JPH098277A - Deterioration detection device for light emitting element for optical thyristor - Google Patents

Deterioration detection device for light emitting element for optical thyristor

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JPH098277A
JPH098277A JP14737395A JP14737395A JPH098277A JP H098277 A JPH098277 A JP H098277A JP 14737395 A JP14737395 A JP 14737395A JP 14737395 A JP14737395 A JP 14737395A JP H098277 A JPH098277 A JP H098277A
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JP
Japan
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light emitting
emitting element
deterioration
optical
output
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Pending
Application number
JP14737395A
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Japanese (ja)
Inventor
Masataka Kumakura
正隆 熊倉
Hirokazu Kaneko
寛和 金子
Masanori Yoshino
正範 吉野
Kazuma Mukai
一馬 向井
Kazuhiko Murabayashi
一彦 村林
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Toshiba Corp
Tokyo Electric Power Co Holdings Inc
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Electric Power Co Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】発光素子の劣化故障をその初期の段階で早期に
検出でき、最適な対策が打てるようにメンテナンスのた
めの情報支援を行うことができる光サイリスタ用発光素
子の劣化検出装置を得る。 【構成】同一電源5に、ほぼ同一特性の複数の発光素子
L1 〜Ln が接続され、前記電源5をオン、オフさせる
ことにより、各発光素子L1 〜Ln からそれぞれ得られ
る光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子L1 〜
Ln に対応した複数の光サイリスタT1 〜Tn のゲート
にそれぞれ供給するようにした光サイリスタ用発光素子
において、発光素子L1 〜Ln が接続されている回路に
接続し、各発光素子L1 〜Ln とほぼ同一特性のモニタ
用発光素子Lm と、Lm から出力される光パルス信号の
ピーク値に比例した電気信号として出力し、この出力に
基づいて発光素子の劣化を検出する発光素子劣化検出回
路2を備えたもの。
(57) [Abstract] [Purpose] Deterioration of a light emitting element for an optical thyristor that can detect a deterioration failure of the light emitting element early in its early stage and can provide information support for maintenance so that optimal measures can be taken. Get the detector. A plurality of light emitting elements L1 to Ln having substantially the same characteristics are connected to the same power source 5, and by turning on and off the power source 5, optical signals respectively obtained from the light emitting elements L1 to Ln are sent to the same circuit. Is connected to the light emitting element L1.
In a light emitting element for an optical thyristor which is supplied to the gates of a plurality of optical thyristors T1 to Tn corresponding to Ln, it is connected to a circuit to which the light emitting elements L1 to Ln are connected, and is almost connected to each of the light emitting elements L1 to Ln. A monitor light emitting element Lm having the same characteristics and a light emitting element deterioration detection circuit 2 for outputting an electric signal proportional to the peak value of the optical pulse signal output from Lm and detecting deterioration of the light emitting element based on this output are provided. What

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば直流送電や無効
電力補償に使用され、光学的点弧機能を有する光サイリ
スタを使用した半導体変換器において、そのゲート信号
を発生する光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting device for an optical thyristor which generates a gate signal in a semiconductor converter using an optical thyristor having an optical ignition function, which is used for direct current transmission or compensation of reactive power. Of the deterioration detecting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】直流送電、周波数変換、無効電力補償等
で使用される高電圧サイリスタ変換器には、多数の直列
または直並列接続されたサイリスタが用いられている。
このサイリスタを点弧するための信号は、ゲート信号発
生回路から出力されるが、高電圧部のサイリスタと、大
地電位に設置されるゲート信号発生回路とを絶縁するた
めに、光パルス信号による点弧方式が採用されている。
2. Description of the Related Art A large number of series or series-parallel connected thyristors are used in high voltage thyristor converters used for DC power transmission, frequency conversion, reactive power compensation and the like.
The signal for firing this thyristor is output from the gate signal generation circuit, but in order to insulate the thyristor of the high voltage part from the gate signal generation circuit installed at the ground potential, the point generated by the optical pulse signal is used. The arc method is adopted.

