JPH0985156A - 回転式基板塗布装置 - Google Patents

回転式基板塗布装置

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JPH0985156A
JPH0985156A JP7269495A JP26949595A JPH0985156A JP H0985156 A JPH0985156 A JP H0985156A JP 7269495 A JP7269495 A JP 7269495A JP 26949595 A JP26949595 A JP 26949595A JP H0985156 A JPH0985156 A JP H0985156A
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substrate
coating liquid
coating
beard
photoresist
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JP7269495A
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English (en)
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Masakazu Sanada
雅和 真田
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 塗布液供給ノズルの水平断面形状を工夫する
ことによって、所望膜厚の塗布被膜を得るために供給す
る塗布液の量を極めて少なくすることができる回転式基
板塗布装置を提供する。 【解決手段】 ノズル部41は、水平断面形状が八角形
状である吐出孔47とノズル部下面41aを形成されて
おり、塗布液供給ノズルの塗布液通路42を圧送されて
きたフォトレジスト液を、ほぼその形状で基板の表面に
吐出する。基板の回転中心付近に滴下されたフォトレジ
スト液は、各頂点部分から周方向に曲げられながら伸長
する幅広のヒゲを生じ、その間から直線的に伸長するヒ
ゲを生じ、これらの相互作用により隙間を急激に狭める
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板などの基板にフォトレジスト液
などの塗布液を塗布する装置に係り、特に、基板を所定
の回転数で低速回転させつつ、その回転中心付近に塗布
液を供給することによって塗布液を基板の表面全体に拡
げ、その後に基板を所定の回転数で高速回転させること
によって基板表面に所望膜厚の塗布被膜を形成する技術
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の回転式基板塗布装置につ
いて、図10を参照して説明する。この図は回転式基板
塗布装置の要部を示し、この装置は基板Wをほぼ水平姿
勢で吸引支持して回転させる吸引式スピンチャック10
と、そのほぼ回転中心の上方に、塗布液の一例であるフ
ォトレジスト液を基板Wの表面に供給するための塗布液
供給ノズル30を備えている。なお、この塗布液供給ノ
ズル30は、下方の基板Wに向かって開口している吐出
孔の水平断面形状がほぼ円形に形成されているものであ
る。
【0003】このように構成された装置では、図11の
タイムチャートに示すように回転数制御を行なって基板
Wの表面に所望の膜厚のフォトレジスト膜を得るように
なっている。
【0004】すなわち、まず、吸引式スピンチャック1
0を図示しないモータによって回転駆動して、基板Wを
所定の回転数R1(例えば900rpm)で回転させ
る。その回転が安定した時点で、塗布液供給ノズル30
からほぼ一定の流量でフォトレジスト液Rを吐出させ始
め(図11中の符号tS )、基板Wの回転中心付近にフ
ォトレジスト液Rを供給し続ける。そしてフォトレジス
ト液Rの供給開始時点tS から所定時間経過した時点
(図11中の符号tE )でフォトレジスト液Rの供給を
停止する。その後、吸引式スピンチャック10の回転数
を、現在の回転数R1よりも高い回転数R2(例えば
3,000rpm)に上げて所定時間これを保つことに
よって、基板Wの表面に供給された余剰のフォトレジス
ト液Rを振り切り、基板Wの表面に所望する膜厚のフォ
トレジスト膜を形成するようになっている。
【0005】上述したような従来装置においては、図1
