JPH0989770A - 金属板光沢測定方法とその装置 - Google Patents
金属板光沢測定方法とその装置Info
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- JPH0989770A JPH0989770A JP24776495A JP24776495A JPH0989770A JP H0989770 A JPH0989770 A JP H0989770A JP 24776495 A JP24776495 A JP 24776495A JP 24776495 A JP24776495 A JP 24776495A JP H0989770 A JPH0989770 A JP H0989770A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】金属板表面の光沢を自動的に測定する金属板光
沢測定方法とその装置を提供する。 【解決手段】撮像装置１でステンレス鋼板２の表面に光
を照射して画像を取り込み、濃度分散値算出装置３で画
像濃度の分散値を算出し、最大分散座標算出装置４で分
散値が最大となる座標を算出し、合焦点範囲抜き出し装
置５でその座標を中心に合焦点範囲の大きさの画像を切
り出して表面輝度測定装置６で表面輝度を測定する。
沢測定方法とその装置を提供する。 【解決手段】撮像装置１でステンレス鋼板２の表面に光
を照射して画像を取り込み、濃度分散値算出装置３で画
像濃度の分散値を算出し、最大分散座標算出装置４で分
散値が最大となる座標を算出し、合焦点範囲抜き出し装
置５でその座標を中心に合焦点範囲の大きさの画像を切
り出して表面輝度測定装置６で表面輝度を測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属板表面の画像
信号に基づいて金属板表面の光沢を求める金属板光沢測
定方法とその装置に関し、特に、建築材料として用いら
れるステンレス鋼板の光沢を測定する金属板光沢測定方
法とその装置に関する。
信号に基づいて金属板表面の光沢を求める金属板光沢測
定方法とその装置に関し、特に、建築材料として用いら
れるステンレス鋼板の光沢を測定する金属板光沢測定方
法とその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】金属板の色調の均一性を評価するため
に、撮像装置を用いて金属板表面を斜め方向から撮像
し、その画像信号に基づいて画像処理する際、金属板表
面の各点からレンズまでの距離が互いに異なるため、こ
れらの距離の差が焦点深度よりも大きくなった場合、画
像全体に焦点を合わせることが不可能になる。
に、撮像装置を用いて金属板表面を斜め方向から撮像
し、その画像信号に基づいて画像処理する際、金属板表
面の各点からレンズまでの距離が互いに異なるため、こ
れらの距離の差が焦点深度よりも大きくなった場合、画
像全体に焦点を合わせることが不可能になる。
【０００３】金属板表面に自動的に焦点を合わせる、い
わゆるフォーカシングを行う自動焦点調節装置が特開平
５−３００４２１号公報に提案されている。この自動焦
点調節装置では、画素間の差分処理を行い、そのばらつ
き具合を算出し、その処理結果をデフォーカス量に対応
する評価量として自動焦点調節を行っている。
わゆるフォーカシングを行う自動焦点調節装置が特開平
５−３００４２１号公報に提案されている。この自動焦
点調節装置では、画素間の差分処理を行い、そのばらつ
き具合を算出し、その処理結果をデフォーカス量に対応
する評価量として自動焦点調節を行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した自動
焦点制御装置では、最も焦点のよく合った場所を撮像す
ることはできても、撮像した画像の一部にだけ焦点が合
っている画像に対して、どの部分が焦点の合った位置で
あるかを同定することは困難なため、焦点の合った位置
（合焦点部）を、例えば観測者の目視等によって同定す
る必要がある。
焦点制御装置では、最も焦点のよく合った場所を撮像す
ることはできても、撮像した画像の一部にだけ焦点が合
っている画像に対して、どの部分が焦点の合った位置で
あるかを同定することは困難なため、焦点の合った位置
（合焦点部）を、例えば観測者の目視等によって同定す
る必要がある。
【０００５】さらに、金属板表面の光沢を測定するため
に必要な、同定された合焦点部の切り出しも、観察者が
その合焦点部の座標を画像処理装置に入力することによ
り行われていた。しかし、このような観測者によるマニ
ュアル操作が入るのでは、製造ライン上において金属板
の表面性状の光学的評価を行う場合、インプロセス連続
測定で自動的に処理することはできず、またマニュアル
操作のため製品の品質が不安定になり歩留りが低下する
という問題が発生する。