【0003】図8は従来の光サイリスタ変換器へ光パル
ス信号を出力するゲート信号発生回路を示している。光
サイリスタバルブ9は、直列接続された光サイリスタT
1 ,T2 ,T3 ,…Tn から構成され、各光サイリスタ
Tのゲートに、光パルス信号発生回路10から出力され
る光パルス信号をライトガイド1に導くことにより、点
弧される。
FIG. 8 shows a gate signal generating circuit for outputting an optical pulse signal to a conventional optical thyristor converter. The optical thyristor bulb 9 is an optical thyristor T connected in series.
1, T2, T3, ... Tn, which are ignited by guiding the optical pulse signal output from the optical pulse signal generation circuit 10 to the light guide 1 to the gate of each optical thyristor T.

【0004】光パルス信号発生回路10は、複数個の直
列接続された発光素子群11、発光素子群11をオン,
オフするスイッチング素子4、光パルス信号のタイミン
グを決定し、スイッチング素子4を駆動するゲート制御
回路3および発光素子群11へ電流を供給する直流電源
5から構成されている。
The optical pulse signal generating circuit 10 includes a plurality of light emitting element groups 11 connected in series, turning on the light emitting element group 11,
It is composed of a switching element 4 to be turned off, a gate control circuit 3 that determines the timing of an optical pulse signal and drives the switching element 4, and a DC power supply 5 that supplies a current to the light emitting element group 11.

【0005】発光素子群11は、例えば発光ダイオード
からなる発光素子L1 ,L2 ,L3,…Ln がn個直列
に接続され、各発光素子L1 〜Ln から出力される光パ
ルス信号は、ライトガイド1により各々相対する光サイ
リスタT1 〜Tn へ伝送され、光サイリスタT1 〜Tn
は点弧される。
In the light emitting element group 11, n light emitting elements L1, L2, L3, ... Ln, which are, for example, light emitting diodes, are connected in series, and the light pulse signal output from each of the light emitting elements L1 to Ln is the light guide 1. Are transmitted to the corresponding optical thyristors T1 to Tn, respectively, and the optical thyristors T1 to Tn are transmitted.
Is fired.

【0006】一般に、高電圧サイリスタバルブ9ではバ
ルブ内の直列接続されるサイリスタの直列数は、ある一
定の冗長サイリスタを有している。従って、冗長サイリ
スタ数以内のサイリスタの破損に対しては、サイリスタ
変換器の運転を停止することなく、運転継続が可能であ
る。
Generally, in the high voltage thyristor valve 9, the number of series connected thyristors in the valve has a certain redundant thyristor. Therefore, if the number of redundant thyristors is less than the number of redundant thyristors, it is possible to continue the operation without stopping the operation of the thyristor converter.

【0007】しかし、冗長サイリスタ数を増加しても光
パルス信号発生回路10の信頼性が低くては、システム
としての信頼性は望めない。いま、図8において発光素
子群11のいずれか故障(開放故障)した場合、全発光
素子L1 〜Ln が光パルス信号を出力することができ
ず、光サイリスタバルブ9は点弧することができない。
このように、サイリスタに冗長サイリスタを設けていて
も、光パルス信号発生回路10内の発光素子L1 〜Ln
が1個故障しただけで、システムを停止させてしまう結
果となる。
However, even if the number of redundant thyristors is increased, the reliability of the system cannot be expected if the reliability of the optical pulse signal generation circuit 10 is low. Now, in FIG. 8, if any one of the light emitting element groups 11 fails (opening failure), all the light emitting elements L1 to Ln cannot output the light pulse signal, and the light thyristor bulb 9 cannot be fired.
Thus, even if the thyristor is provided with the redundant thyristor, the light emitting elements L1 to Ln in the optical pulse signal generating circuit 10 are provided.
Only one failure will result in stopping the system.