2(a)〜図12(f)の模式図に示すようなフォトレ
ジスト液Rの挙動によってフォトレジスト膜が形成され
る。なお、これらの図では、簡略的に基板Wを円で示
し、フォトレジスト液Rをハッチングした領域で示し、
各図における基板Wの回転数を矢印の大きさで模式的に
示している。
【0006】まず、基板Wを回転数R1で低速回転させ
つつ基板Wの表面にフォトレジスト液Rを供給し始めた
直後の状態では、フォトレジスト液Rは平面視で円形状
の塊Ra (以下、これをコアRa と称する)となって基
板Wの回転中心付近にある。さらにフォトレジスト液R
を供給し続けると、このコアRa の径は回転に伴う遠心
力が作用してほぼ円形状を保ったまま基板Wの周縁に向
かって同心円状に拡がっていく。
【0007】コアRa は暫くの間(数秒間)は円形状を
保っているが、その後に大きく形を変えていく。具体的
には、この円形状のコアRa の円周部から基板Wの周縁
部に向かって多数の細長いフォトレジスト液Rb の流れ
(以下、これをヒゲRb と称する)が放射状に伸び始め
る(図12(a))。この多数のヒゲRb は、遠心力に
よってコアRa の径の拡大とともに基板Wの周縁部に向
かって伸び続けるが、ヒゲRb はコアRa に比べてその
回転半径が大きく、そのために遠心力が強く作用するの
で、コアRa の径の拡大よりも速く基板Wの周縁部に向
かって伸びることになる(図12(b))。
【0008】さらに基板Wの回転を回転数R1で続ける
(このときフォトレジスト液Rも供給され続けている)
と、多数のヒゲRb の先端部は、基板Wの周縁部に到達
する(図12(c))。このように多数のヒゲRb が基
板Wの周縁部に到達すると、フォトレジスト液Rはコア
Ra からヒゲRb を通って基板Wの周縁部に達して飛散
(飛散フォトレジスト液Rc )する。さらにコアRa の
径が大きくなるとともにヒゲRb の幅が拡がる(図12
(c)中の二点鎖線と図12(d))ことによって、フ
ォトレジスト液Rで覆われていないヒゲRb 間の領域が
次第に少なくなって基板Wの全面がフォトレジスト液R
(コアRa ,ヒゲRb )によって覆われる(図12
(e))。なお、この時点で塗布液供給ノズル30から
のフォトレジスト液Rの吐出を停止するように予め時間
設定されている(図11中の符号tE)。
【0009】以上のように、フォトレジスト液Rで基板
Wの表面全体を覆った後に、基板Wの回転数を現在の回
転数R1よりも高い回転数R2として、基板Wの表面を
覆っているフォトレジスト液Rの余剰分(余剰フォトレ
ジスト液Rd )を振り切ることによって、基板Wの表面
に所望の膜厚のフォトレジスト膜R’を形成する(図1
2(f))。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来装置には、次のような問題点がある。すなわち、
図12(c)に示すように、多数のヒゲRb が基板Wの
周縁部に到達すると、これ以降に供給されるフォトレジ
スト液Rの大部分は、コアRa からヒゲRb を通って基
板Wの周囲に放出されて飛散する(飛散フォトレジスト
液Rc )ことになる。したがって、基板Wの表面全体が
フォトレジスト液Rによって覆われるまでに大量のフォ
トレジスト液Rを供給する必要があり、フォトレジスト
液の使用量が極めて多くなるという問題点がある。つま
り、所望膜厚のフォトレジスト膜を得る際のフォトレジ
スト液Rの利用効率が極めて低いという問題点がある。
因みに、このフォトレジスト液などの塗布液は、現像液
やリンス液などの処理液に比較して非常に高価であるの
で、飛散する不要な塗布液の量を少なくすることは半導
体装置等の製造コストを低減する上で重要な課題であ
る。
【0011】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、塗布液供給ノズルの水平断面形状を工
夫することによって、所望膜厚の塗布被膜を得るために
供給する塗布液の量を極めて少なくすることができる回
転式基板塗布装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の回転式基板塗布装置は、回転支持
手段により基板を所定の回転数で低速回転させつつ、そ
の回転中心付近に塗布液供給ノズルを介して塗布液を供
給し、その後に前記回転数を所定の回転数で高速回転さ
せることによって基板表面に所定膜厚の塗布被膜を形成
する回転式基板塗布装置において、前記塗布液供給ノズ