に必要な、同定された合焦点部の切り出しも、観察者が
その合焦点部の座標を画像処理装置に入力することによ
り行われていた。しかし、このような観測者によるマニ
ュアル操作が入るのでは、製造ライン上において金属板
の表面性状の光学的評価を行う場合、インプロセス連続
測定で自動的に処理することはできず、またマニュアル
操作のため製品の品質が不安定になり歩留りが低下する
という問題が発生する。
【０００６】本発明は、上記事情に鑑み、金属板表面の
光沢を自動的に測定する金属板光沢測定方法とその装置
を提供することを目的とする。
光沢を自動的に測定する金属板光沢測定方法とその装置
を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の金属板光沢測定方法は、二次元的に広がる金属板表
面を撮像装置を用いて斜め方向から撮像することにより
画像信号を得、その画像信号に基づいてその金属板表面
の光沢を測定する金属板光沢測定方法において、上記金
属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方向のう
ち、その金属板表面の垂線に対する上記撮像装置の光軸
の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ方向に
沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定され
た、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対応す
る上記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、その
複数の画素点それぞれについて求め、上記複数の画素点
のうち、ｘ方向について最大のばらつきを表わす指標が
求められた画素点を求め、その最大のばらつきを表わす
指標が求められた画素点を含む、ｘ方向に第２の所定幅
だけ広がる画像領域に対応する上記画像信号に基づいて
上記金属板表面の光沢を求めることを特徴とする。
明の金属板光沢測定方法は、二次元的に広がる金属板表
面を撮像装置を用いて斜め方向から撮像することにより
画像信号を得、その画像信号に基づいてその金属板表面
の光沢を測定する金属板光沢測定方法において、上記金
属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方向のう
ち、その金属板表面の垂線に対する上記撮像装置の光軸
の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ方向に
沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定され
た、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対応す
る上記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、その
複数の画素点それぞれについて求め、上記複数の画素点
のうち、ｘ方向について最大のばらつきを表わす指標が
求められた画素点を求め、その最大のばらつきを表わす
指標が求められた画素点を含む、ｘ方向に第２の所定幅
だけ広がる画像領域に対応する上記画像信号に基づいて
上記金属板表面の光沢を求めることを特徴とする。
【０００８】また、上記目的を達成する本発明の金属板
光沢測定装置は、 （１）二次元的に広がる金属板表面を斜め方向から撮像
することにより画像信号を得る撮像装置 （２）金属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方
向のうち、その金属板表面の垂線に対する上記撮像装置
の光軸の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ
方向に沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定
された、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対
応する上記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、
その複数の画素点それぞれについて求める指標算出手段 （３）上記複数の画素点のうち、ｘ方向について最大の
ばらつきを表わす指標が求められた画素点を求める最大
分散座標算出手段 （４）その最大のばらつきを表わす指標が求められた画
素点を含む、ｘ方向に第２の所定幅だけ広がる画像領域
に対応する上記画像信号に基づいて上記金属板表面の光
沢を求める光沢算出手段 を備えたことを特徴とする。
光沢測定装置は、 （１）二次元的に広がる金属板表面を斜め方向から撮像