【0008】このため、従来は光点弧系(発光素子また
は光パルス信号発生回路)を多重化し、さらに定期点検
時に全部の発光素子を点検し、その健全性を確認してい
た。しかしながら、サイリスタ変換器が高圧化し、その
直列数が増加すると、光パルス信号を発生させる発光素
子の数も増加するため、点検、保守時間の増大を招く結
果となり、改善が望まれていた。
For this reason, conventionally, the light ignition system (light emitting element or optical pulse signal generating circuit) is multiplexed, and further, all light emitting elements are inspected at the time of periodic inspection to confirm the soundness thereof. However, when the voltage of the thyristor converter is increased and the number of serially connected thyristor converters is increased, the number of light emitting elements that generate optical pulse signals is also increased, resulting in an increase in inspection and maintenance time, and improvement is desired.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の光パルス信号発生回路10では、その信頼性を向上
させるべく、多重化、点検による発光素子の劣化診断を
行っていた。これらの必要性は、発光素子L1 〜Ln が
劣化することにあり、またその劣化現象が機器運転状況
の違いもあり、把握できないためである。もし、発光素
子L1 〜Ln の劣化状況を把握することができれば、メ
ンテナンスへの情報支援が可能になり、定期点検周期の
延長が図られ、保守時間の短縮が図られ、装置運用上の
メリットは大きい。
As described above, in the conventional optical pulse signal generation circuit 10, in order to improve its reliability, the deterioration diagnosis of the light emitting element is performed by multiplexing and checking. The reason for this is that the light emitting elements L1 to Ln are deteriorated, and the deterioration phenomenon cannot be grasped due to the difference in the device operating condition. If the deterioration status of the light emitting elements L1 to Ln can be grasped, information support for maintenance becomes possible, the regular inspection cycle can be extended, the maintenance time can be shortened, and the merit in operating the device is large.

【0010】本発明の目的は、発光素子の劣化故障をそ
の初期の段階で早期に検出でき、最適な対策が打てるよ
うにメンテナンスのための情報支援を行うことができる
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を提供すること
にある。
An object of the present invention is to detect a deterioration failure of a light emitting element at an early stage of the light emitting element and to provide information support for maintenance so that optimum measures can be taken. It is to provide a detection device.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、同一電源に、ほぼ同一
特性の複数の発光素子が接続され、前記電源をオン、オ
フさせることにより、前記各発光素子からそれぞれ得ら
れる光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子に対
応した複数の光サイリスタのゲートにそれぞれ供給する
ようにした光サイリスタ用発光素子において、前記発光
素子が接続されている回路に接続し、前記各発光素子と
ほぼ同一特性のモニタ用発光素子と、このモニタ用発光
素子から出力される光パルス信号のピーク値に比例した
電気信号として出力し、この出力に基づいて前記発光素
子の劣化を検出する発光素子劣化検出回路を具備した光
サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is such that a plurality of light emitting elements having substantially the same characteristics are connected to the same power source and the power source is turned on and off. In a light emitting element for an optical thyristor, which is connected to the same circuit and is supplied to the gates of a plurality of optical thyristors corresponding to the light emitting elements, the light emitting elements are connected. Connected to the circuit, and outputs as an electric signal proportional to the peak value of the optical pulse signal output from the monitor light-emitting element and the monitor light-emitting element having substantially the same characteristics as each of the light-emitting elements, to this output A deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor, comprising a light emitting element deterioration detecting circuit for detecting deterioration of the light emitting element based on the above.

【0012】前記目的を達成するため、請求項2に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路を備えたことを特徴とする請求項1記載の光サ
イリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
To achieve the above object, in the invention according to claim 2, the light emitting element deterioration detection circuit outputs as an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element. 2. A photoelectric conversion peak detection circuit and a comparison / determination circuit for comparing the output of the photoelectric conversion peak detection circuit with an initial value and determining the condition that the deviation is equal to or greater than a predetermined value. Is a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor.

【0013】前記目的を達成するため、請求項3に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力を常時または定期
的に記録する記録器を備えたことを特徴とする請求項1
記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
To achieve the above object, in the invention according to claim 3, the light emitting element deterioration detection circuit outputs as an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element. The photoelectric conversion peak detection circuit compares the output of this photoelectric conversion peak detection circuit with the initial value, and the comparison judgment circuit that judges the condition that the deviation becomes a predetermined value or more, and the output of this comparison judgment circuit is always or periodically. 2. A recording device for physically recording data is provided.
It is a deterioration detection device for a light emitting element for an optical thyristor described.

【0014】前記目的を達成するため、請求項4に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力が所定レベルを超
えたとき報知する報知器とを備えたことを特徴とする請
求項1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置で
ある。
In order to achieve the above object, in the invention according to claim 4, the light emitting element deterioration detection circuit outputs an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element. The photoelectric conversion peak detection circuit compares the output of this photoelectric conversion peak detection circuit with the initial value, and the comparison judgment circuit that judges the condition where the deviation is equal to or more than a predetermined value, and the output of this comparison judgment circuit is a predetermined level. The deterioration detecting device for a light-emitting element for an optical thyristor according to claim 1, further comprising an alarm for notifying when it exceeds.