ルは、少なくとも吐出孔が、その水平断面形状において
非円形状に形成されていることを特徴とするものであ
る。
【0013】また、請求項2に記載の回転式基板塗布装
置は、回転支持手段により基板を所定の回転数で低速回
転させつつ、その回転中心付近に塗布液供給ノズルを介
して塗布液を供給し、その後に前記回転数を所定の回転
数で高速回転させることによって基板表面に所定膜厚の
塗布被膜を形成する回転式基板塗布装置において、前記
塗布液供給ノズルは、少なくともノズル下面外形が、水
平断面形状において非円形状に形成されていることを特
徴とするものである。
【0014】また、請求項3に記載の回転式基板塗布装
置は、請求項1または請求項2に記載の回転式基板塗布
装置において、前記水平断面形状は、多角形であること
を特徴とするものである。
【0015】また、請求項4に記載の回転式基板塗布装
置は、請求項1または請求項2に記載の回転式基板塗布
装置において、前記水平断面形状は、八角形であること
を特徴とするものである。
【0016】
【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。基板を回転支持手段により所定の回転数で低速回転
させつつ、その回転中心付近に塗布液供給ノズルを介し
て塗布液を供給し、低速回転時の回転数よりも高い所定
の回転数で基板を高速回転させることにより、基板の表
面に所望膜厚の塗布被膜を形成する。基板表面に塗布液
を供給する塗布液供給ノズルは、少なくとも吐出孔が、
その水平断面形状において非円形状に形成されているの
で、基板表面に供給された塗布液は、比較的高粘度であ
れば滴下された瞬間、例えば、図5の模式図に示すよう
に、吐出孔の形状とほぼ同じ非円形状で滴下された状態
となっている。つまり、塗布液Rが非円形状を呈した状
態で回転中心付近に位置してコアRa ’を形成している
(図中のハッチング領域)。
【0017】そして、この非円形状のコアRa ’は、基
板Wの回転に伴って図5の模式図に示すような挙動を示
す。すなわち、非円形状のコアRa ’の基板周縁に近い
部分と基板周縁に遠い部分、換言すると、回転半径が長
い部分と回転半径が短い部分では、当然のことながら回
転半径が長い部分の方が、回転半径が短い部分に比較し
て大きな遠心力を受けることになるので、まず、非円形
状のコアRa ’のそれらの部分から基板Wの周縁に向け
て幅の広い塗布液の流れ(以下、幅広のヒゲRe と称す
る)(図中に二点鎖線で示す)が伸長し始める。その
後、各幅広のヒゲRe の間から、従来例で示した放射状
の塗布液の流れであるヒゲRb (図中に点線で示す)が
伸長し始める。
【0018】多数の幅広のヒゲRe は、ヒゲRb に比較
して〔幅広なために〕多くの塗布液を含むために強く慣
性力の作用を受けるので、周縁に向かって直線的に伸長
するのではなく基板の周方向に曲げられつつ伸長し、そ
の一方、多数のヒゲRb は、基板の周縁に向かって直線
的に伸長する。また、これらの伸長とともに、コア
Ra ’の径も拡大してゆく。これらの直線的に伸長する
ヒゲRb と周方向に曲げられながら伸長する幅広のヒゲ
Re の相互作用により、ヒゲRb および幅広のヒゲRe
が基板Wの周縁部に達するまでに〔ヒゲRb および幅広
のヒゲRe の間の〕塗布液に覆われていない隙間が急速
に狭まり、塗布液Rが基板Wの表面全体を覆うまでの時
間(被覆所要時間)を短縮することができる。被覆所要
時間が短いということは、塗布液の供給を開始してか
ら、塗布液が基板Wの全面を覆って塗布液の供給が停止
されるまでの時間が短いことを意味する。換言すれば、
ヒゲRbおよび幅広のヒゲRe が基板Wの周縁部に達し
てから塗布液の供給が停止されるまでの時間が短くな
り、それだけヒゲRb および幅広のヒゲRe を通って基
板Wの周縁部から飛散する塗布液の量が少なくなるの
で、所望膜厚の塗布被膜を得るのに要する塗布液の量を
少なくすることができる。
【0019】また、請求項2に記載の発明の作用は次の
とおりである。基板を回転支持手段により所定の回転数
で低速回転させつつ、その回転中心付近に塗布液供給ノ
ズルを介して塗布液を供給し、低速回転時の回転数より
も高い所定の回転数で高速回転させることにより、基板
の表面に所望膜厚の塗布被膜を形成する。基板表面に塗
布液を供給する塗布液供給ノズル下面外形が、その水平
断面形状において非円形状に形成されているので、基板