することにより画像信号を得る撮像装置 （２）金属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方
向のうち、その金属板表面の垂線に対する上記撮像装置
の光軸の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ
方向に沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定
された、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対
応する上記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、
その複数の画素点それぞれについて求める指標算出手段 （３）上記複数の画素点のうち、ｘ方向について最大の
ばらつきを表わす指標が求められた画素点を求める最大
分散座標算出手段 （４）その最大のばらつきを表わす指標が求められた画
素点を含む、ｘ方向に第２の所定幅だけ広がる画像領域
に対応する上記画像信号に基づいて上記金属板表面の光
沢を求める光沢算出手段 を備えたことを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図１は、本発明の金属板光沢測定装置の一実
施形態の構成を示す図である。図１に示す撮像装置１
は、被検体としてのステンレス鋼板２の表面に光を照射
して、その表面の垂線方向と異なる角度から撮像するこ
とにより、ステンレス鋼板２の表面の画像を取り込む。
説明する。図１は、本発明の金属板光沢測定装置の一実
施形態の構成を示す図である。図１に示す撮像装置１
は、被検体としてのステンレス鋼板２の表面に光を照射
して、その表面の垂線方向と異なる角度から撮像するこ
とにより、ステンレス鋼板２の表面の画像を取り込む。
【００１０】濃度分散値算出装置３（本発明にいう指標
算出手段）は、撮像装置１からの画像の各画素を中心と
して、撮像光学系の条件からあらかじめ算出される合焦
点範囲（本発明にいう第２の所定幅）より小さい範囲
（本発明にいう第１の所定幅）を設定し、その範囲での
画像濃度の分散値を全画素について算出する。最大分散
座標算出装置４は、濃度分散値算出装置３の出力から、
分散値が最大となる画素の座標を算出する。
算出手段）は、撮像装置１からの画像の各画素を中心と
して、撮像光学系の条件からあらかじめ算出される合焦
点範囲（本発明にいう第２の所定幅）より小さい範囲
（本発明にいう第１の所定幅）を設定し、その範囲での
画像濃度の分散値を全画素について算出する。最大分散
座標算出装置４は、濃度分散値算出装置３の出力から、
分散値が最大となる画素の座標を算出する。
【００１１】合焦点範囲抜き出し装置５は、最大分散座
標算出装置４から算出された座標を中心に、撮像光学系
の条件からあらかじめ算出される合焦点範囲の大きさの
画像を抜き出す。表面輝度測定装置６は、合焦点範囲抜
き出し装置５から抜き出された画像に基づいてステンレ
ス鋼板２の表面輝度を測定する。ここで、合焦点範囲抜
き出し装置５と表面輝度測定装置６とが本発明にいう光
沢算出手段に相当する。
標算出装置４から算出された座標を中心に、撮像光学系
の条件からあらかじめ算出される合焦点範囲の大きさの
画像を抜き出す。表面輝度測定装置６は、合焦点範囲抜
き出し装置５から抜き出された画像に基づいてステンレ
ス鋼板２の表面輝度を測定する。ここで、合焦点範囲抜
き出し装置５と表面輝度測定装置６とが本発明にいう光
沢算出手段に相当する。
【００１２】このような金属板光沢測定装置で合焦点部
分を切り出すには、先ず、撮像装置１で、対象とするス
テンレス鋼板２の表面に光を照射し、その表面の垂線方
向と異なる角度から撮像して画像を取り込む。次に、濃
度分散値算出装置３で、撮像装置１により撮像された画
像の各画素について、近傍画素間での濃度分散値を計算
する。次に、最大分散座標算出装置４で、各画素につい
て計算された濃度分散値から、濃度分散値が最大となる
画素の座標を求める。次に、合焦点範囲抜き出し装置５
で、最大分散座標算出装置４により求められた座標を中
心に、撮像光学系からあらかじめ算出される合焦点範囲
の大きさの画像を抜き出す。このようにして合焦点部分
を切り出す。
分を切り出すには、先ず、撮像装置１で、対象とするス
テンレス鋼板２の表面に光を照射し、その表面の垂線方
向と異なる角度から撮像して画像を取り込む。次に、濃
度分散値算出装置３で、撮像装置１により撮像された画
像の各画素について、近傍画素間での濃度分散値を計算
する。次に、最大分散座標算出装置４で、各画素につい
て計算された濃度分散値から、濃度分散値が最大となる
画素の座標を求める。次に、合焦点範囲抜き出し装置５
で、最大分散座標算出装置４により求められた座標を中
心に、撮像光学系からあらかじめ算出される合焦点範囲
の大きさの画像を抜き出す。このようにして合焦点部分