【0015】[0015]

【作用】請求項1に対応する発明によれば、発光素子劣
化検出回路の出力によりモニタ用発光素子の劣化状況を
調べることで、等価的に正規発光素子の劣化状況を把握
することができる。
According to the invention corresponding to claim 1, the deterioration status of the monitor light emitting element can be equivalently grasped by checking the deterioration status of the monitor light emitting element by the output of the light emitting element deterioration detection circuit.

【0016】請求項2に対応する発明によれば、発光素
子の劣化をその初期段階で検出できる。請求項3に対応
する発明によれば、発光素子の劣化程度、残存寿命の予
測が可能になり、メンテナンスへの情報支援が行える。
According to the invention of claim 2, the deterioration of the light emitting element can be detected at the initial stage. According to the invention corresponding to claim 3, it is possible to predict the degree of deterioration and the remaining life of the light emitting element, and it is possible to provide information support for maintenance.

【0017】請求項4に対応する発明によれば、発光素
子の劣化程度に応じた報知、例えば発光素子の交換時期
が報知されるので、メンテナンスへの情報支援がより有
効に行える。
According to the invention corresponding to claim 4, since the notification according to the degree of deterioration of the light emitting element, for example, the replacement time of the light emitting element is notified, the information support for the maintenance can be more effectively performed.

【0018】[0018]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。 <第1実施例>図1は図8と異なる点として、新たにモ
ニタ用発光素子Lm とモニタ用ライトガイド1Aと発光
素子劣化検出回路2を設けた点であり、これ以外の構成
は同一である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. <First Embodiment> FIG. 1 is different from FIG. 8 in that a monitor light emitting element Lm, a monitor light guide 1A, and a light emitting element deterioration detection circuit 2 are newly provided, and other configurations are the same. is there.

【0019】すなわち、光サイリスタバルブ9の光パル
ス信号発生回路10において、光サイリスタT1 ,T2
,…Tn のゲートに光パルス信号を与える発光素子
(以下正規発光素子と呼ぶ)L1 ,L2 ,…Ln の他
に、モニタ用発光素子Lm を設けると共に、これから出
力される光をモニタ用ライトガイド1Aを介して発光素
子劣化検出回路2に導き、ここでモニタ用発光素子Lm
から出力される光パルス信号のピーク値に比例した電気
信号(電圧信号)として出力され、この出力に基づいて
前記モニタ用発光素子Lm の劣化を検出できるように構
成されている。この場合、正規発光素子L1 〜Ln と、
モニタ用発光素子Lm は同一特性例えば同一製造ロット
のもの(同一寿命のもの)を同時に使用(使用開始時期
を同じにする)する。この時、素子L1 〜Ln ,Lm は
直列接続されているため、同一電流が流れ同一運転スト
レスを受けることになる。
That is, in the optical pulse signal generation circuit 10 of the optical thyristor valve 9, the optical thyristors T1 and T2 are
, Ln for providing light pulse signals to the gates of Tn (hereinafter referred to as normal light emitting elements) L1, L2, ... Ln, and a light emitting element Lm for monitoring is provided, and light emitted from this is used as a light guide for monitoring. 1A to the light emitting element deterioration detection circuit 2, where the monitor light emitting element Lm
Is output as an electric signal (voltage signal) proportional to the peak value of the optical pulse signal output from the optical pulse signal, and the deterioration of the monitor light emitting element Lm can be detected based on this output. In this case, the normal light emitting elements L1 to Ln,
As the monitor light emitting element Lm, those having the same characteristics, for example, the same manufacturing lot (having the same life) are used at the same time (use the same start time). At this time, since the elements L1 to Ln and Lm are connected in series, the same current flows and the same operation stress is applied.