表面に供給された塗布液は、比較的低粘度であれば、滴
下された瞬間、その表面張力により、ノズル下面全体に
拡がり、その外形である非円形状にならって、外形とほ
ぼ同じ非円形状で滴下された状態となっている。つま
り、塗布液Rが非円形状を呈した状態で回転中心付近に
位置してコアRa ’を形成している(図5中のハッチン
グ領域)。この場合の挙動については、上述した請求項
1と同様であるので、説明については省略する。
【0020】また、請求項3に記載の発明の作用は次の
とおりである。すなわち、塗布液供給ノズルの水平断面
形状が多角形状に形成されているので、基板に供給され
た塗布液は、ほぼその形状を呈した状態で回転中心付近
に位置してコアを形成する。コアは多角形状であるの
で、その外周部の複数個の頂点部分はコアの中心からの
距離が長く、そのため頂点以外の部分よりも強い遠心力
を受けることになる。したがって、まず、各頂点から幅
広のヒゲが成長し、それらの各間隙からヒゲが成長し、
これらの相互作用によってヒゲおよび幅広のヒゲの間の
隙間が急速に狭まり、塗布液が基板の表面全体を覆うま
での時間(被覆所要時間)を短縮することができる。そ
の結果、ヒゲおよび幅広のヒゲが基板の周縁部に達して
から塗布液の供給が停止されるまでの時間が短くなり、
それだけヒゲおよび幅広のヒゲを通って基板の周縁部か
ら飛散する塗布液の量が少なくなるので、所望膜厚の塗
布被膜を得るのに要する塗布液の量を少なくすることが
できる。
【0021】また、請求項4に記載の発明の作用は次の
とおりである。塗布液供給ノズルの水平断面形状は、多
角形状であればいくつの頂点数を有していてもよいので
はなく、例えば、多角形のうち三角形や四角形は、その
頂点数が少なく幅広のヒゲの発生数が少ないので、ヒゲ
との相互作用により各隙間を狭めるのに時間がかかり、
その一方、八角形を越える多角形は、その頂点数が多く
なり過ぎて、ヒゲと幅広のヒゲとの性質がほぼ同じにな
り、従来例で説明した円形状のコアに近い作用を生じる
ので、やはり相互作用により各隙間を狭めるのに時間が
かかる。
【0022】そこで、塗布液供給ノズルの水平断面形状
を八角形状に形成することにより、幅広のヒゲの性質を
保ちつつ、ヒゲとの相互作用を好適に生じさせることが
できる。その結果、被覆所要時間を短縮することがで
き、ヒゲおよび幅広のヒゲが基板の周縁部に達してから
塗布液の供給が停止されるまでの時間が短くなり、それ
だけヒゲおよび幅広のヒゲを通って基板の周縁部から飛
散する塗布液の量が少なくなるので、所望膜厚の塗布被
膜を得るのに要する塗布液の量を少なくすることができ
る。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1は、実施例に係る回転式基板塗
布装置を示す縦断面図である。
【0024】図中、符号10は、吸引式スピンチャック
であって基板Wをほぼ水平姿勢で吸着支持するものであ
る。この吸引式スピンチャック10は、中空の回転軸1
1を介して回転モータ12によって回転駆動される。吸
引式スピンチャック10の周囲には、塗布液であるフォ
トレジスト液などの飛散を防止するための飛散防止カッ
プ13が配置されている。また、図示しない搬送手段が
未処理の基板Wを吸引式スピンチャック10に載置した
り、吸引式スピンチャック10から処理済みの基板Wを
受け取る際には、図示しない昇降手段が回転軸11と飛
散防止カップ13とを相対昇降させることによって、吸
引式スピンチャック10を飛散防止カップ13の上方へ
と移動させる(図中の二点鎖線)。
【0025】飛散防止カップ13は、上カップ14と、
円形整流板15と、下カップ17等から構成されてい
る。上カップ14は、上部に開口部14aと、基板Wの
回転によるフォトレジスト液などの飛沫を下方へ案内す
る傾斜面14bとを有する。
【0026】円形整流板15は、開口部14aから流入
して基板Wの周縁に沿って流下する気流を下カップ17
に整流して案内するとともに、上カップ14の傾斜面1
4bによって下方に案内されたフォトレジスト液などの
飛沫をこの気流に乗せて下カップ17に案内する。
【0027】下カップ17の底部には、排液口17aが
配設されている。この排液口17aは、排液タンク17
bに接続されており、回転振り切り後のフォトレジスト
液などを回収するようになっている。下カップ17の底
部には、さらにカップ排気口17cが配設されている。
このカップ排気口17cは、排気ポンプ17dに接続さ