を切り出す。
【００１３】図２は、図１に示す金属板光沢測定装置
の、画像切り出しのための処理手順を示す図である。図
２に示す各処理手順の説明にあたり、図３〜図８を順次
参照しながら説明する。先ず、ステップＳ１において、
撮像装置１のレンズ系から合焦点範囲の大きさを求め
る。合焦点範囲の大きさの求め方について、図３を参照
して説明する。
の、画像切り出しのための処理手順を示す図である。図
２に示す各処理手順の説明にあたり、図３〜図８を順次
参照しながら説明する。先ず、ステップＳ１において、
撮像装置１のレンズ系から合焦点範囲の大きさを求め
る。合焦点範囲の大きさの求め方について、図３を参照
して説明する。
【００１４】図３は、図１に示す撮像装置の焦点深度、
撮像角度と、合焦点幅との関係を示す図である。表面に
ダル加工を施されたステンレス鋼板２を、図３に示すよ
うにその表面の垂線方向に対し７０度の角度から撮像装
置１を用いて撮像する。ここで、合焦点幅ＦＷは、 ＦＷ＝ＦＤ／ｓｉｎθ ……（１） と表わされる。但しＦＤは焦点深度、θは撮像角度を示
す。
撮像角度と、合焦点幅との関係を示す図である。表面に
ダル加工を施されたステンレス鋼板２を、図３に示すよ
うにその表面の垂線方向に対し７０度の角度から撮像装
置１を用いて撮像する。ここで、合焦点幅ＦＷは、 ＦＷ＝ＦＤ／ｓｉｎθ ……（１） と表わされる。但しＦＤは焦点深度、θは撮像角度を示
す。
【００１５】本実施形態における撮像装置１では、焦点
深度ＦＤ：１５６μｍ、撮像角度θ：７０度、解像度：
１５ミクロン／画素という条件であるので、焦点深度Ｆ
Ｄと撮像角度θとの関係から合焦点範囲の、図３に示す
ｘ方向の合焦点幅ＦＷは３５画素となる。一方、ｙ方向
については、本実施形態では、撮像角度が０度であるた
め、画像全幅について焦点が合う。ｘ方向の合焦点幅Ｆ
Ｗは３５画素であるので、分散値を算出する範囲は３５
画素以下であればよく、ここでは、３×３画素としてい
る。
深度ＦＤ：１５６μｍ、撮像角度θ：７０度、解像度：
１５ミクロン／画素という条件であるので、焦点深度Ｆ
Ｄと撮像角度θとの関係から合焦点範囲の、図３に示す
ｘ方向の合焦点幅ＦＷは３５画素となる。一方、ｙ方向
については、本実施形態では、撮像角度が０度であるた
め、画像全幅について焦点が合う。ｘ方向の合焦点幅Ｆ
Ｗは３５画素であるので、分散値を算出する範囲は３５
画素以下であればよく、ここでは、３×３画素としてい
る。
【００１６】次にステップＳ２に進む。ステップＳ２に
おいて分散値を算出する範囲を求める。図４は、分散値
算出範囲が合焦点幅より大きい場合と小さい場合との双
方における分散値を示す図である。合焦点幅ＦＷより大
きな範囲で分散値を求めると、図４の左下に示すグラフ
のように焦点の合った箇所に明確な分散値のピークが現
れないので、焦点の合う中心を精度よく見つけることが
できない。このため、分散値を算出する範囲は、図４の
右下に示すグラフのように合焦点幅ＦＷより小さくなる
ように求める。ここで、分散値として用いる値として
は、その画素を中心としたｎ画素のマスク内の各画素の
画像信号の分散、その画素を中心としたｎ画素のマスク
内の各画素の画像信号の最大値と最小値の差、その画素
を中心としたｎ画素のマスク内の各画素の画像信号の微
分値など、各画素の近傍画素との分散値を表わせる値で
あればよい。
おいて分散値を算出する範囲を求める。図４は、分散値
算出範囲が合焦点幅より大きい場合と小さい場合との双
方における分散値を示す図である。合焦点幅ＦＷより大
きな範囲で分散値を求めると、図４の左下に示すグラフ
のように焦点の合った箇所に明確な分散値のピークが現
れないので、焦点の合う中心を精度よく見つけることが
できない。このため、分散値を算出する範囲は、図４の
右下に示すグラフのように合焦点幅ＦＷより小さくなる
ように求める。ここで、分散値として用いる値として
は、その画素を中心としたｎ画素のマスク内の各画素の
画像信号の分散、その画素を中心としたｎ画素のマスク
内の各画素の画像信号の最大値と最小値の差、その画素
を中心としたｎ画素のマスク内の各画素の画像信号の微
分値など、各画素の近傍画素との分散値を表わせる値で
あればよい。
【００１７】次にステップＳ３において、画像の取り込
みを行なう。図５は、撮像装置により斜め方向から取り
込まれた撮像画像の例を示す図である。図５に示す複数
の大小のだ円状の模様は、ステンレス鋼板２の表面の明
るい部分を表わしている。図５の撮像画像には、焦点が
合っており濃淡の輪郭がはっきりとあらわれた、図の横
方向に点在する複数の小さなだ円状の模様が描かれた帯
状の合焦点部ａと、焦点が合っておらず濃淡の輪郭がは
っきりとはあらわれていない、合焦点部ａを挟んで点在
する複数の大きなだ円状の模様が描かれた非合焦点部ｂ
が示されている。撮像装置１では、このような撮像画像
が取り込まれる。