【0020】このように構成することにより、ゲート制
御回路3からのパルス信号によりスイッチング素子4を
オンーオフさせることで、直流電源5から正規発光素子
L1〜Ln およびモニタ用発光素子Lm に同一のパルス
状の電流が流れ、発光素子L1 〜Ln ,Lm が同一条件
で運転される。この運転状態が所定時間継続あるいは運
転時間の累積時間がある程度以上になると、発光素子L
1 〜Ln ,Lm がともに劣化してくる。すると、モニタ
用発光素子Lm からモニタ用ライトガイド1Aを介して
発光素子劣化検出回路2に導かれる光パルス信号のピー
ク値が低下することから、これに伴って発光素子劣化検
出回路2の出力信号が低下するので、正規発光素子L1
〜Ln の劣化状況を等価的に把握することができ、これ
により正規発光素子L1 〜Ln の偶発故障以外の劣化故
障を事前に察知でき、メンテナンスへの情報支援が可能
になる。
With this configuration, the switching element 4 is turned on / off by the pulse signal from the gate control circuit 3, so that the same pulse shape is supplied from the DC power source 5 to the normal light emitting elements L1 to Ln and the monitor light emitting element Lm. Current flows, and the light emitting elements L1 to Ln and Lm are operated under the same conditions. When this operating state continues for a predetermined time or when the accumulated operating time exceeds a certain level, the light emitting element L
Both 1 to Ln and Lm deteriorate. Then, since the peak value of the optical pulse signal guided from the monitor light emitting element Lm to the light emitting element deterioration detecting circuit 2 via the monitor light guide 1A decreases, the output signal of the light emitting element deterioration detecting circuit 2 accordingly. Is reduced, the regular light emitting element L1
It is possible to equivalently grasp the deterioration state of Ln to .about.Ln, whereby it is possible to detect in advance a deterioration failure other than the accidental failure of the normal light emitting elements L1 to Ln, and it is possible to provide information support for maintenance.

【0021】<第2実施例>前述の第1実施例は正規発
光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm が直列接
続された場合であるが、図2に示す第2実施例では、正
規発光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm をそ
れぞれ並列接続したものであり、これ以外の点は図1と
同一である。
<Second Embodiment> In the first embodiment described above, the normal light emitting elements L1 to Ln and the monitor light emitting element Lm are connected in series, but in the second embodiment shown in FIG. The elements L1 to Ln and the monitor light emitting element Lm are connected in parallel, and the other points are the same as in FIG.

【0022】この場合も、第1実施例と同様に正規発光
素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm は並列接続
されているため、同一電流(ゲート制御回路3に流れる
電流をIとし、素子L1 〜Ln 、Lm の全て個数をmと
すると、I/m)が流れ、同一運転ストレスを受けるこ
とになる。
Also in this case, since the normal light emitting elements L1 to Ln and the monitor light emitting element Lm are connected in parallel as in the first embodiment, the same current (the current flowing through the gate control circuit 3 is I, and the element L1 is the same). Assuming that the total number of Ln and Lm is m, I / m) flows and the same driving stress is applied.

【0023】この結果、モニタ用発光素子Lm の劣化状
況を発光素子劣化検出回路2にてチェックすることで、
等価的に正規発光素子L1 〜Ln の劣化を判断すること
ができる。
As a result, the deterioration state of the monitor light emitting element Lm is checked by the light emitting element deterioration detecting circuit 2,
The deterioration of the normal light emitting elements L1 to Ln can be judged equivalently.

【0024】<第3実施例>図3に示すように、第1実
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13と差分検出器14と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、光電変換ピーク検出回路15は、周知の回路であ
って、例えばモニタ用ライトガイド1Aの光パルス信号
を検出して電気信号に変換する検出器と、この検出器か
らの電気信号のピーク値をホールドするピークホールド
回路と、ピークホールド回路の出力に比例した電気信号
(電圧信号)に換算する換算回路からなり、モニタ用ラ
イトガイド1Aを介して得られるモニタ用発光素子Lm
の出力パルスのピーク値が光の強度に比例し、そのピー
ク値を電気信号(電圧信号)を出力するものである。
<Third Embodiment> As shown in FIG. 3, the difference from the first embodiment is that the structure of the light emitting element deterioration detection circuit 2 is
It is composed of a comparator 6, an initial value setting device 13, a difference detector 14, and a photoelectric conversion peak detection circuit 15. That is, the photoelectric conversion peak detection circuit 15 is a well-known circuit, for example, a detector that detects an optical pulse signal of the monitor light guide 1A and converts it into an electric signal, and a peak value of the electric signal from this detector. And a conversion circuit for converting an electric signal (voltage signal) proportional to the output of the peak hold circuit, and is obtained through the monitor light guide 1A.
The peak value of the output pulse is proportional to the light intensity, and the peak value is output as an electric signal (voltage signal).