れており、飛散防止カップ13内に滞留する霧状のフォ
トレジスト液などを空気とともに吸引して排気するよう
になっている。
【0028】円形整流板15の内側には、基板Wの裏面
に回り込んだフォトレジスト液や付着したミストを除去
するための洗浄液を基板Wの裏面に向けて吐出するため
のバックリンスノズル20が配設されている。このバッ
クリンスノズル20には、管継手18と供給配管18a
を介して洗浄液供給部18bから洗浄液が供給されるよ
うになっている。
【0029】さらに、飛散防止カップ13の開口部14
aの上方であって、基板Wのほぼ回転中心の上方には、
フォトレジスト液を吐出する塗布液供給ノズル40が配
設されている。この塗布液供給ノズル40は、その先端
部が下方の基板Wに向けられ、その先端部にはノズル部
41が取り付けられている。
【0030】次に、図2および図3を参照して、塗布液
供給ノズル40およびノズル部41について説明する。
なお、図2は塗布液供給ノズル40の先端部付近および
ノズル部41の縦断面図を示し、図3はノズル部41を
下方からみた図である。
【0031】塗布液供給ノズル40は、その内部に所定
の内径を有する塗布液通路42を有し、その下方には塗
布液通路42の内径よりも大きな内径を有するリング状
の凹部43が形成されている。このリング状の凹部43
には、Oリング44が嵌め込まれている。さらに、リン
グ状の凹部43の下方には、ノズル部41を取り付ける
ための内ネジ部45が形成されている。この内ネジ部4
5には、ノズル部41の上方側面部に形成された外ネジ
部46を螺合させることにより、ノズル部41が塗布液
供給ノズル40の先端部に取り付けられるようになって
いる。
【0032】ノズル部41は、水平断面形状が八角形状
である吐出孔47とノズル部下面41aを形成されてお
り、塗布液供給ノズル40の塗布液通路42を圧送され
てきたフォトレジスト液を、ほぼその形状で基板Wの表
面に吐出するようになっている。なお、後述するよう
に、ノズル部41の吐出孔47とノズル部下面41aに
は、種々の水平断面形状を採用することができ、基板W
のサイズやその表面状態、または塗布処理の条件(いわ
ゆるレシピー)などに応じて最適な水平断面形状を有す
るノズル部41に交換可能に構成されている。
【0033】また、塗布液供給ノズル40へフォトレジ
スト液を所定量だけ供給する図示しない塗布液供給手段
と、吸引式スピンチャック10と飛散防止カップ13と
を相対昇降する図示しない昇降手段と、回転モータ12
とは、制御部50によって制御されるように構成されて
いる。なお、制御部50は、メモリ51に格納された、
後述するタイムチャートに応じたプログラムによって上
記各部の制御を行なうようになっている。
【0034】次に、図11のタイムチャートおよび図4
(a)〜(g)を参照して、フォトレジスト塗布処理に
ついて説明する。なお、このタイムチャートに相当する
プログラムは、図1に示したメモリ51に格納されて制
御部50によって実行される。また、処理対象の基板W
は、既に吸引式スピンチャック10に載置されて吸引保
持され、さらに基板Wの回転中心付近の上方には、塗布
液供給ノズル40のノズル部41が位置しているものと
する。また、図4の模式図は、簡略的に基板Wを円形状
で表し、滴下されたフォトレジスト液をハッチングした
領域で表すとともに、基板の回転数の大小を矢印の大き
さで示している。
【0035】まず、回転モータ12の回転駆動を開始す
る。具体的には、制御部50が回転モータ12を正転駆
動することによって基板Wを平面視で『反時計方向』に
回転する。このときの回転数R1は、例えば、900r
pmである。
【0036】次いで、基板Wの回転が回転数R1で安定
した後(数秒後)、時間tS の時点で塗布液供給ノズル
40のノズル部41からフォトレジスト液を基板Wの表
面に吐出開始する。この時点では、八角形状を呈する吐
出孔47を介して供給されたフォトレジスト液は、吐出
孔47の形状でその輪郭をほぼ保ったまま、基板Wの回
転中心付近に平面視でほぼ八角形状の塊Ra ’(以下、
これをコアRa ’と称する)となっている(図4
(a))。
【0037】さらに基板Wの回転中心付近にフォトレジ
スト液を供給し続けると、コアRa’は、次のように大
きくその形状を変えていく。この八角形状のコアRa ’
の8か所の各頂点部分から基板Wの周縁部に向かって、
幅の広いフォトレジスト液Re の流れ(以下、これを幅
