12-11 | Liquid crystal display device and its driving method | |
| US10451910B2 (en) | 2015-01-08 | 2019-10-22 | Jiangsu Hecheng Display Technology Co., Ltd. | Liquid crystal display device and driving method thereof |
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