【0025】比較器6は光電変換ピーク検出回路15の
出力である電気信号と設定器13から得られる初期値K
Lm を比較し、比較器6の出力を差分検出器14に入力
し、差分検出器14において比較器6の出力が所定値を
超えた信号を出力するように構成したものである。
The comparator 6 is an initial value K obtained from the electric signal output from the photoelectric conversion peak detection circuit 15 and the setting device 13.
Lm is compared, the output of the comparator 6 is input to the difference detector 14, and the difference detector 14 outputs a signal in which the output of the comparator 6 exceeds a predetermined value.

【0026】このように構成したものにおいて、モニタ
用発光素子Lm の光は、常時または定期的なある一定期
間検出され、この光パルス信号が発光素子劣化検出回路
2に入力される。
In the device thus constructed, the light of the monitor light emitting element Lm is detected constantly or periodically for a certain period of time, and this light pulse signal is inputted to the light emitting element deterioration detecting circuit 2.

【0027】ここで、定期的なある一定時間としては、
例えば1回/1日のように、発光素子の寿命に対して問
題にならない範囲で検出装置のデータ処理に負担となら
ないような大きな値をとすればよい。
Here, as a certain fixed period,
For example, once / a day, a large value may be set so as not to burden the data processing of the detection device within a range where the life of the light emitting element does not matter.

【0028】そして、発光素子劣化検出回路2内では、
設定器13の初期値KLm と光電変換ピーク検出回路1
5の出力である電気信号とが比較され、比較器6の出力
7は、図4のように、正常時はほぼ“0”であるが、発
光素子が劣化すると光パルス信号の強度が低下し、その
結果ピーク値が低下して初期値KLm との差分が出力さ
れ、この差分出力が図4のA点(初期値との差A点)を
超えると、差分検出器14から信号が出力される。この
結果、正規発光素子L1 〜Ln の“劣化初期”を検出す
ることができる。これにより発光素子L1 〜Ln の早期
対策を施すことができる。
In the light emitting element deterioration detection circuit 2,
Initial value KLm of setter 13 and photoelectric conversion peak detection circuit 1
5, the output of the comparator 6 is almost "0" in the normal state as shown in FIG. 4, but when the light emitting element deteriorates, the intensity of the optical pulse signal decreases. As a result, the peak value decreases and the difference from the initial value KLm is output. When this difference output exceeds point A (difference point A with the initial value) in FIG. 4, a signal is output from the difference detector 14. It As a result, the "deterioration initial stage" of the normal light emitting elements L1 to Ln can be detected. As a result, early countermeasures can be taken for the light emitting elements L1 to Ln.

【0029】<第4実施例>図5に示すように、第1実
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13とレベル検出器8と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、比較器6は光電変換ピーク検出回路15出力と初
期値設定器13の初期値KLm を比較し、比較器6の出
力をレベル検出器8に入力し、発光素子L1 〜Ln の劣
化程度を判断できるように構成したものである。例え
ば、図6のような比較器6の出力7に対して−10%の
時点、すなわちB時点でアラームを出力するように構成
し、さらにレベル検出器8を数段階例えば2段階C時点
(−15%の時点)、D時点(−20%の時点)でそれ
ぞれ識別可能な異なる信号が出力されるように構成し、
レベル検出器8の出力を常時または定期的に記録する記
録器(図示せず)を備えたたものである。
<Fourth Embodiment> As shown in FIG. 5, the difference from the first embodiment is that the structure of the light emitting element deterioration detection circuit 2 is
It comprises a comparator 6, an initial value setting device 13, a level detector 8 and a photoelectric conversion peak detection circuit 15. That is, the comparator 6 compares the output of the photoelectric conversion peak detection circuit 15 with the initial value KLm of the initial value setting device 13, inputs the output of the comparator 6 into the level detector 8, and determines the degree of deterioration of the light emitting elements L1 to Ln. It is configured so that it can be judged. For example, an alarm is output at a time of -10% with respect to the output 7 of the comparator 6 as shown in FIG. 15% time point) and D time point (-20% time point) so that different signals that can be respectively identified are output,
It is provided with a recorder (not shown) for recording the output of the level detector 8 constantly or periodically.