広のヒゲRe と称する)が伸び始める(図4(b),図
5)。八角形のコアRa ’の各頂点部分から幅広のヒゲ
Re が伸び始めるのは、基板Wの回転中心からの距離が
頂点以外の部分よりも長いので、より強い遠心力を受け
るためである。これらの幅広のヒゲRe は、そこに含ま
れるフォトレジスト液の量が多いので、基板Wの周縁部
に向けて直線的に伸長するのではなく、強い慣性力を受
けて回転方向とは逆の方向にその幅を拡げつつ、周方向
に曲げられながらコアRa ’の径の拡大よりも速く伸長
する。
【0038】さらに、コアRa ’から伸長する8本の幅
広のヒゲRe の各間隙からは、多数の細長いフォトレジ
スト液Rb の流れ(以下、これをヒゲRb と称する)が
放射状に伸び始める(図4(c),図5)。この多数の
ヒゲRb は、遠心力によってコアRa ’の径の拡大とと
もに基板Wの周縁部に直線的に向かって伸び続けるが、
ヒゲRb はコアRa ’に比べて遠心力が大きく加わるの
で、コアRa ’の径の拡大よりも速く基板Wの周縁部に
向かい、幅広のヒゲRe とともに伸長することになる
(図4(d))。
【0039】このとき、図4(c),(d)に示すよう
に、基板Wの周縁部に直線的に伸長するヒゲRb と周方
向に曲げられながら伸長する幅広のヒゲRe の相互作用
により、ヒゲRb および幅広のヒゲRe が一体となって
基板Wの周縁部に達するまでに〔ヒゲRb および幅広の
ヒゲRe の間の〕フォトレジスト液Rにより覆われてい
ない隙間が急速に狭まる。
【0040】そして図4(d)に示すように、一体とな
ったヒゲRb および幅広のヒゲReの先端部が基板Wの
周縁部に到達すると、基板Wの周囲にフォトレジスト液
Rが飛散する(飛散フォトレジスト液Rc )。しかしな
がら、幅広のヒゲRe が周方向に曲げられていることに
より、基板Wの周縁部に向かって拡大/伸長していくコ
アRa /ヒゲRb /幅広のヒゲRe が一体となって、フ
ォトレジスト液Rによって基板Wの表面全体が覆われる
までの時間が従来に比較して大幅に短縮される(図4
(d),(e),(f))。このようにして基板Wの表
面全体がフォトレジスト液Rによって覆われた時点(図
11の時間tE ’)において、制御部50は塗布液供給
ノズル40からのフォトレジスト液Rの吐出を停止す
る。
【0041】そして、図11に示すように、回転数R1
よりも高い回転数R2での回転を所定時間継続して基板
Wの表面全体を覆っているフォトレジスト液Rのうちの
余剰分(余剰フォトレジスト液Rd )を振り切ることに
よって、基板Wの表面に所望膜厚のフォトレジスト膜
R’を形成することができる(図4(g))。
【0042】なお、フォトレジスト液Rの吐出を停止す
る時間tE ’は、図11から明らかなように、従来例で
のフォトレジスト液Rの吐出停止時間tE よりも短くす
ることができる。その結果、1枚の基板Wのフォトレジ
スト液塗布処理に要する時間を短縮することができ、順
次に基板Wにフォトレジスト液の塗布処理を行なう際に
は、スループットを向上させることができる。
【0043】また、フォトレジスト液Rの吐出を停止す
る時間tE ’は、基板Wにフォトレジスト液Rを吐出し
て、基板Wの表面全体がフォトレジスト液Rで覆われる
時間を実際に計測し、この結果に基づいて設定されるも
のである。そして、フォトレジスト液Rの吐出開始時間
tS からの前記時間をメモリ51に記憶させておくかタ
イマー等に設定しておき、吐出開始からその時間後に吐
出が停止されるようにする。
【0044】このように基板Wの表面に、八角形状の水
平断面形状を有する吐出孔47を介してフォトレジスト
液を供給することにより、各頂点分から幅広のヒゲRe
を生じさせ、周方向に曲げられつつ伸長する幅広のヒゲ
Re と基板Wの周縁部に直線的に伸長するヒゲRa との
相互作用により、フォトレジスト液により覆われていな
い間隙を急速に狭めることができる。したがって、一体
となった幅広のヒゲRe とヒゲRa とが基板Wの周縁部
に到達してから、フォトレジスト液Rの供給が停止され
るまでの時間が短くなるので、幅広のヒゲRe とヒゲR
a とを通して基板Wの周囲に放出・飛散するフォトレジ
スト液Rの量を少なくすることができる。その結果、所
望膜厚のフォトレジスト膜を得るために供給するフォト
レジスト液の量を極めて少なくすることができる。
【0045】なお、ノズル部41の吐出孔47の水平断