みを行なう。図５は、撮像装置により斜め方向から取り
込まれた撮像画像の例を示す図である。図５に示す複数
の大小のだ円状の模様は、ステンレス鋼板２の表面の明
るい部分を表わしている。図５の撮像画像には、焦点が
合っており濃淡の輪郭がはっきりとあらわれた、図の横
方向に点在する複数の小さなだ円状の模様が描かれた帯
状の合焦点部ａと、焦点が合っておらず濃淡の輪郭がは
っきりとはあらわれていない、合焦点部ａを挟んで点在
する複数の大きなだ円状の模様が描かれた非合焦点部ｂ
が示されている。撮像装置１では、このような撮像画像
が取り込まれる。
【００１８】次にステップＳ４に進み、前述した、合焦
点幅ＦＷより小さくなるようにして求められた範囲内の
全画像について近傍画素間での分散値の計算を行なう。
ここでは、各画素についての近傍ｎ画素における分散を
下式によって計算する。
点幅ＦＷより小さくなるようにして求められた範囲内の
全画像について近傍画素間での分散値の計算を行なう。
ここでは、各画素についての近傍ｎ画素における分散を
下式によって計算する。
【００１９】
【数１】
【００２０】ここで σ2 ：分散 ｎ ：画素数（本実施形態ではｎ＝９） ｘi ：ｉ画素の画像濃度 ｘ ：全画素の平均画像濃度 図６は、図５に示す撮像画像が処理され濃淡情報として
表示された、近傍８画素（ｎ＝９）での分散値を画像値
としたときの画像の例である。
表示された、近傍８画素（ｎ＝９）での分散値を画像値
としたときの画像の例である。
【００２１】この図で、複数のだ円状の模様は明るい部
分を表わしており分散が大きいことを示している。一
方、斜線の範囲は暗い部分を表わしており分散が小さい
ことを示している。図７は、図に示すｘ方向（横方向）
に濃度値を積算することにより得られた、ｙ方向（縦方
向）の１次元プロフィールの例である。
分を表わしており分散が大きいことを示している。一
方、斜線の範囲は暗い部分を表わしており分散が小さい
ことを示している。図７は、図に示すｘ方向（横方向）
に濃度値を積算することにより得られた、ｙ方向（縦方
向）の１次元プロフィールの例である。
【００２２】このプロフィールにおいて、積算値が最大
値となる、図の縦方向の座標を求める。この座標が、焦
点の合った座標のうちの中心の座標である。次にステッ
プＳ６に進み、分散値が最大となった座標を中心に、前
述した撮像光学系からあらかじめ算出された合焦点範囲
を求める。次にステップＳ７に進み、その合焦点範囲の
画像領域を切り出す。
値となる、図の縦方向の座標を求める。この座標が、焦
点の合った座標のうちの中心の座標である。次にステッ
プＳ６に進み、分散値が最大となった座標を中心に、前
述した撮像光学系からあらかじめ算出された合焦点範囲
を求める。次にステップＳ７に進み、その合焦点範囲の
画像領域を切り出す。
【００２３】図８は、切り出された画像領域を示す図で
ある。このようにして、金属板光沢装置により、図８に
示すような合焦点範囲のみの画像領域が切り出され、こ
の画像領域に対応する画像信号に基づいてステンレス鋼
板２の表面の光沢が求められる。
ある。このようにして、金属板光沢装置により、図８に
示すような合焦点範囲のみの画像領域が切り出され、こ
の画像領域に対応する画像信号に基づいてステンレス鋼
板２の表面の光沢が求められる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
金属板表面の光沢を自動で求めることができる。このた
め、金属板の最終評価など、従来マニュアルでしか行え
なかった作業の製造ラインのインプロセス測定が自動化
され、製品の品質安定、歩留り向上に寄与する。
金属板表面の光沢を自動で求めることができる。このた
め、金属板の最終評価など、従来マニュアルでしか行え
なかった作業の製造ラインのインプロセス測定が自動化
され、製品の品質安定、歩留り向上に寄与する。
【図１】本発明の金属板光沢測定装置の一実施形態の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】図１に示す金属板光沢測定装置の、画像切り出
しのための処理手順を示す図である。
しのための処理手順を示す図である。
【図３】図１に示す撮像装置の焦点深度、撮像角度と、
合焦点幅との関係を示す図である。
合焦点幅との関係を示す図である。
【図４】分散値算出範囲が合焦点幅より大きい場合と小
さい場合との双方における分散値を示す図である。
さい場合との双方における分散値を示す図である。
【図５】撮像装置により斜め方向から取り込まれた撮像
画像の例を示す図である。
画像の例を示す図である。
【図６】図５に示す撮像画像が処理され濃淡情報として
表示された、近傍８画素（ｎ＝９）での分散の画像の例
である。
表示された、近傍８画素（ｎ＝９）での分散の画像の例
である。
【図７】図に示すｘ方向（横方向）に濃度値を積算する