【0030】ここで、用いる記録器は記録紙に記録する
もの、あるいは記憶媒体に記憶するものの少なくとも一
方であればよい。このように構成することにより、図6
のC時点の発光素子L1 〜Ln の劣化状態を検出するこ
とが可能になるため、発光素子L1 〜Ln の劣化の時間
的経緯(Tc −TB =ΔT、ΔT期間に−10%→−1
5%への劣化)を把握することも可能となる。
Here, the recording device used may be at least one of a recording device for recording on recording paper and a recording medium for recording. With such a configuration, as shown in FIG.
Since it becomes possible to detect the deterioration state of the light emitting elements L1 to Ln at time C, the time history of the deterioration of the light emitting elements L1 to Ln (Tc-TB = ΔT, −10% → −1 in the ΔT period)
It is also possible to understand (deterioration to 5%).

【0031】さらに、劣化許容値(例えば図6の−20
%)までの残存寿命時間を予測することも可能となる。
以上述べたことから第4実施例によれば、メンテナンス
への情報支援が可能となり、メンテナンスの実行計画を
立案できるため、運転自由度を増大させた信頼性の高い
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置が得られる。
Further, the deterioration allowable value (for example, -20 in FIG. 6) is used.
%) It is also possible to predict the remaining life time.
As described above, according to the fourth embodiment, it is possible to provide information support for maintenance and to make a maintenance execution plan. Therefore, deterioration detection of a highly reliable light emitting element for an optical thyristor with an increased degree of freedom in operation can be detected. The device is obtained.

【0032】<第5実施例>図7に示すように、比較器
6の出力側に、比較器6の出力7のレベルに応じた状態
信号を出力する報知器12を設けたものである。この場
合、図6のB点、C点、D点の状態になったとき、警報
信号を出力するように構成したものである。この場合、
警報信号の出力としては、警報音、文字または音声のい
ずれであってもよい。
<Fifth Embodiment> As shown in FIG. 7, an alarm 12 for outputting a status signal according to the level of the output 7 of the comparator 6 is provided on the output side of the comparator 6. In this case, an alarm signal is output when the state of points B, C, and D in FIG. 6 is reached. in this case,
The output of the alarm signal may be an alarm sound, characters or voice.

【0033】このように発光素子の劣化程度に応じた報
知、例えば発光素子の交換時期が報知されるので、メン
テナンスへの情報支援がより有効に行える。 <変形例>前述の実施例で用いた初期値設定器13の初
期値は、発光素子の設計データに基づいて設定したり、
または現地で据付後調整した際に得られる光電変換ピー
ク検出回路15の出力を初期値として使用してもよい。
As described above, since the notification according to the degree of deterioration of the light emitting element, for example, the replacement time of the light emitting element is notified, information support for maintenance can be more effectively performed. <Modification> The initial value of the initial value setting device 13 used in the above-described embodiment is set based on the design data of the light emitting element,
Alternatively, the output of the photoelectric conversion peak detection circuit 15 obtained at the time of site adjustment after installation may be used as the initial value.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上述べた本発明によれば、発光素子の
劣化故障をその初期の段階で早期に検出でき、最適な対
策が打てるようにメンテナンスのための情報支援を行う
ことができる光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を
提供することができる。
According to the present invention described above, an optical thyristor capable of detecting a deterioration failure of a light emitting element at an early stage and providing information support for maintenance so that an optimum countermeasure can be taken. It is possible to provide a deterioration detecting device for a light emitting element for use in a vehicle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第1実施例を示す概略構成図。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to the present invention.

【図2】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第2実施例を示す概略構成図。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to the present invention.

【図3】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第3実施例を示す概略構成図。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing a third embodiment of a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to the present invention.

【図4】図3の動作を説明するための特性図。FIG. 4 is a characteristic diagram for explaining the operation of FIG.

【図5】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第4実施例を示す概略構成図。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a fourth embodiment of a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to the present invention.

【図6】図5の動作を説明するための特性図。6 is a characteristic diagram for explaining the operation of FIG.

【図7】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第5実施例を示す概略構成図。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing a fifth embodiment of a deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to the present invention.