面形状は、図6に示すように、円形状の外周部の、八角
形の各頂点に対応する部分に、それぞれ凹部47aを形
成して放射状の吐出孔47としてもよい。また、図7に
示すように、八角形の各辺に対応する部分を、吐出孔4
7の中心部に向けて円弧状に突出させた星型状の吐出孔
47としてもよい。
【0046】さらに、ノズル部41の吐出孔47の水平
断面形状を、図8(a)に示すように、五角形状の吐出
孔47としてもよい。また、同図(b)に示すように、
五角形の各頂点に対応する部分に、それぞれ凹部47a
を形成して放射状の吐出孔47としてもよく、さらに、
同図(c)に示すように、五角形の各辺に対応する部分
を、中心部に向かって円弧状に突出形成した星型状の吐
出孔47としてもよい。
【0047】なお、基板表面に滴下されたフォトレジス
ト液が遠心力によって中心部から放射状を呈して基板周
縁部に向かって伸長してゆくことから、多数の幅広のヒ
ゲRe の各間隔がほぼ均等になるように、上述した吐出
孔47の水平断面形状は、中心部からの距離が長い部
分、すなわち、幅広のヒゲRe を生じさせる部分(図3
では各頂点部分)を円周方向に均等に形成するのが好ま
しい。すなわち、上述した吐出孔47の水平断面形状
は、八角形(五角形)のうち正八角形(正五角形)とす
るのが好ましい。このようにすることにより、幅広のヒ
ゲRe とヒゲRb との相互作用が好適に行なわれる。但
し、液晶表示装置用のガラス基板などの角形の基板にお
いては、回転中心から外縁までの距離が均等ではないの
で、幅広のヒゲRe を生じさせる部分を円周方向に不等
間隔で形成するようにしてもよい。
【0048】なお、吐出孔47の水平断面形状として
は、上述した(正)五角形、(正)八角形だけでなく、
例えば、(正)六角形や(正)七角形であってもよく、
さらに十字形(+形)や、楕円形を二つ交差させたよう
な楕円交差形状であってもよい。すなわち、基板表面に
対してフォトレジスト液を供給した際に、少なくとも2
種類の回転半径を得られるような非円形状の吐出孔であ
れば種々の形状を採用することが可能である。ただし、
三角形や四角形の水平断面形状は、その頂点数が少なく
幅広のヒゲの数が少なくなるので、フォトレジスト液の
間隙を狭める時間を速くする効果が薄く、八角形を越え
る多角形は、従来例の円形状に近くなって幅広のヒゲに
よる効果を得にくいので好ましくない。
【0049】また、基板Wの回転数の制御を、図9に示
すようにしてもよい。すなわち、基板Wを回転数R3
(例えば、1,500rpm)で回転駆動し、吐出開始
時間ts においてフォトレジスト液Rを吐出し始め、吐
出停止時間tE”までの間に、回転数R3よりも高い回
転数R4(例えば、3,000rpm)に上げる。回転
数R3から回転数R4に回転数を上げる際には、短時間
で完了するようにする(例えば、0.07秒など)。こ
のようにフォトレジスト液Rを吐出中に回転数を急激に
上げることにより、幅広のヒゲRe およびヒゲRb は周
方向に強い慣性力を受け、それらが基板Wの周縁部へ伸
びるよりも周方向への広がりを速めることができ、間隙
を急速に狭めることができ、被覆所要時間をさらに短縮
することが可能である。
【0050】なお、上述した実施例では、塗布液として
フォトレジスト液を例に採って説明したが、本発明は、
これに限定されるものではなく、例えば、表面保護や絶
縁膜として利用されるパシベーション膜形成用の塗布液
(例えば、ポリイミド)などを塗布する装置にも適用す
ることができる。また、露光後の塗布被膜を現像する現
像液や、現像作用を停止させるためなどのリンス液を基
板表面に供給する装置にも適用することが可能である。
【0051】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、塗布液を非円形状の状態で基
板の回転中心付近に滴下することができ、回転半径が長
い部分から幅広のヒゲを基板の周縁に向けて伸長させる
ことができる。さらにこの幅広のヒゲは、周方向に曲げ
られて伸長するので、それらの間から基板周縁に向けて
直線的に伸長するヒゲとの相互作用により、塗布液で覆
われていない隙間を急速に狭めることができる。したが
って、塗布液が基板の表面全体を覆うまでの時間を短縮
することができる。その結果、ヒゲを通して基板の周囲
に飛散する塗布液の量を少なくすることができ、所望膜
厚の塗布被膜を得るのに要する塗布液の量を少なくする
ことができる。これにより現像液やリンス液などの有機