ことにより得られた、ｙ方向（縦方向）の１次元プロフ
ィールの例である。
ことにより得られた、ｙ方向（縦方向）の１次元プロフ
ィールの例である。
【図８】切り出された画像領域を示す図である。
１ 撮像装置 ２ ステンレス鋼板 ３ 濃度分散値算出装置 ４ 最大分散座標算出装置 ５ 合焦点範囲抜き出し装置 ６ 表面輝度測定装置
Claims (2)
- 【請求項１】 二次元的に広がる金属板表面を撮像装置
を用いて斜め方向から撮像することにより画像信号を
得、該画像信号に基づいて該金属板表面の光沢を測定す
る金属板光沢測定方法において、 前記金属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方向
のうち、該金属板表面の垂線に対する前記撮像装置の光
軸の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ方向
に沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定され
た、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対応す
る前記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、該複
数の画素点それぞれについて求め、 前記複数の画素点のうち、ｘ方向について最大のばらつ
きを表わす指標が求められた画素点を求め、 該最大のばらつきを表わす指標が求められた画素点を含
む、ｘ方向に第２の所定幅だけ広がる画像領域に対応す
る前記画像信号に基づいて前記金属板表面の光沢を求め
ることを特徴とする金属板光沢測定方法。 - 【請求項２】 二次元的に広がる金属板表面を斜め方向
から撮像することにより画像信号を得る撮像装置と、 前記金属板表面上の、互いに交わるｘ方向およびｙ方向
のうち、該金属板表面の垂線に対する前記撮像装置の光
軸の傾いた方向をｘ方向としたとき、少なくともｘ方向
に沿う複数の画素点それぞれを取り巻くように設定され
た、ｘ方向に第１の所定幅だけ広がる各領域内に対応す
る前記画像信号のばらつきの程度を表わす指標を、該複
数の画素点それぞれについて求める指標算出手段と、 前記複数の画素点のうち、ｘ方向について最大のばらつ
きを表わす指標が求められた画素点を求める最大分散座
標算出手段と、 該最大のばらつきを表わす指標が求められた画素点を含
む、ｘ方向に第２の所定幅だけ広がる画像領域に対応す
る前記画像信号に基づいて前記金属板表面の光沢を求め
る光沢算出手段とを備えたことを特徴とする金属板光沢
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24776495A JPH0989770A (ja) | 1995-09-26 | 1995-09-26 | 金属板光沢測定方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24776495A JPH0989770A (ja) | 1995-09-26 | 1995-09-26 | 金属板光沢測定方法とその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0989770A true JPH0989770A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17168314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24776495A Withdrawn JPH0989770A (ja) | 1995-09-26 | 1995-09-26 | 金属板光沢測定方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0989770A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN120976223A (zh) * | 2025-10-21 | 2025-11-18 | 南通晟利特节能环保科技有限公司 | 一种基于机器视觉电泳线排放清洗废水处理方法 |
-
1995
- 1995-09-26 JP JP24776495A patent/JPH0989770A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN120976223A (zh) * | 2025-10-21 | 2025-11-18 | 南通晟利特节能环保科技有限公司 | 一种基于机器视觉电泳线排放清洗废水处理方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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