【図8】従来の技術を説明するための光ゲートシステム
の概略構成図。
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of an optical gate system for explaining a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

L1 〜Ln …正規発光素子、 Lm …モニタ用発光素子、 T1 〜Tn …光サイリスタ、 1…ライトガイド、 1A…モニタ用ライトガイド、 2…発光素子劣化検出回路、 3…ゲート制御回路、 4…スイッチング素子、 5…直流電源、 6…比較器、 7…比較器の出力、 8…レベル検出器、 9…光サイリスタバルブ、 10…光パルス信号発生回路 13…設定器、 14…差分検出器、 15…光電変換ピーク検出回路。 L1 to Ln ... Regular light emitting element, Lm ... Monitor light emitting element, T1 to Tn ... Optical thyristor, 1 ... Light guide, 1A ... Monitor light guide, 2 ... Light emitting element deterioration detection circuit, 3 ... Gate control circuit, 4 ... Switching element, 5 ... DC power supply, 6 ... Comparator, 7 ... Comparator output, 8 ... Level detector, 9 ... Optical thyristor valve, 10 ... Optical pulse signal generation circuit 13 ... Setting device, 14 ... Difference detector, 15 ... Photoelectric conversion peak detection circuit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉野 正範 東京都千代田区内幸町一丁目1番3号 東 京電力株式会社内 (72)発明者 向井 一馬 東京都港区芝浦一丁目1番1号 株式会社 東芝本社事務所内 (72)発明者 村林 一彦 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Masanori Yoshino 1-3-1 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Tokyo Electric Power Company (72) Kazuma Mukai 1-1-1 Shibaura, Minato-ku, Tokyo (72) Inventor, Kazuhiko Murabayashi, No. 1, Toshiba-cho, Fuchu-shi, Tokyo Inside Toshiba-Fuchu factory

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 同一電源に、ほぼ同一特性の複数の発光
素子が接続され、前記電源をオン、オフさせることによ
り、前記各発光素子からそれぞれ得られる光信号を、 同一回路に接続され、前記発光素子に対応した複数の光
サイリスタのゲートにそれぞれ供給するようにした光サ
イリスタ用発光素子において、 前記発光素子が接続されている回路に接続し、前記各発
光素子とほぼ同一特性のモニタ用発光素子と、 このモニタ用発光素子から出力される光パルス信号のピ
ーク値に比例した電気信号として出力し、この出力に基
づいて前記発光素子の劣化を検出する発光素子劣化検出
回路を具備した光サイリスタ用発光素子の劣化検出装
置。
1. A plurality of light-emitting elements having substantially the same characteristics are connected to the same power source, and optical signals obtained from the respective light-emitting elements are connected to the same circuit by turning on and off the power source. A light-emitting element for an optical thyristor adapted to be supplied to each of the gates of a plurality of optical thyristors corresponding to the light-emitting element, which is connected to a circuit to which the light-emitting element is connected, and which has almost the same characteristics as each of the light-emitting elements. An optical thyristor equipped with an element and a light emitting element deterioration detection circuit that outputs an electric signal proportional to the peak value of the optical pulse signal output from the monitoring light emitting element and detects deterioration of the light emitting element based on this output. Deterioration detection device for light emitting devices.
【請求項2】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路を備えたことを特徴とする請求項1記載の光
サイリスタ用発光素子の劣化検出装置。
2. A photoelectric conversion peak detection circuit for outputting the light emitting element deterioration detection circuit as an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element, and the photoelectric conversion peak detection circuit. 2. The deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to claim 1, further comprising a comparison / determination circuit that compares the output with an initial value and determines a condition in which the deviation is equal to or larger than a predetermined value.
【請求項3】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路と、この比較判断回路の出力を常時または定
期的に記録する記録器を備えたことを特徴とする請求項
1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置。
3. A photoelectric conversion peak detection circuit for outputting the light emitting element deterioration detection circuit as an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element, and the photoelectric conversion peak detection circuit. The present invention is characterized by comprising a comparison / judgment circuit for comparing the output with an initial value and judging the condition in which the deviation exceeds a predetermined value, and a recorder for constantly or periodically recording the output of this comparison / judgment circuit. A deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to claim 1.
【請求項4】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路と、この比較判断回路の出力が所定レベルを
超えたとき報知する報知器とを備えたことを特徴とする
請求項1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装
置。
4. A photoelectric conversion peak detection circuit for outputting the light emitting element deterioration detection circuit as an electric signal proportional to a peak value of an optical pulse signal output from the monitor light emitting element, and the photoelectric conversion peak detection circuit. A comparison judgment circuit that compares the output with an initial value and judges the condition that the deviation is equal to or larger than a predetermined value, and an alarm that notifies when the output of the comparison judgment circuit exceeds a predetermined level. The deterioration detecting device for a light emitting element for an optical thyristor according to claim 1.
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