溶剤を主成分とする処理液に比較して高価な塗布液の量
を少なくすることができるので、半導体装置などの製造
コストを低減することができるとともにスループットを
向上させることができる。
【0052】また、請求項2に記載の発明によれば、上
記請求項1と同様に作用し、同様の効果を奏する。
【0053】また、請求項3に記載の発明によれば、多
角形状の各頂点から幅広のヒゲを基板の周縁に向けて伸
長させることができるので、これらの相互作用によって
隙間を急激に狭めることができ、塗布液が基板の表面全
体を覆うまでの時間を短縮することができる。よって、
塗布液が基板の表面全体を覆うまでの時間を短縮するこ
とができる。その結果、ヒゲを通して基板の周囲に飛散
する塗布液の量を少なくすることができ、所望膜厚の塗
布被膜を得るのに要する塗布液の量を少なくすることが
できる。
【0054】また、請求項4に記載の発明によれば、塗
布液供給ノズルの水平断面形状を八角形状に形成するこ
とにより、幅広のヒゲの性質を保ちつつ、ヒゲとの相互
作用を好適に生じさせることができる。その結果、被覆
所要時間を短縮することができ、ヒゲを通って基板の周
縁部から飛散する塗布液の量が少なくなるので、所望膜
厚の塗布被膜を得るのに要する塗布液の量を少なくする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例に係る回転式基板塗布装置の縦断面図で
ある。
【図2】塗布液供給ノズルおよびノズル部の縦断面図で
ある。
【図3】ノズル部の吐出孔を示す平面図である。
【図4】フォトレジスト液の基板表面での挙動を示す模
式図である。
【図5】フォトレジスト液の基板表面での挙動を示す模
式図である。
【図6】ノズル部の吐出孔の変形例を示す平面図であ
る。
【図7】ノズル部の吐出孔の変形例を示す平面図であ
る。
【図8】ノズル部の吐出孔の変形例を示す平面図であ
る。
【図9】回転数制御の変形例を示すタイムチャートであ
る。
【図10】従来例に係る回転式基板塗布装置の要部を示
す図である。
【図11】従来例に係る塗布液塗布方法を示すタイムチ
ャートである。
【図12】従来例に係る塗布液塗布の説明に供する図で
ある。
【符号の説明】
10 … 吸引式スピンチャック 40 … 塗布液供給ノズル 41 … ノズル部 47 … 吐出孔 50 … 制御部 51 … メモリ W … 基板 R … フォトレジスト液(塗布液) Ra … コア Rb … ヒゲ Rc … 飛散フォトレジスト液 Rd … 余剰フォトレジスト液 Re … 幅広のヒゲ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転支持手段により基板を所定の回転数
    で低速回転させつつ、その回転中心付近に塗布液供給ノ
    ズルを介して塗布液を供給し、その後に前記回転数を所
    定の回転数で高速回転させることによって基板表面に所
    定膜厚の塗布被膜を形成する回転式基板塗布装置におい
    て、 前記塗布液供給ノズルは、少なくとも吐出孔が、その水
    平断面形状において非円形状に形成されていることを特
    徴とする回転式基板塗布装置。
  2. 【請求項2】 回転支持手段により基板を所定の回転数
    で低速回転させつつ、その回転中心付近に塗布液供給ノ
    ズルを介して塗布液を供給し、その後に前記回転数を所
    定の回転数で高速回転させることによって基板表面に所
    定膜厚の塗布被膜を形成する回転式基板塗布装置におい
    て、 前記塗布液供給ノズルは、少なくともノズル下面外形
    が、水平断面形状において非円形状に形成されているこ
    とを特徴とする回転式基板塗布装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の回転式
    基板塗布装置において、前記水平断面形状は、多角形で
    あることを特徴とする回転式基板塗布装置。
  4. 【請求項4】 請求項1または請求項2に記載の回転式
    基板塗布装置において、前記水平断面形状は、八角形で
    あることを特徴とする回転式基板塗布装置。
JP7269495A 1995-09-21 1995-09-21 回転式基板塗布装置 Pending JPH0985156A (ja)

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